JP2011112405A - 電子機器 - Google Patents

Abstract

【課題】電子機器を起動させる際に短絡の発生が検知された場合に、ユーザの意思に関わらず電子機器の起動が終了することを防止できる、電子機器を提供する。
【解決手段】ポータブルコンピュータ１を起動させる際、導体が有する離間部の電気的な値を測定し、測定した電気的な値が予め設定された電気的な値である場合に、導体における短絡の発生を検知し、短絡の発生を報知する。導体における短絡の発生が報知された場合に、ポータブルコンピュータ１の起動または終了を選択的に実行する。結露やイオン・マイグレーション等による短絡の発生が検知された場合に、ポータブルコンピュータ１を起動させるか否かの選択権をユーザに与えることができるので、ユーザの意思に関わらずポータブルコンピュータ１の起動が終了することを防止できる。
【選択図】図１

Description

本発明は、短絡の発生を検知するための短絡機構を有する電子機器に関する。

近年、ＰＣ（Personal Computer）などの電子機器の製品寿命をシステム管理する手段として、プリント基板の一部に、結露やイオン・マイグレーション等による短絡の発生を検知するためのパターンを設け、電子機器を起動させる際に短絡の発生が検知された場合に、電子機器の起動を終了させる技術が提案されている（特許文献１参照）。

特開２００１−２５１０２６号公報

しかしながら特許文献１に記載の技術では、電子機器を起動させる際に短絡の発生が検知された場合、ユーザの意思に関わらず、電子機器の起動が終了されて電子機器が使用できなくなる、という課題があった。例えば、短絡の発生を検知して電子機器を終了させる基準が低く設定されている場合、短絡の発生が検知されたとしても、ユーザによっては、電子機器の起動を継続して行うことを希望するケースがある。また、短絡の発生が検知された場合に、ユーザが、電子機器に記憶されているデータ等のバックアップをとった上で、電子機器の使用を停止することを希望するケースもある。

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、電子機器を起動させる際に短絡の発生が検知された場合に、ユーザの意思に関わらず電子機器の起動が終了することを防止できる、電子機器を提供することを目的とする。

上述した課題を解決し、目的を達成するために、第１導体と、前記第１導体と一定の間隔を空けて配設された第２導体と、が絶縁体上に設けられ、前記第１導体および前記第２導体の少なくとも一方に電圧を印加して前記第１導体と前記第２導体との間に電位差を設けた短絡機構と、起動させる際、前記第１導体と前記第２導体との間の電気的な値を測定する測定手段と、前記測定手段により測定された前記第１導体と前記第２導体との間の電気的な値が予め設定された電気的な値であった場合に、前記第１導体と前記第２導体との間の短絡の発生を検知する検知手段と、前記検知手段により前記第１導体と前記第２導体との間の短絡の発生が検知された場合に、前記導体における短絡の発生を報知する報知手段と、前記報知手段により前記導体における短絡の発生が報知された場合に、起動または起動の終了を選択的に実行する実行手段と、を備えたことを特徴とする。

また、本発明は、所定の条件の下に短絡する距離離間した離間部を有し、導通した導体と、起動させる際、前記離間部の電気的な値を測定する測定手段と、前記測定手段により測定された前記離間部の前記電気的な値が予め設定された電気的な値であった場合に、前記導体における短絡の発生を検知する検知手段と、前記検知手段により前記導体における短絡の発生が検知された場合に、前記導体における短絡の発生を報知する報知手段と、前記報知手段により前記導体における短絡の発生が報知された場合に、起動または起動の終了を選択的に実行する実行手段と、を備えたことを特徴とする。

本発明によれば、電子機器を起動させる際に短絡の発生が検知された場合に、ユーザの意思に関わらず電子機器の起動が終了することを防止できる、という効果を奏する。

図１は、結露やイオン・マイグレーション等による短絡の発生を検知するための導体を有するポータブルコンピュータの概略図である。 図２は、結露やイオン・マイグレーション等による短絡の発生を検知するための導体を有するポータブルコンピュータの斜視図である。 図３は、結露型の短絡機構の一例を示す図である。 図４は、イオン・マイグレーション型の短絡機構の一例を示す図である。 図５は、イオン・マイグレーションの概略を示す図である。 図６は、イオン・マイグレーションの概略を示す図である。 図７は、結露型の短絡機構における短絡の発生例を説明するための図である。 図８は、イオン・マイグレーション型の短絡機構における短絡の発生例を説明するための図である。 図９は、回路基板への導体の設置例を示す図である。 図１０は、回路基板に設置されたイオン・マイグレーション型の短絡機構の設置位置を示す図である。 図１１は、電源コネクタへの結露型の短絡機構の設置例を示す図である。 図１２は、導体の様々な設置例を示す図である。 図１３は、本実施の形態にかかるポータブルコンピュータのハードウェア構成を示した図である。 図１４は、ポータブルコンピュータの起動処理の流れを示すフローチャートである。 図１５は、結露やイオン・マイグレーション等による短絡が発生した場合の電子機器の復旧までのタイムチャートを示す図である。

以下に添付図面を参照して、この発明にかかる電子機器の最良な実施の形態を詳細に説明する。なお、本実施の形態では、この発明にかかる電子機器をノート型のパーソナルコンピュータ（以下、ポータブルコンピュータとする）に適用した例について説明するが、結露やイオン・マイグレーション等による短絡の発生を検知するための導体を必要とする電子機器であれば、これに限定するものではない。例えば、携帯電話のようなその他の電子機器に対して適用することもできる。

まず、図１および図２を用いて、結露やイオン・マイグレーション等による短絡の発生を検知するための導体を有するポータブルコンピュータの概略構成について説明する。図１は、結露やイオン・マイグレーション等による短絡の発生を検知するための導体を有するポータブルコンピュータの概略図である。図２は、結露やイオン・マイグレーション等による短絡の発生を検知するための導体を有するポータブルコンピュータの斜視図である。

本実施の形態にかかるポータブルコンピュータ１は、本体２と、表示ユニット３と、を備えている。

本体２は、本体ベース４と本体カバー５とを備えている。本体カバー５は、本体ベース４に上方から組み合わされる。本体ベース４と本体カバー５とが互いに協働することにより、本体２は箱状に形成された筐体６を備える。

筐体６は、上壁６ａ、周壁６ｂ、および下壁６ｃを有する。上壁６ａは、キーボード７、タッチパネル１４を支持している。周壁６ｂは、前周壁６ｂａ、後周壁６ｂｂ、左周壁６ｂｃ、および右周壁６ｂｄを有する。

表示ユニット３は、ディスプレイハウジング８と、このディスプレイハウジング８に収容された液晶表示パネル９とを備える。液晶表示パネル９は、表示画面９ａを有する。表示画面９ａは、ディスプレイハウジング８の前面の開口部８ａを通じてディスプレイハウジング８の外部に露出されている。

表示ユニット３は、筐体６の後端部にヒンジ装置を介して支持されている。これにより、表示ユニット３は、上壁６ａを上方から覆うように倒される閉じ位置と、上壁６ａを露出させるように起立する開き位置と、の間で回動可能である。

また、筐体６は、気体を排気する送風装置１１と、送風装置１１から送風された気体を利用して熱を放熱する放熱部材１３と、放熱部材１３から延出して設けられ、当該放熱部材１３に熱を伝熱するヒートパイプ１２、および電子部品２０が実装されている回路基板１０を収容している。なお、本実施の形態では、左周壁６ｂｃには、放熱部材１３が収容された位置に対向して、送風装置１１により送風された気体を筐体６外に排気するための冷却用吹出し口２４が設けられている。さらに、右周壁６ｂｄには、電源コードに接続された電源コネクタ（オス）を、筐体６内に収容された電源コネクタ（メス）１１７に差し込むための差込口２５が設けられている。

ここで、電子部品２０は、例えば、ＭＰＵ（Micro Processing Unit）、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、グラフィックスチップ、各種チップセット等、ポータブルコンピュータ１の各種の制御処理を実行する電子部品である。

さらに、本実施の形態にかかるポータブルコンピュータ１は、キーボード７、タッチパネル１４、液晶表示パネル９などの外部インターフェース類、ポータブルコンピュータ１の外装を構成する筐体６、筐体６内に収容されている回路基板１０、冷却用吹出し口２４差込口２５などのポータブルコンピュータ１の筐体６内を外部に露出させた箇所近傍等、複数箇所に、結露やイオン・マイグレーション等による短絡の発生を検知するための短絡機構３００，４００（図３および図４に示す）を設置している。図３は、結露型の短絡機構の一例を示す図である。図４は、イオン・マイグレーション型の短絡機構の一例を示す図である。

結露は吸湿により発生する短絡による製品負荷を軽減するための結露型の短絡機構３００は、図３に示すように、絶縁体３０３上に設けられ、結露や吸湿など所定の条件の下に短絡する距離離間した離間部３０２を有し、図示しない電源によって電圧が印加されて導通した導体３０１である。別の言い方をすれば、短絡機構３００は、第１導体３０１ａと、当該第１導体３０１ａと一定の間隔を空けて配設された第２導体３０１ｂと、が絶縁体３０３上に設けられ、図示しない電源によって、第１導体３０１ａおよび第２導体３０１ｂの少なくとも一方に電圧を印加して第１導体３０１ａと第２導体３０１ｂとの間に電位差を設けたものである。なお、以下の説明では、第１導体３０１ａおよび第２導体３０１ｂを総称して、導体３０１とする。

本実施の形態では、導体３０１は、当該導体３０１の一部が露出した露出部分３０５を有しているものとする。また、導体３０１には、金（Ａｕ）、ニッケル（Ｎｉ）、すず（Ｓｎ）、銅（Ｃｕ）、各種めっき類、配線類、導電接着剤など、電流を通すことができるものでありかつイオン・マイグレーションが発生しにくい材料を用いるものとする。さらに、導体３０１は、露出部分３０５に吸湿し易い吸湿性材料３０４を配置するか、若しくはポータブルコンピュータ１において吸湿し易い箇所に配置することが好ましい。さらに、本実施の形態では、導体３０１は、キーボード７やタッチパネル１４や液晶表示パネル９などの外部インターフェース類、ポータブルコンピュータ１の外装を構成する筐体６、冷却用吹出し口２４や差込口２５などの水に濡れたり、結露による水分が付着し易い箇所であって、筐体６内を外部に露出させた箇所近傍に設置されているものとする。

なお、導体３０１において結露による短絡が発生した場合の復帰方法としては、ポータブルコンピュータ１を乾燥させて、離間部３０２（第１導体３０１ａと第２導体３０１ｂとの間）における結露や吸湿状態を解消する方法がある。

イオン・マイグレーションにより発生する短絡によって製品が完全に故障に至る前にデータバックアップや修理を促すためのイオン・マイグレーション型の短絡機構４００は、図４に示すように、絶縁体４０３上に設けられ、イオン・マイグレーションなどの所定の条件の下に短絡する距離離間した離間部４０２を有し、図示しない電源によって電圧が印加されて導通した導体４０１である。別の言い方をすれば、短絡機構４００は、第１導体４０１ａと、当該第１導体４０１ａと一定の間隔を空けて配設された第２導体４０１ｂと、が絶縁体４０３上に設けられ、図示しない電源によって、第１導体４０１ａおよび第２導体４０１ｂの少なくとも一方に電圧を印加して第１導体４０１ａと第２導体４０１ｂとの間に電位差を設けたものである。なお、以下の説明では、第１導体４０１ａおよび第２導体４０１ｂを総称して、導体４０１とする。

本実施の形態では、導体４０１は、当該導体４０１の一部が露出した露出部分４０５を有している。また、導体４０１には、銀（Ａｇ）、ＰｄＡｇ合金など、電流を通すことができるものであって、イオン・マイグレーションが発生し易い材料を用いるものとする。これにより、ポータブルコンピュータ１の短絡よりもやや早い時期に注意喚起を促すことができる。また、導体４０１は、イオン・マイグレーションが結露よりも発生し易いことを考慮して、筐体６内に収容されている回路基板１０、筐体６の内側など、短絡をより注意して防止したい箇所に配置されているものとする。

そして、導体４０１においてイオン・マイグレーションによる短絡が発生した場合の復帰方法としては、離間部４０２（第１導体４０１ａと第２導体４０１ｂとの間）に発生したイオン・マイグレーションを取り除くなどの修理を行う方法がある。

ここで、図５および図６を用いて、イオン・マイグレーションの概略について説明する。図５および図６は、イオン・マイグレーションの概略を示す図である。イオン・マイグレーションは、金属が高湿環境に置かれた場合や結露が発生した場合に起こる金属の析出現象により、電極間を短絡させる現象である。例えば、図５に示すように、プラスの電極５０１およびマイナスの電極５０２を水溶液中に浸すと、電極５０１，５０２の金属イオンが溶解して、電極間を移動する現象が発生する。この現象がプリント基板で発生すると、図６に示すように、プリント基板に配線されたプラスの電極（導体４０１）と、当該プラスの電極との間に絶縁体４０３を介して配設されたマイナスの電極（導体４０１）と、の間（離間部４０２）でイオン・マイグレーションが発生し、電極間（導体４０１）を短絡させる。

このように、本実施の形態にかかるポータブルコンピュータ１は、結露型の短絡機構３００、およびイオン・マイグレーション型の短絡機構４００の２種類の短絡機構を有している。

ここで、図７および図８を用いて、各導体３０１，４０１における短絡の発生例について説明する。図７は、結露型の短絡機構における短絡の発生例を説明するための図である。図８は、イオン・マイグレーション型の短絡機構における短絡の発生例を説明するための図である。

導体３０１は、図７に示すように、離間部３０２（第１導体３０１ａと第２導体３０１ｂとの間）の吸湿が小さい場合や乾燥している場合、離間部３０２の絶縁抵抗値が高いため、離間部３０２で短絡が発生せず、ポータブルコンピュータ１の正常な動作を保障する。一方、導体３０１は、図７に示すように、離間部３０２（第１導体３０１ａと第２導体３０１ｂとの間）の吸湿が大きくなった場合や結露により離間部３０２に水が発生した場合、離間部３０２の絶縁抵抗値が低くなり、離間部３０２で短絡が発生する。

導体４０１は、図８に示すように、離間部４０２（第１導体４０１ａと第２導体４０１ｂとの間）の吸湿が小さい場合や乾燥している場合には、離間部４０２の絶縁抵抗値が高いため（離間部４０２の電流値が低いため）、離間部４０２で短絡が発生せず、ポータブルコンピュータ１の正常な動作を保障する。一方、導体４０１は、図８に示すように、離間部４０２（第１導体４０１ａと第２導体４０１ｂとの間）の吸湿が大きくなりイオン・マイグレーションが発生した場合には、離間部４０２の絶縁抵抗値が低くなり（離間部４０２の電流値が高くなる）、離間部４０２で短絡が発生する。

次に、図９を用いて、回路基板１０への導体４０１の設置例について説明する。図９は、回路基板への導体の設置例を示す図である。

外部インターフェース類など、一般的に、導体が配置されることが少ない箇所において短絡を発生させるためには、外部インターフェース類などに導体４０１専用の導体を新たに設けなければ、外部インターフェース類等に導体４０１を設置することができないが、短絡を発生させたい箇所に既に導体が配置されている場合には、新たに導体４０１専用の導体を設けなくても導体４０１を設置することができる。

例えば、図９に示すように、回路基板１０が、絶縁板（絶縁体）９０１ａの上に銅箔などの導電体９０１ｂで回路パターンが描かれた基板９０１に対して、電子部品２０やチップ部品９０３等が半田ボール９０２等により半田付け接続されたプリント回路基板である場合、回路基板１０の導電体９０１ｂ、半田ボール９０２、チップ部品９０３と導電体９０１ｂとを接続する半田９０４など、回路基板１０上に配設された導体を、導体４０１に用いて、導体間（第１導体４０１ａと第２導体４０１ｂとの間）の絶縁抵抗値（または導体間の電流値）を測定することにより、回路基板１０における短絡の発生を検知することができる。

図１０は、回路基板に設置されたイオン・マイグレーション型の短絡機構の設置位置を示す図である。イオン・マイグレーション型の短絡機構４００は、図１０に示すように、ヒートパイプ１２が設けられた位置の近傍１００１、回路基板１０に実装された電子部品２０の上面１００２、回路基板１０に実装された電子部品２０の四隅１００３など、電子部品２０の発熱やヒートパイプ１２による伝熱や放熱部材１３による放熱などにより温度変化が生じ易い箇所に設置することが好ましい。

図１１は、電源コネクタへの結露型の短絡機構の設置例を示す図である。差込口２５近傍に設置された導体３０１は、差込口２５の壁面であって、筐体６の下壁６ｃ側に配置されている。

次に、図１２を用いて、導体３０１，４０１の様々な設置例について説明する。図１２は、導体の様々な設置例を示す図である。

図１２（ａ）に示す導体３０１，４０１は、図３および図４に示した導体３０１，４０１と同様の構造を有するものである。

図１２（ｂ）に示す導体３０１，４０１は、回路基板１０のスルーホール１２００内に設置され、スルーホール１２００内において導体３０１，４０１一部が露出した露出部分３０５，４０５を有するものである。

図１２（ｃ）に示す導体３０１，４０１は、回路基板１０の内層に絶縁体を介して配設された導体を、導体３０１，４０１に用いたものである。ここで、回路基板１０の内層に絶縁体を介して配設された導体を、導体３０１，４０１として用いているのは、回路基板１０の内層に回路パターン等の導体が配設されている場合であっても、回路基板１０の絶縁層と回路パターンの隙間から結露等が入り込み、回路基板１０の内層において結露やイオン・マイグレーション等による短絡が発生する場合があるからである。

図１２（ｄ）に示す導体３０１，４０１は、当該導体３０１，４０１の一部が露出した露出部分３０５，４０５に、吸湿し易い吸湿性材料１２０１を配置したものである。これにより、ポータブルコンピュータ１において吸湿し易い箇所に導体３０１，４０１が設けられることになるので、他の箇所で短絡が発生する前に、短絡を検知することができるようになり、ポータブルコンピュータ１全体の製品保証をより容易にする。

図１２（ｅ）に示す導体３０１，４０１は、当該導体３０１，４０１の一部が露出した露出部分に、ゴアテックス（登録商標）など乾燥し難い異方性浸透皮膜１２０２を配置したものである。これにより、ポータブルコンピュータ１において乾燥し難い箇所に導体３０１，４０１が設けられることになるので、他の箇所で短絡が発生する前に、短絡を検知することができるようになり、ポータブルコンピュータ１全体の製品保証をより容易にする。

図１２（ｆ）に示す導体３０１，４０１は、当該導体３０１，４０１として導電性接着剤を用いたものである。これにより、導体３０１，４０１をポータブルコンピュータ１のいずれの箇所にも設けることができるようになる。さらに、導電性接着剤に含まれる金属粒子の種類を変更することにより、イオン・マイグレーション等による短絡の検知の寿命を容易に変更することができる。

図１２（ｇ）に示す導体３０１，４０１は、当該導体３０１，４０１を被覆するモールド材１２０３に設けたすり鉢状の穴１２０３ａにより、当該導体３０１，４０１の一部を露出させた露出部分３０５，４０５を設けたものである。これにより、導体３０１，４０１の構造を意図的に水が集まる構造とすることができるので、他の箇所で短絡が発生する前に、短絡を検知することができるようになり、ポータブルコンピュータ１全体の製品保証をより容易にする。

図１２（ｈ）に示す導体３０１，４０１は、複数の導体を互い違いに配置したものである。なお、導体３０１，４０１は、複数の導体を設けた箇所の厚さ方向に互い違いに配置しても良いし、複数の導体を設けた箇所の表面に互い違いに配置しても良い。

図１２（ｉ）に示す導体３０１，４０１は、当該導体３０１，４０１一部を露出させた露出部分３０５，４０５の材質が、当該導体３０１，４０１の他の部分の材質と異なるものである。例えば、露出部分３０５，４０５の材質をめっきや導電性接着剤１２０４にすることにより、イオン・マイグレーション等による短絡の検知の寿命を容易に変更することができる。さらには、露出部分３０５，４０５に導電性接着剤１２０４を用いることにより、導体３０１，４０１が有する離間部３０２，４０２の間隔を容易に狭くすることができるので、他の箇所で短絡が発生する前に、短絡を検知することができるようになり、ポータブルコンピュータ１全体の製品保証をより容易にする。

次に、図１３を用いて、本実施の形態にかかるポータブルコンピュータ１のハードウェア構成について説明する。図１３は、本実施の形態にかかるポータブルコンピュータのハードウェア構成を示した図である。図１３に示すように、ポータブルコンピュータ１は、導体３０１，４０１、ＣＰＵ１３０１、ノースブリッジ（ＮＢ：North Bridge）１３０２、主メモリ１３０３、サウスブリッジ（ＳＢ：South Bridge）１３０４、グラフィクスコントローラ（ＧＰＵ）１３０５、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）１３０６、液晶表示パネル９、ＢＩＯＳ（Basic Input Output System）―ＲＯＭ（Read Only Memory）１３０８、ＶＲＡＭ（Video Random Access Memory）１３０９、ＥＣ／ＫＢＣ１３１０、タッチパネル１４、キーボード７、電源スイッチ１３１３、電源回路１３１４、電源コネクタ１３１７を有している。

ＣＰＵ１３０１は、ポータブルコンピュータ１の動作を制御するプロセッサであり、ＨＤＤ１３０６から主メモリ１３０３にロードされるオペレーティングシステム（ＯＳ）を実行する。また、ＣＰＵ１３０１は、ＢＩＯＳ−ＲＯＭ１３０８に格納されたシステムＢＩＯＳも実行する。システムＢＩＯＳはハードウェア制御のためのプログラムである。なお、本実施の形態にかかるＣＰＵ１３０１の特徴的な機能については、後述する。

ノースブリッジ（ＮＢ）１３０２は、ＣＰＵ１３０１のローカルバスとＳＢ１３０４との間を接続するブリッジデバイスである。ＮＢ１３０２には、主メモリ１３０３をアクセス制御するメモリコントローラも内蔵されている。また、ＮＢ１３０２には、上述した導体３０１，４０１が有する離間部３０２，４０２（第一導体３０１ａ、４０１ａと第２導体３０１ｂ、４０１ｂとの間）の電流値や絶縁抵抗値などの電気的な値の測定を仲介するコントローラも内蔵されている。また、ＮＢ１３０２は、ＡＧＰ（Accelerated Graphics Port）バス、PCI express規格のシリアルバスなどを介してグラフィクスコントローラ１３０５との通信を実行する機能も有している。

グラフィクスコントローラ１３０５は、液晶表示パネル９を制御する表示コントローラである。また、グラフィクスコントローラ１３０５は本コンピュータ１のディスプレイモニタとして使用される液晶表示パネル９を制御する表示コントローラである。このグラフィクスコントローラ１３０５は、ＯＳまたはアプリケーションプログラムによってビデオメモリ（ＶＲＡＭ）１３０９に格納された表示情報となる映像信号を液晶表示パネル９に転送する。

サウスブリッジ（ＳＢ）１３０４は、ＬＰＣ（Low Pin Count）バス上の各デバイス、ＰＣＩ（Peripheral Component Interconnect）バスに接続されている各デバイスを制御する。また、ＳＢ１３０４は、ＨＤＤ１３０６を制御するためのＩＤＥ（Integrated Drive Electronics）コントローラを内蔵している。

エンベデッドコントローラ／キーボードコントローラ（ＥＣ／ＫＢＣ）１３１０は、電源管理のためのエンベデッドコントローラと、タッチパネル１４およびキーボード７などを制御するキーボードコントローラとが集積された１チップマイクロコンピュータである。ＥＣ／ＫＢＣ１３１０は、電源回路１３１４と共同して、ユーザによる電源スイッチ１３１３の操作に応答してポータブルコンピュータ１をパワーオン／パワーオフする処理を実行する。

電源回路１３１４は、電源コネクタ１３１７を介して外部から供給される電力を用いて、ポータブルコンピュータ１内の各コンポーネントに供給すべき電力を生成する。

次に、ＣＰＵ１３０１の特徴的な機能について説明する。

本実施の形態にかかるＣＰＵ１１０１は、図１３に示すように、測定手段１４０１、検知手段１４０２、報知手段１４０３、および実行手段１４０４を備える。

測定手段１４０１は、ポータブルコンピュータ１を起動させる際、ＮＢ１３０２を介して、導体３０１，４０１が有する離間部３０２，４０２（第１導体３０１ａ，４０１ａと第２導体３０１ｂ，４０１ｂとの間）の絶縁抵抗値や電流値などの電気的な値を測定するものである。

検知手段１４０２は、測定手段１４０１により測定した電気的な値が予め設定された絶縁抵抗値や電流値などの電気的な値であった場合に、導体３０１，４０１における結露やイオン・マイグレーションなどによる短絡の発生を検知するものである。

本実施の形態では、検知手段１４０２は、測定手段１４０１により測定された絶縁抵抗値が、予め設定された絶縁抵抗値（例えば、信頼性評価に用いられる１×１０^６Ω）未満である場合に、導体３０１における結露による短絡の発生を検知する。なお、結露による短絡の発生を検知する予め設定された絶縁抵抗値は、ポータブルコンピュータ１の筐体６が水で濡れていないことを確認することを目的とした値であって、ユーザが任意に設定できるものとする。

また、検知手段１４０２は、測定手段１４０１により測定された絶縁抵抗値が、予め設定された絶縁抵抗値（例えば、１×１０^４Ω）未満である場合に、導体４０１におけるイオン・マイグレーションによる短絡の発生を検知する。または、検知手段１４０２は、測定手段１４０１により測定された電流値が、予め設定された電流値以上である場合に、導体４０１における結露による短絡の発生を検知する。なお、イオン・マイグレーションによる短絡の発生を検知する予め設定された絶縁抵抗値または電流値は、イオン・マイグレーションが発生していないことを確認することを目的とした値（例えば、ポータブルコンピュータ１の総合環境負荷が一定基準に達していないこと確認することを目的とした値）であって、ユーザが任意に設定できるものとする。

報知手段１４０３は、検知手段１４０２により短絡の発生が検知された場合に、グラフィックスコントローラ１３０５を制御して、液晶表示パネル９に、メッセージを表示して、導体３０１，４０１における短絡の発生を報知するものである。

例えば、報知手段１４０３は、検知手段１４０２により検知された短絡の発生が結露によるものである場合、グラフィックスコントローラ１３０５を制御して、液晶表示パネル９に、ポータブルコンピュータ１を起動するか否かの選択を促すメッセージ、乾燥など補修を促すメッセージ、起動する場合は製品を保証の対象外にする旨のメッセージ等を表示して、導体３０１における短絡の発生を報知する。一方、報知手段１４０３は、検知手段１４０２により検知された短絡の発生がイオン・マイグレーションによるものである場合、グラフィックスコントローラ１３０５を制御して、液晶表示パネル９に、ポータブルコンピュータ１を起動するか否かの選択を促すメッセージ、バックアップや修理などの補修を促すメッセージ、起動する場合は製品を保証の対象外にする旨のメッセージ等を表示して、導体４０１における短絡の発生を報知する。

実行手段１４０４は、報知手段１４０３により短絡の発生が報知された場合に、外部インターフェース類等の操作によるポータブルコンピュータ１を起動するか否かの選択に従って、ポータブルコンピュータ１の起動または終了を選択的に実行するものである。また、実行手段１４０４は、ポータブルコンピュータ１を終了させた場合およびポータブルコンピュータ１を起動させた場合、測定手段１４０１により予め設定された期間（例えば、ポータブルコンピュータ１が初期化されてから１００回起動するまでの期間）内に測定した絶縁抵抗値や電流値等の電気的な値をログとして、主メモリ１３０３やＨＤＤ１３０６等の記憶手段に記憶させるものとする。

なお、報知手段１４０３は、ＨＤＤ１３０６に記憶されたログが示す絶縁抵抗値の合計が予め設定された値に達した場合に、グラフィックスコントローラ１３０５を制御して、液晶表示パネル９に、ポータブルコンピュータ１を起動するか否かの選択を促すメッセージ、乾燥など補修を促すメッセージ、起動する場合は製品を保証の対象外にする旨のメッセージ等を表示して、ポータブルコンピュータ１を起動するか否かの選択を促しても良い。

次に、図１４を用いて、ポータブルコンピュータ１の起動処理の流れについて説明する。図１４は、ポータブルコンピュータの起動処理の流れを示すフローチャートである。

ＣＰＵ１３０１によりシステムＢＩＯＳが実行されてポータブルコンピュータ１の起動処理が実行されると、測定手段１４０１は、導体３０１が有する離間部３０２（第１導体３０１ａと第２導体３０１ｂとの間）の絶縁抵抗値を測定する（ステップＳ１５０１）。次に、検知手段１４０２は、測定手段１４０１により測定された絶縁抵抗値が、予め設定された絶縁抵抗値：１×１０^６Ω未満であるか否かを判断する（ステップＳ１５０２）。そして、測定された絶縁抵抗値が予め設定された絶縁抵抗値：１×１０^６Ω未満であると判断した場合（ステップＳ１５０２：Ｙｅｓ）、検知手段１４０２は、導体３０１において結露による短絡が発生したことを検知する。検知手段１５０２によって短絡の発生が検知されると、報知手段１４０３は、乾燥を推奨するメッセージを表示して、ユーザに対して短絡の発生を報知する（ステップＳ１５０３）。さらに、実行手段１４０４は、ポータブルコンピュータ１を起動させるか否かの選択を待つ（ステップＳ１５０４）。

そして、ポータブルコンピュータ１を起動させることが選択された場合（ステップＳ１５０４：Ｙｅｓ）、実行手段１４０４は、ポータブルコンピュータ１を起動させるとともに、検出された絶縁抵抗値をログとしてＨＤＤ１３０６に記憶させる（ステップＳ１５０５）。一方、ポータブルコンピュータ１を起動させることが選択されなかった場合（ステップＳ１５０４：Ｎｏ）、実行手段１４０４は、ポータブルコンピュータ１を終了させるとともに、測定された絶縁抵抗値をログとしてＨＤＤ１３０６に記憶させる（ステップＳ１５０６）。

また、測定された絶縁抵抗値が予め設定された絶縁抵抗値：１×１０^６Ω以上であると判断した場合（ステップＳ１５０２：Ｎｏ）、検知手段１４０２は、導体３０１において結露による短絡が発生していないと判断する。次いで、測定手段１４０１は、導体４０１が有する離間部４０２（第１導体４０１ａと第２導体４０１ｂとの間）の電流値を測定する（ステップＳ１５０７）。検知手段１４０２は、測定された電流値が、予め設定された電流値以上であるか否かを判断する（ステップＳ１５０８）。測定された電流値が予め設定され電流値以上であると判断した場合（ステップＳ１５０８：Ｙｅｓ）、つまり、離間部４０２に電流が流れていると判断した場合、検知手段１４０２は、導体４０１においてイオン・マイグレーションによる短絡が発生したことを検知する。検知手段１４０２によってイオン・マイグレーションによる短絡が発生したが検知されると、報知手段１４０３は、修理を推奨するメッセージを表示して、ユーザに対して短絡の発生を報知し（ステップＳ１５０９）、ステップＳ１５０４〜ステップＳ１５０６に示す処理に進む。一方、測定された電流値が予め設定された電流値未満であると判断した場合（ステップＳ１５０８：Ｎｏ）、つまり、離間部４０２に電流が流れていないと判断した場合、実行手段１４０４は、ポータブルコンピュータ１を正常に起動させるとともに、測定された電流値をログとしてＨＤＤ１３０６に記憶させる（ステップＳ１５１０）。

図１５は、結露やイオン・マイグレーション等による短絡の発生が検知された場合の電子機器の復旧までのタイムチャートを示す図である。従来は、図１５に示すように、結露やイオン・マイグレーション等による短絡の発生が検知された場合、ユーザの意思に関わらず、電子機器はその時点で終了（休止）され、乾燥や修理等が行われるまで、電子機器を使用することができなかった。

しかし、本実施の形態にかかるポータブルコンピュータ１によれば、ポータブルコンピュータ１を起動させる際、導体３０１，４０１が有する離間部３０２，４０２（第１導体３０１ａ，４０１ａと第２導体３０１ｂ，４０１ｂとの間）の電気的な値を測定し、測定した電気的な値が予め設定された電気的な値である場合に、導体３０１，４０１における短絡の発生を検知し、導体３０１，４０１における短絡の発生が検知された場合に、導体３０１，４０１における短絡の発生を報知し、導体３０１，４０１における短絡の発生が報知された場合に、ポータブルコンピュータ１の起動または終了を選択的に実行することにより、結露やイオン・マイグレーション等による短絡の発生が検知された場合に、ポータブルコンピュータ１を起動させるか否かの選択権をユーザに与えることができるので、ポータブルコンピュータ１を起動させる際に短絡の発生が検知された場合に、ユーザの意思に関わらずポータブルコンピュータ１の起動が終了することを防止できる。

１ ポータブルコンピュータ
６ 筐体
７ キーボード
９ 液晶表示パネル
１０ 回路基板
１４ タッチパネル
２４ 冷却用吹出し口
２５ 差込口
３００，４００ 短絡機構
３０１，４０１ 導体
３０１ａ，４０１ａ 第１導体
３０１ｂ，４０１ｂ 第２導体
３０２，４０２ 離間部
３０３，４０３ 絶縁体
３０５，４０５ 露出部分
１２０１ 吸湿性材料
１４０１ 測定手段
１４０２ 検知手段
１４０３ 報知手段
１４０４ 実行手段

Claims (11)

1. 第１導体と、前記第１導体と一定の間隔を空けて配設された第２導体と、が絶縁体上に設けられ、前記第１導体および前記第２導体の少なくとも一方に電圧を印加して前記第１導体と前記第２導体との間に電位差を設けた短絡機構と、
   起動させる際、前記第１導体と前記第２導体との間の電気的な値を測定する測定手段と、
   前記測定手段により測定された前記第１導体と前記第２導体との間の電気的な値が予め設定された電気的な値であった場合に、前記第１導体と前記第２導体との間の短絡の発生を検知する検知手段と、
   前記検知手段により前記第１導体と前記第２導体との間の短絡の発生が検知された場合に、前記導体における短絡の発生を報知する報知手段と、
   前記報知手段により前記導体における短絡の発生が報知された場合に、起動または起動の終了を選択的に実行する実行手段と、
   を備えたことを特徴とする電子機器。
2. 所定の条件の下に短絡する距離離間した離間部を有し、導通した導体と、
   起動させる際、前記離間部の電気的な値を測定する測定手段と、
   前記測定手段により測定された前記離間部の前記電気的な値が予め設定された電気的な値であった場合に、前記導体における短絡の発生を検知する検知手段と、
   前記検知手段により前記導体における短絡の発生が検知された場合に、前記導体における短絡の発生を報知する報知手段と、
   前記報知手段により前記導体における短絡の発生が報知された場合に、起動または起動の終了を選択的に実行する実行手段と、
   を備えたことを特徴とする電子機器。
3. 前記導体には、筐体に収容された回路基板上に配設された導体を用いたことを特徴とする請求項２に記載の電子機器。
4. 前記導体には、筐体に収容された回路基板の内層に配設された導体を用いたことを特徴とする請求項２に記載の電子機器。
5. 前記導体は、外部インターフェース類に設置されたことを特徴とする請求項２に記載の電子機器。
6. 前記導体は、筐体内が外部に露出した箇所近傍に設置されたことを特徴とする請求項２に記載の電子機器。
7. 前記導体は、当該導体の一部に露出した露出部分を有し、前記露出部分に吸湿性材料が配置されたことを特徴とする請求項２に記載の電子機器。
8. 複数の前記導体を備えたことを特徴とする請求項２に記載の電子機器。
9. 前記検知手段は、イオン・マイグレーションによる前記導体における短絡の発生を検知することを特徴とする請求項２に記載の電子機器。
10. 前記報知手段は、さらに、前記検知手段により前記導体における短絡の発生が検知された場合に、表示手段にメッセージを表示して前記胴体における短絡の発生を報知することを特徴とする請求項２に記載の電子機器。
11. 前記測定手段は、前記離間部の絶縁抵抗値を前記電気的な値として測定し、
    前記報知手段は、予め設定された期間内に前記測定手段により測定した前記絶縁抵抗値の合計が予め設定された値に達した場合に、前記導体における短絡の発生を報知することを特徴とする請求項２に記載の電子機器。

Images