JP2011232108A - Generated gas analyzing apparatus - Google Patents
Generated gas analyzing apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011232108A JP2011232108A JP2010101410A JP2010101410A JP2011232108A JP 2011232108 A JP2011232108 A JP 2011232108A JP 2010101410 A JP2010101410 A JP 2010101410A JP 2010101410 A JP2010101410 A JP 2010101410A JP 2011232108 A JP2011232108 A JP 2011232108A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- chamber
- orifice
- gas
- generated gas
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Abstract
Description
本発明は、発生気体分析装置に関する。 The present invention relates to a generated gas analyzer.
従来、発生気体分析装置としては、図１２に示すように、先端に細孔４５２を設けた第１スキマー４５１とこの第１スキマー４５１の外側に配置され先端に細孔４７２を設けた第２スキマー４７１からなる二重スキマーの中間空間をポンプ４７３，４７４で減圧すると共に第１スキマー４５１の内部をポンプ４６３，４６４で更に低真空に減圧し、隣接する試料室４２０の試料ホルダ４２３に載置した測定試料を加熱炉４４０により加熱して発生する気体成分（試料ガス）をキャリアガス流Ｓで細孔４７２，４５２から導入する大気圧・低真空・高真空室のインタフェース方式を用い、第１スキマー４５１を介して高真空の測定室４５０に導入された気体成分を分析器４６２により分析することにより、高感度分析する発生気体分析装置４１０が提案されている（例えば、特許文献１，２参照）。 Conventionally, as shown in FIG. 12, the generated gas analyzer includes a first skimmer 451 provided with a pore 452 at the tip, and a second skimmer provided outside the first skimmer 451 and provided with a pore 472 at the tip. The intermediate space of the double skimmer consisting of 471 is depressurized by pumps 473 and 474 and the inside of the first skimmer 451 is depressurized to a lower vacuum by pumps 463 and 464 and placed on the sample holder 423 in the adjacent sample chamber 420. The first skimmer is used using an interface system of atmospheric pressure, low vacuum, and high vacuum chambers in which a gas component (sample gas) generated by heating a measurement sample by a heating furnace 440 is introduced from the pores 472 and 452 by a carrier gas flow S The generated gas analyzer 41 that performs high-sensitivity analysis by analyzing the gas component introduced into the high-vacuum measurement chamber 450 via the 451 by the analyzer 462. There has been proposed (e.g., see Patent Documents 1 and 2).
しかしながら、この特許文献１，２に記載された発生気体分析装置では、二重スキマーの外側が大気圧であり、かつ試料を加熱して高温であるため、二重スキマーを介して導入された試料ガスに二重スキマーの外部の壁面などから脱離した不要成分が混入することがあり、測定を繰り返して行う場合などには、ベースが安定しないなど、試料ガスを正確に分析することができない場合があった。また、例えば、高温領域（例えば１０００℃以上など）で発生する金属等の凝縮性ガスを測定しようとすると、スキマーの細孔が閉塞してしまうことがあり、このようなガスを精度よく分析することも困難であった。 However, in the generated gas analyzer described in Patent Documents 1 and 2, since the outside of the double skimmer is atmospheric pressure and the sample is heated to a high temperature, the sample introduced via the double skimmer When unnecessary components desorbed from the external wall of the double skimmer may be mixed into the gas, and the sample gas cannot be analyzed accurately because the base is not stable when repeated measurements are performed. was there. In addition, for example, if a condensable gas such as a metal generated in a high temperature region (for example, 1000 ° C. or higher) is measured, the pores of the skimmer may be blocked, and such a gas is analyzed with high accuracy. It was also difficult.
本発明は、このような課題に鑑みなされたものであり、加熱して発生したガスの分析精度をより高めることができる発生気体分析装置を提供することを主目的とする。 This invention is made | formed in view of such a subject, and it aims at providing the generation | occurrence | production gas analyzer which can improve the analysis precision of the gas generated by heating more.
本発明は、上述の目的を達成するために以下の手段を採った。 The present invention adopts the following means in order to achieve the above-mentioned object.
即ち、本発明の発生気体分析装置は、
第１のオリフィスが設けられ該第１オリフィスと異なる位置にガスを供給する供給管が配設され、試料を配置する試料室と、
少なくとも前記試料室を加熱し前記試料から試料ガスを発生させる温度に加熱可能な加熱部と、
前記試料から生成した試料ガスを導入する第２のオリフィスと内部空間を減圧する測定室用減圧機と該導入された試料ガスを検出する検出器とが配設された測定室と、
前記試料室の第１オリフィスと前記測定室の第２オリフィスとが対向するように前記試料室と前記測定室とを内包して配設し該内包した空間を減圧する内包空間減圧機が配設されている減圧室と、
を備えたものである。
That is, the generated gas analyzer of the present invention is
A sample chamber in which a first orifice is provided, a supply pipe for supplying gas to a position different from the first orifice is disposed, and a sample is disposed;
A heating unit capable of heating at least the temperature of the sample chamber and generating a sample gas from the sample;
A measurement chamber in which a second orifice for introducing a sample gas generated from the sample, a decompressor for a measurement chamber for decompressing an internal space, and a detector for detecting the introduced sample gas are disposed;
An internal space decompressor is provided that includes the sample chamber and the measurement chamber so that the first orifice of the sample chamber faces the second orifice of the measurement chamber and depressurizes the enclosed space. A decompression chamber,
It is equipped with.
この発生気体分析装置では、試料を配置した試料室の第１オリフィスと測定室の第２オリフィスとが対向するようにこれら試料室と測定室とを減圧室の内部に配設し、この内包した空間を減圧する。そして、試料室を加熱し試料から生成した試料ガスを第１オリフィス、内包空間、第２オリフィスを介して測定室へ導入してこれを検出する。このように、減圧室を減圧することにより第１オリフィスと第２オリフィスとの間の試料ガスの移動を減圧下、例えば分子流領域で行うことが可能であり、加熱して発生した試料ガス分子と減圧空間の残留成分分子との衝突や試料ガスに含まれる成分同士の衝突など、試料ガスの不要な拡散を抑制可能である。したがって、ガスの分析精度をより高めることができる。 In this generated gas analyzer, the sample chamber and the measurement chamber are arranged inside the decompression chamber so that the first orifice of the sample chamber in which the sample is arranged and the second orifice of the measurement chamber are opposed to each other. Depressurize the space. Then, the sample chamber is heated and the sample gas generated from the sample is introduced into the measurement chamber through the first orifice, the internal space, and the second orifice, and this is detected. Thus, by reducing the pressure in the decompression chamber, the sample gas can be moved between the first orifice and the second orifice under reduced pressure, for example, in the molecular flow region. Unnecessary diffusion of the sample gas, such as a collision between the residual component molecules in the decompression space and a collision between components contained in the sample gas, can be suppressed. Therefore, the gas analysis accuracy can be further increased.
本発明の発生気体分析装置において、前記試料室は、先端側が先細りになる筒状体に形成されており該先端側に前記第１オリフィスが設けられ他端側に前記供給管が配設されて前記ガスが供給され、前記測定室は、前記試料室に向かって先細りになる筒状体に形成されており先端側に前記第２オリフィスが設けられ他端側に前記検出器が配設されているものとしてもよい。こうすれば、排気コンダクタンスを高めやすい。また、第１オリフィスと第２オリフィスとを形成しやすいし、第１オリフィスと第２オリフィスとを対向させやすいため、ガスの分析精度を高めやすい。 In the generated gas analyzer of the present invention, the sample chamber is formed in a cylindrical body having a tapered front end side, the first orifice is provided on the distal end side, and the supply pipe is provided on the other end side. The gas is supplied, and the measurement chamber is formed in a cylindrical body that tapers toward the sample chamber, the second orifice is provided on the distal end side, and the detector is disposed on the other end side. It is good as it is. This makes it easier to increase the exhaust conductance. In addition, since the first orifice and the second orifice are easily formed and the first orifice and the second orifice are easily opposed to each other, it is easy to improve the gas analysis accuracy.
本発明の発生気体分析装置において、前記試料室は、前記減圧室に設けられた貫通孔に外部から挿入され、取り外し可能に前記減圧室に配設される筒状体の試料セルであるものとしてもよい。こうすれば、試料室を交換しやすく、試料室を交換することにより試料室に付着した成分による測定誤差を抑制可能であり、ガスの分析精度を高めやすい。また、例えば、測定の繰り返しにより第１オリフィスが閉塞してしまったときにおいても、試料室を交換しやすく好ましい。このとき、前記試料室は、前記第１オリフィスが設けられ前記減圧室の貫通孔から挿入された供給管が配設されガスが供給可能なクヌッセンセルであるものとしてもよい。このとき、前記加熱部は、前記クヌッセンセルの外周に一体化して設けられているものとしてもよい。こうすれば、コンパクト化を図ることができる。 In the generated gas analyzer of the present invention, the sample chamber is a cylindrical sample cell that is inserted from the outside into a through-hole provided in the decompression chamber and is detachably disposed in the decompression chamber. Also good. In this way, it is easy to replace the sample chamber, and by exchanging the sample chamber, it is possible to suppress measurement errors due to components adhering to the sample chamber, and it is easy to improve the gas analysis accuracy. Further, for example, it is preferable that the sample chamber is easily exchanged even when the first orifice is closed due to repeated measurement. At this time, the sample chamber may be a Knudsen cell in which the first orifice is provided and a supply pipe inserted from a through hole of the decompression chamber is provided to supply gas. At this time, the heating unit may be provided integrally with the outer periphery of the Knudsen cell. In this way, it is possible to reduce the size.
本発明の発生気体分析装置において、前記試料室は、前記試料を載置した試料ホルダを前記他端側から挿入することにより前記試料を配置するものとしてもよい。こうすれば、より測定室側に試料を配置可能であるため、試料ガスを第２オリフィスを介して測定室へより導入しやすく、ひいてはガスの分析精度を高めやすい。また、繰り返しガス分析を行う際に試料室へ試料を配置しやすく、試料の取り替えが容易である。 In the generated gas analyzer of the present invention, the sample chamber may be arranged by inserting a sample holder on which the sample is placed from the other end side. In this case, since the sample can be arranged on the measurement chamber side, the sample gas can be more easily introduced into the measurement chamber via the second orifice, and the gas analysis accuracy can be easily improved. Further, when performing repeated gas analysis, it is easy to place the sample in the sample chamber, and the sample can be easily replaced.
本発明の発生気体分析装置において、前記減圧室は、前記減圧室内を冷却して物質をトラップする冷却トラップが配設されているものとしてもよい。こうすれば、冷却トラップにより減圧室内の壁面から脱離する成分を除去することができるので、より高い検出精度でガス分析を実行することができる。ここで、冷却トラップとしては、冷媒を有しているものとすればよく、例えば、液体窒素トラップとしてもよいし、水冷トラップとしてもよい。 In the generated gas analyzer of the present invention, the decompression chamber may be provided with a cooling trap that cools the decompression chamber and traps a substance. In this way, the component desorbed from the wall surface in the decompression chamber can be removed by the cooling trap, so that the gas analysis can be executed with higher detection accuracy. Here, the cooling trap may have a refrigerant, and may be, for example, a liquid nitrogen trap or a water cooling trap.
本発明の発生気体分析装置において、前記減圧室は、前記第１オリフィスと前記第２オリフィスと前記検出器とが直線上に配置されるよう前記測定室と前記試料室とが配設されているものとしてもよい。こうすれば、試料室から導入された試料ガスが検出器に到達しやすいため、ガスの分析精度を一層高めることができる。この点について、例えば、高温領域（例えば１０００℃以上など）で発生する金属等の凝縮性ガスを試料室から検出器へ導入する際に有効である。このとき、前記減圧室は、更に前記測定室用減圧機が前記第１オリフィスと前記第２オリフィスと前記検出器と直線上に配置されるよう前記測定室と前記試料室とが配設されているものとしてもよい。こうすれば、試料室から導入された試料ガスが検出器を通過して除去され易いため、ガスの分析精度を更に高めることができる。 In the generated gas analyzer of the present invention, the decompression chamber includes the measurement chamber and the sample chamber so that the first orifice, the second orifice, and the detector are arranged in a straight line. It may be a thing. In this way, the sample gas introduced from the sample chamber can easily reach the detector, so that the gas analysis accuracy can be further improved. This point is effective when, for example, a condensable gas such as a metal generated in a high temperature region (for example, 1000 ° C. or higher) is introduced from the sample chamber to the detector. At this time, the decompression chamber further includes the measurement chamber and the sample chamber so that the measurement chamber decompressor is arranged in a straight line with the first orifice, the second orifice, and the detector. It is good as it is. By doing so, the sample gas introduced from the sample chamber can be easily removed through the detector, so that the gas analysis accuracy can be further improved.
本発明の発生気体分析装置において、前記測定室は、前記測定室用減圧機と前記検出器とが配設された検出部と、該検出部に設けられ先端側に前記第２オリフィスが形成され先細りになる筒状体に形成されたスキマー部とを有しているものとしてもよい。こうすれば、スキマー部を利用してオリフィスを形成しやすく、ひいてはガスの分析精度を高めやすい。このとき、本発明の発生気体分析装置は、前記スキマー部と前記減圧室との間に配設され前記第２オリフィス側に第３のオリフィスが設けられた外部スキマー部により形成され、内部空間を減圧する中間減圧機が配設された中間室、を備えたものとしてもよい。こうすれば、中間室で更に余剰の試料ガスを除去することができるため、より高い検出精度でガス分析を実行することができる。 In the generated gas analyzer of the present invention, the measurement chamber includes a detection unit in which the decompressor for the measurement chamber and the detector are disposed, and the second orifice is formed on the tip side provided in the detection unit. It is good also as what has a skimmer part formed in the cylindrical body which becomes tapered. In this way, it is easy to form an orifice using the skimmer part, and thus, it is easy to improve the analysis accuracy of the gas. At this time, the generated gas analyzer of the present invention is formed by an external skimmer portion provided between the skimmer portion and the decompression chamber and provided with a third orifice on the second orifice side. An intermediate chamber in which an intermediate pressure reducer for reducing pressure is provided may be provided. By so doing, it is possible to remove the excess sample gas in the intermediate chamber, and therefore it is possible to perform gas analysis with higher detection accuracy.
本発明の発生気体分析装置において、前記加熱部は、前記測定室のうち前記第２オリフィスが形成されている部位と、前記試料室とを加熱するよう該第２オリフィスが形成された部位と該試料室との外周側且つ前記減圧室に設けられているものとしてもよい。こうすれば、１つの加熱部により第２オリフィスと試料室及び第１オリフィスとを加熱可能であるため、第２オリフィス近傍での試料ガスの蓄積を抑制すると共に、構成を簡略化することができる。 In the generated gas analyzer of the present invention, the heating section includes a portion of the measurement chamber where the second orifice is formed, a portion where the second orifice is formed so as to heat the sample chamber, and the It is good also as what is provided in the said pressure reduction chamber and the outer peripheral side with a sample chamber. In this case, the second orifice, the sample chamber, and the first orifice can be heated by one heating unit, so that the accumulation of the sample gas near the second orifice can be suppressed and the configuration can be simplified. .
本発明の発生気体分析装置において、前記試料室は、石英及びアルミナから選ばれる１以上の部材により形成されているものとしてもよい。こうすれば、温度耐久性が高いため、より高温でガス分析測定を行うことができる。 In the generated gas analyzer of the present invention, the sample chamber may be formed of one or more members selected from quartz and alumina. By doing so, since the temperature durability is high, gas analysis measurement can be performed at a higher temperature.
本発明の発生気体分析装置において、前記測定室用減圧機は、前記第２オリフィスから流入するガス流量よりも高い減圧能力を有しているものとしてもよい。こうすれば、測定室で試料ガスを測定しやすい。ここで、測定室用減圧機や内包空間減圧機、中間減圧機などの減圧機としては、例えば、ターボ分子ポンプや拡散ポンプ、ロータリーポンプ、クライオポンプなどから選ばれる１以上を任意に組み合わせて用いるものとしてもよい。 In the generated gas analyzer of the present invention, the measurement chamber decompressor may have a decompression capability higher than a gas flow rate flowing from the second orifice. This makes it easier to measure the sample gas in the measurement chamber. Here, as a decompressor such as a measurement chamber decompressor, an internal space decompressor, or an intermediate decompressor, for example, one or more selected from a turbo molecular pump, a diffusion pump, a rotary pump, a cryopump, and the like are used in any combination. It may be a thing.
本発明の発生気体分析装置において、前記内包空間減圧機は、前記試料室内の圧力が７６０Ｔｏｒｒ以下の範囲で前記試料ガスを発生したときに、前記減圧室の圧力を１０-1Ｔｏｒｒ以下に保持する減圧能力を有しているものとしてもよい。こうすれば、試料室から測定室への試料ガスの導入を分子流にしやすい。 In the generated gas analyzer of the present invention, the internal space decompressor maintains the pressure in the decompression chamber at 10 −1 Torr or less when the sample gas is generated in a range where the pressure in the sample chamber is 760 Torr or less. It is good also as what has pressure reduction capability. In this way, the introduction of the sample gas from the sample chamber to the measurement chamber can be easily made into a molecular flow.
本発明の発生気体分析装置において、前記測定室用減圧機は、前記試料室内の圧力が７６０Ｔｏｒｒ以下の範囲で前記試料ガスを発生したときに、前記測定室の圧力を１×１０-3Ｔｏｒｒ以下に保持する減圧能力を有しているものとしてもよい。こうすれば、より微少な成分を含む試料ガスを精度よく測定することができる。 In the generated gas analyzer of the present invention, when the pressure in the sample chamber generates the sample gas within a range of 760 Torr or less, the measurement chamber decompressor reduces the pressure in the measurement chamber to 1 × 10 −3 Torr or less. It is good also as what has the pressure reduction capability hold | maintained in. By so doing, it is possible to accurately measure a sample gas containing a finer component.
次に、本発明を実施するための形態を図面を用いて説明する。 Next, modes for carrying out the present invention will be described with reference to the drawings.
図１は、本発明の一実施形態である発生気体分析装置１０の構成の概略を示す構成図であり、図２は、試料セル２０及びスキマー部５１の説明図である。本実施形態の発生気体分析装置１０は、図１に示すように、試料を配置する試料室としての試料セル２０と、試料セル２０を内包しこの内包した空間を減圧可能な減圧室３０と、減圧室３０に内包され試料セルからの試料ガスを導入するスキマー部５１と導入した試料ガスを検出する検出器としての四重極質量分析器６２が配設された検出部６１とを有する測定室５０と、試料セル２０とスキマー部５１とを同時に加熱可能な加熱部としての管状抵抗炉４０と、を備えている。この発生気体分析装置１０は、高温領域（例えば室温〜１５００℃など）での試料から発生する試料ガスを分析可能な、高温発生気体分析装置として構成されている。 FIG. 1 is a configuration diagram showing an outline of the configuration of a generated gas analyzer 10 according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an explanatory diagram of a sample cell 20 and a skimmer unit 51. As shown in FIG. 1, the generated gas analyzer 10 of the present embodiment includes a sample cell 20 as a sample chamber in which a sample is placed, a decompression chamber 30 that includes the sample cell 20 and can decompress the enclosed space, A measurement chamber having a skimmer unit 51 for introducing a sample gas from a sample cell contained in the decompression chamber 30 and a detection unit 61 in which a quadrupole mass analyzer 62 as a detector for detecting the introduced sample gas is disposed. 50 and a tubular resistance furnace 40 as a heating part capable of heating the sample cell 20 and the skimmer part 51 at the same time. The generated gas analyzer 10 is configured as a high temperature generated gas analyzer capable of analyzing a sample gas generated from a sample in a high temperature region (for example, room temperature to 1500 ° C.).
試料セル２０は、図２に示すように、先端に貫通孔である第１オリフィス２２が設けられ先端側が先細りになる筒状体に形成されたセル本体２１と、セル本体２１の後端側に設けられガス供給管２６が接続される接続管２４と、セル本体２１と接続管２４との間に設けられた円盤状のフランジ２５とを有している。セル本体２１は、耐熱性の部材によって形成されている。耐熱性の部材は、例えば、石英及びアルミナから選ばれる１以上などが挙げられる。ここでは、セル本体２１は、アルミナにより形成されており、１５００℃程度までの耐熱性を有しているものとした。第１オリフィス２２は、スキマー部５１の第２オリフィス５２のサイズ以下のサイズとするのが好ましく、５μｍ以上５ｍｍ以下のサイズとするのが好ましく、１０μｍ以上１ｍｍ以下のサイズとするのがより好ましい。ここでは、第１オリフィス２２は、１００μｍのサイズで形成しているものとした。この試料セル２０において、接続管２４及びフランジ２５は、金属によって形成することができ、セル本体２１とは耐熱性を有する接着剤により接合してあり、１×１０-8Ｔｏｒｒ以下の高真空に耐えうるシール性を有している。この試料セル２０の先端側の内部空間には、測定試料を載置する試料ホルダ２３が配置されている。この試料ホルダ２３は、セル本体２１内部を移動可能であり、試料を載置したのち、試料セル２０の後端側である接続管２４から挿入して、所定の配置位置に配置される。試料ホルダ２３には、その温度を測定する熱電対２８が接続されている。この試料セル２０は、図１に示すように、発生気体分析装置１０の本体外部から挿入され、取り外し可能となるように本体に固定されることにより減圧室３０に配設されている。試料セル２０は、減圧室３０の壁体３１に設けられた貫通孔３２に挿入し、フランジ２５に設けられた固定孔２５ａに差し込まれたビス１６により本体に固定することができる。なお、貫通孔３２と試料セル２０との間には、耐熱性Ｏリングが設けられており、気密性が保持されている。この試料セル２０は、後端側に接続されたガス供給管２６からキャリアガス（例えば窒素ガスやヘリウムガスなど）が供給され、試料から発生した試料ガスがこのキャリアガスにより第１オリフィス２２から流出するように構成されている。 As shown in FIG. 2, the sample cell 20 includes a cell main body 21 formed in a cylindrical body that is provided with a first orifice 22 that is a through hole at the front end and is tapered on the front end side, and a rear end side of the cell main body 21. The connecting pipe 24 is provided and connected to the gas supply pipe 26, and the disk-shaped flange 25 is provided between the cell body 21 and the connecting pipe 24. The cell body 21 is formed of a heat resistant member. Examples of the heat resistant member include one or more selected from quartz and alumina. Here, the cell main body 21 is made of alumina and has heat resistance up to about 1500 ° C. The first orifice 22 is preferably not larger than the size of the second orifice 52 of the skimmer portion 51, preferably not less than 5 μm and not more than 5 mm, and more preferably not less than 10 μm and not more than 1 mm. Here, the 1st orifice 22 shall be formed in the size of 100 micrometers. In the sample cell 20, the connection tube 24 and the flange 25 can be formed of metal, and are joined to the cell body 21 with a heat-resistant adhesive, and a high vacuum of 1 × 10 −8 Torr or less is obtained. It has a durable seal. A sample holder 23 on which a measurement sample is placed is disposed in the internal space on the tip side of the sample cell 20. The sample holder 23 can move inside the cell body 21, and after placing the sample, the sample holder 23 is inserted from the connecting tube 24 on the rear end side of the sample cell 20 and is arranged at a predetermined arrangement position. A thermocouple 28 for measuring the temperature is connected to the sample holder 23. As shown in FIG. 1, the sample cell 20 is inserted from the outside of the main body of the generated gas analyzer 10 and is fixed to the main body so that it can be removed. The sample cell 20 can be inserted into a through-hole 32 provided in the wall 31 of the decompression chamber 30 and fixed to the main body with screws 16 inserted into a fixing hole 25a provided in the flange 25. A heat-resistant O-ring is provided between the through hole 32 and the sample cell 20 to maintain airtightness. The sample cell 20 is supplied with a carrier gas (for example, nitrogen gas or helium gas) from a gas supply pipe 26 connected to the rear end side, and the sample gas generated from the sample flows out from the first orifice 22 by the carrier gas. Is configured to do.
減圧室３０は、試料セル２０の第１オリフィス２２とスキマー部５１の第２オリフィス５２とが対向するように試料セル２０とスキマー部５１とを内包して配設している。この減圧室３０は、試料セル２０やスキマー部５１を配設する壁体３１が円筒状に形成されており、その円筒状の空間（内包空間とも称する）の下方にこの内包空間を減圧する拡散ポンプ３３及びロータリポンプ３４が配設されている。この減圧室３０には、試料セル２０のセル本体２１へ接続される減圧管３６と、減圧管３６を閉塞開放するバルブ３７とが配設されており、拡散ポンプ３３及びロータリポンプ３４により試料セル２０内部も減圧することができるようになっている。この拡散ポンプ３３及びロータリポンプ３４は、試料セル２０をも減圧した状態（以下ベース状態ともいう）としたときに、減圧室３０の内部の圧力を１０-3Ｔｏｒｒ以下に保持する減圧能力を有していることが好ましい。また、拡散ポンプ３３及びロータリポンプ３４は、試料セル２０内の圧力が７６０Ｔｏｒｒ以下の範囲で試料ガスを発生したときに、減圧室３０の内部の圧力を１０-1Ｔｏｒｒ以下に保持する減圧能力を有していることが好ましい。こうすれば、試料セル２０からスキマー部５１への試料ガスの導入が分子流となるようにしやすい。なお、試料セル２０から出る試料ガスを分子流とすると、試料ガスに含まれる成分が互いに衝突せず直線的に移動し、装置内の残留ガスや他の壁面などに衝突することなく測定室５０へ導入することができる。また、減圧室３０は、試料セル２０とスキマー部５１とを配設した状態で１×１０-8Ｔｏｒｒ以下の高真空に耐えうるシール性を有している。試料セル２０の第１オリフィス２２とスキマー部５１の第２オリフィス５２との間隔は、試料ガスを分子流とすることができる範囲とすればよく、減圧室３０の真空度にもよるが１ｍｍ以上３０ｍｍ以下とすることが好ましい。発生気体分析装置１０では、第１オリフィス２２と第２オリフィス５２との間隔が３ｍｍとなるように試料セル２０を配設するように設定されている。なお、ここでは、減圧室３０を減圧するポンプを拡散ポンプとロータリポンプとしたが、特にこれに限定されず、目的とする圧力範囲とすることができるものを、ターボ分子ポンプや拡散ポンプ、ロータリーポンプ、クライオポンプなどから選ばれる１以上を適宜組み合わせて用いるものとすればよい。以下に説明する減圧用のポンプ類でも同様である。また、減圧室３０には、その内包空間の圧力を測定する真空計３５が設けられている。また、減圧管３６には、減圧管３６の管内の圧力、即ち試料セル２０内の圧力を測定する真空計３８が設けられている。この真空計３５や真空計３８は、目的とする圧力を測定可能なもの、例えば、圧力計、ピラニゲージ、クリスタルゲージ、クリスタルイオンゲージ、ヌードイオンゲージなどから選ばれるいずれかを用いことができる。ここでは、真空計３５は、クリスタルイオンゲージとし、真空計３８は、クリスタルゲージとした。 The decompression chamber 30 includes the sample cell 20 and the skimmer portion 51 so that the first orifice 22 of the sample cell 20 and the second orifice 52 of the skimmer portion 51 face each other. In the decompression chamber 30, a wall body 31 in which the sample cell 20 and the skimmer 51 are disposed is formed in a cylindrical shape, and diffusion for decompressing the internal space below the cylindrical space (also referred to as an internal space). A pump 33 and a rotary pump 34 are provided. The decompression chamber 30 is provided with a decompression pipe 36 connected to the cell main body 21 of the sample cell 20 and a valve 37 for closing and opening the decompression pipe 36. The diffusion pump 33 and the rotary pump 34 provide a sample cell. The inside 20 can also be depressurized. The diffusion pump 33 and the rotary pump 34 have a depressurization capability for maintaining the pressure inside the depressurization chamber 30 at 10 −3 Torr or less when the sample cell 20 is also depressurized (hereinafter also referred to as a base state). It is preferable. Further, the diffusion pump 33 and the rotary pump 34 have a depressurization capability for maintaining the pressure in the decompression chamber 30 at 10 −1 Torr or less when the sample gas is generated in a range where the pressure in the sample cell 20 is 760 Torr or less. It is preferable to have. In this way, it is easy to make the introduction of the sample gas from the sample cell 20 to the skimmer unit 51 a molecular flow. When the sample gas exiting from the sample cell 20 is a molecular flow, the components contained in the sample gas move linearly without colliding with each other, and the measurement chamber 50 without colliding with residual gas or other wall surfaces in the apparatus. Can be introduced. The decompression chamber 30 has a sealing property that can withstand a high vacuum of 1 × 10 −8 Torr or less in a state where the sample cell 20 and the skimmer portion 51 are disposed. The distance between the first orifice 22 of the sample cell 20 and the second orifice 52 of the skimmer unit 51 may be set within a range in which the sample gas can be a molecular flow. It is preferable to be 30 mm or less. In the generated gas analyzer 10, the sample cell 20 is set so that the distance between the first orifice 22 and the second orifice 52 is 3 mm. Here, the pump for reducing the pressure in the decompression chamber 30 is a diffusion pump and a rotary pump. However, the pump is not particularly limited to this, and a turbo molecular pump, a diffusion pump, a rotary pump can be used in a target pressure range. One or more selected from pumps, cryopumps, and the like may be used in appropriate combination. The same applies to pumps for decompression described below. Further, the decompression chamber 30 is provided with a vacuum gauge 35 for measuring the pressure in the inclusion space. Further, the pressure reducing pipe 36 is provided with a vacuum gauge 38 for measuring the pressure in the pressure reducing pipe 36, that is, the pressure in the sample cell 20. As the vacuum gauge 35 and the vacuum gauge 38, any one selected from a pressure gauge, a Pirani gauge, a crystal gauge, a crystal ion gauge, a nude ion gauge, and the like can be used. Here, the vacuum gauge 35 is a crystal ion gauge, and the vacuum gauge 38 is a crystal gauge.
管状抵抗炉４０は、試料セル２０を加熱し試料から試料ガスを発生させる温度に加熱するものであり、測定室５０のうち第２オリフィス５２が形成されているスキマー部５１と、試料セル２０の試料ホルダ２３とを加熱するように、このスキマー部５１と試料ホルダ２３とを内側に含む長さで、且つ減圧室３０の外周に設けられている。この管状抵抗炉４０は、電力の供給により試料ホルダ２３を１５００℃まで加熱可能な白金ヒータとして構成されている。この管状抵抗炉４０は、１〜２０℃／分で、１５００℃まで昇降温可能に構成されている。 The tubular resistance furnace 40 heats the sample cell 20 to a temperature at which the sample gas is generated from the sample, and includes a skimmer portion 51 in which the second orifice 52 is formed in the measurement chamber 50, and the sample cell 20. In order to heat the sample holder 23, the skimmer 51 and the sample holder 23 are provided on the inner circumference and provided on the outer periphery of the decompression chamber 30. The tubular resistance furnace 40 is configured as a platinum heater capable of heating the sample holder 23 to 1500 ° C. by supplying electric power. The tubular resistance furnace 40 is configured to be capable of raising and lowering the temperature up to 1500 ° C. at 1 to 20 ° C./min.
測定室５０は、内部空間を減圧する測定室用減圧機としてのターボ分子ポンプ６３、ロータリポンプ６４及びクライオポンプ５６と試料ガスを検出する四重極質量分析器６２と圧力ゲージである真空計６５とが配設された検出部６１と、この検出部６１に設けられ先端側に第２オリフィス５２が形成されたスキマー部５１と、を有している。このように、測定室５０は、試料セル２０側である先端側に第２オリフィス５２が設けられ他端側に四重極質量分析器６２が配設されている。スキマー部５１は、試料セル２０からの試料ガスを導入する部材であり、先端が丸くなるように先細りになる筒状体に形成されている。このスキマー部５１は、耐熱性の部材によって形成されている。耐熱性の部材は、例えば、石英及びアルミナから選ばれる１以上などが挙げられる。ここでは、スキマー部５１は、アルミナにより形成されており、１５００℃程度までの耐熱性を有しているものとした。第２オリフィス５２は、第１オリフィス２２のサイズ以上の大きさとすることが好ましく、５μｍ以上５ｍｍ以下のサイズとするのが好ましく、１０μｍ以上１ｍｍ以下のサイズとするのがより好ましい。ここでは、第２オリフィス５２は、２５０μｍのサイズで形成しているものとした。スキマー部５１と検出部６１との間には、スキマー部５１の内部空間と検出部６１の内部空間との開放・閉塞を行うゲートバルブ５４が設けられている。四重極質量分析器６２は、イオン化したガスの分子量を測定する質量分析計として構成されており、その先端に検出器イオン化領域６２ａが形成されるものである。この四重極質量分析器６２は、検出部６１の上面から内部に挿入されて固定されている。ターボ分子ポンプ６３、ロータリポンプ６４、クライオポンプ５６は、拡散ポンプ３３及びロータリポンプ３４よりも高い減圧能力を有していることが好ましい。この検出部６１に配設されたポンプは、試料セル２０をも減圧したベース状態としたときに、検出部６１の内部の圧力を１０-9Ｔｏｒｒ以下に保持する減圧能力を有していることが好ましい。また、検出部６１に配設されたポンプは、試料セル２０内の圧力が７６０Ｔｏｒｒ以下の範囲で試料ガスを発生したときに、減圧室３０の内部の圧力を１０-3Ｔｏｒｒ以下に保持する減圧能力を有していることが好ましい。こうすれば、より微少な成分（例えば数十ｐｐｍなど）を含む試料ガスを精度よく測定することができる。この測定室５０は、ベース状態で１×１０-9Ｔｏｒｒ以下の高真空に耐えうるシール性を有している。なお、真空計６５は、ヌードイオンゲージとした。発生気体分析装置１０において、減圧室３０は、第１オリフィス２２と第２オリフィス５２と四重極質量分析器６２の検出器イオン化領域６２ａと更にクライオポンプ５６とが直線上に配置されるよう測定室５０と試料セル２０とが配設されているものとするのが好ましい。 The measurement chamber 50 includes a turbo molecular pump 63, a rotary pump 64, a cryopump 56, a quadrupole mass analyzer 62 that detects a sample gas, and a vacuum gauge 65 that is a pressure gauge. And a skimmer portion 51 provided in the detection portion 61 and having a second orifice 52 formed on the distal end side thereof. Thus, in the measurement chamber 50, the second orifice 52 is provided on the distal end side which is the sample cell 20 side, and the quadrupole mass analyzer 62 is disposed on the other end side. The skimmer 51 is a member that introduces the sample gas from the sample cell 20, and is formed in a cylindrical body that tapers so that the tip is rounded. The skimmer portion 51 is formed of a heat resistant member. Examples of the heat resistant member include one or more selected from quartz and alumina. Here, the skimmer portion 51 is made of alumina and has heat resistance up to about 1500 ° C. The second orifice 52 is preferably larger than the size of the first orifice 22, preferably 5 μm or more and 5 mm or less, and more preferably 10 μm or more and 1 mm or less. Here, the second orifice 52 is formed with a size of 250 μm. Between the skimmer unit 51 and the detection unit 61, a gate valve 54 that opens and closes the internal space of the skimmer unit 51 and the internal space of the detection unit 61 is provided. The quadrupole mass spectrometer 62 is configured as a mass spectrometer that measures the molecular weight of the ionized gas, and a detector ionization region 62a is formed at the tip thereof. The quadrupole mass analyzer 62 is inserted and fixed from the upper surface of the detection unit 61 inside. The turbo molecular pump 63, the rotary pump 64, and the cryopump 56 preferably have a higher pressure reduction capacity than the diffusion pump 33 and the rotary pump 34. The pump disposed in the detection unit 61 has a pressure reducing capability to maintain the pressure inside the detection unit 61 at 10 −9 Torr or less when the sample cell 20 is also in a base state where the pressure is reduced. Is preferred. The pump disposed in the detector 61 is a decompression unit that maintains the internal pressure of the decompression chamber 30 at 10 −3 Torr or less when the sample gas is generated in a range of 760 Torr or less within the sample cell 20. It is preferable to have the capability. In this way, it is possible to accurately measure a sample gas containing a finer component (for example, several tens of ppm or the like). The measurement chamber 50 has a sealing property that can withstand a high vacuum of 1 × 10 −9 Torr or less in the base state. The vacuum gauge 65 was a nude ion gauge. In the generated gas analyzer 10, the decompression chamber 30 is measured so that the first orifice 22, the second orifice 52, the detector ionization region 62a of the quadrupole mass analyzer 62, and the cryopump 56 are arranged in a straight line. It is preferable that the chamber 50 and the sample cell 20 are disposed.
この発生気体分析装置１０は、四重極質量分析器６２と電気的に接続されたパソコン（ＰＣ）１１を備えている。このＰＣ１１は、四重極質量分析器６２からの検出信号などが入力されている。このＰＣ１１は、四重極質量分析器６２で検出した検出信号を入力し、入力した信号を解析してディスプレイに表示する機能を有している。 The generated gas analyzer 10 includes a personal computer (PC) 11 electrically connected to the quadrupole mass analyzer 62. The PC 11 receives a detection signal from the quadrupole mass analyzer 62 and the like. The PC 11 has a function of inputting a detection signal detected by the quadrupole mass analyzer 62, analyzing the input signal, and displaying it on a display.
このように構成された発生気体分析装置１０では、大気、Ｏ2、Ｎ2、希ガスなどをキャリアガスや反応ガスとして用いることが可能であり、減圧室３０内は１×１０-3〜大気圧の領域で使用可能である。また、発生気体分析装置１０は、使用温度が室温〜１５００℃の範囲であり、検出可能イオン種が、イオン質量／電荷比を表すｍ／ｚ＝１〜４００、検出下限がＨ2Ｏ，ＣＯ，Ｎ2，Ｏ2，ＣＯ2では１ｐｐｍ、その他のガスでは１００ｐｐｂであり、金属などの凝縮性ガスでは１〜１０ｐｐｍレベルの感度で検出することができる。 In the generated gas analyzer 10 configured as described above, air, O 2 , N 2 , rare gas, or the like can be used as a carrier gas or a reactive gas, and the inside of the decompression chamber 30 is 1 × 10 −3 to large. It can be used in the atmospheric pressure region. Further, the generated gas analyzer 10 has a use temperature in the range of room temperature to 1500 ° C., the detectable ion species is m / z = 1 to 400 representing the ion mass / charge ratio, and the detection lower limit is H 2 O, CO. , N 2 , O 2 , CO 2 are 1 ppm, other gases are 100 ppb, and condensable gases such as metals can be detected with a sensitivity of 1 to 10 ppm level.
次に、この発生気体分析装置１０での試料の測定方法について説明する。ます、測定者は、試料を載置した試料ホルダ２３を接続管２４側から挿入し第１オリフィス２２側に配置する。次に、接続管２４へ熱電対２８を挿入し、ガス供給管２６を接続してキャリアガスを供給可能とする。次に、測定者は、昇温速度や到達温度を管状抵抗炉４０に接続された図示しない温度調節器に入力し、入力した内容で管状抵抗炉４０を制御させると共に、発生気体分析装置１０のポンプ類などのスイッチを入れ、試料セル２０、減圧室３０及び測定室５０の減圧を実行させる。次に、測定者は、測定室５０、減圧室３０及び試料セル２０の内部が所定圧まで減圧するまで各ポンプ類を駆動させ、所定圧まで減圧すると、バルブ３７を閉鎖すると共に図示しないバルブを駆動してキャリアガスを試料セル２０へ導入し測定を開始する。ここでは、例えば、試料セル２０の内部を大気圧、減圧室３０の内部の圧力を１０-1Ｔｏｒｒ以下、測定室５０の内部の圧力を１０-3Ｔｏｒｒ以下の条件として室温から１５００℃まで昇温するなどの制御を行う。ＰＣ１１は、昇温中の四重極質量分析器６２からの出力値を記憶し、測定終了後に、測定結果を画面上に表示する処理を行うものとした。 Next, a method for measuring a sample in the generated gas analyzer 10 will be described. First, the measurer inserts the sample holder 23 on which the sample is placed from the connection tube 24 side and arranges it on the first orifice 22 side. Next, the thermocouple 28 is inserted into the connecting pipe 24, and the gas supply pipe 26 is connected so that the carrier gas can be supplied. Next, the measurer inputs the rate of temperature rise and the temperature reached to a temperature controller (not shown) connected to the tubular resistance furnace 40, controls the tubular resistance furnace 40 with the input content, and A switch such as a pump is turned on, and the sample cell 20, the decompression chamber 30, and the measurement chamber 50 are decompressed. Next, the measurer drives each pump until the insides of the measurement chamber 50, the decompression chamber 30 and the sample cell 20 are depressurized to a predetermined pressure. When the depressurization is performed to the predetermined pressure, the valve 37 is closed and a valve (not shown) is opened. Drive to introduce the carrier gas into the sample cell 20 and start measurement. Here, for example, the temperature inside the sample cell 20 is increased from room temperature to 1500 ° C. under the conditions of atmospheric pressure, the pressure inside the decompression chamber 30 being 10 −1 Torr or less, and the pressure inside the measurement chamber 50 being 10 −3 Torr or less. Control such as heating. PC11 memorize | stores the output value from the quadrupole mass spectrometer 62 during temperature rising, and shall perform the process which displays a measurement result on a screen after completion | finish of a measurement.
以上詳述した本実施形態の発生気体分析装置１０によれば、減圧室３０を減圧することにより第１オリフィス２２と第２オリフィス５２との間の試料ガスの移動を減圧下、例えば分子流領域で行うことが可能であり、試料ガスに含まれる成分同士の衝突など、試料ガスの不要な拡散を抑制可能であるため、ガスの分析精度をより高めることができる。また、先細りの先端側に第１オリフィス２２があり他端側にガス供給管２６が接続された筒状体の試料セル２０と、先細りの先端側に第２オリフィス５２があり他端側に四重極質量分析器６２が配設された筒状体のスキマー部５１と、をオリフィス側で対向しているため、排気コンダクタンスを高めやすい。また、第１オリフィス２２と第２オリフィス５２とを形成しやすいし、これらを対向させやすいため、ガスの分析精度を高めやすい。更に、試料セル２０は取り外し可能に配設されているため、試料セル２０を交換することにより内壁に付着した成分による測定誤差を抑制可能であり、ガスの分析精度を高めやすい。また、測定の繰り返しにより第１オリフィス２２が閉塞してしまったときにおいても、試料セル２０を交換しやすく好ましい。更にまた、試料ホルダ２３を他端側から試料セル２０に挿入することにより試料を配置するため、より測定室５０側に試料を配置可能であり、試料ガスをより測定室へ導入しやすく、ひいてはガスの分析精度を高めやすい。また、繰り返しガス分析を行う際に試料セル２０へ試料を配置しやすく、試料の取り替えが容易である。そして、減圧室３０は、第１オリフィス２２と第２オリフィス５２と四重極質量分析器６２と、更にクライオポンプ５６とが直線上に配置されるようスキマー部５１と試料セル２０とが配設されているため、試料セル２０から導入された試料ガスが検出器イオン化領域６２ａに到達しやすく、試料ガスが検出器イオン化領域６２ａを通過して除去され易いため、ガスの分析精度を更に高めることができる。特に、高温領域（例えば１０００℃以上など）で発生する金属等の凝縮性ガスを試料セル２０から四重極質量分析器６２へ導入する際に有効である。そしてまた、測定室５０は、ターボ分子ポンプ６３、ロータリポンプ６４、クライオポンプ５６と四重極質量分析器６２とが配設された検出部６１と、検出部６１に設けられ先端側に第２オリフィス５２が形成されたスキマー部５１とを有しているため、スキマー部５１を利用してオリフィスを形成しやすく、ひいてはガスの分析精度を高めやすい。そして更に、管状抵抗炉４０は、スキマー部５１と試料ホルダ２３とを加熱するよう第２オリフィス５２と試料ホルダ２３との周り且つ減圧室３０の外周に設けられているため、１つの加熱部により第２オリフィス５２と試料ホルダ２３とを加熱可能であるため、第２オリフィス５２近傍での試料ガスの成分の蓄積を抑制すると共に、構成を簡略化することができる。そして更にまた、試料セル２０は、耐熱性の材料（アルミナ）によって作製されているため、温度耐久性が高く、より高温でガス分析測定を行うことができる。 According to the generated gas analyzer 10 of the present embodiment described in detail above, the movement of the sample gas between the first orifice 22 and the second orifice 52 is reduced, for example, in the molecular flow region, by reducing the pressure in the decompression chamber 30. Since it is possible to suppress unnecessary diffusion of the sample gas such as collision between components contained in the sample gas, the gas analysis accuracy can be further improved. In addition, a cylindrical sample cell 20 having a first orifice 22 on the tapered tip side and a gas supply pipe 26 connected on the other end side, and a second orifice 52 on the tapered tip side and four on the other end side. Exhaust conductance can be easily increased because the cylindrical skimmer 51 having the quadrupole mass analyzer 62 is opposed to the orifice on the orifice side. Further, since the first orifice 22 and the second orifice 52 are easily formed and are made to face each other, it is easy to improve the analysis accuracy of the gas. Furthermore, since the sample cell 20 is detachably disposed, the measurement error due to the component adhering to the inner wall can be suppressed by exchanging the sample cell 20, and the gas analysis accuracy can be easily improved. In addition, it is preferable that the sample cell 20 is easily replaced even when the first orifice 22 is closed due to repeated measurement. Furthermore, since the sample is placed by inserting the sample holder 23 into the sample cell 20 from the other end side, the sample can be placed closer to the measurement chamber 50 side, and the sample gas can be more easily introduced into the measurement chamber. Easy to improve gas analysis accuracy. Further, when performing repeated gas analysis, it is easy to place the sample in the sample cell 20, and the sample can be easily replaced. The decompression chamber 30 includes the skimmer unit 51 and the sample cell 20 so that the first orifice 22, the second orifice 52, the quadrupole mass analyzer 62, and the cryopump 56 are arranged on a straight line. Therefore, the sample gas introduced from the sample cell 20 easily reaches the detector ionization region 62a, and the sample gas easily passes through the detector ionization region 62a and is removed, thereby further improving the gas analysis accuracy. Can do. In particular, it is effective when introducing a condensable gas such as a metal generated in a high temperature region (for example, 1000 ° C. or more) from the sample cell 20 to the quadrupole mass analyzer 62. In addition, the measurement chamber 50 includes a detection unit 61 in which a turbo molecular pump 63, a rotary pump 64, a cryopump 56, and a quadrupole mass analyzer 62 are disposed, and a second unit disposed on the distal end side of the detection unit 61. Since it has the skimmer part 51 in which the orifice 52 was formed, it is easy to form an orifice using the skimmer part 51, and it is easy to improve the analysis accuracy of gas by extension. Further, since the tubular resistance furnace 40 is provided around the second orifice 52 and the sample holder 23 and on the outer periphery of the decompression chamber 30 so as to heat the skimmer portion 51 and the sample holder 23, a single heating portion is used. Since the second orifice 52 and the sample holder 23 can be heated, accumulation of sample gas components in the vicinity of the second orifice 52 can be suppressed, and the configuration can be simplified. Furthermore, since the sample cell 20 is made of a heat-resistant material (alumina), the temperature durability is high, and gas analysis measurement can be performed at a higher temperature.
なお、本発明は上述した実施形態に何ら限定されることはなく、本発明の技術的範囲に属する限り種々の態様で実施し得ることはいうまでもない。 It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and it goes without saying that the present invention can be implemented in various modes as long as it belongs to the technical scope of the present invention.
例えば、上述した実施形態では、スキマー部５１を１つ備えるものとしたが、二重スキマーを備えるものとしてもよい。具体的には、スキマー部５１と減圧室３０との間に配設され第２オリフィス５２側に第３のオリフィスが設けられた外部スキマー部により形成された中間室を備え、この中間室の内部空間を減圧する中間減圧機が配設されたものとしてもよい。こうすれば、中間室で更に余剰の試料ガスを除去することにより余剰の試料ガスが壁面に付着してしまうのを抑制することが可能であり、より高い検出精度でガス分析を実行することができる。 For example, in the above-described embodiment, one skimmer unit 51 is provided, but a double skimmer may be provided. Specifically, an intermediate chamber formed by an external skimmer portion provided between the skimmer portion 51 and the decompression chamber 30 and provided with a third orifice on the second orifice 52 side is provided. An intermediate decompressor for decompressing the space may be provided. In this way, it is possible to suppress the surplus sample gas from adhering to the wall surface by removing the surplus sample gas in the intermediate chamber, and to perform the gas analysis with higher detection accuracy. it can.
上述した実施形態では、特に説明しなかったが、減圧室３０の内部に減圧室内を冷却して物質をトラップする冷却トラップを配設するものとしてもよい。こうすれば、冷却トラップにより減圧室内の壁面から脱離する成分を除去することができるので、より高い検出精度でガス分析を実行することができる。ここで、冷却トラップとしては、液体窒素トラップとしてもよいし、水冷トラップとしてもよい。なお、上述した実施形態では、極低温で物質をトラップするクライオポンプ５６を検出部６１に配設するものとしたが、これに代えてこの冷却トラップを検出部６１に配設するものとしてもよい。 Although not specifically described in the above-described embodiment, a cooling trap that traps a substance by cooling the decompression chamber may be provided inside the decompression chamber 30. In this way, the component desorbed from the wall surface in the decompression chamber can be removed by the cooling trap, so that the gas analysis can be executed with higher detection accuracy. Here, the cooling trap may be a liquid nitrogen trap or a water cooling trap. In the above-described embodiment, the cryopump 56 that traps a substance at an extremely low temperature is disposed in the detection unit 61. However, this cooling trap may be disposed in the detection unit 61 instead. .
上述した実施形態では、円筒状に形成された試料セル２０を用いるものとしたが、特にこれに限定されず、第１オリフィスが設けられ減圧室３０の貫通孔３２から挿入されたガス供給管が配設されガスが供給可能なクヌッセンセルを用いるものとしてもよい。このとき、クヌッセンセルの外周に一体化して加熱部（管状抵抗炉４０）を設けるものとしてもよい。こうすれば、コンパクト化を図ることができる。あるいは、上述した実施形態では、取り外し可能な試料セル２０としたが、取り外ししない試料室としてもよい。 In the above-described embodiment, the sample cell 20 formed in a cylindrical shape is used. However, the present invention is not particularly limited thereto, and a gas supply pipe that is provided with a first orifice and is inserted from the through-hole 32 of the decompression chamber 30 is used. It is good also as what uses the Knudsen cell which can be arrange | positioned and can supply gas. At this time, a heating unit (tubular resistance furnace 40) may be provided integrally with the outer periphery of the Knudsen cell. In this way, it is possible to reduce the size. Or although it was set as the removable sample cell 20 in embodiment mentioned above, it is good also as a sample chamber which is not removed.
ここで、別の態様の発生気体分析装置について説明する。図３は、別の態様の発生気体分析装置１１０の構成の概略を示す構成図であり、図４は、発生気体分析装置２１０の構成の概略を示す構成図であり、図５は、発生気体分析装置３１０の構成の概略を示す構成図である。説明の便宜のため、上述した実施形態と同様の構成については同じ符号を付してその説明を省略して以下説明する。図３に示す発生気体分析装置１１０は、第１オリフィス１２２が先端に形成された試料室としてのクヌッセンセル型の試料セル１２０と、第３オリフィス７２が設けられた外部スキマー部７１がスキマー部５１の外側に配設された二重スキマーにより形成された中間室７０と、中間室７０を減圧する中間減圧機としてのターボ分子ポンプ７３及びロータリポンプ７４と、二重スキマーと試料セル１２０とを内包しこの内包空間を拡散ポンプ３３などにより減圧する減圧室１３０と、試料セル１２０の外周側且つ減圧室１３０の内部に配設された液体窒素による冷却トラップ１８０と、クライオポンプ５６の代わりに設けられた液体窒素による冷却トラップ１８２と、四重極質量分析器６２が配設された測定室５０とを備えている。試料セル１２０の外周には、試料セル１２０を加熱する加熱部１４０が一体化して配設されており、コンパクト化を図っている。この発生気体分析装置１１０においても、試料セル１２０の第１オリフィス１２２と、第２オリフィス５２及び第３オリフィス７２とが直線上に対向して減圧室１３０に配設されている。また、試料セル１２０は、熱電対２８が接続されると共に、第１オリフィス１２２の他端側にガス供給管１２６が接続され、セル内をキャリアガスが第１オリフィス１２２に向かって流通可能となっている。また、ガス供給管１２６の挿入側には、キャリアガスの供給・停止を行う供給バルブ１１１と、ロードロック部１１２とが設けられている。ロードロック部１１２にはターボ分子ポンプ７６が配設され、このターボ分子ポンプ７６が中間室７０側のロータリポンプ７４に接続されている。また、中間室７０には、圧力を測定する真空計７５が配設されている。測定室５０では、２台のターボ分子ポンプ６３とロータリポンプ６４とを直列に接続すると共に、スキマー部５１側にもターボ分子ポンプ６３及びロータリポンプ６４を設けており、測定室５０内部を減圧する減圧能力を高めている。四重極質量分析器６２は、ここでは、測定室５０内部に横置きし、検出器イオン化領域６２ａがゲートバルブ５４側となるように配置した。また、発生気体分析装置１１０では、上述した真空計３５、真空計６５なども配設されている。このように構成した発生気体分析装置１１０でも、減圧室１３０を減圧することにより、試料セル１２０から第３オリフィス７２、第２オリフィス５２を介して四重極質量分析器６２へ試料ガスを分子流により導入可能であるため、ガスの分析精度をより高めることができる。また、冷却トラップ１８０により、ガスの分析精度をより高めることができる。なお、発生気体分析装置１１０において、二重スキマーを採用しなくても構わない。 Here, another embodiment of the generated gas analyzer will be described. FIG. 3 is a block diagram showing an outline of the configuration of the generated gas analyzer 110 according to another embodiment, FIG. 4 is a block diagram showing an outline of the configuration of the generated gas analyzer 210, and FIG. FIG. 2 is a configuration diagram showing an outline of a configuration of an analysis apparatus 310. For convenience of explanation, the same components as those in the above-described embodiment will be denoted by the same reference numerals and explanation thereof will be omitted below. The generated gas analyzer 110 shown in FIG. 3 includes a Knudsen cell type sample cell 120 as a sample chamber having a first orifice 122 formed at the tip thereof, and an external skimmer unit 71 provided with a third orifice 72. Including an intermediate chamber 70 formed by a double skimmer disposed on the outside, a turbo molecular pump 73 and a rotary pump 74 as intermediate pressure reducers for depressurizing the intermediate chamber 70, and a double skimmer and a sample cell 120. In addition, a decompression chamber 130 for decompressing the internal space by the diffusion pump 33 or the like, a cooling trap 180 made of liquid nitrogen disposed on the outer peripheral side of the sample cell 120 and inside the decompression chamber 130, and the cryopump 56 are provided. A liquid nitrogen cooling trap 182 and a measurement chamber 50 in which a quadrupole mass analyzer 62 is disposed. A heating unit 140 that heats the sample cell 120 is integrally disposed on the outer periphery of the sample cell 120 to achieve a compact size. Also in the generated gas analyzer 110, the first orifice 122 of the sample cell 120, the second orifice 52, and the third orifice 72 are arranged in the decompression chamber 130 so as to face each other in a straight line. The sample cell 120 is connected to the thermocouple 28 and a gas supply pipe 126 is connected to the other end of the first orifice 122 so that the carrier gas can flow through the cell toward the first orifice 122. ing. Further, a supply valve 111 for supplying and stopping the carrier gas and a load lock unit 112 are provided on the insertion side of the gas supply pipe 126. A turbo molecular pump 76 is disposed in the load lock portion 112, and this turbo molecular pump 76 is connected to a rotary pump 74 on the intermediate chamber 70 side. The intermediate chamber 70 is provided with a vacuum gauge 75 for measuring pressure. In the measurement chamber 50, two turbo molecular pumps 63 and a rotary pump 64 are connected in series, and a turbo molecular pump 63 and a rotary pump 64 are also provided on the skimmer unit 51 side to decompress the inside of the measurement chamber 50. The decompression capacity is increased. Here, the quadrupole mass spectrometer 62 is placed horizontally in the measurement chamber 50 so that the detector ionization region 62a is on the gate valve 54 side. In the generated gas analyzer 110, the above-described vacuum gauge 35, vacuum gauge 65, and the like are also provided. Also in the generated gas analyzer 110 configured as described above, by reducing the pressure in the decompression chamber 130, the sample gas is flown from the sample cell 120 to the quadrupole mass analyzer 62 through the third orifice 72 and the second orifice 52. Therefore, the accuracy of gas analysis can be further increased. Further, the cooling trap 180 can improve the accuracy of gas analysis. The generated gas analyzer 110 may not employ a double skimmer.
また、図４に示す発生気体分析装置２１０は、第１オリフィス２２２が先端に形成された試料室としてのクヌッセンセル型の試料セル２２０と、第３オリフィス７２が設けられた外部スキマー部７１がスキマー部５１の外側に配設された二重スキマーにより形成された中間室７０と、中間室７０を減圧する中間減圧機としてのターボ分子ポンプ７３及びロータリポンプ７４と、二重スキマーと試料セル２２０とを内包しこの内包空間を拡散ポンプ３３などにより減圧する減圧室２３０と、試料セル２２０と二重スキマーのスキマー部５１及び外部スキマー部７１とを外周側で取り囲むよう形成され且つ減圧室２３０の内側に設けられた管状抵抗炉２４０と、減圧室２３０に配設された液体窒素による冷却トラップ１８０と、クライオポンプ５６の代わりに設けられた液体窒素による冷却トラップ１８２と、四重極質量分析器６２が配設された測定室５０とを備えている。この発生気体分析装置２１０においても、試料セル２２０の第１オリフィス２２２と、第２オリフィス５２及び第３オリフィス７２とが直線上に対向して減圧室２３０に配設されている。また、試料セル２２０は、熱電対２８が接続されると共に、第１オリフィス２２２の他端側にガス供給管１２６が接続され、セル内をキャリアガスが第１オリフィス２２２に向かって流通可能となっている。また、ガス供給管１２６の挿入側には、キャリアガスの供給・停止を行う供給バルブ１１１と、ロードロック部１１２とが設けられている。ロードロック部１１２にはターボ分子ポンプ７６が配設され、このターボ分子ポンプ７６が中間室７０側のロータリポンプ７４に接続されている。また、中間室７０には、圧力を測定する真空計７５が配設されている。測定室５０では、２台のターボ分子ポンプ６３とロータリポンプ６４とを直列に接続すると共に、スキマー部５１側にもターボ分子ポンプ６３及びロータリポンプ６４を設けており、測定室５０内部を減圧する減圧能力を高めている。四重極質量分析器６２は、検出器イオン化領域６２ａがゲートバルブ５４側となるように配置した。また、発生気体分析装置２１０では、上述した真空計３５、真空計６５なども配設されている。このように構成した発生気体分析装置２１０では、減圧室２３０を減圧することにより、ガスの流通が可能なクヌッセンセルである試料セル２２０から第３オリフィス７２、第２オリフィス５２を介して四重極質量分析器６２へ試料ガスを分子流により導入可能であるため、ガスの分析精度をより高めることができる。また、冷却トラップ１８０により、ガスの分析精度をより高めることができる。また、管状抵抗炉２４０で二重スキマーも加熱するため、二重スキマーでの試料ガス成分の堆積を抑制することができる。なお、発生気体分析装置２１０において、二重スキマーを採用しなくても構わない。 Further, the generated gas analyzer 210 shown in FIG. 4 includes a Knudsen cell type sample cell 220 as a sample chamber in which a first orifice 222 is formed at the tip, and an external skimmer portion 71 provided with a third orifice 72. An intermediate chamber 70 formed by a double skimmer disposed outside the unit 51, a turbo molecular pump 73 and a rotary pump 74 as intermediate pressure reducers for depressurizing the intermediate chamber 70, a double skimmer and a sample cell 220 Is formed so as to surround the sample cell 220, the skimmer part 51 of the double skimmer and the external skimmer part 71 on the outer peripheral side, and inside the decompression chamber 230. A tubular resistance furnace 240 provided in the chamber, a liquid nitrogen cooling trap 180 disposed in the decompression chamber 230, and the cryopump 5. A cooling trap 182 by liquid nitrogen which is provided in place of, and a measurement chamber 50 in which a quadrupole mass analyzer 62 is disposed. Also in the generated gas analyzer 210, the first orifice 222, the second orifice 52, and the third orifice 72 of the sample cell 220 are arranged in the decompression chamber 230 so as to face each other in a straight line. In addition, the sample cell 220 is connected to the thermocouple 28 and is connected to the gas supply pipe 126 on the other end side of the first orifice 222 so that the carrier gas can flow through the cell toward the first orifice 222. ing. Further, a supply valve 111 for supplying and stopping the carrier gas and a load lock unit 112 are provided on the insertion side of the gas supply pipe 126. A turbo molecular pump 76 is disposed in the load lock portion 112, and this turbo molecular pump 76 is connected to a rotary pump 74 on the intermediate chamber 70 side. The intermediate chamber 70 is provided with a vacuum gauge 75 for measuring pressure. In the measurement chamber 50, two turbo molecular pumps 63 and a rotary pump 64 are connected in series, and a turbo molecular pump 63 and a rotary pump 64 are also provided on the skimmer unit 51 side to decompress the inside of the measurement chamber 50. The decompression capacity is increased. The quadrupole mass analyzer 62 was arranged so that the detector ionization region 62a was on the gate valve 54 side. Further, in the generated gas analyzer 210, the above-described vacuum gauge 35, vacuum gauge 65, and the like are also provided. In the generated gas analyzer 210 configured as described above, the decompression chamber 230 is decompressed, so that the quadrupole is passed through the third orifice 72 and the second orifice 52 from the sample cell 220 which is a Knudsen cell capable of gas flow. Since the sample gas can be introduced into the mass analyzer 62 by molecular flow, the accuracy of gas analysis can be further increased. Further, the cooling trap 180 can improve the accuracy of gas analysis. Further, since the double skimmer is also heated in the tubular resistance furnace 240, the deposition of the sample gas component in the double skimmer can be suppressed. Note that the generated gas analyzer 210 may not employ a double skimmer.
また、図５に示す発生気体分析装置３１０は、第１オリフィス３２２が先端に形成されたセル型ではない試料室３２０と、スキマー部５１と試料室３２０とを内包しこの内包空間を拡散ポンプ３３などにより減圧する減圧室３３０と、試料室３２０の外周に一体として形成された管状抵抗炉３４０と、減圧室３３０に配設され、管状抵抗炉３４０の外周側に配設された液体窒素による冷却トラップ１８０と、クライオポンプ５６の代わりに設けられた液体窒素による冷却トラップ１８２と、四重極質量分析器６２が配設された測定室５０とを備えている。この発生気体分析装置３１０においても、試料室３２０の第１オリフィス３２２と、第２オリフィス５２とが直線上に対向して減圧室３３０に配設されている。また、試料室３２０には、試料ホルダ３２３に熱電対２８が接続されると共に、第１オリフィス３２２の他端側にガス供給管１２６が接続され、室内をキャリアガスが第１オリフィス３２２に向かって流通可能となっている。また、ガス供給管１２６の挿入側には、キャリアガスの供給・停止を行う供給バルブ１１１と、ロードロック部１１２とが設けられている。ロードロック部１１２にはターボ分子ポンプ７６が配設され、このターボ分子ポンプ７６が減圧室３３０のロータリポンプ３４に接続されている。測定室５０では、２台のターボ分子ポンプ６３とロータリポンプ６４とを直列に接続すると共に、スキマー部５１側にもターボ分子ポンプ６３及びロータリポンプ６４を設けており、測定室５０内部を減圧する減圧能力を高めている。四重極質量分析器６２は、検出器イオン化領域６２ａがゲートバルブ５４側となるように配置した。また、発生気体分析装置３１０では、上述した真空計３５、真空計６５なども配設されている。このように構成した発生気体分析装置３１０では、減圧室３３０を減圧することにより、ガスの流通が可能な試料室３２０から第２オリフィス５２を介して四重極質量分析器６２へ試料ガスを分子流により導入可能であるため、ガスの分析精度をより高めることができる。また、冷却トラップ１８０により、ガスの分析精度をより高めることができる。なお、発生気体分析装置３１０において、二重スキマーを採用しても構わない。 Further, the generated gas analyzer 310 shown in FIG. 5 includes a non-cell type sample chamber 320 having a first orifice 322 formed at the tip thereof, a skimmer unit 51, and the sample chamber 320, and the diffusion space 33 passes through this internal space. A decompression chamber 330 that is decompressed by the above, a tubular resistance furnace 340 that is integrally formed on the outer periphery of the sample chamber 320, and cooling by liquid nitrogen that is disposed in the decompression chamber 330 and disposed on the outer peripheral side of the tubular resistance furnace 340. A trap 180, a cooling trap 182 made of liquid nitrogen provided in place of the cryopump 56, and a measurement chamber 50 in which a quadrupole mass analyzer 62 is disposed are provided. Also in the generated gas analyzer 310, the first orifice 322 and the second orifice 52 of the sample chamber 320 are arranged in the decompression chamber 330 so as to face each other in a straight line. Further, in the sample chamber 320, the thermocouple 28 is connected to the sample holder 323, and the gas supply pipe 126 is connected to the other end side of the first orifice 322, so that the carrier gas flows toward the first orifice 322 in the chamber. Distribution is possible. Further, a supply valve 111 for supplying and stopping the carrier gas and a load lock unit 112 are provided on the insertion side of the gas supply pipe 126. A turbo molecular pump 76 is disposed in the load lock unit 112, and the turbo molecular pump 76 is connected to the rotary pump 34 in the decompression chamber 330. In the measurement chamber 50, two turbo molecular pumps 63 and a rotary pump 64 are connected in series, and a turbo molecular pump 63 and a rotary pump 64 are also provided on the skimmer unit 51 side to decompress the inside of the measurement chamber 50. The decompression capacity is increased. The quadrupole mass analyzer 62 was arranged so that the detector ionization region 62a was on the gate valve 54 side. Further, the generated gas analyzer 310 is provided with the above-described vacuum gauge 35, vacuum gauge 65, and the like. In the generated gas analyzer 310 configured as described above, the pressure of the decompression chamber 330 is reduced, whereby the sample gas is moleculed from the sample chamber 320 capable of gas flow to the quadrupole mass analyzer 62 via the second orifice 52. Since the gas can be introduced by a flow, the accuracy of gas analysis can be further increased. Further, the cooling trap 180 can improve the accuracy of gas analysis. The generated gas analyzer 310 may employ a double skimmer.
以下には、図１に示した発生気体分析装置１０を作製して測定を行った結果について、図を用いて説明する。なお、図１２に示した発生気体分析装置４１０のバックグラウンド測定についても参考例として説明する。 Below, the result of having produced and measured the generated gas analyzer 10 shown in FIG. 1 is demonstrated using figures. The background measurement of the generated gas analyzer 410 shown in FIG. 12 will be described as a reference example.
図６は、発生気体分析装置１０における窒素気流中でのｍ／ｚ＝１８，３２，４４のバックグラウンド測定結果であり、図７は、参考例としての発生気体分析装置４１０におけるＨｅ気流中でのｍ／ｚ＝１８のバックグラウンド測定結果である。図６に示すように、発生気体分析装置１０では、発生気体分析装置４１０と比較して、温度の上昇に伴うバックグラウンド変化が抑えられており、より高精度のガス分析を実行可能であることが示唆された。 FIG. 6 is a background measurement result of m / z = 18, 32, 44 in a nitrogen stream in the generated gas analyzer 10, and FIG. 7 is in a He stream in the generated gas analyzer 410 as a reference example. It is a background measurement result of m / z = 18. As shown in FIG. 6, in the generated gas analyzer 10, compared to the generated gas analyzer 410, the background change accompanying the rise in temperature is suppressed, and a more accurate gas analysis can be performed. Was suggested.
次に、実際の試料を測定した結果について示す。図８は、発生気体分析装置１０のキャリアガスを６Ｎ−Ｎ2ガス、１０ｐｐｍＯ2 ｉｎ Ｎ2ガス、２０ｐｐｍＯ2 ｉｎ Ｎ2ガスを測定したときのイオン質量／電荷比を表すｍ／ｚ＝３２スペクトルであり、図９は、発生気体分析装置１０における窒素気流中での亜鉛アセチルアセトナート試料からのＣ10Ｈ14Ｏ4Ｚｎ+昇温脱離スペクトルであり、図１０は、発生気体分析装置１０におけるＨｅ気流中でのＺｎ箔の昇温脱離スペクトルであり、図１１は、発生気体分析装置１０におけるＨｅ気流中でのＡｇ箔の昇温脱離スペクトルである。ここで、図８での測定条件は、６Ｎ−窒素をキャリアガスとし、試料セル２０の内圧を７６０Ｔｏｒｒとした。また、図９での測定条件は、試料を１．２ｍｇ用い、ｍ／ｚ＝２６２とし、Ｈｅをキャリアガスとし、昇温速度を１０℃／分、到達温度を２５０℃とし、試料セル２０の内圧を７６０Ｔｏｒｒとした。図１０での測定条件は、Ｚｎ箔試料を０．５ｍｇ、ｍ／ｚ＝６４，６６，６８、キャリアガスをＨｅ、昇温速度を１０℃／分、到達温度を１０００℃とし、試料セル２０の内圧を７６０Ｔｏｒｒとした。図１１での測定条件は、Ａｇ箔試料を０．７ｍｇ、ｍ／ｚ＝１０７，１０９、キャリアガスをＨｅ、昇温速度を１０℃／分、到達温度を１４５０℃とし、試料セル２０の内圧を７６０Ｔｏｒｒとした。図８より、Ｏ2のスペクトルが１０ｐｐｍ及び２０ｐｐｍという濃度でも十分に明確に測定可能であることがわかった。また、図９〜図１１において、２００℃程度から１４００℃以上の温度範囲でも、高い測定精度で測定することができることがわかった。 Next, the result of measuring an actual sample is shown. FIG. 8 shows an m / z = 32 spectrum representing the ion mass / charge ratio when the carrier gas of the generated gas analyzer 10 is measured with 6N—N 2 gas, 10 ppm O 2 in N 2 gas, and 20 ppm O 2 in N 2 gas. FIG. 9 is a C 10 H 14 O 4 Zn + temperature-programmed desorption spectrum from a zinc acetylacetonate sample in a nitrogen stream in the generated gas analyzer 10, and FIG. 10 shows the generated gas analyzer 10. FIG. 11 is a temperature-programmed desorption spectrum of the Ag foil in the He gas stream in the generated gas analyzer 10. Here, the measurement conditions in FIG. 8 were 6N-nitrogen as a carrier gas and the internal pressure of the sample cell 20 was 760 Torr. The measurement conditions in FIG. 9 were as follows: 1.2 mg of the sample was used, m / z = 262, He was the carrier gas, the temperature rising rate was 10 ° C./min, the ultimate temperature was 250 ° C. The internal pressure was 760 Torr. The measurement conditions in FIG. 10 are: Zn foil sample 0.5 mg, m / z = 64, 66, 68, carrier gas He, temperature rising rate 10 ° C./min, ultimate temperature 1000 ° C., sample cell 20 Was set at 760 Torr. The measurement conditions in FIG. 11 are as follows: Ag foil sample is 0.7 mg, m / z = 107, 109, carrier gas is He, temperature rising rate is 10 ° C./min, ultimate temperature is 1450 ° C. Was 760 Torr. From FIG. 8, it was found that the O 2 spectrum can be measured sufficiently clearly even at concentrations of 10 ppm and 20 ppm. 9 to 11, it was found that measurement can be performed with high measurement accuracy even in a temperature range of about 200 ° C. to 1400 ° C. or more.
以上の実験結果より、発生気体分析装置１０では以下の効果が得られた。発生気体分析装置１０では、試料セル２０内を大気圧、減圧室３０を高真空（１０-1Ｔｏｒｒ以下）、測定室５０を超高真空（１０-3Ｔｏｒｒ以下）とし、試料セル２０の第１オリフィス２２から流出したガス流を自由分子流とすることができ、試料から発生したガスに含まれる成分が互いに衝突せず直線的に移動するものとすることができる。そして、試料ホルダ２３と第１オリフィス２２と第２オリフィス５２と検出器イオン化領域６２ａとが直線上に配設されているため、検出器イオン化領域６２ａへ導入される試料ガスは、他の壁面などに衝突することなく試料ホルダ２３から生じたガスだけに限定される。この結果、発生気体分析装置１０では、試料セル２０の壁面や減圧室３０の壁面などから発生した他の成分の流入を抑制し、高感度な分析を実現することができた。また、昇温時にガス分析を行う際に、試料セル２０で生じたガスが分子流で直線的に四重極質量分析器６２へ到達するから、高温領域（例えば１０００℃以上など）で発生する金属等の凝縮性ガスを測定しやすい。また、発生気体分析装置４１０では、二重スキマーが大気中に曝されるため、凝集成分によるオリフィスの閉塞が問題になるが、発生気体分析装置１０では、スキマー部５１の外部は高真空に保たれており、曝されたとしても分子流が第２オリフィス５２近傍を通過するだけであるので、オリフィスの閉塞が抑制され、より再現性の高い分析を実現することができた。また、試料セル２０やスキマー部５１を耐熱材料で構成したため、１５００℃という高温でもガス分析を行うことができるようになった。 From the above experimental results, the generated gas analyzer 10 has the following effects. In the generated gas analyzer 10, the inside of the sample cell 20 is set to atmospheric pressure, the decompression chamber 30 is set to a high vacuum (10 −1 Torr or less), the measurement chamber 50 is set to an ultrahigh vacuum (10 −3 Torr or less), The gas flow flowing out from one orifice 22 can be a free molecular flow, and the components contained in the gas generated from the sample can move linearly without colliding with each other. Since the sample holder 23, the first orifice 22, the second orifice 52, and the detector ionization region 62a are arranged in a straight line, the sample gas introduced into the detector ionization region 62a may be another wall surface or the like. The gas is generated only from the sample holder 23 without colliding with the gas. As a result, in the generated gas analyzer 10, it was possible to suppress the inflow of other components generated from the wall surface of the sample cell 20, the wall surface of the decompression chamber 30, and the like, thereby realizing a highly sensitive analysis. Further, when the gas analysis is performed at the time of the temperature rise, the gas generated in the sample cell 20 linearly reaches the quadrupole mass analyzer 62 by the molecular flow, and thus is generated in a high temperature region (for example, 1000 ° C. or more). Easy to measure condensable gases such as metals. Further, in the generated gas analyzer 410, since the double skimmer is exposed to the atmosphere, the orifice clogging due to the agglomerated component becomes a problem. Even when exposed, the molecular flow only passes through the vicinity of the second orifice 52, so that the orifice is blocked and the analysis can be performed with higher reproducibility. Further, since the sample cell 20 and the skimmer portion 51 are made of a heat-resistant material, gas analysis can be performed even at a high temperature of 1500 ° C.
１０，１１０，２１０，３１０，４１０ 発生気体分析装置、１１ パソコン（ＰＣ）、１６ ビス、２０，１２０，２２０ 試料セル、２１ セル本体、２２，１２２，２２２，３２２ 第１オリフィス、２３，３２３，４２３ 試料ホルダ、２４ 接続管、２５ フランジ、２５ａ 固定孔、２６，１２６ ガス供給管、２８ 熱電対、３０，１３０，２３０，３３０ 減圧室、３１ 壁体、３２ 貫通孔、３３ 拡散ポンプ、３４ ロータリポンプ、３５，３８，６５，７５ 真空計、３６ 減圧管、３７ バルブ、４０，２４０，３４０ 管状抵抗炉、５０，４５０ 測定室、５１ スキマー部、５２ 第２オリフィス、５４ ゲートバルブ、５６ クライオポンプ、６１ 検出部、６２ 四重極質量分析器、６２ａ 検出器イオン化領域、６３，７３，７６ ターボ分子ポンプ、６４，７４ ロータリポンプ、７０ 中間室、７１ 外部スキマー部、７２ 第３オリフィス、１１１ 供給バルブ、１１２ ロードロック部、１２６ ガス供給管、１３０ 減圧室、１４０ 加熱部、１８０，１８２，１８４ 冷却トラップ、３２０，４２０ 試料室、４６３，４６４，４７３，４７４ ポンプ、４４０ 加熱炉、４５１ 第１スキマー、４５２，４７２ 細孔、４６２ 分析器、４７１ 第２スキマー。 10, 110, 210, 310, 410 Generated gas analyzer, 11 PC (PC), 16 screws, 20, 120, 220 Sample cell, 21 Cell body, 22, 122, 222, 322 First orifice, 23, 323 423 Sample holder, 24 connection pipe, 25 flange, 25a fixing hole, 26, 126 gas supply pipe, 28 thermocouple, 30, 130, 230, 330 decompression chamber, 31 wall body, 32 through hole, 33 diffusion pump, 34 rotary Pump, 35, 38, 65, 75 Vacuum gauge, 36 Pressure reducing tube, 37 Valve, 40, 240, 340 Tubular resistance furnace, 50, 450 Measuring chamber, 51 Skimmer part, 52 Second orifice, 54 Gate valve, 56 Cryopump , 61 detector, 62 quadrupole mass analyzer, 62a detector ionization region, 63, 73, 76 Turbo molecular pump, 64, 74 Rotary pump, 70 Intermediate chamber, 71 External skimmer section, 72 Third orifice, 111 Supply valve, 112 Load lock section, 126 Gas supply pipe, 130 Decompression chamber, 140 Heating section, 180, 182 , 184 Cold trap, 320, 420 Sample chamber, 463, 464, 473, 474 pump, 440 furnace, 451 first skimmer, 452, 472 pore, 462 analyzer, 471 second skimmer.
Claims (14)
少なくとも前記試料室を加熱し前記試料から試料ガスを発生させる温度に加熱可能な加熱部と、
前記試料から生成した試料ガスを導入する第２のオリフィスと内部空間を減圧する測定室用減圧機と該導入された試料ガスを検出する検出器とが配設された測定室と、
前記試料室の第１オリフィスと前記測定室の第２オリフィスとが対向するように前記試料室と前記測定室とを内包して配設し該内包した空間を減圧する内包空間減圧機が配設されている減圧室と、
を備えた発生気体分析装置。 A sample chamber in which a first orifice is provided, a supply pipe for supplying gas to a position different from the first orifice is disposed, and a sample is disposed;
A heating unit capable of heating at least the temperature of the sample chamber and generating a sample gas from the sample;
A measurement chamber in which a second orifice for introducing a sample gas generated from the sample, a decompressor for a measurement chamber for decompressing an internal space, and a detector for detecting the introduced sample gas are disposed;
An internal space decompressor is provided that includes the sample chamber and the measurement chamber so that the first orifice of the sample chamber faces the second orifice of the measurement chamber and depressurizes the enclosed space. A decompression chamber,
The evolved gas analyzer with
前記測定室は、前記試料室に向かって先細りになる筒状体に形成されており先端側に前記第２オリフィスが設けられ他端側に前記検出器が配設されている、請求項１に記載の発生気体分析装置。 The sample chamber is formed in a cylindrical body whose tip side is tapered, the first orifice is provided on the tip side, the supply pipe is provided on the other end side, and the gas is supplied.
2. The measurement chamber according to claim 1, wherein the measurement chamber is formed in a cylindrical body that tapers toward the sample chamber, the second orifice is provided on a distal end side, and the detector is disposed on the other end side. The generated gas analyzer as described.
前記スキマー部と前記減圧室との間に配設され前記第２オリフィス側に第３のオリフィスが設けられた外部スキマー部により形成され、内部空間を減圧する中間減圧機が配設された中間室、を備えた発生気体分析装置。 The generated gas analyzer according to claim 8,
An intermediate chamber provided between the skimmer portion and the decompression chamber, formed by an external skimmer portion provided with a third orifice on the second orifice side, and provided with an intermediate decompressor for decompressing the internal space , A generated gas analyzer.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010101410A JP5363408B2 (en) | 2010-04-26 | 2010-04-26 | Generated gas analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010101410A JP5363408B2 (en) | 2010-04-26 | 2010-04-26 | Generated gas analyzer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2011232108A true JP2011232108A (en) | 2011-11-17 |
| JP5363408B2 JP5363408B2 (en) | 2013-12-11 |
Family
ID=45321579
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010101410A Active JP5363408B2 (en) | 2010-04-26 | 2010-04-26 | Generated gas analyzer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5363408B2 (en) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013254704A (en) * | 2012-06-08 | 2013-12-19 | Hitachi High-Technologies Corp | Programmed-temperature desorption gas analyzer and sample support plate folder |
| JP2014025776A (en) * | 2012-07-26 | 2014-02-06 | Rigaku Corp | Skimmer type interface structure |
| JP2017096710A (en) * | 2015-11-20 | 2017-06-01 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 | Gas analyser and gas analysis method |
| CN111665102A (en) * | 2020-05-13 | 2020-09-15 | 中国科学院微电子研究所 | Quick nondestructive sampling device and sampling method for low-vacuum gas |
| CN114113285A (en) * | 2021-12-08 | 2022-03-01 | 中国工程物理研究院材料研究所 | Mechanism and method for measuring air release rate of metal material |
| JP7412768B2 (en) | 2020-08-11 | 2024-01-15 | 株式会社リガク | Generated gas analyzer and orifice positioning method |
| EP4332569A1 (en) | 2022-09-02 | 2024-03-06 | Rigaku Corporation | Thermal analysis apparatus |
| DE102023123302A1 (en) | 2022-09-02 | 2024-03-14 | Rigaku Corporation | THERMAL ANALYSIS DEVICE |
Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52107898A (en) * | 1976-03-05 | 1977-09-09 | Hitachi Ltd | Jey-type molecuel separator |
| JPS53142384U (en) * | 1977-04-15 | 1978-11-10 | ||
| JPH02254335A (en) * | 1989-03-28 | 1990-10-15 | Showa Alum Corp | Analyzer for gas in metallic material |
| JPH03276550A (en) * | 1990-03-27 | 1991-12-06 | Shimadzu Corp | Super-critical chromatography mass spectrograph |
| JPH06138092A (en) * | 1991-10-08 | 1994-05-20 | Hewlett Packard Co <Hp> | Particle beam liquid chromatograph/mass analyzer |
| JPH0783808A (en) * | 1993-09-16 | 1995-03-31 | Hitachi Ltd | Atmospheric temperature raising gas desorbing device |
| JPH1194800A (en) * | 1997-09-12 | 1999-04-09 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Method and apparatus for analyzing generated gas |
| JP2003036809A (en) * | 2001-07-19 | 2003-02-07 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | Generated gas analysis-method and equipment for interface in mass analysis |
| JP2003107061A (en) * | 2001-09-28 | 2003-04-09 | Ube Kagaku Bunseki Center:Kk | Method for identifying structure in organic matter |
| JP2005127931A (en) * | 2003-10-27 | 2005-05-19 | Rigaku Corp | Temperature programmed desorption gas analyzer |
-
2010
- 2010-04-26 JP JP2010101410A patent/JP5363408B2/en active Active
Patent Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52107898A (en) * | 1976-03-05 | 1977-09-09 | Hitachi Ltd | Jey-type molecuel separator |
| JPS53142384U (en) * | 1977-04-15 | 1978-11-10 | ||
| JPH02254335A (en) * | 1989-03-28 | 1990-10-15 | Showa Alum Corp | Analyzer for gas in metallic material |
| JPH03276550A (en) * | 1990-03-27 | 1991-12-06 | Shimadzu Corp | Super-critical chromatography mass spectrograph |
| JPH06138092A (en) * | 1991-10-08 | 1994-05-20 | Hewlett Packard Co <Hp> | Particle beam liquid chromatograph/mass analyzer |
| JPH0783808A (en) * | 1993-09-16 | 1995-03-31 | Hitachi Ltd | Atmospheric temperature raising gas desorbing device |
| JPH1194800A (en) * | 1997-09-12 | 1999-04-09 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Method and apparatus for analyzing generated gas |
| JP2003036809A (en) * | 2001-07-19 | 2003-02-07 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | Generated gas analysis-method and equipment for interface in mass analysis |
| JP2003107061A (en) * | 2001-09-28 | 2003-04-09 | Ube Kagaku Bunseki Center:Kk | Method for identifying structure in organic matter |
| JP2005127931A (en) * | 2003-10-27 | 2005-05-19 | Rigaku Corp | Temperature programmed desorption gas analyzer |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013254704A (en) * | 2012-06-08 | 2013-12-19 | Hitachi High-Technologies Corp | Programmed-temperature desorption gas analyzer and sample support plate folder |
| JP2014025776A (en) * | 2012-07-26 | 2014-02-06 | Rigaku Corp | Skimmer type interface structure |
| DE102013009177B4 (en) | 2012-07-26 | 2018-07-19 | Rigaku Corporation | Skimmertyp connection structure |
| JP2017096710A (en) * | 2015-11-20 | 2017-06-01 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 | Gas analyser and gas analysis method |
| CN111665102A (en) * | 2020-05-13 | 2020-09-15 | 中国科学院微电子研究所 | Quick nondestructive sampling device and sampling method for low-vacuum gas |
| JP7412768B2 (en) | 2020-08-11 | 2024-01-15 | 株式会社リガク | Generated gas analyzer and orifice positioning method |
| CN114113285A (en) * | 2021-12-08 | 2022-03-01 | 中国工程物理研究院材料研究所 | Mechanism and method for measuring air release rate of metal material |
| CN114113285B (en) * | 2021-12-08 | 2023-07-18 | 中国工程物理研究院材料研究所 | Metal material gassing rate measuring mechanism and measuring method thereof |
| EP4332569A1 (en) | 2022-09-02 | 2024-03-06 | Rigaku Corporation | Thermal analysis apparatus |
| DE102023123302A1 (en) | 2022-09-02 | 2024-03-14 | Rigaku Corporation | THERMAL ANALYSIS DEVICE |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP5363408B2 (en) | 2013-12-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5363408B2 (en) | Generated gas analyzer | |
| CN110376272B (en) | On-line measuring device and method for gas partial pressure | |
| CN106501125B (en) | Gas adsorption and desorption testing device and testing method | |
| JP6180797B2 (en) | System and method for measuring hydrogen content in a sample | |
| Tapia-Bastidas et al. | Thermal desorption spectrometer for measuring ppm concentrations of trapped hydrogen | |
| Gorman et al. | Hydrogen permeation through metals | |
| KR101018789B1 (en) | A batch type gas chromatography device by quantitative injection of a negative pressure gas sample equipped with a high vacuum multiple gas introduction | |
| JP2007501947A (en) | Method and apparatus for detecting large-scale leaks in sealed products | |
| CN111289468A (en) | Method and system for analyzing thermal runaway gas production of lithium ion battery containing hydrofluoric acid | |
| JP4911502B2 (en) | Gas analyzer | |
| JP2013175321A (en) | Mass spectroscope and usage thereof, and gas permeation characteristic measuring method | |
| CN210293526U (en) | On-line measuring device for gas partial pressure | |
| JP2010286476A (en) | Highly sensitive gas analyzer, gas quantitative method and gas analyzer system | |
| JP4091977B2 (en) | Fourier transform ion cyclotron resonance mass spectrometry method | |
| CN106841482B (en) | A kind of application process of gas chromatograph vacuum sampling device | |
| JP5508118B2 (en) | Generated gas analyzer | |
| CN206420834U (en) | A kind of gas chromatograph vacuum sampling device | |
| JP4391682B2 (en) | Leakage gas measuring device and leak gas measuring device evaluation device | |
| Johansson et al. | Hydrogen adsorbed on palladium during water formation studied with palladium membranes | |
| CN110036292A (en) | Atomic Absorption SpectrophotometerICP and elemental analysis method | |
| Barchenko et al. | Apparatus and method for determining the gas permeability and flux of helium through the materials and coatings | |
| Lee et al. | Evaluation method on destruction and removal efficiency of perfluorocompounds from semiconductor and display manufacturing | |
| JP5985266B2 (en) | Measuring method, atmospheric pressure ionization mass spectrometer and destructive inspection device | |
| Kregar et al. | Comparison of spatial distributions of atomic oxygen and hydrogen in ICP by means of catalytic probes and actinometry | |
| Sougrati et al. | Gas counter for low temperature conversion electron Mössbauer spectroscopy experiments |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130110 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130613 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130625 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130813 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130903 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130905 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5363408 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |