JP2011090735A - 記憶装置及び記憶装置のデータ処理方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】コスト増加を抑制しつつ、より信頼性の高い記憶装置を提供する。
【解決手段】書き込み時には、マトリクス状に配列されたメモリセルのうち、互いに隣接する行線及び互いに隣接する信号線に接続される3つのメモリセルM00c、M11c、M22cに同一データを書き込む。読み出し時には、同一データを書き込んだメモリセルM00c、M11c、M22cのそれぞれから記憶データを獲得する。多数決処理装置Lcにより、獲得した3つの記憶データの多数決論理をとり、その結果を出力データOUTcとして出力する。3つのメモリセルM00c、M11c、M22cは、異なる行線及び異なる信号線に接続されているため、何れかの行線又は信号線に異常が生じた場合であっても、他の2つの行線又は信号線が正常であれば、出力データOUTcとして正常な記憶データを設定することができ、すなわち、正常な記憶データを出力することができる。
【選択図】 図1
【解決手段】書き込み時には、マトリクス状に配列されたメモリセルのうち、互いに隣接する行線及び互いに隣接する信号線に接続される3つのメモリセルM00c、M11c、M22cに同一データを書き込む。読み出し時には、同一データを書き込んだメモリセルM00c、M11c、M22cのそれぞれから記憶データを獲得する。多数決処理装置Lcにより、獲得した3つの記憶データの多数決論理をとり、その結果を出力データOUTcとして出力する。3つのメモリセルM00c、M11c、M22cは、異なる行線及び異なる信号線に接続されているため、何れかの行線又は信号線に異常が生じた場合であっても、他の2つの行線又は信号線が正常であれば、出力データOUTcとして正常な記憶データを設定することができ、すなわち、正常な記憶データを出力することができる。
【選択図】 図1
Description
本発明は、メモリセル等の記憶手段がマトリクス状に複数配列されてなるデータ記憶領域を有する記憶装置及び記憶装置のデータ処理方法に関する。
従来より、メモリによる記憶データの信頼性を向上させるため、記憶対象データを複数のメモリセルに分散して記憶させる技術を用いた、いわゆる多重読み出し方式が知られている。
このような多重読み出し方式が適用されたメモリにあっては、記憶対象データを分散して記憶しているため、1個のメモリセルが故障してデータ不良が発生しても、他のメモリセルによってデータを正常に読み出すことができる。
このような多重読み出し方式が適用されたメモリにあっては、記憶対象データを分散して記憶しているため、1個のメモリセルが故障してデータ不良が発生しても、他のメモリセルによってデータを正常に読み出すことができる。
例えば、図4に示す不揮発性メモリにおいては、記憶データを格納するメモリセルM00a〜Mnma(n,mは正の整数)からなる記憶領域MCaと、共通の行線WL0a〜WLnaのうちの何れかを選択する行デコーダWDaと、ビットラインBL0a〜BLmaに対応した列選択ゲートSWaと、列選択ゲートSWaのうちの任意のゲートを選択する列デコーダBDaと、メモリセルM00a〜Mnmaの読み出し信号を増幅するためのセンスアンプSAa、センスアンプSAaから出力された記憶データの多数決論理をとり、出力データOUTaを供給するための多数決処理装置Laとから構成される。
このように構成された不揮発性メモリにおいては、記憶領域MCaの共通の行方向、例えば行線WL0aに連続して配置された3つのメモリセルM00a、M01a、M02aに同一のデータが書き込まれている。
そして、不揮発性メモリのデータ読み出し処理を行う場合には、行デコーダWDaにより共通の行線WL0aが選択され、列デコーダBDa及び列選択ゲートSWaにより3つの信号線BL0a、BL0b、BL0cが順に選択されて、メモリセルM00a、M01a、M02aに格納された記憶データが順に読み出され、センスアンプSAaを介して多数決処理装置Laに送られる。
そして、不揮発性メモリのデータ読み出し処理を行う場合には、行デコーダWDaにより共通の行線WL0aが選択され、列デコーダBDa及び列選択ゲートSWaにより3つの信号線BL0a、BL0b、BL0cが順に選択されて、メモリセルM00a、M01a、M02aに格納された記憶データが順に読み出され、センスアンプSAaを介して多数決処理装置Laに送られる。
多数決処理装置Laは、読み出された3つの記憶データD0a、D1a、D2aの多数決論理をとりこれを出力データOUTaとし、この出力データOUTaを、不揮発性メモリから読み出したデータとして供給している。
また、このように、複数のメモリセルに同一データを書き込んでおき、データ読み出し処理を行う場合には、2個のメモリセルに書き込まれている2個のデータをデータ組として読み込み、これらを比較して正常と判断できればデータを確定して出力し、比較判定の結果、正常でない場合には次の2個のメモリセルに書き込まれている2個のデータをデータ組として読み込む。そして、読み出したデータ組のデータを比較して正常と判断できればデータを確定し、以後この処理を繰り返し行い、最後のデータ組まで判定してもデータ組が正常と判断されないときに、不揮発性メモリの異常と判断する方法等も提案されている(例えば、特許文献1参照)。
また、このように、複数のメモリセルに同一データを書き込んでおき、データ読み出し処理を行う場合には、2個のメモリセルに書き込まれている2個のデータをデータ組として読み込み、これらを比較して正常と判断できればデータを確定して出力し、比較判定の結果、正常でない場合には次の2個のメモリセルに書き込まれている2個のデータをデータ組として読み込む。そして、読み出したデータ組のデータを比較して正常と判断できればデータを確定し、以後この処理を繰り返し行い、最後のデータ組まで判定してもデータ組が正常と判断されないときに、不揮発性メモリの異常と判断する方法等も提案されている(例えば、特許文献1参照)。
また、例えば、図5に示す不揮発性メモリのように、共通のアドレスバッファADbに接続された複数の不揮発性メモリMEM0b、MEM1b、MEM2bと、それぞれの不揮発性メモリから読み出されたデータD0b、D1b、D2bの多数決論理をとり、これを出力データOUTbとして供給するための多数決処理装置Lbと、から構成したものも提案されている(例えば、特許文献2参照)。
この図5に示す不揮発性メモリにおいては、不揮発性メモリ1〜3(MEM0b、MEM1b、MEM2b)には、共通のアドレスAbに同一のデータが書き込まれている。
そして、不揮発性メモリ1〜3(MEM0b、MEM1b、MEM2b)からデータ読み出しを行う場合には、それぞれの不揮発性メモリの同一アドレスに格納された記憶データが読み出され多数決処理装置Lbに送られる。多数決処理装置Lbは読み出された3つの記憶データD0b、D1b、D2bの多数決論理をとり出力データOUTbを供給するようになっている。
そして、不揮発性メモリ1〜3(MEM0b、MEM1b、MEM2b)からデータ読み出しを行う場合には、それぞれの不揮発性メモリの同一アドレスに格納された記憶データが読み出され多数決処理装置Lbに送られる。多数決処理装置Lbは読み出された3つの記憶データD0b、D1b、D2bの多数決論理をとり出力データOUTbを供給するようになっている。
上述のように、記憶対象の同一データを1個の不揮発性メモリの複数のメモリセルに分散して記憶させる方法を用いた場合、メモリセル単位の故障に対処するには好適である。
しかしながら、記憶データの選択を行うための行デコーダの作動が不良になると、この行デコーダに対応するメモリセルの行全体が不良化するため、多数決論理処理が行われる複数のデータが同一行に設けられている場合には、多数決論理処理により得られるデータ値である多数決補償値が不良になってしまうという問題がある。
しかしながら、記憶データの選択を行うための行デコーダの作動が不良になると、この行デコーダに対応するメモリセルの行全体が不良化するため、多数決論理処理が行われる複数のデータが同一行に設けられている場合には、多数決論理処理により得られるデータ値である多数決補償値が不良になってしまうという問題がある。
また、記憶対象の同一データを異なる3つの不揮発性メモリに分散して記憶させる方法を用いた場合、メモリセル単位のデータ不良のみならず、不揮発性メモリ単位のデータ不良が発生しても正しい記憶データを出力させることができる。しかしながら、この場合、3個の不揮発性メモリを設ける必要があるため、コスト上昇につながることになる。
そこで、この発明は上記従来の未解決の問題に着目してなされたものであり、コスト増加を抑制しつつ、より信頼性の高い記憶装置及び記憶装置のデータ処理方法を提供することを目的としている。
そこで、この発明は上記従来の未解決の問題に着目してなされたものであり、コスト増加を抑制しつつ、より信頼性の高い記憶装置及び記憶装置のデータ処理方法を提供することを目的としている。
上記目的を達成するために、本発明の請求項1に係る記憶装置は、データを記憶する複数の記憶手段が、複数の行線及び複数の列線が交差する部分にマトリクス状に配列されてなる一のデータ記憶領域を有し、前記行線及び前記列線のうちの何れかの行線及び列線を選択することにより、選択された前記行線及び前記列線の交差する部分に設けられた前記記憶手段へのデータの書き込み及び前記記憶手段からのデータの読み出しを行うようにした記憶装置であって、書き込み操作時、前記一のデータ記憶領域内の互いに異なる前記行線及び互いに異なる前記列線に設けられた複数の前記記憶手段に同一データを書き込む書き込み処理手段と、読み出し操作時、前記同一データを書き込んだ記憶手段のうちの複数の記憶手段のそれぞれから記憶データを読み出す読み出し処理手段と、前記読み出し処理手段で読み出した複数の記憶データに基づいて1つの出力データを設定する出力データ設定手段と、を備えることを特徴としている。
また、請求項2に係る記憶装置は、前記出力データ設定手段は、前記読み出し処理手段で読み出した複数の記憶データの多数決論理をとる多数決論理処理手段を有し、前記多数決論理処理手段での多数決論理処理の結果を、前記出力データとして設定することを特徴としている。
また、請求項3に係る記憶装置は、前記書き込み処理手段は、互いに異なる前記行線及び互いに異なる前記列線に設けられた複数の前記記憶手段を選択する選択手段を有し、前記選択手段で選択された記憶手段に対して前記同一データを書き込むことを特徴としている。
さらに、請求項4に係る記憶装置は、前記選択手段は、互いに隣接する前記行線及び互いに隣接する前記列線に設けられた記憶手段を選択することを特徴としている。
また、請求項3に係る記憶装置は、前記書き込み処理手段は、互いに異なる前記行線及び互いに異なる前記列線に設けられた複数の前記記憶手段を選択する選択手段を有し、前記選択手段で選択された記憶手段に対して前記同一データを書き込むことを特徴としている。
さらに、請求項4に係る記憶装置は、前記選択手段は、互いに隣接する前記行線及び互いに隣接する前記列線に設けられた記憶手段を選択することを特徴としている。
また、本発明の請求項5に係る記憶装置は、データを記憶する複数のメモリセルが、複数の行線及び複数の信号線が交差する部分にマトリクス状に配列されてなる一のデータ記憶領域と、前記複数の行線のうちの何れかを選択する行デコーダと、前記信号線のそれぞれに対応した複数のゲートを有する列選択ゲートと、前記複数のゲートのうちの何れかを選択する列デコーダと、前記行デコーダ及び前記列デコーダで選択された前記行線及び前記信号線が交差する部分に配置されたメモリセルから読み出される記憶データを増幅するセンスアンプと、前記センスアンプで増幅された記憶データの多数決論理をとり1つのデータを出力する多数決論理処理手段と、を有し、前記一のデータ記憶領域内の互いに異なる行線及び互いに異なる信号線に配置された複数のメモリセルには同一データが記憶され、前記行デコーダ及び前記列デコーダは、前記同一データが記憶された前記メモリセルに対応する前記行線及び前記信号線を選択し、前記多数決論理処理手段は、前記センスアンプで増幅された後の、前記同一データが記憶された前記メモリセルから読み出された複数の前記記憶データについて多数決論理をとることを特徴としている。
さらにまた、本発明の請求項6に係る記憶装置のデータ処理方法は、データを記憶する複数の記憶手段が、複数の行線及び複数の列線が交差する部分にマトリクス状に配列されてなる一のデータ記憶領域を有し、前記行線及び前記列線のうちの何れかの行線及び列線を選択することにより、選択された前記行線及び前記列線の交差する部分に設けられた前記記憶手段へのデータの書き込み及び前記記憶手段からのデータの読み出しを行うようにした記憶装置のデータ処理方法であって、書き込み操作時には、前記一のデータ記憶領域内の互いに異なる前記行線及び互いに異なる前記列線に設けられた複数の前記記憶手段に同一データを書き込み、読み出し操作時には、前記同一データを書き込んだ記憶手段のうちの複数の記憶手段のそれぞれから記憶データを読み出し、読み出した複数の記憶データに基づいて1つの出力データを設定することを特徴としている。
なお、ここでいう、一のデータ記憶領域とは、マトリクス状に配列されてデータ記憶領域を形成する記憶手段を物理的に行デコーダと列デコーダとにより管理し、行デコーダ及び列デコーダにより、複数の記憶手段のうちの何れかを選択してその記憶データを読み出すようになっているデータ記憶領域を表す。
なお、ここでいう、一のデータ記憶領域とは、マトリクス状に配列されてデータ記憶領域を形成する記憶手段を物理的に行デコーダと列デコーダとにより管理し、行デコーダ及び列デコーダにより、複数の記憶手段のうちの何れかを選択してその記憶データを読み出すようになっているデータ記憶領域を表す。
本発明によれば、同一データを複数の記憶手段に記憶し、且つ複数の記憶手段は互いに、異なる行線及び互いに異なる列線に接続されているため、何れかの行線或いは列線に故障が発生した場合であっても、他の行線或いは列線が正常であれば、正常な記憶データを読み出すことができこれに基づき1つの出力データを設定することができる。このため、行線或いは列線に故障が生じた場合であっても、正常な記憶データを出力データとして設定することができ、記憶装置の信頼性をより向上させることができる。
以下、本発明の実施の形態を説明する。
図1は、本発明を適用した、EEPROM(Electrically Erasable PROM)、FLASHメモリ等の不揮発性メモリの概略構成を示す構成図である。
図1に示すように、不揮発性メモリ100は、記憶部1と、この記憶部1へのデータの書き込み及び読み出し等を制御する制御部2とを備える。
図1は、本発明を適用した、EEPROM(Electrically Erasable PROM)、FLASHメモリ等の不揮発性メモリの概略構成を示す構成図である。
図1に示すように、不揮発性メモリ100は、記憶部1と、この記憶部1へのデータの書き込み及び読み出し等を制御する制御部2とを備える。
記憶部1は、マトリクス状に配置された複数のメモリセルM00c〜Mnmc(n,mは正の整数)からなる記憶領域MCcと、マトリクス状に配置されたメモリセルM00c〜Mnmcの行に対応する行線WL0c〜WLncの何れかを選択するための行デコーダWDcと、マトリクス状に配置されたメモリセルM00c〜Mnmcの列に対応するビットラインBL0c〜BLmcの何れかを選択するための列選択ゲートSWcと、列選択ゲートSWcにより、ビットラインBL0c〜BLmcのうちの任意のビットラインを選択させるための列デコーダBDcと、メモリセルM00c〜Mnmcから読み出された読み出し信号を増幅するためのセンスアンプSAcと、センスアンプSAcから出力された複数の記憶データの多数決論理をとりこれを出力データOUTcとして供給する、論理回路等で構成される多数決処理装置Lcと、を備え、さらに、制御部2からの制御信号を入力しこれに応じて列デコーダBDcにアドレス信号を出力するアドレスバッファBbufと、制御部2からの制御信号を入力しこれに応じて行デコーダWDcにアドレス信号を出力するアドレスバッファWbufと、制御部2からの書き込みデータを入力しこれを、列選択ゲートSWcを介して記憶領域MCcに出力する入力バッファBinとを備える。
制御部2は、マイコン等で構成され、図示しない上位装置からの信号に応じてアドレスバッファBbuf及びWbufにアドレス信号を出力すると共に、書き込みデータを入力バッファBinに出力する。
制御部2は、マイコン等で構成され、図示しない上位装置からの信号に応じてアドレスバッファBbuf及びWbufにアドレス信号を出力すると共に、書き込みデータを入力バッファBinに出力する。
次に、上記不揮発性メモリ100の動作を制御部2の処理手順を示すフローチャートを伴って説明する。
不揮発性メモリ100へのデータの書き込みを行う場合には、制御部2は、図2のフローチャートに示すように、まず、行及び列の異なる、複数(K個)のメモリセルを、書き込み対象のメモリセルとして特定する(ステップS1)。例えば、行及び列が異なるK個のメモリセルからなるグループを予め設定しておき、このグループ内の何れかのメモリセルを代表セルとし、この代表セルに対して上位装置からデータの書き込み及びデータの読み出しを指示する構成とする。そして、制御部2は、何れかの代表セルに対し、データの書き込み指示が行われたときに、この代表セルが属するグループの他のメモリセルを特定する。
不揮発性メモリ100へのデータの書き込みを行う場合には、制御部2は、図2のフローチャートに示すように、まず、行及び列の異なる、複数(K個)のメモリセルを、書き込み対象のメモリセルとして特定する(ステップS1)。例えば、行及び列が異なるK個のメモリセルからなるグループを予め設定しておき、このグループ内の何れかのメモリセルを代表セルとし、この代表セルに対して上位装置からデータの書き込み及びデータの読み出しを指示する構成とする。そして、制御部2は、何れかの代表セルに対し、データの書き込み指示が行われたときに、この代表セルが属するグループの他のメモリセルを特定する。
例えば、図1において、メモリセルM00c、M11c及びM22cを1つのグループとし、メモリセルM00cを代表セルとする。
メモリセルM00cに対してデータの書き込みが指示されると、制御部2は、同一グループに属する他のメモリセルM11c及びM22cを特定する。
そして、制御部2は、アドレスバッファBbuf、Wbuf、また入力バッファBinにアドレス信号或いはデータ信号を出力し、データの書き込みが指示されたメモリセルM00cだけでなく、さらにステップS1で特定した、メモリセルM00cと同一グループに属する、メモリセルM11c及びM22cに対しても同一データの書き込みを行う(ステップS2)。
メモリセルM00cに対してデータの書き込みが指示されると、制御部2は、同一グループに属する他のメモリセルM11c及びM22cを特定する。
そして、制御部2は、アドレスバッファBbuf、Wbuf、また入力バッファBinにアドレス信号或いはデータ信号を出力し、データの書き込みが指示されたメモリセルM00cだけでなく、さらにステップS1で特定した、メモリセルM00cと同一グループに属する、メモリセルM11c及びM22cに対しても同一データの書き込みを行う(ステップS2)。
具体的には、制御部2は、まず、データの書き込みが指示された、メモリセルM00cへの書き込みを行う。すなわち、行線WL0c及び信号線BL0cを選択し、メモリセルM00cに対して指定されたデータXの書き込みを行う。次に、同一グループのメモリセルとして特定したM11cへの書き込みを行い、行線WL1c及び信号線BL1cを選択し、メモリセルM00cに書き込んだデータXと同一データをメモリセルM11cに書き込む。続いて、同一グループのメモリセルとして特定したM22cへの書き込みを行い、行線WL2c及び信号線BL2cを選択し、メモリセルM00c、M11cに書き込んだデータと同一データXをメモリセルM22cに書き込む。
これによって、行及び列の異なる3個のメモリセルに同一データが書き込まれることになり、例えば図1に示すように、(行、列)が(WL0c、BL0c)、(WL1c、BL1c)、(WL2c、BL2c)で表されるメモリセルM00c、M11c、M22cに同一データXが書き込まれることになる。
そして、このように書き込みが行われた不揮発性メモリ100からデータXを読み出す場合には、上位装置は、データXが格納されたメモリセルのアドレスを指定し、このメモリセルからのデータの読み出しを指示する。
そして、このように書き込みが行われた不揮発性メモリ100からデータXを読み出す場合には、上位装置は、データXが格納されたメモリセルのアドレスを指定し、このメモリセルからのデータの読み出しを指示する。
これをうけて制御部2は、図3のフローチャートに示すように、指定されたアドレスに対応するメモリセルと同一グループに属するメモリセルを特定する(ステップS11)。そして、同一グループに属する全てのメモリセルから記憶データを読み出す(ステップS12)。
例えば、上位装置により、メモリセルM00cからのデータの読み出しが指示された場合、このメモリセルM00cが属するグループには、前述のように、メモリセルM11c及びM22cが属する。このため、制御部2は、アドレスバッファBbuf、Wbufに、まず、読み出しが指示されたメモリセルM00cを指定するアドレス信号を出力する。
例えば、上位装置により、メモリセルM00cからのデータの読み出しが指示された場合、このメモリセルM00cが属するグループには、前述のように、メモリセルM11c及びM22cが属する。このため、制御部2は、アドレスバッファBbuf、Wbufに、まず、読み出しが指示されたメモリセルM00cを指定するアドレス信号を出力する。
次に、このメモリセルM00cと同一グループに属するメモリセルM11cを指定するアドレス信号を出力し、さらに、メモリセルM00c及びメモリセルM11cと同一グループに属するメモリセルM22cを指定するアドレス信号を出力する。
これによって、列デコーダBDc及び行デコーダWDcが動作し、メモリセルM00c、M11c、M22cからデータが順に読み出され、センスアンプSAcを介して多数決処理装置Lcに出力される。
具体的には、行デコーダWDcにより1つ目の行線WL0cが選択され、列デコーダBDc及び列選択ゲートSWcにより1つ目の信号線BL0cが選択されるため、メモリセルM00cに格納された記憶データD0cが読み出されセンスアンプSAcを介して多数決処理装置Lcに出力される。
これによって、列デコーダBDc及び行デコーダWDcが動作し、メモリセルM00c、M11c、M22cからデータが順に読み出され、センスアンプSAcを介して多数決処理装置Lcに出力される。
具体的には、行デコーダWDcにより1つ目の行線WL0cが選択され、列デコーダBDc及び列選択ゲートSWcにより1つ目の信号線BL0cが選択されるため、メモリセルM00cに格納された記憶データD0cが読み出されセンスアンプSAcを介して多数決処理装置Lcに出力される。
次に、行デコーダWDcにより2つ目の行線WL1cが選択され、列デコーダBDc及び列選択ゲートSWcにより2つ目の信号線BL1cが選択されるため、メモリセルM11cに格納された記憶データD1cが読み出され、センスアンプSAcを介して多数決処理装置Lcに送られる。
さらに、行デコーダWDcにより3つ目の行線WL2cが選択され、列デコーダBDc及び行選択ゲートSWcにより3つ目の信号線BL2cが選択されるため、メモリセルM22cに格納された記憶データD2cが読み出され、センスアンプSAcを介して多数決処理装置Lcに送られる。
さらに、行デコーダWDcにより3つ目の行線WL2cが選択され、列デコーダBDc及び行選択ゲートSWcにより3つ目の信号線BL2cが選択されるため、メモリセルM22cに格納された記憶データD2cが読み出され、センスアンプSAcを介して多数決処理装置Lcに送られる。
そして、多数決処理装置Lcは読み出した3つの記憶データD0c、D1c、D2cの多数決論理をとり、これを出力データOUTcとする。すなわち、3つの記憶データD0c、D1c、D2cが同一であれば、このデータを出力データOUTcとする。またいずれか1つの記憶データは異なるが、他の2つの記憶データが一致する場合には、他の2つの記憶データを出力データOUTcとする。
ここで、例えば、不揮発性メモリ100が正常である場合には、各記憶データD0c、D1c、D2cは一致するため、これが出力データOUTcとして設定される。そして、設定した出力データOUTcが読み出されたデータとして図示しない上位装置に供給される。
ここで、例えば、不揮発性メモリ100が正常である場合には、各記憶データD0c、D1c、D2cは一致するため、これが出力データOUTcとして設定される。そして、設定した出力データOUTcが読み出されたデータとして図示しない上位装置に供給される。
一方、例えば、メモリセルM00cが故障した場合には、メモリセルM11c及びM22cが正常であれば、多数決処理装置Lcに送られる3つの記憶データD0c、D1c、D2cのうち、メモリセルM11c及びM22cから読み出した記憶データD1c及びD2cは正常であり一致する。このため、多数決処理装置Lcでは、記憶データD1c及びD2cを出力データOUTcとして設定し、これを読み出したデータとして上位装置に出力する。したがって、メモリセルM00cに故障が生じてはいるが、出力データOUTcとして正常な記憶データを上位装置に供給することができる。
同様に、メモリセルM11c又はM22cが故障した場合であっても、他の2つのメモリセルが正常であれば、多数決処理装置Lcで設定される出力データOUTcとして正常なデータが設定される。したがって、出力データOUTcとして正常な記憶データを上位装置に供給することができる。
また、例えば、行デコーダWDcの作動が不良になり、行線WL0cが故障した場合、行線WL1c及びWL2cが正常であれば、多数決処理装置Lcに送られる3つの記憶データのうち、行線WL1c及びWL2cに対応するメモリセルM11c及びM22cから読み出される記憶データD1c、D2cは正常である。このため、多数決処理装置Lcでは正常な記憶データを出力データOUTcとして設定することができ、これを上位装置に供給することができる。
また、例えば、行デコーダWDcの作動が不良になり、行線WL0cが故障した場合、行線WL1c及びWL2cが正常であれば、多数決処理装置Lcに送られる3つの記憶データのうち、行線WL1c及びWL2cに対応するメモリセルM11c及びM22cから読み出される記憶データD1c、D2cは正常である。このため、多数決処理装置Lcでは正常な記憶データを出力データOUTcとして設定することができ、これを上位装置に供給することができる。
同様に、行線WL1c又はWL2cが故障した場合であっても、他の2つの行線が正常であれば、多数決処理装置Lcに送られる2つの記憶データに基づき、多数決処理装置Lcでは正常な記憶データを出力データOUTcとして設定することができる。つまり、何れかの行線が故障した場合であっても、他の2つの行線が正常であれば、正常な記憶データを出力データOUTcとして設定することができ、何れかの行線に故障が生じている場合であっても、正常な記憶データを上位装置に供給することができる。
また、例えば、列デコーダBDc又は列選択ゲートSWcの作動が不良になり、信号線BL0cに異常が生じた場合、信号線BL1c及びBL2cが正常であれば、多数決処理装置Lcに送られる3つの記憶データのうち、信号線BL1c及びBL2cに対応する記憶データD1c、D2cは正常である。このため、多数決処理装置Lcは、正常な記憶データを出力データOUTcとして設定することができる。同様に、信号線BL1c又はBL2cに異常が生じた場合にも他の2本の信号線が正常であれば、多数決処理装置Lcでは、正常な記憶データを出力データOUTcとして設定することができる。つまり、何れかの信号線が故障した場合であっても、他の2つの信号線が正常であれば、正常な記憶データを出力データOUTcとして設定することができ、正常な記憶データを上位装置に供給することができる。
このように、不揮発性メモリ100は、何れかのメモリセル、行デコーダWDc、列デコーダBDc、列選択ゲートSWcの何れかの作動が不良になる場合でも、少なくとも2つの行線及び2つの信号線が正常であり、これら信号線を介して正常な記憶データを読み出すことができれば、正常な記憶データを出力データOUTcとして設定することができ、不揮発性メモリ100から記憶データを正常に読み出すことができる。
ここで、前述のように、同一データが格納される複数のメモリセルが同一行線又は同一信号線に接続されている場合には、これらメモリセルが接続される行線又は信号線に異常が生じた場合、同一データが格納される複数のメモリセル全てを選択することができず、何れのメモリセルからも正常な記憶データを得ることができないため、出力データOUTcとして正常な記憶データを設定することができない。
しかしながら、上述のように、同一データが格納されるメモリセルは、全て異なる行線及び異なる信号線に接続される構成としたため、何れかの行線又は信号線に故障が生じた場合であっても、他の2つの行線及び信号線が正常であれば、この2つの行線及び信号線に接続されるメモリセルから正常な記憶データを得ることができ、これに基づき出力データOUTcを設定することができ、不揮発性メモリ100の信頼性をより向上させることができる。
加えて、3つの記憶データを選択するための行デコーダWDc、列デコーダBDc、列選択ゲートSWcが共通化されており、1つの不揮発性メモリにおいて、同一データを複数のメモリセルに記憶させているため、例えば従来のように複数の不揮発性メモリを設ける場合に比較して、コスト増加を抑制することができる。
なお、上記実施の形態においては、同一データを格納した3つのメモリセルM00c、M11c、M22cは、隣り合う行線WL0c、WL1c、WL2cに配置され、且つ隣り合う信号線BL0c、BL1c、BL2cに配置されているが、これに限るものではなく、異なる行及び異なる信号線に配置されていれば、隣り合って配置する必要はなく、ランダムに配置することができる。
なお、上記実施の形態においては、同一データを格納した3つのメモリセルM00c、M11c、M22cは、隣り合う行線WL0c、WL1c、WL2cに配置され、且つ隣り合う信号線BL0c、BL1c、BL2cに配置されているが、これに限るものではなく、異なる行及び異なる信号線に配置されていれば、隣り合って配置する必要はなく、ランダムに配置することができる。
また、上記実施の形態においては、各メモリセルに記憶データD0c、D1c、D2cを書き込む際及び読み出す際に、メモリセルM00cが指定されると、不揮発性メモリ100に搭載されている制御部2によって、このメモリセルM00cと同一グループに属するメモリセルM11c及びM22cを特定し、上位装置から指定されたメモリセルM00cだけでなく、このメモリセルM00cと同一グループに属するメモリセルM11c及びM22cも、自動的に選択する構成とした場合について説明したがこれに限るものではない。
例えば、何れかのメモリセルへのデータの書き込みが指示されたときに、制御部2において、このメモリセルを含めて互いに行及び列が異なる複数のメモリセルであり且つデータを書き込み可能な複数のメモリセルを特定し、特定したメモリセルに、書き込みが指示されたメモリセルへの書き込みデータと同一データを書き込むように構成してもよい。
また、このように、制御部2において、書き込み可能な複数のメモリセルを特定し、特定したメモリセルに、書き込み指定されたメモリセルへの書き込みデータを書き込む構成とした場合には、制御部2において、特定したメモリセルと書き込み指定されたメモリとを対応付け、その対応情報を記憶しておく。そして、何れかのメモリセルからのデータの読み出し指示が行われたときには、制御部2で保持する対応情報に基づき、読み出し指示が行われたメモリセルと対応づけられているメモリセルを特定し、読み出し指示が行われたメモリセルと、対応情報から特定したメモルセルとから、その記憶データを読み出すようにすればよい。
また、このように、制御部2において、書き込み可能な複数のメモリセルを特定し、特定したメモリセルに、書き込み指定されたメモリセルへの書き込みデータを書き込む構成とした場合には、制御部2において、特定したメモリセルと書き込み指定されたメモリとを対応付け、その対応情報を記憶しておく。そして、何れかのメモリセルからのデータの読み出し指示が行われたときには、制御部2で保持する対応情報に基づき、読み出し指示が行われたメモリセルと対応づけられているメモリセルを特定し、読み出し指示が行われたメモリセルと、対応情報から特定したメモルセルとから、その記憶データを読み出すようにすればよい。
また、上記実施の形態においては、制御部2において、同一データを書き込むメモリセルを特定する構成としているが、これに限るものではなく、例えば、上位装置等、不揮発性メモリ100の外部で、同一データの書き込みを行う複数のメモリセルを特定し、そのアドレス情報を制御部2に出力し、制御部2でこのアドレス情報に基づいて複数のメモリセルへの書き込みを行う構成とすることも可能である。
この場合には、読み出し時にも、上位装置等から、同時にデータの読み出しを行う複数のメモリセルのアドレス情報を制御部2に出力する構成とし、指定された複数のメモリセルからの記憶データの多数決論理を多数決処理装置でとり、これを出力データOUTcとして上位装置に出力するようにしてもよく、或いは、制御部2において、同一データを書き込んだメモリセルを1つのグループとして管理しておき、何れかのメモリセルからデータの読み出し指示が行われたときに、このメモリセルと同一グループに属するメモリセルを特定し、特定したメモリセルと読み出し指示が行われたメモリセルとから順に記憶データを読み出すようにしてもよい。
また、上記実施の形態においては、3つのメモリセルに同一データを書き込み、これら3つのメモリセルから読み出した記憶データから出力データOUTcを設定するようにしたいわゆる、3多重読み出し方式の不揮発性メモリについて説明したが、これに限るものではなく、3以上の複数個のメモリセルに同一データを書き込み、これらメモリセルから読み出した複数の記憶データから出力データOUTcを設定する構成とすることも可能である。
また、上記実施の形態においては、論理回路からなる多数決処理装置Lcを設け、これにより多数決論理処理を行う場合について説明したが、制御部2において演算処理を行うことにより多数決論理処理を行う構成とすることも可能である。
また、上記実施の形態においては、論理回路からなる多数決処理装置Lcを設け、これにより多数決論理処理を行う場合について説明したが、制御部2において演算処理を行うことにより多数決論理処理を行う構成とすることも可能である。
また、複数の記憶データの多数決論理から出力データOUTcを設定する場合について説明したが、これに限るものではなく、任意の方法で出力データOUTcを設定することができる。例えば、従来のように、2つのメモリセルからの記憶データを比較し、これらが正常と判断されるときにこれを出力データOUTcとして確定し、これらが正常と判断されないときには他の2つのメモリセルからの記憶データを比較し、この処理を繰り返し行い、何れか2つのメモリセルからの記憶データの比較結果が正常と判断されるときの記憶データを出力データOUTcとして確定し、何れの比較結果も正常と判断されないときには不揮発性メモリの異常と判断するようにしてもよい。
さらに、上記実施の形態においては、不揮発性メモリに適用した場合について説明したが、これに限るものではなく、SRAM(Static Random Access Memory)等の揮発性メモリ、FPGA(Field Programmable Gate Array)の内部メモリやレジスタ領域等であっても適用することができる。
ここで、上記実施の形態において、メモリセルMnmcが記憶手段に対応し、記憶領域MCcがデータ記憶領域に対応し、行線WLncが行線に対応し、信号線BLmcが列線に対応し、図2の書き込み処理が書き込み処理手段に対応し、図3の読み出し処理が読み出し処理手段に対応し、多数決処理装置Lcが多数決論理処理手段に対応している。
また、図2のステップS1の処理において、書き込みを行う複数のメモリセルを選択する処理が選択手段に対応している。
ここで、上記実施の形態において、メモリセルMnmcが記憶手段に対応し、記憶領域MCcがデータ記憶領域に対応し、行線WLncが行線に対応し、信号線BLmcが列線に対応し、図2の書き込み処理が書き込み処理手段に対応し、図3の読み出し処理が読み出し処理手段に対応し、多数決処理装置Lcが多数決論理処理手段に対応している。
また、図2のステップS1の処理において、書き込みを行う複数のメモリセルを選択する処理が選択手段に対応している。
1 記憶部
2 制御部
100 不揮発性メモリ
Bbuf アドレスバッファ
BDc 列デコーダ
BL0c〜BLmc 信号線
Wbuf アドレスバッファ
WDc 行デコーダ
WL0c〜WLnc 行線
M00c〜Mnmc メモリセル
SWc 列選択ゲート
SAc センスアンプ
Lc 多数決処理装置
2 制御部
100 不揮発性メモリ
Bbuf アドレスバッファ
BDc 列デコーダ
BL0c〜BLmc 信号線
Wbuf アドレスバッファ
WDc 行デコーダ
WL0c〜WLnc 行線
M00c〜Mnmc メモリセル
SWc 列選択ゲート
SAc センスアンプ
Lc 多数決処理装置
Claims (6)
- データを記憶する複数の記憶手段が、複数の行線及び複数の列線が交差する部分にマトリクス状に配列されてなる一のデータ記憶領域を有し、前記行線及び前記列線のうちの何れかの行線及び列線を選択することにより、選択された前記行線及び前記列線の交差する部分に設けられた前記記憶手段へのデータの書き込み及び前記記憶手段からのデータの読み出しを行うようにした記憶装置であって、
書き込み操作時、前記一のデータ記憶領域内の互いに異なる前記行線及び互いに異なる前記列線に設けられた複数の前記記憶手段に同一データを書き込む書き込み処理手段と、
読み出し操作時、前記同一データを書き込んだ記憶手段のうちの複数の記憶手段のそれぞれから記憶データを読み出す読み出し処理手段と、
前記読み出し処理手段で読み出した複数の記憶データに基づいて1つの出力データを設定する出力データ設定手段と、を備えることを特徴とする記憶装置。 - 前記出力データ設定手段は、前記読み出し処理手段で読み出した複数の記憶データの多数決論理をとる多数決論理処理手段を有し、前記多数決論理処理手段での多数決論理処理の結果を、前記出力データとして設定することを特徴とする請求項1記載の記憶装置。
- 前記書き込み処理手段は、互いに異なる前記行線及び互いに異なる前記列線に設けられた複数の前記記憶手段を選択する選択手段を有し、前記選択手段で選択された記憶手段に対して前記同一データを書き込むことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の記憶装置。
- 前記選択手段は、互いに隣接する前記行線及び互いに隣接する前記列線に設けられた記憶手段を選択することを特徴とする請求項3記載の記憶装置。
- データを記憶する複数のメモリセルが、複数の行線及び複数の信号線が交差する部分にマトリクス状に配列されてなる一のデータ記憶領域と、
前記複数の行線のうちの何れかを選択する行デコーダと、
前記信号線のそれぞれに対応した複数のゲートを有する列選択ゲートと、
前記複数のゲートのうちの何れかを選択する列デコーダと、
前記行デコーダ及び前記列デコーダで選択された前記行線及び前記信号線が交差する部分に配置されたメモリセルから読み出される記憶データを増幅するセンスアンプと、
前記センスアンプで増幅された記憶データの多数決論理をとり1つのデータを出力する多数決論理処理手段と、を有し、
前記一のデータ記憶領域内の互いに異なる行線及び互いに異なる信号線に配置された複数のメモリセルには同一データが記憶され、
前記行デコーダ及び前記列デコーダは、前記同一データが記憶された前記メモリセルに対応する前記行線及び前記信号線を選択し、前記多数決論理処理手段は、前記センスアンプで増幅された後の、前記同一データが記憶された前記メモリセルから読み出された複数の前記記憶データについて多数決論理をとることを特徴とする記憶装置。 - データを記憶する複数の記憶手段が、複数の行線及び複数の列線が交差する部分にマトリクス状に配列されてなる一のデータ記憶領域を有し、前記行線及び前記列線のうちの何れかの行線及び列線を選択することにより、選択された前記行線及び前記列線の交差する部分に設けられた前記記憶手段へのデータの書き込み及び前記記憶手段からのデータの読み出しを行うようにした記憶装置のデータ処理方法であって、
書き込み操作時には、前記一のデータ記憶領域内の互いに異なる前記行線及び互いに異なる前記列線に設けられた複数の前記記憶手段に同一データを書き込み、
読み出し操作時には、前記同一データを書き込んだ記憶手段のうちの複数の記憶手段のそれぞれから記憶データを読み出し、読み出した複数の記憶データに基づいて1つの出力データを設定することを特徴とする記憶装置のデータ処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009242723A JP2011090735A (ja) | 2009-10-21 | 2009-10-21 | 記憶装置及び記憶装置のデータ処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2011090735A true JP2011090735A (ja) | 2011-05-06 |
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JP (1) | JP2011090735A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9177661B2 (en) | 2013-08-02 | 2015-11-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor memory device |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03276350A (ja) * | 1990-03-26 | 1991-12-06 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体不揮発性メモリへのデータ格納方法 |
JP2002536777A (ja) * | 1999-02-03 | 2002-10-29 | インフィネオン テクノロジース アクチエンゲゼルシャフト | 集積半導体メモリのメモリセルの機能検査方法 |
-
2009
- 2009-10-21 JP JP2009242723A patent/JP2011090735A/ja active Pending
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