JP2011180037A - 分析用具、識別装置、識別方法、プログラム及び記録媒体 - Google Patents

分析用具、識別装置、識別方法、プログラム及び記録媒体 Download PDF

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Abstract

【課題】試料の分析処理に用いられる分析用具の真贋判定を容易に行うことが可能であり、以って分析結果の信頼性を担保することの可能な技術を提供する。
【解決手段】試薬部を有し試料の分析処理に用いられる分析用具を識別するための識別装置であって、分析用具は不可視物質を用いて形成された識別用マーカ部を更に有し、識別用マーカ部に向けて光を照射する照射手段と、照射手段による照射光に晒された識別用マーカ部を形成する不可視物質が発する光を受光する受光手段と、受光手段における受光結果に基づいて分析用具を識別する識別手段と、を備える。
【選択図】図７

Description

本発明は、分析用具、識別装置、識別方法、プログラム及び記録媒体に関する。
従来、尿や血液などの試料（検体）の分析を行うために使用される試験紙、試験片等の分析用具や、この分析用具を用いて試料の分析を行う分析装置が公知である（例えば、特許文献１、２等を参照）。分析装置による試料の分析処理は、例えば試料と反応させるための試薬を含んだ試薬部（試薬パッドと）に試料を含浸させたときの発色を、光学的手法を用いて測光、観察することにより行われる。
特開２０００−３２１２７０号公報 特開２００９−２２９２３２号公報 特開平７−３５７４４号公報
分析装置による試料の分析結果の信頼性が担保されるためには、メーカなどによって品質が保証されている所謂正規品（真正品）としての分析用具を用いて分析処理を行うことが前提となる。しかしながら、分析装置のユーザー（使用者）にしてみれば、外観が正規品と類似して製造された模倣品（模造品、偽造品、偽物）と正規品とを見分けることは容易ではなく、例えば模造品の分析用具（以下、「偽造分析用具」ともいう）を正規品の分析用具（以下、「正規分析用具」ともいう）と錯誤して分析処理に使用してしまうおそれがある。これにより、試料の分析誤差が大きくなる等、分析結果の信頼性が低下することが懸念される。その結果、被検者の病気、疾患を見落とす等といった検査ミスを招くおそれがあった。
本発明は上記実情に鑑みてなされたものであり、その目的は、試料の分析処理に用いられる分析用具の真贋判定を容易に行うことが可能であり、以って分析結果の信頼性を担保することの可能な技術を提供することにある。
本発明では、上述した課題を解決するため、以下の手段を採用する。
すなわち、本発明に係る分析用具は、試薬部を有し試料の分析処理に用いられる分析用具であって、不可視物質を用いて形成された識別用マーカ部を、有することを特徴とする。
試薬部は試料と反応させるための試薬を含んでおり、この試薬部に試料を含浸させたときの呈色状態を、例えば光学的手法を用いて測光して得られた測定結果に基づいて試料中の特定成分に関する濃度など数値情報が演算される。
本発明における分析用具によれば、識別用マーカ部が不可視物質を用いて形成されている。この不可視物質はいわゆる可視光を透過する物質であり、例えば可視光の下では無色として捉えられる不可視インク（塗料）である。そのため、識別用マーカ部が肉眼によって読み取られることはない。つまり、本発明に係る分析用具をたとえ模造しようとも、識別用マーカ部まで模写されることがない。したがって、例えば光学的手法を用いた識別用
マーカ部を読み取りに失敗した場合、正規の試験片であればあるはずの識別用マーカ部が存在しないことを示すため、その試験片を模造品であると判別することができる。
本発明における分析用具は、前記識別用マーカ部は紫外線を励起光として蛍光する蛍光物質を用いて形成されても良い。この場合、前記識別用マーカ部は基材の表面又は裏面に設けられ、前記基材のうち少なくとも該識別用マーカ部の設けられる領域は紫外線を透過せず且つ前記蛍光物質の発する蛍光を透過する材質で形成されても良い。また、蛍光物質は、紫外線を励起光として可視光を蛍光しても良い。
また、本発明における分析用具は、前記識別用マーカ部は基材内部に埋め込まれて設けられ、前記基材のうち少なくとも該識別用マーカ部の埋め込まれる領域において、該基材の厚さ方向における該識別用マーカ部の埋め込み位置を境に、一方面側の部分は紫外線を透過し、他方面側の部分は紫外線を透過せずに前記蛍光物質の発する蛍光を透過する材質で形成されても良い。
前記識別用マーカ部の少なくとも一部には分析用具の識別情報が不可視物質を用いて記録されても良い。この識別情報とは、分析装置に用いる分析用具を識別するための情報である。この識別情報には、分析用具の製品仕様情報が含まれても良いし、試料の分析処理が行われる際に用いる分析関連情報が含まれても良い。製品仕様情報としては、例えば分析用具の製造ロット、製造番号などが例示できる。また、分析関連情報としては、例えば分析対象となる試料の種別、測定成分（特定成分）の種別、例えば試料の分析処理を行うための分析装置や分析用具の識別を行うための識別装置などのコンピュータのメモリに記憶されている、いわゆる検量線データに対応する識別記号などを挙げる事ができる。
また、本発明は上記何れかの分析用具を識別するための識別装置として捉えることができる。すなわち、本発明に係る識別装置は、試薬部を有し試料の分析処理に用いられる分析用具を識別するための識別装置であって、前記分析用具は不可視物質を用いて形成された識別用マーカ部を更に有し、前記識別用マーカ部に向けて光を照射する照射手段と、前記照射手段による照射光に晒された前記識別用マーカ部を形成する前記不可視物質が発する光を受光する受光手段と、前記受光手段における受光結果に基づいて前記分析用具を識別する識別手段と、を備えることを特徴とする。ここで識別手段は、受光手段における受光結果に基づいて分析用具の真贋判定を行うことにより、該分析用具を識別することができる。
上記構成の識別装置によれば、正規分析用具においては、照射手段が照射した照射光に晒された識別用マーカ部の不可視物質が発する光（反射光も含む）を受光手段が受光することができる。一方、偽造分析用具においてはそもそも識別用マーカ部が存在しないため、不可視物質が発する光を受光手段が受光する事がない。そのため、受光手段における受光結果、例えば受光手段による受光の有無等によって、分析用具が正規品であるのか否かを容易に、且つ高精度に識別することができる。これにより、ユーザーは、知らないうちに偽造分析用具を正規分析用具だと見誤って分析処理に使用してしまうことを回避することが可能である。よって、分析用具を用いた試料の分析誤差が大きくなる等の不具合が生じる事を抑制し、分析結果の信頼性が低下することを防ぐ事ができる。更には、被検者の病気、疾患を見落とす等といった検査ミスが起こる事をより確実に回避することが可能となる。
なお、本識別装置によって識別される分析用具に関して、前記識別用マーカ部は紫外線を励起光として蛍光する蛍光物質により形成され、前記照射手段は紫外線を照射し、前記受光手段は前記識別用マーカ部を形成する前記蛍光物質が発する蛍光を受光すると良い。
また、分析用具が、前記識別用マーカ部は前記分析用具における基材表面に設けられ、前記基材のうち少なくとも前記識別用マーカ部が設けられる領域は紫外線を透過せず且つ前記蛍光物質が発する蛍光を透過する材質で形成される場合、識別装置の前記照射手段は前記基材の表面側から紫外線を照射し、前記受光手段は前記基材における裏面側において該基材を透過した蛍光を受光しても良い。
また、分析用具が、前記識別用マーカ部は前記分析用具における基材内部に埋め込まれて設けられ、前記基材のうち少なくとも該識別用マーカ部の埋め込まれる領域において、該基材の厚さ方向における該識別用マーカ部の埋め込み位置を境に、一方面側の部分は紫外線を透過し、他方面側の部分は紫外線を透過せずに前記蛍光物質の発する蛍光を透過する材質で形成される場合、識別装置の前記照射手段は前記基材の前記一方面側から紫外線を照射し、前記受光手段は前記基材における前記他方面側において該基材を透過した蛍光を受光しても良い。
また、本発明は、上記何れかの識別装置を備え、該識別装置により識別された分析用具を用いて試料の分析処理を行う分析装置、或いは分析システムであっても良い。このような分析装置、或いは分析システムによっても、本発明に係る識別装置について述べた事項と同様な効果が得られる。
また、本発明は、上記何れかの分析用具を識別するための識別方法、として捉えることができる。すなわち、本発明に係る識別方法は、試薬部を有し試料の分析処理に用いられる分析用具を識別するための識別方法であって、前記分析用具は不可視物質を用いて形成された識別用マーカ部を更に有し、前記識別用マーカ部に向けて光を照射する照射ステップと、前記照射ステップにおいて照射光に晒された前記識別用マーカ部を形成する前記不可視物質が発する光を受光する受光ステップと、前記受光ステップにおける受光結果に基づいて前記分析用具を識別する識別ステップと、を含むことを特徴とする。このような識別方法によれば、本発明に係る識別装置について述べた事項と同様な効果が得られる。なお、識別ステップにおいては、受光ステップにおける受光結果に基づいて分析用具の真贋判定を行うことにより、該分析用具を識別することができる。
また、本識別方法が適用される分析用具において、前記識別用マーカ部は紫外線を励起光として蛍光する蛍光物質により形成される場合、本識別方法は、前記照射ステップにおいては紫外線を照射し、前記受光ステップにおいては前記識別用マーカ部を形成する前記蛍光物質が発する蛍光を受光すると良い。
ここで、前記識別用マーカ部は前記分析用具における基材表面に設けられ、前記基材のうち少なくとも前記識別用マーカ部が設けられる領域は紫外線を透過せず且つ前記蛍光物質が発する蛍光を透過する材質で形成される場合、前記照射ステップにおいては前記基材の表面側から紫外線を照射し、前記受光ステップにおいては前記基材における裏面側において該基材を透過した蛍光を受光すると良い。また、前記不可視マーカは前記分析用具における基材内部に埋め込まれて設けられ、前記基材のうち少なくとも該識別用マーカ部の埋め込まれる領域において、該基材の厚さ方向における該識別用マーカ部の埋め込み位置を境に、一方面側の部分は紫外線を透過し、他方面側の部分は紫外線を透過せずに前記蛍光物質の発する蛍光を透過する材質で形成される場合、前記照射ステップにおいては前記基材の前記一方面側から紫外線を照射し、前記受光ステップにおいては前記基材における前記他方面側において該基材を透過した蛍光を受光すると良い。
また、本発明は上記何れかの分析用具を識別するためのコンピュータに実行させる識別用プログラムとして捉えることができる。すなわち、本発明に係る識別用プログラムは、試薬部を有し試料の分析処理に用いられる分析用具を識別するためのコンピュータに実行
させる識別用プログラムであって、前記分析用具は不可視物質を用いて形成された識別用マーカ部を更に有し、前記コンピュータに、前記識別用マーカ部に向けて光を照射する照射ステップと、前記照射ステップにおいて照射光に晒された前記識別用マーカ部を形成する前記不可視物質が発する光を受光する受光ステップと、前記受光ステップにおける受光結果に基づいて前記分析用具を識別する識別ステップと、を実行させることを特徴とする。また、識別ステップでは、受光ステップにおける受光結果に基づいて分析用具の真贋判定を行うことによって該分析用具を識別することができる。このような識別用プログラムによれば、本発明に係る識別装置について述べた事項と同様な効果が得られる。また、本発明を、識別用プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体として捉えることもできる。
また、本発明に係る分析装置は、試薬部を有する分析用具を用いて試料の分析処理を行う分析装置であって、前記分析用具は不可視物質を用いて形成された識別用マーカ部であって、その少なくとも一部には試料の分析処理が行われる際に用いる分析関連情報が記録される識別用マーカ部を有し、前記識別用マーカ部に向けて光を照射する照射手段と、前記照射手段による照射光に晒された前記識別用マーカ部を形成する前記不可視物質が発する光を受光する受光手段と、前記受光手段の受光結果に基づいて前記分析用具を識別する識別手段と、前記受光手段の受光結果に基づいて前記分析関連情報を取得し、取得した分析関連情報を記憶する記憶手段と、前記分析用具の前記試薬部における試料を測定する測定手段と、前記測定手段が測定した試料の測定結果及び前記記憶手段が記憶した前記分析関連情報に基づいて試料に含まれる特定成分に関する数値情報を演算する演算手段と、を備えることを特徴とする。上記識別手段は、受光手段の受光結果に基づいて分析用具の真贋判定を行うことによって該分析用具を識別することができる。
また、本発明に係る分析システムは、試薬部を有する分析用具を用いて試料の分析処理を行う分析システムであって、前記分析用具は不可視物質を用いて形成された識別用マーカ部であって、その少なくとも一部には試料の分析処理が行われる際に用いる分析関連情報が記録される識別用マーカ部を有し、前記識別用マーカ部に向けて光を照射する照射器、前記照射器による照射光に晒された前記識別用マーカ部を形成する前記不可視物質が発する光を受光する受光器、及び前記受光器の受光結果に基づいて前記分析用具を識別する識別部を、有する識別装置と、前記受光部の受光結果に基づいて前記分析関連情報を取得し、取得した分析関連情報を記憶する記憶装置と、前記分析用具の前記試薬部における試料を測定する測定装置と、前記測定手段が測定した試料の測定結果及び前記記憶装置が記憶した前記分析関連情報に基づいて試料に含まれる特定成分に関する数値情報を演算する演算装置と、を備えることを特徴とする。上記識別部は、受光器の受光結果に基づいて分析用具の真贋判定を行うことによって該分析用具を識別することができる。
また、本発明は上記何れかの分析用具を用いて試料の分析処理を行うための分析方法や、該分析処理を行うためのコンピュータに実行させる分析用プログラムとして捉えることができる。すなわち、本発明に係る分析方法は、試薬部を有する分析用具を用いて試料の分析処理を行う分析方法であって、前記分析用具は不可視物質を用いて形成された識別用マーカ部であって、その少なくとも一部には試料の分析処理が行われる際に用いる分析関連情報が記録される識別用マーカ部を有し、前記識別用マーカ部に向けて光を照射する照射ステップと、前記照射ステップにおいて照射光に晒された前記識別用マーカ部を形成する前記不可視物質が発する光を受光する受光ステップと、前記受光ステップにおける受光結果に基づいて前記分析用具を識別する識別ステップと、前記受光手段の受光結果に基づいて前記分析関連情報を取得し、取得した分析関連情報を記憶する記憶ステップと、前記分析用具の前記試薬部における試料を測定する測定ステップと、前記測定ステップにおいて測定した試料の測定結果及び前記記憶ステップにおいて記憶した前記分析関連情報に基づいて、試料に含まれる特定成分に関する数値情報を演算する演算ステップと、を含むこ
とを特徴とする。
また、本発明に係る分析用プログラムは、試薬部を有する分析用具を用いて試料の分析処理を行うコンピュータに実行させる分析用プログラムであって、前記分析用具は不可視物質を用いて形成された識別用マーカ部であって、その少なくとも一部には試料の分析処理が行われる際に用いる分析関連情報が記録される識別用マーカ部を有し、前記コンピュータに、前記識別用マーカ部に向けて光を照射する照射ステップと、前記照射ステップにおいて照射光に晒された前記識別用マーカ部を形成する前記不可視物質が発する光を受光する受光ステップと、前記受光ステップにおける受光結果に基づいて前記分析用具を識別する識別ステップと、前記受光手段の受光結果に基づいて前記分析関連情報を取得し、取得した分析関連情報を記憶する記憶ステップと、前記分析用具の前記試薬部における試料を測定する測定ステップと、前記測定ステップにおいて測定した試料の測定結果及び前記記憶ステップにおいて記憶した前記分析関連情報に基づいて、試料に含まれる特定成分に関する数値情報を演算する演算ステップと、を実行させることを特徴とする。なお、上述した分析方法、又は分析用プログラムにおける識別ステップでは、受光ステップにおける受光結果に基づいて分析用具の真贋判定を行うことによって該分析用具を識別することができる。また、本発明を、上記分析用プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体として捉えることもできる。
なお、本発明における課題を解決するための手段は、可能な限り組み合わせることができる。
本発明によれば、試料の分析処理に用いられる分析用具の真贋判定を容易に行うことが可能であり、以って分析結果の信頼性を担保することの可能な技術を提供することができる。
第１の実施形態における分析用試験片を示す概略斜視図である。 第１の実施形態における分析装置の概略斜視図である。 第１の実施形態における分析装置の構成ブロック図である。 第１の実施形態における分析装置の内部構造の一部を示す図である。 第１の実施形態における試験片識別装置の詳細構成を示す構成ブロック図である。 第１の実施形態における試験片識別装置の各デバイスと試験片の位置関係を説明する説明図である。 試験片識別装置の制御コンピュータが実行する処理フローの内容を示すフローチャート図である。 第２の変形例における試験片の構成を示す図である。（ａ）は、試験片の基材表面を示す図である。（ｂ）は、試験片の長手方向に沿った断面図である。 第２の変形例における試験片識別装置の各デバイスと試験片の位置関係を説明する説明図である。 第２の実施形態における分析用試験片を示す概略斜視図である。 第２の実施形態における分析装置の機能ブロック図である。 第２の実施形態における分析装置が実行する処理フローの内容を示すフローチャート図である。 第３の変形例における試験片識別装置の各デバイスと試験片の位置関係を説明する説明図である。 第４の変形例における試験片識別装置の各デバイスと試験片の位置関係を説明する説明図である。
以下、図面を参照して発明を実施するための形態について例示的に詳しく説明する。本実施形態では、本発明に係る分析用具、分析用具を識別するための識別装置、及びこの識別装置を備えた分析装置を例示的に説明する。また、以下に説明する実施形態の説明は、本発明に係る分析用具を識別するための識別方法、識別用プログラム、分析用具を用いて試料の分析処理を行うための分析方法、分析システム、分析用プログラム、プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体に関わる各実施形態の説明を兼ねる。なお、本実施形態に記載されている構成要素の寸法、材質、形状、その相対配置等は、特に特定的な記載がない限りは、発明の技術的範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。
＜第１の実施形態＞
図１は、第１の実施形態における分析用具としての分析用試験片（以下、単に「試験片」と称する）１００を示す概略斜視図である。図２は、第１の実施形態における分析装置１の概略斜視図である。試験片１００は、図２示すような分析装置１が行う試料の分析処理に用いられる分析用具の一例である。分析装置１は、この試験片１００を使用して、試料の分析処理を行うための装置である。この実施形態においては試料として尿を例示的に採用し、尿に含まれる化学成分を分析して尿定性試験を行う分析装置１について説明する。
図１に示すように、試験片１００は、薄板状且つ短冊状の基材１０１を有している。基材１０１における符号Ｕｓで表される面の長手方向には、複数の試薬パッド（試薬部）１０２が並んで設けられている。試薬パッド１０２は、グルコ−ス、蛋白質、潜血、ビリルビン等の尿成分と反応して呈色する試薬が含浸或いは塗布されている。本図においては便宜上、７つの試薬パッドが基材１０１上に設けられているが、その数は適宜増減されていても勿論構わない。また、この実施形態では、便宜上、試薬パッド１０２が形成されている面Ｕｓを基材１０１における「表面」とし、表面Ｕｓに対向する面を基材１０１における「裏面」Ｄｓとする。
基材１０１の表面（以下、「基材表面」とも略称する）Ｕｓには、視認不能又は視認が極めて困難な不可視物質を用いて形成された識別用マーカ部（以下、「識別用不可視マーカ部」という）１０３が設けられている。ここで、マーカ部の「マーカ」とは、標識、指標、印などを意味である。また、識別用不可視マーカ部１０３の形成に使用される不可視物質は、いわゆる可視光を透過する（すなわち、可視光の吸収や散乱を行わない）物質であり、例えば可視光の下では無色として捉えられる不可視インク（塗料、色素）である。本実施形態においては、識別用不可視マーカ部１０３には、紫外線（紫外光）を励起光として励起され、可視光の蛍光を発する蛍光インク（蛍光物質に対応する）を用いている。蛍光インクとしては有機系の蛍光色素であっても良いし、無機系の蛍光色素であっても良く、公知の単独の蛍光色素あるいは２種以上の混合物であっても良い。例えば、有機系の蛍光色素としては、スチルベン系、ナフタレン系、チオフェン系、ミダゾロン系、複素５員環（イミダゾール系、トリアゾール系、オキサゾール系）の誘導体及び複素６員環（トリアジン系、クマリン系、ピリジン系）の誘導体等を例示できる。また、無機系の蛍光色素としては、例えば亜鉛系、希土類系などを例示できる。
但し、蛍光インク（塗料）が発する光は可視光でなくても良く、特定の波長に限定されない。また、上記励起光も紫外線である必要はなく、例えば赤外線（赤外光）であっても良い。すなわち、識別用不可視マーカ部１０３を形成する蛍光インクは可視光の下、肉眼で視認することが不能であれば（極めて困難な態様も含む（以下同様））、種々の物質を採用なし得る。また、識別用不可視マーカ部１０３は、基材１０１に上記蛍光インクを塗
布しても良いし、印刷形成、又はその他の方法を採用して形成させても良い。
ここで、基材１０１の表面Ｕｓ及び裏面Ｄｓと平行な方向を「（基材の）面内方向」と定義する。そして、基材１０１の面内方向において、不可視識別用マーカ部１０３が設けられている（配置されている）領域（ハッチングを施した領域）を、「マーカ部配置領域Ａｓｍｋ」と定義する。試験片１００における基材１０１は、少なくとも当該マーカ部配置領域Ａｓｍｋが、紫外線を透過せず且つ不可視識別用マーカ部１０３を形成する蛍光インクの発する蛍光を透過する材質、材料（以下、「紫外線不透過・蛍光透過型材料」と称する）で形成されている。なお、この実施形態では、基材１０１面内方向におけるマーカ部配置領域Ａｓｍｋ及びこれを囲む所定のマージン領域Ａｓｍｇに、紫外線不透過・蛍光透過型材料を用いている。もっとも、基材１０１全体に紫外線不透過・蛍光透過型材料を用いても良い。なお、基材１０１における紫外線不透過・蛍光透過型材料としては、公知の紫外線カット樹脂を採用することができる。本実施形態では、入手容易性、加工容易性を加味してＰＥＴフィルムを採用しているがこれに限られない。ＰＥＴフィルムの他、例えばポリスチレン、ポリメタクリル酸メチルに代表されるようなアクリル樹脂等も紫外線不透過・蛍光透過型材料として好適に採用することができる。
以上のように構成される試験片１００において、不可視の蛍光インクで基材１０１に設けた不可視識別用マーカ部１０３は、分析装置１に搭載される試験片識別装置によって試験片１００の識別を行う際に利用される。ここでいう試験片１００の識別とは、例えば分析処理に使用する試験片１００が、正規の試験片（以下、「正規試験片」、「正規品」、「真正品」などという）であるのか、或いは正規試験片を模倣して製造された試験片（以下、「偽造試験片」、「模造品」、「模倣品」、「偽造品」などという）であるかを判定することをいう。また、正規試験片とは、例えばメーカなどによって品質が保証されている真正品の試験片である。
試験片識別装置は、基材１０１における不可視識別用マーカ部１０３の有無を利用して試験片１００の真贋判定を行う。正規試験片の基材１００に形成されている不可視識別用マーカ部１０３は、可視光の下では肉眼で視認できないため、不可視識別用マーカ部１０３の存在を知らない者が正規試験片を模倣使用とも、不可視識別用マーカ部１０３までは模倣することはできない。すなわち、本実施形態に係る真正な試験片１００を模倣しようとしても、不可視識別用マーカ部が存在しない偽造試験片が得られるだけである。これにより、容易に且つ精度良く試験片１００の真贋判定を行うことができる。
次に、上述した試験片１００が適用される分析装置１の構成について詳しく説明する。図３は、第１の実施形態における分析装置１の構成ブロック図である。装置本体部１１は、分析装置１を構成する各要素を収容するための筐体（ハウジング）である。分析装置１は、装置本体部１１、試験片収容部１２、ラック設置部１３、試料点着装置１４、中央処理装置（Central Processing Unit、以下「ＣＰＵ」という）１５、メモリ１６、光学測
定ユニット１７、インターフェース１８、ハードディスクドライブ（Hard Disk Drive、
以下「ＨＤＤ」という）１９、記録媒体駆動装置２０、報知器２１、試験片識別装置３０などを備えたコンピュータである。また、装置本体部１１には、表示パネル１１１、操作スイッチ群１１２、およびプリンタ１１３が設けられている。
ＣＰＵ１５は、コンピュータプログラムを実行することで分析装置１を制御する中央処理装置である。メモリ１６は、ＣＰＵ１５で実行される試料の分析処理に関する制御プログラム（例えば、後述する「分析用プログラム」など）やＣＰＵ１５が処理するデータを記憶する。メモリ１６は、揮発性のRandom Access Memory（ＲＡＭ）、不揮発性のRead Only Memory（ＲＯＭ）を備える。ＲＯＭには、本分析装置１が機能する上で必要なプログラムやパラメータ、各種検量線データなどが格納されている。ＲＡＭはＣＰＵ１５にワー
ク領域を提供するとともに、例えばＣＰＵ１５に実行させるOperating System（ＯＳ）のプログラムやアプリケーションプログラムの一部が一時的に格納される。ＣＰＵ１５は、メモリ１６に格納されているプログラムに従って、各種の処理を実行する。
インターフェース１８は、ＣＰＵ１５と各種の装置とを接続するものであり、例えばUniversal Serial Bus（ＵＳＢ）等のシリアルインターフェースや、Peripheral Component
Interconnect（ＰＣＩ）等のパラレルインターフェースなどを採用しても良い。なお、
ＣＰＵ１５と各装置とを単一のインターフェース１８で接続しているが、ＣＰＵ１５と各装置との間を異なる複数のインターフェースで接続しても良い。
ＨＤＤ１９には、例えばメモリ１６のＲＡＭにロードされる各種プログラム等、分析装置１において使用される各種データが記憶されている。ＣＰＵ１５で処理される各データを記憶する。また、ＨＤＤ１９にはＯＳなどがインストールされている。記録媒体駆動装置２０は、例えば、Compact Disc（ＣＤ）、Digital Versatile Disk（ＤＶＤ）、ＨＤ−ＤＶＤ、ブルーレイディスク等の駆動装置である。また、記録媒体駆動装置２０は、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリを有するカード媒体の入出力装置であっても良い。記録媒体駆動装置２０が駆動する記録媒体は、例えば、ＨＤＤ１９にインストールされるコンピュータプログラム、入力データ等を格納する。
操作スイッチ群１１２は、ユーザー（使用者）が分析装置１を操作するための各種スイッチであり、例えば分析装置１の主電源のオン、オフを切り替える電源スイッチ、試料の分析処理（測定処理）を開始するための測定開始スイッチ、分析装置１による試料の分析結果をプリンタ１１３に印字させるための印字スイッチなどである。
表示パネル１１１は、例えばＬＣＤ（liquid crystal display）や発光ダイオードなどを備えており、ＣＰＵ１５により制御されて各種の情報を表示する。操作スイッチ群１１２のうち、例えば測定開始スイッチが例えばユーザーによって押下されると試料における上記各種測定項目の測定がなされ、その測定結果に基づいて得られた分析結果（検査結果）が表示パネル１１１に表示される。その他、表示パネル１１１には、ＣＰＵ１５で処理されるデータやメモリに記憶されるデータなどを表示することができる。また、上述の印字スイッチが押下されると、試料の分析結果がプリンタ１１３によって、例えば記録用紙に印字出力される。
ラック設置部１３は、図４に示す試料ラック１３１が設置される。この試料ラック１３１は、試料（図中、符号Ｕにて表す）としての尿を収容した複数の試料容器１３２を起立保持するためのラックである。また、ラック設置部１３は、該ラック設置部１３に設置された試料ラック１３１を該ラック設置部１３内の水平面内における２方向にそれぞれ移送可能な循環駆動ベルト１３３、プッシャ（図示省略）を有している。ラック設置部１３は、循環駆動ベルト１３３及びプッシャを駆動することにより一定の経路で試料ラック１３１を移送（搬送）する搬送装置としても機能する。ラック設置部１３（「サンプラ」と称呼される場合もある）は従来既知のもの（例えば、特許文献２に記載のもの）と同様な構成とすることが可能である。
試料点着装置１４は、ノズル１４１、装置本体部１１内においてノズル１４１を上下方向及び水平方向に駆動させるノズル駆動装置１４２、ノズル１４１による尿の吸引、吐出（滴下）などを制御する駆動ポンプ１４３などを備える。ノズル駆動装置１４２は、例えばアクチュエータ、又は循環駆動ベルトなどによって構成することができる。
ノズル１４１による尿の吸引に際しては、ＣＰＵ１５がノズル駆動装置１４２を制御して、ノズル１４１を尿が収容された試料容器１３２の上方位置まで移動させた後、該ノズ
ル１４１を下降する。そして、ＣＰＵ１５は制御ポンプ１４３を制御して、ノズル１４１に試料容器１３２内の尿を吸引させる。
試験片収容部１２に収容されている試験片１００は、図示しない供給装置によって一枚ずつ取り出され、取り出された試験片１００は所定の点着ポジションに移送（輸送、供給）される。この供給装置は、ＣＰＵ１５によって制御されるようになっている。この供給装置は、従来既知のものと同様の構成（例えば、特許文献２に開示されている回転ドラム、移送装置など）とすることが可能である。
ノズル１４１による試験片１００への尿の点着に際しては、ＣＰＵ１５によってノズル駆動装置１４２が制御され、試験紙１００の試薬パッド１０２上に移動する。そして、ＣＰＵ１５により駆動ポンプ１４３が制御されて、ノズル１４１から所定量の尿が試薬パッド１０２に点着される。このような点着動作が試験紙１００に設置された試薬パッド１０２の数だけ繰り返され、点着処理が終了する。試験片１００に対する試料の点着処理が終了した後は、洗浄液（例えば蒸留水）を用いてノズル１４１の洗浄が行われる。ノズル１４１を洗浄するための構成は図示しないが、従来既知のもの（例えば、特許文献１、２等に記載のもの）と同様な構成とすることが可能である。
光学測定ユニット１７は、装置本体部１の内部に設置された光学系である。ＣＰＵ１５によって光学測定ユニット１７が制御されることにより、点着処理実施後の試験片１００における各試薬パッド１０２の呈色状態が光学的に測定される。
光学測定ユニット１７は、試料が点着された試験片１００の各試薬パッド１０２に対して光を照射する発光装置１７１、各試薬パッド１０２からの反射光を受光する受光装置１７２を有し、各試薬パッド１０２の発色の程度（呈色反応）に応じた情報を得るための装置である。光学測定ユニット１７は、例えば試料が点着された試験片１００の長手方向に沿って往復移動可能な態様で設けられている。発光装置１７１は、例えば特定のピーク波長を有する光を出射する発光ダイオード（Light-emitting Diode、ＬＥＤ）や、半導体レーザである。一方、受光装置１７２は、例えば、各試薬パッド１０２からの反射光を受光するフォトダイオードである。
ＣＰＵ１５は、試験片１００の各試薬パッド１０２の列に沿って（試験片１００の長手方向に沿って）光学測定ユニット１７を移動させつつ、発光装置１７１に試薬パッド１０２へと光を照射させる。そして、複数の試薬パッド１０２からの反射光を、受光装置１７２に順次、連続的に受光させる。そしてＣＰＵ１５は、光学測定ユニット１７による測定結果を取得する。ＣＰＵ１５は、光学測定ユニット１７から取得した測定結果、及びメモリ１６のＲＯＭに記憶されている検量線データに基づいて、試料に含まれる測定成分（特定成分）に関する数値情報、すなわち尿に含まれるヘモグロビン、グルコース、あるいはタンパク質などの濃度や量などを演算する。
なお、上記検量線データは、光学測定ユニット１７が各試薬パッド１０２を測定して得られる応答測定値と、その試薬パッド１０２に対応した測定成分に関する数値情報との関係が格納されたデータであり、演算対象となる測定成分ごとに対応して予め用意されている。ＣＰＵ１５による演算結果、すなわち試料の分析結果は、表示パネル１１１に表示される。また、例えばユーザーによって印字スイッチが押下されると、試料の分析結果をプリンタ１１３が記録用紙に印字出力する。
次に、本実施形態における分析装置１に搭載される試験片識別装置３０について説明する。ここで、分析装置１による分析結果の信頼性を担保するには、試料の分析処理に正規試験片が使用されることが前提となる。正規試験片以外の試験片、つまり偽造試験片など
を用いて試料の分析処理を行った場合、分析誤差が大きくなるなどの不具合が生じ易くなるからである。しかし、外観上、正規試験片と偽造試験片とは類似していることが多く、ユーザー（使用者）にしてみれば、双方の違いを一見して見分けることは容易ではない。従って、ユーザーが偽造試験片を正規試験片と取り違えて分析処理に用いてしまった場合、試料の分析結果に誤差が生じ、これに起因して被検者の病気、疾患を見落とすことが懸念される。そこで、このような事態を回避、抑止する目的で試験片１００識別を行う試験片識別装置３０を備えるようにした。
図５は、第１の実施形態における試験片識別装置の詳細構成を示す構成ブロック図である。試験片識別装置３０は、照射器３０１、受光器３０２、制御コンピュータ３０３を備える。詳しくは後述するが、照射器３０１は、識別対象となる試験片１００における識別用不可視マーカ部１０３に向けて光を照射する。また、受光器３０２は、照射器３０１が照射した照射光に晒された識別用不可視マーカ部１０３における不可視インク（蛍光インク）が発する光を受光する。制御コンピュータ３０３は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）３０３Ａ、メモリ３０３Ｂなどを含んで構成されるマイクロコンピュータである。
ＣＰＵ３０３Ａは、メモリ３０３Ｂに記憶された基本ソフトウェアであるＯＳ（Operating System）プログラムや、照射器３０１、受光器３０２の制御やデータの処理を実行するためのアプリケーションプログラムを実行する。以下に説明する試験片を識別するための識別用プログラムも当該アプリケーションプログラムの一つである。
図６は、第１の実施形態における試験片識別装置３０の各デバイスと試験片１００の位置関係を説明する説明図である。この図に示す試験片１００は、前述した点着ポジションにセットされており、且つ試料点着装置１４によって試料が点着される前の状態にある。
試験片識別装置３０によって試験片１００の識別を行う際には、図示のように、照射器３０１及び受光器３０２が試験片１００を挟んで該試験片１００の表面Ｕｓ側と裏面Ｄｓ側に配置される。より詳しくは、照射器３０１は、識別用不可視マーカ部１０３を形成する蛍光インクに照射光を照射すべく、試験片１００の機材表面Ｕｓ上方に配置される。この実施形態において、照射器３０１は蛍光インクを励起する紫外線（紫外光）を照射する発光ダイオード（ＬＥＤ）であるが、これに限られるものではない。一方、受光器３０２は、図示のように試験片１００を挟んで照射器３０１の逆側、すなわち試験片１００の基材裏面Ｄｓ下方に配置された受光素子である。この実施形態では、受光器３０２に近紫外線〜近赤外線までの波長の光を受光するフォトダイオードを採用しているが、これに限られない。本実施形態においては照射器３０１、受光器３０２のそれぞれが本発明における照射手段、受光手段に対応している。
次に、試験片識別装置３０により実行される具体的な制御内容について、図７を参照して説明する。図７は、試験片識別装置３０の制御コンピュータ３０３が実行する処理フローの内容を示すフローチャート図である。図７に示す処理フローは、ＣＰＵ３０３Ａやメモリ３０３Ｂなどのハードウェア資源が協働して、具体的にはメモリ３０３Ｂに記憶されている識別用プログラムをＣＰＵ３０３Ａが実行することで実現される。また、本処理フローに係る識別用プログラムは、例えば試験片収容部１２に収容されていた試験片１００が不図示の供給装置によって点着ポジションにセットされたことをトリガーとして実行される。また、この識別用プログラムは、ＣＰＵ１５、メモリ１６などのハードウェア資源を協働させて実現させても良い。本実施形態においては、制御コンピュータ３０３が本発明における識別手段、識別部に対応している。
制御コンピュータ３０３が識別用プログラムの実行を開始すると、先ずステップＳ１０１（照射ステップ）においては、照射器３０１が、識別対象となる試験片１００の基材表面Ｕｓに形成された識別用不可視マーカ部１０３（マーカ部配置領域Ａｓｍｋ）に向けて
紫外線（紫外光）を照射する。図１で説明したように、識別用不可視マーカ部１０３に用いられている蛍光インクは紫外線（紫外光）を励起光として励起され、可視光の蛍光を発する。次いで、ステップＳ１０２（受光ステップ）においては、受光器３０２がステップＳ１０１（照射ステップ）において紫外線（紫外光）に晒された識別用不可視マーカ部１０３を形成する蛍光インクが発する蛍光を受光する。
上記ステップＳ１０１（照射ステップ）及びステップＳ１０２（受光ステップ）について詳しく説明すると、照射器３０１によって紫外線を照射された試験片が正規試験片であれば、紫外線に晒された蛍光インクは可視光の蛍光を発することになる。試験片１００の基材１０１のうち、その面内方向におけるマーカ部配置領域Ａｓｍｋ及びマージン領域Ａｓｍｇは紫外線不透過・蛍光透過型材料によって形成されているため、紫外線により励起された蛍光インクが発する蛍光は、基材１０１を基材裏面Ｄｓ側に向かって透過する。その結果、受光器３０２は、基材裏面Ｄｓ側において、基材１０１を透過した蛍光を受光することが可能である。なお、識別用不可視マーカ部１０３に用いられている不可視物質である蛍光インクの試料量、蛍光色素の含有量などは、照射器３０１からの紫外線に晒された場合に、受光器３０２によって確実に蛍光シグナルを検出されるだけの蛍光を発するように適正な量に設定されている。
一方、点着ポジションにセットされている試験片１００が真正品ではなく、例えば偽造試験片である場合、基材表面Ｕｓには不可視識別用マーカ部１０３が存在しない。この場合、照射ステップにおいて、基材表面Ｕｓのうち、正規試験片であれば不可視識別用マーカ部１０３が存在するであろう部位、すなわちマーカ部配置領域Ａｓｍｋに向かって照射器３０１が紫外線を照射しても、それを励起光とする蛍光インクが存在しないため、蛍光は発光されない。そして、照射器３０１により照射された紫外線は試験片の基材を透過しないため、受光器３０２によって受光されることはない。なお、マージン領域Ａｓｍｇは、照射器３０１から照射された紫外線のうち、基材１００のうちマージン領域Ａｓｍｇの外部領域を透過した紫外線が受光器３０２に受光されることがないように、その大きさや範囲が定められると良い。また、紫外線を透過させない基材としては、紫外線を反射したり、吸収する種々の材料を適用可能である。
ステップＳ１０３（真贋判定ステップ）においては、制御コンピュータ３０３が、ステップＳ１０２（受光ステップ）における受光器３０２の受光結果に基づいて、試験片１００の真贋判定を行うことによって該試験片１００を識別する。具体的には、制御コンピュータ３０３は、ステップＳ１０２において受光器３０２が蛍光を受光していれば試験片１００が正規試験片であると判定し、蛍光を受光していなければ偽造試験片であると判定する。本ステップの処理が終了すると、ＣＰＵ３０３Ａによる識別用プログラムが終了する。尚、この真贋判定ステップは識別ステップとして捉えることができる。
以上のように、本実施形態における試験片１００によれば、不可視識別用マーカ部１０３が不可視物質によって形成されるため、試験片識別装置３０による真贋判定に好適に利用することができる。また、試験片の真贋判定を、より簡便に且つ精度良く行う事ができる。
なお、本実施の形態において、試験片識別装置３０による試験片１００の識別結果は、分析装置１のＣＰＵ１５に入力され、ＣＰＵ１５は試験片識別装置３０から取得した識別結果をＨＤＤ１９に記憶する。また、ＣＰＵ１５は、現在、点着ポジションにセットされている試験片１００が偽造試験片であることを識別結果に基づいて認識した場合、その旨をユーザーに報知させても良い。ＣＰＵ１５は、報知器２１を作動させて音声によって報知させても良いし、文字情報として表示パネル１１１に表示させても良い。
分析装置１は、試験片識別装置３０により識別された試験片１００を用いて試料の分析処理を行う。ここでいう識別された試験片１００とは、真正品として識別された試験片である。すなわち、正規試験片に対して試料点着装置１４による試料の点着処理、光学測定ユニット１７による光学的手法を用いた測定処理が行われ、その測定結果に基づいてＣＰＵ１５が試料の分析を行う。
一方、試験片識別装置３０によって模倣品であると識別された試験片に関しては、試料点着装置１４による試料の点着処理を行わず、不図示の移送装置によって廃棄容器（図示省略）に撤去しても良い。その場合、試験片収容部１２に収容されている別の試験片１００が点着ポジションまで移送され、新たな試験片１００が試験片識別装置３０によって識別されると良い。このようにすれば、偽造試験片を用いて試料の分析処理が行われることを回避することができ、分析誤差が大きくなることを抑制することができる。よって、試料の分析結果の信頼性が低下することもなく、また、被検者の病気や疾患を見落とす等といった不具合も、より確実に防止することができる。
なお、本実施の形態では、試験片１００の識別に関する制御を試験片識別装置３０の備える専用のコンピュータ（制御コンピュータ３０３）によって行っているが、その機能を分析装置１のＣＰＵ１５及びメモリ１６によって実現しても良い。つまり、試験片１００の識別に関する制御をＣＰＵ１５及びメモリ１６に行わせても良い。
また、本発明は、分析用具を識別するための識別方法や、分析用具を識別するためのコンピュータ（試験片識別装置３０の制御コンピュータ３０３）に実行させるコンピュータプログラムである識別用プログラムを、その実施形態に含む。当該識別方法や識別用プログラムの内容は、図７の処理フローで説明した通りである。
更には、識別用プログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録させた媒体も、本発明の範疇に属する。識別用プログラムが記録された記録媒体については、例えば試験片識別装置３０の制御コンピュータ３０３に、この記録媒体のプログラムを読み込ませて実行させることにより、試験片の識別が可能となる。ここで、コンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、データやプログラム等の情報を電気的、磁気的、光学的、機械的、または化学的作用によって蓄積し、コンピュータから読み取ることができる記録媒体をいう。このような記録媒体のうちコンピュータから取り外し可能なものとしては、例えばフレキシブルディスク、光磁気ディスク、CD-ROM、CD-R/W、DVD、DAT、８mmテープ、メモリカード等がある。また、コンピュータに固定された記録媒体としてハードディスクやＲＯＭ（リードオンリーメモリ）等がある。
（第１の変形例）
次に、第１の変形例について説明する。まず、図１で説明した試験片１００においては、基材表面Ｕｓに識別用不可視マーカ部１０３を設けたが、この識別用不可視マーカ部１０３を基材裏面Ｄｓに設けても良い。この場合、試験片識別装置３０における照射器３０１を基材裏面Ｄｓの下方に配置し、受光器３０２を基材表面Ｕｓの上方に配置することになる。すなわち、図６に示す照射器３０１、受光器３０２の配置関係が相互に入れ替わることになる。
（第２の変形例）
図８は、第２の変形例における試験片１００Ａの構成を示す図である。（ａ）は、試験片１００Ａの基材表面Ｕｓを示す図である。（ｂ）は、試験片１００Ａの長手方向に沿った断面図である。これらの図において、図１に示す試験片１００と同じ構成については共通の符号を付すことで、その詳しい説明は省略する。試験片１００Ａは、識別用不可視マーカ部１０３が基材１０１の内部に埋め込まれて設けられている点が試験片１００と相違
する。
この図において、マーカ部配置領域Ａｓｍｋとは、基材１０１の面内方向において、識別用不可視マーカ部１０３が基材１０１内部に埋め込まれている領域である。試験片１００Ａは、基材１０１のうち少なくともマーカ部配置領域Ａｓｍｋ（ここでは、例としてマーカ部配置領域Ａｓｍｋ及びこれを囲む所定のマージン領域Ａｓｍｇ）において、基材１０１の厚さ方向における識別用不可視マーカ部１０３の埋め込み位置（以下、「マーカ部埋め込み深さ」という）Ｄｐを境に、基材表面Ｕｓ及び基材裏面Ｄｓのうち一方面側の部分は紫外線を透過する材料（以下、「紫外線透過材料」という）で形成され、他方面側の部分は紫外線不透過・蛍光透過型材料で形成されている。図８（ｂ）においては、マーカ部埋め込み深さＤｐ〜基材表面Ｕｓの部位に紫外線不透過・蛍光透過型材料（図中、符号１０１Ａで表す）を用いて形成し、マーカ部埋め込み深さＤｐ〜基材裏面Ｄｓの部位に紫外線透過材料（図中、符号１０１Ｂで表す）を用いて形成しているが、それぞれの材料を相互に入れ替えても構わない。
図９は、第２の変形例における試験片識別装置３０の各デバイスと試験片１００Ａの位置関係を説明する説明図である。この図において、図６に示すものと同じ構成には共通の符号を付す。図９に示すように、受光器３０２が試験片１００Ａの基材表面Ｕｓ上方に配置され、照射器３０１が基材裏面Ｄｓ下方に配置されている。
上記構成の試験片識別装置３０によれば、試験片１００Ａの真贋判定を行う場合、照射器３０１は、識別用不可視マーカ部１０３が埋め込まれているマーカ部配置領域Ａｓｍｋに向かって紫外線を照射させる（照射ステップ）。この紫外線は、基材１０１を構成する紫外線透過材料１０１Ｂを透過する。ここで、試験片１００Ａが正規試験片であれば、紫外線がマーカ部埋め込み深さＤｐに埋め込まれている識別用不可視マーカ部１０３に到達することで、識別用不可視マーカ部１０３を形成する蛍光インクが励起される。その結果、蛍光インクから発せられた蛍光が、紫外線不透過・蛍光透過型材料１０１Ａを透過しつつ基材表面Ｕｓ側に向かって進行する。そして、基材表面Ｕｓ側において、基材表面Ｕｓに到達した蛍光、すなわち紫外線不透過・蛍光透過型材料１０１Ａを透過した蛍光を受光器３０２が受光する（受光ステップ）。
一方、試験片１００Ａが偽造試験片である場合、照射ステップにおいてマーカ部配置領域Ａｓｍｋに向けて照射器３０１が紫外線を照射しても、マーカ部埋め込み深さＤｐの位置に不可視識別用マーカ部１０３が存在しないため、紫外線が基材裏面Ｄｓからマーカ部埋め込み深さＤｐまで到達したところで、蛍光が発光されることはない。更に、照射器３０１が照射した紫外線は、紫外線透過材料１０１Ｂを透過しないため、受光器３０２によって受光されることはない。なお、マージン領域Ａｓｍｇは、照射器３０１から照射された紫外線のうち、マージン領域Ａｓｍｇの外側領域を透過した紫外線が受光器３０２に受光されないように、その大きさ、範囲等が定められている。
制御コンピュータ３０３は、受光器３０２における受光結果に基づいて試験片１００Ａを識別する（識別ステップ）。すなわち、制御コンピュータ３０３は、受光器３０２によって蛍光が受光された場合には試験片１００Ａが正規試験片であると判定し、受光器３０２によって蛍光が受光されなかった場合に試験片１００Ａが偽造試験片であると判定することができる。試験片識別装置３０による試験片の識別結果の利用方法については既述のため、その説明は省略する。
＜第２の実施形態＞
図１０は、第２の実施形態に係る試験片１００Ｂを示す概略斜視図である。試験片１００Ｂが適用される分析装置についてのハード構成は第１の実施形態と同等である。試験片
１００Ｂは、図１に示した試験片１００と同様な基材１０１、試薬パッド１０２を有する。図中の符号１０３Ａは、本実施形態における識別用不可視マーカ部を表す。識別用不可視マーカ部１０３Ａも、不可視物質としての例示である蛍光インクを用いて基材表面Ｕｓに形成される点で図１の識別用不可視マーカ部１０３と同様である。
識別用不可視マーカ部１０３Ａは、可視光の下では肉眼で見えない（視認できない）蛍光インクを用いて形成されたバーコードであり、この蛍光インクで描かれた縞模様状の線の太さによって数値や文字情報を表す識別子である。試験片１００Ｂの識別情報とは、試験片１００Ｂを識別するための情報である。この識別情報には、試験片１００Ｂの製品仕様情報（以下、「試験片仕様情報」という）、試験片１００Ｂを用いて分析装置１による試料の分析処理が行われる際に用いられる分析関連情報などが含まれる。また、試験片仕様情報には、試験片の有効期限などの情報を含ませる事もできる。試験片仕様情報は試験片１００Ｂの仕様に関する情報であって、例えば試験片の製造ロット・製造番号などである。また、分析関連情報は、例えば分析対象となる試料の種別、測定成分（特定成分）の種別、メモリ１６のＲＯＭに記憶されている各検量線データに対応する識別記号（以下、「検量線データ識別記号」という）などである。検量線データ識別記号は、試料の測定成分の種別ごとに異なる記号として付与することができる。
試験片１００Ｂの識別処理に際しての試験片識別装置３０の各デバイスと試験片１００Ｂとの配置関係は、図６に示した配置例と同様である（図６に示した試験片１００と試験片１００Ｂと入れ替える）。すなわち、照射器３０１が試験片１００Ｂの基材表面Ｕｓ側に配置され、受光器３０２が基材裏面Ｄｓ側に配置される。
次に、分析装置１による試料の分析処理について説明する。図１１は、第２の実施形態における分析装置１の機能ブロック図である。分析装置１は、メモリ１６のＲＡＭ又はＲＯＭに展開された分析用プログラムをＣＰＵ１５が解釈及び実行することで、試験片１００Ｂの識別用不可視マーカ部１０３Ａに記憶されている識別情報（試験片仕様情報、分析関連情報）を試験片識別装置３０から取得すると共に取得した分析関連情報を記憶する記憶部１５１（記憶手段）と、試験片１００Ｂの試薬パッド１０２に含浸された試料を測定する測定部１５２（測定手段）と、測定部１５２が測定した試料の測定結果及び記憶部１５１が記憶した分析関連情報に基づいて試料の測定成分に関する濃度等の数値情報を演算する演算部１５３（演算手段）と、を備えるコンピュータとして機能する。
図１２は、第２の実施形態における分析装置１が実行する処理フローの内容を示すフローチャート図である。図１２に示す処理フローは、ＣＰＵ１５、メモリ１６、試験片識別装置３０などのハードウェア資源が協働して、例えばメモリ１６に記憶されている分析用プログラムをＣＰＵ１５が実行することによって実現される。なお、図７と同じステップ番号についてはその処理内容が同じ事を意味しており、その詳しい処理内容の説明は省略する。
分析用プログラムが分析装置１のＣＰＵ１５によって実行されると、先ずステップＳ１０１では（照射ステップ）においては、照射器３０１（照射手段）が、試験片１００Ｂの基材表面Ｕｓに形成された識別用不可視マーカ部１０３Ａ（マーカ部配置領域Ａｓｍｋ）に向けて紫外線を照射する。続くステップＳ１０２（受光ステップ）においては、受光器３０２（受光手段）が、識別用マーカ部１０３Ａを形成すると共に紫外線に晒された蛍光インクが発する光を受光する。受光器３０２は受信した光を電気信号に変換し、その応答信号を制御コンピュータ３０３に出力する。
ステップＳ１０３（真贋判定ステップ）においては、制御コンピュータ３０３（真贋判定手段）がステップＳ１０２（受光ステップ）における受光器３０２の受光結果に基づき
、試験片１００Ｂの真贋判定を実行し、該試験片１００Ｂの識別を行う。つまり、受光器３０２の受光結果に基づき、試験片１００Ｂが正規試験片であるかどうかを判別する。ステップＳ１０２において受光器３０２が蛍光を受光した場合には試験片１００Ｂが正規試験片であると判別され、ステップＳ２０１に進む。一方、受光器３０２によって蛍光が受光されなかった場合には、試験片１００Ｂが偽造試験片であると判別される。なお、試験片１００Ｂが正規試験片であると判別された場合、制御コンピュータ３０３は、受光器３０２による受光結果に基づいて試験片１００Ｂの識別情報を識別する。また、試験片１００Ｂが偽造試験片であると判別された場合、その旨をユーザーに報知した後、本プログラムの実行を終了する。本実施形態では、試料の分析処理に際して、試験片１００Ｂへの試料の点着を行う前にその真贋判定を行い、正規品であることが確認された試験片に対して各測定成分の測定が行われる。
ステップＳ２０１（記憶ステップ）では、記憶部１５１（記憶手段）が、制御コンピュータ３０３によって識別された試験片１００Ｂの識別情報を取得し、その識別情報を記憶する。ステップＳ２０２（測定ステップ）では、測定部１５２が、試験片１００Ｂにおける各測定成分の種別を取得し、その情報に基づいて各装置（試料点着装置１４、光学測定ユニット１７など）を制御することによって試験片１００Ｂの試薬パッド１０２に含浸させた試料を測定する。
ステップＳ２０３（演算ステップ）においては、演算部１５３が、記憶部１５１によって記憶された分析関連情報に含まれる検量線データ識別記号を取得する。また、演算部１５３は、光学測定ユニット１７から各試薬パッド１０２に対応する応答測定値を取得する。演算部１５３は、光学測定ユニット１７から取得した応答測定値と、この応答測定値に対応する検量線データに基づいて、各測定成分の濃度等（測定成分に関する数値情報）を演算する。なお、演算部１５３は、測定成分の種別に対応する検量線データをメモリ１６から読み出す。本ステップの処理が終了すると、分析用プログラムの実行が終了する。
ここで、本実施形態においては、識別用不可視マーカ部１０３Ａを試験片１００Ｂにおける基材表面Ｕｓに形成させているが、第１の実施形態及びその変形例と同様の観点から、識別用不可視マーカ部１０３Ａを基材裏面Ｄｓに形成させても良いし、基材の内部に埋め込んで配置させても良い。また、試験片の識別情報は、識別用不可視マーカ部１０３に不可視物質を用いて記録する態様の他、例えば可視インク（黒インクなど）を用いて形成されたバーコードに記録しても良い。この可視バーコードは、基材表面Ｕｓ又は基材裏面Ｄｓの何れに配置されても良い。尚、試験片の識別情報を可視バーコードに記録する態様においては、真贋判定に利用するための識別用不可視マーカ部が可視バーコードとは別に設けられることになる。可視バーコードには、試験片が真正品であるかどうかの真贋判定を行うための情報を記録する事ができないからである。そして、蛍光インクにより形成された識別用不可視マーカ部を利用して試験片の真贋判定が行われる一方、可視バーコードに記録された識別情報は、試験片の仕様に関する情報や試料の分析処理に供する検量線データ識別記号等を取得するために利用することができる。
（第３の変形例）
図１３は、第３の変形例における試験片識別装置３０の各デバイスと試験片１００Ｃの位置関係を説明する説明図である。試験片１００Ｃは、図１に示した試験片１００と同様な基材１０１、試薬パッド１０２を有する。また、基材表面Ｕｓには、識別用不可視マーカ部１０３が形成されている。更に、基材表面Ｕｓには、識別用不可視マーカ部１０３に隣接して可視識別コード部１０４が形成されている。この可視識別コード部１０４は、可視インクを用いて形成されたバーコードであり、試験片１００Ｃの識別情報が記録されている。
この変形例において、試験片識別装置３０の光学系としては、第２照射器３０４、受光器３０２、第２受光器３０５が備えられている。受光器３０２は、図６で説明したように近紫外線〜近赤外線までの波長の光を受光する受光素子（例えば、フォトダイオード）であり、第２受光器３０５も受光器３０２と同様の受光素子である。第２照射器３０４は、紫外線及び可視光を切り替えて照射可能な発光ダイオード（いわゆるマルチＬＥＤ）である。第２照射器３０４及び第２受光器３０５は、試験片１００Ｃの基材表面Ｕｓ側に配置されており、受光器３０２は基材裏面Ｄｓ側に配置されている。
図示の構成においては、第２照射器３０４による光の照射と、受光器３０２及び第２受光器３０５による受光結果に基づいて、試験片１００Ｃに関する真贋判定と、可視識別コード部１０４に記録されている識別情報の読み込みが行われる。試験片１００Ｃの真贋判定を行う場合、制御コンピュータ３０３は、第２照射器３０４から識別用不可視マーカ部１０３に向かって紫外線を照射させる。試験片１００Ｃが正規試験片であれば識別用不可視マーカ部１０３の蛍光インクが蛍光を発するため、基材裏面Ｄｓまで基材１００を透過した蛍光が受光器３０２によって受光される。従って、制御コンピュータ３０３は、受光器３０２による受光結果に基づいて試験片１００Ｃの真贋判定を好適に行うことができる。
また、可視識別コード部１０４に記録された識別情報を読み込む場合、制御コンピュータ３０３は可視識別コード部１０４に向かって第２照射器３０４から可視光を照射させ、可視識別コード部１０４からの反射光を第２受光器３０５に受光させる。第２受光器３０５は受信した光を電気信号に変換し、その応答信号を制御コンピュータ３０３に出力する。制御コンピュータ３０３は第２受光器３０５から取得した応答信号に基づいて試験片１００Ｃの識別情報を読み込む。なお、制御コンピュータ３０３が取得した試験片１００Ｃの識別情報は、図１２の処理フローで説明したように試料の分析処理時に利用される。
（第４の変形例）
また、図１４は、第４の変形例における試験片識別装置３０の各デバイスと試験片１００Ｄの位置関係を説明する説明図である。試験片１００Ｄは、識別用不可視マーカ部１０３が基材裏面Ｄｓに形成されている点を除いて、図１３に示した試験片１００Ｃと同様である。また、試験片識別装置３０の光学系としては、照射器３０１、第３照射器３０６、受光器３０２が備えられている。照射器３０１、受光器３０２は既述の通りである。また、第３照射器は可視光を照射可能な発光ダイオードである。図示のように、第３照射器３０６及び受光器３０２が試験片１００Ｄの基材表面Ｕｓ側に配置されており、照射器３０１が基材裏面Ｄｓ側に配置されている。
この構成例において制御コンピュータ３０３は、照射器３０１、第３照射器３０６及び受光器３０２を使用して、試験片１００Ｄに関する真贋判定と、可視識別コード部１０４に記録されている識別情報の読み込みが行われる。試験片１００Ｄの真贋判定を行う場合、制御コンピュータ３０３は、照射器３０１から、基材裏面Ｄｓに形成された識別用不可視マーカ部１０３に向かって紫外線を照射させる。試験片１００Ｄが正規試験片であれば識別用不可視マーカ部１０３の蛍光インクが蛍光を発するため、基材表面Ｕｓまで基材１００を透過した蛍光が受光器３０２によって受光される。一方、試験片１００Ｄが偽造試験片であれば受光器３０２により蛍光が受光されることはない。従って、制御コンピュータ３０３は、受光器３０２による受光結果に基づいて試験片１００Ｄの真贋判定を好適に行うことができる。
また、可視識別コード部１０４に記録された識別情報を読み込む場合、制御コンピュータ３０３は可視識別コード部１０４に向かって第３照射器３０６から可視光を照射させ、その反射光を受光器３０２に受光させる。受光器３０２は、受信した光を電気信号に変換
し、その応答信号を制御コンピュータ３０３に出力する。制御コンピュータ３０３は受光器３０２から取得した応答信号に基づいて試験片１００Ｃの識別情報を読み込むことができる。
図１３に示す構成では、試験片の真贋判定及び識別情報読み込みの双方の処理に係る光源を兼用し、図１４に示す構成では上記双方の処理に係る受光素子を兼用することができるため、装置のコンパクト化、製造コストの低減を実現する観点から有効である。また、同様の観点から、図１３、１４に示した光学機器を、光学測定ユニット１７における発光装置１７１、受光装置１７２と適宜兼用することも可能である。但し、それぞれ独立した光源、受光素子を利用して、試験片の真贋判定と識別情報の読み込みを行っても構わない。
また、本発明は、図１２に示した処理フローを実行して試料の分析処理を行う分析システムとして捉えることも可能である。また、第２の実施形態において説明した分析用プログラムや、このプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録させた媒体も、本発明の範疇に属する。ここで、コンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、データやプログラム等の情報を電気的、磁気的、光学的、機械的、または化学的作用によって蓄積し、コンピュータから読み取ることができる記録媒体をいう。このような記録媒体のうちコンピュータから取り外し可能なものとしては、例えばフレキシブルディスク、光磁気ディスク、CD-ROM、CD-R/W、DVD、DAT、８mmテープ、メモリカード等がある。また、コンピュータに固定された記録媒体としてハードディスクやＲＯＭ（リードオンリーメモリ）等がある。
以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明に係る分析用具、識別装置、分析装置、分析システム、識別方法、分析方法、プログラム及びその記録媒体はこれらに限らず、可能な限りこれらの組合せを含むことができる。また、以上述べた実施の形態は本発明を説明するための一例であって、本発明の本旨を逸脱しない範囲内において上記の実施形態には種々の変更を加え得る。
１・・・分析装置
１１・・・装置本体部
１２・・・試験片供給部
１３・・・ラック設置部
１４・・・試料点着装置
１５・・・ＣＰＵ
１６・・・メモリ
１７・・・光学測定ユニット
１８・・・インターフェース
１９・・・ハードディスクドライブ
３０・・・試験片識別装置
１００・・・試験片
１０１・・・基材
１０２・・・試薬パッド
１０３・・・識別用不可視マーカ部
１５１・・・記憶部
１５２・・・測定部
１５３・・・演算部
３０１・・・照射器
３０２・・・受光器
３０３・・・制御コンピュータ

Claims (30)

  1. 試薬部を有し試料の分析処理に用いられる分析用具であって、
    不可視物質を用いて形成された識別用マーカ部を、
    有する分析用具。
  2. 前記識別用マーカ部は紫外線を励起光として蛍光する蛍光物質を用いて形成される、
    請求項１に記載の分析用具。
  3. 前記識別用マーカ部は基材の表面又は裏面に設けられ、
    前記基材のうち少なくとも該識別用マーカ部の設けられる領域は紫外線を透過せず且つ前記蛍光物質の発する蛍光を透過する材質で形成される、
    請求項２に記載の分析用具。
  4. 前記識別用マーカ部は基材内部に埋め込まれて設けられ、
    前記基材のうち少なくとも該識別用マーカ部の埋め込まれる領域において、該基材の厚さ方向における該識別用マーカ部の埋め込み位置を境に、一方面側の部分は紫外線を透過し、他方面側の部分は紫外線を透過せずに前記蛍光物質の発する蛍光を透過する材質で形成される、
    請求項２に記載の分析用具。
  5. 前記識別用マーカ部の少なくとも一部には分析用具の識別情報が不可視物質を用いて記録される、
    請求項１から４の何れか１項に記載の分析用具。
  6. 前記識別情報には分析用具の製品仕様情報が含まれる、
    請求項５に記載の分析用具。
  7. 前記識別情報には試料の分析処理が行われる際に用いる分析関連情報が含まれる、
    請求項５に記載の分析用具。
  8. 試薬部を有し試料の分析処理に用いられる分析用具を識別するための識別装置であって、
    前記分析用具は不可視物質を用いて形成された識別用マーカ部を更に有し、
    前記識別用マーカ部に向けて光を照射する照射手段と、
    前記照射手段による照射光に晒された前記識別用マーカ部を形成する前記不可視物質が発する光を受光する受光手段と、
    前記受光手段における受光結果に基づいて前記分析用具を識別する識別手段と、
    を備える識別装置。
  9. 前記識別用マーカ部は紫外線を励起光として蛍光する蛍光物質により形成され、
    前記照射手段は紫外線を照射し、
    前記受光手段は前記識別用マーカ部を形成する前記蛍光物質が発する蛍光を受光する、
    請求項８に記載の識別装置。
  10. 前記識別用マーカ部は前記分析用具における基材表面に設けられ、
    前記基材のうち少なくとも前記識別用マーカ部が設けられる領域は紫外線を透過せず且つ前記蛍光物質が発する蛍光を透過する材質で形成され、
    前記照射手段は前記基材の表面側から紫外線を照射し、
    前記受光手段は前記基材における裏面側において該基材を透過した蛍光を受光する、
    請求項９に記載の識別装置。
  11. 前記識別用マーカ部は前記分析用具における基材内部に埋め込まれて設けられ、
    前記基材のうち少なくとも該識別用マーカ部の埋め込まれる領域において、該基材の厚さ方向における該識別用マーカ部の埋め込み位置を境に、一方面側の部分は紫外線を透過し、他方面側の部分は紫外線を透過せずに前記蛍光物質の発する蛍光を透過する材質で形成され、
    前記照射手段は前記基材の前記一方面側から紫外線を照射し、
    前記受光手段は前記基材における前記他方面側において該基材を透過した蛍光を受光する、
    請求項９に記載の識別装置。
  12. 前記識別用マーカ部の少なくとも一部には分析用具の識別情報が不可視物質を用いて記録される、
    請求項８から１１の何れか１項に記載の識別装置。
  13. 前記識別情報には分析用具の製品仕様情報が含まれる、
    請求項１２に記載の識別装置。
  14. 前記識別情報には試料の分析処理が行われる際に用いる分析関連情報が含まれる、
    請求項１２に記載の識別装置。
  15. 請求項８から１４の何れか１項に記載の識別装置を備え、該識別装置により識別された分析用具を用いて試料の分析処理を行う、
    分析装置。
  16. 試薬部を有し試料の分析処理に用いられる分析用具を識別するための識別方法であって、
    前記分析用具は不可視物質を用いて形成された識別用マーカ部を更に有し、
    前記識別用マーカ部に向けて光を照射する照射ステップと、
    前記照射ステップにおいて照射光に晒された前記識別用マーカ部を形成する前記不可視物質が発する光を受光する受光ステップと、
    前記受光ステップにおける受光結果に基づいて前記分析用具を識別する識別ステップと、
    を含む識別方法。
  17. 前記識別用マーカ部は紫外線を励起光として蛍光する蛍光物質により形成され、
    前記照射ステップにおいては紫外線を照射し、
    前記受光ステップにおいては前記識別用マーカ部を形成する前記蛍光物質が発する蛍光を受光する、
    請求項１６に記載の識別方法。
  18. 前記識別用マーカ部は前記分析用具における基材表面に設けられ、
    前記基材のうち少なくとも前記識別用マーカ部が設けられる領域は紫外線を透過せず且つ前記蛍光物質が発する蛍光を透過する材質で形成され、
    前記照射ステップにおいては前記基材の表面側から紫外線を照射し、
    前記受光ステップにおいては前記基材における裏面側において該基材を透過した蛍光を受光する、
    請求項１７に記載の識別方法。
  19. 前記不可視マーカは前記分析用具における基材内部に埋め込まれて設けられ、
    前記基材のうち少なくとも該識別用マーカ部の埋め込まれる領域において、該基材の厚さ方向における該識別用マーカ部の埋め込み位置を境に、一方面側の部分は紫外線を透過し、他方面側の部分は紫外線を透過せずに前記蛍光物質の発する蛍光を透過する材質で形成され、
    前記照射ステップにおいては前記基材の前記一方面側から紫外線を照射し、
    前記受光ステップにおいては前記基材における前記他方面側において該基材を透過した蛍光を受光する、
    請求項１７に記載の識別方法。
  20. 前記識別用マーカ部の少なくとも一部には分析用具の識別情報が不可視物質を用いて記録される、
    請求項１６から１９の何れか１項に記載の識別方法。
  21. 前記識別情報には分析用具の製品仕様情報が含まれる、
    請求項２０に記載の識別方法。
  22. 前記識別情報には試料の分析処理が行われる際に用いる分析関連情報が含まれる、
    請求項２０に記載の識別方法。
  23. 試薬部を有し試料の分析処理に用いられる分析用具を識別するためのコンピュータに実行させる識別用プログラムであって、
    前記分析用具は不可視物質を用いて形成された識別用マーカ部を更に有し、
    前記コンピュータに、
    前記識別用マーカ部に向けて光を照射する照射ステップと、
    前記照射ステップにおいて照射光に晒された前記識別用マーカ部を形成する前記不可視物質が発する光を受光する受光ステップと、
    前記受光ステップにおける受光結果に基づいて前記分析用具を識別する識別ステップと、
    を実行させる識別用プログラム。
  24. 前記識別用マーカ部は紫外線を励起光として蛍光する蛍光物質により形成され、
    前記照射ステップにおいては紫外線を照射し、
    前記受光ステップにおいては前記識別用マーカ部を形成する前記蛍光物質が発する蛍光を受光する、
    請求項２３に記載の識別用プログラム。
  25. 請求項２３又は２４に記載の識別用プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
  26. 試薬部を有する分析用具を用いて試料の分析処理を行う分析装置であって、
    前記分析用具は不可視物質を用いて形成された識別用マーカ部であって、その少なくとも一部には試料の分析処理が行われる際に用いる分析関連情報が記録される識別用マーカ部を有し、
    前記識別用マーカ部に向けて光を照射する照射手段と、
    前記照射手段による照射光に晒された前記識別用マーカ部を形成する前記不可視物質が発する光を受光する受光手段と、
    前記受光手段の受光結果に基づいて前記分析用具を識別する識別手段と、
    前記受光手段の受光結果に基づいて前記分析関連情報を取得し、取得した分析関連情報を記憶する記憶手段と、
    前記分析用具の前記試薬部における試料を測定する測定手段と、
    前記測定手段が測定した試料の測定結果及び前記記憶手段が記憶した前記分析関連情報に基づいて試料に含まれる特定成分に関する数値情報を演算する演算手段と、
    を備える分析装置。
  27. 試薬部を有する分析用具を用いて試料の分析処理を行う分析システムであって、
    前記分析用具は不可視物質を用いて形成された識別用マーカ部であって、その少なくとも一部には試料の分析処理が行われる際に用いる分析関連情報が記録される識別用マーカ部を有し、
    前記識別用マーカ部に向けて光を照射する照射器、前記照射器による照射光に晒された前記識別用マーカ部を形成する前記不可視物質が発する光を受光する受光器、及び前記受光器の受光結果に基づいて前記分析用具を識別する識別部を、
    有する識別装置と、
    前記受光部の受光結果に基づいて前記分析関連情報を取得し、取得した分析関連情報を記憶する記憶装置と、
    前記分析用具の前記試薬部における試料を測定する測定装置と、
    前記測定手段が測定した試料の測定結果及び前記記憶装置が記憶した前記分析関連情報に基づいて試料に含まれる特定成分に関する数値情報を演算する演算装置と、
    を備える分析システム。
  28. 試薬部を有する分析用具を用いて試料の分析処理を行う分析方法であって、
    前記分析用具は不可視物質を用いて形成された識別用マーカ部であって、その少なくとも一部には試料の分析処理が行われる際に用いる分析関連情報が記録される識別用マーカ部を有し、
    前記識別用マーカ部に向けて光を照射する照射ステップと、
    前記照射ステップにおいて照射光に晒された前記識別用マーカ部を形成する前記不可視物質が発する光を受光する受光ステップと、
    前記受光ステップにおける受光結果に基づいて前記分析用具を識別する識別ステップと、
    前記受光手段の受光結果に基づいて前記分析関連情報を取得し、取得した分析関連情報を記憶する記憶ステップと、
    前記分析用具の前記試薬部における試料を測定する測定ステップと、
    前記測定ステップにおいて測定した試料の測定結果及び前記記憶ステップにおいて記憶した前記分析関連情報に基づいて、試料に含まれる特定成分に関する数値情報を演算する演算ステップと、
    を含む分析方法。
  29. 試薬部を有する分析用具を用いて試料の分析処理を行うコンピュータに実行させる分析用プログラムであって、
    前記分析用具は不可視物質を用いて形成された識別用マーカ部であって、その少なくとも一部には試料の分析処理が行われる際に用いる分析関連情報が記録される識別用マーカ部を有し、
    前記コンピュータに、
    前記識別用マーカ部に向けて光を照射する照射ステップと、
    前記照射ステップにおいて照射光に晒された前記識別用マーカ部を形成する前記不可視物質が発する光を受光する受光ステップと、
    前記受光ステップにおける受光結果に基づいて前記分析用具を識別する識別ステップと、
    前記受光手段の受光結果に基づいて前記分析関連情報を取得し、取得した分析関連情報を記憶する記憶ステップと、
    前記分析用具の前記試薬部における試料を測定する測定ステップと、
    前記測定ステップにおいて測定した試料の測定結果及び前記記憶ステップにおいて記憶した前記分析関連情報に基づいて、試料に含まれる特定成分に関する数値情報を演算する演算ステップと、
    を実行させる分析用プログラム。
  30. 請求項２９に記載の分析用プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
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