JP2011099830A - 精密標点位置の作成治具 - Google Patents

Abstract

【課題】伸び計のロッド先端を固定する標点位置としてのくぼみを形成する際に試験片を破損させることがなく、かつ、くぼみの位置の精度の向上を図った精密標点位置の作成治具を提供する。
【解決手段】中空円筒状の試験片１２０に、伸び計のロッド先端を固定する標点位置としてのくぼみを形成するための精密標点位置の作成治具であって、試験片１２０の中空部１２０ａに挿入され、試験片１２０を内面側より支持する円柱状の中子２と、試験片１２０の中空部１２０ａに挿入された中子２の両端部を下方から支持する基台３と、試験片１２０にくぼみを形成するためのポンチ４と、基台３と中子２とに支持された試験片１２０の上部を覆うように設けられ、基台３に位置決めして固定され、ポンチ４を通すための貫通孔５ａが形成された上蓋５とを備えたものである。
【選択図】図１

Description

本発明は、中空円筒状の試験片に、伸び計のロッド先端を固定する標点位置としてのくぼみを形成するための精密標点位置の作成治具に関するものである。

材料の疲労特性に及ぼす多軸負荷の影響を把握するために、単軸負荷と多軸負荷の疲労試験を実施し、それらの結果を比較する必要がある。多軸強度研究に用いられる試験手法は複数あり、試験片形状や試験手法により実現できる多軸状態が異なる。

このような多軸強度研究に用いられる試験手法の中で、図１２に示すような薄肉の円筒状の試験片（薄肉円筒試験片：以下、単に試験片という）１２０を用い、引張・圧縮とねじりを繰返し負荷する試験は、最も多く採用されている方法である。その理由としては、試験方法が比較的簡単なこと、応力とひずみの両者を実験的に測定可能であること、応力とひずみの主軸方向を自由に変化させることができること、などが挙げられる。

試験片１２０は、その軸方向中央部に薄肉の平行部（試験部）１２１が形成されている。平行部１２１の板厚ｔを薄くすることで、平行部１２１における応力やひずみの勾配を小さくでき、高精度な試験を実施できる。平行部１２１の板厚ｔは、例えば、１ｍｍである。試験片１２０の両端部には、径の大きいフランジ状のつかみ部１２２がそれぞれ形成されている。

試験片１２０でのひずみ計測方法としては、図１３に示すようなレバー式の伸び計１３０がよく用いられる。この伸び計１３０は、２本のロッド１３１と、両ロッド１３１の後端部に取り付けられた計測部１３２と、両ロッド１３１を上下左右に移動自在に支持する支持部材１３３とを備えている。計測部１３２は、一方のロッド１３１の後端に取り付けられたＬ字状の第１計測部１３２ａと、他方のロッド１３１の後端に取り付けられ、第１計測部１３２ａのＬ字状の欠損部に配置された第２計測部１３２ｂとからなる。

伸び計１３０を用いて試験片１２０のひずみを計測する際には、予め試験片１２０の平行部１２１に、軸方向に沿って所定間隔で標点位置となる標点部１２３（図１４参照）を形成しておき、形成した両標点部１２３に、ロッド１３１先端を固定する。この状態で試験片１２０に引張や圧縮、ねじりの負荷を加え、両計測部１３２ａ，１３２ｂの図示上下方向の間隔ΔＬ_A、図示左右方向の間隔ΔＬ_Tをそれぞれ検出することにより、両標点部１２３の間隔の変化（すなわち試験片１２０の軸方向の変形量）、両標点部１２３の周方向のずれ（すなわち、ねじり方向の変形量）をそれぞれ計測することができる。

レバー式の伸び計１３０の両ロッド１３１を試験片１２０の標点部１２３に取り付ける際には、負荷によるロッド１３１先端のズレを防ぐために、図１４（ａ）に示すように、試験片１２０の平行部１２１の表面にセラミックスボンドでコブ１４１を設けたり、あるいは、図１４（ｂ）に示すように、ポンチなどでくぼみ１４２を設けたりする。

なお、この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、非特許文献１がある。

社団法人日本材料学会 高温強度部門委員会、「高温サイクル疲労試験法標準」、社団法人日本材料学会、平成１５年６月２日、ｐ．７９−９７

しかしながら、セラミックスボンドからなるコブ１４１は、伸び計１３０のロッド１３１先端の位置決め精度が悪く、信頼性の高いデータの取得が困難となってしまう問題がある。さらには、セラミックスボンドからなるコブ１４１は高温で融けてしまうため、高温環境下での試験には用いることができないという問題がある。

したがって、標点位置を決定する標点部１２３としては、ポンチなどで形成したくぼみ１４２を用いることが望ましい。

しかし、試験片１２０の平行部１２１にくぼみ１４２を設ける場合、平行部１２１の板厚ｔが薄いため、ポンチで叩打してくぼみ１４２を設ける際に、試験片１２０が破損してしまうおそれがある。

そこで、本発明の目的は、上記課題を解決し、伸び計のロッド先端を固定する標点位置としてのくぼみを形成する際に試験片を破損させることがなく、かつ、くぼみの位置の精度の向上を図った精密標点位置の作成治具を提供することにある。

本発明は上記目的を達成するために創案されたものであり、中空円筒状の試験片に、伸び計のロッド先端を固定する標点位置として前記試験片の軸方向に沿った２つのくぼみを形成するための精密標点位置の作成治具であって、前記試験片の中空部に挿入され、前記試験片を内面側より支持する円柱状の中子と、前記試験片の中空部に挿入された前記中子の両端部を下方から支持する基台と、前記試験片に前記くぼみを形成するためのポンチと、前記基台と前記中子とに支持された試験片の上部を覆うように設けられると共に、前記基台に位置決めして固定され、前記試験片の軸方向に沿って前記ポンチを通すための２つの貫通孔が形成された上蓋とを備えた精密標点位置の作成治具である。

また、本発明は、中空円筒状の試験片に、伸び計のロッド先端を固定する標点位置として前記試験片の軸方向の２箇所に周方向に沿ったケガキ線を形成するための精密標点位置の作成治具であって、前記試験片の中空部に挿入され、前記試験片を内面側より支持する円柱状の中子と、前記試験片の中空部に挿入された前記中子の両端部を下方から支持する基台と、前記試験片に前記ケガキ線を形成するためのケガキ針と、前記基台と前記中子とに支持された試験片の上部を覆うように設けられると共に、前記基台に位置決めして固定され、前記試験片の軸方向に沿って前記ケガキ針を通すための２つの貫通孔が形成された上蓋とを備えた精密標点位置の作成治具である。

前記基台は、前記中子の一端部を通すための第１支持穴が形成された側壁を有する基台本体と、該基台本体と別体に形成され、前記中子の他端部を通すための第２支持穴が形成された位置決め用側壁とからなり、前記位置決め用側壁を前記基台本体の側壁側に押し付けることにより、前記試験片を前記位置決め用側壁と前記基台本体の側壁とで挟み、前記試験片を前記基台に対して位置決めするようにしてもよい。

前記中子の両端部にネジ部を形成し、前記基台本体の側壁から突出したネジ部と、前記位置決め用側壁から突出したネジ部をナットでそれぞれ締結することで、前記側壁と前記試験片と前記位置決め用側壁とを固定するようにしてもよい。

前記貫通孔は、その位置が前記上蓋の前記側壁側の端部を基準として決定され、前記上蓋には、前記側壁側の端部を表示するためのマークが表示されてもよい。

前記基台と前記上蓋との位置決めは、前記基台と前記上蓋に形成した位置決め用穴に位置決め用ピンを通すことによって行われ、前記基台と前記上蓋との固定は、前記基台と前記上蓋に形成したネジ穴にボルトを螺合することによって行われてもよい。

前記基台を前記試験片の軸方向に対して２分割して形成すると共に、該分割した基台の少なくとも一方をスライド移動可能とし、前記試験片の軸方向の長さに応じて前記基台の長さを変更可能としてもよい。

前記中子の外周には、前記中子を前記試験片の中空部に挿入する際に前記試験片を傷つけないようにするための保護層が設けられてもよい。

本発明によれば、伸び計のロッド先端を固定する標点位置としてのくぼみを形成する際に試験片を破損させることがなく、かつ、くぼみの位置の精度の向上を図った精密標点位置の作成治具を提供できる。

本発明の一実施の形態に係る精密標点位置の作成治具の側面図である。 図１の精密標点位置の作成治具に用いる中子の側面図である。 図１の精密標点位置の作成治具に用いる基台本体を示す図であり、（ａ）は平面図、（ｂ）は正面図、（ｃ）は側面図である。 図１の精密標点位置の作成治具に用いる基台の位置決め用側壁を示す図であり、（ａ）は正面図、（ｂ）は側面図である。 図１の精密標点位置の作成治具に用いる上蓋を示す図であり、（ａ）は平面図、（ｂ）は正面図、（ｃ）は側面図である。 （ａ）〜（ｄ）は、図１の精密標点位置の作成治具の組み立て手順を説明する図である。 本発明の一実施の形態に係る精密標点位置の作成治具を示す図であり、（ａ）は平面図、（ｂ）は正面図、（ｃ）は側面図である。 図７の精密標点位置の作成治具に用いる基台を示す図であり、（ａ）は平面図、（ｂ）は正面図、（ｃ）は側面図である。 図７の精密標点位置の作成治具に用いる試験片固定用部材を示す図であり、（ａ）は平面図、（ｂ）は側面図である。 図７の精密標点位置の作成治具に用いる上蓋を示す図であり、（ａ）は平面図、（ｂ）は側面図である。 図７の精密標点位置の作成治具に用いる上蓋固定部材を示す図であり、（ａ）は正面図、（ｂ）は側面図である。 薄肉円筒試験片を示す側面図である。 伸び計を示す斜視図である。 （ａ）は、標点部としてコブを用いたときの拡大斜視図および部分拡大側面図であり、（ｂ）は、標点部としてくぼみを用いたときの拡大斜視図および部分拡大側面図である。

以下、本発明の好適な実施の形態を添付図面にしたがって説明する。

図１は、本実施の形態に係る精密標点位置の作成治具の側面図である。

図１に示すように、精密標点位置の作成治具１は、中空円筒状の試験片（薄肉円筒試験片）１２０に、伸び計のロッド先端を固定する標点位置としてのくぼみを形成するためのものであり、試験片１２０の中空部１２０ａに挿入され、試験片１２０を内面側より支持する円柱状の中子２と、試験片１２０の中空部１２０ａに挿入された中子２の両端部を下方から支持する基台３と、試験片１２０に標点位置としてのくぼみを形成するための２つのポンチ（ピン）４と、基台３と中子２とに支持された試験片１２０の上部を覆うように設けられると共に、基台３に位置決めして固定され、ポンチ４を通すための２つの貫通孔５ａが形成された上蓋５とを備えている。

中子２、基台３、上蓋５としては、さびの生じにくい材料を用いることが好ましく、例えば、ＳＵＳ３０４やチタンからなるものを用いるとよい。また、ポンチ４としては、試験片１２０よりも硬い材料を用いるとよく、例えば、ＳＫ４（工具鋼）からなるものを用いるとよい。

ポンチ４は、円柱状に形成されると共に、その先端部が円錐形（先端先細）に形成されている。ポンチ４の先端部を試験片１２０に当接させ、ポンチ４の上方からハンマーなどで叩打することで、試験片１２０にくぼみを形成することができる。

図２に示すように、中子２の外周には、中子２を試験片１２０の中空部１２０ａに挿入する際に試験片１２０の内面を傷つけないようにするための保護層２ａが設けられている。保護層２ａは、例えば、フッ素樹脂などの熱収縮樹脂（熱硬化性樹脂）からなる。また、中子２の両端部には、ネジ部２ｂがそれぞれ形成される。

基台３は、基台本体３ａと、基台本体３ａと別体に形成された位置決め用側壁３ｂとからなる。

図３（ａ）〜（ｃ）に示すように、基台本体３ａは、底壁３ｄと底壁３ｄの先端部（図３（ａ）では左側の端部）から上方に伸びる側壁３ｃとからなり、側面視で略Ｌ字状に形成される。側壁３ｃの略中央部には、中子２の一端部を通すための第１支持穴６ａが形成されている。底壁３ｄには、その両側面から上方に伸びる脚部３ｅが２対形成されている。各脚部３ｅの上面には、ネジ穴３ｆがそれぞれ形成されており、各脚部３ｅのうち対角に位置した脚部３ｅ（図３（ａ）では左下と右上の脚部３ｅ）の上面には、さらに、上蓋５を位置決めするための位置決め用穴３ｇが形成されている。

図４（ａ），（ｂ）に示すように、位置決め用側壁３ｂの略中央部には、中子２の他端部を通すための第２支持穴６ｂが形成されている。

図５（ａ）〜（ｃ）に示すように、上蓋５には、試験片１２０に軸方向に沿って２つのくぼみを形成するために、試験片１２０の軸方向に沿って２つの貫通孔５ａが設けられている。貫通孔５ａは、ポンチ４の径と略等しい径に形成され、試験片１２０の平行部１２１に位置するように形成される。貫通孔５ａは、その位置が上蓋５の側壁３ｃ側の端部（図５（ａ）では左側の端部）を基準として形成され、上蓋５には、基準となる側壁３ｃ側の端部を表示するためのマーク５ｆが表示される。

また、上蓋５には、その先端面（図５（ａ）では左側の面）と後端面（図５（ａ）では右側の面）から下方に伸びる脚部５ｂが形成される。両脚部５ｂの幅方向（図５（ｂ）では左右方向）中央部には、上下反転したＶ字状の切欠き溝５ｃがそれぞれ形成されている。また、上蓋５の四隅近傍には、ネジ取付穴５ｄが形成されており、四隅のうち対角する部分（図５（ａ）では左下隅、右下隅の部分）には、位置決め用穴５ｅが形成されている。

精密標点位置の作成治具１を組み立てる際には、まず、図６（ａ）に示すように、試験片１２０の中空部１２０ａに、中子２を挿入する。

その後、図６（ｂ）に示すように、試験片１２０の中空部１２０ａに挿入した中子２の一端部を、基台本体３ａの側壁３ｃに形成された第１支持穴６ａに挿入すると共に、中子２の他端部を、位置決め用側壁３ｂの第２支持穴６ｂに挿入し、位置決め用側壁３ｂを基台本体３ａの側壁３ｃ側に押し付けることにより、試験片１２０を位置決め用側壁３ｂと基台本体３ａの側壁３ｃとで挟む。この状態で、両側壁３ｂ、３ｃから突出した中子２の端部に形成されたネジ部２ｂをナット７で締結する。これにより、両側壁３ｂ、３ｃ間に試験片１２０が固定され、試験片１２０が基台３に対して位置決めされる。

その後、図６（ｃ）に示すように、基台本体３ａの脚部３ｅの上面に形成された位置決め用穴３ｇに、位置決め用ピン８を差し込む。

位置決め用穴３ｇに位置決め用ピン８を差し込んだ後、図６（ｄ）に示すように、上蓋５を試験片１２０の上方からかぶせ、位置決め用ピン８を上蓋５の位置決め用穴５ｅに差し込んで、上蓋５を基台３に対して位置決めする。この状態でボルト９をネジ取付穴５ｄ、ネジ穴３ｆに螺合させて、上蓋５を基台３に固定する。

その後、上蓋５の貫通孔５ａにポンチ４を通せば、図１の精密標点位置の作成治具１が得られる。ポンチ４を上方からハンマーなどで叩打することにより、試験片１２０に標点位置となるくぼみを形成することができる。

本実施の形態の作用を説明する。

本実施の形態に係る精密標点位置の作成治具１では、試験片１２０の中空部１２０ａに中子２を挿入し、試験片１２０の中空部１２０ａに挿入された中子２の両端部を基台３で下方から支持し、基台３と中子２とに支持された試験片１２０の上部を覆うように上蓋５を設けると共に、上蓋５に、試験片１２０に標点位置となるくぼみを形成するためのポンチ４を通す貫通孔５ａを形成している。

試験片１２０の中空部１２０ａに中子２を挿入することで、中子２により試験片１２０を内面側から支持することが可能となり、ポンチ４を叩打してくぼみを形成する際に、試験片１２０が破損してしまうことがなくなる。

また、精密標点位置の作成治具１では、試験片１２０を位置決め用側壁３ｂと基台本体３ａの側壁３ｃとで挟んで試験片１２０を基台３に対して位置決めしており、さらに、中子２の両端部にネジ部２ｂを形成し、両側壁３ｂ，３ｃから突出したネジ部２ｂをナット７で締結して、両側壁３ｂ、３ｃと試験片１２０とを固定しているため、試験片１２０を基台３に対して精密に位置合せすることができる。

さらに、精密標点位置の作成治具１では、基台３と上蓋５に形成した位置決め用穴３ｇ，５ｅに位置決め用ピン８を通すことにより、基台３と上蓋５との位置決めを行い、基台３と上蓋５に形成したネジ穴３ｆ、ネジ取付穴５ｄにボルト９を螺合することにより、基台３と上蓋５とを固定しているため、基台３に対して上蓋５を精密に位置合わせすることができ、かつ、基台３と上蓋５とを強固に固定することができる。

さらにまた、精密標点位置の作成治具１では、上蓋５の側壁３ｃ側の端部を基準として貫通孔５ａの位置を決定し、上蓋５に側壁３ｃ側の端部を表示するためのマーク５ｆを表示しているため、貫通孔５ａの位置を精密に作成することができる。

このように、精密標点位置の作成治具１によれば、基台３に対して試験片１２０と上蓋５とを精密に位置合せでき、かつ、ポンチ４を通す貫通孔５ａの位置を精密に作成できるので、各部材の組合せ寸法公差を高精度にすることで、試験片１２０に形成するくぼみの位置、すなわち標点位置を高精度で作成することが可能となる。

また、精密標点位置の作成治具１では、中子２の外周に保護層２ａを設けているため、中子２を試験片１２０の中空部１２０ａに挿入する際に、試験片１２０を傷つけてしまうおそれがない。

本発明の他の実施の形態を説明する。

図７（ａ）〜（ｃ）に示す精密標点位置の作成治具７１は、基台７２を試験片１２０の軸方向に対して２分割して形成し、分割した基台７２の一方をスライド移動可能としたものである。

より具体的には、精密標点位置の作成治具７１の基台７２は、固定側基台７２ａと、移動側基台７２ｂとからなり、両基台７２ａ，７２ｂは、レール７３上にスライド移動可能に設けられたリニアガイド７９ａ，７９ｂにそれぞれ載置されている。固定側基台７２ａが載置されたリニアガイド７９ａは、ストッパ８０により固定されており、移動側基台７２ｂが載置されたリニアガイド７９ｂのみがスライド移動可能とされている。

両基台７２ａ，７２ｂには、支持ボルト７４がそれぞれ設けられており、この支持ボルト７４により、試験片１２０の中空部１２０ａに挿入した中子２の端部を支持するようにされている。試験片１２０は、両基台７２ａ，７２ｂをまたぐように配置される。

支持ボルト７４、中子２に支持された試験片１２０の上方には、上蓋７５が設けられる。上蓋７５は、その長さ（図７（ａ）では左右方向の長さ）が試験片１２０の軸方向の長さより短く形成され、その幅が両基台７２ａ，７２ｂの幅と等しく形成されている。

上蓋７５の両側面の先端部（図７（ａ）では左側）と後端部（図７（ａ）では右側）には、上蓋７５から下方に延びる上蓋固定用部材７６が設けられる。先端側に設けられた上蓋固定用部材７６の下端部は、固定側基台７２ａの側面に固定される。後端側に設けられた上蓋固定用部材７６の下端部は、移動側基台７２ａの側面に固定される。また、上蓋７５は、ボルト９により両基台７２ａ，７２ｂに固定される。つまり、上蓋７５は、上蓋固定用部材７６とボルト９により、両基台７２ａ，７２ｂに固定される。なお、図７（ｃ）では、図の簡略化のため、上蓋固定用部材７６を省略している。

固定側基台７２ａには、試験片１２０のつかみ部１２２を固定するための試験片固定用部材７８が設けられる。精密標点位置の作成治具７１では、試験片１２０のつかみ部１２２を試験片固定用部材７８で固定側基台７２ａに固定すると共に、試験片１２０のつかみ部１２２を試験片固定用部材７８と上蓋７５とで挟むことにより、試験片１２０と上蓋７５の位置合せを行うようにしている。つまり、精密標点位置の作成治具７１では、試験片固定用部材７８を固定側基台７２ａに固定し、上蓋７５にて試験片１２０を固定側基台７２ａ側（試験片固定用部材７８側）に押し付けることにより、試験片１２０と上蓋７５の位置合せを行うようにしている。なお、図７（ｂ）では、図の簡略化のため、試験片１２０のつかみ部１２２、及び試験片固定用部材７８を省略している。

図８（ａ）〜（ｃ）に示すように、基台７２（固定側基台７２ａ、移動側基台７２ｂ）の幅方向中央部には、Ｖ字状の切欠き溝７３が形成されており、その切欠き溝７３の幅方向中央部には、支持ボルト７４を取り付けるための支持ボルト用ネジ穴７２ｃが形成されている。また、基台７２には、ボルト９を取り付けるためのネジ穴７２ｄと、試験片固定用部材７８を取り付けるための側壁固定用部材取付穴７２ｅとが形成されている。基台７２の側面には、上蓋固定用部材７６を固定するための上蓋固定用部材取付穴７２ｆが形成されている。

図９（ａ），（ｂ）に示すように、試験片固定用部材７８は、平面視で略コ字状に形成されており、該コ字状の欠損部７８ｂに試験片１２０のつかみ部１２２を嵌め込むようになっている。また、試験片固定用部材７８の両側部には取付穴７８ａが形成されており、取付穴７８ａを通して固定側基台７２ａの側壁固定用部材取付穴７２ｅにボルトを螺合することで、試験片固定用部材７８が固定側基台７２ａに取り付けられる。

図１０（ａ），（ｂ）に示すように、上蓋７５は、その四隅近傍にネジ取付穴７５ａが形成されており、ネジ取付穴７５ａを介してボルト９を両基台７２ａ，７２ｂのネジ穴７２ｄに螺合することにより、両基台７２ａ，７２ｂをまたぐようにして両基台７２ａ，７２ｂに固定される。

図１１（ａ），（ｂ）に示すように、上蓋固定用部材７６は、その下端部に取付穴７６ａが形成されており、取付穴７６ａを介してボルトを基台７２の上蓋固定用部材取付穴７２ｆに螺合することで、基台７２に取り付けられる。

精密標点位置の作成治具７１によれば、試験片１２０の軸方向の長さに応じて基台７２の長さ（固定側基台７２ａと移動側基台７２ｂとの間隔）を変更することが可能となり、汎用性を向上させることが可能となる。

なお、上蓋７５は、試験片１２０の軸方向の長さに応じてその都度作成するようにしてもよいし、任意の間隔で複数のネジ取付穴７５ａおよび貫通孔５ａを形成しておき、使用するネジ取付穴７５ａ、貫通孔５ａを適宜選択することで、試験片１２０の軸方向の長さに対応するようにしてもよい。

上記実施の形態では、ポンチ４を用いて標点位置としてのくぼみを形成する場合を説明したが、これに限らず、ポンチ４に替えてケガキ針を貫通孔５ａに通し、試験片１２０を回転させることで、試験片１２０の軸方向の２箇所に、標点位置としての周方向に沿ったケガキ線（細い溝）を形成するようにしてもよい。これにより、伸び計のロッド先端を標点位置であるケガキ線に固定する際に、伸び計のロッド先端を試験片１２０の周方向に規制されないようにすることができる。

また、上記実施の形態では、試験片として中空円筒状の試験片１２０を用いたが、これに限らず、中実の試験片を用いることも当然可能である。この場合、中子を省略して、基台の表面で試験片を支持するようにすればよい。

このように、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加え得ることは勿論である。

１ 精密標点位置の作成治具
２ 中子
３ 基台
４ ポンチ
５ 上蓋
５ａ 貫通孔
１２０ 試験片
１２０ａ 中空部

Claims (8)

1. 中空円筒状の試験片に、伸び計のロッド先端を固定する標点位置として前記試験片の軸方向に沿った２つのくぼみを形成するための精密標点位置の作成治具であって、
   前記試験片の中空部に挿入され、前記試験片を内面側より支持する円柱状の中子と、前記試験片の中空部に挿入された前記中子の両端部を下方から支持する基台と、前記試験片に前記くぼみを形成するためのポンチと、前記基台と前記中子とに支持された試験片の上部を覆うように設けられると共に、前記基台に位置決めして固定され、前記試験片の軸方向に沿って前記ポンチを通すための２つの貫通孔が形成された上蓋とを備えたことを特徴とする精密標点位置の作成治具。
2. 中空円筒状の試験片に、伸び計のロッド先端を固定する標点位置として前記試験片の軸方向の２箇所に周方向に沿ったケガキ線を形成するための精密標点位置の作成治具であって、
   前記試験片の中空部に挿入され、前記試験片を内面側より支持する円柱状の中子と、前記試験片の中空部に挿入された前記中子の両端部を下方から支持する基台と、前記試験片に前記ケガキ線を形成するためのケガキ針と、前記基台と前記中子とに支持された試験片の上部を覆うように設けられると共に、前記基台に位置決めして固定され、前記試験片の軸方向に沿って前記ケガキ針を通すための２つの貫通孔が形成された上蓋とを備えたことを特徴とする精密標点位置の作成治具。
3. 前記基台は、前記中子の一端部を通すための第１支持穴が形成された側壁を有する基台本体と、該基台本体と別体に形成され、前記中子の他端部を通すための第２支持穴が形成された位置決め用側壁とからなり、前記位置決め用側壁を前記基台本体の側壁側に押し付けることにより、前記試験片を前記位置決め用側壁と前記基台本体の側壁とで挟み、前記試験片を前記基台に対して位置決めするようにした請求項１または２記載の精密標点位置の作成治具。
4. 前記中子の両端部にネジ部を形成し、前記基台本体の側壁から突出したネジ部と、前記位置決め用側壁から突出したネジ部をナットでそれぞれ締結することで、前記側壁と前記試験片と前記位置決め用側壁とを固定するようにした請求項３記載の精密標点位置の作成治具。
5. 前記貫通孔は、その位置が前記上蓋の前記側壁側の端部を基準として決定され、前記上蓋には、前記側壁側の端部を表示するためのマークが表示される請求項３または４記載の精密標点位置の作成治具。
6. 前記基台と前記上蓋との位置決めは、前記基台と前記上蓋に形成した位置決め用穴に位置決め用ピンを通すことによって行われ、前記基台と前記上蓋との固定は、前記基台と前記上蓋に形成したネジ穴にボルトを螺合することによって行われる請求項１〜５いずれかに記載の精密標点位置の作成治具。
7. 前記基台を前記試験片の軸方向に対して２分割して形成すると共に、該分割した基台の少なくとも一方をスライド移動可能とし、前記試験片の軸方向の長さに応じて前記基台の長さを変更可能とした請求項１または２記載の精密標点位置の作成治具。
8. 前記中子の外周には、前記中子を前記試験片の中空部に挿入する際に前記試験片を傷つけないようにするための保護層が設けられる請求項１〜７いずれかに記載の精密標点位置の作成治具。

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