JP2010501899A - 反応性メソゲンを配向するための粒子ビーム法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、粒子ビーム処理を受ける基体上に反応性メソゲン(RM)を配向する方法、前記方法により特に薄層形状で配向されるRM、そのような配向されたRMおよびRM層より得られる配向されたポリマーおよびポリマーフィルム、および、光学的、電子的および電気光学的用途における該RM、層、ポリマーおよびフィルムの使用に関する。
【選択図】図3
Description
−基体の少なくとも一部を、前記基体上に配向方向を生成する粒子ビームに曝露する工程と、および
−前記基体上に1種類以上のRMを含む層を塗工する工程と
を含む反応性メソゲン(RM)を配向する方法に関する。
用語「粒子ビーム」は、イオン、中性粒子、電子、プラズマまたはそれらの混合物のビームを意味する。
RMを配向するために、本発明による方法は、粒子ビームエッチング法、特にプラズマビーム法を利用する。この方法は、追加の配向層を有する基体上のLCD中のアクティブLCを配向するために国際特許出願公開第2004/104682号パンフレット(特許文献6)中で示唆されたもので、その開示の全体が引用により本出願に取り込まれるものとする。
−基体は、配向層を含まない、
−基体は、ラビングされていない、
−基体は、有機または無機材料を含む、
−基体は、ガラス、石英、プラスチックまたはシリコンから選択される、
−基体は、カラーフィルターである、
−基体の少なくとも一部に、基体の法線に対して0°より大きく85°までの入射角によりプラズマビームソースからのプラズマビームを照射する、
−入射角は20°〜85°、好ましくは45°〜85°である、
−基体は、プラズマビームソースから5〜50cm、好ましくは6〜15cmの距離に位置している、
−基体の曝露部分は、約0°の方位角φおよび0°〜40°の天頂角θ、または約90°の方位角φおよび約0°の天頂角θを有する配向方向をRMに与える、
−前記によりRM層中に誘発される配向は、平面配向である、
−前記によりRM層中に誘発される配向は、ホメオトロピック配向である、
−前記によりRM層中に誘発される配向は、チルト配向である、
−プラズマビームソースは、密閉型ドリフタースラスタである、
−プラズマビームソースは、陽極層スラスタである、
−プラズマビームの電流密度は、好ましくは0.1〜1000μA/cm2、非常に好ましくは0.5〜30μA/cm2である、
−イオンエネルギーは100〜5000eV、好ましくは400eV〜3000eVである、
−基体の所定部分にプラズマビームが到達することを防ぐためにマスクを使用する工程、例えば、プラズマビームの曝露前または曝露中に基体にマスクを塗工する工程を更に含む方法、
−前記方法によりRM層中に誘発される配向が、異なる配向方向を有する少なくとも2つの領域のパターンを含む、
−プラズマビームは、シート形状である、
−プラズマビームの経路を通して配向基体を動かす工程を更に含む方法、
−ロール可能なプラスチック基体のロール−ツー−ロール(roll−to−roll)配向処理である方法。
式中、
Pは、重合性基であり、
Spは、スペーサー基または単結合であり、
Rは、H、F、Cl、Br、I、CN、NCS、SF5、または1〜30個のC原子を有する直鎖または分枝のアルキルであり、F、Cl、Br、IまたはCNで一置換または多置換されていてもよく、およびただし1個以上の隣接していないCH2基は、それぞれの場合で互いに独立に、Oおよび/またはS原子が互いに直接結合しないようにして、−O−、−S−、−NH−、−NR0−、−SiR0R00−、−CO−、−COO−、−OCO−、−OCO−O−、−S−CO−、−CO−S−、−CY1=CY2−または−C≡C−により置き換えられていてもよく、またはP−Sp−を表し、
R0およびR00は、それぞれ互いに独立に、Hまたは1〜12個のC原子のアルキルを表し、および
MGは、キラルでもよい棒状メソゲン基である。
式中、
A1およびA2は、複数出現する場合は互いに独立に、芳香族または脂環式基で、N、OおよびSから選択される1個以上のヘテロ原子を含んでいてもよく、および式I中で定義される通りのRによって一置換または多置換されていてもよく、
Z1は、複数出現する場合は互いに独立に、−O−、−S−、−CO−、−COO−、−OCO−、−S−CO−、−CO−S−、−O−COO−、−CO−NR0−、−NR0−CO−、−NR0−CO−NR00、−NR0−CO−O−、−O−CO−NR0−、−OCH2−、−CH2O−、−SCH2−、−CH2S−、−CF2O−、−OCF2−、−CF2S−、−SCF2−、−CH2CH2−、−(CH2)4−、−CF2CH2−、−CH2CF2−、−CF2CF2−、−CH=N−、−N=CH−、−N=N−、−CH=CR0−、−CY1=CY2−、−C≡C−、−CH=CH−COO−、−OCO−CH=CH−または単結合を表し、
R0およびR00は、式I中で定義される通りであり、
Y1およびY2は、それぞれ互いに独立に、H、F、ClまたはCNを表し、
mは、0、1、2、3または4である。
Q1は、1〜9個のC原子のアルキレンまたはアルキレン−オキシ、上で定義される通りのアリーレンまたはヘテロアリーレン、または単結合であり、
Q2は、1〜10個のC原子のアルキルまたはアルコキシで、無置換または、F、Cl、BrまたはCNにより一置換または多置換されていてよく、また、1個以上の隣接していないCH2基は、それぞれの場合で互いに独立に、酸素原子が互いに直接に結合しないように、−C≡C−、−O−、−S−、−NH−、−N(CH3)−、−CO−、−COO−、−OCO−、−OCO−O−、−S−CO−または−CO−S−で置き換えられていることも可能であり、または上で定義される通りのアリールまたはヘテロアリールであり、Q1およびQ3とは異なっており、
Q3は、F、Cl、Br、CNまたはQ2に定義される通りでQ2およびQ1とは異なるアルキル、アルコキシ、アリールまたはヘテロアリールである。
Sp’は、1〜20個のC原子、好ましくは1〜12個のC原子のアルキレンであり、F、Cl、Br、IまたはCNにより一置換または多置換されていてもよく、ただし、1個以上の隣接していないCH2基は、それぞれの場合で互いに独立に、Oおよび/またはS原子が互いに直接結合しないように、−O−、−S−、−NH−、−NR0−、−SiR0R00−、−CO−、−COO−、−OCO−、−OCO−O−、−S−CO−、−CO−S−、−NR0−CO−O−、−O−CO−NR0−、−NR0−CO−NR0−、−CH=CH−または−C≡C−で置き換えられていてもよく、
X’は、−O−、−S−、−CO−、−COO−、−OCO−、−O−COO−、−CO−NR0−、−NR0−CO−、−NR0−CO−NR0−、−OCH2−、−CH2O−、−SCH2−、−CH2S−、−CF2O−、−OCF2−、−CF2S−、−SCF2−、−CF2CH2−、−CH2CF2−、−CF2CF2−、−CH=N−、−N=CH−、−N=N−、−CH=CR0−、−CY1=CY2−、−C≡C−、−CH=CH−COO−、−OCO−CH=CH−または単結合であり、
R0およびR00は、それぞれ互いに独立に、Hまたは1〜12個のC原子のアルキルであり、および
Y1およびY2は、それぞれ互いに独立に、H、F、ClまたはCNである。
Q4は、1〜9個のC原子のアルキレンまたはアルキレン−オキシ基または単結合であり、
Q5は、1〜10個のC原子のアルキルまたはアルコキシ基で、無置換または、F、Cl、BrまたはCNにより一置換または多置換されていてよく、また、1個以上の隣接していないCH2基が、それぞれの場合で互いに独立に、酸素原子が互いに直接に結合しないように、−C≡C−、−O−、−S−、−NH−、−N(CH3)−、−CO−、−COO−、−OCO−、−OCO−O−、−S−CO−または−CO−S−で置き換えられていることも可能であり、
Q6は、1〜10個のC原子のアルキレンまたはアルキレン−オキシ基または単結合であり、Q4とは異なっており、
Q4は、重合性基Pと結合している。
式中、R、A1、Z1およびmは上で定義される通りであり、少なくとも1つのRはP−Sp−であり、PおよびSpは上で定義される通りであり、
Qは、k価のキラル基であり、
kは、1、2、3、4、5または6である。
rは、それぞれの出現において互いに独立に、0、1、2、3または4であり、
sは、それぞれの出現において互いに独立に、0、1または2であり、
xは、それぞれの出現において互いに独立に、0、1または2である。
P0は、複数出現する場合は互いに独立に、重合性基であり、好ましくは、アクリル、メタクリル、オキセタン、エポキシ、ビニル、ビニルオキシ、プロペニルエーテルまたはスチレン基であり、
A0およびB0は、複数出現する場合は互いに独立に、1個、2個、3個または4個の基Lで置換されていてもよい1,4−フェニレン、またはトランス−1,4−シクロヘキシレンであり、
Z0は、複数出現する場合は互いに独立に、−COO−、−OCO−、−CH2CH2−、−C≡C−、−CH=CH−、−CH=CH−COO−、−OCO−CH=CH−または単結合であり、
R0は、フッ素化されていてもよく、1個以上、好ましくは1〜15個のC原子のアルキル、アルコキシ、チオアルキル、アルキルカルボニル、アルコキシカルボニル、アルキルカルボニルオキシまたはアルコキシカルボニルオキシであるか、Y0またはP−(CH2)y−(O)z−であり、
Y0は、F、Cl、CN、NO2、OCH3、OCN、SCN、SF5、フッ素化されていてもよい1〜4個のC原子のアルキルカルボニル、アルコキシカルボニル、アルキルカルボニルオキシまたはアルコキシカルボニルオキシ、または一フッ素化、オリゴフッ素化または多フッ素化された1〜4個のC原子のアルキルまたはアルコキシであり、
R01,02は、それぞれ互いに独立に、H、R0またはY0であり、
R*は、2−メチルブチル、2−メチルオクチル、2−メチルブトキシまたは2−メチルオクトキシなどの、4個以上、好ましくは4〜12個のC原子のキラルなアルキルまたはアルコキシ基であり、
Chは、コレステリル、エストラジオール、またはメンチルまたはシトロネリルなどのテルペノイド基から選ばれるキラルな基であり、
Lは、複数出現する場合は互いに独立に、H、F、Cl、CNまたはハロゲン化されていてもよい1〜5個のC原子のアルキル、アルコキシ、アルキルカルボニル、アルコキシカルボニル、アルキルカルボニルオキシまたはアルコキシカルボニルオキシであり、
rは、0、1、2、3または4であり、
tは、複数出現する場合は互いに独立に、0、1、2または3であり、
uおよびvは、それぞれ互いに独立に、0、1または2であり、
wは、0または1であり、
xおよびyは、それぞれ互いに独立に、0であるか、または1〜12の同一または異なる整数であり、
zは0または1であり、隣接するxまたはyが0の場合、zは0であり、
およびただし、ベンゼンおよびナフタレン環は、1個以上の同一または異なる基Lにより加えて置換されていてもよい。
別々のガラススライド上に塗工されたカラーフィルター層(R、G、B)の3枚の個々のフィルムを、ジオメトリー2(図3)においてプラズマビームにより照射する。照射パラメーターは次の通りである:プラズマ入射角α=70°、イオン電流密度j=6μA/cm2、イオンエネルギーE=600eV、照射時間τexp=5分。照射の間、サンプルを2mm/秒の移動速度で周期的に動かす。ソースおよびサンプルの処理領域の間の平均距離は8cmである。この基体上に、トルエン中に溶解(30重量%)された平面ネマチックRM混合物RMM141(メルク社、Darmstadt、ドイツ国より商業的に入手可能)をスピンコートする。スピンコートの条件は、3000rpmで30秒である。溶媒を蒸発乾燥し、生じるフィルムを加熱して1分間60℃でアニールする。次いで、フィルムの一部を、高圧水銀ランプからの広スペクトルUV光により80mW/cm2の照射強度で1分間照射する。照射された領域は、高度に均一な配向(図4)および正のA平面の光学特性(図5)を示す。
カラーフィルター層をジオメトリー1(図3)で処理する以外は、例1の通りにサンプルを調製する。プロセスパラメーターは、例1と同一である。サンプルは、ジオメトリー1中で曝露されるサンプルのものと匹敵し得る品位の配向を示す。
カラーフィルターアレー(RGB+ブラックマトリクス)を、RM層用の基体として使用する。プラズマ処理およびRMフィルム塗工の条件は、例1と同一である。プラズマ処理された領域中で、サンプルは、例1のサンプル中の配向に匹敵し得る均一な平面配向を示す。
平面ネマチックRM混合物RMS04−073(メルク社、Darmstadt、ドイツ国より商業的に入手可能)によりカラーフィルター層を塗工する以外は、例1の通りにサンプルを調製する。プラズマ処理された領域中で、サンプルは、例1のサンプル中のものに匹敵し得る均一な平面配向を示す。フィルムは、正のAフィルムの光学的特性を有する。
面コレステリックRM混合物RMM123(メルク社より商業的に入手可能)によりカラーフィルター層を塗工する以外は、例1の通りにサンプルを調製する。RM層は、均一な面コレステリック構造に配向する。プラズマ処理された領域を処理されていない領域と比較し、非常に更に均一な配向を有することが示される。
カラーフィルターアレー(R、G、B+ブラックマトリクス)を、RM層用の基体として使用する。プラズマ処理の条件は、例1と同一である。カラーフィルターアレーを、コレステリック混合物RMM123により塗工する。RM層中に、均一な面コレステリック構造が観察される。
等方性TACフィルムに、ジオメトリー2(図3)においてプラズマビームを照射する。照射パラメーターは次の通りである:プラズマ入射角α=75°、イオン電流密度j=8〜10μA/cm2、イオンエネルギーE=800eV、照射時間τexp=5分。照射の間、サンプルを1mm/秒の速度で一方向に動かし、ロール−ツー−ロール(roll−to−roll)並進に模る。ソースおよびサンプルの処理領域の間の平均距離は10cmである。この基体上に、ヘキサン中に溶解された平面ネマチックRM混合物RMM141(メルク社、Darmstadt、ドイツ国より商業的に入手可能)をスピンコートする。1分以内に、このフィルムを、60mW/cm2の照射強度で30秒間、高圧水銀ランプからの広スペクトルUV光により照射する。RM層は、高度に均一な配向および正のA平面の光学特性を示す。
等方性TACフィルムを例7の通りに処理し、平面ネマチックRM混合物RMS04−073(メルク社、Darmstadt、ドイツ国より商業的に入手可能)により塗工する。光重合の条件も、例7の通りである。配向の均一性は、例7の通りである。正のA平面の補償的特徴が得られる。
等方性COP(cycloolefin polymer:シクロオレフィン ポリマー)フィルムにジオメトリー2(図3)においてプラズマビームを照射し、RMM141を塗工する。プラズマ処理およびフィルム塗工の条件は、例7の通りである。配向の品位およびフィルムの特性は、例7のものと同様である。
等方性COPフィルムにジオメトリー2(図3)においてプラズマビームを照射し、例7の通りにRMS04−073を塗工する。プラズマ処理およびフィルム塗工の条件は、例7の通りである。配向の品位およびフィルムの特性は、例7のものと同様である。
RM層用の基体として、非等方性(延伸)COPフィルムを使用する。このフィルムの面内(in plane)位相差を測定すると、120nmである。フィルムにジオメトリー2(図3)においてプラズマビームを照射し、例7の通りにRMM141を塗工する。プラズマ処理により誘発されるRMの配向方向は、延伸COPフィルムの光学軸に垂直である。プラズマ処理の方向に沿うRM層の均一な配向が、観察される。COP/RMフィルムの積分面内(in plane)複屈折率は4nm、即ち0に近い。
等方性TACフィルムに、ジオメトリー2(図3)においてプラズマビームを照射する。照射パラメーターは次の通りである:プラズマ入射角α=70°、イオン電流密度j=7〜8μA/cm2、イオンエネルギーE=700eV、照射時間τexp=10分。照射の間、サンプルを1mm/秒の速度で一方向に動かし、ロール−ツー−ロール(roll−to−roll)並進に模る。ソースおよびサンプルの処理領域の間の平均距離は10cmである。この基体上に、ネマチックRM混合物RMS04−007(メルク社、Darmstadt、ドイツ国より商業的に入手可能)をスピンコートする。フィルムを、100mW/cm2の照射強度で30秒間、高圧水銀ランプからの広スペクトルUV光により照射する。RMフィルムは、スプレイO平面の光学的特性の均一な配向を示す。位相差プロファイルを、図7(光軸はテスト光ビームの入射面内にある)に示す。
表面処理されていないガラススライドに、ジオメトリー2(図3)においてプラズマビームを照射する。照射パラメーターは次の通りである:プラズマ入射角α=70°、イオン電流密度j=4〜5μA/cm2、イオンエネルギーE=500eV、照射時間τexp=5分。照射の間、サンプルを2mm/秒の移動速度で周期的に動かす。ソースおよびサンプルの処理領域の間の平均距離は8cmである。この基体上に、平面ネマチックRM混合物RMM141を例1の通りに塗工する。照射された領域は、高度に均一な配向および正のA平面の光学特性を示す。この位相差プロファイルは、光学的にA平面である基体上に塗工された典型的なホメオトロピックフィルムのものである。
COPフィルムの一部を、次の条件下でプラズマ処理に曝露する:循環走査照射レジーム(650V、15μA/cm2、5分、v=4.5mm/秒)。RM混合物RMS04−007(例12の通り)を、プラズマ処理されたCOPフィルム上にスピンコート法(3000rpm、t=30秒)で塗工する。塗工されたフィルムを、1分間UV照射(100mW/cm2)に曝露して重合する。COPフィルムのプラズマ処理された部分上のRMフィルムは、ホメオトロピック配向を有する。位相差プロファイルを、図8に示す。位相差プロファイルは、フィルムが正のC平面の光学特性を有することを示す。COPフィルムの未処理部分上では、RMフィルムの不均一な配向は確認されない。
延伸COPフィルム(A平面型の特性を有する)を、次の条件下でプラズマ処理に曝露する:循環走査照射レジーム(650V、15μA/cm2、5分、v=4.5mm/秒)。RM混合物RMS04−007(例12の通り)を、プラズマ処理されたCOPフィルム上にスピンコート法(3000rpm、t=30秒)で塗工する。配向され塗工されたフィルムを、1分間UV照射(100mW/cm2)に曝露して重合する。フィルムはホメオトロピック配向を有する。位相差プロファイルを、図9に示す。
等方TACフィルムを、スパッタリング蒸着法によりSiO2で塗工する。引き続き、SiO2塗工をプラズマビームで処理し、RM混合物RMM141の層で塗工し、次いで硬化する。RM層のプラズマ処理および塗工および硬化を、例7に記載される通りに行う。固化されたRM層は、均一配向および正のA平面の光学特性を示す。また、これより、プラスチック基体およびRMフィルム間にガスバリヤ層(SiO2など)を配置できることも分かる。
Claims (27)
- −基体の少なくとも一部を、前記基体上に配向方向を生成する粒子ビームに曝露する工程と、および
−前記基体上に1種類以上の反応性メソゲン(RM)を含む層を塗工する工程と
を含む反応性メソゲン(RM)を配向する方法。 - 該粒子ビームは、加速プラズマのビームであることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 該基体は、配向層を含まないことを特徴とする請求項1または2に記載の方法。
- 該基体は、ラビングされていないことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の方法。
- 該基体は、有機または無機材料を含むことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
- 該基体は、ガラス、石英、プラスチックまたはシリコンから選択されるか、またはこれらの材料の1つ以上の層を含むことを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の方法。
- 該基体は、カラーフィルターであることを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の方法。
- 該基体の少なくとも一部に、該基体の法線に対して0°より大きく85°までの入射角によりプラズマビームソースからのプラズマビームを照射することを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項に記載の方法。
- 該入射角は、45°〜85°であることを特徴とする請求項8に記載の方法。
- 該基体は、該プラズマビームソースから5〜50cmの距離に位置していることを特徴とする請求項1〜9のいずれか一項に記載の方法。
- 該プラズマビームの電流密度は0.1〜1000μA/cm2であり、イオンエネルギーは100〜5000eVであることを特徴とする請求項1〜10のいずれか一項に記載の方法。
- 該プラズマビームソースは、陽極層ソースであることを特徴とする請求項1〜11のいずれか一項に記載の方法。
- 該プラズマビームは、シート形状であることを特徴とする請求項1〜12のいずれか一項に記載の方法。
- 前記方法により該RM層中に誘発される該配向は、ホメオトロピック、平面またはチルト配向であることを特徴とする請求項1〜13のいずれか一項に記載の方法。
- 該基体の所定部分に該プラズマビームが到達することを防ぐために、マスクを使用する工程を更に含むことを特徴とする請求項1〜14のいずれか一項に記載の方法。
- 前記方法により該RM層中に誘発される該配向は、異なる配向方向を有する少なくとも2つの領域のパターンを含むことを特徴とする請求項1〜15のいずれか一項に記載の方法。
- 該プラズマビームの経路を通して該配向基体を動かす工程を更に含むことを特徴とする請求項1〜16のいずれか一項に記載の方法。
- ロール可能なプラスチック基体のロール−ツー−ロール(roll−to−roll)配向処理として行われることを特徴とする請求項1〜17のいずれか一項に記載の方法。
- 該RMは、以下の式より選択されることを特徴とする請求項1〜18のいずれか一項に記載の方法。
P−Sp−MG−R I
(R−(A1−Z1)m)k−Q IV
(式中、
Pは、重合性基であり、
Spは、スペーサー基または単結合であり、
Rは、H、F、Cl、Br、I、CN、NCS、SF5、または1〜30個のC原子を有する直鎖または分枝のアルキルであり、F、Cl、Br、IまたはCNで一置換または多置換されていてもよく、およびただし1個以上の隣接していないCH2基は、それぞれの場合で互いに独立に、Oおよび/またはS原子が互いに直接結合しないようにして、−O−、−S−、−NH−、−NR0−、−SiR0R00−、−CO−、−COO−、−OCO−、−OCO−O−、−S−CO−、−CO−S−、−CY1=CY2−または−C≡C−により置き換えられていてもよく、またはP−Sp−を表し、ただし式IV中、少なくとも1つのRはP−Sp−であり、
R0およびR00は、それぞれ互いに独立に、Hまたは1〜12個のC原子のアルキルを表し、
Qは、k価のキラル基であり、
kは、1、2、3、4、5または6であり、および
MGは、式IIのメソゲン基であり、
−(A1−Z1)m−A2− II
A1およびA2は、複数出現する場合は互いに独立に、芳香族または脂環式基で、N、OおよびSから選択される1個以上のヘテロ原子を含んでいてもよく、および式I中で定義される通りのRによって一置換または多置換されていてもよく、
Z1は、複数出現する場合は互いに独立に、−O−、−S−、−CO−、−COO−、−OCO−、−S−CO−、−CO−S−、−O−COO−、−CO−NR0−、−NR0−CO−、−NR0−CO−NR00、−NR0−CO−O−、−O−CO−NR0−、−OCH2−、−CH2O−、−SCH2−、−CH2S−、−CF2O−、−OCF2−、−CF2S−、−SCF2−、−CH2CH2−、−(CH2)4−、−CF2CH2−、−CH2CF2−、−CF2CF2−、−CH=N−、−N=CH−、−N=N−、−CH=CR0−、−CY1=CY2−、−C≡C−、−CH=CH−COO−、−OCO−CH=CH−または単結合を表し、
R0およびR00は、式I中で定義される通りであり、
Y1およびY2は、それぞれ互いに独立に、H、F、ClまたはCNを表し、および
mは、0、1、2、3または4である。) - 該RMは、以下の式より選択されることを特徴とする請求項1〜19のいずれか一項に記載の方法。
P0は、複数出現する場合は互いに独立に、重合性基であり、
A0およびB0は、複数出現する場合は互いに独立に、1個、2個、3個または4個の基Lで置換されていてもよい1,4−フェニレン、またはトランス−1,4−シクロヘキシレンであり、
Z0は、複数出現する場合は互いに独立に、−COO−、−OCO−、−CH2CH2−、−C≡C−、−CH=CH−、−CH=CH−COO−、−OCO−CH=CH−または単結合であり、
R0は、フッ素化されていてもよく、1個以上、好ましくは1〜15個のC原子のアルキル、アルコキシ、チオアルキル、アルキルカルボニル、アルコキシカルボニル、アルキルカルボニルオキシまたはアルコキシカルボニルオキシであるか、Y0またはP−(CH2)y−(O)z−であり、
Y0は、F、Cl、CN、NO2、OCH3、OCN、SCN、SF5、フッ素化されていてもよい1〜4個のC原子のアルキルカルボニル、アルコキシカルボニル、アルキルカルボニルオキシまたはアルコキシカルボニルオキシ、または一フッ素化、オリゴフッ素化または多フッ素化された1〜4個のC原子のアルキルまたはアルコキシであり、
R01,02は、それぞれ互いに独立に、H、R0またはY0であり、
R*は、2−メチルブチル、2−メチルオクチル、2−メチルブトキシまたは2−メチルオクトキシなどの、4個以上、好ましくは4〜12個のC原子のキラルなアルキルまたはアルコキシ基であり、
Chは、コレステリル、エストラジオール、またはメンチルまたはシトロネリルなどのテルペノイド基から選ばれるキラルな基であり、
Lは、複数出現する場合は互いに独立に、H、F、Cl、CNまたはハロゲン化されていてもよい1〜5個のC原子のアルキル、アルコキシ、アルキルカルボニル、アルコキシカルボニル、アルキルカルボニルオキシまたはアルコキシカルボニルオキシであり、
rは、0、1、2、3または4であり、
tは、複数出現する場合は互いに独立に、0、1、2または3であり、
uおよびvは、それぞれ互いに独立に、0、1または2であり、
wは、0または1であり、
xおよびyは、それぞれ互いに独立に、0であるか、または1〜12の同一または異なる整数であり、
zは0または1であり、隣接するxまたはyが0の場合、zは0であり、
およびただし、ベンゼンおよびナフタレン環は、1個以上の同一または異なる基Lにより加えて置換されていてもよい。) - 該配向RM層を重合または架橋する工程と、および任意工程として該基体より該重合または架橋されたRM層を除去する工程とを更に含むことを特徴とする請求項1〜20のいずれか一項に記載の方法。
- 熱または化学線放射に曝露して該RM層を重合または架橋することを特徴とする請求項21に記載の方法。
- 請求項1〜22のいずれか一項に記載の方法により入手可能な配向RM層。
- 請求項21または22に記載の方法により入手可能なポリマーフィルム。
- 光学的、電子的および電気光学的装置またはそれらの素子中における請求項23または24に記載のRM層またはポリマーフィルムの使用。
- 請求項23または24に記載のRM層またはポリマーフィルムを含有する光学的、電子的または電気光学的装置、またはそれの素子。
- 電気光学的ディスプレイ、LCD、光学フィルム、偏光板、補償板、ビームスプリッター、反射フィルム、配向層、カラーフィルター、ホログラフィック素子、ホットスタンピングホイル、カラー画像、装飾またはセキュリティ用マーキング、LC顔料、接着層、非線形光学(NLO)素子、光学的情報記憶装置、電子的装置、有機半導体、有機電界効果型トランジスタ(OFET)、集積回路(IC)、薄膜トランジスタ(TFT)、無線識別(RFID)タグ、有機発光ダイオード(OLED)、有機発光トランジスタ(OLET)、電子発光ディスプレイ、有機光起電(OPVO)装置、有機太陽電池(O−SC)、有機レーザーダイオード(O−レーザー)、有機集積回路(O−IC)、照明装置、センサー装置、電極材料、光伝導体、光検出器、電子写真記録装置、コンデンサ、電荷注入層、ショットキーダイオード、平坦化層、帯電防止フィルム、伝導性基体、伝導性パターンより選択されることを特徴とする請求項26に記載の装置または素子。
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