JP2011090528A - Vacuum processor and graph line display method - Google Patents

Vacuum processor and graph line display method Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To compare a plurality of graphs in an overlapped manner. <P>SOLUTION: On a screen 100, when graph lines 132 of a plurality of measurement values of vacuum processing have different peaks, first and second measure lines 101 and 102 are aligned with the peak of the other graph line 132, first and second time on an X axis where the first and the second measure lines 101 and 102 are located are displayed, the graph line 132 is selected and moved, the peak positions are aligned with each other, and the measurement values are compared. Thus, it is possible to correct the disturbance at a graph start point using noise, to achieve accurate comparison. It is possible to move the graph 132 while viewing a control signal or the shape of the graph line 132, thereby facilitating correction. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、真空処理装置の技術分野に係り、特に、真空処理装置を用いた量産技術に関する。   The present invention relates to a technical field of a vacuum processing apparatus, and more particularly to mass production technology using a vacuum processing apparatus.

真空処理技術は、スパッタリング方法、CVD方法、蒸着方法等の成膜技術や、エッチング技術、表面改質技術、不純物注入技術、真空乾燥技術等があり、広い分野で用いられている。
真空処理技術によって同一品種の製品を量産する場合、同一規格の処理対象物に同じ真空処理を行うが、品質にバラツキが発生する。
品質のバラツキが生じた原因を確認する場合や、バラツキが不良品を発生させないように製造工程を管理する場合、動作中の真空処理装置の状態を測定し、測定結果をロット間で比較、検証することが行われている。
Vacuum processing techniques include film formation techniques such as sputtering, CVD, and vapor deposition, etching techniques, surface modification techniques, impurity implantation techniques, and vacuum drying techniques, and are used in a wide range of fields.
When mass-producing products of the same product type using the vacuum processing technology, the same vacuum processing is performed on the processing object of the same standard, but the quality varies.
When checking the cause of quality variation or managing the manufacturing process so that the variation does not cause defective products, measure the status of the vacuum processing equipment in operation and compare and verify the measurement results between lots. To be done.

特に、真空処理装置内の機器の動作電流量、温度、圧力等の差違をロット間や真空処理装置間で定量的に確認しようとする場合、製造工程中に測定して測定値を記憶しておき、検査装置によって測定値をグラフ化し、その形の比較を行っていた。
しかしながら、真空処理装置内の測定対象の機器が増加し、また、測定する項目である物理量の種類も増え、大量の測定値をグラフ化して比較することが困難になっている。
In particular, if you want to quantitatively check the difference in operating current, temperature, pressure, etc. of equipment in the vacuum processing equipment between lots or between vacuum processing equipment, measure and memorize the measured values during the manufacturing process. In addition, the measured values were graphed by an inspection device and their shapes were compared.
However, the number of devices to be measured in the vacuum processing apparatus has increased, and the types of physical quantities that are items to be measured have increased, making it difficult to graph and compare large amounts of measured values.

特に、視認によって装置データを比較できることは最近重要になっているが、複数の真空処理に対する測定値をグラフ化したとき、複数のグラフを重ね合わせて比較できると視認性が向上するが、測定時刻や測定値を操作して重ね合わせるのは非常に手間がかかっている。 In particular, it has recently become important to be able to compare device data by visual recognition, but when graphing measured values for multiple vacuum treatments, visibility can be improved if multiple graph lines can be overlaid and compared. It is very time-consuming to superimpose by manipulating time and measured values.

特開2009−80844号公報JP 2009-80844 A

本発明は上記従来技術の問題点を解決する技術を提供することを課題としており、本発明によれば、多種多量の測定値を簡単、正確に重ね合わせて比較することが可能となる。   An object of the present invention is to provide a technique for solving the above-described problems of the prior art, and according to the present invention, it is possible to easily and accurately superimpose and compare a large number of measurement values.

本発明は、真空槽内に配置された処理対象物を真空処理する真空処理部と、前記真空処理部が出力した複数の測定値を、前記測定値測定時刻と共に前記真空処理と対応付けて記憶する記憶装置と、前記測定値を演算する演算装置と、前記演算装置の演算結果を表示する表示装置とを有し、所定枚数の前記処理対象物を連続して同じ前記真空処理したときの前記測定値を一ロットとし、複数の前記ロットの前記測定値を前記記憶装置に記憶する真空処理装置であって、前記記憶装置には、データ分析プログラムが記憶され、前記データ分析プログラムは、前記記憶装置内に記憶された複数の前記測定値から、グラフ線を表示する測定値が選択されると、選択された前記測定値の前記測定時刻を、所定の基準時刻からの時間であるX軸上換算時刻に換算し、X−Y座標のX軸上の所定位置を前記基準時刻の位置として、前記X軸上換算時刻から前記測定値の前記X軸上の位置を求め、前記測定値の大きさからY軸上の位置を求め、前記測定時刻が連続している複数の前記測定値の前記X軸上の位置と前記Y軸上の位置とからグラフ線を生成して前記X−Y座標と共に前記表示装置に表示し、表示した前記グラフ線のうち、いずれか一個の前記グラフ線が選択されると、選択された前記グラフ線の前記ロットに属する他の表示された前記グラフも一緒に選択され、選択された前記グラフは前記X−Y座標上を前記X軸が伸びる方向に一緒に同距離移動できるように構成された真空処理装置である。
また、本発明は、前記真空処理を行う処理装置を動作させる動作信号と、動作を停止させる停止信号とが含まれる制御信号が前記制御装置から出力され、前記制御信号は、前記動作を開始する動作開始時刻と前記動作を停止する動作停止時刻と共に前記記憶装置に記憶され、前記データ分析プログラムは、前記記憶装置内に記憶された複数の前記測定値から、グラフ線を表示する測定値が選択されると、選択された前記測定値の前記測定時刻を、所定の基準時刻からの時間であるX軸上換算時刻に換算し、前記表示装置上では、前記X軸と離間した位置に、前記X軸と平行に時間軸を表示し、前記時間軸上の所定位置を前記基準時刻とし、前記Y軸と平行な一直線が前記X軸と前記時間軸とに交叉した交点がそれぞれ示す前記X軸上換算時刻と前記時間軸上換算時刻は同じ時刻になるようにして前記動作開始時刻と前記動作停止時刻の前記時間軸上の位置を求め、前記表示装置上には、前記時間軸上で、前記動作信号と前記停止信号を示す高さが異なる横線分を有するタイミングチャートで前記制御信号を表示し、選択された前記グラフと同じ前記ロットに属する前記タイミングチャートは、選択された前記グラフと一緒に、前記時間軸と平行で同方向に同距離移動さ真空処理装置である。
また、本発明は、真空槽内に配置された処理対象物を真空処理する真空処理部と、前記真空処理部が出力した複数の測定値を測定時刻と共に前記真空処理と対応付けて記憶する記憶装置と、前記測定値を演算する演算装置と、前記演算装置の演算結果を表示する表示装置とを有し、連続して前記真空処理された所定枚数の基板を一ロットとし、所定枚数の前記処理対象物を連続して同じ前記真空処理したときの前記測定値を一ロットとし、複数の前記ロットの前記測定値が前記記憶装置に記憶され、前記真空処理を行う装置を動作させる動作信号と、前記動作を停止させる停止信号とが含まれる制御信号が、前記動作を開始する動作開始時刻と前記動作を停止する動作停止時刻と共に、前記真空処理に対応付けて前記記憶装置に記憶する真空処理装置であって、前記記憶装置には、データ分析プログラムが記憶され、前記データ分析プログラムは、前記記憶装置内に記憶された複数の前記測定値から、グラフ線を表示する測定値が選択されると、選択された前記測定値の前記測定時刻を、所定の基準時刻からの時間であるX軸上換算時刻に換算し、X−Y座標のX軸上の所定位置を前記基準時刻の位置として、前記X軸上換算時刻から前記測定値の前記X軸上の位置を求め、前記測定値の大きさからY軸上の位置を求め、前記測定時刻が連続している複数の前記測定値の前記X軸上の位置と前記Y軸上の位置とから複数のグラフ線を生成して前記X−Y座標と共に前記表示装置に表示し、前記記憶装置に記憶された前記動作開始時刻と前記動作停止時刻の、前記基準時刻からの時間である時間軸上換算時刻を求め、前記表示装置上では、前記X軸と離間した位置に、前記X軸と平行に時間軸を表示し、前記Y軸と平行な一直線が前記X軸と前記時間軸とに交叉した交点がそれぞれ示す前記X軸上換算時刻と前記時間軸上換算時刻は同じ時刻になるようにして前記動作開始時刻と前記動作停止時刻の前記時間軸上の位置を求め、前記表示装置上には、前記時間軸上で、前記動作信号と前記停止信号を示す高さが異なる横線分を有するタイミングチャートで前記制御信号を表示し、表示した前記タイミングチャートのうち、いずれか一個の前記タイミングチャートを選択すると、選択された前記タイミングチャートが属する前記ロットに属する他の表示された前記タイミングチャートも一緒に選択され、選択された前記タイミングチャートは前記時間軸上を前記時間軸が伸びる方向に一緒に同方向に同距離移動できるように構成され、選択された前記タイミングチャートと同じ前記ロットに属する前記グラフは、選択された前記タイミングチャートと一緒に同方向に同距離移動されるように構成された真空処理装置である。
また、本発明は、移動された前記グラフ線の前記測定値の前記X軸位置から前記X軸上換算時刻を再計算し、前記表示装置に表示した複数の前記グラフ線のうちから二個以上の前記グラフ線を第一選択群として選択し、前記X軸上の前記X軸換算時刻が第一の時刻として指示されると、前記第一選択群の各前記グラフ線の前記X軸上換算時刻のうち、前記第一の時刻に最も近い前記X軸上換算時刻に対応された測定値である第一の測定値を各前記グラフ線毎の第一の測定値とし、前記表示装置上で、前記第一の測定値を選択された前記グラフ線毎に表示し、前記第一の測定値同士の差を表示するように構成された真空処理装置である。
また、本発明は、前記表示装置に表示され、前記第一選択群以外の複数の前記グラフ線のうちから第二選択群のグラフ線が選択され、前記X軸上の前記X軸換算時刻が第二の時刻として指示されると、前記第二選択群の各前記グラフ線の前記X軸上換算時刻のうち、前記第二の時刻に最も近い前記X軸上換算時刻に対応された測定値である第二の測定値を各前記グラフ線毎の第二の測定値とし、前記第一の測定値と前記第二の測定値の差を前記表示装置に表示さるように構成された真空処理装置である。
また、本発明は、前記表示装置に前記Y軸と平行な第一、第二の主メジャー線を表示し、前記第一選択群の各前記グラフ線と前記第一の主メジャー線との交点の前記X軸上換算時刻を、各前記グラフ線毎の前記第一の時刻とし、前記第二選択群の各前記グラフ線と前記第二の主メジャー線との交点の前記X軸上換算時刻を、各前記グラフ線毎の前記第二の時刻とし、前記第一、第二のメジャー線の位置は変更できるように構成され、前記第一、第二のメジャー線の位置変更されると、前記第一、第二の時刻は、変更された前記第一、第二のメジャー線が示す前記X軸上換算時刻にそれぞれ変更されるように構成された真空処理装置である。
また、本発明は、真空槽内に配置された処理対象物を真空処理する真空処理部と、前記真空処理部が出力した複数の測定値を、前記測定値の測定時刻と共に前記真空処理と対応付けて記憶する記憶装置と、前記測定値を演算する演算装置と、前記演算装置の演算結果を表示する表示装置とを有し、所定枚数の前記処理対象物を連続して前記真空処理したときの前記測定値を一ロットとし、複数の前記ロットの前記測定値が前記記憶装置に記憶された真空処理装置の、前記記憶装置に記憶された前記測定値のグラフ線を前記表示装置に表示するグラフ線表示方法であって、前記記憶装置内に記憶された複数の前記測定値から、グラフ線を表示する測定値が選択されると、選択された前記測定値の前記測定時刻を、所定の基準時刻からの時間であるX軸上換算時刻に換算し、X−Y座標のX軸上の所定位置を前記基準時刻の位置とし、前記X軸上換算時刻から前記測定値の前記X上の位置を求め、前記測定値の大きさからY軸上の位置を求め、前記測定時刻が連続している複数の前記測定値の前記X軸上の位置と前記Y軸上の位置とからグラフを生成し前記X−Y座標と共に前記表示装置に表示し、表示た前記グラフのうち、所望のグラフ線を選択できるようにし、いずれか一個の前記グラフ線が選択されると、選択された前記グラフの前記ロットに属する他の表示された前記グラフも一緒に選択され、選択された前記グラフは前記X−Y座標上を前記X軸が伸びる方向に一緒に同距離移動できるようにされたグラフ線表示方法である。
また、本発明は、前記真空処理を行う処理装置を動作させる動作信号と、動作を停止させる停止信号とが含まれる制御信号が前記制御装置から出力され、前記制御信号は、前記動作を開始する動作開始時刻と前記動作を停止する動作停止時刻と共に前記記憶装置に記憶されており、前記記憶装置内に記憶された複数の前記測定値から、グラフ線を表示する測定値が選択されると、選択された前記測定値の前記測定時刻を、所定の基準時刻からの時間であるX軸上換算時刻に換算し、前記表示装置上では、前記X軸と離間した位置に、前記X軸と平行に時間軸を表示し、前記時間軸上の所定位置を前記基準時刻とし、前記Y軸と平行な一直線が前記X軸と前記時間軸とに交叉した交点がそれぞれ示す前記X軸上換算時刻と前記時間軸上換算時刻は同じ時刻になるようにして前動作開始時刻と前記動作停止時刻の前記時間軸上の位置を求め、前記表示装置上には、前記時間軸上で、前記動作信号と前記停止信号を示す高さが異なる横線分を有するタイミングチャートで前記制御信号を表示し、選択された前記グラフと同じ前記ロットに属する前記タイミングチャートは、選択された前記グラフと一緒に、前記時間軸と平行で同方向に同距離移動さグラフ線表示方法である。
また、本発明は、真空槽内に配置された処理対象物を真空処理する真空処理部と、前記真空処理部が出力した複数の測定値を、測定時刻と共に前記真空処理と対応付けて記憶する記憶装置と、前記測定値を演算する演算装置と、前記演算装置の演算結果を表示する表示装置とを有し、連続して前記真空処理された所定枚数の基板を一ロットとし、所定枚数の前記処理対象物を連続して同じ前記真空処理したときの前記測定値を一ロットとし、複数の前記ロットの前記測定値が前記記憶装置に記憶され、前記真空処理を行う装置を動作させる動作信号と、前記動作を停止させる停止信号とが含まれる制御信号が、前記動作を開始する動作開始時刻と前記動作を停止する動作停止時刻と共に、前記真空処理に対応付けて前記記憶装置に記憶された真空処理装置の、前記記憶装置に記憶された前記測定値のグラフ線を前記表示装置に表示するグラフ線表示方法であって、前記記憶装置内に記憶された複数の前記測定値から、グラフ線を表示する測定値が選択されると、選択された前記測定値の前記測定時刻を、所定の基準時刻からの時間であるX軸上換算時刻に換算し、X−Y座標のX軸上の所定位置を前記基準時刻の位置として、前記X軸上換算時刻から前記測定値の前記X軸上の位置を求め、前記測定値の大きさからY軸上の位置を求め、前記測定時刻が連続している複数の前記測定値の前記X軸上の位置と前記Y軸上の位置とから複数のグラフ線を生成して前記X−Y座標と共に前記表示装置に表示し、前記記憶装置に記憶された前記動作開始時刻と前記動作停止時刻の、前記基準時刻からの時間である時間軸上換算時刻を求め、前記表示装置上では、前記X軸と離間した位置に、前記X軸と平行に時間軸を表示し、前記Y軸と平行な一直線が前記X軸と前記時間軸とに交叉した交点がそれぞれ示す前記X軸上換算時刻と前記時間軸上換算時刻は同じ時刻になるようにして前記動作開始時刻と前記動作停止時刻の前記時間軸上の位置を求め、前記表示装置上には、前記時間軸上で、前記動作信号と前記停止信号を示す高さが異なる横線分を有するタイミングチャートで前記制御信号を表示し、表示した前記タイミングチャートのうち、いずれか一個の前記タイミングチャートを選択すると、選択された前記タイミングチャートが属する前記ロットに属する他の表示された前記タイミングチャートも一緒に選択され、選択された前記タイミングチャートは前記時間軸上を前記時間軸が伸びる方向に一緒に同方向に同距離移動できるように構成され、選択された前記タイミングチャートと同じ前記ロットに属する前記グラフは、選択された前記タイミングチャートと一緒に同方向に同距離移動さグラフ線表示方法である。
また、本発明は、移動さた前記グラフ線の前記測定値の前記X軸の位置から前記X軸上換算時刻を再計算し、前記表示装置に表示した複数の前記グラフ線のうちから二個以上の前記グラフ線を第一選択群として選択させ、前記X軸上の前記X軸換算時刻が第一の時刻として指示されると、前記第一選択群の各前記グラフ線の前記X軸上換算時刻のうち、前記第一の時刻に最も近い前記X軸上換算時刻に対応された測定値である第一の測定値を各前記グラフ線毎の第一の測定値とし、前記表示装置上で、前記第一の測定値を選択された前記グラフ線毎に表示し、前記第一の測定値同士の差を表示するグラフ線表示方法である。
また、本発明は、前記表示装置に表示した、前記第一選択群以外の複数の前記グラフ線のうちから第二選択群のグラフ線を選択させ、前記X軸上の前記X軸換算時刻が第二の時刻として指示されると、前記第二選択群の各前記グラフ線の前記X軸上換算時刻のうち、前記第二の時刻に最も近い前記X軸上換算時刻に対応された測定値である第二の測定値を各前記グラフ線毎の第二の測定値とし、前記第一の測定値と前記第二の測定値の差を前記表示装置に表示させグラフ線表示方法である。
また、本発明は、前記表示装置に前記Y軸と平行な第一、第二の主メジャー線を表示し、前記第一選択群の各前記グラフ線と前記第一の主メジャー線との交点の前記X軸上換算時刻を、各前記グラフ線毎の前記第一の時刻とし、前記第二選択群の各前記グラフ線と前記第二の主メジャー線との交点の前記X軸上換算時刻を、各前記グラフ線毎の前記第二の時刻とし、前記第一、第二のメジャー線の位置は変更できるように構成され、前記第一、第二のメジャー線の位置変更されると、前記第一、第二の時刻、変更された前記第一、第二のメジャー線が示す前記X軸上換算時刻にそれぞれ変更するグラフ線表示方法である。
The present invention relates to a vacuum processing unit that vacuum-processes an object to be processed disposed in a vacuum chamber, and a plurality of measurement values output from the vacuum processing unit together with the measurement time of the measurement value and the vacuum processing. A storage device that stores information, a calculation device that calculates the measurement value, and a display device that displays a calculation result of the calculation device, and when a predetermined number of the processing objects are continuously subjected to the same vacuum processing The measurement value of one lot, and a vacuum processing apparatus that stores the measurement values of a plurality of lots in the storage device, the storage device stores a data analysis program, the data analysis program, When a measurement value for displaying a graph line is selected from the plurality of measurement values stored in the storage device, the measurement time of the selected measurement value is a time from a predetermined reference time X On-axis conversion The position of the measured value on the X-axis is obtained from the converted time on the X-axis, with the predetermined position on the X-axis of the XY coordinate as the position of the reference time, and from the magnitude of the measured value A position on the Y axis is obtained, a graph line is generated from the position on the X axis and the position on the Y axis of the plurality of measurement values at which the measurement times are continuous, and together with the XY coordinates, the graph line is generated. When one of the graph lines displayed on the display device is selected, the other displayed graph lines belonging to the lot of the selected graph line are also selected together The selected graph line is a vacuum processing apparatus configured to be able to move on the XY coordinates together in the direction in which the X axis extends by the same distance.
Further, according to the present invention, a control signal including an operation signal for operating the processing apparatus that performs the vacuum processing and a stop signal for stopping the operation is output from the control apparatus, and the control signal starts the operation Stored in the storage device together with an operation start time and an operation stop time to stop the operation, and the data analysis program selects a measurement value for displaying a graph line from the plurality of measurement values stored in the storage device Then, the measurement time of the selected measurement value is converted into an X-axis conversion time that is a time from a predetermined reference time, and on the display device, the position is separated from the X-axis. The time axis is displayed in parallel with the X axis, the predetermined position on the time axis is set as the reference time, and the X axis indicated by the intersection where a straight line parallel to the Y axis intersects the X axis and the time axis. Up conversion time The position on the time axis of the operation start time and the operation stop time is determined so that the conversion time on the time axis is the same time, and on the display device, the operation signal is said height indicating a stop signal to display the control signal at a timing chart with different horizontal component, the timing chart belonging to the same said lot and the graph line selected, together with the selected said graph lines, a vacuum processing apparatus in parallel with the time axis Ru is the distance in the same direction.
In addition, the present invention stores a vacuum processing unit that vacuum-processes an object to be processed disposed in a vacuum chamber, and a plurality of measurement values output by the vacuum processing unit in association with the vacuum processing together with a measurement time. A storage device, a calculation device that calculates the measurement value, and a display device that displays a calculation result of the calculation device, and the predetermined number of substrates subjected to the vacuum processing in succession is defined as one lot. An operation for operating the apparatus for performing the vacuum processing, with the measurement values obtained when the processing object is continuously processed in the same vacuum as one lot, the measurement values of a plurality of lots being stored in the storage device A control signal including a signal and a stop signal for stopping the operation is stored in the storage device in association with the vacuum processing together with the operation start time for starting the operation and the operation stop time for stopping the operation. true A data processing program is stored in the storage device, and the data analysis program selects a measurement value for displaying a graph line from the plurality of measurement values stored in the storage device. Then, the measurement time of the selected measurement value is converted into an X-axis conversion time that is a time from a predetermined reference time, and a predetermined position on the X-axis of an XY coordinate is converted to the position of the reference time. As described above, the position on the X-axis of the measurement value is obtained from the converted time on the X-axis, the position on the Y-axis is obtained from the magnitude of the measurement value, and the plurality of measurement values having the measurement time continuous A plurality of graph lines are generated from the position on the X-axis and the position on the Y-axis, and are displayed on the display device together with the XY coordinates, and the operation start time stored in the storage device and the Operation stop time from the reference time The time converted on the time axis is obtained, and on the display device, the time axis is displayed at a position separated from the X axis in parallel with the X axis, and a straight line parallel to the Y axis is Finding the position on the time axis of the operation start time and the operation stop time so that the converted time on the X axis and the converted time on the time axis respectively indicated by the intersections intersecting with the time axis are the same time, On the display device, on the time axis, the control signal is displayed in a timing chart having horizontal lines having different heights indicating the operation signal and the stop signal , and any one of the displayed timing charts When one timing chart is selected, other displayed timing charts belonging to the lot to which the selected timing chart belongs are also selected together, and the selected timing is selected . And the graph line belonging to the same lot as the selected timing chart is configured to be able to move on the time axis together in the same direction in the same direction in the direction in which the time axis extends. The vacuum processing apparatus is configured to be moved by the same distance in the same direction together with the timing chart .
Further, the present invention is two out of the moved the recalculates the X-axis on the converted time from the position of the X-axis of the measurement values of the graph line, a plurality of the graph line displayed on said display device When the above graph line is selected as the first selection group and the X-axis conversion time on the X-axis is designated as the first time, the graph line on the X-axis of the first selection group Of the conversion times, the first measurement value corresponding to the X-axis conversion time closest to the first time is set as the first measurement value for each graph line, and the display device in the first display measured values for each of the graphs line selected to a vacuum processing apparatus configured so that displays a difference between the first measured value.
Moreover, this invention is displayed on the said display apparatus, the graph line of the 2nd selection group is selected from the said several graph lines other than the said 1st selection group, and the said X-axis conversion time on the said X-axis is When instructed as the second time, the measurement value corresponding to the X-axis converted time closest to the second time among the X-axis converted times of the graph lines of the second selection group a second measurement value and second measurement value for each said graph line is, the difference between the second measurement and the first measurement value is configured so that is displayed on the display device It is a vacuum processing apparatus .
In the present invention, the display device displays first and second main major lines parallel to the Y axis, and an intersection of each graph line and the first main major line of the first selection group. The converted time on the X-axis is the first time for each graph line, and the converted time on the X-axis of the intersection of each graph line of the second selection group and the second main major line and the said second time for each said graph line, the first, the position of the second main measure line is configured to be changed, the first, the position of the second main measure line is changed Then, said 1st, 2nd time is a vacuum processing apparatus comprised so that it might each be changed to the said X-axis conversion time which said 1st, 2nd main major line changed.
Further, the present invention corresponds to a vacuum processing unit that vacuum-processes a processing object disposed in a vacuum chamber, and a plurality of measurement values output by the vacuum processing unit together with the vacuum processing together with a measurement time of the measurement value. And a storage device that stores information, a calculation device that calculates the measurement value, and a display device that displays a calculation result of the calculation device, and when a predetermined number of the processing objects are continuously subjected to the vacuum processing The measured value of one lot is taken as one lot, and a graph line of the measured value stored in the storage device of the vacuum processing apparatus in which the measured values of the plurality of lots are stored in the storage device is displayed on the display device. In the graph line display method, when a measurement value for displaying a graph line is selected from the plurality of measurement values stored in the storage device, the measurement time of the selected measurement value is set to a predetermined value. The time from the reference time In terms of X-axis on the conversion time, and the predetermined position on the X-axis of the X-Y coordinates as a position of the reference time, obtains the position on the X-axis of the measurement values from the X-axis on the conversion time, the seeking a position on the size or et Y axis measurements, the generates a graph line and a position on the X-axis of the plurality of the measured values the measurement time is continuous with the position on the Y axis displayed on the display device together with the X-Y coordinate of the indicated the graph line, to be able to select the desired graph line, when any one of the graph line is Ru is selected, the graph line selected the other displayed the graph lines belonging to the lot are also selected together, is selected the graph line so that could same distance move together on the X-Y coordinates to a direction in which the X axis extends in The graph line display method .
Further, according to the present invention, a control signal including an operation signal for operating the processing apparatus that performs the vacuum processing and a stop signal for stopping the operation is output from the control apparatus, and the control signal starts the operation Stored in the storage device together with an operation start time and an operation stop time to stop the operation, and when a measurement value for displaying a graph line is selected from the plurality of measurement values stored in the storage device, The measurement time of the selected measurement value is converted into an X-axis conversion time that is a time from a predetermined reference time, and is parallel to the X-axis at a position separated from the X-axis on the display device. and displaying a two-time axis, the predetermined position and the reference time on the time axis, before SL Y-axis and the X-axis on the conversion time indicated cross the intersection, each parallel line within the said time axis and said X-axis And time converted on the time axis Seeking a position on the time axis of the operation stop time and before Symbol operation start time as the same time, the display on the device, on the time axis, high indicating the stop signal and the operation signal is is displaying the control signal at a timing chart with different horizontal component, the timing chart belonging to the same said lot with the selected graph line, together with the selected said graph line, parallel to the time axis is a graph lines display method Ru is the distance in the same direction.
In addition, the present invention stores a vacuum processing unit that vacuum-processes an object to be processed disposed in a vacuum chamber, and a plurality of measurement values output from the vacuum processing unit in association with the vacuum processing together with a measurement time. A storage device; a calculation device that calculates the measurement value; and a display device that displays a calculation result of the calculation device. The measurement value when the processing object is continuously subjected to the same vacuum processing is taken as one lot, the measurement values of a plurality of the lots are stored in the storage device, and an operation signal for operating the vacuum processing device And a control signal including a stop signal for stopping the operation are stored in the storage device in association with the vacuum processing together with an operation start time for starting the operation and an operation stop time for stopping the operation. A graph line display method for displaying a graph line of the measurement value stored in the storage device of the empty processing device on the display device, wherein a graph line is obtained from a plurality of the measurement values stored in the storage device. Is selected, the measurement time of the selected measurement value is converted into an X-axis conversion time that is a time from a predetermined reference time, and the X-Y coordinate on the X-axis is converted. Using the predetermined position as the reference time position, the position on the X axis of the measurement value is obtained from the converted time on the X axis, the position on the Y axis is obtained from the magnitude of the measurement value, and the measurement time is continuous. A plurality of graph lines are generated from the positions on the X-axis and the positions on the Y-axis of the plurality of measurement values being displayed, displayed on the display device together with the XY coordinates, and stored in the storage device The reference of the operation start time and the operation stop time performed The time converted on the time axis, which is the time from the beginning, is obtained. On the display device, the time axis is displayed in parallel with the X axis at a position separated from the X axis, and a straight line parallel to the Y axis is The converted time on the X axis and the converted time on the time axis indicated by the intersections intersecting the X axis and the time axis are the same time, and the operation start time and the operation stop time on the time axis. A position is obtained, and on the display device, the control signal is displayed in a timing chart having horizontal line segments having different heights indicating the operation signal and the stop signal on the time axis, and the timing chart is displayed. When any one of the timing charts is selected, other displayed timing charts belonging to the lot to which the selected timing chart belongs are also selected and selected. The timing chart is configured to be able to move on the time axis in the same direction and in the same direction in the direction in which the time axis extends, and the graph line belonging to the same lot as the selected timing chart is selected. is a graph lines display method wherein Ru is the distance in the same direction along with the timing chart.
Further, the present invention, the double the X-axis on the converted time from the position of the X-axis of the measurement of moving the graph line recalculated from among the plurality of the graph line displayed on said display device When the X-axis conversion time on the X-axis is designated as the first time when the plurality of graph lines are selected as the first selection group, the X-axis of each graph line of the first selection group Among the up-converted times, a first measured value corresponding to the X-axis converted time closest to the first time is set as a first measured value for each graph line, and the display device In the graph line display method , the first measurement value is displayed for each selected graph line, and the difference between the first measurement values is displayed.
In the present invention, the graph line of the second selection group is selected from the plurality of graph lines other than the first selection group displayed on the display device, and the X-axis conversion time on the X-axis is When instructed as the second time, the measurement value corresponding to the X-axis converted time closest to the second time among the X-axis converted times of the graph lines of the second selection group a second measurement value and second measurement value for each said graph line is, is the first measurement value and the second graph line display method is the difference between the measured Ru is displayed on the display device .
In the present invention, the display device displays first and second main major lines parallel to the Y axis, and an intersection of each graph line and the first main major line of the first selection group. The converted time on the X-axis is the first time for each graph line, and the converted time on the X-axis of the intersection of each graph line of the second selection group and the second main major line and the said second time for each said graph line, the first, the position of the second main measure line is configured to be changed, the first, the position of the second main measure line is changed Then, the first and second times are graph line display methods for changing to the X-axis converted times indicated by the changed first and second main major lines, respectively.

測定値のグラフを簡単に重ね合わせて比較することができるので、真空処理の分析を容易に行うことができる。
制御信号の折線を一致させることで真空処理の測定値のグラフを重ね合わせることができるので、制御信号に基づいた比較を行うことができる。
ノイズによって乱れたグラフ始点を一致させることができるので、比較が正確になる。グラフの移動を制御信号の折線やグラフの形状を見ながらできるので、修正が簡単である。
Since the graph lines of the measurement values can be easily overlapped and compared, the vacuum processing can be easily analyzed.
Since the graph lines of the measured values of the vacuum processing can be superimposed by matching the broken lines of the control signal, the comparison based on the control signal can be performed.
Since the graph start points disturbed by noise can be matched, the comparison becomes accurate. Since the movement of the graph line can while watching the shape of the polyline and graph lines of the control signals, modification is simple.

本発明の真空処理装置を説明するためのブロック図The block diagram for demonstrating the vacuum processing apparatus of this invention 本発明の真空処理の分析方法を説明するための表示装置の画面(1)Screen of display device for explaining analysis method of vacuum processing of the present invention (1) 本発明の真空処理の分析方法を説明するための表示装置の画面(2)Screen (2) of the display device for explaining the analysis method of the vacuum processing of the present invention 本発明の真空処理の分析方法を説明するための表示装置の画面(3)Screen (3) of the display device for explaining the analysis method of the vacuum processing of the present invention 本発明の真空処理の分析方法を説明するための表示装置の画面(4)Screen (4) of the display device for explaining the analysis method of the vacuum processing of the present invention 本発明の真空処理の分析方法を説明するための表示装置の画面(5)Screen (5) of the display device for explaining the analysis method of the vacuum processing of the present invention

図1の符号1は、本発明の真空処理装置の一例であり、真空処理部20を有している。
真空処理部20は、真空槽11を有している。
真空槽11の内部には、処理対象物である基板の真空処理を行う処理機器群23が配置されている。
Reference numeral 1 in FIG. 1 is an example of the vacuum processing apparatus of the present invention, and includes a vacuum processing unit 20.
The vacuum processing unit 20 has a vacuum chamber 11.
Inside the vacuum chamber 11, a processing equipment group 23 that performs vacuum processing of a substrate as a processing target is disposed.

処理機器群23は、複数の処理機器を有しており、ここでは処理機器には、真空槽11の底面に配置された蒸着源34と、蒸着源34に電子線を照射するEBガン33と、蒸着源34の上方に配置された保持装置31と、保持装置31の内部に配置されたヒータ32とが含まれる。   The processing equipment group 23 includes a plurality of processing equipment. Here, the processing equipment includes a vapor deposition source 34 disposed on the bottom surface of the vacuum chamber 11, and an EB gun 33 that irradiates the vapor deposition source 34 with an electron beam. The holding device 31 arranged above the vapor deposition source 34 and the heater 32 arranged inside the holding device 31 are included.

図1の符号15は、処理対象物である基板であり、成膜面を蒸着源34に向けて保持装置31に保持されている。
真空槽11の外部には周辺機器群24と制御部21とが配置されている。
周辺機器群24は、複数の周辺機器を有しており、ここでは周辺機器には、真空排気系36と、ガス導入系37と、ヒータ用電源38と、蒸着用電源39とが含まれている。
Reference numeral 15 in FIG. 1 denotes a substrate that is an object to be processed, which is held by the holding device 31 with the film formation surface facing the vapor deposition source 34.
A peripheral device group 24 and a control unit 21 are arranged outside the vacuum chamber 11.
The peripheral device group 24 includes a plurality of peripheral devices. Here, the peripheral devices include a vacuum exhaust system 36, a gas introduction system 37, a heater power supply 38, and a vapor deposition power supply 39. Yes.

真空排気系36とガス導入系37は真空槽11に接続されており、真空排気系36を動作させて真空槽11の内部を真空排気することができ、ガス導入系37を動作させて真空槽11の内部にガス導入系37から反応性ガス等のガスを導入でき、例えば反応性蒸着を行うことができる。   The evacuation system 36 and the gas introduction system 37 are connected to the vacuum chamber 11, and the inside of the vacuum chamber 11 can be evacuated by operating the vacuum evacuation system 36, and the vacuum chamber is operated by operating the gas introduction system 37. 11, a gas such as a reactive gas can be introduced from the gas introduction system 37. For example, reactive vapor deposition can be performed.

ヒータ用電源38と蒸着用電源39は、ヒータ32とEBガン33にそれぞれ接続されており、ヒータ用電源38と蒸着用電源39からヒータ32とEBガン33にそれぞれ電力を供給する。
ヒータ32は供給された電力で発熱し、保持装置31を昇温させて真空雰囲気中で基板15を加熱する。EBガン33は供給された電力で蒸着源34に電子ビームを照射し、蒸着源34内に配置された蒸着材料を加熱し、真空槽11内の真空雰囲気中に蒸着材料の蒸気を放出させる。
この蒸気は真空雰囲気や反応ガス雰囲気中で基板15に到達し、その成膜面に薄膜を形成する。
The heater power supply 38 and the vapor deposition power supply 39 are connected to the heater 32 and the EB gun 33, respectively, and supply power from the heater power supply 38 and the vapor deposition power supply 39 to the heater 32 and the EB gun 33, respectively.
The heater 32 generates heat with the supplied electric power, raises the temperature of the holding device 31, and heats the substrate 15 in a vacuum atmosphere. The EB gun 33 irradiates the vapor deposition source 34 with an electron beam with the supplied electric power, heats the vapor deposition material disposed in the vapor deposition source 34, and releases vapor of the vapor deposition material into the vacuum atmosphere in the vacuum chamber 11.
The vapor reaches the substrate 15 in a vacuum atmosphere or a reactive gas atmosphere, and forms a thin film on the film formation surface.

周辺機器群24には、処理機器群23に含まれる処理機器にセンサ部分が取り付けられ、温度測定や圧力測定などの物理量の測定を行う測定装置も含まれており、また、ヒータ用電源38や蒸着用電源39等の内部に配置され、電流や電圧等の物理量を測定する測定装置も含まれている。
周辺機器群24では、周辺機器群24に含まれる周辺機器が測定した真空槽11内の圧力、基板15の温度、ガス導入量、ヒータ32へ流れた電流量、EBガン33に供給した電力等の測定値が生成されており、測定値は、測定値と測定値の発生時刻とが対応されて、周辺機器群24から制御部21に入力されている。
The peripheral equipment group 24, the sensor portion is attached to the processing device included in the processing device group 23, also includes measuring apparatus for measuring the physical quantity such as temperature measurement, pressure measurement, also Ya heater power supply 38 A measuring device is also included which is disposed inside the vapor deposition power source 39 and the like and measures physical quantities such as current and voltage.
In the peripheral device group 24, the pressure in the vacuum chamber 11 measured by the peripheral devices included in the peripheral device group 24, the temperature of the substrate 15, the amount of gas introduced, the amount of current flowing to the heater 32, the power supplied to the EB gun 33, etc. measurements are generated, measurements, and occurrence time of the measurement value and the measured value is associated, is input from a peripheral device group 24 to the control unit 21.

制御部21には、シーケンサ41とコンピュータ40とが配置されており、周辺機器群24から入力された測定値と測定時刻は、シーケンサ41を介してコンピュータ40に入力される。
コンピュータ40のデータ解析プログラム45は、演算装置42と、記憶装置43と、表示装置44とを有しており、入力された測定値は、測定時刻と共に記憶装置43に記憶される。
A sequencer 41 and a computer 40 are arranged in the control unit 21, and measurement values and measurement times input from the peripheral device group 24 are input to the computer 40 via the sequencer 41.
The data analysis program 45 of the computer 40 includes an arithmetic device 42, a storage device 43, and a display device 44. The input measurement values are stored in the storage device 43 together with the measurement time.

真空槽11では、真空処理がされた基板15は真空槽11の外部に搬出され、未処理の基板が搬入され、真空処理が行われる。
所定枚数の基板は連続して処理する基板ごとにロット番号が付与されており、測定値のロット番号が分かるように、測定値を記憶装置43に記憶させる。ファイル名称には、ロット番号やロット名称等、ロットを区別できる表示が含まれており、また、一つのロット内でも、異なる真空処理は区別できるように、真空処理番号等の真空処理が区別できる表示もふくまれており、従って、測定値は、そのファイル名称から、ロットと真空処理に対応付けされていることになる。
In the vacuum chamber 11, the substrate 15 that has been subjected to vacuum processing is carried out of the vacuum chamber 11, an unprocessed substrate is carried in, and vacuum processing is performed.
A predetermined number of substrates are assigned a lot number for each substrate to be processed continuously, and the measured value is stored in the storage device 43 so that the lot number of the measured value is known. The file name includes a lot number, lot name, and other indications that can distinguish lots. In addition, vacuum processing such as vacuum processing numbers can be distinguished so that different vacuum treatments can be distinguished within a single lot. The display also includes the measurement value. Therefore, the measured value is associated with the lot and the vacuum processing from the file name.

他方、シーケンサ41には、真空処理部20を動作させる手順が記憶されており、シーケンサ41からは、周辺機器群24や処理機器群23に対して、周辺機器群24や処理機器群23を制御しながら動作させて真空処理を行うための制御信号が出力されている。この制御信号には、周辺機器群24や処理機器群23を動作させる動作信号と、動作を停止させる停止信号とが少なくとも含まれている。   On the other hand, the sequencer 41 stores a procedure for operating the vacuum processing unit 20. The sequencer 41 controls the peripheral device group 24 and the processing device group 23 with respect to the peripheral device group 24 and the processing device group 23. However, a control signal for performing vacuum processing while operating is output. This control signal includes at least an operation signal for operating the peripheral device group 24 and the processing device group 23 and a stop signal for stopping the operation.

制御信号は、周辺機器群24に含まれる周辺機器36〜39や処理機器群23に含まれる処理機器31〜34に出力されると共に、コンピュータ40にも出力されている。また、シーケンサ41からコンピュータ40には、制御信号と共に、動作信号の出力が開始された開始時刻と、停止信号の出力が開始された停止時刻とが、動作信号と停止信号に対応付けて出力されており、制御信号は、制御信号によって行われた真空処理のロット番号や真空処理番号等が付され、ロットと真空処理に対応付けられ、開始時刻と停止時刻と共に記憶される。   The control signal is output to the peripheral devices 36 to 39 included in the peripheral device group 24 and the processing devices 31 to 34 included in the processing device group 23 and also to the computer 40. The sequencer 41 outputs to the computer 40 the control signal and the start time when the output of the operation signal is started and the stop time when the output of the stop signal is started in association with the operation signal and the stop signal. The control signal is assigned a lot number, a vacuum processing number, and the like of the vacuum processing performed by the control signal, is associated with the lot and the vacuum processing, and is stored together with the start time and the stop time.

この真空処理装置1では、複数ロットの基板の真空処理が行われ、記憶装置43に複数ロットの真空処理の測定値と、測定値に対応した測定時刻と、その真空処理を制御した制御信号と、制御信号中の開始時刻と停止時刻とが記憶されているものとし、複数の真空処理の測定結果を比較して分析するための、コンピュータ40の操作手順について説明する。   In this vacuum processing apparatus 1, a plurality of lots of substrates are subjected to vacuum processing, and the storage device 43 has a plurality of lots of vacuum processing measurement values, measurement times corresponding to the measurement values, and control signals for controlling the vacuum processing. It is assumed that the start time and stop time in the control signal are stored, and the operation procedure of the computer 40 for comparing and analyzing the measurement results of a plurality of vacuum processes will be described.

記憶装置43には、真空処理の分析を行うプログラムが記憶されており、このプログラムを起動し、複数の真空処理に対応する測定値を、測定値が生成された測定時刻と共に、演算処理を行うメモリ等に読み込む。
測定値が生成されたロット番号や真空処理番号等のロットと真空処理は、測定値のファイル名称によって区別できる。
The storage device 43 stores a program for analyzing the vacuum processing. This program is activated, and the measurement values corresponding to the plurality of vacuum processing are processed together with the measurement times at which the measurement values are generated. Read into memory etc.
The lot and vacuum processing such as the lot number or vacuum processing number in which the measurement value is generated can be distinguished by the file name of the measurement value.

分析する測定値は、ここでは、同じ処理機器31〜34又は周辺機器36〜39の測定結果であり、同じ物理量であり、測定時刻の間隔は、一真空処理中で一定であり、真空処理間でも一定値であるようにされている。
また、読み込む測定値が生成されたときの真空処理を制御していた制御信号も、読み込む。開始時刻と停止時刻は、例えば、測定時刻中に含まれる時刻にすることができる。制御信号のロットや真空処理との対応関係は、制御信号のファイルの名称で分かるものとする。
The measured values to be analyzed here are the measurement results of the same processing devices 31 to 34 or the peripheral devices 36 to 39, are the same physical quantities, and the intervals of the measurement times are constant during one vacuum processing, and between the vacuum processing But it is set to a constant value.
Further, the control signal that controls the vacuum processing when the measurement value to be read is generated is also read. The start time and the stop time can be set to the time included in the measurement time, for example. The correspondence between the lot of control signals and the vacuum processing can be understood from the name of the control signal file.

図2の符号100は、コンピュータ40に接続された表示装置44の画面を示している。コンピュータ40とLAN等の手段によって交信する他のコンピュータの表示装置の画面であっても良い。
画面100には、読み込みを行った測定値と、その測定値に対応する制御信号を特定するために、測定値特定欄110と、制御信号特定欄120とが設けられており、測定値の変化と、制御信号の変化を対応して視認できるように、測定値のグラフを表示するグラフ表示領域130と、制御信号を表示するタイミングチャート表示領域140とに区分けされている。タイミングチャート表示領域140では、動作信号と停止信号を区別でき、開始時刻と停止時刻の位置が分かるように制御信号が表示される。
Reference numeral 100 in FIG. 2 indicates a screen of the display device 44 connected to the computer 40. It may be a screen of a display device of another computer that communicates with the computer 40 by means such as a LAN.
The screen 100 is provided with a measured value specifying column 110 and a control signal specifying column 120 for specifying the measured value that has been read and the control signal corresponding to the measured value. And a graph display area 130 for displaying the graph line of the measurement value and a timing chart display area 140 for displaying the control signal so that the change of the control signal can be visually recognized correspondingly. In the timing chart display area 140, the operation signal and the stop signal can be distinguished, and the control signal is displayed so that the position of the start time and the stop time can be known.

測定値は、ロットと真空処理に加え、そのファイル名称151で、測定値の種類(例えば、電流値、電圧、圧力等)を特定できるようにされており、測定値特定欄110には、読み込みを行った各測定値のファイル名称151(名称1〜6)を縦一列に表示する名称表示列111が設けられている。
また、測定値特定欄110には、読み込みを行った測定値のうち、グラフ表示をする測定値を指示するための表示指示列114が設けられている。
In addition to the lot and vacuum processing, the measurement value can be specified by the file name 151 so that the type of measurement value (for example, current value, voltage, pressure, etc.) can be specified. There is provided a name display column 111 for displaying the file names 151 (names 1 to 6) of the respective measurement values subjected to the measurement in a vertical row.
Further, the measurement value specifying column 110 is provided with a display instruction column 114 for instructing a measurement value to be displayed in a graph among the read measurement values.

表示するX−Y座標は、Y軸を左側と右側の二本有しており、測定値を左側のY軸の目盛か、右側のY軸の目盛のいずれかに対応させてグラフ表示することができ、測定値特定欄110には、Y軸を選択するためのY軸指示列115が設けられており、また、後述するメジャー線の表示を指示をするメジャー指示列113とが設けられている。 X-Y coordinate to be displayed, the Y-axis has left and right two, or scale measurements left Y-axis, graph Display in correspondence to one of the scales of the right Y-axis The measured value specifying column 110 is provided with a Y-axis instruction column 115 for selecting the Y-axis, and a measure instruction column 113 for instructing display of a major line, which will be described later. It has been.

表示指示列114に縦一列に表示されたチェックボックス154にチェックすると、チェックを付された測定値がグラフ表示領域130にグラフ表示され、Y軸指示列115にそれぞれ縦一列に表示された左側のY軸のチェックボックス156と、右側のY軸のチェックボックス155のいずれか一方にチェックを付すことで、測定値を対応させるY軸が左か右かを選択され、メジャー指示列113に縦一列に配置されたチェックボックス153に一本用のマーク又は二本用のマークを付すことで、所望のメジャー線が表示される。   When the check box 154 displayed in the vertical column in the display instruction column 114 is checked, the checked measurement values are displayed in a graph in the graph display area 130 and are displayed on the left side displayed in the vertical axis in the Y axis instruction column 115 respectively. By checking either the Y-axis check box 156 or the right-side Y-axis check box 155, the Y-axis corresponding to the measurement value is selected to be left or right, and one vertical column is displayed in the measure indication column 113. A desired major line is displayed by attaching a single mark or a double mark to the check box 153 arranged in (1).

また、測定値特定欄110には、グラフの色を指示するための色指示列112が設けられており、色指示列112に縦一列に表示される色サンプル152の色を変更することで、表示されるグラフの色を変更することができる。
各列111〜114のチェックボックス等の表示内容は、表示内容と測定値の名称151との対応が見やすいように、表示内容と名称151は同一高さに表示されている。
Further, the measurement value specifying column 110 is provided with a color instruction column 112 for instructing the color of the graph line , and by changing the color of the color sample 152 displayed in a vertical column in the color instruction column 112. The color of the displayed graph line can be changed.
Display contents such as check boxes in the columns 111 to 114 are displayed at the same height so that the correspondence between the display contents and the measurement value names 151 can be easily seen.

制御信号特定欄120についても、Y軸指示列115以外は、測定値特定欄110と同様にされており、名称表示列121と、色指示列122と、メジャー指示列123と、表示指示列124とが設けられている。
メジャー指示列123で指示されたメジャー線と制御信号のグラフ(折線)との交点は、交点の制御信号が動作信号であるか停止信号であるかの信号状態を、ハイを示す数値かローを示す数値を制御信号の信号値として画面100に表示する。交点が動作信号であるか停止信号であるかの信号状態は、記号や図形など、他の方法で示しても良い。
The control signal specifying column 120 is the same as the measured value specifying column 110 except for the Y-axis indicating column 115, and includes a name display column 121, a color indicating column 122, a major indicating column 123, and a display indicating column 124. And are provided.
The intersection of the major line indicated by the major indication column 123 and the graph line (folded line) of the control signal indicates whether the control signal at the intersection is an operation signal or a stop signal. Is displayed on the screen 100 as the signal value of the control signal. The signal state of whether the intersection is an operation signal or a stop signal may be indicated by other methods such as symbols and figures.

図中、符号161はロットや真空処理が特定できる制御信号の名称(名称11〜16)を示し、符号162は色サンプル、符号163、164は、チェックボックスを示している。
測定値特定欄110と制御信号特定欄120のチェックボックス153〜156、163、164を使用し、チェックを記載して表示する測定値を選択し、図3に示すように、グラフ表示領域130には、選択された測定値から作製されたグラフ132が表示される。このグラフ132は、真空処理毎に別々に、X−Y座標131と一緒に表示される。
タイミングチャート表示領域140には、制御信号から作製された折線134が時間軸141と一緒に表示されている。時間軸141は、画面100上でX−Y座標131のX軸の真下に位置し、X軸と平行である。
In the figure, reference numeral 161 indicates the names of control signals (names 11 to 16) that can specify the lot and vacuum processing, reference numeral 162 indicates a color sample, and reference numerals 163 and 164 indicate check boxes.
Using the check boxes 153 to 156, 163, and 164 in the measured value specifying column 110 and the control signal specifying column 120, the measured value to be displayed with a check is selected, and as shown in FIG. Displays a graph line 132 created from the selected measurement values. The graph line 132 is displayed together with the XY coordinates 131 separately for each vacuum process.
In the timing chart display area 140, a broken line 134 generated from the control signal is displayed together with the time axis 141. The time axis 141 is located directly below the X axis of the XY coordinates 131 on the screen 100 and is parallel to the X axis.

測定値に対応した測定時刻と、制御信号の動作開始と停止開始とにそれぞれ対応した開始時刻と停止時刻は、一日を24時間とし、午前零時を始点とした時刻であり、西暦及び月日付も付随して、同一時刻でも西暦、月、又は日付のうちの一つが異なれば、異なる時刻になるようにされている。
異なる時刻である基準時刻が真空処理毎に設定されており、測定値に対応された測定時刻を、その測定値が測定された真空処理の基準時刻からの時間であるX軸上換算時刻に換算し、測定値と対応付けてメモリや記憶装置43に記憶する。
The measurement time corresponding to the measurement value and the start time and stop time corresponding to the operation start and stop start of the control signal, respectively, are times starting from 24 hours a day and starting from midnight. Along with the date, even if one of the year, month, or date is different at the same time, the time is different.
A reference time, which is a different time, is set for each vacuum process, and the measurement time corresponding to the measurement value is converted to an X-axis conversion time that is the time from the vacuum process reference time at which the measurement value was measured. Then, it is stored in the memory or the storage device 43 in association with the measured value.

基準時刻は、測定値が測定された真空処理を行った周辺機器群24や処理機器群23を制御した制御信号に含まれる開始時刻や停止時刻などを用いることができる。基準時刻は測定値に対応付けられた時刻である。
ここでは、読み込まれる測定値は異なるロットに属しており、読み込まれる測定値の真空処理を行った制御信号に含まれる最初の動作信号を基準時刻として設定している。
As the reference time, a start time, a stop time, or the like included in a control signal for controlling the peripheral device group 24 or the processing device group 23 that has performed the vacuum processing in which the measured value is measured can be used. The reference time is a time associated with the measurement value.
Here, the read measurement values belong to different lots, and the first operation signal included in the control signal obtained by performing vacuum processing on the read measurement values is set as the reference time.

X軸の単位長さ当たりの時間は、キーボードから入力され、又は、読み込む測定値の時間などから算出されており、測定値のX座標は、基準時刻のX軸上の位置と、X軸の単位長さ当たりの時間とにより、測定値に対応した各測定値のX軸上換算時刻をX軸上の位置に換算することで求められている。ここではX軸と選択された左側Y軸の交点がX−Y座標の原点であり、基準時刻の位置は、原点よりも右側のX軸上の所定位置に配置されている。   The time per unit length of the X axis is input from the keyboard or calculated from the time of the measured value to be read, and the X coordinate of the measured value is the position of the reference time on the X axis and the X axis. It is obtained by converting the conversion time on the X axis of each measurement value corresponding to the measurement value into a position on the X axis based on the time per unit length. Here, the intersection of the X axis and the selected left Y axis is the origin of the XY coordinates, and the position of the reference time is arranged at a predetermined position on the X axis on the right side of the origin.

本例で用いた測定値は、同じ周辺機器36〜39又は処理機器31〜34から送信された測定値であり、測定値に対応付けられて記憶された測定時刻間の時間間隔は、一真空処理中で一定値にされており、また、真空処理間でも一定値であるようにされている。従って、一個のX軸上換算時刻には、複数の測定値が対応されている。   The measurement values used in this example are measurement values transmitted from the same peripheral devices 36 to 39 or processing devices 31 to 34, and the time interval between measurement times stored in association with the measurement values is one vacuum. It is set to a constant value during processing, and is also set to a constant value during vacuum processing. Therefore, a plurality of measured values correspond to one X-axis converted time.

また、左右のY軸のうち、Y軸指示列115によって指定されたY軸上の単位長さ当たりの値と、X軸と指示されたY軸との交点の値は、キーボード等から入力され、又は測定値の大きさから求められている。
従って、Y軸とX軸の交点の値とY軸の単位長さ当たりの値により、各測定値の選択されたY軸上の位置であるY座標は、測定値の値から求められている。
Of the left and right Y axes, the value per unit length on the Y axis designated by the Y axis designation column 115 and the value of the intersection between the X axis and the designated Y axis are input from a keyboard or the like. Or the magnitude of the measured value.
Therefore, the Y coordinate which is the position on the selected Y axis of each measurement value is obtained from the value of the measurement value based on the value of the intersection of the Y axis and the X axis and the value per unit length of the Y axis. .

このように、各測定値のX座標とY座標が求められ、同じ真空処理の測定値を最小二乗法等で一本のグラフにしたり、測定値の座標値の点を線分で結んでグラフ化する。図3に示すように、表示指示列114のチェックボックス154へのチェックによって指示された測定値がグラフ132として表示される。ここではグラフ132は5本である。
開始時刻と停止時刻は、測定値と同じ基準時刻を基準とし、基準時刻からの時間軸141上の時間である時間軸上換算時刻に換算されている。
In this way, the X coordinate and Y coordinate of each measurement value are obtained, and the measurement value of the same vacuum processing is made into a single graph line by the least square method or the coordinate value points of the measurement value are connected by line segments. Graph. As shown in FIG. 3, the measurement values instructed by checking the check box 154 in the display instruction column 114 are displayed as graph lines 132. Here, there are five graph lines 132.
The start time and stop time are converted to time-converted time that is the time on the time axis 141 from the reference time, with the same reference time as the measurement value as a reference.

時間軸141の原点は、X−Y座標131の左側のY軸の延長線が時間軸141と交叉する点であり、時間軸141上の基準時刻の位置は、X軸上の基準時刻を通るX軸に対する垂線が時間軸141と交叉する点にされている。時間軸の単位長さ当たりの時間は決められており、従って、開始時刻と停止時刻は、その時間軸上換算時刻の値に応じた時間軸141上の位置になる。   The origin of the time axis 141 is a point where the extension line of the Y axis on the left side of the XY coordinate 131 intersects the time axis 141, and the position of the reference time on the time axis 141 passes through the reference time on the X axis. A perpendicular to the X axis intersects with the time axis 141. The time per unit length of the time axis is determined, and therefore the start time and stop time are located on the time axis 141 according to the value of the converted time on the time axis.

本例では、時間軸の単位長さ当たりの時間は、X軸の単位長さ当たりの時間と同じにされており、従って、X軸と時間軸141とに垂直に交叉する直線は、同じ値のX軸上換算時刻と時間軸上換算時刻を通るようになっている。
制御信号に含まれる動作信号と停止信号は、時間軸141と平行で、高さが異なる横線分で表示されており、開始時刻を換算した時間軸上時刻では、一つの停止信号の終点と次の動作信号の始点との間と、一つの動作信号の終点と、次の停止信号の始点とが、垂直な縦線分で結ばれて形成された折線134によって制御信号が表示されている。
縦線分は、開始時刻と停止時刻を換算した時間軸上時刻に位置している。
In this example, the time per unit length of the time axis is the same as the time per unit length of the X axis, and therefore the straight line that intersects the X axis and the time axis 141 perpendicularly has the same value. The conversion time on the X axis and the conversion time on the time axis are passed.
The operation signal and the stop signal included in the control signal are displayed in horizontal line segments that are parallel to the time axis 141 and have different heights, and at the time on the time axis converted from the start time, the end point and the next of one stop signal are displayed. The control signal is displayed by a broken line 134 formed by connecting the start point of one operation signal, the end point of one operation signal, and the start point of the next stop signal by a vertical vertical line segment.
The vertical line segment is located at the time on the time axis obtained by converting the start time and the stop time.

図3に示すように、グラフ表示領域130とタイミングチャート表示領域140には、複数のグラフ132と複数の折線134がそれぞれ表示されており、各測定値に対する制御信号中の最初の開始時刻が基準時刻とされたグラフ132中では、グラフ132のピーク位置が左方にある突起形状132aと右方にある突起形状132bが見られる。 As shown in FIG. 3, a plurality of graph lines 132 and a plurality of broken lines 134 are respectively displayed in the graph display area 130 and the timing chart display area 140, and the first start time in the control signal for each measurement value is displayed. In the graph line 132 set as the reference time, a protrusion shape 132a with the peak position of the graph line 132 on the left side and a protrusion shape 132b on the right side can be seen.

このプログラムでは、グラフ表示領域130には、X軸と垂直な複数(本例では二本)のメジャー線を表示させることができ、また、タイミングチャート表示領域140にも、時間軸141に垂直な複数(本例では二本)の補助メジャー線を表示させることができる。
メジャー線と補助メジャー線をそれぞれ表示させる場合は、メジャー指示列113、123のチェックボックス153、163にマークを付ける。
In this program, a plurality (two in this example) of major lines perpendicular to the X axis can be displayed in the graph display area 130, and the timing chart display area 140 is also perpendicular to the time axis 141. Multiple (two in this example) auxiliary measure lines can be displayed.
When displaying the major line and the auxiliary major line, marks are added to the check boxes 153 and 163 in the major instruction columns 113 and 123, respectively.

本例では、コンピュータ40は、メジャー線と補助メジャー線を二本ずつ表示させるように構成されており、図4では、第一のメジャー線101が、左方の突起形状132aのグラフ132のピークを通り、第二のメジャー線102が、右方の突起形状132bのグラフ132のピークを通るように配置されている。 In this example, the computer 40 is configured to display two major lines and two auxiliary major lines. In FIG. 4, the first major line 101 is a graph line 132 having a left protrusion shape 132 a. The second major line 102 is arranged so as to pass through the peak and the peak of the graph line 132 of the right protrusion shape 132b.

メジャー線と補助メジャー線はX軸上換算時刻や時間軸上換算時刻を入力して移動させたり、マウス等で移動させることができる。
第一のメジャー線101が位置するX軸上換算時刻と第一の補助メジャー線103が位置する時間軸上換算時刻は等しくなるようにされており、また、第二のメジャー線102が位置するX軸上換算時刻と第二の補助メジャー線104が位置する時間軸上換算時刻も等しくなるようにされている。
The major line and the auxiliary major line can be moved by inputting the converted time on the X axis and the converted time on the time axis, or can be moved with a mouse or the like.
The converted time on the X-axis where the first major line 101 is located and the converted time on the time-axis where the first auxiliary measure line 103 is located are equal, and the second major line 102 is located. The conversion time on the X axis and the conversion time on the time axis at which the second auxiliary major line 104 is located are also made equal.

第一、第二のメジャー線101、102を移動させる場合、メジャー指示列113でマークが付されて選択された測定値中に、移動のために入力されたX軸上換算時刻や、マウスでの移動による移動先のX軸上換算時刻に対応する測定値が無かった場合は、マークで選択された測定値中で、入力されたX軸上換算時刻に最も近く、測定値と対応付けられているX軸上換算時刻に第一、第二のメジャー線101、102は移動される。   When moving the first and second major lines 101 and 102, the conversion time on the X-axis input for movement or the mouse is selected in the measured value selected by marking in the major instruction column 113 or with the mouse. If there is no measurement value corresponding to the conversion time on the X-axis of the movement destination due to movement, the measurement value selected by the mark is closest to the input conversion time on the X-axis and is associated with the measurement value. The first and second major lines 101 and 102 are moved at the converted time on the X axis.

第一、第2の補助メジャー線103、104は、第一、第二のメジャー線101、102が移動されたX軸上換算時刻と同じ時刻である時間軸上換算時刻に移動される。
逆に、第一、第二の補助メジャー線103、104を移動させると、移動された第一、第二の補助メジャー線103、104の時間軸上換算時刻と同じ時刻のX軸上換算時刻に第一のメジャー線101が移動される。
The first and second auxiliary major lines 103 and 104 are moved to a time-axis converted time that is the same time as the X-axis converted time to which the first and second major lines 101 and 102 are moved.
Conversely, when the first and second auxiliary major lines 103 and 104 are moved, the converted time on the X-axis is the same as the converted time on the time axis of the moved first and second auxiliary major lines 103 and 104. First major line 101 is moved.

このとき、第一、第二のメジャー線101、102の移動先のX軸上換算時刻に測定値が対応されている場合は、第一、第二のメジャー線101、102がそのX軸上換算時刻に移動され、第一、第二の補助メジャー線103、104は、そのX軸上換算時刻と同時刻の時間軸上換算時刻に移動される。   At this time, if the measurement value corresponds to the conversion time on the X axis of the movement destination of the first and second major lines 101 and 102, the first and second major lines 101 and 102 are on the X axis. Moved to the conversion time, the first and second auxiliary major lines 103 and 104 are moved to the conversion time on the time axis that is the same as the conversion time on the X-axis.

他方、移動先のX軸上換算時刻に測定値が対応されていなかった場合は、メジャー指示列113のマークにより選択された測定値の中で、移動先のX軸上換算時刻に最も近く、測定値に対応付けられているX軸上換算時刻が選択され、そのX軸上換算時刻と、それと同時刻の時間軸上換算時刻に、第一又は第二のメジャー線101、102と第一又は第二の補助メジャー線103、104とがそれぞれ移動される。   On the other hand, if the measured value does not correspond to the conversion time on the X-axis of the movement destination, the measurement value selected by the mark in the measure indication column 113 is closest to the conversion time on the X-axis of the movement destination, The X-axis converted time associated with the measurement value is selected, and the first or second major line 101, 102 and the first major line 101, 102 are first and the X-axis converted time and the time-axis converted time at the same time. Alternatively, the second auxiliary major lines 103 and 104 are moved, respectively.

また、メジャー指示列113でマークが付されて選択された測定値中で、第一、第二のメジャー線101、102が位置するX軸上換算時刻を第一、第二の時刻とし、第一、第二の時刻に対応する測定値を第一、第二の測定値と呼ぶとすると、第一、第二の時刻は位置が分かるようにされ、第一、第二の時刻間の時間と共に図4の計算値1として画面100に表示され、第一、第二の測定値は、第一、第二のメジャー線101、102とグラフ132との交点を区別する記号P1〜P4と共に画面100に表示される。 Also, among the measurement values selected by being marked in the major instruction column 113, the X-axis converted times at which the first and second major lines 101 and 102 are located are the first and second times, and the first If the measurement values corresponding to the first and second times are referred to as the first and second measurement values, the positions of the first and second times can be known, and the time between the first and second times. together on the screen 100 calculated 1 in FIG. 4, first, the second measurement value, together with the first, second distinguishing intersection of the major lines 101 and 102 graph line 132 symbols P1~P4 It is displayed on the screen 100.

本発明では、表示された複数のグラフ132のうち、一以上の所望個数のグラフ132を選択して移動できるように構成されており、選択して移動させるX軸上の距離を時間としてキーボードから入力したり、又は、グラフ132中で指定した測定点を位置させるX軸上換算時刻の入力、マウスで所望個数選択してマウスのポインタと共に移動させ、または、所望個数選択した後、キーボードの特定キーの押下時間に対応させて移動するなどの移動方法によって、選択された所望個数のグラフ132をX軸と平行に移動できるようになっている。 In the present invention, one or more desired number of graph lines 132 out of the plurality of displayed graph lines 132 can be selected and moved, and the distance on the X axis to be selected and moved is defined as time. After inputting from the keyboard or inputting the converted time on the X-axis for positioning the measurement point specified in the graph line 132, selecting the desired number with the mouse and moving it with the mouse pointer, or after selecting the desired number, A desired number of selected graph lines 132 can be moved in parallel with the X axis by a moving method such as moving in accordance with the pressing time of a specific key on the keyboard.

上述したように、測定値の測定時間は等間隔であり、従って、測定値に対応するX軸上換算時刻も等間隔になっている。一つのグラフ132中の一個の測定値に対応されたX軸上換算時刻には、他のグラフ132中の測定値も対応されており、グラフ132の移動量は、隣接するX軸上換算時刻間の時間を単位時間として、単位時間の整数倍にされている。 As described above, the measurement time of the measurement value is equally spaced, and therefore, the X-axis converted time corresponding to the measurement value is also equally spaced. X-axis is one of one of the X-axis on the conversion time is corresponding to the measured values in the graph line 132, the measured value in the other graph line 132 are associated, the amount of movement of the graph line 132, the adjacent The time between the up-converted times is set as an integral multiple of the unit time with the unit time.

従って、グラフ132の移動量として指定された移動時間や、移動先として指定されたX軸上換算時刻から求められた移動時間は、四捨五入、切り上げ、切り捨てなどによって単位時間の整数倍の移動時間に変換され、各測定点のX軸上換算時刻は、変換された移動時間に基づいて変更され、その測定値のグラフ132も移動後のX軸上換算時刻に基づいて書き換えられる。 Therefore, the movement time specified as the movement amount of the graph line 132 and the movement time obtained from the converted time on the X-axis specified as the movement destination are movement times that are integral multiples of the unit time by rounding, rounding up, or rounding down. The X-axis converted time of each measurement point is changed based on the converted moving time, and the graph line 132 of the measured value is also rewritten based on the converted X-axis converted time.

このとき、選択されたグラフ132に関連する制御信号、例えば、選択されたグラフ132の真空処理を行った制御信号は、開始時刻と停止時刻の時間軸上変換時刻がX軸上換算時刻を変更する移動時間と同時間変更され、折線141も、グラフ132の移動時間と同時間、同方向に時間軸141と平行に移動される。 At this time, a control signal related to the selected graph line 132, for example, a control signal obtained by performing vacuum processing on the selected graph line 132, has a conversion time on the time axis of the start time and the stop time converted to an X-axis conversion time. The broken line 141 is also moved in parallel with the time axis 141 in the same time and in the same direction as the moving time of the graph line 132.

タイミングチャート表示領域140に表示された折線141の所望のものを選択し、キーボードでの入力、移動先のX軸上換算時刻の指定、マウスのポインタの移動と共に移動、カーソルでの移動等、グラフ132を移動させるときと同じ手段によって移動させ、移動させる制御信号に関連した測定値のグラフ132、例えば、選択した折線141の制御信号が制御した真空処理の際に測定された測定値のグラフ132を一緒に移動させてもよい。 Select the desired broken line 141 displayed in the timing chart display area 140, enter with the keyboard, specify the conversion time on the X-axis of the destination, move with the movement of the mouse pointer, move with the cursor, etc. The measured value associated with the control signal to be moved and moved by the same means as when moving the line 132, for example, the measured value measured during the vacuum processing controlled by the control signal of the selected broken line 141. The graph lines 132 may be moved together.

この場合も、隣接する測定値のX軸上換算時刻間の時間を単位時間とすると、移動量は単位時間の整数倍であり、入力された時間や、移動先の時間軸上換算時刻は、上記と同様に、四捨五入、切り上げ、切り捨てなどによって単位時間の整数倍である移動時間に変換され、移動される制御信号の時間軸上変換時刻や、移動される測定値のX軸上換算時刻は、変換された移動時間に基づいて計算され、表示される。   In this case as well, when the time between adjacent measured values on the X-axis is the unit time, the movement amount is an integral multiple of the unit time, and the input time and the destination time-converted time are Similarly to the above, the conversion time on the time axis of the control signal to be moved and the conversion time on the X axis of the measurement value to be moved are converted to a movement time that is an integral multiple of the unit time by rounding, rounding up, rounding down, etc. Calculated and displayed based on the converted travel time.

第一の時刻と第二の時刻の差は、左方の突起形状132aのグラフ132と、右方の突起形状132bのグラフ132とのピーク位置の時間差であり、マウス等によって一方の突起形状のグラフ132を選択し、他方の突起形状のグラフ線132との間のピーク位置の時間差がゼロになるように移動させると、各グラフ132のピーク位置が図5に示すように重なり合い、各グラフ132の形状や高さを簡単に比較することができる。 The difference between the first time and the second time is the time difference between the peak positions of the graph line 132 of the left protrusion shape 132a and the graph line 132 of the right protrusion shape 132b. select graph line 132 of shape, the time difference between the peak position between the graph line 132 of the other protrusion shapes are moved to be zero, the peak position of each graph line 132 overlap as shown in FIG. 5 The shape and height of each graph line 132 can be easily compared.

また、折線134は、動作信号を上、停止信号を下にして描かれており、タイミングチャート表示領域140では、折線134には、動作信号の立上り181の時刻が基準時刻とされた形状134aのものと、制御信号に含まれるノイズの立上り182が動作信号と誤認され、基準信号とされた形状134bとがあることが分かる。   The broken line 134 is drawn with the operation signal up and the stop signal down. In the timing chart display area 140, the broken line 134 has a shape 134a in which the time of the rising edge 181 of the operation signal is the reference time. It can be seen that there is a shape 134b in which the rising edge 182 of the noise included in the control signal is mistaken as an operation signal and is used as a reference signal.

各グラフ132は、各グラフ132に対応した制御信号に含まれる最初の動作信号の時間軸上換算時刻を基準時刻としているが、誤認された形状134bの正しい立上り183を基準時刻の位置に移動させるように、折線134を移動させ、対応するグラフ132を一緒に移動させて重ね合わせてもよい。 Each graph line 132 uses the converted time on the time axis of the first operation signal included in the control signal corresponding to each graph line 132 as the reference time, but the correct rising edge 183 of the misidentified shape 134b is set to the position of the reference time. The fold lines 134 may be moved so that they move, and the corresponding graph lines 132 may be moved together to overlap.

グラフ132が移動され、測定値に対応したX軸上換算時刻は移動量だけ修正されるので、画面100に表示される第一、第二の測定値は、測定時刻が修正後のX軸上換算時刻に等しい測定値になる。従って、指定されたグラフ132の第一の測定値の差は、移動しなかったグラフ132の第一の測定値と、移動後のグラフ132の第一の測定値の差となる。 Since the graph line 132 is moved and the X-axis conversion time corresponding to the measurement value is corrected by the movement amount, the first and second measurement values displayed on the screen 100 are the X-axis after the measurement time is corrected. The measured value is equal to the upper conversion time. Accordingly, the difference between the first measurement values of the designated graph line 132 is the difference between the first measurement value of the graph line 132 that has not moved and the first measurement value of the graph line 132 that has been moved.

図6は、各グラフ132のピークが一致した状態であり、第一、第二のメジャー線101、102を一致後のグラフ132上で移動させることで、観察したい位置のX軸上換算時刻や第一、第二の測定値を表示させることができる。 FIG. 6 shows a state in which the peaks of the respective graph lines 132 coincide with each other, and the first and second major lines 101 and 102 are moved on the graph lines 132 after coincidence to convert the position to be observed on the X axis. The time and first and second measured values can be displayed.

1……真空処理装置
11……真空槽
15……処理対象物
20……真空処理部
21……制御部
23……処理機器群
24……周辺機器群
31〜34……処理機器
36〜39……周辺機器
40……コンピュータ
42……演算装置
43……記憶装置
44……表示装置
45……データ解析プログラム
101……第一のメジャー線
102……第二のメジャー線
103……第一の補助メジャー線
104……第二の補助メジャー線
131……X−Y座標
141……時間軸
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Vacuum processing apparatus 11 ... Vacuum tank 15 ... Process target 20 ... Vacuum processing part 21 ... Control part 23 ... Processing equipment group 24 ... Peripheral equipment group 31-34 ... Processing equipment 36-39 ... peripheral equipment 40 ... computer 42 ... computing device 43 ... storage device 44 ... display device 45 ... data analysis program 101 ... first major line 102 ... second major line 103 ... first Auxiliary major line 104 …… Second auxiliary major line 131 …… XY coordinate 141 …… Time axis

Claims (12)

真空槽内に配置された処理対象物を真空処理する真空処理部と、
前記真空処理部から送信された複数の測定値を、前記測定値が発生した測定時刻と共に前記真空処理と対応付けて記憶する記憶装置と、
前記測定値を演算する演算装置と、
前記演算装置の演算結果を表示する表示装置とを有し、
複数回の前記真空処理の測定値を一ロットとし、複数の前記ロットの前記測定値が前記記憶装置に記憶されたデータ解析プログラムであって、
前記演算装置により、前記記憶装置内に記憶された複数の前記ロットの前記測定値が読み込まれ、読み込まれた前記測定値の前記測定時刻が各前記真空処理毎に定められた基準時刻からの時刻に換算されたX軸上換算時刻が求められ、
X−Y座標のX軸上の所定位置が前記基準時刻とされ、前記測定値は、前記X軸上換算時刻から前記X軸上の位置が求められ、前記測定値の大きさから前記X−Y座標のY軸上の位置が求められ、同一の前記真空処理に対応付けられた複数の前記測定値の前記X軸上の位置と前記Y軸上の位置とから一のグラフが生成され、読み込まれた前記測定値によって複数の前記グラフが前記X−Y座標と共に前記表示装置に表示され、
表示された前記グラフのうち、いずれか一個の前記グラフが選択されると、表示された前記グラフのうち、選択された前記グラフの前記ロットに含まれる他の前記グラフも一緒に選択され、選択された前記グラフは前記X−Y座標上を前記X軸が伸びる方向に一緒に同距離移動されるように構成されたデータ解析プログラム。
A vacuum processing unit for vacuum processing a processing object arranged in a vacuum chamber;
A storage device that stores a plurality of measurement values transmitted from the vacuum processing unit in association with the vacuum processing together with a measurement time at which the measurement value is generated,
A computing device for computing the measured value;
A display device for displaying a calculation result of the calculation device;
It is a data analysis program in which the measurement values of a plurality of times of the vacuum processing are set as one lot, and the measurement values of a plurality of the lots are stored in the storage device,
The arithmetic device reads the measurement values of the plurality of lots stored in the storage device, and the measurement time of the read measurement values is a time from a reference time determined for each vacuum process. X-axis converted time converted to
A predetermined position on the X-axis of the XY coordinate is set as the reference time, and the measured value is obtained as a position on the X-axis from the converted time on the X-axis. A position on the Y axis of the Y coordinate is obtained, and one graph is generated from the position on the X axis and the position on the Y axis of the plurality of measurement values associated with the same vacuum processing, A plurality of the graphs are displayed on the display device together with the XY coordinates according to the read measurement values,
When any one of the displayed graphs is selected, the other graphs included in the lot of the selected graph are also selected and selected from the displayed graphs. The data analysis program configured such that the graph is moved on the XY coordinates together by the same distance in the direction in which the X axis extends.
前記真空処理を行う装置を動作させる動作信号と、前記動作を停止させる停止信号とが含まれる制御信号が、前記動作を開始する開始時刻と前記動作を停止する停止時刻と共に、前記真空処理に対応付けて前記記憶装置に記憶され、
前記演算装置によって、前記記憶装置に記憶された前記制御信号の前記開始時刻と前記停止時刻が前記基準時刻からの時刻に換算された時間軸上換算時刻が求められ、
前記X軸と離間した位置に時間軸が前記X軸と平行に表示され、
前記時間軸上の所定位置が前記基準時刻とされ、前記Y軸と平行な一直線が前記X軸と前記時間軸とに交叉した交点がそれぞれ示す前記X軸上換算時刻と前記時間軸上換算時刻は同じ時刻になるようにされて前記制御信号の前記開始時刻と前記停止時刻の前記時間軸上換算時刻から、前記開始時刻と前記停止時刻の前記時間軸上の位置が求められ、
前記動作信号と前記停止信号に前記時間軸からの高さに差が設けられて前記開始時刻と前記停止時刻を結ぶ折線で前記制御信号が表示され、
選択された前記グラフと同じ前記ロットの前記折線は、選択された前記グラフと一緒に同方向に同距離移動される請求項1記載のデータ解析プログラム。
A control signal including an operation signal for operating the apparatus for performing the vacuum processing and a stop signal for stopping the operation corresponds to the vacuum processing together with a start time for starting the operation and a stop time for stopping the operation. And stored in the storage device,
The arithmetic device obtains a time-axis converted time in which the start time and the stop time of the control signal stored in the storage device are converted to a time from the reference time,
A time axis is displayed in parallel with the X axis at a position separated from the X axis,
The predetermined position on the time axis is the reference time, and the converted time on the X axis and the converted time on the time axis indicated by intersections where a straight line parallel to the Y axis intersects the X axis and the time axis, respectively. Are determined to be the same time, and from the converted time on the time axis of the start time and the stop time of the control signal, the position of the start time and the stop time on the time axis is obtained,
The control signal is displayed by a broken line connecting the start time and the stop time with a difference in height from the time axis between the operation signal and the stop signal,
The data analysis program according to claim 1, wherein the broken line of the same lot as the selected graph is moved by the same distance in the same direction together with the selected graph.
真空槽内に配置された処理対象物を真空処理する真空処理部と、
前記真空処理部から送信された複数の測定値を、前記測定値が発生した測定時刻と共に前記真空処理と対応付けて記憶する記憶装置と、
前記測定値を演算する演算装置と、
前記演算装置の演算結果を表示する表示装置とを有し、
前記記憶装置には、複数回の前記真空処理の測定値を一ロットとし、複数の前記ロットの前記測定値が記憶され、
前記真空処理を行う装置を動作させる動作信号と、前記動作を停止させる停止信号とが含まれる制御信号が、前記動作を開始する開始時刻と前記動作を停止する停止時刻と共に、前記真空処理に対応付けて前記記憶装置に記憶されたデータ解析プログラムであって、
前記演算装置により、前記記憶装置内に記憶された複数の前記ロットの前記測定値が読み込まれ、読み込まれた前記測定値の前記測定時刻を各前記真空処理毎に定められた基準時刻からの時刻に換算されたX軸上換算時刻が求められ、
X−Y座標のX軸上の所定位置が前記基準時刻とされ、前記測定値は、前記X軸上換算時刻から前記X軸上の位置が求められ、前記測定値の大きさから前記X−Y座標のY軸上の位置が求められ、同一の前記真空処理に対応付けられた複数の前記測定値の前記X軸上の位置と前記Y軸上の位置とから一のグラフが生成され、読み込まれた前記測定値によって複数の前記グラフが前記X−Y座標と共に前記表示装置に表示され、
前記演算装置によって、前記記憶装置に記憶された前記制御信号の前記開始時刻と前記停止時刻が前記基準時刻からの時刻に換算された時間軸上換算時刻が求められ、
前記X軸と離間した位置に時間軸が前記X軸と平行に表示され、
前記時間軸上の所定位置が前記基準時刻とされ、前記Y軸と平行な一直線が前記X軸と前記時間軸とに交叉した交点がそれぞれ示す前記X軸上換算時刻と前記時間軸上換算時刻は同じ時刻になるようにされて前記制御信号の前記開始時刻と前記停止時刻の前記時間軸上換算時刻から、前記開始時刻と前記停止時刻の前記時間軸上の位置が求められ、
前記動作信号と前記停止信号に前記時間軸からの高さに差が設けられて前記開始時刻と前記停止時刻を結ぶ折線で前記制御信号が表示され、
表示された前記折線のうち、いずれか一個の前記折線を選択すると、選択された前記折線の前記ロットに含まれる他の表示された前記折線も一緒に選択され、選択された前記折線は前記時間軸上を前記時間軸が伸びる方向に一緒に同方向に同距離移動できるように構成され、
選択された前記折線と同じ前記ロットの前記グラフは、選択された前記折線と一緒に同方向に同距離移動されるデータ解析プログラム。
A vacuum processing unit for vacuum processing the processing object disposed in the vacuum chamber;
A storage device that stores a plurality of measurement values transmitted from the vacuum processing unit in association with the vacuum processing together with a measurement time at which the measurement value is generated,
A computing device for computing the measured value;
A display device for displaying a calculation result of the calculation device;
In the storage device, a plurality of measurements of the vacuum treatment are set as one lot, and the measurement values of the plurality of lots are stored,
A control signal including an operation signal for operating the vacuum processing apparatus and a stop signal for stopping the operation corresponds to the vacuum processing together with a start time for starting the operation and a stop time for stopping the operation. A data analysis program stored in the storage device,
The arithmetic device reads the measurement values of the plurality of lots stored in the storage device, and sets the measurement time of the read measurement values from a reference time determined for each vacuum process. X time on the X-axis converted to
A predetermined position on the X axis of the XY coordinate is set as the reference time, and the measured value is obtained as a position on the X axis from the converted time on the X axis, and the X− is calculated from the magnitude of the measured value. A position on the Y axis of the Y coordinate is obtained, and one graph is generated from the position on the X axis and the position on the Y axis of the plurality of measurement values associated with the same vacuum processing, A plurality of the graphs are displayed on the display device together with the XY coordinates according to the read measurement values,
The arithmetic device obtains a time-axis converted time in which the start time and the stop time of the control signal stored in the storage device are converted to a time from the reference time,
A time axis is displayed in parallel with the X axis at a position separated from the X axis,
The predetermined position on the time axis is the reference time, and the converted time on the X axis and the converted time on the time axis indicated by intersections where a straight line parallel to the Y axis intersects the X axis and the time axis, respectively. Are determined to be the same time, and from the converted time on the time axis of the start time and the stop time of the control signal, the position of the start time and the stop time on the time axis is obtained,
The control signal is displayed by a broken line connecting the start time and the stop time with a difference in height from the time axis between the operation signal and the stop signal,
When any one of the displayed broken lines is selected, the other displayed broken lines included in the lot of the selected broken lines are also selected, and the selected broken line is selected as the time. It is configured to be able to move on the axis in the same direction and the same distance in the direction in which the time axis extends,
A data analysis program in which the graph of the same lot as the selected broken line is moved by the same distance in the same direction together with the selected broken line.
移動された前記グラフに含まれる前記測定値の前記X軸上の位置である前記X軸上換算時刻は求められ、
表示される複数の前記グラフのうち、二個以上の前記グラフが選択され、前記X軸に含まれる前記X軸上換算時刻の範囲内の第一の時刻が指示されると、選択された前記グラフ毎に、前記X軸上換算時刻が前記第一の時刻に最も近い前記測定値が第一の測定値として特定され、
異なる前記グラフの前記第一の測定値同士の差の値と、前記第一の測定値とが、前記表示装置に表示されるように構成された請求項1乃至請求項3のいずれか1項記載のデータ解析プログラム。
The converted time on the X-axis that is the position on the X-axis of the measurement value included in the moved graph is obtained,
When two or more of the graphs to be displayed are selected and the first time within the range of the converted time on the X-axis included in the X-axis is indicated, the selected For each graph, the measured value whose X-axis converted time is closest to the first time is specified as the first measured value,
The difference value between the first measurement values of the different graphs and the first measurement value are configured to be displayed on the display device. The data analysis program described.
前記第一の時刻に加え、前記X軸に含まれる前記X軸上換算時刻の範囲内の第二の時刻が指示されると、選択された前記グラフ毎に、前記X軸上換算時刻が前記第二の時刻に最も近い前記測定値が第二の測定値として特定され、
一の前記グラフの前記第一の測定値と、他の前記グラフの前記第二の測定値との差の値と、前記第二の測定値とも前記表示装置に表示されるように構成された請求項4記載のデータ解析プログラム。
In addition to the first time, when a second time within the range of the conversion time on the X axis included in the X axis is indicated, the conversion time on the X axis is calculated for each selected graph. The measurement closest to the second time is identified as the second measurement,
A difference value between the first measurement value of one graph and the second measurement value of the other graph, and the second measurement value are both displayed on the display device. The data analysis program according to claim 4.
X座標が前記第一の時刻である前記X−Y座標上の点を通り、前記X軸と垂直な第一のメジャー線と、
X座標が前記第二の時刻である前記X−Y座標上の点を通り、前記X軸と垂直な第二のメジャー線とが表示され、
前記第一、第二のメジャー線の位置は変更できるように構成され、
前記第一、第二のメジャー線の位置を変更すると、前記第一、第二の時刻は、変更された前記第一、第二のメジャー線が示す前記X軸上換算時刻にそれぞれ変更されるように構成された請求項5記載のデータ解析プログラム。
A first major line passing through a point on the XY coordinate whose X coordinate is the first time, and perpendicular to the X axis;
A second major line that passes through a point on the XY coordinate where the X coordinate is the second time and is perpendicular to the X axis;
The positions of the first and second major lines are configured to be changeable,
When the positions of the first and second major lines are changed, the first and second times are respectively changed to the converted time on the X-axis indicated by the changed first and second major lines. The data analysis program according to claim 5 configured as described above.
真空槽内に処理対象物を配置し前記処理対象物を真空処理する真空処理部が測定値を送信し、前記測定値が発生した測定時刻と共に前記真空処理に対応させて記憶装置に記憶し、
前記記憶装置内に記憶された複数回の前記真空処理に対応する前記測定値を読み込み、読み込んだ前記測定値の前記測定時刻を各前記真空処理毎に定めた基準時刻からの時刻に換算したX軸上換算時刻を求め、
X−Y座標のX軸上の所定位置を前記基準時刻とし、前記X軸上換算時刻から前記測定値の前記X座標上の位置を求め、前記測定値の大きさから前記測定値のY軸上の位置を求め、同一の前記真空処理に対応付けられた複数の前記測定値の前記X座標と前記Y座標とから一のグラフを生成し、読み込まれた前記測定値によって複数の前記グラフを前記X−Y座標と共に前記表示装置に表示し、
表示された前記グラフのうち、いずれか一個の前記グラフを選択すると、選択された前記グラフの前記ロットに含まれる他の表示された前記グラフも一緒に選択され、選択された前記グラフは前記X−Y座標上を前記X軸が伸びる方向に一緒に同距離移動するように構成されたグラフデータの分析方法。
A vacuum processing unit that arranges a processing object in a vacuum chamber and vacuum-processes the processing object transmits a measurement value, stores it in a storage device corresponding to the vacuum processing together with a measurement time when the measurement value is generated,
X obtained by reading the measurement value corresponding to the plurality of vacuum processes stored in the storage device, and converting the measurement time of the read measurement value to a time from a reference time determined for each vacuum process Find the on-axis conversion time,
A predetermined position on the X axis of the XY coordinate is set as the reference time, the position on the X coordinate of the measured value is obtained from the converted time on the X axis, and the Y axis of the measured value is calculated from the magnitude of the measured value An upper position is obtained, and one graph is generated from the X coordinate and the Y coordinate of the plurality of measurement values associated with the same vacuum processing, and the plurality of graphs are determined by the read measurement values. Display on the display device together with the XY coordinates;
When any one of the displayed graphs is selected, the other displayed graphs included in the lot of the selected graph are also selected, and the selected graph is the X A method of analyzing graph data configured to move on the Y coordinate together in the direction in which the X axis extends in the same distance.
前記真空処理を行う装置は、前記真空処理を行う装置が動作する動作信号と前記動作を停止する停止信号とが含まれる制御信号で制御され、前記制御信号は、前記処理動作を開始する開始時刻と前記処理動作を停止する停止時刻と共に前記真空処理に対応付けて前記記憶装置に記憶され、
前記演算装置によって、前記記憶装置に記憶された前記制御信号の前記開始時刻と前記停止時刻が前記基準時刻からの時刻に換算された時間軸上換算時刻が求められ、
前記X軸と離間した位置に時間軸を前記X軸と平行に表示し、
前記時間軸上の所定位置を前記基準時刻とし、前記Y軸と平行な一直線が前記X軸と前記時間軸とに交叉した交点がそれぞれ示す前記X軸上換算時刻と前記時間軸上換算時刻は同じ時刻になるようにして前記制御信号の前記開始時刻と前記停止時刻の前記時間軸上換算時刻から、前記開始時刻と前記停止時刻の前記時間軸上の位置を求め、
前記動作信号と前記停止信号に前記時間軸からの高さに差を設けて前記開始時刻と前記停止時刻を結ぶ折線で前記制御信号を表示し、
選択された前記グラフと同じ前記ロットの前記折線は、選択された前記グラフと一緒に同方向に同距離移動される請求項7記載のグラフデータの分析方法。
The vacuum processing apparatus is controlled by a control signal including an operation signal for operating the vacuum processing apparatus and a stop signal for stopping the operation, and the control signal is a start time for starting the processing operation. And stored in the storage device in association with the vacuum processing together with a stop time for stopping the processing operation,
The arithmetic device obtains a time-axis converted time in which the start time and the stop time of the control signal stored in the storage device are converted to a time from the reference time,
Display the time axis parallel to the X axis at a position separated from the X axis,
The predetermined position on the time axis is the reference time, and the converted time on the X axis and the converted time on the time axis respectively indicated by intersections where a straight line parallel to the Y axis intersects the X axis and the time axis are: From the conversion time on the time axis of the start time and the stop time of the control signal so as to be the same time, obtain the position on the time axis of the start time and the stop time,
The control signal is displayed by a broken line connecting the start time and the stop time with a difference in height from the time axis between the operation signal and the stop signal,
The graph data analysis method according to claim 7, wherein the broken line of the same lot as the selected graph is moved in the same direction and the same distance together with the selected graph.
真空槽内に処理対象物を配置し、複数の処理器で前記処理対象物を真空処理する際に、前記処理器の動作状態を測定し、
複数の測定値を、前記測定値が測定された測定時刻と共に記憶する記憶装置に、複数回の前記真空処理の測定値を一ロットとし、複数の前記ロットの前記測定値を記憶させ、
前記真空処理を行う装置を動作させる動作信号と、前記動作を停止させる停止信号とが含まれる制御信号を、前記動作を開始する開始時刻と前記動作を停止する停止時刻と共に、前記真空処理に対応付けて前記記憶装置に記憶しておき、
前記記憶装置内に記憶された複数の前記ロットの前記測定値を読み込み、読み込んだ前記測定値の前記測定時刻を各前記真空処理毎に定められた基準時刻からの時刻に換算してX軸上換算時刻を求め、
X−Y座標のX軸上の所定位置を前記基準時刻とし、前記X軸上換算時刻から前記測定値の前記X座標上の位置を求め、前記測定値の大きさから前記測定値のY軸上の位置を求め、同一の前記真空処理に対応付けられた複数の前記測定値の前記X座標と前記Y座標とから一のグラフを生成し、読み込まれた前記測定値によって複数の前記グラフを前記X−Y座標と共に前記表示装置に表示し、
前記記憶装置に記憶された前記動作信号の前記開始時刻と前記停止時刻を前記基準時刻からの時刻に換算した時間軸上換算時刻を求め、
前記X軸と離間した位置に時間軸を前記X軸と平行に表示し、
前記時間軸上の所定位置を前記基準時刻とし、前記Y軸と平行な一直線が前記X軸と前記時間軸とに交叉した交点がそれぞれ示す前記X軸上換算時刻と前記時間軸上換算時刻は同じ時刻になるようにして前記制御信号の前記開始時刻と前記停止時刻の前記時間軸上換算時刻から、前記開始時刻と前記停止時刻の前記時間軸上の位置を求め、
前記動作信号と前記停止信号に前記時間軸からの高さに差を設けて前記開始時刻と前記停止時刻を結ぶ折線で前記制御信号を表示し、
表示された前記折線のうち、いずれか一個の前記折線を選択すると、選択された前記折線の前記ロットに含まれる他の表示された前記折線も一緒に選択されて、選択された前記折線は前記時間軸上を前記時間軸が伸びる方向に一緒に同方向に同距離移動できるようにされ、
選択された前記折線と同じ前記ロットの前記グラフは、選択された前記折線と一緒に同方向に同距離移動されるグラフデータの分析方法。
When an object to be processed is placed in a vacuum chamber and the object to be processed is vacuum processed with a plurality of processors, the operating state of the processor is measured,
In a storage device that stores a plurality of measurement values together with a measurement time at which the measurement values are measured, a plurality of measurement values of the vacuum treatment are set as one lot, and the measurement values of the plurality of lots are stored,
A control signal including an operation signal for operating the apparatus that performs the vacuum processing and a stop signal for stopping the operation corresponds to the vacuum processing together with a start time for starting the operation and a stop time for stopping the operation. And store it in the storage device,
Reading the measurement values of the plurality of lots stored in the storage device, converting the measurement time of the read measurement values into a time from a reference time determined for each of the vacuum processes, on the X axis Find the conversion time,
A predetermined position on the X axis of the XY coordinate is set as the reference time, the position on the X coordinate of the measured value is obtained from the converted time on the X axis, and the Y axis of the measured value is calculated from the magnitude of the measured value An upper position is obtained, and one graph is generated from the X coordinate and the Y coordinate of the plurality of measurement values associated with the same vacuum processing, and the plurality of graphs are determined by the read measurement values. Display on the display device together with the XY coordinates;
Obtaining a converted time on the time axis obtained by converting the start time and the stop time of the operation signal stored in the storage device into a time from the reference time;
Display the time axis parallel to the X axis at a position separated from the X axis,
The predetermined position on the time axis is the reference time, and the converted time on the X axis and the converted time on the time axis respectively indicated by intersections where a straight line parallel to the Y axis intersects the X axis and the time axis are: From the conversion time on the time axis of the start time and the stop time of the control signal so as to be the same time, obtain the position on the time axis of the start time and the stop time,
The control signal is displayed by a broken line connecting the start time and the stop time with a difference in height from the time axis between the operation signal and the stop signal,
When any one of the displayed broken lines is selected, the other displayed broken lines included in the lot of the selected broken lines are also selected, and the selected broken line is The time axis can be moved in the same direction and the same distance along the direction in which the time axis extends,
The graph data analysis method in which the graph of the same lot as the selected broken line is moved in the same direction and the same distance together with the selected broken line.
移動された前記グラフに含まれる前記測定値の前記X軸上の位置である前記X軸上換算時刻を求め、
表示される複数の前記グラフのうち、二個以上の前記グラフが選択され、前記X軸に含まれる前記X軸上換算時刻の範囲内の第一の時刻が指示されると、選択された前記グラフ毎に、前記X軸上換算時刻が前記第一の時刻に最も近い前記測定値を第一の測定値として特定し、
異なる前記グラフの前記第一の測定値同士の差の値と、前記第一の測定値とを、前記表示装置に表示する請求項7乃至請求項9のいずれか1項記載のグラフデータの分析方法。
Obtaining the converted time on the X-axis which is the position on the X-axis of the measurement value included in the moved graph;
When two or more of the graphs to be displayed are selected and a first time within the range of the converted time on the X-axis included in the X-axis is indicated, the selected For each graph, the measured value closest to the first time on the X-axis converted time is specified as the first measured value,
The graph data analysis according to any one of claims 7 to 9, wherein a difference value between the first measurement values of the different graphs and the first measurement value are displayed on the display device. Method.
前記第一の時刻に加え、前記X軸に含まれる前記X軸上換算時刻の範囲内の第二の時刻が指示されると、選択された前記グラフ毎に、前記X軸上換算時刻が前記第二の時刻に最も近い前記測定値が第二の測定値として特定され、
一の前記グラフの前記第一の測定値と、他の前記グラフの前記第二の測定値との差の値と、前記第二の測定値とも前記表示装置に表示する請求項10記載のグラフデータの分析方法。
In addition to the first time, when a second time within the range of the conversion time on the X axis included in the X axis is indicated, the conversion time on the X axis is calculated for each selected graph. The measurement closest to the second time is identified as the second measurement,
The graph according to claim 10, wherein a difference value between the first measurement value of one graph and the second measurement value of the other graph and the second measurement value are both displayed on the display device. How to analyze the data.
X座標が前記第一の時刻である前記X−Y座標上の点を通り、前記X軸と垂直な第一のメジャー線と、
X座標が前記第二の時刻である前記X−Y座標上の点を通り、前記X軸と垂直な第二のメジャー線とを表示し、
前記第一、第二のメジャー線の位置は変更できるように構成され、
前記第一、第二のメジャー線の位置を変更すると、前記第一、第二の時刻を、変更された前記第一、第二のメジャー線が示す前記X軸上換算時刻にそれぞれ変更する請求項11記載のグラフデータの分析方法。
A first major line passing through a point on the XY coordinate whose X coordinate is the first time, and perpendicular to the X axis;
A second measure line perpendicular to the X axis passing through a point on the XY coordinate where the X coordinate is the second time;
The positions of the first and second major lines are configured to be changeable,
When the positions of the first and second major lines are changed, the first and second times are respectively changed to the X-axis converted times indicated by the changed first and second major lines. Item 12. The method for analyzing graph data according to Item 11.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008267852A (en) * 2007-04-17 2008-11-06 Hioki Ee Corp Recorded waveform displaying method, its device, and selective display method for data
WO2008146736A1 (en) * 2007-05-29 2008-12-04 Tokyo Electron Limited Data display, data display method, and program

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008267852A (en) * 2007-04-17 2008-11-06 Hioki Ee Corp Recorded waveform displaying method, its device, and selective display method for data
WO2008146736A1 (en) * 2007-05-29 2008-12-04 Tokyo Electron Limited Data display, data display method, and program

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111226285A (en) * 2017-10-18 2020-06-02 佳能医疗系统株式会社 Hospital information system and image data generation program

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