JP2011042836A - Catalyst residue removing agent for printed circuit board - Google Patents

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JP2011042836A JP2009192141A JP2009192141A JP2011042836A JP 2011042836 A JP2011042836 A JP 2011042836A JP 2009192141 A JP2009192141 A JP 2009192141A JP 2009192141 A JP2009192141 A JP 2009192141A JP 2011042836 A JP2011042836 A JP 2011042836A
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Noriko Shimo
典子 志茂
Yasuhiro Tanabe
靖博 田邉
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Okuno Chemical Industries Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a catalyst residue removing agent which achieves formation of an electroless nickel plating coating and is excellent in characteristics to form a good plating coating only on a conductive pattern section on a printed circuit board. <P>SOLUTION: The catalyst residue removing agent for the printed circuit board includes an alkylene diamine compound represented by general formula (I): R<SP>1</SP>R<SP>2</SP>N(CH<SB>2</SB>)<SB>n</SB>NR<SP>3</SP>R<SP>4</SP>[wherein, R<SP>1</SP>, R<SP>2</SP>, R<SP>3</SP>, and R<SP>4</SP>are the same or different and are each a hydrogen atom or a group -(R<SP>5</SP>O)<SB>m</SB>H (in formula, R<SP>5</SP>is a 1-5C straight chain or branched chain alkylene group, and m is an integer of 1-10), and n is 2 or 3]. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、プリント配線板用触媒残渣除去剤、及びプリント配線板用触媒残渣除去剤を用いた無電解ニッケルめっき方法に関する。   The present invention relates to a catalyst residue remover for printed wiring boards and an electroless nickel plating method using the catalyst residue remover for printed wiring boards.

従来、電子部品、特にプリント配線板やパッケージ基板のはんだ付けおよびボンディングを行う際の表面処理には、配線部や端子部に無電解ニッケル/金めっきを施されている。無電解ニッケルめっきには、次亜リン酸塩を還元剤とする無電解ニッケル‐リン合金めっき、ホウ素化合物を還元剤とする無電解ニッケル‐ホウ素合金めっき等が一般的に用いられている。この場合、通常、厚さ3〜5μm程度の無電解ニッケルめっき皮膜を形成した後、置換めっき法により、0.03〜0.5μm程度の金皮膜が形成されている。   Conventionally, electroless nickel / gold plating has been applied to wiring portions and terminal portions for surface treatment when soldering and bonding electronic components, particularly printed wiring boards and package substrates. For electroless nickel plating, electroless nickel-phosphorus alloy plating using hypophosphite as a reducing agent, electroless nickel-boron alloy plating using boron compound as a reducing agent, and the like are generally used. In this case, usually, after forming an electroless nickel plating film having a thickness of about 3 to 5 μm, a gold film of about 0.03 to 0.5 μm is formed by a displacement plating method.

プリント配線板において、銅、銀等の導電性材料によって形成されるパッド部分、回路部分、端子部分等の導電部、即ち導電性パターン部に無電解ニッケルめっきを行う場合、通常、パラジウム触媒付与を行ってから無電解ニッケルめっきを行う。なお、近年では無電解ニッケルと金めっきの間に無電解パラジウムめっきを行う、無電解ニッケル/パラジウム/金めっき工法も提案されている。   When performing electroless nickel plating on conductive parts such as pad parts, circuit parts, terminal parts, etc. formed of conductive materials such as copper and silver in printed wiring boards, that is, when conducting electroless nickel plating, palladium catalyst is usually applied. After that, electroless nickel plating is performed. In recent years, an electroless nickel / palladium / gold plating method in which electroless palladium plating is performed between electroless nickel and gold plating has also been proposed.

しかしながら、上記パターン部に対してパラジウム触媒付与を行った場合、パラジウム触媒が、プリント配線板の基材である樹脂(例えば、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂等)、セラミック、ガラス等にも吸着することがある。この基材に吸着されたパラジウム触媒は、水洗いをしても、僅かながら残渣として存在してしまう。そのため、無電解ニッケルめっきを行うと、プリント配線板の上記パターン部だけでなく、上記残渣部にも無電解ニッケルめっき反応が生じ、その結果、基材上に析出する無電解ニッケルめっきの異常析出や、導電性パターン部同士が無電解ニッケルめっきで繋がるブリッジ現象が発生してしまう。   However, when a palladium catalyst is applied to the pattern portion, the palladium catalyst may be adsorbed to a resin (eg, epoxy resin, polyimide resin, etc.), ceramic, glass, or the like that is a substrate of a printed wiring board. is there. The palladium catalyst adsorbed on the base material is slightly present as a residue even after washing with water. Therefore, when electroless nickel plating is performed, the electroless nickel plating reaction occurs not only in the pattern portion of the printed wiring board but also in the residue portion, resulting in abnormal deposition of electroless nickel plating deposited on the substrate. In addition, a bridging phenomenon in which the conductive pattern portions are connected by electroless nickel plating occurs.

上記した異常析出、ブリッジ現象等の問題への対策として、例えば、特開2008−101257号公報に、硫酸水素塩および金属塩化物を含む液で処理後無電解ニッケルめっきを行う方法が提案されている。しかしながら、この処理液では上記した問題は僅かに改善されるものの充分ではなく、依然として工業的な課題が残されている。   As a countermeasure against the problems such as abnormal precipitation and bridging phenomenon, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-101257 proposes a method of performing electroless nickel plating after treatment with a liquid containing hydrogen sulfate and metal chloride. Yes. However, although the above-mentioned problems are slightly improved in this treatment liquid, it is not sufficient, and industrial problems still remain.

特開2008−101257号公報JP 2008-101257 A

本発明は、上記した従来技術の現状に鑑みてなされたものであり、その主な目的は、プリント配線板において導電性パターン部にのみ良好なめっき皮膜を形成できる特性、即ちファインパターン性に優れた無電解ニッケルめっき皮膜の形成を可能にする、触媒残渣除去剤を提供することである。   The present invention has been made in view of the current state of the prior art described above, and its main purpose is excellent in characteristics that can form a good plating film only on the conductive pattern portion in a printed wiring board, that is, fine pattern properties. Another object of the present invention is to provide a catalyst residue remover that enables formation of an electroless nickel plating film.

本発明者は、上記した目的を達成すべく鋭意研究を重ねた結果、プリント配線板の導電性パターン部に無電解めっき用触媒を付与した後、特定の一般式で表されるアルキレンジアミン化合物を含有するプリント配線板用触媒残渣除去剤と接触させ、その後無電解ニッケルめっきを行うことによって、上記した目的を達成し得ることを見出し、ここに本発明を完成するに至った。   As a result of intensive studies to achieve the above-mentioned object, the present inventor has given an alkylenediamine compound represented by a specific general formula after imparting a catalyst for electroless plating to a conductive pattern portion of a printed wiring board. It has been found that the above-mentioned object can be achieved by contacting with the catalyst residue remover for printed wiring board contained, followed by electroless nickel plating, and the present invention has been completed here.

即ち、本発明は、プリント配線板用触媒残渣除去剤、及びプリント配線板用触媒残渣除去剤を用いた無電解ニッケルめっき方法を提供するものである。
1. 下記一般式(I)
That is, this invention provides the electroless nickel plating method using the catalyst residue remover for printed wiring boards, and the catalyst residue remover for printed wiring boards.
1. The following general formula (I)

Figure 2011042836
Figure 2011042836

[式中、R、R、R及びRは、同一又は異なって、それぞれ、水素原子又は下記基: [Wherein R 1 , R 2 , R 3 and R 4 are the same or different and each represents a hydrogen atom or the following group:

Figure 2011042836
Figure 2011042836

(式中、Rは、炭素数1〜5の直鎖状又は分岐鎖状のアルキレン基であり、mは1〜10の整数である)であり、nは2又は3である。]で表されるアルキレンジアミン化合物を含有することを特徴とするプリント配線板用触媒残渣除去剤。
2. 一般式(I)で表されるアルキレンジアミン化合物において、R、R、R及びRで表される基の少なくとも一個が水素原子である上記項1に記載のプリント配線板用触媒残渣除去剤。
3. 一般式(I)で表されるアルキレンジアミン化合物において、R、R、R及びRで表される基の内で、1〜3個が水素原子である上記項1又は2に記載のプリント配線板用触媒残渣除去剤。
4. さらに、シアン化合物及びチオシアン酸塩からなる群から選ばれた少なくとも一種の化合物を含む上記項1〜3のいずれかに記載のプリント配線板用触媒残渣除去剤。
5. 以下の(i)〜(iii)の工程を含む、無電解ニッケルめっき方法:
(i) プリント配線板に対して無電解めっき用触媒を付与する工程、
(ii) (i)で得られたプリント配線板を、上記項1〜4のいずれかに記載の触媒残渣除去剤に接触させる工程、
(iii) (ii)で得られたプリント配線板に対して無電解ニッケルめっきを行う工程。
(Wherein R 5 is a linear or branched alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, m is an integer of 1 to 10), and n is 2 or 3. ] The catalyst residue removal agent for printed wiring boards characterized by containing the alkylenediamine compound represented by these.
2. In alkylenediamine compound represented by the general formula (I), R 1, R 2, R 3 and at least one is a printed wiring board for catalyst residues according to item 1, wherein a hydrogen atom of the group represented by R 4 Remover.
3. Item 3. The alkylene diamine compound represented by the general formula (I), wherein 1 to 3 of the groups represented by R 1 , R 2 , R 3 and R 4 are hydrogen atoms. Catalyst residue remover for printed wiring boards.
4). Item 4. The printed wiring board catalyst residue remover according to any one of Items 1 to 3, further comprising at least one compound selected from the group consisting of a cyanide compound and a thiocyanate.
5). Electroless nickel plating method including the following steps (i) to (iii):
(I) a step of applying a catalyst for electroless plating to a printed wiring board;
(Ii) A step of bringing the printed wiring board obtained in (i) into contact with the catalyst residue remover according to any one of Items 1 to 4,
(Iii) A step of performing electroless nickel plating on the printed wiring board obtained in (ii).


以下、本発明の触媒残渣除去剤について詳細に説明する。
プリント配線板用触媒残渣除去剤
本発明の触媒残渣除去剤は、下記一般式(I)

Hereinafter, the catalyst residue remover of the present invention will be described in detail.
Catalyst Residue Remover for Printed Wiring Board The catalyst residue remover of the present invention has the following general formula (I)

Figure 2011042836
Figure 2011042836

[式中、R、R、R及びRは、同一又は異なって、それぞれ、水素原子又は下記基: [Wherein R 1 , R 2 , R 3 and R 4 are the same or different and each represents a hydrogen atom or the following group:

Figure 2011042836
Figure 2011042836

(式中、Rは、炭素数1〜5の直鎖状又は分岐鎖状のアルキレン基であり、mは1〜10の整数である)であり、nは2又は3である。]で表されるアルキレンジアミン化合物を含有することを特徴とするものである。 (Wherein R 5 is a linear or branched alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, m is an integer of 1 to 10), and n is 2 or 3. The alkylenediamine compound represented by this is contained, It is characterized by the above-mentioned.

本発明の触媒残渣除去剤によれば、上記したアルキレンジアミン化合物を添加剤として用いることによって、従来の無電解ニッケルめっき方法で形成されるニッケルめっき皮膜と比較して、ファインパターン性に優れたニッケルめっき皮膜を形成することができる。   According to the catalyst residue removing agent of the present invention, nickel having excellent fine pattern properties can be obtained by using the above-described alkylenediamine compound as an additive, compared with a nickel plating film formed by a conventional electroless nickel plating method. A plating film can be formed.

上記一般式(I)において、Rは、炭素数1〜5の直鎖状又は分岐鎖状のアルキレン基であり、具体例としては、メチレン、エチレン、トリメチレン、テトラメチレン、ペンタメチレン等の直鎖メチレン;イソプロピレン、イソブチレン等の分岐鎖メチレン;等を挙げることができる。また、mは1〜10の整数である。m=1の場合の具体例としては、ヒドロキシメチル、ヒドロキシエチル、3−ヒドロキシプロピル、2−ヒドロキシプロピル等の炭素数1〜3程度の直鎖状又は分枝鎖状のヒドロキシアルキル基を挙げることができる。以下、本願明細書では、mが2以上の場合も含めてヒドロキシアルキル基ということがある。 In the above general formula (I), R 5 is a linear or branched alkylene group having 1 to 5 carbon atoms. Specific examples thereof include straight chain such as methylene, ethylene, trimethylene, tetramethylene, pentamethylene and the like. Chain methylene; branched methylene such as isopropylene and isobutylene; and the like. Moreover, m is an integer of 1-10. Specific examples of m = 1 include linear or branched hydroxyalkyl groups having about 1 to 3 carbon atoms such as hydroxymethyl, hydroxyethyl, 3-hydroxypropyl, 2-hydroxypropyl and the like. Can do. Hereinafter, in the present specification, it may be referred to as a hydroxyalkyl group including a case where m is 2 or more.

上記したアルキレンジアミン化合物の内で、n=2であるエチレンジアミン骨格を有する化合物の具体例は以下の通りである。
(1)R、R、R及びRが全て水素原子である化合物:
エチレンジアミン
(2)R、R、R及びRの内の3個が水素原子である化合物:
N−ヒドロキシメチルエチレンジアミン
N−ヒドロキシエチルエチレンジアミン
N−ヒドロキシプロピルエチレンジアミン
N−ヒドロキシイソプロピルエチレンジアミン
N−ヒドロキシブチルエチレンジアミン
(3)R、R、R及びRの内の2個が水素原子である化合物:
N,N’−ジヒドロキシメチルエチレンジアミン
N,N’−ジヒドロキシエチルエチレンジアミン
N,N’−ジヒドロキシプロピルエチレンジアミン
N,N’−ジヒドロキシイソプロピルエチレンジアミン
N,N’−ジヒドロキシブチルエチレンジアミン
(4)R、R、R及びRの内の1個が水素原子である化合物:
N,N,N’−トリヒドロキシメチルエチレンジアミン
N,N,N’−トリヒドロキシエチルエチレンジアミン
N,N,N’−トリヒドロキシプロピルエチレンジアミン
N,N,N’−トリヒドロキシイソプロピルエチレンジアミン
N,N,N’−トリヒドロキシブチルエチレンジアミン
(5)R、R、R及びRの全てがヒドロキシアルキル基である化合物:
N,N,N’,N’−テトラヒドロキシメチルエチレンジアミン
N,N,N’,N’−テトラヒドロキシエチルエチレンジアミン
N,N,N’,N’−テトラヒドロキシプロピルエチレンジアミン
N,N,N’,N’−テトラヒドロキシイソプロピルエチレンジアミン
下記式で表されるN,N,N’,N’−テトラポリヒドロキシプロピレンエチレンジアミン(好ましくは分子量760〜770程度)
Specific examples of the compound having an ethylenediamine skeleton in which n = 2 among the above-described alkylenediamine compounds are as follows.
(1) Compounds in which R 1 , R 2 , R 3 and R 4 are all hydrogen atoms:
Ethylenediamine (2) A compound in which three of R 1 , R 2 , R 3 and R 4 are hydrogen atoms:
N-hydroxymethylethylenediamine N-hydroxyethylethylenediamine N-hydroxypropylethylenediamine N-hydroxyisopropylethylenediamine N-hydroxybutylethylenediamine (3) Compound in which two of R 1 , R 2 , R 3 and R 4 are hydrogen atoms :
N, N′-dihydroxymethylethylenediamine N, N′-dihydroxyethylethylenediamine N, N′-dihydroxypropylethylenediamine N, N′-dihydroxyisopropylethylenediamine N, N′-dihydroxybutylethylenediamine (4) R 1 , R 2 , R A compound in which one of 3 and R 4 is a hydrogen atom:
N, N, N′-trihydroxymethylethylenediamine N, N, N′-trihydroxyethylethylenediamine N, N, N′-trihydroxypropylethylenediamine N, N, N′-trihydroxyisopropylethylenediamine N, N, N ′ -Trihydroxybutylethylenediamine (5) Compound in which all of R 1 , R 2 , R 3 and R 4 are hydroxyalkyl groups:
N, N, N ′, N′-tetrahydroxymethylethylenediamine N, N, N ′, N′-tetrahydroxyethylethylenediamine N, N, N ′, N′-tetrahydroxypropylethylenediamine N, N, N ′, N '-Tetrahydroxyisopropylethylenediamine N, N, N', N'-tetrapolyhydroxypropyleneethylenediamine represented by the following formula (preferably having a molecular weight of about 760 to 770)

Figure 2011042836
Figure 2011042836

また、上記したアルキレンジアミン化合物の内で、n=3であるプロパンジアミン骨格を有する化合物の具体例は以下の通りである。
(1)R、R、R及びRが全て水素原子である化合物:
プロパンジアミン
(2)R、R、R及びRの内の3個が水素原子である化合物:
N−ヒドロキシメチルプロパンジアミン
N−ヒドロキシエチルプロパンジアミン
N−ヒドロキシプロピルプロパンジアミン
N−ヒドロキシイソプロピルプロパンジアミン
N−ヒドロキシブチルプロパンジアミン
(3)R、R、R及びRの内の2個が水素原子である化合物:
N,N’−ジヒドロキシメチルプロパンジアミン
N,N’−ジヒドロキシエチルプロパンジアミン
N,N’−ジヒドロキシプロピルプロパンジアミン
N,N’−ジヒドロキシイソプロピルプロパンジアミン
N,N’−ジヒドロキシブチルプロパンジアミン
(4)R、R、R及びRの内で1個が水素原子である化合物:
N,N,N’−トリヒドロキシメチルプロパンジアミン
N,N,N’−トリヒドロキシエチルプロパンジアミン
N,N,N’−トリヒドロキシプロピルプロパンジアミン
N,N,N’−トリヒドロキシイソプロピルプロパンジアミン
N,N,N’−トリヒドロキシブチルプロパンジアミン
(5)R、R、R及びRの全てがヒドロキシアルキル基である化合物:
N,N,N’,N’−テトラヒドロキシメチルプロパンジアミン
N,N,N’,N’−テトラヒドロキシエチルプロパンジアミン
N,N,N’,N’−テトラヒドロキシプロピルプロパンジアミン
N,N,N’,N’−テトラヒドロキシイソプロピルプロパンジアミン
下記式で表されるN,N,N’,N’−テトラポリヒドロキシプロピレンプロパンジアミン
Moreover, the specific example of the compound which has the propanediamine skeleton which is n = 3 among the above-mentioned alkylene diamine compounds is as follows.
(1) Compounds in which R 1 , R 2 , R 3 and R 4 are all hydrogen atoms:
Propanediamine (2) A compound in which three of R 1 , R 2 , R 3 and R 4 are hydrogen atoms:
Two of the N- hydroxymethyl-propane diamine N- hydroxyethyl-propane diamine N- hydroxypropyl propanediamine N- hydroxyisopropyl propanediamine N- hydroxybutyl propanediamine (3) R 1, R 2 , R 3 and R 4 Compounds that are hydrogen atoms:
N, N′-dihydroxymethylpropanediamine N, N′-dihydroxyethylpropanediamine N, N′-dihydroxypropylpropanediamine N, N′-dihydroxyisopropylpropanediamine N, N′-dihydroxybutylpropanediamine (4) R 1 , R 2 , R 3 and R 4 , one of which is a hydrogen atom:
N, N, N′-trihydroxymethylpropanediamine N, N, N′-trihydroxyethylpropanediamine N, N, N′-trihydroxypropylpropanediamine N, N, N′-trihydroxyisopropylpropanediamine N, N, N′-trihydroxybutylpropanediamine (5) Compound in which all of R 1 , R 2 , R 3 and R 4 are hydroxyalkyl groups:
N, N, N ′, N′-tetrahydroxymethylpropanediamine N, N, N ′, N′-tetrahydroxyethylpropanediamine N, N, N ′, N′-tetrahydroxypropylpropanediamine N, N, N ', N'-tetrahydroxyisopropylpropanediamine N, N, N', N'-tetrapolyhydroxypropylenepropanediamine represented by the following formula

Figure 2011042836
Figure 2011042836

上記したアルキレンジアミン化合物の内で、(1)R、R、R及びRが全て水素原子である化合物、(2)R、R、R及びRの内の3個が水素原子である化合物、又は(3)R、R、R及びRの内の2個が水素原子である化合物を用いる場合には、添加量が少なくても、導電性パターン部にのみ良好なめっき皮膜を形成できる特性、即ち、ファインパターン性が良好であるため好ましい。上記したアルキレンジアミン化合物の中でも、エチレンジアミン、N−ヒドロキシメチルエチレンジアミン、N−ヒドロキシエチルエチレンジアミン、N,N’−ジヒドロキシメチルエチレンジアミン、N,N’−ジヒドロキシエチルエチレンジアミン、プロパンジアミン、N−ヒドロキシメチルプロパンジアミン、N−ヒドロキシエチルプロパンジアミン、N,N’−ジヒドロキシメチルプロパンジアミン及びN,N’−ジヒドロキシエチルプロパンジアミンからなる群から選ばれた少なくとも一種の化合物であることがより好ましく、エチレンジアミン、N−ヒドロキシエチルエチレンジアミン、N,N’−ジヒドロキシエチルエチレンジアミン、プロパンジアミン及びN,N’−ジヒドロキシエチルプロパンジアミンからなる群から選ばれた少なくとも一種の化合物であることがさらに好ましい。 Among the above-mentioned alkylenediamine compounds, (1) R 1 , R 2 , R 3 and R 4 are all hydrogen atoms, (2) R 1 , R 2 , R 3 and R 4 Is a hydrogen atom, or (3) when two of R 1 , R 2 , R 3, and R 4 are hydrogen atoms, the conductive pattern portion can be added even if the addition amount is small. It is preferable because the characteristic that can form a good plating film only on the surface, that is, the fine pattern property is good. Among the above-described alkylenediamine compounds, ethylenediamine, N-hydroxymethylethylenediamine, N-hydroxyethylethylenediamine, N, N′-dihydroxymethylethylenediamine, N, N′-dihydroxyethylethylenediamine, propanediamine, N-hydroxymethylpropanediamine, More preferably, it is at least one compound selected from the group consisting of N-hydroxyethylpropanediamine, N, N′-dihydroxymethylpropanediamine and N, N′-dihydroxyethylpropanediamine, and ethylenediamine, N-hydroxyethyl. A small amount selected from the group consisting of ethylenediamine, N, N′-dihydroxyethylethylenediamine, propanediamine and N, N′-dihydroxyethylpropanediamine. It is further preferred Kutomo which is a kind of compound.

上記したアルキレンジアミン化合物は、一種単独又は二種以上混合して用いることができる。   The above-mentioned alkylene diamine compounds can be used singly or in combination of two or more.

本発明の触媒残渣除去剤は、通常、一般式(I)で表されるアルキレンジアミン化合物の濃度が1〜500g/L程度、好ましくは5〜300g/L程度、さらに好ましくは10〜150g/L程度の水溶液として使用される。   In the catalyst residue remover of the present invention, the concentration of the alkylenediamine compound represented by the general formula (I) is usually about 1 to 500 g / L, preferably about 5 to 300 g / L, more preferably 10 to 150 g / L. Used as an aqueous solution to the extent.

本発明の触媒残渣除去剤において、シアン化合物及びチオシアン酸塩からなる群から選ばれた少なくとも一種の化合物を添加する場合には、さらにファインパターン性が向上する。シアン化合物の具体例としては、シアン化カリウム、シアン化ナトリウム、シアン化アンモニウム、シアン化カルシウム等が挙げられる。チオシアン酸塩の具体例としては、チオシアン酸カリウム、チオシアン酸ナトリウム、チオシアン酸アンモニウム等が挙げられる。上記したシアン化合物及びチオシアン酸塩からなる群から選ばれた少なくとも一種の化合物の中でも、シアン化カリウム、シアン化ナトリウム、チオシアン酸カリウム及びチオシアン酸ナトリウムからなる群から選ばれた少なくとも一種の化合物であることが好ましく、シアン化ナトリウム及びチオシアン酸カリウムからなる群から選ばれた少なくとも一種の化合物であることがさらに好ましい。   In the catalyst residue removing agent of the present invention, when at least one compound selected from the group consisting of a cyanide compound and a thiocyanate is added, the fine pattern property is further improved. Specific examples of the cyan compound include potassium cyanide, sodium cyanide, ammonium cyanide, calcium cyanide and the like. Specific examples of thiocyanate include potassium thiocyanate, sodium thiocyanate, and ammonium thiocyanate. Among at least one compound selected from the group consisting of the cyan compound and thiocyanate described above, it should be at least one compound selected from the group consisting of potassium cyanide, sodium cyanide, potassium thiocyanate and sodium thiocyanate. Preferably, it is at least one compound selected from the group consisting of sodium cyanide and potassium thiocyanate.

上記したシアン化合物及びチオシアン酸塩からなる群から選ばれた少なくとも一種の化合物は、一種単独又は二種以上混合して用いることができる。   At least one compound selected from the group consisting of the cyan compound and thiocyanate described above can be used singly or in combination of two or more.

シアン化合物及びチオシアン酸塩からなる群から選ばれた少なくとも一種の化合物の配合量としては、0.001〜100g/L程度とすることが好ましく、0.005〜50g/Lとすることがより好ましく、1〜20g/Lとすることがさらに好ましい。   The blending amount of at least one compound selected from the group consisting of a cyanide compound and a thiocyanate is preferably about 0.001 to 100 g / L, more preferably 0.005 to 50 g / L. 1 to 20 g / L is more preferable.

また、本発明の触媒残渣除去剤には、界面活性剤を配合することができる。界面活性剤としてアニオン性、ノニオン性、カチオン性、両性等の各種界面活性剤を一種単独又は二種以上混合して用いることができる。   Moreover, surfactant can be mix | blended with the catalyst residue removal agent of this invention. As the surfactant, various surfactants such as anionic, nonionic, cationic, and amphoteric can be used singly or in combination of two or more.

アニオン性界面活性剤としては、例えば、ラウリン酸、ミリスチン酸、パルミチン酸、ステアリン酸、オレイン酸の炭素数12〜18のカルボン酸の塩(ナトリウム塩、カリウム塩等)、炭素数12〜18のN-アシルアミノ酸、N-アシルアミノ酸塩、ポリオキシエチレンアルキルエーテルカルボン酸塩、炭素数12〜18のアシル化ペプチド等のカルボン酸塩;アルキルスルホン酸塩、アルキルベンゼンスルホン酸塩、アルキルナフタレンスルホン酸塩、ナフタレンスルホン酸塩ホルマリン重縮合物、スルホコハク酸塩、α-オレフィンスルホン酸塩、N-アシルスルホン酸塩等のスルホン酸塩;硫酸化油、アルキル硫酸塩、アルキルエーテル硫酸塩、ポリオキシエチレン硫酸塩、ポリオキシエチレンアルキルアリルエーテル硫酸塩、アルキルアミド硫酸塩等の硫酸エステル塩;ポリオキシエチレンアルキルエーテルリン酸塩、ポリオキシエチレンアルキルフェニルエーテルリン酸塩、アルキルリン酸塩等のリン酸エステル塩等を用いることができる。   Examples of the anionic surfactant include lauric acid, myristic acid, palmitic acid, stearic acid, a carboxylic acid salt of 12 to 18 carbon atoms (sodium salt, potassium salt, etc.), 12 to 18 carbon atoms, and the like. N-acylamino acid, N-acylamino acid salt, polyoxyethylene alkyl ether carboxylate, carboxylate such as acylated peptide having 12 to 18 carbon atoms; alkylsulfonate, alkylbenzenesulfonate, alkylnaphthalenesulfonate Sulfonates such as naphthalene sulfonate formalin polycondensate, sulfosuccinate, α-olefin sulfonate, N-acyl sulfonate; sulfated oil, alkyl sulfate, alkyl ether sulfate, polyoxyethylene sulfate Salt, polyoxyethylene alkyl allyl ether sulfate, alkyl Sulfuric acid ester salts such as bromide sulfate; polyoxyethylene alkyl ether phosphates, polyoxyethylene alkyl phenyl ether phosphates, can be used phosphoric acid ester salts such as alkyl phosphates and the like.

ノニオン性界面活性剤としては、例えば、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンアルキルフェニルエーテル、アルキルアリルホルムアルデヒド縮合ポリオキシエチレンエーテル、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマー、ポリオキシエチレンポリオキシプロピルアルキルエーテル等のエーテル型界面活性剤;ポリオキシエチレングリセリン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビトール脂肪酸エステル、ポリオキシエチレン脂肪酸アルカノールアミド硫酸塩等のエーテルエステル型界面活性剤;ポリエチレングリコール脂肪酸エステル、エチレングリコール脂肪酸エステル、グリセリン脂肪酸エステル、ポリグリセリン脂肪酸エステル、ソルビタン脂肪酸エステル、プロピレングリコール脂肪酸エステル、ショ糖脂肪酸エステル等のエステル型界面活性剤;脂肪酸アルカノールアミド、ポリオキシエチレン脂肪酸アミド、ポリオキシエチレンアルキルアミン等の含窒素型界面活性剤などを用いることができる。   Nonionic surfactants include, for example, polyoxyethylene alkyl ether, polyoxyethylene alkylphenyl ether, alkylallyl formaldehyde condensed polyoxyethylene ether, polyoxyethylene polyoxypropylene block copolymer, polyoxyethylene polyoxypropyl alkyl ether, etc. Ether type surfactants; ether ester type surfactants such as polyoxyethylene glycerin fatty acid ester, polyoxyethylene sorbitan fatty acid ester, polyoxyethylene sorbitol fatty acid ester, polyoxyethylene fatty acid alkanolamide sulfate; polyethylene glycol fatty acid ester, Ethylene glycol fatty acid ester, glycerin fatty acid ester, polyglycerin fatty acid ester, sorbi Ester-type surfactants such as fatty acid esters, propylene glycol fatty acid esters, and sucrose fatty acid esters; nitrogen-containing surfactants such as fatty acid alkanolamides, polyoxyethylene fatty acid amides, and polyoxyethylene alkylamines can be used. .

カチオン性界面活性剤としては、例えば、塩化アルキルトリメチルアンモニウム、塩化ジアルキルジメチルアンモニウム、脂肪酸アミドアミン塩、エチル硫酸ラノリン脂肪酸アミノプロピルエチルジメチルアンモニウム、ジココイルエチルヒドロキシエチルアンモニウムサルフェート等を用いることができる。   As the cationic surfactant, for example, alkyltrimethylammonium chloride, dialkyldimethylammonium chloride, fatty acid amidoamine salt, ethyl lanolin sulfate fatty acid aminopropylethyldimethylammonium, dicocoylethylhydroxyethylammonium sulfate and the like can be used.

両性界面活性剤としては、例えば、アルキルベタイン型界面活性剤、アミドプロピルベタイン型界面活性剤、イミダゾリニウムベタイン型界面活性剤、スルホベタイン型界面活性剤、ホスホベタイン型界面活性剤等を用いることができる。   As amphoteric surfactants, for example, alkyl betaine type surfactants, amidopropyl betaine type surfactants, imidazolinium betaine type surfactants, sulfobetaine type surfactants, phosphobetaine type surfactants, etc. should be used. Can do.

界面活性剤が、アニオン性界面活性剤及びノニオン性界面活性剤からなる群から選ばれる少なくとも一種である場合、ニッケルめっき反応に対して速度低下等の悪影響が少なく好適である。   When the surfactant is at least one selected from the group consisting of an anionic surfactant and a nonionic surfactant, it is preferable because there is no adverse effect such as a decrease in speed on the nickel plating reaction.

界面活性剤の配合量としては、0.001〜50g/L程度とすることが好ましく、0.005〜20g/L程度とすることがより好ましい。   As a compounding quantity of surfactant, it is preferable to set it as about 0.001-50 g / L, and it is more preferable to set it as about 0.005-20 g / L.

本発明の触媒残渣除去剤のpHは特に限定的ではないが、通常、1〜13程度とすればよく、3〜11程度とすることが好ましい。pH調整には、硫酸、リン酸等の無機酸および水酸化ナトリウム、アンモニア水等を使用することができる。ただし、シアン化合物を配合する場合は、シアンガスを発生してしまうため、pHは5以上であることが望ましい。同様に、チオシアン酸塩を用いる場合にも、チオシアン酸の自己分解が生じてしまうため、pHは5以上であることが好ましい。ソルダーレジスト等の耐アルカリ性に弱い材料の場合、pHは11以下の弱アルカリ性が好ましい。pHが13以上の強アルカリ性である場合には、ソルダーレジストの密着性を損なう可能性が高い。
無電解めっき方法
本発明の無電解ニッケルめっき方法は、以下の(i)〜(iii)の工程:
(i) プリント配線板に対して無電解めっき用触媒を付与する工程、
(ii) (i)で得られたプリント配線板を、本発明の触媒残渣除去剤に接触させる工程、
(iii) (ii)で得られたプリント配線板に対して無電解ニッケルめっきを行う工程
を含む。
The pH of the catalyst residue remover of the present invention is not particularly limited, but is usually about 1 to 13, preferably about 3 to 11. For pH adjustment, inorganic acids such as sulfuric acid and phosphoric acid, sodium hydroxide, aqueous ammonia and the like can be used. However, when a cyan compound is blended, cyan gas is generated, so the pH is preferably 5 or more. Similarly, when thiocyanate is used, it is preferable that the pH is 5 or higher because thiocyanic acid is self-decomposed. In the case of a material weak in alkali resistance such as a solder resist, the pH is preferably 11 or less. When the pH is strong alkalinity of 13 or more, there is a high possibility that the adhesion of the solder resist is impaired.
Electroless Plating Method The electroless nickel plating method of the present invention includes the following steps (i) to (iii):
(I) a step of applying a catalyst for electroless plating to a printed wiring board;
(Ii) contacting the printed wiring board obtained in (i) with the catalyst residue remover of the present invention,
(Iii) including a step of performing electroless nickel plating on the printed wiring board obtained in (ii).

以下、本発明の無電解ニッケルめっき方法について具体的に説明する。   Hereinafter, the electroless nickel plating method of the present invention will be specifically described.

(i) 無電解めっき用触媒を付与する工程
(i)の工程では、プリント配線板に対して無電解めっき用触媒を付与する。
(I) In the step (i) of applying the electroless plating catalyst, the electroless plating catalyst is applied to the printed wiring board.

被めっき物であるプリント配線板としては、例えば、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂等の樹脂;ガラス;セラミックス等を基材として、該基材に銅、銀、タングステン、モリブデンなどによる導電性パターン部が形成されている基板等を使用することができる。   As a printed wiring board that is an object to be plated, for example, a resin such as epoxy resin or polyimide resin; glass; ceramics or the like as a base material, and a conductive pattern portion made of copper, silver, tungsten, molybdenum or the like is formed on the base material A substrate that has been used can be used.

無電解めっき用触媒の付与方法については、特に限定はなく、パラジウム、銀、白金、ルテニウム等の無電解めっき用触媒を公知の方法に従って付与すればよい。例えば、パラジウム触媒を付与する場合には、パラジウム化合物と特定のハロゲン化物、硫酸塩、塩酸、及び硫酸から選ばれた少なくとも一種の化合物とを組み合わせて配合した選択型無電解めっき用触媒液に接触させる方法;キャタリスト−アクセレーター法;センシタイザー−アクチベーティング法;アルカリキャタリスト法などの公知の方法を採用することができる。中でも、前記選択型無電解めっき用触媒液に接触させる方法は、プリント配線板の導電性パターン部のみをより選択的に触媒を付与できるため、好ましい。   The method for applying the electroless plating catalyst is not particularly limited, and a catalyst for electroless plating such as palladium, silver, platinum, and ruthenium may be applied according to a known method. For example, when a palladium catalyst is provided, it is in contact with a catalyst solution for selective electroless plating that is a combination of a palladium compound and at least one compound selected from a specific halide, sulfate, hydrochloric acid, and sulfuric acid. Methods known in the art such as a catalyst-accelerator method, a sensitizer-activator method, and an alkali catalyst method can be employed. Among them, the method of contacting the selective electroless plating catalyst solution is preferable because only the conductive pattern portion of the printed wiring board can be selectively applied with a catalyst.

(選択型無電解めっき用触媒液)
選択型無電解めっき用触媒液で用いるパラジウム化合物としては特に限定はなく、水溶性のパラジウム化合物の他、酸などに溶解することによって水溶液とし得るパラジウム化合物も用いることができる。本発明での使用に適するパラジウム化合物の具体例としては、(NH[PdCl]、(NH[PdCl]、[PdCl(NH]、[PdI(NH]、[Pd(NO(NH]、K[PdCl]、K[PdCl]、K[Pd(NO]、Na[PdCl]、Na[Pd(NO]、PdBr、PdCl、PdI、Pd(NO・2HO、PdO、PdSO、PdS、[Pd(NH]Cl、[Pd(NH](NO、Pd(C、Pd(NO、[Pd(NH](OH)等を挙げることができる。パラジウム化合物の添加量は、0.0001〜0.5モル/l程度、好ましくは0.0005〜0.1モル/l程度とすればよい。
(Selective electroless plating catalyst solution)
The palladium compound used in the selective electroless plating catalyst solution is not particularly limited, and besides the water-soluble palladium compound, a palladium compound that can be made into an aqueous solution by dissolving in an acid or the like can also be used. Specific examples of palladium compounds suitable for use in the present invention include (NH 4 ) 2 [PdCl 6 ], (NH 4 ) 2 [PdCl 4 ], [PdCl 2 (NH 3 ) 2 ], [PdI 2 (NH 3) 2], [Pd ( NO 2) 2 (NH 3) 2], K 2 [PdCl 6], K 2 [PdCl 4], K 2 [Pd (NO 2) 4], Na 2 [PdCl 4] , Na 2 [Pd (NO 2 ) 4 ], PdBr 2 , PdCl 2 , PdI 2 , Pd (NO 3 ) 2 .2H 2 O, PdO, PdSO 4 , PdS, [Pd (NH 3 ) 4 ] Cl 2 , [Pd (NH 3 ) 4 ] (NO 3 ) 2 , Pd (C 2 H 3 O 2 ) 2 , Pd (NO 3 ) 2 , [Pd (NH 3 ) 4 ] (OH) 2 . The addition amount of the palladium compound may be about 0.0001 to 0.5 mol / l, preferably about 0.0005 to 0.1 mol / l.

選択型無電解めっき用触媒液では、アルカリ金属のハロゲン化物、アルカリ金属の硫酸塩、アルカリ土類金属のハロゲン化物、アルカリ土類金属の硫酸塩、ハロゲン化アンモニウム、硫酸アンモニウム、塩酸及び硫酸から選ばれた少なくとも一種の化合物を、パラジウム化合物と組み合わせて用いる。   The selective electroless plating catalyst solution is selected from alkali metal halides, alkali metal sulfates, alkaline earth metal halides, alkaline earth metal sulfates, ammonium halides, ammonium sulfate, hydrochloric acid and sulfuric acid. At least one compound is used in combination with a palladium compound.

選択型無電解めっき用触媒液での使用に適するアルカリ金属としては、カリウム、ナトリウム等を例示でき、アルカリ土類金属としては、カルシウム、マグネシウム等を例示でき、ハロゲンとしては塩素、ヨウ素、臭素等を例示できる。パラジウム化合物と組み合わせて使用する化合物の好ましい具体例としては、塩化ナトリウム、塩化カリウム、塩化マグネシウム、塩化カルシウム、塩化アンモニウム、ヨウ化カリウム、臭化カリウム、硫酸カリウム、硫酸ナトリウム、硫酸アンモニウム、塩酸、硫酸等を例示できる。これらの化合物は、単独または適宜組み合わせて使用でき、その使用量は、0.1〜10モル/l程度、好ましくは0.5〜5モル/lとすればよい。   Examples of the alkali metal suitable for use in the catalyst solution for selective electroless plating include potassium and sodium, examples of the alkaline earth metal include calcium and magnesium, and examples of the halogen include chlorine, iodine and bromine. Can be illustrated. Preferred specific examples of the compound used in combination with the palladium compound include sodium chloride, potassium chloride, magnesium chloride, calcium chloride, ammonium chloride, potassium iodide, potassium bromide, potassium sulfate, sodium sulfate, ammonium sulfate, hydrochloric acid, sulfuric acid and the like. Can be illustrated. These compounds may be used alone or in appropriate combination, and the amount used may be about 0.1 to 10 mol / l, preferably 0.5 to 5 mol / l.

選択型無電解めっき用触媒液のpHは特に限定されるものではないが、pH調整を行う場合には、必要に応じて、HCl、HSO等の酸やNaOH等のアルカリ化合物を用いればよい。 The pH of the selective electroless plating catalyst solution is not particularly limited, but when pH adjustment is performed, an acid such as HCl or H 2 SO 4 or an alkali compound such as NaOH is used as necessary. That's fine.

選択型無電解めっき用触媒液中には、必要に応じて、キレート化合物を添加することができ、これにより、触媒液をより安定に保つことができる。キレート化合物の具体例としては、エチレンジアミン四酢酸(EDTA)、エチレンジアミン四酢酸二ナトリウム塩(EDTA・2Na)、ヒドロキシエチルエチレンジアミン三酢酸(HEDTA)、ジエチレントリアミン五酢酸(DTPA)、トリエチレンテトラミン六酢酸(TTHA)、エチレンジアミンテトラプロピオン酸、エチレンジアミンテトラメチレンホスホン酸、ジエチレントリアミンペンタメチレンホスホン酸、ニトリロ三酢酸(NTA)、イミノジ酢酸(IDA)、イミノジプロピオン酸 (IDP)、アミノトリメチレンホスホン酸、アミノトリメチレンホスホン酸五ナトリウム塩、メチルアミン、エチルアミン、プロピルアミン、ジメチルアミン、トリメチルアミン、ジメチルエチルアミン、ベンジルアミン、2−ナフチルアミン、イソブチルアミン、イソアミルアミン、メチレンジアミン、エチレンジアミン、テトラメチレンジアミン、ペンタメチレンジアミン、ヘキサメチレンジアミン、ジエチレントリアミン、テトラエチレンペンタミン、ペンタエチレンヘキサミン、ヘキサエチレンヘプタミン、シンナミルアミン、p−メトキシシンナミルアミン、アンモニア、1−ヒドロキシエチリデン−1、1−ジホスホン酸、1−ヒドロキシエチリデン−1、1−ジホスホン酸三ナトリウム塩、クエン酸、酒石酸、リンゴ酸、マロン酸、グリシン、アラニン、N−メチルグリシン、グリコシアミン、ジメチルグリシン、ヒダントイン酸、アミノ吉草酸、β−アラニン、バリン、ノルバリン、ロイシン、ノルロイシン、イソロイシン、セリン、システイン、アスパラギン、アスパラギン酸、グルタミン酸、オルニチン、リジン、アルギニン、グルタミン、ジアミノプロピオン酸、シトルリン、ヒドロキシ−L−リジン、ジアミノ酪酸、アミノアジピン酸、カナリン、キヌレニン、ジアミノピメリン酸、ホモシステイン、ヒスチジン、メチオニン、アスパルチル−ヒスチジン、アラニル−アラニン、アラニル−β−アラニン、β−アラニル−β−アラニン、グリシル−リジン、アラニル−オルニチン、リジル−リジン、オルニチル−オルニチン、グリシル−オルニチン、β−アラニル−リジル−リジン、オルニチル−リジル−リジン、グリシルーオルニチルーオルニチン、イミダゾリン、2,4,5−トリフェニル−2−イミダゾリン、2,2´−ビス(2−イミダゾリン)、ピリジン、モルホリン、ビピリジル、ピラゾール、トリアジン等を挙げることができる。   A chelate compound can be added to the selective electroless plating catalyst solution as necessary, and the catalyst solution can be kept more stable. Specific examples of chelate compounds include ethylenediaminetetraacetic acid (EDTA), ethylenediaminetetraacetic acid disodium salt (EDTA · 2Na), hydroxyethylethylenediaminetriacetic acid (HEDTA), diethylenetriaminepentaacetic acid (DTPA), and triethylenetetraminehexaacetic acid (TTHA). ), Ethylenediaminetetrapropionic acid, ethylenediaminetetramethylenephosphonic acid, diethylenetriaminepentamethylenephosphonic acid, nitrilotriacetic acid (NTA), iminodiacetic acid (IDA), iminodipropionic acid (IDP), aminotrimethylenephosphonic acid, aminotrimethylenephosphone Acid sodium salt, methylamine, ethylamine, propylamine, dimethylamine, trimethylamine, dimethylethylamine, benzylamine, 2-naphth Tylamine, isobutylamine, isoamylamine, methylenediamine, ethylenediamine, tetramethylenediamine, pentamethylenediamine, hexamethylenediamine, diethylenetriamine, tetraethylenepentamine, pentaethylenehexamine, hexaethyleneheptamine, cinnamylamine, p-methoxycinnami Ruamine, ammonia, 1-hydroxyethylidene-1, 1-diphosphonic acid, 1-hydroxyethylidene-1, 1-diphosphonic acid trisodium salt, citric acid, tartaric acid, malic acid, malonic acid, glycine, alanine, N-methylglycine , Glycosamine, dimethylglycine, hydantoic acid, aminovaleric acid, β-alanine, valine, norvaline, leucine, norleucine, isoleucine, serine, cysteine, aspa Gin, aspartic acid, glutamic acid, ornithine, lysine, arginine, glutamine, diaminopropionic acid, citrulline, hydroxy-L-lysine, diaminobutyric acid, aminoadipic acid, canalin, kynurenine, diaminopimelic acid, homocysteine, histidine, methionine, aspartyl- Histidine, alanyl-alanine, alanyl-β-alanine, β-alanyl-β-alanine, glycyl-lysine, alanyl-ornithine, lysyl-lysine, ornithyl-ornithine, glycyl-ornithine, β-alanyl-lysyl-lysine, ornithyl- Lysyl-lysine, glycyl-ornithyl-ornithine, imidazoline, 2,4,5-triphenyl-2-imidazoline, 2,2'-bis (2-imidazoline), pyridine, morpholine, bipyridy , Mention may be made of pyrazole, triazine and the like.

また、該触媒液中には、非イオン性、カチオン性、アニオン性、両性等の界面活性剤を添加することもできる。更に、チオ尿素類を添加して、パラジウムとの置換を促進させることもできる。チオ尿素類としては、チオ尿素、ジメチルチオ尿素、トリメチルチオ尿素、アリルチオ尿素、アセチルチオ尿素、エチレンチオ尿素、フェニルチオ尿素等を例示できる。また、pH緩衝剤として、塩酸−塩化カリウム、フタル酸水素カリウム−塩酸、フタル酸水素カリウム−水酸化ナトリウム、リン酸二水素カリウム−水酸化ナトリウム、ホウ酸−水酸化ナトリウム、炭酸水素ナトリウム−水酸化ナトリウム、リン酸水素ニナトリウム−水酸化ナトリウム、水酸化ナトリウム−塩化カリウム、トリス(ヒドロキシメチル)アミノメタン−塩酸、酢酸ナトリウム−酢酸等を添加することもできる。界面活性剤、チオ尿素類及びpH緩衝剤は、必要に応じて単独又は適宜混合して用いることができる。キレート化合物、界面活性剤、チオ尿素類及びpH緩衝剤は、いずれも本発明の触媒液において必須の成分ではないが、添加による効果を有効に発揮するためには、キレート化合物の添加量は、0.0001〜2モル/l程度とすることが好ましく、界面活性剤の添加量は、0.01〜10g/l程度とすることが好ましく、チオ尿素類の添加量は、0.01〜3モル/l程度とすることが好ましく、pH緩衝剤の添加量は、0.01〜1モル/l程度とすることが好ましい。   In addition, a surfactant such as nonionic, cationic, anionic, and amphoteric can be added to the catalyst solution. Furthermore, thioureas can be added to promote substitution with palladium. Examples of thioureas include thiourea, dimethylthiourea, trimethylthiourea, allylthiourea, acetylthiourea, ethylenethiourea, and phenylthiourea. Further, as pH buffering agents, hydrochloric acid-potassium chloride, potassium hydrogen phthalate-hydrochloric acid, potassium hydrogen phthalate-sodium hydroxide, potassium dihydrogen phosphate-sodium hydroxide, boric acid-sodium hydroxide, sodium hydrogen carbonate-water Sodium oxide, disodium hydrogen phosphate-sodium hydroxide, sodium hydroxide-potassium chloride, tris (hydroxymethyl) aminomethane-hydrochloric acid, sodium acetate-acetic acid and the like can also be added. Surfactants, thioureas, and pH buffering agents can be used alone or in combination as needed. Chelate compounds, surfactants, thioureas and pH buffering agents are not essential components in the catalyst solution of the present invention, but in order to effectively exert the effect of addition, the addition amount of the chelate compound is: The addition amount of the surfactant is preferably about 0.01 to 10 g / l, and the addition amount of the thioureas is about 0.01 to 3 mol / l. The amount is preferably about mol / l, and the addition amount of the pH buffer is preferably about 0.01 to 1 mol / l.

本発明の触媒液による処理法は、通常の触媒液による処理と同様でよく、液温10〜90℃程度、好ましくは25〜70℃程度の触媒液中に、被処理物を10秒〜10分程度浸漬すればよい。   The treatment method with the catalyst solution of the present invention may be the same as the treatment with the ordinary catalyst solution, and the treatment object is placed in the catalyst solution at a liquid temperature of about 10 to 90 ° C., preferably about 25 to 70 ° C. What is necessary is just to immerse for about minutes.

尚、プリント配線板の導電性パターン部に無電解めっき用触媒を付与する前に、プリント配線板に対して脱脂処理、酸洗、エッチング等の前処理を行うことができる。   In addition, before giving the electroless-plating catalyst to the electroconductive pattern part of a printed wiring board, pre-processing, such as a degreasing process, pickling, and etching, can be performed with respect to a printed wiring board.

(ii) 触媒残渣除去剤に接触させる工程
(ii)の工程では、(i)の工程で得られたプリント配線板を、本発明の触媒残渣除去剤に接触させる。
(Ii) In the step (ii) of contacting with the catalyst residue remover, the printed wiring board obtained in the step (i) is brought into contact with the catalyst residue remover of the present invention.

プリント配線板を触媒残渣除去剤に接触させる方法については、特に限定はなく、公知の方法に従って行えばよい。例えば、プリント配線板を触媒残渣除去剤中に浸漬させることによって、特に効率良く、基材上に残渣として存在する無電解めっき用触媒のみを選択的に除去することができる。上記した処理は、触媒残渣除去剤の攪拌又は未攪拌下で行うことができる。   The method for bringing the printed wiring board into contact with the catalyst residue remover is not particularly limited, and may be performed according to a known method. For example, by immersing the printed wiring board in the catalyst residue remover, it is possible to selectively remove only the electroless plating catalyst existing as a residue on the substrate, particularly efficiently. The treatment described above can be carried out with stirring or non-stirring of the catalyst residue remover.

プリント配線板を触媒残渣除去剤に浸漬させて接触させる場合、本発明の触媒残渣除去剤の温度は20℃〜90℃程度が好ましく、25〜70℃程度がより好ましい。処理時間は、10秒〜10分程度が好ましく、30秒〜5分程度がより好ましい。   When the printed wiring board is immersed in and brought into contact with the catalyst residue remover, the temperature of the catalyst residue remover of the present invention is preferably about 20 ° C to 90 ° C, more preferably about 25 to 70 ° C. The treatment time is preferably about 10 seconds to 10 minutes, more preferably about 30 seconds to 5 minutes.

(iii) 無電解ニッケルめっきを行う工程
(iii)の工程では、(ii)で得られたプリント配線板に対して無電解ニッケルめっきを行う。
(Iii) In the step (iii) of performing electroless nickel plating, electroless nickel plating is performed on the printed wiring board obtained in (ii).

無電解ニッケルめっき液としては、特に限定的ではなく、水溶性ニッケル化合物、還元剤、及び錯化剤を含有する水溶液からなる公知の無電解ニッケルめっき液を用いることができる。例えば、次亜リン酸塩を還元剤とする無電解ニッケル‐リン合金用めっき液、ホウ素化合物を還元剤とする無電解ニッケル‐ホウ素合金用めっき液のいずれにおいても使用することができる。尚、無電解ニッケルめっき液の濃度、温度等ついては、公知の条件に従って行えばよい。   The electroless nickel plating solution is not particularly limited, and a known electroless nickel plating solution comprising an aqueous solution containing a water-soluble nickel compound, a reducing agent, and a complexing agent can be used. For example, the electroless nickel-phosphorus alloy plating solution using hypophosphite as a reducing agent and the electroless nickel-boron alloy plating solution using boron compound as a reducing agent can be used. In addition, what is necessary is just to perform according to well-known conditions about the density | concentration, temperature, etc. of an electroless nickel plating solution.

形成されるニッケルめっき皮膜の膜厚については、通常、1〜10μm程度とすればよいが、導電性パターン部の間隔が狭い(例えば上記間隔が10μm程度である)場合は、1〜3μm程度が好ましい。   The thickness of the nickel plating film to be formed is usually about 1 to 10 μm. However, when the interval between the conductive pattern portions is narrow (for example, the interval is about 10 μm), the thickness is about 1 to 3 μm. preferable.

尚、(i)〜(iii)の各工程の間では、水洗処理を行うことができる。   In addition, a water washing process can be performed between each process of (i)-(iii).

本発明の触媒残渣除去剤は、プリント配線板の基材上に残渣として存在する無電解めっき用触媒のみを選択的に除去することができる。そのため、プリント配線板において、ファインパターン性に優れた無電解ニッケルめっき皮膜の形成を可能にする。   The catalyst residue remover of the present invention can selectively remove only the electroless plating catalyst present as a residue on the substrate of the printed wiring board. Therefore, it is possible to form an electroless nickel plating film excellent in fine pattern property on a printed wiring board.

以下、実施例を挙げて本発明を更に詳細に説明する。
実施例
被めっき物としては、大きさ5×5cmのエポキシ樹脂(厚さ1mm)上に線幅10μm、スリット幅10μm、長さ3cmの銅パターン(銅厚18μm)を40本と、線幅20μm、スリット幅20μmの銅パターン(銅厚18μm)を40本形成したものを用いた。
Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples.
Example As an object to be plated, 40 copper patterns (copper thickness 18 μm) having a line width of 10 μm, a slit width of 10 μm and a length of 3 cm on a 5 × 5 cm epoxy resin (thickness 1 mm) and a line width of 20 μm. A 40-thick copper pattern (copper thickness: 18 μm) having a slit width of 20 μm was used.

該被めっき物について、脱脂処理を行った後、過硫酸Na溶液で0.5μm程度のエッチングを行い、塩化パラジウム及び塩酸を含有する触媒付与液(ICPアクセラ、奥野製薬工業(株)製)200ml/Lを用いて、室温で1分間触媒付与を行った後、下記表1に記載された各処理液(実施例1〜実施例9)に2分間浸漬し、その後無電解ニッケル‐リン合金めっき(ICPニコロンGM:奥野製薬工業(株)社製)を3μm形成させた。なお、各工程間の水洗は流水で1分間行った。
比較例
尚、上記実施例において、被めっき物を処理液に浸漬せず、水洗のみ行った場合を比較例1とし、処理液として硫酸水素ナトリウム及び塩化ナトリウムを含む液を用いた場合を比較例2とした。上記比較例1及び比較例2についても併せて試験を行った。
The object to be plated is degreased and then etched to about 0.5 μm with a sodium persulfate solution to give a catalyst-providing solution containing ICP Axela (Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.) 200 ml. / L was used to apply the catalyst for 1 minute at room temperature, then immersed in each treatment solution (Example 1 to Example 9) described in Table 1 for 2 minutes, and then electroless nickel-phosphorus alloy plating (ICP Nicolon GM: manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.) was formed to 3 μm. In addition, the water washing between each process was performed for 1 minute with running water.
Comparative Example In the above embodiments, not immersed in the treatment liquid to be plated, washed with water and Comparative Example 1 The case of performing only compare the case of using a solution containing sodium hydrogen sulfate and sodium chloride as the processing liquid Example 2. The above Comparative Example 1 and Comparative Example 2 were also tested.


ファインパターン性の評価方法
めっき後の各試料について線幅10μmまたは20μmの配線パターン部を顕微鏡観察(1000倍)により銅パターン外へのめっき拡がりの有無を調べた。めっき拡がりが全くない場合を◎印、ごく僅かにめっき拡がりが認められた場合を○印、めっき拡がりが多数生じた場合を△印で示す。

Fine pattern property evaluation method Each plated sample was examined for the presence or absence of plating spreading outside the copper pattern by microscopic observation (1000 times) of a wiring pattern portion having a line width of 10 μm or 20 μm. A case where there is no plating spread is indicated by ◎, a case where a slight plating spread is observed is indicated by a circle, and a case where many plating spreads are generated is indicated by a mark.

また、合計80本の配線のうち未析出箇所の発生数についても評価した。   In addition, the number of undeposited portions in the total of 80 wires was also evaluated.

本発明の実施例及び比較例における評価結果を下記表1に示す。   The evaluation results in Examples and Comparative Examples of the present invention are shown in Table 1 below.

Figure 2011042836
Figure 2011042836

以上の結果から明らかなように、アルキレンジアミン化合物を添加剤として含む実施例1〜9の触媒残渣除去剤を用いて無電解ニッケルめっきを行った場合、ファインパターン性が特に良好であり、これらの内でシアン化合物及びチオシアン酸塩からなる群から選ばれた少なくとも一種の化合物と併用する場合にはファインパターン性はさらに良好であった。また、必要部への析出性についても、未析出の発生は認められず、良好な結果を示した。   As is clear from the above results, when electroless nickel plating was performed using the catalyst residue remover of Examples 1 to 9 containing an alkylenediamine compound as an additive, the fine pattern property was particularly good. Of these, the fine pattern property was even better when used in combination with at least one compound selected from the group consisting of cyanide and thiocyanate. In addition, as for the precipitation property to the necessary part, the occurrence of non-precipitation was not recognized, and a good result was shown.

Claims (5)

下記一般式(I)
Figure 2011042836
[式中、R、R、R及びRは、同一又は異なって、それぞれ、水素原子又は下記基:
Figure 2011042836
(式中、Rは、炭素数1〜5の直鎖状又は分岐鎖状のアルキレン基であり、mは1〜10の整数である)であり、nは2又は3である。]で表されるアルキレンジアミン化合物を含有することを特徴とするプリント配線板用触媒残渣除去剤。
The following general formula (I)
Figure 2011042836
[Wherein R 1 , R 2 , R 3 and R 4 are the same or different and each represents a hydrogen atom or the following group:
Figure 2011042836
(Wherein R 5 is a linear or branched alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, m is an integer of 1 to 10), and n is 2 or 3. ] The catalyst residue removal agent for printed wiring boards characterized by containing the alkylenediamine compound represented by these.
一般式(I)で表されるアルキレンジアミン化合物において、R、R、R及びRで表される基の少なくとも一個が水素原子である請求項1に記載のプリント配線板用触媒残渣除去剤。 2. The printed circuit board catalyst residue according to claim 1 , wherein in the alkylenediamine compound represented by the general formula (I), at least one of the groups represented by R 1 , R 2 , R 3 and R 4 is a hydrogen atom. Remover. 一般式(I)で表されるアルキレンジアミン化合物において、R、R、R及びRで表される基の内で、1〜3個が水素原子である請求項1又は2に記載のプリント配線板用触媒残渣除去剤。 In alkylenediamine compound represented by the general formula (I), R 1, R 2, among the groups represented by R 3 and R 4, according to claim 1 or 2 1-3 is a hydrogen atom Catalyst residue remover for printed wiring boards. さらに、シアン化合物及びチオシアン酸塩からなる群から選ばれた少なくとも一種の化合物を含む請求項1〜3のいずれかに記載のプリント配線板用触媒残渣除去剤。 Furthermore, the catalyst residue removal agent for printed wiring boards in any one of Claims 1-3 containing the at least 1 type of compound chosen from the group which consists of a cyanide compound and a thiocyanate. 以下の(i)〜(iii)の工程を含む、無電解ニッケルめっき方法:
(i) プリント配線板に対して無電解めっき用触媒を付与する工程、
(ii) (i)で得られたプリント配線板を、請求項1〜4のいずれかに記載の触媒残渣除去剤に接触させる工程、
(iii) (ii)で得られたプリント配線板に対して無電解ニッケルめっきを行う工程。
Electroless nickel plating method including the following steps (i) to (iii):
(I) a step of applying a catalyst for electroless plating to a printed wiring board;
(Ii) contacting the printed wiring board obtained in (i) with the catalyst residue remover according to any one of claims 1 to 4;
(Iii) A step of performing electroless nickel plating on the printed wiring board obtained in (ii).
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