JP2011119169A - Electro-optical apparatus and method of manufacturing the same - Google Patents

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豊 竹内
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/851Division of substrate

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of manufacturing an electro-optical apparatus, capable of reducing the occurrence of cracks from an edge when divided. <P>SOLUTION: The method of manufacturing the electro-optical apparatus includes in order a first process for forming an electro-optical element group 12 on a first substrate 1, a second process for forming a sealing material layer 39 made of an ultraviolet beam curing material to surround the electro-optical element group 12, a third process for adhering a second substrate 2 including a counter substrate 11 and an unnecessary part 111 surrounding a periphery of the counter substrate 11 onto the first substrate 1 with the sealing material layer 39 interposed so that an interface line 49 between the counter substrate 11 and the unnecessary part 11 can be accommodated in a plan view, a fourth process for irradiating an ultraviolet beam on a region inside of the interface line 49 in a plan view of the sealing material layer 39 and curing the sealing material layer 39 in the inside region, and a fifth process for dividing the second substrate 2 by the interface line 49 and removing the unnecesssary part 111 out of the second substrate 2 and a part overlapping the unnecessary part out of the sealing material layer 39 from the adhered body between the first substrate 1 and the second substrate 2. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、電気光学装置、及び電気光学装置の製造方法に関する。   The present invention relates to an electro-optical device and a method for manufacturing the electro-optical device.

電気光学装置としてのFPD(フラットパネルディスプレイ)は、近年様々な電子機器等の表示部に用いられている。FPDは有機ELパネル等の電気光学パネルと該パネルに付属する構成要素等で構成されている。そして、電気光学パネルは、一般的にガラス等からなる一対の基板と該一対の基板間に形成された電気光学素子、及び制御素子等で構成されている。
かかる電気光学パネルの製造方法としては、特許文献1に示すように、一方の大型基板(マザー基板)上に上述の電気光学素子等からなる単位パネル領域を複数個形成した後、各単位パネル領域を囲むように形成されたシール材を介してもう一方の大型基板を貼り合せてパネル集合体を形成し、該シール材の外周を該シール材(の外周線)から平面視で若干の間隔を空けて切断して、個々の電気光学パネルとする方法が一般的である。
In recent years, FPDs (flat panel displays) as electro-optical devices have been used in display units of various electronic devices and the like. The FPD is composed of an electro-optical panel such as an organic EL panel and components attached to the panel. The electro-optical panel includes a pair of substrates generally made of glass or the like, an electro-optical element formed between the pair of substrates, a control element, and the like.
As a method for manufacturing such an electro-optical panel, as shown in Patent Document 1, after forming a plurality of unit panel regions composed of the above-described electro-optical elements on one large substrate (mother substrate), each unit panel region A panel aggregate is formed by bonding another large substrate through a sealing material formed so as to surround the sealing material, and the outer periphery of the sealing material is spaced slightly from the sealing material (the outer peripheral line) in plan view. A general method is to cut and form individual electro-optical panels.

特開2004−303425号公報JP 2004-303425 A

しかし、かかる製造方法は電気光学パネルの薄型化が進むにつれて、シール材の外側の領域における基板にクラック等の破損が発生する可能性が増大するという課題がある。すなわち、上述したように、マザー基板はシール材の外周線から若干の間隔を有する線で切断されるため、かかるシール材の外周線とマザー基板の切断線との間の領域では、電気光学パネルを構成する一対の基板の少なくとも一方が庇状に張り出してしまう。   However, as the electro-optical panel is made thinner, such a manufacturing method has a problem that the possibility of occurrence of breakage such as cracks in the substrate in the region outside the sealing material increases. That is, as described above, since the mother substrate is cut by a line having a slight gap from the outer peripheral line of the sealing material, an electro-optical panel is formed in the region between the outer peripheral line of the sealing material and the cutting line of the mother substrate. At least one of the pair of substrates constituting the bulge protrudes like a bowl.

図1及び図2を用いて、かかる態様を説明する。図1は、従来の電気光学パネルとしての有機ELパネルの概略平面図である。そして図2は、従来の電気光学パネルとしての有機ELパネルの端面近傍の概略断面図である。なお、上記の図において符合が付与された各要素については、一部を除き後述の実施形態で述べる。   Such an embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a schematic plan view of an organic EL panel as a conventional electro-optical panel. FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the vicinity of an end face of an organic EL panel as a conventional electro-optical panel. In addition, about each element to which the code | symbol was provided in said figure, except for one part, it mentions by the below-mentioned embodiment.

図1(a)は、有機ELパネル53のシール材40と、該シール材を介して対向配置された一対の基板(10,11)の関係を示す概略平面図である。図1(b)は、図1(a)におけるAで示す円内を拡大した図である。図1(a)に示すように、シール材40は、平面視で一対の基板(10,11)が積層されている領域のさらに内側に形成されている。したがって、図1(b)に示すように、シール材40の外側には基板がシール材40の外側に庇状に張り出した部分が形成されている。かかる部分が、(以下、「庇部50」と称する。)である。庇部50は、マザー基板をシール材40の外周線の外側(の線)で分断するため生じる。   FIG. 1A is a schematic plan view showing the relationship between the sealing material 40 of the organic EL panel 53 and a pair of substrates (10, 11) arranged to face each other through the sealing material. FIG. 1B is an enlarged view of a circle indicated by A in FIG. As shown in FIG. 1A, the sealing material 40 is formed further inside the region where the pair of substrates (10, 11) is laminated in a plan view. Therefore, as shown in FIG. 1B, a portion where the substrate protrudes in a hook shape outside the sealing material 40 is formed outside the sealing material 40. This portion is (hereinafter, referred to as “the flange portion 50”). The flange 50 is generated because the mother substrate is divided on the outer side (line) of the outer peripheral line of the sealing material 40.

図2(a)は、後述する第2基板2すなわち上側のマザー基板を分断するためのスクライブラインを形成する態様を示している。具体的には、シール材40の外周線の外側にレーザー照射装置63からレーザー64を照射して、基板(第2基板2)の材質を基板面に垂直方向すなわち深さ方向の一部まで改質することにより、第2のスクライブライン46を形成している。第2のスクライブライン46を形成後、該第2のスクライブラインに沿って応力を加えることで、第2基板2を分割して有機EL装置パネル53の構成要素とはならない不要な部分(後述する第2の不要部分111)を除去できる。   FIG. 2A shows a mode of forming a scribe line for dividing a second substrate 2 described later, that is, an upper mother substrate. Specifically, the laser 64 is irradiated from the laser irradiation device 63 to the outside of the outer circumferential line of the sealing material 40, and the material of the substrate (second substrate 2) is changed to a direction perpendicular to the substrate surface, that is, a part in the depth direction. Thus, the second scribe line 46 is formed. After forming the second scribe line 46, by applying stress along the second scribe line, the second substrate 2 is divided and an unnecessary portion that does not become a component of the organic EL device panel 53 (described later) The second unnecessary portion 111) can be removed.

図2(b)は、上述の不要な部分が除去されて有機ELパネル53となった状態を示している。上述したようにシール材40の外周線の外側に第2のスクライブライン46を形成するため、形成された対向基板11の端部が張り出している。すなわち、対向基板11の端部が中空に浮いて、庇部50が形成されている。ここで、近年の薄型化された有機ELパネルは、板厚が数十〜数百μmまで薄板化された基板を用いているため、強度が低下している。そのため、図示するように重力による変形を発生させる可能性がある。また、庇部50の端面にクラック等が発生してシール材40の方向に進行することで、対向基板11を破損させる可能性も生じかねない。   FIG. 2B shows a state where the above-described unnecessary portion is removed to form the organic EL panel 53. As described above, in order to form the second scribe line 46 outside the outer peripheral line of the sealing material 40, the end portion of the formed counter substrate 11 projects. That is, the end portion of the counter substrate 11 floats in the hollow, and the flange portion 50 is formed. Here, since the thin organic EL panel in recent years uses a substrate thinned to a thickness of several tens to several hundreds of μm, the strength is lowered. Therefore, there is a possibility that deformation due to gravity occurs as shown. In addition, a crack or the like is generated on the end face of the flange portion 50 and proceeds in the direction of the sealing material 40, so that the counter substrate 11 may be damaged.

ここで、第2のスクライブライン46をシール材40の外周線に沿うように形成すれば、庇部50は形成されない。しかし、図1(b)に示すように、シール材40は外周線が波打っている、すなわち蛇行している。これは、シール材40が、硬化前のシール材料を基板で加圧した後に硬化させて形成されるためである。したがって、上述の外周線と第2のスクライブライン46とを平面視で一致させることは困難である。   Here, if the 2nd scribe line 46 is formed so that the outer peripheral line of the sealing material 40 may be formed, the collar part 50 will not be formed. However, as shown in FIG. 1B, the sealing material 40 has a wavy outer circumference, that is, meanders. This is because the sealing material 40 is formed by pressing the sealing material before curing with a substrate and then curing the sealing material. Therefore, it is difficult to match the above-described outer peripheral line and the second scribe line 46 in plan view.

本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as the following forms or application examples.

[適用例1]本適用例にかかる電気光学装置の製造方法は、第1基板の一方の面上に電気光学素子群を形成する第1の工程と、上記電気光学素子群を囲むように紫外線硬化材料からなるシール材層を形成する第2の工程と、上記第1基板に、対向基板と該対向基板の周囲を囲む不要部分とを含む第2基板を、上記対向基板と上記不要部分との境界線が上記シール材層に平面視で収まるように上記シール材層を介して貼り合せる第3の工程と、上記シール材層の、平面視で上記境界線の内側となる領域に紫外線を照射して、該内側の領域における上記シール材層を硬化させる第4の工程と、上記第2基板を上記境界線で分割して、上記第1基板と上記第2基板との貼り合せ体から上記第2基板のうちの上記不要部分と、上記シール材層のうちの該不要部分と重なる部分と、を取り除く第5の工程と、を順に実施することを特徴とする。   Application Example 1 An electro-optical device manufacturing method according to this application example includes a first step of forming an electro-optical element group on one surface of a first substrate and an ultraviolet ray surrounding the electro-optical element group. A second step of forming a sealing material layer made of a curable material; and a second substrate including a counter substrate and an unnecessary portion surrounding the counter substrate on the first substrate, the counter substrate and the unnecessary portion A third step of bonding the sealing material layer through the sealing material layer so that the boundary line of the sealing material layer fits in the sealing material layer in a plan view; A fourth step of irradiating and curing the sealing material layer in the inner region, and dividing the second substrate at the boundary line, from the bonded body of the first substrate and the second substrate The unnecessary portion of the second substrate and the sealing material layer Which comprises carrying out the portion overlapping the unnecessary portion, a fifth step of removing, in this order.

このような製造方法であれば、シール材の外周線と対向基板の端面とを略一致させることができ、上記庇状の部分が生じることを抑制できる。したがって、対向基板等の端面からクラック等が進行すること抑制でき、電気光学装置の信頼性等を向上させることができる。
なお、第2基板が対向基板を含むということは、将来的に第2基板の一部が対向基板として電気光学装置の構成要素となり、他の部分は電気光学装置とは無関係な部分となるということである。また、後述するように、シール材層から不要部分を取り除いた部分がシール材である。
With such a manufacturing method, the outer peripheral line of the sealing material and the end face of the counter substrate can be made to substantially coincide with each other, and the occurrence of the bowl-shaped portion can be suppressed. Therefore, it is possible to suppress the progress of cracks and the like from the end surface of the counter substrate, and the reliability of the electro-optical device can be improved.
The fact that the second substrate includes the counter substrate means that a part of the second substrate will become a component of the electro-optical device in the future as the counter substrate, and the other part will be a part unrelated to the electro-optical device. That is. Further, as will be described later, a portion obtained by removing unnecessary portions from the sealing material layer is the sealing material.

[適用例2]上述の電気光学装置の製造方法であって、上記第1基板は上記電気光学素子群が形成される素子基板と該素子基板の周囲を囲む不要部分とを含み、上記素子基板及び上記対向基板は矩形であり上記素子基板の有する4辺のうちの少なくとも1辺は上記対向基板の外形線と重なっており、上記第5の工程は、上記第1基板と上記第2基板との貼り合せ体から、上記第2基板のうちの上記不要部分と共に上記第1基板のうちの上記不要部分も取り除く工程であることを特徴とする。   Application Example 2 In the above-described electro-optical device manufacturing method, the first substrate includes an element substrate on which the electro-optical element group is formed and an unnecessary portion surrounding the element substrate. And the counter substrate is rectangular, and at least one of the four sides of the element substrate overlaps the outline of the counter substrate, and the fifth step includes the first substrate, the second substrate, And removing the unnecessary portion of the first substrate together with the unnecessary portion of the second substrate.

このような製造方法であれば、素子基板側の端面も、少なくとも1辺はシール材の端面と一致させることができる。したがって、素子基板側から上述のクラック等が進行すること抑制でき、電気光学装置の信頼性等をより一層向上させることができる。   With such a manufacturing method, at least one side of the end surface on the element substrate side can be matched with the end surface of the sealing material. Accordingly, it is possible to suppress the above-described cracks and the like from proceeding from the element substrate side, and it is possible to further improve the reliability and the like of the electro-optical device.

[適用例3]上述の電気光学装置の製造方法であって、上記素子基板の有する4辺のうちの3辺は上記対向基板の外形線と重なっており、かつ残りの1辺の側は平面視で上記対向基板から張り出す張り出し部を構成しており、上記第1の工程は、上記電気光学素子群とともに、上記張り出し部に上記電気光学素子群と外部の駆動回路との接点となる接続端子群を形成する工程であり、上記第2の工程は、上記シール材層が平面視で上記電気光学素子群と上記接続端子群との間を横切るように該シール材層を形成する工程であることを特徴とする。   Application Example 3 In the above-described method for manufacturing an electro-optical device, three of the four sides of the element substrate overlap with the outline of the counter substrate, and the remaining one side is a plane. The first step includes a connection between the electro-optic element group and an external driving circuit at the extension part together with the electro-optic element group. A step of forming a terminal group, and the second step is a step of forming the sealing material layer so that the sealing material layer crosses between the electro-optic element group and the connection terminal group in a plan view. It is characterized by being.

このような製造方法であれば、接続端子群上に対向基板が張り出すことを抑制できる。したがって、接続端子群が上記庇状の部分の影響を受けることを抑制でき、電気光学装置の信頼性等をより一層向上させることができる。   If it is such a manufacturing method, it can suppress that a counter substrate protrudes on a connection terminal group. Accordingly, it is possible to suppress the connection terminal group from being affected by the hook-shaped portion, and it is possible to further improve the reliability and the like of the electro-optical device.

[適用例4]上述の電気光学装置の製造方法であって、上記第5の工程は、レーザーの照射により上記素子基板及び/又は上記対向基板の基板面に垂直方向の一部を改質してスクライブラインを形成した後、該スクライブラインに沿って応力を加えることで上記不要部分を分割除去する工程であることを特徴とする。   Application Example 4 In the above-described electro-optical device manufacturing method, the fifth step includes modifying a part of the element substrate and / or the counter substrate in a direction perpendicular to the substrate surface by laser irradiation. Then, after the scribe line is formed, the unnecessary portion is divided and removed by applying stress along the scribe line.

レーザーは高精度の照射が可能なため、このような製造方法であれば上述の境界線とスクライブラインとをより一層高い精度で一致させることができる。したがって、上記庇状の部分が形成されることをより一層抑制でき、電気光学装置の信頼性等をより一層向上させることができる。   Since the laser can irradiate with high accuracy, the above-described boundary line and the scribe line can be matched with higher accuracy by such a manufacturing method. Therefore, the formation of the hook-shaped portion can be further suppressed, and the reliability and the like of the electro-optical device can be further improved.

[適用例5]上述の製造方法で形成された電気光学装置。   Application Example 5 An electro-optical device formed by the manufacturing method described above.

このような電気光学装置であれば、移動時の振動、使用時に加わる曲げ応力等が品質に及ぼす影響を低減できるため、用途を拡大でき需要の増大をもたらすことができる。   With such an electro-optical device, it is possible to reduce the influence of vibration during movement, bending stress applied during use, etc. on the quality, so that it is possible to expand applications and increase demand.

従来の有機ELパネルの概略平面図。The schematic plan view of the conventional organic electroluminescent panel. 従来の有機ELパネルの端面近傍の概略断面図。The schematic sectional drawing of the end surface vicinity of the conventional organic electroluminescent panel. 有機EL装置の概略を示す模式断面図。The schematic cross section which shows the outline of an organic EL apparatus. 実施形態の対象となる有機ELパネルの模式断面図。The schematic cross section of the organic electroluminescent panel used as the object of embodiment. シール材の外周線と対向基板の端面との関係を示す概略平面図。The schematic plan view which shows the relationship between the outer peripheral line of a sealing material, and the end surface of a counter substrate. 実施形態の製造方法の概略を示す工程断面図。Process sectional drawing which shows the outline of the manufacturing method of embodiment. 実施形態の有機EL装置の製造方法を詳細に示す工程断面図。Process sectional drawing which shows the manufacturing method of the organic electroluminescent apparatus of embodiment in detail. 実施形態の有機EL装置の製造方法を詳細に示す工程断面図。Process sectional drawing which shows the manufacturing method of the organic electroluminescent apparatus of embodiment in detail. 変形例1の有機EL装置の製造方法を示す工程断面図。Process sectional drawing which shows the manufacturing method of the organic electroluminescent apparatus of the modification 1. FIG. 変形例1の有機EL装置の製造方法を示す工程断面図。Process sectional drawing which shows the manufacturing method of the organic electroluminescent apparatus of the modification 1. FIG.

以下、本発明にかかる電気光学装置としての有機EL装置の製造方法について、図面を参照しつつ述べる。なお、以下の各図においては、各層や各部位を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部位の縮尺を実際とは異ならしめてある。   Hereinafter, a method for manufacturing an organic EL device as an electro-optical device according to the present invention will be described with reference to the drawings. In the following drawings, the scale of each layer and each part is different from the actual scale so that each layer and each part can be recognized on the drawing.

(実施形態)
まず、本実施形態及び後述する第2の実施形態の対象となる有機EL装置及び有機ELパネルについて述べる。図3は、有機EL装置55の概略を示す模式断面図である。図示するように、有機EL装置55は後述する有機ELパネル53を保護シートで被い、外部の駆動回路等と導通させるための回路基板等を加えて構成されている。すなわち、有機ELパネル53の素子基板10上に形成された接続端子58に配線基板59を接続し、さらに、有機ELパネル53の対向基板11側を第2の保護シート9で被い、素子基板10側を第1の保護シート8で被うことで構成されている。上記双方の保護シート(8,9)間の隙間、及び、端部の合わせ目等には封止樹脂84が充填されており、気密性等が担保されている。
(Embodiment)
First, an organic EL device and an organic EL panel that are targets of the present embodiment and a second embodiment to be described later will be described. FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing an outline of the organic EL device 55. As shown in the figure, the organic EL device 55 is configured by covering a later-described organic EL panel 53 with a protective sheet and adding a circuit board and the like for conducting with an external drive circuit and the like. That is, the wiring board 59 is connected to the connection terminal 58 formed on the element substrate 10 of the organic EL panel 53, and the counter substrate 11 side of the organic EL panel 53 is covered with the second protective sheet 9, and the element substrate is covered. It is configured by covering the 10 side with the first protective sheet 8. Sealing resin 84 is filled in the gaps between the two protective sheets (8, 9), the joints of the end portions, and the like, and airtightness is ensured.

有機EL装置55は、携帯電話機等の表示画面等、あるいは電子ブック等に用いられる。かかる用途に用いられる場合には、若干の衝撃、及び曲げ応力等が加えられる可能性が高い。有機EL装置55は、それに耐える構造であることが必要とされている。   The organic EL device 55 is used for a display screen of a mobile phone or the like, or an electronic book. When used in such applications, there is a high possibility that a slight impact, bending stress and the like are applied. The organic EL device 55 is required to have a structure that can withstand it.

図4は、本実施形態にかかる製造方法の対象となる薄型表示装置としての有機EL装置の主要な構成要素である電気光学パネルとしての有機ELパネル53の模式断面図である。図示するように、有機ELパネル53は、素子基板10と対向基板11、及びかかる一対の基板間に形成された各要素で構成されている。より具体的には、電気光学素子としての有機EL素子29等が形成された素子基板10とカラーフィルター層76が形成された対向基板11とが、シール材40及び接着層79を介して貼り合されて(対向配置されて)形成されている。   FIG. 4 is a schematic cross-sectional view of an organic EL panel 53 as an electro-optical panel, which is a main component of an organic EL device as a thin display device that is a target of the manufacturing method according to the present embodiment. As shown in the figure, the organic EL panel 53 includes an element substrate 10, a counter substrate 11, and each element formed between the pair of substrates. More specifically, the element substrate 10 on which the organic EL element 29 or the like as the electro-optic element is formed and the counter substrate 11 on which the color filter layer 76 is formed are bonded together via the sealing material 40 and the adhesive layer 79. And are formed so as to face each other.

また、本実施形態の製造方法は、上述の一対の基板はガラス製であり、薄型化のため、あるいは電子ブック等の可撓性を要する用途に用いるために、略40μmまで薄板化されている。なお、以下の記載において素子基板10の接着層79側を「上」又は「上方」と表記する。後述するシール材40の層厚(高さ)は略15〜20μmである。したがって、有機ELパネル53の厚さは略100μmである。   In the manufacturing method of the present embodiment, the pair of substrates described above are made of glass, and are thinned to approximately 40 μm in order to reduce the thickness or use in applications that require flexibility such as an electronic book. . In the following description, the adhesive layer 79 side of the element substrate 10 is referred to as “upper” or “upper”. The layer thickness (height) of the sealing material 40 to be described later is approximately 15 to 20 μm. Therefore, the thickness of the organic EL panel 53 is approximately 100 μm.

図示するように、素子基板10上には駆動用TFT(以下、単に「TFT」と称する。)112と周辺回路57が形成されている。そして、周辺回路57上には接続端子58が形成されている。TFT112は、半導体層21と、Ti(チタン)あるいはAlCu(アルミニウム・銅合金)等からなる導電体層をパターニングして形成されたゲート電極23、及び、半導体層21とゲート電極23との間に形成されたゲート絶縁層70等からなる。半導体層21のうちゲート電極23と平面視で重なる領域がチャネル領域22であり、該チャネル領域の両側にソース領域25とドレイン領域26とが形成されている。   As shown in the figure, a driving TFT (hereinafter simply referred to as “TFT”) 112 and a peripheral circuit 57 are formed on the element substrate 10. A connection terminal 58 is formed on the peripheral circuit 57. The TFT 112 includes a semiconductor layer 21, a gate electrode 23 formed by patterning a conductor layer made of Ti (titanium) or AlCu (aluminum / copper alloy), and the like, and a gap between the semiconductor layer 21 and the gate electrode 23. The gate insulating layer 70 is formed. A region of the semiconductor layer 21 that overlaps the gate electrode 23 in plan view is a channel region 22, and a source region 25 and a drain region 26 are formed on both sides of the channel region.

周辺回路57はゲート電極23に導通している走査線駆動回路等の、後述する有機EL素子群12の周辺に形成された回路群であり、平面視で枠状のシール材40の内側に形成された有機EL素子群12と、シール材40の外側に存在する駆動装置等との導通を果たしている。接続端子58は上述の図3に示す配線基板59と周辺回路57とを接続させる機能を果たしている。   The peripheral circuit 57 is a circuit group formed around the organic EL element group 12 described later, such as a scanning line driving circuit that is electrically connected to the gate electrode 23, and is formed inside the frame-shaped sealing material 40 in plan view. The conducted organic EL element group 12 is electrically connected to a driving device or the like existing outside the sealing material 40. The connection terminal 58 functions to connect the wiring board 59 and the peripheral circuit 57 shown in FIG.

TFT112の上層には、窒化シリコン、又は酸化シリコン等の無機絶縁材料とアクリル樹脂等の有機系材料とを積層した層間絶縁層71が形成されている。ドレイン領域26には、層間絶縁層71を局所的にエッチングして形成されたコンタクトホール27を介して、画素電極35が電気的に接続されている。画素電極35の形成材料は後述する陰極19よりも仕事関数が高いことが必要であり、かつ、導電性が必要である。そのため、画素電極35は透明導電材料であるITO(酸化インジウム・錫合金)で形成されている。   Over the TFT 112, an interlayer insulating layer 71 is formed by laminating an inorganic insulating material such as silicon nitride or silicon oxide and an organic material such as acrylic resin. A pixel electrode 35 is electrically connected to the drain region 26 through a contact hole 27 formed by locally etching the interlayer insulating layer 71. The material for forming the pixel electrode 35 is required to have a work function higher than that of the cathode 19 described later, and also needs to be conductive. Therefore, the pixel electrode 35 is formed of ITO (indium oxide / tin alloy) which is a transparent conductive material.

画素電極35の下層には、後述する発光機能層15から素子基板10側へ射出される光を上方に反射する反射層13と該反射層を覆う保護層28とが形成されている。反射層13の形成材料は、反射率が高く加工性(パターニング性)に優れた材料が好ましい。したがって、有機ELパネル53の反射層13は、Al(アルミニウム)等で形成されている。また、保護層28は、窒化シリコン等のITOのエッチャントに対して耐性(選択性)のある材料で形成されている。   Under the pixel electrode 35, a reflective layer 13 that reflects light emitted from the light emitting functional layer 15 described later to the element substrate 10 side upward and a protective layer 28 that covers the reflective layer are formed. The material for forming the reflective layer 13 is preferably a material having high reflectivity and excellent workability (patterning property). Therefore, the reflective layer 13 of the organic EL panel 53 is formed of Al (aluminum) or the like. The protective layer 28 is made of a material that is resistant (selective) to an ITO etchant such as silicon nitride.

画素電極35は、上述のTFT112毎に1つずつ形成されている。したがって、画素電極35は島状にパターニングされており、隣り合う該電極とは電気的に互いに独立している。そして、平面視で画素電極35が形成されていない領域には、隔壁74が形成されている。隔壁74はアクリル樹脂等の絶縁性材料層をパターニングして形成されており、隣り合う画素電極35間の絶縁を担保している。   One pixel electrode 35 is formed for each TFT 112 described above. Therefore, the pixel electrode 35 is patterned in an island shape, and the adjacent electrodes are electrically independent from each other. A partition wall 74 is formed in a region where the pixel electrode 35 is not formed in plan view. The partition wall 74 is formed by patterning an insulating material layer such as an acrylic resin, and ensures insulation between adjacent pixel electrodes 35.

画素電極35と隔壁74とが形成された素子基板10の上層には、発光機能層15が全面的に形成されている。発光機能層15は総称であり、具体的には素子基板10側から順に正孔注入層と正孔輸送層と有機EL層と電子輸送層との計4層が積層されて形成されている。後述するように有機ELパネル53はカラーフィルターで3原色光を得ているため、発光機能層15は通電により白色光を射出する白色発光機能層である。   The light emitting functional layer 15 is entirely formed on the element substrate 10 on which the pixel electrode 35 and the partition wall 74 are formed. The light emitting functional layer 15 is a generic name, and specifically, a total of four layers of a hole injection layer, a hole transport layer, an organic EL layer, and an electron transport layer are laminated in order from the element substrate 10 side. As will be described later, since the organic EL panel 53 obtains the three primary color lights with the color filter, the light emitting functional layer 15 is a white light emitting functional layer that emits white light when energized.

発光機能層15の上層には、共通電極としての陰極19が全面的に形成されている。有機ELパネル53はトップエミッション型であるため、陰極19は導電性とともに透明性(透光性)が必要とされる。そして、電子注入性を確保するために、発光機能層15との界面に画素電極35の形成材料よりも仕事係数が低い材料層を電子注入層として備えることが好ましい。そこで、有機ELパネル53においては、電子注入層としてAlを2nm、LiF(フッ化リチウム)を1nm積層した上に陰極19としてITOを積層して、透明性と電子注入性を確保している。陰極19と発光機能層15と画素電極35との積層体が有機EL素子29である。TFT112を介して画素電極35に電圧が印加されると該画素電極と陰極19との間に発光機能層15を介して電流が流れ、発光機能層15に含まれる有機EL層は電流量に応じて発光する。   A cathode 19 as a common electrode is formed on the entire surface of the light emitting functional layer 15. Since the organic EL panel 53 is a top emission type, the cathode 19 needs to be transparent (translucent) as well as conductive. In order to ensure the electron injection property, it is preferable that a material layer having a work coefficient lower than that of the material for forming the pixel electrode 35 is provided as an electron injection layer at the interface with the light emitting functional layer 15. Therefore, in the organic EL panel 53, as the electron injection layer, 2 nm of Al and 1 nm of LiF (lithium fluoride) are stacked, and ITO is stacked as the cathode 19 to ensure transparency and electron injection. A laminated body of the cathode 19, the light emitting functional layer 15, and the pixel electrode 35 is an organic EL element 29. When a voltage is applied to the pixel electrode 35 via the TFT 112, a current flows between the pixel electrode and the cathode 19 via the light emitting functional layer 15, and the organic EL layer included in the light emitting functional layer 15 corresponds to the amount of current. Flashes.

素子基板10上に規則的に形成された有機EL素子29及び隔壁74の上層には、封止層78が形成されている。封止層78は単層であるように図示されているが、実際には陰極19の上層から順に形成された陰極保護層と有機緩衝層とガスバリア層との計3層を少なくとも含む積層体である。   A sealing layer 78 is formed on the organic EL elements 29 and the partition walls 74 regularly formed on the element substrate 10. Although the sealing layer 78 is illustrated as a single layer, it is actually a laminate including at least three layers of a cathode protective layer, an organic buffer layer, and a gas barrier layer formed in order from the upper layer of the cathode 19. is there.

対向基板11の素子基板10側にはカラーフィルター層76が形成されている。カラーフィルター層76は、各々の有機EL素子29に対向する位置に形成されたカラーフィルター75(r,g,b)と該カラーフィルター間に形成された遮光性材料からなるブラックマトリクス75kとオーバーコート層77とを備えている。カラーフィルター75(r,g,b)は所定の波長範囲の光を透過させ他の波長範囲の光を吸収することで、白色光から有色光を得ることができる。小文字のアルファベット(r,g,b)は透過させる波長範囲の光が該当する色を示している。有機EL素子29自体は、射出する光の色による構造の差異は無く、各有機EL素子が射出する光の色はカラーフィルター75(r,g,b)によって決定されている。各々の有機EL素子29がカラーフィルター層76を介して3原色光の何れかを任意の強度で射出することで、対向基板11側の面である表示面にカラー画像が形成(表示)される。   A color filter layer 76 is formed on the counter substrate 11 on the element substrate 10 side. The color filter layer 76 includes a color filter 75 (r, g, b) formed at a position facing each organic EL element 29, a black matrix 75k made of a light-shielding material formed between the color filters, and an overcoat. Layer 77. The color filter 75 (r, g, b) can obtain colored light from white light by transmitting light in a predetermined wavelength range and absorbing light in other wavelength ranges. Lower case alphabets (r, g, b) indicate colors corresponding to light in the wavelength range to be transmitted. The organic EL element 29 itself has no structural difference depending on the color of the emitted light, and the color of the light emitted by each organic EL element is determined by the color filter 75 (r, g, b). Each of the organic EL elements 29 emits one of the three primary colors with an arbitrary intensity through the color filter layer 76, whereby a color image is formed (displayed) on the display surface that is the surface on the counter substrate 11 side. .

上述の表示面は略矩形であり、有機EL素子29も該表示面に合せて略矩形の領域内にひとつのまとまりとして規則的に形成されている。かかるまとまりが、電気光学素子群としての有機EL素子群12である。そして、シール材40は、有機EL素子群12と図示を省略した一部の周辺回路を平面視で囲むように形成されている。そして該シール材に囲まれた領域内には、接着材料が充填されて接着層79が形成されている。   The display surface described above has a substantially rectangular shape, and the organic EL elements 29 are also regularly formed as a single unit in a substantially rectangular region in accordance with the display surface. Such a group is an organic EL element group 12 as an electro-optical element group. The sealing material 40 is formed so as to surround the organic EL element group 12 and some peripheral circuits not shown in plan view. The region surrounded by the sealing material is filled with an adhesive material to form an adhesive layer 79.

シール材40は、素子基板10上に印刷法等によって未硬化のシール材層を形成し、対向基板11を対向配置した後、該未硬化のシール材層を硬化させることで形成される。そして、有機ELパネル53のシール材40は、図示するように外周線、すなわち外側の線が平面視で対向基板11の端面と略一致するように形成されている。   The sealing material 40 is formed by forming an uncured sealing material layer on the element substrate 10 by a printing method or the like, disposing the counter substrate 11 so as to be opposed, and then curing the uncured sealing material layer. The sealing member 40 of the organic EL panel 53 is formed so that the outer peripheral line, that is, the outer line substantially coincides with the end surface of the counter substrate 11 in plan view as shown in the figure.

図5は、シール材40の外周線と対向基板11の端面との関係を示す概略平面図である。図5(a)は対向基板11が長軸方向(図における縦方向)と短軸方向(図における横方向)の双方で素子基板10よりも小さい態様を示しており、図5(b)は対向基板11が短軸方向では素子基板10と略同一の長さである態様を示している。
双方の態様とも、シール材40は、図における下側の1辺において有機EL素子群12と接続端子58との間を横切っている。そして該1辺では、シール材40の外周線と対向基板11の端面が略一致している。したがって、図1に示すような庇部50は生じていない。図5(b)に示す態様では、対向基板11が有する4辺の全ての端面が、シール材40の外周線と略一致しており、庇部50は生じていない。
FIG. 5 is a schematic plan view showing the relationship between the outer peripheral line of the sealing material 40 and the end face of the counter substrate 11. FIG. 5A shows a mode in which the counter substrate 11 is smaller than the element substrate 10 in both the major axis direction (vertical direction in the figure) and the minor axis direction (lateral direction in the figure), and FIG. In this embodiment, the counter substrate 11 has substantially the same length as the element substrate 10 in the minor axis direction.
In both aspects, the sealing material 40 crosses between the organic EL element group 12 and the connection terminal 58 on one lower side in the drawing. On the one side, the outer peripheral line of the sealing material 40 and the end surface of the counter substrate 11 substantially coincide. Therefore, the collar part 50 as shown in FIG. 1 is not produced. In the embodiment shown in FIG. 5B, all end faces of the four sides of the counter substrate 11 are substantially coincident with the outer peripheral line of the sealing material 40, and the flange portion 50 is not generated.

上述したように、庇部50の存在は、有機ELパネル53及びかかる有機ELパネルを備える有機EL装置55の信頼性を低下させ得る。上述の図1(b)に示すように、シール材40の外周線は蛇行しているため、対向基板11の端面とシール材40の外周線とを一致させることは困難である。本実施形態にかかる製造方法では、対向基板11を素子基板10にシール材40を介して貼り合せた後に該シール材の一部を取り除くことで、対向基板11の端面とシール材40の外周線とを一致させている。   As described above, the presence of the flange portion 50 can reduce the reliability of the organic EL panel 53 and the organic EL device 55 including the organic EL panel. As shown in FIG. 1B described above, since the outer peripheral line of the sealing material 40 is meandering, it is difficult to match the end surface of the counter substrate 11 with the outer peripheral line of the sealing material 40. In the manufacturing method according to the present embodiment, after the counter substrate 11 is bonded to the element substrate 10 via the seal material 40, a part of the seal material is removed, whereby the end surface of the counter substrate 11 and the outer peripheral line of the seal material 40 are removed. And match.

図6は、本実施形態の製造方法の概略を示す工程断面図である。以下工程順に述べる。
まず、図6(a)に示すように、第1基板1の一方の面上に有機EL素子群12と該有機EL素子群に対応する接続端子58、及び図示しない周辺回路等を形成する。そして、有機EL素子群12を被う封止層78を形成する。
FIG. 6 is a process cross-sectional view illustrating the outline of the manufacturing method of the present embodiment. This will be described below in the order of steps.
First, as shown in FIG. 6A, an organic EL element group 12, a connection terminal 58 corresponding to the organic EL element group, a peripheral circuit (not shown), and the like are formed on one surface of the first substrate 1. And the sealing layer 78 which covers the organic EL element group 12 is formed.

第1基板1は、1又は複数の将来的に素子基板10(図4参照)となる部分と、素子基板10の周囲を囲む部分であり将来的に素子基板10に該当しない部分である第1の不要部分101(図6(d)参照)と、を含んでいる。図示するように、第1基板1が複数の素子基板10を含んでいる場合、該第1基板はいわゆるマザー基板である。   The first substrate 1 is a portion that will be one or a plurality of future element substrates 10 (see FIG. 4) and a portion that surrounds the periphery of the element substrate 10 and is a portion that does not correspond to the element substrate 10 in the future. Unnecessary portion 101 (see FIG. 6D). As shown in the drawing, when the first substrate 1 includes a plurality of element substrates 10, the first substrate is a so-called mother substrate.

次に、図6(b)に示すように、それぞれの有機EL素子群12と封止層78の積層体の周囲を囲む、枠状のシール材層39を形成する。シール材層39は未硬化の段階のシール材料からなる層であり、将来的にシール材40となる部分と余分として取り除かれる部分とを含んでいる。そして、該枠状のシール材層内に接着材料を充填して接着層79を形成する。   Next, as shown in FIG. 6B, a frame-shaped sealing material layer 39 is formed so as to surround the periphery of the laminate of each organic EL element group 12 and the sealing layer 78. The sealing material layer 39 is a layer made of an uncured sealing material, and includes a portion that will become the sealing material 40 in the future and a portion that is removed as an extra. Then, the adhesive layer 79 is formed by filling the frame-shaped sealing material layer with an adhesive material.

次に、図6(c)に示すように、第1基板1上に、1又は複数の将来的に対向基板11となる部分を含む第2基板2を貼り合せて、貼り合せ体51を形成する。第2基板2は1又は複数の将来的に対向基板11となる部分と、該対向基板の周囲を囲む部分であり将来的に対向基板11とはならない部分である不要部分としての第2の不要部分111とを含んでいる。対向基板11(将来的に対向基板11となる部分)と第2の不要部分111との境界が境界線49である。図示するように、第2基板2が第1基板1と同様に複数の対向基板11を含んでいる場合、該第2基板はいわゆるマザー基板である。   Next, as shown in FIG. 6C, a bonded body 51 is formed on the first substrate 1 by bonding the second substrate 2 including one or more future portions to be the counter substrate 11. To do. The second substrate 2 is a second unnecessary portion that is an unnecessary portion that is a portion that will be the counter substrate 11 in the future and a portion that surrounds the periphery of the counter substrate and that will not be the counter substrate 11 in the future. Part 111. A boundary line 49 is a boundary between the counter substrate 11 (a portion that will become the counter substrate 11 in the future) and the second unnecessary portion 111. As shown in the drawing, when the second substrate 2 includes a plurality of counter substrates 11 like the first substrate 1, the second substrate is a so-called mother substrate.

なお、第2基板2が1つの対向基板(将来的に対向基板11となる部分)と該1つの対向基板の周囲を囲む第2の不要部分111とからなり、複数の有機EL素子群12が形成された第1基板1上に、該有機EL素子群毎に個々の第2基板2を貼り合せる態様も可能である。かかる場合は第1基板1のみがマザー基板である。また、大面積の有機ELパネルを形成する場合に第1基板1及び第2基板2の双方が素子基板10又は対向基板11を1つのみ含んでいる場合もあり得る。少なくとも第1基板1がマザー基板である場合、貼り合せ体51には複数の有機ELパネル53が含まれることとなる。   The second substrate 2 is composed of one counter substrate (a portion that will become the counter substrate 11 in the future) and a second unnecessary portion 111 surrounding the one counter substrate, and a plurality of organic EL element groups 12 are formed. An embodiment in which the individual second substrate 2 is bonded to each organic EL element group on the formed first substrate 1 is also possible. In such a case, only the first substrate 1 is a mother substrate. Further, when forming a large-area organic EL panel, both the first substrate 1 and the second substrate 2 may include only one element substrate 10 or counter substrate 11. When at least the first substrate 1 is a mother substrate, the bonded body 51 includes a plurality of organic EL panels 53.

境界線49、すなわち第2基板2における対向基板11と第2の不要部分111との境界と、第1基板1における素子基板10と第1の不要部分101との境界(符合無し)は、図5に示すように平面視で重なる部分(領域)と重ならない部分とがある。少なくとも、接続端子58が形成されている辺の側では一致しない。他の3辺では、図5(b)に示すように一致させることができる。   The boundary line 49, that is, the boundary between the counter substrate 11 and the second unnecessary portion 111 in the second substrate 2, and the boundary (no sign) between the element substrate 10 and the first unnecessary portion 101 in the first substrate 1 are shown in FIG. As shown in FIG. 5, there are a portion (region) that overlaps in a plan view and a portion that does not overlap. At least, the side where the connection terminal 58 is formed does not match. The other three sides can be matched as shown in FIG.

次に、図6(d)に示すように、シール材層39のうち、平面視で境界線49の内側の部分すなわち境界線49の有機EL素子群12側の部分を硬化させて硬化部分41とする。シール材層39のうち、境界線49の外側の部分は、未硬化部分42としてシール材層39の形成時の材質が維持される。未硬化部分42は境界線49の外側の部分であるため、平面視において第2の不要部分111に含まれている。   Next, as illustrated in FIG. 6D, a portion of the sealing material layer 39 inside the boundary line 49 in a plan view, that is, a portion of the boundary line 49 on the organic EL element group 12 side is cured to be a cured portion 41. And In the sealing material layer 39, the material outside the boundary line 49 is maintained as the uncured portion 42 when the sealing material layer 39 is formed. Since the uncured portion 42 is a portion outside the boundary line 49, it is included in the second unnecessary portion 111 in a plan view.

次に、図6(e)に示すように、第2基板2を対向基板11と第2の不要部分111とに分割する。そして、第2の不要部分111を未硬化部分42と共に取り除く。そして、第1基板1も素子基板10と第1の不要部分101とに分割して第1の不要部分101を取り除く。その結果有機ELパネル53が形成される。境界線49は、シール材層39における硬化部分41と未硬化部分42との境界に平面視で一致しているため、形成された有機ELパネルの対向基板11に庇部50(図1参照)は形成されない。   Next, as shown in FIG. 6E, the second substrate 2 is divided into a counter substrate 11 and a second unnecessary portion 111. Then, the second unnecessary portion 111 is removed together with the uncured portion 42. Then, the first substrate 1 is also divided into the element substrate 10 and the first unnecessary portion 101, and the first unnecessary portion 101 is removed. As a result, the organic EL panel 53 is formed. Since the boundary line 49 coincides with the boundary between the cured portion 41 and the uncured portion 42 in the sealing material layer 39 in plan view, the flange portion 50 (see FIG. 1) is formed on the counter substrate 11 of the formed organic EL panel. Is not formed.

図7及び図8は、本実施形態の有機EL装置の製造方法を、基板(素子基板10及び対向基板11)の端面を拡大し、かつシール材層39の硬化方法等をより詳細に示す工程断面図である。以下、工程順に述べる。   7 and 8 show the method of manufacturing the organic EL device according to the present embodiment in which the end surfaces of the substrates (the element substrate 10 and the counter substrate 11) are enlarged and the curing method of the sealing material layer 39 and the like are shown in more detail. It is sectional drawing. Hereinafter, it will be described in the order of steps.

まず、図7(a)に示すように、第1の工程として、第1基板1の一方の面上に有機EL素子群12と該有機EL素子群に対応する接続端子58、及び図示しない周辺回路等を形成する。そして、有機EL素子群12を被う封止層78を形成する。上述したように、第1基板1は素子基板10と第1の不要部分101を含んでいる。封止層78を形成後に、第2の工程として、紫外線硬化材料を用いて有機EL素子群12と封止層78の積層体の周囲を囲む、枠状のシール材層39を形成する。ここで紫外線硬化材料とは、紫外線の照射部と未照射部とで硬化の(硬度の)ON/OFF比が高い(大きい)材料を意味している。さらに、シール材層39の枠内に接着層79を形成する。   First, as shown in FIG. 7A, as a first step, an organic EL element group 12 and a connection terminal 58 corresponding to the organic EL element group on one surface of the first substrate 1 and a peripheral area (not shown). A circuit or the like is formed. And the sealing layer 78 which covers the organic EL element group 12 is formed. As described above, the first substrate 1 includes the element substrate 10 and the first unnecessary portion 101. After forming the sealing layer 78, as a second step, a frame-shaped sealing material layer 39 surrounding the periphery of the laminate of the organic EL element group 12 and the sealing layer 78 is formed using an ultraviolet curable material. Here, the ultraviolet curable material means a material having a high (large) ON / OFF ratio of curing (hardness) between an ultraviolet irradiated portion and an unirradiated portion. Further, an adhesive layer 79 is formed in the frame of the sealing material layer 39.

本実施形態においては、紫外線硬化材料として、主成分としてのエポキシ樹脂に、開始剤及び硬化剤としての光カチオン発生剤と接着剤及び添加剤としてのシランカップリング剤を混合した材料を用いている。主成分は接着性及び耐水性等のシール材としての基本的な機能を受け持つ材料であり、開始剤(硬化剤)は紫外線の照射により硬化を促進させる材料であり、接着剤(添加剤)は界面接着性を向上させる材料である。   In this embodiment, a material obtained by mixing an epoxy resin as a main component with a photocation generator as an initiator and a curing agent, an adhesive, and a silane coupling agent as an additive is used as an ultraviolet curable material. . The main component is a material that has basic functions as a sealing material such as adhesiveness and water resistance, the initiator (curing agent) is a material that promotes curing by irradiation with ultraviolet rays, and the adhesive (additive) is It is a material that improves interfacial adhesion.

次に、図7(b)に示すように、第3の工程として、対向基板11と該対向基板の周囲を囲む第2の不要部分111とを含む第2基板2を、第1基板1にシール材層39を介して貼り合せて貼り合せ体51を形成する。上述したように、そして図5に示すように、素子基板10及び対向基板11の双方は矩形である。したがって、対向基板11と第2の不要部分111との境界である境界線49は矩形の枠状である。そして本実施形態では、第1基板1の接続端子58が形成されていない側においては、素子基板10と第1の不要部分101との境界が、境界線49と平面視で一致している。   Next, as shown in FIG. 7B, as a third step, the second substrate 2 including the counter substrate 11 and the second unnecessary portion 111 surrounding the counter substrate is replaced with the first substrate 1. A bonded body 51 is formed by bonding through the sealing material layer 39. As described above and as shown in FIG. 5, both the element substrate 10 and the counter substrate 11 are rectangular. Therefore, the boundary line 49 that is the boundary between the counter substrate 11 and the second unnecessary portion 111 has a rectangular frame shape. In the present embodiment, on the side of the first substrate 1 where the connection terminals 58 are not formed, the boundary between the element substrate 10 and the first unnecessary portion 101 coincides with the boundary line 49 in plan view.

上述の貼り合せは、境界線49が平面視でシール材層39に含まれるように行う。したがって、上記第2の工程では、シール材層39は境界線49が含まれるように形成する。平面視において、シール材層39における境界線49の内側に位置する部分が将来的にシール材40(図4等参照)となる。したがって、かかる内側に位置する部分の幅(延在方向に垂直方向の寸法)が、シール材40としての機能を充分に果たせる寸法となるように、上記第2の工程ではシール材層39を形成する。   The above bonding is performed so that the boundary line 49 is included in the sealing material layer 39 in plan view. Therefore, in the second step, the sealing material layer 39 is formed so as to include the boundary line 49. In plan view, a portion of the sealing material layer 39 located inside the boundary line 49 will be the sealing material 40 (see FIG. 4 and the like) in the future. Therefore, the sealing material layer 39 is formed in the second step so that the width of the portion located on the inner side (dimension in the direction perpendicular to the extending direction) becomes a dimension that can sufficiently function as the sealing material 40. To do.

次に、図7(c)に示すように、第4の工程として、照射マスク61を介して、上述した紫外線硬化材料からなるシール材層39における境界線49の内側に位置する部分に紫外線62を照射する。そして、図8(d)に示すように、かかる紫外線62が照射された部分のシール材層39を硬化させて、硬化部分41とする。紫外線62は、上述するように境界線49の内側に位置する部分に選択的に照射されているため、該境界線の外側に位置する部分は硬化されず、未硬化部分42として残される。硬化部分41と未硬化部分42との境界は、平面視で境界線49と一致する。   Next, as shown in FIG. 7C, as a fourth step, the ultraviolet ray 62 is applied to the portion located inside the boundary line 49 in the sealing material layer 39 made of the ultraviolet curable material described above via the irradiation mask 61. Irradiate. Then, as shown in FIG. 8 (d), the portion of the sealing material layer 39 irradiated with the ultraviolet rays 62 is cured to form a cured portion 41. As described above, since the ultraviolet ray 62 is selectively applied to the portion located inside the boundary line 49, the portion located outside the boundary line is not cured and remains as an uncured portion 42. The boundary between the cured portion 41 and the uncured portion 42 coincides with the boundary line 49 in plan view.

照射マスク61は、ガラス基板に全面的に形成したクロム等の金属膜をパターニングして形成されており、紫外線62の透過領域と非透過領域とを直線状に区画できる。したがって、硬化部分41と未硬化部分42との境界の線は、図1(b)に示すような蛇行する線ではなく、直線状に形成される。また、第2基板2における境界線49の外側に位置する部分は第2の不要部分111である。したがって、平面視において未硬化部分42は第2の不要部分111に含まれる。   The irradiation mask 61 is formed by patterning a metal film made of chromium or the like formed on the entire surface of the glass substrate, and can divide the transmission region and the non-transmission region of the ultraviolet rays 62 linearly. Therefore, the boundary line between the cured portion 41 and the uncured portion 42 is not a meandering line as shown in FIG. Further, the portion of the second substrate 2 located outside the boundary line 49 is the second unnecessary portion 111. Therefore, the uncured portion 42 is included in the second unnecessary portion 111 in plan view.

次に、図8(e)に示すように、第2基板2に対して、レーザー照射装置63を用いてレーザー64を境界線49に沿うように照射する。そして、第2基板2の形成材料を基板面に対して垂直方向に少なくとも一部を改質して、境界線49と重なる第2のスクライブライン46を形成する。そして、同様の手法で、第1基板1においても、素子基板10と第1の不要部分101との境界の線に重なる第1のスクライブライン45を形成する。   Next, as shown in FIG. 8E, the second substrate 2 is irradiated with a laser 64 along a boundary line 49 using a laser irradiation device 63. Then, the material for forming the second substrate 2 is at least partially modified in the direction perpendicular to the substrate surface to form the second scribe line 46 that overlaps the boundary line 49. In the same manner, the first scribe line 45 that overlaps the boundary line between the element substrate 10 and the first unnecessary portion 101 is also formed on the first substrate 1.

レーザー64の照射条件は、(中心波長:266nm、パルス幅:20nsec、周波数:50kHz、平均出力:5W)である。上述の条件に替えて、(中心波長:355nm、パルス幅:0.015nsec、周波数:80kHz、平均出力:5W)のレーザーを用いてもよい。   The irradiation conditions of the laser 64 are (center wavelength: 266 nm, pulse width: 20 nsec, frequency: 50 kHz, average output: 5 W). Instead of the above-described conditions, a laser having (center wavelength: 355 nm, pulse width: 0.015 nsec, frequency: 80 kHz, average output: 5 W) may be used.

次に、図8(f)に示すように、第5の工程として、第2基板2に対して第2のスクライブライン46に沿うように応力を加えて、第2基板2を第2のスクライブライン46で分断する。そして第2の不要部分111を取り除き、同時に未硬化部分42も取り除く。同様に、第1基板1に対して第1のスクライブライン45に沿うように応力を加えて、第1基板1を第1のスクライブライン45で分断する。そして第1の不要部分101を取り除く。以上の工程で有機ELパネル53が形成される。   Next, as shown in FIG. 8F, as a fifth step, stress is applied to the second substrate 2 along the second scribe line 46 to cause the second substrate 2 to be second scribed. Divide at line 46. Then, the second unnecessary portion 111 is removed, and at the same time, the uncured portion 42 is also removed. Similarly, stress is applied to the first substrate 1 along the first scribe line 45, and the first substrate 1 is divided by the first scribe line 45. Then, the first unnecessary portion 101 is removed. The organic EL panel 53 is formed through the above steps.

ここで、シール材層39の硬化部分41は、硬化により素子基板10及び対向基板11、すなわち不要部分(101,111)を含まない部分と接着されている。したがって、上記双方の不要部分(101,111)を取り除く際にも素子基板10と対向基板11との間に残り、シール材40となる。   Here, the cured portion 41 of the sealing material layer 39 is bonded to the element substrate 10 and the counter substrate 11, that is, the portion not including unnecessary portions (101, 111) by curing. Therefore, even when both of the unnecessary portions (101, 111) are removed, it remains between the element substrate 10 and the counter substrate 11 and becomes the sealing material 40.

上述したように、第2のスクライブライン46は境界線49に沿って形成されているため、シール材層39の硬化部分41と未硬化部分42との境界と、対向基板11と第2の不要部分111との境界と、は平面視で略一致している。また、上記の第4の工程すなわちシール材層39の選択的な硬化工程は紫外線の照射で行われるため、加熱等による硬化とは異なり未硬化部分42と硬化部分41との境界面が明確に形成される。したがって、不要部分(101,111)を取り除く際には、未硬化部分42を同時に、すなわちいずれかの不要部分に付着した形で取り除くことができる。したがって、対向基板11の外周線とシール材40の外周線とが略一致しており、対向基板11の端面の突出、すなわち庇部50が形成されていない有機ELパネル53が得られる。   As described above, since the second scribe line 46 is formed along the boundary line 49, the boundary between the cured portion 41 and the uncured portion 42 of the sealing material layer 39, the counter substrate 11 and the second unnecessary portion. The boundary with the portion 111 substantially coincides with the plan view. Further, since the fourth step, that is, the selective curing step of the sealing material layer 39 is performed by ultraviolet irradiation, the boundary surface between the uncured portion 42 and the cured portion 41 is clearly different from curing by heating or the like. It is formed. Therefore, when removing the unnecessary portions (101, 111), the uncured portion 42 can be removed at the same time, that is, in a form attached to any of the unnecessary portions. Therefore, the outer peripheral line of the counter substrate 11 and the outer peripheral line of the sealing material 40 substantially coincide with each other, and the organic EL panel 53 in which the protrusion of the end surface of the counter substrate 11, that is, the flange portion 50 is not formed, is obtained.

また、素子基板10側においても、接続端子58が形成されている側を除き、第1のスクライブライン45を、シール材層39の硬化部分41と未硬化部分42との境界の線と、平面視で略一致するように形成することにより、素子基板10の端面が突出することを抑制している。したがって、本実施形態で得られた有機ELパネル53は、素子基板10側においても上記端面において上述のクラック等の発生が低減されており、信頼性が向上している。   Also on the element substrate 10 side, except for the side where the connection terminal 58 is formed, the first scribe line 45 is connected to the boundary line between the hardened portion 41 and the uncured portion 42 of the sealing material layer 39 and a flat surface. Protrusion of the end face of the element substrate 10 is suppressed by forming it so as to be substantially coincident with each other. Therefore, in the organic EL panel 53 obtained in this embodiment, the occurrence of the above-described cracks and the like is reduced on the end face also on the element substrate 10 side, and the reliability is improved.

仮に、従来の製造方法において第2のスクライブライン46を平面視でシール材40の外周線の内側に形成した場合、第2の不要部分111を取り除く際にシール材を損傷させ、封止性、耐水性等を損なう可能性がある。したがって、有機ELパネル53の信頼性に影響を与えずに、庇部50が形成されることを抑制することは困難である。また、上記図1(b)に示すように、従来のシール材40の外周線は蛇行しているため、第2のスクライブライン46と該外周線とを平面視で重ねる(一致させる)ことは不可能である。   If the second scribe line 46 is formed inside the outer peripheral line of the sealing material 40 in plan view in the conventional manufacturing method, the sealing material is damaged when the second unnecessary portion 111 is removed, There is a possibility of impairing water resistance. Therefore, it is difficult to suppress the formation of the flange portion 50 without affecting the reliability of the organic EL panel 53. Further, as shown in FIG. 1B, the outer peripheral line of the conventional sealing material 40 meanders, and therefore the second scribe line 46 and the outer peripheral line are overlapped (matched) in plan view. Impossible.

本実施形態にかかる製造方法であれば、最終的にシール材40となる硬化部分41の外周線(すなわち硬化部分41と未硬化部分42との境界の線)を直線状に形成できるため、若干の工程数及び製造コストの増加のみで、信頼性の向上した有機ELパネル53及びかかる有機ELパネルを備える有機EL装置55を形成できる。   If it is the manufacturing method concerning this embodiment, since the outer periphery line (namely, the line of the boundary of the hardening part 41 and the non-hardening part 42) of the hardening part 41 which finally becomes the sealing material 40 can be formed linearly, The organic EL panel 53 with improved reliability and the organic EL device 55 including the organic EL panel can be formed only by increasing the number of steps and the manufacturing cost.

本発明の実施の形態は上述の実施形態に限定されるものではなく、種々の変更や改良を加えた変形例として実施することも可能である。変形例を以下に述べる。   Embodiment of this invention is not limited to the above-mentioned embodiment, It is also possible to implement as a modification which added various change and improvement. A modification will be described below.

(変形例1)
上述の実施形態では、素子基板10及び対向基板11の双方が大面積の基板(第1基板1及び第2基板2)から切り出されて、すなわち不要部分(101,111)を取り除かれて形成されている。しかし本発明は、対向基板11のみが大面積の基板から切り出されるような態様でも実現可能である。以下、かかる態様を変形例1として示す。
(Modification 1)
In the above-described embodiment, both the element substrate 10 and the counter substrate 11 are formed by cutting out the large-area substrates (first substrate 1 and second substrate 2), that is, removing unnecessary portions (101, 111). ing. However, the present invention can also be realized in a mode in which only the counter substrate 11 is cut out from a large-area substrate. Hereinafter, this mode is shown as a first modification.

図9及び図10は、変形例1の製造方法を示す工程断面図である。以下、工程順に述べる。まず、図9(a)に示すように、上述の第1の工程と同様に、素子基板10上に有機EL素子群12と該有機EL素子群に対応する接続端子58、及び図示しない周辺回路等を形成する。そして、有機EL素子群12を被う封止層78を形成する。上述したように、本工程の段階で素子基板10は得られており、本変形例では第1基板1(図7等参照)と言う概念は用いていない。封止層78を形成後に、上述の第2の工程と同様に、紫外線硬化材料を用いて有機EL素子群12と封止層78の積層体の周囲を囲む、枠状のシール材層39を形成する。紫外線硬化材料の成分等も上述の第2の工程と同様である。   9 and 10 are process cross-sectional views illustrating the manufacturing method of the first modification. Hereinafter, it will be described in the order of steps. First, as shown in FIG. 9A, as in the first step, the organic EL element group 12 and the connection terminal 58 corresponding to the organic EL element group on the element substrate 10 and a peripheral circuit (not shown) Etc. And the sealing layer 78 which covers the organic EL element group 12 is formed. As described above, the element substrate 10 is obtained at the stage of this process, and the concept of the first substrate 1 (see FIG. 7 and the like) is not used in this modification. After forming the sealing layer 78, similarly to the second step described above, a frame-shaped sealing material layer 39 surrounding the laminate of the organic EL element group 12 and the sealing layer 78 using an ultraviolet curable material is formed. Form. The components of the ultraviolet curable material are the same as those in the second step.

次に、図9(b)に示すように、上述の第3の工程と同様に対向基板11と該対向基板の周囲を囲む第2の不要部分111とを含み、カラーフィルター層76が形成された第2基板2を、素子基板10にシール材層39を介して貼り合せる。上述したように、対向基板11と第2の不要部分111との境界である境界線49は、平面視でシール材層39内に位置している。   Next, as shown in FIG. 9B, the color filter layer 76 is formed including the counter substrate 11 and the second unnecessary portion 111 surrounding the counter substrate in the same manner as the third step described above. The second substrate 2 is bonded to the element substrate 10 via the sealing material layer 39. As described above, the boundary line 49 that is the boundary between the counter substrate 11 and the second unnecessary portion 111 is located in the sealing material layer 39 in plan view.

次に、図9(c)に示すように、上述の第4の工程と同様に照射マスク61を介して、シール材層39における境界線49の内側に位置する部分に紫外線62を照射する。そして、図10(d)に示すように、かかる紫外線62が照射された部分のシール材層39を硬化させて、硬化部分41とする。   Next, as shown in FIG. 9C, the portion of the sealing material layer 39 located on the inner side of the boundary line 49 is irradiated with ultraviolet rays 62 through the irradiation mask 61 as in the fourth step described above. Then, as shown in FIG. 10 (d), the portion of the sealing material layer 39 irradiated with the ultraviolet rays 62 is cured to form a cured portion 41.

次に、図10(e)に示すように、第2基板2に対して、レーザー照射装置63を用いてレーザー64を照射して、第2基板2に境界線49と重なる第2のスクライブライン46を形成する。素子基板10側は不要部分を含んでいないため、スクライブラインは形成されない。レーザーの照射条件等は上述の実施形態と同様である。   Next, as shown in FIG. 10 (e), the second substrate 2 is irradiated with a laser 64 using a laser irradiation device 63, and a second scribe line that overlaps the boundary line 49 on the second substrate 2. 46 is formed. Since the element substrate 10 side does not include an unnecessary portion, a scribe line is not formed. Laser irradiation conditions and the like are the same as in the above-described embodiment.

次に、図10(f)に示すように、第5の工程として、第2基板2を第2のスクライブライン46で分断する。そして第2の不要部分111を取り除き、有機ELパネル53を形成する。   Next, as shown in FIG. 10F, as the fifth step, the second substrate 2 is divided by the second scribe line 46. Then, the second unnecessary portion 111 is removed, and the organic EL panel 53 is formed.

このような製造方法であれば、素子基板10側にスクライブラインを形成する必要が無い場合においても、対向基板11側に庇部50(図1参照)が形成されることを抑制できる。また、レーザー64の照射を対向基板11側のみに限定できる。したがって、製造コストの増加を抑制しつつ、信頼性の向上した面積の有機ELパネル53を得ることができる。   With such a manufacturing method, even when it is not necessary to form a scribe line on the element substrate 10 side, it is possible to suppress the formation of the flange 50 (see FIG. 1) on the counter substrate 11 side. Further, the irradiation of the laser 64 can be limited only to the counter substrate 11 side. Therefore, it is possible to obtain the organic EL panel 53 having an area with improved reliability while suppressing an increase in manufacturing cost.

(変形例2)
上述の実施形態では、スクライブライン(45,46)は基板(第1基板1及び第2基板2)の深さ方向の一部まで形成し、基板の分断は別途押し圧を加えることで行っている。しかし、レーザー照射の出力を増加させることで、基板を貫通するようにスクライブラインを形成してもよい。レーザーを照射する工程と基板を分断する工程をまとめることができ、製造工程を簡略化できる。また、スクライブラインの形成をレーザーの照射ではなく、他の手段、例えば刃を用いて押し圧を加えてガラスを深さ方向に塑性変形させる手段を用いてもよい。
(Modification 2)
In the above-described embodiment, the scribe lines (45, 46) are formed up to a part of the depth direction of the substrate (the first substrate 1 and the second substrate 2), and the substrate is divided by separately applying a pressing pressure. Yes. However, the scribe line may be formed so as to penetrate the substrate by increasing the output of the laser irradiation. The process of irradiating the laser and the process of dividing the substrate can be combined, and the manufacturing process can be simplified. The scribe line may be formed not by laser irradiation but by other means, for example, a means for applying plastic pressure using a blade to plastically deform the glass in the depth direction.

(変形例3)
上述の実施形態では、電気光学装置として有機EL装置を例に記載しているが、本発明の実施の形態は他の表示装置、例えば液晶表示装置を対象としても実施可能である。液晶表示装置においても薄型化の進展に伴い上記「背景」に記載したような問題が発生し得るが、上述の実施形態に記載した製造方法により庇部50が形成されることを抑制することで、信頼性を向上できる。
(Modification 3)
In the above-described embodiment, the organic EL device is described as an example of the electro-optical device. However, the embodiment of the present invention can be implemented for other display devices, for example, liquid crystal display devices. In the liquid crystal display device, the problem as described in the above “background” may occur with the progress of thinning, but by suppressing the formation of the flange portion 50 by the manufacturing method described in the above embodiment. , Can improve the reliability.

1…第1基板、2…第2基板、8…第1の保護シート、9…第2の保護シート、10…素子基板、11…対向基板、12…電気光学素子群としての有機EL素子群、13…反射層、15…発光機能層、19…陰極、21…半導体層、22…チャネル領域、23…ゲート電極、25…ソース領域、26…ドレイン領域、27…コンタクトホール、28…保護層、29…有機EL素子、35…画素電極、39…シール材層、40…シール材、41…硬化部分、42…未硬化部分、45…第1のスクライブライン、46…第2のスクライブライン、49…境界線、50…庇部、51…貼り合せ体、53…有機ELパネル、55…電気光学装置としての有機EL装置、57…周辺回路、58…接続端子、59…配線基板
61…照射マスク、62…紫外線、63…レーザー照射装置、64…レーザー、70…ゲート絶縁層、71…層間絶縁層、74…隔壁、75…カラーフィルター、75k…ブラックマトリクス、76…カラーフィルター層、77…オーバーコート層、78…封止層、79…接着層、84…封止樹脂、101…第1の不要部分、111…不要部分としての第2の不要部分、112…TFT。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... 1st board | substrate, 2 ... 2nd board | substrate, 8 ... 1st protective sheet, 9 ... 2nd protective sheet, 10 ... Element board | substrate, 11 ... Opposite substrate, 12 ... Organic EL element group as an electro-optic element group , 13 ... reflective layer, 15 ... light emitting functional layer, 19 ... cathode, 21 ... semiconductor layer, 22 ... channel region, 23 ... gate electrode, 25 ... source region, 26 ... drain region, 27 ... contact hole, 28 ... protective layer 29 ... Organic EL element, 35 ... Pixel electrode, 39 ... Sealing material layer, 40 ... Sealing material, 41 ... Cured portion, 42 ... Uncured portion, 45 ... First scribe line, 46 ... Second scribe line, DESCRIPTION OF SYMBOLS 49 ... Borderline, 50 ... Butt part, 51 ... Bonded body, 53 ... Organic EL panel, 55 ... Organic EL device as electro-optical device, 57 ... Peripheral circuit, 58 ... Connection terminal, 59 ... Wiring board 61 ... Irradiation Mask, 62 ... UV 63 ... Laser irradiation device, 64 ... Laser, 70 ... Gate insulating layer, 71 ... Interlayer insulating layer, 74 ... Partition wall, 75 ... Color filter, 75k ... Black matrix, 76 ... Color filter layer, 77 ... Overcoat layer, 78 DESCRIPTION OF SYMBOLS ... Sealing layer, 79 ... Adhesive layer, 84 ... Sealing resin, 101 ... 1st unnecessary part, 111 ... 2nd unnecessary part as an unnecessary part, 112 ... TFT.

Claims (5)

第1基板の一方の面上に電気光学素子群を形成する第1の工程と、
前記電気光学素子群を囲むように紫外線硬化材料からなるシール材層を形成する第2の工程と、
前記第1基板に、対向基板と該対向基板の周囲を囲む不要部分とを含む第2基板を、前記対向基板と前記不要部分との境界線が前記シール材層に平面視で収まるように前記シール材層を介して貼り合せる第3の工程と、
前記シール材層の、平面視で前記境界線の内側となる領域に紫外線を照射して、該内側の領域における前記シール材層を硬化させる第4の工程と、
前記第2基板を前記境界線で分割して、前記第1基板と前記第2基板との貼り合せ体から前記第2基板のうちの前記不要部分と、前記シール材層のうちの該不要部分と重なる部分と、を取り除く第5の工程と、
を順に実施することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A first step of forming an electro-optic element group on one surface of the first substrate;
A second step of forming a sealing material layer made of an ultraviolet curable material so as to surround the electro-optic element group;
A second substrate including a counter substrate and an unnecessary portion surrounding the periphery of the counter substrate is disposed on the first substrate, and the boundary line between the counter substrate and the unnecessary portion is accommodated in the sealing material layer in a plan view. A third step of bonding through a sealing material layer;
A fourth step of curing the sealing material layer in the inner region by irradiating ultraviolet rays to the inner region of the boundary line in a plan view of the sealing material layer;
The second substrate is divided at the boundary line, and the unnecessary portion of the second substrate and the unnecessary portion of the sealing material layer are formed from a bonded body of the first substrate and the second substrate. A fifth step of removing the overlapping part,
Are sequentially performed. A method for manufacturing an electro-optical device.
請求項1に記載の電気光学装置の製造方法であって、
前記第1基板は前記電気光学素子群が形成される素子基板と該素子基板の周囲を囲む不要部分とを含み、
前記素子基板及び前記対向基板は矩形であり前記素子基板の有する4辺のうちの少なくとも1辺は前記対向基板の外形線と重なっており、
前記第5の工程は、前記第1基板と前記第2基板との貼り合せ体から、前記第2基板のうちの前記不要部分と共に前記第1基板のうちの前記不要部分も取り除く工程であることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A method of manufacturing the electro-optical device according to claim 1,
The first substrate includes an element substrate on which the electro-optic element group is formed and an unnecessary portion surrounding the element substrate,
The element substrate and the counter substrate are rectangular, and at least one of the four sides of the element substrate overlaps the outline of the counter substrate,
The fifth step is a step of removing the unnecessary portion of the first substrate together with the unnecessary portion of the second substrate from the bonded body of the first substrate and the second substrate. A method for manufacturing an electro-optical device.
請求項2に記載の電気光学装置の製造方法であって、
前記素子基板の有する4辺のうちの3辺は前記対向基板の外形線と重なっており、かつ残りの1辺の側は平面視で前記対向基板から張り出す張り出し部を構成しており、
前記第1の工程は、前記電気光学素子群とともに、前記張り出し部に前記電気光学素子群と外部の駆動回路との接点となる接続端子群を形成する工程であり、
前記第2の工程は、前記シール材層が平面視で前記電気光学素子群と前記接続端子群との間を横切るように該シール材層を形成する工程であることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A method of manufacturing the electro-optical device according to claim 2,
Three of the four sides of the element substrate overlap with the outline of the counter substrate, and the remaining one side constitutes a projecting portion that projects from the counter substrate in plan view,
The first step is a step of forming a connection terminal group serving as a contact point between the electro-optical element group and an external drive circuit in the projecting portion together with the electro-optical element group.
The second step is a step of forming the sealing material layer so that the sealing material layer crosses between the electro-optical element group and the connection terminal group in a plan view. Manufacturing method.
請求項1〜3のいずれか1項に記載の電気光学装置の製造方法であって、
前記第5の工程は、レーザーの照射により前記素子基板及び/又は前記対向基板の基板面に垂直方向の一部を改質してスクライブラインを形成した後、該スクライブラインに沿って応力を加えることで前記不要部分を分割除去する工程であることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
The method for manufacturing an electro-optical device according to claim 1,
In the fifth step, a scribe line is formed by modifying a part of the element substrate and / or the substrate surface of the counter substrate in the vertical direction by laser irradiation, and then stress is applied along the scribe line. Thus, the method for manufacturing the electro-optical device is a step of removing the unnecessary portion in a divided manner.
請求項1〜4のいずれか1項に記載の製造方法で形成された電気光学装置。   An electro-optical device formed by the manufacturing method according to claim 1.
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