JP2010234260A - Gas treatment apparatus - Google Patents

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Yasuhiro Oya
康裕 大矢
Masayuki Iwata
昌之 岩田
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To continue the treatment of treatment object gas while suppressing the generation of abnormal discharge and to prevent untreated gas from remaining. <P>SOLUTION: A high voltage application means 20 is set. The first electrode 8 of a honeycomb structure 4 is connected to the positive voltage supply terminal T1 of the high voltage application means 20, and the second electrode 9 of the honeycomb structure 4 is connected to the negative voltage supply terminal T2 of the high voltage application means 20. Driving pulses PS1 and PS2 are output to integrated circuits IC1 and IC2 for switching by a control part CNT, and a positive voltage +V1 rising in a positive direction from a ground potential to the first electrode 8 and a negative voltage -V2 falling in a negative direction from the ground potential to the second electrode 9 are alternately switched and applied. An abnormal discharge detection part 21 is set, and in the case of detecting the generation of the abnormal discharge between the first electrode 8 and the second electrode 9, the break period of a high voltage to the first electrode 8 and the second electrode 9 is automatically adjusted corresponding to the generation amount of the abnormal discharge. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

この発明は、処理対象ガスに含まれる有害ガスを浄化するガス処理装置に関するものである。   The present invention relates to a gas processing apparatus that purifies harmful gas contained in a gas to be processed.

従来より、排気ガス中で高電圧放電を行ってプラズマ状態を作ることで、排気ガスに含まれる有害ガスの浄化を行う技術が知られている。近年、この技術は、脱臭を目的として、工場の排気を浄化する浄化装置や室内の空気を浄化する空気清浄機に応用されつつある。   2. Description of the Related Art Conventionally, a technique for purifying harmful gas contained in exhaust gas by creating a plasma state by performing high voltage discharge in the exhaust gas is known. In recent years, this technology is being applied to a purification device for purifying factory exhaust and an air purifier for purifying indoor air for the purpose of deodorization.

熱的に非平衡な状態、つまり気体の温度やイオン温度に比べ、電子温度が非常に高い状態のプラズマ(非平衡プラズマ(以下、単にプラズマと言う))は、電子衝突でつくられるイオンやラジカルが常温では起こらない化学反応を促進させるので、有害ガスを効率的に除去あるいは分解することが可能な媒体として有害ガス処理において有用であると考えられている。実用化で肝心なことは、処理時のエネルギーの効率の向上と、プラズマで処理した後に完全に安全な生成物質へと変換されることである。   Plasma that is in a thermally non-equilibrium state, that is, in which the electron temperature is much higher than the temperature of the gas or ion (non-equilibrium plasma (hereinafter simply referred to as plasma)) is the ion or radical produced by electron collision. Promotes a chemical reaction that does not occur at room temperature, and is considered useful in hazardous gas treatment as a medium that can efficiently remove or decompose harmful gases. The key to practical use is to improve the energy efficiency during processing and to convert it into a completely safe product after processing with plasma.

一般に、大気圧でのプラズマは気体放電や電子ビームなどによって生成される。現在において、適用が考えられているものに、窒素酸化物(NOx)、硫黄酸化物(SOx)、フロン、CO2 ,揮発性有機溶剤(VOC)などがある。中でもNOxは車の排ガスなどに含まれているので早急な実用化が必要となっている。 In general, plasma at atmospheric pressure is generated by gas discharge or electron beam. There are nitrogen oxides (NOx), sulfur oxides (SOx), chlorofluorocarbons, CO 2 , volatile organic solvents (VOC), etc. that are currently being considered for application. Above all, NOx is contained in the exhaust gas of a car, so that it needs to be put into practical use immediately.

NOx除去における放電プラズマ(気体放電によって生成されたプラズマ)内の現象は、電子衝突によって1次的に生成されたイオンやラジカルが最初の反応を起こし、その後の反応を通してN2 ,H2 O,NH4 NO3 などの各粒子に変換されて行くものと考えられている。 The phenomenon in discharge plasma (plasma generated by gas discharge) in NOx removal is that ions and radicals generated primarily by electron collision cause an initial reaction, and N 2 , H 2 O, It is thought that it is converted into each particle such as NH 4 NO 3 .

また、有害ガスを例えばアセトアルデヒドやホルムアルデヒドとした場合、この有害ガスをプラズマを通すことによって、CO2 とH2 Oに変換される。この場合、副生成物として、オゾン(O3 )が発生する。 Further, when the harmful gas is, for example, acetaldehyde or formaldehyde, the harmful gas is converted into CO 2 and H 2 O by passing plasma. In this case, ozone (O 3 ) is generated as a by-product.

図14に放電プラズマを利用した従来のガス処理装置の要部を例示する(例えば、特許文献1参照)。同図において、1は処理対象ガス(有害ガスを含む空気)GSが流れるダクト(通風路)であり、ダクト1内には、ダクト1の入口から出口へ向かう方向に沿って放電電極2とアース電極3とが交互に配置され、これら電極2,3間にセルと呼ばれる多数の貫通孔4aを有するハニカム構造体4が配設されている。貫通孔4aはハニカム構造体4に蜂の巣状に設けられている。5は高電圧電源である。なお、ハニカム構造体4はセラミックス等の絶縁体で形成されており、特許文献2にもその使用例がある。   FIG. 14 illustrates a main part of a conventional gas processing apparatus using discharge plasma (see, for example, Patent Document 1). In the figure, reference numeral 1 denotes a duct (ventilation path) through which a gas to be treated (air containing toxic gas) GS flows. Inside the duct 1, the discharge electrode 2 and the earth are connected along the direction from the inlet to the outlet of the duct 1. The electrodes 3 are alternately arranged, and a honeycomb structure 4 having a large number of through holes 4 a called cells is disposed between the electrodes 2 and 3. The through holes 4a are provided in the honeycomb structure 4 in a honeycomb shape. Reference numeral 5 denotes a high voltage power source. The honeycomb structure 4 is formed of an insulator such as ceramics, and Patent Document 2 also has an example of its use.

放電電極2は、金属製メッシュ、極細ワイヤ、または針状体等で形成されている。各放電電極2は、導線6によって高電圧電源5の+極に接続されている。アース電極3は、金属性メッシュ等で形成されている。各アース電極3は、導線7によって高電圧電源5の−極に接続されている。   The discharge electrode 2 is formed of a metal mesh, a fine wire, a needle-like body, or the like. Each discharge electrode 2 is connected to the + pole of the high voltage power supply 5 by a conducting wire 6. The ground electrode 3 is formed of a metallic mesh or the like. Each ground electrode 3 is connected to the negative pole of the high voltage power supply 5 by a conducting wire 7.

このガス処理装置では、処理対象ガスGSをダクト1に流し、放電電極2とアース電極3との間に高電圧電源5からの高電圧(数kV〜数10kV)を印加する。これにより、各ハニカム構造体4の貫通孔4a内にプラズマが発生し、このプラズマ中に生成されるイオンやラジカルによって、処理対象ガスGSに含まれる有害ガスが無害な物質に分解される。   In this gas processing apparatus, the gas GS to be processed is caused to flow through the duct 1, and a high voltage (several kV to several tens kV) from the high voltage power supply 5 is applied between the discharge electrode 2 and the ground electrode 3. Thereby, plasma is generated in the through-holes 4a of the honeycomb structures 4, and harmful gases contained in the processing target gas GS are decomposed into harmless substances by ions and radicals generated in the plasma.

このガス処理装置において、処理対象ガスGS中の水分(湿度)に着目すると、処理対象ガスGSは上流側のハニカム構造体4から下流側のハニカム構造体4に向かって流れて行く過程で、各ハニカム構造体4で発生したプラズマ放電によって処理を受けるが、処理を受ける度に処理対象ガスGS中に含まれる水分が消費されるので、処理対象ガスGSは上流側から下流側にかけて湿度が低下した状態となる。また、ハニカム構造体4の内部のでプラズマの発生状態は処理対象ガスGS中の水分が多いほど活発に行われ、水分が少なくなると抑制される特性がある。   In this gas processing apparatus, when attention is paid to moisture (humidity) in the processing target gas GS, each of the processing target gases GS flows from the upstream side honeycomb structure 4 toward the downstream side honeycomb structure 4 in each process. Although the treatment is performed by the plasma discharge generated in the honeycomb structure 4, the moisture contained in the treatment target gas GS is consumed every time the treatment is received, so that the humidity of the treatment target gas GS decreases from the upstream side to the downstream side. It becomes a state. In addition, the plasma generation state inside the honeycomb structure 4 is more actively performed as the moisture in the gas GS to be processed increases, and has a characteristic of being suppressed when the moisture decreases.

ここで、処理対象ガスGS中の水分が多すぎると、プラズマが過剰に発生し、異常放電を起こすことがある。異常放電を起こすと、ハニカム構造体4自身がダメージを受け、損傷することになる。そこで、異常放電の発生を検知して、高電圧の印加を遮断するようにした構成が特許文献3や4に示されている。   Here, if there is too much moisture in the gas GS to be processed, excessive plasma may be generated, causing abnormal discharge. When abnormal discharge occurs, the honeycomb structure 4 itself is damaged and damaged. Therefore, Patent Documents 3 and 4 show configurations in which the occurrence of abnormal discharge is detected and application of a high voltage is cut off.

特開2000−140562号公報JP 2000-140562 A 特開2001−276561号公報JP 2001-276561 A 特開2008−245739号公報JP 2008-245739 A 特開平9−99254号公報JP-A-9-99254

しかしながら、特許文献3や4に示された構成では、異常放電の発生が検知された場合、高電圧の印加が遮断されてしまうので、プラズマの発生量が0となり、処理対象ガスの処理を継続することができず、未処理のガスが残ってしまうという問題が生じるという問題があった。   However, in the configurations shown in Patent Documents 3 and 4, when the occurrence of abnormal discharge is detected, the application of high voltage is interrupted, so that the amount of plasma generated becomes 0 and the processing of the processing target gas is continued. There is a problem that untreated gas remains and untreated gas remains.

本発明は、このような課題を解決するためになされたもので、その目的とするところは、異常放電の発生を抑えつつ、処理対象ガスの処理を継続し、未処理のガスが残らないようにすることが可能なガス処理装置を提供することにある。   The present invention has been made to solve such a problem, and the object of the present invention is to continue the processing of the gas to be processed while suppressing the occurrence of abnormal discharge so that no untreated gas remains. An object of the present invention is to provide a gas processing apparatus that can be used.

このような目的を達成するために本発明は、通風路内に配置され、通風路内を流れる処理対象ガスが通過する多数の貫通孔を有する多孔体と、この多孔体の外側の一方および他方に配置される第1および第2の電極と、第1の電極と第2の電極との間に高電圧を印加し多孔体の貫通孔にプラズマを発生させる高電圧印加手段と、第1の電極と第2の電極との間に異常放電が発生したことを検知する異常放電検知手段と、この異常放電検知手段によって異常放電の発生が検知された場合、多孔体の貫通孔に発生するプラズマの発生量を減少させるように、高電圧印加手段からの第1の電極と第2の電極との間への高電圧の印加を制御する制御手段とを設けたものである。   In order to achieve such an object, the present invention provides a porous body that has a large number of through-holes that are arranged in a ventilation path and through which a gas to be processed flowing in the ventilation path passes, and one and the other outside the porous body. First and second electrodes disposed on the first electrode, high voltage applying means for applying a high voltage between the first electrode and the second electrode to generate plasma in the through hole of the porous body, An abnormal discharge detecting means for detecting that an abnormal discharge has occurred between the electrode and the second electrode, and plasma generated in the through hole of the porous body when the abnormal discharge is detected by the abnormal discharge detecting means And a control means for controlling the application of a high voltage between the first electrode and the second electrode from the high voltage application means.

この発明によれば、通風路内に多孔体が配置され、この多孔体の外側の一方および他方に第1の電極および第2の電極が配置され、第1の電極と第2の電極との間に高電圧が印加され、多孔体の貫通孔にプラズマが発生する。この高電圧の印加中、第1の電極と第2の電極との間に異常放電が発生すると、制御手段は、多孔体の貫通孔に発生するプラズマの発生量を減少させるように、第1の電極と第2の電極との間への高電圧の印加を制御する。   According to this invention, the porous body is disposed in the ventilation path, the first electrode and the second electrode are disposed on one and the other outside of the porous body, and the first electrode and the second electrode A high voltage is applied between them, and plasma is generated in the through holes of the porous body. When an abnormal discharge occurs between the first electrode and the second electrode during the application of the high voltage, the control means causes the first so as to reduce the amount of plasma generated in the through hole of the porous body. The application of a high voltage between the first electrode and the second electrode is controlled.

また、本発明は、通風路内に間隔を設けて配置され、通風路内を流れる処理対象ガスが通過する多数の貫通孔を有する複数の多孔体と、複数の多孔体のうち処理対象ガスの通過方向の最も上流に配置される多孔体の上流側に配置される上流側電極と、複数の多孔体のうち処理対象ガスの通過方向の最も下流に配置される多孔体の下流側に配置される下流側電極と、上流側電極および下流側電極の一方を第1の電極、他方を第2の電極とし、第1の電極と第2の電極との間に高電圧を印加し多孔体の貫通孔および多孔体間の空間にプラズマを発生させる高電圧印加手段と、第1の電極と第2の電極との間に異常放電が発生したことを検知する異常放電検知手段と、この異常放電検知手段によって異常放電の発生が検知された場合、多孔体の貫通孔および多孔体間の空間に発生するプラズマの発生量を減少させるように、高電圧印加手段からの第1の電極と第2の電極との間への高電圧の印加を制御する制御手段とを設けたものである。   Further, the present invention provides a plurality of porous bodies that are arranged at intervals in the ventilation path and have a large number of through holes through which the processing target gas flowing in the ventilation path passes, and of the processing target gas among the plurality of porous bodies. An upstream electrode disposed on the upstream side of the porous body disposed on the most upstream side in the passage direction and a downstream side of the porous body disposed on the most downstream side in the passage direction of the gas to be processed among the plurality of porous bodies. The downstream electrode, one of the upstream electrode and the downstream electrode is the first electrode, the other is the second electrode, and a high voltage is applied between the first electrode and the second electrode to High voltage applying means for generating plasma in the space between the through hole and the porous body, abnormal discharge detecting means for detecting that abnormal discharge has occurred between the first electrode and the second electrode, and the abnormal discharge When the abnormal discharge is detected by the detection means, And a control means for controlling the application of a high voltage between the first electrode and the second electrode from the high voltage application means so as to reduce the amount of plasma generated in the space between the porous bodies. It is provided.

この発明によれば、通風路内に間隔を設けて多孔体が配置され、この複数の多孔体のうち最も上流に配置される多孔体の上流側に上流側電極が配置され、最も下流に配置される多孔体の下流側に下流側電極が配置され、上流側電極および下流側電極の一方を第1の電極、他方を第2の電極とし、第1の電極と第2の電極との間に高電圧が印加され、多孔体の貫通孔および多孔体間の空間にプラズマが発生する。この高電圧の印加中、第1の電極と第2の電極との間に異常放電が発生すると、制御手段は、多孔体の貫通孔および多孔体間の空間に発生するプラズマの発生量を減少させるように、第1の電極と第2の電極との間への高電圧の印加を制御する。   According to the present invention, the porous body is disposed with a gap in the ventilation path, the upstream electrode is disposed on the upstream side of the porous body disposed on the most upstream side among the plurality of porous bodies, and disposed on the most downstream side. A downstream electrode is disposed on the downstream side of the porous body, and one of the upstream electrode and the downstream electrode is a first electrode and the other is a second electrode, and between the first electrode and the second electrode. Is applied with a high voltage, and plasma is generated in the through holes of the porous body and the space between the porous bodies. When an abnormal discharge occurs between the first electrode and the second electrode during the application of the high voltage, the control means reduces the amount of plasma generated in the through hole of the porous body and the space between the porous bodies. In this manner, application of a high voltage between the first electrode and the second electrode is controlled.

この発明において、プラズマは多孔体の貫通孔だけではなく、多孔体間の空間(空気層)にも発生する。このため、貫通孔内での有害ガスの分子分解効果に加え、多孔体間の空間での有害ガスの分子分解効果が加わり、さらにこの貫通孔内での分子分解効果と多孔体間の空間での分子分解効果との相乗効果により、有害ガスの無害な物質への分解が促進される。また、多孔体間の空間には、均一なプラズマが大量に発生する。   In the present invention, plasma is generated not only in the through holes of the porous body but also in the space (air layer) between the porous bodies. For this reason, in addition to the molecular decomposition effect of the harmful gas in the through hole, the molecular decomposition effect of the harmful gas in the space between the porous bodies is added. Further, the molecular decomposition effect in the through hole and the space between the porous bodies are added. Due to the synergistic effect with the molecular decomposition effect, decomposition of harmful gases into harmless substances is promoted. A large amount of uniform plasma is generated in the space between the porous bodies.

また、この発明において、多孔体間には空気層が設けられるので、上流側電極と下流側電極との間のインピーダンスが安定し、多孔体の吸湿・乾燥によるインピーダンス変化に対して流れる電流の変化が小さくなり、専用に設計された特殊な高電圧電源を使用する必要がなくなる。
また、この発明において、電極は上流側電極と下流側電極の2個の電極のみでよく、多孔体毎に電極を配置する必要がなくなり、部品点数が削減され、構造が簡単となり、組立工数も少なくて済む。
Further, in the present invention, since an air layer is provided between the porous bodies, the impedance between the upstream electrode and the downstream electrode is stabilized, and the change of the flowing current with respect to the impedance change due to moisture absorption / drying of the porous body. This eliminates the need to use a special high-voltage power supply specially designed.
In the present invention, the electrodes need only be two electrodes, an upstream electrode and a downstream electrode, and it is not necessary to arrange electrodes for each porous body, the number of parts is reduced, the structure is simplified, and the number of assembly steps is also reduced. Less is enough.

また、本発明は、通風路内に間隔を設けて配置され、通風路内を流れる処理対象ガスが通過する多数の貫通孔を有する複数の多孔体と、複数の多孔体のうち隣り合う複数の多孔体を1群の多孔体群とし、これら多孔体群毎にその両端に位置する多孔体の外側に配置された第1および第2の電極と、各多孔体群の第1の電極と第2の電極との間に個別に高電圧を印加し各多孔体群の多孔体の貫通孔および多孔体間の空間にプラズマを発生させる高電圧印加手段と、各多孔体群の第1の電極と第2の電極との間に異常放電が発生したことを個別に検知する異常放電検知手段と、この異常放電検知手段によって異常放電の発生が検知された場合、その異常放電の発生が検知された多孔体群を異常放電発生多孔体群とし、この異常放電発生多孔体群の多孔体の貫通孔および多孔体間の空間に発生するプラズマの発生量を減少させるように、高電圧印加手段からの異常放電発生多孔体群の第1の電極と第2の電極との間へのの高電圧の印加を制御する制御手段とを設けたものである。   Further, the present invention provides a plurality of porous bodies that are arranged at intervals in the ventilation path and have a plurality of through holes through which the gas to be processed flowing in the ventilation path passes, and a plurality of adjacent porous bodies among the plurality of porous bodies. The porous body is a group of porous bodies, and for each of the porous body groups, the first and second electrodes disposed outside the porous body located at both ends thereof, the first electrode and the first electrode of each porous body group A high voltage applying means for individually applying a high voltage between the two electrodes to generate plasma in the through-holes of the porous body of each porous body group and the space between the porous bodies; and the first electrode of each porous body group An abnormal discharge detecting means for individually detecting that an abnormal discharge has occurred between the first electrode and the second electrode, and when the abnormal discharge is detected by the abnormal discharge detecting means, the occurrence of the abnormal discharge is detected. The porous body group was defined as an abnormal discharge generation porous body group, and the abnormal discharge generation porous body group Between the first electrode and the second electrode of the abnormal discharge generating porous body group from the high voltage applying means so as to reduce the amount of plasma generated in the space between the through hole and the porous body of the porous body. And a control means for controlling the application of a high voltage.

例えば、この発明において、複数の多孔体を第1の多孔体群と第2の多孔体群とに分けた場合、第1の多孔体群の両端に位置する多孔体の外側に第1の電極と第2の電極が配置され、第2の多孔体群の両端に位置する多孔体の外側に第1の電極と第2の電極が配置され、第1の多孔体群の第1の電極と第2の電極との間および第2の多孔体群の第1の電極と第2の電極との間に個別に高電圧が印加され、第1の多孔体群および第2の多孔体群の多孔体の貫通孔および多孔体間の空間にプラズマが発生する。この高電圧の印加中、第1の多孔体群の第1の電極と第2の電極との間に異常放電が発生すると、制御手段は、第1の多孔体群を異常放電発生多孔体群とし、この第1の多孔体群の多孔体の貫通孔および多孔体間の空間に発生するプラズマの発生量を減少させるように、第1の多孔体群の第1の電極と第2の電極との間への高電圧の印加を制御する。第2の多孔体群の第1の電極と第2の電極との間に異常放電が発生すると、制御手段は、第2の多孔体群を異常放電発生多孔体群とし、この第2の多孔体群の多孔体の貫通孔および多孔体間の空間に発生するプラズマの発生量を減少させるように、第2の多孔体群の第1の電極と第2の電極との間への高電圧の印加を制御する。   For example, in the present invention, when a plurality of porous bodies are divided into a first porous body group and a second porous body group, the first electrode is disposed outside the porous bodies located at both ends of the first porous body group. And the second electrode, the first electrode and the second electrode are arranged outside the porous body located at both ends of the second porous body group, and the first electrode of the first porous body group, A high voltage is individually applied between the second electrode and between the first electrode and the second electrode of the second porous body group, and the first porous body group and the second porous body group Plasma is generated in the through holes of the porous body and the space between the porous bodies. When an abnormal discharge occurs between the first electrode and the second electrode of the first porous body group during the application of the high voltage, the control means causes the first porous body group to be abnormally discharged. And the first electrode and the second electrode of the first porous body group so as to reduce the amount of plasma generated in the through-holes of the porous body of the first porous body group and the space between the porous bodies. The application of a high voltage to and from is controlled. When an abnormal discharge occurs between the first electrode and the second electrode of the second porous body group, the control means sets the second porous body group as an abnormal discharge generating porous body group, and this second porosity The high voltage between the first electrode and the second electrode of the second porous body group so as to reduce the amount of plasma generated in the through holes of the porous body of the body group and the space between the porous bodies Is controlled.

また、本発明は、通風路内に間隔を設けて配置され、通風路内を流れる処理対象ガスが通過する多数の貫通孔を有する複数の多孔体と、複数の多孔体のうち隣り合う複数の多孔体を1群の多孔体群とし、これら多孔体群毎にその両端に位置する多孔体の外側に配置された第1および第2の電極と、各多孔体群の第1の電極と第2の電極との間に個別に高電圧を印加し各多孔体群の多孔体の貫通孔および多孔体間の空間にプラズマを発生させる高電圧印加手段と、複数の多孔体群のうち処理対象ガスの通過方向の最も上流側に位置する多孔体群を上流側多孔体群とし、この上流側多孔体群の第1の電極と第2の電極との間に異常放電が発生したことを検知する異常放電検知手段と、この異常放電検知手段によって異常放電の発生が検知された場合、上流側多孔体群の多孔体の貫通孔および多孔体間の空間に発生するプラズマの発生量を減少させるように、高電圧印加手段からの上流側多孔体群の第1の電極と第2の電極との間への高電圧の印加を制御する制御手段とを設けたものである。   Further, the present invention provides a plurality of porous bodies that are arranged at intervals in the ventilation path and have a plurality of through holes through which the gas to be processed flowing in the ventilation path passes, and a plurality of adjacent porous bodies among the plurality of porous bodies. The porous body is a group of porous bodies, and for each of the porous body groups, the first and second electrodes disposed outside the porous body located at both ends thereof, the first electrode and the first electrode of each porous body group A high voltage applying means for individually applying a high voltage between the two electrodes to generate plasma in the through holes of the porous bodies of each porous body group and the space between the porous bodies; The porous body group located on the most upstream side in the gas passage direction is set as the upstream porous body group, and it is detected that an abnormal discharge has occurred between the first electrode and the second electrode of the upstream porous body group. Abnormal discharge detection means that detects the occurrence of abnormal discharge by the abnormal discharge detection means The first electrode and the second electrode of the upstream porous body group from the high voltage applying means are reduced so as to reduce the amount of plasma generated in the through holes of the porous body of the upstream porous body group and the space between the porous bodies. And a control means for controlling application of a high voltage to the other electrode.

例えば、この発明において、複数の多孔体を第1の多孔体群と第2の多孔体群とに分け、第1の多孔体群を上流側多孔体群、第2の多孔体群を下流側多孔体群とした場合、上流側多孔体群の両端に位置する多孔体の外側に第1の電極と第2の電極が配置され、下流側多孔体群の両端に位置する多孔体の外側に第1の電極と第2の電極が配置され、上流側多孔体群の第1の電極と第2の電極との間および下流側多孔体群の第1の電極と第2の電極との間に個別に高電圧が印加され、上流側多孔体群および第2の下流側多孔体群の多孔体の貫通孔および多孔体間の空間にプラズマが発生する。この高電圧の印加中、上流側多孔体群の第1の電極と第2の電極との間に異常放電が発生すると、制御手段は、上流側多孔体群の多孔体の貫通孔および多孔体間の空間に発生するプラズマの発生量を減少させるように、上流側多孔体群の第1の電極と第2の電極との間への高電圧の印加を制御する。   For example, in the present invention, the plurality of porous bodies are divided into a first porous body group and a second porous body group, the first porous body group is an upstream porous body group, and the second porous body group is a downstream side. In the case of the porous body group, the first electrode and the second electrode are arranged outside the porous body located at both ends of the upstream porous body group, and outside the porous body located at both ends of the downstream porous body group. A first electrode and a second electrode are arranged, and between the first electrode and the second electrode of the upstream porous body group and between the first electrode and the second electrode of the downstream porous body group A high voltage is separately applied to each other, and plasma is generated in the through-holes of the porous bodies of the upstream porous body group and the second downstream porous body group and the spaces between the porous bodies. When an abnormal discharge is generated between the first electrode and the second electrode of the upstream porous body group during the application of the high voltage, the control means performs the through-hole and the porous body of the porous body of the upstream porous body group. The application of a high voltage between the first electrode and the second electrode of the upstream porous body group is controlled so as to reduce the amount of plasma generated in the space between them.

本発明において、制御手段は、異常放電の発生が検知された場合、プラズマの発生量を減少させるように、第1の電極と第2の電極との間への高電圧の印加を制御する。この場合の制御方式として、本発明では、例えば、第1の電極に接地電位から正方向に立ち上がる正電圧(+V)を、第2の電極に接地電位から負方向に立ち下がる負電圧(−V)を、第1の電極への正電圧が接地電位に立ち下がった状態と第2の電極への負電圧が接地電位に立ち上がった状態とが一部重なるように交互に切り換えて印加させる。これにより、第1の電極への正電圧が接地電位に立ち下がった状態と第2の電極への負電圧が接地電位に立ち上がった状態とが重なった期間、第1の電極と第2の電極との間に電圧が印加されなくなり、この期間を高電圧の休止期間として、プラズマの発生量が減少する。   In the present invention, the control means controls application of a high voltage between the first electrode and the second electrode so as to reduce the amount of plasma generated when the occurrence of abnormal discharge is detected. As a control method in this case, in the present invention, for example, a positive voltage (+ V) rising from the ground potential in the positive direction is applied to the first electrode, and a negative voltage (−V) falling in the negative direction from the ground potential to the second electrode. ) Are alternately switched so that the state where the positive voltage to the first electrode falls to the ground potential and the state where the negative voltage to the second electrode rises to the ground potential partially overlap. As a result, during the period in which the state in which the positive voltage to the first electrode falls to the ground potential and the state in which the negative voltage to the second electrode rises to the ground potential overlap, the first electrode and the second electrode The voltage is not applied between the two, and this period is set as a high voltage pause period, and the amount of plasma generated is reduced.

本発明によれば、多孔体や多孔体群の第1の電極と第2の電極との間に異常放電が発生したことを検知する異常放電検知手段を設け、この異常放電検知手段によって異常放電の発生が検知された場合、多孔体の貫通孔や多孔体間の空間に発生するプラズマの発生量を減少させるように高電圧の印加を制御するようにしたので、異常放電の発生量が多くなるにつれ高電圧の休止期間を長くするなどして、異常放電の発生を抑えつつ、処理対象ガスの処理を継続し、未処理のガスが残らないようにすることが可能となる。   According to the present invention, the abnormal discharge detecting means for detecting that an abnormal discharge has occurred between the first electrode and the second electrode of the porous body or the porous body group is provided, and the abnormal discharge is detected by the abnormal discharge detecting means. The occurrence of abnormal discharge is large because the application of high voltage is controlled so as to reduce the amount of plasma generated in the through-holes of the porous body and the space between the porous bodies. As a result, it becomes possible to continue the processing of the gas to be processed while suppressing the occurrence of abnormal discharge by increasing the high voltage pause period, so that no untreated gas remains.

本発明に係るガス処理装置の一実施の形態(実施の形態1)の要部を示す図である。It is a figure which shows the principal part of one Embodiment (Embodiment 1) of the gas processing apparatus which concerns on this invention. このガス処理装置における異常放電検知部の要部の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the principal part of the abnormal discharge detection part in this gas processing apparatus. このガス処理装置における制御部が出力する駆動パルスPS1,PS2および駆動パルスPS2のオンタイミングの変化を示すタイムチャートである。It is a time chart which shows the change of the ON timing of drive pulse PS1, PS2 and the drive pulse PS2 which the control part in this gas processing apparatus outputs. 駆動パルスPS1のオンタイミングに対する駆動パルスPS2のオンタイミングの進み時間TCが0とされている場合のハニカム構造体の電極への印加電圧の変化を示すタイムチャートである。4 is a time chart showing a change in applied voltage to the electrodes of the honeycomb structure when the on-timing time TC of the driving pulse PS2 with respect to the on-timing of the driving pulse PS1 is zero. 図4のタイムチャートにおいて駆動パルスPS1,PS2が「H」レベルとなった時のハニカム構造体の電極間への高電圧の印加を説明する図である。FIG. 5 is a diagram for explaining application of a high voltage between electrodes of a honeycomb structure when drive pulses PS1 and PS2 are at “H” level in the time chart of FIG. 図4のタイムチャートにおいて駆動パルスPS1,PS2が「L」レベルとなった時のハニカム構造体の電極間への高電圧の印加を説明する図である。FIG. 5 is a diagram illustrating application of a high voltage between electrodes of a honeycomb structure when drive pulses PS1 and PS2 are at “L” level in the time chart of FIG. 駆動パルスPS1のオンタイミングに対する駆動パルスPS2のオンタイミングの進み時間TCがTC>0とされた場合のハニカム構造体の電極への印加電圧の変化を示すタイムチャートである。10 is a time chart showing a change in applied voltage to the electrodes of the honeycomb structure when the on-timing time TC of the driving pulse PS2 with respect to the on-timing of the driving pulse PS1 is TC> 0. 本発明に係るガス処理装置の他の実施の形態(実施の形態2)の要部を示す図である。It is a figure which shows the principal part of other embodiment (Embodiment 2) of the gas processing apparatus which concerns on this invention. 本発明に係るガス処理装置の他の実施の形態(実施の形態3)の要部を示す図である。It is a figure which shows the principal part of other embodiment (Embodiment 3) of the gas processing apparatus which concerns on this invention. 本発明に係るガス処理装置の他の実施の形態(実施の形態4)の要部を示す図である。It is a figure which shows the principal part of other embodiment (Embodiment 4) of the gas processing apparatus which concerns on this invention. 本発明に係るガス処理装置の他の実施の形態(実施の形態5)の要部を示す図である。It is a figure which shows the principal part of other embodiment (Embodiment 5) of the gas processing apparatus which concerns on this invention. 本発明に係るガス処理装置の他の実施の形態(実施の形態6)の要部を示す図である。It is a figure which shows the principal part of other embodiment (Embodiment 6) of the gas processing apparatus which concerns on this invention. 駆動パルスPS2のオフタイミングに対する駆動パルスPS1のオフタイミングの進み時間TDを調整するようにした例を示すタイムチャートである。It is a time chart which shows the example which adjusted the advance time TD of the off timing of drive pulse PS1 with respect to the off timing of drive pulse PS2. 放電プラズマを利用した従来のガス処理装置の要部を例示する図である。It is a figure which illustrates the principal part of the conventional gas processing apparatus using discharge plasma.

以下、本発明を図面に基づいて詳細に説明する。
〔実施の形態1〕
図1はこの発明に係るガス処理装置の一実施の形態(実施の形態1)の要部を示す図である。同図において、図14と同一符号は図14を参照して説明した構成要素と同一或いは同等構成要素を示し、その説明は省略する。
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[Embodiment 1]
FIG. 1 is a diagram showing a main part of an embodiment (Embodiment 1) of a gas processing apparatus according to the present invention. In this figure, the same reference numerals as those in FIG. 14 denote the same or equivalent components as those described with reference to FIG.

この実施の形態1では、ダクト1内にハニカム構造体4を配置し、このハニカム構造体4の外側の一方および他方に第1の電極8および第2の電極9を配置し、第1の電極8を導線16によって高電圧印加部20の正電圧供給端子T1に接続し、第2の電極9を導線17によって高電圧印加部20の負電圧供給端子T2に接続している。   In the first embodiment, the honeycomb structure 4 is arranged in the duct 1, the first electrode 8 and the second electrode 9 are arranged on one and the other side of the honeycomb structure 4, and the first electrode 8 is connected to the positive voltage supply terminal T1 of the high voltage application unit 20 by the conducting wire 16, and the second electrode 9 is connected to the negative voltage supply terminal T2 of the high voltage application unit 20 by the conducting wire 17.

ハニカム構造体4は、セラミックス等の絶縁体で形成されており、処理対象ガスGSが通過する多数の貫通孔(セル)4aを有している。第1の電極8および第2の電極9は、処理対象ガスGSが通過するように、金属製メッシュとされている。   The honeycomb structure 4 is formed of an insulator such as ceramics, and has a large number of through holes (cells) 4a through which the processing target gas GS passes. The first electrode 8 and the second electrode 9 are made of metal mesh so that the processing target gas GS passes therethrough.

高電圧印加部20は、トランスTR1,TR2と、ダイオードD1,D2,D3,D4と、コンデンサC1,C2と、トランジスタQ1,Q2,Q3と、抵抗R1,R2,R3と、スイッチング用集積回路IC1,IC2と、制御部CNTとを備えている。高電圧印加部20において、トランジスタQ1のコレクタはトランスTR2の1次巻線の一端に接続され、トランジスタQ1のエミッタは接地されている。トランスTR2の1次巻線の他端には電源電圧Vcが印加されている。   The high voltage application unit 20 includes transformers TR1, TR2, diodes D1, D2, D3, D4, capacitors C1, C2, transistors Q1, Q2, Q3, resistors R1, R2, R3, and a switching integrated circuit IC1. , IC2 and a control unit CNT. In the high voltage application unit 20, the collector of the transistor Q1 is connected to one end of the primary winding of the transformer TR2, and the emitter of the transistor Q1 is grounded. A power supply voltage Vc is applied to the other end of the primary winding of the transformer TR2.

また、高電圧印加部20において、トランジスタQ2のコレクタは抵抗R1を介して高電位電源に接続され、トランジスタQ2のエミッタは接地されている。トランジスタQ3のコレクタはトランスTR1の1次巻線の一端に接続され、トランジスタQ3のエミッタは接地されている。トランスTR1の1次巻線の他端には電源電圧Vcが印加されている。トランジスタQ3のベースはスイッチング用集積回路IC1を介しトランジスタQ2のコレクタと抵抗R1との接続点に接続され、スイッチング用集積回路IC1とトランジスタQ3のベースとの接続ラインには抵抗R3を介して高電位電源が接続されている。また、トランジスタQ1のベースはスイッチング用集積回路IC2を介して制御部CNTの駆動パルスPS2の出力端子O2に接続され、スイッチング用集積回路IC2とトランジスタQ1のベースとの接続ラインには抵抗R2を介して高電位電源が接続されている。トランジスタQ2のベースは制御部CNTの駆動パルスPS1の出力端子O1に接続されている。   In the high voltage application unit 20, the collector of the transistor Q2 is connected to a high potential power supply via a resistor R1, and the emitter of the transistor Q2 is grounded. The collector of the transistor Q3 is connected to one end of the primary winding of the transformer TR1, and the emitter of the transistor Q3 is grounded. A power supply voltage Vc is applied to the other end of the primary winding of the transformer TR1. The base of the transistor Q3 is connected to a connection point between the collector of the transistor Q2 and the resistor R1 via the switching integrated circuit IC1, and the connection line between the switching integrated circuit IC1 and the base of the transistor Q3 has a high potential via the resistor R3. The power supply is connected. The base of the transistor Q1 is connected to the output terminal O2 of the drive pulse PS2 of the control unit CNT via the switching integrated circuit IC2, and the connection line between the switching integrated circuit IC2 and the base of the transistor Q1 is connected via the resistor R2. High-potential power supply is connected. The base of the transistor Q2 is connected to the output terminal O1 of the drive pulse PS1 of the control unit CNT.

また、高電圧印加部20において、トランスTR1の2次巻線の一端と正電圧供給端子T1との間には、そのカソードを正電圧供給端子T1側としてダイオードD1が接続されており、ダイオードD1のカソードとトランスTR1の2次巻線の他端との間にはコンデンサC1が接続されている。コンデンサC1とトランスTR1の2次巻線の他端との接続ラインは接地されている。更に、トランスTR1の非動作時の電圧降下防止用のダイオードD3が、そのカソードをダイオードD1のカソード側に向けて、そのアノードを接地側に向けて、コンデンサC1と並列に接続されている。   In the high voltage application unit 20, a diode D1 is connected between one end of the secondary winding of the transformer TR1 and the positive voltage supply terminal T1, with the cathode as the positive voltage supply terminal T1 side. A capacitor C1 is connected between the cathode and the other end of the secondary winding of the transformer TR1. A connection line between the capacitor C1 and the other end of the secondary winding of the transformer TR1 is grounded. Further, a diode D3 for preventing a voltage drop when the transformer TR1 is not operating is connected in parallel with the capacitor C1 with its cathode facing the cathode side of the diode D1 and its anode facing the ground side.

また、高電圧印加部20において、トランスTR2の2次巻線の一端と負電圧供給端子T2との間には、そのアノードを負電圧供給端子T2側としてダイオードD2が接続されており、ダイオードD2のアノードとトランスTR2の2次巻線の他端との間にはコンデンサC2が接続されている。コンデンサC2とトランスTR2の2次巻線の他端との接続ラインは接地されている。更に、トランスTR2の非動作時の電圧降下防止用のダイオードD4が、そのアノードをダイオードD2のアノード側に向けて、そのカソードを接地側に向けて、コンデンサC2と並列に接続されている。   In the high voltage application unit 20, a diode D2 is connected between one end of the secondary winding of the transformer TR2 and the negative voltage supply terminal T2, with the anode serving as the negative voltage supply terminal T2 side. A capacitor C2 is connected between the anode and the other end of the secondary winding of the transformer TR2. A connection line between the capacitor C2 and the other end of the secondary winding of the transformer TR2 is grounded. Further, a diode D4 for preventing a voltage drop when the transformer TR2 is not operating is connected in parallel with the capacitor C2 with its anode facing the anode side of the diode D2 and its cathode facing the ground side.

このガス処理装置において、制御部CNTは、プロセッサや記憶装置からなるハードウェアと、これらのハードウェアと協働して各種機能を実現させるプログラムとによって実現され、本実施の形態特有の機能として駆動パルスPS1およびPS2の出力機能を有している。この例では、出力端子O1より、時間幅TW1の駆動パルスPS1をトランジスタQ2のベースに所定周期で与える。また、制御部CNTの出力端子O2より、時間幅TW2の駆動パルスPS2をスイッチング用集積回路IC2に所定周期で与える。   In this gas processing apparatus, the control unit CNT is realized by hardware including a processor and a storage device, and a program that realizes various functions in cooperation with these hardware, and is driven as a function unique to the present embodiment. It has a function of outputting pulses PS1 and PS2. In this example, a drive pulse PS1 having a time width TW1 is given from the output terminal O1 to the base of the transistor Q2 at a predetermined period. Further, the drive pulse PS2 having the time width TW2 is given to the switching integrated circuit IC2 at a predetermined cycle from the output terminal O2 of the control unit CNT.

また、このガス処理装置において、高電圧印加部20に対しては、その正電圧供給端子T1と負電圧供給端子T2との間、すなわちハニカム構造体4の第1の電極8と第2の電極9との間に異常放電が発生したことを検知する異常放電検知部21が設けられ、この異常放電検知部21からの異常放電の発生量を示す検知信号S1が高電圧印加検知部20の制御部CNTへ送られるものとされている。   Further, in this gas treatment device, the high voltage application unit 20 is provided between the positive voltage supply terminal T1 and the negative voltage supply terminal T2, that is, the first electrode 8 and the second electrode of the honeycomb structure 4. 9 is provided with an abnormal discharge detector 21 for detecting that an abnormal discharge has occurred, and a detection signal S1 indicating the amount of abnormal discharge generated from the abnormal discharge detector 21 is controlled by the high voltage application detector 20. It is supposed to be sent to the part CNT.

図2に異常放電検知部21の要部の構成を示す。異常放電検知部21は、直流カット回路21Aと、放電周波数検出回路21Bと、整流平滑回路21Cと、レベル判定回路21Dとを備えている。直流カット回路21Aは、高電圧印加部20の正電圧供給端子T1と負電圧供給端子T2との間に生じる高電圧、すなわちハニカム構造体4の第1の電極8および第2の電極9との間に印加される高電圧を取り込み、この高電圧に含まれる直流分をカットして出力する。放電周波数検出回路21Bは、直流カット回路21Aが出力する直流分がカットされた電圧より、所定周波数以上の電圧を第1の電極8および第2の電極9との間の放電により発生した雑音電圧として取り出す。整流平滑回路21Cは、放電周波数検出回路21Bより取り出された雑音電圧を整流して平滑する。レベル判定回路21Dは、整流平滑回路21Cによって整流平滑化された雑音電圧の大きさを判定し、その判定結果を異常放電の発生量を示す検知信号S1として出力する。   FIG. 2 shows a configuration of a main part of the abnormal discharge detection unit 21. The abnormal discharge detection unit 21 includes a DC cut circuit 21A, a discharge frequency detection circuit 21B, a rectifying / smoothing circuit 21C, and a level determination circuit 21D. The DC cut circuit 21 </ b> A has a high voltage generated between the positive voltage supply terminal T <b> 1 and the negative voltage supply terminal T <b> 2 of the high voltage application unit 20, i.e., the first electrode 8 and the second electrode 9 of the honeycomb structure 4. A high voltage applied between them is taken in, and a direct current component included in the high voltage is cut and output. The discharge frequency detection circuit 21B is a noise voltage generated by the discharge between the first electrode 8 and the second electrode 9 with a voltage having a predetermined frequency or higher than the voltage obtained by cutting the DC component output from the DC cut circuit 21A. Take out as. The rectifying / smoothing circuit 21C rectifies and smoothes the noise voltage extracted from the discharge frequency detecting circuit 21B. The level determination circuit 21D determines the magnitude of the noise voltage rectified and smoothed by the rectifying and smoothing circuit 21C, and outputs the determination result as a detection signal S1 indicating the amount of occurrence of abnormal discharge.

制御部CNTは、異常放電検知部21からの異常放電の発生量を示す検知信号S1を受けて、制御部CNTの出力端子O2から出力する駆動パルスPS2の時間幅を自動調整する機能を有している。この実施の形態では、図3(a)に示すように、駆動パルスPS1をそのオン期間Tonとオフ期間Toff とが等しいデューティ比50%のパルスとし、図2(b),(c)に示すように、駆動パルスPS1のオンタイミングに対する駆動パルスPS2のオンタイミングの進み量を進み時間TCとして自動調整する。なお、この実施の形態において、スイッチング用集積回路IC1およびIC2は、「494」タイプのスイッチングコントロールICを用いている。   The control unit CNT has a function of receiving the detection signal S1 indicating the amount of abnormal discharge generated from the abnormal discharge detection unit 21 and automatically adjusting the time width of the drive pulse PS2 output from the output terminal O2 of the control unit CNT. ing. In this embodiment, as shown in FIG. 3 (a), the drive pulse PS1 is a pulse having a duty ratio of 50% in which the ON period Ton and the OFF period Toff are equal, and shown in FIGS. 2 (b) and 2 (c). As described above, the advance amount of the ON timing of the drive pulse PS2 with respect to the ON timing of the drive pulse PS1 is automatically adjusted as the advance time TC. In this embodiment, the switching integrated circuits IC1 and IC2 use “494” type switching control ICs.

〔駆動パルスPS2のオンタイミングの進み時間TCが0とされている場合の動作〕
図4に駆動パルスPS2のオンタイミングの進み時間TCが0とされている場合のハニカム構造体4の電極8および9への印加電圧の変化を示す。
[Operation when advance time TC of ON timing of drive pulse PS2 is 0]
FIG. 4 shows changes in the applied voltage to the electrodes 8 and 9 of the honeycomb structure 4 when the on-timing advance time TC of the drive pulse PS2 is zero.

高電圧印加部20において、制御部CNTの出力端子O1からの駆動パルスPS1が「H」レベルとなると(図4(a):t1点)、トランジスタQ2がオンとされる。トランジスタQ2がオンとされると、スイッチング用集積回路IC1のデッドタイムコントロール端子dc1が「L」レベルとなり、スイッチング用集積回路IC1から高周波スイッチングパルスが出力される。この高周波スイッチングパルスによりトランジスタQ3がオン、オフされ、トランスTR1の1次巻線に電流が流れ、トランスTR1の2次巻線側に電圧V1が発生する(図5参照)。この電圧V1は、コンデンサC1によって平滑され、ダイオードD1を介してハニカム構造体4の第1の電極8に印加される。すなわち、ハニカム構造体4の第1の電極8に、接地電位(GND)から正方向に立ち上がる正電圧+V1が印加される(図4(b):t1点)。   In the high voltage application unit 20, when the drive pulse PS1 from the output terminal O1 of the control unit CNT becomes the “H” level (FIG. 4A: t1 point), the transistor Q2 is turned on. When the transistor Q2 is turned on, the dead time control terminal dc1 of the switching integrated circuit IC1 becomes “L” level, and a high frequency switching pulse is output from the switching integrated circuit IC1. The high-frequency switching pulse turns on / off the transistor Q3, a current flows through the primary winding of the transformer TR1, and a voltage V1 is generated on the secondary winding side of the transformer TR1 (see FIG. 5). This voltage V1 is smoothed by the capacitor C1 and applied to the first electrode 8 of the honeycomb structure 4 via the diode D1. That is, the positive voltage + V1 rising in the positive direction from the ground potential (GND) is applied to the first electrode 8 of the honeycomb structure 4 (FIG. 4B: point t1).

また、制御部CNTの出力端子O2からの駆動パルスPS2が駆動パルスPS1と同タイミングで「H」レベルとなると(図4(c):t1点)、スイッチング用集積回路IC2のデッドタイムコントロール端子dc2が「H」レベルとなり、スイッチング用集積回路IC2からの高周波スイッチングパルスの出力が中断される。これによりトランジスタQ1がオフとされ、トランスTR2の2次巻線を流れる電流が遮断される。これにより、コンデンサC2の蓄積電荷がダイオードD2,トランスTR2の2次巻線の経路で放電し、それまでハニカム構造体4の第2の電極9に印加されていた負電圧−V2(後述)が接地電位(GND)に向かって変化する(図4(d):t1点)。   When the drive pulse PS2 from the output terminal O2 of the control unit CNT becomes the “H” level at the same timing as the drive pulse PS1 (FIG. 4 (c): point t1), the dead time control terminal dc2 of the switching integrated circuit IC2 Becomes “H” level, and the output of the high-frequency switching pulse from the switching integrated circuit IC2 is interrupted. Thereby, the transistor Q1 is turned off, and the current flowing through the secondary winding of the transformer TR2 is cut off. As a result, the accumulated charge in the capacitor C2 is discharged through the path of the secondary winding of the diode D2 and the transformer TR2, and a negative voltage −V2 (described later) applied to the second electrode 9 of the honeycomb structure 4 until then is generated. It changes toward the ground potential (GND) (FIG. 4 (d): t1 point).

ここで、駆動パルスPS1の「H」レベルへの立ち上がり時には、すなわち第1の電極8に正電圧+V1を印加する電圧の切換時には、第2の電極9への印加電圧が接地電位(GND)に戻されるまでの間、第1の電極8と第2の電極9との間には正電圧+V1と負電圧−V2との差電圧V1+V2が瞬間的に印加された後、V1へと降下するオーバシュート電圧が印加される。この場合、V1=V2=Vとすると、倍電圧2Vが第1の電極8と第2の電極9との間に瞬間的に印加されることになる。   Here, when the drive pulse PS1 rises to the “H” level, that is, when the voltage for applying the positive voltage + V1 to the first electrode 8 is switched, the voltage applied to the second electrode 9 becomes the ground potential (GND). Until it is returned, the difference voltage V1 + V2 between the positive voltage + V1 and the negative voltage −V2 is instantaneously applied between the first electrode 8 and the second electrode 9, and then the voltage drops to V1. A shoot voltage is applied. In this case, when V1 = V2 = V, the double voltage 2V is instantaneously applied between the first electrode 8 and the second electrode 9.

高電圧印加部20において、駆動パルスPS2が「L」レベルとなると(図4(c):t2点)、スイッチング用集積回路IC2のデッドタイムコントロール端子dc2が「L」レベルとなり、スイッチング用集積回路IC2から高周波スイッチングパルスが出力される。この高周波スイッチングパルスの出力によりトランジスタQ1がオン、オフされ、トランスTR2の1次巻線に電流が流れ、トランスTR2の2次巻線側に電圧V2が発生する(図6参照)。この電圧V2は、コンデンサC2によって平滑され、ダイオードD2を介してハニカム構造体4の第2の電極9に印加される。すなわち、ハニカム構造体4の第2の電極9に、接地電位(GND)から負方向に立ち下がる負電圧−V2が印加される(図4(d):t2点)。   When the drive pulse PS2 becomes “L” level in the high voltage application unit 20 (FIG. 4C: t2 point), the dead time control terminal dc2 of the switching integrated circuit IC2 becomes “L” level, and the switching integrated circuit A high frequency switching pulse is output from IC2. The transistor Q1 is turned on and off by the output of the high-frequency switching pulse, a current flows through the primary winding of the transformer TR2, and a voltage V2 is generated on the secondary winding side of the transformer TR2 (see FIG. 6). This voltage V2 is smoothed by the capacitor C2 and applied to the second electrode 9 of the honeycomb structure 4 via the diode D2. That is, a negative voltage −V2 that falls in the negative direction from the ground potential (GND) is applied to the second electrode 9 of the honeycomb structure 4 (FIG. 4D: point t2).

また、制御部CNTの出力端子O1からの駆動パルスPS1が駆動パルスPS2と同タイミングで「L」レベルとなると(図4(a):t2点)、トランジスタQ2がオフとされる。トランジスタQ2がオフとされると、スイッチング用集積回路IC1のデッドタイムコントロール端子dc1が「H」レベルとなり、スイッチング用集積回路IC1からの高周波スイッチングパルスの出力が中断される。これによりトランジスタQ3がオフとされ、トランスTR1の2次巻線を流れる電流が遮断される。これにより、コンデンサC1の蓄積電荷がトランスTR1の2次巻線,ダイオードD1の経路で放電し、それまでハニカム構造体4の第1の電極8に印加されていた正電圧+V1が接地電位(GND)に向かって変化する(図4(b):t2点)。   Further, when the drive pulse PS1 from the output terminal O1 of the control unit CNT becomes the “L” level at the same timing as the drive pulse PS2 (FIG. 4A: point t2), the transistor Q2 is turned off. When the transistor Q2 is turned off, the dead time control terminal dc1 of the switching integrated circuit IC1 becomes “H” level, and the output of the high-frequency switching pulse from the switching integrated circuit IC1 is interrupted. Thereby, the transistor Q3 is turned off, and the current flowing through the secondary winding of the transformer TR1 is cut off. As a result, the accumulated charge of the capacitor C1 is discharged through the secondary winding of the transformer TR1 and the path of the diode D1, and the positive voltage + V1 that has been applied to the first electrode 8 of the honeycomb structure 4 until then is the ground potential (GND). ) (FIG. 4B: point t2).

ここで、駆動パルスPS2の「L」レベルへの立ち下がり時には、すなわち第2の電極9に負電圧−V2を印加する電圧の切換時には、第1の電極8への印加電圧が接地電位(GND)に戻されるまでの間、第1の電極8と第2の電極9との間には正電圧+V1と負電圧−V2との差電圧V1+V2が瞬間的に印加された後、V2へと降下するオーバシュート電圧が印加される。この場合、V1=V2=Vとすると、倍電圧2Vが第1の電極8と第2の電極9との間に瞬間的に印加されることになる。   Here, when the drive pulse PS2 falls to the “L” level, that is, when the voltage for applying the negative voltage −V2 to the second electrode 9 is switched, the applied voltage to the first electrode 8 is the ground potential (GND). ), The difference voltage V1 + V2 between the positive voltage + V1 and the negative voltage −V2 is momentarily applied between the first electrode 8 and the second electrode 9, and then drops to V2. An overshoot voltage is applied. In this case, when V1 = V2 = V, the double voltage 2V is instantaneously applied between the first electrode 8 and the second electrode 9.

このようにして、駆動パルスPS2のオンタイミングの進み時間TCが0とされている場合、駆動パルスPS1,PS2のオンタイミングおよびオフタイミングで、第1の電極8と第2の電極9との間に正電圧+V1と負電圧−V2との差電圧V1+V2が瞬間的に印加され、駆動パルスPS1,PS2のオン期間Tonでは電圧V1が、駆動パルスPS1,PS2のオフ期間Toff では電圧V2が印加され、正電圧+V1および負電圧−V2を例えば数kV〜数10kVの高電圧とすることにより、ハニカム構造体4の貫通孔4aにプラズマが発生し、このプラズマ中に生成されるイオンやラジカルによって、処理対象ガスGSに含まれる有害ガスが無害な物質に分解されるものとなる。   In this way, when the advance time TC of the ON timing of the drive pulse PS2 is 0, between the first electrode 8 and the second electrode 9 at the ON timing and OFF timing of the drive pulses PS1 and PS2. The difference voltage V1 + V2 between the positive voltage + V1 and the negative voltage −V2 is instantaneously applied, the voltage V1 is applied during the on period Ton of the drive pulses PS1 and PS2, and the voltage V2 is applied during the off period Toff of the drive pulses PS1 and PS2. By setting the positive voltage + V1 and the negative voltage −V2 to a high voltage of, for example, several kV to several tens kV, plasma is generated in the through holes 4a of the honeycomb structure 4, and ions and radicals generated in the plasma The harmful gas contained in the processing target gas GS is decomposed into harmless substances.

〔駆動パルスPS2のオンタイミングの進み時間TCがTC>0とされた場合の動作〕
処理対象ガスGS中の水分が多くなると、プラズマが過剰に発生し、異常放電を起こすことがある。この場合、異常放電検知部21において、その異常放電が検知され、制御部CNTへの異常放電の発生量を示す検知信号S1が大きくなる。
[Operation when the advance time TC of the ON timing of the drive pulse PS2 is TC> 0]
If the moisture in the gas GS to be processed increases, plasma may be generated excessively and abnormal discharge may occur. In this case, the abnormal discharge detection unit 21 detects the abnormal discharge, and the detection signal S1 indicating the amount of abnormal discharge generated in the control unit CNT increases.

制御部CNTは、異常放電検知部21からの異常放電の発生量を示す検知信号S1が大きくなると、駆動パルスPS2のオンタイミングの進み時間TCをTC>0とする。この駆動パルスPS2のオンタイミングの進み時間TCは、異常放電の発生量が大きいほど長くなる。   When the detection signal S1 indicating the amount of occurrence of abnormal discharge from the abnormal discharge detection unit 21 increases, the control unit CNT sets the on-timing advance time TC of the drive pulse PS2 to TC> 0. The advance time TC of the ON timing of the drive pulse PS2 becomes longer as the amount of abnormal discharge generated is larger.

図7に駆動パルスPS2のオンタイミングの進み時間TCがTC>0とされた場合のハニカム構造体4の電極8および9への印加電圧の変化を示す。   FIG. 7 shows a change in applied voltage to the electrodes 8 and 9 of the honeycomb structure 4 when the on-time advance time TC of the drive pulse PS2 is TC> 0.

高電圧印加部20において、制御部CNTの出力端子O2からの駆動パルスPS2が「H」レベルとなると(図7(c):t0点)、スイッチング用集積回路IC2のデッドタイムコントロール端子dc2が「H」レベルとなり、スイッチング用集積回路IC2からの高周波スイッチングパルスの出力が中断される。これによりトランジスタQ1がオフとされ、トランスTR2の2次巻線を流れる電流が遮断される。これにより、コンデンサC2の蓄積電荷がダイオードD2,トランスTR2の2次巻線の経路で放電し、それまでハニカム構造体4の第2の電極9に印加されていた負電圧−V2(後述)が接地電位(GND)に向かって変化する(図7(d):t0点)。   In the high voltage application unit 20, when the drive pulse PS2 from the output terminal O2 of the control unit CNT becomes “H” level (FIG. 7 (c): point t0), the dead time control terminal dc2 of the switching integrated circuit IC2 is “ The high-frequency switching pulse output from the switching integrated circuit IC2 is interrupted. Thereby, the transistor Q1 is turned off, and the current flowing through the secondary winding of the transformer TR2 is cut off. As a result, the accumulated charge in the capacitor C2 is discharged through the path of the secondary winding of the diode D2 and the transformer TR2, and a negative voltage −V2 (described later) applied to the second electrode 9 of the honeycomb structure 4 until then is generated. It changes toward the ground potential (GND) (FIG. 7 (d): t0 point).

そして、TC時間の経過後、制御部CNTの出力端子O1からの駆動パルスPS1が「H」レベルとなると(図7(a):t1点)、トランジスタQ2がオンとされる。トランジスタQ2がオンとされると、スイッチング用集積回路IC1のデッドタイムコントロール端子dc1が「L」レベルとなり、スイッチング用集積回路IC1から高周波スイッチングパルスが出力される。この高周波スイッチングパルスによりトランジスタQ3がオン、オフされ、トランスTR1の1次巻線に電流が流れ、トランスTR1の2次巻線側に電圧V1が発生する(図5参照)。この電圧V1は、コンデンサC1によって平滑され、ダイオードD1を介してハニカム構造体4の第1の電極8に印加される。すなわち、ハニカム構造体4の第1の電極8に、接地電位(GND)から正方向に立ち上がる正電圧+V1が印加される(図7(b):t1点)。   When the drive pulse PS1 from the output terminal O1 of the control unit CNT becomes “H” level after the TC time has elapsed (FIG. 7A: point t1), the transistor Q2 is turned on. When the transistor Q2 is turned on, the dead time control terminal dc1 of the switching integrated circuit IC1 becomes “L” level, and a high frequency switching pulse is output from the switching integrated circuit IC1. The high-frequency switching pulse turns on / off the transistor Q3, a current flows through the primary winding of the transformer TR1, and a voltage V1 is generated on the secondary winding side of the transformer TR1 (see FIG. 5). This voltage V1 is smoothed by the capacitor C1 and applied to the first electrode 8 of the honeycomb structure 4 via the diode D1. That is, the positive voltage + V1 rising in the positive direction from the ground potential (GND) is applied to the first electrode 8 of the honeycomb structure 4 (FIG. 7B: point t1).

ここで、駆動パルスPS2の「H」レベルへの立ち上がり時には、すなわち第2の電極9への負電圧−V2の印加を第1の電極8への正電圧+V1への印加に切り換える電圧の切換時には、駆動パルスPS1が「H」レベルへ立ち上がるまでの間(ほぼTC時間)、第1の電極8への正電圧+V1が接地電位に立ち下がった状態と第2の電極9への負電圧−V2が接地電位に立ち上がった状態とが重なり、第1の電極8と第2の電極9との間に電圧が印加されなくなる。すなわち、駆動パルスPS2が「H」レベルへ立ち上がってから駆動パルスPS1が「H」レベルへ立ち上がるまでのほぼTC時間の間、第1の電極8と第2の電極9との間への高電圧(V1,V2)の印加が休止される。   Here, when the drive pulse PS2 rises to the “H” level, that is, when the voltage is switched to switch the application of the negative voltage −V2 to the second electrode 9 to the application of the positive voltage + V1 to the first electrode 8. Until the drive pulse PS1 rises to the “H” level (approximately TC time), the positive voltage + V1 to the first electrode 8 falls to the ground potential and the negative voltage −V2 to the second electrode 9 Is overlapped with the ground potential and no voltage is applied between the first electrode 8 and the second electrode 9. That is, the high voltage between the first electrode 8 and the second electrode 9 is approximately TC time from when the drive pulse PS2 rises to the “H” level until the drive pulse PS1 rises to the “H” level. Application of (V1, V2) is suspended.

高電圧印加部20において、駆動パルスPS2が「L」レベルとなると(図7(c):t2点)、スイッチング用集積回路IC2のデッドタイムコントロール端子dc2が「L」レベルとなり、スイッチング用集積回路IC2から高周波スイッチングパルスが出力される。この高周波スイッチングパルスの出力によりトランジスタQ1がオン、オフされ、トランスTR2の1次巻線に電流が流れ、トランスTR2の2次巻線側に電圧V2が発生する(図6参照)。この電圧V2は、コンデンサC2によって平滑され、ダイオードD2を介してハニカム構造体4の第2の電極9に印加される。すなわち、ハニカム構造体4の第2の電極9に、接地電位(GND)から負方向に立ち下がる負電圧−V2が印加される(図7(d):t2点)。   When the drive pulse PS2 becomes “L” level in the high voltage application unit 20 (FIG. 7C: point t2), the dead time control terminal dc2 of the switching integrated circuit IC2 becomes “L” level, and the switching integrated circuit A high frequency switching pulse is output from IC2. The transistor Q1 is turned on and off by the output of the high-frequency switching pulse, a current flows through the primary winding of the transformer TR2, and a voltage V2 is generated on the secondary winding side of the transformer TR2 (see FIG. 6). This voltage V2 is smoothed by the capacitor C2 and applied to the second electrode 9 of the honeycomb structure 4 via the diode D2. That is, the negative voltage −V2 that falls in the negative direction from the ground potential (GND) is applied to the second electrode 9 of the honeycomb structure 4 (FIG. 7D: point t2).

また、制御部CNTの出力端子O1からの駆動パルスPS1が駆動パルスPS2と同タイミングで「L」レベルとなると(図7(a):t2点)、トランジスタQ2がオフとされる。トランジスタQ2がオフとされると、スイッチング用集積回路IC1のデッドタイムコントロール端子dc1が「H」レベルとなり、スイッチング用集積回路IC1からの高周波スイッチングパルスの出力が中断される。これによりトランジスタQ3がオフとされ、トランスTR1の2次巻線を流れる電流が遮断される。これにより、コンデンサC1の蓄積電荷がトランスTR1の2次巻線,ダイオードD1の経路で放電し、それまでハニカム構造体4の第1の電極8に印加されていた正電圧+V1が接地電位(GND)に向かって変化する(図7(b):t2点)。   Further, when the drive pulse PS1 from the output terminal O1 of the control unit CNT becomes the “L” level at the same timing as the drive pulse PS2 (FIG. 7A: t2 point), the transistor Q2 is turned off. When the transistor Q2 is turned off, the dead time control terminal dc1 of the switching integrated circuit IC1 becomes “H” level, and the output of the high-frequency switching pulse from the switching integrated circuit IC1 is interrupted. Thereby, the transistor Q3 is turned off, and the current flowing through the secondary winding of the transformer TR1 is cut off. As a result, the accumulated charge of the capacitor C1 is discharged through the secondary winding of the transformer TR1 and the path of the diode D1, and the positive voltage + V1 that has been applied to the first electrode 8 of the honeycomb structure 4 until then is the ground potential (GND). ) (FIG. 7B: point t2).

ここで、駆動パルスPS2の「L」レベルへの立ち下がり時には、すなわち第2の電極9に負電圧−V2を印加する電圧の切換時には、第1の電極8への印加電圧が接地電位(GND)に戻されるまでの間、第1の電極8と第2の電極9との間には正電圧+V1と負電圧−V2との差電圧V1+V2が瞬間的に印加された後、V2へと降下するオーバシュート電圧が印加される。この場合、V1=V2=Vとすると、倍電圧2Vが第1の電極8と第2の電極9との間に瞬間的に印加されることになる。   Here, when the drive pulse PS2 falls to the “L” level, that is, when the voltage for applying the negative voltage −V2 to the second electrode 9 is switched, the applied voltage to the first electrode 8 is the ground potential (GND). ), The difference voltage V1 + V2 between the positive voltage + V1 and the negative voltage −V2 is momentarily applied between the first electrode 8 and the second electrode 9, and then drops to V2. An overshoot voltage is applied. In this case, when V1 = V2 = V, the double voltage 2V is instantaneously applied between the first electrode 8 and the second electrode 9.

このようにして、駆動パルスPS2のオンタイミングの進み時間TCがTC>0とされた場合、第2の電極9への負電圧−V2の印加を第1の電極8への正電圧+V1への印加に切り換える電圧の切換時に、ほぼTC時間の間、第1の電極8への正電圧+V1が接地電位に立ち下がった状態と第2の電極9への負電圧−V2が接地電位に立ち上がった状態とが重なり、第1の電極8と第2の電極9との間に電圧が印加されなくなり、この期間を高電圧の休止期間としてハニカム構造体4の貫通孔4aに発生するプラズマの発生量が減少する。   Thus, when the advance time TC of the ON timing of the drive pulse PS2 is TC> 0, the application of the negative voltage −V2 to the second electrode 9 is applied to the positive voltage + V1 to the first electrode 8. When switching the voltage to be applied, the positive voltage + V1 to the first electrode 8 falls to the ground potential and the negative voltage −V2 to the second electrode 9 rises to the ground potential for approximately TC time. The amount of plasma generated in the through-holes 4a of the honeycomb structure 4 with the state overlapped and no voltage is applied between the first electrode 8 and the second electrode 9, and this period is defined as a high voltage pause period. Decrease.

このプラズマの発生量の減少により、異常放電が抑制され、処理対象ガスの処理が継続される。また、この高電圧の休止期間において処理対象ガスGSがハニカム構造体4に吸着し、この休止期間中に吸着された分も含めて高電圧印加時に分解処理が行われるものとなり、プラズマの発生量が減少した状態でも効率的にガス処理が行われるものとなる。   Due to the decrease in the amount of generated plasma, abnormal discharge is suppressed and the processing of the processing target gas is continued. Further, the gas to be treated GS is adsorbed on the honeycomb structure 4 during the high voltage pause period, and the decomposition process is performed when the high voltage is applied including the amount adsorbed during the pause period. Even in a state where the amount of gas is reduced, gas treatment is efficiently performed.

〔実施の形態2〕
実施の形態1では、ダクト1内にハニカム構造体4を1つしか配置しなかったが、ダクト1内にハニカム構造体4を複数配置するようにしてもよい。
[Embodiment 2]
In the first embodiment, only one honeycomb structure 4 is arranged in the duct 1, but a plurality of honeycomb structures 4 may be arranged in the duct 1.

図8にダクト1内にハニカム構造体4を複数配置した例(実施の形態2)を示す。この実施の形態2では、ダクト1内にダクト1の入口から出口へ向かう方向に沿って所定の間隔G(G1,G2)を設けてハニカム構造体4(4−1〜4−3)を配置し、このハニカム構造体4のうち最も上流に配置されるハニカム構造体4−1の上流側に第1の電極(上流側電極)8を、最も下流に配置されるハニカム構造体4−3の下流側に第2の電極(下流側電極)9を配置し、上流側電極8を導線16によって高電圧印加部20の正電圧供給端子T1に接続し、下流側電極9を導線17によって高電圧印加部20の負電圧供給端子T2に接続するようにしている。高電圧印加部20は実施の形態1で使用したものと同じである。   FIG. 8 shows an example (Embodiment 2) in which a plurality of honeycomb structures 4 are arranged in the duct 1. In the second embodiment, the honeycomb structure 4 (4-1 to 4-3) is arranged in the duct 1 by providing a predetermined gap G (G1, G2) along the direction from the inlet to the outlet of the duct 1. The first electrode (upstream electrode) 8 is disposed on the upstream side of the honeycomb structure 4-1 disposed on the most upstream side of the honeycomb structure 4, and the honeycomb structure 4-3 disposed on the most downstream side. A second electrode (downstream electrode) 9 is disposed on the downstream side, the upstream electrode 8 is connected to the positive voltage supply terminal T1 of the high voltage application unit 20 by a conducting wire 16, and the downstream electrode 9 is connected to a high voltage by a conducting wire 17. The negative voltage supply terminal T2 of the application unit 20 is connected. The high voltage application unit 20 is the same as that used in the first embodiment.

また、高電圧印加部20に対して、その正電圧供給端子T1と負電圧供給端子T2との間、すなわちハニカム構造体4(4−1〜4−3)の上流側電極8と下流側電極9との間に異常放電が発生したことを検知する異常放電検知部21を設け、この異常放電検知部21からの異常放電の発生量を示す検知信号S1を高電圧印加検知部20の制御部CNTへ送るものとしている。   Moreover, with respect to the high voltage application part 20, between the positive voltage supply terminal T1 and the negative voltage supply terminal T2, that is, the upstream electrode 8 and the downstream electrode of the honeycomb structure 4 (4-1 to 4-3). 9 is provided with an abnormal discharge detection unit 21 that detects that an abnormal discharge has occurred, and a control signal of the high voltage application detection unit 20 is sent to the detection signal S1 indicating the amount of abnormal discharge generated from the abnormal discharge detection unit 21. It is supposed to be sent to CNT.

この実施の形態2において、各ハニカム構造体4の単位面積当たりの貫通孔4aの数は等しくされている。すなわち、ハニカム構造体4−1〜4−3として、単位面積当たりの貫通孔4aの数が等しい同一種類のハニカム構造体4を使用している。また、ハニカム構造体4−1と4−2との間の間隔G1と、ハニカム構造体4−2と4−3との間の間隔G2とは等しく、例えば0.5mm〜数mmとされている。これにより、ハニカム構造体4−1と4−2との間に空気層12−1が形成され、ハニカム構造体4−2と4−3との間に空気層12−2が形成されている。以下、空気層12(12−1,12−2)を空間ギャップと呼ぶ。   In the second embodiment, the number of through holes 4a per unit area of each honeycomb structure 4 is made equal. That is, the same type of honeycomb structure 4 having the same number of through holes 4a per unit area is used as the honeycomb structures 4-1 to 4-3. Further, the gap G1 between the honeycomb structures 4-1 and 4-2 and the gap G2 between the honeycomb structures 4-2 and 4-3 are equal, for example, 0.5 mm to several mm. Yes. Thereby, an air layer 12-1 is formed between the honeycomb structures 4-1 and 4-2, and an air layer 12-2 is formed between the honeycomb structures 4-2 and 4-3. . Hereinafter, the air layer 12 (12-1, 12-2) is referred to as a space gap.

このガス処理装置においても、トランジスタQ2のベースに駆動パルスPS1を与え、高電圧印加部20のスイッチング用集積回路IC2に駆動パルスPS2を与える。これにより、実施の形態1と同様にして、上流側電極(第1の電極)8と下流側電極(第2の電極)9との間に、正電圧+V1と負電圧−V2とが交互に印加される。この高電圧V1,V2の印加により、ハニカム構造体4の貫通孔4aおよびハニカム構造体4間の空間ギャップ12にプラズマが発生し、このプラズマ中に生成されるイオンやラジカルによって、処理対象ガスGSに含まれる有害ガスが無害な物質に分解される。また、この高電圧V1,V2の印加中、異常放電検知部21からの異常放電の発生量を示す検知信号S1によって、その高電圧の休止期間が自動調整され、異常放電の発生を抑制しつつ、処理対象ガスGSの処理が継続される。   Also in this gas processing apparatus, the drive pulse PS1 is applied to the base of the transistor Q2, and the drive pulse PS2 is applied to the switching integrated circuit IC2 of the high voltage application unit 20. Thus, in the same manner as in the first embodiment, the positive voltage + V1 and the negative voltage -V2 are alternately provided between the upstream electrode (first electrode) 8 and the downstream electrode (second electrode) 9. Applied. By the application of the high voltages V1 and V2, plasma is generated in the through holes 4a of the honeycomb structure 4 and the space gap 12 between the honeycomb structures 4, and the processing target gas GS is generated by ions and radicals generated in the plasma. Hazardous gas contained in is decomposed into harmless substances. In addition, during the application of the high voltages V1 and V2, the high voltage pause period is automatically adjusted by the detection signal S1 indicating the amount of abnormal discharge generated from the abnormal discharge detection unit 21 while suppressing the occurrence of abnormal discharge. The processing of the processing target gas GS is continued.

このガス処理装置において、プラズマはハニカム構造体4の貫通孔4aだけではなく、ハニカム構造体4間の空間ギャップ12にも発生する。このため、貫通孔4a内での有害ガスの分子分解効果に加え、ハニカム構造体4間の空間ギャップ12での有害ガスの分子分解効果が加わり、さらにこの貫通孔4a内での分子分解効果とハニカム構造体4間の空間ギャップ12での分子分解効果との相乗効果により、有害ガスの無害な物質への分解が促進され、ガス処理能力が高まる。   In this gas processing apparatus, plasma is generated not only in the through holes 4 a of the honeycomb structure 4 but also in the space gap 12 between the honeycomb structures 4. For this reason, in addition to the molecular decomposition effect of the harmful gas in the through hole 4a, the molecular decomposition effect of the harmful gas in the space gap 12 between the honeycomb structures 4 is added, and the molecular decomposition effect in the through hole 4a is further increased. The synergistic effect with the molecular decomposition effect in the space gap 12 between the honeycomb structures 4 promotes the decomposition of harmful gases into harmless substances and increases the gas processing capacity.

また、このガス処理装置において、ハニカム構造体4間の空間ギャップ12には、対向する貫通孔4aの縁面から電界が広がって、均一なプラズマが大量に発生する。これにより、貫通孔4a内に発生するプラズマのばらつきによる影響が小さくなり、ガス処理能力が安定する。   Further, in this gas processing apparatus, in the space gap 12 between the honeycomb structures 4, an electric field spreads from the edge surface of the opposing through hole 4 a, and a large amount of uniform plasma is generated. Thereby, the influence by the dispersion | variation in the plasma which generate | occur | produces in the through-hole 4a becomes small, and gas processing capability is stabilized.

また、このガス処理装置において、ハニカム構造体4間には空気層である空間ギャップ12が設けられるので、この空間ギャップ12により上流側電極8と下流側電極9との間のインピーダンスが安定し、ハニカム構造体の吸湿・乾燥によるインピーダンス変化に対して流れる電流の変化が小さくなる。これにより、上流側電極8と下流側電極9との間に加わる高電圧値の変化が小さくなり、専用に設計された特殊な高電圧電源を使用する必要がなくなる。   Further, in this gas treatment device, since the space gap 12 that is an air layer is provided between the honeycomb structures 4, the space gap 12 stabilizes the impedance between the upstream electrode 8 and the downstream electrode 9, The change in the flowing current is small with respect to the impedance change due to moisture absorption and drying of the honeycomb structure. As a result, the change in the high voltage value applied between the upstream electrode 8 and the downstream electrode 9 is reduced, and there is no need to use a special high voltage power supply designed exclusively.

また、このガス処理装置において、電極は上流側電極8と下流側電極9の2個の電極のみでよく、ハニカム構造体4毎に電極を配置する必要がない。これにより、部品点数が削減され、構造が簡単となり、組立工数も少なくて済み、コストダウンが図られる。   Further, in this gas processing apparatus, the electrodes need only be the two electrodes of the upstream electrode 8 and the downstream electrode 9, and it is not necessary to arrange the electrodes for each honeycomb structure 4. As a result, the number of parts is reduced, the structure is simplified, the number of assembly steps is reduced, and the cost can be reduced.

〔実施の形態3〕
実施の形態2では、ダクト1の入口から出口へ向かう方向に沿って複数のハニカム構造体4をダクト1内に設けるようにしたが、図9に示すように、ダクト1の入口から出口へ向かう方向に対し直交する方向に沿って複数のハニカム構造体4をダクト1内に設けるようにしてもよい。
[Embodiment 3]
In the second embodiment, the plurality of honeycomb structures 4 are provided in the duct 1 along the direction from the inlet to the outlet of the duct 1. However, as shown in FIG. A plurality of honeycomb structures 4 may be provided in the duct 1 along a direction orthogonal to the direction.

このようにすると、各ハニカム構造体4がダクト1の入口から出口へ向かう方向に対し直交する方向に沿って間隔を設けて配置されるので、ダクト1の入口から出口へ向かう方向に沿って配置される場合よりも、処理対象ガスGSが各ハニカム構造体4の貫通孔4aやハニカム構造体4間の空間ギャップ12でプラズマに晒される時間が長くなる。これにより、ガス分解が行われる機会が多くなり、ガス処理能力が向上し、高速流におけるガス処理能力の低下を防ぐことが可能となる。   In this case, the honeycomb structures 4 are arranged at intervals along the direction orthogonal to the direction from the inlet to the outlet of the duct 1, so that the honeycomb structures 4 are arranged along the direction from the inlet to the outlet of the duct 1. Compared to the case, the time during which the processing target gas GS is exposed to the plasma in the through holes 4a of the honeycomb structures 4 and the space gaps 12 between the honeycomb structures 4 becomes longer. As a result, the opportunity for gas decomposition is increased, the gas processing capacity is improved, and it is possible to prevent the gas processing capacity from being lowered in a high-speed flow.

〔実施の形態4〕
図10にこの発明に係るガス処理装置の他の実施の形態(実施の形態4)の要部を示す。この実施の形態4では、ハニカム構造体4−1と4−2との間に間隔G1を設けて、ハニカム構造体4−3と4−4との間に間隔G2を設けて、ハニカム構造体4−1〜4−4をダクト1内に配置している。
[Embodiment 4]
FIG. 10 shows a main part of another embodiment (Embodiment 4) of the gas treatment apparatus according to the present invention. In the fourth embodiment, a gap G1 is provided between the honeycomb structures 4-1 and 4-2, and a gap G2 is provided between the honeycomb structures 4-3 and 4-4. 4-1 to 4-4 are arranged in the duct 1.

また、ダクト1内の複数のハニカム構造体4のうち隣り合うハニカム構造体4−1と4−2を第1のハニカム構造体群4Aとし、この第1のハニカム構造体群4Aの両端に位置するハニカム構造体4−1および4−2の外側に、第1の電極として電極8Aを、第2の電極として電極9Aを配置している。   In addition, adjacent honeycomb structures 4-1 and 4-2 among the plurality of honeycomb structures 4 in the duct 1 serve as a first honeycomb structure group 4A and are positioned at both ends of the first honeycomb structure group 4A. Outside the honeycomb structures 4-1 and 4-2, the electrode 8A is disposed as the first electrode, and the electrode 9A is disposed as the second electrode.

同様にして、ダクト1内の複数のハニカム構造体4のうち隣り合うハニカム構造体4−3と4−4を第2のハニカム構造体群4Bとし、この第2のハニカム構造体群4Bの両端に位置するハニカム構造体4−3および4−3の外側に、第1の電極として電極8Bを、第2の電極として電極9Bを配置している。   Similarly, the adjacent honeycomb structures 4-3 and 4-4 among the plurality of honeycomb structures 4 in the duct 1 are defined as the second honeycomb structure group 4B, and both ends of the second honeycomb structure group 4B. Outside the honeycomb structures 4-3 and 4-3, the electrode 8B is disposed as the first electrode, and the electrode 9B is disposed as the second electrode.

電極8A,8Bおよび9A,9Bは、処理対象ガスGSが通過するように、金属製メッシュとされている。また、この実施の形態4では、電極8Aおよび9Aを導線16Aおよび17Aによって第1の高電圧印加部20Aの正電圧供給端子T1および負電圧供給端子T2に接続し、電極8Bおよび9Bを導線16Bおよび17Bによって第2の高電圧印加部20Bの正電圧供給端子T1および負電圧供給端子T2に接続するようにしている。高電圧印加部20A,20Bは実施の形態1で使用した高電圧印加部20と同じである。   The electrodes 8A, 8B and 9A, 9B are made of metal mesh so that the gas to be processed GS passes through. In the fourth embodiment, the electrodes 8A and 9A are connected to the positive voltage supply terminal T1 and the negative voltage supply terminal T2 of the first high voltage applying unit 20A by the conductive wires 16A and 17A, and the electrodes 8B and 9B are connected to the conductive wire 16B. And 17B are connected to the positive voltage supply terminal T1 and the negative voltage supply terminal T2 of the second high voltage application unit 20B. The high voltage application units 20A and 20B are the same as the high voltage application unit 20 used in the first embodiment.

また、高電圧印加部20Aに対して、その正電圧供給端子T1と負電圧供給端子T2との間、すなわちハニカム構造体群4A(4−1,4−2)の第1の電極8Aと第2の電極9Aとの間に異常放電が発生したことを検知する異常放電検知部21Aを設け、この異常放電検知部21Aからの異常放電の発生量を示す検知信号S1Aを高電圧印加検知部20Aの制御部CNTAへ送るものとしている。   Further, with respect to the high voltage application unit 20A, the first electrode 8A and the first electrode 8A between the positive voltage supply terminal T1 and the negative voltage supply terminal T2, that is, the honeycomb structure group 4A (4-1, 4-2). An abnormal discharge detector 21A that detects the occurrence of abnormal discharge between the two electrodes 9A is provided, and a detection signal S1A indicating the amount of abnormal discharge generated from the abnormal discharge detector 21A is provided as a high voltage application detector 20A. To the control unit CNTA.

また、高電圧印加部20Bに対して、その正電圧供給端子T1と負電圧供給端子T2との間、すなわちハニカム構造体群4B(4−3,4−4)の第1の電極8Bと第2の電極9Bとの間に異常放電が発生したことを検知する異常放電検知部21Bを設け、この異常放電検知部21Bからの異常放電の発生量を示す検知信号S1Bを高電圧印加検知部20Bの制御部CNTBへ送るものとしている。   Further, the first electrode 8B and the first electrode 8B of the honeycomb structure group 4B (4-3, 4-4) are connected to the high voltage application unit 20B between the positive voltage supply terminal T1 and the negative voltage supply terminal T2. An abnormal discharge detection unit 21B that detects the occurrence of abnormal discharge between the two electrodes 9B is provided, and a detection signal S1B indicating the amount of abnormal discharge generated from the abnormal discharge detection unit 21B is provided as a high voltage application detection unit 20B. To the control unit CNTB.

このガス処理装置においても、実施の形態1と同様にして、第1のハニカム構造体群4Aの第1の電極8Aと第2の電極9Aとの間および第2のハニカム構造体群4Bの第1の電極8Bと第2の電極9Bとの間に、正電圧+V1と負電圧−V2とが交互に印加される。この高電圧V1,V2の印加により、ハニカム構造体4の貫通孔4aおよびハニカム構造体4間の空間ギャップ12にプラズマが発生し、このプラズマ中に生成されるイオンやラジカルによって、処理対象ガスGSに含まれる有害ガスが無害な物質に分解される。   Also in this gas processing apparatus, in the same manner as in the first embodiment, the first honeycomb structure group 4A is provided between the first electrode 8A and the second electrode 9A and the second honeycomb structure group 4B. A positive voltage + V1 and a negative voltage -V2 are alternately applied between the first electrode 8B and the second electrode 9B. By the application of the high voltages V1 and V2, plasma is generated in the through holes 4a of the honeycomb structure 4 and the space gap 12 between the honeycomb structures 4, and the processing target gas GS is generated by ions and radicals generated in the plasma. Hazardous gas contained in is decomposed into harmless substances.

また、この高電圧V1,V2の印加中、異常放電検知部21Aからの異常放電の発生量を示す検知信号S1Aによって、第1のハニカム構造体群4Aの第1の電極8Aと第2の電極9Aとの間への高電圧の休止期間が自動調整され、異常放電検知部21Bからの異常放電の発生量を示す検知信号S1Bによって、第2のハニカム構造体群4Bの第1の電極8Bと第2の電極9Bとの間への高電圧の休止期間が自動調整され、異常放電の発生を抑制しつつ、処理対象ガスGSの処理が継続される。   Further, during the application of the high voltages V1 and V2, the first electrode 8A and the second electrode of the first honeycomb structure group 4A are detected by the detection signal S1A indicating the amount of abnormal discharge generated from the abnormal discharge detector 21A. 9A is automatically adjusted, and the detection signal S1B indicating the amount of abnormal discharge generated from the abnormal discharge detector 21B is used to detect the first electrode 8B of the second honeycomb structure group 4B. The high voltage pause period with respect to the second electrode 9B is automatically adjusted, and the processing of the processing target gas GS is continued while suppressing the occurrence of abnormal discharge.

このガス処理装置では、第1のハニカム構造体群4Aの第1の電極8と第2の電極9との間および第2のハニカム構造体群4Bの第1の電極10と第2の電極9との間に高電圧を個別に印加しているので、空間ギャップ12−1,12−2での電位を安定的に高電界状態に保ち、プラズマを安定して発生させることが可能となる。   In this gas processing apparatus, the first electrode 10 and the second electrode 9 of the first honeycomb structure group 4A and between the first electrode 8 and the second electrode 9 and of the second honeycomb structure group 4B. Since a high voltage is individually applied between the two, a potential in the space gaps 12-1 and 12-2 can be stably maintained in a high electric field state, and plasma can be stably generated.

なお、このガス処理装置において、第1のハニカム構造体群4Aに印加する高電圧(VA)と第2のハニカム構造体群4B印加する高電圧(VB)とを異なる値とするようにしてもよい。高電圧VAと高電圧VBの値を異ならせるようにすると、第1のハニカム構造体群4Aと第2のハニカム構造体群4Bとでプラズマの発生量を変えて、分解可能な有害ガスの種類を異ならせたりすることが可能となる。   In this gas treatment apparatus, the high voltage (VA) applied to the first honeycomb structure group 4A and the high voltage (VB) applied to the second honeycomb structure group 4B are set to different values. Good. If the values of the high voltage VA and the high voltage VB are made different from each other, the types of harmful gases that can be decomposed by changing the amount of plasma generated in the first honeycomb structure group 4A and the second honeycomb structure group 4B Can be made different.

〔実施の形態5〕
図11にこの発明に係るガス処理装置の他の実施の形態(実施の形態5)の要部を示す。この実施の形態5では、ハニカム構造体4−1と4−2との間に間隔G1を設けて、ハニカム構造体4−3と4−4との間に間隔G2を設けて、ハニカム構造体4−5と4−6との間に間隔G3を設けて、ハニカム構造体4−1〜4−6をダクト1内に配置している。
[Embodiment 5]
FIG. 11 shows a main part of another embodiment (embodiment 5) of the gas treatment apparatus according to the present invention. In the fifth embodiment, a gap G1 is provided between the honeycomb structures 4-1 and 4-2, and a gap G2 is provided between the honeycomb structures 4-3 and 4-4. The honeycomb structures 4-1 to 4-6 are arranged in the duct 1 with a gap G3 provided between 4-5 and 4-6.

また、ダクト1内の複数のハニカム構造体4のうち隣り合うハニカム構造体4−1と4−2を第1のハニカム構造体群4Aとし、この第1のハニカム構造体群4Aの両端に位置するハニカム構造体4−1および4−2の外側に、第1の電極として電極8Aを、第2の電極として電極9Aを配置している。   In addition, adjacent honeycomb structures 4-1 and 4-2 among the plurality of honeycomb structures 4 in the duct 1 serve as a first honeycomb structure group 4A and are positioned at both ends of the first honeycomb structure group 4A. Outside the honeycomb structures 4-1 and 4-2, the electrode 8A is disposed as the first electrode, and the electrode 9A is disposed as the second electrode.

同様にして、ダクト1内の複数のハニカム構造体4のうち隣り合うハニカム構造体4−3と4−4を第2のハニカム構造体群4Bとし、この第2のハニカム構造体群4Bの両端に位置するハニカム構造体4−3および4−3の外側に、第1の電極として電極8Bを、第2の電極として電極9Bを配置している。   Similarly, the adjacent honeycomb structures 4-3 and 4-4 among the plurality of honeycomb structures 4 in the duct 1 are defined as the second honeycomb structure group 4B, and both ends of the second honeycomb structure group 4B. Outside the honeycomb structures 4-3 and 4-3, the electrode 8B is disposed as the first electrode, and the electrode 9B is disposed as the second electrode.

同様にして、ダクト1内の複数のハニカム構造体4のうち隣り合うハニカム構造体4−5と4−6を第3のハニカム構造体群4Cとし、この第3のハニカム構造体群4Cの両端に位置するハニカム構造体4−5および4−6の外側に、第1の電極として電極8Cを、第2の電極として電極9Cを配置している。   Similarly, adjacent honeycomb structures 4-5 and 4-6 among the plurality of honeycomb structures 4 in the duct 1 are defined as a third honeycomb structure group 4C, and both ends of the third honeycomb structure group 4C are arranged. On the outside of the honeycomb structures 4-5 and 4-6 positioned in the area, the electrode 8C is disposed as the first electrode, and the electrode 9C is disposed as the second electrode.

電極8A,8B,8Cおよび9A,9B,9Cは、処理対象ガスGSが通過するように、金属製メッシュとされている。また、この実施の形態5では、電極8Aおよび9Aを導線16Aおよび17Aによって高電圧印加部20Aの正電圧供給端子T1および負電圧供給端子T2に接続し、電極8Bおよび9Bを導線16Bおよび17Bによって高電圧印加部20Bの正電圧供給端子T1および負電圧供給端子T2に接続し、電極8Cおよび9Cを導線16Cおよび17Cによって高電圧印加部20Cの正電圧供給端子T1および負電圧供給端子T2に接続するようにしている。高電圧印加部20A,20B,20Cは実施の形態1で使用した高電圧印加部20と同じである。   The electrodes 8A, 8B, 8C and 9A, 9B, 9C are made of metal mesh so that the gas GS to be processed passes therethrough. In the fifth embodiment, the electrodes 8A and 9A are connected to the positive voltage supply terminal T1 and the negative voltage supply terminal T2 of the high voltage applying unit 20A by the conductive wires 16A and 17A, and the electrodes 8B and 9B are connected by the conductive wires 16B and 17B. The positive voltage supply terminal T1 and the negative voltage supply terminal T2 of the high voltage application unit 20B are connected, and the electrodes 8C and 9C are connected to the positive voltage supply terminal T1 and the negative voltage supply terminal T2 of the high voltage application unit 20C by conducting wires 16C and 17C. Like to do. The high voltage application units 20A, 20B, and 20C are the same as the high voltage application unit 20 used in the first embodiment.

また、高電圧印加部20Aに対して、その正電圧供給端子T1と負電圧供給端子T2との間、すなわちハニカム構造体群4A(4−1,4−2)の第1の電極8Aと第2の電極9Aとの間に異常放電が発生したことを検知する異常放電検知部21Aを設け、この異常放電検知部21Aからの異常放電の発生量を示す検知信号S1Aを高電圧印加検知部20Aの制御部CNTAへ送るものとしている。   Further, with respect to the high voltage application unit 20A, the first electrode 8A and the first electrode 8A between the positive voltage supply terminal T1 and the negative voltage supply terminal T2, that is, the honeycomb structure group 4A (4-1, 4-2). An abnormal discharge detector 21A that detects the occurrence of abnormal discharge between the two electrodes 9A is provided, and a detection signal S1A indicating the amount of abnormal discharge generated from the abnormal discharge detector 21A is provided as a high voltage application detector 20A. To the control unit CNTA.

また、高電圧印加部20Bに対して、その正電圧供給端子T1と負電圧供給端子T2との間、すなわちハニカム構造体群4B(4−3,4−4)の第1の電極8Bと第2の電極9Bとの間に異常放電が発生したことを検知する異常放電検知部21Bを設け、この異常放電検知部21Bからの異常放電の発生量を示す検知信号S1Bを高電圧印加検知部20Bの制御部CNTBへ送るものとしている。   Further, the first electrode 8B and the first electrode 8B of the honeycomb structure group 4B (4-3, 4-4) are connected to the high voltage application unit 20B between the positive voltage supply terminal T1 and the negative voltage supply terminal T2. An abnormal discharge detection unit 21B that detects the occurrence of abnormal discharge between the two electrodes 9B is provided, and a detection signal S1B indicating the amount of abnormal discharge generated from the abnormal discharge detection unit 21B is provided as a high voltage application detection unit 20B. To the control unit CNTB.

また、高電圧印加部20Cに対して、その正電圧供給端子T1と負電圧供給端子T2との間、すなわちハニカム構造体群4C(4−5,4−6)の第1の電極8Cと第2の電極9Cとの間に異常放電が発生したことを検知する異常放電検知部21Cを設け、この異常放電検知部21Cからの異常放電の発生量を示す検知信号S1Cを高電圧印加検知部20Cの制御部CNTCへ送るものとしている。   Further, with respect to the high voltage application unit 20C, the first electrode 8C and the first electrode 8C of the honeycomb structure group 4C (4-5, 4-6) are disposed between the positive voltage supply terminal T1 and the negative voltage supply terminal T2. An abnormal discharge detection unit 21C that detects the occurrence of abnormal discharge between the two electrodes 9C is provided, and a detection signal S1C indicating the amount of abnormal discharge generated from the abnormal discharge detection unit 21C is provided as a high voltage application detection unit 20C. To the control unit CNTC.

このガス処理装置においても、実施の形態1と同様にして、第1のハニカム構造体群4Aの第1の電極8Aと第2の電極9Aとの間、第2のハニカム構造体群4Bの第1の電極8Bと第2の電極9Bとの間および第3のハニカム構造体群4Cの第1の電極8Cと第2の電極9Cとの間に、正電圧+V1と負電圧−V2とが交互に印加される。この高電圧V1,V2の印加により、ハニカム構造体4の貫通孔4aおよびハニカム構造体4間の空間ギャップ12にプラズマが発生し、このプラズマ中に生成されるイオンやラジカルによって、処理対象ガスGSに含まれる有害ガスが無害な物質に分解される。   Also in this gas processing apparatus, in the same manner as in the first embodiment, the first honeycomb structure group 4A has the first electrode 8A and the second electrode 9A, and the second honeycomb structure group 4B has the second structure. The positive voltage + V1 and the negative voltage −V2 alternate between the first electrode 8B and the second electrode 9B and between the first electrode 8C and the second electrode 9C of the third honeycomb structure group 4C. To be applied. By the application of the high voltages V1 and V2, plasma is generated in the through holes 4a of the honeycomb structure 4 and the space gap 12 between the honeycomb structures 4, and the processing target gas GS is generated by ions and radicals generated in the plasma. Hazardous gas contained in is decomposed into harmless substances.

また、この高電圧V1,V2の印加中、異常放電検知部21Aからの異常放電の発生量を示す検知信号S1Aによって、第1のハニカム構造体群4Aの第1の電極8Aと第2の電極9Aとの間への高電圧の休止期間が自動調整され、異常放電検知部21Bからの異常放電の発生量を示す検知信号S1Bによって、第2のハニカム構造体群4Bの第1の電極8Bと第2の電極9Bとの間への高電圧の休止期間が自動調整され、異常放電検知部21Cからの異常放電の発生量を示す検知信号S1Cによって、第2のハニカム構造体群4Cの第1の電極8Cと第2の電極9Cとの間への高電圧の休止期間が自動調整され、異常放電の発生を抑制しつつ、処理対象ガスGSの処理が継続される。   Further, during the application of the high voltages V1 and V2, the first electrode 8A and the second electrode of the first honeycomb structure group 4A are detected by the detection signal S1A indicating the amount of abnormal discharge generated from the abnormal discharge detector 21A. 9A is automatically adjusted, and the detection signal S1B indicating the amount of abnormal discharge generated from the abnormal discharge detector 21B is used to detect the first electrode 8B of the second honeycomb structure group 4B. The rest period of the high voltage with respect to the second electrode 9B is automatically adjusted, and the first signal of the second honeycomb structure group 4C is detected by the detection signal S1C indicating the amount of abnormal discharge generated from the abnormal discharge detector 21C. The rest period of the high voltage between the electrode 8C and the second electrode 9C is automatically adjusted, and the processing of the processing target gas GS is continued while suppressing the occurrence of abnormal discharge.

このガス処理装置では、第1のハニカム構造体群4Aの第1の電極8Aと第2の電極9Aとの間、第2のハニカム構造体群4Bの第1の電極8Bと第2の電極9Bとの間および第3のハニカム構造体群4Cの第1の電極8Cと第2の電極9Cとの間に高電圧を個別に印加しているので、空間ギャップ12−1,12−2,12−3での電位を安定的に高電界状態に保ち、プラズマを安定して発生させることが可能となる。   In this gas processing apparatus, the first electrode 8B and the second electrode 9B of the second honeycomb structure group 4B are provided between the first electrode 8A and the second electrode 9A of the first honeycomb structure group 4A. And a high voltage is individually applied between the first electrode 8C and the second electrode 9C of the third honeycomb structure group 4C, so that the space gaps 12-1, 12-2, 12 -3 can be stably maintained in a high electric field state, and plasma can be stably generated.

なお、このガス処理装置において、第1のハニカム構造体群4Aに印加する高電圧(VA)と、第2のハニカム構造体群4Bに印加する高電圧(VB)と、第3のハニカム構造体群4Cに印加する高電圧(VC)とを異なる値とするようにしてもよい。高電圧VAと高電圧VBと高電圧VCの値を異ならせるようにすると、第1のハニカム構造体群4Aと第2のハニカム構造体群4Bと第3のハニカム構造体群4Cとでプラズマの発生量を変えて、分解可能な有害ガスの種類を異ならせたりすることが可能となる。   In this gas treatment apparatus, the high voltage (VA) applied to the first honeycomb structure group 4A, the high voltage (VB) applied to the second honeycomb structure group 4B, and the third honeycomb structure The high voltage (VC) applied to the group 4C may be set to a different value. If the values of the high voltage VA, the high voltage VB, and the high voltage VC are made different, the plasma of the first honeycomb structure group 4A, the second honeycomb structure group 4B, and the third honeycomb structure group 4C is changed. It is possible to change the amount of generated harmful gas by changing the generation amount.

〔実施の形態6〕
実施の形態5では、ハニカム構造体群4A,4B,4Cでの異常放電の発生を個々に検知するようにしたが、処理対象ガスGSの通過方向の最も上流側に位置するハニカム構造体群4Aでの異常放電の発生を検知するようにし、このハニカム構造体群4Aの第1の電極8Aと第2の電極9Aとの間への高電圧の休止期間を自動調整するようにしてもよい。
[Embodiment 6]
In the fifth embodiment, the occurrence of abnormal discharge in the honeycomb structure groups 4A, 4B, and 4C is individually detected. However, the honeycomb structure group 4A located on the most upstream side in the passage direction of the processing target gas GS. The occurrence of abnormal discharge in the honeycomb structure 4A may be detected, and the high voltage pause period between the first electrode 8A and the second electrode 9A of the honeycomb structure group 4A may be automatically adjusted.

処理対象ガスGSに含まれる水分が多い場合、下流側のハニカム構造体群と比較し上流側のハニカム構造体群での異常放電が発生し易い。これは、上流側のハニカム構造体群で水分が消費されるため、下流側のハニカム構造体群に到達する水分は上流側と比較し少なくなるからである。   When the processing target gas GS contains a large amount of moisture, abnormal discharge is more likely to occur in the upstream honeycomb structure group than in the downstream honeycomb structure group. This is because moisture is consumed in the honeycomb structure group on the upstream side, so that the moisture reaching the honeycomb structure group on the downstream side is less than that on the upstream side.

そこで、実施の形態6では、図12に示すように、処理対象ガスGSの通過方向の最も上流側に位置するハニカム構造体群4Aに対してのみ、そのハニカム構造体群4Aの第1の電極8Aと第2の電極9Aとの間に異常放電が発生したことを検知する異常放電検知部21Aを設け、この異常放電検知部21Aが出力する異常放電の発生量を示す検知信号S1を高電圧印加部20Aの制御部CNTAへ送ることにより、ハニカム構造体群4Aの第1の電極8Aと第2の電極9Aとの間への高電圧の休止期間を自動調整するようにしている。これにより、ハニカム構造体群4B,4Cに対する異常放電検知部を省略し、その構成を簡略化することが可能となる。   Therefore, in the sixth embodiment, as shown in FIG. 12, the first electrode of the honeycomb structure group 4A is applied only to the honeycomb structure group 4A located on the most upstream side in the passage direction of the processing target gas GS. An abnormal discharge detector 21A that detects that an abnormal discharge has occurred is provided between 8A and the second electrode 9A, and a detection signal S1 that indicates the amount of abnormal discharge generated by the abnormal discharge detector 21A is a high voltage. By sending it to the control unit CNTA of the application unit 20A, the high voltage pause period between the first electrode 8A and the second electrode 9A of the honeycomb structure group 4A is automatically adjusted. Thereby, the abnormal discharge detection part for the honeycomb structure groups 4B and 4C can be omitted, and the configuration can be simplified.

なお、上述した実施の形態2〜6では、ハニカム構造体4(4−1〜4−6)の単位面積当たりの貫通孔4aの数を等しくしているが、ハニカム構造体(4−1〜4−6)の単位面積当たりの貫通孔4aの数を選択的に異ならせるようにしてもよい。   In Embodiments 2 to 6 described above, the number of through-holes 4a per unit area of the honeycomb structure 4 (4-1 to 4-6) is made equal. 4-6) The number of through holes 4a per unit area may be selectively varied.

例えば、図10に示した構成において、ハニカム構造体4−1,4−2については単位面積当たりの貫通孔4aの数を少なし、ハニカム構造体4−3,4−4については単位面積当たりの貫通孔4aの数を多くするようにしたり、ハニカム構造体4−1,4−2,4−3,4−4の順で単位面積当たりの貫通孔4aの数を多くするなどとしてもよい。   For example, in the configuration shown in FIG. 10, the number of through holes 4a per unit area is reduced for the honeycomb structures 4-1 and 4-2, and the number per unit area for the honeycomb structures 4-3 and 4-4. The number of through holes 4a may be increased, or the number of through holes 4a per unit area may be increased in the order of honeycomb structures 4-1, 4-2, 4-3, and 4-4. .

ハニカム構造体4−1,4−2,4−3,4−4の順で単位面積当たりの貫通孔4aの数を多くすると、ハニカム構造体4−1,4−2,4−3,4−4の順でプラズマの発生量が大きくなり、各ハニカム構造体4で分解可能な有害ガスの種類を異ならせることが可能となる。   When the number of the through holes 4a per unit area is increased in the order of the honeycomb structure 4-1, 4-2, 4-3, 4-4, the honeycomb structure 4-1, 4-2, 4-3, 4 The amount of generated plasma increases in the order of −4, and the types of harmful gases that can be decomposed in each honeycomb structure 4 can be made different.

例えば、その分子が持つエネルギー準位が順に高い有害ガスA,B,C,Dが処理対象ガスGSに含まれていたものとした場合、処理対象ガスGSに含まれる有害ガスAをハニカム構造体4−1で分解し、処理対象ガスGSに含まれる有害ガスBをハニカム構造体4−2で分解し、処理対象ガスGSに含まれる有害ガスCをハニカム構造体4−3で分解し、処理対象ガスGSに含まれる有害ガスDをハニカム構造体4−4で分解するなど、各ハニカム構造体4で分解可能な有害ガスの種類を異ならせることができる。   For example, in the case where harmful gases A, B, C, and D having higher energy levels in their molecules are included in the processing target gas GS, the harmful gas A included in the processing target gas GS is converted into the honeycomb structure. 4-1 is decomposed, the harmful gas B contained in the processing target gas GS is decomposed by the honeycomb structure 4-2, and the harmful gas C contained in the processing target gas GS is decomposed by the honeycomb structure 4-3. The kind of harmful gas that can be decomposed in each honeycomb structure 4 can be made different, for example, the harmful gas D contained in the target gas GS is decomposed by the honeycomb structure 4-4.

この場合、ハニカム構造体4−2での有害ガスBの分解に際し、ハニカム構造体4−1によって分解しきれなかった有害ガスAの分解が行われ、ハニカム構造体4−3での有害ガスCの分解に際し、ハニカム構造体4−1,4−2で分解しきれなかった有害ガスA,Bの分解が行われ、ハニカム構造体4−4での有害ガスDの分解に際し、ハニカム構造体4−1,4−2,4−3で分解しきれなかった有害ガスA,B,Cの分解が行われる。   In this case, when the harmful gas B is decomposed in the honeycomb structure 4-2, the harmful gas A that could not be decomposed by the honeycomb structure 4-1 is decomposed, and the harmful gas C in the honeycomb structure 4-3 is decomposed. At the time of decomposition, harmful gases A and B that could not be decomposed by the honeycomb structures 4-1 and 4-2 are decomposed, and at the time of decomposition of the harmful gas D by the honeycomb structures 4-4, the honeycomb structure 4 Hazardous gases A, B, and C that could not be decomposed by -1,4-2,4-3 are decomposed.

このような方法とすると、1つのハニカム構造体4で全ての有害ガスA,B,C,Dの分解を行うようにした場合よりも、有害ガスの分解に際して発生する副生成物(例えば、オゾン)の発生量を少なくすることができる。   With such a method, a by-product (for example, ozone) generated during the decomposition of the harmful gas, compared with the case where all the harmful gases A, B, C, and D are decomposed by one honeycomb structure 4. ) Can be reduced.

また、上述した実施の形態2〜6ではハニカム構造体4間の間隔G(G1,G2,G3)を等しくしているが、異ならせるようにしてもよい。例えば、図11に示した構成において、ハニカム構造体4間の間隔G1,G2,G3を異ならせると、空間ギャップ12−1,12−2,12−3でのプラズマの発生量が異なるものとなり、ハニカム構造体4−1〜4−6の単位面積当たりの貫通孔4aの数を選択的に異ならせた場合と同様の作用・効果を得ることができる。この場合、ハニカム構造体4−1〜4−6を単位面積当たりの貫通孔4aの数が等しい同一種類のハニカム構造体とすることができるので、部品の種類を増やさずに済む。   Moreover, in Embodiment 2-6 mentioned above, although the space | interval G (G1, G2, G3) between the honeycomb structures 4 is made equal, you may make it differ. For example, in the configuration shown in FIG. 11, if the gaps G1, G2, G3 between the honeycomb structures 4 are made different, the amount of plasma generated in the space gaps 12-1, 12-2, 12-3 will be different. The same actions and effects as when the number of the through holes 4a per unit area of the honeycomb structures 4-1 to 4-6 are selectively made different can be obtained. In this case, the honeycomb structures 4-1 to 4-6 can be the same type of honeycomb structure having the same number of the through holes 4a per unit area, so that it is not necessary to increase the types of components.

また、上述した実施の形態1〜6において、ハニカム構造体4はオゾンを分解する触媒機能を備えたものとしてもよく、例えば、図10に示した構成において、ハニカム構造体4−4の下流位置にオゾンを分解する触媒を設けるようにしてもよい。   Moreover, in Embodiments 1 to 6 described above, the honeycomb structure 4 may have a catalytic function for decomposing ozone. For example, in the configuration shown in FIG. 10, the downstream position of the honeycomb structure 4-4. A catalyst for decomposing ozone may be provided.

また、上述した実施の形態2,3(図8,図9)において、ハニカム構造体4の数は、2つ以上あれば、幾つあっても構わない。また、上述した実施の形態4(図10)において、ハニカム構造体4の数は、2つ以上のハニカム構造体群を形成することができればよく、幾つあっても構わない。実施の形態5(図11)では、実施の形態4の変形例として、ハニカム構造体群を3つ設けた例を示している。   Moreover, in Embodiment 2 and 3 (FIG. 8, FIG. 9) mentioned above, as long as the number of the honeycomb structures 4 is two or more, it does not matter how many. In the above-described fourth embodiment (FIG. 10), the number of honeycomb structures 4 is not limited as long as two or more honeycomb structure groups can be formed. In the fifth embodiment (FIG. 11), an example in which three honeycomb structure groups are provided is shown as a modification of the fourth embodiment.

また、上述した実施の形態1〜6において、副生成物としてオゾンを大量に発生させ、オゾン発生器として転用するようにしてもよい。
また、上述した実施の形態1〜6において、ハニカム構造体4には貫通孔4aが蜂の巣状に設けられているが、多数の貫通孔4aが設けられていればよく、蜂の巣状に限られるものではない。
Moreover, in Embodiment 1-6 mentioned above, ozone may be generated in large quantities as a by-product, and you may make it divert as an ozone generator.
Moreover, in Embodiment 1-6 mentioned above, although the through-hole 4a is provided in the honeycomb structure 4 in the shape of a honeycomb, what is necessary is just to provide many through-holes 4a, and is restricted to a honeycomb shape. is not.

また、上述した実施の形態1〜6では、異常放電検知部21(21A,21B,21C)からの異常放電の発生量を示す検知信号S1(S1A,S1B,S1C)によって、駆動パルスPS1のオンタイミングに対する駆動パルスPS2のオンタイミングの進み時間TCを自動調整するようにしたが、図13に示すように、駆動パルスPS2のオフタイミングに対する駆動パルスPS1のオフタイミングの進み時間TDを自動調整するようにしてもよい。また、駆動パルスPS1のオンタイミングに対する駆動パルスPS2のオンタイミングの進み時間TCと、駆動パルスPS2のオフタイミングに対する駆動パルスPS1のオフタイミングの進み時間TDをともに自動調整するようにしてもよい。また、異常放電検知部21(21A,21B,21C)において、所定レベル以上の異常放電の発生を検知するようにし、所定レベル以上の異常放電の発生を検知した場合、駆動パルスPS2のオンタイミングの進み時間TCをTC=0からTC>0の予め定められた値に変更するようにしてもよい。   In the first to sixth embodiments described above, the drive pulse PS1 is turned on by the detection signal S1 (S1A, S1B, S1C) indicating the amount of abnormal discharge generated from the abnormal discharge detector 21 (21A, 21B, 21C). Although the on-timing advance time TC of the drive pulse PS2 with respect to the timing is automatically adjusted, as shown in FIG. 13, the off-timing advance time TD of the drive pulse PS1 with respect to the off-timing of the drive pulse PS2 is automatically adjusted. It may be. Further, both the ON timing advance time TC of the drive pulse PS2 with respect to the ON timing of the drive pulse PS1 and the OFF timing advance time TD of the drive pulse PS1 with respect to the OFF timing of the drive pulse PS2 may be automatically adjusted. In addition, when the abnormal discharge detection unit 21 (21A, 21B, 21C) detects the occurrence of abnormal discharge exceeding a predetermined level, and detects the occurrence of abnormal discharge above a predetermined level, the ON timing of the drive pulse PS2 is detected. The advance time TC may be changed from TC = 0 to a predetermined value of TC> 0.

本発明のガス処理装置は、燃料電池等に用いられる水素を効率的に生成する目的で、炭化水素類等から水素含有ガスを生成する、いわゆる改質にも適用することができる。例えばオクタン(ガソリンの平均分子量に比較的近い物質)C818の場合は、本ガス処理装置に供給すると下記(1)式で示される化学反応が促進され、その結果水素ガスを効率よく生成することができる。
818+8H2O+4(O2+4N2)→8CO2+17H2+16N2・・・・(1)
The gas processing apparatus of the present invention can also be applied to so-called reforming for generating a hydrogen-containing gas from hydrocarbons or the like for the purpose of efficiently generating hydrogen used in a fuel cell or the like. For example, in the case of octane (substance relatively close to the average molecular weight of gasoline) C 8 H 18 , when supplied to this gas treatment device, the chemical reaction represented by the following formula (1) is promoted, and as a result, hydrogen gas is efficiently generated. can do.
C 8 H 18 + 8H 2 O + 4 (O 2 + 4N 2 ) → 8CO 2 + 17H 2 + 16N 2 ... (1)

1…ダクト(通風路)、4(4−1〜4−6)…ハニカム構造体、4a…貫通孔(セル)、4A,4B,4C…ハニカム構造体群、8(8A,8B,8C),9(9A,9B,9C)…電極、12(12−1〜12−3)…空間ギャップ、16(16A,16B,16C),17(17A,17B,17C)…導線、G(G1〜G3)…間隔、GS…処理対象ガス、20(20A,20B,20C)…高電圧印加部、21(21A,21B,21C)…異常放電検知部、TR1,TR2…トランス、D1,D2,D3,D4…ダイオード、C1,C2…コンデンサ、Q1,Q2,Q3…トランジスタ、R1,R2,R3…抵抗、T1…正電圧供給端子、T2…負電圧供給端子、IC1,IC2…スイッチング用集積回路、CNT(CNTA,CNTB,CNTC)…制御部。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Duct (ventilation path), 4 (4-1 to 4-6) ... Honeycomb structure, 4a ... Through-hole (cell), 4A, 4B, 4C ... Honeycomb structure group, 8 (8A, 8B, 8C) , 9 (9A, 9B, 9C) ... electrode, 12 (12-1 to 12-3) ... space gap, 16 (16A, 16B, 16C), 17 (17A, 17B, 17C) ... conductor, G (G1 G3) ... interval, GS ... gas to be processed, 20 (20A, 20B, 20C) ... high voltage application unit, 21 (21A, 21B, 21C) ... abnormal discharge detection unit, TR1, TR2 ... transformer, D1, D2, D3 , D4 ... diode, C1, C2 ... capacitor, Q1, Q2, Q3 ... transistor, R1, R2, R3 ... resistor, T1 ... positive voltage supply terminal, T2 ... negative voltage supply terminal, IC1, IC2 ... integrated circuit for switching, CNT (CNTA, NTB, CNTC) ... control unit.

Claims (5)

通風路内に配置され、前記通風路内を流れる処理対象ガスが通過する多数の貫通孔を有する多孔体と、
この多孔体の外側の一方および他方に配置される第1および第2の電極と、
前記第1の電極と第2の電極との間に高電圧を印加し前記多孔体の貫通孔にプラズマを発生させる高電圧印加手段と、
前記第1の電極と第2の電極との間に異常放電が発生したことを検知する異常放電検知手段と、
この異常放電検知手段によって異常放電の発生が検知された場合、前記多孔体の貫通孔に発生するプラズマの発生量を減少させるように、前記高電圧印加手段からの前記第1の電極と第2の電極との間への高電圧の印加を制御する制御手段と
を備えることを特徴とするガス処理装置。
A porous body that is disposed in the ventilation path and has a large number of through holes through which the gas to be processed flowing in the ventilation path passes;
First and second electrodes disposed on one and the other outside of the porous body;
High voltage applying means for applying a high voltage between the first electrode and the second electrode to generate plasma in the through hole of the porous body;
Abnormal discharge detection means for detecting that an abnormal discharge has occurred between the first electrode and the second electrode;
When the occurrence of abnormal discharge is detected by the abnormal discharge detecting means, the first electrode and the second electrode from the high voltage applying means are reduced so as to reduce the amount of plasma generated in the through hole of the porous body. And a control means for controlling application of a high voltage to the electrode.
通風路内に間隔を設けて配置され、前記通風路内を流れる処理対象ガスが通過する多数の貫通孔を有する複数の多孔体と、
前記複数の多孔体のうち前記処理対象ガスの通過方向の最も上流に配置される多孔体の上流側に配置される上流側電極と、
前記複数の多孔体のうち前記処理対象ガスの通過方向の最も下流に配置される多孔体の下流側に配置される下流側電極と、
前記上流側電極および前記下流側電極の一方を第1の電極、他方を第2の電極とし、前記第1の電極と第2の電極との間に高電圧を印加し前記多孔体の貫通孔および前記多孔体間の空間にプラズマを発生させる高電圧印加手段と、
前記第1の電極と第2の電極との間に異常放電が発生したことを検知する異常放電検知手段と、
この異常放電検知手段によって異常放電の発生が検知された場合、前記多孔体の貫通孔および前記多孔体間の空間に発生するプラズマの発生量を減少させるように、前記高電圧印加手段からの前記第1の電極と第2の電極との間への高電圧の印加を制御する制御手段と
を備えることを特徴とするガス処理装置。
A plurality of porous bodies that are arranged at intervals in the ventilation path and have a large number of through holes through which the gas to be processed flowing in the ventilation path passes;
An upstream electrode disposed on the upstream side of the porous body disposed upstream of the processing target gas among the plurality of porous bodies; and
A downstream electrode disposed on the downstream side of the porous body disposed on the most downstream side in the passage direction of the processing target gas among the plurality of porous bodies;
One of the upstream electrode and the downstream electrode is a first electrode, the other is a second electrode, and a high voltage is applied between the first electrode and the second electrode, and the through hole of the porous body And high voltage applying means for generating plasma in the space between the porous bodies,
Abnormal discharge detection means for detecting that an abnormal discharge has occurred between the first electrode and the second electrode;
When occurrence of abnormal discharge is detected by the abnormal discharge detection means, the high voltage application means from the high voltage application means reduces the amount of plasma generated in the through hole of the porous body and the space between the porous bodies. A gas processing apparatus comprising: control means for controlling application of a high voltage between the first electrode and the second electrode.
通風路内に間隔を設けて配置され、前記通風路内を流れる処理対象ガスが通過する多数の貫通孔を有する複数の多孔体と、
前記複数の多孔体のうち隣り合う複数の多孔体を1群の多孔体群とし、これら多孔体群毎にその両端に位置する多孔体の外側に配置された第1および第2の電極と、
前記各多孔体群の第1の電極と第2の電極との間に個別に高電圧を印加し各多孔体群の多孔体の貫通孔および多孔体間の空間にプラズマを発生させる高電圧印加手段と、
前記各多孔体群の第1の電極と第2の電極との間に異常放電が発生したことを個別に検知する異常放電検知手段と、
この異常放電検知手段によって異常放電の発生が検知された場合、その異常放電の発生が検知された前記多孔体群を異常放電発生多孔体群とし、この異常放電発生多孔体群の多孔体の貫通孔および多孔体間の空間に発生するプラズマの発生量を減少させるように、前記高電圧印加手段からの前記異常放電発生多孔体群の第1の電極と第2の電極との間へのの高電圧の印加を制御する制御手段と
を備えることを特徴とするガス処理装置。
A plurality of porous bodies that are arranged at intervals in the ventilation path and have a large number of through holes through which the gas to be processed flowing in the ventilation path passes;
A plurality of adjacent porous bodies among the plurality of porous bodies are used as a group of porous bodies, and for each of the porous bodies, first and second electrodes disposed outside the porous bodies located at both ends thereof,
High voltage application for generating plasma in the through holes of the porous bodies of each porous body group and the space between the porous bodies by individually applying a high voltage between the first electrode and the second electrode of each porous body group Means,
Abnormal discharge detection means for individually detecting that an abnormal discharge has occurred between the first electrode and the second electrode of each porous body group;
When occurrence of abnormal discharge is detected by the abnormal discharge detection means, the porous body group in which occurrence of the abnormal discharge is detected is defined as an abnormal discharge generation porous body group, and the porous body of the abnormal discharge generation porous body group penetrates the porous body. In order to reduce the amount of plasma generated in the space between the pores and the porous body, the high voltage applying means is connected between the first electrode and the second electrode of the abnormal discharge generating porous body group. And a control means for controlling application of a high voltage.
通風路内に間隔を設けて配置され、前記通風路内を流れる処理対象ガスが通過する多数の貫通孔を有する複数の多孔体と、
前記複数の多孔体のうち隣り合う複数の多孔体を1群の多孔体群とし、これら多孔体群毎にその両端に位置する多孔体の外側に配置された第1および第2の電極と、
前記各多孔体群の第1の電極と第2の電極との間に個別に高電圧を印加し各多孔体群の多孔体の貫通孔および多孔体間の空間にプラズマを発生させる高電圧印加手段と、
前記複数の多孔体群のうち前記処理対象ガスの通過方向の最も上流側に位置する多孔体群を上流側多孔体群とし、この上流側多孔体群の第1の電極と第2の電極との間に異常放電が発生したことを検知する異常放電検知手段と、
この異常放電検知手段によって異常放電の発生が検知された場合、前記上流側多孔体群の多孔体の貫通孔および多孔体間の空間に発生するプラズマの発生量を減少させるように、前記高電圧印加手段からの前記上流側多孔体群の第1の電極と第2の電極との間への高電圧の印加を制御する制御手段と
を備えることを特徴とするガス処理装置。
A plurality of porous bodies that are arranged at intervals in the ventilation path and have a large number of through holes through which the gas to be processed flowing in the ventilation path passes;
A plurality of adjacent porous bodies among the plurality of porous bodies are used as a group of porous bodies, and for each of the porous bodies, first and second electrodes disposed outside the porous bodies located at both ends thereof,
High voltage application for generating plasma in the through holes of the porous bodies of each porous body group and the space between the porous bodies by individually applying a high voltage between the first electrode and the second electrode of each porous body group Means,
Among the plurality of porous body groups, a porous body group located on the most upstream side in the direction of passage of the gas to be treated is defined as an upstream porous body group, and the first electrode and the second electrode of the upstream porous body group, An abnormal discharge detection means for detecting that an abnormal discharge has occurred between,
When the occurrence of abnormal discharge is detected by the abnormal discharge detection means, the high voltage is applied so as to reduce the amount of plasma generated in the through holes of the porous bodies of the upstream porous body group and the space between the porous bodies. And a control means for controlling application of a high voltage between the first electrode and the second electrode of the upstream porous body group from the application means.
請求項1〜4の何れか1項に記載されたガス処理装置において、
前記制御手段は、
前記異常放電検知手段によって異常放電の発生が検知された場合、
前記第1の電極に接地電位から正方向に立ち上がる正電圧を、前記第2の電極に接地電位から負方向に立ち下がる負電圧を、前記第1の電極への正電圧が接地電位に立ち下がった状態と前記第2の電極への負電圧が接地電位に立ち上がった状態とが一部重なるように交互に切り換えて印加させる
ことを特徴とするガス処理装置。
In the gas treatment device according to any one of claims 1 to 4,
The control means includes
When the occurrence of abnormal discharge is detected by the abnormal discharge detection means,
A positive voltage rising in the positive direction from the ground potential is applied to the first electrode, a negative voltage falling in the negative direction from the ground potential is applied to the second electrode, and a positive voltage to the first electrode is decreased to the ground potential. The gas processing apparatus is characterized in that it is alternately switched and applied so that the state in which the negative voltage to the second electrode rises to the ground potential partially overlaps.
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