JP2011085589A - 干渉振動計及び干渉振動測定方法 - Google Patents
干渉振動計及び干渉振動測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011085589A JP2011085589A JP2010234210A JP2010234210A JP2011085589A JP 2011085589 A JP2011085589 A JP 2011085589A JP 2010234210 A JP2010234210 A JP 2010234210A JP 2010234210 A JP2010234210 A JP 2010234210A JP 2011085589 A JP2011085589 A JP 2011085589A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- image forming
- forming unit
- detector
- focusing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 189
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 29
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 28
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 21
- 239000003550 marker Substances 0.000 claims description 21
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 5
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000005305 interferometry Methods 0.000 claims description 3
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 claims 1
- 230000008447 perception Effects 0.000 claims 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 13
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 5
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013065 commercial product Substances 0.000 description 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N erbium Chemical compound [Er] UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01H—MEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
- G01H9/00—Measuring mechanical vibrations or ultrasonic, sonic or infrasonic waves by using radiation-sensitive means, e.g. optical means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/08—Testing mechanical properties
- G01M11/081—Testing mechanical properties by using a contact-less detection method, i.e. with a camera
Abstract
【解決手段】ソースビームを測定ビームおよび基準ビーム5に分割するための第1のビームスプリッタ3と、検出器10および集束手段9とを備え、集束手段9が、測定ビームを物体8上の測定点7上に焦点合わせするために配置され、1100nmよりも大きな波長を有する測定ビームが生成され、物体の少なくとも1つの測定点7の周りの部分領域の平面的な画像を形成するために画像形成ユニット12が備えられ、集束手段9が測定ビームを物体8上の測定点7上に焦点合わせするために画像形成ユニット12と物体8間に配置され、測定ビームの焦点が画像形成ユニット12の焦点面内に存在し、集束手段9によって、測定ビームの焦点および画像形成ユニット12の焦点面が同時に変位可能である。
【選択図】図1
Description
前記集束手段が、測定ビームを物体上の測定点上に焦点合わせするために測定ビームのビーム路程に配置され、
1100nmよりも大きな波長を有する測定ビームが生成され、
物体の少なくとも1つの測定点の周りの部分領域の平面的な画像を形成するために画像形成ユニットが備えられ、
前記集束手段が測定ビームを物体上の測定点上に焦点合わせするために前記画像形成ユニットと物体間のビーム路程に配置され、測定ビームの焦点が前記画像形成ユニットの焦点面内に存在し、前記集束手段によって、測定ビームの焦点および前記画像形成ユニットの焦点面が同時に変位可能である。
1100nmよりも大きな波長を有する測定ビームが生成され、さらに、少なくとも物体の測定点の周りの部分領域が画像形成ユニットによって平面的に画像形成され、その際に画像形成ユニットが集束手段を用いて物体の部分領域上に焦点合わせされ、集束手段は、測定ビームの焦点が常に画像形成ユニットの焦点面に存在するように構成され、前記集束手段によって画像形成ユニットが少なくとも物体の部分領域上に焦点を合わされ、その際同時に測定ビームが少なくとも測定点上に焦点を合わされる。
ビーム源は、1500nmよりも大きい波長領域、特に1500nmから1800nmの波長領域におけるソースビームを生成することが好ましい。これは、この波長領域においては、測定ビームの性能が10mWを越えない場合、レーザクラス1への分類が得られるからである。これによって一方では高品質の測定信号(具体的には良好な信号対雑音比)を得ることが可能であり、他方ではレーザクラス1に属することによって、より高いレーザクラスと比較して、本発明による振動計を製造する際に、または本発明による方法を使用する際に考慮すべき安全策が少なくなる。従って、この振動計は、測定ビームの性能が10mWより小さく、5mW、好ましくは8mWよりも大きくなるように構成されていることが好ましい。特に、ビーム源が約1550nmの波長を有する測定ビームを生成するレーザとして構成されることが好ましい。
3:第1のビームスプリッタ
4:測定ビーム
5:基準ビーム
6:第2のビームスプリッタ
7:測定点
8:物体
9:集束手段
10:検出器
12:画像形成ユニット
Claims (14)
- ソースビームを生成するためのビーム源(1)と、前記ソースビームを測定ビームおよび基準ビームに分割するための第1のビームスプリッタ(3)と、検出器(10)および集束手段(9)とを備える、物体(8)の振動を測定する干渉式振動計であって、
物体(8)によって少なくとも部分的に反射された測定ビーム(4)と基準ビームとが検出器(10)の検出面上で重ね合わされ、
前記集束手段(9)が、測定ビームを物体(8)上の測定点(7)上に焦点合わせするために測定ビームのビーム路程に配置され、
1100nmよりも大きな波長を有する測定ビームが生成され、
物体の少なくとも1つの測定点(7)の周りの部分領域の平面的な画像を形成するために画像形成ユニット(12)が備えられ、
前記集束手段(9)が測定ビームを物体(8)上の測定点(7)上に焦点合わせするために前記画像形成ユニット(12)と物体(8)間のビーム路程に配置され、測定ビームの焦点が前記画像形成ユニット(12)の焦点面内に存在し、前記集束手段(9)によって、測定ビームの焦点および前記画像形成ユニット(12)の焦点面が同時に変位可能である振動計。 - 第2のビームスプリッタ(6)が備えられ、前記集束手段(9)と前記検出器(10)と間の測定ビームのビーム路程および前記集束手段(9)と前記画像形成ユニット(12)間のビーム路程において、前記集束手段(9)と前記画像形成ユニット間の可視領域におけるビームの強度損失が50%よりも小さく、前記集束手段(9)と前記検出器(10)の検出面間の測定ビームの強度損失が50%よりも小さく、好ましくは前記集束手段(9)と前記画像形成ユニット間の可視領域におけるビームの強度損失が30%よりも小さく、前記集束手段(9)と前記検出器(10)の検出面間の測定ビームの強度損失が30%よりも小さくなるように、前記第2のビームスプリッタが構成配置されていることを特徴とする請求項1に記載の振動計。
- 前記第2のビームスプリッタは、ダイクロイックビームスプリッタであり、好ましくは、可視領域におけるビームについてはビーム強度に関して少なくとも50%を通過させ、測定ビーム(4)についてはビーム強度に関して少なくとも50%を反射させるビームスプリッタであり、さらに好ましくは、可視領域におけるビームについてはビーム強度に関して少なくとも70%を透過させ、測定ビーム(4)についてはビーム強度に関して少なくとも70%を反射させるビームスプリッタであることを特徴とする請求項2に記載の振動計。
- 前記画像形成ユニット(12)または当該画像形成ユニットと連係動作するように構成された評価ユニット(16)あるいはその両方が、前記画像形成ユニット(12)によって形成された物体の部分領域(A)を用いて、測定点の位置を示すマーカ、特にクロス照準マーカが表示できるように構成されることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の振動計。
- 前記検出器(10)の測定信号を増幅または修正あるいはその両方を行うための評価ユニット(16)が前記検出器と連結されており、前記評価ユニット(16)は、前記検出器(10)を用いて、測定点(7)における、可聴周波数領域あるいはその部分領域で測定された物体の振動を聴覚認識可能に出力できるように構成されていることを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の振動計。
- 前記評価ユニット(16)が、前記検出器(10)の測定信号強度を再現するため、特に物体の振動振幅と関連するレベルを再現するためのレベル表示器を備えることを特徴とする請求項5に記載の振動計。
- 前記評価ユニット(16)が、複数の周波数領域を選択的に所定の方法で減少させるための多周波数フィルタを備え、当該多周波数フィルタが、ユーザによって選択可能な複数のフィルタパラメータのセットが記憶されたメモリユニットを備えることを特徴とする請求項5または6に記載の振動計。
- 前記画像形成ユニット(12)が、デジタルカメラとして構成されており、物体の部分領域を表示するために、このデジタルカメラが、卓上型ディスプレイ又はメガネ型ディスプレイあるいはその両方と接続可能であることを特徴とする請求項1から7のいずれか一項に記載の振動計。
- さらに望遠式照準器(13)が備えられ、この望遠式照準器は、当該望遠式照準器の視野が測定点(7)を含み、この測定点(7)が望遠式照準器の視野の略中央に存在するように配置されていることを特徴とする請求項1から8のいずれか一項に記載の振動計。
- 請求項1から9のいずれか一項に記載の振動計を用いて物体(8)の振動を干渉法で測定する振動測定方法であって、ビーム源(1)を用いてソースビームを生成するステップと、ソースビームを第1のビームスプリッタを用いて基準ビームおよび測定ビームに分割するステップと、基準ビームと物体(8)によって少なくとも部分的に反射された測定ビームとを検出器(10)の検出面上で重ね合わせるステップとを備え、測定ビーム(4)の焦点が集束手段(9)を用いて物体(8)上の測定点(7)上に合わせられ、かつ
1100nmよりも大きな波長を有する測定ビームが生成され、
さらに、少なくとも物体の測定点(7)の周りの部分領域(A)が画像形成ユニット(12)によって平面的に画像形成され、その際に画像形成ユニット(12)が集束手段(9)を用いて物体の部分領域(A)上に焦点合わせされ、集束手段(9)は、測定ビームの焦点が常に画像形成ユニット(12)の焦点面に存在するように構成され、
前記集束手段(9)によって画像形成ユニット(12)が少なくとも物体の部分領域(A)上に焦点を合わされ、その際同時に測定ビーム(4)は少なくとも測定点(7)上に焦点を合わされることを特徴とする振動測定方法。 - 前記集束手段(9)と前記検出器(10)間の測定ビームのビーム路程および前記集束手段(9)と前記画像形成ユニット(12)間のビーム路程において、第2のビームスプリッタによって少なくとも可視領域においてビーム強度に関して50%よりも大きいビームが前記画像形成ユニット(12)に対して、またビーム強度に関して50%よりも大きい物体(8)によって反射された測定ビーム(4)が前記検出器上に導かれるように、好ましくは前記第2のビームスプリッタによって少なくとも可視領域においてビーム強度に関して70%よりも大きいビームが前記画像形成ユニット(12)に対して、またビーム強度に関して70%よりも大きい物体(8)によって反射された測定ビーム(4)が検出器上に導かれるようにビーム分割が行なわれることを特徴とする請求項10に記載の振動測定方法。
- 前記画像形成ユニット(12)又は当該画像形成ユニット(12)と連係する評価ユニット(16)あるいはその両方を用いて、マーカ、特にクロス照準マーカを物体の部分領域の表示画像上の測定点の位置に表示することを特徴とする請求項10又は11に記載の振動測定方法。
- 前記焦点合わせは第1の方法ステップF1と第2の方法ステップF2とからなり、
前記第1の方法ステップF1において、少なくとも測定物体の部分領域(A)への焦点合わせが実施され、その焦点合わせの際に部分領域の表示が繰り返し画像形成ユニット上(12)で表示ユニットを介して再現されることによって、ユーザが視覚的なコントロールをしながら焦点合わせを実施でき、その際に画像形成ユニット(12)の焦点合わせと測定ビームとを連結することによって、ここで測定ビームの測定点(7)への焦点合わせが実施され、
前記方法ステップF2において、前記検出器(10)の測定信号の信号レベルが視覚的または聴覚的あるいはその両方で出力されることによって、または測定点(7)において、前記検出器(10)によって可聴周波数領域またはその部分領域で測定された物体の振動が聴覚認識可能に出力されることによって、あるいはその両方によって、測定ビームの測定点(7)への焦点合わせの微調整が行われることを特徴とする請求項10から12のいずれか一項に記載の振動測定方法。 - 前記第1の方法ステップに先行する前ステップF0において、部分領域の表示を視覚的にコントロールすることによって測定ビームが調整され、最初に望遠式照準器を用いて粗調整した後、部分領域の表示を視覚的な確認を通じてコントロールすることによって微調整されることを特徴とする請求項13に記載の振動測定方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102009049932.6 | 2009-10-19 | ||
DE102009049932.6A DE102009049932B4 (de) | 2009-10-19 | 2009-10-19 | Vorrichtung und Verfahren zur interferometrischen Schwingungsmessung an einem Objekt |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011085589A true JP2011085589A (ja) | 2011-04-28 |
JP5455238B2 JP5455238B2 (ja) | 2014-03-26 |
Family
ID=43334004
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010234210A Active JP5455238B2 (ja) | 2009-10-19 | 2010-10-19 | 干渉振動計及び干渉振動測定方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8913247B2 (ja) |
JP (1) | JP5455238B2 (ja) |
CN (1) | CN102042866A (ja) |
DE (1) | DE102009049932B4 (ja) |
FR (1) | FR2951537B1 (ja) |
GB (1) | GB2474585B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016109508A (ja) * | 2014-12-04 | 2016-06-20 | 公益財団法人鉄道総合技術研究所 | 構造物解析システム |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103344315B (zh) * | 2013-06-24 | 2015-07-22 | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 | 一种光纤平衡干涉高速测振系统 |
CN103308149B (zh) * | 2013-06-24 | 2016-01-13 | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 | 机器视觉同步对焦扫描式激光测振装置 |
CN103308150B (zh) * | 2013-06-24 | 2016-01-13 | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 | 一种全场激光测振系统 |
KR101545491B1 (ko) * | 2014-04-28 | 2015-08-20 | 에스엔유 프리시젼 주식회사 | 간섭계의 스캐닝 동기화 방법 |
DE102014212213B3 (de) * | 2014-06-25 | 2015-10-01 | Polytec Gmbh | Vorrichtung zur interferometrischen Vermessung eines Objekts |
CN107864667A (zh) | 2014-12-27 | 2018-03-30 | 贾迪安光学技术有限公司 | 用于检测表面的多个振动的系统及方法 |
CN106323446B (zh) * | 2016-10-10 | 2020-04-24 | 宁波舜宇智能科技有限公司 | 激光测振设备及其调节方法 |
DE102017114023A1 (de) * | 2017-06-23 | 2018-12-27 | SmarAct Holding GmbH | Verfahren und Detektor zur mit Interferometrie korrelierten Bildaufnahme |
EP3477252A1 (de) * | 2017-10-25 | 2019-05-01 | Unity Semiconductor GmbH | Anordnung zur erfassung des oberflächenprofils einer objektoberfläche mittels interferometrischer abstandsmessung |
CN108225539B (zh) * | 2017-12-22 | 2020-07-17 | 宁波舜宇智能科技有限公司 | 一种激光振动测量系统 |
DE102018114478A1 (de) * | 2018-06-15 | 2019-12-19 | Polytec Gmbh | Verfahren zur Bestimmung des Strahlverlaufs eines Messstrahls einer interferometrischen Messvorrichtung und Messvorrichtung zur interferometrischen Vermessung eines Messobjekts |
JP7199845B2 (ja) * | 2018-06-19 | 2023-01-06 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0560511A (ja) * | 1991-09-02 | 1993-03-09 | Mitsubishi Electric Corp | ヘテロダイン干渉計 |
US6134006A (en) * | 1998-02-25 | 2000-10-17 | Becthel Bwxt Idaho, Llc | Imaging photorefractive optical vibration measurement method and device |
GB0009311D0 (en) * | 2000-04-17 | 2000-05-31 | Logica Uk Ltd | Vibration analysis |
DE502004002547D1 (de) * | 2004-06-22 | 2007-02-15 | Polytec Gmbh | Vorrichtung zum optischen Vermessen eines Objektes |
US7193720B2 (en) * | 2005-05-17 | 2007-03-20 | Lockheed Martin Coherent Technologies, Inc. | Optical vibration imager |
DE102006003877B4 (de) * | 2005-12-09 | 2007-10-31 | Diehl Bgt Defence Gmbh & Co. Kg | Vibrometer |
US8204088B2 (en) * | 2006-03-22 | 2012-06-19 | Fujifilm Corporation | Wavelength tunable laser and optical tomography system using the wavelength tunable laser |
DE102007010389B4 (de) * | 2007-03-03 | 2011-03-10 | Polytec Gmbh | Vorrichtung zur optischen Vermessung eines Objekts |
US7961332B2 (en) * | 2007-06-07 | 2011-06-14 | Metrolaser, Inc. | Fiber-optic heterodyne imaging vibrometer |
EP2201342A2 (en) * | 2007-10-03 | 2010-06-30 | Dublin Institute of Technology | A multipoint laser doppler vibrometer |
US7791731B2 (en) * | 2007-12-18 | 2010-09-07 | Quality Vision International, Inc. | Partial coherence interferometer with measurement ambiguity resolution |
DE102008017119A1 (de) * | 2008-04-02 | 2009-10-08 | Polytec Gmbh | Vibrometer und Verfahren zur optischen Vermessung eines Objekts |
-
2009
- 2009-10-19 DE DE102009049932.6A patent/DE102009049932B4/de active Active
-
2010
- 2010-10-18 GB GB1017584.2A patent/GB2474585B/en not_active Expired - Fee Related
- 2010-10-18 FR FR1058481A patent/FR2951537B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 2010-10-19 US US12/907,117 patent/US8913247B2/en active Active
- 2010-10-19 CN CN2010105174656A patent/CN102042866A/zh active Pending
- 2010-10-19 JP JP2010234210A patent/JP5455238B2/ja active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016109508A (ja) * | 2014-12-04 | 2016-06-20 | 公益財団法人鉄道総合技術研究所 | 構造物解析システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102009049932A1 (de) | 2011-04-21 |
US20110090508A1 (en) | 2011-04-21 |
FR2951537B1 (fr) | 2018-05-11 |
GB201017584D0 (en) | 2010-12-01 |
CN102042866A (zh) | 2011-05-04 |
US8913247B2 (en) | 2014-12-16 |
FR2951537A1 (fr) | 2011-04-22 |
JP5455238B2 (ja) | 2014-03-26 |
GB2474585B (en) | 2015-12-30 |
GB2474585A (en) | 2011-04-20 |
DE102009049932B4 (de) | 2016-04-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5455238B2 (ja) | 干渉振動計及び干渉振動測定方法 | |
JP6794371B2 (ja) | オブジェクトの光学的3d測定のためのデバイス | |
JP3692131B2 (ja) | 光学的イメージを形成するシステム、方法および装置 | |
JP6252849B2 (ja) | 撮像装置および方法 | |
US20120293770A1 (en) | Image acquisition apparatus | |
JP2011147612A (ja) | 眼科撮影装置 | |
US10753791B2 (en) | Dual-channel laser audio monitoring system | |
JP2015016290A (ja) | ダイナミックフォーカススイープおよび窓平均化を用いた光コヒーレンストモグラフィ | |
JP2009282085A (ja) | 光学装置およびこれを備えた画像表示装置 | |
KR20140028539A (ko) | 3차원 영상 생성 장치 및 방법 | |
JP2008292240A (ja) | 3次元形状観察装置 | |
US10646114B2 (en) | Ophthalmic imaging apparatus and method of controlling the same | |
JPWO2004107762A1 (ja) | 撮影方法及び撮影装置 | |
JP2017127459A (ja) | 眼底撮像装置 | |
JP2022154236A5 (ja) | ||
García-Guerra et al. | Speckle reduction in double-pass retinal images using variable-focus lenses | |
TWI439725B (zh) | 應用共聚焦顯微鏡結構的被測物圖像獲取方法 | |
US11353316B1 (en) | Interferometry with pixelated color discriminating elements combined with pixelated polarization masks | |
JP4634884B2 (ja) | 表面性状測定装置 | |
WO1997048968A1 (fr) | Appareil optique confocal | |
JP3915978B2 (ja) | レーザドップラ振動計 | |
US6768553B2 (en) | Continuous-zoom imaging device of interferometer | |
WO2024004606A1 (ja) | キャリブレーション方法 | |
Truong et al. | Development of a portable reader for an optical intraocular pressure sensor | |
KR102278782B1 (ko) | 능동 가변 스펙클 조명 대면적 고해상도 영상 기기 및 이를 이용한 이미징 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130501 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131202 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20131212 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140106 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5455238 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |