JP2011528166A - 無非点収差イメージングのためのtof質量分析計および関連する方法 - Google Patents
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Abstract
Description
Ttof=L(m/2zeV)1/2
上式でLはイオン源からの距離であり、Vはイオン源内のイオンにより得られる公称エネルギである。この方程式は電圧波形を計算するために使用されることができる。上記の方程式から理解されることができるように、イオン光学レンズまでのイオンの飛行時間は、より大きな質量対電荷比を有するイオンに対してより長い。
Claims (20)
- 試料からイオンパルスを生成するためのパルス抽出イオン源と、
イオンパルス中のイオン、およびイオンが検出器に到達する位置を検出するための空間検出器と、
イオンが電場を通過するときにイオンパルス中のイオンの焦点を合わせるために電場を供給するための、イオン源と空間検出器の間に配置されるイオン光学レンズとを有し、
TOF質量分析計が、イオンパルスが電場を通過するときに電場を調節するための電場調節手段を含む、TOF質量分析計。 - 空間検出器が遅延線検出器である、または多数の陽極を有する、請求項1に記載のTOF質量分析計。
- 電場調節手段が、イオンパルスがイオン光学レンズにより供給される電場を通過するときにイオン光学レンズに電圧波形を印加するための電圧波形発生器を含む、請求項1または2に記載のTOF質量分析計。
- 質量分析計が電圧波形発生器を制御するための制御手段を含み、制御手段が任意選択で、イオンパルスが電場を通過するときに電圧波形発生器によりイオン光学レンズに印加される電圧を増大させるための手段、および/または線形波形、指数関数的波形、ステップ状波形、もしくは振動波形の任意の1つもしくは複数をイオン光学レンズに印加するために電圧波形発生器を制御するための手段を有する、請求項3に記載のTOF質量分析計。
- 制御手段が、電圧波形発生器によりイオン光学レンズに印加される電圧波形を記憶するためのメモリ、および/または電圧波形発生器によりイオン光学レンズに印加される電圧波形を計算するための計算手段を含む、請求項4に記載のTOF質量分析計。
- 電圧波形の制御がイオン源の1つまたは複数の特徴に少なくとも部分的に依存するように、制御手段がイオン源に結合される、請求項4または5に記載のTOF質量分析計。
- 分光計が、イオンパルスが通過する開口を有するイオン光学構成要素を含み、質量分析計が使用中のときのイオンパルスの幅に対する開口の幅の比が少なくとも5:1である、請求項1から6のいずれか一項に記載のTOF質量分析計。
- 電場調節手段が、イオンパルスが電場を通過するときにイオン光学レンズにより供給される電場の強さおよび/または形状を調節するための手段を有する、請求項1から7のいずれか一項に記載のTOF質量分析計。
- イオン光学レンズがアインツェルレンズであり、イオン源がレーザレーザ脱離(マトリクスでない)イオン源、MALDIイオン源、およびSIMS(二次イオン質量分析計)イオン源から選択され、質量分析計がリフレクトロンを含む、請求項1から8のいずれか一項に記載のTOF質量分析計。
- TOF質量分析計がTOF MS/MS質量分析計である、請求項1から9のいずれか一項に記載のTOF質量分析計。
- 電場調節手段が、1秒未満の期間中にイオン光学レンズにより供給される電場を調節するように構成される、請求項1から10のいずれか一項に記載のTOF質量分析計。
- TOF質量分析計で空間的にイオンパルスの焦点を合わせる方法であって、
試料からイオンパルスを生成するステップと、
空間的にイオンパルスの焦点を合わせるために電場を供給するステップと、
電場により焦点を合わせられたイオンパルスを検出するステップであって、イオンパルスが電場を通過するときに電場が調節されるステップと、を含む方法。 - 試料の画像を生成するステップを含む、請求項12に記載の方法。
- 電場がイオン光学レンズにより供給され、イオンパルスが電場を通過するときに、電場がイオン光学レンズに電圧波形を印加することにより調節され、その結果、イオンパルスが電場を通過するときにイオン光学レンズに印加される電圧が増大させられる、請求項12または13に記載の方法。
- 電場が1秒未満の期間中に調節される、請求項12から14のいずれか一項に記載の方法。
- 試料からイオンパルスを生成するためのパルス抽出イオン源と、
イオンパルスがイオン光学レンズを通過するときにイオンパルスの焦点を合わせるためのイオン光学レンズと、
イオン光学レンズにより焦点を合わせられたイオンを検出し、かつイオンが検出器に到達する位置を計測するための空間検出器と、
イオンパルスがイオン光学レンズを通過するときにイオン光学レンズに電圧波形を印加するための電圧波形発生器と、を有するTOF質量分析計。 - TOF質量分析計で空間的にイオンパルス中のイオンの焦点を合わせる可変電場の使用。
- イオンパルスがイオン光学レンズを通過するときにイオン光学レンズに供給される電場を調節するための、請求項1から11のいずれか一項に記載のTOF質量分析計でイオン光学レンズと共に使用するための電場調節手段。
- 請求項1から11のいずれか一項に記載の質量分析計になるようにTOF質量分析計を修正する方法であって、請求項18の電場調節手段を実装するステップを含む方法。
- 空間的にイオンパルス中のイオンの焦点を合わせるために、イオンパルスがイオン光学レンズを通過するときに質量分析計のイオン光学レンズに印加される電圧波形を識別するステップを含む、TOF質量分析計を較正する方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014059967A (ja) * | 2012-09-14 | 2014-04-03 | Jeol Ltd | マスイメージング装置及びマスイメージング装置の制御方法 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8426806B2 (en) * | 2009-12-21 | 2013-04-23 | California Institute Of Technology | Differential mobility spectrometer with spatial ion detector and methods related thereto |
GB201108082D0 (en) * | 2011-05-16 | 2011-06-29 | Micromass Ltd | Segmented planar calibration for correction of errors in time of flight mass spectrometers |
JP2012243667A (ja) * | 2011-05-23 | 2012-12-10 | Jeol Ltd | 飛行時間質量分析装置及び飛行時間質量分析方法 |
CN103035472B (zh) * | 2011-09-29 | 2015-08-26 | 江苏天瑞仪器股份有限公司 | 质谱仪及动态透镜板 |
GB201122309D0 (en) * | 2011-12-23 | 2012-02-01 | Micromass Ltd | An imaging mass spectrometer and a method of mass spectrometry |
DE102014115034B4 (de) * | 2014-10-16 | 2017-06-08 | Bruker Daltonik Gmbh | Flugzeitmassenspektrometer mit räumlicher Fokussierung eines breiten Massenbereichs |
CN104793043B (zh) * | 2015-04-20 | 2019-01-25 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 一种用于空间环境中等离子体电位的监测装置 |
US10622203B2 (en) * | 2015-11-30 | 2020-04-14 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Multimode ion mirror prism and energy filtering apparatus and system for time-of-flight mass spectrometry |
GB2563604B (en) | 2017-06-20 | 2021-03-10 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Mass spectrometer and method for time-of-flight mass spectrometry |
CN107768227A (zh) * | 2017-11-13 | 2018-03-06 | 江苏天瑞仪器股份有限公司 | 一种电感耦合等离子体质谱仪真空透镜供电系统 |
GB2592591A (en) | 2020-03-02 | 2021-09-08 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Time of flight mass spectrometer and method of mass spectrometry |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63266751A (ja) * | 1987-04-23 | 1988-11-02 | Jeol Ltd | 静電補正飛行時間型二次イオン顕微鏡 |
JPH07500448A (ja) * | 1991-04-25 | 1995-01-12 | ザ パーキン エルマー コーポレイション | 分解能と伝達効率との間の性能配分を可能とする開口を備えた飛行時間型質量分析計 |
JP2002116184A (ja) * | 2000-10-10 | 2002-04-19 | Hitachi Ltd | 半導体デバイス異物分析装置およびシステム |
JP2006078470A (ja) * | 2004-08-10 | 2006-03-23 | Fujitsu Ltd | 3次元微細領域元素分析方法及び3次元微細領域元素分析装置 |
JP2006196190A (ja) * | 2005-01-11 | 2006-07-27 | Shimadzu Corp | Maldiイオントラップ型質量分析装置及び分析方法 |
JP2007242252A (ja) * | 2006-03-06 | 2007-09-20 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
WO2007138679A1 (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-06 | Shimadzu Corporation | 質量分析装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10005698B4 (de) * | 2000-02-09 | 2007-03-01 | Bruker Daltonik Gmbh | Gitterloses Reflektor-Flugzeitmassenspektrometer für orthogonalen Ioneneinschuss |
GB0006046D0 (en) * | 2000-03-13 | 2000-05-03 | Univ Warwick | Time of flight mass spectrometry apparatus |
DE10034074B4 (de) * | 2000-07-13 | 2007-10-18 | Bruker Daltonik Gmbh | Verbesserte Tochterionenspektren mit Flugzeitmassenspektrometern |
GB0021902D0 (en) * | 2000-09-06 | 2000-10-25 | Kratos Analytical Ltd | Ion optics system for TOF mass spectrometer |
JP2007157353A (ja) | 2005-11-30 | 2007-06-21 | Osaka Univ | イメージング質量分析装置 |
GB0605089D0 (en) * | 2006-03-14 | 2006-04-26 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
-
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63266751A (ja) * | 1987-04-23 | 1988-11-02 | Jeol Ltd | 静電補正飛行時間型二次イオン顕微鏡 |
JPH07500448A (ja) * | 1991-04-25 | 1995-01-12 | ザ パーキン エルマー コーポレイション | 分解能と伝達効率との間の性能配分を可能とする開口を備えた飛行時間型質量分析計 |
JP2002116184A (ja) * | 2000-10-10 | 2002-04-19 | Hitachi Ltd | 半導体デバイス異物分析装置およびシステム |
JP2006078470A (ja) * | 2004-08-10 | 2006-03-23 | Fujitsu Ltd | 3次元微細領域元素分析方法及び3次元微細領域元素分析装置 |
JP2006196190A (ja) * | 2005-01-11 | 2006-07-27 | Shimadzu Corp | Maldiイオントラップ型質量分析装置及び分析方法 |
JP2007242252A (ja) * | 2006-03-06 | 2007-09-20 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
WO2007138679A1 (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-06 | Shimadzu Corporation | 質量分析装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014059967A (ja) * | 2012-09-14 | 2014-04-03 | Jeol Ltd | マスイメージング装置及びマスイメージング装置の制御方法 |
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