JP2011108900A - チップ型固体電解コンデンサ - Google Patents

チップ型固体電解コンデンサ Download PDF

Info

Publication number
JP2011108900A
JP2011108900A JP2009263431A JP2009263431A JP2011108900A JP 2011108900 A JP2011108900 A JP 2011108900A JP 2009263431 A JP2009263431 A JP 2009263431A JP 2009263431 A JP2009263431 A JP 2009263431A JP 2011108900 A JP2011108900 A JP 2011108900A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cathode
conductive adhesive
anode
solid electrolytic
electrolytic capacitor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009263431A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5358403B2 (ja
Inventor
Hironori Iwata
浩紀 岩田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokin Corp
Original Assignee
NEC Tokin Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Tokin Corp filed Critical NEC Tokin Corp
Priority to JP2009263431A priority Critical patent/JP5358403B2/ja
Publication of JP2011108900A publication Critical patent/JP2011108900A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5358403B2 publication Critical patent/JP5358403B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

【課題】 樹脂の熱応力や外部の直接的なストレスにより応力が発生した場合、変換基板の熱応力の反りにより、接続界面でクラックや剥がれが発生しESRの増加また陰極層と内部陰極端子9の電気的な接続不良により、接続抵抗が無限大になる状態、すなわちオープン状態の発生を防止すること。
【解決手段】 チップ型固体電解コンデンサにおいて、導電性接着剤の硬化後の引っかき硬度(鉛筆法)で2B〜6Bを有する陰極導電性接着剤7を使用する。
【選択図】図1

Description

本発明は、チップ型固体電解コンデンサに関するものである。
図2は従来のチップ型固体電解コンデンサの一例を示す透視図であり、例えば、特許文献1に記載の下面電極型の固体電解コンデンサと同様の構成を有しており、コンデンサ素子1と、チップ型固体電解コンデンサの内部で、このコンデンサ素子1と接続をする内部陽極端子11および内部陰極端子9と、外部基板との接続を行う、外部陽極端子5及び外部陰極端子6を有した変換基板4を備えたチップ型固体電解コンデンサを表している。
コンデンサ素子1は予めタンタル焼結体に陽極リード線2を埋め込んだタンタル焼結体に誘電体層を作製し、その表面に固体電解質層(マンガンなど)を形成し、更に陰極層としてグラファイト層、銀層を順次コーティングし作製される。
次に鉄や銅やニッケルおよびその合金などからなる、すなわち金属片3を陽極リード線2に抵抗溶接する。更に変換基板4にある内部陽極端子11にAg等の金属を含有したAgペースト等の陽極導電性接着剤8を塗布し、金属片3を接続し、同時に同じくAg等の金属を含有したAgペースト等の陰極導電性接着剤7を内部陰極端子9に塗布し、陰極層を接続し、加熱し硬化する。
その後、外装樹脂10でモールド成型を実施し、必要に応じて後にダイシングを行うことでチップ型固体電解コンデンサを得る。
尚、従来の技術では、コンデンサ素子1の陰極層と内部陰極端子9を接続する陰極導電性接着剤7は、接続強度を重視し、エポキシ樹脂やアクリル樹脂等の有機結合剤を使用している。また、接続強度をもたせることと熱履歴による熱応力を吸収、緩和する目的でエポキシ樹脂やアクリル樹脂と、フッ素系エラストマーを含有した、弾性状態の違う2種類のAgペーストを2箇所の接続部分に別々に塗布する技術も提案されている。(特許文献2)
特開2008−258602号公報 特開2006−186083号公報
しかしながら、上記のような従来の技術によって作製されたチップ型固体電解コンデンサにおいて次のような問題点があった。
一つ目は、コンデンサ素子1の陰極層と内部陰極端子9との接続部分の熱応力等によるクラックや剥がれの懸念である。一般に陰極層と内部陰極端子9との接続部分には外装樹脂10にてモールド成形が完了するまでに剥離や脱落を防止する、更にはモールド成形時の圧力に耐えるだけの接続強度が必要とされているが、陰極導電性接着剤7としてエポキシ樹脂などを含むものを使用した場合、接着強度は要求値を十分満足するが、弾性変形がしにくく、製品の信頼性に対してトレードオフの関係であった。近年、生産性の向上を図るためや鉛フリーはんだの普及によりリフロー時の加熱温度も上昇する傾向にある。リフローによる熱応力や外部の直接的なストレスにより応力が発生し、特に変換基板4のリフローによる熱応力の反りにより、接続界面でクラックや剥がれが発生しESRの増加や、陰極層と内部陰極端子9の電気的な接続不良により、接続抵抗が無限大になる状態、すなわちオープン状態が発生する懸念があった。
二つ目は導電性接着剤のトレードオフの関係となっている接続強度をもたせることと熱履歴による熱応力を緩和する目的でエポキシ樹脂やアクリル樹脂と、フッ素系エラストマーを含有した、弾性状態の違う2種類のAgペーストを2箇所の接続部分に別々に塗布する場合、作業効率の低下、各々のAgペーストの品質管理の工数増加が生産性を低下させるという問題があった。また、構造的に分離しにくい、近接した2箇所に弾性状態の違う2種類のAgペーストを塗布し、加圧等で2種類のAgペーストが接触してしまった場合、接触した界面の接続強度の確認等も必要と判断される。
一般にエポキシ樹脂やアクリル樹脂等の比較的硬い樹脂の弾性状態を示す指標として引張弾性率等をもちいることが多いがゴム状の性質も持った導電性接着剤は測定に必要な形状に加工することが難しい等、試験を実施する上で簡易性に欠ける場合があった。そこで本発明の導電性接着剤の弾性状態を表す指標として引っかき硬度(鉛筆法の鉛筆硬度)に着目し、検討を行った。
よって本発明は、様々なストレスでの接続界面でクラックや剥がれによるESRの増加、また陰極の接続部におけるオープン状態の発生を防止し、かつ生産性の向上が図れるチップ型固体電解コンデンサを提供することを目的とし、導電性接着剤の引っかき硬度(鉛筆法の鉛筆硬度)の数値範囲を上記、特定の効果、及び課題との関係において最適化したものである。
上記の課題を解決するため、本発明のチップ型固体電解コンデンサは陽極リード線が導出された弁作用金属からなる陽極体と、前記陽極体の表面に形成された誘電体層と、前記誘電体層の上に順次形成された電解質層、グラファイト層、銀層からなる陰極層を有するコンデンサ素子と、上面に、前記陽極リード線に接続された金属片と接続される内部陽極端子と、前記陰極層に接続される内部陰極端子とを有し、下面に、コンデンサ実装用電極端子としての外部陽極端子と外部陰極端子とが形成された、変換基板を有し、前記金属片と前記内部陽極端子が陽極導電性接着剤にて接続され、前記陰極層と前記内部陰極端子が陰極導電性接着剤にて接続された、下面電極型のチップ型固体電解コンデンサであって、少なくとも前記陰極導電性接着剤は硬化後のJISK5600−5−4における引っかき硬度(鉛筆法)が2B〜6Bであることを特徴とする。
本発明のチップ型固体電解コンデンサは前記陽極導電性接着剤、および前記陰極導電性接着剤の結合剤のすくなとも一つがフッ素系エラストマー、またはシリコーンを主成分とすることを特徴とする。
本発明では前述の目的を解決するために、少なくとも、コンデンサ素子と内部陰極端子を接続する陰極導電性接着剤に、外部応力を緩和させることができる引っかき硬度をもつ導電性接着剤を使用することで、リフローの熱や直接的なストレス、例えば変換基板の内部陰極端子とコンデンサ素子のリフローの熱膨張率のズレによる応力が発生することによる、接続界面でクラックや剥がれを防止し、かつ生産性の向上が図れるチップ型固体電解コンデンサを供給することが可能になる。
更に本発明のチップ型固体電解コンデンサでは、十分な接着強度と、製品の信頼性を確保するために適した弾性状態をともに有し、かつ、リフロー時の加熱に対する耐久性を備えることから、結合剤として、フッ素系エラストマー、シリコーンを主成分とする導電性接着剤を用いることが好ましい。
本発明によるチップ型固体電解コンデンサの第一の実施の形態と第二の実施の形態と第三の実施の形態を示す透視図。 従来の技術によるチップ型固体電解コンデンサを示す透視図。 熱履歴によるESRの変化(熱履歴:リフロー前後)を示す図。(実施例1の水準2と比較例の変化を示す図) 引っかき硬度の水準別によるESRの変化を示す図。(実施例1、リフロー前後の変化を示す図)
本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。尚、図1の一部には判りやすくするために斜線を施している。
(第一の実施の形態)
図1は本発明によるチップ型固体電解コンデンサの第一の実施の形態を示す透視図である。全体の構造は従来技術と同様であり、予めタンタル焼結体に陽極リード線2を埋め込んだタンタル焼結体に誘電体層となる陽極酸化膜を形成し、その表面に二酸化マンガンなどからなる固体電解質層を形成し、陰極層としてグラファイト層、銀層でコーティングしたコンデンサ素子1を作成する。次に金属片3を陽極リード線2に抵抗溶接する。
尚、固体電解質層はポリピロール、ポリチオフェン、ポリアニリンの層を形成させたものでもよい。
変換基板4にある内部陽極端子11にエポキシ系やアクリル系樹脂を主成分の結合剤とし、Ag等の金属を含有した陽極導電性接着剤8を塗布し、金属片3を接続する。同時にフッ素系エラストマーを主成分の結合剤とし、Ag等の金属を含有した陰極導電性接着剤7を塗布した内部陰極端子9に陰極層を接着し、あわせて加熱し硬化する。
その後、外装樹脂10を用いてモールドを実施し、必要に応じて後にダイシングを行うことでチップ型固体電解コンデンサを得る。
(第二の実施の形態)
次に本発明によるチップ型固体電解コンデンサの第二の実施の形態を図1を用いて説明する。全体の構造は第一の実施の形態と同様であり、予めタンタル焼結体に陽極リード線2を埋め込んだタンタル焼結体に誘電体層となる陽極酸化膜を形成し、その表面に固体電解質層(マンガンなど)を形成し、陰極層としてグラファイト層、銀層でコーティングしたコンデンサ素子1を作成する。次に金属片3を陽極リード線2に抵抗溶接する。
変換基板4にある内部陽極端子11にエポキシ系やアクリル系樹脂を主成分の結合剤とし、Ag等の金属を含有した陽極導電性接着剤8を塗布し、金属片3を接続する。同時にシリコーン樹脂を主成分の結合剤とし、Ag等の金属を含有した陰極導電性接着剤7を塗布した内部陰極端子9に陰極層を接着し、あわせて加熱し硬化する。
その後、外装樹脂10のモールドを実施し、必要に応じて後にダイシングを行うことでチップ型固体電解コンデンサを得る。
(第三の実施の形態)
続いて、本発明によるチップ型固体電解コンデンサの第三の実施の形態を説明する。
第三の実施の形態は第一の実施の形態と同様に構成されるので主要部分以外の記載は省略する。尚、第三の実施の形態の構造も図1を用いて説明する。
第三の実施の形態は内部陽極端子11と金属片3の接続にも本発明を展開したものであり、変換基板4にある内部陽極端子11にフッ素系エラストマーを主成分の結合剤とし、Ag等の金属を含有した導電性をもった陽極導電性接着剤8を塗布し、金属片3を接続し、更に内部陰極端子9にフッ素系エラストマーを主成分の結合剤とし、Ag等の金属を含有した陰極導電性接着剤7を塗布し、陰極層を接属し、加熱し硬化する。
その後、外装樹脂10のモールドを実施し、必要に応じて後にダイシングを行うことでチップ型固体電解コンデンサを得る。
これら導電性接着剤の引っかき硬度を詳細に検討した結果、引っかき硬度が2B〜6Bの範囲内である場合には、従来の技術で発生していたリフローによる熱ストレスによる内部陰極端子と導電性接着剤の接続界面でクラックの発生を防止し、ESRの上昇の抑制やオープン不良の発生を防止することが判明した。
また、上記第一から第三の実施の形態において、陰極導電性接着剤7、陽極導電性接着剤8を構成する導電性の接着剤の組み合わせは問わず、前述した引っかき硬度が2B〜6Bの範囲内であれば、フッ素系エラストマー、またはシリコーン樹脂を主成分の結合剤とし、Ag等の金属を含有した導電性をもった接着剤を同一種類だけでなく、2種類を用いて接続を実施してもかまわない。
以下に本発明の実施例と比較例を詳述する。
(実施例1)
本発明のチップ型固体電解コンデンサの具体的な実施例について第一の実施の形態で用いた図1を参照して説明する。
実施例1では硬化後の引っかき硬度を1B〜7Bの間で6水準に変化させた複数の導電性接着剤を準備し、それらの導電性接着剤を陰極導電性接着剤7に用いたチップ型固体電解コンデンサを各100個作製した。チップ型固体電解コンデンサの形状は長手寸法2.0mm、短手寸法1.2mm、厚み1.0mmとした。硬化後の引っかき硬度を変化させた6水準の導電性接着剤はフッ素系エラストマーを使用し、そのフッ素系エラストマーの含有率を5〜50mass%の範囲で調整し作製した。
続いて製造工程について説明する。予めタンタル焼結体にタンタルワイヤからなる陽極リード線2を埋め込んだタンタル焼結体に陽極酸化膜を形成し、その表面に二酸化マンガンの固体電解質層を形成し、更に陰極層としてグラファイト層、銀層を順次コーティングしたコンデンサ素子1を作成した。次に42アロイ(Ni−42%、Fe−58%)の材料からなる金属片3を陽極リード線2に抵抗溶接した。
その後、変換基板4にある内部陽極端子11にエポキシ系樹脂を主成分の結合剤とし、Agを含有した導電性の陽極導電性接着剤8を塗布し、金属片3を接続し、同時に前述した硬化後の引っかき硬度を変化させた6水準のフッ素系エラストマーを主成分の結合剤とし、Agを含有した陰極導電性接着剤7を塗布した内部陰極端子9に陰極層を接続した。導電性接着剤の塗布は端子パターンにシリンジで行った。その後、接続を完全にするために150℃、20分間で加熱し硬化した。
次にガラスフィラーを含んだエポキシ系の外装樹脂10を用いてモールド成型を実施し、ダイヤモンドブレードでダイシングを行い、チップ型固体電解コンデンサを得ることができた。
(比較例)
従来の技術で使用している同様のエポキシ系樹脂を主成分の結合剤とし、Agを含有した導電性の接着剤を変換基板4にある内部陽極端子11と内部陰極端子9に塗布し、それぞれ、金属片3、陰極層を接続した。その他の製造工程は本発明と同様に実施した。
実施例1に使用した弾性の状態を変化させた各水準の導電性の接着剤の引っかき硬度はJISK5600−5−4に基づき測定した。具体的には評価用のアルミ材にそれらの導電性接着剤を塗布後、硬化させて引っかき硬度を測定した。尚、JISK5600−5−4では引っかき硬度が6Hから6B(硬→軟)の範囲で規定されているため、更に柔らかいと判断されたものは7Bの鉛筆を用いて実施した。
各水準n=100個をリフロー炉にてピーク温度260℃、キープ温度250℃10秒で処理を行い、ESRを公知の方法で測定した。
表1に実施例1の各水準と比較例の結果を示す。
Figure 2011108900
※ESR不良率:リフロー後のESR不良率。
※モールド時不具合発生率:成型樹脂の外側へ導電性接着剤が流出等の発生率。
※ESR不良率の判定:ESRの上昇率が10%以上のものが10%以上発生している場合は×とした。
※モールド時不具合発生率の判定:モールド時不具合の発生率が5%以上発生している場合は×とした。
上記表1より、導電性接着剤の硬化後の引っかき硬度において、引っかき硬度7Bでは柔らかすぎ、外装樹脂で成型を行うときに、導電性接着剤の流出、内部素子の露出不良やもれ電流不良等の不具合が発生する。引っかき硬度1Bの場合は硬すぎて、従来のエポキシなどの導電性接着剤と同様な不具合が発生することから引っかき硬度が2B〜6Bの範囲で上記課題に対して有効なことがわかる。
次に実施例1のESRの改善を図3で示すグラフで説明する。これは表1に示した本発明の水準2と従来の技術とESR特性の熱履歴の前後での変化を比較した図である。従来の技術のESRについてはリフローによる熱ストレスを加えると内部陰極端子と導電性接着剤の接続界面でクラックが発生し、接続界面の接続抵抗が上昇し、ESRの平均値(AVE)が大幅に上昇する。本発明では接続界面でクラックが防止できることから接続界面の接続抵抗の上昇が抑えられ、ESRの平均値(AVE)の増加が約36%改善されている。
図4は表1の内容をグラフに表したもので、チップ型固体電解コンデンサのリフロー前後によるESRの変化を引っかき硬度の水準別に示した図である。これより引っかき硬度が2B〜6Bの範囲でESRの上昇を抑制していることがわかり、本発明の効果が伺われる。
また、本発明の二つ目の課題である作業効率の低下を防止することについては、内部陰極端子、内部陽極端子に対して、それぞれ1種類の導電性接着剤を塗布する工程としているため部材の交換頻度、生産設備の停止時間の増加、導電性接着剤の品質管理に要する工数増加も防止できた。
(実施例2)
つづいて本発明のチップ型固体電解コンデンサの実施例2について図1を参照して説明する。
実施例2ではシリコーン系樹脂の含有率を5〜50mass%の範囲で調整し、硬化後の引っかき硬度を1Bから7Bの間で6水準にした複数の導電性接着剤を準備した。
変換基板4にある内部陽極端子11にエポキシ系樹脂を主成分の結合剤とし、Agを含有した導電性の陽極導電性接着剤8を塗布し、金属片3を接続し、同時に前述した硬化後の引っかき硬度を変化させた6水準のシリコーン系樹脂を主成分の結合剤とし、Agを含有した陰極導電性接着剤7を塗布した内部陰極端子9に陰極層を接続した。その他の条件、製造工程は実施例1と同様とした。
(比較例)
実施例2の比較例も実施例1の比較例と同様の条件、製造工程で作製した。
各測定項目の測定方法は実施例1と同様である。
表2に実施例2の各水準と比較例の結果を示す。
Figure 2011108900
(実施例3)
更に本発明のチップ型固体電解コンデンサの実施例3について図1を参照して説明する。
実施例3は内部陰極端子9のみならず内部陽極端子11にもフッ素系エラストマーを主成分の結合剤とし、Agを含有した陰極導電性接着剤7を使用し、それぞれ金属片3、内部陰極端子9を接続した。その他の条件は実施例1と同様とした。
(比較例)
実施例3の比較例も実施例1の比較例と同様の条件、製造工程で作製した。
各測定項目の測定方法は実施例1と同様である。
表3に実施例3の各水準と比較例の結果を示す。
Figure 2011108900
表2、表3の結果からもわかるように陰極導電性接着剤7、陽極導電性接着剤8を構成する導電性の接着剤の硬化後の引っかき硬度2B〜6BがESR上昇を抑制していることがわかり、本発明の効果が伺われる。
以上、実施例を用いて、この発明の実施の形態を説明したが、この発明は、これらの実施例に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更があっても本発明に含まれる。すなわち、当業者であれば、当然なしえるであろう各種変形、修正もまた本発明に含まれる。
1 コンデンサ素子
2 陽極リード線
3 金属片
4 変換基板
5 外部陽極端子
6 外部陰極端子
7 陰極導電性接着剤
8 陽極導電性接着剤
9 内部陰極端子
10 外装樹脂
11 内部陽極端子

Claims (2)

  1. 陽極リード線が導出された弁作用金属からなる陽極体と、前記陽極体の表面に形成された誘電体層と、前記誘電体層の上に順次形成された電解質層、グラファイト層、銀層からなる陰極層を有するコンデンサ素子と、上面に、前記陽極リード線に接続された金属片と接続される内部陽極端子と、前記陰極層に接続される内部陰極端子とを有し、下面に、コンデンサ実装用電極端子としての外部陽極端子と外部陰極端子とが形成された、変換基板を有し、前記金属片と前記内部陽極端子が陽極導電性接着剤にて接続され、前記陰極層と前記内部陰極端子が陰極導電性接着剤にて接続された、下面電極型のチップ型固体電解コンデンサであって、少なくとも前記陰極導電性接着剤は硬化後のJISK5600−5−4における引っかき硬度(鉛筆法)が2B〜6Bであることを特徴とするチップ型固体電解コンデンサ。
  2. 前記陽極導電性接着剤、および前記陰極導電性接着剤の結合剤のすくなとも一つがフッ素系エラストマー、またはシリコーンを主成分とすることを特徴とする請求項1に記載のチップ型固体電解コンデンサ。
JP2009263431A 2009-11-19 2009-11-19 チップ型固体電解コンデンサ Active JP5358403B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009263431A JP5358403B2 (ja) 2009-11-19 2009-11-19 チップ型固体電解コンデンサ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009263431A JP5358403B2 (ja) 2009-11-19 2009-11-19 チップ型固体電解コンデンサ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011108900A true JP2011108900A (ja) 2011-06-02
JP5358403B2 JP5358403B2 (ja) 2013-12-04

Family

ID=44232058

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009263431A Active JP5358403B2 (ja) 2009-11-19 2009-11-19 チップ型固体電解コンデンサ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5358403B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112735828A (zh) * 2020-12-14 2021-04-30 东莞顺络电子有限公司 一种钽电解电容器的电极引出方法及封装方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS592129U (ja) * 1982-06-28 1984-01-09 富士通株式会社 固体電解コンデンサ
JP2001267181A (ja) * 2000-03-21 2001-09-28 Hitachi Aic Inc チップ形固体電解コンデンサ
JP2008219395A (ja) * 2007-03-02 2008-09-18 Daishinku Corp 圧電振動デバイスおよびその製造方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS592129U (ja) * 1982-06-28 1984-01-09 富士通株式会社 固体電解コンデンサ
JP2001267181A (ja) * 2000-03-21 2001-09-28 Hitachi Aic Inc チップ形固体電解コンデンサ
JP2008219395A (ja) * 2007-03-02 2008-09-18 Daishinku Corp 圧電振動デバイスおよびその製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112735828A (zh) * 2020-12-14 2021-04-30 东莞顺络电子有限公司 一种钽电解电容器的电极引出方法及封装方法
CN112735828B (zh) * 2020-12-14 2022-07-08 东莞顺络电子有限公司 一种钽电解电容器的电极引出方法及封装方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP5358403B2 (ja) 2013-12-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101142312B1 (ko) 고체 전해 콘덴서 소자 및 그 제조방법
TWI234791B (en) Multilayer ceramic electronic component and mounting structure and method for the same
JP4731389B2 (ja) 積層型固体電解コンデンサ及びその製造方法
CN101981639B (zh) 固体电解电容器及其制造方法
JP5449958B2 (ja) 半導体装置と接続構造及びその製造方法
US20090040688A1 (en) Ceramic electronic component and method for manufacturing the same
JP4812118B2 (ja) 固体電解コンデンサ及びその製造方法
JPWO2015151273A1 (ja) 半導体装置
JP6295433B2 (ja) 固体電解コンデンサ
JP2009182157A (ja) 固体電解コンデンサ
KR101567427B1 (ko) 전해 콘덴서용 탭 단자
JP2011249615A (ja) 表面実装型電子部品およびその製造方法
JP5358403B2 (ja) チップ型固体電解コンデンサ
JP5330191B2 (ja) 固体電解コンデンサ及びその製造方法
KR102544723B1 (ko) 캐리어를 구비하는 금속박 및 그 제조 방법
JP2009200229A (ja) 固体電解コンデンサ及びその製造方法
KR20110096597A (ko) 세라믹 전자부품
JP5219612B2 (ja) 半導体貫通電極形成方法
JPWO2014203846A1 (ja) 固体電解コンデンサおよびその陽極リード接続方法並びに固体電解コンデンサの製造方法
JP2009194263A (ja) 固体電解コンデンサの製造方法
JP2007227845A (ja) 固体電解コンデンサ
JP6000770B2 (ja) セラミック回路基板の製造方法、およびパワーモジュールの製造方法
JP4838214B2 (ja) チップ状固体電解コンデンサおよびその製造方法
JP2008294021A (ja) 電子部品モジュールおよびその製造方法
JP2010087308A (ja) 固体電解コンデンサ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120508

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130531

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130605

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130802

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130821

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130902

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5358403

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250