JP2011014973A - イコライザ調整方法及びアダプティブイコライザ - Google Patents

Abstract

【課題】被調整信号のＥｙｅが開いていない場合であっても、イコライザ強度を誤って下げることなく自動調節を行う
【解決手段】本発明にかかるアダプティブイコライザは、イコライザ１０１と、サンプラ１０２と、符号比較器１０３と、Ｅｙｅ開閉判定器１０６とを備える。Ｅｙｅ開閉判定器１０６は、入力信号波形が開口部を有するか否かを判定する。符号比較器１０３は、開口部を有するか否かの判定と、サンプラ１０２によりサンプリングされたサンプリングデータの符号値からイコライザ１０１の特性の調整を行う。
【選択図】図１

Description

本発明はイコライザ調整方法及びアダプティブイコライザに関する。

送信側の機器と受信側の機器との間の高速シリアル伝送方式において、伝送損失が大きくなると、ＩＳＩ（Inter-Symbol Interference: 符号間干渉）ジッタが発生する。ＩＳＩジッタの発生により、受信側のＥｙｅ開口が小さくなる。この原因は、一般に、伝送路がＬＰＦ（Low Pass Filter：ローパスフィルタ、低域通過フィルタ）の特性を示すため、伝送が長くなった場合、高周波成分の劣化が大きくなるからである。

高周波成分の劣化を補償する技術の一つとして、周波数特性を調整するリニアイコライザを受信側に搭載する方法がある。伝送路による高周波成分の劣化と、リニアイコライザによる高周波成分の強調とが同程度である場合、波形品質の良い（最適なＥｙｅ波形を持つ）信号を得ることができる。

しかし、リニアイコライザによる高周波成分の強調が伝送路による高周波成分の劣化よりも弱い場合、ＩＳＩジッタの補償が不十分となる。一方、リニアイコライザによる高周波成分の強調が伝送路による高周波成分の劣化よりも強い場合、高周波成分が必要以上に多い信号を得ることとなる。従って、ユーザは、リニアイコライザの特性、すなわちリニアイコライザによる高周波成分の強調強度（以下、イコライザ強度とも記載する。）を伝送損失に合わせた最適な設定に調整する必要がある。ユーザがリニアイコライザの設定を変更することができないアプリケーションでは、イコライザ強度を自動調整できる機能が必要となる。

特許文献１にはイコライザ強度の自動調節技術が開示されている。図１６に、特許文献１に記載のアダプティブイコライザ４０の構成を示す。図１７は、特許文献１記載のイコライザ強度の自動調節動作を示す制御フローである。特許文献１に記載の技術は、以下のようにイコライザ強度を自動調節する。

サンプラ１０４は、クロックタイミングでイコライザ出力４６のサンプリングを行う（Ｓ５１０）。次に、サンプリングデータからデータ値の分析と（Ｓ５２０）、データ遷移の有無の判定（Ｓ５３０）とを行う。そして、遷移を含む連続的データ値の中での境界値と境界値前のデータ値１．５ビットとを比較する（Ｓ５４０）。その後、前記比較を用いてイコライザによる高周波成分の補償具合を判定し（Ｓ５５０）、オフセットコントローラ１０６及びアダプティブコントローラ１０２によってイコライザ強度を自動調節する（Ｓ５６０、Ｓ５７０）。

図１８Ａ、図１８Ｂ、図１８Ｃは、特許文献１に記載の信号調整方法を用いた際の具体的な動作波形を示す図である。図１８Ａはイコライザ強度が最適である場合、図１８Ｂはイコライザ強度が不足している場合、図１８Ｃはイコライザ強度が過剰である場合の動作波形を示す。

イコライザ強度が最適である場合（図１８Ａ）、隣接するデータビットの値が互いに異なる連続する３ビットのデータの中心ビットのデータ（以下、１ビット孤立データとも記載する。）の時間幅は１ＵＩ(Unit Interval)、つまりクロック２周期分に等しくなる。この場合、データ境界部分Ｅ２とＤ３の符号関係は不定（Ｘ）である。

イコライザ強度が不足している場合（図１８Ｂ）、１ビット孤立データの時間幅は１ＵＩ未満となる。この場合、データの境界部分Ｅ２の符号（Ｌ）はＤ３の符号（Ｈ）と一致しない。

イコライザ強度が過剰な場合（図１８Ｃ）、１ビット孤立データの時間幅は１ＵＩよりも大きくなる。この場合、データの境界部分Ｅ２の符号（Ｈ）はＤ３の符号（Ｈ）と一致する。

データが遷移する場合、サンプリングデータ(D1,D2,E2,D3)は図１９に示す８つのケースに分類される。このうち４つのケースは、イコライザ強度が過剰と判定し、残りの４つのケースはイコライザ強度が不足していると判定する。この判定を参照し、イコライザ強度を調節する。

例えば、図１８Ｂの場合、(D1,D2,E2,D3)=(-1, -1, -1, +1)なので、"補償不足"と判定し、イコライザ強度を上げる。図１８Ｃの場合、(D1,D2,E2,D3)=(-1, -1, +1, +1)なので、"過剰補償"と判定し、イコライザ強度を下げる。図１８Ａの場合、(D1,D2,E2,D3)=(-1, -1, X, +1)であるが、Ｅ２は５０％の確率で+1または-1をとり、イコライザ強度は上下で振動することになる。本操作を継続して行なうことにより、イコライザが最適な強度設定へと収束する。

特開２００８−３５４８５号公報

しかしながら、特許文献１に記載の信号調整方法によっては、以下の被調整信号を持つ場合に問題が生じる。図２０は、特許文献１の信号調整方法では、イコライザ強度の自動調整を誤る場合を示す図である。図２０の被調整信号は、出力の１ビット孤立データ部分（Ａ）が符号判定閾値を超えない、かつ、２ビット連続データ部分（Ｂ及びＣ）の時間幅が１ＵＩより大きく２ＵＩ未満のデータを示す。

ここで図２０に示す被調整信号の特性の詳細を説明する。図２１Ａ、図２１Ｂは、一連の信号の波形を重ね書きして作成されるアイパターンの例を示す図である。図２１Ａは、信号が図２０の（Ａ）に示すような符号判定閾値を超えない波形を含む場合において、この信号のアイパターンを作成する概念図である。符号判定閾値を超えない波形を重ね合わせると、Ｅｙｅ開口を持たないアイパターンが作成される。以下、このようにＥｙｅ開口を持たないアイパターンを生成する波形を持つ信号を「開口部を有さない信号」または、「Ｅｙｅが閉じている信号」と表現する。

一方、図２１Ｂは、符号判定閾値を超える波形を含む信号から作成されたアイパターンの概念図である。符号判定閾値を超える波形を含む信号をさらに重ね合わせたとしても、Ｅｙｅ開口を有するアイパターンが作成される。以下、このようにＥｙｅ開口を持つアイパターンを生成する波形を持つ信号を「開口部を有する信号」または、「Ｅｙｅが開いている信号」と表現する。

図２０の被調整信号、すなわちＥｙｅが閉じている信号に対し、特許文献１の信号調整方法を適用し、イコライザ強度を自動調整した場合の動作を以下に述べる。

１ビット孤立データ部分（Ａ）におけるサンプリング結果は(D1,D2,E2,D3) = (-1,-1,-1,-1) となる。このデータは、図１９に示したデータのいずれにも該当しないため、イコライザ強度の調整は行われない。

２ビット連続データ部分（Ｂ）におけるサンプリング結果は (D1,D2,E2,D3) = (-1,-1,+1,+1) となる。このデータは、図１９に示したテーブルによると、等化レベルが「過剰補償」と判定される。そのため、本来はオフセットを挙げて２ビットデータにすべきところ、逆にイコライザ強度を誤って下げてしまう。

また、（Ｂ）から１ＵＩ間隔でタイミングを遅らせた場合である（Ｃ）のタイミングでは、サンプリング結果は (D1,D2,E2,D3) = (-1,+1,+1,-1) となる。このサンプリング結果は、図１９に示したテーブルによると、等化レベルが「おそらく過剰補償」と判定される。そのため、本来はイコライザ強度を上げるべきところ、逆にイコライザ強度を誤って下げてしまう。

上記のように、特許文献１の信号調整方法によっては、図２０に示す被調整信号の場合、イコライザ強度は低い設定のままとなり、高くする自動調節が行われない。ここで仮に、イコライザ強度の初期値を高い設定から開始すれば最適設定に落ち着く動作をとることは可能である。しかし、ノイズや異常動作などによりイコライザ設定が変化して上記の状態となった場合、イコライザ強度はやはり低い設定のままに陥ってしまう。この場合に、イコライザを正常動作させるためには、ユーザはイコライザのリセット操作を行わなければならない。

本発明にかかるイコライザ調整方法の一態様は、入力信号のレベル調節を行うイコライザの特性を調整するイコライザ調整方法であって、前記入力信号のデータ遷移に基づいて、第１タイミングを選択し、前記入力信号の信号周期に基づき、前記第１タイミングから一定時間前の第２のタイミングと、前記第１タイミングから一定時間後の第３のタイミングとを選択し、前記第１のタイミングに基づき、前記入力信号をサンプリングし、前記サンプリングにより抽出したサンプリングデータから隣接するデータビットの値が互いに異なる連続する３ビットのデータを検出し、前記入力信号の受信波形が開口部を有するか否かを判定し、前記３ビットのデータを検出した場合、前記第１のタイミングでサンプリングした値と、前記第２のタイミングでサンプリングした値と、前記第３のタイミングでサンプリングした値と、前記開口部を有するか否かの判定とを参照して前記イコライザの特性の調整をするものである。

本発明では、１ビット孤立データが検出された場合、サンプリング値による判定に加えて、被調整信号のＥｙｅが開いているか否かを参照し、イコライザ強度の調整を行うため、イコライザ強度を誤って調整しないイコライザ調整方法を提供することができる。

本発明により、被調整信号のＥｙｅが開いていない場合であっても、イコライザ強度を誤って下げることなく、自動調節することができる。

実施の形態１にかかる基本構成を表した図である。 実施の形態１にかかる符号比較器の論理動作を表す図である。 実施の形態１にかかる基本動作を表したフローチャートである。 実施の形態１にかかるイコライザ補償が不足している場合のサンプリング結果を表した図である。 実施の形態１にかかるイコライザ補償が過剰な場合のサンプリング結果を表した図である。 実施の形態１にかかるイコライザ補償が最適な場合のサンプリング結果を表した図である。 実施の形態１にかかるＥｙｅ開閉判定器の構成を表す図である。 実施の形態１にかかるＥｙｅ開閉判定器の動作を示すフローチャートである。 実施の形態１にかかるＥｙｅ開閉判定器の動作タイミングチャートである。 従来は誤操作を生じるイコライザ出力を実施の形態１にかかるイコライザ調整方法に適応した場合の動作を示す図である。 実施の形態２にかかる基本動作を表したフローチャートである。 実施の形態２にかかる符号比較器の論理動作を表す図である。 実施の形態３にかかる基本構成を表した図である。 実施の形態３にかかるＥｙｅ開閉判定器の動作を示すフローチャートである。 実施の形態３にかかるＥｙｅ開閉判定器の動作タイミングチャートである。 従来技術の構成を表した図である。 従来技術の動作を表すフローチャートである。 従来のイコライザ出力のサンプリング結果を示す図である。 従来のイコライザ出力のサンプリング結果を示す図である。 従来のイコライザ出力のサンプリング結果を示す図である。 従来のイコライザゲイン制御方法を示すテーブルである。 従来の信号調整方法おいて誤操作を生じるイコライザ出力を示す図である。 Ｅｙｅの開閉にかかる概念図である。 Ｅｙｅの開閉にかかる概念図である。

実施の形態１
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。まず、図１を参照して、本実施の形態１の基本構成について説明する。図１に示す基本構成は、イコライザ１０１と、サンプリング回路１０２と、符号比較器１０３と、アップダウンカウンタ１０４と、イコライザ制御回路１０５と、Ｅｙｅ開閉判定器１０６と、レベル生成回路１０７と、を備える。

イコライザ１０１には、図示していない送信装置からの受信信号が入力され、イコライザ１０１は指示されたイコライザ強度に基づき、入力信号の波形整形を行う。イコライザ１０１は、イコライザ制御回路１０５からのＥＱ＿ＳＥＴ信号（イコライザ強度設定信号）の変更を受けると、高周波成分の強調度合を単調変化させる。

サンプリング回路１０２は、入力クロックタイミングでイコライザ１０１から出力された信号のサンプリングを行う。サンプリングは、データの遷移のタイミング（以下、エッジタイミングとも記載する。）と、エッジタイミングから０．５ＵＩ程度ずれたタイミング（以下、データタイミングとも記載する。）とで行う。具体的には、エッジタイミングから０．５ＵＩ程度遅れたデータタイミングを第１のタイミングとし、第１のタイミングに基づいてサンプリングをおこなう。サンプリング回路１０２は、第１のタイミングから０．５ＵＩ程度前後のタイミングである２つのエッジタイミングでの値を符号化したデータであるＥ［１：０］を符号比較器１０３へ出力する。また、サンプリング回路１０２は、第１のタイミングと、第１のタイミングから１ＵＩ程度前後のタイミングである３つのデータタイミングでの値を符号化したデータであるＤ［２：０］を符号比較器１０３へ出力する。なお、第１のタイミングから０．５ＵＩ前のタイミングを第２のタイミング、第１のタイミングから０．５ＵＩ後のタイミングを第３のタイミングとし、後述の符号比較器１０３は、第１、第２、及び第３のタイミングでのサンプリング値を利用して、イコライザ強度を調節する。符号比較器１０３の処理の詳細については後述する。

本実施の形態では、サンプリング回路１０２が、サンプリング値を符号化したデータを出力し、符号化データをイコライザ強度の調整に用いる例について説明するが、これに限られるものではない。符号化処理は一例であり、サンプリング値を用いることで、被調整信号のＥｙｅが開いていない場合であっても、イコライザ強度を誤って下げることなく、自動調節することができる。

なお、図４や図２０等では、サンプリング回路１０２は、クロックの立ち上がりタイミングでサンプリングを行っているが、これに限られるものではない。例えば、エッジタイミングとデータタイミングとでサンプリング可能であれば、クロックの立ち上がりのタイミングとクロックの立下りのタイミングとでサンプリングしてもよい。また、エッジタイミングとデータタイミングとでサンプリング可能であれば、多相クロックの立ち上がりタイミング、多相クロックの立ち下りタイミング、または両方のタイミングでサンプリングしてもよい。

符号比較器１０３は、サンプリング回路１０２からのＥ［１：０］と、Ｄ［２：０］とを入力とする。また、符号比較器１０３は、Ｅｙｅ開閉判定器１０６からのＥＹＥ＿ＯＰＥＮ信号も入力とする。符号比較器１０３は、Ｅ［１：０］と、Ｄ［２：０］と、ＥＹＥ＿ＯＰＥＮ信号と、を用い、データパターンの分析を行う。図２は、符号比較器１０３の動作を示す論理動作表である。符号比較器１０３は特定のデータパターンとＥＹＥ＿ＯＰＥＮ信号とからイコライザ強度が最適か否かを判定する。イコライザ強度が不足していると判定した場合、符号比較器１０３は、アップダウンカウンタ１０４へＵＰ＝"１"を出力する。イコライザ強度が過剰であると判定した場合、符号比較器１０３は、アップダウンカウンタ１０４へＤＯＷＮ＝"１"を出力する。

アップダウンカウンタ１０４は、符号比較器１０３から入力されるＵＰ＝"１"、及びＤＯＷＮ＝"１"の入力回数をカウントする。アップダウンカウンタ１０４には、閾値となる１以上の整数Ｎ、Ｍが設定されている。そして、（ＵＰ＝"１"の入力回数）−（ＤＯＷＮ＝"１"の入力回数）＝ Ｎとなる場合(オーバーフロー)、アップダウンカウンタ１０４はイコライザ制御回路１０５にＧＡＩＮ＿ＵＰ＝"１"を出力するとともに、カウンタ内部状態をクリアする。また、（ＤＯＷＮ＝"１"の入力回数）−（ＵＰ＝"１"の入力回数)＝Ｍとなるとき(アンダーフロー)、アップダウンカウンタ１０４は、イコライザ制御回路１０５に対してＧＡＩＮ＿ＤＯＷＮ＝"１"を出力するとともに、カウンタ内部状態をクリアする。なお、ユーザは閾値となるＮ、Ｍの値を適宜変更することができる。

イコライザ制御回路１０５は、ＧＡＩＮ＿ＵＰ＝"１"が入力された場合、イコライザ強度を強い設定へ変更するＥＱ＿ＳＥＴ信号をイコライザ１０１へ出力する。またＧＡＩＮ＿ＤＯＷＮ＝"１"が入力された場合、イコライザ強度を弱い設定へ変更するＥＱ＿ＳＥＴ信号をイコライザ１０１へ出力する。

Ｅｙｅ開閉判定器１０６は、レベル生成回路１０７で生成された２つの参照電位（ＶＴＨ＿ＤＣ、ＶＴＨ＿ＡＣ）を用いて、イコライザ１０１出力のＥｙｅ開閉の有無を判定する。Ｅｙｅが開いている場合、Ｅｙｅ開閉判定器１０６は、ＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"１"を符号比較器１０３に出力する。一方、Ｅｙｅが閉じている場合、Ｅｙｅ開閉判定器１０６は、ＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"０"を符号比較器１０３に出力する。

レベル生成回路１０７からの参照電位（ＶＴＨ＿ＤＣ、ＶＴＨ＿ＡＣ）は、Ｅｙｅ開閉判定器１０６からのＶＴＨ＿ＳＥＴ信号により、イコライザ１０１の出力振幅に応じたレベルに自動調節される。

次に、本実施の形態にかかるイコライザ強度の自動調整動作を図３のフローチャートを用いて説明する。サンプリング回路１０２は、クロックタイミングで、イコライザ１０１から出力信号をサンプリングする（Ｓ３０１）。サンプリングは、前述のようにデータ遷移タイミングで行う。

次に、符号比較器１０３でサンプリングデータＤ[２：０]の分析を行う（Ｓ３０２、Ｓ３０３）。Ｄ［２：０］、つまり３つのデータタイミングのビット列が、"１０１"または"０１０"の場合、１ビット孤立データが入力されていると判定する。Ｄ［２：０］が、"１０１"または"０１０"以外の場合、１ビット孤立データが入力されていないとみなし、イコライザ強度の調整は行わない（Ｓ３０３：Ｎｏ）。

１ビット孤立データが入力された場合（Ｓ３０３：Ｙｅｓ）、符号比較器１０３は、Ｅ０とＤ１、及びＥ１とＤ１の符号関係を比較する（Ｓ３０４、Ｓ３０５）。ここで、イコライザ強度が不足している場合、イコライザ１０１からの１ビット孤立データの出力波形は図４に示すようになる。図４の１ビット孤立データの時間幅は１ＵＩよりも小さいため、Ｅ０とＤ１の符号関係はＥ０≠Ｄ１となる。また、Ｅ１とＤ１の符号関係はＥ１≠Ｄ１となる。Ｅ０≠Ｄ１、及びＥ１≠Ｄ１となる符号関係を検出した場合（Ｓ３０５）、アップダウンカウンタ１０４にＵＰ＝"１"を入力する（Ｓ３０８）。

アップダウンカウンタ１０４におけるカウントにおいて（Ｓ３０８）、（ＵＰ＝"１"の入力回数）−（ＤＯＷＮ＝"１"の入力回数）が一定数（Ｎ）に達した時、すなわちオーバーフローした時（Ｓ３１０）、アップダウンカウンタ１０４は、ＧＡＩＮ＿ＵＰを出力し、イコライザ制御回路１０５はイコライザ１０１への強度設定信号ＥＱ＿ＳＥＴを高く変更する（Ｓ３１２）。

また、イコライザ強度が過剰な場合、イコライザ１０１からの１ビット孤立データの出力波形は図５のようになる。図５の１ビット孤立データの時間幅は、１ＵＩよりも大きいため、Ｅ０とＤ１の符号関係はＥ０＝Ｄ１となる。また、Ｅ１とＤ１の符号関係はＥ１＝Ｄ１となる（Ｓ３０５）。

しかし、特許文献１に記載の信号調整方法によっては誤動作する場合、すなわち図２０のようなデータが入力された場合、符号比較器１０３は、Ｅ０とＤ１の符号関係はＥ０＝Ｄ１、Ｅ１とＤ１の符号関係はＥ１＝Ｄ１と判定してしまう（Ｓ３０５）。

この場合、符号比較器１０３は、Ｅｙｅ開閉判定器１０６から入力されるＥｙｅ開閉判定結果ＥＹＥ＿ＯＰＥＮの符号を参照する（Ｓ３０６）。イコライザの強度が過剰な場合、Ｅｙｅが開いている。一方、図２０のような信号波形の入力の場合にはＥｙｅが閉じている。そのため、Ｅｙｅの開閉有無により、イコライザ強度が過剰な場合と、図２０のような信号波形の入力がなされた場合とを区別できる。

ＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"０"、すなわちＥｙｅが閉じている場合（Ｓ３０７：Ｎｏ）、イコライザの自動調整を行なわない。一方、ＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"１"、すなわちＥｙｅが開いている場合、イコライザ強度が過剰と判定し、符号比較器１０３はアップダウンカウンタ１０６にＤＯＷＮ＝"１"を入力する（Ｓ３０９）。

アップダウンカウンタ１０４におけるカウントにおいて（Ｓ３０９）、（ＤＯＷＮ＝"１"の入力回数）−（ＵＰ＝"１"の入力回数）が一定数（Ｍ）に達した時、すなわちアンダーフローした時（Ｓ３１１：Ｙｅｓ）、アップダウンカウンタ１０４は、ＧＡＩＮ＿ＤＯＷＮを出力し、イコライザ制御回路１０５は、イコライザ１０１への強度設定信号ＥＱ＿ＳＥＴを低く変更する（Ｓ３１３）。

また、イコライザ強度が最適である場合、イコライザ１０１からの１ビット孤立データの出力波形は図６のようになる。図６の１ビット孤立データの時間幅は１ＵＩと等しくなる。この場合、Ｅ０とＤ１の符号関係は不定となる。つまり、Ｅ０は５０％の確率で、符号が０または１となり、Ｅ０とＤ１の符号関係はＥ０＝Ｄ１が出現する確率とＥ０≠Ｄ１となる確率とが等しくなる。同様に、Ｅ１とＤ１の符号関係は不定となる。つまり、Ｅ１は５０％の確率で、符号が０または１となり、Ｅ１とＤ１の符号関係は、Ｅ１＝Ｄ１が出現する確率と、Ｅ１≠Ｄ１となる確率とが等しくなる。従って、アップダウンカウンタ１０４へのＵＰ＝"１"の入力回数（Ｓ３０８）と、ＤＯＷＮ＝"１"の入力回数（Ｓ３０９）とが等しくなるため、イコライザ１０１のイコライザ強度は最適設定で収束する。

上記の一連の処理フローにより、本実施の形態にかかるイコライザ強度の自動調整が実現される。本処理フローを継続して行うことで、イコライザ強度は最適設定に収束する。しかし、イコライザ強度が収束状態にあっては、イコライザ強度が振動してしまい、イコライザ１０１からの出力信号にＩＳＩジッタが生じる可能性がある。この場合、一定期間後に上記一連の処理フローを停止し、イコライザ強度の設定が振動しないようにしてもよい。

イコライザ１０１の出力信号のＥｙｅが閉じているか否かは、イコライザ出力の高周波成分（Ｓ＿ＡＣ）ピークレベルの大小により判定する。イコライザ出力信号のＥｙｅが閉じている場合、信号の高周波成分が大きく減衰しており、イコライザ出力の高周波成分（Ｓ＿ＡＣ）のピークレベルは低くなっている。一方、イコライザ出力のＥｙｅが開いている場合、信号の高周波成分は大きいため、イコライザ出力の高周波成分（Ｓ＿ＡＣ）のピークレベルは高くなっている。

イコライザ出力の高周波成分（Ｓ＿ＡＣ）ピークレベルは、イコライザ出力の振幅の大小によって変化する。そのため、イコライザ出力の振幅に応じた判定レベルとなるよう、参照電位（ＶＴＨ＿ＤＣ、ＶＴＨ＿ＡＣ）の自動調整を行なう必要がある。Ｅｙｅ開閉判定器１０６についての説明において、詳細を説明する。

Ｅｙｅ開閉判定器１０６とレベル生成回路１０７とについて説明する。図７は、Ｅｙｅ開閉判定器１０６とレベル生成回路１０７との具体的な構成例を示す図である。ＬＰＦ１０６１は、イコライザ１０１からの出力信号である入力信号ＩＮの低周波成分Ｓ＿ＤＣを抽出する。ＨＰＦ１０６２は、イコライザ１０１からの出力信号である入力信号ＩＮの高周波成分Ｓ＿ＡＣを抽出する。

コンパレータ１０６３は、Ｓ＿ＤＣとレベル生成回路１０７内の可変電圧源１０７１の生成電圧ＶＴＨ＿ＤＣ（スレッショルド電圧）とを比較する。Ｓ＿ＤＣピークレベルがＶＴＨ＿ＤＣよりも大きい場合（Ｓ＿ＤＣピークレベル＞ＶＴＨ＿ＤＣ）、コンパレータ１０６３はパルス列（ＰＵＬＳＥ＿ＤＣ）を出力する。一方、Ｓ＿ＤＣピークレベルがＶＴＨ＿ＤＣよりも小さい場合（Ｓ＿ＤＣピークレベル＜ＶＴＨ＿ＤＣ）、コンパレータ１０６３は"０"を出力する。

コンパレータ１０６４は、Ｓ＿ＡＣとレベル生成回路１０７内の可変電圧源１０７２の生成電圧ＶＴＨ＿ＡＣ（スレッショルド電圧）とを比較する。Ｓ＿ＡＣピークレベルがＶＴＨ＿ＡＣよりも大きい場合（Ｓ＿ＡＣピークレベル＞ＶＴＨ＿ＡＣ）、コンパレータ１０６４はパルス列（ＰＵＬＳＥ＿ＡＣ）を出力する。一方、Ｓ＿ＡＣピークレベルがＶＴＨ＿ＡＣよりも小さい場合（Ｓ＿ＡＣピークレベル＜ＶＴＨ＿ＡＣ）、コンパレータ１０６４は"０"を出力する。

カウンタ１０６５は、コンパレータ１０６３からのＰＵＬＳＥ＿ＤＣと、タイマー１０６７からのＴＩＭＥ＿ＯＵＴ信号と、を入力とする。カウンタ１０６５は、可変電圧源１０７１と可変電圧源１０７２とに、調整信号であるＶＴＨ＿ＳＥＴを出力する。カウンタ１０６５にＰＵＬＳＥ＿ＤＣがＰ回（１以上の任意の整数）以上入力された場合、カウンタ１０６５はＶＴＨ＿ＳＥＴを高い値に設定変更して出力する。また、カウンタ１０６５にＴＩＭＥ＿ＯＵＴ信号が入力された場合、ＶＴＨ＿ＳＥＴ信号を低い値に設定変更して出力する。

収束検出回路１０６６は、コンパレータ１０６３からのＰＵＬＳＥ＿ＤＣと、コンパレータ１０６４からのＰＵＬＳＥ＿ＡＣと、タイマー１０６７からのＴＩＭＥ＿ＯＵＴと、を入力とする。収束検出回路１０６６はＶＴＨ＿ＤＣ及びＶＴＨ＿ＡＣのレベルの収束判定、及びＥＹＥ＿ＯＰＥＮ信号の出力を行なう。タイマー１０６７は、一定時間毎にＴＩＭＥ＿ＯＵＴ信号をカウンタ１０６５と収束検出回路１０６６とに出力する。

レベル生成回路１０７内の可変電圧源１０７１の生成電圧ＶＴＨ_ＤＣと可変電圧源１０７２の生成電圧ＶＴＨ＿ＡＣは比例関係となるように設定しておく。

ＴＩＭＥ＿ＯＵＴの１周期内で、カウンタ１０６５が出力するＶＴＨ_ＳＥＴの出力の変化回数が任意の範囲内である場合、収束検出回路１０６６の収束フラグ信号であるＬＯＣＫを"１"と設定する。ＶＴＨ＿ＳＥＴ変化がｎ回(ｎ：自然数)の場合、ｎ×Ｐ≦（ＰＵＬＳＥ＿ＤＣの入力回数）＜（ｎ＋１）×Ｐ となる。したがって、ＴＩＭＥ＿ＯＵＴ信号の１周期内で、ＰＵＬＳＥ＿ＤＣの入力回数をカウントすることでＶＴＨ＿ＤＣレベルの収束判定が可能となり、収束フラグ信号ＬＯＣＫの設定を行うことができる。

ＬＯＣＫが"１"であり、収束検出回路１０６６にＰＵＬＳＥ＿ＡＣがＱ回(Ｑは１以上の任意の整数)入力された場合、Ｅｙｅが開いていると判定し、収束検出回路１０６６はＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"１"を出力する。

ここで、ＬＯＣＫが１である場合、つまりＶＴＨ＿ＤＣレベルが収束状態となった場合に信号レベル判定を行うのは、以下の理由の通りである。Ｓ＿ＤＣピークレベルがＶＴＨ＿ＤＣよりも著しく大きい場合（Ｓ＿ＤＣピークレベル＞ＶＴＨ＿ＤＣ）、ＶＴＨ＿ＡＣはＶＴＨ＿ＤＣと比例関係にあるため、最適なレベルよりもかなり低くなっている。そのため、イコライザ１０１からの出力信号のＥｙｅが閉じている場合であっても、コンパレータ１０６４からのパルス列ＰＵＬＳＥ＿ＡＣが出力される可能性がある。一方、Ｓ＿ＤＣピークレベルがＶＴＨ＿ＤＣよりも小さい場合（Ｓ＿ＤＣピークレベル＜ＶＴＨ＿ＤＣ）、ＶＴＨ＿ＡＣはＶＴＨ＿ＤＣと比例関係にあるため、最適なレベルよりもかなり高くなっている。そのため、イコライザ１０１からの出力信号のＥｙｅが開いている場合であっても、コンパレータ１０６４からの出力が"０"に固定される可能性がある。

ＶＴＨ＿ＤＣがＳ＿ＤＣピークレベル付近で収束している場合において、Ｓ＿ＡＣピークレベルがＶＴＨ＿ＡＣよりも小さい場合（Ｓ＿ＡＣピークレベル＜ＶＴＨ＿ＡＣ、コンパレータ１０６４からの出力が"０"に固定されている場合)、収束検出回路１０６６は、Ｅｙｅが閉じていると判定する。一方、ＶＴＨ＿ＤＣがＳ＿ＤＣピークレベル付近で収束している場合において、Ｓ＿ＡＣピークレベルがＶＴＨ＿ＡＣよりも大きい場合（Ｓ＿ＡＣピークレベル＞ＶＴＨ＿ＡＣ、コンパレータ１０６４からの出力がパルス列ＰＵＬＳＥ＿ＡＣである場合）、収束検出回路１０６６は、Ｅｙｅが開いていると判定する。

続いて、図８のフローチャートを用いてＥｙｅ開閉判定器１０６による信号レベル判定の動作を説明する。

タイマー１０６７は、一定時間毎にＴＩＭＥ＿ＯＵＴ信号を出力する（Ｓ８０１）。ＴＩＭＥ＿ＯＵＴ＝"１"ではなく（Ｓ８０２：Ｎｏ）、コンパレータ１０６３からパルス列（ＰＵＬＳＥ＿ＤＣ）が出力された場合、カウンタ１０６５の値をインクリメントする（Ｓ８０２〜Ｓ８０５）。カウンタ１０６５にＰＵＬＳＥ＿ＤＣが閾値（Ｐ回）以上入力された場合（オーバーフロー）、調整信号ＶＴＨ＿ＳＥＴを高い値に設定変更する（Ｓ８０６、Ｓ８０７）。

ＶＴＨ＿ＤＣが収束している場合、すなわち収束検出回路１０６６内部のフラグ信号ＬＯＣＫ＝"１"となっている場合（Ｓ８０８、Ｓ８０９）、収束検出回路１０６６はＥｙｅ開閉判断を行う。

収束検出回路１０６６は、Ｓ＿ＡＣとＶＴＨ＿ＡＣとを比較し、Ｓ＿ＡＣが大きい場合、すなわち、コンパレータ１０６４にＰＵＬＳＥ＿ＡＣが入力された場合、収束検出回路１０６６のＰＵＬＳＥ＿ＡＣの入力回数をインクリメントする（Ｓ８１０〜Ｓ８１２）。収束検出回路１０６６へのＰＵＬＳＥ＿ＡＣ入力回数が閾値（Ｑ回）と等しい回数入力された場合（オーバーフロー）、収束検出回路１０６６はＥｙｅが開いていると判定する。Ｅｙｅが開いている場合、Ｅｙｅが開いていることを示す信号（ＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"１"）を出力する（Ｓ８１３、Ｓ８１４）。

一方、タイマー１０６７の出力信号ＴＩＭＥ＿ＯＵＴ＝"１"である場合、ＶＴＨ＿ＤＣ及びＶＴＨ＿ＡＣのレベル収束判定を行う（Ｓ８０２：Ｙｅｓ）。

ＴＩＭＥ＿ＯＵＴ信号の１周期内で、カウンタ１０６５からのＶＴＨ＿ＳＥＴ信号の設定変更回数が任意の範囲内である場合、収束検出回路１０６６は、ＶＴＨ＿ＤＣ及びＶＴＨ＿ＡＣのレベルが収束したと判定する。ＶＴＨ＿ＤＣ及びＶＴＨ＿ＡＣのレベルが収束したと判定した場合、収束検出回路１０６６内部の収束フラグ信号であるＬＯＣＫを"１"（ＬＯＣＫ＝"１"）に設定する（Ｓ８１５、Ｓ８１６、Ｓ８１８）。

ＬＯＣＫ＝"１"であり、かつタイマー１周期のＰＵＬＳＥ＿ＡＣの回数が規定回数以下であれば、イコライザ１０１からの入力信号ＩＮからの高周波成分が不足しているとみなす。なお、ＰＵＬＳＥ＿ＡＣの回数を判定する規定回数は１以上の任意の整数であり、適宜変更可能である。イコライザ１０１からの入力信号ＩＮからの高周波成分が不足していると判定した場合、収束検出回路１０６６は、Ｅｙｅが閉じていることを示す信号（ＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"０"）を出力する（Ｓ８２０、Ｓ８２１）。

ＴＩＭＥ＿ＯＵＴ信号の１周期内で、カウンタ１０６５からのＶＴＨ＿ＳＥＴ信号の設定変更回数が任意の範囲外である場合、収束検出回路１０６６は、ＶＴＨ＿ＤＣ及びＶＴＨ＿ＡＣのレベルが収束していないと判定する。ＶＴＨ＿ＤＣ及びＶＴＨ＿ＡＣのレベルが収束していないと判定した場合、収束検出回路１０６６内部の収束フラグ信号であるＬＯＣＫを"０"に設定する（Ｓ８１７）。また、収束検出回路１０６６は、Ｅｙｅが閉じていることを示す信号（ＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"０"）を出力する（Ｓ８２１）。

最後に、カウンタ１０６５は、ＶＴＨ＿ＳＥＴの値を１段階低い値に設定する（Ｓ８２２）。上記のように、イコライザ１０１からの入力信号の振幅が大きい場合、ＶＴＨ＿ＤＣ及びＶＴＨ＿ＡＣのレベルは上昇する。一方、イコライザ１０１からの入力信号の振幅が小さい場合、ＶＴＨ＿ＤＣ及びＶＴＨ＿ＡＣのレベルは低下する。上記一連の処理を継続することにより、ＶＴＨ＿ＤＣは、Ｓ＿ＤＣピークレベル付近で収束する。これにより、最終的にＶＴＨ＿ＤＣ及びＶＴＨ＿ＡＣは自動的に最適レベルに調整される。また、上記のフロー（Ｓ８０１〜Ｓ８２２）によれば、リアルタイムでイコライザ１０１の出力信号のＥｙｅ開閉判定を行うことができる。

続いて、Ｅｙｅ開閉判定器１０６の処理を、図９のタイミングチャートを用いて説明する。図９には、ＴＩＭＥ＿ＯＵＴ信号の３周期（図９（Ａ）、図９（Ｂ）、図９（Ｃ））にかかるＥｙｅ開閉判定器１０６の動作が示されている。

図９に示す例では、カウンタ１０６５によるＶＴＨ＿ＳＥＴの値の変更は、ＰＵＬＳＥ＿ＤＣの入力が１回行われた際に行う（Ｐ＝１）。また、収束検出回路１０６６は、ＰＵＬＳＥ＿ＡＣが１回以上入力された際にＥｙｅが開いていると判定する（Ｑ＝１）。ＶＴＨ＿ＤＣの収束判定条件は「ＴＩＭＥ＿ＯＵＴ信号１周期内におけるカウンタ１０６５出力の変化回数が１回(ｎ＝１)であるとき」とし、収束検出回路１０６６の収束フラグ信号であるＬＯＣＫの値は、図９（Ａ）の時点では"０"であるものとする。

図９（Ａ）の期間におけるＥｙｅ開閉判定器１０６の処理を説明する。コンパレータ１０６３は、Ｓ＿ＤＣピークレベルとＶＴＨ＿ＤＣとを比較する。Ｓ＿ＤＣピークレベルがＶＴＨ＿ＤＣよりも大きい時点で、コンパレータ１０６３はＰＵＬＳＥ＿ＤＣをカウンタ１０６５へ出力する。

カウンタ１０６５は、ＰＵＬＳＥ＿ＤＣが入力された時点で、ＶＴＨ＿ＳＥＴの値を高い設定へ変更する。ＰＵＬＳＥ＿ＤＣの入力により、ＶＴＨ＿ＳＥＴは一段階高い設定（２）に変更される。これにより、ＶＴＨ＿ＤＣ及びＶＴＨ＿ＡＣのレベルが上昇する。

同様に、Ｓ＿ＤＣピークレベルがＶＴＨ＿ＤＣよりも大きい時点で、コンパレータ１０６３はＰＵＬＳＥ＿ＤＣをカウンタ１０６５へ再度出力する。カウンタ１０６５は、ＰＵＬＳＥ＿ＤＣが入力された時点で、ＶＴＨ＿ＳＥＴの値を再度高い設定（３）に変更される。これにより、ＶＴＨ＿ＤＣ及びＶＴＨ＿ＡＣのレベルが上昇する。

図９（Ａ）に示す期間において、Ｓ＿ＡＣピークレベルがＶＴＨ＿ＡＣよりも大きくなり、コンパレータ１０６４はＰＵＬＳＥ＿ＡＣを収束検出回路１０６６へ出力している。この場合、ＬＯＣＫ＝"０"であるため、収束検出回路はＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"０"を出力する。

続いて、図９（Ｂ）の期間におけるＥｙｅ開閉判定器１０６の処理を説明する。タイマー１０６７は、カウンタ１０６５にＴＩＭＥ＿ＯＵＴ信号を入力する。カウンタ１０６５は、ＴＩＭＥ＿ＯＵＴ信号の入力を受け付けた時点で、ＶＴＨ＿ＳＥＴを一段階低い設定（２）に変更する。これにより、ＶＴＨ＿ＤＣ及びＶＴＨ＿ＡＣのレベルが低下する。

また、図９（Ａ）の期間において、カウンタ１０６５はＶＴＨ＿ＳＥＴの設定を２回変更しているため（（１）→（２）→（３））、収束判定回路１０６６がＶＴＨ＿ＤＣのレベルが収束していないと判定する。よって、ＬＯＣＫの値は変更されない（ＬＯＣＫ＝"０"）。

Ｓ＿ＤＣピークレベルがＶＴＨ＿ＤＣよりも大きい時点で、コンパレータ１０６３はＰＵＬＳＥ＿ＤＣをカウンタ１０６５へ出力する。ＰＵＬＳＥ＿ＤＣの入力により、ＶＴＨ＿ＳＥＴは一段階高い設定（３）に変更される。これにより、ＶＴＨ＿ＤＣ及びＶＴＨ＿ＡＣのレベルが上昇する。

図９（Ｂ）に示す期間において、Ｓ＿ＡＣピークレベルがＶＴＨ＿ＡＣよりも大きくなり、コンパレータ１０６４はＰＵＬＳＥ＿ＡＣを収束検出回路１０６６へ出力している。この場合、ＬＯＣＫ＝"０"であるため、図９（Ａ）に示す期間と同様に収束検出回路はＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"０"を出力する。

続いて、図９（Ｃ）の期間におけるＥｙｅ開閉判定器１０６の処理を説明する。カウンタ１０６５は、ＴＩＭＥ＿ＯＵＴ信号の入力を受け付けた時点で、ＶＴＨ＿ＳＥＴを一段階低い設定（２）に変更する動作は図９（Ｂ）での処理と同様である。

図９（Ｂ）の期間において、カウンタ１０６５はＶＴＨ＿ＳＥＴの設定を１回変更しているため（（２）→（３））、収束検出回路１０６６がＶＴＨ＿ＤＣのレベルが収束したと判定する。そのため、収束検出回路１０６６内部の収束フラグ信号であるＬＯＣＫを"１"（ＬＯＣＫ＝"１"）に設定する。

Ｓ＿ＡＣがＶＴＨ＿ＡＣよりも大きくなった時点で、コンパレータ１０６４はＰＵＬＳＥ＿ＡＣを収束検出回路１０６６に出力する。ＬＯＣＫ＝"１"となった状態で、ＰＵＬＳＥ＿ＡＣが入力されたため、収束検出回路１０６６は、Ｅｙｅが開いていると判定し、ＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"１"を出力する。

本実施の形態にかかるイコライザ調整方法を図２０の被調整信号に適用した例を図１０に示す。Ｅｙｅ開閉判定器１０６は、イコライザ１０１からの出力信号からＥｙｅの開閉を判定し、ＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"０"を出力している。１ビット孤立データ部分（Ａ)におけるサンプリング結果(D0,E0,D1,E1,D2) = (0,0,0,0,0)であり、ＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"０"となる。符号比較器１０３は、符号比較器の論理動作（図２）に従い、この場合には、イコライザ強度の調整は行なわない。また、２ビット孤立データ部分（Ｂ)におけるサンプリング結果(D0,E0,D1,E1,D2) = (0,1,1,1,0)であり、ＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"０"となる。符号比較器１０３は、符号比較器の論理動作（図２）に従い、この場合の場合にも、イコライザ強度の調整は行なわない。

上記一連の処理により、Ｅｙｅが閉じている被調整信号が入力された場合であっても、Ｅｙｅ開閉判定の結果を基に、イコライザ強度の調整を行う。そのため、Ｅｙｅが閉じている被調整信号に対しても、誤ってイコライザ強度を下げてしまうという誤操作を防止することができる。

実施の形態２
本発明の実施の形態２は、被調整信号のＥｙｅが閉じている場合には、強制的にイコライザ強度を強める制御を符号比較器１０３に追加したことを特徴とする。

実施の形態１で示したイコライザ強度の自動調整動作（図３）によっては、Ｅｙｅ開閉判定器の出力を判定し（Ｓ３０６）、Ｅｙｅが閉じている場合には（ＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"０"）、イコライザ強度の調整は行わない。そのため、イコライザによるＩＳＩジッタの補償が不十分であるにも関わらず、イコライザ強度を下げてしまうという誤操作を防止できる。しかし、本来はイコライザ強度を強める必要があるが、実施の形態１のイコライザ調整方法によっては、イコライザ強度を強めるという操作には至らない。

図１１のフローチャートは、実施の形態２にかかるイコライザ強度の自動調整動作を示す。本実施の形態におけるイコライザ強度の自動調整動作について、実施の形態１と異なる部分を説明する。

サンプリングデータの分析処理（Ｓ１１０２）の前に、Ｅｙｅ開閉判定器１０６からの出力を判定、すなわちＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"１"であるか否かを判定する（Ｓ１１０７）。Ｅｙｅが閉じていると判定した場合（ＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"０"）、符号比較器１０３は、強制的にアップダウンカウンタ１０４にＵＰ＝"１"を入力する（Ｓ１１０８）。上記の処理により、Ｅｙｅが閉じている場合には、Ｅｙｅが開いている状態（ＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"１"）となるまで、イコライザ強度は上昇する。Ｅｙｅが開いた状態（ＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"１"）となった場合、実施の形態１と同様の方法で、サンプリングデータの分析（Ｓ１１０２）と、符号比較（Ｓ１１０４）とを行うことにより、イコライザ強度の調整を行う。

なお、実施の形態１のイコライザ強度の自動調整動作（図３）では符号関係チェック（９０５）とカウンタのデクリメント（Ｓ３０９）との間にＥｙｅ開閉出力確認(Ｓ３０６、Ｓ３０７)が存在する。しかし、本実施の形態のイコライザ強度の自動調整動作（図１８）では、Ｅｙｅ開閉出力確認(Ｓ３０６、Ｓ３０７)が存在しない。これは、符号関係チェック（Ｓ１８０５）の処理に到達した時点でＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"１"であるため、再度Ｅｙｅ開閉出力確認を行うことは冗長であり、省略している。

実施の形態２のイコライザ強度の自動調整動作（図１１）は、符号比較器１０３の論理動作を図１２のものとすることで実現できる。上記一連の処理により、被調整信号のＥｙｅが閉じている場合には、Ｅｙｅが開く状態となるまで、強制的にイコライザ強度を高めることができる。

実施の形態３
本発明の実施の形態３は、入力信号の振幅に関わらず、イコライザからの出力信号の振幅を一定とする、つまり振幅利得を自動的に調整するＡＧＣ（Auto Gain Control）機能を実現したことを特徴とする。

一般的に、入力信号の振幅が小さい場合、出力信号の振幅を大きくするため、高利得とする制御を行う。しかし、入力信号の振幅が大きい場合においても、高利得のままであると、出力信号がリミットしてしまう。

ここで、仮に実施の形態１におけるイコライザ１０１の後段に判定帰還イコライザ（ＤＦＥ: Decision Feedback Equalizer）等の線形システムを接続した場合、一度リミットしてしまった信号処理に対する信号処理効果が低くなる可能性がある。そのため、後段回路の入力信号のダイナミックレンジを保証するため、ＡＧＣ機能が必要となる。

入力信号の振幅が小さい場合、ＡＧＣ機能は、イコライザからの出力信号を大きくするため、高利得とする。一方、入力信号の振幅が小さい場合、ＡＧＣ機能は、後段回路の入力信号のダイナミックレンジを超えないよう、低利得として、出力信号の振幅を抑える。このような処理により、出力信号の振幅を一定範囲に保つ。

図１３は、ＡＧＣ機能を実現したイコライザ調整方法の基本構成を示す図である。実施の形態３における基本構成は、実施の形態１の基本構成と異なり、可変利得アンプ１０８を備える。また、レベル生成回路１０７の設定は一定であり、ＶＴＨ＿ＤＣ及びＶＴＨ＿ＡＣは一定レベルに固定される。また、Ｅｙｅ開閉判定器１０６からの出力信号であるＶＴＨ＿ＳＥＴをＧＡＩＮ＿ＳＥＴとして、可変利得アンプ１０８への入力としている。

可変利得アンプ１０８は、Ｅｙｅ開閉判定器１０６からのＧＡＩＮ＿ＳＥＴ信号（利得設定）の変更により、振幅利得が単調変化するように構成する。

なお、イコライザ強度の自動調整動作は、実施の形態１または実施の形態２と同様であるため（図３、図１１）、説明は省略する。

図１４のフローチャートは、本実施の形態におけるＥｙｅ開閉判定器１０６の動作を示す。実施の形態２におけるＥｙｅ開閉判定器１０６の処理では、ＶＴＨ＿ＳＥＴの調整（Ｓ８０７、Ｓ８２２）と、ＶＴＨ＿ＤＣの収束確認及び収束検出（Ｓ８０８、Ｓ８１５）とを行う。一方、本実施の形態におけるＥｙｅ開閉判定器１０６の処理では、ＧＡＩＮ＿ＳＥＴの調整（Ｓ１４０７、Ｓ１４２２）と、ＧＡＩＮ＿ＳＥＴの収束確認及び収束検出（Ｓ１４０８、Ｓ１４１５）とを行う。

本実施の形態における説明では、カウンタ１０６５によるＧＡＩＮ＿ＳＥＴの値の変更は、ＰＵＬＳＥ＿ＤＣの入力が１回行われた際に行う（Ｐ＝１）。また、収束検出回路１０６６は、ＰＵＬＳＥ＿ＡＣが１回以上入力された際にＥｙｅが開いていると判定する（Ｑ＝１）。可変利得アンプ設定の収束判定条件は、「ＴＩＭＥ＿ＯＵＴ信号１周期内におけるカウンタ１０６５出力の変化回数が１回(ｎ＝１)であるとき」とする。

本実施の形態にかかるＥｙｅ開閉判定器１０６の処理を、図１５のタイミングチャートを用いて説明する。図１５には、ＴＩＭＥ＿ＯＵＴ信号の３周期（図１５（Ａ）、図１５（Ｂ）、図１５（Ｃ））にかかるＥｙｅ開閉判定器１０６の動作が示されている。

図１５（Ａ）の期間におけるＥｙｅ開閉判定器１０６の処理を説明する。実施の形態１と同様に、Ｓ＿ＤＣピークレベルがＶＴＨ＿ＤＣよりも大きい時点で、コンパレータ１０６３はＰＵＬＳＥ＿ＤＣをカウンタ１０６５へ出力する。

カウンタ１０６５は、ＰＵＬＳＥ＿ＤＣが入力された時点で、ＧＡＩＮ＿ＳＥＴの値を低い設定（３）に変更し、可変利得アンプ１０８の利得が低下する。可変利得アンプ１０８の利得が低下することにより、イコライザ入力ＥＱ＿ＩＮの振幅及びイコライザ出力ＯＵＴの振幅が減少する。同様に、Ｓ＿ＤＣピークレベルがＶＴＨ＿ＤＣよりも大きい時点で、コンパレータ１０６３はＰＵＬＳＥ＿ＤＣをカウンタ１０６５へ再度出力する。カウンタ１０６５は、ＰＵＬＳＥ＿ＤＣが入力された時点で、ＧＡＩＮ＿ＳＥＴの値を再度低い設定（２）へ変更し、可変利得アンプ１０８の利得が再度低下する。

図１５（Ａ）に示す期間において、Ｓ＿ＡＣピークレベルがＶＴＨ＿ＡＣよりも大きくなり、コンパレータ１０６４はＰＵＬＳＥ＿ＡＣを収束検出回路１０６６へ出力している。この場合、ＬＯＣＫ＝"０"であるため、収束検出回路はＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"０"を出力する。

続いて、図１５（Ｂ）の期間におけるＥｙｅ開閉判定器１０６の処理を説明する。タイマー１０６７は、カウンタ１０６５にＴＩＭＥ＿ＯＵＴ信号を入力する。カウンタ１０６５は、ＴＩＭＥ＿ＯＵＴ信号の入力を受け付けた時点で、ＧＡＩＮ＿ＳＥＴを一段階高い設定（３）に変更する。これにより、可変利得アンプ１０８の利得が上昇し、イコライザ入力ＥＱ＿ＩＮの振幅及びイコライザ出力ＯＵＴの振幅が増加する。

図１５（Ａ）の期間において、カウンタ１０６５はＧＡＩＮ＿ＳＥＴの設定を２回変更しているため（（４）→（３）→（２））、収束判定回路１０６６は可変利得アンプ設定レベルが収束していないと判定する。よって、ＬＯＣＫの値を変更しない（ＬＯＣＫ＝"０"）。

Ｓ＿ＤＣピークレベルがＶＴＨ＿ＤＣよりも大きい時点で、コンパレータ１０６３はＰＵＬＳＥ＿ＤＣをカウンタ１０６５へ出力する。ＰＵＬＳＥ＿ＤＣの入力により、ＧＡＩＮ＿ＳＥＴは一段階低い設定（２）に変更される。これにより、可変利得アンプ１０８の利得が低下する。この後は、Ｓ＿ＤＣピークレベルがＶＴＨ＿ＤＣよりも大きくなることは無いため、コンパレータ１０６３はこの期間において以後、ＰＵＬＳＥ＿ＤＣは出力されない。

図１５（Ｂ）に示す期間において、Ｓ＿ＡＣピークレベルがＶＴＨ＿ＡＣよりも大きくなり、コンパレータ１０６４はＰＵＬＳＥ＿ＡＣを収束検出回路１０６６へ出力している。この場合、ＬＯＣＫ＝"０"であるため、図１５（Ａ）に示す期間と同様に収束検出回路はＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"０"を出力する。

続いて、図１５（Ｃ）の期間におけるＥｙｅ開閉判定器１０６の処理を説明する。カウンタ１０６５は、ＴＩＭＥ＿ＯＵＴ信号の入力を受け付けた時点で、ＧＡＩＮ＿ＳＥＴを一段階高い設定（３）に変更する動作は図１５（Ｂ）での処理と同様である。

図１５（Ｂ）の期間において、カウンタ１０６５はＧＡＩＮ＿ＳＥＴの設定を１回変更しているため（（３）→（２））、収束判定回路１０６６は可変利得アンプ設定レベルが収束したと判定する。よって、ＬＯＣＫの値を"１"に変更する（ＬＯＣＫ＝"１"）。

Ｓ＿ＡＣがＶＴＨ＿ＡＣよりも大きくなった時点で、コンパレータ１０６４はＰＵＬＳＥ＿ＡＣを収束検出回路１０６６に出力する。ＬＯＣＫ＝"１"となった状態で、ＰＵＬＳＥ＿ＡＣが入力されたため、収束検出回路１０６６は、Ｅｙｅが開いていると判定し、ＥＹＥ＿ＯＰＥＮ＝"１"を出力する。

上記一連の処理により、可変利得アンプ設定が収束した場合（ＬＯＣＫ＝"１"）、Ｓ＿ＤＣピーク振幅が、一定レベルに設定したＶＴＨ＿ＤＣへ収束する。すなわち、イコライザ出力の振幅が一定レベルに調整されたことになり、ＡＧＣ機能が実現されている。

なお、図１３に示す構成では、可変利得アンプ１０８の後段にイコライザ１０１を配置しているがこれに限られるものではない。イコライザ１０１の後段に可変利得アンプ１０８を配置しても、同様の機能が実現可能である。

なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。

１０１ イコライザ
１０２ サンプリング回路
１０３ 符号比較器
１０４ アップダウンカウンタ
１０５ イコライザ制御回路
１０６ Ｅｙｅ開閉判定器
１０７ レベル生成回路

Claims (10)

1. 入力信号のレベル調整を行うイコライザの特性を調整するイコライザ調整方法であって、
   前記入力信号のデータ遷移に基づいて、第１のタイミングを選択し、前記入力信号の信号周期に基づき、前記第１のタイミングから一定時間前の第２のタイミングと、前記第１のタイミングから一定時間後の第３のタイミングとを選択し、
   前記第１のタイミングに基づき、前記入力信号をサンプリングし、
   前記サンプリングにより抽出したサンプリングデータから隣接するデータビットの値が互いに異なる連続する３ビットのデータを検出し、
   前記入力信号の受信波形が開口部を有するか否かを判定し、
   前記３ビットのデータを検出した場合、前記第１のタイミングでサンプリングした値と、前記第２のタイミングでサンプリングした値と、前記第３のタイミングでサンプリングした値と、前記開口部を有するか否かの判定とを参照して前記イコライザの特性の調整をするイコライザ調整方法。
2. 前記イコライザの特性の調整は、
   前記第１のタイミングでサンプリングした値の符号値と、前記第２及び前記第３のタイミングでサンプリングした値の符号値とが異なる場合に前記イコライザによる高周波成分の強調を強め、
   前記第１のタイミングでサンプリングした値の符号値と、前記第２及び前記第３のタイミングでサンプリングした値の符号値とがすべて同じであり、かつ前記判定により開口部を有すると判定した場合、前記イコライザによる高周波成分の強調を弱め、
   上記以外の場合には、前記イコライザの特性を調整しない請求項１に記載のイコライザ調整方法。
3. 前記イコライザの特性の調整は、
   前記判定により開口部を有さないと判定した場合に、前記イコライザによる高周波成分の強調を強める請求項２に記載のイコライザ調整方法。
4. 前記イコライザからの出力信号と、一定の参照電位とから利得設定を算出し、前記利得設定を用いて前記出力信号の振幅を自動調整する請求項１乃至３いずれかに記載のイコライザ調整方法。
5. 前記入力信号の高周波成分のピーク値と、前記入力信号の低周波成分のピーク値の比率を比較することにより前記開口部を有するか否かを判定する請求項１乃至４いずれかに記載のイコライザ調整方法。
6. 入力信号のレベル調整を行うイコライザの特性を調整するイコライザと、
   前記入力信号のデータ遷移に基づいて、第１のタイミングを選択し、前記入力信号の信号周期に基づき、前記第１のタイミングから一定時間前の第２のタイミングと、前記第１のタイミングから一定時間後の第３のタイミングとを選択し、前記第１のタイミングに基づき、前記入力信号をサンプリングするサンプラと、
   前記入力信号の受信波形が開口部を有するか否かを判定するＥｙｅ開閉判定器と、
   前記サンプリングにより抽出したサンプリングデータから隣接するデータビットの値が互いに異なる連続する３ビットのデータを検出し、前記３ビットのデータが検出された場合、前記第１のタイミングでサンプリングした値と、前記第２のタイミングでサンプリングした値と、前記第３のタイミングでサンプリングした値と、前記開口部を有するか否かの判定とを参照して前記イコライザの特性の調整をするための判定信号を出力する符号比較器と、
   前記判定信号に基づいて前記イコライザへレベル調整信号を出力するイコライザ制御回路と、
   を備えるアダプティブイコライザ。
7. 前記符号比較器は、
   前記第１のタイミングでサンプリングした値の符号値と、前記第２及び前記第３のタイミングでサンプリングした値の符号値とが異なる場合に前記イコライザによる高周波成分の強調を強めるための信号を出力し、
   前記第１のタイミングでサンプリングした値の符号値と、前記第２及び前記第３のタイミングでサンプリングした値の符号値とがすべて同じであり、かつ前記判定により開口部を有すると判定した場合、前記イコライザによる高周波成分の強調を弱めるために信号を出力し、
   上記以外の場合には、前記イコライザの特性調整のための信号を出力しない請求項６に記載のアダプティブイコライザ。
8. 前記符号比較器は、
   前記判定により開口部を有さないと判定した場合に、前記イコライザによる高周波成分の強調を強める請求項７に記載のアダプティブイコライザ。
9. 前記イコライザからの出力信号と、一定の参照電位とから利得設定を算出し、前記利得設定を用いて前記出力信号の振幅を自動調整するフィードバック回路を有する請求項６乃至８いずれかに記載のアダプティブイコライザ。
10. 前記Ｅｙｅ開閉判定器は、
    前記入力信号の高周波成分のピーク値と、前記入力信号の低周波成分のピーク値の比率を比較することにより前記開口部を有するか否かを判定する請求項６乃至９いずれかに記載のアダプティブイコライザ。

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