JP2011169793A - Magnetic field probe - Google Patents

Magnetic field probe Download PDF

Info

Publication number
JP2011169793A
JP2011169793A JP2010034686A JP2010034686A JP2011169793A JP 2011169793 A JP2011169793 A JP 2011169793A JP 2010034686 A JP2010034686 A JP 2010034686A JP 2010034686 A JP2010034686 A JP 2010034686A JP 2011169793 A JP2011169793 A JP 2011169793A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
width
magnetic field
wide
field probe
narrow
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010034686A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masashi Omuro
雅司 大室
Hiroshi Kitada
浩志 北田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Priority to JP2010034686A priority Critical patent/JP2011169793A/en
Publication of JP2011169793A publication Critical patent/JP2011169793A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Magnetic Variables (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a magnetic field probe with which the sensitivity in a desired frequency band can be improved by reducing the influence of reflected waves. <P>SOLUTION: The magnetic field probe 1 includes a transmission line part 12 connecting a detection part 9 and a connection part 10. This transmission line part 12 includes a strip conductor 13. The strip conductor 13 includes: a narrow part 13A having a narrow width W1; a wide part 13B having a wide width W2; and a tapered part 13C provided between the narrow part 13A and the wide part 13B. Thereby, since reflection is generated around the tapered part 13C in addition to both ends of the transmission line part 12, the frequency affecting the reflected waves can be more shifted compared to the case where the tapered part 13C is not included. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、磁界の検出に用いて好適な磁界プローブに関する。   The present invention relates to a magnetic field probe suitable for use in detecting a magnetic field.

従来技術による磁界プローブとして、基板の一端側にループコイルからなる検出部を設け、該検出部にストリップ線路からなる伝送線路部の一端側を接続すると共に、該伝送線路部の他端側にコネクタ等を介して外部に接続するための接続部を設けたものが知られている(例えば、非特許文献1参照)。   As a magnetic field probe according to the prior art, a detection unit made of a loop coil is provided on one end side of a substrate, one end side of a transmission line unit made of a strip line is connected to the detection unit, and a connector is connected to the other end side of the transmission line unit What provided the connection part for connecting to the exterior via the etc. is known (for example, refer nonpatent literature 1).

また、他の従来技術として、ストリップ線路と同軸線路等とを接続する高周波接続部には、テーパ状の電極パターンを設け、ストリップ線路と同軸線路との間のインピーダンス整合を取る構成が知られている(例えば、特許文献1,2参照)。   As another conventional technique, a configuration is known in which a tapered electrode pattern is provided in a high-frequency connection portion that connects a strip line and a coaxial line, etc., and impedance matching is performed between the strip line and the coaxial line. (For example, see Patent Documents 1 and 2).

International Electrotechnical Commission,“IEC 61967-6 First Edition”, International Electrotechnical Commission,2002年6月,p.11-31International Electrotechnical Commission, “IEC 61967-6 First Edition”, International Electrotechnical Commission, June 2002, p.11-31

特開2004−69337号公報JP 2004-69337 A 特開2007−123741号公報JP 2007-123741 A

ところで、非特許文献1による磁界プローブでは、伝送線路部や接続部に取り付けられる同軸線路は例えば50Ωの特性インピーダンスを有する。一方、磁界プローブは、例えば数十Hz〜数GHzのように広帯域に亘って磁界を検出するのに加え、ループコイルからなる検出部は測定する磁界の周波数に応じてインピーダンスが変化する。また、コネクタ等が取り付けられる接続部のインピーダンスも、異なる形式の線路(例えばストリップ線路と同軸線路)間を接続するため、特性インピーダンスからずれる傾向がある。従って、検出部および接続部のインピーダンスを、全ての帯域で特性インピーダンスに一致させることはできず、両者のインピーダンスには差異が生じる。   By the way, in the magnetic field probe according to Non-Patent Document 1, the coaxial line attached to the transmission line part or the connection part has, for example, a characteristic impedance of 50Ω. On the other hand, the magnetic field probe detects a magnetic field over a wide band such as several tens Hz to several GHz, for example, and the impedance of the detection unit made of a loop coil changes according to the frequency of the magnetic field to be measured. In addition, the impedance of the connection portion to which the connector or the like is attached also tends to deviate from the characteristic impedance because different types of lines (for example, a strip line and a coaxial line) are connected. Therefore, the impedance of the detection unit and the connection unit cannot be made to match the characteristic impedance in all bands, and a difference occurs between the two impedances.

このため、検出部によって検出した磁界の検出信号は、接続部から直接的に外部に伝送される直接波に加えて、接続部や検出部で反射した反射波が生じ、これら直接波と反射波との相互干渉によって一部の周波数の検出信号では検出感度が低下する傾向がある。   For this reason, the detection signal of the magnetic field detected by the detection unit generates a reflected wave reflected by the connection unit or the detection unit in addition to the direct wave transmitted directly from the connection unit to the outside. The detection sensitivity tends to decrease for detection signals of some frequencies due to mutual interference.

これに対し、特許文献2,3では、例えば伝送線路の端部にテーパ状の電極パターンを設け、外部の同軸線路との整合性を高めた構成が開示されている。しかし、前述したように、磁界プローブは測定する磁界の周波数帯域が非常に広く、検出部のインピーダンスも測定する磁界の周波数に応じて変化する。このため、全ての周波数の検出信号に対して、検出部、伝送線路および接続部のインピーダンスを整合させることは非常に難しいという問題がある。   On the other hand, Patent Documents 2 and 3 disclose a configuration in which, for example, a tapered electrode pattern is provided at an end portion of a transmission line to improve matching with an external coaxial line. However, as described above, the magnetic field probe has a very wide frequency band of the magnetic field to be measured, and the impedance of the detection unit also changes according to the frequency of the magnetic field to be measured. For this reason, there is a problem that it is very difficult to match the impedances of the detection unit, the transmission line, and the connection unit with respect to detection signals of all frequencies.

本発明は上述した従来技術の問題に鑑みなされたもので、本発明の目的は、反射波の影響を軽減して所望の周波数帯域の感度を向上させることができる磁界プローブを提供することにある。   The present invention has been made in view of the above-described problems of the prior art, and an object of the present invention is to provide a magnetic field probe that can reduce the influence of reflected waves and improve sensitivity in a desired frequency band. .

上述した課題を解決するために、本発明は、絶縁材料からなる基板と、磁界を検出するために該基板に設けられた導電性ループからなる検出部と、前記基板に設けられ外部に接続されて該検出部による検出信号を出力する接続部と、前記基板に設けられ前記検出部の導電性ループと該接続部との間を接続する細長い導体パターンを有する伝送線路部とを備えた磁界プローブに適用される。   In order to solve the above-described problems, the present invention provides a substrate made of an insulating material, a detection unit made of a conductive loop provided on the substrate for detecting a magnetic field, and provided on the substrate and connected to the outside. Magnetic field probe comprising: a connection part that outputs a detection signal from the detection part; and a transmission line part that is provided on the substrate and has an elongated conductor pattern that connects between the conductive loop of the detection part and the connection part Applies to

そして、請求項1の発明が採用する構成の特徴は、前記伝送線路部の導体パターンは、前記導電性ループに接続された幅寸法の狭い狭幅部と、前記接続部に接続された幅寸法の広い広幅部と、前記狭幅部と広幅部との間に設けられ幅寸法を変更する線路幅変更部とによって構成したことにある。   A feature of the configuration adopted by the invention of claim 1 is that the conductor pattern of the transmission line portion includes a narrow width portion connected to the conductive loop and a narrow width portion connected to the connection portion. And a line width changing portion that is provided between the narrow width portion and the wide width portion and changes the width dimension.

請求項2の発明では、前記線路幅変更部は、前記狭幅部から広幅部に向けて幅寸法が漸次大きくなるテーパ部によって構成している。   According to a second aspect of the present invention, the line width changing portion is constituted by a tapered portion whose width dimension gradually increases from the narrow portion to the wide portion.

請求項3の発明では、前記線路幅変更部は、1段または複数段の中間幅部を介して前記狭幅部から広幅部に向けて幅寸法が大きくなる中間連結部によって構成している。   According to a third aspect of the present invention, the line width changing portion is constituted by an intermediate coupling portion whose width dimension increases from the narrow width portion toward the wide width portion via one or more intermediate width portions.

請求項4の発明では、前記線路幅変更部は、前記狭幅部と広幅部との間で幅寸法が段差状に大きくなる段差部によって構成している。   According to a fourth aspect of the present invention, the line width changing portion is constituted by a step portion whose width dimension increases in a step shape between the narrow width portion and the wide width portion.

請求項1の発明によれば、伝送線路部の導体パターンは、狭幅部と広幅部との間に位置して幅寸法を変更する線路幅変更部を設ける構成とした。このため、伝送線路部の両端側に加えて、テーパ部の周囲でも検出信号の反射が生じる。この結果、従来技術のように、伝送線路部の両端側だけで反射が生じる場合に比べて、伝送線路部の途中位置でも反射が生じるから、検出信号に対して反射波が影響する周波数をシフトさせることができる。これにより、伝送線路部の長さ方向に対してテーパ部の位置を適宜設定することによって、所望の周波数帯域の検出信号に対して、その感度を向上させることができる。   According to the invention of claim 1, the conductor pattern of the transmission line portion is provided with the line width changing portion that is located between the narrow width portion and the wide width portion and changes the width dimension. For this reason, in addition to the both ends of the transmission line portion, the detection signal is also reflected around the tapered portion. As a result, compared to the case where reflection occurs only at both ends of the transmission line section as in the prior art, reflection occurs also in the middle of the transmission line section, so the frequency at which the reflected wave affects the detection signal is shifted. Can be made. Thus, by appropriately setting the position of the tapered portion with respect to the length direction of the transmission line portion, the sensitivity of the detection signal in a desired frequency band can be improved.

請求項2の発明によれば、線路幅変更部は、狭幅部から広幅部に向けて幅寸法が漸次大きくなるテーパ部によって構成したから、長さ方向に対するテーパ部のインピーダンス変化を小さくすることができる。このため、テーパ部で生じる反射波の強度を小さくすることができ、反射波の影響を低下させることができる。   According to the invention of claim 2, since the line width changing portion is configured by the tapered portion whose width dimension gradually increases from the narrow width portion toward the wide width portion, the impedance change of the tapered portion in the length direction is reduced. Can do. For this reason, the intensity | strength of the reflected wave which arises in a taper part can be made small, and the influence of a reflected wave can be reduced.

請求項3の発明によれば、線路幅変更部は、1段または複数段の中間幅部を介して狭幅部から広幅部に向けて幅寸法が大きくなる中間連結部によって構成したから、例えば幅寸法が変化する中間幅部の両端側で反射波が生じる。このため、中間幅部の長さ寸法や段数を適宜調整することによって、所望の周波数帯域の検出信号を高感度に検出することができる。   According to the invention of claim 3, the line width changing portion is constituted by the intermediate connecting portion whose width dimension increases from the narrow width portion toward the wide width portion via the intermediate width portion of one or a plurality of steps. Reflected waves are generated at both ends of the intermediate width portion where the width dimension changes. For this reason, a detection signal in a desired frequency band can be detected with high sensitivity by appropriately adjusting the length dimension and the number of steps of the intermediate width portion.

請求項4の発明によれば、線路幅変更部は、狭幅部と広幅部との間で幅寸法が段差状に大きくなる段差部によって構成したから、段差部で集中的に反射波を発生させることができる。このため、段差部の位置に応じて感度が低下する検出信号の周波数を確実に把握することができるから、例えば所望の周波数に対して検出部と段差部との間の長さ寸法や段差部と接続部との間の長さ寸法を1/4波長と異なる値に設定することによって、所望の周波数の検出信号に対する反射波の影響を抑制することができる。これにより、所望の周波数帯域の検出信号を高感度に検出することができる。   According to the invention of claim 4, since the line width changing portion is constituted by the step portion whose width dimension is increased in a step shape between the narrow portion and the wide portion, the reflected wave is generated intensively at the step portion. Can be made. For this reason, since the frequency of the detection signal whose sensitivity decreases according to the position of the stepped portion can be reliably grasped, for example, the length dimension between the detecting portion and the stepped portion or the stepped portion with respect to the desired frequency By setting the length dimension between the first and second connection parts to a value different from the quarter wavelength, the influence of the reflected wave on the detection signal having a desired frequency can be suppressed. Thereby, the detection signal of a desired frequency band can be detected with high sensitivity.

本発明の第1の実施の形態による磁界プローブを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the magnetic field probe by the 1st Embodiment of this invention. 図1中の検出部を多層基板を透視した状態で示す斜視図である。It is a perspective view which shows the detection part in FIG. 1 in the state which saw through the multilayer substrate. 検出部を図2中の矢示III−III方向からみた断面図である。It is sectional drawing which looked at the detection part from the arrow III-III direction in FIG. 図1中の磁界プローブを表面側の絶縁層を省いた状態で示す正面図である。It is a front view which shows the magnetic field probe in FIG. 1 in the state which excluded the insulating layer of the surface side. 接続部を図4中の矢示V−V方向からみた断面図である。It is sectional drawing which looked at the connection part from the arrow VV direction in FIG. 図4中のテーパ部を拡大して示す正面図である。It is a front view which expands and shows the taper part in FIG. 比較例による磁界プローブを表面側の絶縁層を省いた状態で示す図4と同様な正面図である。It is a front view similar to FIG. 4 which shows the magnetic field probe by a comparative example in the state which excluded the insulating layer of the surface side. 第1の実施の形態および比較例において、磁界プローブの利得の周波数特性を示す特性線図である。In a 1st embodiment and a comparative example, it is a characteristic line figure showing a frequency characteristic of a gain of a magnetic field probe. 第2の実施の形態による磁界プローブを表面側の絶縁層を省いた状態で示す正面図である。It is a front view which shows the magnetic field probe by 2nd Embodiment in the state which excluded the insulating layer of the surface side. 図9中の中間連結部を拡大して示す正面図である。It is a front view which expands and shows the intermediate | middle connection part in FIG. 第1の変形例による中間連結部を示す図10と同様な正面図である。It is a front view similar to FIG. 10 which shows the intermediate | middle connection part by a 1st modification. 第3の実施の形態による磁界プローブを表面側の絶縁層を省いた状態で示す正面図である。It is a front view which shows the magnetic field probe by 3rd Embodiment in the state which excluded the insulating layer of the surface side. 図12中の段差部を拡大して示す正面図である。It is a front view which expands and shows the level | step-difference part in FIG. 第2の変形例による磁界プローブを基板を透視した状態で示す図2と同様な位置の斜視図である。It is a perspective view of the same position as Drawing 2 showing the magnetic field probe by the 2nd modification in the state where seeing through the substrate.

以下、本発明の実施の形態による磁界プローブを添付図面を参照しつつ詳細に説明する。   Hereinafter, magnetic field probes according to embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

図1ないし図6は第1の実施の形態による磁界プローブ1を示している。この磁界プローブ1は、例えば非磁性の絶縁材料からなる筒状のケース2に収容されると共に、同軸ケーブル3(同軸線路)を通じて信号処理回路(図示せず)に電気的に接続されている。この信号処理回路は、磁界プローブ1の検出部9に発生する電圧、電流等の検出信号に基づいて、検出部9の近傍に発生する磁界の検出を行う。また、磁界プローブ1は、後述する多層基板4および該多層基板4に設けられた検出部9、接続部10、伝送線路部12によって構成されている。   1 to 6 show a magnetic field probe 1 according to the first embodiment. The magnetic field probe 1 is accommodated in a cylindrical case 2 made of, for example, a nonmagnetic insulating material, and is electrically connected to a signal processing circuit (not shown) through a coaxial cable 3 (coaxial line). This signal processing circuit detects a magnetic field generated in the vicinity of the detection unit 9 based on detection signals such as voltage and current generated in the detection unit 9 of the magnetic field probe 1. The magnetic field probe 1 includes a multilayer substrate 4 to be described later, a detection unit 9, a connection unit 10, and a transmission line unit 12 provided on the multilayer substrate 4.

多層基板4は、互いに直交するX軸方向、Y軸方向およびZ軸方向のうち例えばX軸方向およびZ軸方向に対して平行に広がる平板状に形成されている。この多層基板4は、例えば2層の絶縁層5,6を厚さ方向となるY軸方向に積層することによって構成されている。このとき、多層基板4は、幅方向となるX軸方向に対して例えば数mm程度の幅寸法を有すると共に、長さ方向となるZ軸方向に沿って延び、その長さ寸法は例えば数cm程度になっている。   The multilayer substrate 4 is formed in a flat plate shape extending in parallel with the X axis direction and the Z axis direction, for example, among the X axis direction, the Y axis direction, and the Z axis direction orthogonal to each other. The multilayer substrate 4 is configured by, for example, laminating two insulating layers 5 and 6 in the Y-axis direction that is the thickness direction. At this time, the multilayer substrate 4 has a width dimension of, for example, about several millimeters with respect to the X-axis direction serving as the width direction, and extends along the Z-axis direction serving as the length direction. It is about.

また、各絶縁層5,6は、例えば絶縁性の樹脂材料を用いて層状に形成されている。そして、多層基板4の先端部4Aは、Z軸方向の一端側(図1中の下端側)に位置して後述の検出部9が設けられている。一方、多層基板4の基端部4Bは、先端部4Aに比べて幅寸法が大きく形成され、Z軸方向の他端側(図1中の上端側)に配置されている。   The insulating layers 5 and 6 are formed in layers using, for example, an insulating resin material. And the front-end | tip part 4A of the multilayer substrate 4 is located in the one end side (lower end side in FIG. 1) of a Z-axis direction, and the below-mentioned detection part 9 is provided. On the other hand, the base end portion 4B of the multilayer substrate 4 is formed to have a width dimension larger than that of the tip end portion 4A, and is disposed on the other end side (upper end side in FIG. 1) in the Z-axis direction.

多層基板4のうちY軸方向の両端側に位置する表面および裏面には、例えば導電性の金属薄膜からなるグランド電極7,8がそれぞれ設けられている。このグランド電極7,8は、例えば外部のグランドに接続されてグランド電位に保持されると共に、多層基板4の先端部4Aを除いて多層基板4の略全面を覆っている。また、グランド電極7,8の先端側には、先端部4A内に向けて延びる細長い接続電極部7A,8Aが設けられている。   Ground electrodes 7 and 8 made of, for example, a conductive metal thin film are provided on the front and back surfaces of the multilayer substrate 4 located on both ends in the Y-axis direction. The ground electrodes 7 and 8 are connected to, for example, an external ground and held at the ground potential, and cover substantially the entire surface of the multilayer substrate 4 except for the front end portion 4A of the multilayer substrate 4. Further, elongate connection electrode portions 7A and 8A extending toward the inside of the distal end portion 4A are provided on the distal end side of the ground electrodes 7 and 8.

検出部9は、図1ないし図3に示すように、多層基板4の先端部4Aに配置され、略C字状に形成された導電性ループ9Aを有している。この導電性ループ9Aは、例えば1回巻のループコイルによって形成されている。具体的には、導電性ループ9Aは、例えば幅寸法W0をもった導電性の金属薄膜からなる細長い電極パターンを用いて略四角形の枠状に形成され、多層基板4の厚さ方向の中間位置として、絶縁層5,6間に配置されている。この導電性ループ9Aの一端側は、多層基板4を貫通したビア9Bを介して接続電極部7A,8Aに電気的に接続されている。一方、導電性ループ9Aの他端側は、後述する伝送線路部12のストリップ導体13に電気的に接続されている。   As shown in FIGS. 1 to 3, the detection unit 9 includes a conductive loop 9 </ b> A that is disposed at the distal end portion 4 </ b> A of the multilayer substrate 4 and is formed in a substantially C shape. The conductive loop 9A is formed by, for example, a one-turn loop coil. Specifically, the conductive loop 9A is formed in a substantially rectangular frame shape by using, for example, an elongated electrode pattern made of a conductive metal thin film having a width dimension W0, and an intermediate position in the thickness direction of the multilayer substrate 4 Is disposed between the insulating layers 5 and 6. One end of the conductive loop 9A is electrically connected to the connection electrode portions 7A and 8A through a via 9B penetrating the multilayer substrate 4. On the other hand, the other end side of the conductive loop 9A is electrically connected to a strip conductor 13 of the transmission line portion 12 to be described later.

そして、検出部9は、導電性ループ9Aの内部を通過する磁界(磁束変化)に応じて、導電性ループ9Aに電圧が発生する。これにより、検出部9は、例えば数十Hz〜数GHzまでの広帯域にわたる磁束変化を検出するものである。   And the detection part 9 generate | occur | produces a voltage in 9 A of conductive loops according to the magnetic field (magnetic flux change) which passes the inside of 9 A of conductive loops. Thereby, the detection part 9 detects the magnetic flux change over a wide band, for example to several tens Hz-several GHz.

接続部10は、図1、図4および図5に示すように、多層基板4の基端部4Bに配置されている。この接続部10は、多層基板4を貫通して設けられたスルーホール10Aを備え、該スルーホール10Aはメッキ処理等によってその内壁面に導電性の金属膜が形成されている。ここで、基端部4Bに位置するグランド電極7,8には、このスルーホール10Aの周囲を取囲む略円形の開口部10B,10Cが形成され、該開口部10B,10Cによってスルーホール10Aとグランド電極7,8との間が絶縁されている。   As shown in FIGS. 1, 4, and 5, the connection portion 10 is disposed at the base end portion 4 </ b> B of the multilayer substrate 4. The connecting portion 10 includes a through hole 10A provided through the multilayer substrate 4, and a conductive metal film is formed on the inner wall surface of the through hole 10A by plating or the like. Here, substantially circular openings 10B and 10C surrounding the periphery of the through hole 10A are formed in the ground electrodes 7 and 8 positioned at the base end 4B, and the through holes 10A and 10C are formed by the openings 10B and 10C. The ground electrodes 7 and 8 are insulated.

また、スルーホール10Aは、後述する伝送線路部12のストリップ導体13に電気的に接続されている。そして、接続部10には例えばSMAコネクタ等のコネクタ11が取り付けられ、該コネクタ11には同軸ケーブル3が取り付けられている。これにより、接続部10は、コネクタ11、同軸ケーブル3を介して外部の信号処理回路に接続され、検出部9による磁界の検出信号を信号処理回路に向けて出力する。   Further, the through hole 10A is electrically connected to a strip conductor 13 of the transmission line portion 12 described later. A connector 11 such as an SMA connector is attached to the connection portion 10, and the coaxial cable 3 is attached to the connector 11. Thereby, the connection part 10 is connected to an external signal processing circuit via the connector 11 and the coaxial cable 3, and outputs the detection signal of the magnetic field by the detection part 9 toward the signal processing circuit.

伝送線路部12は、図1、図4および図6に示すように、多層基板4に設けられ、検出部9の導電性ループ9Aと接続部10のスルーホール10Aとの間を接続している。この伝送線路部12は、細長い導体パターンとしてのストリップ導体13(信号電極)を有している。伝送線路部12は、ストリップ導体13と多層基板4の両面に設けられたグランド電極7,8とからなるストリップ線路によって構成されている。   As shown in FIGS. 1, 4 and 6, the transmission line unit 12 is provided on the multilayer substrate 4 and connects between the conductive loop 9 </ b> A of the detection unit 9 and the through hole 10 </ b> A of the connection unit 10. . The transmission line portion 12 has a strip conductor 13 (signal electrode) as an elongated conductor pattern. The transmission line unit 12 is configured by a strip line including a strip conductor 13 and ground electrodes 7 and 8 provided on both surfaces of the multilayer substrate 4.

また、ストリップ導体13は、Z軸に沿って直線状に延びている。このストリップ導体13は、検出部9の導電性ループ9Aに接続された狭い幅寸法W1の狭幅部13Aと、接続部10のスルーホール10Aに接続された広い幅寸法W2の広幅部13Bと、狭幅部13Aと広幅部13Bとの間に設けられた線路幅変更部としてのテーパ部13Cとを備えている。   The strip conductor 13 extends linearly along the Z axis. The strip conductor 13 includes a narrow width portion 13A having a narrow width dimension W1 connected to the conductive loop 9A of the detection section 9, a wide width section 13B having a wide width dimension W2 connected to the through hole 10A of the connection section 10, and A tapered portion 13C as a line width changing portion provided between the narrow portion 13A and the wide portion 13B is provided.

ここで、狭幅部13Aの幅寸法W1は、例えば検出部9の導電性ループ9Aの幅寸法W0と同程度の値に設定されている。一方、広幅部13Bの幅寸法W2は、その周囲でストリップ線路の特性インピーダンスが例えば50Ωとなるような値に設定されている。   Here, the width dimension W1 of the narrow width portion 13A is set to a value approximately the same as the width dimension W0 of the conductive loop 9A of the detection section 9, for example. On the other hand, the width dimension W2 of the wide portion 13B is set to such a value that the characteristic impedance of the strip line is, for example, 50Ω around it.

テーパ部13Cは、狭幅部13Aから広幅部13Bに向けて幅寸法が漸次大きくなっている。即ち、テーパ部13Cの幅寸法は、狭幅部13Aから広幅部13Bに向かうに従って連続的に増加している。そして、テーパ部13Cのうち幅方向両側の縁部分は、Z軸方向に対して斜めに傾斜して延びている。これにより、テーパ部13Cは、狭幅部13Aから広幅部13Bに向かうに従って、そのインピーダンスが徐々に変化している。   The width of the tapered portion 13C gradually increases from the narrow portion 13A toward the wide portion 13B. That is, the width dimension of the tapered portion 13C continuously increases from the narrow width portion 13A toward the wide width portion 13B. The edge portions on both sides in the width direction of the tapered portion 13C extend obliquely with respect to the Z-axis direction. As a result, the impedance of the tapered portion 13C gradually changes from the narrow portion 13A toward the wide portion 13B.

本実施の形態による磁界プローブ1は上述の如き構成を有するもので、次にその作動について説明する。   The magnetic field probe 1 according to the present embodiment has the above-described configuration, and the operation thereof will be described next.

まず、磁界プローブ1の先端部分を、測定対象(例えば被測定基板)の表面に近接した状態で配置する。そして、磁界プローブ1を測定対象の表面上で移動させる。ここで、磁界プローブ1の近傍に位置して測定対象の表面にY軸方向の磁界が発生すると、この磁界は検出部9の導電性ループ9Aの内部を通過する。これにより、例えば導電性ループ9Aに電圧が生じるため、この電圧を検出することによって、測定対象の表面に生じる磁界を検出することができる。   First, the tip portion of the magnetic field probe 1 is disposed in the state of being close to the surface of a measurement target (for example, a substrate to be measured). Then, the magnetic field probe 1 is moved on the surface of the measurement target. Here, when a magnetic field in the Y-axis direction is generated on the surface of the measurement object located near the magnetic field probe 1, the magnetic field passes through the inside of the conductive loop 9 </ b> A of the detection unit 9. Thereby, for example, a voltage is generated in the conductive loop 9A, and by detecting this voltage, the magnetic field generated on the surface of the measurement object can be detected.

然るに、検出部9と接続部10との間は伝送線路部12を用いて接続すると共に、伝送線路部12のストリップ導体13は、狭幅部13Aと広幅部13Bとの間にテーパ部13Cを設ける構成とした。このため、狭幅部13Aの両端側や広幅部13Bの両端側で反射が生じ、幅寸法が一定なストリップ導体を用いた場合に比べて、検出感度が低下する周波数がシフトする。   However, the detection unit 9 and the connection unit 10 are connected using the transmission line unit 12, and the strip conductor 13 of the transmission line unit 12 has a taper unit 13C between the narrow portion 13A and the wide portion 13B. It was set as the structure provided. For this reason, reflection occurs at both end sides of the narrow width portion 13A and both end sides of the wide width portion 13B, and the frequency at which the detection sensitivity is lowered is shifted compared to the case where a strip conductor having a constant width dimension is used.

そこで、本実施の形態による磁界プローブ1と図7に示す比較例による磁界プローブ21とについて、それぞれの利得の周波数特性を測定した。その結果を図8に示す。   Therefore, the frequency characteristics of each gain were measured for the magnetic field probe 1 according to the present embodiment and the magnetic field probe 21 according to the comparative example shown in FIG. The result is shown in FIG.

なお、図7に示す比較例による磁界プローブ21では、伝送線路部22のストリップ導体23は、例えば特性インピーダンスが50Ωとなる一定の幅寸法を有するものとした。   In the magnetic field probe 21 according to the comparative example shown in FIG. 7, the strip conductor 23 of the transmission line portion 22 has a certain width dimension in which, for example, the characteristic impedance is 50Ω.

図8中に破線で示すように、比較例の場合は、例えば2GHz付近で検出信号の利得が低下している。この理由は、伝送線路部22の両端側で反射が生じるから、この反射波Srと直接波Stとが干渉して、検出信号の強度が低下するためと考えられる。   As indicated by a broken line in FIG. 8, in the case of the comparative example, the gain of the detection signal is reduced in the vicinity of 2 GHz, for example. The reason for this is considered to be that reflection occurs at both ends of the transmission line portion 22, and the reflected wave Sr and the direct wave St interfere with each other to reduce the intensity of the detection signal.

一方、図8中に実線で示すように、本実施の形態の場合は、例えば3.2GHz付近で検出信号の利得が低下している。この理由は、本実施の形態では、図4に示すように、狭幅部13Aの両端側や広幅部13Bの両端側で反射が生じ、これらの反射波Sr1,Sr2が直接波Stと干渉するためと考えられる。なお、図8の結果によれば、本実施の形態では、例えばストリップ導体13中での位相変化や多重反射等の影響によって、1GHz付近でも利得の低下が生じているが、2.5GHz付近の利得は比較例に比べて向上している。このため、例えば2〜3GHz付近の周波数帯域の検出信号は、比較例に比べて高感度に検出することができる。   On the other hand, as indicated by a solid line in FIG. 8, in the case of the present embodiment, the gain of the detection signal is reduced, for example, in the vicinity of 3.2 GHz. In this embodiment, as shown in FIG. 4, reflection occurs at both ends of the narrow portion 13A and both ends of the wide portion 13B, and these reflected waves Sr1 and Sr2 interfere with the direct wave St. This is probably because of this. According to the result of FIG. 8, in this embodiment, for example, the gain decreases near 1 GHz due to the influence of phase change or multiple reflection in the strip conductor 13, but the vicinity of 2.5 GHz. The gain is improved compared to the comparative example. For this reason, for example, a detection signal in a frequency band near 2 to 3 GHz can be detected with higher sensitivity than in the comparative example.

かくして、本実施の形態では、伝送線路部12のストリップ導体13は、狭幅部13Aと広幅部13Bとの間には幅寸法を変更するテーパ部13Cを設ける構成とした。このため、伝送線路部12の両端側に加えて、インピーダンスが変化するテーパ部13Cの周囲でも検出信号の反射が生じる。この結果、従来技術のように、伝送線路部12の両端側だけで反射が生じる場合に比べて、伝送線路部12の途中位置でも反射が生じるから、検出信号に対して反射波が影響する周波数をシフトさせることができる。これにより、伝送線路部12の長さ方向(Z軸方向)に対してテーパ部13Cの位置を適宜設定することによって、所望の周波数帯域の検出信号に対して、その感度を向上させることができる。   Thus, in the present embodiment, the strip conductor 13 of the transmission line portion 12 is configured to be provided with the tapered portion 13C that changes the width dimension between the narrow width portion 13A and the wide width portion 13B. For this reason, in addition to the both ends of the transmission line portion 12, the detection signal is also reflected around the tapered portion 13C where the impedance changes. As a result, compared to the case where reflection occurs only at both ends of the transmission line portion 12 as in the prior art, reflection occurs also at an intermediate position of the transmission line portion 12, and therefore the frequency at which the reflected wave affects the detection signal. Can be shifted. Thus, by appropriately setting the position of the tapered portion 13C with respect to the length direction (Z-axis direction) of the transmission line portion 12, the sensitivity of the detection signal in a desired frequency band can be improved. .

また、テーパ部13Cは、狭幅部13Aから広幅部13Bに向けて幅寸法が漸次大きくなる構成としたから、長さ方向に対するテーパ部13Cのインピーダンス変化を小さくすることができる。このため、テーパ部13Cで生じる反射波の強度を小さくすることができ、反射波の影響を低下させることができる。   Further, since the taper portion 13C has a configuration in which the width dimension gradually increases from the narrow width portion 13A toward the wide width portion 13B, the impedance change of the taper portion 13C in the length direction can be reduced. For this reason, the intensity | strength of the reflected wave produced in the taper part 13C can be made small, and the influence of a reflected wave can be reduced.

次に、図9および図10は本発明の第2の実施の形態を示している。そして、本実施の形態の特徴は、線路幅変更部は、1段の中間幅部を介して狭幅部から広幅部に向けて幅寸法が大きくなる中間連結部によって構成したことにある。なお、本実施の形態では、前記第1の実施の形態と同一の構成要素に同一の符号を付し、その説明を省略するものとする。   Next, FIG. 9 and FIG. 10 show a second embodiment of the present invention. The feature of the present embodiment is that the line width changing portion is constituted by an intermediate coupling portion whose width dimension increases from the narrow width portion toward the wide width portion via a single intermediate width portion. In the present embodiment, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

磁界プローブ31は、第1の実施の形態による磁界プローブ1とほぼ同様に、多層基板4に設けられた検出部9、接続部10および伝送線路部32を有している。   The magnetic field probe 31 includes the detection unit 9, the connection unit 10, and the transmission line unit 32 provided on the multilayer substrate 4 in substantially the same manner as the magnetic field probe 1 according to the first embodiment.

伝送線路部32は、多層基板4に設けられ検出部9の導電性ループ9Aと接続部10のスルーホール10Aとの間を接続する細長い導体パターンとしてのストリップ導体33を有している。この伝送線路部32は、ストリップ導体33と多層基板4の両面に設けられたグランド電極7,8とからなるストリップ線路によって構成されている。   The transmission line part 32 has a strip conductor 33 as an elongated conductor pattern that is provided on the multilayer substrate 4 and connects between the conductive loop 9A of the detection part 9 and the through hole 10A of the connection part 10. The transmission line portion 32 is configured by a strip line including a strip conductor 33 and ground electrodes 7 and 8 provided on both surfaces of the multilayer substrate 4.

また、ストリップ導体33は、Z軸に沿って直線状に延びている。このストリップ導体33は、導電性ループ9Aに接続された狭い幅寸法W1の狭幅部33Aと、接続部10のスルーホール10Aに接続された広い幅寸法W2の広幅部33Bと、狭幅部33Aと広幅部33Bとの間に設けられた線路幅変更部としての中間連結部33Cとを備えている。   The strip conductor 33 extends linearly along the Z axis. The strip conductor 33 includes a narrow width portion 33A having a narrow width dimension W1 connected to the conductive loop 9A, a wide width portion 33B having a wide width dimension W2 connected to the through hole 10A of the connection portion 10, and a narrow width portion 33A. And an intermediate connecting portion 33C as a line width changing portion provided between the first and second wide portions 33B.

中間連結部33Cは、幅寸法W3をもった中間幅部33Dと、中間幅部33Dの長さ方向両端側に設けられ狭幅部33A、広幅部33Bにそれぞれ接続されたテーパ状連結部33Eとによって構成されている。ここで、中間幅部33Dは、一定の幅寸法W3をもって、長さ方向(Z軸方向)に延びている。この中間幅部33Dの幅寸法W3は、狭幅部33Aの幅寸法W1よりも大きく、広幅部33Bの幅寸法W2よりも小さい値(W1<W3<W2)に設定されている。そして、中間連結部33Cの幅寸法は、1段の中間幅部33Dを介して、狭幅部33Aから広幅部33Bに向かうに従って増加している。また、テーパ状連結部33Eは、第1の実施の形態によるテーパ部13Cとほぼ同様に、狭幅部33Aから広幅部33Bに向かうに従って幅寸法が漸次大きくなる構成としている。   The intermediate connecting portion 33C includes an intermediate width portion 33D having a width dimension W3, a tapered connecting portion 33E provided on both ends in the length direction of the intermediate width portion 33D and connected to the narrow width portion 33A and the wide width portion 33B, respectively. It is constituted by. Here, the intermediate width portion 33D has a constant width dimension W3 and extends in the length direction (Z-axis direction). The width dimension W3 of the intermediate width portion 33D is set to a value (W1 <W3 <W2) that is larger than the width dimension W1 of the narrow width portion 33A and smaller than the width dimension W2 of the wide width portion 33B. The width dimension of the intermediate connecting portion 33C increases from the narrow width portion 33A toward the wide width portion 33B via the one-stage intermediate width portion 33D. Further, the tapered connecting portion 33E has a configuration in which the width dimension is gradually increased from the narrow width portion 33A toward the wide width portion 33B in substantially the same manner as the tapered portion 13C according to the first embodiment.

かくして、本実施の形態でも第1の実施の形態と同様の作用効果を得ることができる。特に、本実施の形態では、中間連結部33Cは1段の中間幅部33Dを介して狭幅部33Aから広幅部33Bに向けて幅寸法が大きくなる構成としたから、例えば中間幅部33Dの両端側に位置して幅寸法が変化するテーパ状連結部33Eで反射波が生じる。このため、中間幅部33Dの長さ寸法や段数を適宜調整することによって、反射波が影響する周波数をシフトさせることができ、所望の周波数帯域の検出信号を高感度に検出することができる。   Thus, the present embodiment can provide the same operational effects as those of the first embodiment. In particular, in the present embodiment, the intermediate connecting portion 33C has a configuration in which the width dimension increases from the narrow width portion 33A to the wide width portion 33B via the one-stage intermediate width portion 33D. A reflected wave is generated at the tapered connecting portion 33E that is located on both ends and has a width that varies. For this reason, by appropriately adjusting the length dimension and the number of steps of the intermediate width portion 33D, the frequency affected by the reflected wave can be shifted, and a detection signal in a desired frequency band can be detected with high sensitivity.

なお、前記第2の実施の形態では、ストリップ導体33の中間連結部33Cは、1段の中間幅部33Dを有する構成とした。しかし、本発明はこれに限らず、例えば図11に示す第1の変形例による伝送線路部41のように、ストリップ導体42の中間連結部42Cは、2段の中間幅部42D,42Eを有する構成としてもよい。この場合、中間幅部42D,42Eの幅寸法は、いずれも狭幅部42Aの幅寸法W1と広幅部42Bの幅寸法W2との間の範囲に設定されている。また、広幅部42Bに近い中間幅部42Eの幅寸法は、狭幅部42Aに近い中間幅部42Dの幅寸法よりも大きな値となっている。さらに、狭幅部42Aと中間幅部42Dとの間、中間幅部42D,42E間、中間幅部42Eと広幅部33Bとの間にそれぞれテーパ状連結部42Fを設けるものである。   In the second embodiment, the intermediate connecting portion 33C of the strip conductor 33 has a single-stage intermediate width portion 33D. However, the present invention is not limited to this, and the intermediate connection portion 42C of the strip conductor 42 has two intermediate width portions 42D and 42E, such as the transmission line portion 41 according to the first modification shown in FIG. It is good also as a structure. In this case, the width dimensions of the intermediate width portions 42D and 42E are both set in a range between the width dimension W1 of the narrow width portion 42A and the width dimension W2 of the wide width portion 42B. Further, the width dimension of the intermediate width part 42E close to the wide width part 42B is larger than the width dimension of the intermediate width part 42D close to the narrow width part 42A. Further, tapered connecting portions 42F are provided between the narrow width portion 42A and the intermediate width portion 42D, between the intermediate width portions 42D and 42E, and between the intermediate width portion 42E and the wide width portion 33B.

さらに、中間連結部は、1段、2段に限らず3段以上の中間幅部を有する構成としてもよい。また、隣合う中間幅部の間や中間幅部と狭幅部、広幅部との間は、テーパ状連結部を用いて連結する構成としたが、不連続な段差をもった段差連結部を用いて連結する構成としてもよい。   Furthermore, the intermediate connecting portion is not limited to one stage and two stages, and may have a structure having intermediate width parts of three or more stages. Moreover, although it was set as the structure connected using a taper-shaped connection part between adjacent intermediate width parts or between an intermediate width part and a narrow width part, a wide width part, a level difference connection part with a discontinuous level difference is used. It is good also as a structure connected using.

次に、図12および図13は本発明の第3の実施の形態を示している。そして、本実施の形態の特徴は、線路幅変更部は、狭幅部と広幅部との間で幅寸法が段差状に大きくなる段差部によって構成したことにある。なお、本実施の形態では、前記第1の実施の形態と同一の構成要素に同一の符号を付し、その説明を省略するものとする。   Next, FIG. 12 and FIG. 13 show a third embodiment of the present invention. The feature of the present embodiment is that the line width changing portion is constituted by a step portion in which the width dimension increases in a step shape between the narrow portion and the wide portion. In the present embodiment, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

磁界プローブ51は、第1の実施の形態による磁界プローブ1とほぼ同様に、多層基板4に設けられた検出部9、接続部10および伝送線路部52を有している。   The magnetic field probe 51 includes a detection unit 9, a connection unit 10, and a transmission line unit 52 provided on the multilayer substrate 4 in substantially the same manner as the magnetic field probe 1 according to the first embodiment.

伝送線路部52は、多層基板4に設けられ検出部9の導電性ループ9Aと接続部10のスルーホール10Aとの間を接続する細長い導体パターンとしてのストリップ導体53を有している。この伝送線路部52は、ストリップ導体53と多層基板4の両面に設けられたグランド電極7,8とからなるストリップ線路によって構成されている。   The transmission line section 52 has a strip conductor 53 as an elongated conductor pattern that is provided on the multilayer substrate 4 and connects between the conductive loop 9A of the detection section 9 and the through hole 10A of the connection section 10. The transmission line portion 52 is configured by a strip line including a strip conductor 53 and ground electrodes 7 and 8 provided on both surfaces of the multilayer substrate 4.

また、ストリップ導体53は、Z軸に沿って直線状に延びている。このストリップ導体53は、導電性ループ9Aに接続された狭い幅寸法W1の狭幅部53Aと、接続部10のスルーホール10Aに接続された広い幅寸法W2の広幅部53Bと、狭幅部33Aと広幅部33Bとの間に設けられた線路幅変更部としての段差部53Cとを備えている。この段差部53Cは、幅寸法が不連続な段差状に大きくなっている。   The strip conductor 53 extends linearly along the Z axis. The strip conductor 53 includes a narrow width portion 53A having a narrow width dimension W1 connected to the conductive loop 9A, a wide width portion 53B having a wide width dimension W2 connected to the through hole 10A of the connection portion 10, and a narrow width portion 33A. And a step part 53C as a line width changing part provided between the wide part 33B and the wide part 33B. The step portion 53C is enlarged in a step shape having discontinuous width dimensions.

かくして、本実施の形態でも第1の実施の形態と同様の作用効果を得ることができる。特に、本実施の形態では、段差部53Cは、狭幅部53Aと広幅部53Bとの間で幅寸法が段差状に大きくなる構成としたから、段差部53Cで集中的に反射波を発生させることができる。このため、段差部53Cの位置に応じて感度が低下する検出信号の周波数を確実に把握することができるから、例えば所望の周波数に対して検出部9と段差部53Cとの間の長さ寸法や段差部53Cと接続部10との間の長さ寸法を1/4波長と異なる値に設定することによって、所望の周波数帯域の検出信号に対する反射波の影響を抑制することができる。これにより、所望の周波数の検出信号を高感度に検出することができる。   Thus, the present embodiment can provide the same operational effects as those of the first embodiment. In particular, in the present embodiment, the stepped portion 53C has a configuration in which the width dimension increases in a stepped manner between the narrow-width portion 53A and the wide-width portion 53B, so that reflected waves are generated intensively at the stepped portion 53C. be able to. For this reason, since the frequency of the detection signal whose sensitivity decreases according to the position of the stepped portion 53C can be reliably grasped, for example, the length dimension between the detecting portion 9 and the stepped portion 53C with respect to a desired frequency. In addition, by setting the length dimension between the step portion 53C and the connection portion 10 to a value different from the quarter wavelength, the influence of the reflected wave on the detection signal in a desired frequency band can be suppressed. Thereby, the detection signal of a desired frequency can be detected with high sensitivity.

なお、前記各実施の形態では、伝送線路部12,32,41,52は、2枚のグランド電極7,8間にストリップ導体13,33,42,53が設けられたストリップ線路によって構成した。しかし、本発明はこれに限らず、図14に示す第2の変形例のように、伝送線路部12′は、1枚のグランド電極7とストリップ導体13′とからなるマイクロストリップ線路によって構成してもよい。この場合、多層基板を用いる必要はなく、単層の絶縁材料からなる基板4′を用いる構成としてもよい。   In each of the above embodiments, the transmission line portions 12, 32, 41, and 52 are configured by strip lines in which the strip conductors 13, 33, 42, and 53 are provided between the two ground electrodes 7 and 8, respectively. However, the present invention is not limited to this, and as in the second modification shown in FIG. 14, the transmission line portion 12 'is configured by a microstrip line composed of one ground electrode 7 and a strip conductor 13'. May be. In this case, it is not necessary to use a multilayer substrate, and a configuration using a substrate 4 'made of a single-layer insulating material may be used.

また、前記各実施の形態では、導電性ループ9Aは略四角形に形成したが、例えば三角形、五角形等の他の多角形状としてもよく、円形、半円形、楕円形等に形成してもよい。さらに、導電性ループ9Aは、1回巻のループコイルによって形成したが、2回以上巻いたループコイルによって形成してもよい。   In each of the above embodiments, the conductive loop 9A is formed in a substantially rectangular shape, but may be formed in other polygonal shapes such as a triangle and a pentagon, and may be formed in a circle, a semicircle, an ellipse, and the like. Furthermore, although the conductive loop 9A is formed by a one-turn loop coil, it may be formed by a loop coil wound two or more times.

1,31,51 磁界プローブ
4 多層基板(基板)
4′ 基板
9 検出部
9A 導電性ループ
10 接続部
12,12′,32,41,52 伝送線路部
13,13′,33,42,53 ストリップ導体(導体パターン)
13A,33A,42A,53A 狭幅部
13B,33B,42B,53B 広幅部
13C テーパ部
33C,42C 中間連結部
53C 段差部
1,31,51 Magnetic field probe 4 Multilayer substrate (substrate)
4 'Substrate 9 Detection unit 9A Conductive loop 10 Connection unit 12, 12', 32, 41, 52 Transmission line unit 13, 13 ', 33, 42, 53 Strip conductor (conductor pattern)
13A, 33A, 42A, 53A Narrow part 13B, 33B, 42B, 53B Wide part 13C Taper part 33C, 42C Intermediate connection part 53C Step part

Claims (4)

絶縁材料からなる基板と、磁界を検出するために該基板に設けられた導電性ループからなる検出部と、前記基板に設けられ外部に接続されて該検出部による検出信号を出力する接続部と、前記基板に設けられ前記検出部の導電性ループと該接続部との間を接続する細長い導体パターンを有する伝送線路部とを備えた磁界プローブにおいて、
前記伝送線路部の導体パターンは、前記導電性ループに接続された幅寸法の狭い狭幅部と、前記接続部に接続された幅寸法の広い広幅部と、前記狭幅部と広幅部との間に設けられ幅寸法を変更する線路幅変更部とによって構成したことを特徴とする磁界プローブ。
A substrate made of an insulating material; a detection unit comprising a conductive loop provided on the substrate for detecting a magnetic field; and a connection unit provided on the substrate and connected to the outside to output a detection signal from the detection unit. In the magnetic field probe provided with a transmission line portion having an elongated conductor pattern that is provided on the substrate and connects between the conductive loop of the detection portion and the connection portion,
The conductor pattern of the transmission line portion includes a narrow width portion having a narrow width connected to the conductive loop, a wide width portion having a wide width connected to the connection portion, and the narrow width portion and the wide width portion. A magnetic field probe characterized by comprising a line width changing portion provided between them to change the width dimension.
前記線路幅変更部は、前記狭幅部から広幅部に向けて幅寸法が漸次大きくなるテーパ部によって構成してなる請求項1に記載の磁界プローブ。   2. The magnetic field probe according to claim 1, wherein the line width changing portion is configured by a tapered portion whose width dimension gradually increases from the narrow width portion toward the wide width portion. 前記線路幅変更部は、1段または複数段の中間幅部を介して前記狭幅部から広幅部に向けて幅寸法が大きくなる中間連結部によって構成してなる請求項1に記載の磁界プローブ。   2. The magnetic field probe according to claim 1, wherein the line width changing portion is configured by an intermediate coupling portion whose width dimension increases from the narrow width portion toward the wide width portion via one or more intermediate width portions. . 前記線路幅変更部は、前記狭幅部と広幅部との間で幅寸法が段差状に大きくなる段差部によって構成してなる請求項1に記載の磁界プローブ。   2. The magnetic field probe according to claim 1, wherein the line width changing unit is configured by a stepped portion having a width dimension increased in a stepped manner between the narrowed portion and the widened portion.
JP2010034686A 2010-02-19 2010-02-19 Magnetic field probe Pending JP2011169793A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010034686A JP2011169793A (en) 2010-02-19 2010-02-19 Magnetic field probe

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010034686A JP2011169793A (en) 2010-02-19 2010-02-19 Magnetic field probe

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2011169793A true JP2011169793A (en) 2011-09-01

Family

ID=44684067

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010034686A Pending JP2011169793A (en) 2010-02-19 2010-02-19 Magnetic field probe

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2011169793A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013146003A1 (en) * 2012-03-29 2013-10-03 株式会社村田製作所 Magnetic field probe
RU2616765C2 (en) * 2012-02-27 2017-04-18 Конинклейке Филипс Н.В. Magnetic field probe, sealed by metal plug

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5167659U (en) * 1974-11-25 1976-05-28
JPH06291519A (en) * 1993-03-31 1994-10-18 Nippon Chemicon Corp Impedance converter by micro strip line
JPH0951209A (en) * 1995-08-08 1997-02-18 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Dielectric board and wiring board
JPH09205304A (en) * 1996-01-25 1997-08-05 Murata Mfg Co Ltd Matching circuit of oscillator
JPH10126117A (en) * 1996-10-14 1998-05-15 Murata Mfg Co Ltd Directional coupler
JP2003207531A (en) * 2002-01-11 2003-07-25 Kyocera Corp Near magnetic field probe
JP2004069337A (en) * 2002-08-01 2004-03-04 Ryowa Denshi Kk Magnetometric sensor, side-opened type transverse electromagnetic cell, and device using them

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5167659U (en) * 1974-11-25 1976-05-28
JPH06291519A (en) * 1993-03-31 1994-10-18 Nippon Chemicon Corp Impedance converter by micro strip line
JPH0951209A (en) * 1995-08-08 1997-02-18 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Dielectric board and wiring board
JPH09205304A (en) * 1996-01-25 1997-08-05 Murata Mfg Co Ltd Matching circuit of oscillator
JPH10126117A (en) * 1996-10-14 1998-05-15 Murata Mfg Co Ltd Directional coupler
JP2003207531A (en) * 2002-01-11 2003-07-25 Kyocera Corp Near magnetic field probe
JP2004069337A (en) * 2002-08-01 2004-03-04 Ryowa Denshi Kk Magnetometric sensor, side-opened type transverse electromagnetic cell, and device using them

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2616765C2 (en) * 2012-02-27 2017-04-18 Конинклейке Филипс Н.В. Magnetic field probe, sealed by metal plug
WO2013146003A1 (en) * 2012-03-29 2013-10-03 株式会社村田製作所 Magnetic field probe
CN104204834A (en) * 2012-03-29 2014-12-10 株式会社村田制作所 Magnetic field probe
US9535136B2 (en) 2012-03-29 2017-01-03 Murata Manufacturing Co., Ltd. Magnetic field probe

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5424220B2 (en) Method and system for measuring passive intermodulation distortion
JP6490160B2 (en) Enhancement of planar RF sensor technology
JP4219634B2 (en) Magnetic sensor, side-open TEM cell, and apparatus using them
KR100836213B1 (en) Antenna, radio device, method of designing antenna, and method of measuring operating frequency of antenna
KR20160140606A (en) Contacting assembly, in particular an HF measuring tip
JP6687303B2 (en) Transducer and antenna device
JP2011169793A (en) Magnetic field probe
JP2010088011A (en) Directional coupler
JP2008263384A (en) Wide-band antenna
JP7111347B2 (en) Magnetic field detection coil and EMI antenna
JP2010266233A (en) Device for detection of magnetic field
US11946953B2 (en) Electromagnetic field sensor
JP5787032B2 (en) Magnetic field probe
TWI677132B (en) Sit on top circuit board ferrite phase shifter
JP2006333290A (en) Monitor circuit
JP3590932B2 (en) EMI probe
JP2019186729A (en) Antenna and measuring probe
JP2010081507A (en) Directional coupler
JP2003207531A (en) Near magnetic field probe
KR101156569B1 (en) Muti donut type wideband small e-field probe for analyzing target iemi
JP2006170732A (en) Magnetic field sensor
JP2007043546A (en) Antenna device
JP5609328B2 (en) Magnetic field probe
JP2014153263A (en) Magnetic field detection probe
JP2015073239A (en) Antenna device and radio communication equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20121122

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130913

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130924

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140624

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140822

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20150317

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150612

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20150619

A912 Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20150731