JP2012003906A - シャフト付きヒータユニットおよびシャフト付きヒータユニット製造方法 - Google Patents

シャフト付きヒータユニットおよびシャフト付きヒータユニット製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】ヒータプレート材料として強度が高い材料を複合化することにより、使用温度範囲でのヒータ強度を向上するとともに、ヒータ温度分布を改善するシャフト付きヒータユニットを提供する。
【解決手段】ヒータプレート1と、ヒータプレート1を支持するシャフト部2を有するシャフト付きヒータユニット100であって、ヒータプレート1は、シャフト部2と接合される平板状のベース部3と、ヒータプレート1の使用温度域における強度がベース部3を構成する材料より高い材料から選択された固相状態の材料粉末を、該材料粉末の融点より低い温度に加熱した圧縮ガスとともにベース部3上に吹き付けることにより積層されたプレート部4と、を備えることを特徴とする。
【選択図】図1

Description

本発明は、半導体基板を支持しながら加熱するシャフト付きヒータユニットおよびシャフト付きヒータユニット製造方法に関する。
半導体基板の製造プロセス、例えばアニール処理等において、真空チャンバ内で半導体基板を加熱処理しているが、半導体基板を均一に加熱し、温度分布を少なくすることは歩留まりに大きな影響を及ぼすものであり、近年、より厳密な温度制御が望まれている。
この半導体基板の加熱処理において、半導体基板を支持しながら加熱するシャフト付きヒータが知られている(たとえば、特許文献1参照)。シャフト付きヒータは、被加熱物である半導体基板を載置し、内部にシースヒータが埋め込まれたヒータプレートと、該ヒータプレートを支持するシャフトから構成され、該シャフト付きヒータのヒータプレートの材料は、ヒータの使用温度範囲、即ち、被加熱物である半導体基板の加熱温度を考慮して選択されている。
特開2009−176569号公報
ところで、ヒータプレートの材料として、一般に熱伝導率が高いアルミニウムまたはアルミニウム合金が好適に使用されているが、ヒータを高温で連続使用するような場合、ヒータプレート中央部をシャフトで支持するシャフト付きヒータでは、シャフトで支持されないヒータプレート外周部にたわみが発生し、被加熱物の温度制御を精密に行うことができないおそれがある。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、ヒータ強度を向上し、これによりヒータ温度分布を改善することができるシャフト付きヒータユニットおよびシャフト付きヒータユニット製造方法を提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係るシャフト付きヒータユニットは、被加熱物を載置して加熱するヒータプレートと、該ヒータプレートを支持するシャフトを有するシャフト付きヒータユニットであって、前記ヒータプレートは、前記シャフトと接合される平板状のベース部と、前記ヒータプレートの使用温度域における強度が前記ベース部を構成する材料より高い材料から選択された固相状態の材料粉末を、加熱した圧縮ガスにより該材料粉末の融点より低い温度で前記ベース部上に吹き付けることにより積層されたプレート部と、を備えることを特徴とする。
また、本発明に係るシャフト付きヒータユニットは、上記発明において、前記ヒータプレートは、前記ベース部と同一の材料からなる固相状態の材料粉末を、加熱した圧縮ガスにより該材料粉末の融点より低い温度で前記プレート部上に吹き付けることにより積層されてなり、被加熱物を載置する載置部を備えることを特徴とする。
また、本発明に係るシャフト付きヒータユニットは、上記発明において、前記ヒータプレートは、該ヒータプレート外周部を覆う皮膜層を備え、前記皮膜層は、前記ベース部と同一の材料からなる固相状態の材料粉末を、加熱した圧縮ガスにより該材料粉末の融点より低い温度で前記ヒータプレート外周部に吹き付けることにより積層されたことを特徴とする。
また、本発明に係るシャフト付きヒータユニットは、上記発明において、前記ヒータプレートは、前記プレート部中にシースヒータを配置することを特徴とする。
また、本発明に係るシャフト付きヒータユニットは、上記発明において、前記ベース部はアルミニウムまたはアルミニウム合金からなり、前記プレート部は銅または銅合金からなることを特徴とする。
また、本発明に係るシャフト付きヒータユニット製造方法は、被加熱物を載置して加熱するヒータプレートと、該ヒータプレートを支持するシャフトを有するシャフト付きヒータユニット製造方法であって、前記シャフトと接合される平板状のベース部に、シースヒータを配置する配置工程と、前記ヒータプレートの使用温度域における強度が前記ベース部を構成する材料より高い材料から選択された固相状態の材料粉末を、加熱した圧縮ガスにより該材料粉末の融点より低い温度で前記ベース部上に吹き付けることにより、プレート部を形成するプレート部積層工程と、を含むことを特徴とする。
また、本発明に係るシャフト付きヒータユニット製造方法は、上記発明において、前記ベース部を構成する材料と同一の材料で構成される固相状態の材料粉末を、該材料粉末の融点より低い温度に加熱した圧縮ガスとともに前記プレート部上に吹き付けることにより、前記プレート部に積層され、前記被加熱物を載置する載置部を形成する載置部積層工程を含むことを特徴とする。
また、本発明に係るシャフト付きヒータユニット製造方法は、上記発明において、前記ベース部を構成する材料と同一の材料で構成される固相状態の材料粉末を、該材料粉末の融点より低い温度に加熱した圧縮ガスとともに前記ヒータプレート外周部に吹き付けることにより、前記ヒータプレート外周部を覆う皮膜層を形成する皮膜層積層工程を含むことを特徴とする。
本発明のシャフト付きヒータユニットは、被加熱物を載置するヒータプレートが、該ヒータプレートの使用温度範囲を考慮した第1の材料で構成されたベース部と、前記ヒータプレートの使用温度域における強度が前記ベース部を構成する材料より高い第2の材料で構成されたプレート部からなり、前記プレート部を、固相の粉末材料を融点以下の圧縮ガスでそれぞれ溶射し積層する、いわゆるコールドスプレー法で形成することにより、プレートヒータを高温域で使用する場合でも、プレートヒータの外周部のたわみを防止するとともに、ヒータの温度分布を改善し、かつ熱疲労によるヒータプレートの異材界面における剥がれ、ひび割れ等を効果的に防止しうるという効果を奏する。
図1は、本発明の実施の形態に係るシャフト付きヒータユニットの構成を示す断面図である。 図2は、本発明の実施の形態に係るシャフト付きヒータユニットの製造工程を説明するフローチャートである。 図3は、本発明の実施の形態に係るシャフト付きヒータユニットの製造に使用される溶射装置の一例の概要を示す説明図である。 図4は、本発明の実施の形態に係るシャフト付きヒータユニットの製造工程を示す断面図である。 図5は、本発明の実施の形態に係るシャフト付きヒータユニットの製造工程を示す断面図である。 図6は、本発明の実施の形態に係るシャフト付きヒータユニットの製造工程を示す断面図である。 図7は、本発明の実施の形態の変形例1に係るシャフト付きヒータユニットの構成を示す断面図である。 図8は、本発明の実施の形態の変形例2に係るシャフト付きヒータユニットの構成を示す断面図である。 図9は、本発明の実施の形態の変形例3に係るシャフト付きヒータユニットの構成を示す断面図である。 図10は、図9に示すシャフト付きヒータユニットのX−X断面図である。
以下に、本発明にかかるシャフト付きヒータユニットおよびシャフト付きヒータユニット製造方法の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、本発明は、これらの実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
図1は、本発明の実施の形態に係るシャフト付きヒータユニット100の構成を示す断面図である。シャフト付きヒータユニット100は、略円板状のヒータプレート1と、ヒータプレート1を支持するシャフト部2と、を備える。シャフト付きヒータユニット100は、通常、半導体製造装置の反応室であるプロセスチャンバ内の箱状のハウジング内に設置され、該ハウジング内は真空状態となるよう気密性を有している。本実施の形態では、円板状のヒータプレートを使用するが、これに限定されるものではなく、被加熱物の形状等を考慮すれば矩形状であってもよい。
ヒータプレート1は、シャフト部2と接合されるベース部3と、ベース部3上に積層されるプレート部4と、被加熱物である半導体基板を載置する載置部5と、を備える。
ベース部3は、中心部に円状の開口部10を有し、ベース部3上には、略一面にシースヒータ6が配置される。シースヒータ6に電力を供給する電力供給線7が、開口部10を介して外部電源と接続される。ベース部3および後述する載置部5は、同一の材料であり、ヒータプレート1としての使用温度範囲に基づき材料は適宜選択される。ヒータプレート1の材料として好ましい材料として、熱伝導率の高い金属、例えばアルミニウムまたはアルミニウム合金(熱伝導率:100〜240W/m・K、常温時)が好適に使用されるが、これに限定されず、ヒータプレート1の使用温度範囲によって、鉄または鉄合金(熱伝導率:10〜80W/m・K、常温時)、銅または銅合金(熱伝導率:100〜400W/m・K、常温時)、ニッケルまたはニッケル合金(熱伝導率:5〜100W/m・K、常温時)、チタンまたはチタン合金(熱伝導率:5〜30W/m・K、常温時)、インジウム(熱伝導率:82W/m・K、常温時)、鉛(熱伝導率:35W/m・K、常温時)、マグネシウム(熱伝導率:156W/m・K、常温時)、錫(熱伝導率:67W/m・K、常温時)、銀(熱伝導率:420W/m・K、常温時)、亜鉛(熱伝導率:116W/m・K、常温時)等から選択されてもよい。
プレート部4は、ベース部3上に一様に積層される。プレート部4は、ヒータプレート1の使用温度域における強度がベース部3を構成する材料より高い材料から選択される。ここで、強度とは、材料の使用温度域における機械的強度を意味し、使用温度域におけるヤング率や、引張強さ等を考慮して材料を選択すればよい。表1に、使用可能な金属材料(純金属またはその合金)の常温時におけるヤング率を示す。
Figure 2012003906
ベース部3としてアルミニウムまたはアルミニウム合金が選択される場合、プレート部4の材料は、これより機械的強度が高い材料、例えば、銅または銅合金が使用される。プレート部4をベース部3よりヒータプレート1の使用温度範囲の機械的強度の高い材料で構成すると、使用温度範囲の上限域で連続的に使用した場合でも、後述するシャフト部2で支持されないヒータプレート1の外周部のたわみを防止することができる。なお、ベース部3とプレート部4の厚さは、ヒータプレート1の径の大きさ、厚みに加え、ベース部3およびプレート部4として選択された各材料の熱伝導率および機械的強度を考慮して、ヒータプレート1の温度分布が使用温度範囲において一様となるように適宜調整する。
載置部5は、プレート部4上に積層され、被加熱物である半導体基板を載置する。載置部5には、半導体基板とヒータプレート1の表面(載置部5)との接触を低減させるスペーサを設置してもよい。本実施の形態にかかるシャフト付きヒータプレート100は載置部5を備えるが、必ずしも載置部5を設ける必要はなく、プレート部4上に被加熱物を載置してもよい。
シャフト部2は、ヒータプレート1を支持するシャフト本体部8と、ヒータプレート1と接合するためのフランジ部9とを備える。シャフト本体部8は、中空円筒形状であり、電力供給線7が内部に配置される。フランジ部9は、ヒータプレート部のシャフト側に配置するベース部3と溶接またはろう付け等によって接合される。本実施の形態にかかるシャフト付きヒータ100は、フランジ部9を介してシャフト部2とヒータプレート1とを接続しているが、フランジ部9を設けることなく、シャフト部2の端部とヒータプレート1とを溶接またはろう付け等によって接合してもよい。なお、シャフト部2及びベース部3についても、後述するコールドスプレー法により積層形成することができる。
次に、図2〜6を参照して、本発明の実施の形態に係るシャフト付きヒータユニット100の製造工程を説明する。図2は、本発明の実施の形態に係るシャフト付きヒータユニット100の製造工程を説明するフローチャートである。図3は、本発明の実施の形態に係るシャフト付きヒータユニットの製造に使用される溶射装置の一例の概要を示す説明図である。図4〜6は、シャフト付きヒータユニット100の製造工程を説明する断面図である。
図2のフローチャートに示すように、まず、ベース部3の開口部10をマスキング部材11でマスキングする(ステップS101)。ベース部3は、切削や鋳造などにより加工成形したものを使用すればよい。その後、図4に示すように、ベース部3の略一面にシースヒータ6を配置する(ステップS102)。
その後、ベース部3上に、プレート部4の粉末材料を、図3に示すような溶射装置50を用いてコールドスプレーすることによって、プレート部4を形成する(ステップS103、図5参照)。溶射装置50は、圧縮ガスを融点以下に加熱するガス加熱器40と、被溶射物に溶射する粉末材料を収容し、スプレーガン44に供給する粉末供給装置41と、スプレーガン44で過熱された圧縮ガスと混合された材料粉末を基材に噴射するガスノズル45とを備えている。
圧縮ガスとしては、ヘリウム、窒素、空気などが使用される。供給された圧縮ガスは、バルブ42および43により、ガス加熱器40と粉末供給装置41にそれぞれ供給される。ガス加熱器40に供給された圧縮ガスは、溶射材料の融点より低い温度、例えば50〜700℃に加熱された後、スプレーガン44に供給される。より好ましくは、圧縮ガスにより加熱された溶射材料粉末の上限温度は、材料の融点以下に留める。粉末加熱温度を材料の融点以下に留めることにより、材料の酸化を抑制できるためである。粉末供給装置41に供給された圧縮ガスは、粉末供給装置41内の、例えば、粒径が10〜100μm程度の材料粉末をスプレーガン44に所定の吐出量となるように供給する。加熱された圧縮ガスは先細末広形状のガスノズル45により超音速流(約340m/s以上)にされる。スプレーガン44に供給された粉末材料は、この圧縮ガスの超音速流の中への投入により加速され、固相状態のまま基材に高速で衝突して皮膜を形成する。材料粉末を基材に固相状態で衝突させて皮膜を形成できる装置であれば、本実施の形態に係るシャフト付きヒータユニット100の製造に使用可能であり、図3の溶射装置50に限定されるものではない。
ステップS103の後、図6に示すように、載置部5の粉末材料を、プレート部4上にコールドスプレーにより積層して、所望の厚さ分の載置部5を形成する(ステップS104)。
すべての材料の積層終了後、マスキング部材11を除去し(ステップS105)、シャフト部2のフランジ部9とヒータプレート1のベース部3とを、溶接またはろう付けにより接合する(ステップS106)。続いて、シャフト部2およびベース部3の開口部10を介して、電力供給線7とシースヒータ6とを接続する(ステップS107)。なお、シースヒータ6がシャフト部2から飛び出す程度に長い場合は電力供給線7の接続が不要な場合もある。
上述した製造工程において、切削または鋳造などにより予め所定形状に成形されたベース部3を使用してシャフト付きヒータユニット100を製造しているが、ベース部3ならびにシャフト部2も、プレート部4および載置部5と同様に、コールドスプレー法によりそれぞれ成形してもよい。
上記のように、異なる材料を用いてコールドスプレー法によりヒータプレート1を製造した場合、圧縮ガス温度が低いため、使用する材料の酸化や熱変質がほとんどなく、緻密で密着力が高い皮膜を形成することが出来る。また、コールドスプレー法によれば、任意の箇所に必要な材料を積層できるため、ヒータプレート1の使用温度範囲での強度が高い材料を複合化することにより、ヒータ強度を向上し、ヒータプレート1の温度分布を効果的に改善できる。さらに接合時の温度を低くできるため、材料間に熱膨張差によるひずみの蓄積がなく、材料界面での剥がれ、ひび割れを防止できるという優れた効果を有する。
なお、実施の形態にかかるシャフト付きヒータユニット100の変形例1として、図7に示すシャフト付きヒータユニット100Aが例示される。シャフト付きヒータユニット100Aは、ベース部3Aの中心部に開口部を有していない。したがって、プレート部4をコールドスプレー法により積層する場合に、マスキングする必要がなく、工程を短縮して製造することができる。
また、実施の形態にかかるシャフト付きヒータユニット100の変形例2として、図8に示すシャフト付きヒータユニット100Bが例示される。シャフト付きヒータユニット100Bは、ヒータプレート1B外周部を覆う皮膜層12を備える。例えば、ベース部3および載置部5をアルミニウムまたはアルミニウム合金で構成し、プレート部4の材料として、アルミニウムまたはアルミニウム合金より強度が高い銅または銅合金を選択した場合、プレート部4からの銅の拡散による被加熱物である半導体基板への銅汚染を防止するために、皮膜層12を備えることが好ましい。皮膜層12は、ベース部3および載置部5と同様に、アルミニウムまたはアルミニウム合金とすることが好ましい。皮膜層12は、固相状態の材料粉末を、該材料粉末の融点より低い温度に加熱した圧縮ガスとともにヒータプレート1B外周部に吹き付けることにより積層し、形成する。
さらに、実施の形態にかかるシャフト付きヒータユニット100の変形例3として、図9および10に示すシャフト付きヒータユニット100Cが例示される。シャフト付きヒータユニット100Cのヒータプレート1Cは、シャフト部2と接合されるベース部3と、ベース部3上に積層される第1プレート部4Aおよび第2プレート部4Bと、被加熱物である半導体基板を載置する載置部5と、を備える。第1プレート部4Aは、図10に示すように、ベース部3上に中心から放射状の形状に積層される。第1プレート部4Aは、ヒータプレート1の使用温度域における強度がベース部3を構成する材料より高い材料から選択される。第2プレート部4Bは、ベース部3上に第1プレート部4Aの間を埋めるように積層される。第2プレート部4Bは、ベース部3を構成する材料と同じ材料から選択される。変形例3にかかるシャフト付きヒータユニット100Cは、第1プレート部4Aをベース部3上に放射状に形成することにより、ヒータプレート1Cを使用温度範囲の上限域で連続的に使用した場合でも、シャフト部2で支持されないヒータプレート1の外周部のたわみを防止することができる。
本発明は、異なる材料を接合してなるシャフト付きヒータユニットおよびシャフト付きヒータユニット製造方法に利用可能であり、特に、半導体製造装置で使用されるシャフト付きヒータに有用である。
1、1A、1B、1C ヒータプレート
2 シャフト部
3、3A ベース部
4 プレート部
4A 第1プレート部
4B 第2プレート部
5 載置部
6 シースヒータ
7 電力供給線
8 シャフト本体部
9 フランジ部
10 開口部
11 マスキング部材
40 ガス加熱器
41 粉末供給装置
42、43 バルブ
44 スプレーガン
45 ガスノズル
50 溶射装置
100、100A、100B、100C シャフト付きヒータユニット

Claims (8)

  1. 被加熱物を載置して加熱するヒータプレートと、該ヒータプレートを支持するシャフトを有するシャフト付きヒータユニットであって、
    前記ヒータプレートは、
    前記シャフトと接合される平板状のベース部と、
    前記ヒータプレートの使用温度域における強度が前記ベース部を構成する材料より高い材料から選択された固相状態の材料粉末を、加熱した圧縮ガスにより該材料粉末の融点より低い温度でベース部上に吹き付けることにより積層されたプレート部と、
    を備えることを特徴とするシャフト付きヒータユニット。
  2. 前記ヒータプレートは、
    前記ベース部と同一の材料からなる固相状態の材料粉末を、加熱した圧縮ガスにより該材料粉末の融点より低い温度で前記プレート部上に吹き付けることにより積層されてなり、被加熱物を載置する載置部を備えることを特徴とする請求項1に記載のシャフト付きヒータユニット。
  3. 前記ヒータプレートは、該ヒータプレート外周部を覆う皮膜層を備え、前記皮膜層は、前記ベース部と同一の材料からなる固相状態の材料粉末を、加熱した圧縮ガスにより該材料粉末の融点より低い温度で前記ヒータプレート外周部に吹き付けることにより積層されたことを特徴とする請求項2に記載のシャフト付きヒータユニット。
  4. 前記ヒータプレートは、前記プレート部中にシースヒータを配置することを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載のシャフト付きヒータユニット。
  5. 前記ベース部はアルミニウムまたはアルミニウム合金からなり、前記プレート部は銅または銅合金からなることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載のシャフト付きヒータユニット。
  6. 被加熱物を載置して加熱するヒータプレートと、該ヒータプレートを支持するシャフトを有するシャフト付きヒータユニット製造方法であって、
    前記シャフトと接合される平板状のベース部に、シースヒータを配置する配置工程と、
    前記ヒータプレートの使用温度域における強度が前記ベース部を構成する材料より高い材料から選択された固相状態の材料粉末を、加熱した圧縮ガスにより該材料粉末の融点より低い温度で前記ベース部上に吹き付けることにより、プレート部を形成するプレート部積層工程と、
    を含むことを特徴とするシャフト付きヒータユニット製造方法。
  7. 前記ベース部を構成する材料と同一の材料で構成される固相状態の材料粉末を、該材料粉末の融点より低い温度に加熱した圧縮ガスとともにプレート部上に吹き付けることにより、前記プレート部上に積層され、前記被加熱物を載置する載置部を形成する載置部積層工程を含むことを特徴とする請求項6に記載のシャフト付きヒータユニット製造方法。
  8. 前記ベース部を構成する材料と同一の材料で構成される固相状態の材料粉末を、加熱した圧縮ガスにより該材料粉末の融点より低い温度で前記ヒータプレート外周部に吹き付けることにより、前記ヒータプレート外周部を覆う皮膜層を形成する皮膜層積層工程を含むことを特徴とする請求項7に記載のシャフト付きヒータユニット製造方法。
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