JP2011004109A - Memsデバイス - Google Patents

Memsデバイス Download PDF

Info

Publication number
JP2011004109A
JP2011004109A JP2009144909A JP2009144909A JP2011004109A JP 2011004109 A JP2011004109 A JP 2011004109A JP 2009144909 A JP2009144909 A JP 2009144909A JP 2009144909 A JP2009144909 A JP 2009144909A JP 2011004109 A JP2011004109 A JP 2011004109A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mems
film
cavity
air chamber
chip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2009144909A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuhiro Makihata
勝浩 巻幡
Jiro Nasukawa
次郎 名須川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2009144909A priority Critical patent/JP2011004109A/ja
Publication of JP2011004109A publication Critical patent/JP2011004109A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Pressure Sensors (AREA)
  • Piezo-Electric Transducers For Audible Bands (AREA)
  • Electrostatic, Electromagnetic, Magneto- Strictive, And Variable-Resistance Transducers (AREA)

Abstract

【課題】シリコンマイクロホンモジュール、およびMEMSチップの小型化に伴い、背気室の体積容量が小さくなり、感度およびS/N比の低下が発生する。
【解決手段】基板に形成された第1の空洞部と、第2の空洞部と、第1および第2の空洞部を接続する空隙部を有し、前記第1の空洞部および第2の空洞部の直上にMEMS素子が形成される。2つの空洞部が空隙部を介して接続されることにより形成される空間が、MEMS素子の背気室として機能するため、1つの空洞部で形成される従来の背気室と比較して体積を大きくすることができ、MEMS素子の感度とS/N比を向上させることができる。
【選択図】図2

Description

本発明は、代表的な一例として携帯電話、補聴器に用いられるMEMSマイクロホン装置等のMEMSデバイスに関する。
近年、半導体の微細加工技術を用いて電気機械部品を形成するMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)技術が注目を浴びており、機械分野、エレクトロニクス分野、通信分野、医療分野などの各種分野において、MEMS技術に関する開発が活発化している。
図4に示すのは、特許文献1の図1および図2に開示されたMEMSマイクロホンの従来例である。実装基板101上に、MEMSチップ102と信号処理部(電子回路)48が実装され、シールドケース103で覆われている。
MEMSチップ102には、シリコン基板41の中央部をエッチングして形成した空洞部を振動膜43と実装基板101とで封じた背気室55が形成されており、エッチングされずにフレームとして残った部分を基点として、背気室55の上部に絶縁層45を挟んで振動膜43と固定膜46とが対向配置されている。
信号処理部(電子回路)48は、LSIもしくはCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)で構成されており、MEMSチップ102から出力された信号に各種の処理を行う。外部の音源から発信された音は、シールドケース103に設けられた音孔103Cと、MEMSチップ102の固定膜46に形成された音孔47を介して、MEMSチップ102内に導かれる。
このように構成することで、MEMSチップを用いたマイクロホン装置のモジュール化を行っている。
特開2008−199353号公報
上記のマイクロホンモジュールは、携帯電話や補聴器等に用いられることが多いため、さらなる小型化が求められており、そのためにはMEMSチップ自体の小型化が必要となる。
しかしながら、上記の特許文献1に記載される構成のMEMSチップは、上面から見た投影面積または高さを小さくしようとすると、シリコン基板41の体積が小さくなり、その結果、背気室55の体積が減少する。背気室の体積は、マイクロホンの感度やS/N比に影響を与えるため、MEMSチップを小型化して、背気室の体積が小さくなるほど、感度の低下やS/N比の劣化につながる。
したがって、感度とS/N比を所定の規格値で得ようとすると、MEMSチップの小型化に限界があるという問題があった。
また、指向性収音または臨場感収音を行う場合や、高感度の性能が要求される場合は、マイクロホンモジュールにMEMSチップを複数個搭載することがある。
図5に示すように、図4に示した従来のMEMSチップを同一の実装基板上に2個実装することもできる。
各MEMSチップの構成は、図4に示したMEMSチップと同様であり、同一の構成には同じ符号を付している。MEMSチップを複数個搭載するためには、チップごとの搭載エリアを個々に設定する必要がある上、チップ間に所定のレジストエリアを設ける必要があるため、モジュールサイズの小型化にも限界があるという問題があった。
本発明は、上記従来の課題を解決するもので、所定の感度とS/N比を維持しつつ、従来より小型化が可能なMEMSデバイスを提供することを目的とする。
本発明にかかるMEMSデバイスは、基板と、前記基板に形成された第1の空洞部と、前記基板に形成された第2の空洞部と、前記基板中に形成された空隙部を有し、前記第1の空洞部と前記第2の空洞部は、前記空隙部を介して接続され、前記第1の空洞部および第2の空洞部の直上にMEMS素子が形成されたことを特徴とする。
2つの空洞部が空隙部を介して接続されることにより形成される空間が、MEMS素子の背気室として機能するため、1つの空洞部で形成される従来の背気室と比較して体積を大きくすることができ、MEMS素子の感度とS/N比を向上させることができる。
以上のような構成をとることにより、MEMSチップの小型化を行う際に、感度とS/N比の劣化を防止することが可能となり、省スペースな小型モジュールを構成することが可能となる。
(a)本発明の実施の形態1に示すMEMSデバイスの外観平面図(b)本発明の実施の形態1に示すMEMSデバイスの外観側面図 (a)本発明の実施の形態1に示すMEMSデバイスの平面図(b)図2(a)のA−A断面を示す構造概略図(c)図2(a)のB−B断面を示す構造概略図 本発明の実施の形態2に示すMEMSデバイスの平面図 (a)特許文献1の図1に示された従来例の外観図(b)特許文献1の図2に示された従来例の構造概略図 従来例の変形例を示した構造概略図
以下、図を用いて本発明の実施形態を説明する。なお、本発明はこれら実施の形態に何ら限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種々の態様で実施しうる。
(実施の形態1)
<基本構成>
図1、図2に示すのは、本発明の実施の形態1にかかるマイクロホンモジュールである。樹脂またはセラミック等の無機材料によって構成される実装基板3上に、二連MEMSチップ1、信号処理部2が実装されており、これらを覆うようにカバー4が実装されている。実装基板3上面には、二連MEMSチップ1を搭載するエリアと、信号処理部2を搭載するエリアと、カバー4を搭載するランドエリアが設けられており(図示せず)、各々の搭載エリアは、実装基板3上の導体パターンとレジストによって形成されている。
なお、図2(a)では、便宜上カバー4を二点鎖線で示し、カバー4直下の実装状態を示している。
二連MEMSチップ1は、2つのMEMSマイク素子1a、1bが共通のシリコン基板10上に形成されたものであり、半導体プロセスのMEMS(微小電気機械システム)技術によって作成される。シリコン基板10には、MEMSマイク素子1a、1bの直下に貫通エッチング処理によって空洞部12a、12bが形成されており、シリコン基板10の残存部分により台座部11が形成されている。
なお、第1の空洞部12a、第2の空洞部12bは、それぞれ、シリコン基板10を貫通しているので、第1の貫通孔、第2の貫通孔と呼ぶことも出来る。
さらに、台座部11のうち、空洞部12aと12bとの間にある部分にハーフエッチングなどの加工を施し、空洞部12a、12bをトンネル状につなげることにより、中間空洞部12cが形成されている。詳細は後述するが、空洞部12a、12bと中間空洞部12cは、MEMSマイク素子1a、1bによって共用される背気室12として機能する。
台座部11の上には、絶縁体を介して導電性のポリシリコンで形成された振動膜13が形成されている。振動膜13の上に、BPSG(Borophospho silicate glass)などの絶縁材16を介して、振動膜13と対向するように固定膜14が形成されている。
固定膜14は、導電性のポリシリコンと、シリコン酸化膜またはシリコン窒化膜とを積層して形成されており、複数の固定膜音孔14aを有している。振動膜13と固定膜14との間には、微細な(例えば、10μm以下)ギャップ15が形成されており、振動膜13と固定膜14とギャップ15によりコンデンサの機能を果たす。
なお、振動膜13は、絶縁膜と導電性のポリシリコンの積層膜でも構わないし、導電性のポリシリコン単層でも構わない。また、振動電極として機能するような導体膜であれば、導電性のポリシリコン以外の導体膜であってもよい。
また、固定膜14は、絶縁膜と導電性のポリシリコンの積層膜でも構わないし、導電性のポリシリコン単層でも構わない。また、固定電極として機能するような導体膜であれば、導電性のポリシリコン以外の導体膜であってもよい。
また、振動膜13と固定膜14はギャップ15を介して対向することで一対のコンデンサとして機能するため、固定膜14の上に、ギャップ15を介して振動膜13が形成されていてもよい。
また、ギャップ15は、振動膜13と固定膜14の間にもともと形成してあった犠牲膜を、固定膜14に形成された固定膜音孔14aを通してエッチングすることにより形成することが可能であり、犠牲膜の残存部分を、固定膜14を支持する絶縁材16とすることが可能である。
ここで、二連MEMSチップ1の形成工程の一例について、簡単に説明することにする。
まず、シリコン基板10上に振動膜13を形成する。その後、振動膜13上に犠牲膜を形成する。その後、犠牲膜の上に固定膜14を形成する。その後、固定膜14に固定膜音孔14aを形成する。その後、シリコン基板10に貫通エッチング処理を行うことで空洞部12a、12bおよび台座部11を形成する。その後、台座部11のうち、空洞部12aと12bとの間にある部分にハーフエッチングなどの加工を施し、空洞部12a、12bをトンネル状につなげることにより、中間空洞部12cを形成する。その後、固定膜音孔14aを通して犠牲膜をエッチングすることにより振動膜13と固定膜14の間にギャップを形成し、犠牲膜の残存部分が絶縁材16となる。その後、レーザー照射によりシリコン基板を分割して、二連MEMSチップ1を形成する。
以上のような半導体微細加工技術を用いて、二連MEMSチップ1は形成される。なお、中間空洞部12cを形成した後に、空洞部12a、12bを形成してもよい。
信号処理部2は、各種の信号処理およびアンプの機能を有しており、例えばCMOSやLSIなどにより構成される。
カバー4は、例えば洋白(銅、亜鉛、ニッケルから構成される合金)、コバール、42アロイなどの電気的シールド機能を有する導電性材料によって構成されており、ハンダあるいは導電性接着剤などの接合材50によって実装基板3上に固定されている。また、外部音源からの音をモジュール内部に導くためのカバー音孔40を有している。
ギャップ15が一定の場合は、コンデンサ容量値は変化しない。しかし、外部音源からの音が、カバー音孔40および固定膜音孔14aを介して振動膜13に到達すると、振動膜13が振動し、ギャップ15が変化することによりコンデンサ容量値が変化する。この容量変化をMEMSマイク素子1a、1bの上面に配置された電極17a、17bを介して信号処理部2に入力し、信号処理部2で所望の電気信号に変換、増幅等の処理を行い、電気信号として出力することにより、音の信号を取り出すことができる。
なお、振動膜13に誘電体膜であるエレクトレット材を形成させ、着電プロセスにより、エレクトレット材に電荷を保持させてもよい。これによりMEMSマイク素子への電源供給が不要となり、モジュールの小型化が可能となる。
<実装および配線>
次に、本実施形態のマイクロホンモジュールの製造方法を説明する。二連MEMSチップ1と信号処理部2は、実装基板3上の搭載エリアに、接合材51が塗布もしくは転写された後に実装され、その後、硬化に必要な熱を加えることにより、それぞれのチップを固定する。
接合材51は、熱硬化性の導電性ペースト、絶縁性ペースト、またはダイアタッチフィルム(Die Attach Film)などを用いればよく、例えば、信号処理部2の実装にはダイアタッチフィルム、二連MEMSチップ1の実装には絶縁性ペーストのごとく、これらを適宜組み合わせて用いてもよい。
二連MEMSチップ1と信号処理部2は、個別に接着剤塗布、デバイス実装、熱処理(硬化)の各工程を行ってもよいし、同時に行ってもよい。
MEMSマイク素子1a、1bは、それぞれ出力電極17aとGND電極17bを有し、出力電極17aは信号処理部2の入力電極2cへ、GND電極17bは実装基板3上のGND電極3bへ、それぞれワイヤ60にて接続する。MEMSマイク素子の出力電極17aは、引き出し配線によって振動膜13と電気的に接続されており、GND電極17bは、引き出し配線によって固定膜14と電気的に接続されている。
MEMSマイク素子1a、1bから出力された信号は、入力電極2cを介して信号処理部2に入力され、適切な演算処理がなされた後、出力電極2aを介しワイヤ60による配線を通して実装基板3上の出力電極3aに出力される。
信号処理部2の電源電極2dは、実装基板上の電源電極3dへ接続されており、信号処理部2は、実装基板3からのワイヤ60による配線を通じた電源供給により動作している。信号処理部2のGND電極2bは、実装基板上のGND電極3bへ接続されている。本実施形態における電極とワイヤ60の接合は、超音波を用いたワイヤボンディング工法などを用いて電気的に接続している。ワイヤ60の材料は、Al、Al−Si、Al−Si−Cu、Auなどを用いることができる。
カバー4と実装基板3とを接合する接合材50、および二連MEMSチップ1と実装基板3とを接合する接合材51は、それぞれカバー4の周囲および二連MEMSチップ1の台座部11の周囲に途切れなく接合され、硬化・固定されている。これにより音漏れを防止し、音源からの音がカバー音孔40、固定膜音孔14a以外の箇所から進入するのを防止するように構成されている。
なお、信号処理部2は、熱硬化性の導電性接着剤などを用いてフリップチップボンディング工法(上下反転させて実装)により直接基板へ配線することも可能である。この工法によればワイヤ配線等の組み立て工数を削減することができ、材料、組み立てコストを削減することができる。
<動作>
次に、本実施形態の動作を説明する。音源からの音が、カバー音孔40、固定膜音孔14aを介して振動膜13に到達すると、振動膜13が振動し、ギャップ15が変化することによりコンデンサ容量値が変化する。このようなマイクロホンの構成上、マイクロホンの感度に影響する重要なファクターは、固定膜14と振動膜13、固定膜14と振動膜13で構成されるコンデンサ容量、そして背気室の体積容量であることが知られている。
背気室は、振動膜13に対して音孔と反対側にある、閉じられた空間であり、本実施形態では、2つのMEMSマイク素子の振動膜13と、台座部11と、実装基板3とにより封じられた空間に該当する。
マイクロホンの感度は、下記の式で表される。

OUT = V×G

∝ 1/(S+S

ここで、VOUTは感度、VはMEMS出力、Gはゲイン、Sは背気室スティフネス(stiffness)、Sは振動膜スティフネスである。
従来例(図4、図5)の構成では、MEMSチップが小型化されていくと、チップの投影面積もしくは高さ方向を含む体積が小型化されることになり、結果として、振動膜43直下の背気室55の体積も小さくなる。すると背気室が小さくなったことにより、背気室内の空気によるバネ弾性が高くなり、上述した式中の「S:背気室スティフネス」すなわち「背気室剛性」が高くなることにより振動膜43の振動阻害が発生する。結果的に、マイク出力である「VOUT:感度」が低下し、それに伴いS/N比が低下してしまう。
しかしながら、本実施形態の構成によれば、2つのMEMSマイク素子1a、1b直下の空洞部12a、12bの間をつなげる中間空洞部12cを設けることにより、2つのMEMSマイク素子1a、1bの背気室が中間空洞部12cを介して一つにつながり、共通の背気室12として機能する。
このため、実質的に背気室容量を増大させることができ、より高感度なマイクの実現が可能となる。
また、背気室容量を増大することにより、「S:背気室スティフネス」が小さくなるため、その分「S:振動膜スティフネス」を大きくしても一定の感度を確保することができる。すなわち、振動膜を小型化しても、一定の感度を確保することが可能となり、結果としてMEMSマイク素子の小型化が可能となる。また、2つのMEMSマイク素子1a、1bの間にレジストエリアを設ける必要がないため、この点でも省スペース化が可能となる。
したがって、一定のマイク感度とS/N比を確保しながら、MEMSデバイスを小型化することが可能となる。また、2つのMEMSマイク素子を1チップ化することにより、剛性が向上し強度を増すことができるため、実装時にかかる応力などに起因する、素子の特性ばらつきも少なくすることができる。
なお、本実施形態では、一つのチップに二つのMEMSマイク素子を形成した二連MEMSチップとしたが、これに限らず、三つ以上のMEMSマイク素子を一つのチップに形成し、同様に背気室を共通化してもよい。複数のMEMSマイク素子を一つのチップに形成することにより、各MEMSマイク素子の台座部が複数連なることによって、性能が同等の大きなMEMSマイク素子を単体で形成する場合より、チップ強度を向上させることができる。
なお、中間空洞部上に存在するシリコン基板の残存部分(フレーム部)が梁となり、剛性が向上することにより、チップ強度が向上すると考えることもできる。
また、シリコン基板をレーザーによって分割する際に、レーザー装置のプログラムにより、分割したい部分だけにレーザーを照射することで、任意の数のMEMSマイク素子を一つのチップに形成することが可能である。
これにより、マスクを交換することなく、一つのシリコン基板で複数種のMEMSチップを形成することができ、拡散プロセスを共通化することができる。
なお、本実施形態では、信号処理部2を2つのMEMSマイク素子1a、1bに隣接して配置したが、これに限らず、MEMSマイク素子が実装されているエリア以外であれば適切に配置してよい。
(実施の形態2)
図3は、本発明の実施の形態2に示すMEMSマイクロホンモジュールを上部から見た平面図である。本実施形態のMEMSマイクロホンモジュールは、実施の形態1のMEMSマイク素子において、シリコン基板の平面形状をひし形に形成した、ひし形MEMSマイク素子1c、1dとしたものである。その他の構成は、実施の形態1と同様であり、同一の構成には同じ符号を付している。
このように、シリコン基板10、固定膜14、振動膜13は任意の形状を採用することができ、実施の形態1と同様にモジュールの小型化が可能である。
なお、本発明の実施の形態では、マイクロホンモジュールについて説明してきたが、本発明にかかるMEMSチップは、マイクロホンとして機能することになるMEMSマイク素子以外のMEMS素子(例えば、ピエゾ素子を用いた圧力センサや加速度センサ)にも適用が可能である。
なお、ピエゾ素子は振動膜に形成することが可能であり、振動膜に加わる圧力などの力を電気信号に変換して読み取ることが可能であり、マイクロホンとしての機能を持たせることも可能ではある。
また、本発明の実施の形態では、第1のMEMSマイク素子1aと第2のMEMSマイク素子1bの振動膜をそれぞれ別々に用意したが、同一の膜として共通化しても構わない。
また、本発明の実施の形態では、第1のMEMSマイク素子1aと第2のMEMSマイク素子1bを二連MEMSチップに配置する形態について説明したが、一方のMEMSマイク素子をMEMSマイク素子以外のMEMS素子(例えば、ピエゾ素子を用いた圧力センサや加速度センサ)とすることも可能である。
本発明により、MEMSデバイスの小型化や、剛性の向上が可能となるため、携帯電話などの携帯機器に適した小型、軽量のMEMSデバイスとして有用である。
1 2連MEMSチップ
1a 第1のMEMSマイク素子
1b 第2のMEMSマイク素子
10 シリコン基板
11 台座部
12 背気室
12a 第1の空洞部
12b 第2の空洞部
12c 中間空洞部
13 振動膜
14 固定膜
14a 固定膜音孔
15 ギャップ
16 絶縁材
17a 出力電極
17b GND電極
2 信号処理部
2a 出力電極
2b GND電極
2c 入力電極
2d 電源電極
3 実装基板
3a 出力電極
3b GND電極
3d 電源電極
4 カバー
40 カバー音孔
50 接合材(カバー用)
51 接合材(チップ用)
60 ワイヤ

Claims (9)

  1. 基板と、
    前記基板に形成された第1の空洞部と、
    前記基板に形成された第2の空洞部と、
    前記基板中に形成された空隙部を有し、
    前記第1の空洞部と前記第2の空洞部は、前記空隙部を介して接続され、
    前記第1の空洞部および第2の空洞部の直上にMEMS素子が形成されたMEMSデバイス。
  2. 前記MEMS素子は、固定膜と振動膜を有するマイクロホン素子である請求項1記載のMEMSデバイス。
  3. 前記第1の空洞部及び前記第2の空洞部の上には振動膜が形成されており、
    前記振動膜の上には、固定膜が形成されている請求項2に記載のMEMSデバイス。
  4. 前記固定膜には、複数の孔が形成されている請求項3に記載のMEMSデバイス。
  5. 前記第1の空洞部の上には、第1の振動膜が形成されており、
    前記第2の空洞部の上には、第2の振動膜が形成されている請求項2〜4のいずれかに記載のMEMSデバイス。
  6. 前記第1の振動膜の上には、第1の固定膜が形成されており、
    前記第2の振動膜の上には、第2の固定膜が形成されていることを特徴とする請求項5に記載のMEMSデバイス。
  7. 前記第1の固定膜及び前記第2の固定膜には、複数の孔が形成されていることを特徴とする請求項6に記載のMEMSデバイス。
  8. 前記MEMS素子は、ピエゾ素子である請求項1記載のMEMSデバイス。
  9. 前記MEMS素子は、MEMSマイク素子である請求項1記載のMEMSデバイス。
JP2009144909A 2009-06-18 2009-06-18 Memsデバイス Pending JP2011004109A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009144909A JP2011004109A (ja) 2009-06-18 2009-06-18 Memsデバイス

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009144909A JP2011004109A (ja) 2009-06-18 2009-06-18 Memsデバイス

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2011004109A true JP2011004109A (ja) 2011-01-06

Family

ID=43561705

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009144909A Pending JP2011004109A (ja) 2009-06-18 2009-06-18 Memsデバイス

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2011004109A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101320573B1 (ko) 멤스 마이크로폰
JP5054703B2 (ja) Memsマイクロフォン、memsマイクロフォンの製造方法およびmemsマイクロフォンの組み込み方法
JP4505035B1 (ja) ステレオマイクロホン装置
TWI475893B (zh) microphone
US20080219482A1 (en) Condenser microphone
TWI472234B (zh) Microphone unit
JP4850086B2 (ja) Memsマイクロホン装置
KR20060127166A (ko) 일렉트릿 컨덴서 마이크로폰
JP2007180201A (ja) 半導体装置
JP2009044600A (ja) マイクロホン装置およびその製造方法
KR101612851B1 (ko) 초소형 보청기
JP4655017B2 (ja) 音響センサ
JP2010187076A (ja) マイクロホンユニット
US20150146888A1 (en) Mems microphone package and method of manufacturing the same
WO2010090070A1 (ja) マイクロホンユニット
US10822227B2 (en) Pressure sensor, in particular a microphone with improved layout
US20140367810A1 (en) Open Cavity Substrate in a MEMS Microphone Assembly and Method of Manufacturing the Same
JP2005340961A (ja) 音波受信装置
KR102359943B1 (ko) 마이크로폰 장치
JP7166602B2 (ja) Memsマイクロホン
JP2008136195A (ja) コンデンサマイクロホン
JP2008295026A (ja) マイクロホン素子搭載基板およびマイクロホン装置
KR100870991B1 (ko) 세라믹 패키지를 이용한 콘덴서 마이크로폰
JP2006332799A (ja) 音響センサ
JP2011004109A (ja) Memsデバイス