JP2011028829A - Magnetic head suspension and manufacturing method - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a magnetic head suspension of which the problem in a mounting of the magnetic head is eliminated by reducing a height of a conductor connecting material protruding from a surface of the wiring layer, in a substrate for magnetic head suspension laminated on a metal support through an insulating layer, and to provide the manufacturing method thereof. <P>SOLUTION: In the substrate for magnetic head suspension, on which the wiring layers are laminated on the metal support through the insulating layer, the substrate for magnetic head suspension includes an opening penetrating the insulating layer and the wiring layer, and a surface of the metal support exposed by the opening and an internal surface of the opening of wiring layer are connected, and the substrate for suspension is used, in which the conductor connecting material having no connection is arranged on the layer surface of the wiring layer. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、ハードディスクドライブ(HDD)に用いられる磁気ヘッドサスペンション組立体の技術分野に属し、特に、磁気ヘッドと制御回路基板とを接続するための配線が一体的に形成されてなるサスペンション用基板、サスペンション、ヘッド付サスペンション、ハードディスクドライブ、及びサスペンション用基板の製造方法に関するものである。また、本発明は、ビア端子による素子への悪影響を防止できる回路基板に関する。   The present invention belongs to the technical field of a magnetic head suspension assembly used in a hard disk drive (HDD), and in particular, a suspension board in which wiring for connecting a magnetic head and a control circuit board is integrally formed, The present invention relates to a suspension, a suspension with a head, a hard disk drive, and a method for manufacturing a suspension substrate. The present invention also relates to a circuit board capable of preventing adverse effects on elements due to via terminals.

近年、インターネットの普及等によりパーソナルコンピュータの情報処理量の増大や情報処理速度の高速化が要求されてきており、それに伴って、パーソナルコンピュータに組み込まれているハードディスクドライブ(HDD)も大容量化や情報伝達速度の高速化が必要となってきている。そして、このHDDに用いられる磁気ヘッドを支持している磁気ヘッドサスペンションと呼ばれる部品も、従来の金ワイヤ等の信号線を接続するタイプから、ステンレスのばねに直接銅配線等の信号線が形成されている、いわゆるワイヤレスサスペンションと呼ばれる配線一体型のものに移行している。   In recent years, due to the spread of the Internet and the like, there has been a demand for an increase in the amount of information processing of personal computers and an increase in information processing speed, and along with this, the capacity of hard disk drives (HDD) incorporated in personal computers has increased. Increasing information transmission speed is required. In addition, a component called a magnetic head suspension that supports the magnetic head used in the HDD also has a signal line such as a copper wiring directly formed on a stainless steel spring from a conventional type in which a signal line such as a gold wire is connected. The so-called wireless suspension has been shifted to the integrated wiring type.

このような配線一体型サスペンションの製造方法の一つとして、〔特許文献1〕には、ステンレス(SUS)等のばね性金属層/絶縁層/導電層からなる積層板を用い、ばね性金属層と導電層に所定のパターンを施した後、絶縁層の一部をプラズマエッチングにより除去する方法が記載されている。これにより、ばね性を有する金属薄板上に磁気ヘッドと制御回路基板を接続するための複数本の配線が絶縁層を介して一体的に形成された磁気ヘッドサスペンションが得られる。   As one method for manufacturing such a wiring-integrated suspension, [Patent Document 1] uses a laminated plate made of a spring metal layer / insulating layer / conductive layer such as stainless steel (SUS), and uses a spring metal layer. And a method of removing a part of the insulating layer by plasma etching after applying a predetermined pattern to the conductive layer. As a result, a magnetic head suspension is obtained in which a plurality of wires for connecting the magnetic head and the control circuit board are integrally formed on the thin metal plate having spring properties via the insulating layer.

上記したように、磁気ヘッドサスペンションは、ばね性を有する金属薄板上に磁気ヘッドと制御回路基板とを接続するための複数本の配線が絶縁層を介して一体的に形成された構造をしている。そして、サスペンション(フレクシャ)の基材を構成する金属薄板は、使用時にばねとしての機能を発揮するように可撓性のあるSUS等の金属が用いられている。ところが、金属薄板はベースであると同時にばねとしての機能を発揮するものであるが、それ以外には特別な役目を果たしてはいない。したがって、金属薄板に磁気ヘッドサスペンションに何らかの付加的な機能を持たせることができれば好都合であり、しかもそれが簡単に出来るのであればなおさら好都合である。   As described above, the magnetic head suspension has a structure in which a plurality of wirings for connecting the magnetic head and the control circuit board are integrally formed through an insulating layer on a thin metal plate having a spring property. Yes. And the metal thin plate which comprises the base material of a suspension (flexure) uses metals, such as flexible SUS, so that the function as a spring may be exhibited at the time of use. However, the metal thin plate functions as a spring as well as a base, but does not play any special role other than that. Therefore, it is advantageous if the thin metal plate can have some additional function for the magnetic head suspension, and it is even more advantageous if this can be done easily.

上記を目的にして、〔特許文献2〕には、バネ性を有する金属薄板上に磁気ヘッドと制御回路基板とを接続するための複数本の配線が絶縁層を介して一体的に形成されてなる磁気ヘッドサスペンションにおいて、配線と同じ金属層からなる金属パッドを配線とは独立して形成し、その金属パッドの一部から絶縁層を貫通して金属薄板に至る開孔を設け、その開孔に金属メッキによる導通部分を設けることにより、金属パッドと金属薄板とを電気的に接続したことを特徴とする磁気ヘッドサスペンションが記載されている。
しかし、この方法では、金属パッドの開孔部に金属接続層を電解メッキする際に、金属支持体から金属導体層までメッキが成長した時点で、開孔部以外の露出している金属導体層表面からもメッキが成長するため、レジストを剥離すると金属導体層表面よりもメッキにより形成された金属接続層が突き出た形状となり、磁気ヘッドの実装において支障をきたすという問題があった。
For the above purpose, in [Patent Document 2], a plurality of wirings for connecting a magnetic head and a control circuit board are integrally formed on a thin metal plate having spring properties through an insulating layer. In the magnetic head suspension, a metal pad made of the same metal layer as the wiring is formed independently of the wiring, and an opening extending from a part of the metal pad through the insulating layer to the metal thin plate is provided. There is described a magnetic head suspension characterized in that a metal pad and a metal thin plate are electrically connected by providing a conductive portion by metal plating.
However, in this method, when the metal connection layer is electroplated on the opening portion of the metal pad, when the plating grows from the metal support to the metal conductor layer, the exposed metal conductor layer other than the opening portion is exposed. Since plating grows also from the surface, when the resist is peeled off, the metal connection layer formed by plating protrudes from the surface of the metal conductor layer, which causes a problem in mounting the magnetic head.

また、例えば、HDD(ハードディスクドライブ)に用いられる回路基板として、磁気ヘッドスライダ等の素子を実装するサスペンション用基板が知られている。サスペンション用基板は、通常、第一金属層(例えばSUS)、絶縁層(例えばポリイミド)、第二金属層(例えばCu)がこの順に積層された基本構造を有し、通常は、一方の先端に素子を実装するための素子実装領域を有し、他方の先端に他の回路基板との接続を行うための接続領域を有する。   For example, as a circuit board used for an HDD (Hard Disk Drive), a suspension board on which an element such as a magnetic head slider is mounted is known. The suspension substrate usually has a basic structure in which a first metal layer (for example, SUS), an insulating layer (for example, polyimide), and a second metal layer (for example, Cu) are laminated in this order. It has an element mounting area for mounting elements, and a connection area for connecting to another circuit board at the other end.

一方、静電気による素子の特性変化を抑制することや、電気信号のノイズを低減すること等を目的として、サスペンション用基板の素子実装領域の近傍に、第一金属層の一部を構成する第一金属部と、第二金属層の一部を構成する第二金属部とを電気的に接続するビア端子を設けることが知られている。例えば、特許文献2の図1においては、金属パッド6を素子の搭載部5の近傍に設け、金属パッド(第二金属部)6および金属薄板(第一金属部)1を、絶縁層2の開口8を介して、めっきからなるビア端子により電気的に接続した磁気ヘッドサスペンションが開示されている。   On the other hand, the first metal layer is partially formed in the vicinity of the element mounting region of the suspension board for the purpose of suppressing characteristic changes of the element due to static electricity and reducing electric signal noise. It is known to provide a via terminal that electrically connects a metal part and a second metal part constituting a part of the second metal layer. For example, in FIG. 1 of Patent Document 2, the metal pad 6 is provided in the vicinity of the element mounting portion 5, and the metal pad (second metal portion) 6 and the metal thin plate (first metal portion) 1 are formed on the insulating layer 2. A magnetic head suspension that is electrically connected via a via terminal made of plating through an opening 8 is disclosed.

特開平8−180353JP-A-8-180353 特開2006−202359JP 2006-202359 A

金属支持体上に絶縁層を介して積層された磁気ヘッドサスペンション用基板において、導体接続材が配線層の表面よりも突き出す高さを低減し、磁気ヘッド実装での問題を解消した磁気ヘッドサスペンションとその製造方法を提供することを主目的にする。   In the magnetic head suspension substrate laminated on the metal support via the insulating layer, the height of the conductor connecting material protruding beyond the surface of the wiring layer is reduced, and the magnetic head suspension has solved the problem in mounting the magnetic head. The main purpose is to provide the manufacturing method.

また、特許文献2のように、めっき法によりビア端子を形成すると、通常、ビア端子の頂部の位置が、第二金属部(またはカバー部)の頂部の位置よりも高くなり、ビア端子が突出した形状となる(後述する図14(b)、図22参照)。このような場合であっても、特許文献2のように、ビア端子が、素子実装領域内ではなく、素子と接触しない程度に離れた位置にある場合は、大きな問題は生じない。   In addition, when the via terminal is formed by plating as in Patent Document 2, the position of the top of the via terminal is usually higher than the position of the top of the second metal part (or cover part), and the via terminal protrudes. (See FIGS. 14B and 22 to be described later). Even in such a case, as in Patent Document 2, when the via terminal is not located in the element mounting region but at a position away from the element so as not to contact the element, a large problem does not occur.

これに対して、回路基板の高機能化を目的とした場合、デザイン上、ビア端子を、素子実装領域内に配置せざるを得ない場合がある。このような場合に、ビア端子が突出していると、回路基板に素子を実装した場合に、素子が傾き、素子と回路基板との接続が良好に行えないという問題がある。さらに、ビア端子と素子とが点接触しているため、点接触の箇所に応力集中が生じた場合に、素子にダメージが生じるという可能性もある。   On the other hand, when the purpose is to increase the functionality of the circuit board, via terminals may be inevitably arranged in the element mounting region in design. In such a case, if the via terminal protrudes, there is a problem that when the element is mounted on the circuit board, the element is inclined and the connection between the element and the circuit board cannot be performed satisfactorily. Further, since the via terminal and the element are in point contact, there is a possibility that the element may be damaged when stress concentration occurs at the point contact point.

本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、ビア端子による素子への悪影響を防止できる回路基板を提供することを主目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and a main object of the present invention is to provide a circuit board capable of preventing adverse effects on elements due to via terminals.

上記課題を解決するための本発明の要旨の第1は、金属支持体上に絶縁層を介して配線層が積層された磁気ヘッドサスペンション用基板において、該磁気ヘッドサスペンション用基板は上記絶縁層と配線層を貫通する開口を有し、該開口により露出する上記金属支持体の表面部と、上記配線層の上記開口内面部を接続し、上記配線層の層表面に接続部を持たない導体接続材を設けたことを特徴とするサスペンション用基板である。   A first aspect of the present invention for solving the above problems is a magnetic head suspension substrate in which a wiring layer is laminated on a metal support via an insulating layer, and the magnetic head suspension substrate includes the insulating layer and the insulating layer. Conductor connection having an opening penetrating the wiring layer, connecting the surface portion of the metal support exposed through the opening and the inner surface portion of the opening of the wiring layer, and having no connection portion on the surface of the wiring layer A suspension substrate, characterized in that a material is provided.

上記課題を解決するための本発明の要旨の第2は、金属支持体上に絶縁層を介して配線層が積層された磁気ヘッドサスペンション用基板において、該磁気ヘッドサスペンション用基板は上記絶縁層と配線層を貫通する開口を有し、該開口に接する配線層には他の配線層の表面より低く形成された開口周辺部を有し、上記開口により露出する上記金属支持体の表面部と、上記配線層を接続する導体接続材を設けたことを特徴とするサスペンション用基板である。   A second aspect of the present invention for solving the above problems is a magnetic head suspension substrate in which a wiring layer is laminated on a metal support via an insulating layer, and the magnetic head suspension substrate includes the insulating layer and the insulating layer. An opening penetrating the wiring layer, the wiring layer in contact with the opening has an opening peripheral portion formed lower than the surface of the other wiring layer, and the surface portion of the metal support exposed by the opening; A suspension substrate comprising a conductor connecting material for connecting the wiring layer.

上記課題を解決するための本発明の要旨の第3は、上記開口周辺部は、エッチングにより他の配線層の表面より低く形成されることを特徴とする要旨の第2に記載のサスペンション用基板である。   A third aspect of the present invention for solving the above problem is that the periphery of the opening is formed lower than the surface of another wiring layer by etching, and the suspension substrate according to the second aspect of the present invention It is.

上記課題を解決するための本発明の要旨の第4は、上記配線層が2層の導体層により構成され、上記絶縁層と配線層を貫通する開口の配線層の開口は、上記2層の導体層の下層の開口と、該下層の開口より大きい上層の開口により形成されることにより、上記開口周辺部が他の配線層の表面より低く形成されることを特徴とする要旨の第2に記載のサスペンション用基板である。   A fourth aspect of the present invention for solving the above problems is that the wiring layer is composed of two conductor layers, and the opening of the wiring layer that passes through the insulating layer and the wiring layer is formed of the two layers. A second feature of the invention is that the periphery of the opening is formed lower than the surface of the other wiring layer by forming the opening in the lower layer of the conductor layer and the opening in the upper layer larger than the opening in the lower layer. It is a board | substrate for suspension as described.

上記課題を解決するための本発明の要旨の第5は、上記導体接続材の高さは、上記配線層の層表面と同一もしくはそれ以下であることを特徴とする要旨の第1又は2に記載のサスペンション用基板である。   The fifth of the gist of the present invention for solving the above problems is that the height of the conductor connecting material is the same as or lower than the surface of the wiring layer. It is a board | substrate for suspension as described.

上記課題を解決するための本発明の要旨の第6は、上記導体接続材と上記配線層の接続は、配線層の層表面より低い部分のみで行われていることを特徴とする要旨の第1乃至5のいずれかに記載のサスペンション用基板である。   A sixth aspect of the present invention for solving the above problem is that the conductor connection material and the wiring layer are connected only at a portion lower than the surface of the wiring layer. The suspension substrate according to any one of 1 to 5.

上記課題を解決するための本発明の要旨の第7は、上記導体接続材が金属メッキにより形成されていることを特徴とする要旨の第1乃至6のいずれかに記載のサスペンション用基板である。   A seventh aspect of the present invention for solving the above problems is the suspension substrate according to any one of the first to sixth aspects, wherein the conductor connecting material is formed by metal plating. .

上記課題を解決するための本発明の要旨の第8は、上記金属メッキがニッケルメッキであることを特徴とする要旨の第7に記載のサスペンション用基板である。   An eighth aspect of the present invention for solving the above problem is the suspension substrate according to the seventh aspect, wherein the metal plating is nickel plating.

上記課題を解決するための本発明の要旨の第9は、上記導体接続材がグランド端子又は信号伝送端子であることを特徴とする要旨の第1乃至8のいずれかに記載のサスペンション基板である。   A ninth aspect of the present invention for solving the above problems is the suspension board according to any one of the first to eighth aspects, wherein the conductor connecting material is a ground terminal or a signal transmission terminal. .

上記課題を解決するための本発明の要旨の第10は、本発明の要旨の第1乃至9のいずれかに記載のサスペンション用基板を用いたことを特徴とするサスペンションである。   A tenth aspect of the present invention for solving the above problems is a suspension using the suspension substrate according to any one of the first to ninth aspects of the present invention.

上記課題を解決するための本発明の要旨の第11は、本発明の要旨の第10に記載のサスペンションと、該サスペンション上に搭載された磁気ヘッドスライダーを有することを特徴とするヘッド付サスペンションである。   An eleventh aspect of the present invention for solving the above-mentioned problems is a suspension with a head, characterized in that it has the suspension according to the tenth aspect of the present invention and a magnetic head slider mounted on the suspension. is there.

上記課題を解決するための本発明の要旨の第12は、本発明の要旨の第11に記載のヘッド付サスペンションを用いたことを特徴とするハードディスクドライブである。   A twelfth aspect of the present invention for solving the above problems is a hard disk drive using the suspension with a head described in the eleventh aspect of the present invention.

上記課題を解決するための本発明の要旨の第13は、
金属支持体上に絶縁層を介して配線層が積層された基材において、
該絶縁層と配線層を貫通する開口を形成し金属支持体表面を露出させる工程と、
上記配線層の層表面を露出させずに上記配線層の開口部を露出させるレジスト層を形成する工程と、
上記金属支持体から給電して金属メッキし、導体接続材を形成する工程と、
を有することを特徴とするサスペンション用基板の製造方法である。
The thirteenth aspect of the present invention for solving the above problems is
In the base material in which the wiring layer is laminated via the insulating layer on the metal support,
Forming an opening penetrating the insulating layer and the wiring layer to expose the surface of the metal support;
Forming a resist layer that exposes the opening of the wiring layer without exposing the layer surface of the wiring layer;
Power feeding from the metal support and metal plating to form a conductor connecting material;
A method for manufacturing a suspension substrate, comprising:

上記課題を解決するための本発明の要旨の第14は、
金属支持体上に絶縁層を介して配線層が積層され、該絶縁層と配線層を開口し金属支持体表面を露出するように開口部を形成した配線付き基材を準備する工程と、
上記配線層の上記開口部周辺の高さを他の配線層よりも低くなるように形成する工程と、
上記開口及び開口周辺部に金属メッキすることで、金属支持体層と配線層を接続する導体接続材を形成する工程と、
を有することを特徴とするサスペンション用基板の製造方法である。
The fourteenth aspect of the present invention for solving the above problem is
A step of preparing a substrate with wiring in which a wiring layer is laminated on a metal support through an insulating layer, the insulating layer and the wiring layer are opened, and an opening is formed so as to expose the surface of the metal support;
Forming the wiring layer so that the height around the opening is lower than the other wiring layers;
Forming a conductor connecting material for connecting the metal support layer and the wiring layer by metal plating on the opening and the periphery of the opening; and
A method for manufacturing a suspension substrate, comprising:

上記課題を解決するための本発明の要旨の第15は、
上記開口部周辺の配線層の高さを他の配線層よりも低く形成する工程は、
上記配線層の開口部及び上記開口部周辺を除いてドライフィルムレジストを形成し、エッチングすることにより形成することを特徴とする要旨の第14に記載のサスペンション用基板の製造方法である
The fifteenth aspect of the present invention for solving the above problems is
The step of forming the height of the wiring layer around the opening is lower than the other wiring layers,
15. The method for manufacturing a suspension substrate according to the fourteenth aspect, wherein a dry film resist is formed except for the opening of the wiring layer and the periphery of the opening and is etched.

上記課題を解決するための本発明の要旨の第16は、
上記導体接続材を形成する工程は、上記配線層の層表面を露出させずに上記配線層の開口部及び開口周辺部を露出させるレジスト層を形成するとともに、金属メッキを上記開口部及び配線層の開口周辺部まで形成することで、上記導体接続材の高さを配線層の高さと同一もしくはそれ以下になるように形成することを特徴とする要旨の第13乃至15のいずれかに記載のサスペンション用基板の製造方法である。
The sixteenth aspect of the present invention for solving the above problem is
The step of forming the conductor connecting material includes forming a resist layer that exposes the opening and peripheral portion of the wiring layer without exposing the layer surface of the wiring layer, and metal plating is performed on the opening and wiring layer. According to any one of the thirteenth to fifteenth aspects, the conductor connecting material is formed so as to have a height equal to or less than a height of the wiring layer. This is a method of manufacturing a suspension substrate.

上記要旨の第1乃至第6の発明によれば、導体接続材に突出部がないため磁気ヘッドスライダーを精度良く接続することができ、接続不良による歩留まりの低下を防ぐことができる。このため、磁気スライダー等、本発明のサスペンション用基板上に搭載される部品との接続を容易なものとすることができる。
また、上記導体接続材に突出部がないため、磁気ヘッドスライダーの金属支持体に対する平行性を保持し実装することができ、
本発明のサスペンション用基板をハードディスクドライブに用いた場合、データの読み取りおよび書き込みの精度が高いものとすることができる。
According to the first to sixth inventions of the above summary, since the conductor connecting material does not have a protruding portion, the magnetic head slider can be connected with high accuracy, and the yield can be prevented from being lowered due to poor connection. For this reason, connection with components mounted on the suspension substrate of the present invention, such as a magnetic slider, can be facilitated.
Moreover, since there is no protrusion in the conductor connecting material, it can be mounted while maintaining the parallelism to the metal support of the magnetic head slider,
When the suspension substrate of the present invention is used in a hard disk drive, the accuracy of data reading and writing can be increased.

上記要旨の第7の発明によれば、微細な開口内において金属支持体層と配線層を電気的に確実に接続することができ、要旨の第8の発明によれば、ニッケル(Ni)を用いるため、導電性に優れ、かつ安価であり、さらに耐腐食性に優れた材料特性を有する。   According to the seventh aspect of the present invention, the metal support layer and the wiring layer can be electrically and reliably connected in a fine opening. According to the eighth aspect of the present invention, nickel (Ni) is used. Because it is used, it has excellent electrical conductivity, is inexpensive, and has material properties with excellent corrosion resistance.

上記要旨の第9の発明によれば、上記導体接続材が磁気ヘッドスライダーに溜まる電荷を金属支持体に逃し静電気を除去する機能、信号用配線に含まれるノイズを抑制する機能、電気信号を伝送する機能を有するため、データの読み取りおよび書き込みの精度が高いものとすることができる。   According to the ninth aspect of the present invention, the conductor connecting material releases the charge accumulated in the magnetic head slider to the metal support to remove static electricity, suppresses noise contained in the signal wiring, and transmits an electric signal. Therefore, the accuracy of reading and writing data can be increased.

上記要旨の第10の発明によれば、上記サスペンション用基板を含むことを特徴とするサスペンションを提供する。本発明によれば、上記サスペンションをハードディスクドライブに用いた場合、データの読み取りおよび書き込みの精度が高いものとすることができる。   According to a tenth aspect of the present invention, there is provided a suspension including the suspension substrate. According to the present invention, when the suspension is used in a hard disk drive, the accuracy of data reading and writing can be increased.

上記要旨の第11の発明によれば、上記サスペンションと、上記サスペンション上に搭載された磁気ヘッドスライダーとを有することを特徴とするヘッド付サスペンションを提供する。本発明によれば、上記ヘッド付サスペンションをハードディスクドライブに用いた場合、データの読み取りおよび書き込みの精度が高いものとすることができる。   According to an eleventh aspect of the present invention, there is provided a suspension with a head comprising the suspension and a magnetic head slider mounted on the suspension. According to the present invention, when the suspension with a head is used in a hard disk drive, the accuracy of data reading and writing can be increased.

上記要旨の第12の発明によれば、上記ヘッド付サスペンションを含むことを特徴とするハードディスクドライブを提供する。本発明によれば、上記ヘッド付サスペンションを含むハードディスクドライブであるため、データの読み取りおよび書き込みの精度が高いものとすることができ、その結果、データ信頼性等に優れたものとすることができる。   According to a twelfth aspect of the present invention, there is provided a hard disk drive including the suspension with a head. According to the present invention, since it is a hard disk drive including the suspension with the head, it is possible to improve the accuracy of data reading and writing, and as a result, it is possible to achieve excellent data reliability and the like. .

上記要旨の第13乃至第16の発明によれば、要旨の第1乃至第9の発明の特徴を備えたサスペンション用基板を製造することができる。   According to the thirteenth to sixteenth aspects of the present invention, a suspension substrate having the characteristics of the first to ninth aspects of the present invention can be manufactured.

また、上記課題を解決するために、本発明においては、第一金属層、絶縁層および第二金属層がこの順に積層された基本構造を備え、上記第一金属層の一部を構成する第一金属部と、上記絶縁層の一部を構成し、上記第一金属部が露出するように形成された絶縁層開口部を有する絶縁部と、上記第二金属層の一部を構成し、上記絶縁層開口部から第一金属部が露出するように形成された第二金属層開口部を有する第二金属部と、上記絶縁層開口部および上記第二金属層開口部を介して、上記第一金属部および上記第二金属部を電気的に接続するめっきからなるビア端子とを有するビア部を備え、上記ビア端子が素子を実装するための素子実装領域内またはその近傍に形成された回路基板であって、上記第二金属部は上記第二金属層開口部の端部に沿って薄肉部を有し、上記薄肉部の頂部表面は上記ビア端子により覆われ、上記ビア端子が、上記ビア部(上記ビア端子を除く)から突出しない形状であることを特徴とする回路基板を提供する。   In order to solve the above problems, the present invention includes a basic structure in which a first metal layer, an insulating layer, and a second metal layer are stacked in this order, and constitutes a part of the first metal layer. Constituting one metal part, a part of the insulating layer, an insulating part having an insulating layer opening formed so as to expose the first metal part, and a part of the second metal layer; A second metal portion having a second metal layer opening formed so that the first metal portion is exposed from the insulating layer opening, and the insulating layer opening and the second metal layer opening, A via portion having a first metal portion and a via terminal made of plating for electrically connecting the second metal portion, and the via terminal is formed in or near an element mounting region for mounting an element. The circuit board, wherein the second metal part is an end of the second metal layer opening. And a top surface of the thin portion is covered with the via terminal, and the via terminal has a shape that does not protrude from the via portion (excluding the via terminal). Providing a substrate.

本発明によれば、ビア端子がビア部から突出しない形状であることから、回路基板に素子を実装した場合に、素子が傾くことを防止することができる。これにより、素子と回路基板との接続を良好に行うことができる。   According to the present invention, since the via terminal has a shape that does not protrude from the via portion, it is possible to prevent the element from being inclined when the element is mounted on the circuit board. Thereby, a connection with an element and a circuit board can be performed favorably.

上記発明においては、上記ビア部は、上記第二金属部上に、上記ビア端子が露出するように形成された開口部を有するカバー部を備えていることが好ましい。カバー部の厚さがビア部の厚さとして加わることで、ビア部から突出しない形状を有するビア端子を形成しやすくなるからである。   In the above invention, the via portion preferably includes a cover portion having an opening formed on the second metal portion so that the via terminal is exposed. This is because by adding the thickness of the cover portion as the thickness of the via portion, it becomes easy to form a via terminal having a shape that does not protrude from the via portion.

上記発明においては、上記カバー部の開口部の端部は、上記薄肉部により形成される外側端部よりも内側に位置していることが好ましい。これにより、カバー部に突起部が形成され、突起部によるめっき厚の制御ができるからである。   In the said invention, it is preferable that the edge part of the opening part of the said cover part is located inside the outer side edge part formed of the said thin part. Thereby, a protrusion is formed on the cover, and the plating thickness by the protrusion can be controlled.

また、本発明においては、上述した回路基板であることを特徴とするサスペンション用基板を提供する。   The present invention also provides a suspension substrate, which is the circuit substrate described above.

本発明によれば、上述した回路基板をサスペンション用基板として用いることで、素子を実装した場合に、素子の傾きを防止でき、素子とサスペンション用基板との接続を良好に行うことができる。   According to the present invention, when the above-described circuit board is used as a suspension substrate, when the element is mounted, the inclination of the element can be prevented and the connection between the element and the suspension substrate can be performed satisfactorily.

また、本発明においては、上述したサスペンション用基板を含むことを特徴とするサスペンションを提供する。   The present invention also provides a suspension including the above-described suspension substrate.

本発明によれば、上述したサスペンション用基板を用いることで、素子との接続性が良好なサスペンションとすることができる。   According to the present invention, by using the above-described suspension substrate, it is possible to obtain a suspension having good connectivity with the element.

また、本発明においては、上述したサスペンションと、上記サスペンションの素子実装領域に実装された素子と、を有することを特徴とする素子付サスペンションを提供する。   The present invention also provides an element-equipped suspension comprising the above-described suspension and an element mounted in an element mounting region of the suspension.

本発明によれば、上述したサスペンションを用いることで、素子とサスペンションとの接続性が良好な素子付サスペンションとすることができる。   According to the present invention, by using the above-described suspension, a suspension with an element having good connectivity between the element and the suspension can be obtained.

また、本発明においては、上述した素子付サスペンションを含むことを特徴とするハードディスクドライブを提供する。   The present invention also provides a hard disk drive including the above-described suspension with an element.

本発明によれば、上述した素子付サスペンションを用いることで、より高機能化されたハードディスクドライブとすることができる。   According to the present invention, a hard disk drive with higher functionality can be obtained by using the above-described suspension with an element.

また、本発明においては、第一金属層、絶縁層および第二金属層がこの順に積層された基本構造を備え、上記第一金属層の一部を構成する第一金属部と、上記絶縁層の一部を構成し、上記第一金属部が露出するように形成された絶縁層開口部を有する絶縁部と、上記第二金属層の一部を構成し、上記絶縁層開口部から第一金属部が露出するように形成された第二金属層開口部を有する第二金属部と、上記絶縁層開口部および上記第二金属層開口部を介して、上記第一金属部および上記第二金属部を電気的に接続するめっきからなるビア端子とを有するビア部を備え、上記ビア端子が素子を実装するための素子実装領域内またはその近傍に形成された回路基板の製造方法であって、上記第一金属部、上記絶縁部および上記第二金属部を有し、上記第二金属部には上記第二金属層開口部の端部に沿って薄肉部が形成され、上記第二金属部上に上記ビア部を形成する際のめっきをマスクするマスク部を有するビア設置部を備えた被めっき部材を形成する被めっき部材形成工程と、上記被めっき部材の第一金属部からの給電によってめっきを成長させることにより、上記ビア端子を形成するめっき工程と、を有し、上記めっき工程の際に、上記薄肉部の頂部表面を上記ビア端子により覆い、かつ、上記ビア端子を上記ビア部(上記ビア端子を除く)から突出しない形状とすることを特徴とする回路基板の製造方法を提供する。   Further, in the present invention, the first metal layer, the insulating layer, and the second metal layer have a basic structure in which the first metal layer, the second metal layer, and the insulating layer. An insulating part having an insulating layer opening formed so as to expose the first metal part, and a part of the second metal layer, the first part extending from the insulating layer opening. A second metal part having a second metal layer opening formed so as to expose the metal part; and the first metal part and the second metal through the insulating layer opening and the second metal layer opening. A circuit board manufacturing method comprising a via portion having a via terminal made of plating for electrically connecting a metal portion, wherein the via terminal is formed in or near an element mounting region for mounting an element. The first metal part, the insulating part and the second metal part, The second metal part has a thin part formed along the end of the second metal layer opening, and has a via part having a mask part that masks plating when the via part is formed on the second metal part. A plated member forming step for forming a plated member having a portion, and a plating step for forming the via terminal by growing plating by feeding from the first metal portion of the plated member. In the plating process, the top surface of the thin portion is covered with the via terminal, and the via terminal is shaped so as not to protrude from the via portion (excluding the via terminal). A manufacturing method is provided.

本発明によれば、薄肉部を有する被めっき部材を用いることにより、ビア部から突出しない形状のビア端子を容易に形成することができる。その結果、回路基板に素子を実装した場合に、素子が傾くことを防止することができ、素子と回路基板との接続を良好に行うことができる。   According to the present invention, by using the member to be plated having a thin portion, a via terminal having a shape that does not protrude from the via portion can be easily formed. As a result, when the element is mounted on the circuit board, the element can be prevented from being inclined, and the connection between the element and the circuit board can be performed satisfactorily.

上記発明においては、上記マスク部が、カバー部またはドライフィルムレジスト部であることが好ましい。従来の製造方法を大幅に変更することなく、所望の回路基板を得ることができるからである。   In the said invention, it is preferable that the said mask part is a cover part or a dry film resist part. This is because a desired circuit board can be obtained without significantly changing the conventional manufacturing method.

本発明では導体接続材形成の形状や製法を上記のように規定することで、導体接続材の高さが、配線層の表面に対して同一もしくはそれ以下の位置にある導体接続材を形成することができ、これにより磁気ヘッドスライダーを実装するエリアにおいて、導体接続材が磁気ヘッドスライダー実装の妨げにならないようにできる。このため、磁気ヘッドスライダーを任意の位置に配置することが可能となるなど、配線のデザイン自由度が高くなることで高密度実装が可能となり、装置の小型化や低コスト化、データ信頼性の向上などの利点が得られる。   In the present invention, by defining the shape and manufacturing method of the conductor connecting material as described above, the conductor connecting material is formed such that the height of the conductor connecting material is the same as or lower than the surface of the wiring layer. Thus, in the area where the magnetic head slider is mounted, the conductor connecting material can be prevented from hindering the mounting of the magnetic head slider. For this reason, the magnetic head slider can be placed at any position, and the high degree of freedom in wiring design enables high-density mounting, reducing the size and cost of the device, and improving data reliability. Benefits such as improvement are obtained.

また、本発明においては、ビア端子による素子への悪影響を防止できるという効果を奏する。   In addition, the present invention has an effect that the adverse effect on the element due to the via terminal can be prevented.

本発明の磁気ヘッドサスペンション用基板の第1態様の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of the 1st aspect of the board | substrate for magnetic head suspensions of this invention. 本発明の磁気ヘッドサスペンション用基板の第2態様の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of the 2nd aspect of the board | substrate for magnetic head suspensions of this invention. 本発明の磁気ヘッドサスペンション用基板の第2態様の開口部の例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the example of the opening part of the 2nd aspect of the board | substrate for magnetic head suspensions of this invention. 本発明の磁気ヘッドサスペンション用基板の第1形態の製造方法の一例を説明する工程図である。It is process drawing explaining an example of the manufacturing method of the 1st form of the board | substrate for magnetic head suspensions of this invention. 本発明の磁気ヘッドサスペンション用基板の第2形態の製造方法の一例を説明する工程図である。It is process drawing explaining an example of the manufacturing method of the 2nd form of the board | substrate for magnetic head suspensions of this invention. 本発明の磁気ヘッドサスペンション用基板の第1の実施例を説明する図である。It is a figure explaining the 1st Example of the board | substrate for magnetic head suspensions of this invention. 本発明の磁気ヘッドサスペンション用基板の第2の実施例を説明する図である。It is a figure explaining the 2nd Example of the board | substrate for magnetic head suspensions of this invention. 本発明のサスペンションの一例を示す概略図である。It is the schematic which shows an example of the suspension of this invention. 本発明のヘッド付サスペンションの一例を示す概略図である。It is the schematic which shows an example of the suspension with a head of this invention. 本発明のハードディスクドライブの内部構造の一例を示す概略図である。It is the schematic which shows an example of the internal structure of the hard-disk drive of this invention. 従来の磁気ヘッドサスペンション用基板の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of the board | substrate for the conventional magnetic head suspension. 本発明の回路基板の一例を示す概略平面図である。It is a schematic plan view which shows an example of the circuit board of this invention. 図12の素子実装領域201の近傍を示す拡大図である。FIG. 13 is an enlarged view showing the vicinity of an element mounting region 201 in FIG. 12. 本発明におけるビア部と、従来におけるビア部とを比較する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which compares the via part in this invention, and the conventional via part. 本発明の効果を説明する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing explaining the effect of this invention. 本発明における薄肉部を説明する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing explaining the thin part in this invention. 本発明におけるビア部を説明する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing explaining the via part in this invention. 本発明におけるビア部を説明する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing explaining the via part in this invention. 本発明の回路基板の製造方法の一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the manufacturing method of the circuit board of this invention. 本発明の回路基板の製造方法の他の例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the other example of the manufacturing method of the circuit board of this invention. 本発明におけるビア設置部を説明する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing explaining the via installation part in this invention. 従来における回路基板の製造方法の一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the manufacturing method of the circuit board in the past. 本発明における被めっき部材形成工程を説明する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing explaining the to-be-plated member formation process in this invention. 本発明における被めっき部材形成工程を説明する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing explaining the to-be-plated member formation process in this invention. 薄肉部を形成する前の被めっき部材を説明する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing explaining the to-be-plated member before forming a thin part. 薄肉部を有する被めっき部材を説明する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing explaining the to-be-plated member which has a thin part. 本発明におけるビア部を説明する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing explaining the via part in this invention. 実施例3で得られたビア部の断面写真である。6 is a cross-sectional photograph of a via portion obtained in Example 3.

本発明は、サスペンション用基板、これを用いたサスペンション、ヘッド付サスペンション、およびハードディスクドライブに関するものである。以下、これらについて詳細に説明する。さらに、本発明の回路基板、回路基板の製造方法、サスペンション用基板、サスペンション、素子付サスペンション、およびハードディスクドライブについても詳細に説明する。   The present invention relates to a suspension board, a suspension using the same, a suspension with a head, and a hard disk drive. Hereinafter, these will be described in detail. Further, the circuit board, circuit board manufacturing method, suspension board, suspension, suspension with element, and hard disk drive of the present invention will be described in detail.

A.サスペンション用基板
まず、本発明のサスペンション用基板について説明する。本発明のサスペンション用基板は、金属支持体上に絶縁層を介して配線層が積層されており、上記絶縁層と配線層を貫通する開口を有し、上記開口により露出する金属支持体の表面部と、上記配線層の上記開口内面部を接続し、上記配線層の層表面に接続部を持たない導体接続材を設けたことを特徴とする態様(第1態様)と、金属支持体上に絶縁層を介して配線層が積層されており、上記絶縁層と配線層を貫通する開口を有し、上記開口に接する配線層には他の配線層の表面より低く形成された開口周辺部を有し、上記開口により露出する上記金属支持体の表面部と、上記配線層を接続する導体接続材を設けたことを特徴とする態様(第2態様)に分けることができる。以下、本発明のサスペンション用基板を各態様に分けて説明する。
A. First, the suspension substrate of the present invention will be described. In the suspension substrate of the present invention, a wiring layer is laminated on a metal support through an insulating layer, and the surface of the metal support that has an opening penetrating the insulating layer and the wiring layer and is exposed through the opening. A conductor connecting material that connects the portion and the inner surface of the opening of the wiring layer and has no connection portion on the surface of the wiring layer, and a metal support. A wiring layer is laminated on the insulating layer, and has an opening penetrating the insulating layer and the wiring layer, and the wiring layer in contact with the opening is formed lower in the periphery of the opening than the surface of the other wiring layer And a conductor connecting material for connecting the surface portion of the metal support exposed through the opening and the wiring layer can be provided (second embodiment). Hereinafter, the suspension substrate of the present invention will be described in each embodiment.

1.第1態様
まず、本発明のサスペンション用基板の第1態様について説明する。本態様のサスペンション用基板は、金属支持体上に絶縁層を介して配線層が積層されており、上記絶縁層と配線層を貫通する開口を有し、上記開口により露出する金属支持体の表面部と、上記配線層の上記開口内面部を接続し、上記配線層の層表面に接続部を持たない導体接続材を設けたことを特徴とする態様である。
1. First Aspect First, a first aspect of the suspension substrate of the present invention will be described. In the suspension substrate of this aspect, a wiring layer is laminated on a metal support through an insulating layer, and the surface of the metal support that has an opening penetrating the insulating layer and the wiring layer is exposed through the opening. And a conductor connecting material that does not have a connecting portion is provided on the surface of the wiring layer.

このような本態様のサスペンション用基板を、図1を参照しながら説明する。図1は本態様のサスペンション用基板の一例を示す断面図である。本態様のサスペンション用基板は、金属支持体1と上記支持体1上に形成された絶縁層2と、上記絶縁層2を介して積層された配線層3と、上記金属支持体1と配線層3を接続する導体接続材4を有するものである。ここで、本態様のサスペンション用基板は、導体接続材4が開口部7により露出する金属支持体1の表面部62と上記配線層3の上記開口内面部61を接続し、上記配線層3の層表面5に接続部を持たないように形成されている。   Such a suspension substrate of this aspect will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of the suspension substrate of this embodiment. The suspension substrate according to this aspect includes a metal support 1, an insulating layer 2 formed on the support 1, a wiring layer 3 laminated via the insulating layer 2, and the metal support 1 and the wiring layer. 3 is provided with a conductor connecting material 4 for connecting 3. Here, the suspension substrate of this aspect connects the surface portion 62 of the metal support 1 where the conductor connecting material 4 is exposed through the opening 7 and the opening inner surface portion 61 of the wiring layer 3, so that the wiring layer 3 The layer surface 5 is formed so as not to have a connection portion.

上記導体接続材4の高さは、上記配線層3の層表面5と同一もしくはそれ以下であるように形成されている。ここで、同一もしくはそれ以下であるように形成されているとは、図1より上記配線層3の厚みをX3、上記絶縁層2の厚みをX2とし、金属支持体の表面部62から導体接続材4の接続材表面6までの導体接続材4の高さをYとすると、X2<Y≦X
2+X3の範囲を満たす高さで形成されていることを示している。なかでもX2+(X3)/2≦Y≦X2+X3の範囲を満たす高さで導体接続材4が形成されていることが好ましい。なぜなら、上記範囲の高さで、導体接続材4を形成すれば、より接続信頼性が向上するからである。
The height of the conductor connecting material 4 is formed to be the same as or less than the layer surface 5 of the wiring layer 3. Here, it is assumed that the wiring layers 3 are formed to be the same or smaller than that in FIG. 1, the thickness of the wiring layer 3 is X3, the thickness of the insulating layer 2 is X2, and the conductor connection is made from the surface portion 62 of the metal support. If the height of the conductor connecting material 4 up to the connecting material surface 6 of the material 4 is Y, X2 <Y ≦ X
It shows that it is formed at a height that satisfies the range of 2 + X3. Especially, it is preferable that the conductor connection material 4 is formed with the height which satisfy | fills the range of X2 + (X3) / 2 <= Y <= X2 + X3. This is because if the conductor connecting material 4 is formed within the above range, the connection reliability is further improved.

上記導体接続材4が上記の高さで形成されることにより、上記導体接続材4と上記配線層3との接続は、上記配線層3の層表面5には接続部を持たず、上記配線層3の層表面5より低い部分のみで行なわれている。   By forming the conductor connecting material 4 at the above height, the connection between the conductor connecting material 4 and the wiring layer 3 does not have a connecting portion on the layer surface 5 of the wiring layer 3, and the wiring It is carried out only in the part below the layer surface 5 of the layer 3.

従来のサスペンション用基板は、図11に例示する断面図のように、金属支持体1上に絶縁層72を介して配線層73が積層されており、上記絶縁層72と配線層73を貫通する開口77を有し、上記開口77により露出する金属支持体71の表面部762と、上記配線層73の上記開口内面部761を接続し、上記配線層73の層表面75にも導体接続材74が形成されている。このため、磁気ヘッドスライダー位置に導体接続材74が形成される場合に、導体接続材74の表面76が配線層73の層表面75よりも突き出た形状となり、磁気ヘッドスライダーの実装において支障をきたすという問題があった。   In the conventional suspension substrate, as shown in the cross-sectional view illustrated in FIG. 11, the wiring layer 73 is laminated on the metal support 1 via the insulating layer 72, and penetrates the insulating layer 72 and the wiring layer 73. The surface portion 762 of the metal support 71 having an opening 77 and exposed through the opening 77 is connected to the opening inner surface portion 761 of the wiring layer 73, and the conductor connecting material 74 is also applied to the layer surface 75 of the wiring layer 73. Is formed. For this reason, when the conductor connecting material 74 is formed at the magnetic head slider position, the surface 76 of the conductor connecting material 74 protrudes beyond the layer surface 75 of the wiring layer 73, which hinders the mounting of the magnetic head slider. There was a problem.

一方、本態様によれば、上記導体接続材4が上記配線層3の層表面5に接続部を持たないように形成されているため、導体接続材4が突き出た形状とならず、磁気ヘッドスライダーを精度良く実装でき、接続不良による歩留まりの低下を防ぐことができる。   On the other hand, according to this aspect, since the conductor connection material 4 is formed so as not to have a connection portion on the layer surface 5 of the wiring layer 3, the conductor connection material 4 does not have a protruding shape, and the magnetic head The slider can be mounted with high accuracy, and a decrease in yield due to poor connection can be prevented.

本態様のサスペンション用基板は、金属支持体、絶縁層、配線、および導体接続材を少なくとも有するものである。以下、本態様のサスペンション用基板の各構成について説明する。   The suspension substrate of this aspect has at least a metal support, an insulating layer, wiring, and a conductor connecting material. Hereinafter, each configuration of the suspension substrate according to this aspect will be described.

(1)配線
本態様に用いられる配線層は、絶縁層上に形成されるものである。本発明のサスペンション用基板をハードディスクドライブに用いた場合に、上記配線層は、スライダーを介してディスクに書き込まれるデータや、ディスクから読み出されたデータを、電気信号として伝送するための信号用配線層であり、磁気ヘッドスライダーに溜まる電荷を金属支持体に逃すほか、上記信号用配線に含まれるノイズを低減させるための接地用配線層である。
(1) Wiring The wiring layer used for this aspect is formed on an insulating layer. When the suspension board of the present invention is used in a hard disk drive, the wiring layer is a signal wiring for transmitting data written to the disk via a slider or data read from the disk as an electrical signal. This layer is a grounding wiring layer for releasing the charge accumulated in the magnetic head slider to the metal support and reducing noise contained in the signal wiring.

本発明に用いられる配線層の材料としては、例えば銅(Cu)などを挙げることができる。   Examples of the material for the wiring layer used in the present invention include copper (Cu).

本発明に用いられる配線層の厚みとしては、所望の導電性を発揮することができれば、特に限定されるものではないが、通常、4μm〜18μmの範囲内であることが好ましく、なかでも5μm〜14μmの範囲内であることが好ましい。上記範囲であることにより、本発明のサスペンション用基板に、スライダー等の部品を搭載する際に障害とならないものとすることができるからである。   The thickness of the wiring layer used in the present invention is not particularly limited as long as desired electrical conductivity can be exhibited, but it is usually preferably in the range of 4 μm to 18 μm, and more preferably 5 μm to It is preferable to be within the range of 14 μm. This is because, if it is within the above range, the suspension substrate of the present invention can be prevented from becoming an obstacle when components such as a slider are mounted.

本発明に用いられる配線層の線幅としては、所望の導電性を発揮することができるものであれば特に限定されるものではないが、10μm〜100μmの範囲内であることが好ましく、なかでも15μm〜50μmの範囲内であることが好ましい。上記範囲であることにより、上記配線層が、高密度化によりピッチが狭く形成される場合であっても、安定的に形成することができるからである。   The line width of the wiring layer used in the present invention is not particularly limited as long as it can exhibit desired conductivity, but is preferably in the range of 10 μm to 100 μm. It is preferably within the range of 15 μm to 50 μm. By being in the above range, the wiring layer can be stably formed even when the pitch is narrowed by increasing the density.

本発明に用いられる配線層のピッチ幅としては、最も狭い箇所において、30μm〜200μmの範囲内であることが好ましく、なかでも30μm〜100μmの範囲内であることが好ましい。   The pitch width of the wiring layer used in the present invention is preferably within a range of 30 μm to 200 μm at the narrowest portion, and more preferably within a range of 30 μm to 100 μm.

本発明に用いられる配線層は、通常、その表面にニッケル(Ni)や、金(Au)による保護めっき層が形成されていることが好ましい。配線層を腐食に強いものとすることができるからである。
また、上記保護めっき層の膜厚としては、耐食性を確保できれば限定されるものではないが、5μm以下であることが好ましく、なかでも1μm〜2μmの範囲内であることが好ましい。
また、上記配線層は、上記保護めっき層に比べ絶縁信頼性により優れたカバーレイにより部分的に被覆されるものとしても良い。
In general, the wiring layer used in the present invention preferably has a protective plating layer formed of nickel (Ni) or gold (Au) on the surface thereof. This is because the wiring layer can be made resistant to corrosion.
Further, the thickness of the protective plating layer is not limited as long as the corrosion resistance can be ensured, but is preferably 5 μm or less, and more preferably in the range of 1 μm to 2 μm.
Further, the wiring layer may be partially covered with a cover lay that is superior in insulation reliability as compared with the protective plating layer.

(2)導体接続材
本態様に用いられる導体接続材は、金属支持体の表面と上記配線層を接続するものである。上記導体接続材は、グランド端子であることのほか、信号伝送用端子であることを特徴とする。
(2) Conductor connection material The conductor connection material used for this aspect connects the surface of a metal support body and the said wiring layer. In addition to being a ground terminal, the conductor connecting material is a signal transmission terminal.

上記導体接続材が、上記接地用配線と接続する場合、グランド端子としての機能を有する。ここで、グランド端子の主たる機能は、上記サスペンション用基板の磁気ヘッドスライダー設置位置内に形成される場合には、磁気ヘッドスライダーに溜まる電荷を金属支持体に逃すための静電気除去機能であり、また、上記サスペンション用基板の先端部に形成される場合、および、サスペンション用基板の先端部以外の信号用配線間に形成され、磁気ヘッドスライダーと接続されない位置に形成される場合には、上記信号用配線に含まれるノイズを低減させるためのノイズ抑制機能である。   When the conductor connecting material is connected to the ground wiring, it has a function as a ground terminal. Here, when the main function of the ground terminal is formed in the magnetic head slider installation position of the suspension board, it is a static electricity removing function for letting the electric charge accumulated in the magnetic head slider escape to the metal support. In the case where it is formed at the tip of the suspension substrate and when it is formed between the signal wirings other than the tip of the suspension substrate and is not connected to the magnetic head slider, the signal This is a noise suppression function for reducing noise included in the wiring.

上記導体接続材が、上記信号用配線と接続する場合、信号伝送用端子としての機能を有する。信号伝送用端子の主たる機能は、磁気ヘッドスライダーを介してディスクに書き込まれるデータや、ディスクから読み出されたデータを電気信号として、金属支持体と信号用配線を接続し伝送する機能である。   When the conductor connecting material is connected to the signal wiring, it has a function as a signal transmission terminal. The main function of the signal transmission terminal is a function of connecting and transmitting the metal support and the signal wiring using the data written to the disk via the magnetic head slider or the data read from the disk as an electrical signal.

本発明に用いられる導体接続材を形成する導体接続材用金属は、導電性を有する金属であれば、特に限定されるものではないが、金属支持体との密着性に優れた金属であることが好ましい。具体的には、銀(Ag)、金(Au)、銅(Cu)、ニッケル(Ni)等を用いることができ、なかでも銅(Cu)、ニッケル(Ni)を好ましく用いることができ、特にニッケル(Ni)を好ましく用いることができる。導電性に優れ、かつ安価だからである。また、耐腐食性に優れた材料だからである。
なお、これらの材料は、XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy)により同定することができる。
これにより接続不良による歩留まりの低下を防ぐことができ、ハードディスクドライブ等に用いた場合には、上記スライダーを介したデータの読み取り等を安定的に行うことができるものとすることができる。
The metal for a conductor connection material forming the conductor connection material used in the present invention is not particularly limited as long as it is a metal having conductivity, but is a metal having excellent adhesion to a metal support. Is preferred. Specifically, silver (Ag), gold (Au), copper (Cu), nickel (Ni) and the like can be used, and among them, copper (Cu) and nickel (Ni) can be preferably used. Nickel (Ni) can be preferably used. This is because it is highly conductive and inexpensive. Moreover, it is because it is a material excellent in corrosion resistance.
These materials can be identified by XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy).
As a result, a decrease in yield due to poor connection can be prevented, and when used in a hard disk drive or the like, data can be read stably via the slider.

また、上記導体接続材用金属としてニッケルを用い、後述する製造方法に示すような電解めっき法により導体接続材を形成する場合、電解Niめっき液としては、所望の形状に導体接続材を形成することができるものであれば良いが、ワット浴、スルファミン酸浴等を用いることができる。また、めっき浴には、適宜、添加剤を入れることにより、光沢度や皮膜応力を調整することが可能である。   When nickel is used as the metal for the conductor connection material and the conductor connection material is formed by an electrolytic plating method as shown in the manufacturing method described later, the conductor connection material is formed in a desired shape as the electrolytic Ni plating solution. However, a Watt bath, a sulfamic acid bath, or the like can be used. Moreover, it is possible to adjust glossiness and film | membrane stress by adding an additive to a plating bath suitably.

(3)絶縁層
本発明に用いられる絶縁層は、金属支持体上に形成されるものである。
(3) Insulating layer The insulating layer used in the present invention is formed on a metal support.

上記絶縁層の材料としては、例えばポリイミド(PI)等を挙げることができる。   Examples of the material for the insulating layer include polyimide (PI).

上記絶縁層の厚みとしては、所望の絶縁性を発揮することができれば、特に限定されるものではないが、通常5μm〜30μm程度である。   The thickness of the insulating layer is not particularly limited as long as a desired insulating property can be exhibited, but is usually about 5 μm to 30 μm.

(4)金属支持体
本発明に用いられる金属支持体は、導電性を有し、さらにサスペンション用途に用いられるため、通常、適度なばね性を有するものである。
(4) Metal support The metal support used for this invention has electroconductivity, and since it is used for a suspension use, it usually has moderate springiness.

上記金属支持体の材料としては、例えば、SUS等を挙げることができる。   Examples of the material for the metal support include SUS.

本発明においては、上記金属支持体が、導体接続材が形成される表面側に、導電層を有していることが好ましい。導電層を設けることにより、導体接続材による導通がより効率的になるからである。上記導電層の材料としては、具体的には、銅(Cu)等を挙げることができる。上記導電層は、例えばめっき法等により形成することができる。   In this invention, it is preferable that the said metal support body has a conductive layer in the surface side in which a conductor connection material is formed. This is because by providing the conductive layer, conduction by the conductor connecting material becomes more efficient. Specific examples of the material for the conductive layer include copper (Cu). The conductive layer can be formed by, for example, a plating method.

上記金属支持体の厚さとしては、所望のばね特性を発揮することができるものであれば特に限定されるものではなく、金属支持体の材料等により異なるものであるが、通常、10μm〜30μmの範囲内であるが、なかでも15μm〜25μmの範囲内であることが好ましい。   The thickness of the metal support is not particularly limited as long as the desired spring characteristics can be exhibited, and varies depending on the material of the metal support, but usually 10 μm to 30 μm. However, it is preferable to be in the range of 15 μm to 25 μm.

次に、本態様のサスペンション用基板の製造方法の一例について図4を参照しながら説明する。上記サスペンション用基板の各構成を所望の位置に精度良く配置することができるものであれば、特に限定されるものではなく、例えば、図4(a)に示すように、金属支持体1と、上記金属支持体1上に形成され、絶縁層を構成する材料からなる絶縁層2および信号用配線および接地用配線を構成する材料からなる配線層3とを有する積層体を形成する。次いで、上記積層体にDFRなどのフォトレジスト8bを設け、所定の形状にパターニングする(図4(b))。その後、上記配線層3をエッチングによりパターニングし、上記フォトレジスト8bを剥離することにより、開口部7を有する接地用配線と信号用配線を形成する(図4(c))。その後、DFRなどのフォトレジスト8bを設け、所定の形状にパターニング(図4(d))し、次いで上記絶縁層2をエッチングによりパターニングし、上記フォトレジスト8bを剥離することにより、上記絶縁層2と上記配線層3を貫通する開口部7を有し、上記金属支持体1の表面部62が露出する絶縁層2を形成する(図4(e))。   Next, an example of a method for manufacturing the suspension substrate according to this aspect will be described with reference to FIG. It is not particularly limited as long as each configuration of the suspension substrate can be accurately arranged at a desired position. For example, as shown in FIG. A laminated body formed on the metal support 1 and having an insulating layer 2 made of a material constituting the insulating layer and a wiring layer 3 made of a material constituting the signal wiring and the ground wiring is formed. Next, a photoresist 8b such as DFR is provided on the laminate and patterned into a predetermined shape (FIG. 4B). Thereafter, the wiring layer 3 is patterned by etching, and the photoresist 8b is peeled off to form a ground wiring and a signal wiring having an opening 7 (FIG. 4C). Thereafter, a photoresist 8b such as DFR is provided and patterned into a predetermined shape (FIG. 4D), and then the insulating layer 2 is patterned by etching, and the photoresist 8b is peeled off, whereby the insulating layer 2 And an insulating layer 2 having an opening 7 penetrating the wiring layer 3 and exposing the surface portion 62 of the metal support 1 is formed (FIG. 4E).

続いて、DFRなどのフォトレジスト8bを設け、上記配線層3の層表面5を露出させずに、上記配線層の開口部7を露出させるようにパターニングする(図4(f))。次いで、上記金属支持体1を給電層として用いて、上記グランド端子もしくは信号伝送用端子として金属めっきにより配線層3の層表面5と同一もしくはそれ以下の高さで導体接続材4を形成する。次いで、上記フォトレジスト8bを剥離することにより、本態様のサスペンションを作製することができる(図4(g))。   Subsequently, a photoresist 8b such as DFR is provided and patterned so as to expose the opening 7 of the wiring layer without exposing the layer surface 5 of the wiring layer 3 (FIG. 4F). Next, using the metal support 1 as a power feeding layer, the conductor connection material 4 is formed at a height equal to or lower than the layer surface 5 of the wiring layer 3 by metal plating as the ground terminal or the signal transmission terminal. Next, by removing the photoresist 8b, the suspension of this embodiment can be manufactured (FIG. 4G).

2.第2態様
次に、本発明のサスペンション用基板の第2態様について説明する。本態様のサスペンション用基板は、金属支持体上に絶縁層を介して配線層が積層されており、上記絶縁層と配線層を貫通する開口を有し、上記開口に接する配線層には他の配線層の表面より低く形成された開口周辺部を有し、上記開口により露出する上記金属支持体の表面部と、上記配線層を接続する導体接続材を設けたことを特徴とする態様である。
2. Second Aspect Next, a second aspect of the suspension substrate of the present invention will be described. The suspension substrate of this aspect has a wiring layer laminated on a metal support through an insulating layer, and has an opening penetrating the insulating layer and the wiring layer. It is an aspect characterized by having a peripheral part of the opening formed lower than the surface of the wiring layer, and a conductor connecting material for connecting the surface part of the metal support exposed through the opening and the wiring layer. .

このような本態様のサスペンション用基板を、図2を参照しながら説明する。図2は本発明の磁気ヘッドサスペンション基板の導体接続材の一例を示す断面図である。金属支持体1と上記支持体1上に形成された絶縁層2と、上記絶縁層2を介して積層された配線層3と、上記金属支持体1と配線層3を接続する導体接続材4を有するものである。ここで、本態様のサスペンション用基板は、導体接続材4が開口部7に接する配線層3の層表面5より低い開口周辺部60と、開口部7により露出する金属支持体1の表面部62を接続し、上記配線層3の層表面5に接続部を持たないように形成されている。   Such a suspension substrate of this embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a cross-sectional view showing an example of the conductor connecting material of the magnetic head suspension board of the present invention. A metal support 1, an insulating layer 2 formed on the support 1, a wiring layer 3 laminated via the insulating layer 2, and a conductor connecting material 4 connecting the metal support 1 and the wiring layer 3. It is what has. Here, the suspension substrate of this aspect includes an opening peripheral portion 60 lower than the layer surface 5 of the wiring layer 3 where the conductor connecting material 4 is in contact with the opening 7, and a surface portion 62 of the metal support 1 exposed by the opening 7. Are formed so as not to have a connecting portion on the layer surface 5 of the wiring layer 3.

ここで、本態様のサスペンション基板は、上記開口周辺部60が、エッチングにより配線層3の表面5より低く形成されていることを特徴とする。ここで、上記配線層3の厚みをX3とし、配線層の層表面5とエッチングにより形成された開口周辺部60の中で最も低い位置にある開口周辺底部63までの深さをZとすると、0<Z<X3の範囲を満たす深さで配線層3の層表面5より低い開口周辺部60が形成されていることが好ましい。なかでも(X3)/6≦Z≦5(X3)/6の範囲を満たす深さで形成されていることが好ましい。なぜなら、上記範囲の深さで、配線層表面5より低い開口周辺部60を形成すれば、導体接続材4が配線層3の内面部61に接続する面積が大きくなり、接続信頼性が向上するからである。   Here, the suspension board of this aspect is characterized in that the opening peripheral portion 60 is formed lower than the surface 5 of the wiring layer 3 by etching. Here, when the thickness of the wiring layer 3 is X3 and the depth to the opening peripheral bottom 63 at the lowest position among the opening peripheral portion 60 formed by etching and the layer surface 5 of the wiring layer is Z, It is preferable that the opening peripheral portion 60 lower than the layer surface 5 of the wiring layer 3 is formed at a depth satisfying the range of 0 <Z <X3. In particular, it is preferable to be formed with a depth satisfying the range of (X3) / 6 ≦ Z ≦ 5 (X3) / 6. This is because if the opening peripheral portion 60 lower than the wiring layer surface 5 is formed at a depth in the above range, the area where the conductor connecting material 4 is connected to the inner surface portion 61 of the wiring layer 3 is increased, and the connection reliability is improved. Because.

また、図3は、エッチングにより開口周辺部が他の配線層の表面より低く形成されている上記図2以外の例として説明する断面図であり、第2の態様は本形態であっても良い。図3(a)は配線層3が金属3aと金属3bの2層で構成され、上層の金属3bの開口7周囲に配線層の層表面より低い開口周辺部60が形成されている。図3(b)は配線層3が金属3aと金属3bの2層で構成され、上層の金属3bの開口径が下層の金属3aの開口径より大きく設定され、この開口径の差により開口7周囲に配線層の層表面より低い開口周辺部60が形成されている。図3(c)は配線層3の開口部7周囲がテーパー形状の例、図3(d)は配線層3の開口部7周囲が深さの異なる段差のある凹部が形成されている例を示す。上記の何れの開口部の例も、レジストパターン形成とエッチング加工やメッキ加工の組み合わせで形状を形成することができる。   FIG. 3 is a cross-sectional view described as an example other than FIG. 2 in which the peripheral portion of the opening is formed lower than the surface of the other wiring layer by etching, and the second mode may be this embodiment. . In FIG. 3A, the wiring layer 3 is composed of two layers of metal 3a and metal 3b, and an opening peripheral portion 60 lower than the surface of the wiring layer is formed around the opening 7 of the upper metal 3b. In FIG. 3B, the wiring layer 3 is composed of two layers of the metal 3a and the metal 3b, and the opening diameter of the upper metal 3b is set larger than the opening diameter of the lower metal 3a. An opening peripheral portion 60 lower than the surface of the wiring layer is formed around the periphery. FIG. 3C shows an example in which the periphery of the opening 7 of the wiring layer 3 is tapered, and FIG. 3D shows an example in which the periphery of the opening 7 of the wiring layer 3 is formed with concave portions having different steps. Show. Any of the above examples of openings can be formed in a combination of resist pattern formation and etching or plating.

上記導体接続材4の高さは、上記配線層3の層表面5と同一もしくはそれ以下であるように形成されている。ここで、同一もしくはそれ以下であるように形成されているとは、図2より上記配線層3の厚みをX3、上記絶縁層2の厚みをX2とし、金属支持体の表面部62から導体接続材4の接続材表面6までの導体接続材4の高さをYとすると、X2<Y≦X2+X3の範囲を満たす高さで形成されていることを示している。なかでもX2+(X3)/2≦Y≦X2+X3の範囲を満たす高さで導体接続材4が形成されていることが好ましい。なぜなら、上記範囲の高さで、導体接続材4を形成すれば、より接続信頼性が向上するからである。   The height of the conductor connecting material 4 is formed to be the same as or less than the layer surface 5 of the wiring layer 3. Here, it is formed so as to be the same or less than that, from FIG. 2, the thickness of the wiring layer 3 is X3, the thickness of the insulating layer 2 is X2, and the conductor connection is made from the surface portion 62 of the metal support. If the height of the conductor connecting material 4 up to the connecting material surface 6 of the material 4 is Y, it indicates that the conductor connecting material 4 is formed at a height that satisfies the range of X2 <Y ≦ X2 + X3. Especially, it is preferable that the conductor connection material 4 is formed with the height which satisfy | fills the range of X2 + (X3) / 2 <= Y <= X2 + X3. This is because if the conductor connecting material 4 is formed within the above range, the connection reliability is further improved.

上記導体接続材4が上記の高さで形成されることにより、上記導体接続材4と上記配線層3との接続は、配線層3の層表面5には接続部を持たず、配線層3の層表面5より低い部分のみで行なわれている。   By forming the conductor connecting material 4 at the above height, the connection between the conductor connecting material 4 and the wiring layer 3 does not have a connection portion on the layer surface 5 of the wiring layer 3, and the wiring layer 3. This is performed only in a portion lower than the surface 5 of the layer.

従来のサスペンション用基板は、上記「1.第1態様」の項に記載したように、磁気ヘッドスライダー位置に導体接続材が形成される場合に、導体接続材が配線層表面よりも突き出た形状となり、磁気ヘッドスライダーの実装において支障をきたすという問題があった。   The conventional suspension substrate has a shape in which the conductor connecting material protrudes from the surface of the wiring layer when the conductor connecting material is formed at the magnetic head slider position, as described in the section “1. First aspect” above. Thus, there is a problem that the mounting of the magnetic head slider is hindered.

本態様においても、上記「1.第1態様」の項に記載したように、上記導体接続材が上記配線層の層表面に接続部を持たないように形成されているため、導体層が突き出た形状とならず、磁気ヘッドスライダーを精度良く実装でき、接続不良による歩留まりの低下を防ぐことができる。   Also in this aspect, as described in the above section “1. First aspect”, the conductor connection material is formed so as not to have a connection portion on the surface of the wiring layer, so that the conductor layer protrudes. Therefore, the magnetic head slider can be mounted with high accuracy and the yield can be prevented from being lowered due to poor connection.

本態様のサスペンション基板は、金属基板、絶縁層、配線、および導体接続材を少なくとも有するものであり、上記「1.第1態様」の項に記載したものと同様の内容であるので、ここでの記載は省略する。   The suspension board of this aspect has at least a metal substrate, an insulating layer, a wiring, and a conductor connecting material, and has the same contents as those described in the section “1. First aspect”. Is omitted.

次に、本態様のサスペンション基板の製造方法の一例について図5を参照しながら説明する。上記サスペンション用基板の各構成を所望の位置に精度良く配置することができるものであれば、特に限定されるものではなく、例えば、図5(a)に示すように、金属支持体1と、上記金属支持体1上に形成され、絶縁層を構成する材料からなる絶縁層2および信号用配線および接地用配線を構成する材料からなる配線層3とを有する積層体を形成する。次いで、上記積層体にDFRなどのフォトレジスト8bを設け、所定の形状にパターニングする(図5(b))。その後、上記配線層3をエッチングによりパターニングし、上記フォトレジスト8bを剥離することにより、開口部7を有する接地用配線と信号用配線を形成する(図5(c))。   Next, an example of a manufacturing method of the suspension board of this aspect will be described with reference to FIG. It is not particularly limited as long as each configuration of the suspension substrate can be accurately arranged at a desired position. For example, as shown in FIG. A laminated body formed on the metal support 1 and having an insulating layer 2 made of a material constituting the insulating layer and a wiring layer 3 made of a material constituting the signal wiring and the ground wiring is formed. Next, a photoresist 8b such as DFR is provided on the laminate and patterned into a predetermined shape (FIG. 5B). Thereafter, the wiring layer 3 is patterned by etching, and the photoresist 8b is peeled off to form a ground wiring and a signal wiring having an opening 7 (FIG. 5C).

その後、DFRなどのフォトレジスト8bを設け、上記配線層の開口7および上記開口部周辺60を除くようにパターニング(図5(d))する。次いで、化学エッチングや電解エッチング処理、もしくは電解エッチング処理にともなって発生するバイポーラ現象により、配線層の開口周辺部60の高さを配線層3よりも低くなるように形成する(図5(e))。次いで、上記絶縁層2をエッチングによりパターニングし、上記フォトレジスト8bを剥離することにより、上記開口部7において、上記絶縁層2と上記配線層3を貫通する開口部7を有し、上記金属支持体1の表面部62が露出する絶縁層2を形成する(図5(f))。   Thereafter, a photoresist 8b such as DFR is provided and patterned so as to remove the opening 7 of the wiring layer and the periphery of the opening 60 (FIG. 5D). Next, the opening peripheral portion 60 of the wiring layer is formed so as to be lower than the wiring layer 3 by a bipolar phenomenon that occurs during chemical etching, electrolytic etching, or electrolytic etching (FIG. 5E). ). Next, the insulating layer 2 is patterned by etching, and the photoresist 8b is peeled off so that the opening 7 has an opening 7 penetrating the insulating layer 2 and the wiring layer 3, and the metal support The insulating layer 2 from which the surface portion 62 of the body 1 is exposed is formed (FIG. 5F).

続いて、DFRなどのフォトレジスト8bを設け、上記配線層3の層表面5を露出させずに上記配線層3の開口部7および開口周辺部60を露出させるようにパターニング(図5(g))し、次いで、上記金属支持体1を給電層として用いて、上記グランド端子もしくは信号伝送用端子として金属めっきにより上記開口部7および配線層3の開口周辺部60まで形成することで、配線層3の層表面5と同一もしくはそれ以下の高さで導体接続材4を形成する。次いで、上記フォトレジスト8bを剥離することにより、本態様のサスペンションを作製することができる(図5(h))。   Subsequently, a photoresist 8b such as DFR is provided and patterned so as to expose the opening 7 and the opening peripheral portion 60 of the wiring layer 3 without exposing the layer surface 5 of the wiring layer 3 (FIG. 5G). Then, using the metal support 1 as a power feeding layer, the opening 7 and the opening peripheral portion 60 of the wiring layer 3 are formed by metal plating as the ground terminal or the signal transmission terminal, thereby forming a wiring layer. The conductor connection material 4 is formed at a height equal to or less than the layer surface 5 of 3. Next, by removing the photoresist 8b, the suspension of this embodiment can be manufactured (FIG. 5 (h)).

B.サスペンション
次に、本発明のサスペンションについて説明する。本発明のサスペンションは、上記サスペンション用基板を含むことを特徴とするものである。
B. Suspension Next, the suspension of the present invention will be described. The suspension of the present invention includes the above-described suspension substrate.

このような本発明のサスペンションを図を参照して説明する。図8は、本発明のサスペンションの一例を示す概略図である。図8に例示するように、本発明のサスペンション30は、上記サスペンション用基板10と、ロードビーム31とを有するものであり、ロードビーム31は上記サスペンション基板10のうち磁気ヘッドスライダーが設置されるスライダー設置位置20が形成されていない側の表面に接着されている。
ここで、上記サスペンション用基板は、上記「A.サスペンション用基板」の項に記載のサスペンション用基板である。
Such a suspension of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 8 is a schematic view showing an example of the suspension of the present invention. As illustrated in FIG. 8, the suspension 30 of the present invention includes the suspension substrate 10 and a load beam 31, and the load beam 31 is a slider on the suspension substrate 10 on which a magnetic head slider is installed. It is adhered to the surface on the side where the installation position 20 is not formed.
Here, the suspension substrate is the suspension substrate described in the section “A. Suspension substrate”.

本発明によれば、上記サスペンション用基板を含むものであるため、ハードディスクドライブに用いた場合、データの読み取りおよび書き込みの精度が高いものとすることができる。   According to the present invention, since the suspension substrate is included, when used in a hard disk drive, the accuracy of data reading and writing can be increased.

本発明のサスペンションは、上記サスペンション用基板を少なくとも有するものである。このようなサスペンション用基板としては、上記「A.サスペンション用基板」の項に記載の内容と同様であるため、ここでの説明は省略する。   The suspension of the present invention has at least the suspension substrate. Such a suspension substrate is the same as the content described in the above section “A. Suspension substrate”, and thus the description thereof is omitted here.

本発明のサスペンションは、上記サスペンション用基板を少なくとも有するものであるが、通常、ロードビームを有するものである。このようなロードビームとしては、本発明のサスペンションをハードディスクドライブに用いた際に、上記サスペンションに所望の剛性を付与することができるものであれば良く、ハードディスクドライブに一般的に使用されるものを用いることができる。   The suspension of the present invention has at least the suspension substrate, but usually has a load beam. As such a load beam, any material can be used as long as it can give a desired rigidity to the suspension when the suspension of the present invention is used in the hard disk drive. Can be used.

本発明のサスペンションの用途としては、ハードディスクドライブのヘッド付サスペンションを挙げることができ、なかでも、データの読み取りおよび書き込みの精度が高いことを要求されるヘッド付サスペンションに好適に用いられる。   As an application of the suspension of the present invention, a suspension with a head of a hard disk drive can be mentioned, and among these, it is preferably used for a suspension with a head that requires high data reading and writing accuracy.

C.ヘッド付サスペンション
次に、本発明のヘッド付サスペンションについて説明する。本発明のヘッド付サスペンションは、上記サスペンションと、上記サスペンション上に搭載された磁気ヘッドスライダーとを有することを特徴とするものである。
C. Next, the suspension with a head according to the present invention will be described. A suspension with a head according to the present invention includes the suspension and a magnetic head slider mounted on the suspension.

このような本発明のヘッド付サスペンションを図を参照して説明する。図9は、本発明のヘッド付サスペンションの一例を示す概略図である。図9に例示するように、本発明のヘッド付サスペンション40は、上記サスペンション30と、上記サスペンション30上のスライダー設置位置上に搭載された磁気ヘッドスライダー41とを有するものである。
ここで、上記サスペンションは、上記「B.サスペンション」の項に記載のサスペンションである。
なお、図9中の符号については、図8のものと同一のものである。
Such a suspension with a head according to the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 9 is a schematic view showing an example of a suspension with a head according to the present invention. As illustrated in FIG. 9, the suspension with head 40 of the present invention includes the suspension 30 and a magnetic head slider 41 mounted on a slider installation position on the suspension 30.
Here, the suspension is the suspension described in the section “B. Suspension”.
Note that the reference numerals in FIG. 9 are the same as those in FIG.

本発明によれば、上記サスペンションを含むものであるため、ハードディスクドライブに用いた場合、データの読み取りおよび書き込みの精度が高いものとすることができる。   According to the present invention, since the suspension is included, when used in a hard disk drive, the accuracy of data reading and writing can be improved.

本発明のヘッド付サスペンションは、上記サスペンションおよび磁気ヘッドスライダーを少なくとも有するものである。
上記サスペンションとしては、上記「B.サスペンション」の項に記載の内容と同様であるため、ここでの説明は省略する。
The suspension with a head of the present invention has at least the suspension and the magnetic head slider.
The suspension is the same as that described in the section “B. Suspension”, and thus the description thereof is omitted here.

本発明に用いられる磁気ヘッドスライダーとしては、本発明のヘッド付サスペンションをハードディスクドライブに用いた際に、ディスク上へのデータの書き込みおよび読み込みを行なえるものであれば良く、ハードディスクドライブに一般的に使用されるものを用いることができる。   The magnetic head slider used in the present invention is not limited as long as it can write and read data on the disk when the suspension with a head of the present invention is used in a hard disk drive. What is used can be used.

本発明のヘッド付サスペンションの用途としては、ハードディスクドライブを挙げることができ、なかでも、データの読み取りおよび書き込みの精度が高いことが要求されるハードディスクドライブに好適に用いられる。   As an application of the suspension with a head of the present invention, a hard disk drive can be cited, and among these, it is preferably used for a hard disk drive that requires high data reading and writing accuracy.

D.ハードディスクドライブ
次に、本発明のハードディスクドライブについて説明する。本発明のハードディスクドライブは、上記ヘッド付サスペンションを含むことを特徴とするものである。
D. Next, the hard disk drive of the present invention will be described. The hard disk drive of the present invention includes the above suspension with a head.

このような本発明のハードディスクドライブを図を参照して説明する。図10は、本発明のハードディスクドライブの内部構造の一例を示す概略平面図である。図10に例示するように、本発明のハードディスクドライブ50は、上記ヘッド付サスペンション40と、上記ヘッド付サスペンション40にデータの書き込みおよび読み込みがされるディスク51と、上記ディスク51を回転させるスピンドルモータ52と、上記ヘッド付サスペンション40に接続されたアーム53と、上記アーム53を移動することにより上記ヘッド付サスペンション40のスライダーを、上記ディスク51上の所望の位置に移動させるボイスコイルモータ54と、上記各構成を密閉するケース55とを有するものである。
ここで、上記ヘッド付サスペンションは、上記「C.ヘッド付サスペンション」の項に記載のサスペンションである。
Such a hard disk drive of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 10 is a schematic plan view showing an example of the internal structure of the hard disk drive of the present invention. As illustrated in FIG. 10, the hard disk drive 50 of the present invention includes a suspension 40 with a head, a disk 51 on which data is written to and read from the suspension 40 with a head, and a spindle motor 52 that rotates the disk 51. An arm 53 connected to the suspension 40 with the head, a voice coil motor 54 that moves the slider of the suspension 40 with the head to a desired position on the disk 51 by moving the arm 53, and the above And a case 55 for sealing each component.
Here, the suspension with a head is the suspension described in the section “C. Suspension with a head”.

本発明によれば、上記ヘッド付サスペンションを含むものであるため、ハードディスクドライブに用いた場合、データの読み取りおよび書き込みの精度が高いものとすることができる。その結果、データ信頼性等に優れたものとすることができる。   According to the present invention, since the suspension with the head is included, when used in a hard disk drive, the accuracy of data reading and writing can be improved. As a result, the data reliability and the like can be improved.

本発明のハードディスクドライブは、上記ヘッド付サスペンションを少なくとも有するものである。
このようなヘッド付サスペンションとしては、上記「C.ヘッド付サスペンション」の項に記載の内容と同様であるため、ここでの説明は省略する。
The hard disk drive of the present invention has at least the above suspension with a head.
Such a suspension with a head is the same as the content described in the section “C. Suspension with a head”, and therefore, description thereof is omitted here.

本発明のハードディスクドライブは、上記ヘッド付サスペンションを少なくとも有するものであるが、通常、ディスク、スピンドルモータ、アーム、およびボイスコイルモータを有するものである。このようなディスク、スピンドルモータ、アーム、およびボイスコイルモータとしては、ハードディスクドライブに一般的に使用されるものを用いることができる。   The hard disk drive of the present invention has at least the above suspension with a head, but usually has a disk, a spindle motor, an arm, and a voice coil motor. As such a disk, a spindle motor, an arm, and a voice coil motor, those generally used for hard disk drives can be used.

E.回路基板
次に、本発明の回路基板について説明する。本発明の回路基板は、第一金属層、絶縁層および第二金属層がこの順に積層された基本構造を備え、上記第一金属層の一部を構成する第一金属部と、上記絶縁層の一部を構成し、上記第一金属部が露出するように形成された絶縁層開口部を有する絶縁部と、上記第二金属層の一部を構成し、上記絶縁層開口部から第一金属部が露出するように形成された第二金属層開口部を有する第二金属部と、上記絶縁層開口部および上記第二金属層開口部を介して、上記第一金属部および上記第二金属部を電気的に接続するめっきからなるビア端子とを有するビア部を備え、上記ビア端子が素子を実装するための素子実装領域内またはその近傍に形成された回路基板であって、上記第二金属部は上記第二金属層開口部の端部に沿って薄肉部を有し、上記薄肉部の頂部表面は上記ビア端子により覆われ、上記ビア端子が、上記ビア部(上記ビア端子を除く)から突出しない形状であることを特徴とするものである。
E. Circuit Board Next, the circuit board of the present invention will be described. The circuit board of the present invention has a basic structure in which a first metal layer, an insulating layer, and a second metal layer are laminated in this order, and includes a first metal portion that constitutes a part of the first metal layer, and the insulating layer. An insulating part having an insulating layer opening formed so as to expose the first metal part, and a part of the second metal layer, the first part extending from the insulating layer opening. A second metal part having a second metal layer opening formed so as to expose the metal part; and the first metal part and the second metal through the insulating layer opening and the second metal layer opening. A circuit board having a via portion having a via terminal made of plating for electrically connecting the metal portion, wherein the via terminal is formed in or near an element mounting region for mounting an element. The bimetallic part has a thin part along the end of the second metal layer opening, Top surface of the parts is covered by the via terminals, the via terminal is characterized in that a shape which does not protrude from the via portion (excluding the via terminals).

本発明によれば、ビア端子がビア部から突出しない形状であることから、回路基板に素子を実装した場合に、素子が傾くことを防止することができる。これにより、素子と回路基板との接続を良好に行うことができる。また、ビア端子が突出しない形状であることから、ビア端子と素子とは点接触せず、応力集中による素子のダメージを防止することができる。また、本発明によれば、ビア部が薄肉部を有していることから、ビア端子が突出しない形状であっても、第一金属部と第二金属部とを確実に接続することができる。   According to the present invention, since the via terminal has a shape that does not protrude from the via portion, it is possible to prevent the element from being inclined when the element is mounted on the circuit board. Thereby, a connection with an element and a circuit board can be performed favorably. In addition, since the via terminal has a shape that does not protrude, the via terminal and the element are not in point contact, and damage to the element due to stress concentration can be prevented. Further, according to the present invention, since the via portion has a thin portion, the first metal portion and the second metal portion can be reliably connected even when the via terminal does not protrude. .

図12は、本発明の回路基板の一例を示す概略平面図である。より具体的には、HDDに用いられるサスペンション用基板の一例を示す概略平面図である。なお、便宜上、カバー層の記載は省略している。図12に示されるサスペンション用基板210は、一方の先端には、素子を実装するための素子実装領域201を有し、他方の先端には、他の回路基板との接続を行うための接続領域202を有する。さらに、サスペンション用基板210は、素子実装領域201および接続領域202を接続するための配線203(配線203a〜203d)を有する。配線203aおよび203b、並びに、配線203cおよび203dはそれぞれ配線対を形成し、一方が記録用であり、他方が再生用である。図13に示すように、本発明においては、ビア部110のビア端子104が、素子実装領域201の領域内(またはその近傍)に形成されていることを一つの特徴とする。   FIG. 12 is a schematic plan view showing an example of the circuit board of the present invention. More specifically, it is a schematic plan view showing an example of a suspension substrate used in an HDD. For convenience, the cover layer is not shown. A suspension substrate 210 shown in FIG. 12 has an element mounting area 201 for mounting an element at one end, and a connection area for connecting to another circuit board at the other end. 202. Further, the suspension substrate 210 has wiring 203 (wirings 203a to 203d) for connecting the element mounting region 201 and the connection region 202. The wirings 203a and 203b and the wirings 203c and 203d form a wiring pair, one for recording and the other for reproduction. As shown in FIG. 13, the present invention is characterized in that the via terminal 104 of the via portion 110 is formed in (or in the vicinity of) the element mounting region 201.

図14は、本発明におけるビア部と、従来におけるビア部とを比較する概略断面図である。また、図14は図13のA−A´断面に対応する断面図である。図14(a)に示すように、本発明におけるビア部110は、第一金属部101と、第一金属部101が露出するように形成された絶縁層開口部102aを有する絶縁部102と、絶縁層開口部102aから第一金属部101が露出するように形成された第二金属層開口部103aを有する第二金属部103と、絶縁層開口部102aおよび第二金属層開口部103aを介して、第一金属部101および第二金属部103を電気的に接続するめっきからなるビア端子104とを有するものである。また、第二金属部103は第二金属層開口部103aの端部に沿って薄肉部105を有し、薄肉部105の頂部表面はビア端子104により覆われている。さらに、ビア端子104が、ビア部110(ビア端子104を除く)から突出しない形状であることを一つの特徴とする。その場合、ビア端子104の厚さXは、ビア端子104および第一金属部101を除くビア部110の厚さY以下になる。なお、図14(a)においては、XおよびYの値が同一であるが、後述するように、第二金属部103上にカバー部等が設けられると、Xの値は、Yの値よりも小さくなる。   FIG. 14 is a schematic cross-sectional view comparing the via portion in the present invention and the conventional via portion. 14 is a cross-sectional view corresponding to the AA ′ cross section of FIG. As shown in FIG. 14A, the via portion 110 in the present invention includes a first metal portion 101, an insulating portion 102 having an insulating layer opening 102a formed so that the first metal portion 101 is exposed, A second metal part 103 having a second metal layer opening 103a formed so that the first metal part 101 is exposed from the insulating layer opening 102a, and the insulating layer opening 102a and the second metal layer opening 103a. The first metal part 101 and the second metal part 103 are electrically connected to the via terminals 104 made of plating. The second metal portion 103 has a thin portion 105 along the end of the second metal layer opening 103 a, and the top surface of the thin portion 105 is covered with the via terminal 104. Furthermore, one feature is that the via terminal 104 has a shape that does not protrude from the via portion 110 (excluding the via terminal 104). In that case, the thickness X of the via terminal 104 is equal to or less than the thickness Y of the via part 110 excluding the via terminal 104 and the first metal part 101. In FIG. 14A, the values of X and Y are the same. However, as will be described later, when a cover portion or the like is provided on the second metal portion 103, the value of X is greater than the value of Y. Becomes smaller.

上記のように、本発明においては、ビア端子104が、ビア部110(ビア端子104を除く)から突出しない形状であることを一つの特徴とする。ビア部110からビア端子104を除く理由は、ビア端子104自体がビア部110の構成要素だからである。すなわち、ビア端子104が第二金属部103等から突出した形状であっても、ビア端子104自体がビア部110の構成要素なので、ビア端子104の頂部と、ビア部110の頂部とは必ず一致し、ビア端子104がビア部110から突出することは有り得ない。図14(a)においては、ビア端子104の頂部が、第二金属部103の頂部(ビア部110からビア端子104を除いた部材の頂部)よりも低い形状になる。また、図示しないが、第二金属部103上に後述するカバー部が形成されている場合には、ビア部がカバー部を有する構成になることから、ビア端子104の頂部が、カバー部の頂部(ビア部110からビア端子104を除いた部材の頂部)よりも低い形状になる。   As described above, one feature of the present invention is that the via terminal 104 has a shape that does not protrude from the via portion 110 (excluding the via terminal 104). The reason for removing the via terminal 104 from the via portion 110 is that the via terminal 104 itself is a component of the via portion 110. That is, even if the via terminal 104 protrudes from the second metal portion 103 or the like, the via terminal 104 itself is a constituent element of the via portion 110, so the top portion of the via terminal 104 and the top portion of the via portion 110 are always one. The via terminal 104 cannot protrude from the via portion 110. In FIG. 14A, the top portion of the via terminal 104 has a lower shape than the top portion of the second metal portion 103 (the top portion of the member excluding the via terminal 104 from the via portion 110). Although not shown, when a cover portion described later is formed on the second metal portion 103, the via portion has a cover portion, so the top portion of the via terminal 104 is the top portion of the cover portion. The shape is lower than (the top of the member excluding the via terminal 104 from the via portion 110).

一方、図14(b)に示すように、従来におけるビア部110は、第二金属部103が薄肉部105を有しないため、ビア端子104が、ビア部110(ビア端子104を除く)から突出した形状になる。具体的には、ビア端子104の頂部が、第二金属部103の頂部(ビア部110からビア端子104を除いた部材の頂部)よりも高い形状になる。また、ビア端子104の厚さXは、ビア端子104および第一金属部101を除くビア部110の厚さYよりも大きくなる。なお、従来のビア部の形成方法については、後述する図22で説明する。   On the other hand, as shown in FIG. 14B, in the conventional via portion 110, since the second metal portion 103 does not have the thin portion 105, the via terminal 104 protrudes from the via portion 110 (excluding the via terminal 104). The shape becomes. Specifically, the top portion of the via terminal 104 has a higher shape than the top portion of the second metal portion 103 (the top portion of the member excluding the via terminal 104 from the via portion 110). Further, the thickness X of the via terminal 104 is larger than the thickness Y of the via part 110 excluding the via terminal 104 and the first metal part 101. Note that a conventional method for forming a via portion will be described later with reference to FIG.

次に、図15を用いて本発明の効果について説明する。図15は、ビア部110を有する素子実装領域201に、素子120を実装させた場合の概略断面図である。図15(a)は、素子実装領域201に、従来のビア部110と、配線部111とが形成された態様である。この場合、ビア部110においては、ビア端子104が突出した形状となっており、その頂部の位置は、配線部111の第二金属部103よりも高くなる。そのため、素子実装領域201に接着部115を介して素子120を実装すると、素子120に傾きが生じる。その結果、素子120と回路基板との接続を良好に行えないという問題がある。さらに、ビア端子104と素子120とが点接触しているため、点接触の箇所に応力集中が生じた場合に、素子120にダメージが生じるという可能性もある。   Next, the effect of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 15 is a schematic cross-sectional view when the element 120 is mounted on the element mounting region 201 having the via part 110. FIG. 15A shows a mode in which a conventional via portion 110 and a wiring portion 111 are formed in the element mounting region 201. In this case, the via portion 110 has a shape in which the via terminal 104 protrudes, and the position of the top portion is higher than the second metal portion 103 of the wiring portion 111. Therefore, when the element 120 is mounted on the element mounting region 201 via the adhesive portion 115, the element 120 is inclined. As a result, there is a problem that the connection between the element 120 and the circuit board cannot be performed satisfactorily. Furthermore, since the via terminal 104 and the element 120 are in point contact, there is a possibility that the element 120 may be damaged when stress concentration occurs at the point contact point.

また、図15(b)は、素子実装領域201に、2つの従来のビア部110が形成された態様である。回路基板の高機能化に伴い、素子実装領域201に、複数のビア部110が形成される場合がある。この場合、2つのビア部110は、共にビア端子104が突出した形状となっている。ビア端子104の厚さは、通常、めっきの際に露出する金属部の面積に大きく依存する。そして、露出する金属部の面積は、ドライフィルムレジスト等のパターニングの精度に依存する。また、ビア端子104の厚さは、ビア部を形成するめっき時の電気抵抗値にも依存する。以上の要因から、複数のビア部110を形成する場合、それぞれのビア端子の高さには、多少のバラつきが生じ、その結果、上記図15(a)と同様に、素子120に傾きが生じる等の問題がある。   FIG. 15B shows a mode in which two conventional via portions 110 are formed in the element mounting region 201. A plurality of via portions 110 may be formed in the element mounting region 201 as the functionality of the circuit board increases. In this case, the two via portions 110 have shapes in which the via terminals 104 protrude. The thickness of the via terminal 104 usually greatly depends on the area of the metal part exposed during plating. The area of the exposed metal part depends on the patterning accuracy of the dry film resist or the like. The thickness of the via terminal 104 also depends on the electric resistance value during plating for forming the via portion. Due to the above factors, when the plurality of via portions 110 are formed, the height of each via terminal varies slightly, and as a result, the element 120 is inclined as in FIG. 15A. There are problems such as.

これに対して、図15(c)に示すように、本発明におけるビア部110は、薄肉部105を有し、ビア端子104が突出しない形状であるため、素子120の傾きを防止することができ、素子120と回路基板との接続を良好に行うことができるのである。
以下、本発明の回路基板について、回路基板の部材と、回路基板の構成とに分けて説明する。
On the other hand, as shown in FIG. 15C, the via portion 110 in the present invention has a thin portion 105 and has a shape in which the via terminal 104 does not protrude, so that the inclination of the element 120 can be prevented. Thus, the connection between the element 120 and the circuit board can be performed satisfactorily.
Hereinafter, the circuit board of the present invention will be described separately for the circuit board member and the circuit board configuration.

1.回路基板の部材
まず、本発明の回路基板の部材について説明する。本発明の回路基板は、第一金属層、絶縁層および第二金属層がこの順に積層された基本構造を有するものである。さらに、本発明の回路基板は、第一金属部、絶縁部、第二金属部、ビア端子を少なくとも有するビア部を備えるものである。
1. Circuit Board Members First, the circuit board members of the present invention will be described. The circuit board of the present invention has a basic structure in which a first metal layer, an insulating layer, and a second metal layer are laminated in this order. Furthermore, the circuit board of the present invention includes a first metal part, an insulating part, a second metal part, and a via part having at least a via terminal.

(1)第一金属層および第二金属層
本発明における第一金属層および第二金属層は、導電性を有するものであれば特に限定されるものではなく、回路基板の種類に応じて適宜選択されるものである。なお、本発明においては、第一金属層の中でも、ビア部を構成する部分を第一金属部と称する。同様に、第二金属層の中でも、ビア部を構成する部分を第二金属部と称する。
(1) First metal layer and second metal layer The first metal layer and the second metal layer in the present invention are not particularly limited as long as they have conductivity, and are appropriately selected depending on the type of circuit board. Is to be selected. In the present invention, a portion constituting the via portion in the first metal layer is referred to as a first metal portion. Similarly, in the second metal layer, a portion constituting the via portion is referred to as a second metal portion.

例えば、本発明の回路基板がサスペンション用基板である場合、第一金属層は、通常、支持基板としての機能を有する。さらに、このような支持基板は所定のばね性を有するものである。第一金属層の材料としては、例えばSUS等を挙げることができる。また、第一金属層の厚さとしては、その材料等により異なるが、通常10μm〜20μmの範囲内である。また、本発明の回路基板がサスペンション用基板である場合、第二金属層は、通常、配線としての機能を有する。第二金属層の材料としては、例えば銅(Cu)等を挙げることができる。また、第二金属層の厚さとしては、例えば5μm〜18μmの範囲内であり、中でも9μm〜12μmの範囲内であることが好ましい。   For example, when the circuit board of the present invention is a suspension board, the first metal layer usually has a function as a support board. Further, such a support substrate has a predetermined spring property. Examples of the material of the first metal layer include SUS. Moreover, as thickness of a 1st metal layer, although it changes with the materials etc., it exists in the range of 10 micrometers-20 micrometers normally. When the circuit board of the present invention is a suspension board, the second metal layer usually has a function as a wiring. Examples of the material of the second metal layer include copper (Cu). Moreover, as thickness of a 2nd metal layer, it is in the range of 5 micrometers-18 micrometers, for example, and it is preferable that it is in the range of 9 micrometers-12 micrometers especially.

本発明において、第二金属層の一部を配線として用いる場合、その表面に金めっき層が形成されていることが好ましい。配線の腐食を抑制することができるからである。金めっき層の厚さは、例えば0.1μm〜4.0μmの範囲内である。また、本発明においては、配線および金めっき層の間に、Niめっき層を有していても良い。   In this invention, when using a part of 2nd metal layer as wiring, it is preferable that the gold plating layer is formed in the surface. This is because corrosion of the wiring can be suppressed. The thickness of the gold plating layer is, for example, in the range of 0.1 μm to 4.0 μm. In the present invention, an Ni plating layer may be provided between the wiring and the gold plating layer.

(2)絶縁層
本発明における絶縁層は、第一金属層および第二金属層の間に形成されるものである。絶縁層の材料としては、所望の絶縁性を発揮することができれば特に限定されるものではない。例えば、本発明の回路基板がサスペンション用基板である場合、絶縁層の材料として、例えばポリイミド(PI)等を用いることができる。また、絶縁層の厚さは、例えば5μm〜10μmの範囲内である。
(2) Insulating layer The insulating layer in the present invention is formed between the first metal layer and the second metal layer. The material of the insulating layer is not particularly limited as long as desired insulating properties can be exhibited. For example, when the circuit board of the present invention is a suspension board, for example, polyimide (PI) can be used as the material of the insulating layer. Moreover, the thickness of an insulating layer exists in the range of 5 micrometers-10 micrometers, for example.

(3)ビア端子
本発明におけるビア端子は、ビア部において、第一金属部および第二金属部を電気的に接続するめっきからなるものである。ビア端子の材料としては、例えばニッケル(Ni)、銀(Ag)、金(Au)および銅(Cu)等を挙げることができ、中でもニッケル(Ni)が好ましい。導電性および耐腐食性に優れ、かつ、安価だからである。特にニッケルを用いて、電解めっき法によりビア端子を形成する場合、用いられる電解Niめっき浴としては、例えば、ワット浴およびスルファミン酸浴等を挙げることができる。なお、これらのめっき浴には、適宜、添加剤を用いることにより、光沢度や皮膜応力を調整することができる。
(3) Via Terminal The via terminal in the present invention is made of plating for electrically connecting the first metal part and the second metal part in the via part. Examples of the material for the via terminal include nickel (Ni), silver (Ag), gold (Au), and copper (Cu). Of these, nickel (Ni) is preferable. This is because it is excellent in conductivity and corrosion resistance and is inexpensive. In particular, when the via terminal is formed by electrolytic plating using nickel, examples of the electrolytic Ni plating bath used include a watt bath and a sulfamic acid bath. In addition, glossiness and a film | membrane stress can be adjusted by using an additive for these plating baths suitably.

(4)カバー層
また、本発明の回路基板は、第二金属層上に、カバー層を有していても良い。カバー層を設けることで、露出する絶縁層や第二金属層を保護することができる。カバー層の材料としては、例えばポリイミド等を挙げることができる。また、カバー層の材料は、感光性樹脂であっても良く、非感光性樹脂であっても良い。カバー層の厚さとしては、例えば2μm〜30μmの範囲内であり、中でも4μm〜15μmの範囲内であることが好ましい。なお、本発明においては、カバー層の中でも、ビア部を構成する部分をカバー部と称する。
(4) Cover layer The circuit board of the present invention may have a cover layer on the second metal layer. By providing the cover layer, the exposed insulating layer and second metal layer can be protected. Examples of the material for the cover layer include polyimide. The material of the cover layer may be a photosensitive resin or a non-photosensitive resin. The thickness of the cover layer is, for example, in the range of 2 μm to 30 μm, and preferably in the range of 4 μm to 15 μm. In the present invention, a portion constituting the via portion in the cover layer is referred to as a cover portion.

2.回路基板の構成
次に、本発明の回路基板の構成について説明する。本発明の回路基板は、第一金属層、絶縁層および第二金属層がこの順に積層された基本構造を有する。さらに、上述したように、第二金属層上に、カバー層が形成されていても良い。また、第一金属層および第二金属層の間には、少なくとも絶縁層が一層形成されていれば良い。そのため、第一金属層および第二金属層の間は、絶縁層のみを有する単層構造であっても良く、絶縁層とその他の金属層とを有する複層構造であっても良い。なお、後者の場合は、通常、複数の絶縁層を有する。
2. Configuration of Circuit Board Next, the configuration of the circuit board of the present invention will be described. The circuit board of the present invention has a basic structure in which a first metal layer, an insulating layer, and a second metal layer are laminated in this order. Furthermore, as described above, a cover layer may be formed on the second metal layer. Further, at least one insulating layer may be formed between the first metal layer and the second metal layer. Therefore, a single layer structure having only an insulating layer may be provided between the first metal layer and the second metal layer, or a multilayer structure having an insulating layer and another metal layer may be used. In the latter case, it usually has a plurality of insulating layers.

また、本発明におけるビア端子は、素子を実装するための素子実装領域内またはその近傍に形成される。ここで、本発明における「素子実装領域」とは、平面視上、素子が実装される領域と一致する回路基板の領域をいう(図13の点線部分)。また、「素子実装領域の近傍」とは、素子実装領域の領域外であって、ビア端子が実装される素子と接触可能な位置をいう。例えば、回路基板がばね性を有する場合、ビア部が素子実装領域外に形成されていても、回路基板が撓むことにより、ビア端子と素子とが接触する場合がある。また、実際に素子を実装する際に、実装される位置に微少なズレ(誤差)が生じる場合がある。このような場合であっても、本発明の回路基板を用いることで、ビア端子が素子に悪影響を与えることを防止することができる。また、ビア端子が素子実装領域の近傍にある場合、ビア端子と素子実装領域との平面視上の最短距離は、例えば100μm以下であることが好ましい。   Further, the via terminal in the present invention is formed in or near an element mounting region for mounting an element. Here, the “element mounting area” in the present invention refers to an area of the circuit board that coincides with the area where the element is mounted in a plan view (dotted line portion in FIG. 13). Further, “in the vicinity of the element mounting area” means a position that is outside the element mounting area and can be contacted with the element on which the via terminal is mounted. For example, when the circuit board has a spring property, the via terminal may be in contact with the element due to the circuit board being bent even if the via portion is formed outside the element mounting region. Further, when the element is actually mounted, there may be a slight deviation (error) at the mounting position. Even in such a case, the use of the circuit board of the present invention can prevent the via terminal from adversely affecting the element. When the via terminal is in the vicinity of the element mounting region, the shortest distance in plan view between the via terminal and the element mounting region is preferably 100 μm or less, for example.

次に、本発明におけるビア部について、上記図14(a)を参照しながら説明する。本発明にビア部110は、第一金属部101上に絶縁部102を有する。さらに、絶縁部102は第一金属部101が露出するように形成された絶縁層開口部102aを有する。絶縁層開口部102aの平面視形状は、所定のビア端子を形成可能なものであれば特に限定されるものではないが、例えば、円状;楕円状;四角形、五角形等の任意の多角形状、櫛状、十字状および棒状等を挙げることができる。なお、絶縁層開口部の形状としては円状が一般的であり、その場合、直径は例えば30μm〜200μmの範囲内である。   Next, the via portion in the present invention will be described with reference to FIG. In the present invention, the via part 110 has an insulating part 102 on the first metal part 101. Furthermore, the insulating part 102 has an insulating layer opening 102a formed so that the first metal part 101 is exposed. The planar view shape of the insulating layer opening 102a is not particularly limited as long as a predetermined via terminal can be formed. For example, a circular shape; an elliptical shape; an arbitrary polygonal shape such as a quadrilateral, a pentagon, Examples thereof include a comb shape, a cross shape, and a rod shape. In addition, as a shape of an insulating-layer opening part, circular shape is common, and the diameter is in the range of 30 micrometers-200 micrometers in that case, for example.

また、本発明におけるビア部110は、絶縁部102上に第二金属部103を有する。さらに、第二金属部103は、絶縁層開口部102aから第一金属部101が露出するように形成された第二金属層開口部103aを有する。第二金属層開口部103aの平面視形状については、上述した絶縁層開口部102aと同様である。また、第二金属層開口部103aの径についても、第一金属部101が露出すれば特に限定されるものではない。   In addition, the via part 110 in the present invention has the second metal part 103 on the insulating part 102. Furthermore, the second metal portion 103 has a second metal layer opening 103a formed so that the first metal portion 101 is exposed from the insulating layer opening 102a. The shape of the second metal layer opening 103a in plan view is the same as that of the insulating layer opening 102a described above. Further, the diameter of the second metal layer opening 103a is not particularly limited as long as the first metal portion 101 is exposed.

ここで、絶縁層開口部102aを化学エッチングにより形成する時、エッチング条件によっては、第二金属層開口部103aの開口よりも大きい範囲で絶縁部102がエッチングされ、絶縁層開口部102aの径が第二金属層開口部103aの径よりも大きくなる。すなわち、第二金属層開口部103aの端部が、絶縁層開口部102aの端部よりも内側に位置するようになり、第二金属部103に突起部が形成される(図14(b)参照)。従来におけるビア部110は、図14(b)に示すように、第二金属部103の突起部が形成されるが、本発明におけるビア部110は、後述する図23および図24で説明するように、薄肉部を形成する際に、第二金属部103の突起部が消失するため、通常、このような突起部を有しない。その結果、本発明における第二金属層開口部103aの径は、通常、絶縁層開口部102aの径と同じかそれよりも大きくなる。   Here, when the insulating layer opening 102a is formed by chemical etching, depending on the etching conditions, the insulating portion 102 is etched in a range larger than the opening of the second metal layer opening 103a, and the diameter of the insulating layer opening 102a is increased. It becomes larger than the diameter of the second metal layer opening 103a. That is, the end portion of the second metal layer opening 103a is positioned inside the end portion of the insulating layer opening 102a, and a protrusion is formed on the second metal portion 103 (FIG. 14B). reference). As shown in FIG. 14B, the conventional via portion 110 is formed with a protrusion of the second metal portion 103. The via portion 110 according to the present invention will be described later with reference to FIGS. 23 and 24. In addition, when forming the thin-walled portion, the protruding portion of the second metal portion 103 disappears, and thus usually does not have such a protruding portion. As a result, the diameter of the second metal layer opening 103a in the present invention is usually the same as or larger than the diameter of the insulating layer opening 102a.

また、第二金属部103は、第二金属層開口部103aの端部に沿って薄肉部105を有する。薄肉部105は、通常の第二金属部103よりも薄い部分である。この薄肉部105を形成することにより、ビア端子104の突出を防止するとともに、良好な接続性を有するビア端子104を得ることができる。薄肉部105は、後述するように、第二金属部103を化学エッチングすることにより形成することができる。ここで、図16に示すように、第二金属部103の厚さをT、薄肉部105を形成するためにエッチングされた厚さをTとすると、T/Tの値は、例えば0.3〜0.8の範囲内、中でも0.4〜0.7の範囲内、特に0.4〜0.6の範囲内であることが好ましい。T/Tの値が小さすぎると、ビア端子がビア部(ビア端子を除く)から突出しない形状を形成するように、めっきを制御することが困難になる可能性があり、T/Tの値が大きすぎると、薄肉部の機械的強度が低くなり、薄肉部の破損が生じる可能性があるからである。また、Tの値は、第二金属部103の厚さによって異なるものであるが、例えば4μm〜10μmの範囲内、中でも5μm〜8μmの範囲内であることが好ましい。一方、図16に示すように、薄肉部105の幅をWとすると、Wの値は、例えば3μm〜30μmの範囲内、中でも4μm〜20μmの範囲内であることが好ましい。なお、薄肉部105は、第二金属層開口部103aの端部に沿って形成されるものであり、その端部の周囲に対して少なくとも一部に形成されていれば良く、中でも端部の全周にわたって形成されていることが好ましい。めっき厚の制御がさらに容易になるからである。 Further, the second metal portion 103 has a thin portion 105 along the end portion of the second metal layer opening 103a. The thin portion 105 is a portion thinner than the normal second metal portion 103. By forming the thin portion 105, it is possible to prevent the via terminal 104 from protruding and obtain the via terminal 104 having good connectivity. The thin portion 105 can be formed by chemically etching the second metal portion 103 as will be described later. Here, as shown in FIG. 16, when the thickness of the second metal portion 103 is T and the thickness etched to form the thin portion 105 is T 1 , the value of T 1 / T is, for example, 0 Within the range of 0.3 to 0.8, in particular within the range of 0.4 to 0.7, particularly preferably within the range of 0.4 to 0.6. If the value of T 1 / T is too small, it may be difficult to control the plating so that the via terminal forms a shape that does not protrude from the via portion (excluding the via terminal), and T 1 / T If the value of is too large, the mechanical strength of the thin-walled portion is lowered, and the thin-walled portion may be damaged. The value of T 1 is is different depending on the thickness of the second metal portion 103, for example in the range of 4Myuemu~10myuemu, preferably in the range of inter alia 5Myuemu~8myuemu. On the other hand, as shown in FIG. 16, when the width of the thin portion 105 is W, the value of W is preferably in the range of 3 to 30 μm, and more preferably in the range of 4 to 20 μm. The thin-walled portion 105 is formed along the end of the second metal layer opening 103a, and may be formed at least partially with respect to the periphery of the end. It is preferably formed over the entire circumference. This is because it becomes easier to control the plating thickness.

また、本発明におけるビア部110は、第二金属部103上に、ビア端子104が露出するように形成された開口部を有するカバー部を有していることが好ましい。このようなカバー部を有するビア部110の一例を図17に示す。図17においては、第二金属部103上に、ビア端子104が露出するように形成された開口部106aを有するカバー部106が形成されている。開口部106aの平面視形状については、上述した絶縁層開口部102aと同様である。また、本発明においては、図17に示すように、カバー部106の開口部106aの端部は、薄肉部105により形成される外側端部105aよりも内側に位置していることが好ましい。これにより、カバー部106に突起部が形成され、突起部によるめっき厚の制御ができるからである。突起部によるめっき厚の制御については、後述する「F.回路基板の製造方法」で説明する。ここで、図17に示すように、カバー部106の突起部の幅をZとすると、Zの値は、例えば3μm以上であり、中でも4μm〜8μmの範囲内であることが好ましい。Zの値が小さすぎると、突起部によるめっき厚の制御が困難になる可能性があり、Zの値が大きすぎると、めっき(ビア端子)とカバー層との密着性が低下する可能性があるからである。   Moreover, the via part 110 in the present invention preferably has a cover part having an opening formed on the second metal part 103 so that the via terminal 104 is exposed. An example of the via part 110 having such a cover part is shown in FIG. In FIG. 17, a cover portion 106 having an opening portion 106 a formed so as to expose the via terminal 104 is formed on the second metal portion 103. The shape of the opening 106a in plan view is the same as that of the insulating layer opening 102a described above. In the present invention, as shown in FIG. 17, it is preferable that the end portion of the opening portion 106 a of the cover portion 106 is located inside the outer end portion 105 a formed by the thin portion 105. Thereby, a protrusion is formed on the cover portion 106, and the plating thickness can be controlled by the protrusion. The control of the plating thickness by the protrusion will be described in “F. Circuit board manufacturing method” described later. Here, as shown in FIG. 17, when the width of the protrusion of the cover portion 106 is Z, the value of Z is, for example, 3 μm or more, and preferably in the range of 4 μm to 8 μm. If the value of Z is too small, it may be difficult to control the plating thickness by the protrusion, and if the value of Z is too large, the adhesion between the plating (via terminal) and the cover layer may be reduced. Because there is.

また、本発明においては、ビア端子104の厚さXは、ビア端子104および第一金属部101を除くビア部110の厚さY以下になる。上記図17のように、第二金属部103上にカバー部106が形成されている場合は、厚さYは、絶縁部102、第二金属部103およびカバー部106の厚さの合計になる。このように、ビア部の構成によって、厚さYは変化するものである。また、本発明においては、図18に示すように、ビア端子104の表面に金めっき部107を有していても良い。この場合におけるビア端子104の厚さXは、金めっき部107の厚さを含むものとする。   In the present invention, the thickness X of the via terminal 104 is equal to or less than the thickness Y of the via portion 110 excluding the via terminal 104 and the first metal portion 101. As shown in FIG. 17, when the cover portion 106 is formed on the second metal portion 103, the thickness Y is the sum of the thicknesses of the insulating portion 102, the second metal portion 103, and the cover portion 106. . Thus, the thickness Y changes depending on the configuration of the via portion. Further, in the present invention, as shown in FIG. 18, a gold plating portion 107 may be provided on the surface of the via terminal 104. In this case, the thickness X of the via terminal 104 includes the thickness of the gold plating portion 107.

3.回路基板
本発明の回路基板は、上述した部材および構成を有するものである。さらに、上記のように、本発明の回路基板は、素子実装領域を有する。素子実装領域に実装される素子としては、例えば、磁気ヘッドスライダ、アクチュエータ、半導体等を挙げることができる。また、上記アクチュエータは、磁気ヘッドを有するものであっても良く、磁気ヘッドを有しないものであっても良い。
3. Circuit board The circuit board of the present invention has the above-described members and configuration. Furthermore, as described above, the circuit board of the present invention has an element mounting region. Examples of the element mounted in the element mounting area include a magnetic head slider, an actuator, and a semiconductor. The actuator may have a magnetic head or may not have a magnetic head.

本発明の回路基板は、可撓性を有するフレキシブル基板であることが好ましい。また、回路基板の用途としては、具体的には、HDD等に用いられるサスペンション用基板(フレキシャー)、半導体パッケージ基板、フレキシブルプリント基板等を挙げることができる。   The circuit board of the present invention is preferably a flexible flexible board. Specific examples of the use of the circuit board include a suspension board (flexure), a semiconductor package board, a flexible printed board, and the like used in HDDs and the like.

F.回路基板の製造方法
次に、本発明の回路基板の製造方法について説明する。本発明の回路基板の製造方法は、第一金属層、絶縁層および第二金属層がこの順に積層された基本構造を備え、上記第一金属層の一部を構成する第一金属部と、上記絶縁層の一部を構成し、上記第一金属部が露出するように形成された絶縁層開口部を有する絶縁部と、上記第二金属層の一部を構成し、上記絶縁層開口部から第一金属部が露出するように形成された第二金属層開口部を有する第二金属部と、上記絶縁層開口部および上記第二金属層開口部を介して、上記第一金属部および上記第二金属部を電気的に接続するめっきからなるビア端子とを有するビア部を備え、上記ビア端子が素子を実装するための素子実装領域内またはその近傍に形成された回路基板の製造方法であって、上記第一金属部、上記絶縁部および上記第二金属部を有し、上記第二金属部には上記第二金属層開口部の端部に沿って薄肉部が形成され、上記第二金属部上に上記ビア部を形成する際のめっきをマスクするマスク部を有するビア設置部を備えた被めっき部材を形成する被めっき部材形成工程と、上記被めっき部材の第一金属部からの給電によってめっきを成長させることにより、上記ビア端子を形成するめっき工程と、を有し、上記めっき工程の際に、上記薄肉部の頂部表面を上記ビア端子により覆い、かつ、上記ビア端子を上記ビア部(上記ビア端子を除く)から突出しない形状とすることを特徴とするものである。
F. Next, a method for manufacturing a circuit board according to the present invention will be described. The circuit board manufacturing method of the present invention comprises a basic structure in which a first metal layer, an insulating layer, and a second metal layer are laminated in this order, and a first metal part constituting a part of the first metal layer; An insulating part having a part of the insulating layer and having an insulating layer opening formed to expose the first metal part, and a part of the second metal layer, the insulating layer opening. A second metal part having a second metal layer opening formed so as to expose the first metal part, and through the insulating layer opening and the second metal layer opening, the first metal part and A circuit board manufacturing method comprising a via portion having a via terminal made of plating for electrically connecting the second metal portion, wherein the via terminal is formed in or near an element mounting region for mounting an element. And having the first metal part, the insulating part and the second metal part. The second metal portion has a thin portion formed along the end of the second metal layer opening, and has a mask portion for masking plating when the via portion is formed on the second metal portion. A plated member forming step for forming a plated member having a via installation portion, and a plating step for forming the via terminal by growing plating by feeding from the first metal portion of the plated member. And in the plating step, the top surface of the thin portion is covered with the via terminal, and the via terminal has a shape that does not protrude from the via portion (excluding the via terminal). Is.

本発明によれば、薄肉部を有する被めっき部材を用いることにより、ビア部から突出しない形状のビア端子を容易に形成することができる。その結果、回路基板に素子を実装した場合に、素子が傾くことを防止することができ、素子と回路基板との接続を良好に行うことができる。また、ビア端子が突出しない形状であることから、ビア端子と素子とは点接触せず、応力集中による素子のダメージを防止することができる。   According to the present invention, by using the member to be plated having a thin portion, a via terminal having a shape that does not protrude from the via portion can be easily formed. As a result, when the element is mounted on the circuit board, the element can be prevented from being inclined, and the connection between the element and the circuit board can be performed satisfactorily. In addition, since the via terminal has a shape that does not protrude, the via terminal and the element are not in point contact, and damage to the element due to stress concentration can be prevented.

図19は、本発明の回路基板の製造方法の一例を示す概略断面図である。なお、図19は、マスク部がカバー部106である態様である。図19においては、まず、第一金属部101と、第一金属部が露出するように形成された絶縁層開口部102aを有する絶縁部102と、絶縁層開口部102aから第一金属部101が露出するように形成された第二金属層開口部103aを有する第二金属部103とを有し、かつ、第二金属部103は第二金属層開口部103aの端部に沿って薄肉部105を有するビア設置部110aを備えた被めっき部材210aを形成する(図19(a))。特に図19(a)においては、第二金属部103上に開口部106aを有するカバー部106がマスク部として形成されている。   FIG. 19 is a schematic cross-sectional view showing an example of a circuit board manufacturing method of the present invention. FIG. 19 shows an aspect in which the mask portion is the cover portion 106. In FIG. 19, first, the first metal portion 101, the insulating portion 102 having the insulating layer opening 102a formed so as to expose the first metal portion, and the first metal portion 101 from the insulating layer opening 102a. A second metal portion 103 having a second metal layer opening 103a formed so as to be exposed, and the second metal portion 103 is a thin-walled portion 105 along an end of the second metal layer opening 103a. A member to be plated 210a provided with a via installation portion 110a having a shape is formed (FIG. 19A). In particular, in FIG. 19A, a cover portion 106 having an opening 106a is formed on the second metal portion 103 as a mask portion.

次に、被めっき部材210aの第一金属部101からの給電によってめっきを成長させる。めっき開始時には、絶縁層開口部102aを埋めるようにめっきが形成される。その後、成長しためっき部104aが第二金属部103に接触した瞬間に、第一金属部101および第二金属部103が導通する(図19(b))。その結果、第二金属部103のめっきが開始され、薄肉部105の頂部表面がめっき部104aで覆われる(図19(c))。その後、めっきをさらに成長させることにより、ビア部110から突出しない形状を有するビア端子104を備えた回路基板が得られる(図19(d))。   Next, plating is grown by feeding from the first metal part 101 of the member to be plated 210a. At the start of plating, plating is formed to fill the insulating layer opening 102a. Thereafter, the first metal part 101 and the second metal part 103 are brought into conduction at the moment when the grown plating part 104a comes into contact with the second metal part 103 (FIG. 19B). As a result, the plating of the second metal part 103 is started, and the top surface of the thin part 105 is covered with the plating part 104a (FIG. 19C). Thereafter, by further growing the plating, a circuit board including the via terminal 104 having a shape that does not protrude from the via portion 110 is obtained (FIG. 19D).

図20は、本発明の回路基板の製造方法の他の例を示す概略断面図である。なお、図20は、マスク部がドライフィルムレジスト部(DFR部)131である態様である。図20においては、まず、上記図19(a)と同様の被めっき部材210aを形成する(図20(a))。ただし、図20(a)においては、第二金属部103上に、カバー部106ではなく、開口部131aを有するDFR部131がマスク部として形成されている。   FIG. 20 is a schematic cross-sectional view showing another example of the circuit board manufacturing method of the present invention. FIG. 20 shows an aspect in which the mask portion is a dry film resist portion (DFR portion) 131. In FIG. 20, first, a member to be plated 210a similar to that shown in FIG. 19A is formed (FIG. 20A). However, in FIG. 20A, the DFR portion 131 having the opening 131 a is formed as a mask portion on the second metal portion 103 instead of the cover portion 106.

次に、被めっき部材210aの第一金属部101からの給電によってめっきを成長させる。めっき開始時には、絶縁層開口部102aを埋めるようにめっきが形成される。その後、成長しためっき部104aが第二金属部103に接触した瞬間に、第一金属部101および第二金属部103が導通する(図20(b))。その結果、第二金属部103のめっきが開始され、薄肉部105の頂部表面がめっき部104aで覆われる(図20(c))。その後、めっきをさらに成長させることにより、ビア端子104が得られ(図20(d))、最後にDFR部を剥離することにより、ビア部110から突出しない形状を有するビア端子104を備えた回路基板が得られる(図20(e))。   Next, plating is grown by feeding from the first metal part 101 of the member to be plated 210a. At the start of plating, plating is formed to fill the insulating layer opening 102a. Thereafter, the first metal part 101 and the second metal part 103 are brought into conduction at the moment when the grown plating part 104a comes into contact with the second metal part 103 (FIG. 20B). As a result, the plating of the second metal portion 103 is started, and the top surface of the thin portion 105 is covered with the plating portion 104a (FIG. 20C). Thereafter, the via terminal 104 is obtained by further growing the plating (FIG. 20D), and finally the circuit including the via terminal 104 having a shape that does not protrude from the via part 110 by peeling off the DFR part. A substrate is obtained (FIG. 20 (e)).

なお、図20(a)には、カバー部を有しない被めっき部材210aが示されているが、本発明においては、図21に示すように、ビア設置部110aが、第二金属部103とDFR部131との間にカバー部106を有していても良い。   20A shows a member to be plated 210a that does not have a cover portion. In the present invention, as shown in FIG. 21, the via installation portion 110a is connected to the second metal portion 103. A cover unit 106 may be provided between the DFR unit 131 and the DFR unit 131.

これに対して、図22は、従来における回路基板の製造方法の一例を示す概略断面図である。図22においては、まず、上記図20(a)と同様の被めっき部材210aを形成する(図22(a))。ただし、図22(a)において、第二金属部103は薄肉部105を有しないものである。次に、被めっき部材210aの第一金属部101からの給電によってめっきを成長させる。めっき開始時には、絶縁層開口部102aを埋めるようにめっきが形成される。その後、成長しためっき部104aが第二金属部103に接触した瞬間に、第一金属部101および第二金属部103が導通する(図22(b))。その結果、第二金属部103のめっきが開始される(図22(c))。その後、めっきをさらに成長させることにより、ビア端子104が得られ(図22(d))、最後にDFR部を剥離することにより、回路基板が得られる(図22(e))。従来の製造方法により得られた回路基板は、ビア部110が薄肉部105を有していないため、ビア端子104が第二金属部103上に形成され、ビア部110から突出した形状になる。以上のように、本発明においては、ビア部110が薄肉部105を有することで、ビア部110から突出しない形状を有するビア端子104を得ることができるのである。
以下、本発明の回路基板の製造方法について、工程毎に説明する。
On the other hand, FIG. 22 is a schematic sectional view showing an example of a conventional method for manufacturing a circuit board. In FIG. 22, first, a member to be plated 210a similar to that shown in FIG. 20 (a) is formed (FIG. 22 (a)). However, in FIG. 22A, the second metal part 103 does not have the thin part 105. Next, the plating is grown by feeding from the first metal part 101 of the member to be plated 210a. At the start of plating, plating is formed to fill the insulating layer opening 102a. Thereafter, the first metal part 101 and the second metal part 103 are brought into conduction at the moment when the grown plating part 104a comes into contact with the second metal part 103 (FIG. 22B). As a result, the plating of the second metal portion 103 is started (FIG. 22C). Thereafter, the via terminal 104 is obtained by further growing the plating (FIG. 22D), and finally, the circuit board is obtained by removing the DFR portion (FIG. 22E). In the circuit board obtained by the conventional manufacturing method, since the via part 110 does not have the thin part 105, the via terminal 104 is formed on the second metal part 103 and has a shape protruding from the via part 110. As described above, in the present invention, since the via portion 110 includes the thin portion 105, the via terminal 104 having a shape that does not protrude from the via portion 110 can be obtained.
Hereafter, the manufacturing method of the circuit board of this invention is demonstrated for every process.

1.被めっき部材形成工程
まず、本発明における被めっき部材形成工程について説明する。本工程は、上記第一金属部、上記絶縁部および上記第二金属部を有し、上記第二金属部には上記第二金属層開口部の端部に沿って薄肉部が形成され、上記第二金属部上に上記ビア部を形成する際のめっきをマスクするマスク部を有するビア設置部を備えた被めっき部材を形成する工程である。
1. To-be-plated member formation process First, the to-be-plated member formation process in this invention is demonstrated. This step has the first metal part, the insulating part, and the second metal part, and the second metal part is formed with a thin part along the end of the second metal layer opening, It is a step of forming a member to be plated provided with a via installation portion having a mask portion for masking plating when forming the via portion on the second metal portion.

本発明における被めっき部材は、上述した第一金属部、絶縁部、第二金属部、薄肉部およびマスク部を有するものであれば特に限定されるものではない。これらの部材の中で、マスク部以外の部材については、上記「E.回路基板」に記載した内容と同様であるので、ここでの記載は省略する。   The member to be plated in the present invention is not particularly limited as long as it has the above-described first metal part, insulating part, second metal part, thin part, and mask part. Among these members, members other than the mask portion are the same as the contents described in the above-mentioned “E. Circuit board”, so description thereof is omitted here.

また、本発明におけるマスク部は、第二金属部上に形成され、ビア端子を形成する場所以外の第二金属部の表面をマスクするものである。このようなマスク部としては、具体的にはカバー部およびドライフィルムレジスト部を挙げることができる。以下、被めっき部材の形成方法について、マスク部の態様ごとに説明する。   Moreover, the mask part in this invention is formed on the 2nd metal part, and masks the surface of the 2nd metal part other than the place which forms a via terminal. Specific examples of such a mask portion include a cover portion and a dry film resist portion. Hereinafter, a method for forming a member to be plated will be described for each aspect of the mask portion.

(1)マスク部がカバー部である態様
この場合における被めっき部材形成工程の一例としては、第一金属層、絶縁層および第二金属層がこの順に積層された積層体を用意する工程と、上記第二金属層のエッチングを行い、第二金属層開口部を有する第二金属部を形成する工程と、上記第二金属部上に、薄肉部を形成するための上記第二金属部の表面が露出する開口部を有するカバー部を形成する工程と、上記第二金属層開口部から露出する絶縁層のエッチングを行い、絶縁層開口部を有する絶縁部を形成する工程と、上記カバー部から露出する上記第二金属部のエッチングを行い、上記薄肉部を形成する工程と、を有するものを挙げることができる。
(1) A mode in which the mask portion is the cover portion As an example of the member forming step in this case, a step of preparing a laminate in which the first metal layer, the insulating layer, and the second metal layer are laminated in this order; Etching the second metal layer to form a second metal part having a second metal layer opening, and a surface of the second metal part for forming a thin part on the second metal part A step of forming a cover portion having an opening exposing the insulating layer, a step of etching the insulating layer exposed from the second metal layer opening to form an insulating portion having an insulating layer opening, and the cover portion. And etching the exposed second metal part to form the thin part.

このような被めっき部材形成工程を、図23を参照しながら説明する。図23においては、まず、第一金属層101b、絶縁層102bおよび第二金属層103bがこの順に積層された積層体を用意する(図23(a))。次に、第二金属層103bの表面にドライフィルムレジストをラミネートし、露光現像を行うことにより、第二金属部を形成するためのレジストパターンを形成する。その後、レジストパターンから露出する第二金属層103bをエッチング液によりエッチングし、レジストパターンを剥離することにより、第二金属層開口部103aを有する第二金属部103を形成する(図23(b))。また、図示しないが、第一金属層101bの表面にもレジストパターンを設けることで、第二金属部103と同時に第一金属部101を形成することができる。エッチング液の種類は、第一金属層101bおよび第二金属層103bの材料に応じて適宜選択することが好ましい。例えば、第一金属層101bの材料がSUSであり、第二金属層103bの材料がCuである場合は、エッチング液として、塩化鉄系エッチング液等を用いることができる。   Such a member-to-be-plated forming process will be described with reference to FIG. In FIG. 23, first, a laminate in which the first metal layer 101b, the insulating layer 102b, and the second metal layer 103b are laminated in this order is prepared (FIG. 23A). Next, a dry film resist is laminated on the surface of the second metal layer 103b, and exposure development is performed to form a resist pattern for forming the second metal portion. Thereafter, the second metal layer 103b exposed from the resist pattern is etched with an etchant, and the resist pattern is peeled off to form the second metal portion 103 having the second metal layer opening 103a (FIG. 23B). ). Although not shown, the first metal portion 101 can be formed simultaneously with the second metal portion 103 by providing a resist pattern on the surface of the first metal layer 101 b. It is preferable that the type of the etching solution is appropriately selected according to the materials of the first metal layer 101b and the second metal layer 103b. For example, when the material of the first metal layer 101b is SUS and the material of the second metal layer 103b is Cu, an iron chloride based etchant or the like can be used as the etchant.

次に、第二金属部103を覆うように、感光性のカバー部形成材料(例えば感光性ポリイミド)を塗工し、露光現像を行うことにより、カバー部106を形成する(図23(c))。この際、薄肉部を形成するための第二金属部の表面が露出する開口部106aを有するように、カバー部106を形成する。また、本発明においては、カバー部106の形成に、非感光性のカバー部形成材料を用いても良い。この場合は、通常、ドライフィルムレジストおよびエッチング液によるパターニングによりカバー部106を形成する。   Next, a cover part 106 is formed by applying a photosensitive cover part forming material (for example, photosensitive polyimide) so as to cover the second metal part 103 and performing exposure and development (FIG. 23C). ). At this time, the cover portion 106 is formed so as to have the opening portion 106a through which the surface of the second metal portion for forming the thin portion is exposed. In the present invention, a non-photosensitive cover part forming material may be used for forming the cover part 106. In this case, the cover part 106 is usually formed by patterning with a dry film resist and an etching solution.

次に、第二金属部103およびカバー部106を覆うように、ドライフィルムレジストをラミネートし、露光現像を行うことにより、絶縁部を形成するためのレジストパターンを形成する。その後、レジストパターンから露出する絶縁層102bをエッチング液によりエッチングし、レジストパターンを剥離することにより、絶縁層開口部102aを有する絶縁部102を形成する(図23(d))。エッチング液の種類は、絶縁層102bの種類に応じて適宜選択することが好ましい。   Next, a dry film resist is laminated so as to cover the second metal part 103 and the cover part 106, and a resist pattern for forming an insulating part is formed by performing exposure and development. Thereafter, the insulating layer 102b exposed from the resist pattern is etched with an etching solution, and the resist pattern is peeled off to form the insulating portion 102 having the insulating layer opening 102a (FIG. 23D). The type of the etchant is preferably selected as appropriate depending on the type of the insulating layer 102b.

次に、カバー部106から露出する第二金属部103の表面をエッチング液によりエッチングし、薄肉部105を形成する(図23(e))。この際、上述した第二金属部103の突起部は、通常、消失する。これにより、カバー部106をマスク部とした被めっき部材210aを得ることができる。本発明においては、薄肉部105を形成する際に、通常、第一金属部101をエッチングせず、第二金属部103をエッチングする選択性エッチング液を用いる。選択性エッチング液の種類は、第一金属部101および第二金属部103の種類に応じて、適宜選択することが好ましい。例えば、第一金属部101がSUSであり、第二金属部103の材料がCuである場合は、選択性エッチング液として、過酸化水素および硫酸の混合溶液、硫酸水素カリウム系溶液、過硫酸ナトリウム系溶液、過硫酸カリウム系溶液、過硫酸アンモニウム系溶液、塩化アンモニウム系溶液等を用いることができる。また、めっきの前処理(例えば電解脱脂)により、第二絶縁部の膜減りが生じる可能性があるため、薄肉部を形成する際のエッチング量は、膜減り等を考慮して設定することが好ましい。   Next, the surface of the second metal part 103 exposed from the cover part 106 is etched with an etching solution to form a thin part 105 (FIG. 23E). At this time, the protruding portion of the second metal portion 103 described above usually disappears. Thereby, the to-be-plated member 210a which used the cover part 106 as a mask part can be obtained. In the present invention, when the thin portion 105 is formed, a selective etching solution that etches the second metal portion 103 without etching the first metal portion 101 is usually used. The type of the selective etching solution is preferably selected as appropriate according to the types of the first metal part 101 and the second metal part 103. For example, when the first metal part 101 is SUS and the material of the second metal part 103 is Cu, as a selective etching solution, a mixed solution of hydrogen peroxide and sulfuric acid, a potassium hydrogen sulfate solution, sodium persulfate A system solution, a potassium persulfate solution, an ammonium persulfate solution, an ammonium chloride solution, or the like can be used. In addition, since the film thickness of the second insulating portion may occur due to the plating pretreatment (for example, electrolytic degreasing), the etching amount when forming the thin portion may be set in consideration of the film thickness reduction or the like. preferable.

次に、上記方法により得られる被めっき部材について説明する。上記方法により得られる被めっき部材(図23(e)に示される被めっき部材210a)は、上記図17と同様に、カバー部106の開口部106aの端部が、薄肉部105により形成される外側端部105aよりも内側に位置することとなる(カバー部106をマスクとしてハーフエッチングする場合、サイドエッチが入るため、通常は内側に位置することとなる)。これにより、カバー部106に突起部が形成され、突起部によるめっき厚の制御ができるからである。より具体的には、上記図19(d)に示すように、カバー部106の突起部が、めっきが成長する際のストッパーとして機能することで、めっき厚の制御が容易になる。また、カバー部106の突起部の形成方法としては、例えば、薄肉部105を形成する際のエッチング条件を適宜選択し、サイドエッチングを生じさせる方法を挙げることができる。   Next, the member to be plated obtained by the above method will be described. In the member to be plated obtained by the above method (member to be plated 210a shown in FIG. 23 (e)), the end portion of the opening 106a of the cover portion 106 is formed by the thin portion 105, as in FIG. It will be located inside the outer end 105a (when half-etching is performed using the cover 106 as a mask, side etching will occur, so it will usually be located inside). Thereby, a protrusion is formed on the cover portion 106, and the plating thickness can be controlled by the protrusion. More specifically, as shown in FIG. 19D, the protrusion of the cover portion 106 functions as a stopper when the plating grows, so that the plating thickness can be easily controlled. In addition, as a method for forming the protruding portion of the cover portion 106, for example, a method in which etching conditions for forming the thin portion 105 are appropriately selected to cause side etching can be cited.

(2)マスク部がドライフィルムレジスト部である態様
この場合における被めっき部材形成工程の一例としては、第一金属層、絶縁層および第二金属層がこの順に積層された積層体を用意する工程と、上記第二金属層のエッチングを行い、第二金属層開口部を有する第二金属部を形成する工程と、上記第二金属層開口部から露出する絶縁層のエッチングを行い、絶縁層開口部を有する絶縁部を形成する工程と、薄肉部を形成するための上記第二金属部の表面が露出する開口部を有するレジストパターンを形成し、露出する上記第二金属部のエッチングを行い、薄肉部を形成する工程と、上記薄肉部以外の上記第二金属部の表面上に、ドライフィルムレジスト部を形成する工程と、を有するものを挙げることができる。
(2) A mode in which the mask portion is a dry film resist portion As an example of the member forming step in this case, a step of preparing a laminate in which the first metal layer, the insulating layer, and the second metal layer are laminated in this order. And etching the second metal layer to form a second metal portion having a second metal layer opening, etching the insulating layer exposed from the second metal layer opening, and opening the insulating layer. Forming an insulating portion having a portion, forming a resist pattern having an opening exposing the surface of the second metal portion for forming a thin portion, etching the exposed second metal portion, Examples thereof include a step of forming a thin portion and a step of forming a dry film resist portion on the surface of the second metal portion other than the thin portion.

このような被めっき部材形成工程を、図24を参照しながら説明する。図24においては、まず、第一金属層101b、絶縁層102bおよび第二金属層103bがこの順に積層された積層体を用意する(図24(a))。次に、第二金属層103bの表面にドライフィルムレジストをラミネートし、露光現像を行うことにより、第二金属部を形成するためのレジストパターンを形成する。その後、レジストパターンから露出する第二金属層103bをエッチング液によりエッチングし、レジストパターンを剥離することにより、第二金属層開口部103aを有する第二金属部103を形成する(図24(b))。また、図示しないが、第一金属層101bの表面にもレジストパターンを設けることで、第二金属部103と同時に第一金属部101を形成することができる。   Such a member-to-be-plated forming process will be described with reference to FIG. In FIG. 24, first, a laminate in which the first metal layer 101b, the insulating layer 102b, and the second metal layer 103b are laminated in this order is prepared (FIG. 24A). Next, a dry film resist is laminated on the surface of the second metal layer 103b, and exposure development is performed to form a resist pattern for forming the second metal portion. Thereafter, the second metal layer 103b exposed from the resist pattern is etched with an etchant, and the resist pattern is peeled off to form the second metal portion 103 having the second metal layer opening 103a (FIG. 24B). ). Although not shown, the first metal portion 101 can be formed simultaneously with the second metal portion 103 by providing a resist pattern on the surface of the first metal layer 101 b.

なお、図24では、カバー部を有しない被めっき部材を例示しているが、通常は、被めっき部材のビア設置部以外の場所にカバー層を形成する必要があるため、上記図23(c)と同様にして、パターニングされたカバー層を形成する。また、カバー部を有するビア設置部を備えた被めっき部を形成する場合は、第一金属部101および第二金属部102を形成した後、上記図23(c)と同様にして、カバー部を形成することができる。この場合は、上記図21に示すような被めっき部材を得ることができる。   FIG. 24 illustrates the member to be plated that does not have a cover portion. However, since it is usually necessary to form a cover layer in a place other than the via installation portion of the member to be plated, the above-described FIG. ) To form a patterned cover layer. In addition, when forming a plated part having a via installation part having a cover part, after forming the first metal part 101 and the second metal part 102, the cover part is formed in the same manner as in FIG. Can be formed. In this case, a member to be plated as shown in FIG. 21 can be obtained.

次に、第二金属部103を覆うように、ドライフィルムレジストをラミネートし、露光現像を行うことにより、絶縁部を形成するためのレジストパターンを形成する。その後、レジストパターンから露出する絶縁層102bをエッチング液によりエッチングし、レジストパターンを剥離することにより、絶縁層開口部102aを有する絶縁部102を形成する(図24(c))。   Next, a dry film resist is laminated so as to cover the second metal part 103, and exposure development is performed to form a resist pattern for forming an insulating part. Thereafter, the insulating layer 102b exposed from the resist pattern is etched with an etching solution, and the resist pattern is peeled off to form the insulating portion 102 having the insulating layer opening 102a (FIG. 24C).

次に、絶縁部102および第二金属部103を覆うように、ドライフィルムレジストをラミネートし、露光現像を行うことにより、薄肉部を形成するためのDFR部131を形成する(図24(d))。その後、DFR部131から露出する第二金属部103の表面をエッチング液によりエッチングし、薄肉部105を形成する(図24(e))。この際、上述した第二金属部103の突起部は、通常、消失する。これにより、DFR部131をマスク部とした被めっき部材210aを得ることができる。本発明においては、薄肉部105を形成する際に、通常、第一金属部101をエッチングせず、第二金属部103をエッチングする選択性エッチング液を用いる。選択性エッチング液については、上述した通りである。   Next, a dry film resist is laminated so as to cover the insulating portion 102 and the second metal portion 103, and exposure development is performed to form a DFR portion 131 for forming a thin portion (FIG. 24D). ). Thereafter, the surface of the second metal portion 103 exposed from the DFR portion 131 is etched with an etchant to form the thin portion 105 (FIG. 24E). At this time, the protruding portion of the second metal portion 103 described above usually disappears. Thereby, the to-be-plated member 210a which used the DFR part 131 as the mask part can be obtained. In the present invention, when the thin portion 105 is formed, a selective etching solution that etches the second metal portion 103 without etching the first metal portion 101 is usually used. The selective etching solution is as described above.

次に、上記方法により得られる被めっき部材について説明する。上記方法により得られる被めっき部材(図24(e)に示される被めっき部材210a)は、DFR部131の開口部131aの端部が、薄肉部105により形成される外側端部105aよりも内側に位置することとなる。これにより、DFR部131に突起部が形成され、突起部によるめっき厚の制御ができるからである。より具体的には、上記図20(d)に示すように、DFR部131の突起部が、めっきが成長する際のストッパーとして機能することで、めっき厚の制御が容易になる。また、DFR部131の突起部の形成方法としては、例えば、ドライフィルムレジストの露光現像条件を適宜する方法を挙げることができる。また、DFR部131の突起部の幅は、上記図17に示すカバー部106の突起部の幅Zと同様であることが好ましい。   Next, the member to be plated obtained by the above method will be described. In the member to be plated obtained by the above method (the member to be plated 210 a shown in FIG. 24E), the end of the opening 131 a of the DFR portion 131 is inside the outer end 105 a formed by the thin portion 105. Will be located. Thereby, a protrusion is formed in the DFR portion 131, and the plating thickness can be controlled by the protrusion. More specifically, as shown in FIG. 20D, the protrusion of the DFR portion 131 functions as a stopper when the plating grows, so that the plating thickness can be easily controlled. Examples of the method for forming the protrusions of the DFR portion 131 include a method of appropriately adjusting the exposure and developing conditions of the dry film resist. Further, the width of the protrusion of the DFR portion 131 is preferably the same as the width Z of the protrusion of the cover portion 106 shown in FIG.

2.めっき工程
次に、本発明におけるめっき工程について説明する。本工程は、上記被めっき部材の第一金属部からの給電によってめっきを成長させることにより、上記ビア端子を形成する工程である。さらに、本発明においては、めっき工程の際に、上記薄肉部の頂部表面を上記ビア端子により覆い、かつ、上記ビア端子を上記ビア部(上記ビア端子を除く)から突出しない形状とすることを一つの特徴とする。
2. Next, the plating process in the present invention will be described. This step is a step of forming the via terminal by growing plating by feeding from the first metal portion of the member to be plated. Further, in the present invention, in the plating step, the top surface of the thin portion is covered with the via terminal, and the via terminal is shaped so as not to protrude from the via portion (excluding the via terminal). One feature.

めっき浴の種類は、上記「E.回路基板」に記載した金属の種類に応じて、適宜選択することが好ましい。例えば、Niめっきからなるビア端子を形成する場合、用いられる電解Niめっき浴としては、例えば、ワット浴およびスルファミン酸浴等を挙げることができる。また、ビア端子をビア部(上記ビア端子を除く)から突出しない形状とするためには、通常、めっき条件(例えばめっき時間や印加電圧)を調整する必要がある。所望のめっき条件は、予備試験を繰り返すことにより、設定することができる。   The type of plating bath is preferably selected as appropriate according to the type of metal described in “E. Circuit board”. For example, when forming a via terminal made of Ni plating, examples of the electrolytic Ni plating bath used include a Watt bath and a sulfamic acid bath. Moreover, in order to make the via terminal into a shape that does not protrude from the via portion (excluding the via terminal), it is usually necessary to adjust plating conditions (for example, plating time and applied voltage). Desired plating conditions can be set by repeating the preliminary test.

3.その他の工程
本発明において、上述したDFR部をマスク部として用いた場合、上述した被めっき部材形成工程およびめっき工程の後に、通常DFR部を剥離するDFR部剥離工程を有する。また、本発明においては、金めっき部形成工程等を有していても良く、その際、ビア端子の表面に金めっき部を形成しても良い。また、ビア部以外の回路基板の製造方法については、一般的な回路基板の製造方法と同様である。
3. Other Steps In the present invention, when the above-described DFR portion is used as a mask portion, a DFR portion peeling step for peeling off the normal DFR portion is usually provided after the above-described plated member forming step and the plating step. Moreover, in this invention, you may have a gold plating part formation process etc., and may form a gold plating part in the surface of a via terminal in that case. The circuit board manufacturing method other than the via portion is the same as the general circuit board manufacturing method.

G.サスペンション用基板
次に、本発明のサスペンション用基板について説明する。本発明のサスペンション用基板は、上述した回路基板であることを特徴とするものである。
G. Next, the suspension substrate of the present invention will be described. The suspension board of the present invention is the circuit board described above.

本発明によれば、上述した回路基板をサスペンション用基板として用いることで、素子を実装した場合に、素子の傾きを防止でき、素子とサスペンション用基板との接続を良好に行うことができる。   According to the present invention, when the above-described circuit board is used as a suspension substrate, when the element is mounted, the inclination of the element can be prevented and the connection between the element and the suspension substrate can be performed satisfactorily.

本発明のサスペンション用基板は、上記「E.回路基板」に記載した特徴を有し、所定のばね性を有するものであれば特に限定されるものではない。本発明のサスペンション用基板は、第一金属層がSUSであることが好ましく、絶縁層がポリイミド(PI)であることが好ましく、第二金属層がCuであることが好ましい。また、本発明のサスペンション用基板は、上述した素子を、素子実装領域に実装したものであっても良い。   The suspension board of the present invention is not particularly limited as long as it has the characteristics described in the above “E. circuit board” and has a predetermined spring property. In the suspension substrate of the present invention, the first metal layer is preferably SUS, the insulating layer is preferably polyimide (PI), and the second metal layer is preferably Cu. The suspension substrate of the present invention may be one in which the above-described element is mounted in an element mounting region.

H.サスペンション
次に、本発明のサスペンションについて説明する。本発明のサスペンションは、上述したサスペンション用基板を含むことを特徴とするものである。
H. Suspension Next, the suspension of the present invention will be described. The suspension of the present invention includes the above-described suspension substrate.

本発明によれば、上述したサスペンション用基板を用いることで、素子との接続性が良好なサスペンションとすることができる。   According to the present invention, by using the above-described suspension substrate, it is possible to obtain a suspension having good connectivity with the element.

本発明のサスペンションの具体例については、上述した図8に記載した内容と同様であるので、ここでの記載は省略する。また、サスペンション用基板については、上記「G.サスペンション用基板」に記載した内容と同様であるので、ここでの記載は省略する。   Since the specific example of the suspension of the present invention is the same as the contents described in FIG. 8 described above, description thereof is omitted here. Further, the suspension substrate is the same as that described in “G. Suspension substrate”, and therefore description thereof is omitted here.

I.素子付サスペンション
次に、本発明の素子付サスペンションについて説明する。本発明の素子付サスペンションは、上述したサスペンションと、上記サスペンションの素子実装領域に実装された素子と、を有することを特徴とするものである。
I. Next, the suspension with an element of the present invention will be described. A suspension with an element of the present invention includes the above-described suspension and an element mounted in an element mounting region of the suspension.

本発明によれば、上述したサスペンションを用いることで、素子とサスペンションとの接続性が良好な素子付サスペンションとすることができる。   According to the present invention, by using the above-described suspension, a suspension with an element having good connectivity between the element and the suspension can be obtained.

本発明の素子付サスペンションの具体例については、磁気ヘッドを素子に変更したこと以外は、上述した図9に記載した内容と同様であるので、ここでの記載は省略する。また、サスペンションについては、上記「H.サスペンション」に記載した内容と同様であるので、ここでの記載は省略する。また、素子については、上記「E.回路基板」に記載した内容と同様であるので、ここでの記載は省略する。   Since a specific example of the suspension with an element of the present invention is the same as the contents described in FIG. 9 except that the magnetic head is changed to an element, description thereof is omitted here. Further, the suspension is the same as that described in “H. Suspension”, and therefore the description thereof is omitted here. The elements are the same as the contents described in the above “E. circuit board”, and the description is omitted here.

また、上記図15で説明したように、サスペンションおよび素子は、接着部を介して接着剤を用いて接着することができる。本発明に用いられる接着剤は、導電性接着剤であっても良く、非導電性接着剤であっても良いが、導電性接着剤であることが好ましい。また、本発明に用いられる接着剤は、熱硬化性接着剤であっても良い。   Further, as described with reference to FIG. 15, the suspension and the element can be bonded using an adhesive via the bonding portion. The adhesive used in the present invention may be a conductive adhesive or a non-conductive adhesive, but is preferably a conductive adhesive. The adhesive used in the present invention may be a thermosetting adhesive.

J.ハードディスクドライブ
次に、本発明のハードディスクドライブについて説明する。本発明のハードディスクドライブは、上述した素子付サスペンションを含むことを特徴とするものである。
J. et al. Next, the hard disk drive of the present invention will be described. The hard disk drive of the present invention is characterized by including the above-described suspension with an element.

本発明によれば、上述した素子付サスペンションを用いることで、より高機能化されたハードディスクドライブとすることができる。   According to the present invention, a hard disk drive with higher functionality can be obtained by using the above-described suspension with an element.

本発明のサスペンションの具体例については、上述した図10に記載した内容と同様であるので、ここでの記載は省略する。また、素子付サスペンションについては、上記「I.素子付サスペンション」に記載した内容と同様であるので、ここでの記載は省略する。また、その他の部材についても、一般的なハードディスクドライブに用いられる部材と同様のものを用いることができる。   Since the specific example of the suspension of the present invention is the same as that described in FIG. 10 described above, description thereof is omitted here. The suspension with elements is the same as the contents described in the above “I. Suspension with elements”, and the description thereof is omitted here. As other members, the same members as those used in a general hard disk drive can be used.

なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と、実質的に同一の構成を有し、同様
な作用効果を奏するものは、いかなる場合であっても本発明の技術的範囲に包含される。
The present invention is not limited to the above embodiment. The above-described embodiment is an exemplification, and the technical idea described in the claims of the present invention has substantially the same configuration and exhibits the same function and effect regardless of the case. It is included in the technical scope of the invention.

以下、実施例を用いて、本発明をさらに具体的に説明する。   Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples.

[実施例1]
図6は本発明の磁気ヘッドサスペンションの第1の実施例を説明する説明図である。
図6(a)は本発明で使用するCu(銅)/PI(ポリイミド)/SUS(ステンレススチール)の3層材を示す。金属支持体1は厚み20μmのSUS304材、絶縁層2は厚さ10μmのポリイミド、配線層3は厚み9μmの電解銅であり、この順に積層された積層体を用いた。
図6(b)は配線層3上にDFR(ドライフィルムレジスト)8aを製版した状態を示す。DFRの標準的な条件でパターン露光、現像処理を行い、導体接続材を形成する開口の径が約70μmとなる様パターニングする。
図6(c)は塩化鉄エッチング液で配線層3をエッチングして開口を形成した状態を示す。
図6(d)は水酸化ナトリウム溶液にてDFRを剥膜した状態を示す。
図6(e)は配線層3上に2回目のDFR8aを製版した状態を示す。DFRの開口径は配線層3に形成した開口径より20um大きく設定する。
図6(f)は2回目のエッチングをした状態を示す。DFR製版で露出した開口周辺部
を硫酸と過酸化水素水を含むエッチング液で4.5μmの深さでエッチングし、凹部を形成する。エッチングは等方的に進行するためサイドエッチングが入って凹部が形成され、DFR開口の周囲はオーバーハング状態となる。
図6(g)は配線層3をマスクにして絶縁層2をエッチングして開口部7を形成した状態を示す。これにより金属支持体1の表面を露出した開口が得られる。
図6(h)はDFRを剥膜した状態を示す。
[Example 1]
FIG. 6 is an explanatory view for explaining a first embodiment of the magnetic head suspension of the present invention.
FIG. 6A shows a three-layer material of Cu (copper) / PI (polyimide) / SUS (stainless steel) used in the present invention. The metal support 1 was SUS304 material having a thickness of 20 μm, the insulating layer 2 was polyimide having a thickness of 10 μm, and the wiring layer 3 was electrolytic copper having a thickness of 9 μm. A laminated body laminated in this order was used.
FIG. 6B shows a state where a DFR (dry film resist) 8 a is made on the wiring layer 3. Pattern exposure and development are performed under standard DFR conditions, and patterning is performed so that the diameter of the opening for forming the conductor connecting material is about 70 μm.
FIG. 6C shows a state in which the wiring layer 3 has been etched with an iron chloride etchant to form openings.
FIG. 6D shows a state where the DFR is stripped with a sodium hydroxide solution.
FIG. 6E shows a state in which the second DFR 8 a is made on the wiring layer 3. The opening diameter of the DFR is set to 20 μm larger than the opening diameter formed in the wiring layer 3.
FIG. 6 (f) shows a state after the second etching. The periphery of the opening exposed by DFR plate making is etched to a depth of 4.5 μm with an etching solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide solution to form a recess. Since the etching proceeds isotropically, side etching is performed to form a recess, and the periphery of the DFR opening is overhanged.
FIG. 6G shows a state in which the opening 7 is formed by etching the insulating layer 2 using the wiring layer 3 as a mask. Thereby, the opening which exposed the surface of the metal support body 1 is obtained.
FIG. 6 (h) shows a state where the DFR is peeled off.

図6(i)は配線層3にAuメッキ層9を形成した状態を示す。図3(h)の配線層3のみに給電して下地にNiメッキをした後、Auメッキ9で配線層を被覆する。次工程以降はAuメッキ層9も配線層3に含める。
図6(j)は導体接続材4となるNiメッキをするためにDFRを製版した状態を示す。DFRの開口は配線層表面5が露出しないよう開口内周が配線層3の凹部に位置するよう設定する。これにより導体接続材4は配線層表面5には接続せず配線層3の開口周辺部60と接続する。
図6(k)は導体接続材4をNiメッキで形成した状態を示す。Niメッキは金属支持体1に給電して行う。Niメッキは開口部7で露出した金属支持体1の表面に析出し、厚さが絶縁層2と等しくなった時点で配線層3と導通し、配線層3の露出面にもメッキが成長する。メッキの厚さは導体接続材表面6の高さが配線層表面5と等しくなるように設定する。
図6(l)はDFRを剥膜し導体接続材4の形成が完成した状態を示す。
FIG. 6 (i) shows a state in which the Au plating layer 9 is formed on the wiring layer 3. After supplying power only to the wiring layer 3 of FIG. 3 (h) and performing Ni plating on the base, the wiring layer is covered with Au plating 9. The Au plating layer 9 is also included in the wiring layer 3 after the next step.
FIG. 6 (j) shows a state in which DFR is made for Ni plating to be the conductor connecting material 4. The opening of the DFR is set so that the inner periphery of the opening is located in the recess of the wiring layer 3 so that the wiring layer surface 5 is not exposed. As a result, the conductor connecting material 4 is not connected to the wiring layer surface 5 but is connected to the opening peripheral portion 60 of the wiring layer 3.
FIG. 6K shows a state in which the conductor connecting material 4 is formed by Ni plating. Ni plating is performed by supplying power to the metal support 1. The Ni plating is deposited on the surface of the metal support 1 exposed at the opening 7 and is electrically connected to the wiring layer 3 when the thickness becomes equal to that of the insulating layer 2. The plating also grows on the exposed surface of the wiring layer 3. . The thickness of the plating is set so that the height of the conductor connecting material surface 6 is equal to the wiring layer surface 5.
FIG. 6 (l) shows a state where the DFR is peeled off and the formation of the conductor connecting material 4 is completed.

[実施例2]
図7は本発明の磁気ヘッドサスペンションの第2の実施例を説明する説明図である。
図7(a)は図6(h)と同じ状態の基材を示す。
図7(b)は導体接続材4となるCuメッキをするためにDFR8aを製版した状態を示す。DFRの開口は配線層表面5が露出しないよう開口内周が配線層3の凹部に位置するよう設定する。これにより導体接続材4は配線層表面5には接続せず配線層3の開口周辺部60と接続する。
図7(c)は導体接続材4をCuメッキで形成した状態を示す。Cuメッキは金属支持体1に給電して行う。Cuメッキは開口部7で露出した金属支持体1の表面に析出し、厚さが絶縁層2と等しくなった時点で配線層3と導通し、配線層3の露出面にもメッキが成長する。メッキの厚さは導体接続材表面6の高さが配線層表面5と等しくなるように設定する。
図7(d)はDFRを剥膜した状態を示す。
図7(e)は金属支持体1の下面にDFRによるマスキングをした状態を示す。
図7(f)は配線層3に金メッキ層9形成した状態を示す。
図7(g)はDFRによるマスキングを剥膜しCuメッキによる導体接続材4の形成が完成した状態を示す。
[Example 2]
FIG. 7 is an explanatory view for explaining a second embodiment of the magnetic head suspension of the present invention.
Fig.7 (a) shows the base material of the same state as FIG.6 (h).
FIG. 7B shows a state in which the DFR 8 a is made for Cu plating to be the conductor connecting material 4. The opening of the DFR is set so that the inner periphery of the opening is located in the recess of the wiring layer 3 so that the wiring layer surface 5 is not exposed. As a result, the conductor connecting material 4 is not connected to the wiring layer surface 5 but is connected to the opening peripheral portion 60 of the wiring layer 3.
FIG.7 (c) shows the state which formed the conductor connection material 4 by Cu plating. Cu plating is performed by supplying power to the metal support 1. Cu plating is deposited on the surface of the metal support 1 exposed at the opening 7, and is electrically connected to the wiring layer 3 when the thickness becomes equal to that of the insulating layer 2. The plating also grows on the exposed surface of the wiring layer 3. . The thickness of the plating is set so that the height of the conductor connecting material surface 6 is equal to the wiring layer surface 5.
FIG. 7D shows a state where the DFR is peeled off.
FIG. 7E shows a state where the lower surface of the metal support 1 is masked with DFR.
FIG. 7F shows a state in which a gold plating layer 9 is formed on the wiring layer 3.
FIG. 7G shows a state where the masking by DFR is removed and the formation of the conductor connecting material 4 by Cu plating is completed.

[製造例]
まず、図23(a)に示す3層材を用意した。ここで、第一金属層101bは厚さ20μmのSUS304であり、絶縁層102bは厚さ10μmのポリイミド層であり、第二金属層103bは厚さ12μmの電解銅箔である。次に、図23(b)〜(d)に示すように、第二金属層103bのエッチング、ポリイミドからなるカバー部106の形成、絶縁層102bのエッチングを行い、図25に示すように、薄肉部を形成する前の被めっき部材201bを得た。絶縁層開口部102a、第二金属層開口部103a、開口部106aは、いずれも平面形状が円状の開口部であり、開口径は、それぞれ70μm、70μm、95μmであった。
[Production example]
First, a three-layer material shown in FIG. Here, the first metal layer 101b is SUS304 having a thickness of 20 μm, the insulating layer 102b is a polyimide layer having a thickness of 10 μm, and the second metal layer 103b is an electrolytic copper foil having a thickness of 12 μm. Next, as shown in FIGS. 23B to 23D, the second metal layer 103b is etched, the cover portion 106 made of polyimide is formed, and the insulating layer 102b is etched. As shown in FIG. The member 201b to be plated before forming the part was obtained. The insulating layer opening 102a, the second metal layer opening 103a, and the opening 106a are all openings having a circular planar shape, and the opening diameters were 70 μm, 70 μm, and 95 μm, respectively.

次に、薄肉部を形成する前の被めっき部材201bを用いて、薄肉部の形成を行った。具体的には、図23(d)に示すように、カバー部106から露出する第二金属部103を、下記条件でエッチングすることにより、薄肉部105を形成した。その結果を表1に示す。
<エッチング条件>
・処理液 :硫酸水素カリウム系溶液(150g/l)
:硫酸(10ml/l)
・液温 :30℃、25℃
・処理時間:1分、2分、3分、5分
Next, the thin part was formed using the member 201b to be plated before forming the thin part. Specifically, as shown in FIG. 23 (d), the thin metal portion 105 was formed by etching the second metal portion 103 exposed from the cover portion 106 under the following conditions. The results are shown in Table 1.
<Etching conditions>
Treatment liquid: Potassium hydrogen sulfate solution (150 g / l)
: Sulfuric acid (10ml / l)
・ Liquid temperature: 30 ° C, 25 ° C
・ Processing time: 1 minute, 2 minutes, 3 minutes, 5 minutes

表1におけるt1は、図26に示すように、カバー部106の頂部から薄肉部105の頂部までの距離をいう。なお、薄肉部105の頂部には、最もエッチングされた部分の頂部を選択した。また、0分におけるt1はカバー部の厚さに相当する。さらに、1分、2分、3分、5分におけるt1の値と、0分におけるt1の値との差分から第二金属部103のエッチング量が算出され、そのエッチング量を処理時間で除することで、エッチング速度が算出される。表1に示されるように、30℃でのエッチング速度の平均値は1.73μm/minであり、25℃でのエッチング速度の平均値は0.77μm/minであった。このように、処理温度および処理時間を調整することで、所望の厚さを有する薄肉部を形成できることが確認された。   T1 in Table 1 refers to the distance from the top of the cover portion 106 to the top of the thin portion 105, as shown in FIG. In addition, the top part of the most etched part was selected as the top part of the thin part 105. Further, t1 at 0 minutes corresponds to the thickness of the cover portion. Furthermore, the etching amount of the second metal part 103 is calculated from the difference between the value of t1 at 1 minute, 2 minutes, 3 minutes, and 5 minutes and the value of t1 at 0 minute, and the etching amount is divided by the processing time. Thus, the etching rate is calculated. As shown in Table 1, the average value of the etching rate at 30 ° C. was 1.73 μm / min, and the average value of the etching rate at 25 ° C. was 0.77 μm / min. As described above, it was confirmed that a thin portion having a desired thickness can be formed by adjusting the processing temperature and the processing time.

[実施例3]
製造例に記載した処理温度30℃、処理時間2分の条件で薄肉部を形成した被めっき部材に、Niめっきからなるビア端子(グランド端子)を形成した。Niめっきは下記条件で行った。
<めっき条件>
・めっき浴:スルファミン酸Niめっき浴
・めっき方法:電解浸漬めっき(0.2A、14分)
[Example 3]
A via terminal (ground terminal) made of Ni plating was formed on a member to be plated on which a thin portion was formed under the conditions of a processing temperature of 30 ° C. and a processing time of 2 minutes described in the production example. Ni plating was performed under the following conditions.
<Plating conditions>
・ Plating bath: Ni plating bath for sulfamic acid ・ Plating method: Electrolytic immersion plating (0.2 A, 14 minutes)

ビア端子を形成した後、図27に示すように、カバー部106の頂部からビア端子104の頂部までの距離t2を測定した。なお、ビア端子104の頂部には、最も厚い部分の頂部を選択した。24個のサンプルにおいて、t2の値を測定したところ、最大は6.94μmであり、最小は1.90μmであり、平均は4.07μmであった。いずれの場合においても、t2の値が負になること(ビア端子が突出すること)はなかった。   After forming the via terminal, the distance t2 from the top of the cover portion 106 to the top of the via terminal 104 was measured as shown in FIG. For the top of the via terminal 104, the top of the thickest part was selected. When the value of t2 was measured in 24 samples, the maximum was 6.94 μm, the minimum was 1.90 μm, and the average was 4.07 μm. In either case, the value of t2 did not become negative (the via terminal protruded).

また、得られたビア部の断面写真を図28に示す。図28に示すように、得られたビア部は、第一金属部と、絶縁部と、薄肉部を有する第二金属部と、カバー部と、ビア端子とを有している。さらに、ビア端子は、ビア部(ビア端子を除く)から突出しない形状であることが確認された。また、カバー部106が突起部を有することにより、ビア端子の厚さが制御されていることが確認された。   Further, FIG. 28 shows a cross-sectional photograph of the obtained via part. As shown in FIG. 28, the obtained via part has a first metal part, an insulating part, a second metal part having a thin part, a cover part, and a via terminal. Furthermore, it was confirmed that the via terminal has a shape that does not protrude from the via part (excluding the via terminal). Further, it was confirmed that the thickness of the via terminal was controlled by the cover portion 106 having the protruding portion.

1…金属支持体、2…絶縁層、3…配線層、3a、3b…金属層、4…導体接続材、5…配線層表面、6…導体接続材表面、7…開口部、8a…DFR、8b…フォトレジスト、9…金メッキ層、10…サスペンション基板、20…スライダー設置位置、30…サスペンション、31…ロードビーム、40…ヘッド付サスペンション、41…磁気ヘッドスライダー、50…ハードディスクドライブ、51…ディスク、52…スピンドルモータ、53…アーム、54…ボイスコイルモータ、55…密閉ケース、60…開口周辺部、61…開口内面部、62…開口により露出する金属支持体表面、63…開口周辺底部、X2…絶縁層2の厚み、X3…配線層3の厚み、Y…金属支持体の表面部62から導体接続材4の接続材表面6までの導体接続材の高さ、Z…配線層の層表面5と開口周辺底部63までの深さ、101…第一金属部、101b…第一金属層、102…絶縁部、102a…絶縁層開口部、102b…絶縁層、103…第二金属部、103a…第二金属層開口部、103b…第二金属層、104…ビア端子、105…薄肉部、105a…薄肉部の外側端部、106…カバー部、106a…カバー部の開口部、107…金めっき部、110…ビア部、110a…ビア設置部、111…配線部、115…接着部、120…素子、131…ドライフィルムレジスト部、131a…ドライフィルムレジスト部の開口部、201…素子実装領域、202…接続領域、203…配線、210…回路基板、210a…被めっき部材   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Metal support body, 2 ... Insulating layer, 3 ... Wiring layer, 3a, 3b ... Metal layer, 4 ... Conductor connection material, 5 ... Wiring layer surface, 6 ... Conductor connection material surface, 7 ... Opening part, 8a ... DFR 8 ... Photoresist, 9 ... Gold plated layer, 10 ... Suspension board, 20 ... Slider installation position, 30 ... Suspension, 31 ... Load beam, 40 ... Suspension with head, 41 ... Magnetic head slider, 50 ... Hard disk drive, 51 ... Disc, 52 ... Spindle motor, 53 ... Arm, 54 ... Voice coil motor, 55 ... Sealed case, 60 ... Opening periphery, 61 ... Opening inner surface, 62 ... Metal support surface exposed by opening, 63 ... Opening periphery bottom , X2 ... thickness of insulating layer 2, X3 ... thickness of wiring layer 3, Y ... conductor connection from surface portion 62 of metal support to connecting material surface 6 of conductor connecting material 4 , Z: depth to the surface 5 of the wiring layer and the bottom 63 of the opening periphery, 101: first metal portion, 101b: first metal layer, 102: insulating portion, 102a: insulating layer opening, 102b ... Insulating layer, 103 ... second metal portion, 103a ... second metal layer opening, 103b ... second metal layer, 104 ... via terminal, 105 ... thin portion, 105a ... outer end of thin portion, 106 ... cover portion, 106a ... opening of cover part, 107 ... gold plating part, 110 ... via part, 110a ... via installation part, 111 ... wiring part, 115 ... adhesive part, 120 ... element, 131 ... dry film resist part, 131a ... dry film Opening portion of resist portion, 201 ... element mounting area, 202 ... connection area, 203 ... wiring, 210 ... circuit board, 210a ... member to be plated

Claims (26)

金属支持体上に絶縁層を介して配線層が積層された磁気ヘッドサスペンション用基板において、該磁気ヘッドサスペンション用基板は前記絶縁層と配線層を貫通する開口を有し、該開口により露出する前記金属支持体の表面部と、前記配線層の前記開口内面部を接続し、前記配線層の層表面に接続部を持たない導体接続材を設けたことを特徴とするサスペンション用基板。   In the magnetic head suspension substrate in which the wiring layer is laminated on the metal support through the insulating layer, the magnetic head suspension substrate has an opening penetrating the insulating layer and the wiring layer, and is exposed through the opening. A suspension substrate, characterized in that a conductor connecting material that connects a surface portion of a metal support and the inner surface of the opening of the wiring layer and does not have a connecting portion on the surface of the wiring layer is provided. 金属支持体上に絶縁層を介して配線層が積層された磁気ヘッドサスペンション用基板において、該磁気ヘッドサスペンション用基板は前記絶縁層と配線層を貫通する開口を有し、該開口に接する配線層には他の配線層の表面より低く形成された開口周辺部を有し、前記開口により露出する前記金属支持体の表面部と、前記配線層を接続する導体接続材を設けたことを特徴とするサスペンション用基板。   A magnetic head suspension substrate in which a wiring layer is laminated on a metal support via an insulating layer, wherein the magnetic head suspension substrate has an opening penetrating the insulating layer and the wiring layer, and the wiring layer in contact with the opening Has a peripheral portion of the opening formed lower than the surface of the other wiring layer, and is provided with a conductor connecting material that connects the wiring layer and the surface portion of the metal support exposed by the opening. Suspension substrate. 前記開口周辺部は、エッチングにより他の配線層の表面より低く形成されることを特徴とする請求項2記載のサスペンション用基板。   3. The suspension substrate according to claim 2, wherein the peripheral portion of the opening is formed lower than the surface of another wiring layer by etching. 前記配線層が2層の導体層により構成され、前記絶縁層と配線層を貫通する開口の配線層の開口は、前記2層の導体層の下層の開口と、該下層の開口より大きい上層の開口により形成されることにより、前記開口周辺部が他の配線層の表面より低く形成されることを特徴とする請求項2記載のサスペンション用基板。   The wiring layer is composed of two conductor layers, and the opening of the wiring layer in the opening penetrating the insulating layer and the wiring layer has an opening in the lower layer of the two conductor layers and an upper layer larger than the opening in the lower layer. 3. The suspension substrate according to claim 2, wherein the periphery of the opening is formed lower than the surface of another wiring layer by being formed by the opening. 前記導体接続材の高さは、前記配線層の層表面と同一もしくはそれ以下であることを特徴とする請求項1又は2記載のサスペンション用基板。   The suspension board according to claim 1 or 2, wherein a height of the conductor connecting material is equal to or less than a surface of the wiring layer. 前記導体接続材と前記配線層の接続は、配線層の層表面より低い部分のみで行われていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載のサスペンション用基板。   6. The suspension substrate according to claim 1, wherein the conductor connection material and the wiring layer are connected only at a portion lower than the surface of the wiring layer. 前記導体接続材が金属メッキにより形成されていることを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載のサスペンション用基板。   The suspension substrate according to claim 1, wherein the conductor connecting material is formed by metal plating. 前記金属メッキがニッケルメッキであることを特徴とする請求項7記載のサスペンション用基板。   The suspension substrate according to claim 7, wherein the metal plating is nickel plating. 前記導体接続材がグランド端子又は信号伝送端子であることを特徴とする請求項1乃至8記載のサスペンション用基板。   9. The suspension board according to claim 1, wherein the conductor connecting material is a ground terminal or a signal transmission terminal. 請求項1乃至9の何れかの請求項に記載のサスペンション基板を用いたことを特徴とするサスペンション。   A suspension using the suspension board according to any one of claims 1 to 9. 請求項10に記載のサスペンションと、該サスペンション上に搭載された磁気ヘッドスライダーを有することを特徴とするヘッド付サスペンション。   A suspension with a head, comprising the suspension according to claim 10 and a magnetic head slider mounted on the suspension. 請求項11記載のヘッド付サスペンションを用いたことを特徴とするハードディスクドライブ。   A hard disk drive using the suspension with a head according to claim 11. 金属支持体上に絶縁層を介して配線層が積層された基材において、
該絶縁層と配線層を貫通する開口を形成し金属支持体表面を露出させる工程と、
前記配線層の層表面を露出させずに前記配線層の開口部を露出させるレジスト層を形成する工程と、
前記金属支持体から給電して金属メッキし、導体接続材を形成する工程と、
を有することを特徴とするサスペンション用基板の製造方法。
In the base material in which the wiring layer is laminated via the insulating layer on the metal support,
Forming an opening penetrating the insulating layer and the wiring layer to expose the surface of the metal support;
Forming a resist layer that exposes the opening of the wiring layer without exposing the layer surface of the wiring layer;
Power feeding from the metal support and metal plating to form a conductor connecting material;
A method for manufacturing a suspension substrate, comprising:
金属支持体上に絶縁層を介して配線層が積層され、該絶縁層と配線層を開口し金属支持体表面を露出するように開口部を形成した配線付き基材を準備する工程と、
前記配線層の前記開口部周辺の高さを他の配線層よりも低くなるように形成する工程と、
前記開口及び開口周辺部に金属メッキすることで、金属支持体層と配線層を接続する導体接続材を形成する工程と、
を有することを特徴とするサスペンション用基板の製造方法。
A step of preparing a substrate with wiring in which a wiring layer is laminated on a metal support through an insulating layer, the insulating layer and the wiring layer are opened, and an opening is formed so as to expose the surface of the metal support;
Forming a height around the opening of the wiring layer to be lower than other wiring layers;
Forming a conductor connecting material for connecting the metal support layer and the wiring layer by metal plating the opening and the periphery of the opening; and
A method for manufacturing a suspension substrate, comprising:
前記開口部周辺の配線層の高さを他の配線層よりも低く形成する工程は、
前記配線層の開口部及び前記開口部周辺を除いてドライフィルムレジストを形成し、エッチングすることにより形成することを特徴とする請求項14記載のサスペンション用基板の製造方法。
The step of forming the height of the wiring layer around the opening is lower than the other wiring layers,
15. The method for manufacturing a suspension substrate according to claim 14, wherein a dry film resist is formed except for the opening of the wiring layer and the periphery of the opening and etched.
前記導体接続材を形成する工程は、前記配線層の層表面を露出させずに前記配線層の開口部及び開口周辺部を露出させるレジスト層を形成するとともに、金属メッキを前記開口部及び配線層の開口周辺部まで形成することで、前記導体接続材の高さを配線層の高さと同一もしくはそれ以下になるように形成することを特徴とする請求項13乃至15いずれかに記載のサスペンション用基板の製造方法。   The step of forming the conductor connecting material includes forming a resist layer that exposes an opening portion and an opening peripheral portion of the wiring layer without exposing a layer surface of the wiring layer, and metal plating is performed on the opening portion and the wiring layer. The suspension connection according to any one of claims 13 to 15, wherein the height of the conductor connecting material is the same as or lower than the height of the wiring layer by forming up to the periphery of the opening. A method for manufacturing a substrate. 第一金属層、絶縁層および第二金属層がこの順に積層された基本構造を備え、
前記第一金属層の一部を構成する第一金属部と、前記絶縁層の一部を構成し、前記第一金属部が露出するように形成された絶縁層開口部を有する絶縁部と、前記第二金属層の一部を構成し、前記絶縁層開口部から第一金属部が露出するように形成された第二金属層開口部を有する第二金属部と、前記絶縁層開口部および前記第二金属層開口部を介して、前記第一金属部および前記第二金属部を電気的に接続するめっきからなるビア端子とを有するビア部を備え、
前記ビア端子が素子を実装するための素子実装領域内またはその近傍に形成された回路基板であって、
前記第二金属部は前記第二金属層開口部の端部に沿って薄肉部を有し、前記薄肉部の頂部表面は前記ビア端子により覆われ、
前記ビア端子が、前記ビア部(前記ビア端子を除く)から突出しない形状であることを特徴とする回路基板。
A basic structure in which a first metal layer, an insulating layer, and a second metal layer are laminated in this order,
A first metal part constituting a part of the first metal layer; an insulating part comprising an insulating layer opening formed so as to expose a part of the insulating layer and the first metal part; Forming a part of the second metal layer, and having a second metal layer opening formed so that the first metal part is exposed from the insulating layer opening, the insulating layer opening, and A via part having a via terminal made of plating for electrically connecting the first metal part and the second metal part through the second metal layer opening;
The via terminal is a circuit board formed in or near an element mounting region for mounting an element,
The second metal part has a thin part along the end of the second metal layer opening, and the top surface of the thin part is covered by the via terminal,
The circuit board, wherein the via terminal has a shape that does not protrude from the via portion (excluding the via terminal).
前記ビア部は、前記第二金属部上に、前記ビア端子が露出するように形成された開口部を有するカバー部を備えていることを特徴とする請求項17に記載の回路基板。   The circuit board according to claim 17, wherein the via portion includes a cover portion having an opening formed on the second metal portion so that the via terminal is exposed. 前記カバー部の開口部の端部は、前記薄肉部により形成される外側端部よりも内側に位置していることを特徴とする請求項18に記載の回路基板。   The circuit board according to claim 18, wherein an end portion of the opening of the cover portion is positioned inside an outer end portion formed by the thin portion. 請求項17から請求項19までのいずれかの請求項に記載の回路基板であることを特徴とするサスペンション用基板。   A circuit board according to any one of claims 17 to 19, wherein the circuit board is a suspension board. 請求項20に記載のサスペンション用基板を含むことを特徴とするサスペンション。   A suspension comprising the suspension substrate according to claim 20. 請求項21に記載のサスペンションと、前記サスペンションの素子実装領域に実装された素子と、を有することを特徴とする素子付サスペンション。   A suspension with an element, comprising: the suspension according to claim 21; and an element mounted in an element mounting region of the suspension. 請求項22に記載の素子付サスペンションを含むことを特徴とするハードディスクドライブ。   A hard disk drive comprising the suspension with an element according to claim 22. 第一金属層、絶縁層および第二金属層がこの順に積層された基本構造を備え、
前記第一金属層の一部を構成する第一金属部と、前記絶縁層の一部を構成し、前記第一金属部が露出するように形成された絶縁層開口部を有する絶縁部と、前記第二金属層の一部を構成し、前記絶縁層開口部から第一金属部が露出するように形成された第二金属層開口部を有する第二金属部と、前記絶縁層開口部および前記第二金属層開口部を介して、前記第一金属部および前記第二金属部を電気的に接続するめっきからなるビア端子とを有するビア部を備え、
前記ビア端子が素子を実装するための素子実装領域内またはその近傍に形成された回路基板の製造方法であって、
前記第一金属部、前記絶縁部および前記第二金属部を有し、前記第二金属部には前記第二金属層開口部の端部に沿って薄肉部が形成され、前記第二金属部上に前記ビア部を形成する際のめっきをマスクするマスク部を有するビア設置部を備えた被めっき部材を形成する被めっき部材形成工程と、
前記被めっき部材の第一金属部からの給電によってめっきを成長させることにより、前記ビア端子を形成するめっき工程と、を有し、
前記めっき工程の際に、前記薄肉部の頂部表面を前記ビア端子により覆い、かつ、前記ビア端子を前記ビア部(前記ビア端子を除く)から突出しない形状とすることを特徴とする回路基板の製造方法。
A basic structure in which a first metal layer, an insulating layer, and a second metal layer are laminated in this order,
A first metal part constituting a part of the first metal layer; an insulating part comprising an insulating layer opening formed so as to expose a part of the insulating layer and the first metal part; Forming a part of the second metal layer, and having a second metal layer opening formed so that the first metal part is exposed from the insulating layer opening, the insulating layer opening, and A via part having a via terminal made of plating for electrically connecting the first metal part and the second metal part through the second metal layer opening;
A method of manufacturing a circuit board in which the via terminal is formed in or near an element mounting region for mounting an element,
The second metal part includes the first metal part, the insulating part, and the second metal part, and the second metal part is formed with a thin part along an end of the second metal layer opening, and the second metal part To-be-plated member forming step for forming a to-be-plated member having a via installation portion having a mask portion for masking plating when forming the via portion on the top,
A plating step for forming the via terminal by growing plating by feeding from the first metal part of the member to be plated,
In the plating process, the top surface of the thin portion is covered with the via terminal, and the via terminal is shaped so as not to protrude from the via portion (excluding the via terminal). Production method.
前記マスク部が、カバー部であることを特徴とする請求項24に記載の回路基板の製造方法。   The method of manufacturing a circuit board according to claim 24, wherein the mask portion is a cover portion. 前記マスク部が、ドライフィルムレジスト部であることを特徴とする請求項24に記載の回路基板の製造方法。   The method for manufacturing a circuit board according to claim 24, wherein the mask portion is a dry film resist portion.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012190494A (en) * 2011-03-08 2012-10-04 Dainippon Printing Co Ltd Substrate for suspension, suspension, suspension with element, hard disc drive, and manufacturing method of substrate for suspension
JP2013033569A (en) * 2011-08-02 2013-02-14 Dainippon Printing Co Ltd Substrate for suspension, suspension, suspension with element, hard disk drive, and method for manufacturing substrate for suspension
JP2013084332A (en) * 2011-09-28 2013-05-09 Dainippon Printing Co Ltd Suspension substrate, suspension, suspension with element, hard disk drive, and method for manufacturing suspension substrate
JP2013257924A (en) * 2012-06-12 2013-12-26 Dainippon Printing Co Ltd Substrate for suspension, suspension, suspension with head, and hard disk drive
JP2014157641A (en) * 2013-02-14 2014-08-28 Dainippon Printing Co Ltd Substrate for suspension, suspension, suspension with element, and hard disk drive
JP2016042405A (en) * 2015-11-04 2016-03-31 大日本印刷株式会社 Suspension substrate, suspension, suspension with element, and hard disk drive
JP2016045974A (en) * 2014-08-25 2016-04-04 大日本印刷株式会社 Base board for suspension, base board for suspension with element, suspension, suspension with head, and hard disc drive

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009118626A (en) * 2007-11-06 2009-05-28 Dainippon Printing Co Ltd Suspension substrate and method of manufacturing the same

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009118626A (en) * 2007-11-06 2009-05-28 Dainippon Printing Co Ltd Suspension substrate and method of manufacturing the same

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012190494A (en) * 2011-03-08 2012-10-04 Dainippon Printing Co Ltd Substrate for suspension, suspension, suspension with element, hard disc drive, and manufacturing method of substrate for suspension
JP2013033569A (en) * 2011-08-02 2013-02-14 Dainippon Printing Co Ltd Substrate for suspension, suspension, suspension with element, hard disk drive, and method for manufacturing substrate for suspension
JP2013084332A (en) * 2011-09-28 2013-05-09 Dainippon Printing Co Ltd Suspension substrate, suspension, suspension with element, hard disk drive, and method for manufacturing suspension substrate
JP2013257924A (en) * 2012-06-12 2013-12-26 Dainippon Printing Co Ltd Substrate for suspension, suspension, suspension with head, and hard disk drive
JP2014157641A (en) * 2013-02-14 2014-08-28 Dainippon Printing Co Ltd Substrate for suspension, suspension, suspension with element, and hard disk drive
JP2016045974A (en) * 2014-08-25 2016-04-04 大日本印刷株式会社 Base board for suspension, base board for suspension with element, suspension, suspension with head, and hard disc drive
JP2016042405A (en) * 2015-11-04 2016-03-31 大日本印刷株式会社 Suspension substrate, suspension, suspension with element, and hard disk drive

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