JP2011088360A - Apparatus and method for cutting nonmetallic substrate - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To overcome the problem that, while cutting a substrate scribed by laser provides a finished product having very high strength owing to scratch-free cut surfaces, with minute scratches deteriorating the breaking strength. <P>SOLUTION: An apparatus and a method for cutting a nonmetallic substrate carry out cutting a nonmetallic substrate into first and second portions along a predetermined cutting line. The apparatus includes a first substrate holding means of holding a first portion of the substrate, a second substrate holding means of holding a second portion of the substrate after cutting, a means of forming a scribe line on the surface of the substrate from the starting end to the terminal end of the predetermined cutting line, and a means of applying a bending moment to extend the scribe line while following the means of forming the scribe line, and also has a mechanism holding the first and second cut portions of the substrate at predetermined intervals while holding the first portion of the substrate with the first substrate holding means. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、ガラスやセラミックスなどの非金属基板を割断するための装置及び方法に関する。 The present invention relates to an apparatus and method for cleaving non-metallic substrates such as glass and ceramics.

フラットパネルディスプレイや半導体チップなどの製造工程では、製造効率を上げるために、1つのウエハーや基板(以下、基板)にいくつもの製品を形成した後、所定の大きさに分割する方法が採用されている。前記フラットパネルディスプレイや半導体チップは、ガラス、セラミックス、シリコンなどの、脆性の非金属基板から形成されており、前記非金属基板の分割(以下、割断)は、次の様に行われている。   In the manufacturing process of flat panel displays and semiconductor chips, in order to increase manufacturing efficiency, a method in which a number of products are formed on one wafer or substrate (hereinafter referred to as a substrate) and then divided into a predetermined size is adopted. Yes. The flat panel display and the semiconductor chip are formed of a brittle non-metallic substrate such as glass, ceramics, or silicon, and the non-metallic substrate is divided (hereinafter, cleaved) as follows.

まず、基板表面にスクライブ線を形成する。スクライブ線とは、非金属基板(以下、被割断基板)における割断予定線上に連続して形成される浅い亀裂である。   First, scribe lines are formed on the substrate surface. A scribe line is a shallow crack formed continuously on a planned cutting line in a non-metallic substrate (hereinafter, a substrate to be cut).

次いで、形成した前記スクライブ線の両側に曲げモーメントを付与し、浅い亀裂を基板の板厚方向に伸展させることで割断予定線を境に、被割断基板が割断される。   Next, a bending moment is applied to both sides of the formed scribe line and a shallow crack is extended in the thickness direction of the substrate, whereby the substrate to be cut is cleaved at the planned cutting line.

前記スクライブ線の形成法の一つに、レーザスクライブ法がある。   One method of forming the scribe line is a laser scribe method.

レーザスクライブ法では、被割断基板に対して割断予定線を設定し、次に、前記割断予定線の一端に、微小な初期亀裂を形成する。続いて、割断予定線を辿る様に前記被割断基板のその始端から終端まで、所定の照射範囲を伴ったレーザ光により所定の時間で基板表面を加熱し、続いて前記レーザ光の加熱終了部分に追随して、前記被割断基板表面にミストを噴霧し、前記被割断基板を急冷させることにより、スクライブ線を形成する。   In the laser scribing method, a planned cutting line is set for the substrate to be cut, and then a minute initial crack is formed at one end of the planned cutting line. Subsequently, the substrate surface is heated for a predetermined time by a laser beam with a predetermined irradiation range from the start end to the end of the substrate to be cut so as to follow the planned cutting line, and then the heating end portion of the laser beam Following this, a scribe line is formed by spraying mist on the surface of the substrate to be cut and rapidly cooling the substrate to be cut.

前記スクライブ線の形成後、割断専用の装置を用いて被割断基板を割断したり、スクライブ線の形成に追従させた曲げモーメント付与手段によって、被割断基板の割断が行われる。   After the scribe line is formed, the substrate to be cut is cleaved by means of cleaving the substrate to be cut using an apparatus dedicated to cleaving or a bending moment applying means that follows the formation of the scribe line.

前記スクライブ線の形成に追従させた曲げモーメント付与手段によって、被割断基板を割断する装置及び方法は、設置場所、導入費用や処理時間の観点から、スクライブ専用の装置と前記割断専用の装置とを導入するよりも優位点が多く、導入が進んでいる。   The apparatus and method for cleaving the substrate to be cut by the bending moment applying means that follows the formation of the scribe line includes a device dedicated for scribing and a device dedicated for cleaving from the viewpoint of installation location, introduction cost, and processing time. There are many advantages over introduction, and the introduction is progressing.

特許文献1によれば、段差の上に被割断基板を載置し、移動自在に設けられた移動体の押圧を、スクライブ線の形成に追従させて行うことで、被割断基板を割断する技術が開示されている。   According to Patent Literature 1, a substrate to be cut is placed by placing a substrate to be cut on a step, and pressing a movable body that is movably provided following the formation of a scribe line. Is disclosed.

特許文献2によれば、凹凸形状を持つテーブルの上に被割断基板を載置し、押圧ローラや圧縮エアーを用いた曲げモーメントの付与を、スクライブ線の形成に追従させて行うことで、被割断基板を割断する技術が開示されている。   According to Patent Document 2, a substrate to be cut is placed on a table having a concavo-convex shape, and a bending moment using a pressing roller or compressed air is applied following the formation of a scribe line. A technique for cleaving a cleaved substrate is disclosed.

特開平10−338534JP 10-338534 A WO2007/142264WO2007 / 142264

レーザでスクライブした基板を割断すると、切断面はエッジ部を含めて、凹凸が少なく極めて滑らかであり、傷もない。切断面に傷がないため、基板に外部から応力が加わった場合に、応力集中する部分がないため、破断強度が飛躍的に向上し、極めて強度の高い製品が仕上がる。しかし、切断面のエッジ部は、ほぼ直角であり、エッジ同士がこすれることがあると、同一材料であるため、接触した部分に微小な傷がついてしまう。   When a laser-scribed substrate is cleaved, the cut surface including the edge portion is very smooth with few irregularities and no scratches. Since there is no scratch on the cut surface, when stress is applied to the substrate from the outside, there is no portion where stress is concentrated, so that the breaking strength is dramatically improved and a product with extremely high strength is finished. However, the edge portion of the cut surface is substantially perpendicular, and if the edges are rubbed, they are made of the same material, so that a minute scratch is attached to the contacted portion.

微小な傷がついてしまうと、前記外部からの応力が加わった場合に、前記傷部に応力が集中しやすく、傷が無い場合に比べると、破断強度が低下してしまうことがあった。
そのため、基板を割断した後、エッジ同士を再接触させないことが課題としてあった。
If a minute scratch is attached, when the external stress is applied, the stress tends to concentrate on the scratched part, and the breaking strength may be reduced as compared with the case where there is no scratch.
Therefore, there has been a problem that the edges are not re-contacted after the substrate is cleaved.

以上の課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、
非金属基板を、前記基板上に設定された割断予定線に沿って、第一の部分と第二の部分とに割断する装置であって、
前記基板の第一の部分を保持する第一の基板保持手段と、
前記基板の第二の部分を割断後に保持する第二の基板保持手段と、
前記割断予定線の始端から終端に向かって、前記基板の表面にスクライブ線を形成する手段と、
前記スクライブ線を形成する手段に追従させて、前記スクライブ線を押し広げるように、曲げモーメントを付与する、モーメント付与手段とを備え、
前記基板の第一の部分を、前記第一の基板保持手段で保持したまま、
割断された前記基板の第二の部分が、割断後の変形により、第二の基板保持手段に保持され、前記割断された基板の第一の部分と、前記割断された基板の第二の部分とを、所定の間隔を保って保持できる機構を備えたことを特徴とする、非金属基板の割断装置である。
In order to solve the above problems, the invention described in claim 1
A device that cleaves a non-metal substrate into a first portion and a second portion along a cleaving line set on the substrate,
First substrate holding means for holding a first portion of the substrate;
Second substrate holding means for holding the second portion of the substrate after cleaving;
Means for forming a scribe line on the surface of the substrate from the start end to the end of the planned cutting line;
A moment applying means for applying a bending moment so as to spread the scribe line by following the means for forming the scribe line;
While holding the first portion of the substrate by the first substrate holding means,
The second part of the cleaved substrate is held by the second substrate holding means by deformation after cleaving, and the first part of the cleaved substrate and the second part of the cleaved substrate Is a non-metal substrate cleaving apparatus, characterized in that a mechanism capable of holding the above at a predetermined interval is provided.

請求項2に記載の発明は、
非金属基板を、前記基板上に設定された割断予定線に沿って、第一の部分と第二の部分とに割断する方法であって、
前記基板の第一の部分を第一の基板保持手段に、前記基板の第二の部分を第二の基板保持手段に、載置するステップと、
前記割断予定線の始端から終端に向かって、前記基板の表面にスクライブ線を形成するステップと、
前記スクライブ線の形成に追従しながら、前記スクライブ線を押し広げるように、曲げモーメントを付与し、前記基板を割断するステップとを有し、
前記基板の第一の部分を、前記第一の基板保持手段で保持したまま、
割断された前記基板の第二の部分が、割断後に変形するステップと、
前記変形により割断された前記基板の第二の部分が、前記第二の基板保持手段に保持されるステップとを有し、
前記割断された基板の第二の部分を、所定の間隔を保って保持できるステップを有することを特徴とする、非金属基板の割断方法である。
前記の発明の装置及び方法を用いることで、前記基板が割断された後、前記基板の第二の部分が前記基板の第一の部分から遠ざかる様に変形し、前記変形により前記基板の第二の部分は、第二の基板保持手段に保持され、そのまま所定の間隔を保った状態で保持される。
The invention described in claim 2
A method of cleaving a non-metallic substrate into a first portion and a second portion along a planned cutting line set on the substrate,
Placing the first part of the substrate on the first substrate holding means and the second part of the substrate on the second substrate holding means;
Forming a scribe line on the surface of the substrate from the start to the end of the planned cutting line;
Applying a bending moment so as to spread the scribe line while following the formation of the scribe line, and cleaving the substrate,
While holding the first portion of the substrate by the first substrate holding means,
The second portion of the cleaved substrate deforms after cleaving;
The second portion of the substrate cleaved by the deformation has a step of being held by the second substrate holding means,
A method for cleaving a non-metallic substrate, comprising the step of holding the second portion of the cleaved substrate at a predetermined interval.
By using the apparatus and method of the present invention, after the substrate is cleaved, the second portion of the substrate is deformed to move away from the first portion of the substrate, and the second portion of the substrate is deformed by the deformation. This portion is held by the second substrate holding means and is held in a state where a predetermined interval is maintained as it is.

請求項3に記載の発明は、
非金属基板を、前記基板上に設定された割断予定線に沿って、第一の部分と第二の部分とに割断する装置であって、
前記基板の第一の部分を保持する第一の基板保持手段と、
前記基板の第二の部分を保持する第二の基板保持手段と、
前記割断予定線の始端から終端に向かって、前記基板の表面にスクライブ線を形成する手段と、
前記スクライブ線を形成する手段に追従させて、前記スクライブ線を押し広げるように、曲げモーメントを付与する、モーメント付与手段とを備え、
前記基板の第一の部分を、前記第一の基板保持手段で保持したまま、
割断された前記基板の第二の部分を、割断後の変形に合わせて、姿勢を保持できる機構を備えていることを特徴とする、非金属基板の割断装置である。
The invention according to claim 3
A device that cleaves a non-metal substrate into a first portion and a second portion along a cleaving line set on the substrate,
First substrate holding means for holding a first portion of the substrate;
Second substrate holding means for holding a second portion of the substrate;
Means for forming a scribe line on the surface of the substrate from the start end to the end of the planned cutting line;
A moment applying means for applying a bending moment so as to spread the scribe line by following the means for forming the scribe line;
While holding the first portion of the substrate by the first substrate holding means,
A cleaving apparatus for a non-metallic substrate, comprising a mechanism capable of maintaining a posture of the cleaved second portion of the substrate in accordance with deformation after cleaving.

請求項4に記載の発明は、
非金属基板を、前記基板上に設定された割断予定線に沿って、第一の部分と第二の部分とに割断する方法であって、
前記基板の第一の部分を保持する第一の基板保持手段に、前記基板を載置するステップと、
前記割断予定線の始端から終端に向かって、前記基板の表面にスクライブ線を形成するステップと、
前記スクライブ線の形成に追従しながら、前記スクライブ線を押し広げるように、曲げモーメントを付与し、前記基板を割断するステップとを有し、
前記基板の第一の部分を、前記第一の基板保持手段で保持したまま、
割断された前記基板の第二の部分を、割断後の変形にならって、姿勢を保持するステップを有していることを特徴とする、非金属基板の割断方法である。
前記の発明の装置及び方法を用いることで、前記基板が割断された後、前記基板の第二の部分は、第二の基板保持手段に保持されたまま、前記基板の第一の部分から遠ざかる様に変形し、そのまま所定の間隔を保った状態で保持される。
The invention according to claim 4
A method of cleaving a non-metallic substrate into a first portion and a second portion along a planned cutting line set on the substrate,
Placing the substrate on first substrate holding means for holding a first portion of the substrate;
Forming a scribe line on the surface of the substrate from the start to the end of the planned cutting line;
Applying a bending moment so as to spread the scribe line while following the formation of the scribe line, and cleaving the substrate,
While holding the first portion of the substrate by the first substrate holding means,
A method for cleaving a non-metallic substrate, comprising a step of maintaining the posture of the cleaved second portion of the substrate following deformation after cleaving.
By using the apparatus and method of the present invention, after the substrate is cleaved, the second portion of the substrate is moved away from the first portion of the substrate while being held by the second substrate holding means. It is deformed like this, and is held in a state where a predetermined interval is maintained as it is.

本発明の装置及び方法を用いることで、被割断基板を割断した後、割断後の基板の第一の部分と第二の部分とのエッジ同士の接触させずに、次の工程に送ることが出来る。   By using the apparatus and method of the present invention, after cutting the substrate to be cut, it is possible to send to the next step without bringing the edges of the first and second portions of the cut substrate into contact with each other. I can do it.

本発明の装置及び方法を用いて割断した基板は、割断したエッジ同士の再接触による傷の発生を防ぎ、切断した被割断基板の強度を維持することが出来る。   The substrate cut using the apparatus and method of the present invention can prevent the occurrence of scratches due to recontact of the cut edges, and can maintain the strength of the cut substrate to be cut.

本発明による割断装置の概略を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the outline of the cleaving apparatus by this invention. 本発明による割断装置のシステム構成を示す構成図である。It is a block diagram which shows the system configuration | structure of the cleaving apparatus by this invention. 本発明による基板保持手段の構造を示す側面図である。It is a side view which shows the structure of the board | substrate holding means by this invention. 本発明による基板保持手段の構造を示す正面図である。It is a front view which shows the structure of the board | substrate holding means by this invention. 本発明による別の実施形態の基板保持手段の構造を示す側面図である。It is a side view which shows the structure of the board | substrate holding means of another embodiment by this invention. 本発明による別の実施形態の基板保持手段の構造を示す正面図である。It is a front view which shows the structure of the board | substrate holding means of another embodiment by this invention. 本発明による割断方法を示すフロー図である。It is a flowchart which shows the cleaving method by this invention.

本発明を実施するための形態について、図を用いながら説明する。
図1は、本発明の実施形態の一例を示す斜視図である。
図において直交座標系の3軸をX、Y、Zとし、XY平面を水平面、Z方向を鉛直方向
とする。特にZ方向は矢印の方向を上とし、その逆方向を下と表現する。また、Z方向を回転軸としたXY平面の回転方向をθとする。
DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Embodiments for carrying out the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a perspective view showing an example of an embodiment of the present invention.
In the figure, the three axes of the orthogonal coordinate system are X, Y, and Z, the XY plane is the horizontal plane, and the Z direction is the vertical direction. In particular, in the Z direction, the direction of the arrow is represented as the top, and the opposite direction is represented as the bottom. The rotation direction of the XY plane with the Z direction as the rotation axis is θ.

基板の割断装置1は、スライダ機構部2と、スクライブ線形成手段3と、モーメント付与手段4と、第一の基板保持手段5と、第二の基板保持手段6と、制御部9とが含まれて構成されている。   The substrate cleaving apparatus 1 includes a slider mechanism unit 2, a scribe line forming unit 3, a moment applying unit 4, a first substrate holding unit 5, a second substrate holding unit 6, and a control unit 9. It is configured.

スライダ機構2は、1対の支柱21と、支柱21を連結するように取り付けられた梁部22とで構成された門型の構造体と、梁部22に取り付けられた、X方向に伸びたレール23と、レール23の上を自在に移動可能なスライダ24と、を備えた構造をしている。さらに、それぞれの支柱21は、基板割断装置1の装置架台20上に取り付けられた、Y方向に伸びたレールとスライダーからなるY軸スライダ機構51の上に取り付けられており、スライダー24に取り付けられた機器が、基板割断装置1の装置架台20上で、XY方向に自在に移動出来る様な構造をしている。   The slider mechanism 2 extends in the X direction, which is attached to the beam portion 22 and a portal-type structure composed of a pair of columns 21 and a beam portion 22 attached so as to connect the columns 21. The structure includes a rail 23 and a slider 24 that can freely move on the rail 23. Further, each support column 21 is mounted on a Y-axis slider mechanism 51 including a rail and a slider extending in the Y direction, which is mounted on the apparatus base 20 of the substrate cutting apparatus 1, and is mounted on the slider 24. The apparatus is structured such that it can freely move in the XY directions on the apparatus base 20 of the substrate cleaving apparatus 1.

スクライブ線形成手段3は、スライダ24の上に取り付けられており、割断方向3vの矢視する方向から見て、初期亀裂形成手段30と、加熱ビーム照射手段33と、冷却手段34の順となる様に、配置されている。   The scribe line forming means 3 is attached on the slider 24, and is in the order of the initial crack forming means 30, the heating beam irradiation means 33, and the cooling means 34 when viewed from the direction of the cutting direction 3v. Arranged.

初期亀裂形成手段30には、アクチュエータと、前記アクチュエータに取り付けられたホイールホルダと、前記ホイールホルダに取り付けられたスクライブホイールが備えられている。前記アクチュエータがZ方向下向きに動くことにより、前記ホイールホルダと前記スクライブホイールがZ方向下向きに移動し、前記スクライブホイールが基板10に押し付けられ、基板10の割断開始端部に微小な初期亀裂を付ける事ができる。前記スクライブホイールは、基板10よりも硬質の材料が好ましく、人工ダイヤモンドやタングステンカーバイト、超硬金属、超硬金属化合物、若しくは超硬処理したものなどが用いられる。 The initial crack forming means 30 includes an actuator, a wheel holder attached to the actuator, and a scribe wheel attached to the wheel holder. When the actuator moves downward in the Z direction, the wheel holder and the scribe wheel move downward in the Z direction, the scribe wheel is pressed against the substrate 10, and a minute initial crack is made at the cleave start end of the substrate 10. I can do things. The scribe wheel is preferably made of a material harder than the substrate 10, and artificial diamond, tungsten carbide, super hard metal, super hard metal compound, or super hard metal treatment is used.

加熱ビーム照射手段33には、レーザ発信器31から照射されたレーザ光線を、所定の形状とエネルギー分布を有する加熱ビーム33aとなる様に整形し、加熱ビーム33aを基板10に向かって照射出来る様に、レンズやミラーなどの光学部品が備えられている。   The heating beam irradiating means 33 shapes the laser beam emitted from the laser transmitter 31 so as to be a heating beam 33a having a predetermined shape and energy distribution, and can irradiate the heating beam 33a toward the substrate 10. In addition, optical parts such as lenses and mirrors are provided.

冷却ユニット34は、空気や水、その他の流体や混合物からなる冷媒などの冷却ミスト34aを供給する冷却剤供給手段と、基板10に向かって冷却ミスト34aを吹き付ける手段である、冷却ノズルとを含んで構成されている。   The cooling unit 34 includes a coolant supply unit that supplies a cooling mist 34 a such as a refrigerant made of air, water, other fluids or a mixture, and a cooling nozzle that is a unit that blows the cooling mist 34 a toward the substrate 10. It consists of

したがって、スクライブ線形成手段3が、割断方向3vの矢視する方向に動きながら、基板10にスクライブ線を形成することが出来る構造をしている。   Accordingly, the scribe line forming means 3 has a structure capable of forming a scribe line on the substrate 10 while moving in the direction of the cutting direction 3v.

モーメント付与手段4は、スライダ24の上に取り付けられており、スクライブ線形成手段3に追従するように移動することが出来る。そして、スクライブ線形成手段3で形成した、基板10のスクライブ線を押し広げるように、ローラー40を、Z方向下向きに押し付けることが出来る様な構造をしている。   The moment applying means 4 is mounted on the slider 24 and can move so as to follow the scribe line forming means 3. The roller 40 can be pressed downward in the Z direction so as to spread the scribe line of the substrate 10 formed by the scribe line forming means 3.

第一の基板保持手段5は、装置架台20の上に取り付けられたθ軸回転機構52と、θ軸回転機構52の上に取り付けられたテーブル50とを含んで構成されている。
基板10は、基板10上に設定された割断予定線11を挟んで、基板の第一の部分10aと、基板の第二の部分10bと呼び、基板の第一の部分10a側は、第一の基板保持手段5のテーブル50により保持されている。さらに、テーブル50は、基板10の第一の部分10aを保持し、θ方向に回転できる様な構造をしている。
The first substrate holding means 5 includes a θ-axis rotating mechanism 52 attached on the apparatus base 20 and a table 50 attached on the θ-axis rotating mechanism 52.
The substrate 10 is called a first portion 10a of the substrate and a second portion 10b of the substrate across the planned cutting line 11 set on the substrate 10, and the first portion 10a side of the substrate is the first portion 10a. Is held by the table 50 of the substrate holding means 5. Further, the table 50 holds the first portion 10a of the substrate 10 and has a structure that can be rotated in the θ direction.

第二の基板保持手段6は、詳細を後述するが、基板10の第二の部分10bを保持できる様な構造をしている。   The second substrate holding means 6 has a structure capable of holding the second portion 10b of the substrate 10 as will be described in detail later.

制御部9は、情報入力手段91と、情報出力手段92と、発報手段93とが含まれて構成されている。   The control unit 9 includes an information input unit 91, an information output unit 92, and a reporting unit 93.

図2は、本発明による割断装置のシステム構成を示す構成図である。
図2に示す様に、制御部9には、制御用コンピュータ90が含まれて構成されており、情報入力手段91と、情報出力手段92と、発報手段93と、情報記録手段94と、接続されている。また、制御部9には、機器制御ユニット95とが含まれており、制御用コンピュータ90や、後述する割断装置1の各機器と接続されている。
FIG. 2 is a block diagram showing the system configuration of the cleaving apparatus according to the present invention.
As shown in FIG. 2, the control unit 9 includes a control computer 90, and includes an information input unit 91, an information output unit 92, a notification unit 93, an information recording unit 94, It is connected. The control unit 9 includes a device control unit 95, and is connected to the control computer 90 and each device of the cleaving device 1 described later.

制御用コンピュータ90として、マイコン、パソコン、ワークステーションなどの、数値演算ユニットが搭載されたものを例示することが出来る。
情報入力手段91として、キーボードやマウスやスイッチなどを例示することが出来る。
情報出力手段92として、画像表示ディスプレイやランプなどを例示することが出来る。
Examples of the control computer 90 include those equipped with a numerical operation unit such as a microcomputer, a personal computer, and a workstation.
Examples of the information input means 91 include a keyboard, a mouse, and a switch.
Examples of the information output unit 92 include an image display display and a lamp.

発報手段93として、ブザーやスピーカ、ランプなど、作業者に注意喚起が出来るものを例示することが出来る。
情報記録手段94として、メモリーカードやデータディスクなどの、半導体記録媒体や磁気記録媒体や光磁気記録媒体などを例示することが出来る。
機器制御ユニット95として、プログラマブルコントローラやモーションコントローラと呼ばれる機器などを例示することが出来る。
Examples of the reporting means 93 include those that can alert the operator, such as a buzzer, a speaker, and a lamp.
Examples of the information recording means 94 include semiconductor recording media, magnetic recording media, magneto-optical recording media, such as memory cards and data disks.
Examples of the device control unit 95 include devices called programmable controllers and motion controllers.

機器制御ユニット95は、スライダ24、初期亀裂形成手段30、レーザ31、加熱ビーム照射手段33,冷却手段34、モーメント付与手段4、Y軸スライダ機構51、θ軸回転機構52、並びに第二の基板保持手段6と接続され、各機器に制御用信号を送ることにより、次のように制御することができる。
1)スライダ24においては、スクライブ線形成手段3とモーメント付与手段4とをX方向に所定の速度で加速させ、所定の区間を予め設定しておいた速度で移動させた後、減速させ、静止させることが出来る。
2)初期亀裂形成手段30においては、Z方向に上下動作させることが出来る。
3)レーザ31においては、出力を調節したり、付随のシャッターを開閉させたりして、加熱ビーム33aのエネルギーを調節したり、ON/OFF制御をすることが出来る。
4)加熱ビーム照射手段33においては、加熱ビーム33aの形状や照射位置などを調節することができる。
5)冷却手段34においては、冷却ミスト34aの噴霧と停止の制御をすることができる。
6)モーメント付与手段4においては、ローラ40の上下動作をさせることが出来る。
7)Y軸スライダ機構51においては、テーブル50をY方向に所定の速度で加速させ、所定の区間を予め設定しておいた速度で移動させた後、減速、静止させたり、所定のピッチで移動させた後で静止させたりすることが出来る。
8)θ軸回転機構52においては、Z方向を回転軸として、テーブル50を回転させたり、角度を変更させたりした後で、静止させることが出来る。
さらに、その他のアクチュエータや圧力スイッチなどの制御機器(図示せず)が、接続されて、それらの機器を動作させたり、止めたりすることが出来る様になっている。
The equipment control unit 95 includes the slider 24, the initial crack forming means 30, the laser 31, the heating beam irradiation means 33, the cooling means 34, the moment applying means 4, the Y-axis slider mechanism 51, the θ-axis rotating mechanism 52, and the second substrate. By connecting to the holding means 6 and sending a control signal to each device, the following control can be performed.
1) In the slider 24, the scribe line forming means 3 and the moment applying means 4 are accelerated in the X direction at a predetermined speed, moved in a predetermined section at a predetermined speed, decelerated, and stopped. It can be made.
2) The initial crack forming means 30 can be moved up and down in the Z direction.
3) In the laser 31, it is possible to adjust the energy of the heating beam 33a or perform ON / OFF control by adjusting the output or opening / closing an associated shutter.
4) In the heating beam irradiation means 33, the shape and irradiation position of the heating beam 33a can be adjusted.
5) In the cooling means 34, spraying and stopping of the cooling mist 34a can be controlled.
6) In the moment applying means 4, the roller 40 can be moved up and down.
7) In the Y-axis slider mechanism 51, the table 50 is accelerated in the Y direction at a predetermined speed, moved in a predetermined section at a predetermined speed, and then decelerated and stopped, or at a predetermined pitch. It can be stationary after being moved.
8) The θ-axis rotation mechanism 52 can be stationary after rotating the table 50 or changing the angle with the Z direction as the rotation axis.
In addition, other control devices (not shown) such as actuators and pressure switches are connected so that these devices can be operated and stopped.

基板10の割断位置や割断速度、加熱ビーム33aなどの設定や変更は、前記制御コンピュータ90に接続された、情報入力手段91を用いて行われ、情報表示手段92によって確認することが出来る。
また、設定された前記塗布条件は、制御コンピュータ90に接続された、情報記録手段94に登録することが可能で、適宜読み出し、編集し、変更をすることが出来る。
Setting and changing of the cleaving position and cleaving speed of the substrate 10 and the heating beam 33a are performed using the information input means 91 connected to the control computer 90, and can be confirmed by the information display means 92.
The set application conditions can be registered in the information recording means 94 connected to the control computer 90, and can be read out, edited, and changed as appropriate.

割断装置1は、前記の様な構造と機器構成をしているので、基板10上に設定された割断予定線11に沿って、基板10上の任意の場所を割断することが出来る。
[基板保持機構詳細:吸盤保持、引き込み]
Since the cleaving apparatus 1 has the above-described structure and equipment configuration, it can cleave any place on the substrate 10 along the planned cutting line 11 set on the substrate 10.
[Details of substrate holding mechanism: suction cup holding, pull-in]

図3は、本発明による基板保持手段の構造を示す側面図である。図3は、図1に示した割断装置1を左側から、つまりX方向に矢印と反対側から見た図であり、モーメント付与手段4のローラー40が、割断予定線11を挟んで、基板の第一の部分10aと基板の第二の部分10bとを、Z方向下向きに押し付けている状態を示している。   FIG. 3 is a side view showing the structure of the substrate holding means according to the present invention. FIG. 3 is a view of the cleaving apparatus 1 shown in FIG. 1 as viewed from the left side, that is, from the side opposite to the arrow in the X direction. The roller 40 of the moment applying means 4 A state is shown in which the first portion 10a and the second portion 10b of the substrate are pressed downward in the Z direction.

モーメント付与手段4は、スクライブ後の基板を割断するために用いるローラー40とスライダー24とを、所定の間隔に保ったまま保持させるために、次の様な構造をしている。すなわち、スライダー24の側面には、ブレイカ支持ブラケット41が取り付けられており、ブレイカ支持シャフト42を介して、ローラ支持ブラケット43が取り付けられている。
ローラ支持ブラケット43は、略コの字型をしているものを例示することが出来、ローラ支持シャフト45を介して、ローラ40が取り付けられている。
The moment applying means 4 has the following structure in order to hold the roller 40 and the slider 24 used for cleaving the scribed substrate while maintaining a predetermined distance. That is, the breaker support bracket 41 is attached to the side surface of the slider 24, and the roller support bracket 43 is attached via the breaker support shaft 42.
The roller support bracket 43 can be exemplified by a substantially U-shape, and the roller 40 is attached via a roller support shaft 45.

ブレイカ支持ブラケット41には、ローラ支持ブラケットが必要以上に振れないように、ストッパ44が取り付けられており、ローラ支持ブラケットがストッパ44に当たらない範囲で、ローラがY方向に首振り出来る様な構造をしている。そのため、ローラ40を基板10に押し付けて、基板10を割断した後、更に基板の第1の部分10aをローラー40とテーブル50とで挟み込んで保持した状態で、さらに、基板の第二の部分10bをローラー40で押し付け続けることが出来る。   A stopper 44 is attached to the breaker support bracket 41 so that the roller support bracket does not swing more than necessary, and the roller can swing in the Y direction as long as the roller support bracket does not hit the stopper 44. I am doing. Therefore, after the roller 40 is pressed against the substrate 10 and the substrate 10 is cut, the first portion 10a of the substrate is further sandwiched and held between the roller 40 and the table 50, and further the second portion 10b of the substrate. Can continue to be pressed by the roller 40.

前記押し付け量の最適条件は、予めテストした結果を基に決定し、制御用コンピュータ90と情報記録手段94に設定し、登録しておく。   The optimum condition of the pressing amount is determined based on the result of testing in advance, and is set and registered in the control computer 90 and the information recording means 94.

第二の基板保持手段6は、装置架台20の上に取り付けられたアクチュエータ61aと、アクチュエータ61aの上に取り付けられた吸盤60aとを含んで構成されている。また、アクチュエータ61aは、吸盤60aをZ方向に移動できる様な構造をしている。さらに、アクチュエータ61aの内部には、位置検出器62aが備えられており、吸盤60aをZ方向の所定の位置に動かして静止させることが可能な構造をしている。   The second substrate holding means 6 includes an actuator 61a attached on the apparatus base 20 and a suction cup 60a attached on the actuator 61a. The actuator 61a has a structure that can move the suction cup 60a in the Z direction. Furthermore, a position detector 62a is provided inside the actuator 61a, and has a structure that can move the suction cup 60a to a predetermined position in the Z direction so as to be stationary.

基板10がテーブル50に載置された状態では、基板の第二の部分10bは、吸盤60aと所定の間隔を空けて保持されている。   In a state where the substrate 10 is placed on the table 50, the second portion 10b of the substrate is held at a predetermined interval from the suction cup 60a.

スクライブ線が形成され、ローラ40を押し付けて基板10を割断すると、基板の第二の部分10bが、Z方向下向きに動き、吸盤60aと接触する。
吸盤60aの内部を、予め真空源と連通させておくと、第二の基板10bと吸盤60aとが接触することで、吸盤60aの内部が所定の負圧状態となる。
When a scribe line is formed and the substrate 10 is cut by pressing the roller 40, the second portion 10b of the substrate moves downward in the Z direction and contacts the suction cup 60a.
If the inside of the suction cup 60a is previously communicated with a vacuum source, the second board 10b and the suction cup 60a come into contact with each other, so that the inside of the suction cup 60a is in a predetermined negative pressure state.

吸盤60a内の圧力を計測し、所定の負圧になったことを検出し、所定の負圧になったことをトリガーにして、アクチュエータ61aをZ方向下向きに移動し、その状態を保持出来る様にしておく。そうすることで、基板10が割断された後、第二の基板10bを、Z方向に移動させ、その状態を保持させることができる。   The pressure in the suction cup 60a is measured, it is detected that the predetermined negative pressure is reached, and the actuator 61a is moved downward in the Z direction using the occurrence of the predetermined negative pressure as a trigger so that the state can be maintained. Keep it. By doing so, after the board | substrate 10 is cut, the 2nd board | substrate 10b can be moved to a Z direction, and the state can be hold | maintained.

吸盤60aは、弾性樹脂からなる吸盤や、平坦な金属や樹脂の上面に孔や溝を設けて、負圧吸着が出来る様にしたものを例示することができ、特にゴムやスポンジなど弾力性の材料を用いることが好ましい。   The suction cup 60a can be exemplified by a suction cup made of an elastic resin, or a flat metal or resin provided with holes and grooves on the upper surface so that negative pressure adsorption can be performed. It is preferable to use a material.

図4は、本発明による基板保持手段の構造を示す正面図である。図4は、図1に示した割断装置1を紙面手前側から、つまりY方向に矢印と反対側から、見た図である。   FIG. 4 is a front view showing the structure of the substrate holding means according to the present invention. FIG. 4 is a view of the cleaving apparatus 1 shown in FIG. 1 as viewed from the front side of the page, that is, from the side opposite to the arrow in the Y direction.

第二の基板保持手段6は、割断後の基板の第二の部分10bを保持することが出来る様に、吸盤60aとエアシリンダ61aと同じ構成の、吸盤60b〜hとエアシリンダ61b〜hとを、割断方向3vに並べた状態に配置して、備えている。
吸盤60a〜hは、装置架台20の上に取り付けられた、エアシリンダ61a〜hの上に取り付けられており、吸盤60a〜hの上端と基板10の第二の部分10bの下面とは、所定の隙間を隔てて、位置合わせされている。
The second substrate holding means 6 has suction cups 60b to 60h and air cylinders 61b to 61h having the same configuration as the suction cup 60a and the air cylinder 61a so as to hold the second portion 10b of the cut substrate. Are arranged and arranged in the cleaving direction 3v.
The suction cups 60a to 60h are mounted on the air cylinders 61a to 61h mounted on the apparatus base 20, and the upper ends of the suction cups 60a to 60h and the lower surface of the second portion 10b of the substrate 10 are predetermined. It is aligned with a gap between them.

吸盤60a〜hは、各々エア配管と開閉バルブを介して、真空源に接続されている。吸盤60a〜hと、それらに対応する開閉バルブとの間には、圧力スイッチ62a〜hが接続されており、吸盤60a〜h内部の圧力検出が出来る構造になっている。エアシリンダ61a〜hには、各々の上下限位置を検出する位置検出器が63a〜h取り付けられており、各々のシリンダ上下動用のエア配管が、各々のシリンダ上下動制御用バルブ64a〜hを介して、エア供給源に接続されている。   The suction cups 60a to 60h are each connected to a vacuum source via an air pipe and an open / close valve. Pressure switches 62a to 62h are connected between the suction cups 60a to 60h and the corresponding open / close valves, and the pressure inside the suction cups 60a to 60h can be detected. The air cylinders 61a to 61h are provided with position detectors 63a to 63h for detecting upper and lower limit positions, respectively, and each cylinder vertical movement air pipe is connected to each cylinder vertical movement control valve 64a to h. Via an air supply source.

図2に示す様に、エアシリンダ61a〜hと、位置検出器63a〜hと、シリンダ上下動制御用バルブ64a〜hとは、機器制御ユニット95と接続されており、吸盤60a〜h内部の圧力や、エアシリンダ61a〜hの位置が、制御部9で分かるようになっている。
本発明の割断装置1は、上記の様な構造をしているので、スクライブ線の形成に追従して基板10を割断しながら、割断した基板の第二の部分10bを基板の第一の部分10aから遠ざかる様に待避させることができる。そのため、割断装置1は、割断した基板10の第一の部分10aと第二の部分10bとを、お互いに再接触させることなく、所定の間隔を空けて、保持することが出来る。
割断後の基板10の第二の部分10bは、吸盤60a〜hの負圧を大気開放させ、取り出すことが出来る構造をしている。
[別の実施形態:ならい保持]
As shown in FIG. 2, the air cylinders 61a to 61h, the position detectors 63a to 63h, and the cylinder vertical movement control valves 64a to 64h are connected to the device control unit 95, and are disposed inside the suction cups 60a to 60h. The pressure and the positions of the air cylinders 61a to h can be understood by the control unit 9.
Since the cleaving apparatus 1 of the present invention has the above-described structure, the second portion 10b of the cleaved substrate is divided into the first portion of the substrate while cleaving the substrate 10 following the formation of the scribe line. It can be retreated to move away from 10a. Therefore, the cleaving apparatus 1 can hold the cleaved first portion 10a and the second portion 10b of the substrate 10 at a predetermined interval without recontacting each other.
The second portion 10b of the cleaved substrate 10 has a structure that allows the negative pressure of the suction cups 60a to 60h to be released to the atmosphere and taken out.
[Another embodiment: Profile maintenance]

図5は、本発明による別の実施形態の基板保持手段の構造を示す側面図である。基板の割断装置1は、前述した第二の基板保持手段6に代えて、別の実施形態の第二の基板保持手段7を含んで構成することが出来る。   FIG. 5 is a side view showing the structure of the substrate holding means according to another embodiment of the present invention. The substrate cleaving apparatus 1 can be configured to include the second substrate holding means 7 of another embodiment instead of the second substrate holding means 6 described above.

吸着パッド70aは、装置架台20の上に取り付けられた、アクチュエータ71aの上に取り付けられており、基板10は吸着パッド70aによって支えられてる。
吸着パッド70aは、弾性樹脂からなる吸盤や、平坦な金属や樹脂の上面に孔や溝を設けて、負圧吸着が出来る様にしたものを例示することができ、特にゴムやスポンジなど弾力性の材料を用いることが好ましい。
アクチュエータ71aは、内部に位置検出器72aが備えられており、吸着パッド70aをZ方向の所定の位置に動かして静止させることが可能な構造をしている。
The suction pad 70a is attached on the actuator 71a attached on the apparatus base 20, and the substrate 10 is supported by the suction pad 70a.
The suction pad 70a can be exemplified by a suction cup made of an elastic resin, or a flat metal or resin provided with holes and grooves on the upper surface so that negative pressure suction can be performed. It is preferable to use these materials.
The actuator 71a is provided with a position detector 72a inside, and has a structure capable of moving the suction pad 70a to a predetermined position in the Z direction so as to be stationary.

また、第二の基板保持手段7の吸着パッド70aは、基板10を第一の基板保持手段5のテーブル50に載置した時に、基板の第二の部分10bと接触する様に、配置されている。ここで、基板10が載置された後、アライメント動作を行うまでは、吸着パッド70aは負圧吸着されず、基板の第二の部分10bはXYθ方向に自在に動くことが出来る。そして、基板10のアライメント動作が行われた後、基板の第二の部分10bは、吸着パッド70aで負圧吸着によって保持され、XYθ方向には自在に動くことが出来なくなる。   Further, the suction pad 70a of the second substrate holding means 7 is arranged so as to come into contact with the second portion 10b of the substrate when the substrate 10 is placed on the table 50 of the first substrate holding means 5. Yes. Here, after the substrate 10 is placed and before the alignment operation is performed, the suction pad 70a is not suctioned by negative pressure, and the second portion 10b of the substrate can freely move in the XYθ direction. Then, after the alignment operation of the substrate 10 is performed, the second portion 10b of the substrate is held by the suction pad 70a by negative pressure suction and cannot move freely in the XYθ direction.

図6は、本発明による別の実施形態の基板保持手段の構造を示す正面図である。
第二の基板保持手段7は、基板の第二の部分10bを保持することが出来る様に、前述した吸着パッド70a及びアクチュエータ71a、位置検出器72aと同じ構成の、吸着パッド70b〜h及びアクチュエータ71b〜h、位置検出器72b〜hを、割断方向3vに並べた状態に配置して、備えている。
また、図示はしないが、アクチュエータ71a〜hと位置検出器72a〜hとは、機器制御ユニット95と接続されており、アクチュエータ71a〜hを上下動作させたときの、現在の位置情報が制御部9で分かるようになっている。
FIG. 6 is a front view showing the structure of the substrate holding means according to another embodiment of the present invention.
The second substrate holding means 7 has the same configuration as the suction pad 70a, the actuator 71a, and the position detector 72a described above so that the second portion 10b of the substrate can be held. 71b-h and position detectors 72b-h are arranged and arranged in a cleaving direction 3v.
Although not shown, the actuators 71a to 71h and the position detectors 72a to 72h are connected to the device control unit 95, and the current position information when the actuators 71a to 71h are moved up and down is the control unit. It can be seen at 9.

スライダー24の現在位置もしくは、割断速度とローラ40通過後の時間との関係から、割断点とアクチュエータ71a〜hとの距離を算出し、適宜アクチュエータ71a〜hをZ方向下向きに移動させる。   The distance between the breaking point and the actuators 71a to 71h is calculated from the current position of the slider 24 or the relationship between the breaking speed and the time after passing through the roller 40, and the actuators 71a to 71h are appropriately moved downward in the Z direction.

アクチュエータ71a〜hの下降タイミングや下降移動量、経時的に移動量を変化させる(いわゆる、下降速度プロファイルを設定する)かどうか、などの下降動作設定は、経験則や事前のテスト結果などを参考にして決定し、予め設定しておく。
前記下降動作設定は、実際の割断ポイントが、スクライブ線形成ポイント(概ね、冷却ミスト34aの噴霧位置付近)と、適切な距離を保ち続けることができる条件が、最適であるといえる。その様な条件に設定することで、割断後の基板どうしの隙間が保たれ、良好な割断面も得られる。
[動作フロー]
The descent operation settings such as the descent timing, descent movement amount of the actuators 71a to 71h, and whether or not the movement amount is changed with time (so-called descent speed profile is set), refer to empirical rules and prior test results. And set in advance.
It can be said that the lowering operation setting is optimal under the condition that the actual cleaving point can keep an appropriate distance from the scribe line forming point (generally near the spray position of the cooling mist 34a). By setting to such a condition, a gap between the substrates after the cleaving is maintained, and a good fractured surface can be obtained.
[Operation flow]

図7は、本発明による割断方法を示すフロー図である。
第一の基板保持手段5と、第二の基板保持手段6の上に基板10を載置する(s101)。
基板10を、第一の基板保持手段5で吸着保持させ(s102)、第二の基板保持手段6においては、吸盤60a〜hの内部を真空源と連通させて負圧状態にしておく。また、第二の基板保持手段6に代えて、別の形態の第二の基板保持手段7を用いる場合は、吸着パッド70a〜h内部を負圧状態にして、基板の第二の部分10bを吸着保持する。
FIG. 7 is a flowchart showing the cleaving method according to the present invention.
The substrate 10 is placed on the first substrate holding means 5 and the second substrate holding means 6 (s101).
The substrate 10 is sucked and held by the first substrate holding means 5 (s102). In the second substrate holding means 6, the suction cups 60a to 60h are communicated with a vacuum source to be in a negative pressure state. Further, in the case of using another form of the second substrate holding means 7 instead of the second substrate holding means 6, the inside of the suction pads 70a to 70h is brought into a negative pressure state so that the second portion 10b of the substrate is Hold by adsorption.

続いて、基板10のアライメントマークを読み取り(s103)、予め設定された割断予定線11に沿って、スクライブ線形成手段3を走行させて(s104)、基板10のエッジ部分に初期亀裂形成手段30を用いて、小さな亀裂を付ける。
その状態で、加熱ビーム33aを基板10に照射し、加熱ビーム33aに追従させて、冷却ミスト34aを基板10に噴霧し、基板10のレーザスクライブを行う(s105)。
Subsequently, the alignment mark of the substrate 10 is read (s103), and the scribe line forming means 3 is run along the preset cutting line 11 (s104), so that the initial crack forming means 30 is formed at the edge portion of the substrate 10. Use the to make a small crack.
In this state, the substrate 10 is irradiated with the heating beam 33a, followed by the heating beam 33a, the cooling mist 34a is sprayed on the substrate 10, and laser scribing of the substrate 10 is performed (s105).

スクライブ線形成手段3に追従させて移動する、曲げモーメント付与手段4のローラ40を基板10に向けて押し付け、前記レーザスクライブした部分が開く様に、表面の亀裂を伸展させ、基板10を割断する。(s106)
第二の基板保持手段の吸盤60a〜hが、徐々にZ方向下向きに、変位させ、その位置を保持する(s107)。
The roller 40 of the bending moment applying means 4 that moves following the scribe line forming means 3 is pressed against the substrate 10 to extend the cracks on the surface so that the laser-scribed portion is opened, and the substrate 10 is cleaved. . (S106)
The suction cups 60a to 60h of the second substrate holding means are gradually displaced downward in the Z direction to hold the position (s107).

1ラインの割断が終了したかどうかを判断し(s108)、割断中であれば、s105〜s107を繰り返す。
基板10の割断が終了すれば、スクライブ線形成手段の走行を停止させる(s109)。
第二の基板保持手段6の吸着を解除し(s110)、基板の第二の部分10bを取り出す(s111)。
It is determined whether or not the cutting of one line has been completed (s108), and if cutting is in progress, steps s105 to s107 are repeated.
When the cutting of the substrate 10 is completed, the travel of the scribe line forming means is stopped (s109).
The adsorption of the second substrate holding means 6 is released (s110), and the second portion 10b of the substrate is taken out (s111).

全ラインの割断が終了したかどうかを判断し(s112)、まだ割断する場合は、基板10の載置場所を変更し、s104〜s111を繰り返す。
全ての割断が終了すれば、第一の基板保持手段5の吸着を解除し(s113)、基板の第一の部分10aをテーブル50から取り出す(s114)。
It is determined whether or not all lines have been cleaved (s112). If cleaving still occurs, the placement location of the substrate 10 is changed, and s104 to s111 are repeated.
When all the cleaving is completed, the suction of the first substrate holding means 5 is released (s113), and the first portion 10a of the substrate is taken out from the table 50 (s114).

上述のステップs101〜s114の方法を用いて、被割断基板10を割断する。
そうすることで、割断した基板の第一の部分10a及び、割断した基板の第二の部分10bは、割断後にお互いのエッジを接触させることが無い。
上述の装置及び方法を用いて、基板10(特にガラスなどの脆性材料)を割断した後、強度低下を防ぐことが出来るので、生産工程における歩留まり向上や製品品質向上に寄与することが出来る。
The cleaved substrate 10 is cleaved using the method of steps s101 to s114 described above.
By doing so, the first portion 10a of the cleaved substrate and the second portion 10b of the cleaved substrate do not contact each other's edges after cleaving.
After the substrate 10 (in particular, a brittle material such as glass) is cleaved using the above-described apparatus and method, it is possible to prevent a decrease in strength, thereby contributing to an improvement in yield and product quality in the production process.

1 割断装置
2 スライダ機構
3 スクライブ線形成手段
3v 割断方向
4 モーメント付与手段
5 第一の基板保持手段
6 第二の基板保持手段
7 第二の基板保持手段
9 制御部
10 基板
10a 基板の第一の部分
10b 基板の第二の部分
11 割断予定線
20 装置架台
21 支柱
22 梁部
23 レール
24 スライダ
30 初期亀裂形成手段
31 レーザ
33 加熱ビーム照射手段
33a 加熱ビーム
34 冷却手段
34a 冷却ミスト
40 ローラ
41 ブレイカ支持ブラケット
42 ブレイカ支持シャフト
43 ローラ支持ブラケット
44 ストッパ
45 ローラ支持シャフト
50 テーブル
51 Y軸スライダ機構
52 θ軸回転機構
60a〜h 吸盤
61a〜h エアシリンダ
62a〜h 圧力スイッチ
63a〜h 位置検出器
64a〜h 制御用バルブ
70a〜h 吸着パッド
71a〜h アクチュエータ
72a〜h 位置検出器
90 制御用コンピュータ
91 情報入力手段
92 情報表示手段
93 発報手段
94 情報記録手段
95 機器制御ユニット
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Cleaving device 2 Slider mechanism 3 Scribe line forming means 3v Cleaving direction 4 Moment applying means 5 First substrate holding means 6 Second substrate holding means 7 Second substrate holding means 9 Control unit 10 Substrate 10a First substrate Part 10b Second part of substrate 11 Planned cutting line 20 Device base 21 Column 22 Beam part 23 Rail 24 Slider 30 Initial crack forming means 31 Laser 33 Heating beam irradiation means 33a Heating beam 34 Cooling means 34a Cooling mist 40 Roller 41 Breaker support Bracket 42 Breaker support shaft 43 Roller support bracket 44 Stopper 45 Roller support shaft 50 Table 51 Y-axis slider mechanism 52 θ-axis rotation mechanism 60a-h Suction cup 61a-h Air cylinder 62a-h Pressure switch 63a-h Position detector 64a-h Control valve 70a-h Contact pads 71a-h Actuators 72a-h Position detector 90 Control computer 91 Information input means 92 Information display means 93 Information means 94 Information recording means 95 Device control unit

Claims (4)

非金属基板を、前記基板上に設定された割断予定線に沿って、第一の部分と第二の部分とに割断する装置であって、
前記基板の第一の部分を保持する第一の基板保持手段と、
前記基板の第二の部分を割断後に保持する第二の基板保持手段と、
前記割断予定線の始端から終端に向かって、前記基板の表面にスクライブ線を形成する手段と、
前記スクライブ線を形成する手段に追従させて、前記スクライブ線を押し広げるように、曲げモーメントを付与する、モーメント付与手段とを備え、
前記基板の第一の部分を、前記第一の基板保持手段で保持したまま、
割断された前記基板の第二の部分が、割断後の変形により、第二の基板保持手段に保持され、前記割断された基板の第一の部分と、前記割断された基板の第二の部分とを、所定の間隔を保って保持できる機構を備えたことを特徴とする、非金属基板の割断装置。
A device that cleaves a non-metal substrate into a first portion and a second portion along a cleaving line set on the substrate,
First substrate holding means for holding a first portion of the substrate;
Second substrate holding means for holding the second portion of the substrate after cleaving;
Means for forming a scribe line on the surface of the substrate from the start end to the end of the planned cutting line;
A moment applying means for applying a bending moment so as to spread the scribe line by following the means for forming the scribe line;
While holding the first portion of the substrate by the first substrate holding means,
The second part of the cleaved substrate is held by the second substrate holding means by deformation after cleaving, and the first part of the cleaved substrate and the second part of the cleaved substrate And a non-metallic substrate cleaving apparatus, comprising a mechanism capable of holding at a predetermined interval.
非金属基板を、前記基板上に設定された割断予定線に沿って、第一の部分と第二の部分とに割断する方法であって、
前記基板の第一の部分を第一の基板保持手段に、前記基板の第二の部分を第二の基板保持手段に、載置するステップと、
前記割断予定線の始端から終端に向かって、前記基板の表面にスクライブ線を形成するステップと、
前記スクライブ線の形成に追従しながら、前記スクライブ線を押し広げるように、曲げモーメントを付与し、前記基板を割断するステップとを有し、
前記基板の第一の部分を、前記第一の基板保持手段で保持したまま、
割断された前記基板の第二の部分が、割断後に変形するステップと、
前記変形により割断された前記基板の第二の部分が、前記第二の基板保持手段に保持されるステップとを有し、
前記割断された基板の第二の部分を、所定の間隔を保って保持できるステップを有することを特徴とする、非金属基板の割断方法。
A method of cleaving a non-metallic substrate into a first portion and a second portion along a planned cutting line set on the substrate,
Placing the first part of the substrate on the first substrate holding means and the second part of the substrate on the second substrate holding means;
Forming a scribe line on the surface of the substrate from the start to the end of the planned cutting line;
Applying a bending moment so as to spread the scribe line while following the formation of the scribe line, and cleaving the substrate,
While holding the first portion of the substrate by the first substrate holding means,
The second portion of the cleaved substrate deforms after cleaving;
The second portion of the substrate cleaved by the deformation has a step of being held by the second substrate holding means,
A method for cleaving a non-metal substrate, comprising the step of holding the second portion of the cleaved substrate at a predetermined interval.
非金属基板を、前記基板上に設定された割断予定線に沿って、第一の部分と第二の部分とに割断する装置であって、
前記基板の第一の部分を保持する第一の基板保持手段と、
前記基板の第二の部分を保持する第二の基板保持手段と、
前記割断予定線の始端から終端に向かって、前記基板の表面にスクライブ線を形成する手段と、
前記スクライブ線を形成する手段に追従させて、前記スクライブ線を押し広げるように、曲げモーメントを付与する、モーメント付与手段とを備え、
前記基板の第一の部分を、前記第一の基板保持手段で保持したまま、
割断された前記基板の第二の部分を、割断後の変形に合わせて、姿勢を保持できる機構を備えていることを特徴とする、非金属基板の割断装置。
A device that cleaves a non-metal substrate into a first portion and a second portion along a cleaving line set on the substrate,
First substrate holding means for holding a first portion of the substrate;
Second substrate holding means for holding a second portion of the substrate;
Means for forming a scribe line on the surface of the substrate from the start end to the end of the planned cutting line;
A moment applying means for applying a bending moment so as to spread the scribe line by following the means for forming the scribe line;
While holding the first portion of the substrate by the first substrate holding means,
A cleaving apparatus for a non-metallic substrate, comprising a mechanism capable of maintaining a posture of the cleaved second portion of the substrate in accordance with deformation after cleaving.
非金属基板を、前記基板上に設定された割断予定線に沿って、第一の部分と第二の部分とに割断する方法であって、
前記基板の第一の部分を保持する第一の基板保持手段に、前記基板を載置するステップと、
前記割断予定線の始端から終端に向かって、前記基板の表面にスクライブ線を形成するステップと、
前記スクライブ線の形成に追従しながら、前記スクライブ線を押し広げるように、曲げモーメントを付与し、前記基板を割断するステップとを有し、
前記基板の第一の部分を、前記第一の基板保持手段で保持したまま、
割断された前記基板の第二の部分を、割断後の変形にならって、姿勢を保持するステップを有していることを特徴とする、非金属基板の割断方法。
A method of cleaving a non-metallic substrate into a first portion and a second portion along a planned cutting line set on the substrate,
Placing the substrate on first substrate holding means for holding a first portion of the substrate;
Forming a scribe line on the surface of the substrate from the start to the end of the planned cutting line;
Applying a bending moment so as to spread the scribe line while following the formation of the scribe line, and cleaving the substrate,
While holding the first portion of the substrate by the first substrate holding means,
A method for cleaving a non-metallic substrate, comprising the step of maintaining the posture of the cleaved second portion of the substrate following deformation after cleaving.
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