JP2011226925A - 周期構造を有するマイクロプレート及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 マイクロプレート(4)は、
表面に周期構造を有するベース基板(5)と、
周期構造の上に形成された金属層(6)と、
金属層の上に形成された消光抑制層(7)とを備え、
金属層が、表面プラズモン共鳴光を発生し得る金属で形成され、
ベース基板側から光が入射されて、表面プラズモン共鳴光によって増強された電場を発生させ、
発生した電場を蛍光分子の励起場として増強蛍光が消光抑制層側またはベース基板側から検出され、
屈折率が1.45より大きく2以下であり、入射される光及び増強蛍光に対して透過性を有する物質で、ベース基板が形成され、
表面プラズモン共鳴の共鳴角が4度以上45度以下になるように、周期構造のピッチが形成されている。
【選択図】図3
Description
によって発生する表面プラズモン共鳴光により、蛍光物質を励起して蛍光を発生させる表面プラズモン励起増強蛍光(Surface Plasmon Fluorescence)を用いた高感度蛍光顕微鏡およびマイクロプレートリーダーに使用されるマイクロプレート及びその製造方法に関する。
Microscopy)を実現することは現状では不可能である。その理由は、市販の表面プラズ
モン共鳴顕微鏡では、入射光学系に高屈折率対物レンズを用いており、この対物レンズの屈折率の制限によって使用可能な光の波長が近赤外領域に制限されることになり、一般的な蛍光分子の励起光として用いることができないからである。
表面に周期構造を有するベース基板と、
前記周期構造の上に形成された金属層と、
前記金属層の上に形成された消光抑制層とを備え、
前記金属層が、表面プラズモン共鳴光を発生し得る金属で形成され、
前記ベース基板側から光が入射されて、表面プラズモン共鳴光によって増強された電場を発生させ、
発生した前記電場を蛍光分子の励起場として増強蛍光が前記消光抑制層側または前記ベース基板側から検出され、
屈折率が1.45より大きく2以下であり、入射される前記光及び前記増強蛍光に対して透過性を有する物質で、前記ベース基板が形成され、
表面プラズモン共鳴の共鳴角が4度以上45度以下になるように、前記周期構造のピッチが形成されていることを特徴としている。
表面プラズモン共鳴の共鳴角が4度以上20度以下になるように、前記周期構造のピッチが形成されていることを特徴としている。
前記ベース基板が、ポリメタクリレート、ポリカーボネート、又はポリウレタンで形成されていることを特徴としている。
前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,600)、(1.49,540)、(1.59,480)、(1.85,380)及び(1.95,370)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第1の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,310)、(1.49,300)、(1.59,290)、(1.85,260)及び(1.95,230)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第2の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,420)、(1.49,400)、(1.59,370)、(1.85,310)及び(1.95,290)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第3の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,390)、(1.49,380)、(1.59,350)、(1.85,300)及び(1.95,280)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第4の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第1〜第4の線の何れかの上、前記第1の線と前記第3の線との間、または、前記第2の線と前記第4の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が613nm以上653nm以下で使用されることを特徴としている。
前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,480)、(1.49,450)、(1.59,410)、(1.85,340)及び(1.95,320)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第5の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,360)、(1.49,340)、(1.59,320)、(1.85,280)及び(1.95,260)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第6の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第3〜第6の線の何れかの上、前記第3の線と前記第5の線との間、または、前記第4の線と前記第6の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が613nm以上653nm以下で使用されることを特徴としている。
前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,640)、(1.49,575)、(1.59,515)、(1.85,410)及び(1.95,400)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第1の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,330)、(1.49,320)、(1.59,310)、(1.85,280)及び(1.95,245)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第2の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,445)、(1.49,425)、(1.59,395)、(1.85,330)及び(1.95,310)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第3の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,410)、(1.49,405)、(1.59,370)、(1.85,320)及び(1.95,300)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第4の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第1〜第4の線の何れかの上、前記第1の線と前記第3の線との間、または、前記第2の線と前記第4の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が640nm以上680nm以下で使用されることを特徴としている。
前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,560)、(1.49,505)、(1.59,445)、(1.85,350)及び(1.95,340)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第1の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,290)、(1.49,280)、(1.59,270)、(1.85,240)及び(1.95,215)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第2の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,395)、(1.49,375)、(1.59,345)、(1.85,290)及び(1.95,270)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第3の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,370)、(1.49,355)、(1.59,330)、(1.85,280)及び(1.95,260)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第4の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第1〜第4の線の何れかの上、前記第1の線と前記第3の線との間、または、前記第2の線と前記第4の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が580nm以上620nm以下で使用されることを特徴としている。
前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,520)、(1.49,475)、(1.59,415)、(1.85,325)及び(1.95,315)の点を、直線で接続または屈
折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第1の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,275)、(1.49,265)、(1.59,255)、(1.85,225)及び(1.95,200)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第2の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,370)、(1.49,350)、(1.59,330)、(1.85,270)及び(1.95,255)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第3の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,350)、(1.49,330)、(1.59,310)、(1.85,260)及び(1.95,245)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第4の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第1〜第4の線の何れかの上、前記第1の線と前記第3の線との間、または、前記第2の線と前記第4の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が550nm以上590nm以下で使用されることを特徴としている。
前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,470)、(1.49,430)、(1.59,370)、(1.85,290)及び(1.95,280)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第1の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,250)、(1.49,240)、(1.59,230)、(1.85,210)及び(1.95,180)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第2の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,340)、(1.49,320)、(1.59,290)、(1.85,240)及び(1.95,230)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第3の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,320)、(1.49,300)、(1.59,280)、(1.85,230)及び(1.95,220)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第4の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第1〜第4の線の何れかの上、前記第1の線と前記第3の線との間、または、前記第2の線と前記第4の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が510nm以上550nm以下で使用されることを特徴としている。
前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,420)、(1.49,390)、(1.59,330)、(1.85,255)及び(1.95,240)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第1の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,230)、(1.49,220)、(1.59,210)、(1.85,190)及び(1.95,160)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第2の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,310)、(1.49,290)、(1.59,260)、(1.85,210)及び(1.95,195)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第3の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,290)、(1.49,275)、(1.59,250)、(1.85,200)及び(1.95,190)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第4の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第1〜第4の線の何れかの上、前記第1の線と前記第3の線との間、または、前記第2の線と前記第4の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が480nm以上520nm以下で使用されることを特徴としている。
前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,375)、(1.49,350)、(1.59,295)、(1.85,210)及び(1.95,200)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第1の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,210)、(1.49,200)、(1.59,190)、(1.85,165)及び(1.95,140)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第2の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,280)、(1.49,265)、(1.59,235)、(1.85,185)及び(1.95,165)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第3の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,260)、(1.49,250)、(1.59,225)、(1.85,175)及び(1.95,160)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第4の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第1〜第4の線の何れかの上、前記第1の線と前記第3の線との間、または、前記第2の線と前記第4の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が450nm以上490nm以下で使用されることを特徴としている。
前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,330)、(1.49,310)、(1.59,260)、(1.85,180)及び(1.95,160)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第1の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,190)、(1.49,185)、(1.59,170)、(1.85,140)及び(1.95,120)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第2の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,250)、(1.49,240)、(1.59,210)、(1.85,155)及び(1.95,135)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第3の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,230)、(1.49,225)、(1.59,200)、(1.85,150)及び(1.95,130)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第4の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第1〜第4の線の何れかの上、前記第1の線と前記第3の線との間、または、前記第2の線と前記第4の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が420nm以上460nm以下で使用されることを特徴としている。
ベース基板、金属層及び消光抑制層を有し、蛍光顕微鏡または蛍光マイクロプレートリーダーにおいて使用され、観測対象の試料を搭載するためのマイクロプレートを製造する方法であって、
周期構造を表面に有する型を用い、前記型の前記周期構造に樹脂を押圧して、周期構造を有する前記ベース基板を形成する第1ステップと、
前記ベース基板の前記周期構造の上に、表面プラズモン共鳴光を発生し得る金属で前記金属層を形成する第2ステップと、
前記金属層の上に前記消光抑制層を形成する第3ステップとを含み、
前記マイクロプレートが、前記ベース基板側から光が入射されて、表面プラズモン共鳴光によって増強された電場を発生させ、
前記樹脂が、屈折率が1.45より大きく2以下であり、入射される前記光及び前記増強蛍光に対して透過性を有し、
表面プラズモン共鳴の共鳴角が4度以上45度以下になるように、前記型の周期構造のピッチが形成されていることを特徴としている。
表面プラズモン共鳴の共鳴角が4度以上20度以下になるように、前記型の前記周期構造のピッチが形成されていることを特徴としている。
前記樹脂が、ポリメタクリレート、ポリカーボネート、又はポリウレタンであることを特徴としている。
前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,600)、(1.49,540)、(1.59,480)、(1.85,380)及び(1.95,370)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第1の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,310)、(1.49,300)、(1.59,290)、(1.85,260)及び(1.95,230)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第2の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,420)、(1.49,400)、(1.59,370)、(1.85,310)及び(1.95,290)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第3の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,390)、(1.49,380)、(1.59,350)、(1.85,300)及び(1.95,280)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第4の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第1〜第4の線の何れかの上、前記第1の線と前記第3の線との間、または、前記第2の線と前記第4の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が613nm以上653nm以下で使用されることを特徴としている。
ているが、PCを基材とすると、ピッチが300〜420nmで共鳴角が20度以下になる。ピッチが小さくなれば、同じ照射面積中に結合している蛍光分子からの増強蛍光強度は大きくなることが期待できるので、より高感度計測につながる。
向および蛍光Lpの観測方向の組み合わせに応じて4種類がある。具体的には、次の通り
である。
落射型正立顕微鏡の場合、照明光の入射方向がIN1であり、観測方向がTである
落射型倒立顕微鏡の場合、照明光の入射方向がIN2であり、観測方向がBである。
透過型正立顕微鏡の場合、照明光の入射方向がIN2であり、観測方向がTである。
透過型倒立顕微鏡の場合、照明光の入射方向がIN1であり、観測方向がBである。
本発明はこれらのうち、照明光の入射方向がIN2である透過型正立顕微鏡または落射型
倒立顕微鏡で使用されるマイクロプレートを対象とする。
観測光(プラズモン励起増強蛍光)Lpが上から観測される様子を示している。即ち、図
2のSPFM1は、透過型正立顕微鏡に分類される。
谷V2、スロープSLが形成される。
若しくは吸収の少ない)透明な薄膜を用いる。表面プラズモン励起増強蛍光法の特徴である増強蛍光は、蛍光分子と金属との距離が近いと、強い励起場で励起された蛍光も金属表面にエネルギー移動して消光されてしまう。従って、試料を金属層6から所定距離だけ離隔させて消光を抑制することが必要である。また、表面プラズモン共鳴による励起場は近接場であるために、金属表面から離れるにしたがってその電場強度は減衰するため、金属
表面からおよそ100nm以内に存在する蛍光分子のみが効率よく励起される。そのために、消光抑制層7の膜厚は、約10nm〜100nmの範囲で金属層6の種類に応じて決定される。たとえば、膜厚の最適値は、金属層6が銀の場合10〜50nmであり、より好ましくは20〜50nmである。金の場合、膜厚の最適値は10〜70nmであり、より好ましくは40〜70nmである。
の間に、酸化を防止する層(以下、酸化防止層という)を形成することが望ましい。なお、酸化防止層は、少なくとも銀と消光抑制層7との間にあればよい。例えば、ベース基板5と銀との間に接着層として機能する第1層を形成し、銀と消光抑制層7との間に接着および酸化防止層として機能する第2層を形成する。例えば、第1層および第2層は、それぞれ膜厚0.1〜3nmの薄膜として形成される。第2層は、銀を保護できる材質の層であればよく、例えばクロム(Cr)、アルミニウム、チタン、パラジウムで形成される。なお、第2層は消光抑制層7の接着性を高める役割をもする材質が望ましく、この意味でもクロム(Cr)が適している。
平面U1と、それに直交する平面U2である。入射光L1、L2は、光源から出力され、対物レンズによって円錐形に集光されてマイクロプレート4に入射する光のうち、それぞれ平面U1内、U2内を進行する光である。ここで、入射光L1、L2は、偏光フィルターなどによる偏光を受けていない光であるとする。従って、マイクロプレート4に対する入射光L1、L2のp偏光成分V2、V3の成分のうちV1と平行な成分によって表面プラズモン共鳴
光が発生する。このように、マイクロプレート4への入射光が偏光していない場合、マイクロプレート4の表面に形成された格子8の方向V1に平行な成分をもつ入射光のp偏光
によって表面プラズモン共鳴光が発生する。
表面プラズモン共鳴光が発生しない。L1、L2以外の入射光に対してもp偏光性とV1と
の平行性が低いために効率よく表面プラズモン共鳴光は発生しない。よって、図5のような偏光軸の入射光と格子の配置では、明るい蛍光画像は得られない。
ーセットの中に偏光依存性のある素子(ダイクロイックミラーなど)が含まれている場合、上記したように表面プラズモン共鳴光が効率よく発生するように、マイクロプレート4の配置、即ち格子の方向を調節することが必要である。
)で計算した結果と一致する曲線である。グラフは、屈折率nが1.45、1.49、1.59、1.85、1.95の場合の計算結果である。各グラフを区別するために、対応する屈折率nをグラフの近傍に付記している。光の入射面と一次格子ベクトルとのなす角(角度φ:基板法線方向を回転軸として)は0度である。
あり、添え字に関しては、sppはプラズマポラリトンを、phは入射光を、gは格子をそ
れぞれ意味する。θは入射角、mは0以上の整数である。計算では、m=1まで考慮した。mが2以上の場合に関しては、実際にはm=1の場合ほど増強度が大きくないので、省略した。
n=1.35の場合、ピッチp[nm]が340≦p≦420又は450≦p≦640、
n=1.45の場合、ピッチp[nm]が310≦p≦390又は420≦p≦600、
n=1.49の場合、ピッチp[nm]が300≦p≦380又は400≦p≦540、
n=1.59の場合、ピッチp[nm]が290≦p≦350又は370≦p≦480、
n=1.85の場合、ピッチp[nm]が260≦p≦300又は310≦p≦380、
n=1.95の場合、ピッチp[nm]が230≦p≦280又は290≦p≦370
である。
n=1.35の場合、ピッチp[nm]が370≦p≦420又は450≦p≦510、
n=1.45の場合、ピッチp[nm]が360≦p≦390又は420≦p≦480、
n=1.49の場合、ピッチp[nm]が340≦p≦380又は400≦p≦450、
n=1.59の場合、ピッチp[nm]が320≦p≦350又は370≦p≦410、
n=1.85の場合、ピッチp[nm]が280≦p≦300又は310≦p≦340、
n=1.95の場合、ピッチp[nm]が260≦p≦280又は290≦p≦320
である。
n=1.45の場合、ピッチp[nm]が330≦p≦410又は445≦p≦640、
n=1.49の場合、ピッチp[nm]が320≦p≦405又は425≦p≦575、
n=1.59の場合、ピッチp[nm]が310≦p≦370又は395≦p≦515、
n=1.85の場合、ピッチp[nm]が280≦p≦320又は330≦p≦410、
n=1.95の場合、ピッチp[nm]が245≦p≦300又は310≦p≦400
であり、
共鳴角θ[deg]が4≦θ≦20となる条件は、
n=1.45の場合、ピッチp[nm]が380≦p≦410又は445≦p≦510、
n=1.49の場合、ピッチp[nm]が360≦p≦405又は425≦p≦480、
n=1.59の場合、ピッチp[nm]が340≦p≦370又は395≦p≦435、
n=1.85の場合、ピッチp[nm]が300≦p≦320又は330≦p≦365、
n=1.95の場合、ピッチp[nm]が280≦p≦300又は310≦p≦340
である。
共鳴角θ[deg]が4≦θ≦45となる条件は、
n=1.45の場合、ピッチp[nm]が290≦p≦370又は395≦p≦560、
n=1.49の場合、ピッチp[nm]が280≦p≦355又は375≦p≦505、
n=1.59の場合、ピッチp[nm]が270≦p≦330又は345≦p≦445、
n=1.85の場合、ピッチp[nm]が240≦p≦280又は290≦p≦350、
n=1.95の場合、ピッチp[nm]が215≦p≦260又は270≦p≦340
であり、
共鳴角θ[deg]が4≦θ≦20となる条件は、
n=1.45の場合、ピッチp[nm]が340≦p≦370又は395≦p≦450、
n=1.49の場合、ピッチp[nm]が320≦p≦355又は375≦p≦420、
n=1.59の場合、ピッチp[nm]が300≦p≦330又は345≦p≦385、
n=1.85の場合、ピッチp[nm]が260≦p≦280又は290≦p≦315、
n=1.95の場合、ピッチp[nm]が240≦p≦260又は270≦p≦300
である。
共鳴角θ[deg]が4≦θ≦45となる条件は、
n=1.45の場合、ピッチp[nm]が275≦p≦350又は370≦p≦520、
n=1.49の場合、ピッチp[nm]が265≦p≦330又は350≦p≦475、
n=1.59の場合、ピッチp[nm]が255≦p≦310又は330≦p≦415、
n=1.85の場合、ピッチp[nm]が225≦p≦260又は270≦p≦325、
n=1.95の場合、ピッチp[nm]が200≦p≦245又は255≦p≦315
であり、
共鳴角θ[deg]が4≦θ≦20となる条件は、
n=1.45の場合、ピッチp[nm]が320≦p≦350又は370≦p≦420、
n=1.49の場合、ピッチp[nm]が300≦p≦330又は350≦p≦395、
n=1.59の場合、ピッチp[nm]が285≦p≦310又は330≦p≦360、
n=1.85の場合、ピッチp[nm]が245≦p≦260又は270≦p≦290、
n=1.95の場合、ピッチp[nm]が225≦p≦245又は255≦p≦280
である。
共鳴角θ[deg]が4≦θ≦45となる条件は、
n=1.45の場合、ピッチp[nm]が250≦p≦320又は340≦p≦470、
n=1.49の場合、ピッチp[nm]が240≦p≦300又は320≦p≦430、
n=1.59の場合、ピッチp[nm]が230≦p≦280又は290≦p≦370、
n=1.85の場合、ピッチp[nm]が210≦p≦230又は240≦p≦290、
n=1.95の場合、ピッチp[nm]が180≦p≦220又は230≦p≦280
であり、
共鳴角θ[deg]が4≦θ≦20となる条件は、
n=1.45の場合、ピッチp[nm]が290≦p≦320又は340≦p≦380、
n=1.49の場合、ピッチp[nm]が270≦p≦300又は320≦p≦360、
n=1.59の場合、ピッチp[nm]が260≦p≦280又は290≦p≦330、
n=1.85の場合、ピッチp[nm]が220≦p≦230又は240≦p≦260、
n=1.95の場合、ピッチp[nm]が200≦p≦220又は230≦p≦250
である。
共鳴角θ[deg]が4≦θ≦45となる条件は、
n=1.45の場合、ピッチp[nm]が230≦p≦290又は310≦p≦420、
n=1.49の場合、ピッチp[nm]が220≦p≦275又は290≦p≦390、
n=1.59の場合、ピッチp[nm]が210≦p≦250又は260≦p≦330、
n=1.85の場合、ピッチp[nm]が190≦p≦200又は210≦p≦255、
n=1.95の場合、ピッチp[nm]が160≦p≦190又は195≦p≦240
であり、
共鳴角θ[deg]が4≦θ≦20となる条件は、
n=1.45の場合、ピッチp[nm]が265≦p≦290又は310≦p≦340、
n=1.49の場合、ピッチp[nm]が245≦p≦275又は290≦p≦325、
n=1.59の場合、ピッチp[nm]が235≦p≦250又は260≦p≦300、
n=1.85の場合、ピッチp[nm]が195≦p≦200又は210≦p≦225、
n=1.95の場合、ピッチp[nm]が175≦p≦190又は195≦p≦215
である。
共鳴角θ[deg]が4≦θ≦45となる条件は、
n=1.45の場合、ピッチp[nm]が210≦p≦260又は280≦p≦375、
n=1.49の場合、ピッチp[nm]が200≦p≦250又は265≦p≦350、
n=1.59の場合、ピッチp[nm]が190≦p≦225又は235≦p≦295、
n=1.85の場合、ピッチp[nm]が165≦p≦175又は185≦p≦210、
n=1.95の場合、ピッチp[nm]が140≦p≦160又は165≦p≦200
であり、
共鳴角θ[deg]が4≦θ≦20となる条件は、
n=1.45の場合、ピッチp[nm]が240≦p≦260又は280≦p≦305、
n=1.49の場合、ピッチp[nm]が225≦p≦250又は265≦p≦295、
n=1.59の場合、ピッチp[nm]が210≦p≦225又は235≦p≦265、
n=1.85の場合、ピッチp[nm]が170≦p≦175又は185≦p≦190、
n=1.95の場合、ピッチp[nm]が150≦p≦160又は165≦p≦180
である。
共鳴角θ[deg]が4≦θ≦45となる条件は、
n=1.45の場合、ピッチp[nm]が190≦p≦230又は250≦p≦330、
n=1.49の場合、ピッチp[nm]が185≦p≦225又は240≦p≦310、
n=1.59の場合、ピッチp[nm]が170≦p≦200又は210≦p≦260、
n=1.85の場合、ピッチp[nm]が140≦p≦150又は155≦p≦180、
n=1.95の場合、ピッチp[nm]が120≦p≦130又は135≦p≦160
であり、
共鳴角θ[deg]が4≦θ≦20となる条件は、
n=1.45の場合、ピッチp[nm]が215≦p≦230又は250≦p≦270、
n=1.49の場合、ピッチp[nm]が205≦p≦225又は240≦p≦265、
n=1.59の場合、ピッチp[nm]が185≦p≦200又は210≦p≦230、
n=1.85の場合、ピッチp[nm]が145≦p≦150又は155≦p≦160、
n=1.95の場合、ピッチp[nm]が125≦p≦130又は135≦p≦140
である。
、偏光していない光を使用する場合、入射光の利用効率が高くなり、より明るい蛍光を観測することができる。
2 本体
3 ステージ
4 マイクロプレート
5、5’ ベース基板
6 金属層
7 消光抑制層
8 周期構造
9 溝部
10 凸部
IN1 消光抑制層側からの光の入射
IN2 ベース基板側からの光の入射
T 消光抑制層側からの蛍光の検出
B ベース基板側からの蛍光の検出
A 試料
Li 照明光
Lp 観測光(プラズモン励起増強蛍光)
L1、L2 入射光
V1 格子の方向
V2、V3 入射光のp偏光成分
V4 入射光のs偏光成分
θ 入射角度
U1、U2 入射平面
Claims (16)
- 蛍光顕微鏡または蛍光マイクロプレートリーダーにおいて使用され、観測対象の試料を搭載するためのマイクロプレートであって、
表面に周期構造を有するベース基板と、
前記周期構造の上に形成された金属層と、
前記金属層の上に形成された消光抑制層とを備え、
前記金属層が、表面プラズモン共鳴光を発生し得る金属で形成され、
前記ベース基板側から光が入射されて、表面プラズモン共鳴光によって増強された電場を発生させ、
発生した前記電場を蛍光分子の励起場として増強蛍光が前記消光抑制層側または前記ベース基板側から検出され、
屈折率が1.45より大きく2以下であり、入射される前記光及び前記増強蛍光に対して透過性を有する物質で、前記ベース基板が形成され、
表面プラズモン共鳴の共鳴角が4度以上45度以下になるように、前記周期構造のピッチが形成されていることを特徴とするマイクロプレート。 - 表面プラズモン共鳴の共鳴角が4度以上20度以下になるように、前記周期構造のピッチが形成されていることを特徴とする請求項1に記載のマイクロプレート。
- 前記ベース基板が、ポリメタクリレート、ポリカーボネート、又はポリウレタンで形成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載のマイクロプレート。
- 前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,600)、(1.49,540)、(1.59,480)、(1.85,380)及び(1.95,370)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第1の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,310)、(1.49,300)、(1.59,290)、(1.85,260)及び(1.95,230)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第2の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,420)、(1.49,400)、(1.59,370)、(1.85,310)及び(1.95,290)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第3の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,390)、(1.49,380)、(1.59,350)、(1.85,300)及び(1.95,280)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第4の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第1〜第4の線の何れかの上、前記第1の線と前記第3の線との間、または、前記第2の線と前記第4の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が613nm以上653nm以下で使用されることを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載のマイクロプレート。 - 前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,480)、(1.49,450)、(1.59,
410)、(1.85,340)及び(1.95,320)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第5の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,360)、(1.49,340)、(1.59,320)、(1.85,280)及び(1.95,260)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第6の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第3〜第6の線の何れかの上、前記第3の線と前記第5の線との間、または、前記第4の線と前記第6の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が613nm以上653nm以下で使用されることを特徴とする請求項4に記載のマイクロプレート。 - 前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,640)、(1.49,575)、(1.59,515)、(1.85,410)及び(1.95,400)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第1の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,330)、(1.49,320)、(1.59,310)、(1.85,280)及び(1.95,245)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第2の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,445)、(1.49,425)、(1.59,395)、(1.85,330)及び(1.95,310)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第3の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,410)、(1.49,405)、(1.59,370)、(1.85,320)及び(1.95,300)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第4の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第1〜第4の線の何れかの上、前記第1の線と前記第3の線との間、または、前記第2の線と前記第4の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が640nm以上680nm以下で使用されることを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載のマイクロプレート。 - 前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,560)、(1.49,505)、(1.59,445)、(1.85,350)及び(1.95,340)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第1の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,290)、(1.49,280)、(1.59,270)、(1.85,240)及び(1.95,215)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第2の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,395)、(1.49,375)、(1.59,345)、(1.85,290)及び(1.95,270)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第3の
線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,370)、(1.49,355)、(1.59,330)、(1.85,280)及び(1.95,260)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第4の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第1〜第4の線の何れかの上、前記第1の線と前記第3の線との間、または、前記第2の線と前記第4の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が580nm以上620nm以下で使用されることを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載のマイクロプレート。 - 前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,520)、(1.49,475)、(1.59,415)、(1.85,325)及び(1.95,315)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第1の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,275)、(1.49,265)、(1.59,255)、(1.85,225)及び(1.95,200)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第2の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,370)、(1.49,350)、(1.59,330)、(1.85,270)及び(1.95,255)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第3の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,350)、(1.49,330)、(1.59,310)、(1.85,260)及び(1.95,245)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第4の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第1〜第4の線の何れかの上、前記第1の線と前記第3の線との間、または、前記第2の線と前記第4の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が550nm以上590nm以下で使用されることを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載のマイクロプレート。 - 前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,470)、(1.49,430)、(1.59,370)、(1.85,290)及び(1.95,280)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第1の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,250)、(1.49,240)、(1.59,230)、(1.85,210)及び(1.95,180)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第2の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,340)、(1.49,320)、(1.59,290)、(1.85,240)及び(1.95,230)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第3の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,320)、(1.49,300)、(1.59,
280)、(1.85,230)及び(1.95,220)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第4の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第1〜第4の線の何れかの上、前記第1の線と前記第3の線との間、または、前記第2の線と前記第4の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が510nm以上550nm以下で使用されることを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載のマイクロプレート。 - 前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,420)、(1.49,390)、(1.59,330)、(1.85,255)及び(1.95,240)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第1の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,230)、(1.49,220)、(1.59,210)、(1.85,190)及び(1.95,160)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第2の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,310)、(1.49,290)、(1.59,260)、(1.85,210)及び(1.95,195)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第3の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,290)、(1.49,275)、(1.59,250)、(1.85,200)及び(1.95,190)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第4の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第1〜第4の線の何れかの上、前記第1の線と前記第3の線との間、または、前記第2の線と前記第4の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が480nm以上520nm以下で使用されることを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載のマイクロプレート。 - 前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,375)、(1.49,350)、(1.59,295)、(1.85,210)及び(1.95,200)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第1の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,210)、(1.49,200)、(1.59,190)、(1.85,165)及び(1.95,140)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第2の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,280)、(1.49,265)、(1.59,235)、(1.85,185)及び(1.95,165)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第3の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,260)、(1.49,250)、(1.59,225)、(1.85,175)及び(1.95,160)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第4の
線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第1〜第4の線の何れかの上、前記第1の線と前記第3の線との間、または、前記第2の線と前記第4の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が450nm以上490nm以下で使用されることを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載のマイクロプレート。 - 前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,330)、(1.49,310)、(1.59,260)、(1.85,180)及び(1.95,160)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第1の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,190)、(1.49,185)、(1.59,170)、(1.85,140)及び(1.95,120)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第2の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,250)、(1.49,240)、(1.59,210)、(1.85,155)及び(1.95,135)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第3の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,230)、(1.49,225)、(1.59,200)、(1.85,150)及び(1.95,130)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第4の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第1〜第4の線の何れかの上、前記第1の線と前記第3の線との間、または、前記第2の線と前記第4の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が420nm以上460nm以下で使用されることを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載のマイクロプレート。 - ベース基板、金属層及び消光抑制層を有し、蛍光顕微鏡または蛍光マイクロプレートリーダーにおいて使用され、観測対象の試料を搭載するためのマイクロプレートを製造する方法であって、
周期構造を表面に有する型を用い、前記型の前記周期構造に樹脂を押圧して、周期構造を有する前記ベース基板を形成する第1ステップと、
前記ベース基板の前記周期構造の上に、表面プラズモン共鳴光を発生し得る金属で前記金属層を形成する第2ステップと、
前記金属層の上に前記消光抑制層を形成する第3ステップとを含み、
前記マイクロプレートが、前記ベース基板側から光が入射されて、表面プラズモン共鳴光によって増強された電場を発生させ、
前記樹脂が、屈折率が1.45より大きく2以下であり、入射される前記光及び前記増強蛍光に対して透過性を有し、
表面プラズモン共鳴の共鳴角が4度以上45度以下になるように、前記型の周期構造のピッチが形成されていることを特徴とするマイクロプレートの製造方法。 - 表面プラズモン共鳴の共鳴角が4度以上20度以下になるように、前記型の前記周期構造のピッチが形成されていることを特徴とする請求項13に記載のマイクロプレートの製造方法。
- 前記樹脂が、ポリメタクリレート、ポリカーボネート、又はポリウレタンであることを特徴とする請求項13又は14に記載のマイクロプレートの製造方法。
- 前記屈折率が1.95以下であり、
屈折率及びピッチを軸とする平面上で、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,600)、(1.49,540)、(1.59,480)、(1.85,380)及び(1.95,370)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第1の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,310)、(1.49,300)、(1.59,290)、(1.85,260)及び(1.95,230)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第2の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,420)、(1.49,400)、(1.59,370)、(1.85,310)及び(1.95,290)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第3の線とし、
(屈折率,ピッチ)が、(1.45,390)、(1.49,380)、(1.59,350)、(1.85,300)及び(1.95,280)の点を、直線で接続または屈折率の増加に伴ってピッチが単調に減少する曲線で滑らかに接続して得られる線を第4の線とした場合に、
前記ベース基板の前記屈折率及び前記ピッチをプロットした点が、前記第1〜第4の線の何れかの上、前記第1の線と前記第3の線との間、または、前記第2の線と前記第4の線との間に位置し、
入射する前記光の波長が613nm以上653nm以下で使用されることを特徴とする請求項13〜15の何れか1項に記載のマイクロプレートの製造方法。
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Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011158369A (ja) * | 2010-02-02 | 2011-08-18 | National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology | バイオチップ、抗原抗体反応検出用キット、及び抗原抗体反応の検出方法 |
CN102901715A (zh) * | 2012-11-07 | 2013-01-30 | 吉林大学 | 基于微/纳米周期结构的荧光增强微阵列生物芯片及其制备方法 |
JP2013178224A (ja) * | 2012-01-31 | 2013-09-09 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | バイオチップ、バイオアッセイ用キット、及びバイオアッセイ方法 |
JP2014215037A (ja) * | 2013-04-22 | 2014-11-17 | タツタ電線株式会社 | 表面プラズモン増強蛍光測定装置 |
JP2015025662A (ja) * | 2013-07-24 | 2015-02-05 | 株式会社クラレ | プラズモン共鳴構造体 |
WO2016125614A1 (ja) * | 2015-02-02 | 2016-08-11 | コニカミノルタ株式会社 | 検出方法、検出装置およびチップ |
JPWO2016203832A1 (ja) * | 2015-06-19 | 2018-04-05 | コニカミノルタ株式会社 | 検出チップ、検出方法、検出装置および検出システム |
JP2019045294A (ja) * | 2017-09-01 | 2019-03-22 | 学校法人関西学院 | 表面プラズモン励起増強蛍光検出装置および検出方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01502930A (ja) * | 1987-03-10 | 1989-10-05 | アレス‐セロノ リサーチ アンド ディベロップメント リミティド パートナーシップ | 改良された分析技術およびそのための装置 |
JP2008286778A (ja) * | 2007-04-16 | 2008-11-27 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 周期構造を有するマイクロプレートおよびそれを用いた表面プラズモン励起増強蛍光顕微鏡または蛍光マイクロプレートリーダー |
JP2010096645A (ja) * | 2008-10-17 | 2010-04-30 | National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology | 周期構造を有するマイクロプレート、並びに、それを用いた表面プラズモン励起増強蛍光顕微鏡、蛍光マイクロプレートリーダーおよび特異的な抗原抗体反応の検出方法 |
JP2011158369A (ja) * | 2010-02-02 | 2011-08-18 | National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology | バイオチップ、抗原抗体反応検出用キット、及び抗原抗体反応の検出方法 |
-
2010
- 2010-04-20 JP JP2010097110A patent/JP2011226925A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01502930A (ja) * | 1987-03-10 | 1989-10-05 | アレス‐セロノ リサーチ アンド ディベロップメント リミティド パートナーシップ | 改良された分析技術およびそのための装置 |
JP2008286778A (ja) * | 2007-04-16 | 2008-11-27 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 周期構造を有するマイクロプレートおよびそれを用いた表面プラズモン励起増強蛍光顕微鏡または蛍光マイクロプレートリーダー |
JP2010096645A (ja) * | 2008-10-17 | 2010-04-30 | National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology | 周期構造を有するマイクロプレート、並びに、それを用いた表面プラズモン励起増強蛍光顕微鏡、蛍光マイクロプレートリーダーおよび特異的な抗原抗体反応の検出方法 |
JP2011158369A (ja) * | 2010-02-02 | 2011-08-18 | National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology | バイオチップ、抗原抗体反応検出用キット、及び抗原抗体反応の検出方法 |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011158369A (ja) * | 2010-02-02 | 2011-08-18 | National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology | バイオチップ、抗原抗体反応検出用キット、及び抗原抗体反応の検出方法 |
JP2013178224A (ja) * | 2012-01-31 | 2013-09-09 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | バイオチップ、バイオアッセイ用キット、及びバイオアッセイ方法 |
CN102901715A (zh) * | 2012-11-07 | 2013-01-30 | 吉林大学 | 基于微/纳米周期结构的荧光增强微阵列生物芯片及其制备方法 |
JP2014215037A (ja) * | 2013-04-22 | 2014-11-17 | タツタ電線株式会社 | 表面プラズモン増強蛍光測定装置 |
JP2015025662A (ja) * | 2013-07-24 | 2015-02-05 | 株式会社クラレ | プラズモン共鳴構造体 |
WO2016125614A1 (ja) * | 2015-02-02 | 2016-08-11 | コニカミノルタ株式会社 | 検出方法、検出装置およびチップ |
JPWO2016125614A1 (ja) * | 2015-02-02 | 2017-11-24 | コニカミノルタ株式会社 | 検出方法、検出装置およびチップ |
JPWO2016203832A1 (ja) * | 2015-06-19 | 2018-04-05 | コニカミノルタ株式会社 | 検出チップ、検出方法、検出装置および検出システム |
JP2019045294A (ja) * | 2017-09-01 | 2019-03-22 | 学校法人関西学院 | 表面プラズモン励起増強蛍光検出装置および検出方法 |
JP7043051B2 (ja) | 2017-09-01 | 2022-03-29 | 学校法人関西学院 | 表面プラズモン励起増強蛍光検出装置および検出方法 |
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