JP2010525389A - ガンマバッファー配置方法、及び前記方法を適用したフラットパネルディスプレイ - Google Patents

ガンマバッファー配置方法、及び前記方法を適用したフラットパネルディスプレイ Download PDF

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Abstract

本発明は、フラットパネルディスプレイに装着されたソースドライバーの絶対温度を低下可能であり、ソースドライバー間の温度偏差を最小限にすることができるガンマバッファー配置方法、及び前記方法を適用したフラットパネルディスプレイ装置を提供する。前記ガンマバッファー配置方法は、少なくとも一つのソースドライバーに配置されて、それぞれ対応するガンマ電圧を出力する複数個のガンマバッファーを配置する方法で、各ガンマバッファーの消費電力を計算するステップを具備して、計算された各ガンマバッファーの消費電力を用いて、ガンマバッファーのタブポイントを変更するステップ、及び前記計算された各ガンマバッファーの消費電力を用いてガンマバッファーの位置を変更するステップの少なくとも一つのステップをさらに具備する。

Description

本発明は、フラットパネルディスプレイ(Flat Panel Display)のソースドライバー(Source Driver)ICに関するものであり、特に、ソースドライバー内のガンマバッファー配置方法に関するものである。
カメラは映像信号を電気的な信号に変換して、ディスプレイは前記カメラで変換された電気信号を再び元の映像信号に復元させるが、カメラとディスプレイの光電変換特性が互いに異なり、また線形的ではないため、これらの二つの間の差を補正する調整が必要である。また、人間の目は、広い領域の光の明るさを受け入れるため、目に入射される光に対して対数(log)曲線形態の応答特性を有する。一方、カメラに装着されたイメージセンサーは、限られたダイナミックレンジ(Dynamic Range)の明るさの光を受け入れることができる。CMOSイメージセンサーは、イメージの暗い部分をはっきりと表現するために利得(Gain)を高めるようになるが、このために一部明るい部分に飽和現象が発生するようになる。
ガンマ補正(Gamma Correction)は、明るさまたは輝度数値を変更する機能で、前述したところのように、映像装置で遂行する光電変換特性の非線形性及び光の飽和現象を補正するために使用される。ガンマ補正時に適用される数学的な表現を曲線で示すことができ、この曲線は、ガンマ曲線と呼ばれる。ガンマ値が高く設定されれば、曲線の中央部分が上げられ、その結果、画面は、明るくなる。ガンマ値が小さく設定されれば、曲線の中央部分が下がり、画面は、暗くなる。
フラットパネルディスプレイは、既存のCRT(Cathode-Ray Tube)を使用するテレビやモニターより厚さが薄くて軽く、拡大された画面を有する映像表示装置で、LCD(Liquid Crystal Display)、PDP(Plasma Display Panel)などがあり、有機発光デバイス(OLED)(Organic Light Emitting Device)を利用した装置などもある。
一般に、フラットパネルディスプレイには、6個から8個のソースドライバーIC(以下、SDIC)が設置されているが、それぞれのSDICには、所定のガンマ電圧をバッファリングする2個のガンマバッファー(Gamma Buffer)が装着されている。それぞれのガンマバッファーは、ガンマバッファーに入力される電圧または階調レベル(Gray Level)によって配置手順が決まっている。それぞれのガンマバッファーから出力される電圧、例えば、直列に接続された255個の抵抗により降下される電圧は、ガンマ曲線の特性を示す抵抗アレイ(Resistor String)に伝達される。
この場合、ガンマバッファーらがバッファリングしようとする電圧と、前記ガンマバッファーらに連結され、負荷として作用する抵抗らの抵抗値によって、ガンマバッファーらの消費電力は、互いに異なる。ガンマバッファーらの消費電力が同一ではないために、ガンマバッファーらが装着されたSDICの温度も互いに異なる。
図1は、階調レベルによって2個ずつのガンマバッファーが装着されたSDICの配置を示す。
図2は、図1に示されたガンマバッファーが配置されたSDICの温度を示す。
図3は、図1に示されたガンマバッファーが配置されたSDICの消費電力を示す。
図1を参照すると、2個のプリント回路基板(S-PCBs)120、130のそれぞれは、SDIC121、122、123、131、132、133が配置されていて、SDIC121〜133は、各SDICが2つのガンマバッファーを有するように、ガンマバッファーGB1−1〜GB6−2を具備する。中央のPCB110は、2個のS-PCB120、130の動作を制御する。
以下では、図1ないし図3を参照して、ガンマバッファーが配置されたSDICの消費電力及び温度について説明する。
第1SDIC(IC#1)121は、VH255電圧をバッファリングする第1ガンマバッファーGB1-1、及びVL255電圧をバッファリングする第2ガンマバッファーGB1-2を具備する。図2を参照すると、第1SDIC121の温度は、50.5℃であり、図3を参照すると、第1ガンマバッファーGB1-1及び第2ガンマバッファーGB1-2で消費する電力は、それぞれ11.9mW及び3.5mWである。よって、2つのガンマバッファーGB1−1及びGB1−2による全消費電力は、15.4mWになる。ここで、VLは、ガンマ電圧の一番低い電圧からガンマ電圧の中間電圧までの電圧を示すように使われ、VHは、ガンマ電圧の中間電圧からガンマ電圧の一番高い電圧までの電圧を示すように使われる。例えば、ガンマ電圧が12Vであるとすると、VLは0Vから5.9Vまでを表し、VHは6.1Vから12Vまでを表す。例えば、VL255は、0Vを表して、VL00は5.9Vを表して、同じくVH00は6.1Vを表して、VH255は12Vを表す。
第2SDIC(IC#2)122には、VH254電圧をバッファリングする第3ガンマバッファーGB2-1及びVL254電圧をバッファリングする第4ガンマバッファーGB2-2を具備する。第2SDIC122の温度は、61.0℃であり、第3ガンマバッファーGB2−1及び第4ガンマバッファーGB2−2で消費する電力は、それぞれ87.2mW及び82.7mWである。よって、2つのガンマバッファーGB2−1、2−2にて消費される全電力は、169.8mWになる。
第3SDIC(IC#3)123には、VH191電圧をバッファリングする第5ガンマバッファーGB3−1及びVL191電圧をバッファリングする第6ガンマバッファーGB3−2を具備する。第3SDIC123の温度は、51.0℃であり、第5ガンマバッファーGB3−1及び第6ガンマバッファーGB3−2で消費する電力は、それぞれ14mW及び10.9mWである。よって、2つのガンマバッファーGB3−1、3−2にて消費される全電力は、24.9mWになる。
第4SDIC(IC#4)131には、VH127電圧をバッファリングする第7ガンマバッファーGB4−1及びVL127電圧をバッファリングする第8ガンマバッファーGB4−2を具備する。第4SDIC131の温度は、52.0℃であり、第7ガンマバッファーGB4−1及び第8ガンマバッファーGB4−2で消費する電力は、それぞれ11.7mW及び10.5mWである。よって、2つのガンマバッファーGB4−1、4−2にて消費される全電力は、22.1mWになる。
第5SDIC(IC#5)132には、VH31電圧をバッファリングする第9ガンマバッファーGB5−1及びVL31電圧をバッファリングする第10ガンマバッファーGB5−2を具備する。第5SDIC132の温度は、53.0℃であり、第9ガンマバッファーGB5−1及び第10ガンマバッファーGB5−2で消費する電力は、それぞれ15.7mW及び14.4mWである。よって、2つのガンマバッファーGB5−1、5−2にて消費される全電力は、30.1mWになる。
第6SDIC(IC#6)133には、VH00電圧をバッファリングする第11ガンマバッファーGB6−1及びVL00電圧をバッファリングする第12ガンマバッファーGB6−2を具備する。第6SDIC133の温度は、55.6℃であり、第11ガンマバッファーGB6−1及び第12ガンマバッファーGB6−2で消費する電力は、それぞれ43.5mW及び42.7mWである。よって、2つのガンマバッファーGB6−1、6−2にて消費される全電力は、86.2mWになる。
図4は、図1に示されたガンマバッファーの消費電力を計算する過程を説明する図である。
図4の左側は、ガンマバッファーの出力端回路を示す。前記出力端は、それぞれのゲート端子に印加される電圧が互いに異なるP型MOSトランジスタ及びN型MOSトランジスタを具備する。
第1SDIC(IC#1)の第1ガンマバッファーGB1−1が16.61VのVH255電圧をバッファリングする場合、P型MOSトランジスタのターンオン抵抗は、0.05KΩであり、第1電源(Vdd)から負荷(load)に流れる電流は、8.50mAであり、N型MOSトランジスタのターンオン抵抗は、33.0KΩであり、負荷から第2電源(GND)に流れる電流は、0.5mAである。ここで、負荷は示さなかったが、一般に抵抗成分を有する。
トランジスタの消費電力Pは、以下のように、式1により計算される。
[式1]
P=R×I
ここで、Rはトランジスタのターンオン(turn on)抵抗、Iはトランジスタに流れる電流を示す。
式1を利用して、第1SDIC(IC#1)の第1ガンマバッファーGB1−1で消費する電力を計算すると、11.9mWになる。これは、P型MOSトランジスタで消費する電力3.6mWと、N型MOSトランジスタで消費する電力8.3mWを加えた値である。また、第1SDIC(IC#1)の第2ガンマバッファーGB1−2で消費する電力を計算すると、3.5mW(=0.1mW+3.4mW)になる。したがって、第1SDIC(IC#1)に含まれた2個のガンマバッファーGB1−1、GB1−2で消費する総電力は、15.4mWになる。
前記と同一な計算過程を経ると、第2SDIC(IC#2)の第1ガンマバッファーGB2−1及び第2ガンマバッファーGB2−2で消費する総電力は、169.8(=87.2mW+82.7mW)mWになる。図4を参照すると、第3SDIC(IC#3)なから第6SDIC(IC#6)に含まれた2個ずつのガンマバッファーで消費する電力は、それぞれ24.9mW、22.1mW、30.1mW、及び86.2mWになる。
図4で計算したところのように、それぞれのチップに含まれたガンマバッファーで消費する電力の差によって、図2に点線四角形で表示したところのように、2番目(IC#2)及び6番目(IC#6)のSDICの温度が残りの4個チップの温度に比べてかなり高い。
フラットパネルディスプレイ全体の寿命と信頼性は、それぞれのソースドライバーの寿命及び信頼性によって決定される。6個または8個のSDICのうちで特定ICの温度が残り他のICに比べて高い場合、前記ICの寿命と信頼性が他のICに比べて相対的に低くなる。フラットパネルディスプレイの場合、装着された複数個のICのうちで一つでも不良が発生するようになれば、フラットパネルディスプレイの全体が動作しなくなるので、特定ICが他のICに比べて寿命が短いか、または信頼性が落ちないようにしなければならない。
本発明は、フラットパネルディスプレイに装着されたソースドライバーの絶対温度を低めて、ソースドライバー間の温度偏差を最小限にすることができるガンマバッファー配置方法を提供することにある。
本発明は、フラットパネルディスプレイに装着されたソースドライバーの絶対温度を低めて、ソースドライバー間の温度偏差を最小限にすることができるフラットパネルディスプレイを提供することにある。
本発明の一態様によれば、ガンマバッファー配置方法は、少なくとも一つのソースドライバーに配置されて、それぞれガンマ電圧に対応して出力する複数個のガンマバッファーを配置する方法であり、各ガンマバッファーの消費電力を計算するステップを具備して、計算された各ガンマバッファーの消費電力を利用してガンマバッファーのタブポイントを変更するステップ、及び前記計算された各ガンマバッファーらの消費電力を利用してガンマバッファーらの位置を移動するステップのうちの少なくとも一つのステップをさらに具備することを特徴とする。
上述の、本発明の一態様において、前記ガンマバッファーのタブポイントを変更するステップでは、一番多い電力を消費するガンマバッファーに入力される電圧は、最小の電力を消費する対応のガンマバッファへ入力される電圧に変更してもよい。
また、前記ガンマバッファーの位置を移動するステップでは、一番多い電力を消費するガンマバッファーと、一番少ない電力を消費するガンマバッファーとを同一のソースドライバーICに配置してもよい。
また、前記ガンマバッファーらの位置を変更するステップは、一番多い電力を消費するガンマバッファーを対応するソースドライバーICの外部に装着することをさらに含むことができる。
また、前記ソースドライバーICの外部に装着されるガンマバッファーは、前記対応するソースドライバーICと同一のプリント回路基板上に装着してもよい。
本発明の別の態様によれば、フラットパネルディスプレイ装置は、少なくとも2個のガンマバッファーと、複数のガンマ電圧をバッファリングする複数個のソースドライバーICとを具備して、前記複数個のソースドライバーICに装着された各ガンマバッファーの消費電力を計算することにより、ガンマバッファーらのうちで一番多い電力を消費するガンマバッファーの位置と、一番少ない電力を消費するガンマバッファーの位置とを、同一のソースドライバーICに装着させるように互いに交換する。
図1は、階調レベルによってそれぞれが2個のガンマバッファーが装着されたソースドライバーICの配置を示す。 図2は、図1に示されたガンマバッファーが配置されたソースドライバーICの温度を示す。 図3は、図1に示されたガンマバッファーが配置されたソースドライバーICの消費電力を示す。 図4は、図1に示されたガンマバッファーの消費電力を計算する過程を説明する図である。 図5は、本発明の実施形態によるフラットパネルディスプレイを示す。 図6は、図5に示された本発明によるフラットパネルディスプレイに装着されたソースドライバーICの温度を示す。 図7は、図5に示された本発明によるフラットパネルディスプレイのソースドライバーに装着されたガンマバッファーの消費電力を示す。 図8は、図5に示されたガンマバッファーの消費電力を計算する過程を説明する図である。 図9は、第2SDIC(IC#2)のガンマバッファータブポイントを変更した後、ガンマバッファーから出力されるガンマ基準電圧を抵抗ストリングに適用させることを示す。 図10は、第2ガンマバッファーを抵抗ストリングに適用しない場合の環境を示す。 図11は、図9及び図10に示されたガンマ基準電圧と抵抗ストリングとの間の接続構造に基づいて測定されたガンマバッファーを具備するソースドライバーICの温度を示す図である。 図12は、本発明の別の実施形態によるフラットパネルディスプレイを示す。 図13は、図12に示された本発明によるフラットパネルディスプレイに装着されたソースドライバーICの温度を示す。 図14は、図12に示された本発明によるフラットパネルディスプレイのソースドライバーに装着されたガンマバッファーの消費電力を示す。 図15は、図12に示されたガンマバッファーの消費電力を計算する過程を説明する図である。 図16は、本発明の他の実施形態によるフラットパネルディスプレイを示す図である。 図17は、図16に示された本発明によるフラットパネルディスプレイに装着されたソースドライバーICの温度を示す。 図18は、図16に示された本発明によるフラットパネルディスプレイのソースドライバーに装着されたガンマバッファーの消費電力を示す。 図19は、ガンマバッファーの消費電力によるソースドライバーICの消費電力を比べるグラフである。 図20は、ガンマバッファーの消費電力によるソースドライバーICの温度を比べるグラフである。 図21は、従来の条件、ガンマタブポイントを変更した場合、及びガンマバッファーの位置を変更した場合での、ソースドライバーICの温度を比べたグラフである。
本発明の例示的な実施形態について、図を参照しながら以下に詳しく説明する。
図5は、本発明の一実施形態によるフラットパネルディスプレイを示す。
図5を参照すると、フラットパネルディスプレイ500は、センタープリント回路基板(C−PCB)510及び2個のソースPCB(S−PCB)520、530を具備する。
C−PCB510は、2個のS−PCB520、530の動作を制御する。
第1S−PCB520は、3個のソースドライバー集積回路(SDIC)521、522、523を具備する。
第1SDIC521は、VH255電圧をバッファリングする第1バッファーGB1−1及びVL255電圧をバッファリングする第2バッファーGB1−2を具備する。第2SDIC522は、VH223電圧をバッファリングする第3バッファーGB2−1及びVL223電圧をバッファリングする第4バッファーGB2−2を具備する。第3SDIC523は、VH191電圧をバッファリングする第5バッファーGB3−1及びVL191電圧をバッファリングする第6バッファーGB3−2を具備する。
第2S−PCB530は、3個のSDIC531、532、533を具備する。
第4SDIC531は、VH127電圧をバッファリングする第7バッファーGB4−1及びVL127電圧をバッファリングする第8バッファーGB4−2を具備する。第5SDIC532は、VH63電圧をバッファリングする第9バッファーGB5−1及びVL63電圧をバッファリングする第10バッファーGB5−2を具備する。第6SDIC533は、VH00電圧をバッファリングする第11バッファーGB6−1及びVL00電圧をバッファリングする第12バッファーGB6−2を具備する。
図6は、図5に示された本発明によるフラットパネルディスプレイに装着されたSDICの温度を示す。
図7は、図5に示された本発明によるフラットパネルディスプレイのソースドライバーに装着されたガンマバッファーの消費電力を示す。
図6及び図7を参照すると、第1SDIC(IC#1)521は、11.8mWを消費する。特に、VH255電圧及びVL255電圧がバッファされたとき、第1SDIC(IC#1)521の対応するガンマバッファにより、それぞれ10.3mW及び1.5mWが消費される。この場合、第1SDIC(IC#1)521の温度は、50.3℃である。これは、図2に示された従来のSDIC121の温度である50.5℃とほとんど同一である。
第2SDIC(IC#2)522は、26.6mWを消費する。特に、VH223電圧及びVL223電圧がバッファされたとき、第2SDIC(IC#2)522の対応するガンマバッファにより、それぞれ14.3mW及び12.3mWが消費される。この場合、第2SDIC(IC#2)522の温度は、51.3℃である。この温度は、従来のSDIC122の温度である61.9℃に比べてかなり低くなっており、また、第1SDIC(IC#1)521の温度ともほとんど同一な水準になる。これは、第2SDIC122でVH254及びVL254に対応するガンマ電圧をバッファリングしたことに反して、第2SDIC522でVH223及びVL223に対応するガンマ電圧をバッファリングしたことに起因する。
前記ガンマ電圧は、後述する抵抗ストリング(Resistor String)に伝達される。式1を参照すると、各ガンマ電圧の負荷として作用する抵抗ストリングの抵抗値によって、各ガンマバッファーにて消費される電力が変わる。したがって、ガンマバッファーがバッファリングするガンマ電圧と、該当ガンマバッファーの負荷として作用する抵抗ストリングの抵抗値とを考慮して、ガンマバッファーが消費する電力を最小限にすることができるガンマ電圧を計算して、これを回路に反映することで該当ガンマバッファーが装着されたソースドライバーICの絶対温度を減少させる方法を提案する。
図2及び図6を参照すると、第1SDIC(IC#1)521、第3SDIC(IC#3)523から第5SDIC(IC#5)532は、第1SDIC(IC#1)121、第3SDIC(IC#3)123から第5SDIC(IC#5)132とほとんど同一の温度特性を有する。
第6SDIC(IC#6)533は、76.4mWを消費する。特に、VH00電圧及びVL00電圧が印加されるとき、第6SDIC(IC#6)533の対応するガンマバッファにより、それぞれ38.0mW及び38.4mWの電力が消費される。この場合、第6SDIC(IC#6)533の温度は、54.9℃である。これは、図2に示された従来の第6SDIC(IC#6)133の温度である55.6℃より0.7℃低い。
図5から図7に対して説明したように、ガンマバッファーがバッファリングするガンマ電圧、すなわちガンマバッファーらのタブポイントをVH254からVH223に、VL254からVL223に変更することで、前記ガンマバッファーを装着したSDICの絶対温度を最小限にすることができる。
図8は、図5に示されたガンマバッファーの消費電力を計算する過程を説明する。
図4に示されたガンマバッファーの消費電力を計算する過程は、図8に示されたガンマバッファーの消費電力を計算する過程と同一である。
第1SDIC(IC#1)の第1ガンマバッファーGB1−1でVH255電圧(16.61V)をバッファリングする場合、P型MOSトランジスタのターンオン抵抗は、0.11KΩであり、第1電源(Vdd)から負荷に流れる電流は3.804mAであり、N型MOSトランジスタのターンオン抵抗は、32.230KΩであり、負荷から第2電源(GND)に流れる電流は、0.52mAである。
式1を利用して計算すると、第1SDIC(IC#1)の第1ガンマバッファーGB1−1で消費する電力は、10.3mWになる。これは、P型MOSトランジスタで消費する電力1.6mWと、N型MOSトランジスタで消費する電力8.7mWとを加えた値である。また、第1SDIC(IC#1)の第2ガンマバッファーGB1−2で消費する電力は、1.5mW(=0.1mW+1.4mW)になる。したがって、第1SDIC(IC#1)に含まれた2個のガンマバッファー(GB1−1、GB1−2)で消費する総電力は、11.8mWになる。
前記と同一な計算過程を経ると、第2SDIC(IC#2)の第1ガンマバッファーGB2−1及び第2ガンマバッファーGB2−2で消費する総電力は、26.6(=14.3mW+12.3mW)mWになる。図8を参照すると、第3SDIC(IC#3)から第6SDIC(IC#6)に含まれたガンマバッファーで消費する電力は、それぞれ24.9mW、19.9mW、23.5mW、及び76.4mWになる。
図4に示された従来のフラットパネルディスプレイの第2SDIC(IC#2)の第1ガンマバッファーGB2−1及び第2ガンマバッファーGB2−2で消費する総電力は、169.8(=87.2mW+82.7mW)mWであるのに反して、図8に示された本発明によるフラットパネルディスプレイの第2SDIC(IC#2)の第1ガンマバッファーGB2−1及び第2ガンマバッファーGB2−2で消費する総電力は、26.6mWであり、大きく減少したことが分かる。また、第6SDIC(IC#6)の第1ガンマバッファーGB6−1及び第2ガンマバッファーGB6−2で消費する電力も、本発明の場合、76.4mWであり、同様に、従来の電力消費の86.2mWより減少したことが分かる。
第2SDIC(IC#2)のガンマバッファーのタブポイントを変更する本発明によるフラットパネルディスプレイの改善効果は、下記のような条件下で測定された。
図9は、第2SDIC(IC#2)のガンマバッファータブポイントを変更した後、ガンマバッファーから出力されるガンマ基準電圧を抵抗ストリングに適用させることを示す。
図9を参照すると、抵抗ストリングは、直列接続された合計254個の抵抗で構成されて、これらの総抵抗値は、14KΩである。図9には、合計8個の抵抗で示されているが、それぞれの抵抗は、直列接続された複数個の抵抗を含む。
直列接続された8個の抵抗の間には、6個のガンマ基準電圧G255、G254、G191、G127、G31、G00)が接続される。図9の左側には、従来の接続構造を示し、右側には本発明で使用する接続構造を示す。
左側に示された従来のフラットパネルディスプレイの接続構造を参照すると、第1ガンマ基準電圧G255は、バッファリングされて、V1ノードに接続され、第2ガンマ基準電圧G254は、バッファリングされて、V2ノードに接続される。第3ガンマ基準電圧G191から第6ガンマ基準電圧G00は、それぞれV4、V5、V7及びV9ノードに接続される。
右側に示されたガンマバッファータブポイントを変更した、本発明によるフラットパネルディスプレイの接続構造を参照すると、第2ガンマ基準電圧G223が左側に示された第2ガンマ基準電圧G254と異なる。すなわち、ガンマバッファータブポイントが変わった。
図10は、第2ガンマバッファーを抵抗ストリングに適用しない場合の環境を示す。
図10を参照すると、第2ガンマバッファーから出力される第2ガンマ基準電圧G223を抵抗ストリングに接続しない場合である。このとき、ガンマバッファーの消費電力は、一定の値を有する。
図11は、図9及び図10に示されたガンマ基準電圧と抵抗ストリングとの間の接続構造に基づいて測定された、ガンマバッファーを具備するSDICの温度を示す図である。
図11を参照すると、第2SDIC(IC#2)の温度は、従来の接続構造の場合(#2D−IC、G254ガンマとして参照)には55.5℃であるのに比べて、本発明による接続構造の場合(#2D−IC、G223ガンマとして参照)には、47℃であり、さらに、2番目のガンマバッファーを使わない場合のSDIC(IC#2)の温度は、45℃である。上述の二つの場合、従来の接続構造における場合よりも、第2SDIC(IC#2)の温度が低い。
図12は、本発明によるフラットパネルディスプレイの他の一実施形態を示す。
図12を参照すると、本発明によるフラットパネルディスプレイ1200は、図5に示されたフラットパネルディスプレイ500の構造と比べると、第1SDIC1221の第2ガンマバッファーGB1−2の位置と、第6SDIC1233の第2ガンマバッファーGB6−2の位置とが互いに変化する。
すなわち、第1SDIC1221の第2ガンマバッファーGB1−2は、VL00に対応する電圧をバッファリングし、第6SDIC1233の第2ガンマバッファーGB6−2は、VL255に対応する電圧をバッファリングする。具体的に言うと、第1SDIC1221の第1ガンマバッファーGB1−1の消費電力が一番少なく、第6SDIC1233の第2ガンマバッファーGB6−2の消費電力が一番多い。したがって、消費電力の分散によるチップの温度分布を均一にするために、消費電力が一番多いガンマバッファーと、消費電力が一番少ないガンマバッファーとが同一のSDICに共に集積される。
図13は、図12に示された本発明によるフラットパネルディスプレイに装着されたSDICの温度を示す。
図14は、図12に示された本発明によるフラットパネルディスプレイに装着されたガンマバッファーの消費電力を示す。
図13及び図14を参照すると、図12に示されるように、消費電力が一番少ないガンマバッファーGB1−1と、消費電力が一番多いガンマバッファーGB1−2とが同じソースドライバ、つまりSDIC1221に集積させる。したがって、各SDIC間の温度偏差が均一なことが分かる。
図15は、図12に示されたガンマバッファーの消費電力を計算する過程を説明する図である。
図15に示されたガンマバッファーの消費電力を計算する過程は、図4及び図8の計算過程と同一であるので、以下では本発明の特徴部分のみに対して説明する。
図15の右側に点線で表示した算式を参照すると、ガンマバッファーに入力される入力電圧を互いに交換することで、該当ガンマバッファーの消費電力が互いに交換される。したがって、第1SDIC(IC#1)に装着された2個のガンマバッファーで消費する電力は、交換後、11.8mWから48.7mWに増加するようになるが、第6SDIC(IC#6)に装着された2個のガンマバッファーで消費する電力は、76.4mWから39.5mWに減少する。
前記ガンマバッファーの消費電力の増減は、該当ガンマバッファーが装着されたSDICの温度変化を増減させる。図13を参照すると、第1SDIC(IC#1)の温度は、2.5℃増加したが、反対に第6SDIC(IC#6)の温度は、2.5℃減少した。よって、全体的な消費電力の変化はない。しかし、各SDIC間の温度偏差は、かなり減少する。
図16は、本発明によるフラットパネルディスプレイのまた他の実施形態である。
図16を参照すると、フラットパネルディスプレイ1600は、図12に示されたフラットパネルディスプレイ1200の第6SDIC1233に装着された2個のガンマバッファー(Ex_GB)を、第6SDIC1233の外部に設置したものである。このとき、2個のガンマバッファー(Ex_GB)は、第6SDIC1633と同一のPCBに装着されることが望ましい。
図17は、図16に示された本発明によるフラットパネルディスプレイに装着されたSDICの温度を示す。
図18は、図16に示された本発明によるフラットパネルディスプレイのSDICに装着されたガンマバッファーの消費電力を示す。
図17及び図18を参照すると、第6SDIC1133の総消費電力は、ガンマバッファーで消費する電力まで減少し、よって、温度は、減少する。
図19は、ガンマバッファーの消費電力によるSDICの消費電力を比べるグラフである。
図20は、ガンマバッファーの消費電力によるSDICの温度を比べるグラフである。
図19及び図20を参照すると、ガンマバッファーの消費電力を計算することで、ガンマバッファーが内蔵したを含むSDICの温度を予測することができ、これに基づいて、SDIC間の温度偏差を最小限にするように、ガンマバッファーの位置を変更することができる。
図21は、従来の場合における、ガンマタブポイントを変更した場合、及びガンマバッファーの位置を変更した場合において、SDICの温度を比べたグラフである。
図21を参照すると、ガンマタブポイントを変更した場合、第2SDIC(IC#2)の温度が8.5℃減少し、ガンマバッファーの位置を変化させた場合、SDICの絶対温度を減少させることができることが分かる。また、ガンマバッファーをソースドライバーには含まずPCB上に移動させる場合には、ガンマタブポイントを変更した場合に比べて2℃さらに減少することを確認することができる。
図5、図12、及び図16は、フラットパネルディスプレイを示したが、前記図面を説明する詳細な説明部分を参照すると、これはガンマバッファーの配置方法を説明したということが分かる。したがって、詳細な説明欄にはガンマバッファーの配置方法は、直接には記載しなかったが、ガンマバッファーの配置方法は、説明されていると言える。
本発明は、その例示的な実施形態を参照して特に示され記述したが、本発明が属する技術分野で通常の知識を有したなら誰も、添付の特許請求の範囲にて規定するような本発明の技術的思想の範疇を離脱しない範囲内で、多様な変形及び模倣が可能であることは明白な事実である。
上述したように、本発明による、ガンマバッファの配置方法及びフラットパネルディスプレイは、フラットパネルディスプレイに含まれるソースドライバの絶対温度を低減し、ソースドライバ間の温度偏差を最小化し、かつフラットパネルディスプレイの寿命及び信頼性を改善するという利点を有する。

Claims (8)

  1. 少なくとも一つのソースドライバーに配置されて、対応のガンマ電圧を出力する複数個のガンマバッファーを配置する方法において、
    各ガンマバッファーの消費電力を計算するステップを具備して、
    計算された各ガンマバッファーの消費電力を用いてガンマバッファーのタブポイントを変更するステップと、
    計算された各ガンマバッファーの消費電力を用いて、ガンマバッファーの位置を変更するステップと、
    の少なくとも一つをさらに具備することを特徴とするガンマバッファー配置方法。
  2. 前記ガンマバッファーのタブポイントを変更するステップは、一番多い電力を消費するガンマバッファーに入力される電圧を、最も低い電力を消費する対応のガンマバッファーへ入力する電圧に変更する、請求項1に記載のガンマバッファー配置方法。
  3. 前記ガンマバッファーの位置を変更するステップは、一番多い電力を消費するガンマバッファーと、一番少ない電力を消費するガンマバッファーとを同一のソースドライバー集積回路に配置する、請求項1に記載のガンマバッファー配置方法。
  4. 前記ガンマバッファーの位置を変更するステップは、一番多い電力を消費するガンマバッファーを、対応するソースドライバー集積回路の外部に設けるステップをさらに具備する、請求項3に記載のガンマバッファー配置方法。
  5. 前記ソースドライバー集積回路の外部に設けられるガンマバッファーは、対応するソースドライバー集積回路と同じプリント回路基板上に設けられる、請求項4に記載のガンマバッファー配置方法。
  6. 少なくとも2個のガンマバッファーと、複数のガンマ電圧をバッファリングする複数個のソースドライバー集積回路とを具備して、
    前記複数個のソースドライバー集積回路に含まれる各ガンマバッファーの消費電力を計算することで、各ガンマバッファーのうちで、一番多い電力を消費するガンマバッファーの位置と、一番少ない電力を消費するガンマバッファーの位置とが、同じソースドライバー集積回路に含まれるように互いに交換されることを特徴とするフラットパネルディスプレイ。
  7. 前記複数個のガンマバッファーのうちで一番多い電力を消費する少なくとも一つのガンマバッファーは、対応するソースドライバー集積回路の外部に設置される、請求項6に記載のフラットパネルディスプレイ。
  8. 前記対応のソースドライバー集積回路の外部に設置されるガンマバッファーは、前記対応するソースドライバーと同じプリント回路基板に含まれる、請求項7に記載のフラットパネルディスプレイ。
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