JP2011118637A - システムテスト仕様生成装置及び試験装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】システムテスト仕様生成装置は、ソフトウェア1と、仕様分析部2と、システムテスト仕様データベース3と、システムテスト仕様設定部4と、システムテスト仕様出力部5で構成される。ソフトウェア1はソフトウェア部品11、12、13で構成される。仕様分析部2はソフトウェア部品毎に対応するソフトウェア部品仕様抽出部21、22、23と、ソフトウェア部品仕様を統合してシステム仕様を生成するシステム仕様統合部で構成される。システム仕様設定部4は、システム仕様統合部24からのシステム仕様に基づいて、システムテスト使用データベース3に格納されているからシステムテスト仕様を再利用し、ソフトウェア部品が組み合わされた状態で実施されるシステムテスト仕様を生成し、システムテスト仕様出力部5に出力する。
【選択図】図1
Description
前記ソフトウェア部品仕様抽出部は少なくとも、前記ソフトウェア部品を識別するソフトウェア部品固有情報と、前記ソフトウェア部品を個別製品向けに設定するためのソフトウェア部品パラメータのソフトウェア部品パラメータ設定情報とを抽出することを特徴とする。
前記システム仕様統合部は、少なくとも前記ソフトウェア部品固有情報または前記ソフトウェア部品パラメータとのいずれか一つとシステム仕様との対応付けを行うシステム仕様変換部を有することを特徴とする。
前記システムテスト仕様設定部は、前記システム仕様に対応して、前記システムテスト仕様フレームワークから実行されるシステムテスト仕様部品を変更することを特徴とする。
前記システムテスト仕様設定部は、前記システム仕様に対応して、前記システムテスト仕様部品のパラメータを変更することを特徴とする。
前記システムテスト仕様データベースに保存されたシステムテスト仕様は、前記機器の入出力デバイス動作パターンであることを特徴とする。
前記ソフトウェアは機器に組み込まれて動作する組込みソフトウェアのうち特に前記機器の入出力デバイスを操作するための基本ソフトウェアであって、前記システムテスト仕様データベースに保存されたシステムテスト仕様は、前記機器の入出力デバイス動作パターンと、基本ソフトウェアの実行を行うサンプルアプリケーションとの組合せであることを特徴とする。
エンジン制御ソフト6は、制御アプリケーションソフト61と、基本ソフト62と、アプリケーションプログラムインタフェース(API)63とで構成される。制御アプリケーションソフト61は、燃料制御ソフト部品611と、点火制御ソフト部品612と、故障診断ソフト部品613と、変速機制御ソフト部品614とで構成される。基本ソフト62は、マイコン用ソフト部品621と、通信用ソフト部品622と、入出力用ソフト部品623と、クランクセンサ用ソフト部品624とで構成される。
ソフトウェア部品仕様抽出部(例えば21)は、ソフトウェア部品の仕様として、複数のバリエーションが存在するソフトウェア部品においてどのソフトウェア部品が実装されたかの情報としてソフトウェア部品IDを抽出する。ソフトウェア部品仕様抽出部21は、ソフとウェア部品を識別するソフトウェア部品固有情報(ID)と、ソフトウェア部品を個別製品向けに設定するためのソフトウェア部品パラメータ設定情報である設定パラメータを抽出する。
ソフトウェア部品仕様抽出部21は、前記ソフトウェア部品の仕様として、ソフトウェア部品の設定パラメータをソフトウェア部品仕様として抽出する。
図4は、システム仕様統合部24におけるソフトウェア部品IDとシステム仕様との対応付けを行うソフトウェア部品ID−システム仕様対応データベースを示す図である。
ソフトウェア部品ID−システム仕様対応データベース(例えば241)において、表左側はソフトウェア部品IDを示し、表右側は対応するシステム仕様を示している。例えば、テスト対象となるソフトウェアがソフトウェア部品IDF001を有するソフトウェア部品を採用していた場合には、システム仕様として燃料噴射系仕様は“MPI(マルチポート噴射)”であることを示している。また、ソフトウェア部品IDF002を有するソフトウェア部品を採用していた場合には、システム仕様として燃料噴射系仕様は“DI(ダイレクト噴射)”であることを示している。
システム仕様統合部24は、少なくともソフトウェア部品固有情報(ID)または設定パラメータとのいずれかとシステム仕様(例えば、燃料噴射系:MPI)の対応付けを行うシステム仕様変換部を有している。
ECU7は、テスト対象であるソフトウェア71と、ソフトウェア71を実行するとともにECU7外部との入出力端子が接続されるCPU72とで構成されている。ソフトウェア71は、CPU72における入出力処理などを行う基本ソフトウェア712と、フィードバック制御、シーケンス制御などの制御処理を行うアプリケーションソフトウェア711とで構成されている。
HILS8は、システムテストフレームワーク35と、その上で実行されるシステムテスト部品としてシステムテスト部品A−1(311)、システムテスト部品B(321)およびシステムテスト部品D−2(342)とで構成されている。図15の例では、システムテスト部品Cは入力パターンとして採用されていない。
システムテストフレームワーク35は、所定のタイミングにおいてシステムテスト部品A−1(311)およびシステムテスト部品B(321)を実行する。システムテスト部品A−1(311)およびシステムテスト部品B(321)はテスト入力パターンを演算すると共に、HILS8の出力機能を用いてECU7に対して電圧、電流等の入力91、92を発生させる。
ソフトウェア71は入力パターン91、92に基づいて演算を行い、CPU72を用いて出力93を発生させる。
システムテストフレームワーク35は、所定のタイミングにおいてシステムテスト部品D2(342)を実行し、システムテスト部品D2(342)は規範出力であるテスト出力パターンを演算する。
判定装置71は、テスト出力とCPU72からの出力93を比較して、所定の誤差の範囲内に収まっているか否かを判定する。これによって、ソフトウェア71が要求機能どおりの動作をしているか否かを判定する。判定結果が良好であれば、ソフトウェア71が要求機能を満たし、実機の動作検証が確認されたことになる。
Claims (10)
- 機器に組み込まれて動作する組込みソフトウェアの機能仕様に基づいて、前記組込みソフトウェアの動作検証を行うためのシステムテスト仕様を生成するシステムテスト仕様生成装置であって、
前記組込みソフトウェアは複数のソフトウェア部品で構成されるとともに、
前記ソフトウェア部品毎に対応してソフトウェア部品仕様情報を抽出する複数のソフトウェア部品仕様抽出部と、
前記ソフトウェア部品仕様情報を統合してシステム仕様を生成するシステム仕様統合部とで構成される仕様情報分析部と、
前記組込みソフトウェアに対し、再利用可能なシステムテスト仕様として、テストパターンを定義する複数個のシステムテスト仕様部品と、前記システムテスト仕様部品の実行タイミングを定義するシステムテスト仕様フレームワークとを保存するシステムテスト仕様データベースと、
前記仕様情報分析部からのシステム仕様と対応して、前記複数個のシステムテスト仕様部品から前記ソフトウェア部品毎に対応するテスト仕様を、前記システムテスト仕様フレームワークの実行により取り出し、システムテスト仕様を構成するシステムテスト仕様設定部と、
前記システムテスト仕様を出力するシステムテスト仕様出力部と、
から構成されることを特徴とするシステムテスト仕様生成装置。 - 前記ソフトウェア部品仕様抽出部は、前記ソフトウェア部品のバリエーションを識別するソフトウェア部品の固有情報と、前記ソフトウェア部品を個別製品向けに設定するためのソフトウェア部品のパラメータとを抽出することを特徴とする請求項1に記載のシステムテスト仕様生成装置。
- 前記システム仕様統合部は、少なくとも前記ソフトウェア部品の固有情報または前記ソフトウェア部品のパラメータとのいずれか一つとシステム仕様との対応付けを行うことを特徴とする請求項2に記載のシステムテスト仕様生成装置。
- 前記システムテスト仕様部品は、前記ソフトウェアへの入力となるシステムテスト仕様入力部品と、前記ソフトウェアの規範出力となるシステムテスト仕様評価部品とで構成されていることを特徴とする請求項3に記載のシステムテスト仕様生成装置。
- 前記システムテスト仕様設定部は、前記システムテスト仕様フレームワークから実行されるシステムテスト仕様部品のバリエーションを、前記システム仕様に基づいて選択する判定処理を行うことを特徴とする請求項4に記載のシステムテスト仕様生成装置。
- 前記システムテスト仕様設定部は、前記システムテスト仕様部品のバリエーションに共通して設定されるパラメータと前記ソフトウェア部品のパラメータとの対応関係を前記システム仕様に基づいて選択する判定処理を行うことを特徴とする請求項4に記載のシステムテスト仕様生成装置。
- 前記システムテスト仕様データベースに保存されたシステムテスト仕様は、前記機器の入出力デバイスの動作パターンであることを特徴とする請求項1に記載のシステムテスト仕様生成装置。
- 前記組込みソフトウェアは、特に前記機器の入出力デバイスを操作するための基本ソフトウェアであって、前記システムテスト仕様データベースに保存されたシステムテスト仕様は、前記機器の入出力デバイス動作パターンと、基本ソフトウェアの実行を行うサンプルアプリケーションとの組合せであることを特徴とする請求項1に記載のシステムテスト仕様生成装置。
- センサおよびアクチュエータを有する機器に組み込まれて動作する組込みソフトウェアの機能仕様に基づいて、前記組込みソフトウェアの動作検証を行うためのシステムテスト仕様を生成するシステムテスト仕様生成装置であって、
前記組込みソフトウェアは複数のソフトウェア部品で構成されるとともに、前記ソフトウェア部品のバリエーションを識別するソフトウェア部品の固有情報と、前記ソフトウェア部品を個別製品向けに設定するためのソフトウェア部品のパラメータとを有し、
前記ソフトウェア部品毎に対応してソフトウェア部品仕様情報を抽出する複数のソフトウェア部品仕様抽出部と、少なくとも前記ソフトウェア部品の固有情報または前記ソフトウェア部品のパラメータのいずれか一つとシステム仕様との対応付けを行い、前記ソフトウェア部品仕様情報を統合してシステム仕様を生成するシステム仕様統合部とで構成される仕様情報分析部と、
再利用可能なシステムテスト仕様として、テストパターンを定義する複数個のシステムテスト仕様部品と、前記システムテスト仕様部品の実行タイミングを定義するシステムテスト仕様フレームワークとを保存し、前記システムテスト仕様部品は前記組込みソフトウェアへの入力となるシステムテスト仕様入力部品と、前記ソフトウェアの規範出力となるシステムテスト仕様評価部品とで構成するシステムテスト仕様データベースと、
前記システムテスト仕様フレームワークからの実行により、前記複数個のシステムテスト仕様部品からテスト仕様を取り出し、システムテスト仕様部品のバリエーションは前記システム仕様に基づいてソフトウェア部品毎に選択し、前記システムテスト仕様部品のバリエーションに共通して設定されるパラメータと前記ソフトウェア部品のパラメータとの対応関係を前記システム仕様に基づいて選択する判定処理を行ってシステムテスト仕様を構成するシステムテスト仕様設定部と、
前記システムテスト仕様を出力するシステムテスト仕様出力部と、
から構成されることを特徴とするシステムテスト仕様生成装置。 - ソフトウェアが組み込まれる電子制御装置と、システムテスト仕様が実行される実時間テスト装置で構成され、請求項1に記載のシステムテスト仕様生成装置で生成されたテスト仕様を実機である前記電子制御装置に与えて動作検証を行うための試験装置であって、
前記電子制御装置は、テスト対象である組込みソフトウェアと、該組込みソフトウェアを実行するとともに外部との入出力端子が接続されるCPUとで構成され、
前記実時間テスト装置は、請求項1に記載の前記システムテスト仕様データベースと、判定装置とを含んで構成され、前記システムテストフレームワーク上で実行されるシステムテスト仕様として請求項1に記載のシステムテスト仕様生成装置で生成されたシステム仕様が設定され、前記システムテストフレームワークが実行されると、システム仕様入力部品からテスト入力パターンを演算するとともに、前記入力パターンを前記電子制御装置に対して電圧、電流等の入力として与え、
前記電子制御装置は、前記入力パターンに基づいて前記組込みソフトウェアが演算して出力信号を発生し、
前記実時間テスト装置のシステムテストフレームワークは、所定のタイミングにおいてシステムテスト仕様評価部品を実行してテスト出力パターンを演算し、
前記判定装置は、前記電子制御装置の出力信号と前記テスト出力パターンを比較して、該出力信号が所定の誤差内に収まっているか否かを判定し、前記組込みソフトウェアが要求機能通りの動作をしているかを確認することを特徴とする試験装置。
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