JP2011163786A - 導波モードセンサおよびこれを用いた標的物質の検出方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】標的物質を高感度に検出可能な導波モードセンサを提供する。
【解決手段】導波モードセンサ100は、高屈折率ガラス基板112と、高屈折率ガラス基板112上に形成され、高屈折率ガラス基板112よりも低い屈折率を有するSiO2膜114と、SiO2膜114上に形成されたTiO2膜116と、からなる検出板110と、検出板110の高屈折率ガラス基板112側の表面に接し、高屈折率ガラス基板112と同じ屈折率を有するプリズム120と、を備え、検出板110のTiO2膜116側の表面に吸着する標的物質150により吸収される波長を有する光を、検出板110の高屈折率ガラス基板112側から入射する。
【選択図】図1
【解決手段】導波モードセンサ100は、高屈折率ガラス基板112と、高屈折率ガラス基板112上に形成され、高屈折率ガラス基板112よりも低い屈折率を有するSiO2膜114と、SiO2膜114上に形成されたTiO2膜116と、からなる検出板110と、検出板110の高屈折率ガラス基板112側の表面に接し、高屈折率ガラス基板112と同じ屈折率を有するプリズム120と、を備え、検出板110のTiO2膜116側の表面に吸着する標的物質150により吸収される波長を有する光を、検出板110の高屈折率ガラス基板112側から入射する。
【選択図】図1
Description
本発明は、導波モードセンサおよびこれを用いた標的物質の検出方法に関する。
近年、DNA、たんぱく質、および糖鎖などを検出するバイオセンサや金属イオンおよび有機分子などを検出する化学物質センサとして、導波モードを利用した導波モードセンサが用いられている。
従来の導波モードセンサの構造としては、特許文献1に示されるようなものがある。この構造を図5に示す。
図5は、従来の導波モードセンサを模式的に示す断面図である。図5に示した導波モードセンサ200は、SiO2基板212と、Si単結晶膜214と、SiO2膜216と、からなる検出板210を備える。また、導波モードセンサ200は、検出板210のSiO2基板212側に屈折率調整オイル(図示せず)を介してSiO2プリズム220を備える。図5に示すように、SiO2プリズム220側にある光源230から入射光240を照射すると、偏光板232を通過した入射光240がある特定の入射角で入射されるとき、Si単結晶膜214およびSiO2膜216内を伝搬光が伝搬する導波モード(図示せず)が励起される。当該特定の入射角付近では、検出板210で反射された反射光242の強度が大きく変化する。一方、導波モードの励起条件もSiO2膜216表面における屈折率の変化に敏感であり、この屈折率の変化は、当該入射角付近における反射光242の反射特性の変化となって現れる。これにより、導波モードセンサは、光検出機構234により反射光242の強度の変化をモニターすることで、検出したい標的物質250のSiO2膜216表面への吸着の有無を検出することができる。
図6は、図5に示した従来の導波モードセンサの構造において、標的物質250としてストレプトアビジン(SA)を用いて、反射光強度の入射角依存を測定した結果を示す図である。図6に示すように、SAが吸着することにより、反射光強度におけるディップの生じる入射角が変化する。これにより、従来の導波モードセンサは、標的物質であるSAの吸着を検出している。
しかしながら、図5に示した従来の導波モードセンサの構造は、以下の改善の余地を有する。
第1に、一般に、光は、屈折率の高い物質に局在する傾向がある。よって、入射光240を検出板210に入射することでSi単結晶膜214およびSiO2膜216内を伝搬する伝搬光は、SiO2膜216に比べて、Si単結晶膜214内に局在する。そのため、SiO2膜216表面に局在するエバネセント光の電界強度が小さくなり、標的物質を検出する感度の限界につながることが考えられる。
第1に、一般に、光は、屈折率の高い物質に局在する傾向がある。よって、入射光240を検出板210に入射することでSi単結晶膜214およびSiO2膜216内を伝搬する伝搬光は、SiO2膜216に比べて、Si単結晶膜214内に局在する。そのため、SiO2膜216表面に局在するエバネセント光の電界強度が小さくなり、標的物質を検出する感度の限界につながることが考えられる。
第2に、消衰係数を有するSi単結晶膜214を用いているために、図6に示すように、標的物質250がSiO2膜216に吸着していなくても、反射光強度の入射角依存においてディップが生じてしまう。そのため、標的物質250の吸着の有無の検出は、標的物質250の吸着の前後におけるディップの生じる入射角やディップの深さを比較しなければならない。
本発明によれば、高屈折率ガラス基板と、前記高屈折率ガラス基板上に形成され、前記高屈折率ガラス基板よりも低い屈折率を有するSiO2膜と、前記SiO2膜上に形成されたTiO2膜と、からなる検出板と、
前記検出板の前記高屈折率ガラス基板側の表面に接し、前記高屈折率ガラス基板と同じ屈折率を有するプリズムと、を備え
前記検出板の前記TiO2膜側の表面に吸着する標的物質により吸収される波長を有する光を、前記検出板の前記高屈折率ガラス基板側から入射する導波モードセンサが提供される。
前記検出板の前記高屈折率ガラス基板側の表面に接し、前記高屈折率ガラス基板と同じ屈折率を有するプリズムと、を備え
前記検出板の前記TiO2膜側の表面に吸着する標的物質により吸収される波長を有する光を、前記検出板の前記高屈折率ガラス基板側から入射する導波モードセンサが提供される。
また、本発明によれば、上記の導波モードセンサを用いた標的物質の検出方法であって、
前記検出板の前記高屈折率ガラス基板側から前記検出板に入射され、前記検出板で反射された光の強度について、前記検出板の前記高屈折率ガラス基板側から前記検出板に入射される光の入射角依存を測定する工程を含む標的物質の検出方法が提供される。
前記検出板の前記高屈折率ガラス基板側から前記検出板に入射され、前記検出板で反射された光の強度について、前記検出板の前記高屈折率ガラス基板側から前記検出板に入射される光の入射角依存を測定する工程を含む標的物質の検出方法が提供される。
本発明によれば、標的物質が吸着するTiO2膜がSiO2膜よりも高い屈折率を有するから、TiO2膜における伝搬光の電界強度がSiO2膜におけるものよりも大きくなる。そのため、標的物質が吸着するTiO2膜の表面に局在するエバネセント光の電界強度が増加するので、従来の導波モードセンサに比べて、標的物質の検出の感度が向上する。
また、本発明によれば、高屈折率ガラス基板、SiO2膜、およびTiO2膜のいずれにも、透光性を有する誘電体材料が用いられており、これらの物質の消衰係数は限りなくゼロに近い。そのため、標的物質がTiO2膜の表面に吸着していない場合、反射光強度の入射角依存においてディップが全く生じないか、生じたとしても非常に小さい。すなわち、光を吸収する標的物質がTiO2膜の表面に吸着した場合のみ、反射光強度の入射角依存においてディップが大きく生じる。これにより、標的物質の吸着の前後でディップの生ずる入射角やディップの深さを比較しなくても、ディップの有無を確認するだけで標的物質の吸着の有無を検出することができる。
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。なお、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。
図1は、本発明の実施形態に係る導波モードセンサを模式的に示した断面図である。
図1に示した導波モードセンサ100は、検出板110を備える。図1に示すように、検出板110は、高屈折率ガラス基板112と、その上に形成されたSiO2膜114と、さらにその上に形成されたTiO2膜116と、からなる。ここで、SiO2膜114は、高屈折率ガラス基板112よりも低い屈折率を有する。また、TiO2膜116は、SiO2膜114よりも高い屈折率を有する。
図1に示した導波モードセンサ100は、検出板110を備える。図1に示すように、検出板110は、高屈折率ガラス基板112と、その上に形成されたSiO2膜114と、さらにその上に形成されたTiO2膜116と、からなる。ここで、SiO2膜114は、高屈折率ガラス基板112よりも低い屈折率を有する。また、TiO2膜116は、SiO2膜114よりも高い屈折率を有する。
図1に示した導波モードセンサ100は、検出板110の高屈折率ガラス基板112側の表面に屈折率調整オイル(図示せず)を介して接するプリズム120を備える。プリズム120は、高屈折率ガラス基板112に接着させる際、プリズム120と高屈折率ガラス基板112との間での入射光140の反射が生じない様、高屈折率ガラス基板112と同じ屈折率を有する材料を用いることとする。好ましくは、プリズム120は高屈折率ガラス基板112と同じ材料で作られる。また、プリズム120は、図1に示すように、検出板110の高屈折率ガラス基板112側に設置されている光源130から偏光板132を介して検出板110に入射される入射光140と、これによって励起されるSiO2膜114およびTiO2膜116内の導波モード(図示せず)とを結合するために用いられる。
ここで、高屈折率ガラス基板112は、SiO2膜114よりも高い屈折率を有すれば特に制限はないが、例えば、入手が容易な市販の高屈折率ガラス基板(オハラ社製S−LAH66やSCHOTT社製LASFN9など)を用いることができる。
また、図1に示すように、導波モードセンサ100の検出板110のTiO2膜116側の表面には、標的物質150が吸着される。標的物質150は、TiO2膜116の表面に直接吸着させたり、検体捕捉層(図示せず)を介して吸着させることができる。
ここで、光源130から検出板110に入射される入射光140は、標的物質150により吸収される波長を有する。標的物質150が透明な場合、標的物質150は、入射光140を吸収する化学物質(図示せず)により標識化することができる。化学物質としては、例えば、500nm以下の粒径を有する金属ナノ粒子等の金属を用いることができる。また、その他として、例えば、色素を用いることができる。
または、標的物質150が透明な場合、標的物質150と反応することにより、入射光140を吸収する物質を発生させる検体捕捉層を用いることができる。
さらに、図1に示すように、検出板110の高屈折率ガラス基板112側には、光源130から検出板110に入射され、検出板110で反射された反射光142の強度を検出する光検出機構134が設置される。
ここで、入射光140は、可視光とすることができる。これにより、入射光140および反射光142は、肉眼で観察することができ、本実施形態の導波モードセンサを用いての標的物質150の検出がより容易となる。
以上により、図1に示した導波モードセンサ100は、入射角走査機構(図示せず)により、入射光140の入射角θを走査しながら、光検出機構134により、反射光142の強度を測定することで、反射光142の強度についての入射角依存を測定する。これにより、図1に示した導波モードセンサ100は、検出板110のTiO2膜116側の表面への標的物質150の吸着の有無を検出する。
本実施形態においては、標的物質150が吸着するTiO2膜116がSiO2膜114よりも高い屈折率を有するから、入射光140が光源130から検出板110に入射された場合において、TiO2膜116における伝搬光の電界強度がSiO2膜114におけるものよりも大きくなる。そのため、標的物質150が吸着するTiO2膜116の表面に局在するエバネセント光の電界強度が大きくなるので、高感度で、標的物質150を検出することができる。
また、本実施形態においては、検出板110の高屈折率ガラス基板112、SiO2膜114、およびTiO2膜116のいずれにも、透光性を有する誘電体材料が用いられているので、標的物質150がTiO2膜116の表面に吸着していない場合、検出板110で反射された反射光142の強度の入射角依存においてディップが全く生じないか、生じたとしても非常に小さい。一方、入射光140を吸収する標的物質150がTiO2膜116の表面に吸着している場合、検出板110で反射された反射光142の強度の入射角依存においてディップが大きく生じることになる。
次に、図2を参照して、検出板110の製造方法を説明する。
図2は、検出板110の製造工程を示す断面図である。まず、図2(a)に示すように、高屈折率ガラス基板112を用意する。
次いで、図2(b)に示すように、例えばスパッタリング法を用いて、高屈折率ガラス基板112上に、SiO2膜114を被覆する。
次いで、図2(c)に示すように、例えばスパッタリング法を用いて、SiO2膜114上に、TiO2膜116を被覆し、検出板110を得る。
なお、一般に、二酸化チタンは、その中の酸素原子が離脱しやすいため、チタンに対する酸素のモル比が二酸化チタンの化学量論比(理論比2.00)より小さい酸化チタンとなりやい。そのような酸化チタンは、当該モル比が2.00よりも小さくなるほど、二酸化チタンに比べて大きな消衰係数を有することになる。そのため、これを用いると、標的物質150がTiO2膜116の表面に吸着していない場合でも、検出板110で反射された反射光142の強度の入射角依存においてディップが生じてしまう。そのため、TiO2膜116におけるチタンに対する酸素のモル比は、2.00近傍であることが望ましい。
次に、本実施形態の導波モードセンサを用いた場合における反射光強度の入射角依存のシミュレーションについて説明する。当該シミュレーションは、以下の条件を設定して行う。
まず、検出板110の高屈折率ガラス基板112、SiO2膜114、およびTiO2膜の屈折率は、それぞれ、1.769、1.479、および2.5とする。プリズム120は、高屈折率ガラス基板112と同じ屈折率を有するものとし、その形状は、頂点が30度の二等辺三角形とする。SiO2膜114およびTiO2膜116の厚さは、それぞれ、600nmおよび50nmとする。また、検出板110のTiO2膜116側の表面付近は、水(屈折率1.332)で満たされているものとする。さらに、入射光140は、632.8nmの波長を有するS偏光とする。
ここで、本シミュレーションでは、標的物質150は、632.8nmの波長を有する入射光140を吸収しない物質とする。そこで、本シミュレーションでは、20nmの粒径を有し、当該波長において0.357+3.09iの複素屈折率を有するAuナノ粒子により、標的物質150を標識化するものとし、Auナノ粒子自身がTiO2膜116表面に吸着しているものとする。ここで、Auナノ粒子のTiO2膜116表面への吸着個数は、0.007μm−2とする。
上述したように、検出板110のTiO2膜116側の表面付近は、水で満たされているので、当該Auナノ粒子により、検出板110のTiO2膜116側の表面には、Auナノ粒子/水混合層が形成されることになる。そこで、本シミュレーションでは、当該層を、均一な複素屈折率を有する1つの層と考える。当該複素屈折率は、マクスウェル−ガーネットの有効媒質近似から、1.332+8.704×10−7iと求めることができる。また、当該層の厚さは、Auナノ粒子の粒径20nmとする。
図3は、以上の条件を設定した場合における本実施形態の導波モードセンサを用いたときの反射光強度の入射角依存のシミュレーションの結果を示す図である。図3中の実線は、上記の条件でAuナノ粒子がTiO2膜116の表面に吸着された場合の入射光140の強度と反射光142の強度との比(反射率)を示す。一方、破線は、Auナノ粒子が吸着される前の反射率を示す。図3に示すように、0.007μm−2のAuナノ粒子をTiO2膜116表面に付着することで、入射角69.8度付近で、反射率が最大約0.01減少するディップが生じる。
以上に対し、図5に示した従来の導波モードセンサを用いた場合における反射光強度の入射角依存のシミュレーションを比較する。当該シミュレーションは、以下の条件を設定して行う。
まず、検出板210のSiO2基板212、Si単結晶膜214、およびSiO2膜216の複素屈折率は、それぞれ、1.456、3.882+0.019i、および1.456とする。SiO2プリズム220は、SiO2基板212と同じ屈折率を有するものとし、その形状は、頂点が30度の二等辺三角形とする。Si単結晶膜214およびSiO2膜216の厚さは、それぞれ、40nmおよび450nmとする。また、検出板210のSiO2膜216側の表面付近は、水(屈折率1.332)で満たされているものとする。さらに、入射光240は、632.8nmの波長を有するS偏光とする。
ここで、本シミュレーションでは、標的物質250は、本実施形態のシミュレーションにおける標的物質150と同様、632.8nmの波長を有する入射光240を吸収しない物質とする。そこで、本シミュレーションでは、本実施形態のシミュレーションと同様、20nmの粒径を有し、当該波長において0.357+3.09iの複素屈折率を有するAuナノ粒子により、標的物質250を標識化するものとし、Auナノ粒子自身がSiO2膜216表面に吸着しているものとする。ここで、Auナノ粒子のSiO2膜216表面への吸着個数は、0.7μm−2とする。
上述したように、検出板210のSiO2膜216側の表面付近は、水で満たされているので、当該Auナノ粒子により、検出板210のSiO2膜216側の表面には、Auナノ粒子/水混合層が形成されることになる。そこで、本シミュレーションでは、本実施形態のシミュレーションと同様に、当該層を、均一な複素屈折率を有する1つの層と考える。当該複素屈折率は、マクスウェル−ガーネットの有効媒質近似から、1.333+8.705×10−5iと求めることができる。また、当該層の厚さは、Auナノ粒子の粒径20nmとする。
図4は、以上の条件を設定した場合における従来の導波モードセンサを用いたときの反射光強度の入射角依存のシミュレーションの結果を示す図である。図4中の実線は、上記の条件でAuナノ粒子がSiO2膜216の表面に吸着された場合の入射光240の強度と反射光242の強度との比(反射率)を示す。一方、破線は、Auナノ粒子が吸着される前の反射率を示す。図4に示すように、0.7μm−2のAuナノ粒子をSiO2膜216表面に付着することで、入射角68.3度付近で、反射率が最大約0.01減少するディップが生じる。
以上から、本実施形態の導波モードセンサと従来の導波モードセンサとを比較すると、従来の導波モードセンサでは、0.7μm−2のAuナノ粒子の吸着で、約0.01反射率が減少するディップが生じるのに対し、本実施形態の導波モードセンサでは、0.007μm−2のAuナノ粒子の吸着で、約0.01反射率が減少するディップが生じる。したがって、本実施形態の導波モードセンサは、図5に示した従来の導波モードセンサに比べて、約100倍の感度を有することが分かる。
また、従来の導波モードセンサでは、図4に示すように、SiO2膜216表面へのAuナノ粒子の吸着前でも、ディップが生じているのに対し、本実施形態の導波モードセンサでは、図3に示すように、TiO2膜116表面へのAuナノ粒子の吸着前に、ディップが生じない。したがって、本実施形態の導波モードセンサは、Auナノ粒子の吸着前後でディップの深さを比較しなくても、ディップの有無を確認するだけでTiO2膜116表面へのAuナノ粒子の吸着を検出することができる。
以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、上述した実施形態は本発明を限定するものでない。当業者にあっては、具体的な実施態様において本発明の技術思想および技術範囲から逸脱せずに種々の変形・変更を加えることが可能である。
例えば、上述した実施形態では、検出板110のTiO2膜116側の表面付近は、水で満たされているが、当該表面付近は、空気で満たされていたり、真空であってもよい。
100 導波モードセンサ
110 検出板
112 高屈折率ガラス基板
114 SiO2膜
116 TiO2膜
120 プリズム
130 光源
132 偏光板
134 光検出機構
140 入射光
142 反射光
200 導波モードセンサ
210 検出板
212 SiO2基板
214 Si単結晶膜
216 SiO2膜
220 SiO2プリズム
230 光源
232 偏光板
234 光検出機構
240 入射光
242 反射光
110 検出板
112 高屈折率ガラス基板
114 SiO2膜
116 TiO2膜
120 プリズム
130 光源
132 偏光板
134 光検出機構
140 入射光
142 反射光
200 導波モードセンサ
210 検出板
212 SiO2基板
214 Si単結晶膜
216 SiO2膜
220 SiO2プリズム
230 光源
232 偏光板
234 光検出機構
240 入射光
242 反射光
Claims (4)
- 高屈折率ガラス基板と、前記高屈折率ガラス基板上に形成され、前記高屈折率ガラス基板よりも低い屈折率を有するSiO2膜と、前記SiO2膜上に形成されたTiO2膜と、からなる検出板と、
前記検出板の前記高屈折率ガラス基板側の表面に接し、前記高屈折率ガラス基板と同じ屈折率を有するプリズムと、を備え、
前記検出板の前記TiO2膜側の表面に吸着する標的物質により吸収される波長を有する光を、前記検出板の前記高屈折率ガラス基板側から入射する導波モードセンサ。 - 前記標的物質は、前記検出板の前記高屈折率ガラス基板側から入射される光を吸収する化学物質により標識化された物質である請求項1記載の導波モードセンサ。
- 前記検出板の前記高屈折率ガラス基板側から入射される光は、可視光である請求項1または2記載の導波モードセンサ。
- 請求項1乃至3のいずれかに記載の導波モードセンサを用いた標的物質の検出方法であって、
前記検出板の前記高屈折率ガラス基板側から前記検出板に入射され、前記検出板で反射された光の強度について、前記検出板の前記高屈折率ガラス基板側から前記検出板に入射される光の入射角依存を測定する工程を含む標的物質の検出方法。
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