JP2011222142A - 四重極型質量分析計 - Google Patents
四重極型質量分析計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011222142A JP2011222142A JP2010086706A JP2010086706A JP2011222142A JP 2011222142 A JP2011222142 A JP 2011222142A JP 2010086706 A JP2010086706 A JP 2010086706A JP 2010086706 A JP2010086706 A JP 2010086706A JP 2011222142 A JP2011222142 A JP 2011222142A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- filament
- quadrupole
- voltage
- grid
- ion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
【解決手段】 フィラメント43及びグリッド41を備えるイオン源4と、四重極部3と、イオン源と四重極部との間に介設されたフォーカス電極5と、相対する電極間に直流電圧と交流電圧とを印加することで四重極部を通過したイオンを捕集するイオン検出部2とを有するセンサ部MAと、フィラメントに直流電流を通電する電源E1と、グリッドに対してフィラメントより高い電位を印加する電源E2と、グリッドとフィラメントとの間に電位差をつくるためフィラメントに電位を与える電源E4と、四重極部に直流電圧を重畳した交流電圧を印加する電源E3と、制御部C1とを有する制御ユニットCとを備える。フィラメントの電位とフォーカス電極の電位とを同等とする。
【選択図】 図2
Description
Claims (2)
- フィラメント及びグリッドを備えてガスをイオン化するイオン源と、4本の円柱状の電極を周方向に所定間隔で配置してなる四重極部と、イオン源と四重極部との間に介設されたフォーカス電極と、相対する電極間に直流電圧と交流電圧とを印加することで四重極部を通過した所定のイオンを捕集するイオン検出部とを有するセンサ部と、
フィラメントに直流電流を通電するフィラメント点灯用の電源と、グリッドに対してフィラメントより高い電位を印加するグリッド用の電源と、グリッドとフィラメントとの間に所定の電位差をつくるためにフィラメントに電位を与える電源と、四重極部に直流電圧を重畳した交流電圧を印加する四重極部用の電源と、各電源の作動を制御すると共にイオン検出部にて検出したイオン電流値を処理する制御部とを有する制御ユニットと、を備え、 前記フィラメントの電位とフォーカス電極の電位とを同等としたことを特徴とする四重極型質量分析計。 - 前記フィラメントとフォーカス電極とを直接配線接続してなることを特徴とする請求項1記載の四重極型質量分析計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010086706A JP2011222142A (ja) | 2010-04-05 | 2010-04-05 | 四重極型質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010086706A JP2011222142A (ja) | 2010-04-05 | 2010-04-05 | 四重極型質量分析計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011222142A true JP2011222142A (ja) | 2011-11-04 |
Family
ID=45038924
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010086706A Pending JP2011222142A (ja) | 2010-04-05 | 2010-04-05 | 四重極型質量分析計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2011222142A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI647450B (zh) * | 2017-08-07 | 2019-01-11 | 日商愛發科股份有限公司 | Quadrupole mass spectrometer and method for determining sensitivity reduction |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60202646A (ja) * | 1984-03-26 | 1985-10-14 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 二重アノ−ド型四重極分析計 |
JPH07307140A (ja) * | 1994-03-17 | 1995-11-21 | Hitachi Ltd | 質量分析装置及びイオン源 |
JP2002245964A (ja) * | 2001-02-22 | 2002-08-30 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析装置 |
-
2010
- 2010-04-05 JP JP2010086706A patent/JP2011222142A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60202646A (ja) * | 1984-03-26 | 1985-10-14 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 二重アノ−ド型四重極分析計 |
JPH07307140A (ja) * | 1994-03-17 | 1995-11-21 | Hitachi Ltd | 質量分析装置及びイオン源 |
JP2002245964A (ja) * | 2001-02-22 | 2002-08-30 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI647450B (zh) * | 2017-08-07 | 2019-01-11 | 日商愛發科股份有限公司 | Quadrupole mass spectrometer and method for determining sensitivity reduction |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10658169B2 (en) | Methods, apparatus, and system for mass spectrometry | |
KR101340880B1 (ko) | 가스 분석장치 | |
US7893402B2 (en) | Measurement of the mobility of mass-selected ions | |
CN105493228B (zh) | 分析装置 | |
JP5669324B2 (ja) | 四重極型質量分析計 | |
JP5479238B2 (ja) | 四重極型質量分析計 | |
JP2012195104A (ja) | 四重極型質量分析装置 | |
JP6335376B1 (ja) | 四重極型質量分析計及びその感度低下の判定方法 | |
US11366066B2 (en) | Multi-electrode/multi-modal atmospheric pressure glow discharge plasma ionization device | |
JP2011222142A (ja) | 四重極型質量分析計 | |
JP3048146B1 (ja) | アイソトポマ―質量分析装置 | |
JP5765804B2 (ja) | 質量分析計用のイオン源及びこれを備えた質量分析計 | |
US11906449B2 (en) | Mass spectrometer | |
JP7544895B1 (ja) | 質量分析計及び質量分析システム | |
WO2023037536A1 (ja) | 質量分析装置 | |
KR100681728B1 (ko) | 다기능 이온 게이지 | |
JP2022115790A (ja) | 質量分析装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130218 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131125 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131203 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140203 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140225 |