JP2011254636A - 整流回路検査装置、整流回路検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】整流回路検査装置は、ブリッジ接続された第1〜第6整流素子を含み三相交流電圧を整流する整流回路の第1整流素子のアノード及び第2整流素子のカソードの接続点に接続され、三相交流電圧のうちの何れか一相の第1電圧が印加される第1配線に流れる第1電流を測定する第1測定部と、第1測定部の測定結果に基づいて、整流回路が三相交流電圧のレベルに応じた所定のタイミングで動作するか否かを判定する判定部と、を備える。
【選択図】図1
Description
ここで、サイリスタ50〜52の点弧角が180度の際に、整流回路30に含まれる整流素子の全てが正常である場合と、整流素子の何れか一つが例えば開放故障している場合の電流Ir,Is,Itについて説明する。なお、ここでは電源供給装置20は、負荷15として接続された継電器の内部に含まれる抵抗(不図示)に電源を供給することとする。つまり、本実施形態では、配電用遮断器42,43の間には、等価的に抵抗負荷が接続されていることになる。
図2を参照しつつ整流回路30に含まれる整流素子の全てが正常である場合について説明する。なお、時刻t0〜t6までの期間は三相交流電圧Vr,Vs,Vtの夫々の1周期の期間である。また、ここでは、配線35からサイリスタ50へと流れる電流Irを正の電流Irとし、ダイオード60から配線35へと流れる電流Irを負の電流Irとする。なお、電流Is,Itも電流Irと同様に、配線側から整流回路30へと流れる電流を正の電流とし、その逆を負の電流とする。
サイリスタ50が開放故障している場合の電流Ir,Is,Itについて、図3を参照しつつ説明する。サイリスタ50が開放故障していると、サイリスタ50がオンすべき時刻t0〜t2までサイリスタ50がオフした状態となる。つまり、サイリスタ50は、三相交流電圧Vr,Vs,Vtのレベルに応じた所定のタイミングで動作(オン)しなくなる。
ダイオード60が開放故障している場合の電流Ir,Is,Itについて、図4を参照しつつ説明する。ダイオード60が開放故障していると、ダイオード60がオンすべき時刻t3〜t5までダイオード60がオフした状態となる。つまり、ダイオード60は、三相交流電圧Vr,Vs,Vtのレベルに応じた所定のタイミングで動作(オン)しなくなる。
図5は、整流回路30の整流素子が正常な場合と、何れか一つが開放故障している場合における電流Ir,Is,Itの特性をまとめた図である。例えば、サイリスタ51が故障すると、サイリスタ50が故障した場合と同様に、電流Isの直流成分のレベルが−I1となり、電流Ir,Itの直流成分のレベルが+I2となる。一方、ダイオード61が故障すると、ダイオード60が故障した場合と同様に、電流Isの直流成分のレベルが+I1となり、電流Ir,Itの直流成分のレベルが−I2となる。
ここで、図1に示す検査装置25の詳細について説明する。検査装置25は、電流Ir,Is,Itに基づいて、整流回路30、制御装置33の異常の有無を検査する。
ここで、図7を参照しつつ、検査装置25が整流回路30、または制御装置33に異常があるか否かを検査する処理の一例を説明する。検査装置25は、例えば所定周期ごとに図7に示した処理を実行することとする。また、図7に示すフローチャートの処理の主体はマイコン82が実現する各機能ブロックである。
20 電源供給装置
21〜24 変流器
25 検査装置
30 整流回路
31 コンデンサ
32 蓄電池
33 制御装置
35〜39 電源線
40〜45 配電用遮断器
50〜52 サイリスタ
60〜62 ダイオード
80 ADコンバータ
81 記憶装置
82 マイコン
83 インターフェース回路
84 表示器
90 判定部
92 処理部
Claims (11)
- ブリッジ接続された第1〜第6整流素子を含み、三相交流電圧を整流する整流回路の前記第1整流素子のアノード及び第2整流素子のカソードの接続点に接続され、前記三相交流電圧のうちの何れか一相の第1電圧が印加される第1配線に流れる第1電流を測定する第1測定部と、
前記第1測定部の測定結果に基づいて、前記整流回路が前記三相交流電圧のレベルに応じた所定のタイミングで動作するか否かを判定する判定部と、
を備えることを特徴とする整流回路検査装置。 - 請求項1に記載の整流回路検査装置であって、
前記判定部は、
前記第1電流の直流成分の大きさに基づいて、前記整流回路が前記三相交流電圧のレベルに応じた所定のタイミングで動作するか否かを判定すること、
を特徴とする整流回路検査装置。 - 請求項2に記載の整流回路検査装置であって、
前記判定部は、
前記直流成分の大きさが所定の範囲を超える場合、前記整流回路が前記三相交流電圧のレベルに応じた所定のタイミングで動作していないと判定し、前記直流成分の大きさが前記所定の範囲を超えない場合、前記整流回路が前記三相交流電圧のレベルに応じた所定のタイミングで動作していると判定すること、
を特徴とする整流回路検査装置。 - 請求項1に記載の整流回路検査装置であって
前記整流回路の前記第3整流素子のアノード及び第4整流素子のカソードの接続点に接続され、前記三相交流電圧のうちの一相の電圧であり前記第1電圧とは異なる第2電圧が印加される第2配線に流れる第2電流を測定する第2測定部と、
前記整流回路の前記第5整流素子のアノード及び第6整流素子のカソードの接続点に接続され、前記三相交流電圧のうち一相の電圧であり前記第1及び第2電圧とは異なる第3電圧が印加される第3配線に流れる第3電流を測定する第3測定部と、
を更に備え、
前記判定部は、
前記第1〜第3測定部の測定結果に基づいて、第1〜第6整流素子が前記三相交流電圧のレベルに応じた所定のタイミングで動作するか否かを判定すること、
を特徴とする整流回路検査装置。 - 請求項4に記載の整流回路検査装置であって、
前記判定部は、
前記第1電流の直流成分の大きさが、前記第2電流の直流成分の大きさ及び前記第3電流の直流成分の大きさより大きい場合、前記第1または第2整流素子が前記三相交流電圧のレベルに応じた所定のタイミングで動作していないと判定すること、
を特徴とする整流回路検査装置。 - 請求項5に記載の整流回路検査装置であって、
前記判定部は、
前記第1電流の直流成分の値が所定の値より高いか低いかに基づいて、前記第1及び第2整流素子のうち前記三相交流電圧のレベルに応じた所定のタイミングで動作していない整流素子を判定すること、
を特徴とする整流回路検査装置。 - 請求項4〜5の何れか一項に記載の整流回路検査装置であって、
前記判定部は、
前記第2電流の直流成分の大きさが、前記第1電流の直流成分の大きさ及び前記第3電流の直流成分の大きさより大きい場合、前記第3または第4整流素子が前記三相交流電圧のレベルに応じた所定のタイミングで動作していないと判定すること、
を特徴とする整流回路検査装置。 - 請求項6に記載の整流回路検査装置であって、
前記判定部は、
前記第2電流の直流成分の値が所定の値より高いか低いかに基づいて、前記第3及び第4整流素子のうち前記三相交流電圧のレベルに応じた所定のタイミングで動作していない整流素子を判定すること、
を特徴とする整流回路検査装置。 - 請求項4〜8の何れか一項に記載の整流回路検査装置であって、
前記判定部は、
前記第3電流の直流成分の大きさが、前記第1電流の直流成分の大きさ及び前記第2電流の直流成分の大きさより大きい場合、前記第5または第6整流素子が前記三相交流電圧のレベルに応じた所定のタイミングで動作していないと判定すること、
を特徴とする整流回路検査装置。 - 請求項9に記載の整流回路検査装置であって、
前記判定部は、
前記第3電流の直流成分の値が所定の値より高いか低いかに基づいて、前記第5及び第6整流素子のうち前記三相交流電圧のレベルに応じた所定のタイミングで動作していない整流素子を判定すること、
を特徴とする整流回路検査装置。 - ブリッジ接続された第1〜第6整流素子を含み、三相交流電圧を整流する整流回路の前記第1整流素子のアノード及び第2整流素子のカソードの接続点に接続され、前記三相交流電圧のうちの何れか一相の第1電圧が印加される第1配線に流れる第1電流を測定し、
前記第1測定部の測定結果に基づいて、前記整流回路が前記三相交流電圧のレベルに応じた所定のタイミングで動作するか否かを判定すること、
を特徴とする整流回路検査方法。
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