JP2010277755A - Manufacturing method of organic electroluminescent element, and organic electroluminescent element - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method of an organic EL element of reduced manufacturing cost with excellent performance stability, especially, a stable one of reduced manufacturing cost and without leak current. <P>SOLUTION: The manufacturing method of the organic EL element consisting of a first electrode patterned on a substrate, an organic layer containing an organic light-emitting layer arranged on the first electrode, and a second electrode arranged on the organic layer, includes a process in which the first electrode is formed by patterning with the use of printing of resist liquid or etchant liquid. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、可撓性の帯状の基板上に有機エレクトロルミネッセンス構造体を所定の間隔で連続して形成する工程を有する有機エレクトロルミネッセンス素子の作製方法および前記有機エレクトロルミネッセンス素子の作製方法により作製された有機エレクトロルミネッセンス素子に関する。   The present invention is produced by a method for producing an organic electroluminescent element having a step of continuously forming an organic electroluminescent structure at a predetermined interval on a flexible strip-shaped substrate, and the method for producing the organic electroluminescent element. The present invention relates to an organic electroluminescence device.

近年、自発光素子として有機エレクトロルミネッセンス素子(以下、有機EL素子とも言う)が注目されている。   In recent years, organic electroluminescence elements (hereinafter also referred to as organic EL elements) have attracted attention as self-luminous elements.

有機EL素子は、ガラス等の基材上に有機化合物の発光層(有機発光層)を含む有機層を第一電極と第二電極の2つの電極で挟持した構成の有機EL構造体を配置し、第一電極および第二極間に電流を供給することにより有機発光層の発光を行う素子である。   An organic EL element has an organic EL structure having a structure in which an organic layer including a light emitting layer (organic light emitting layer) of an organic compound is sandwiched between two electrodes, a first electrode and a second electrode, on a substrate such as glass. The element emits light from the organic light emitting layer by supplying a current between the first electrode and the second electrode.

最近では、有機EL素子の用途の拡大等により、樹脂フィルム等の可撓性の基材を用いた有機EL素子も登場しており、このような可撓性基材を用いることにより、ロールツーロール方式にて有機EL素子の製造も行われるようになってきた(例えば、特許文献1参照)。   Recently, organic EL elements using a flexible base material such as a resin film have also appeared due to expansion of applications of the organic EL element, and roll-to-roll by using such a flexible base material. An organic EL element has been manufactured by a roll method (see, for example, Patent Document 1).

ロールツーロール方式の製造方法とは、ロール状に巻かれた可撓性の帯状の基板を繰り出して基材上に有機EL構造体を形成し、有機EL構造体を形成した基材を再度ロールに巻き取る形態の製造方法を称する。   The roll-to-roll manufacturing method refers to forming a flexible strip-like substrate wound in a roll shape to form an organic EL structure on the substrate, and then rolling the substrate on which the organic EL structure is formed again The manufacturing method of the form wound up is called.

ロールツーロール方式による製造は、連続生産が可能なので生産効率を向上させることができるというメリットを有する。   The roll-to-roll manufacturing has the advantage that production efficiency can be improved because continuous production is possible.

ところで、有機EL素子の第一電極は、ほとんどの場合、Indium−Tin−Oxide(ITO)と呼ばれる透明電極が用いられる。   By the way, in most cases, a transparent electrode called Indium-Tin-Oxide (ITO) is used as the first electrode of the organic EL element.

ITOの製法は、透明な基板上にスパッタリング蒸着、電子ビーム蒸着(EB)などさまざまな手法を用いて所定の厚さに形成されるが、いずれの手法を用いても形成されるITOの表面は粗く、その値は、日本工業規格(JIS)で定められた表面粗さの定義と表示(BO6O1)において定義される表面粗さの最大高さ(Rmax)が数〜数十nmのオーダーである。   The ITO manufacturing method is formed on a transparent substrate to have a predetermined thickness using various methods such as sputtering vapor deposition and electron beam vapor deposition (EB). The surface of ITO formed by any method is as follows. The value is rough, and the maximum surface roughness height (Rmax) defined in the definition and display (BO6O1) of the surface roughness defined in Japanese Industrial Standard (JIS) is on the order of several to several tens of nm. .

ところが有機EL素子の場合、陽極上に積層される有機化合物層の厚さはせいぜい100nm〜200nmであり、ITOの表面の粗さは決して無視できないものである。   However, in the case of an organic EL element, the thickness of the organic compound layer laminated on the anode is at most 100 nm to 200 nm, and the surface roughness of ITO cannot be ignored.

ITOの表面に突起が存在すると、そこだけ陽極と陰極間の距離が短くなり、素子に電圧を印加した場合にその部分に集中的に電流が流れる現象が起こる。これがリーク電流である。   When protrusions are present on the surface of ITO, the distance between the anode and the cathode is reduced accordingly, and when a voltage is applied to the element, a phenomenon occurs in which current flows intensively in that portion. This is a leakage current.

素子に正方向(素子を発光させる方向)に電圧を印加し、素子の発光中にリーク電流が発生すると、流れた電流に対する輝度(電流−輝度特性)が低下するばかりでなく、その部分の陽極と陰極がショートして、そこだけにしか電流が流れなくなって素子が発光しなくなる場合がある。   When a voltage is applied to the element in the positive direction (the direction in which the element emits light) and a leak current is generated during light emission of the element, not only the luminance (current-luminance characteristics) with respect to the flowing current decreases, but also the anode in that portion In some cases, the cathode is short-circuited, and current flows only there, and the device does not emit light.

また、本来有機EL素子の場合、逆方向の電圧の印加(逆バイアス)では、電流値が有機EL素子の膜厚にもよるが、1×10−7A/cm以下の低いレベルで安定するのに対し、リーク電流が発生すると、その部分では逆方向にも電流が流れやすくなるので、素子の逆バイアス電流が増加し、また、その電流値も安定しない現象が見られるようになる。 In the case of an organic EL element, when a reverse voltage is applied (reverse bias), the current value is stable at a low level of 1 × 10 −7 A / cm 2 or less although it depends on the film thickness of the organic EL element. On the other hand, when a leak current occurs, the current tends to flow in the reverse direction at that portion, so that the reverse bias current of the element increases and the current value is not stabilized.

このリーク電流発生時に起こる逆バイアス特性の悪化は、素子の実駆動を行う回路或いは駆動上の都合で素子に逆バイアスをかける場合にも問題となる。   The deterioration of the reverse bias characteristic that occurs when the leak current is generated becomes a problem even when a reverse bias is applied to the element for convenience of driving or a circuit for actually driving the element.

このため、発光駆動時において、リーク電流のない安定した有機EL素子の検討がこれまで何なされてきた。   For this reason, what has been studied up to now is a stable organic EL element having no leakage current during light emission driving.

例えば、ITOの表面をポリシング、ラッピング、テープラッピング等の研磨加工により、ITOの表面の凹凸を研磨して、ITOの表面が日本工業規格(JIS)で定められた表面粗さの定義と表示(BO6O1)において定義される表面粗さの最大高さ(Rmax)が5nm以下となるように研磨したITOを使用した有機EL素子が知られている(例えば、特許文献2参照。)。   For example, the surface of ITO is polished and polished by polishing, lapping, tape wrapping, etc., and the surface of ITO is defined and displayed as defined by Japanese Industrial Standards (JIS). An organic EL element using ITO polished so that the maximum height (Rmax) of the surface roughness defined in BO6O1) is 5 nm or less is known (for example, see Patent Document 2).

ITOの表面を化学機械研磨法で1nm以下となるように研磨したITOを使用した有機EL素子が知られている(例えば、特許文献3参照。)。   An organic EL element using ITO in which the surface of ITO is polished to 1 nm or less by a chemical mechanical polishing method is known (for example, see Patent Document 3).

しかしながら、特許文献2、特許文献3に記載の技術は、リーク電流発生防止には、かなりの効果が認められるが、最近の有機EL素子で要求されている、高発光効率、高輝度、低消費電力、長寿命化に対しては、未だ不十分な状況になっている。   However, the techniques described in Patent Document 2 and Patent Document 3 have a considerable effect in preventing leakage current generation, but have high luminous efficiency, high luminance, and low consumption, which are required for recent organic EL elements. It is still inadequate for power and longer life.

また、最近では、ITOのパターニングをフォトリソ方式によって行い、更に、研磨加工を行う方法が知られている(例えば、特許文献4参照。)。   In addition, recently, a method is known in which ITO is patterned by a photolithography method and further polished (see, for example, Patent Document 4).

これは、有機EL素子は通常ITOをパターニングして使用しており、パターニングにはフォトリソ方式を用いることが主流であるが、ITOのエッジ部は形状が不安定になりバリ、凹凸等が発生しやすく、そのため電界集中がし易いことがリーク電流発生の原因になっているためである。   This is because organic EL elements usually use patterned ITO, and photolithography is the mainstream for patterning, but the edge of ITO becomes unstable and causes burrs, irregularities, etc. This is because it is easy to concentrate the electric field, which causes leakage current.

しかしながら、ガラス基板を用いる場合とは異なり、ロールツーロール方式の製造方法に用いられる樹脂フィルム等の可撓性の帯状の基板では、研磨により基材に傷が付くなどの理由により研磨加工によりをITOのエッジ部のバリを除去することは困難である。   However, unlike the case where a glass substrate is used, a flexible belt-like substrate such as a resin film used in a roll-to-roll manufacturing method is subjected to a polishing process because the substrate is scratched by polishing. It is difficult to remove burrs at the edge of ITO.

この様な状況から、ロールツーロール方式でも、発光駆動時において、リーク電流のない安定した有機EL素子、有機EL素子の製造方法の開発が望まれている。   From such a situation, even in the roll-to-roll method, development of a stable organic EL element having no leakage current and a method for manufacturing the organic EL element is desired at the time of light emission driving.

国際公開第01/005194号パンフレットInternational Publication No. 01/005194 Pamphlet 特開平9−245965号公報Japanese Patent Laid-Open No. 9-245965 特開2004−152616号公報JP 2004-152616 A 特開2007−12358号公報JP 2007-12358 A

本発明の目的は、製造コストが低く、性能安定性に優れる有機EL素子の作製方法を提供することであり、特に製造コストが低く、リーク電流のない安定した有機EL素子の作製方法を提供することである。   An object of the present invention is to provide a method for producing an organic EL element having low production cost and excellent performance stability, and particularly to provide a method for producing a stable organic EL element having low production cost and no leakage current. That is.

本発明の目的は、以下の構成により達成された。   The object of the present invention has been achieved by the following constitution.

1.基板上にパターニング配設された第一電極、該第一電極上に配設された有機発光層を含む有機層および該有機層上に配設された第二電極からなる有機エレクトロルミネッセンス素子の作製方法において、
前記基板上に前記第一電極の形成材料を設ける工程、次いで、レジスト液またはエッチャント液の印刷を用いたパターニングにより前記第一電極が形成される工程を含むことを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス素子の作製方法。
1. Fabrication of an organic electroluminescence device comprising a first electrode patterned on a substrate, an organic layer including an organic light emitting layer disposed on the first electrode, and a second electrode disposed on the organic layer In the method
An organic electroluminescence element comprising: a step of providing a material for forming the first electrode on the substrate; and a step of forming the first electrode by patterning using printing of a resist solution or an etchant solution. Manufacturing method.

2.前記基板が可撓性の帯状の基板であることを特徴とする前記1に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子の作製方法。   2. 2. The method for producing an organic electroluminescent element according to 1 above, wherein the substrate is a flexible strip-shaped substrate.

3.前記印刷がスクリーン印刷であることを特徴とする前記1または2に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子の作製方法。   3. 3. The method for producing an organic electroluminescent element according to 1 or 2, wherein the printing is screen printing.

4.前記第一電極のエッジ部の直線度が100μm以下であることを特徴とする前記1〜3のいずれか1項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子の作製方法。   4). 4. The method for producing an organic electroluminescent element according to any one of 1 to 3, wherein the linearity of the edge portion of the first electrode is 100 μm or less.

5.前記第一電極のエッジ部の角度θが30度〜75度であることを特徴とする前記1〜4のいずれか1項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子の作製方法。   5. 5. The method for producing an organic electroluminescent element according to any one of 1 to 4, wherein an angle θ of the edge portion of the first electrode is 30 degrees to 75 degrees.

6.前記1〜5のいずれか1項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子の作製方法で作製されたことを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス素子。   6). 6. An organic electroluminescence device produced by the method for producing an organic electroluminescence device according to any one of 1 to 5 above.

本発明により、工程数が少なく、設備コストがかからないため製造コストが低く、性能安定性に優れる有機エレクトロルミネッセンス素子の作製方法が提供でき、特に帯状の基材の上に複数の有機EL構造体を有する帯状の基材を用い、製造コストが低く、リーク電流のない安定した有機EL素子を提供することができた。   According to the present invention, a manufacturing method of an organic electroluminescence device having a small number of steps and low equipment cost and low manufacturing cost and excellent performance stability can be provided. In particular, a plurality of organic EL structures can be formed on a strip-shaped substrate. It was possible to provide a stable organic EL element having a low manufacturing cost and no leakage current, using the belt-shaped substrate having the above structure.

有機EL素子の構成を説明する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing explaining the structure of an organic EL element. 複数の有機EL構造体上に帯状封止部材を配設した帯状の基材の概略平面図である。It is a schematic plan view of the strip | belt-shaped base material which arrange | positioned the strip | belt-shaped sealing member on the some organic EL structure. 本発明の有機EL素子の作製方法の一例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows an example of the manufacturing method of the organic EL element of this invention. レジスト液のロータリースクリーン印刷を用いる本発明の透明導電膜のパターン形成方法についての概略工程図およびブロック図である。It is a schematic process figure and block diagram about the pattern formation method of the transparent conductive film of this invention using the rotary screen printing of a resist liquid. レジスト液のスクリーン印刷を用いる本発明の透明導電膜のパターン形成方法についての概略工程図およびブロック図である。It is the schematic process figure and block diagram about the pattern formation method of the transparent conductive film of this invention using the screen printing of a resist liquid. エッチャント液のスクリーン印刷を用いる本発明の透明導電膜のパターン形成方法についての概略工程図およびブロック図である。It is a general | schematic process figure and block diagram about the pattern formation method of the transparent conductive film of this invention using the screen printing of an etchant liquid. 有機EL構造体を作製する作製プロセスの模式図である。It is a schematic diagram of the preparation process which produces an organic EL structure. 封止部材の貼合および断裁の製造プロセスの模式図である。It is a schematic diagram of the manufacturing process of bonding of a sealing member, and cutting. 第一電極のエッジ部が傾斜した面形状の場合の拡大概略図を示す。The expansion schematic in the case of the surface shape which the edge part of the 1st electrode inclined is shown.

以下、本発明を実施するための最良の形態について詳細に説明する。   Hereinafter, the best mode for carrying out the present invention will be described in detail.

本発明は、可撓性の帯状の基板上に配設された、第一電極、該第一電極上に配設された有機発光層を含む有機層および該有機層上に配設された第二電極を含む有機EL構造体から有機EL素子を作製する有機EL素子のロールツーロール方式による作製方法であって、第一電極は、レジスト液またはエッチャント液の印刷を用いたパターニングにより形成されていることを特徴とする。   The present invention provides a first electrode disposed on a flexible belt-shaped substrate, an organic layer including an organic light emitting layer disposed on the first electrode, and a first electrode disposed on the organic layer. A method for producing an organic EL element from an organic EL structure including two electrodes by a roll-to-roll method, wherein the first electrode is formed by patterning using printing of a resist solution or an etchant solution. It is characterized by being.

印刷を用いたパターニングすることで、研磨等の追加工することなく、角部に面取が形成される。その結果、パターニング時にバリが発生し易い第一電極の角部において、リーク電流の原因となるバリの発生がなくなる。   By patterning using printing, chamfering is formed at corners without additional processing such as polishing. As a result, the occurrence of burrs that cause leakage current is eliminated at the corners of the first electrode where burrs are likely to occur during patterning.

しかし、レジスト液またはエッチャント液の印刷を用いた第一電極のパターニングは、フォトリソ法に比べてエッジ部の直線度が悪い傾向があり、その値が一定以上になると、エッジ部に異常発光の発生やリーク電流の増加が発生することが分かっている。   However, patterning of the first electrode using printing of a resist solution or an etchant solution has a tendency that the linearity of the edge portion is worse than the photolithography method, and when the value exceeds a certain value, abnormal light emission occurs at the edge portion. It is known that leakage current increases.

エッジ部の直線性の指標としては、略長方形の第一電極を数箇所は測定下場合の最大寸法と最小寸法の差で評価しており、その差が100μm以上になるとリーク電流が悪化することが分かっている。   As an index of the linearity of the edge part, the evaluation is made by measuring the difference between the maximum dimension and the minimum dimension of the substantially rectangular first electrode at several points, and when the difference becomes 100 μm or more, the leakage current deteriorates. I know.

本発明においては、第一電極がレジスト液またはエッチャント液の印刷を用いたパターニングにより形成され、第一電極のエッジ部の直線性を一定範囲内にすることにより、製造コストが低く、リーク電流のない安定した有機EL素子が得られる。   In the present invention, the first electrode is formed by patterning using printing of a resist solution or an etchant solution, and by making the linearity of the edge portion of the first electrode within a certain range, the manufacturing cost is low and the leakage current is reduced. A stable organic EL device is obtained.

《有機EL素子》
有機EL素子は、有機EL構造体上に封止層を有する構成を有する。
<< Organic EL element >>
The organic EL element has a configuration having a sealing layer on the organic EL structure.

図1は、有機EL素子10の構成の例を説明する模式図である。   FIG. 1 is a schematic diagram illustrating an example of the configuration of the organic EL element 10.

有機EL構造体は、基材上に配設された第一電極、当該第一電極上に配設された有機発光層を含む有機層および当該有機層上に配設された第二電極を含む構造体である。   The organic EL structure includes a first electrode disposed on a substrate, an organic layer including an organic light emitting layer disposed on the first electrode, and a second electrode disposed on the organic layer. It is a structure.

図1に示す例では、有機EL素子10は、基材11上に、第一電極12、有機発光層を含む有機層13、第二電極14を形成して有機EL構造体とし、更に有機EL構造体の上面に接着層15を介して封止層16を積層した構成を有する。   In the example shown in FIG. 1, the organic EL element 10 includes a first electrode 12, an organic layer 13 including an organic light emitting layer, and a second electrode 14 formed on a substrate 11 to form an organic EL structure, and further an organic EL element. A sealing layer 16 is laminated on the upper surface of the structure via an adhesive layer 15.

封止層16は、上記の例のように接着層15を介して積層されていてもよいし、接着層を介さず直接積層されていてもよい。本発明においては、接着層を介して積層されている態様が好ましい態様である。   The sealing layer 16 may be laminated via the adhesive layer 15 as in the above example, or may be laminated directly without using the adhesive layer. In the present invention, a mode in which layers are laminated via an adhesive layer is a preferable mode.

図1に示すように、有機EL素子は、有機EL構造体の上面部が封止層16で被覆されており、封止層16の図示左側に第一電極12の一部が露出し、封止層16の図示右側に第二電極14の一部が露出している。   As shown in FIG. 1, in the organic EL element, the upper surface portion of the organic EL structure is covered with a sealing layer 16, and a part of the first electrode 12 is exposed on the left side of the sealing layer 16 in the drawing, A part of the second electrode 14 is exposed on the right side of the stop layer 16 in the figure.

第一電極の露出している部分(第一電極引き出し部)12aおよび第二電極の露出している部分(第二電極引き出し部)14aから電流を供給することにより有機層13内の有機発光層が発光する。   An organic light emitting layer in the organic layer 13 by supplying current from the exposed portion (first electrode lead portion) 12a of the first electrode and the exposed portion (second electrode lead portion) 14a of the second electrode. Emits light.

第一電極12は、陽極であって、透明にする場合はインジウムチンオキサイド(ITO)、インジウムジンクオキサイド(IZO)、アルミジンクオキサイド(AZO)等の仕事関数が4eV以上で透過率が50%以上の導電性材料による電極が好ましい。   The first electrode 12 is an anode, and when it is transparent, the work function of indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), aluminum zinc oxide (AZO), etc. is 4 eV or more and the transmittance is 50% or more. An electrode made of a conductive material is preferable.

有機発光層は、有機化合物の発光体を含有する層である。有機発光層は、数nm〜数μmであることが好ましい。両電極と有機発光層との間には、後述のように正孔輸送層などを有していてもよい。   The organic light emitting layer is a layer containing a phosphor of an organic compound. The organic light emitting layer is preferably several nm to several μm. Between the two electrodes and the organic light emitting layer, a hole transport layer may be provided as described later.

第二電極14は、陰極であって、反射電極とする場合はアルミニウム、ナトリウム、リチウム、マグネシウム、銀、カルシウム等の仕事関数が4eV未満で、反射率が60%以上の金属材料からなる電極である。   The second electrode 14 is a cathode and is an electrode made of a metal material having a work function of less than 4 eV and a reflectivity of 60% or more such as aluminum, sodium, lithium, magnesium, silver, calcium, etc. is there.

有機EL素子は、第一電極(陽極)12、第二電極(陰極)14に外部から供給された電流により、有機発光層において電子および正孔が結合し、結合により生じた励起エネルギーを利用した発光を行う素子である。   The organic EL element utilizes the excitation energy generated by the combination of electrons and holes in the organic light emitting layer due to the current supplied to the first electrode (anode) 12 and the second electrode (cathode) 14 from the outside. It is an element that emits light.

有機EL素子10の有機発光層からの発光は、第一電極12、基材11を透過して取り出されるが、第二電極(陰極)を、薄膜の陰極材料と透過率の高い陽極材料を積層して構成し、実質的に透明として、陰極から光を取り出す、所謂トップエミッションの構成にしてもよい。   The light emitted from the organic light emitting layer of the organic EL element 10 is extracted through the first electrode 12 and the base material 11, but the second electrode (cathode) is laminated with a thin film cathode material and a highly transmissive anode material. It is also possible to adopt a so-called top emission configuration in which the light is extracted from the cathode by being substantially transparent.

また、第一電極12と有機発光層の間には、正孔輸送層、正孔注入層などを有することが好ましく、第二電極14と有機発光層の間に電子輸送層、電子注入層などを有することが好ましい。   Moreover, it is preferable to have a hole transport layer, a hole injection layer, etc. between the 1st electrode 12 and an organic light emitting layer, and an electron transport layer, an electron injection layer, etc. between the 2nd electrode 14 and an organic light emitting layer. It is preferable to have.

図2は、有機EL構造体を複数有し、更に帯状の封止層を有する帯状の基材の平面図である。   FIG. 2 is a plan view of a band-shaped substrate having a plurality of organic EL structures and further having a band-shaped sealing layer.

帯状の基材11は、基材11の長手方向に複数の有機EL構造体を有しており有機EL構造体上に帯状の封止層16を有する。   The strip-shaped base material 11 has a plurality of organic EL structures in the longitudinal direction of the base material 11, and has a strip-shaped sealing layer 16 on the organic EL structure.

本発明においては、封止層16はこのように、基材11と対向して配設された帯状の封止部材からなることが、製造コスト、ダークスポット発生防止性の面から好ましい。   In the present invention, the sealing layer 16 is preferably made of a band-shaped sealing member disposed so as to face the base material 11 from the viewpoint of manufacturing cost and dark spot generation prevention.

有機EL構造体の第一電極引き出し部と第二電極引き出し部とは、基材11の巾手方向の両端側に対向して配設されており、第一電極引き出し部および第二電極引き出し部の封止層16に被覆されず露出している部分12bおよび14bが、巾手方向の両端側に配設されている。   The first electrode lead portion and the second electrode lead portion of the organic EL structure are disposed to face both ends of the base material 11 in the lateral direction, and the first electrode lead portion and the second electrode lead portion The portions 12b and 14b that are exposed without being covered with the sealing layer 16 are disposed on both ends in the lateral direction.

(帯状の基材)
有機EL素子の作製方法に用いられる帯状の基材は、有機EL構造体を担持し得る帯状な板状体(シート)である。基材としては、可撓性を有する基材が好ましく、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリエーテルイミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリフェニレンスルフィド、ポリアリレート、ポリイミド、ポリカーボネート(PC)、セルローストリアセテート(TAC)、セルロースアセテートプロピオネート(CAP)等が挙げられる。
(Strip-shaped substrate)
The belt-like base material used in the method for producing the organic EL element is a belt-like plate-like body (sheet) that can carry the organic EL structure. As the base material, a flexible base material is preferable. For example, polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), polyether sulfone (PES), polyether imide, polyether ether ketone, polyphenylene sulfide, poly Examples include arylate, polyimide, polycarbonate (PC), cellulose triacetate (TAC), and cellulose acetate propionate (CAP).

帯状の基材の厚さとしては、10μm〜1mmが好ましく、50μm〜300μmが更に好ましい。   The thickness of the band-shaped substrate is preferably 10 μm to 1 mm, and more preferably 50 μm to 300 μm.

帯状の基材として透明樹脂フィルムを使用する場合、樹脂フィルムの表面にはガスバリア膜が必要に応じて形成されることが好ましい。ガスバリア膜としては無機物、有機物の被膜またはその両者のハイブリッド被膜が挙げられる。   When a transparent resin film is used as the belt-like substrate, a gas barrier film is preferably formed on the surface of the resin film as necessary. Examples of the gas barrier film include an inorganic film, an organic film, or a hybrid film of both.

ガスバリア膜の特性としては、JIS K 7129−1992に準拠した方法で測定された、水蒸気透過度(25±0.5℃、相対湿度(90±2)%RH)が0.01g/(m・24h)以下のバリア性フィルムであることが好ましく、更には、JIS K 7126−1987に準拠した方法で測定された酸素透過度が、10−3ml/(m・24hr・MPa)以下、水蒸気透過度が、10−5g/(m・24h)以下の高バリア性フィルムであることが好ましい。 As a characteristic of the gas barrier film, water vapor permeability (25 ± 0.5 ° C., relative humidity (90 ± 2)% RH) measured by a method according to JIS K 7129-1992 is 0.01 g / (m 2 24h) The following barrier film is preferable, and the oxygen permeability measured by a method according to JIS K 7126-1987 is 10 −3 ml / (m 2 · 24 hr · MPa) or less, A high barrier film having a water vapor permeability of 10 −5 g / (m 2 · 24 h) or less is preferable.

ガスバリア膜を形成する材料としては、水分や酸素等素子の劣化をもたらすものの浸入を抑制する機能を有する材料であればよく、例えば、酸化珪素、二酸化珪素、窒化珪素等を用いることが出来る。更に該膜の脆弱性を改良するためにこれら無機層と有機材料からなる層の積層構造を持たせることがより好ましい。無機層と有機層の積層順については特に制限はないが、両者を交互に複数回積層させることが好ましい。ガスバリア膜の形成方法については、特に限定はなく、例えば真空蒸着法、スパッタリング法、反応性スパッタリング法、分子線エピタキシー法、クラスターイオンビーム法、イオンプレーティング法、プラズマ重合法、大気圧プラズマ重合法、プラズマCVD法、レーザーCVD法、熱CVD法、コーティング法等を用いることが出来るが、特開2004−68143号公報に記載されているような大気圧プラズマ重合法によるものが特に好ましい。   As a material for forming the gas barrier film, any material may be used as long as it has a function of suppressing intrusion of elements that cause deterioration of elements such as moisture and oxygen. For example, silicon oxide, silicon dioxide, silicon nitride, or the like can be used. Further, in order to improve the brittleness of the film, it is more preferable to have a laminated structure of these inorganic layers and layers made of organic materials. Although there is no restriction | limiting in particular about the lamination | stacking order of an inorganic layer and an organic layer, It is preferable to laminate | stack both alternately several times. The method for forming the gas barrier film is not particularly limited. For example, the vacuum deposition method, the sputtering method, the reactive sputtering method, the molecular beam epitaxy method, the cluster ion beam method, the ion plating method, the plasma polymerization method, the atmospheric pressure plasma polymerization method. A plasma CVD method, a laser CVD method, a thermal CVD method, a coating method, or the like can be used, but an atmospheric pressure plasma polymerization method as described in JP-A-2004-68143 is particularly preferable.

本発明は、基板にレジスト液やエッチャント液の印刷を用いたパターニングにより、透明導電膜パターンを基板上に形成する透明導電膜のパターン形成方法である。   The present invention is a transparent conductive film pattern forming method for forming a transparent conductive film pattern on a substrate by patterning using printing of a resist solution or an etchant solution on the substrate.

尚、基板としては、連続して搬送される透明導電膜が形成された可撓性の帯状の基板が好ましい。   In addition, as a board | substrate, the flexible strip | belt-shaped board | substrate in which the transparent conductive film conveyed continuously is formed is preferable.

従って、上記の基板に、透明導電膜パターンを連続的に形成することで、工程の削減による生産性向上とコストダウンとが可能であり、品質の高い透明導電膜パターンの形成が可能になる。その結果として、リーク電流のない性能安定性に優れる有機エレクトロニクス素子の作製が可能となる。   Therefore, by continuously forming the transparent conductive film pattern on the substrate, productivity can be improved and costs can be reduced by reducing the number of processes, and a high-quality transparent conductive film pattern can be formed. As a result, it is possible to produce an organic electronic device having no leakage current and excellent performance stability.

尚、コストダウンの観点からは、連続して搬送される透明導電膜が形成された可撓性の帯状の基板を用いることが好ましい。   From the viewpoint of cost reduction, it is preferable to use a flexible belt-like substrate on which a transparent conductive film that is continuously conveyed is formed.

本発明で用いる透明導電膜としては、インジウムチンオキサイド(ITO)、インジウムジンクオキサイド(IZO)、アルミジンクオキサイド(AZO)等の全光透過率が50%以上の透明な金属膜であり、電子ディバイスの電極に利用される薄膜である。   The transparent conductive film used in the present invention is a transparent metal film having a total light transmittance of 50% or more, such as indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), and aluminum zinc oxide (AZO). It is a thin film used for this electrode.

透明導電膜の成膜法は、物理気相成長法(PVD)と呼ばれる方法で行われる真空プロセスである。真空環境下において、プラズマ空間で励起した高エネルギーの原子を金属または酸化物のターゲットにぶつけてターゲット原子をはじきとばして樹脂フィルム上に成膜するスパッタ法や、酸化物ターゲットを陽極として配置し、それにプラズマビームを供給し、材料蒸発源を蒸発させ蒸発粒子の一部をイオンまたは励起粒子とし、活性化した蒸発粒子を樹脂フィルム上に堆積させるイオンプレーティング法を利用することができる。   The film forming method of the transparent conductive film is a vacuum process performed by a method called physical vapor deposition (PVD). In a vacuum environment, a sputtering method in which high-energy atoms excited in the plasma space are struck against a metal or oxide target and the target atoms are repelled to form a film on a resin film, or an oxide target is disposed as an anode. It is possible to use an ion plating method in which a plasma beam is supplied to evaporate the material evaporation source so that some of the evaporated particles become ions or excited particles, and the activated evaporated particles are deposited on a resin film.

イオンプレーティング法は、圧力勾配型プラズマガンによりプラズマビームをITO等の原料を直接照射して蒸発させ、蒸発した原料をプラズマ雰囲気中でイオン化し、イオン化したこれらの物質は、プラズマ雰囲気中のプラズマポテンシャルにより加速され、大きなエネルギーをもって樹脂基板上に到達・堆積され、低抵抗で緻密な透明導電膜が成膜されるので望ましい成膜法である。   The ion plating method uses a pressure gradient type plasma gun to directly irradiate a raw material such as ITO with a plasma beam to evaporate, ionize the evaporated raw material in a plasma atmosphere, and these ionized substances are converted into plasma in the plasma atmosphere. This is a desirable film formation method because it is accelerated by the potential, reaches and is deposited on the resin substrate with large energy, and forms a dense transparent conductive film with low resistance.

ここで、透明導電膜を成膜する時の真空環境下とは、プラズマ空間を維持し、成膜種に不純物が混入しにくい環境を維持するために必要な100Pa以下の圧力環境下である。   Here, the vacuum environment when forming the transparent conductive film is a pressure environment of 100 Pa or less necessary for maintaining a plasma space and maintaining an environment in which impurities are not easily mixed into the film formation species.

(封止層)
本発明に係る封止層は外気の影響を低減し得る層であり、樹脂などの有機物または窒化物などの無機物の膜である封止部材からなる。
(Sealing layer)
The sealing layer according to the present invention is a layer that can reduce the influence of outside air, and includes a sealing member that is a film of an organic substance such as a resin or an inorganic substance such as a nitride.

本発明に係る封止層に用いることができる樹脂としては、例えばエチレンテトラフルオロエチル共重合体(ETFE)、高密度ポリエチレン(HDPE)、延伸ポリプロピレン(OPP)、ポリスチレン(PS)、ポリメチルメタクリレート(PMMA)、延伸ナイロン(ONy)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリカーボネート(PC)、ポリイミド、ポリエーテルスチレン(PES)、ポリエチレンナフタレート(PEN)などが挙げられる。   Examples of the resin that can be used for the sealing layer according to the present invention include ethylene tetrafluoroethyl copolymer (ETFE), high-density polyethylene (HDPE), expanded polypropylene (OPP), polystyrene (PS), polymethyl methacrylate ( PMMA), stretched nylon (ONy), polyethylene terephthalate (PET), polycarbonate (PC), polyimide, polyether styrene (PES), polyethylene naphthalate (PEN), and the like.

封止層は、複数の層からなってもよく、特にガスバリア層を有する構成が好ましい。   The sealing layer may be composed of a plurality of layers, and particularly preferably has a gas barrier layer.

ガスバリア層としては、無機蒸着膜、金属箔が挙げられる。無機蒸着膜としては薄膜ハンドブックp879〜p901(日本学術振興会)、真空技術ハンドブックp502〜p509、p612、p810(日刊工業新聞社)、真空ハンドブック増訂版p132〜p134(ULVAC 日本真空技術K.K)に記載されている如き無機膜が挙げられる。例えば、In、Sn、Pb、Au、Cu、Ag、Al、Ti、Ni等の金属、MgO、SiO、SiO、Al、GeO、NiO、CaO、BaO、Fe、Y、TiO、Cr、Si(x=1、y=1.5〜2.0)、Ta、ZrN、SiC、TiC、PSG、Si、単結晶Si、アモルファスSi、W、等が用いられる。 Examples of the gas barrier layer include an inorganic vapor deposition film and a metal foil. As inorganic vapor deposition films, thin film handbooks p879-p901 (Japan Society for the Promotion of Science), vacuum technology handbooks p502-p509, p612, p810 (Nikkan Kogyo Shimbun), vacuum handbook revised editions p132-p134 (ULVAC Japan Vacuum Technology KK) Inorganic films as described in (1). For example, metals such as In, Sn, Pb, Au, Cu, Ag, Al, Ti, Ni, MgO, SiO, SiO 2 , Al 2 O 3 , GeO, NiO, CaO, BaO, Fe 2 O 3 , Y 2 O 3 , TiO 2 , Cr 2 O 3 , Si x O y (x = 1, y = 1.5 to 2.0), Ta 2 O 3 , ZrN, SiC, TiC, PSG, Si 3 N 4 , single Crystalline Si, amorphous Si, W, etc. are used.

又、金属箔の材料としては、例えばアルミニウム、銅、ニッケルなどの金属材料や、ステンレス、アルミニウム合金などの合金材料を用いることが出来るが、加工性やコストの面でアルミニウムが好ましい。膜厚は、1μm〜100μm程度、好ましくは10μm〜50μm程度が望ましい。   Moreover, as a material of the metal foil, for example, a metal material such as aluminum, copper, or nickel, or an alloy material such as stainless steel or an aluminum alloy can be used, but aluminum is preferable in terms of workability and cost. The film thickness is about 1 μm to 100 μm, preferably about 10 μm to 50 μm.

更に、ガスバリア層の上に保護層を設けてもよい。保護層の膜厚は、ガスバリア層の耐ストレスクラッキング性、耐電気的絶縁性、シール剤層として使用する場合は接着性(接着力、段差追従性)等を考慮し、100nm〜200μmが好ましい。保護層としてはJIS K 7210規定のメルトフローレートが5g/10分〜20g/10分である熱可塑性樹脂フィルムが好ましく、更に好ましくは、6g/10分〜15g/10分以下の熱可塑性樹脂フィルムを用いることが好ましい。   Furthermore, a protective layer may be provided on the gas barrier layer. The thickness of the protective layer is preferably 100 nm to 200 μm in consideration of stress cracking resistance, electrical insulation resistance of the gas barrier layer, adhesiveness (adhesive force, step following ability) and the like when used as a sealant layer. The protective layer is preferably a thermoplastic resin film having a melt flow rate of 5 g / 10 min to 20 g / 10 min as defined in JIS K 7210, more preferably a thermoplastic resin film of 6 g / 10 min to 15 g / 10 min or less. Is preferably used.

熱可塑性樹脂フィルムは、上記数値を満たすものであれば特に限定されるものではないが、例えば機能性包装材料の新展開株式会社東レリサーチセンター記載の高分子フィルムである低密度ポリエチレン(LDPE)、HDPE、線状低密度ポリエチレン(LLDPE)、中密度ポリエチレン、未延伸ポリプロピレン(CPP)、OPP、ONy、PET、セロハン、ポリビニルアルコール(PVA)、延伸ビニロン(OV)、エチレン−酢酸ビニル共重合体(EVOH)、エチレン−プロピレン共重合体、エチレン−アクリル酸共重合体、エチレン−メタクリル酸共重合体、塩化ビニリデン(PVDC)等の使用が可能である。これらの熱可塑性樹脂フィルムの中で特に各種PEやPETやPENが好ましい。   The thermoplastic resin film is not particularly limited as long as it satisfies the above numerical values. For example, low-density polyethylene (LDPE), which is a polymer film described in Toray Research Center, Inc., a new development of functional packaging materials, HDPE, linear low density polyethylene (LLDPE), medium density polyethylene, unstretched polypropylene (CPP), OPP, ONy, PET, cellophane, polyvinyl alcohol (PVA), stretched vinylon (OV), ethylene-vinyl acetate copolymer ( EVOH), ethylene-propylene copolymer, ethylene-acrylic acid copolymer, ethylene-methacrylic acid copolymer, vinylidene chloride (PVDC), and the like can be used. Among these thermoplastic resin films, various PE, PET, and PEN are particularly preferable.

封止層の形成には、樹脂基材の上にガスバリア層(必要に応じて保護層)を形成した積層フィルム状を用いることが好ましい。積層フィルムの製造方法としては、無機物を蒸着した熱可塑性樹脂フィルムおよびアルミニウム箔をラミネートした熱可塑性樹脂フィルムの無機物層の上に一般的に知られている各種の方法、例えばウェットラミネート法、ドライラミネート法、ホットメルトラミネート法、押出しラミネート法、熱ラミネート法を利用して作ることが可能である。   For the formation of the sealing layer, it is preferable to use a laminated film shape in which a gas barrier layer (a protective layer as required) is formed on a resin substrate. As a method for producing a laminated film, various methods generally known on the inorganic layer of a thermoplastic resin film deposited with an inorganic material and a thermoplastic resin film laminated with an aluminum foil, such as a wet laminating method and a dry laminating method, are used. It can be made by using a method, a hot melt laminating method, an extrusion laminating method, or a thermal laminating method.

有機EL構造体上の封止層としては、封止部材が直接ラミネートなどにより熱により貼合されて設けられ態様、封止部材が接着層を介して接着されている態様、蒸着や塗布により直接形成される態様などがあるが、接着層を介して接着されている態様が好ましい態様である。   As a sealing layer on the organic EL structure, a mode in which the sealing member is directly bonded by heat by lamination or the like, a mode in which the sealing member is bonded via an adhesive layer, direct by vapor deposition or application Although there is an aspect of being formed, an aspect of being bonded through an adhesive layer is a preferable aspect.

接着層を介して接着されている封止層は、封止部材と有機EL構造体とを、これらの間に接着剤層を介して貼合することで得られる。   The sealing layer bonded through the adhesive layer is obtained by laminating the sealing member and the organic EL structure through the adhesive layer therebetween.

封止部材を、接着層を介して接着する方法に用いられる接着剤層に用いられる接着剤としては、熱または光硬化型の接着剤が好ましく用いられ、封止部材を、接着剤剤を介して貼合した後、接着剤を硬化させて封止部材を有機EL構造体上に設ける方法が好ましい態様である。   As the adhesive used in the adhesive layer used in the method of adhering the sealing member via the adhesive layer, a heat or photo-curing adhesive is preferably used, and the sealing member is interposed via the adhesive. A method of curing the adhesive and providing the sealing member on the organic EL structure is a preferable embodiment.

接着剤層を介して貼合した後、接着剤を硬化させて封止部材を有機EL構造体上に設ける方法中でも特に、接着層を形成し得る接着剤層が全面に塗工された封止部材を有機EL構造体上に貼合して接着する方法が、製造コスト、ダークスポット発生防止性の面から好ましい態様である。   Sealing in which an adhesive layer capable of forming an adhesive layer is applied to the entire surface, particularly in a method in which an adhesive layer is cured and then a sealing member is provided on the organic EL structure after being bonded through the adhesive layer A method in which a member is bonded onto an organic EL structure and bonded is a preferred embodiment from the viewpoints of manufacturing cost and dark spot generation prevention.

《有機EL素子の作製方法》
有機EL素子の作製方法では、特に有機EL構造体が有する第一電極引き出し部と第二電極引き出し部とを帯状な基材上に、帯状の基材の巾手方向の両端側に、対向して配設したものを用いる。
<< Method for producing organic EL element >>
In the method for producing an organic EL element, the first electrode lead portion and the second electrode lead portion possessed by the organic EL structure are particularly opposed to the both ends of the belt-like substrate in the lateral direction. Use the one arranged.

第一電極引き出し部と第二電極引き出し部とが、巾手方向の両端側に対向して位置するため、後述の封止部材を基材の巾手方向の中央部のみに設け、これを一つの有機EL素子毎に断裁することで、製造コスト、ダークスポット発生防止性に優れる有機EL素子を提供することができる。   Since the first electrode lead portion and the second electrode lead portion are located opposite to both ends in the width direction, a sealing member described later is provided only in the center portion in the width direction of the base material, By cutting every two organic EL elements, it is possible to provide an organic EL element that is excellent in manufacturing cost and dark spot generation prevention properties.

本発明の作製方法において、有機EL構造体を作製するために用いられる方法としては、ロールツーロール方式が好ましく用いられる。   In the production method of the present invention, a roll-to-roll method is preferably used as a method used for producing the organic EL structure.

ロールツーロール方式とは、ロールに巻回された帯状の基材を用い、この帯状の基材を繰り出して、搬送しつつ基材上に有機EL構造体を設け、複数の有機EL構造体を有する帯状の基材を再びロールに巻き取る方式であるが、一般的にロールに巻回された可撓性の帯状の基板を用い、製品まで連続的に加工する方法も含まれる。この方が製造コスト的(収率、生産スペース)に優位な場合がある。   The roll-to-roll method uses a strip-shaped base material wound around a roll, feeds out the strip-shaped base material, and provides an organic EL structure on the base material while being transported. This is a method in which the belt-shaped substrate is wound around a roll again, but generally includes a method in which a flexible belt-shaped substrate wound around a roll is used to continuously process the product. This may be superior in terms of manufacturing cost (yield, production space).

図3は、本発明の有機EL素子の作製方法の一例を示すブロック図である。   FIG. 3 is a block diagram showing an example of a method for producing the organic EL element of the present invention.

本発明の有機EL素子の作製方法は、可撓性の帯状の基板に第一電極を形成する第一電極形成行程51、有機EL構造体形成工程52、封止層形成工程55、断裁工程56を有することにより低コストで、性能安定性に優れる有機EL素子を得ることができる。   The organic EL device manufacturing method of the present invention includes a first electrode forming step 51 for forming a first electrode on a flexible strip-shaped substrate, an organic EL structure forming step 52, a sealing layer forming step 55, and a cutting step 56. It is possible to obtain an organic EL device having low cost and excellent performance stability.

第一電極形成行程51は、ITO等の透明導電膜が形成された帯状の基材をパターニングして第一電極を形成する工程である。   The first electrode forming step 51 is a step of forming a first electrode by patterning a band-shaped base material on which a transparent conductive film such as ITO is formed.

本発明に係る第一電極形成行程の特徴は、レジスト液またはエッチャント液の印刷を用いたパターニングにより形成されることである。   A feature of the first electrode forming process according to the present invention is that the first electrode forming process is formed by patterning using printing of a resist solution or an etchant solution.

印刷手段としては限定しないが、例えば、スクリーン印刷方式、フレキソ印刷方式、オフセット印刷方式、グラビア印刷方式、インクジェット方式、マスクを用いたスプレー塗布方式等が挙げられる。   Examples of the printing means include, but are not limited to, a screen printing method, a flexographic printing method, an offset printing method, a gravure printing method, an ink jet method, and a spray coating method using a mask.

本発明に係るエッチャント液(エッチング液ともいう)とは、第1電極を溶解する液であり、本発明に係るレジスト液は、前記エッチャント液で第一電極が溶解するのを防止する液である。   The etchant solution (also referred to as an etching solution) according to the present invention is a solution that dissolves the first electrode, and the resist solution according to the present invention is a solution that prevents the first electrode from being dissolved by the etchant solution. .

レジスト液を用いる場合には、レジスト液を電極形成部に印刷により設置し、その後にエッチング処理、レジスト剥離することにより、第一電極がパターニング形成される。   In the case of using a resist solution, the resist solution is placed on the electrode forming portion by printing, and thereafter, the first electrode is patterned by performing an etching process and removing the resist.

エッチャント液を用いる場合には、エッチャント液を電極除去部に印刷により設置し、加熱等によりエッチング処理されて、第一電極がパターニング形成される。   In the case of using the etchant liquid, the etchant liquid is installed on the electrode removal portion by printing, and is etched by heating or the like, whereby the first electrode is patterned.

有機EL構造体形成工程52は、第一電極が形成された帯状の基板の上に複数の有機EL構造体を形成する工程である。封止層形成工程55は、上記第一電極引き出し部および第二電極引き出し部の一部を残して、有機EL構造体を封止する工程である。   The organic EL structure forming step 52 is a step of forming a plurality of organic EL structures on a strip-shaped substrate on which the first electrode is formed. The sealing layer forming step 55 is a step of sealing the organic EL structure while leaving a part of the first electrode lead portion and the second electrode lead portion.

断裁工程56は、有機EL構造体が配置された基材を断裁して、各々の有機EL素子を作製する工程である。   The cutting step 56 is a step of cutting each base material on which the organic EL structure is disposed to produce each organic EL element.

ロールツーロー方式では、ロール送り出し、有機EL構造体形成工程、ロール巻き取りがこの順に行わり、更に、ロール送り出し、封止層形成工程55、断裁工程56がこの順に行われる。   In the roll-to-row method, roll feeding, organic EL structure forming process, and roll winding are performed in this order, and roll feeding, sealing layer forming process 55, and cutting process 56 are performed in this order.

次いで、図4、図5、図6により、本発明に係る第一電極がパターニング形成される工程を説明する。   Next, with reference to FIGS. 4, 5, and 6, a process of patterning the first electrode according to the present invention will be described.

図4は、印刷手段としてロータリースクリーン印刷を用い、レジスト液を用いて第一電極がパターニング形成される一例を示す模式図である。   FIG. 4 is a schematic view showing an example in which rotary screen printing is used as a printing unit and the first electrode is patterned by using a resist solution.

図4では、レジスト液(例えば、関西ペイント製エッチングレジストSPR081)を使用した場合の連続して搬送される透明導電膜が形成された長尺の基板上にパターン形成する本発明の透明導電膜のパターン形成方法の一例についての概略工程図とブロック図を示している。   In FIG. 4, the transparent conductive film of the present invention that forms a pattern on a long substrate on which a transparent conductive film that is continuously conveyed when a resist solution (for example, etching resist SPR081 manufactured by Kansai Paint) is used is formed. The schematic process drawing and block diagram about an example of the pattern formation method are shown.

図4において、1は透明導電膜が形成された可撓性の帯状の基板Sのロールを示す。   In FIG. 4, reference numeral 1 denotes a roll of a flexible belt-like substrate S on which a transparent conductive film is formed.

透明導電膜は、蒸着またはスパッタ等の真空プロセスによって、或いはプラズマCVD法、または、ゾルゲル法等塗布を用いた方法等いかなる方法により形成してもよいが、ドライプロセスで形成するのが好ましく、中でも、プラズマイオンプレーティング法により形成された、例えば、ITO等からなる透明導電膜は、平滑に膜形成できるため表面性がよく有機EL用等の用途には好ましい。   The transparent conductive film may be formed by a vacuum process such as vapor deposition or sputtering, or by any method such as a plasma CVD method or a method using coating such as a sol-gel method, but is preferably formed by a dry process. A transparent conductive film made of, for example, ITO or the like formed by the plasma ion plating method has a good surface property because it can form a smooth film, and is preferable for applications such as for organic EL.

長尺状樹脂基板としては、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリエーテルイミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリフェニレンスルフィド、ポリアリレート、ポリイミド、ポリカーボネート(PC)、セルローストリアセテート(TAC)、セルロースアセテートプロピオネート(CAP)等の可撓性のある樹脂基板が挙げられる。   As long resin substrates, polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), polyethersulfone (PES), polyetherimide, polyetheretherketone, polyphenylene sulfide, polyarylate, polyimide, polycarbonate (PC), Examples thereof include flexible resin substrates such as cellulose triacetate (TAC) and cellulose acetate propionate (CAP).

特にポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリエーテルスルホン等が好ましい基板として挙げられ、50μm〜400μmの厚みが好ましい。   In particular, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polyethersulfone and the like are mentioned as preferable substrates, and a thickness of 50 μm to 400 μm is preferable.

透明導電膜が形成された可撓性の帯状の基板Sは、これらの樹脂フィルム上に、例えば、ITO膜を10nm〜500nmの厚みで形成したものが好ましい例としてあげられる。   A preferred example of the flexible belt-like substrate S on which the transparent conductive film is formed is that on which an ITO film is formed with a thickness of 10 nm to 500 nm on these resin films.

また、下引き層、ハードコート層等を施した樹脂フィルムであってもよく、また、酸化珪素層、酸化窒化珪素等の透湿度の低い材料からなるガスバリア膜を有する樹脂基板に透明導電膜を形成したものが好ましい。   Further, it may be a resin film provided with an undercoat layer, a hard coat layer, or the like, and a transparent conductive film is applied to a resin substrate having a gas barrier film made of a material with low moisture permeability such as a silicon oxide layer or silicon oxynitride. Those formed are preferred.

特に、ガスバリア膜は樹脂フィルムの両面に形成されていることが好ましい。後述のエッチング、水洗等のウェット工程においても基材中に水分が浸透しないからである。   In particular, the gas barrier film is preferably formed on both surfaces of the resin film. This is because moisture does not penetrate into the substrate even in wet processes such as etching and washing described later.

ウェット時の基板への水分の浸入が少ないため、パターン形成後、特に有機EL素子等を形成した後、水分の浸透や、基板からのガス放出による劣化が防げる。   Since there is little water permeation into the substrate when wet, deterioration due to moisture permeation or outgassing from the substrate can be prevented after pattern formation, especially after forming an organic EL element or the like.

これらのガスバリア層もドライプロセス、例えば、スパッタ、プラズマCVD、イオンプレーティング法等により形成するのが好ましい。   These gas barrier layers are also preferably formed by a dry process such as sputtering, plasma CVD, or ion plating.

ガスバリア膜は、薄膜形成に必要な原料をガス成分として導入する必要のあるプラズマCVD法、イオンプレーティング法等に比べ、スパッタリング法はターゲット材料の制約が少なく、高融点材料でも比較的容易に薄膜形成できることから、真空プロセスであるスパッタ法によるのが特に好ましい。ターゲットとして、形成させるバリア膜、例えば、酸化珪素或いは酸化窒化珪素等の構成材料と同一材料、あるいは、スパッタガスとの反応により構成材料と同一構成となる材料を用い、スパッタガスを導入し、電圧を印加、所定ガス圧の真空環境下において、プラズマを発生させスパッタリングを行わせ基板上にガスバリア膜を形成する。例えば、RFマグネトロンスパッタ装置等が用いられる。   Compared with the plasma CVD method and ion plating method that require introduction of raw materials necessary for thin film formation as gas components, the sputtering method has less restrictions on the target material, and even a high melting point material is a relatively thin film. Since it can be formed, it is particularly preferable to use a sputtering method which is a vacuum process. As a target, a barrier film to be formed, for example, a material that is the same as a constituent material such as silicon oxide or silicon oxynitride, or a material that has the same configuration as the constituent material by reaction with the sputtering gas, a sputtering gas is introduced, and a voltage is applied. In a vacuum environment with a predetermined gas pressure, plasma is generated and sputtering is performed to form a gas barrier film on the substrate. For example, an RF magnetron sputtering apparatus or the like is used.

また、大気圧プラズマCVD法を用いてもよい。例えば、200μm厚のポリエチレンテレフタレートフィルムを基板として用い、大気圧プラズマCVD法により基板上に酸化珪素からなるガスバリア膜(厚み70nm)を、薄膜形成ガスとしてテトラエトキシシランを用い、放電ガス(窒素)、また添加ガス(酸素)等と混合、高周波電源で励起して形成することが出来る。   Further, an atmospheric pressure plasma CVD method may be used. For example, a polyethylene terephthalate film having a thickness of 200 μm is used as a substrate, a gas barrier film (thickness 70 nm) made of silicon oxide is formed on the substrate by atmospheric pressure plasma CVD, tetraethoxysilane is used as a thin film forming gas, a discharge gas (nitrogen), Further, it can be formed by mixing with an additive gas (oxygen) or the like and exciting it with a high frequency power source.

図4に記載のロータリースクリーン印刷を用いたプロセスについて詳細に説明する。   The process using the rotary screen printing shown in FIG. 4 will be described in detail.

透明導電膜が形成された可撓性の帯状の基板Sのロール1から繰り出された可撓性の帯状の基板Sの透明導電膜上には、先ずパターニング工程においてレジスト液が連続的にパターニング印刷される。2はロータリースクリーン印刷機を模式的に示している。   On the transparent conductive film of the flexible strip-shaped substrate S fed out from the roll 1 of the flexible strip-shaped substrate S on which the transparent conductive film is formed, first, a resist solution is continuously patterned and printed in a patterning step. Is done. 2 schematically shows a rotary screen printing machine.

ロータリースクリーンを予め透明導電膜上に必要な導電膜パターンを形成するようパターニング印刷出来るよう作製しておくことで、連続印刷がエンドレスで出来る。ロータリースクリーン印刷を用いることにより連続印刷が可能である。   Continuous printing can be performed endlessly by preparing the rotary screen in advance so as to enable patterning printing so as to form a necessary conductive film pattern on the transparent conductive film. Continuous printing is possible by using rotary screen printing.

次いで、レジスト液は連続してベイク(乾燥)され(図では省略されている)、硬化工程に入る。硬化工程は加熱工程であり、公知の加熱装置3により加熱される。   Next, the resist solution is continuously baked (dried) (not shown in the figure) and enters a curing step. The curing process is a heating process and is heated by a known heating device 3.

ITOのエッチング用のレジスト液、例えば、前記関西ペイントのSPR081であれば、加熱硬化(単に、熱硬化ともいう)の条件としては120℃、20分でよい。   In the case of a resist solution for etching ITO, for example, SPR081 of Kansai Paint, heat curing (also simply referred to as heat curing) may be performed at 120 ° C. for 20 minutes.

本発明では予めレジスト液を可撓性の帯状の基板Sの透明導電膜上に印刷するため、フォトマスク、又、光走査によるパターン露光等の必要がない。また、露光後のパターン部以外の未硬化レジストを現像によって除去する作業である現像工程、またレジスト中の現像による溶剤や水分を除去等の必要がない。   In the present invention, since the resist solution is previously printed on the transparent conductive film of the flexible belt-like substrate S, there is no need for a photomask or pattern exposure by optical scanning. Further, there is no need for a development step, which is an operation for removing uncured resist other than the exposed pattern portion by development, and for removing a solvent and moisture due to development in the resist.

本発明においては単に、印刷後、レジストの熱硬化を行えばよい。また、プリベイク等の必要がない。   In the present invention, the resist may be simply heat-cured after printing. Further, there is no need for pre-baking or the like.

加熱硬化(熱硬化)後、ポストベイク(乾燥)を行った後(図では省略されている)、連続してエッチング工程にはいる。   After post-baking (drying) after heat-curing (thermo-curing) (not shown in the figure), the etching process is continued.

エッチング工程では、レジストパターンが形成されていない透明導電膜の露出した部分について、エッチングを行う。   In the etching process, the exposed portion of the transparent conductive film where the resist pattern is not formed is etched.

エッチング方法としては、ウェットエッチング、ドライエッチング、電解エッチング等があるが、連続して行うにはウェットエッチングが好ましい。   As an etching method, there are wet etching, dry etching, electrolytic etching, etc., but wet etching is preferable for performing continuously.

ウェットエッチングに用いられるITO膜のエッチング液としては、塩酸水溶液や塩酸酸性塩化第二鉄水溶液等が代表的である。   As an etching solution for the ITO film used for wet etching, a hydrochloric acid aqueous solution, a hydrochloric acid ferric chloride aqueous solution, or the like is typical.

図4におけるエッチング工程(単に、エッチングともいう)ではエッチング液槽にレジストが形成された基板を導入してウェットエッチングを行っている。   In the etching step (also simply referred to as etching) in FIG. 4, wet etching is performed by introducing a substrate on which a resist is formed in an etching solution tank.

図では、エッチング液槽に可撓性の帯状の基板Sを導入し、槽中を基板Sが搬送される様子を示している。   In the figure, a state in which a flexible belt-like substrate S is introduced into an etching solution tank and the substrate S is transported through the tank.

液中アキュームロールはここでは1つであるが必要とするエッチング時間によりロール数を調整し液中浸漬時間を調整する。   The number of the accumulator rolls in the liquid is one here, but the number of rolls is adjusted by the required etching time to adjust the immersion time in the liquid.

この工程によりレジストの形成されていない部分のITO膜はエッチングにより除去される。   Through this process, the ITO film in the portion where the resist is not formed is removed by etching.

エッチング後は、酸性エッチング液を流し出すため水洗を行う。浸透性を上げるため活性剤を含有する水で水洗してもよく、その後、更に水洗処理を行って充分に洗浄する。   After the etching, washing with water is performed to discharge the acidic etching solution. In order to increase the permeability, it may be washed with water containing an activator, and then further washed with water for further washing.

シャワーを用いてもよい。例えば水洗シャワー工程、水洗処理工程により洗浄後、好ましくは水切り・乾燥工程を経て、レジスト剥離工程に入る。   A shower may be used. For example, after washing by a water-washing shower process and a water-washing treatment process, a resist stripping process is started, preferably through a draining and drying process.

レジスト剥離工程は、レジストの除去工程でありこれによりレジストで保護された領域のITO等透明導電膜が露出して、透明導電膜パターンが形成される。   The resist stripping process is a resist removing process, whereby a transparent conductive film such as ITO in a region protected by the resist is exposed, and a transparent conductive film pattern is formed.

レジスト剥離工程においては、剥離液として溶剤や、アルカリ等が用いられ、酸性エッチング液、また前記のレジストであれば、苛性ソーダ水溶液(1質量%〜3質量%程度)を用い40℃程度の温度で、剥離することが出来る。   In the resist stripping process, a solvent, alkali, or the like is used as a stripping solution. In the case of an acid etching solution or the above resist, a caustic soda aqueous solution (about 1% to 3% by weight) is used at a temperature of about 40 ° C. Can be peeled off.

また、グリコール系溶剤、2−アミノエタノールを成分とするアルカリ性の剥離液等も用いることができる。いずれにしても、基板や透明導電膜に影響を与えない剥離液を用いることが好ましい。   Further, an alkaline stripping solution containing a glycol solvent, 2-aminoethanol as a component, or the like can also be used. In any case, it is preferable to use a stripping solution that does not affect the substrate or the transparent conductive film.

また、レジスト剥離工程として、ドライプロセス、例えば気相中で行われるアッシングを利用できる。ドライプロセスは、レジストを気相中でオゾンやプラズマにより灰化(Ashing)することにより除去することもできる。   Further, as the resist stripping step, a dry process such as ashing performed in a gas phase can be used. In the dry process, the resist can be removed by ashing with ozone or plasma in a gas phase.

アッシング装置は、アッシング室にオゾン、酸素などのガスを導入し、紫外線などの光をガスまたは基板に照射し、ガスとフォトレジストの化学反応によりこれを剥離する光励起アッシング装置、酸素ガス等のガスを高周波などによりプラズマ化させ、そのプラズマを利用するプラズマアッシング装置がある。   An ashing device is a photo-excited ashing device that introduces a gas such as ozone or oxygen into an ashing chamber, irradiates the gas or substrate with light such as ultraviolet rays, and peels it off by a chemical reaction between the gas and the photoresist. There is a plasma ashing apparatus that converts plasma into high-frequency plasma and uses the plasma.

レジスト剥離工程の後、水洗、即ち、エッチング後と同様の水洗処理工程または水洗シャワー工程等による洗浄工程を経て、水切り、乾燥等の、脱水処理を行う。脱水処理工程の後、パターニングされた透明導電層を有する基板Sは巻き取りロール4に巻き取られる。   After the resist stripping step, water washing, that is, a water washing treatment step similar to that after etching or a water washing shower step or the like is performed, followed by dehydration treatment such as draining and drying. After the dehydration process, the substrate S having the patterned transparent conductive layer is taken up by the take-up roll 4.

図5は、レジスト液のスクリーン印刷を用いる本発明の透明導電膜のパターン形成方法についての概略工程図およびブロック図である。   FIG. 5 is a schematic process diagram and a block diagram of the transparent conductive film pattern forming method of the present invention using screen printing of a resist solution.

更に詳細に説明すると、図5は、印刷手段としてスクリーン印刷を用いて、レジスト液(例えば、関西ペイント製エッチングレジストSPR081)を使用した場合の、連続して搬送される透明導電膜が形成された長尺の基板上にパターン形成する本発明の透明導電膜のパターン形成方法についての概略工程図とブロック図を示している。   More specifically, FIG. 5 shows that a transparent conductive film that is continuously conveyed is formed when a resist solution (for example, an etching resist SPR081 manufactured by Kansai Paint) is used by using screen printing as a printing means. The schematic process figure and block diagram about the pattern formation method of the transparent conductive film of this invention which pattern-forms on a elongate board | substrate are shown.

図5において、20はスクリーン印刷機を模式的に示している。スクリーン(版)の内側(基板の反対側)の一端にインキ(この場合レジスト液)を載せスキージーを往復させてインキをスクリーンの下に押し出して、スクリーンの下部に置いた基板上に転写するもので、図ではスクリーン(版)とスキージーおよびインクを模式的に示している。   In FIG. 5, 20 schematically shows a screen printer. Ink (resist liquid in this case) is placed on one end of the screen (plate) inside (opposite the substrate), and the squeegee is reciprocated to push the ink under the screen and transfer it onto the substrate placed at the bottom of the screen. In the figure, the screen (plate), squeegee and ink are schematically shown.

スキージーの往復により印刷がされるため基板はこの間スクリーン下で静止させる。従って可撓性の帯状の基板を断続的に搬送してスクリーン印刷を行うことになる。   Since printing is performed by reciprocation of the squeegee, the substrate is kept stationary under the screen during this time. Therefore, screen printing is performed by intermittently transporting the flexible belt-like substrate.

従って、透明導電膜パターン形成を一貫して連続で行うために、印刷によるパターニング工程の前後に複数ロールで構成されるアキューム機構21、22を設け(アキューム工程)、スクリーン印刷によるレジスト液の配置を行う間の搬送の停滞を吸収する。   Therefore, in order to consistently and continuously form a transparent conductive film pattern, accumulating mechanisms 21 and 22 composed of a plurality of rolls are provided before and after the patterning process by printing (accumulation process), and the resist solution is arranged by screen printing. Absorbs the stagnation of conveyance during the process

図5では、パターニング工程の前にアキューム機構21、パターニング工程後の公知の加熱装置3により加熱される硬化工程の後アキューム機構22と2つアキューム機構を設けている。   In FIG. 5, an accumulating mechanism 21 before the patterning process, an accumulating mechanism 22 after the curing process heated by the known heating device 3 after the patterning process, and two accumulating mechanisms are provided.

これによりアキューム機構21にはいる際、またアキューム機構22からでるときには可撓性の帯状の基板はみかけ連続搬送されている。   Thus, when entering the accumulator mechanism 21 or when leaving the accumulator mechanism 22, the flexible belt-like substrate is apparently continuously conveyed.

次の、エッチング工程以降は、一貫して連続で行うことができ図4で示したものと同様に工程を組むことが出来る。   The subsequent etching steps can be performed consistently and continuously, and the steps can be assembled in the same manner as shown in FIG.

従って、連続して搬送される透明導電膜が形成された可撓性の帯状の基板にレジスト液をスクリーン印刷にてパターン状に配置する工程と、これに硬化する硬化工程は、間欠的に行われるが、この前後にアキューム機構を設けることで、この間欠工程と、エッチング工程、レジスト剥離工程、水洗処理工程、脱水処理工程等これを連続的に行う連続工程、とが接続された一環の工程を連続的に行うことが可能となる。   Therefore, the step of arranging the resist solution in a pattern by screen printing on the flexible belt-like substrate on which the transparent conductive film to be continuously conveyed is formed and the curing step of curing the resist solution are intermittently performed. However, by providing an accumulator mechanism before and after this, this intermittent process and a continuous process such as an etching process, a resist stripping process, a water washing process, a dehydration process, etc. are continuously connected. Can be performed continuously.

図6は、エッチャント液のスクリーン印刷を用いる本発明の透明導電膜のパターン形成方法についての概略工程図およびブロック図である。   FIG. 6 is a schematic process diagram and a block diagram of the transparent conductive film pattern forming method of the present invention using screen printing of an etchant solution.

更に詳細に説明すると、図6は、印刷手段としてスクリーン印刷を用いて、エッチャント液(例えば、メルク製エッチャント液HiperEtch04S Type10)を使用した場合の、連続して搬送される透明導電膜が形成された長尺の基板上にパターン形成する本発明の透明導電膜のパターン形成方法についての概略工程図とブロック図を示している。   More specifically, FIG. 6 shows a case where a transparent conductive film transported continuously is formed by using screen printing as a printing means and using an etchant liquid (for example, Etch liquid HiperEch04S Type 10 manufactured by Merck). The schematic process figure and block diagram about the pattern formation method of the transparent conductive film of this invention which pattern-forms on a elongate board | substrate are shown.

エッチングがウェットエッチングから熱エッチングになったこととレジスト剥離工程がなくなった以外は、レジスト液のスクリーン印刷を用いた工程と変わらない。   Except that the etching is changed from wet etching to thermal etching and the resist stripping process is eliminated, the process is the same as the process using resist printing screen printing.

これらの方法によれば、可撓性の帯状の基板をロールツーロール方式による連続生産が可能なので生産効率を向上させることができるとともに、従来主流となっているフォトリソ方式とくらべて、レジストのプリベイクや、現像後のポストベイク、パターン露光のためのマスクや走査露光のための装置を必要とせず、簡単な方法でパターニングできるというメリットも有する。   According to these methods, flexible strip-like substrates can be continuously produced by a roll-to-roll method, so that the production efficiency can be improved, and resist pre-baking can be performed in comparison with the photolithography method which has been the mainstream in the past. In addition, there is an advantage that patterning can be performed by a simple method without the need for post-baking after development, a mask for pattern exposure, and an apparatus for scanning exposure.

図7は、有機EL構造体形成工程の1例を示す模式図である。   FIG. 7 is a schematic diagram illustrating an example of an organic EL structure forming process.

有機EL構造体形成工程52は、有機発光層を含む有機層形成工程53と、第二電極形成工程54とを有しており、有機発光層を含む有機層形成工程53では、正孔輸送層および有機発光層を形成する工程を有しており、第二電極形成工程54では、電子注入層および第二電極層を形成する工程を有する。   The organic EL structure forming step 52 includes an organic layer forming step 53 including an organic light emitting layer and a second electrode forming step 54. In the organic layer forming step 53 including an organic light emitting layer, the hole transport layer is formed. And a step of forming an organic light emitting layer, and the second electrode forming step 54 includes a step of forming an electron injection layer and a second electrode layer.

有機発光層を含む有機層形成工程53は、帯状の基材を供給する供給部301と、帯状の基材の洗浄表面改質処理部302と、第一塗布・乾燥部303と、第一加熱処理部304と、第二除電処理部305と、第二塗布・乾燥部306とを有している。   The organic layer forming step 53 including an organic light emitting layer includes a supply unit 301 for supplying a strip-shaped substrate, a cleaning surface modification processing unit 302 for the strip-shaped substrate, a first application / drying unit 303, and a first heating. A processing unit 304, a second static elimination processing unit 305, and a second application / drying unit 306 are included.

供給部301では、帯状の基材上に第一電極が形成された帯状の基材301bが巻き芯に巻き取られロール状基材301aとして供給されるようになっている。   In the supply part 301, the strip | belt-shaped base material 301b in which the 1st electrode was formed on the strip | belt-shaped base material is wound up by the winding core, and is supplied as the roll-shaped base material 301a.

洗浄表面改質処理部302は、正孔輸送層形成用塗布液を塗布する前に供給部301から送られてきた帯状の基材301b上の第一電極の表面を洗浄改質する洗浄表面改質処理手段302aと、第一除電処理手段302bとを有している。   The cleaning surface modification processing unit 302 cleans and modifies the surface of the first electrode on the strip-shaped substrate 301b sent from the supply unit 301 before applying the hole transport layer forming coating solution. Quality processing means 302a and first charge removal processing means 302b.

第一塗布・乾燥部303は、帯状の基材301bを保持するバックアップロール303aと、バックアップロール303aに保持された帯状の基材301bに正孔輸送層形成用塗布液を第一電極取り出し部の一部を除いて塗布する第一湿式塗布機303bと、帯状の基材301b上の第一電極の上に形成された有機発光層の溶媒を除去する、第一乾燥装置303cとを有している。304は第一加熱処理部を示す。   The first coating / drying unit 303 includes a backup roll 303a that holds the belt-shaped substrate 301b, and a coating liquid for forming a hole transport layer on the belt-shaped substrate 301b that is held by the backup roll 303a. A first wet coater 303b that coats a portion of the substrate, and a first drying device 303c that removes the solvent of the organic light-emitting layer formed on the first electrode on the belt-like substrate 301b. Yes. Reference numeral 304 denotes a first heat treatment unit.

305は、形成された正孔輸送層の除電を行う第二除電処理手段を示す。   Reference numeral 305 denotes a second charge removal processing means for removing charge from the formed hole transport layer.

第二塗布・乾燥部306は、第一アキュームレータ部306aと、パターン塗布部306bと、乾燥部306cと、加熱処理部306dと、除電処理部306eと、第二アキュームレータ部306fと、回収部306gとを有している。   The second application / drying unit 306 includes a first accumulator unit 306a, a pattern application unit 306b, a drying unit 306c, a heat processing unit 306d, a charge removal processing unit 306e, a second accumulator unit 306f, and a recovery unit 306g. have.

第一アキュームレータ部306aは、ロール306a1aが上下方向(図中の矢印方向)に移動することで、第一塗布・乾燥部303と、第二塗布・乾燥部306との搬送速度の差を調整するために配設されており、速度差に応じてロール306a1aの増設が可能となっている。   The first accumulator unit 306a adjusts the difference in transport speed between the first coating / drying unit 303 and the second coating / drying unit 306 by moving the roll 306a1a in the vertical direction (the arrow direction in the drawing). The roll 306a1a can be added according to the speed difference.

パターン塗布部306bは正孔輸送層が形成された帯状の基材の保持台306b2と、正孔輸送層上に第一電極のパターンに合わせ発光層形成用塗布液を大気圧条件下でパターン塗布する湿式パターン形成塗布装置306b1とを有している。   The pattern coating unit 306b applies a pattern of applying a coating solution for forming a light emitting layer on the hole transport layer in accordance with the pattern of the first electrode on the hole transport layer under atmospheric pressure conditions. A wet pattern forming and coating apparatus 306b1.

発光層乾燥部306cは発光層中の溶媒を大気圧条件下で除去する機能を有しており、第一乾燥装置303cと同じ構成を有している。保持台306b2としては帯状の基材が平面性を保ち固定出来れば特に限定はなく、例えば吸着方式で固定することが好ましい。   The light emitting layer drying unit 306c has a function of removing the solvent in the light emitting layer under atmospheric pressure conditions, and has the same configuration as the first drying device 303c. The holding base 306b2 is not particularly limited as long as the belt-like base material can be fixed while maintaining flatness. For example, the holding base 306b2 is preferably fixed by an adsorption method.

パターン塗布部306bで湿式パターン形成塗布装置306b1により塗布が行われる時は、前の工程から搬送されてくる正孔輸送層が形成された帯状の基材のアライメントマーク(図示せず)をパターン塗布部306bに配設されたアライメント検出手段の検出機により検出し、正孔輸送層が形成された帯状の基材を保持台上に吸着固定し、アライメントマークに従って湿式パターン形成塗布装置306b1の位置合わせが行われ、パターン化されて形成された第一電極の引き出し部の一部を除いて第一電極のパターンに合わせて、発光層形成用塗布液が電極上に塗布される。   When coating is performed by the wet pattern formation coating apparatus 306b1 in the pattern coating unit 306b, pattern alignment is applied to a belt-shaped substrate alignment mark (not shown) on which a hole transport layer transported from the previous step is formed. The belt-like base material on which the hole transport layer is formed is adsorbed and fixed on the holding table, and the wet pattern formation coating device 306b1 is aligned according to the alignment mark. The light emitting layer forming coating solution is applied onto the electrode in accordance with the pattern of the first electrode except for a part of the lead portion of the first electrode formed by patterning.

除電処理部306eは、発光層が形成された帯状の基材の除電を行い、次工程での静電気に伴う故障を防止する機能を有し、必要に応じ配設することが可能となっている。   The neutralization processing unit 306e has a function of performing neutralization of the band-shaped base material on which the light emitting layer is formed and preventing a failure due to static electricity in the next process, and can be disposed as necessary. .

除電処理部306eは第一塗布・乾燥部303に使用した除電処理手段と同じ除電処理手段を使用することが好ましい。   The neutralization processing unit 306e preferably uses the same neutralization processing unit as the neutralization processing unit used in the first application / drying unit 303.

第二アキュームレータ部306fは、ロール306f1が上下方向(図中の矢印方向)に移動することで、パターン塗布・乾燥部306と回収部306gとの搬送速度の差を調整するために配設されており、速度差に応じてロールの増設が可能となっている。   The second accumulator unit 306f is arranged to adjust the difference in conveyance speed between the pattern application / drying unit 306 and the collection unit 306g by moving the roll 306f1 in the vertical direction (the arrow direction in the figure). The rolls can be added according to the speed difference.

第二アキュームレータ部306fは、第一アキュームレータ部306aと同じ構成をしている。尚、回収部306gでは、発光層が形成された帯状の基材301fを室温まで冷却装置(不図示)で冷却した後、巻き取ることが好ましい。   The second accumulator unit 306f has the same configuration as the first accumulator unit 306a. In the recovery part 306g, it is preferable that the strip-shaped base material 301f on which the light emitting layer is formed is cooled to room temperature with a cooling device (not shown) and then wound up.

第二電極形成工程54は、材料の供給部401と、電子注入層形成部402と、第二電極形成部403と、第二巻き取り部404とを有しており、供給部401から回収部404迄が減圧条件下で連続的に行われる様になっている。   The second electrode forming step 54 includes a material supply unit 401, an electron injection layer forming unit 402, a second electrode forming unit 403, and a second winding unit 404. Up to 404 is performed continuously under reduced pressure conditions.

供給部401では、有機層(有機発光層も含む)形成工程53で作製され、帯状の基材上に、第一電極と、正孔輸送層と、有機発光層とが形成された、巻き芯に巻き取られたロール状の帯状の基材301fが供給される。   In the supply section 401, a winding core produced in the organic layer (including the organic light emitting layer) forming step 53 and having a first electrode, a hole transport layer, and an organic light emitting layer formed on a belt-like substrate. The roll-shaped strip-shaped base material 301f wound up is supplied.

供給部401から巻き出された有機発光層を有する帯状の基材301fの有機発光層上に電子注入層形成部402で電子注入層301gが形成される。402aは蒸着装置を示し、402bは蒸発源容器を示す。   An electron injection layer 301g is formed by the electron injection layer forming unit 402 on the organic light emitting layer of the band-shaped substrate 301f having the organic light emitting layer unwound from the supply unit 401. Reference numeral 402a denotes a vapor deposition apparatus, and 402b denotes an evaporation source container.

第二電極形成部403では、電子注入層形成部402で形成された電子注入層301g上に第二電極301hが形成される。403aは蒸着装置を示し、403bは蒸発源容器を示す。第二電極形成部403で第二電極301hが第一電極と直交する状態で形成された帯状の基材301iは回収部404で巻き芯に巻き取られロール状の帯状の基材C301jとなる。   In the second electrode formation part 403, the second electrode 301h is formed on the electron injection layer 301g formed in the electron injection layer formation part 402. Reference numeral 403a denotes a vapor deposition apparatus, and reference numeral 403b denotes an evaporation source container. The strip-shaped base material 301i formed by the second electrode forming portion 403 in a state where the second electrode 301h is orthogonal to the first electrode is wound around the winding core by the collecting portion 404 to become a roll-shaped strip-shaped base material C301j.

有機エレクトロニクス構造体は、上記のように形成されるが、本発明においては、有機層(有機EL素子の場合は有機発光層を含む)が、下記のようにパターニングされて形成されることが好ましい。   The organic electronics structure is formed as described above. In the present invention, the organic layer (including an organic light emitting layer in the case of an organic EL element) is preferably formed by patterning as described below. .

即ち、有機層を第一電極上に連続して作製した後、第二電極を配設する前に各々の有機エレクトロニクス素子構造体の間の有機層を除去する工程を有する態様が好ましい態様である。   That is, a mode in which an organic layer is continuously formed on the first electrode and then a step of removing the organic layer between each organic electronics element structure is provided before the second electrode is disposed is a preferable mode. .

有機層に含まれるリン光性(または蛍光性)有機化合物を含む非常に薄い薄膜(有機発光層)の形成方法としては、蒸着等でもよいが、ウェットプロセスが、大気圧下で形成することができるため、操作が簡便でありコスト的な観点からも好ましい。   As a method for forming a very thin thin film (organic light emitting layer) containing a phosphorescent (or fluorescent) organic compound contained in the organic layer, vapor deposition or the like may be used, but the wet process may be formed under atmospheric pressure. Therefore, the operation is simple and preferable from the viewpoint of cost.

また、塗布溶液を調製して薄膜にするため、大面積に対してもムラができ難いという特徴があり、コスト、製造技術という面で非常にメリットがある。特に、照明用途にはコスト、製造技術という面で非常にメリットがあると言える。   In addition, since the coating solution is prepared into a thin film, there is a feature that unevenness is difficult to be generated even in a large area, which is very advantageous in terms of cost and manufacturing technology. In particular, it can be said that lighting applications are very advantageous in terms of cost and manufacturing technology.

また、ウェットプロセスでの有機層の精密且つ迅速なパターニング方法として、連続して形成した有機層をパターン状に拭き取り除去する方法やレーザーにより除去する方法が好ましく用いられる。   Further, as a precise and rapid patterning method of the organic layer in the wet process, a method of wiping and removing a continuously formed organic layer in a pattern or a method of removing by a laser is preferably used.

即ち、帯状基板上の有機エレクトロニクス構造体上の連続した有機層(有機発光層を含む)の一部分を溶剤やレーザーにより選択的に連続的に除去し、鮮明にパターニングされた有機層を形成することが好ましい。有機層が多層の場合には、各層毎に除去しても良いし、複数層同時に除去しても良い。   That is, a part of the continuous organic layer (including the organic light emitting layer) on the organic electronic structure on the belt-like substrate is selectively and continuously removed with a solvent or a laser to form a clearly patterned organic layer. Is preferred. When the organic layer is a multilayer, it may be removed for each layer or a plurality of layers may be removed simultaneously.

有機層を除去する工程を経た場合には、この工程の後に、上記のように第二電極を設ける工程を経る。   When the step of removing the organic layer is performed, the step of providing the second electrode as described above is performed after this step.

また、別の方法として、第二電極を形成した後に有機層を除去する方法も考えられる。   Another possible method is to remove the organic layer after forming the second electrode.

図8は、封止層形成工程55および断裁工程56の1例を示す模式図である。   FIG. 8 is a schematic diagram illustrating an example of the sealing layer forming step 55 and the cutting step 56.

封止層形成工程55は、貼合工程57、硬化工程58を有する。   The sealing layer forming process 55 includes a bonding process 57 and a curing process 58.

貼合工程57では、接着剤層16Aを有する封止部材16Bを帯状の基材11にローラにより圧着して有機EL構造体上に封止部材16Bからなる封止層16が形成される。   In the bonding step 57, the sealing member 16B having the adhesive layer 16A is pressure-bonded to the belt-like substrate 11 with a roller to form the sealing layer 16 made of the sealing member 16B on the organic EL structure.

この工程で、封止部材で覆われない、電極引き出し部の一部(例えば、図2の12b、14b)が形成される。   In this step, a part of the electrode lead portion (for example, 12b and 14b in FIG. 2) that is not covered with the sealing member is formed.

接着剤層に用いられる接着剤としては、エポキシ系、アクリル系、アクリルウレタン系等の加熱手段による加熱により硬化する熱硬化型接着剤、紫外線照射手段の紫外線照射により硬化する紫外線硬化型接着剤を用いることができるが、熱硬化型接着剤が好ましく用いられる。   As the adhesive used for the adhesive layer, a thermosetting adhesive that is cured by heating by an epoxy-based, acrylic-based, acrylic urethane-based heating means, or an ultraviolet curable adhesive that is cured by ultraviolet irradiation of an ultraviolet irradiation means. Although it can be used, a thermosetting adhesive is preferably used.

硬化工程58では、加熱手段58Aでの加熱により接着剤層16Aが硬化し、封止層16は有機EL構造体の上面に固着される。尚、接着剤が紫外線硬化を利用したタイプのときには、UV光を照射して硬化させる。   In the curing step 58, the adhesive layer 16A is cured by heating with the heating means 58A, and the sealing layer 16 is fixed to the upper surface of the organic EL structure. When the adhesive is of a type using ultraviolet curing, it is cured by irradiating with UV light.

硬化工程58は、図5に示すように後述する断裁工程の前にあってもよいし、断裁工程の後にあってもよいが、製造の効率性などの面から断裁工程の後にあることが、好ましい態様である。   The curing step 58 may be before the cutting step described later as shown in FIG. 5 or may be after the cutting step, but after the cutting step in terms of manufacturing efficiency, This is a preferred embodiment.

断裁工程56は、封止層16が形成された帯状の基材を所定の位置で切断し、各々の有機EL素子を得る工程である。   The cutting step 56 is a step of obtaining each organic EL element by cutting the belt-like base material on which the sealing layer 16 is formed at a predetermined position.

断裁工程56は断裁手段61Aを有し、帯状基板11は断裁工程56にて断裁手段61Aより断裁され有機EL素子が得られる。   The cutting step 56 includes a cutting unit 61A, and the strip substrate 11 is cut by the cutting unit 61A in the cutting step 56 to obtain an organic EL element.

得られた有機EL素子は、基材上に第一電極、正孔輸送層、有機発光層、第二電極層、電子注入層、封止層を有している。   The obtained organic EL element has a 1st electrode, a positive hole transport layer, an organic light emitting layer, a 2nd electrode layer, an electron injection layer, and a sealing layer on a base material.

断裁手段61A、上下動するギロチンカッターでもよいし、振動を抑えた円形の回転カッターを利用してもよい。   The cutting means 61A, a guillotine cutter that moves up and down, or a circular rotary cutter that suppresses vibration may be used.

断裁する位置は、図2に示す巾手方向に断裁する断裁線Aに沿って行われる。この場合、断裁線Aと、第一電極および第二電極の引き出し部12b、14bとの距離tは、1mm以上であることが接着層のガスバリア性や電極のショート防止の面から、好ましい。断裁線に沿って、断裁されたものが、個々の有機EL素子である。   The cutting position is performed along a cutting line A that cuts in the width direction shown in FIG. In this case, the distance t between the cutting line A and the lead portions 12b and 14b of the first electrode and the second electrode is preferably 1 mm or more from the viewpoint of gas barrier properties of the adhesive layer and prevention of electrode short-circuit. What is cut along the cutting line is each organic EL element.

以下、実施例を挙げて本発明の具体的な効果を示すが、本発明の態様はこれらに限定されない。また、実施例に用いられる化合物の構造式を下記に示す。   Hereinafter, although an example is given and the concrete effect of the present invention is shown, the mode of the present invention is not limited to these. The structural formulas of the compounds used in the examples are shown below.

Figure 2010277755
Figure 2010277755

実施例1
《第一電極が形成された基材No.1の作製》
厚さ100μm、幅200mm、長さ500mのポリエチレンナフタレートフィルム(帝人・デュポン社製フィルム、以下、PENと略記する)に、ガスバリア膜を形成したもの(特開2007−83644号公報の実施例1に記載の方法を参照して形成。)を準備した。
Example 1
<< Substrate No. on which the first electrode is formed Preparation of 1 >>
Example 1 of Japanese Patent Laid-Open No. 2007-83644 in which a gas barrier film is formed on a polyethylene naphthalate film (a film made by Teijin DuPont, hereinafter abbreviated as PEN) having a thickness of 100 μm, a width of 200 mm, and a length of 500 m Prepared with reference to the method described in 1.).

尚、帯状の基材には、予め第一電極を形成する位置を示すためにアライメントマークを設け、5×10−1Paの真空環境条件で厚さ120nmのITO(インジウムチンオキシド)をスパッタリング法により成膜を行い、第1電極付き帯状基材を形成。以下の第一電極形成方法(パターニング方法)により、10mm×10mmの大きさの第一電極を一定間隔に連続的に形成し巻き取った。 In addition, an alignment mark is provided on the belt-like base material in advance to indicate the position where the first electrode is formed, and a 120 nm thick ITO (indium tin oxide) is sputtered under a vacuum environment condition of 5 × 10 −1 Pa. To form a band-shaped substrate with a first electrode. A first electrode having a size of 10 mm × 10 mm was continuously formed at regular intervals and wound up by the following first electrode forming method (patterning method).

(第一電極形成方法(パターニング方法))
公知のスクリーン印刷機を用い、第一電極形成部にレジスト液(関西ペイント:SPR081)をメッシュ325のスクリーン版を用いて20μm厚に印刷し、120℃、20分乾燥した後に、エッチング液(塩化第二銅を含む9.5%塩酸)で常温1分エッチングした後、レジスト剥離液(1%水酸化ナトリウム液)で常温2分レジスト剥離した後、水洗、乾燥し、第一電極を形成した。
(First electrode formation method (patterning method))
Using a known screen printing machine, a resist solution (Kansai Paint: SPR081) is printed on the first electrode forming portion to a thickness of 20 μm using a screen plate of mesh 325, dried at 120 ° C. for 20 minutes, and then an etching solution (salt chloride). After etching at room temperature for 1 minute with 9.5% hydrochloric acid containing cupric), the resist was peeled off at room temperature for 2 minutes with a resist stripping solution (1% sodium hydroxide solution), then washed with water and dried to form the first electrode. .

《第一電極が形成された基材No.2の作製》
基材No.1の作製において、第一電極形成方法に以下の方法を用いた以外は同様にして、第一電極が形成された基材No.2を作製した。
<< Substrate No. on which the first electrode is formed Preparation of 2 >>
Base No. 1 was prepared in the same manner except that the following method was used as the first electrode forming method. 2 was produced.

(第一電極形成方法(パターニング方法))
公知のスクリーン印刷機を用い、第一電極形成部以外にエッチャント液(メルク:HiperEtch04S Type10)をメッシュ325のスクリーン版を用いて20μm厚に印刷し、100℃5分熱エッチングした後、水洗、乾燥し、第一電極を形成した。
(First electrode formation method (patterning method))
Using a known screen printer, an etchant solution (Merck: HiperEtch04S Type 10) is printed to a thickness of 20 μm using a screen plate of mesh 325 in addition to the first electrode forming part, and is thermally etched at 100 ° C. for 5 minutes, then washed with water and dried. The first electrode was formed.

《第一電極が形成された基材No.3の作製》
基材No.1の作製において、第一電極形成方法に公知である下記のフォトリソ法を用いた以外は同様にして、第一電極が形成された基材No.3を作製した。
<< Substrate No. on which the first electrode is formed Preparation of No. 3 >>
Base No. 1 was prepared in the same manner except that the following photolithographic method known as the first electrode forming method was used. 3 was produced.

(公知のフォトリソ法)
基材の第1電極形成面に、ポジ型フォトレジスト(シプレイ・ファーイースト社製の「MICROPOSIT SRC−300A」)を塗布し、マスクを用い、フォトリソ工程にしたがい、仮乾燥、露光、現像、硬化、酸による第1電極のエッチング、レジスト除去を行い、第1電極パターンを形成した。
(Known photolithography method)
A positive photoresist (“MICROPOSIT SRC-300A” manufactured by Shipley Far East) is applied to the first electrode formation surface of the base material, and a mask is used to perform temporary drying, exposure, development, and curing according to a photolithography process. The first electrode pattern was formed by etching the first electrode with an acid and removing the resist.

《第一電極が形成された基材No.4の作製》
基材No.1の作製において、スクリーン版にメッシュ250を用いた以外は同様にして第一電極が形成された基材No.4を作製した。
<< Substrate No. on which the first electrode is formed Preparation of No. 4 >>
Base No. 1 was prepared in the same manner except that the mesh 250 was used for the screen plate. 4 was produced.

《第一電極が形成された基材No.5の作製》
基材No.2の作製において、スクリーン版にメッシュ250を用いた以外は同様にして第一電極が形成された基材No.5を作製した。
<< Substrate No. on which the first electrode is formed Preparation of No. 5 >>
Base No. 2 was prepared in the same manner except that the mesh 250 was used for the screen plate. 5 was produced.

《第一電極が形成された基材No.6の作製》
基材No.1の作製において、スクリーン版にメッシュ200を用いた以外は同様にして第一電極が形成された基材No.6を作製した。
<< Substrate No. on which the first electrode is formed Preparation of No. 6 >>
Base No. 1 was prepared in the same manner except that the mesh 200 was used for the screen plate. 6 was produced.

《第一電極が形成された基材No.7の作製》
基材No.2の作製において、スクリーン版にメッシュ200を用いた以外は同様にして第一電極が形成された基材No.7を作製した。
<< Substrate No. on which the first electrode is formed 7 Preparation >>
Base No. 2 was prepared in the same manner except that the mesh 200 was used for the screen plate. 7 was produced.

得られた、第一電極が形成された基材No.1〜No.7の各々の第一電極のエッジ部の直線度(直線性ともいう)や該エッジ部の角度(θ度)については、下記に記載の方法を用いて測定した。   The obtained base material No. 1 on which the first electrode was formed was obtained. 1-No. The linearity (also referred to as linearity) of the edge part of each first electrode 7 and the angle (θ degree) of the edge part were measured using the method described below.

(第一電極のエッジ部の直線度(直線性)の評価)
上記基材No.1〜7の第一電極のエッジ部の直線度の評価は、各々同じ第一電極付き基材を用いて、図9に示される形状の角度を変えた形状を有する第1電極(10mm×長さ150mmのパターンを形成し)を作製し、巾方向を10箇所測定した時の最大値と最小値の差をエッジ部の直線度(直線性)の指標として評価した。また、本発明では、第1電極のエッジ部の直線度が100μm以下であることが好ましい。
(Evaluation of linearity (linearity) of edge part of first electrode)
The base material No. Evaluation of the linearity of the edge part of the 1st 1-7 electrode is the 1st electrode (10 mm x length) which has the shape which changed the angle of the shape shown by FIG. A pattern having a thickness of 150 mm was formed), and the difference between the maximum value and the minimum value when the width direction was measured at 10 locations was evaluated as an index of the linearity (linearity) of the edge portion. In the present invention, the linearity of the edge portion of the first electrode is preferably 100 μm or less.

(第一電極のエッジ部の角度(θ度)の測定)
次いで、上記基材No.1〜7の各々の第一電極のエッジ断面の傾斜面で角度を測り、エッジ部形状の指標として評価した。
(Measurement of the edge angle (θ degrees) of the first electrode)
Subsequently, the base material No. The angle was measured on the inclined surface of the edge cross section of each of the first electrodes 1 to 7 and evaluated as an index of the edge portion shape.

図9は、第一電極のエッジ部が傾斜した面形状の場合の拡大概略図を示す。図中、201cはパターニングにより形成された傾斜面を示す。   FIG. 9 shows an enlarged schematic diagram in the case where the edge portion of the first electrode has an inclined surface shape. In the figure, 201c indicates an inclined surface formed by patterning.

θは第1電極201の平面201a(有機EL素子を形成した場合は、第2電極と対向する面)を基準とした時の、傾斜面201cの角度を示す。   θ represents the angle of the inclined surface 201c with respect to the plane 201a of the first electrode 201 (the surface facing the second electrode when an organic EL element is formed).

角度θは、リーク電流の発生を効果的に防止する観点から、0度〜80度の範囲の値をとることが好ましく、更に好ましくは、本発明では、30度〜75度の範囲に調整されることが好ましい。   The angle θ is preferably in the range of 0 to 80 degrees from the viewpoint of effectively preventing the occurrence of leakage current, and more preferably adjusted in the range of 30 to 75 degrees in the present invention. It is preferable.

上記で作製した第1電極が形成された基材No.1〜7の各々第1電極のエッジ部の直線度(直線性)及びエッジ部の角度(θ度)については、後述する有機EL素子101〜107の評価結果のところに併せて示す。   Substrate No. on which the first electrode produced above was formed. The linearity (linearity) and the edge angle (θ degrees) of the edge portions of the first electrodes 1 to 7 are shown together with the evaluation results of the organic EL elements 101 to 107 described later.

《有機EL素子の形成》
準備した各第一電極付き基材No.1〜7上に、以下に示す方法で第一正孔輸送層、第二正孔輸送層、有機発光層、電子輸送層、陰極バッファ層(電子注入層)、第二電極、封止部材を順次形成し有機EL素子101〜107を各々作製した。
<< Formation of organic EL elements >>
Each of the prepared base materials with the first electrode No. 1-7 on the first hole transport layer, the second hole transport layer, the organic light emitting layer, the electron transport layer, the cathode buffer layer (electron injection layer), the second electrode, and the sealing member by the method shown below. The organic EL elements 101 to 107 were respectively formed in order.

(第一正孔輸送層形成)
ポリエチレンジオキシチオフェン・ポリスチレンスルホネート(PEDOT/PSS、Bayer社製 Bytron P AI 4083)を純水で65%、メタノール5%で希釈した溶液を第一正孔輸送層形成用塗布液として、PENの上全面(但し、両端の10mmは除く)に、エクストルージョン塗布機を使用し乾燥後の厚みが30nmになるように塗布した。塗布後、乾燥・加熱処理を行い、第一正孔輸送層を形成した。
(First hole transport layer formation)
A solution obtained by diluting polyethylene dioxythiophene / polystyrene sulfonate (PEDOT / PSS, Baytron P AI 4083 manufactured by Bayer) with pure water at 65% and methanol at 5% is used as a coating solution for forming the first hole transport layer. The entire surface (excluding 10 mm at both ends) was applied using an extrusion coater so that the thickness after drying was 30 nm. After coating, drying and heat treatment were performed to form a first hole transport layer.

(塗布条件)
第一正孔輸送層形成用塗布液の塗布条件は、温度は25℃、露点温度−20℃以下のNガス環境の大気圧下で、且つ、清浄度クラス5以下(JIS B 9920に規定)で行った。
(Application conditions)
The coating conditions for the coating solution for forming the first hole transport layer are as follows: the temperature is 25 ° C., the dew point is −20 ° C. or less in an N 2 gas environment at atmospheric pressure, and the cleanliness class is 5 or less (as defined in JIS B 9920). )

(第一正孔輸送層のパターン化:除去工程1)
第一正孔輸送層が形成された基材に、マイクロ波(2.45GHz)を照射して第一電極を熱パターンとしてその位置を検出して、これを位置決めマークとして用い、第一電極の取り出し電極部分の上および第一電極の周囲の不要の部分を、溶剤により拭き取り除去する方法やレーザーにより除去する方法など公知のパターニング技術により除去した。
(Pattern of the first hole transport layer: removal step 1)
The substrate on which the first hole transport layer is formed is irradiated with microwaves (2.45 GHz) to detect the position of the first electrode as a thermal pattern, and this is used as a positioning mark. Unnecessary portions on the extraction electrode portion and around the first electrode were removed by a known patterning technique such as a method of wiping off with a solvent or a method of removing with a laser.

次いで、以下の通り、第二正孔輸送層、有機発光層、電子輸送層を順次、エクストルージョン塗布機を使用し塗布、乾燥、巻き取りを繰り返すことで形成した。搬送速度は、3m/分とした。   Next, as described below, the second hole transport layer, the organic light emitting layer, and the electron transport layer were sequentially formed by repeating coating, drying, and winding using an extrusion coating machine. The conveyance speed was 3 m / min.

(第二正孔輸送層)
窒素雰囲気下で、50mgの正孔輸送材料1を10mlのトルエンに溶解した溶液をエクストルージョン塗布法により製膜した。乾燥後、窒素雰囲気下、180秒間紫外光を照射し、光重合・架橋を行い、膜厚約20nmの第二正孔輸送層を形成した。
(Second hole transport layer)
Under a nitrogen atmosphere, a solution of 50 mg of the hole transport material 1 dissolved in 10 ml of toluene was formed into a film by an extrusion coating method. After drying, ultraviolet light was irradiated for 180 seconds in a nitrogen atmosphere to carry out photopolymerization and crosslinking to form a second hole transport layer having a thickness of about 20 nm.

(有機発光層)
第二正孔輸送層上に、PVK、ドーパント4をそれぞれ1質量%、0.1質量%含むトルエン溶液をエクストルージョン塗布法により製膜した。120℃で乾燥し、膜厚約50nmの有機発光層とした。
(Organic light emitting layer)
A toluene solution containing 1% by mass and 0.1% by mass of PVK and dopant 4, respectively, was formed on the second hole transport layer by an extrusion coating method. It dried at 120 degreeC and was set as the organic light emitting layer with a film thickness of about 50 nm.

(電子輸送層)
発光層上に、0.5質量%の電子輸送材料1を含有する1−ブタノール溶液を同様にエクストルージョン塗布法により製膜した。60℃で乾燥し、膜厚約15nmの電子輸送層とした。
(Electron transport layer)
A 1-butanol solution containing 0.5% by mass of the electron transport material 1 was similarly formed on the light emitting layer by an extrusion coating method. It dried at 60 degreeC and was set as the electron carrying layer with a film thickness of about 15 nm.

塗布条件は、同様に、いずれも温度は25℃、露点温度−20℃以下のNガス環境、大気圧下で、且つ清浄度クラス5以下(JIS B 9920)で行った。 Similarly, the coating conditions were as follows: the temperature was 25 ° C., the N 2 gas environment having a dew point temperature of −20 ° C. or lower, the atmospheric pressure, and the cleanliness class 5 or lower (JIS B 9920).

(有機層(有機発光層)のパターン化:除去工程2)
巻き取った前記、第一正孔輸送層が形成された基材(PEN)を供給して、PEN上に形成された第一電極パターンを位置決めマークとして、マイクロ波センサを用いて、位置決めを行い、第一電極の取り出し電極部分の上および第一電極(第一正孔輸送層)の周囲の不要の部分を、溶剤により拭き取り除去する方法やレーザーにより除去する方法など公知のパターニング技術により除去した。
(Patterning of organic layer (organic light emitting layer): removal step 2)
The wound base material (PEN) on which the first hole transport layer is formed is supplied, and positioning is performed using a microwave sensor using the first electrode pattern formed on the PEN as a positioning mark. In addition, unnecessary portions on the extraction electrode portion of the first electrode and around the first electrode (first hole transport layer) were removed by a known patterning technique such as a method of wiping off with a solvent or a method of removing with a laser. .

次いで、以下に示す条件で前記有機層の上に順次陰極バッファ層(電子注入層)、第二電極、更に接着剤付き封止部材の貼合により封止層を形成し、断裁し更に熱処理を行い、有機EL素子を作製した。   Next, a cathode buffer layer (electron injection layer), a second electrode, and a sealing member with an adhesive are sequentially formed on the organic layer under the following conditions to form a sealing layer, which is cut and further subjected to heat treatment. Then, an organic EL element was produced.

(陰極バッファ層(電子注入層)の形成)
パターン化された有機層が形成されたロール状のPENに付けられた陽極の位置に従って電子輸送層の上および第一電極の引き出し部を除いた部分に蒸着装置で5×10−4Paの真空環境条件にてLiFを用い、マスクパターン蒸着成膜して、厚さ0.5nmの陰極バッファ層(電子注入層)を積層した。
(Formation of cathode buffer layer (electron injection layer))
According to the position of the anode attached to the roll-shaped PEN on which the patterned organic layer is formed, a vacuum of 5 × 10 −4 Pa is applied on the electron transport layer and a portion excluding the lead portion of the first electrode by a vapor deposition apparatus. A mask pattern deposition film was formed using LiF under environmental conditions, and a cathode buffer layer (electron injection layer) having a thickness of 0.5 nm was laminated.

(第二電極の形成)
引き続き、同様に陰極バッファ層(電子注入層)上に第一電極の大きさに合わせ、第一電極の引き出し部と反対側に第二電極の引き出し部が配置されるように、5×10−4Paの真空下にてアルミニウムを使用し蒸着法にてマスクパターン成膜し、厚さ100nmのアルミニウム層からなる第二電極を積層し有機エレクトロニクス構造体(有機EL構造体)を形成した。
(Formation of second electrode)
Subsequently, likewise according to the size of the first electrode on the cathode buffer layer (electron injection layer), as the lead portions of the second electrode is disposed on the side opposite to the lead portion of the first electrode, 5 × 10 - A mask pattern was formed by vapor deposition using aluminum under a vacuum of 4 Pa, and a second electrode made of an aluminum layer having a thickness of 100 nm was laminated to form an organic electronics structure (organic EL structure).

(封止層形成(封止部材の貼合))
次いで、有機エレクトロニクス構造体を有する帯状の基材に付けられたアライメントマークを検出し、アライメントマークの位置に従って第一電極および第二電極の引き出し部の一部を除いて、図2に示すように接着剤層を有する帯状封止部材16を貼合した。
(Sealing layer formation (bonding of sealing members))
Next, the alignment mark attached to the band-shaped base material having the organic electronics structure is detected, and as shown in FIG. 2, except for a part of the lead portion of the first electrode and the second electrode according to the position of the alignment mark. A band-shaped sealing member 16 having an adhesive layer was bonded.

帯状封止部材16Aの貼合には、図6に示す装置を用い、帯状封止部材としては、PET50μmにアルミ箔30μmバリア層をラミネートしたフィルムを用いた。   For the bonding of the strip-shaped sealing member 16A, an apparatus shown in FIG. 6 was used, and as the strip-shaped sealing member, a film obtained by laminating a barrier layer of aluminum foil 30 μm on PET 50 μm was used.

また、接着剤層16Bの接着剤には、メルティングポイント120℃の熱硬化型接着剤を用い、層厚は30μmとした。   Further, a thermosetting adhesive having a melting point of 120 ° C. was used as the adhesive for the adhesive layer 16B, and the layer thickness was 30 μm.

(断裁)
次いで、作製した複数の有機EL素子が連続的に繋がった状態のものを個別の有機EL素子の大きさに、アライメントマークを検出し、アライメントマークの位置に従って断裁して、個々の有機EL素子1を作製した。
(Cutting)
Next, in a state where a plurality of organic EL elements that are produced are continuously connected, the alignment mark is detected in the size of the individual organic EL element, and cut according to the position of the alignment mark. Was made.

作製した有機EL101〜107について、リーク電流特性を以下に示す試験方法により評価した。   About the produced organic EL101-107, the leakage current characteristic was evaluated with the test method shown below.

(リーク電流特性の評価方法)
定電圧電源を用いて、逆方向の電圧(逆バイアス)5Vを5秒間印加し、その時素子に流れる電流を測定した。最大電流値をリーク電流とした。また、評価は下記のランク評価を行った。
(Evaluation method of leakage current characteristics)
Using a constant voltage power source, a reverse voltage (reverse bias) of 5 V was applied for 5 seconds, and the current flowing through the device at that time was measured. The maximum current value was taken as the leakage current. Moreover, the following rank evaluation was performed for evaluation.

リーク電流の評価ランク
◎:最大電流値が1×10−8A未満
○:最大電流値が1×10−8A以上、1×10−6A未満
△:最大電流値が1×10−6A以上、1×10−4A未満
×:最大電流値が1×10−4A以上
有機EL素子No.101〜107について得られた結果を以下に示す。
Evaluation rank of leakage current A: Maximum current value is less than 1 × 10 −8 A ○: Maximum current value is 1 × 10 −8 A or more and less than 1 × 10 −6 A Δ: Maximum current value is 1 × 10 −6 A or more and less than 1 × 10 −4 A ×: The maximum current value is 1 × 10 −4 A or more. The results obtained for 101-107 are shown below.

有機EL 基材 直線性 エッジ部形状 リーク 備考
素子No. No. (μm) (度) 電流
101 1 50 45 ◎ 本発明
102 2 75 35 ○ 本発明
103 3 10 90 × 比較例
104 4 75 55 ○ 本発明
105 5 100 40 ○ 本発明
106 6 125 60 △ 本発明
107 7 150 50 △ 本発明
上記の結果から、本発明の有機EL素子の作製方法は、フォトリソで形成された第一電極を用いたものに比べ、リーク電流が少なくことが分かる。
Organic EL substrate Linearity Edge shape Leak Remarks Element No. No. (Μm) (degree) Current 101 1 50 45 ◎ Present invention 102 2 75 35 ○ Present invention 103 3 10 90 × Comparative example 104 4 75 55 ○ Present invention 105 5 100 40 ○ Present invention 106 6 125 60 Δ Present invention 107 7 150 50 Δ Present Invention From the above results, it can be seen that the method for producing an organic EL element of the present invention has less leakage current than that using the first electrode formed by photolithography.

これは、フォトリソの場合のエッジが直角になっているのに対して、本発明のエッジは面取りされた形状になっており、エッジ部にバリが形成しにくいため、リーク電流が少ないと判断する。   This is because the edge in the case of photolithography is a right angle, whereas the edge of the present invention has a chamfered shape, and it is difficult to form burrs at the edge portion, so it is determined that there is little leakage current. .

また、第一電極のエッジ直線性が悪くなると、リーク電流の大きくなることが分かる。   It can also be seen that the leakage current increases when the edge linearity of the first electrode deteriorates.

これは、エッジ直線性が悪いとエッジ部の形状が不安定になり、エッジ部の面取りが小さい部分でバリが形成されると判断した。   This is because if the edge linearity is poor, the shape of the edge portion becomes unstable, and burrs are formed in the portion where the chamfering of the edge portion is small.

1 ロール
2 ロータリースクリーン印刷機
3 加熱装置
4 巻き取りロール
10 有機EL素子
11 基材
12 第一電極
13 有機層(有機発光層を含む)
14 第二電極
15 接着層
16 封止層
16A 接着剤層
16B 帯状封止部材
20 スクリーン印刷機
21、22 アキューム機構
51 第一電極形成工程
52 有機EL構造体形成工程
53 有機層形成工程
55 封止層形成工程
56 断裁工程
A 断裁線
S 透明導電膜が形成された可撓性の帯状の基板
t 断裁線Aと第1電極または第2電極の引き出し部との距離
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Roll 2 Rotary screen printing machine 3 Heating apparatus 4 Winding roll 10 Organic EL element 11 Base material 12 1st electrode 13 Organic layer (An organic light emitting layer is included.)
14 Second electrode 15 Adhesive layer 16 Sealing layer 16A Adhesive layer 16B Band-shaped sealing member 20 Screen printer 21, 22 Accumulation mechanism 51 First electrode forming step 52 Organic EL structure forming step 53 Organic layer forming step 55 Sealing Layer forming step 56 Cutting step A Cutting line S Flexible strip-shaped substrate on which a transparent conductive film is formed t Distance between the cutting line A and the lead portion of the first electrode or the second electrode

Claims (6)

基板上にパターニング配設された第一電極、該第一電極上に配設された有機発光層を含む有機層および該有機層上に配設された第二電極からなる有機エレクトロルミネッセンス素子の作製方法において、
前記基板上に前記第一電極の形成材料を設ける工程、次いで、レジスト液またはエッチャント液の印刷を用いたパターニングにより前記第一電極が形成される工程を含むことを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス素子の作製方法。
Fabrication of an organic electroluminescence device comprising a first electrode patterned on a substrate, an organic layer including an organic light emitting layer disposed on the first electrode, and a second electrode disposed on the organic layer In the method
An organic electroluminescence element comprising: a step of providing a material for forming the first electrode on the substrate; and a step of forming the first electrode by patterning using printing of a resist solution or an etchant solution. Manufacturing method.
前記基板が可撓性の帯状の基板であることを特徴とする請求項1に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子の作製方法。   The method for manufacturing an organic electroluminescent element according to claim 1, wherein the substrate is a flexible strip-shaped substrate. 前記印刷がスクリーン印刷であることを特徴とする請求項1または2に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子の作製方法。   The method for producing an organic electroluminescence element according to claim 1, wherein the printing is screen printing. 前記第一電極のエッジ部の直線度が100μm以下であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子の作製方法。   The method for producing an organic electroluminescent element according to claim 1, wherein the linearity of the edge portion of the first electrode is 100 μm or less. 前記第一電極のエッジ部の角度θが30度〜75度であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子の作製方法。   5. The method of manufacturing an organic electroluminescent element according to claim 1, wherein an angle θ of the edge portion of the first electrode is 30 degrees to 75 degrees. 請求項1〜5のいずれか1項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子の作製方法で作製されたことを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス素子。   An organic electroluminescent device produced by the method for producing an organic electroluminescent device according to claim 1.
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