JP2011060738A - Method of manufacturing organic el panel - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、配線付き基体を用いた有機EL(エレクトロルミネッセンス)パネルの製造方法に関する。 The present invention relates to a method for manufacturing an organic EL (electroluminescence) panel using a substrate with wiring.
従来、有機材料によって形成される自発光素子である有機EL素子を備える有機ELパネルは、例えば、陽極となるインジウム錫酸化物(ITO)等からなる第一電極と、有機発光層を含む有機層と、陰極となるアルミニウム(Al)等からなる非透光性の第二電極と、を順次積層して有機EL素子を形成するものが知られている(例えば、特許文献1参照)。かかる有機ELパネルは第一電極から正孔を注入し、また第二電極から電子を注入して正孔及び電子が発光層にて再結合することによって光を発するものであり、視認性に優れていて、低温での高速応答性に優れているため瞬間判読が必要な車載計器や移動通信端末等に採用されている。 2. Description of the Related Art Conventionally, an organic EL panel including an organic EL element that is a self-luminous element formed of an organic material includes, for example, a first electrode made of indium tin oxide (ITO) or the like serving as an anode, and an organic layer including an organic light emitting layer And a non-translucent second electrode made of aluminum (Al) or the like serving as a cathode are sequentially stacked to form an organic EL element (see, for example, Patent Document 1). Such an organic EL panel emits light by injecting holes from the first electrode and injecting electrons from the second electrode, and the holes and electrons recombine in the light emitting layer, and has excellent visibility. Therefore, it is used in in-vehicle instruments and mobile communication terminals that require instantaneous interpretation because of its excellent high-speed response at low temperatures.
有機EL素子は、有機層として正孔注入層,正孔輸送層,発光層,電子輸送層及び電子注入層が適宜積層形成される。有機層は低分子材料か高分子材料かにより成膜方法が異なり、低分子材料の成膜工程は蒸着法が主に用いられるドライ工程であり、高分子材料の成膜工程は塗布法,スピンコート法,インクジェット法またはスプレー法等が用いられるウェット工程である(例えば、特許文献2参照)。 In the organic EL element, a hole injection layer, a hole transport layer, a light emitting layer, an electron transport layer, and an electron injection layer are appropriately stacked as an organic layer. The film formation method differs depending on whether the organic layer is a low-molecular material or a high-molecular material. The low-molecular material film formation process is a dry process in which vapor deposition is mainly used. This is a wet process in which a coating method, an ink jet method, a spray method, or the like is used (for example, see Patent Document 2).
ところで、パッシブマトリクス型の有機ELパネルは、所定の発光電流を必要とし、電流密度に比例して発光輝度が上昇するが、配線の抵抗により電圧降下が生じるため、配線部の低抵抗化が必要とされている。しかしながら、従来から配線材料に用いられたITO層の低抵抗化には限界がある。そこで、アルミニウム(Al)あるいはAl合金などの低抵抗金属を補助配線としてITO層と組み合わせることで実質的に有機EL素子回路の更なる低抵抗化を実現することが知られている。例えば、引用文献3には、Al合金として、Alにニッケル(Ni)を含有させたAl−Ni合金が開示されている。
By the way, the passive matrix type organic EL panel requires a predetermined light emission current, and the light emission luminance increases in proportion to the current density. However, since the voltage drop occurs due to the resistance of the wiring, it is necessary to reduce the resistance of the wiring portion. It is said that. However, there is a limit to reducing the resistance of the ITO layer conventionally used for wiring materials. Thus, it is known that the resistance of the organic EL element circuit can be further reduced by combining a low resistance metal such as aluminum (Al) or Al alloy with the ITO layer as an auxiliary wiring. For example,
Al−Ni合金は抵抗率を下げるために成膜後に例えば200℃以上の温度で加熱する熱処理を行う必要がある。しかしながら、有機ELパネルの製造においてウェット工程が行われると、熱処理によって配線内に形成されるAl−Ni合金粒子が配線内から発光部へ遊離し、それにより表示異常や表示欠陥を引き起こし有機ELパネルの品質悪化や歩留まりの低下が起こるという問題点があった。ウェット工程としては、発光画素を画定する絶縁膜及び隔壁の形成後に行われる洗浄工程や、高分子材料の成膜工程が上げられる。なお、Al−Ni合金上にキャップ層を形成する場合であっても熱処理後にパターニングを行うと配線端部からAl−Ni合金粒子の遊離が生じてしまうという問題点がある。 In order to reduce the resistivity of the Al—Ni alloy, it is necessary to perform a heat treatment by heating at a temperature of, for example, 200 ° C. or higher after film formation. However, when a wet process is performed in the manufacture of an organic EL panel, the Al—Ni alloy particles formed in the wiring by heat treatment are released from the wiring to the light emitting part, thereby causing display abnormality and display defect. There was a problem that the quality deteriorated and the yield decreased. Examples of the wet process include a cleaning process performed after the formation of the insulating film and partition walls defining the light-emitting pixels and a film forming process of a polymer material. Even when the cap layer is formed on the Al—Ni alloy, there is a problem in that the patterning after the heat treatment causes the release of the Al—Ni alloy particles from the end portion of the wiring.
本発明は、この問題に鑑みなされたものであり、低抵抗のAl−Ni合金を用いた配線付き基体を用いた有機ELパネルにおいて、品質及び歩留まりを向上させることが可能な有機ELパネルの製造方法を提供することを目的とするものである。 The present invention has been made in view of this problem, and manufacture of an organic EL panel capable of improving quality and yield in an organic EL panel using a substrate with wiring using a low-resistance Al—Ni alloy. It is intended to provide a method.
本発明は、前記課題を解決するために、少なくともアルミニウムとニッケルとを含有する導体層を含む配線部が形成される基体上に、前記基体側に形成される第一電極とこの第一電極と対向する第二電極とで少なくとも正孔注入層と有機発光層を狭持してなる発光部を形成してなり、前記配線部は前記第一,第二電極の少なくとも一方と電気的に接続されてなる有機ELパネルの製造方法であって、少なくとも前記配線部を形成し、前記正孔注入層をウェット工程で形成した後に前記基体を加熱して前記配線部の抵抗率を下げる熱処理を行うことを特徴とする。 In order to solve the above problems, the present invention provides a first electrode formed on the substrate side on the substrate on which a wiring portion including a conductor layer containing at least aluminum and nickel is formed, and the first electrode A light emitting part is formed by sandwiching at least the hole injection layer and the organic light emitting layer with the opposing second electrode, and the wiring part is electrically connected to at least one of the first and second electrodes. A method of manufacturing an organic EL panel comprising: forming at least the wiring portion, forming the hole injection layer in a wet process, and then performing a heat treatment to heat the base and lower the resistivity of the wiring portion It is characterized by.
また、前記有機ELパネルは、前記基体上に、少なくとも前記第一電極の端部を覆うように形成される絶縁膜と、前記第二電極を複数に分離するように形成される隔壁と、を形成してなり、少なくとも前記配線部,前記絶縁膜,前記隔壁及び前記正孔注入層を形成した後に前記基体を加熱して前記配線部の抵抗を下げる熱処理を行うことを特徴とする。 The organic EL panel includes an insulating film formed on the base so as to cover at least an end portion of the first electrode, and a partition formed so as to separate the second electrode into a plurality of parts. After the formation of at least the wiring portion, the insulating film, the partition wall, and the hole injection layer, a heat treatment is performed to heat the substrate and lower the resistance of the wiring portion.
また、前記配線部は、モリブデンまたはモリブデン合金を含有するキャップ層を前記導体層上に形成してなることを特徴とする。 Further, the wiring portion is characterized in that a cap layer containing molybdenum or a molybdenum alloy is formed on the conductor layer.
また、前記配線部は、前記基体と前記導体層との間に透明導電体層を形成してなることを特徴とする。 Further, the wiring portion is formed by forming a transparent conductor layer between the base and the conductor layer.
また、前記配線部は、モリブデンまたはモリブデン合金を含有するキャップ層を前記透明導電体層と前記導体層との間に形成してなることを特徴とする。 Further, the wiring portion is formed by forming a cap layer containing molybdenum or a molybdenum alloy between the transparent conductor layer and the conductor layer.
また、前記配線部は、前記第一,第二電極の少なくとも一方と駆動回路とを電気的に接続するための配線であることを特徴とする。 The wiring portion is a wiring for electrically connecting at least one of the first and second electrodes and a drive circuit.
本発明は、Al−Ni合金を用いた配線付き基体を用いた有機ELパネルにおいて、品質及び歩留まりを向上させることが可能となるものである。 The present invention can improve quality and yield in an organic EL panel using a substrate with wiring using an Al-Ni alloy.
以下、本発明の実施形態について添付図面に基づいて説明する。なお、これらの説明及び図面等は本発明を例示するものであり、特許請求の範囲を制限するものではない。本発明の趣旨に合致する限り他の実施形態も本発明の範疇に属し得ることは言うまでもない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. It should be noted that these descriptions, drawings, and the like exemplify the present invention and do not limit the scope of the claims. It goes without saying that other embodiments may belong to the category of the present invention as long as they match the gist of the present invention.
図1は、有機ELパネルを示す図である。有機ELパネルは、支持基板(基体)1と、発光領域2と、ドライバーIC(駆動回路)3と、陽極配線部4と、陰極配線部5と、を有する。
FIG. 1 is a diagram showing an organic EL panel. The organic EL panel includes a support substrate (base) 1, a
支持基板1は、長方形形状の透明ガラス材からなる電気絶縁性の配線付き基体である。支持基板1上には、発光領域2と、ドライバーIC3と、陽極配線部(配線部)4と、陰極配線部(配線部)5と、が形成されている。また、支持基板1上には発光領域2を気密的に覆う封止部材が配設されるが、図1及び図2においては封止部材を省略している。
The
発光領域2には、図2及び図3に示すように、ライン状に複数形成される陽極(第一電極)6と、絶縁膜7と、隔壁8と、有機層9と、ライン状に複数形成される陰極(第二電極)10と、が形成されている。すなわち、有機ELパネルは、各陽極6と各陰極10とが交差するとともに有機層9を陽極6と陰極10とで挟持する個所からなる複数の発光部(有機EL素子)がマトリクス状に配置されるものである。また、陽極6及び陰極10は、陽極配線部4及び陰極配線部5を介してドライバーIC3と電気的に接続される。また、前記各発光部は、図3に示すように、封止部材11によって気密的に覆われている。
As shown in FIGS. 2 and 3, the
ドライバーIC3は、発光領域2の前記各発光部を駆動させる駆動回路を構成するものであり、信号線駆動回路及び走査線駆動回路等を備える。ドライバーIC3は、COG(Chip On Glass)技術によって支持基板1上に配設され、陽極配線部4及び陰極配線部5を介して各陽極6及び各陰極10と電気的に接続される。
The driver IC 3 constitutes a drive circuit that drives the light emitting units in the
陽極配線部4及び陰極配線部5は、陽極6及び陰極10とドライバーIC3とをそれぞれ電気的に接続するための部材である。陽極配線部4及び陰極配線部5は、支持基板1上に形成される透明導電体層と、モリブデン(Mo)あるいはMo合金からなる第一のキャップ層と、アルミニウム(Al)に少なくともニッケル(Ni)を含有するAl−Ni合金化合物からなる導体層と、モリブデン(Mo)あるいはMo合金からなる第二のキャップ層と、を支持基板1からこの順に積層形成した構造を有する積層体である。図3には、陰極配線部5が示されており、陰極配線部5は、支持基板1上に透明導電体層5a,第一のキャップ層5b,導体層5c及び第二のキャップ層5dを積層形成してなる。なお、図示しないが陽極配線部4も同様の積層構造を有し、陽極6から延設されるITO等の透明導電体層,第一のキャップ層,導体層及び第二のキャップ層が積層形成されてなる。
The
透明導電体層5aは、例えば陽極6と同材料であるITO,IZOあるいはZnO等からなり、陽極6と同工程で支持基板1上に形成される。
The transparent conductor layer 5 a is made of, for example, ITO, IZO, ZnO, or the like, which is the same material as the
第一のキャップ層5bは、MoあるいはMo合金からなり、導体層5bにAl酸化物が形成されることを防止するために透明導電体層5aと導体層5cとの間に形成されるものである。Mo合金の例としては、Ni−Mo,Mo−ニオブ(Nb),Mo−タンタル(Ta),Mo−バナジウム(V),Mo−タングステン(W)などが上げられる。キャップ層5cは、パターニング性の観点からその膜厚が10〜100nmであることが好ましい。
The
導体層5bは、Al−Ni合金からなり、配線を低抵抗化させるために支持基板1の透明導電体層5a上に形成されるものである。導体層5bは、十分な導電性や良好なパターニングが得られるようにその膜厚が100〜500nmであることが好ましい。なお、導体層5bはボロン(B)等の他の金属材料がさらに含有されていても良い。また、Al−Ni合金は、透明導電体層5aと直接接合が可能であり、第一のキャップ層5bを省略してもよい。
The
第二のキャップ層5cは、MoあるいはMo合金からなり、導体層5bを腐食から保護するために導体層5b上に形成されるものである。Mo合金の例としては、Ni−Mo,Mo−ニオブ(Nb),Mo−タンタル(Ta),Mo−バナジウム(V),Mo−タングステン(W)などが上げられる。キャップ層5cは、耐湿性及びパターニング性の観点からその膜厚が10〜100nmであることが好ましい。
The second cap layer 5c is made of Mo or Mo alloy, and is formed on the
陽極6は、ITO等の透明導電材料からなり、蒸着法やスパッタ法等の手段によって支持基板1上に透明導電材料を層状に形成した後、フォトエッチング等によって互いに略平行となるようにライン状に複数形成される。また、陽極6は、端部の一方側(図1における下方側)から延設される陽極配線部4を介してドライバーIC3と接続される。
The
絶縁膜7は、例えばポリイミド系の電気絶縁性材料から構成され、陽極6と陰極10との間に位置するように少なくとも陽極6の端部上に形成され両電極6,10の短絡を防止するとともに、発光領域2の前記各発光部を画定する開口部7aを有する。また、絶縁膜7は、陰極配線部5と陰極10との間にも延設されており、陰極配線部5と陰極10とを接続させるコンタクトホール7bを有する。
The insulating
隔壁8は、例えばフェノール系の電気絶縁性材料からなり、絶縁膜7上に形成される。隔壁8は、その断面が絶縁膜7に対して逆テーパー形状となるようにフォトエッチング等の手段によって形成されるものである。また、隔壁8は、陽極6と直交する方向に等間隔にて複数形成される。隔壁8は、その上方から蒸着法やスパッタリング法等によって有機層9及び陰極10となる金属膜を形成する際に有機層9及び前記金属膜を陽極6と直交する方向に複数に分離させるものである。
The partition wall 8 is made of, for example, a phenol-based electrically insulating material and is formed on the insulating
有機層9は、陽極6上に形成されるものであり、少なくとも正孔注入層と有機発光層とを有するものである。なお、本実施形態においては、図4に示すように、有機層9は正孔注入層9a,正孔輸送層9b,有機発光層9c,電子輸送層9d及び電子注入層9eを順次積層形成してなるものである。有機層9のうち、陽極6上に形成される正孔注入層9aは、高分子材料からなり塗布法,スピンコート法,インクジェット法またはスプレー法等が用いられるウェット工程にて成膜される。また、正孔輸送層9b,有機発光層9c,電子輸送層9d及び電子注入層9eは蒸着法によるドライ工程にて成膜される。
The
陰極10は、アルミニウム(Al)やマグネシウム銀(Mg:Ag)等の陽極6よりも導電率が高い金属性導電材料を蒸着法等の手段により陽極6と交差するようにライン状に複数形成してなるものである。陰極10は、前記導電材料が成膜時に隔壁8によって複数に分離されてなる。また、陰極10は、絶縁膜7に設けられるコンタクトホール7bを介して陰極配線部5と接続され、この陰極配線部5を介してドライバーIC3と電気的に接続されている。
For the
封止部材11は、例えばガラス材料からなる平板部材であり、発光領域2の前記各発光部を収納する凹部11aと、この凹部11aの全周を取り巻くように形成される接合部11bとを備えており、接着剤11cを介して支持基板1上に配設される。
The sealing
以上の各部によって有機ELパネルが構成されている。 The organic EL panel is configured by the above-described units.
次に、有機ELパネルの製造方法の一例を図5を用いて説明する。 Next, an example of a method for manufacturing an organic EL panel will be described with reference to FIG.
先ず、陽極等形成工程S1において、スパッタ法等の手段によって支持基板1上にITOを膜厚150nmの層状に形成した後、フォトエッチング等によってパターニングして陽極配線部4の透明導電体層,陰極配線部5の透明導電体層5a及び陽極6を形成した。
First, in the anode etc. forming step S1, ITO is formed in a layer thickness of 150 nm on the
次に、配線部形成工程S2において、洗浄した支持基板1上に、Moを膜厚20nm、Al−Ni合金を膜厚360nm、Moを膜厚20nmでスパッタ法により成膜した。スパッタ直後の積層体の抵抗率は10μΩ/cm程度と高い。その後フォトエッチングによってパターニングして陽極配線部4の第一のキャップ層,導体層及び第二のキャップ層と陰極配線部5の第一のキャップ層5b,導体層5c及び第二のキャップ層5dを形成した。これにより、配線として陽極配線部4及び陰極配線部5を有する配線付き支持基板1が得られる。このとき、フォトリソグラフィーで使用する温度は、100℃以下とすることで、陽極配線部4及び陰極配線部5はスパッタリング直後の組成や構造を維持している。
Next, in the wiring portion forming step S2, a film of Mo with a film thickness of 20 nm, an Al—Ni alloy with a film thickness of 360 nm, and a film of Mo with a film thickness of 20 nm were formed on the cleaned
次に、絶縁膜形成工程S3において、支持基板1上に感光性ポリイミド膜をスピンコーティングし、その後フォトエッチングによってパターニングして発光領域2の開口部7aとコンタクトホール7bを有する絶縁膜7を膜厚1.0μmで形成した。
Next, in the insulating film forming step S3, a photosensitive polyimide film is spin-coated on the
次に、隔壁形成工程S4において、支持基板1上に感光性アクリル樹脂をスピンコーティングし、その後フォトエッチングによってパターニングして絶縁膜7上に陽極6と直交する隔壁8を形成した。隔壁形成後、ウェット工程となる支持基板1の洗浄を行った。
Next, in the partition formation step S4, a photosensitive acrylic resin was spin-coated on the
次に、並行平板RFプラズマ装置を用いてアルゴンプラズマ照射を実施してITO膜の表面改質を行い、正孔注入層形成工程S5において、支持基板1上にスピンコート法で膜厚150nmの正孔注入層9aを形成した。具体的には、ポリスチレンスルホン酸をドープしたポリエチレンジオキシチオフェン(PEDOT:PSS)をスピンコーターを用いて成膜した。したがって、正孔注入層形成工程S5はウェット工程となる。
Next, argon plasma irradiation is performed using a parallel plate RF plasma apparatus to modify the surface of the ITO film, and in the hole injection layer forming step S5, a positive thickness of 150 nm is formed on the
正孔注入層9a形成後、直ちに熱処理工程S6において支持基板1を加熱して熱処理を実行した。熱処理工程S6は、前記導体層及び導体層5bをAl−Ni合金化して抵抗率を所望の値にすること、絶縁膜7及び隔壁8を脱水すること、及び正孔注入層9aを焼成して固化させることを同時に行うものである。そのため、熱処理工程S6における加熱温度は、絶縁膜7,隔壁8及び正孔注入層9aへの熱ダメージが発生せず、かつ陽極配線部4の前記導体層及び陰極配線部5の導体層5bの抵抗率を下げることが可能な温度であることを要する。本実施例においては、支持基板1を200℃で1時間、5.0×10−4Paの環境下で真空加熱脱水処理を行った。熱処理により、陽極配線部4及び陰極配線部5は抵抗率が低下し、所望の抵抗率を得た。なお、加熱温度及び加熱時間は、絶縁膜7,隔壁8及び正孔注入層9aの材料によって適宜設定されるものである。
Immediately after the formation of the
そして、正孔輸送層〜電子注入層形成工程S7にて陽極6に対応するように蒸着装置を用いて正孔輸送層9b,有機発光層9c,電子輸送層9d及び電子注入層9eを積層形成し、さらに、陰極形成工程S8にて蒸着装置を用いて有機層9上に陰極10を積層形成して、前記各発光部を得た。具体的には、正孔輸送層9bとしてNPDを膜厚30nmで成膜し、有機発光層9cとしてAlq3を膜厚30nmで成膜し、電子輸送層9dとしてBCPを膜厚20nmで成膜し、電子注入層9eとしてフッ化リチウム(LiF)を0.5nmで成膜し、陰極10としてAlを膜厚150nmで成膜した。
Then, a hole transport layer 9b, an organic
そして、封止工程S9において、発光領域2を覆う凹部11aを有する封止部材11を用意し、紫外線硬化性の接着剤11cを介して支持基板1上に配設固定した。凹部11aの前記各発光部との対向面には水分を吸着する吸湿剤(図示しない)が配設されることが望ましい。以上の製造工程により発光領域2を有する有機ELパネルが得られた。
And in sealing process S9, the sealing
(比較例)
次に、比較例としての有機ELパネルの製造方法について説明する。比較例においては、熱処理工程S6を行わず、陽極配線部4及び陰極配線部5の形成後に支持基板1を200℃、30分の陽極配線部4及び陰極配線部5の低抵抗化を目的とする熱処理を窒素環境下にて行い、正孔注入層9aの形成後に200℃で1時間、5.0×10−4Paの環境下で真空加熱脱水処理を行った。その他の工程については実施例と同様にして有機ELパネルを得た。
(Comparative example)
Next, the manufacturing method of the organic electroluminescent panel as a comparative example is demonstrated. In the comparative example, the heat treatment step S6 is not performed, and the
以下、表1に実施例及び比較例の歩留まりを示す。 Table 1 below shows the yield of the examples and comparative examples.
実施例による製造工程によって得られた有機ELパネルは、表示異常や表示欠陥を起こさず、品質及び歩留まりが向上することを確認した。これに対し、比較例による製造工程で得られた有機ELパネルは、Al−Ni合金粒子が発光部上に流れ込み、表示異常や表示欠陥を起こして歩留まりが著しく低下した。従来、有機ELパネルの品質及び歩留まりの低下は、熱処理によって配線内に形成されたAl−Ni合金粒子がウェット工程によって発光部上に流れ込むことに起因すると思われる。本願発明者は、この点に着目し、有機ELパネルの製造工程において、ウェット工程によって得られる正孔注入層9aの形成後に前記導体層及び導体層5bの抵抗率を下げる熱処理を行うことで、Al−Ni合金粒子が生成され始めても正孔注入層9aが固化するためAl−Ni合金粒子が遊離することがなく、品質及び歩留まりを向上させることが可能であることを見いだした。本発明が十分な効果を奏することは、表1の結果からも明らかである。
It was confirmed that the organic EL panel obtained by the manufacturing process according to the example did not cause display abnormality or display defect and improved in quality and yield. On the other hand, in the organic EL panel obtained in the manufacturing process according to the comparative example, Al—Ni alloy particles flowed onto the light emitting portion, causing display abnormalities and display defects, and the yield was significantly reduced. Conventionally, the decrease in the quality and yield of the organic EL panel is considered to be caused by Al—Ni alloy particles formed in the wiring by the heat treatment flowing into the light emitting part by the wet process. The inventor of the present application pays attention to this point, and in the manufacturing process of the organic EL panel, after the formation of the
なお、本実施形態においては、陰極配線部5は、透明導電体層5a,導体層5b及びキャップ層5cの積層体からなり、陽極配線部4も同様の積層構造からなるものであったが、本発明においては、配線部は少なくともAl−Ni合金からなる導体層を含むものであればよく、透明導電体層が形成されず基体上に直接導体層が形成される構成であってもよく、キャップ層が形成されない構成であってもよい。
In the present embodiment, the
本発明は、有機ELパネルの製造方法に関し、特にAl−Ni合金を用いた配線付き基体を用いた有機ELパネルの製造方法に関するものである。 The present invention relates to a method for manufacturing an organic EL panel, and more particularly to a method for manufacturing an organic EL panel using a substrate with wiring using an Al—Ni alloy.
1 支持基板
2 発光領域
3 ドライバーIC
4 陽極配線部
5 陰極配線部
5a 透明導電体層
5b 第一のキャップ層
5c 導体層
5d 第二のキャップ層
6 陽極
7 絶縁膜
7a 開口部
7b コンタクトホール
8 隔壁
9 有機層
10 陰極
11 封止部材
DESCRIPTION OF
DESCRIPTION OF
Claims (6)
少なくとも前記配線部を形成し、前記正孔注入層をウェット工程で形成した後に前記基体を加熱して前記配線部の抵抗率を下げる熱処理を行うことを特徴とする有機ELパネルの製造方法。 On a base on which a wiring part including a conductor layer containing at least aluminum and nickel is formed, at least a hole injection layer with a first electrode formed on the base and a second electrode facing the first electrode And forming a light emitting part sandwiching the organic light emitting layer, and the wiring part is a method for manufacturing an organic EL panel electrically connected to at least one of the first and second electrodes,
A method of manufacturing an organic EL panel, comprising: forming at least the wiring part, and forming the hole injection layer in a wet process, and then performing a heat treatment for heating the substrate to lower the resistivity of the wiring part.
少なくとも前記配線部,前記絶縁膜,前記隔壁及び前記正孔注入層を形成した後に前記基体を加熱して前記配線部の抵抗を下げる熱処理を行うことを特徴とする請求項1に記載の有機ELパネルの製造方法。 The organic EL panel includes an insulating film formed so as to cover at least an end of the first electrode and a partition formed so as to separate the second electrode into a plurality of parts on the base. And
2. The organic EL according to claim 1, wherein after the formation of at least the wiring portion, the insulating film, the partition wall, and the hole injection layer, a heat treatment for reducing the resistance of the wiring portion by heating the substrate is performed. Panel manufacturing method.
2. The method of manufacturing an organic EL panel according to claim 1, wherein the wiring portion is a wiring for electrically connecting at least one of the first and second electrodes and a drive circuit.
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