JP2010512826A - スペクトル分解x線撮像装置 - Google Patents
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Abstract
本発明は、観察周期(T)中に連続的に変化するエネルギースペクトル(P(E,t))を有するX放射線を生成するX線源(10)を有する、特にスペクトルCTスキャナである、X線撮像装置(100)に関する。好適な一実施形態において、放射線(X)は、エネルギーに依存する減衰係数(μ(E,r))に従って対象物(1)内で減衰し、透過した放射線が検出器(20,30)のセンサユニット(22)によって測定され、得られた測定信号(i(t))がサンプリングされ且つA/D変換される。これは好ましくは、例えばΣΔ−ADCといったオーバーサンプリングA/D変換器によって行われる。X線源を駆動する管電圧(U(t))が高周波でサンプリングされる。評価システム(50)にて、これらのサンプリングされた測定値が、対応する実効エネルギースペクトル(Φ(E))に関連付けられ、エネルギーに依存する減衰係数(μ(E,r))が決定される。
Description
本発明は、エネルギースペクトルが可変なX線源を有するX線撮像装置、特に、スペクトルCTスキャナに関する。また、本発明は、スペクトル分解X線画像の生成のための方法に関する。
減衰係数μのエネルギー依存性を用いるX線CTシステムは、従来のCTスキャナと比較して広い範囲の用途に適用される。一般的に、コントラストが高められた画像を再構成することができる。これに関連し、特許文献1には、方形波状の2つの異なる高電圧を供給されることが可能なX線管を備えたCTスキャナが記載されている。故に、2つの異なる一次光子エネルギースペクトルに対応する対象物のX線投影を取得することが可能である。しかしながら、高電圧の急峻な切替え、及びそれを検出器読み出し電子回路と同期させることは、特に、高い切替え速度を達成する場合、容易でない作業である。
この状況に鑑み、本発明は、エネルギー分解能の向上及び/又はハードウェア要求の軽減が望まれる、X線スペクトルが変化するX線画像群を生成するための代替手段を提供することを目的とする。
上記課題は、請求項1に記載のX線撮像装置、及び請求項13に記載の方法によって達成される。好適な実施形態が従属請求項にて開示される。
本発明に従ったX線撮像装置は、原理上、対象物のX線投影、又はそれから得られる画像を生成することが可能な如何なるX線機器ともし得る。好ましくは、当該撮像装置は、異なる方向から取得された対象物のX線投影から該対象物の断面画像又は3D画像を再構成することが可能なコンピュータ断層撮影(CT)スキャナである。当該X線撮像装置は以下の構成要素を有する。
a)所与の観察周期T中に連続的に変化するエネルギースペクトルを有するX線を放射するX線源。観察周期Tは典型的に、1スキャン時間で対象物の複数画像(“フレーム”)が撮影される構成における1つの“フレーム”に対応する。以下の説明は、そのような観察周期Tがただ1つ存在する状況を含んでいるが、実際には典型的に、時間的に次々と続く多数の同等の観察周期が存在する。
b)m≧2であるm個の“放射線サンプリング値”を生成する検出器。これらのサンプリング値の各々は、観察周期内の異なるサンプリング期間中に当該検出器のセンサユニットによって測定されたX放射線の量を表す。センサユニットによるX放射線の量の測定は、(半導体)X線検出器に関して周知の処理である。センサユニットは典型的に、多数の同様の画素から成る2次元アレイ内の1つの画素に対応し、入射X線光子を直接的あるいは(二次光子を介して)間接的に、例えば電流といった電気信号へと変換する変換器ユニットを有する。そして、センサユニットによって提供される電気信号全体が、該センサユニットに突き当たるX放射線の強度の指標となる。
上記異なる“サンプリング期間”は、原理上、観察周期T上で任意に広げられ得るが、通常は等間隔な分布が好ましい。また、サンプリング期間の相対的な長さ(“デューティサイクル”とも呼ばれる)は、2つの連続するサンプリング期間の始点間の利用可能な時間の0%と100%との間で変化し得る。
c)上述のサンプリング期間に関するX線源の実効的なエネルギースペクトルΦk(E)を決定する“スペクトル推定ユニット”。スペクトル推定ユニットは典型的に、付随のソフトウェアを有するマイクロプロセッサのようなデジタルデータ処理装置によって実現される。また、“実効エネルギースペクトル”Φk(E)は、対応するk番目のサンプリング期間(k=1,・・・,m)中にX線源によって放射された一次X線光子のエネルギー分布を反映する。サンプリング期間が例えば時間的な唯一の点に対応する場合、実効エネルギースペクトルは、この時点での一次X線光子の瞬時エネルギースペクトルに相当することになる。しかしながら、サンプリング期間が有限な時間を有する場合、関連する実効エネルギースペクトルは、該サンプリング期間中に使用されていた一次X線光子の全(変化する)エネルギースペクトルの或る種の好ましい平均値になる。
上述のX線撮像装置は、現状技術から知られる準瞬時的に変化するX線スペクトルより実現がかなり容易な、連続的に変化するX線スペクトルを使用するという利点を有する。しかしながら、連続的に変化するスペクトルは、測定が行われるサンプリング期間中に、一次X線ビームのスペクトル成分が連続的に変化することを意味する。この問題は、サンプリング期間に関する実効エネルギースペクトルを決定するスペクトル推定ユニットによって解決される。故に、データ処理の労力という犠牲の下で、X線生成ハードウェアへの要求が緩和される。全体としては、データ処理要求は利用可能なマイクロコンピュータ及び/又はソフトウェアによって容易に対処され得るので、相当な設計の単純化が達成され得る。
X線源は、その可変エネルギースペクトルを様々な手法で生成し得る。具体的な一手法によれば、X線源は、時変スペクトル特性を有するフィルタ素子を有する。フィルタ素子は、当然ながらX線源によって放射されたX線の経路内に置かれ、その時間的に可変なスペクトル特性に従って、元々生成されたX線光子のエネルギー分布に影響を及ぼす。フィルタ素子の特定の一実現例は、例えば、外周に沿った断面内で様々な吸収特性(例えば、厚さ)を持つ回転ディスクを有し、ディスクの回転中にそれらの吸収特性が順々にX線光子の経路内に持ち込まれる。
X線撮像装置の実用上重要な一設計例において、X線源は、X線管と、該X線管に付随し該X線管に、好ましくは正弦波の管電圧である、周期的な管電圧を供給する発生器とを有する。連続的に変化する管電圧は、相異なる一定レベル間で急峻に切り替わる電圧より、かなり容易に発生され得る。実際上、連続的に変化する管電圧Uの時間変化dU/dtは、典型的に、400kV/ms未満、好ましくは100kV/ms未満、非常に好ましくは40kV/ms未満、の値に制限される。このことは、ハードウェア要求を軽減すると同時に、より短い時間スケールでのエネルギースペクトルの変化を可能にする。この種のX線源は好ましいことに、スペクトル変化を強化するため、上述の種類の時変フィルタ素子と組み合わされることが可能である。
上述の形態のX線源において、放射されるX線ビームのスペクトル成分は、発生器によって供給される管電圧に連関して変化する。故に、撮像装置は好ましくは、発生器によって供給された管電圧を測定する電圧センサユニットを有する。この電圧センサユニットの測定値は、サンプリング期間中に実際に使用されているX線源のスペクトルに関する情報をリアルタイムに提供するので、スペクトル推定ユニットによって好ましく使用され得る。
上述の実施形態の更なる一発展例において、電圧センサユニットは、サンプリング期間(すなわち、測定されたX放射線量が検出器によってサンプリングされる観察周期内のm個の異なる期間)中に電圧値をサンプリングする電圧サンプリングユニットを有する。このサンプリングは、付随する重み関数g*に従って行われる。これは、サンプリングされた値Ukの各々が、公式:
重み関数g*がデルタ関数δである場合、このサンプリングは、信号Uの瞬時値の収集に相当する。重み関数g*が方形正規化パルスである場合、このサンプリングは、このパルス幅内での信号Uの平均化に相当する。一般的に、重み関数g*は有限期間Iの外側でゼロである(t∈Iでない全てのtで、g*(t)=0)。電圧サンプリングユニット(何らかの内部フィルタを併せて)の帯域幅は、如何なる時点tにおいても管電圧の正確な再構成を可能にするのに十分な大きさにされるべきであり、そのとき、この再構成手順は例えば補間技術によって達成され得る。具体的には、電圧サンプリングユニットの帯域幅は、少なくとも上述の放射線サンプリングユニットの帯域幅と同じ高さにされるべきである。
上述の実施形態の更なる一発展例において、スペクトル推定ユニットは、実効エネルギースペクトルΦ(E)を、様々な管電圧に対して与えられたモデルスペクトルから決定し得るように設計される。サンプリングされた管電圧とモデルスペクトルとを用いて、スペクトル推定ユニットは如何なる時点におけるエネルギースペクトルΦ(E)をも決定することができる。更なる処理手順にて、実効エネルギースペクトルΦ(E)を例えば加重平均によって生成するために、有限な期間内のエネルギースペクトルが結合されてもよい。
以上ではX線管の管電圧のサンプリングを検討したが、以下の好適実施形態は検出器内でのサンプリング処理に関する。この実施形態において、検出器は、センサユニットによって提供される連続的な測定信号から放射線サンプリング値(センサユニットによって測定されたX放射線量を表す)をサンプリングする“放射線サンプリングユニット”を有する。このサンプリングは、該当するサンプリング期間中に重み関数gに従って行われる。連続的な測定信号が例えばi(t)で表記される場合、重み関数gの効果は、上述のように、折り畳み演算:
この重み関数gは典型的に、考慮するサンプリング期間の外側でゼロである、読み出し電子回路によって決定される対称関数である。電圧センサユニットが重み関数g*を用いて電圧値をサンプリングし、且つ放射線サンプリングユニットが重み関数gを用いて放射線サンプリング値をサンプリングする好適なケースにおいて、関数g*のフーリエ変換G*(f)は、好ましくは、関数gのフーリエ変換G(f)に対して等しい、あるいは高い帯域幅を有する。
スペクトル推定ユニットが、様々な管電圧に対して与えられたモデルスペクトルから実効エネルギースペクトルΦ(E)を決定することができるように設計され、且つ検出器が上述の重み関数g(t)を用いる放射線サンプリングユニットを有する場合、実効エネルギースペクトルの決定は、好ましくは、放射線サンプリングユニットの重み関数g(t)に従って行われる。この決定は、時点tごとに所定のモデルスペクトルP(E,t)に基づいて、例えば、公式:
電圧サンプリングユニット及び/又は放射線サンプリングユニットは、好ましくは、特にΣΔ−ADCである、オーバーサンプリング・アナログ−デジタル変換器(ADC)を有する。デジタル処理では、チューブのアナログ管電圧、及びセンサユニットによって提供されるアナログ測定信号の双方が、ADCによってデジタル化されなければならない。“通常の”A/D変換器は、大抵、信号x(t)を100%のデューティサイクルでサンプリングする。すなわち、信号の全ての値x(t)がサンプリングされた値群のうちの1つに何かしら寄与する。また、このようなADCの帯域幅はナイキスト基準に従って適応される。対照的に、ΣΔ−ADCは、より低いデューティサイクルで信号x(t)をサンプリングし(すなわち、2つの連続するサンプリング時間t1、t2間の値x(t)の一部のみが、該サンプリング時間に関するサンプリング値x1、x2に寄与する)、従来の(CT)信号処理によって要求される帯域幅より有意に高い帯域幅を実現することが可能である。ΣΔ−ADCは通常、内的な理由により、入力信号のオーバーサンプリングを用いて処理するからである。
撮像装置の他の好適な一実施形態において、電圧サンプリングユニット及び/又は放射線サンプリングユニットは、異なる観察周期の類似したサンプリング期間に属する(電圧又は放射線)サンプリング値から各々が成るm個のデータストリームを生成するフィルタユニットを有する。光子スペクトルが、例えば、後続の観察周期群にまたがって周期的に変化し、且つ放射線サンプリング値が、各観察周期内で等間隔の放射線サンプリング期間で収集される場合、k番目のデータストリームは、全ての観察周期(1≦k≦m)のk番目のサンプリング値で構成されることになる。各データストリームは、故に、管電圧の特定の部分区間に対応する。
撮像装置は、これまでに述べたように、連続的に変化するスペクトルを有するX放射線を生成する手段、放射線サンプリング期間中の検出放射線に対応する放射線サンプリング値を生成する手段、及びこれらサンプリング期間中の放射線の実効エネルギースペクトルΦ(E)を推定する手段を有する。提供される情報は、撮像装置の好適な一実施形態において、X線源と検出器(より正確には、センサユニット)との間のX線経路L内に配置された対象物内の減衰係数μ(E,r)のモデル関数:
これまでの撮像装置の説明は、X線撮像される対象物と撮像装置との間での相対的な移動について如何なる仮定もしてこなかった。故に、特定のケースにおいては、内部にセンサユニットのアレイを有する検出器とX線源との間に載置された静止した対象物から、多数の“単純な”X線投影画像が相異なる光子スペクトルで生成され得る。しかしながら、本発明の好適な一実施形態において、撮像装置は、X線源と検出器との間に配置された対象物内の上述の減衰係数μ(E,r)の空間分布全体を、様々な投影方向から取得された該対象物のX線投影から計算する“再構成モジュール”を有する。このような再構成モジュールは、当業者に周知のコンピュータ断層撮影の原理に従った特別のハードウェア又はソフトウェアによって実現され得る。
本発明は更に、対象物のスペクトル分解X線画像を生成する方法に関する。当該方法は:
a)所与の観察周期中に連続的に変化するエネルギースペクトルを有するX線を放射する段階;
b)前記観察周期内の異なるサンプリング期間中に所与の測定領域(例えば、センサユニットの)で測定されたX線の量を表す、2以上である複数mの、放射線サンプリング値を生成する段階;
c)上記サンプリング期間に関するX線源の実効エネルギースペクトルを推定する段階;
を有する。
a)所与の観察周期中に連続的に変化するエネルギースペクトルを有するX線を放射する段階;
b)前記観察周期内の異なるサンプリング期間中に所与の測定領域(例えば、センサユニットの)で測定されたX線の量を表す、2以上である複数mの、放射線サンプリング値を生成する段階;
c)上記サンプリング期間に関するX線源の実効エネルギースペクトルを推定する段階;
を有する。
当該方法は、一般的な形態において、上述の種類の撮像装置を用いて実行されることが可能な段階群を有する。故に、当該方法の細部、利点及び改良例に関する更なる情報は先の説明を参照されたい。
本発明のこれら及びその他の態様は、以下にて説明する実施形態を参照することにより明らかになる。それらの実施形態は添付の図面の助けを借りて例として説明されるものである。図面において、同一あるいは類似の要素には同様の参照符号を付する。
現行のX線コンピュータ断層撮影システムの主なハードウェア要素は、多色X線スペクトルを生成するX線管、及び検出器である。X線管の一次スペクトルの上限は、印加される高電圧(典型的に120keV−140keV)によって与えられる。CTの検出器が、X線光子及び二次放射線のセンサ材料との相互作用により生成された積分電荷を測定する。多数の異なる方向の投影で測定を行うことにより、減衰係数μによって記述される透過X放射線の減衰に関する情報が提供される。
減衰係数μは、一般的に、物体を横切るX線光子のエネルギーに依存する。現行のCTスキャナは減衰係数μのエネルギー依存性を考慮しておらず、所謂ビーム硬化(ハードニング)アーチファクトが発生し得る。これとは対照的に、スペクトルCTシステムは減衰係数μ=μ(E,r)のエネルギー依存性を活用するように設計され、より高いコントラストの物質分解、又はKエッジ撮像を介しての造影剤の高められた選択性をもたらす。スペクトルCTシステムを実現することには幾つかの選択肢が存在する(例えば、B.J.Heismann、S.Wirth、S.Janssen、Q.Spreiter、「Technology and image results of spectral CT system」、Proc. SPIE 5368、2004年、p.52-59を参照)。
“デュアル(二重)kV”法は、スペクトルCTシステムの1つの具体的な実現法であり、2つの異なる電圧設定(すなわち、2つの異なる一次X線スペクトル)で投影が記録される。“マルチkV”法はデュアルkV法を拡張したものであり、3つ以上の高電圧設定を用いる。2つ以上の高電圧設定を用いての撮像は“トモケミストリー(tomochemistry)”と呼ばれることもある。二重エネルギーX線撮影の主な用途は、二重光子吸収測定法(dual-photon absorptiometry;DPA)(Peppier、R.Mazess、「Total body bone mineral and lean body mass by dual-photon absorptiometry, I. Theory and measurement procedure」、Calcif. Tissue Int.、1981年、3:p.353-359を参照)を用いた正確且つ高精度な骨測定、二重エネルギーX線吸収測定法(dual-energy X-ray absorptiometry;DEXA)(Stein、M.Walthman、J.Lazewatsky、A.Hochberg、「Dual energy X-ray bone densitometer incorporating an internal reference system」、Radiology、1987年、165:31 3を参照)、及び二重エネルギーコンピュータ断層撮影(dual-energy Computed Tomography;DECT)(Cann、H.Genant、B.Rutt、B.Stebler、「Postprocessing dual-energy CT for accurate spinal mineral measurement」、Radiology、1983年、149:167を参照)である。
デュアルkV法又はマルチkV法を実現するために以下の方法を使用し得る:
− 異なる高電圧設定を用いた複数の連続的なスキャン(すなわち、対象物の周りの回転)を行う。この場合、患者の動きからのアーチファクトによって画質が低下する。
− X線検出器が各々の回転角及び高電圧設定の投影を記録しながらスキャン中に異なる高電圧設定間で高速切替えを行う(W.A.Kalender等、「Evaluation of a prototype dual-energy computed tomographic apparatus, I. Phantom studies」、Med. Phys.、1986年、第13巻、p.334-339を参照)。
− 2つ(以上)のX線管及び2つ(以上)の検出器がガントリーに取り付けられ、スキャン中に同時に作動される。
− 異なる高電圧設定を用いた複数の連続的なスキャン(すなわち、対象物の周りの回転)を行う。この場合、患者の動きからのアーチファクトによって画質が低下する。
− X線検出器が各々の回転角及び高電圧設定の投影を記録しながらスキャン中に異なる高電圧設定間で高速切替えを行う(W.A.Kalender等、「Evaluation of a prototype dual-energy computed tomographic apparatus, I. Phantom studies」、Med. Phys.、1986年、第13巻、p.334-339を参照)。
− 2つ(以上)のX線管及び2つ(以上)の検出器がガントリーに取り付けられ、スキャン中に同時に作動される。
急峻な高電圧切替えシステムの技術的実現に関して、高電圧変調と、自身のA/D変換器と連動する検出器との間の、時間ドメインでの整合が必要とされる。マルチkVシステムの検出器に関して積分モード(又は電流モード)を仮定すると、フレーム時間Tの間にX線センサ内で生成された全電荷が積分される。これは時間ドメインでのボックスカー型ウィンドウ技術である。すなわち、時間フレーム間に鋭い遷移が存在する。方形波的な2つ(以上)の高電圧間での急峻な切替えはこの概念に適合する。
本発明により、スペクトルCTシステムの特別な実現法が提案される。それによれば、用途に応じて、通常のCTより高いコントラストが可能になる。これは、特に、対象物内の2つ以上の物質が分離されなければならない場合に当てはまる。一部の用途において、この物質は造影剤とし得る。副次的に、ビーム硬化が容易に補正され得る。本発明は、CTにおける管の高電圧の従来の切替え技術に伴う問題及び課題のうちの幾つかを解決する。特に、高電圧切替えユニット内で、強い過渡特性が回避され得る。提案するシステムは、好ましいことに、1つの高電圧生成ユニットのみを必要とする。また、スキャンに先立つ、又はスキャン中の高電圧切替え制御と検出器のサンプリングとの間での精密な時間的整合は不要である。
図1は、本発明に従った例えばCTスキャナといったX線撮像装置100を例示する概略図である。この撮像装置100は以下の主要素を有する:
− 連続的(好ましくは、周期的でもある)に変化するエネルギースペクトルP(E,t)を有するX放射線を生成するX線源10。
− X線源10により放射されたX線を測定し、対応する連続的な測定信号i(t)を提供するセンサ部20と、測定信号i(t)を読み出し、それをデジタル値に変換する読み出し部30とを有する検出器。
− 放射線源10内の実際の管電圧U(t)を測定する電圧センサユニット40。
− 検知されてデジタル化された管電圧及び検出器の測定信号が更なる処理のために供給される、好ましくはワークステーションのようなデータ処理装置によって実現された、評価システム50。
− 連続的(好ましくは、周期的でもある)に変化するエネルギースペクトルP(E,t)を有するX放射線を生成するX線源10。
− X線源10により放射されたX線を測定し、対応する連続的な測定信号i(t)を提供するセンサ部20と、測定信号i(t)を読み出し、それをデジタル値に変換する読み出し部30とを有する検出器。
− 放射線源10内の実際の管電圧U(t)を測定する電圧センサユニット40。
− 検知されてデジタル化された管電圧及び検出器の測定信号が更なる処理のために供給される、好ましくはワークステーションのようなデータ処理装置によって実現された、評価システム50。
X線源10と検出器のセンサ部20との間に、例えば患者の人体1といった、X線放射される対象物が、該対象物を透過したX放射線が検出器内で測定されるように配置される。ここで、撮像装置100の上述の主要素を更に詳細に説明する。
X線源10は、X線管(チューブ)12に管電圧U(t)を供給する電圧発生器11を有する。現状で最新のCTスキャナに使用されるX線管に対する一定の高電圧が、ここでは、変調された高電圧U(t)に置き換えられる。この変調は好ましくは、“観察周期”すなわちフレーム時間をTとして、周波数f1=1/Tの正弦波、又は周波数n・f1(n=2,3,4,・・・)を有する有限数の高調波を伴う正弦波である。X線源10に用いられる具体的なハードウェアに依存するが、電圧上昇のdU/dtの典型値は150kV/msであり、電圧下降の典型値は40kV/msである。dU/dtの最大値は現状では400kV/ms程度である。
チューブ12内で、技術的に周知のプロセスによってX線光子が生成される。これらの光子のエネルギースペクトルは、何らかの関数Q(E,U)に従って、管電圧Uに依存する。例えば理論的考察又は測定により、この関数はモデル化され得る。
X線源10は更に、アイソレイ(isoray)(すなわち、チューブ12の光経路)に平行な軸の周りを回転する円盤13を有する。円盤13はまた、その外周に沿って特性が変化する。X放射線がこの外周上の点を通過するとき、円盤の回転により、時間的に変化する分光透過率T(E,t)が見られる。X線管12(変調された電圧U(t)で駆動される)と回転フィルタ13との組み合わせは、放射線源10により最終的に放射されるX線光子の、時間的に可変なエネルギースペクトルP(E,t)をもたらす。図1内にこのスペクトルを概略的に示す。円盤の回転の角周波数fRは、好ましくは、管電圧の変調周波数f1に同期される。すなわち、好ましくは、f1=n・fR(n=1,2,3,・・・)である。円盤の深さプロファイルは高電圧の変調と同様の周波数成分を有する。斯くして、円盤13は、一周期中に一層強いスペクトル変化を生み出すX線フィルタとして作用する。例えば、100%のデューティサイクルを有するサンプリングユニットにおいて、すなわち、標本値の均一な平均化において、規則的な孔パターン(“チョッパ”)を有する回転する金属ディスクが実現され得る。
X線源10によって放射された放射線は次に対象物1を通過する。このとき、この対象物の放射線への影響は、空間的に変化する減衰係数μ(E,r)によって記述することができる。ただし、rは対象物内の位置である。説明した設定において、この係数のエネルギー依存性も関心事である。モデル化手法において、減衰係数は、和:
検出器のセンサ部20は、センサ領域21にわたる2次元アレイ状に分布された複数のセンサユニット22又は“画素”を有する。以下では1つのセンサユニット22のみの読み出し及びデータ処理を検討するが、通常は投影画像(フレーム)ごとに多数の画素が読み出され、処理されなければならないことを忘れてはならない。センサユニット22において、それに突き当たるX放射線は、センサ固有のスペクトルエネルギー応答D(E)に応じた電気信号に変換される。吸収されたX放射線の量(強度)に対応するこの電気信号を、以下ではi(t)と表記する。これは例えば光電流に対応する。
検出器信号i(t)は、管電圧U(t)の周期変化に従って“観察周期”Tに伴って変化する。典型的に、検出器信号i(t)の更なる変動が、対象物1と撮像装置100との間での相対移動によって導入される。この運動は通常、より粗い時間スケール(観察周期T程度)で発生する。
理論的には、時点tkで、
− 測定された検出器信号i(tk)、
− 関連する管電圧U(tk)、及び
− 回転ディスク13の透過率T(E,tk)
を、
− 時点tkで使われていたX線スペクトルΦk(E)=P(E,tk)の計算、及び
− このスペクトルΦk(E)の測定された検出器信号i(tk)への関連付け、
のために取得することが可能である。仮に、これが観察周期T中の異なる時点t1,・・・,tk,・・・,tmで行われる場合、これは異なる光子エネルギースペクトルΦk(E)に対応する測定値i(tk)を生じさせることになる。
− 測定された検出器信号i(tk)、
− 関連する管電圧U(tk)、及び
− 回転ディスク13の透過率T(E,tk)
を、
− 時点tkで使われていたX線スペクトルΦk(E)=P(E,tk)の計算、及び
− このスペクトルΦk(E)の測定された検出器信号i(tk)への関連付け、
のために取得することが可能である。仮に、これが観察周期T中の異なる時点t1,・・・,tk,・・・,tmで行われる場合、これは異なる光子エネルギースペクトルΦk(E)に対応する測定値i(tk)を生じさせることになる。
実際には、利用可能なハードウェア要素の限られた能力のため、上述の手順はほぼ実現不可能である。故に、より現実的な手法は、測定信号i(t)が、使用するサンプリング電子回路によって決定される時間的な重み関数g(t)で、有限なサンプリング期間(又はデューティサイクル)Ikにわたってサンプリングされることを考慮に入れなければならない。より詳細に後述するように、好ましくは、考慮する関心期間T内の時点t1,・・・,tk,・・・,tmで開始するm≧2の時間I1,・・・,Ik,・・・,Im中に測定信号i(t)をサンプリングするために、オーバーサンプリングA/D変換器31が用いられる。この目的でΣΔ型ADCが用いられる場合、その出力は、フィルタユニット32によって更に処理されるパルス密度変調された(PDM)ビットストリームに対応する。
フィルタユニット32は、ADCの出力から例えばm個のデータストリームs1,・・・,sk,・・・,smを生成し、それらを評価システム50に提供する。これらのデータストリームskの各々は、連続する観察周期Tの等価サンプリング時間tkに対応する放射線標本値ikから成る。
管電圧U(t)は、フィルタユニット42と結合されたADC41によって、測定された検出器信号i(t)と同様にサンプリングされる。好ましくは、このADC41及びフィルタユニット42は、検出器出力i(t)の前処理に用いたADC31及びフィルタ32と同一、あるいは、より高い帯域幅を有し、管電圧U(t)は重み関数g*(t)で同一の時間Ik内にサンプリングされる。
管電圧の標本値U1,・・・,Uk,・・・,Umは、m個のデータストリームとして、評価システム50内の“スペクトル推定モジュール”51に供給される。このスペクトル推定モジュール51において、サンプリング時間Ik中に事実上使用されていたX放射線のスペクトルを記述する実効的なエネルギースペクトルΦk(E)が決定される。実効エネルギースペクトルΦk(E)は、例えば、(モデル化された)一次スペクトルP(E,t)から決定され得る。それらは、具体的には、一次スペクトルP(E,t)の重み付けられた時間平均に相当し、重み関数g(t)は検出器信号i(t)がサンプリングされるときに用いられたのと同一である。これにより、一次X線光子の各瞬時入力P(E,t)が、得られた検出器の測定信号i(t)と同一の重みを用いて考慮に入れられることが保証される。
評価システム50の“スペクトル識別モジュール”53にて、各観察周期T内のm個の異なる時間tkに関して対象物1を通る光線経路Lに沿った減衰係数μ(E,r)の線積分値を決定するために、実効エネルギースペクトルΦk(E)及び放射線サンプリング値ikが結合される。これらの積分値は、減衰係数μ(E,r)の上述の空間分布関数aj(r)の決定のために必要である。
チューブ12の上の二重線の矢印は、このチューブ(及びそれと同期して検出器)が通常、対象物1を通る断面の再構成を可能にする様々な方向からの対象物の投影を生成するために、対象物1の周りを回転することを指し示している。この再構成は、“再構成モジュール”54にて、スキャン全体(すなわち、対象物1の周りでの放射線源及び検出器の1スウィープ)中に決定された全ての線積分値に基づいて行われる。対象物内の減衰係数の空間分布は更に、スペクトルCTの既知の原理に従って、スペクトル加重された画像の生成に使用され得る。
X線センサ材料からの信号i(t)の処理が高い帯域幅を有するADC31によって実行されるとき、X線吸収のエネルギー依存性に関する情報μ(E,r)は、ADCの出力データのスペクトル成分内でエンコードされる。2以上(m≧2)の高電圧設定を有するマルチkVシステム(例えば、二重エネルギーモードではm=2)に関心がある場合、ADCの帯域幅はm・f1でなければならない。ただし、f1=1/Tは、変調された管電圧U(t)の周波数である。上述のように、サンプリング周波数fs=m・f1でのADCの出力データは、フィルタユニット32の最も単純な動作モードにおいて、m個の出力データストリームに展開され、これらm個の出力の各々が位相シフトすなわち遅延ΔTk<Tにかけられ、各出力は最終的にf1にダウンサンプリングされる。従って、各出力skは、他と異なる特有の高電圧設定に対応する検出器信号を表す。急峻なkV切替えの既知の実現法と対照的に、これらの高電圧設定は、単一の高い側の高電圧(kVp)の値に対応せず、フィルタ処理により、同様のピーク値を有する複数の高電圧設定を混合したものである。しかしながら、実効スペクトルΦkは、モデルにより、あるいは監視された高電圧値と関連付けられたモデルにより、計算されることが可能である。
検出器画素の信号i(t)をサンプリングするADCの種類と同様、あるいはそれより高い帯域幅を特徴とするADCを用いて高電圧U(t)をサンプリングすることが好ましい。そうすることにより、実効的なkVp群がリアルタイムで利用可能になる。同様に、ADCにおいて実行されたのと同一の処理を用いて、異なるkVp群を有するX線スペクトルのモデルが決定され得る。デジタルフィルタ処理をソフトウェアに変換することは容易だからである。
また、フレーム周波数f1=1/Tはユーザによって動的に定められることが可能である。フィルタユニット32、42を含むAD変換器31、41の周波数応答は、フィルタユニット内の別のフィルタ係数の組をロードすることによって新たなf1に容易に適応され得る。故に、スペクトル分解能(区別される高電圧設定の数mによって決定される)を読み出し速度(すなわち、観察周期Tの長さ)の分解能と交換すること、又はその逆を行うことが可能である。同様のことがエイリアシングアーチファクトにも当てはまる。
後の処理段階において、すなわち、前処理又は再構成の前/後、全ての出力データストリームskからの情報を用いて、スペクトル加重を有するX線断層写真が計算される。測定された投影データの組からX線断層写真を得る方法は、文献(例えば、R.E.Alvarez、A.Macovski、「Energy-selective reconstructions in X-ray Computerized Tomography」、Phys. Med. Biol、1976年、第21巻、第5号、p.733-744、及びJ.A.Fessler等、「Maximum-likelihood dual-energy tomographic image reconstruction」、Proc. of SPIE、4684、2002年、p.38-49)に記載されている。Alvarez及びMacovskiの論文においては、異なる高電圧設定を用いた投影が別の基底関数の組に変換されている。基底関数は、例えば、スキャンされた対象物内の物質を表す。
X線管12に高電圧を供給するため、高周波数スイッチングジェネレータが用いられ得る。これらのジェネレータは、高周波数インバータ、高電圧昇圧器、及び高電圧整流器から成る(例えば、欧州特許第716561号明細書を参照)。高周波でスイッチングするときに必要とされるエネルギー蓄積要素は小さいため、出力電圧の高速な変更が達成され得る。線形又は非線形(正弦波状)の何れかの制御された電圧上昇が達成され得る。電圧の減衰は、X線管が動作中であり且つX線管電流が蓄積容量を放電するときにのみ達成され得る。線形又は非線型の放電が、この時間中に高電圧整流器スタックに供給されるエネルギーによって制御される。正弦波電圧成分の変調周波数は、高電圧整流器におけるエネルギー蓄積量に依存する。動作周波数を増すと、蓄積素子の量が低減されるため、高い変調周波数及び/又は一層高い振幅が可能になる。高電圧ジェネレータとX線管との間の高電圧ケーブルは電圧の上昇及び下降を制限する。
図2は、時間tに対する管電圧U(100kV±15kV;縦軸)の典型的な経路を示している。管電圧は、1mの高電圧ケーブル及び管電流240mAの高周波発生器に関し、2kHzの切替え周波数で変調されている。また、この図には、現行のものに従った強い過渡特性を有する2つの高電圧間の急峻な二値切替えの曲線U’も示されている。これは理想的な波形で、すなわち、方形波として図示されている。なお、これら高電圧間の過渡特性は、対応する検出器読み出しシステムにおける積分限界である時間フレームの限界に対応する。
より高い変調周波数及び/又は変調振幅が要求される場合、スタック(積み重ね)式の高電圧ジェネレータ構成が用いられ得る。
既に言及したように、用途のダイナミックレンジをカバーし、従来のCTにおいて必要な帯域幅より高い帯域幅を提供するA/D変換器を実現するものとして、ΣΔ型のADC(ΔΣ−ADCとも呼ばれる)が用いられ得る(S.R.Norsworthy、R.Schreier、G.C.Temes、「Delta-Sigma data converters:theory design and simulations」、IEEE Circuits & Systems Societyを参照)。高調波を伴う1kHzの正弦波が入力として与えられたΣΔ変調器の、典型的な周波数スペクトルを図3に示す。この変調器は、ノイズ整形機能を備えた特殊なオーバーサンプリングADCである。上記の例では、例えば、f1=2kHzを採り得る。スペクトルエンコーディングのための追加の“帯域”は2kHzと約10kHzとの間であり得る。周波数が高くなるにつれてノイズが増大するが、スペクトル帯域は一層高い周波数(この例では数10kHz)まで拡大され得る。周波数スペクトルのその部分は、しかしながら、限られた信号対雑音比を有する。
フィルタユニット32、42は標準的な手法を用いて技術的に実現され得る。具体的には、フィルタリングは、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ(FPGA)、デジタル信号プロセッサ(DSP)、又はデジタル特定用途向け集積回路(ASIC)を用いて行われ得る。
続いて、典型的なデータ処理を更に詳細に説明する。ここでは、オーバーサンプリングADC41の周波数応答をG(f)で表し、対応するインパルス応答をg(t)で表す。
単一の検出器画素22の電流i(t)が周波数fs=m・f1(ただし、f1=1/T)でサンプリングされる。故に、標本化定理が満たされる場合、f>fs/2ではG(f)=0である。サンプリングされ且つ量子化された値を、y(t),y(t+Ts),y(t+2Ts),・・・と表す。ただし、Ts=l/fsとした。X線管に与えられる高電圧が周期T’で時間変化する波形を有すると仮定する:U(t)=U(t+T’)。
2つの高電圧間での急峻切替えの場合、U(t)は時間オフセットt0を有する方形波である。そのようなシステムを用いた場合の明白な結果は、サンプリングが高電圧切替えに対して時間的に整合されなければならない、すなわち、T=T’及びt0が然るべく調整されなければならないということである。この同期化は、例えば、データ読み出し及び高電圧切替えのクロックを駆動するマスタークロックを用いて達成され得る。そして、周期Tは長さTb=T/mの2以上(m≧2)の部分期間に分割される。周波数fsを有するX線センサからの信号のサンプリングが、100%のデューティサイクル(すなわち、図1の期間Ikが互いに接する)で実行される場合、対応する信号処理電子回路の周波数応答は、1/fsでゼロとなるシンク関数である。
ここで提案する手法は、任意の波形を有する急峻な高電圧切替えを実現する一般的スキームを提供する。概説したように、この波形は、高電圧切替えのためのハードウェアコストを低減するように最適化され得る。好適な波形は正弦波である。
以下のプロシージャは、急峻kVp切替えデータの収集及び分析のための一般的アルゴリズムである(T=T’、Ts=T/mと仮定する)。
For tA=0からEnd_of_Scanまで、Tごとに、do
*** スキャン時間全体にわたって連続的にサンプリング
For k =1からmまで、do ***各周期Tにおいてサブサンプリング
t=tA+k・Ts
a)y(t)を記録、
b)U(t)を決定、
c)実効一次(プライマリ)管スペクトルΦk(E)をb)から決定
endfor
d)係数aj(tA) (j=1・・・J)をμ(E,r)モデルに従って決定(例えば、Alvarez−Markovskiの方法)
endfor
段階d)にて適用され得るAlvarez−Markovskiの方法は以下のように要約され得る(上述のR.E.Alvarez、A.Macovskiの論文を参照)。
For tA=0からEnd_of_Scanまで、Tごとに、do
*** スキャン時間全体にわたって連続的にサンプリング
For k =1からmまで、do ***各周期Tにおいてサブサンプリング
t=tA+k・Ts
a)y(t)を記録、
b)U(t)を決定、
c)実効一次(プライマリ)管スペクトルΦk(E)をb)から決定
endfor
d)係数aj(tA) (j=1・・・J)をμ(E,r)モデルに従って決定(例えば、Alvarez−Markovskiの方法)
endfor
段階d)にて適用され得るAlvarez−Markovskiの方法は以下のように要約され得る(上述のR.E.Alvarez、A.Macovskiの論文を参照)。
スペクトルデータの評価は、減衰係数μの、例えば光効果、コンプトン効果、及びKエッジ物質成分などへの分解:
センサユニット22の測定信号に現れるものである、対象物1を通るX線形路Lに沿って取られた3つの線積分:
管電圧切替えの場合、Alvarez−Markovskiの方法は以下のように見える:
上述のように、管電圧の方形波切替えの場合、サンプリング期間Tsは、高電圧がその高い側の値又は低い側の値を有する期間であるTbに同期化されると仮定される。そのとき、一般的アルゴリズムのモジュールb)は、時点tにおける高電圧の設定点を用いること、又は時点tにおける印加電圧Uをモニタすることによって実現され得る。段階c)における、対応する実効一次管スペクトルΦk(E)は、例えば、時点tにて適用されるモデルを用いて計算される。この場合、モジュールc)はスキャンに先立って計算されることが可能であり、あるいは、モジュールc)の実行がこの管電圧データの検索であるようにファームウェアの一部にされ得る。
任意の形状の高電圧切替えシーケンスを組み込むため、以下の手段が執られなければならない:
− 一般的プロシージャの段階a)における検出器信号i(t)のサンプリングが、周波数応答G(f)を有するADCを用いて実行される。
− 一般的プロシージャの段階b)におけるチューブ高電圧U(t)が、同一の帯域幅又は一層高い帯域幅を有する信号処理ユニットを用いて決定される。
− 一般的プロシージャの段階c)における実効一次管スペクトルΦk(E)が然るべく計算される。このスペクトルが単一のピークエネルギー(すなわち、単一の高電圧)を有する方形波の場合と対照的に、この場合には、1つのサンプリング期間Ikに対応する一次スペクトルがピークエネルギーの分布を表す。信号i(t)が100%のデューティサイクルでサンプリングされる場合、すなわち、インパルス応答g(t)が長方形“ボックスカー”形状を有する場合、Φk(E)は、期間E1<Epeak<E2内にピークエネルギーEpeakを有する一次管スペクトルP(E,t)の平均値を表す。信号処理電子回路G(f)がフレキシブルな周波数応答を有する場合、インパルス応答g(t)はボックスカー形状から有意に逸脱し得る。この場合、サンプリング点tkに関するΦk(E)の計算は、管スペクトルの(g(t)で重み付けられた)加重平均である。
− 一般的プロシージャの段階a)における検出器信号i(t)のサンプリングが、周波数応答G(f)を有するADCを用いて実行される。
− 一般的プロシージャの段階b)におけるチューブ高電圧U(t)が、同一の帯域幅又は一層高い帯域幅を有する信号処理ユニットを用いて決定される。
− 一般的プロシージャの段階c)における実効一次管スペクトルΦk(E)が然るべく計算される。このスペクトルが単一のピークエネルギー(すなわち、単一の高電圧)を有する方形波の場合と対照的に、この場合には、1つのサンプリング期間Ikに対応する一次スペクトルがピークエネルギーの分布を表す。信号i(t)が100%のデューティサイクルでサンプリングされる場合、すなわち、インパルス応答g(t)が長方形“ボックスカー”形状を有する場合、Φk(E)は、期間E1<Epeak<E2内にピークエネルギーEpeakを有する一次管スペクトルP(E,t)の平均値を表す。信号処理電子回路G(f)がフレキシブルな周波数応答を有する場合、インパルス応答g(t)はボックスカー形状から有意に逸脱し得る。この場合、サンプリング点tkに関するΦk(E)の計算は、管スペクトルの(g(t)で重み付けられた)加重平均である。
ここで、上述の場合に管スペクトルの加重平均を計算するための2つの代替的な方法を提案する。
方法1:
管電圧の連続時間モデルUmodel(t)が構築され、管スペクトルモデルQ(E,U)と結合される。得られた管スペクトルモデルP(E,t)を検出器のインパルス応答g(t)と折り畳むことにより、最終的に、モジュールb)の実行からの全ての管電圧U(t)に対して理論的なスペクトルΦk(E)が与えられる。重要なことには、このかなり複雑な手順が実行されねばならず、スペクトルΦk(E)は、サンプリング時間tにおけるピークエネルギーEpeakに対応するスペクトルを用いることによっては計算され得ない。フィルタ処理は線形時不変系(linear time invariant system;LTI系)を必要とし、X線透過のエネルギー依存性は非線形であるからである。
管電圧の連続時間モデルUmodel(t)が構築され、管スペクトルモデルQ(E,U)と結合される。得られた管スペクトルモデルP(E,t)を検出器のインパルス応答g(t)と折り畳むことにより、最終的に、モジュールb)の実行からの全ての管電圧U(t)に対して理論的なスペクトルΦk(E)が与えられる。重要なことには、このかなり複雑な手順が実行されねばならず、スペクトルΦk(E)は、サンプリング時間tにおけるピークエネルギーEpeakに対応するスペクトルを用いることによっては計算され得ない。フィルタ処理は線形時不変系(linear time invariant system;LTI系)を必要とし、X線透過のエネルギー依存性は非線形であるからである。
この方法は、管電圧切替えの波形が対称である場合に適用可能である(線形位相フィルタが必要とされるが、位相は再構成後に空間情報に変換されるガントリーの回転角に対応するため、線形な位相が強制され、故に、g(t)はX線CTにおいて対称でなければならない)。
回転ディスク13がX線管と対象物との間に取り付けられ、且つ回転周波数が高電圧変調の周波数f1に等しい場合、一次スペクトルΦk(E)は回転ディスクの透過特性によって変更を受ける。高電圧に関して、透過率T(E,t)の連続時間モデルが構築され、この場合のP(E,t)を生成するように、対応する管スペクトルを掛け合わされる。この場合も、g(t)との折り畳みにより、検討中のサンプリングデータの、結果的な実効スペクトルΦk(E)が与えられる。T(E,t)は好ましくは、結果的な実効スペクトルΦk(E)が可能な限り直交するように選定される。
方法2:
第2の方法は、G(f)がボックスカー形状である方法1の特別なケースである。これは、i(t)及びU(t)のサンプリングが最小のデューティサイクル(→0%)で実行されることを意味する。これを図4及び5に示す。これらの図は、スペクトルCTシステムの例示的な動作を、高電圧変調U(t)(図4)及び対応する検出器出力i(t)(図5)で示している。二種類の信号処理電子回路を検討する。第1は、サンプリングが積分器型フィルタIFを用いて実行される。すなわち、信号が積分期間にわたって平均化される。第2は、この例では周波数ドメインでボックスカー形状を有するフレキシブルフィルタFFが適用される。すなわち、時点tでサンプリングされたデータ点が、時点tでの量子化されたデータ値を反映する。
第2の方法は、G(f)がボックスカー形状である方法1の特別なケースである。これは、i(t)及びU(t)のサンプリングが最小のデューティサイクル(→0%)で実行されることを意味する。これを図4及び5に示す。これらの図は、スペクトルCTシステムの例示的な動作を、高電圧変調U(t)(図4)及び対応する検出器出力i(t)(図5)で示している。二種類の信号処理電子回路を検討する。第1は、サンプリングが積分器型フィルタIFを用いて実行される。すなわち、信号が積分期間にわたって平均化される。第2は、この例では周波数ドメインでボックスカー形状を有するフレキシブルフィルタFFが適用される。すなわち、時点tでサンプリングされたデータ点が、時点tでの量子化されたデータ値を反映する。
方法1においてのように、スペクトルΦk(E)が計算される。方法2の利点は、G(f)の均一な応答、及びサンプリングの結果的な低デューティサイクルのため、検出器の信号が時間tの如何なる時点においても高精度に再構成され得ることである。これは、デジタル信号処理の標準的な手法を用いて実行され得る。故に、高電圧変調と検出器信号のサンプリングとの間の位相関係t0を調整する必要がない。なお、X線CTにおいてはシンク型の周波数応答G(f)が好ましい。故に、補間後のy(t)、及び先の方法と同様に連続時間モデルUmodel(t)に、更なるフィルタ処理G(f)が適用される。
上述の方法2はまた、制約T=T’を排除するために用いられ得る。検出器データのサンプリングと管切替えとが完全には同期化されないが、平均してT≒T’であると仮定すると、T≒T’に関して同一のスペクトル情報が利用可能である。さらに、位相t0の調整は不要になる。
方法3
第3の方法においては、m個の検出器データのサブサンプリングに、Alvarez−Markovski法で抽出される係数A1,・・・,Anの数n(m>n)より多くの数のデータ点が用いられる。それ以外は、方法2においてと同じ技術が用いられる。最終段階として、係数A1,・・・,Anを抽出するために最尤法が適用される(上述のR.E.Alvarez、A.Macovskiの論文を参照)。例えば、n=2の場合、A1及びA2は、それぞれ、“光効果画像”及び“コンプトン効果画像”を表し得る。後者の画像は電子密度の定量的な測定を可能にする。
第3の方法においては、m個の検出器データのサブサンプリングに、Alvarez−Markovski法で抽出される係数A1,・・・,Anの数n(m>n)より多くの数のデータ点が用いられる。それ以外は、方法2においてと同じ技術が用いられる。最終段階として、係数A1,・・・,Anを抽出するために最尤法が適用される(上述のR.E.Alvarez、A.Macovskiの論文を参照)。例えば、n=2の場合、A1及びA2は、それぞれ、“光効果画像”及び“コンプトン効果画像”を表し得る。後者の画像は電子密度の定量的な測定を可能にする。
この場合も強調しておくが、方法3は、高電圧切替えとX線検出器との間の同期化を必要としない。一般に、スイッチング波形は、サブサンプリングされた検出器信号間の直交性の最大値に大まかに対応する最大の高電圧変調深さに関して選定され得る。強調しておくが、近似的にボックスカー型の周波数応答G(f)を有する検出器変換器を用いての検出器データ及び管電圧のサンプリング後、デジタル信号処理の標準的な手法を用いてデータを前処理することにより、スペクトル情報を含めて画質を最適化し得る。
上述のシステム及び方法は、例えば:
− X線CTシステムが現在用いられている医用撮像。数多くの臨床用途が、特にシステムが造影剤と組み合わされた場合に、高められたコントラスト分解能の恩恵を受けることになる。CT−血管造影においては、石灰化の視認性が向上され得る。
− 非破壊検査において、物質分解が処理段階で実行され得る。
− 自国の保安において、荷物スキャンシステムの物質の選択性が向上される。
など、如何なる撮像分野にも用いられ得る。
− X線CTシステムが現在用いられている医用撮像。数多くの臨床用途が、特にシステムが造影剤と組み合わされた場合に、高められたコントラスト分解能の恩恵を受けることになる。CT−血管造影においては、石灰化の視認性が向上され得る。
− 非破壊検査において、物質分解が処理段階で実行され得る。
− 自国の保安において、荷物スキャンシステムの物質の選択性が向上される。
など、如何なる撮像分野にも用いられ得る。
最後に指摘しておくが、本出願において、用語“有する”はその他の要素又は段階を排除するものではなく、“a又はan”は複数であることを排除するものではない。また、単一のプロセッサ又はその他のユニットが複数の手段の機能を果たしてもよい。本発明は、各々及び全ての新規な特徴要素、及び各々及び全ての特徴要素の組み合わせにある。また、請求項中の如何なる参照符号もその範囲を限定するものとして解釈されるべきではない。
Claims (13)
- a)所与の観察周期中に連続的に変化するエネルギースペクトルを有するX線を放射するX線源;
b)前記観察周期内の異なるサンプリング期間中に当該検出器のセンサユニットによって測定されたX線の量を表す、2以上である複数mの、放射線サンプリング値を生成する検出器;
c)m個のサンプリング期間に関する前記X線源の実効的なエネルギースペクトルを決定するスペクトル推定ユニット;
を有する、特にCTスキャナであるX線撮像装置。 - 前記X線源は、時間とともに変化するスペクトル特性を有するフィルタ素子を有する、ことを特徴とする請求項1に記載のX線撮像装置。
- 前記X線源は、X線管と、該X線管に付随し該X線管に、好ましくは正弦波の管電圧である、周期的な管電圧を供給する発生器とを有する、ことを特徴とする請求項1に記載のX線撮像装置。
- 前記管電圧を測定する電圧センサユニットを有することを特徴とする請求項3に記載のX線撮像装置。
- 前記電圧センサユニットは、前記サンプリング期間中に電圧値をサンプリングする電圧サンプリングユニットを有する、ことを特徴とする請求項4に記載のX線撮像装置。
- 前記スペクトル推定ユニットは、前記実効的なエネルギースペクトルを、様々な管電圧に対して与えられたモデルスペクトルから決定する、ことを特徴とする請求項5に記載のX線撮像装置。
- 前記検出器は、連続的な測定信号から前記サンプリング値を重み関数に従ってサンプリングする放射線サンプリングユニットを有する、ことを特徴とする請求項1に記載のX線撮像装置。
- 前記検出器は、連続的な測定信号から前記サンプリング値を重み関数に従ってサンプリングする放射線サンプリングユニットを有し、前記スペクトル推定ユニットは、前記実効的なエネルギースペクトルを、前記放射線サンプリングユニットの前記重み関数に従って決定する、ことを特徴とする請求項6に記載のX線撮像装置。
- 前記電圧サンプリングユニット及び/又は前記放射線サンプリングユニットは、特にΣΔ型A/D変換器であるオーバーサンプリングA/D変換器を有する、請求項5又は7に記載のX線撮像装置。
- 前記電圧サンプリングユニット及び/又は前記放射線サンプリングユニットは、異なる観察周期の類似したサンプリング期間に属するサンプリング値から成るm個のデータストリームを生成するフィルタユニットを有する、請求項5又は7に記載のX線撮像装置。
- 前記X線源と前記検出器との間のX線経路内に配置された対象物内の減衰係数μを、異なる投影方向から取得された該対象物のX線投影から計算する再構成モジュール、を有することを特徴とする請求項1に記載のX線撮像装置。
- 対象物のスペクトル分解X線画像を生成する方法であって、
a)所与の観察周期中に連続的に変化するエネルギースペクトルを有するX線を放射する段階;
b)前記観察周期内の異なるサンプリング期間中に所与の測定領域で測定されたX線の量を表す、2以上である複数mの、放射線サンプリング値を生成する段階;
c)前記サンプリング期間に関する放射X線源の実効的なエネルギースペクトルを推定する段階;
を有する方法。
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