JP2011234006A - Ad変換回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】本発明は、内部に小規模の回路を追加し、この回路を利用して、自身が備えるDACのリニアリティエラーを測定することのできるAD変換回路を実現することを目的とする。
【解決手段】本発明は、外部から入力したアナログ信号から、自身のレジスタのデジタルコードに応じたアナログ信号を出力するDAコンバータの出力を、減算して出力する減算器と、この減算器の出力値の正負に応じて、それぞれ1または0のデータを出力するコンパレータと、このコンパレータの出力に応じて、デジタルコードを前記DAコンバータへ出力するとともに、前記デジタルコードを外部に出力する逐次比較レジスタロジック部と、を備えたAD変換回路において、前記減算器の出力を積分し前記コンパレータに出力する積分器と、前記コンパレータの出力に基づいて前記DAコンバータの微分非直線誤差を検出するとともに、前記DAコンバータにデジタルコードを出力するDNL測定部と、を備えたことを特徴とする。
【選択図】図1
【解決手段】本発明は、外部から入力したアナログ信号から、自身のレジスタのデジタルコードに応じたアナログ信号を出力するDAコンバータの出力を、減算して出力する減算器と、この減算器の出力値の正負に応じて、それぞれ1または0のデータを出力するコンパレータと、このコンパレータの出力に応じて、デジタルコードを前記DAコンバータへ出力するとともに、前記デジタルコードを外部に出力する逐次比較レジスタロジック部と、を備えたAD変換回路において、前記減算器の出力を積分し前記コンパレータに出力する積分器と、前記コンパレータの出力に基づいて前記DAコンバータの微分非直線誤差を検出するとともに、前記DAコンバータにデジタルコードを出力するDNL測定部と、を備えたことを特徴とする。
【選択図】図1
Description
本発明は、アナログ信号をデジタルデータに変換するAD変換回路に関し、更に詳しくは、AD変換回路の内部に備えるDAコンバータのリニアリティエラーを自身内部の回路によって測定可能なAD変換回路に関する。
従来のAD変換回路を、図面を用いて説明する。図2は従来のAD変換回路の例を示した構成図である。
図2において、AD変換回路は、Nビットから成るDAコンバータ(DAC)1、減算器2と、コンパレータ3と、逐次比較レジスタロジック部4とを備える。
DAC1は、内部にNビットのレジスタを備えたバイナリ重み付けDAコンバータ等で、自身内部のレジスタに設定されたデジタルコードに対応する電圧を出力する。また、DAC1は、デジタルコードの「0」および「全て1(フルコード)」の出力電圧が正負対称であるものとする。
減算器2は、一端より入力される外部からのアナログ信号VINから、他端より入力されるDAC1の出力を減算して出力する。
コンパレータ3は、一端が基準電圧として接地され、他端から減算器2の出力を入力し、この入力が正値であればハイレベルを出力し、負値であれば、ローレベルを出力する。
逐次比較レジスタロジック部4は、バイナリサーチ等によってDAC1のレジスタに順次デジタルコードを設定し、コンパレータ3の出力結果に基づいて、減算器2の出力の正負の境界を示す電圧に対応するデジタルコードを求め、その結果をアナログ信号VINに応じたデジタル出力DOUTとして出力する。
DAC1は、内部にNビットのレジスタを備えたバイナリ重み付けDAコンバータ等で、自身内部のレジスタに設定されたデジタルコードに対応する電圧を出力する。また、DAC1は、デジタルコードの「0」および「全て1(フルコード)」の出力電圧が正負対称であるものとする。
減算器2は、一端より入力される外部からのアナログ信号VINから、他端より入力されるDAC1の出力を減算して出力する。
コンパレータ3は、一端が基準電圧として接地され、他端から減算器2の出力を入力し、この入力が正値であればハイレベルを出力し、負値であれば、ローレベルを出力する。
逐次比較レジスタロジック部4は、バイナリサーチ等によってDAC1のレジスタに順次デジタルコードを設定し、コンパレータ3の出力結果に基づいて、減算器2の出力の正負の境界を示す電圧に対応するデジタルコードを求め、その結果をアナログ信号VINに応じたデジタル出力DOUTとして出力する。
このような従来のAD変換回路の動作を、図面を用いて詳細に説明する。
まず、逐次比較レジスタロジック部4は、DAC1のレジスタの最上位ビット(Nビット目)のみを「1」とし、それより下位のビットを「0」に設定する。減算器2は、アナログ信号VINを入力し、この入力からDAC1の出力を減算して出力する。コンパレータ3は、減算器2の出力を入力し、この入力が正値であればハイレベル「1」を出力し、入力が負値であれば、ローレベル「0」を出力する。
逐次比較レジスタロジック部4は、もしコンパレータ3の出力が「1」であれば、レジスタのNビット目を「1」とし、もしコンパレータ3の出力が「0」であれば、レジスタのNビット目を「0」と決定する。
まず、逐次比較レジスタロジック部4は、DAC1のレジスタの最上位ビット(Nビット目)のみを「1」とし、それより下位のビットを「0」に設定する。減算器2は、アナログ信号VINを入力し、この入力からDAC1の出力を減算して出力する。コンパレータ3は、減算器2の出力を入力し、この入力が正値であればハイレベル「1」を出力し、入力が負値であれば、ローレベル「0」を出力する。
逐次比較レジスタロジック部4は、もしコンパレータ3の出力が「1」であれば、レジスタのNビット目を「1」とし、もしコンパレータ3の出力が「0」であれば、レジスタのNビット目を「0」と決定する。
次に逐次比較レジスタロジック部4は、レジスタの(N−1)ビット目を「1」とし、それより下位のビットを「0」に設定する。減算器2は、アナログ信号VINからDAC1の出力を減算して出力し、コンパレータ3の出力が「1」であれば、レジスタの(N−1)ビット目を「1」と決定し、コンパレータ3の出力が「0」であれば、レジスタの(N−1)ビット目を「0」と決定する。
このように、(N−1)ビット目よりも下位のビットについても、最小分解能である最下位ビットに至るまで、順次決定していく。
逐次比較レジスタロジック部4は最下位ビットが決定した時点で、このレジスタのデジタルコードを、アナログ信号VINに対応するデジタル出力VOUTとして出力する。
特許文献1には、外部からのアナログ信号と、自身に備えるDAコンバータが出力するレベルと、をコンパレータで逐次比較することでAD変換を行うAD変換回路の構成が詳細に記載されている。
このような従来のAD変換回路における微分非直線性またはリニアリティーは、自身が備えるDAC1の性能に左右される。DAC1では、理想的には隣接するデジタルコードに従って1LSB(Least Significant Bit)相当の出力変化が得られるはずであるが、実際の出力は理想値との差が生じてしまうことがある。この偏差をLSB単位で表したのが、微分非直線性誤差またはリニアリティーエラーである。
AD変換回路が備えるDACのリニアリティーエラーを測定する場合、以下の方法等が考えられる。
1)AD変換回路に既知のアナログ信号を入力し、この入力レベルと、出力されるデジタルコードを比較して測定する。
2)AD変換回路に入力するアナログ信号レベルを、校正されたAD変換器にて測定し、この測定したレベルと出力されたデジタルコードを比較して測定する。
1)AD変換回路に既知のアナログ信号を入力し、この入力レベルと、出力されるデジタルコードを比較して測定する。
2)AD変換回路に入力するアナログ信号レベルを、校正されたAD変換器にて測定し、この測定したレベルと出力されたデジタルコードを比較して測定する。
しかしながら、1)の場合には、既知のアナログ信号が必要となり、使用上の制約が生じてしまうという課題があり、2)の場合には、校正されたAD変換器が必要となり、追加回路の規模が増大してしまうという課題があった。
そこで本発明は、内部に小規模の回路を追加し、この回路を利用して、自身が備えるDACのリニアリティエラーを測定することのできるAD変換回路を実現することを目的とする。
このような課題を解決するために、本発明のうち請求項1記載の発明は、
外部から入力したアナログ信号から、自身のレジスタのデジタルコードに応じたアナログ信号を出力するDAコンバータの出力を、減算して出力する減算器と、
この減算器の出力値の正負に応じて、それぞれ1または0のデータを出力するコンパレータと、
このコンパレータの出力に応じて、デジタルコードを前記DAコンバータへ出力するとともに、前記デジタルコードを外部に出力する逐次比較レジスタロジック部と、
を備えたAD変換回路において、
前記減算器の出力を積分し前記コンパレータに出力する積分器と、
前記コンパレータの出力に基づいて前記DAコンバータの微分非直線誤差を検出するとともに、前記DAコンバータにデジタルコードを出力するDNL測定部と、
を備えたことを特徴とするAD変換回路。
外部から入力したアナログ信号から、自身のレジスタのデジタルコードに応じたアナログ信号を出力するDAコンバータの出力を、減算して出力する減算器と、
この減算器の出力値の正負に応じて、それぞれ1または0のデータを出力するコンパレータと、
このコンパレータの出力に応じて、デジタルコードを前記DAコンバータへ出力するとともに、前記デジタルコードを外部に出力する逐次比較レジスタロジック部と、
を備えたAD変換回路において、
前記減算器の出力を積分し前記コンパレータに出力する積分器と、
前記コンパレータの出力に基づいて前記DAコンバータの微分非直線誤差を検出するとともに、前記DAコンバータにデジタルコードを出力するDNL測定部と、
を備えたことを特徴とするAD変換回路。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明であって、
逐次比較レジスタロジック部の出力とDNL測定部の出力のいずれか一方を前記DAコンバータに出力するスイッチを備えることを特徴とする。
逐次比較レジスタロジック部の出力とDNL測定部の出力のいずれか一方を前記DAコンバータに出力するスイッチを備えることを特徴とする。
請求項3記載の発明は、請求項1または2記載の発明であって、
前記DNL測定部は、前記コンパレータの出力を所定のタイミングでカウントするカウンタと、このカウント値に基づいて前記DAコンバータの微分非直線誤差を計算するDNL計算手段と、あらかじめ定められたデジタルコードを生成して出力するDAC設定手段とを備え、
前記DAコンバータは、前記レジスタの最上位ビットには前記コンパレータの出力が入力され、最上位よりも下位のビットには前記DAC設定手段の出力が入力されることを特徴とする。
前記DNL測定部は、前記コンパレータの出力を所定のタイミングでカウントするカウンタと、このカウント値に基づいて前記DAコンバータの微分非直線誤差を計算するDNL計算手段と、あらかじめ定められたデジタルコードを生成して出力するDAC設定手段とを備え、
前記DAコンバータは、前記レジスタの最上位ビットには前記コンパレータの出力が入力され、最上位よりも下位のビットには前記DAC設定手段の出力が入力されることを特徴とする。
請求項4記載の発明は、請求項1〜3のいずれかに記載の発明であって、
前記DAコンバータは、バイナリ重み付けDAコンバータであることを特徴とする。
前記DAコンバータは、バイナリ重み付けDAコンバータであることを特徴とする。
本発明によれば、外部から入力したアナログ信号から、自身のレジスタのデジタルコードに応じたアナログ信号を出力するDAコンバータの出力を、減算して出力する減算器と、この減算器の出力値の正負に応じて、それぞれ1または0のデータを出力するコンパレータと、このコンパレータの出力に応じて、デジタルコードをDAコンバータへ出力するとともに、デジタルコードを外部に出力する逐次比較レジスタロジック部と、を備えたAD変換回路において、積分器が減算器の出力を積分してコンパレータに出力し、DNL測定部のカウンタがコンパレータの出力を所定のタイミングでカウントし、DNL計算手段がカウント結果に基づいてDAコンバータの微分非直線誤差を計算し、DAコンバータのレジスタの最上位ビットにはコンパレータの出力が入力され、最上位よりも下位のビットにはDAC設定手段の出力が入力されるので、自身が備えるDACのリニアリティエラーを測定することのできるAD変換回路を実現することができる。
以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。
図1は本発明の一実施例を示した構成図である。ここで、図2と同一のものは、同一符号を付して説明を省略する。
図1は本発明の一実施例を示した構成図である。ここで、図2と同一のものは、同一符号を付して説明を省略する。
図1においてAD変換回路は、DAC1と、減算器2と、積分器5と、コンパレータ3と、逐次比較レジスタロジック部4と、DNL測定部6と、スイッチ7とから構成される。
積分器5は、減算器2とコンパレータ3との間に挿脱切り替え可能に設けられ、減算器2の出力を積分して出力する。
DNL(Differential Non Linearity: 微分非直線性)測定部6はDAC1のリニアリティーエラーを測定するために設けられ、コンパレータ3の出力を入力する。
DNL測定部6は、カウンタ61と、DNL計算手段62と、DAC設定手段63を備える。
カウンタ61は、一定レートでコンパレータ3の出力を検出し、出力が「1」であればカウントアップする。そして、単位時間当たりの、出力が「1」であった回数をカウント値として出力する。
DNL計算手段62は、カウンタ61のカウント値に基づきDAC1のリニアリティーエラーを測定する。
DAC設定手段63は、あらかじめ定められた(N−1)ビットから成るデジタルコードを、順番に生成して出力する。
DNL測定部6は、コンパレータ3の出力を最上位ビット(Nビット目)として、また、DAC設定手段63からの(N−1)ビットの出力をNビット目よりも下位のビットとして、両者を合成した合計Nビットから成るデジタルコードを出力する。
積分器5は、減算器2とコンパレータ3との間に挿脱切り替え可能に設けられ、減算器2の出力を積分して出力する。
DNL(Differential Non Linearity: 微分非直線性)測定部6はDAC1のリニアリティーエラーを測定するために設けられ、コンパレータ3の出力を入力する。
DNL測定部6は、カウンタ61と、DNL計算手段62と、DAC設定手段63を備える。
カウンタ61は、一定レートでコンパレータ3の出力を検出し、出力が「1」であればカウントアップする。そして、単位時間当たりの、出力が「1」であった回数をカウント値として出力する。
DNL計算手段62は、カウンタ61のカウント値に基づきDAC1のリニアリティーエラーを測定する。
DAC設定手段63は、あらかじめ定められた(N−1)ビットから成るデジタルコードを、順番に生成して出力する。
DNL測定部6は、コンパレータ3の出力を最上位ビット(Nビット目)として、また、DAC設定手段63からの(N−1)ビットの出力をNビット目よりも下位のビットとして、両者を合成した合計Nビットから成るデジタルコードを出力する。
スイッチ7は、逐次比較レジスタロジック部4からの出力を端子aに接続し、DNL測定部6からの出力を端子bに接続し、いずれか一方の端子を選択してDAC1へ出力する。
このようなAD変換回路の動作を、詳細に説明する。
まず、通常のAD変換回路として動作させるためには、積分器5を外した状態に切り替えるとともに、スイッチ7の端子aが選択された状態とする。この場合、従来のAD変換回路と等価の回路構成となり、また、動作も従来のAD変換回路と同等であるので説明を省略する。
まず、通常のAD変換回路として動作させるためには、積分器5を外した状態に切り替えるとともに、スイッチ7の端子aが選択された状態とする。この場合、従来のAD変換回路と等価の回路構成となり、また、動作も従来のAD変換回路と同等であるので説明を省略する。
次に、DAC1のリニアリティーを測定可能なように動作させるためには、積分器5を挿入した状態に切り替えるとともに、スイッチ7の端子bが選択された状態とする。この状態では、減算器2の出力は積分器5に入力され、積分器5の出力がコンパレータ3により「1」または「0」のデータに変換される。コンパレータ3の出力は、DAC1のレジスタの最上位のビットに出力するよう接続されている。
このように、DAC1のレジスタの最上位ビット(Nビット目)の出力と、減算器2と、積分器5と、コンパレータ3とにより、いわゆるΔΣ変調器を構成する。さらに、アナログ信号VINを0とすることで、DAC1の(N−1)ビット以下の出力を入力とするΔΣ変調器を形成することになる。
このように、DAC1のレジスタの最上位ビット(Nビット目)の出力と、減算器2と、積分器5と、コンパレータ3とにより、いわゆるΔΣ変調器を構成する。さらに、アナログ信号VINを0とすることで、DAC1の(N−1)ビット以下の出力を入力とするΔΣ変調器を形成することになる。
ΔΣ変調器では、入力された信号のレベルが大きいほど、コンパレータ3出力の「1」の割合が多くなり、逆に、レベルが小さいほど、「0」の割合が多くなる。
カウンタ61は、一定レートでコンパレータ3の出力を検出し、単位時間当たりの、出力が「1」であった回数をカウントするので、カウント結果は、入力レベルの大きさに対応することになる。
カウンタ61は、一定レートでコンパレータ3の出力を検出し、単位時間当たりの、出力が「1」であった回数をカウントするので、カウント結果は、入力レベルの大きさに対応することになる。
DAC設定手段63により、(N−1)ビットから成るあらかじめ定められたデジタルコード(例えば、「0」〜「N−1ビットが全て1のフルコード」)を昇順の順番等で、順次生成しDAC1に設定する。
DNL計算手段62が、カウンタ61のカウント結果に基づいて、隣接するデジタルコードに対する入力レベルの差分を計算することで、DAC1レジスタの(N−1)ビット目以下のリニアリティーを測定することができる。
DNL計算手段62が、カウンタ61のカウント結果に基づいて、隣接するデジタルコードに対する入力レベルの差分を計算することで、DAC1レジスタの(N−1)ビット目以下のリニアリティーを測定することができる。
このように、外部から入力したアナログ信号VINから、自身のレジスタのデジタルコードに応じたアナログ信号を出力するDAコンバータの出力を、減算して出力する減算器2と、この減算器2の出力値の正負に応じて、それぞれ1または0のデータを出力するコンパレータ3と、このコンパレータ3の出力に応じて、デジタルコードをDAコンバータへ出力するとともに、デジタルコードを外部に出力する逐次比較レジスタロジック部4と、を備えたAD変換回路において、積分器5が減算器2の出力を積分してコンパレータ3に出力し、DNL測定部のカウンタ61がコンパレータ3の出力を所定のタイミングでカウントし、DNL計算手段62がカウント結果に基づいてDAコンバータの微分非直線誤差(リニアリティーエラー)を計算し、DAコンバータのレジスタの最上位ビットにはコンパレータ3の出力が入力され、最上位よりも下位のビットにはDAC設定手段63の出力が入力されるので、自身が備えるDAC1のリニアリティエラーを測定することのできるAD変換回路を実現することができる。
特に、このAD変換回路がIC等の集積回路に実装された場合には、外部にアナログ信号源や電圧測定器等を必要としないので、AD変換回路内でのセルフテストやセルフキャリブレーションを容易に実行することができる。
特に、このAD変換回路がIC等の集積回路に実装された場合には、外部にアナログ信号源や電圧測定器等を必要としないので、AD変換回路内でのセルフテストやセルフキャリブレーションを容易に実行することができる。
なお、コンパレータ3の基準電圧が接地(0V)され、DAC1は、デジタルコードの「0」および「全て1(フルコード)」の出力電圧が正負対称である例を示したが、これに限定されるものではなく、コンパレータ3の基準電圧と、DAC1のデジタルコードの「0」および「全て1(フルコード)」の中央の値とが一致していれば、本発明と同様の効果がある。
1 DAコンバータ
2 減算器
3 コンパレータ
4 逐次比較レジスタロジック部
5 積分器
6 DNL測定部
61 カウンタ
62 DNL計算手段
63 DAC設定手段
7 スイッチ
2 減算器
3 コンパレータ
4 逐次比較レジスタロジック部
5 積分器
6 DNL測定部
61 カウンタ
62 DNL計算手段
63 DAC設定手段
7 スイッチ
Claims (4)
- 外部から入力したアナログ信号から、自身のレジスタのデジタルコードに応じたアナログ信号を出力するDAコンバータの出力を、減算して出力する減算器と、
この減算器の出力値の正負に応じて、それぞれ1または0のデータを出力するコンパレータと、
このコンパレータの出力に応じて、デジタルコードを前記DAコンバータへ出力するとともに、前記デジタルコードを外部に出力する逐次比較レジスタロジック部と、
を備えたAD変換回路において、
前記減算器の出力を積分し前記コンパレータに出力する積分器と、
前記コンパレータの出力に基づいて前記DAコンバータの微分非直線誤差を検出するとともに、前記DAコンバータにデジタルコードを出力するDNL測定部と、
を備えたことを特徴とする。 - 逐次比較レジスタロジック部の出力とDNL測定部の出力のいずれか一方を前記DAコンバータに出力するスイッチを備えることを特徴とする請求項1記載のAD変換回路。
- 前記DNL測定部は、前記コンパレータの出力を所定のタイミングでカウントするカウンタと、このカウント値に基づいて前記DAコンバータの微分非直線誤差を計算するDNL計算手段と、あらかじめ定められたデジタルコードを生成して出力するDAC設定手段とを備え、
前記DAコンバータは、前記レジスタの最上位ビットには前記コンパレータの出力が入力され、最上位よりも下位のビットには前記DAC設定手段の出力が入力されることを特徴とする請求項1または2記載のAD変換回路。 - 前記DAコンバータは、バイナリ重み付けDAコンバータであることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のAD変換回路。
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