JP2011107013A - エンコーダ及びエンコーダのパターン検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】エンコーダにおいて、異常を含んだ回転情報を検出し、検出精度を維持する。
【解決手段】パターンを有し、回転軸４０を中心として回転する回転部材Ｒと、該パターンを検出するパターン検出部３２と、該パターン検出部３２と所定角度ずれた位置に配置される該パターンを検出する第２パターン検出部３３と、該パターン検出部３２又は該第２パターン検出部３３における位相差に基づいて検出異常の有無を判断する制御部とを備える。
【選択図】図１

Description

本発明は、エンコーダ及びエンコーダのパターン検出方法に関する。

モータの回転軸などを含む回転体の回転数、回転角度などの回転情報を検出する装置として、エンコーダが知られている（特許文献１）。エンコーダは、例えばモータの回転軸などに取り付けられて用いられる。エンコーダの具体的構成として、例えば磁気を用いて回転数を検出する構成が知られている。このような構成のエンコーダは、所定の磁気パターンが形成された磁石部を回転軸と一体的に回転させ、磁石部の磁気パターンの変化を本体部の磁気センサによって読み取ることで、モータの回転軸の回転数を検出できるようになっている。

特開２００４−２０５４８号公報

しかしながら、上記のエンコーダにおいては、例えば磁気センサにおいて検出異常が発生した場合、当該異常を含んだ回転情報が検出されてしまう可能性がある。例えば光センサを用いて回転情報を検出するエンコーダの場合においても、同様の問題が発生する可能性がある。このような異常を含んだ回転情報が検出されると、エンコーダの検出精度が低下してしまう可能性がある。

上記のような事情に鑑み、本発明は、所期の検出精度を維持することが可能なエンコーダ及びパターン検出方法を提供することを目的とする。

本発明の第１の態様に従えば、パターンを有し、回転軸を中心として回転する回転部と、前記パターンを検出するパターン検出部と、前記パターン検出部とは別に前記パターンを検出する第２パターン検出部と、前記パターン検出部又は前記第２パターン検出部における検出異常の有無を検出する制御部とを備えるエンコーダが提供される。

本発明の第２の態様に従えば、測定対象の回転軸部材に固定される回転部に設けられたパターンを、パターン検出部及び第２パターン検出部によって検出するパターン検出工程と、前記パターン検出部又は前記第２パターン検出部における検出異常の有無を、制御部によって検出する異常検出工程とを有するエンコーダのパターン検出方法が提供される。

本発明によれば、所期の検出精度を維持することができる。

本発明の実施の形態に係るエンコーダの構成を示す断面図。 本実施形態に係るエンコーダの一部の構成を示す平面図。 本実施形態に係る本体部で検出される磁気パターンの波形の一例を示すグラフ。

以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
図１は、エンコーダＥＣの構成を示す断面図である。
図１に示すように、エンコーダＥＣは、モータなどの回転体の回転数を検出する装置である。エンコーダＥＣは、回転部材Ｒ、磁石部材Ｍ及び本体部Ｄを有している。エンコーダＥＣは、回転部材Ｒ及び磁石部材Ｍが設けられており、これらが本体部Ｄを構成する筐体３０内に収容された状態で用いられる。

回転部材Ｒは、回転体である例えばモータＭＴＲの回転軸４０に固定され、回転軸４０と一体的に回転するようになっている。回転部材Ｒは、例えばＳＵＳなどによって円盤状に形成されている。回転部材Ｒの構成材料としてＳＵＳなどの剛性の高い材料を用いることで、耐変形性などに優れた回転部材Ｒが形成される。回転部材Ｒの構成材料として、他の材料を用いても勿論構わない。回転部材Ｒは、取付部２０、パターン形成部２１及び凹部２３を有している。

取付部２０は、回転部材Ｒの下面Ｒｂに設けられている。取付部２０の下面側には、平面視中央部に挿入穴２０ａが形成されている。挿入穴２０ａは、上記モータＭＴＲの回転軸４０が挿入されるようになっている。取付部２０は、回転軸４０が挿入穴２０ａに挿入された状態において回転軸４０と取付部２０との間を固定する固定機構（不図示）を有している。

パターン形成部２１は、回転部材Ｒの上面Ｒａの周縁部に円環状に設けられている。パターン形成部２１には、光反射パターン２４が形成されている。光反射パターン２４は、例えば回転部材Ｒの外周に沿って円環状に形成されている。光反射パターン２４は、所定の波長の光を反射する光反射領域２４ａを有している。光反射パターン２４として、例えば上面２１ａの他の部分よりも光反射率の低い低反射領域を有する構成であっても構わない。パターン形成部２１は、光反射パターン２４が形成された領域を含めて、ほぼ全体が例えばアクリル樹脂などの透明保護膜（不図示）によって被覆されている。

凹部２３は、回転部材Ｒの上面Ｒａに形成されている。凹部２３には、磁石部材Ｍが収容されるようになっている。

磁石部材Ｍは、回転部材Ｒの回転方向に沿って円環状に形成された永久磁石である。磁石部材Ｍは、このように円環状に形成されていることで、例えば回転部材Ｒのうち回転軸４０の軸方向に見て中央部を空けた位置（周縁部）に配置されることになる。磁石部材Ｍの上面には、所定の磁気パターンＭａ（図２参照）が形成されている。

図２は、磁石部材Ｍを回転軸４０の軸方向に見たときの構成を示す図である。図２に示すように、磁石部材Ｍの磁気パターンＭａは、円環の内周部と外周部とに区画されている。円環の内周部においては、回転軸４０の軸方向に見て円環の半分の領域（例えば図中右側の領域）にＮ極に着磁され、円環の他の半分の領域（例えば図中左側の領域）がＳ極に着磁されている。円環の外周部においては、回転軸４０の軸方向に見て円環の半分の領域（例えば図中右側の領域）にＳ極に着磁され、円環の他の半分の領域（例えば図中左側の領域）がＮ極に着磁されている。

本体部Ｄは、上記の光反射パターン２４での反射光や磁気パターンＭａによる磁場などの検出などを行う部分である。本体部Ｄは、筐体３０、光反射パターン検出部３１、第１磁気パターン検出部３２、第２磁気パターン検出部３３、制御部ＣＯＮＴ及び電源部ＢＡＴＴを有している。図１に示すように、少なくとも光反射パターン検出部３１、第１磁気パターン検出部３２及び第２磁気パターン検出部３３は、筐体３０のうち回転部材Ｒの上面Ｒａとの対向面に取り付けられている。制御部ＣＯＮＴの位置は、図１では光反射パターン検出部３１等の構成要素と同一の面上に設けられているが、他の位置に設けられた構成としても構わない。

筐体３０は、例えば平面視円形のコップ状に形成されている。筐体３０は、モータＭＴＲに固定されており、回転軸４０とは固定されていない状態となっている。したがって、回転軸４０が回転しても、筐体３０とモータＭＴＲとの相対位置が変化しないようになっている。筐体３０は、一体的に形成された回転部材Ｒ及び磁石部材Ｍを収容する。回転部材Ｒ及び磁石部材Ｍは、回転軸４０の軸方向に見たときに、それぞれの中心が筐体３０の中心に一致するように位置合わせされた状態で筐体３０に収容されている。

また、光反射パターン検出部３１は、筐体３０の内面に取り付けられている。光反射パターン検出部３１は、例えば回転部材Ｒの光反射パターン２４に対して、回転軸４０の軸方向に見て重なる位置に配置されている。

例えば、光反射パターン検出部３１は、光反射パターン２４へ向けて光を射出する発光部及び光反射パターン２４を介した反射光を受光する受光部を有する。発光部としては、例えばＬＥＤなどが用いられる。受光部としては、例えば光電素子などが用いられる。受光部によって読み取られた光は、電気信号として不図示の制御装置に送信されるようになっている。光反射パターン検出部３１を構成する各部は、筐体３０に保持されている。

第１磁気パターン検出部３２は、例えば磁石部材Ｍに対して回転軸４０の軸方向に見て重なる位置に配置された一対の磁気センサ３２Ａ及び３２Ｂ（一対の第１磁場検出器）を有している。磁気センサ３２Ａ（第１の磁場センサ）及び３２Ｂ（第２の磁場センサ）は、それぞれバイアス磁石（不図示）及び磁気抵抗素子（不図示）を有している。磁気センサ３２Ａ及び３２Ｂは、それぞれ筐体３０に保持されている。磁気センサ３２Ａ及び磁気センサ３２Ｂは、例えば回転部材Ｒの回転方向（図２のθ方向）に９０°ずれた位置に配置されている。

第２磁気パターン検出部３３は、一対の磁気センサ３３Ｃ及び３３Ｄ（一対の第２磁場検出器）を有している。磁気センサ３３Ｃ（第３の磁場センサ）及び３３Ｄ（第４の磁場センサ）は、例えば磁気センサ３２Ａ及び３２Ｂと同一の構成、すなわち、それぞれバイアス磁石（不図示）及び磁気抵抗素子（不図示）を有した構成となっている。また、磁気センサ３３Ｃ及び３３Ｄは、第１磁気パターン検出部３２の磁気センサ３２Ａ及び３２Ｂと同様に、例えば磁石部材Ｍに対して回転軸４０の軸方向に見て重なる位置に配置されており、例えば回転部材Ｒの回転方向（図２のθ方向）に９０°ずれた位置に配置されている。

本実施形態において、磁気センサ３２Ａ、３２Ｂ、３３Ｃ及び３３Ｄは回転軸４０を中心とする同一円周上に配置されていることになる。また、本実施形態において、磁気センサ３２Ａと磁気センサ３３Ｃとはθ方向に４５°ずれた位置に配置されており、磁気センサ３２Ｂと磁気センサ３３Ｄとはθ方向に４５°ずれた位置に配置されている。したがって、磁気センサ３２Ａ、３２Ｂ、３３Ｃ及び３３Ｄは、磁気センサ３２Ａからθ方向に見て、磁気センサ３３Ｃ、磁気センサ３２Ｂ、磁気センサ３３Ｄの順に４５°ずつ離れた位置に設けられている。このように、本実施形態において、第１磁気パターン検出部３２を構成する磁気センサ３２Ａ及び３２Ｂと、第２磁気パターン検出部３３を構成する磁気センサ３３Ｃ及び３３Ｄとは、等角度（例えば４５°）で交互に入り組んで配置された構成となっている。勿論、第１磁気パターン検出部３２と第２磁気パターン検出部３３とは入り組まないように配置させる構成であっても構わない。

上記の各磁気センサ３２Ａ、３２Ｂ、３３Ｃ及び３３Ｄに用いられるバイアス磁石は、磁石部材Ｍの磁場との間で合成磁場を形成する。バイアス磁石を構成する材料として、例えばサマリウム・コバルトなどの磁力の大きい希土類磁石などが挙げられる。バイアス磁石は、磁気抵抗素子に接触せず、また、当該磁気抵抗素子に隣接しない位置に配置されている。

また、磁気抵抗素子は、例えば金属配線などによって形成された直交する２つの繰り返しパターンを有している。磁気抵抗素子は、磁場の方向が当該繰り返しパターンに流れる電流の方向の垂直方向に近くなると電気抵抗が低下するようになっている。磁気抵抗素子は、この電気抵抗の低下を利用して磁場の方向を電気信号に変換するようになっている。磁気抵抗素子は、磁石部材Ｍの磁場及びバイアス磁石の磁場による合成磁場を検出するようになっている。検出結果は、電気信号として上記の制御装置（不図示）に送信されるようになっている。

制御部ＣＯＮＴは、光反射パターン検出部３１の受光部からの出力に基づいて回転軸４０の回転角度を求めると共に、磁気センサ３２Ａ及び３２Ｂ、磁気センサ３３Ｃ及び３３Ｄからの出力に基づいて回転軸４０の回転数や回転方向を含む回転情報を求める処理を行う。また、第１磁気パターン検出部３２（磁気センサ３２Ａ及び３２Ｂ）と第２磁気パターン検出部３３（磁気センサ３３Ｃ及び３３Ｄ）との検出結果を比較して、第１磁気パターン検出部３２及び第２磁気パターン検出部３３の検出結果に異常があるか否かを判断する。この制御部ＣＯＮＴには、例えば不図示の主制御装置やメモリなどが設けられている。

電源部ＢＡＴＴは、上記の本体部Ｄに対して電力を供給する部分である。電源部ＢＡＴＴは、主電源３４、バックアップ電源３５を有している。主電源３４は、本体部Ｄに電力を供給する電源である。主電源３４は、例えば上記の光反射パターン検出部３１や第１磁気パターン検出部３２、第２磁気パターン検出部３３、制御部ＣＯＮＴなどに接続されている。バックアップ電源３５は、例えば主電源３４がオフになっている場合などにおいて、当該主電源３４から切り替えて上記光反射パターン検出部３１、第１磁気パターン検出部３２、第２磁気パターン検出部３３、制御部ＣＯＮＴなどに接続されるようになっている。

次に、上記のエンコーダＥＣの動作を説明する。
モータＭＴＲの回転軸４０が回転すると、当該回転軸４０に一体的に取り付けられた回転部材Ｒ及び磁石部材Ｍが回転軸４０と一体的に回転する。モータＭＴＲに固定された本体部Ｄは、回転軸４０には接続されていないため、回転せずに静止した状態となる。制御部ＣＯＮＴは、光反射パターン検出部３１、第１磁気パターン検出部３２及び第２磁気パターン検出部３３に主電源部３４からそれぞれ電力を供給させる。制御部ＣＯＮＴは、電力を供給させた後、光反射パターン検出部３１及び第１磁気パターン検出部３２を用いてパターン検出工程を行う。

回転部材Ｒが回転すると、当該回転部材Ｒに形成された光反射パターン２４が回転方向に移動する。このとき、制御部ＣＯＮＴは光反射パターン検出部３１の発光部から光反射パターン２４へ向けて光を射出させ、光反射パターン２４で反射された反射光を受光部において受光させる。受光部では受光した反射光に応じた電気信号が生成され、制御部ＣＯＮＴに送信される。制御部ＣＯＮＴは、当該電気信号に基づき、光反射パターン２４の移動角度など回転部材Ｒの回転情報を読み取る。

一方、回転部材Ｒの回転と共に、磁石部材Ｍが回転する。磁石部材Ｍが回転すると、当該磁石部材Ｍの磁気パターンＭａによって形成される磁場とバイアス磁石の磁場との合成磁場が周期的に変化する。磁気センサ３２Ａ及び３２Ｂは、当該合成磁場の変化の周期を検出することにより、磁石部材Ｍ（回転軸）の回転数など回転部材Ｒの回転情報を読み取る。このように、パターン検出工程が行われる。

ここで、例えばエンコーダＥＣの主電源３４をオフにする場合には、バックアップ電源３５を用いて回転部材Ｒの回転情報を検出させることができる。この場合、制御部ＣＯＮＴは、例えば光反射パターン検出部３１、第１磁気パターン検出部３２及び第２磁気パターン検出部３３の接続先を主電源３４からバックアップ電源３５に切り替える。

次に、本実施形態における異常検出について説明する。例えば磁気センサにおいて検出異常が発生した場合、当該異常による検出誤差を含んだ回転情報が検出されてしまう可能性があるため、磁気センサの検出精度が低下してしまう可能性がある。

そこで、本実施形態では、例えば、電源を主電源３４からバックアップ電源３５に切り替えたときに、制御部ＣＯＮＴは、第２磁気パターン検出部３３を用いて第１磁気パターン検出部３２（及び第２磁気パターン検出部３３）の検出結果に異常がないかの異常検出動作を行わせる（異常検出工程）。図３は、第１磁気パターン検出部３２及び第２磁気パターン検出部３３を用いて磁気パターンＭａを検出する場合の検出波形を示すグラフである。グラフの横軸は位相を示している。

図３に示すように、磁気パターンＭａは、各磁気センサ３２Ａ、３２Ｂ、３３Ｃ、３３Ｄにおいて、例えば山部分と谷部分とが同位相で繰り返される矩形波として検出される。制御部ＣＯＮＴは、例えば１つの山部分と１つの谷部分とが検出されたら、磁石部材Ｍの回転数を１つカウントする。本実施形態において、磁気センサ３２Ａ、３３Ｃ、３２Ｂ、３３Ｄは回転軸４０を中心として４５°ずれた角度でそれぞれ配置されているため、各磁気センサ３２Ａ、３３Ｃ、３２Ｂ、３３Ｄにおいて検出される検出波形は４５°ずつ位相がずれた状態でそれぞれ検出される。

制御部ＣＯＮＴは、磁気センサ３２Ａ及び３２Ｂの検出結果から算出される第１回転情報（例、検出波形の位相や該位相に基づく回転数）と、磁気センサ３３Ｃ及び３３Ｄの検出結果から算出される第２回転情報（例、検出波形の位相や該位相に基づく回転数）とを比較し、比較結果に応じて第１磁気パターン検出部３２（磁気センサ３２Ａ及び３２Ｂ）及び第２パターン検出部（磁気センサ３３Ｃ及び３３Ｄ）における検出異常の有無を判断する。

ここで、磁気センサ３２Ａ、３３Ｃ、３２Ｂ、３３Ｄは回転軸４０を中心として４５°ずれた角度でそれぞれ配置されているため、正常時において上記の第１回転情報と第２回転情報とは、互いの位相差が４５°を超えて互いの回転数が１回転以上の差は生じない。従って、制御部ＣＯＮＴは、第１回転情報と第２回転情報とにおける互いの位相差が４５°より大きく、第１回転情報と第２回転情報とにおける互いの回転数が１回転以上の場合に、磁気センサ３２Ａ、３２Ｂ、３３Ｃ、３３Ｄのうちいずれか１つ以上に検出異常が発生したとして判断することができる。また、制御部ＣＯＮＴは、例えば第１回転情報における位相と第２回転情報における位相との位相差が４５°より大きくなる場合には、磁気センサ３２Ａ、３２Ｂ、３３Ｃ、３３Ｄのうちいずれか１つ以上に検出異常が発生したとして判断することができる。上記のような判断は、制御部ＣＯＮＴ内の異常判断手段によって行われる。このように第１磁気パターン検出部３２及び第２磁気パターン検出部３３の検出異常が検出される。検出異常が検出された場合、制御部ＣＯＮＴは、検出異常を警報として出力する、或いは検出異常を含む検出結果については回転数をカウントしない、などの動作を行わせる。なお、制御部ＣＯＮＴは、磁気センサ３２Ａ、３３Ｃにおける互いの位相差が４５°より大きく、磁気センサ３２Ａ、３３Ｃにおける互いの回転数が１回転異常の場合に、上述の検出異常が発生したとして判断するようにしてもよい。

上記のように、本実施形態によれば、磁気パターンＭａを有し、回転軸４０を中心として回転する回転部材Ｒと、当該磁気パターンＭａを検出する第１磁気パターン検出部３２及び第２磁気パターン検出部３３と、を備えることとしたので、例えば磁気センサ３２Ａ、３２Ｂ、３３Ｃ、３３Ｄのうち１つ以上の磁気センサに検出異常が発生した場合、制御部ＣＯＮＴにおいて回転情報を算出しないなどの処理を行わせることができる。これにより、検出異常を含む回転情報が検出されてしまうのを防ぐことができるため、所期の検出精度を維持することができる。

本発明の技術範囲は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更を加えることができる。
例えば、上記実施形態においては、第１磁気パターン検出部３２及び第２磁気パターン検出部３３を設けて、第１磁気パターン検出部３２の検出結果と第２磁気パターン検出部３３の検出結果とを比較することで、第１磁気パターン検出部３２及び第２磁気パターン検出部３３の検出異常を検出できる構成としたが、これに限られることは無い。例えば第１磁気パターン検出部３２のみを設けて、当該第１磁気パターン検出部３２の検出異常を検出する別の機構を設ける構成としても構わない。

また、上記実施形態では、主電源３４が本体部Ｄに設けられた構成としたが、これに限られることは無く、例えば主電源３４が本体部Ｄの外部に設けられる構成であっても構わない。この場合、例えば本体部Ｄには、バックアップ電源３５のみが設けられた構成となる。

また、上記実施形態では、第１磁気パターン検出部３２及び第２磁気パターン検出部３３の検出異常を検出可能な構成としたが、これに限られることは無く、例えば光反射パターン検出部３１の検出異常を検出可能な構成としても構わない。

また、上記実施形態では、エンコーダＥＣの本体部Ｄとして、筐体３０に第１磁気パターン検出部３２や第２磁気パターン検出部３３などの各構成要素が設けられた構成を例に挙げて示したが、当該構成はあくまでも一例であり、これに限られることは無い。例えば本体部Ｄが上記各構成要素を搭載した回路基板を有すると共に、当該回路基板を保護するカバー部材を有する構成としても勿論構わない。

また、上記実施形態では、第１磁気パターン検出部３２、第２磁気パターン検出部３３が主電源３４からバックアップ電源３５に切り替えて接続されたときに検出異常を検出する構成を例に挙げて説明したが、これに限られることは無く、例えば主電源３４に接続されている状態で定期的又は不定期に検出異常を検出しても構わない。また、主電源３４からバックアップ電源３５に切り替えるタイミングを含む期間で検出異常を検出するようにしても構わない。

また、上記実施形態では、パターンとして光反射パターン２４及び磁気パターンＭａが設けられた構成を例に挙げて説明したが、これに限られることは無く、例えば光反射パターン２４のみが設けられた構成や、磁気パターンＭａのみが設けられた構成であっても本発明の適用は可能である。

また、上記実施形態では、光反射パターン検出部３１、第１磁気パターン検出部３２及び第２磁気パターン検出部３３が検出する回転情報として、回転数を例に挙げて説明したが、これに限られることは無く、例えば回転角度や回転位置など、回転に関する他の情報を検出する場合においても、本発明の適用は可能である。

ＥＣ…エンコーダ Ｒ…回転部材 Ｍ…磁石部材 Ｍａ…磁気パターン ＣＯＮＴ…制御部 ＢＡＴＴ…電源部 ３２…第１磁気パターン検出部 ３３…第２磁気パターン検出部 ３２Ａ、３２Ｂ、３３Ｃ、３３Ｄ…磁気センサ ３４…主電源 ３５…バックアップ電源 ４０…回転軸

Claims (11)

1. パターンを有し、回転軸を中心として回転する回転部と、
   前記パターンを検出するパターン検出部と、
   前記パターン検出部とは別に前記パターンを検出する第２パターン検出部と、
   前記パターン検出部又は前記第２パターン検出部における検出異常の有無を検出する制御部と
   を備えるエンコーダ。
2. 前記制御部は、
   前記パターン検出部による検出結果及び前記第２パターン検出部による検出結果に基づいて前記検出異常の有無を判断する異常判断手段を有する
   請求項１に記載のエンコーダ。
3. 前記異常判断手段は、前記パターン検出部による検出結果及び前記第２パターン検出部による検出結果における互いの位相差に基づいて、前記検出異常の有無を判断する
   請求項２に記載のエンコーダ。
4. 前記パターンは、磁気パターンを含み、
   前記パターン検出部は、前記磁気パターンによる磁場を検出する第１磁場検出部を有する
   請求項１から請求項３のうちいずれか一項に記載のエンコーダ。
5. 前記第１磁場検出部は、前記回転部の回転方向において所定角度ずれた位置に配置される一対の第１磁場検出器を有し、
   前記検出異常は、前記一対の第１磁場検出器のうち少なくとも一方に生じる検出異常を含む
   請求項４に記載のエンコーダ。
6. 前記第２パターン検出部は、前記第１磁場検出部とは異なる位置で前記磁場を検出する第２磁場検出部を有し、
   前記第２磁場検出部は、前記回転部の回転方向に前記所定角度ずれた位置に配置される一対の第２磁場検出器を有する
   請求項５に記載のエンコーダ。
7. 前記第２パターン検出部は、前記第１磁場検出部からの検出結果と前記第２磁場検出部からの検出結果とに基づいて前記検出異常の有無を検出する
   請求項６に記載のエンコーダ。
8. 少なくとも前記パターン検出部及び前記第２パターン検出部に電気的に接続される主電源のオフ時において少なくとも前記パターン検出部及び前記第２パターン検出部に前記主電源から切り替えて接続されるバックアップ電源を更に備え、
   前記検出異常は、前記バックアップ電源に接続された前記パターン検出部の検出異常を含む
   請求項１から請求項７のうちいずれか一項に記載のエンコーダ。
9. 測定対象の回転軸部材に固定される回転部に設けられたパターンを、パターン検出部及び第２パターン検出部によって検出するパターン検出工程と、
   前記パターン検出部又は前記第２パターン検出部における検出異常の有無を、制御部によって検出する異常検出工程と
   を有するエンコーダのパターン検出方法。
10. 前記異常検出工程は、少なくとも前記パターン検出部及び前記第２パターン検出部に電気的に接続される電源が主電源からバックアップ電源に切り替えられたときに前記検出異常を検出することを含む
    請求項９に記載のエンコーダのパターン検出方法。
11. 前記異常検出工程は、前記パターン検出部から得られる第１回転情報と前記第２パターン検出部から得られる第２回転情報とに基づいて前記検出異常の有無を検出することを含む
    請求項９又は請求項１０に記載のエンコーダのパターン検出方法。

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