JP2010227766A - Washing brush - Google Patents

Washing brush Download PDF

Info

Publication number
JP2010227766A
JP2010227766A JP2009076018A JP2009076018A JP2010227766A JP 2010227766 A JP2010227766 A JP 2010227766A JP 2009076018 A JP2009076018 A JP 2009076018A JP 2009076018 A JP2009076018 A JP 2009076018A JP 2010227766 A JP2010227766 A JP 2010227766A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
brush
cleaning
glass substrate
piece
brush piece
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2009076018A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tomoyuki Yamaguchi
智行 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hoya Corp
Original Assignee
Hoya Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hoya Corp filed Critical Hoya Corp
Priority to JP2009076018A priority Critical patent/JP2010227766A/en
Publication of JP2010227766A publication Critical patent/JP2010227766A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Cleaning In General (AREA)
  • Brushes (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a washing brush capable of preventing the surface of a glass substrate from being scratched in a washing process of removing abrasives and impurities stuck to the surface of the glass substrate. <P>SOLUTION: The washing brush 1 for washing a body to be washed includes: a brush body 2 in a cylindrical shape rotated around a rotary shaft 4; and a plurality of brush pieces 3 arrayed on the outer peripheral surface of the brush body 2. Each brush piece 3 has a rectangular distal end face 3d comprising a short side 3a and a long side 3b, the short side 3a is a side vertical to the rotary shaft 4, and the long side 3b is a side parallel to the rotary shaft 4. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、被洗浄体を洗浄するための洗浄用ブラシに関する。   The present invention relates to a cleaning brush for cleaning an object to be cleaned.

従来、高記録密度化に適したHDD装置などの磁気ディスク用基板の一つとして、ガラス基板が用いられている。ガラス基板は、金属の基板に比べて剛性が高いので、磁気ディスク装置の高速回転化に適している。また、ガラス基板は、平滑で平坦な表面が得られるので、磁気ヘッドの浮上量を低下させることができ、S/N比の向上及び高記録密度化に適している。   Conventionally, a glass substrate has been used as one of magnetic disk substrates such as HDD devices suitable for increasing the recording density. Since the glass substrate has higher rigidity than the metal substrate, it is suitable for high-speed rotation of the magnetic disk device. Further, since a smooth and flat surface can be obtained, the glass substrate can reduce the flying height of the magnetic head and is suitable for improving the S / N ratio and increasing the recording density.

一般に、磁気ディスク用ガラス基板の製造工程では、ガラス基板の表面を精度の高い面に仕上げるために、表面を研磨材によって研磨する研磨工程が行われる。また、研磨工程の後には、ガラス基板の表面に付着した研磨材、研磨屑、その他の不純物を除去する洗浄工程が行われる。
この洗浄工程は、突起の付いた洗浄用ブラシでガラス基板の表面をブラッシングすることによって行われることが知られている(例えば、特許文献1及び2)。
In general, in the manufacturing process of a glass substrate for a magnetic disk, a polishing process is performed in which the surface of the glass substrate is polished with an abrasive to finish the surface of the glass substrate with high accuracy. In addition, after the polishing process, a cleaning process for removing abrasives, polishing debris, and other impurities attached to the surface of the glass substrate is performed.
It is known that this cleaning process is performed by brushing the surface of the glass substrate with a cleaning brush having protrusions (for example, Patent Documents 1 and 2).

特開2000-246187号公報JP 2000-246187 A 特開2008-119621号公報JP 2008-119621 A

しかしながら、突起の付いた洗浄用ブラシでガラス基板の表面をブラッシングする場合、図6に示すように、ガラス基板に対する洗浄用ブラシの押し付け圧力が所定値(図6の場合、400付近)を超えてしまうと、ガラス基板の表面に付着した研磨材や不純物を除去しようとして、ガラス基板の表面にキズをつけ易くなるという問題点があった。   However, when the surface of the glass substrate is brushed with a cleaning brush having protrusions, as shown in FIG. 6, the pressing pressure of the cleaning brush against the glass substrate exceeds a predetermined value (in the case of FIG. 6, around 400). As a result, there has been a problem that the surface of the glass substrate is easily scratched in an attempt to remove the abrasive and impurities adhering to the surface of the glass substrate.

本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、ガラス基板の表面に付着した研磨剤や不純物を除去する洗浄工程において、ガラス基板の表面にキズをつけてしまうのを防止可能な洗浄用ブラシを提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above points, and for cleaning that can prevent the surface of the glass substrate from being scratched in the cleaning step of removing the abrasive and impurities attached to the surface of the glass substrate. The object is to provide a brush.

本発明の洗浄用ブラシは、被洗浄体を洗浄するための洗浄用ブラシであって、回転軸を中心に回転する円筒形状のブラシ本体と、前記ブラシ本体の外周面上に配列された複数のブラシ片とを具備し、各ブラシ片は、短辺と長辺とからなる長方形の先端面を有し、前記短辺は、前記回転軸に対して垂直な辺であり、前記長辺は、前記回転軸に対して平行な辺であることを特徴とする。   A cleaning brush according to the present invention is a cleaning brush for cleaning an object to be cleaned, and includes a cylindrical brush body that rotates about a rotation axis, and a plurality of brush bodies arranged on the outer peripheral surface of the brush body. Each brush piece has a rectangular tip surface composed of a short side and a long side, the short side is a side perpendicular to the rotation axis, and the long side is It is a side parallel to the rotation axis.

この構成によれば、各ブラシ片の先端面が長方形であり、当該長方形の短辺が、回転軸に対して垂直、すなわち、ブラシ本体の周方向に対して平行となる。このため、被洗浄体に対する各ブラシ片の接触面は、ブラシ本体の周方向の幅が均一で短い線形状となる。このような接触面では、被洗浄体に対する押付け圧力が、接触面内で略均一に分散される。したがって、被洗浄体に対する押付け圧力が接触面の一部に集中することによって、被洗浄体に対してキズをつけてしまうのを防止できる。   According to this structure, the front end surface of each brush piece is a rectangle, and the short side of the rectangle is perpendicular to the rotation axis, that is, parallel to the circumferential direction of the brush body. For this reason, the contact surface of each brush piece with respect to the object to be cleaned has a short linear shape with a uniform width in the circumferential direction of the brush body. On such a contact surface, the pressing pressure against the object to be cleaned is distributed substantially uniformly within the contact surface. Therefore, it is possible to prevent the object to be cleaned from being scratched by the pressing pressure applied to the object to be cleaned being concentrated on a part of the contact surface.

また、上記洗浄用ブラシにおいて、前記各ブラシ片の基端部は、前記ブラシ本体の外周面上に固定されており、前記ブラシ片の前記基端部から前記先端面までの高さに対する、前記短辺の長さの比は、0.1〜0.5であることを特徴とする。   Further, in the cleaning brush, a base end portion of each brush piece is fixed on an outer peripheral surface of the brush body, and the height from the base end portion of the brush piece to the tip end surface is as described above. The ratio of the lengths of the short sides is 0.1 to 0.5.

この構成によれば、ブラシ本体の周方向に対して平行となる短辺の長さを、周方向に対して垂直となるブラシ片の高さに対して、十分に短くできる。このため、ブラシ片をブラシ本体の周方向に曲がり易くすることができる。   According to this configuration, the length of the short side parallel to the circumferential direction of the brush body can be sufficiently shortened relative to the height of the brush piece perpendicular to the circumferential direction. For this reason, the brush piece can be easily bent in the circumferential direction of the brush body.

また、上記洗浄用ブラシにおいて、前記各ブラシ片は、断面が前記先端面と同一形状をなす平板形状の長方体であることを特徴とする。   In the cleaning brush, each of the brush pieces is a flat plate-shaped rectangular parallelepiped whose cross section has the same shape as the tip surface.

この構成によれば、ブラシ片が薄い平板形状の長方体であるため、円柱形状のブラシ片と比較して、ブラシ片の柔軟性を高めることができる。   According to this configuration, since the brush piece is a thin flat plate-like rectangular parallelepiped, the flexibility of the brush piece can be increased as compared with the cylindrical brush piece.

また、上記洗浄用ブラシにおいて、前記長辺の長さに対する、前記短辺の長さの比は、0.05〜0.2であることを特徴とする。   In the cleaning brush, a ratio of the length of the short side to the length of the long side is 0.05 to 0.2.

また、上記洗浄用ブラシにおいて、前記各ブラシ片は、ブラシ本体と同様、ポリビニルアセタール系多孔質素材から構成されることを特徴とする。   In the cleaning brush, each brush piece is made of a polyvinyl acetal porous material, like the brush body.

また、上記洗浄用ブラシにおいて、前記被洗浄体は、磁気ディスク用ガラス基板であることを特徴とする。   In the cleaning brush, the object to be cleaned is a glass substrate for a magnetic disk.

本発明によれば、ガラス基板の表面に付着した研磨剤や不純物を除去する洗浄工程において、ガラス基板の表面にキズをつけてしまうのを防止することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it can prevent that the surface of a glass substrate is damaged in the washing | cleaning process which removes the abrasive | polishing agent and impurity which adhered to the surface of the glass substrate.

本発明の実施形態に係る洗浄用ブラシの斜視図である。It is a perspective view of the brush for washing concerning the embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係る洗浄用ブラシのブラシ片を拡大した模式図である。It is the schematic diagram which expanded the brush piece of the brush for washing | cleaning which concerns on embodiment of this invention. (a)本発明の実施形態に係るブラシ片の先端面と、(b)本発明の実施形態に係るブラシ片のガラス基板に対する接触面とを示す図である。It is a figure which shows the front end surface of the brush piece which concerns on (a) embodiment of this invention, and the contact surface with respect to the glass substrate of the brush piece which concerns on (b) embodiment of this invention. (a)比較例に係るブラシ片の先端面と、(b)比較例に係るブラシ片のガラス基板に対する接触面とを示す図である。(A) It is a figure which shows the front end surface of the brush piece which concerns on a comparative example, and the contact surface with respect to the glass substrate of the brush piece which concerns on (b) comparative example. 本発明の実施形態に係るブラシ片を有する洗浄用ブラシと比較例に係るブラシ片を有する洗浄用ブラシとの欠陥数の比較結果を示す図である。It is a figure which shows the comparison result of the number of defects of the cleaning brush which has the brush piece which concerns on embodiment of this invention, and the cleaning brush which has the brush piece which concerns on a comparative example. 従来の洗浄用ブラシの押付け圧力に対するガラス基板上の欠陥数を示す図である。It is a figure which shows the number of defects on the glass substrate with respect to the pressing pressure of the conventional brush for washing | cleaning.

以下、本実施形態に係る洗浄用ブラシの構成について説明する。この洗浄用ブラシは、磁気ディスク用ガラス基板の製造方法の洗浄工程で用いられるが、磁気ディスク用ガラス基板以外の基板の洗浄にも用いることが可能である。   Hereinafter, the configuration of the cleaning brush according to the present embodiment will be described. This cleaning brush is used in the cleaning step of the method for manufacturing a magnetic disk glass substrate, but can also be used for cleaning substrates other than the magnetic disk glass substrate.

図1は、本発明の実施形態に係る洗浄用ブラシの斜視図である。図1に示すように、洗浄用ブラシ1は、円筒形状のブラシ本体2と、ブラシ本体2の外周面上に配列された複数のブラシ片3と、ブラシ本体2の回転軸4とから構成される。ブラシ本体2の外周面に設けられた複数のブラシ片3は、回転軸4と平行にブラシ片列を形成するように配列される。かかるブラシ片列は、ブラシ本体2の周方向2aの全面に形成される。また、隣接するブラシ片列は、各ブラシ片3の隙間を埋めるように交互に配置される。   FIG. 1 is a perspective view of a cleaning brush according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, the cleaning brush 1 includes a cylindrical brush body 2, a plurality of brush pieces 3 arranged on the outer peripheral surface of the brush body 2, and a rotating shaft 4 of the brush body 2. The The plurality of brush pieces 3 provided on the outer peripheral surface of the brush body 2 are arranged so as to form a brush piece row parallel to the rotation shaft 4. Such a brush piece row is formed on the entire surface of the brush body 2 in the circumferential direction 2a. Adjacent brush piece rows are alternately arranged so as to fill the gaps between the brush pieces 3.

図2は、洗浄用ブラシ1のブラシ片3を拡大した模式図である。図2に示すように、ブラシ片3は、短辺3aと長辺3bとからなる長方形の先端面3dを有する。短辺3aは、ブラシ本体2の回転軸4に対して垂直な辺であり、長辺3bは、ブラシ本体2の回転軸4に対して平行な辺である。なお、長辺3bの長さに対する短辺3aの長さの比は、0.05〜0.2であることが望ましい。   FIG. 2 is an enlarged schematic view of the brush piece 3 of the cleaning brush 1. As shown in FIG. 2, the brush piece 3 has a rectangular tip surface 3d composed of a short side 3a and a long side 3b. The short side 3 a is a side perpendicular to the rotation axis 4 of the brush body 2, and the long side 3 b is a side parallel to the rotation axis 4 of the brush body 2. Note that the ratio of the length of the short side 3a to the length of the long side 3b is preferably 0.05 to 0.2.

また、ブラシ片3は、ブラシ片3の断面が先端面3dと同一形状をなす平板形状の長方体である。ブラシ片3の基端部3eは、先端面3dと同一形状であり、ブラシ本体2の外周面上に固定されている。ここで、ブラシ片3の基端部3eから先端面3dまでの高さ3cに対する短辺3aの長さの比は、0.1〜0.5であることが望ましい。   Further, the brush piece 3 is a plate-shaped rectangular parallelepiped in which the cross section of the brush piece 3 has the same shape as the tip surface 3d. The base end portion 3 e of the brush piece 3 has the same shape as the distal end surface 3 d and is fixed on the outer peripheral surface of the brush body 2. Here, the ratio of the length of the short side 3a to the height 3c from the base end portion 3e to the tip end surface 3d of the brush piece 3 is desirably 0.1 to 0.5.

また、ブラシ片3は、柔軟性と適度な反発弾性を示す素材、例えば、ポリビニルアセタール系多孔質素材から構成される。なお、ブラシ本体2も、ブラシ片3と同様に、ポリビニルアセタール系多孔質素材から構成されていてもよい。   Moreover, the brush piece 3 is comprised from the raw material which shows a softness | flexibility and moderate rebound resilience, for example, a polyvinyl acetal type porous material. The brush body 2 may also be made of a polyvinyl acetal porous material, like the brush piece 3.

次に、以上のように構成された洗浄用ブラシ1を用いたガラス基板5の洗浄方法について、比較例を用いて説明する。   Next, a method for cleaning the glass substrate 5 using the cleaning brush 1 configured as described above will be described using a comparative example.

図3(a)は、本発明の実施形態に係るブラシ片3の先端面3dを示す図であり、同図(b)は、本発明の実施形態に係るブラシ片3のガラス基板5に対する接触面3fを示す図である。図4(a)は、比較例となる洗浄用ブラシ1のブラシ片6の先端面6bを示す図であり、同図(b)は、比較例となる洗浄用ブラシ1のブラシ片6のガラス基板5に対する接触面6cを示す図である。   Fig.3 (a) is a figure which shows the front end surface 3d of the brush piece 3 which concerns on embodiment of this invention, FIG.3 (b) is the contact with respect to the glass substrate 5 of the brush piece 3 which concerns on embodiment of this invention. It is a figure which shows the surface 3f. FIG. 4A is a view showing the tip surface 6b of the brush piece 6 of the cleaning brush 1 as a comparative example, and FIG. 4B is a glass diagram of the brush piece 6 of the cleaning brush 1 as a comparative example. It is a figure which shows the contact surface 6c with respect to the board | substrate 5. FIG.

ガラス基板5の洗浄は、ブラシ本体2の外周面上に配列された各ブラシ片3を、ガラス基板5の洗浄面5aに接触させることによって行われる。具体的には、ブラシ片3は、ブラシ本体2の周方向2aにガラス基板5によって押圧された変形状態(図3(b)参照)と、ガラス基板5から離れた変形解除状態(図3(a)参照)を頻繁に繰り返すことによって、ガラス基板5の洗浄面5aをブラッシングする。このブラッシング作用により、ガラス基板5の洗浄面5aに付着した研磨材、研磨屑、その他の不純物が除去される。   The glass substrate 5 is cleaned by bringing the brush pieces 3 arranged on the outer peripheral surface of the brush body 2 into contact with the cleaning surface 5 a of the glass substrate 5. Specifically, the brush piece 3 has a deformed state (see FIG. 3B) pressed by the glass substrate 5 in the circumferential direction 2a of the brush body 2 and a deformed release state separated from the glass substrate 5 (FIG. 3 ( The cleaning surface 5a of the glass substrate 5 is brushed by frequently repeating step a). By this brushing action, abrasives, polishing debris and other impurities attached to the cleaning surface 5a of the glass substrate 5 are removed.

ここで、本実施形態に係る洗浄用ブラシ1では、図3(a)に示すように、ブラシ片3の先端面3dは長方形であり、当該長方形の短辺3aが回転軸4に対して垂直である。ここで、図1に示すように、回転軸4はブラシ本体2の周方向2aに対して垂直であるため、短辺3aはブラシ本体2の周方向2aに対して平行となる。このため、図3(b)に示すように、ガラス基板5の洗浄面5aに対するブラシ片3の接触面3fは、ブラシ本体2の周方向2aに対する幅が均一で短い線形状となる。   Here, in the cleaning brush 1 according to the present embodiment, as shown in FIG. 3A, the tip surface 3 d of the brush piece 3 is rectangular, and the short side 3 a of the rectangle is perpendicular to the rotation axis 4. It is. Here, as shown in FIG. 1, since the rotation shaft 4 is perpendicular to the circumferential direction 2 a of the brush body 2, the short side 3 a is parallel to the circumferential direction 2 a of the brush body 2. For this reason, as shown in FIG.3 (b), the contact surface 3f of the brush piece 3 with respect to the washing | cleaning surface 5a of the glass substrate 5 becomes a short linear shape with the width with respect to the circumferential direction 2a of the brush main body 2 uniform.

このような接触面3fでは、洗浄面5aに対する押付け圧力が、接触面3f内で略均一に分散され、接触面3f内の一部に集中することがない。したがって、洗浄面5aに対する押付け圧力が所定値を超え難くなり、洗浄面5aに対してキズをつけてしまう確率も低くなる。   In such a contact surface 3f, the pressing pressure against the cleaning surface 5a is distributed substantially uniformly in the contact surface 3f and does not concentrate on a part of the contact surface 3f. Therefore, the pressing pressure on the cleaning surface 5a is unlikely to exceed a predetermined value, and the probability that the cleaning surface 5a is scratched is reduced.

一方、比較例となる洗浄用ブラシでは、図4(a)に示すように、ブラシ片6の先端面6bは直径6aの円形である。このため、図4(b)に示すように、ブラシ片6の先端面6bの円周部分の角が、ガラス基板5の洗浄面5aに点接触した後、徐々に変形していく。したがって、ガラス基板5の洗浄面5aに対するブラシ片6の接触面6cは、非線形の歪んだ形状となる。   On the other hand, in the cleaning brush as a comparative example, as shown in FIG. 4A, the tip surface 6b of the brush piece 6 is circular with a diameter 6a. For this reason, as shown in FIG. 4 (b), the corners of the circumferential portion of the tip surface 6 b of the brush piece 6 gradually deform after the point contact with the cleaning surface 5 a of the glass substrate 5. Therefore, the contact surface 6c of the brush piece 6 with respect to the cleaning surface 5a of the glass substrate 5 has a nonlinear distorted shape.

このような接触面6cでは、洗浄面5aに対する押付け圧力が、接触面6c内の一部分6d、すなわち、洗浄面5aに点接触した部分6dに集中してしまう。したがって、部分6dに接触する洗浄面5aに対する押付け圧力が所定値を超え易くなり、部分6dに接触する洗浄面5aにキズをつけてしまう確率が高くなる。   In such a contact surface 6c, the pressing pressure with respect to the cleaning surface 5a is concentrated on a portion 6d in the contact surface 6c, that is, a portion 6d in point contact with the cleaning surface 5a. Therefore, the pressing pressure on the cleaning surface 5a in contact with the portion 6d is likely to exceed a predetermined value, and the probability that the cleaning surface 5a in contact with the portion 6d is scratched is increased.

以上説明したように、本実施形態に係る洗浄用ブラシ1では、ガラス基板5の洗浄面5aに対する各ブラシ片3の接触面3fは、ブラシ本体2の周方向2aの幅が均一で短い線形状となる。このような接触面3fでは、ガラス基板5の洗浄面5aに対する押付け圧力が、接触面3f内で略均一に分散される。したがって、ガラス基板5の洗浄面5aに対する押付け圧力が接触面の一部に集中することによって、ガラス基板5の洗浄面5aに対してキズをつけてしまうのを防止できる。   As described above, in the cleaning brush 1 according to the present embodiment, the contact surface 3f of each brush piece 3 with respect to the cleaning surface 5a of the glass substrate 5 has a short linear shape with a uniform width in the circumferential direction 2a of the brush body 2. It becomes. In such a contact surface 3f, the pressing pressure against the cleaning surface 5a of the glass substrate 5 is distributed substantially uniformly in the contact surface 3f. Accordingly, it is possible to prevent the cleaning surface 5a of the glass substrate 5 from being scratched by the pressing pressure against the cleaning surface 5a of the glass substrate 5 being concentrated on a part of the contact surface.

また、本実施形態に係る洗浄用ブラシ1のブラシ片3では、ブラシ本体2の周方向2aに対して平行となる短辺3aの長さが、周方向2aに対して垂直方向の高さ3cに対して十分に短いため、ブラシ片3をブラシ本体2の周方向2aに曲がり易くすることができる。また、ブラシ片3は、断面が先端面3dと同一形状をなす平板形状の長方体であるため、円柱形状のブラシ片6と比較して、ブラシ片3の柔軟性を高めることができる。また、ブラシ片3の素材としては、ポリビニルアセタール系多孔質素材を用いているため、ブラシ片3は、柔軟性と適度な反発弾性を有する。   Further, in the brush piece 3 of the cleaning brush 1 according to the present embodiment, the length of the short side 3a parallel to the circumferential direction 2a of the brush body 2 is the height 3c in the direction perpendicular to the circumferential direction 2a. Therefore, the brush piece 3 can be easily bent in the circumferential direction 2 a of the brush body 2. Further, since the brush piece 3 is a flat plate-like rectangular body having the same cross section as the tip surface 3d, the flexibility of the brush piece 3 can be enhanced as compared with the cylindrical brush piece 6. Further, since a polyvinyl acetal porous material is used as the material of the brush piece 3, the brush piece 3 has flexibility and moderate rebound resilience.

このように、本実施形態に係る洗浄用ブラシ1では、ブラシ片3の形状や素材によって、ブラシ片3が柔軟性と適度な反発弾性を有するため、ガラス基板5の洗浄面5aに対するブラシ片3の押付け圧力が過剰となりすぎない。したがって、ガラス基板5の洗浄面5aに対する押付け圧力が過剰となることによって、ガラス基板5の洗浄面5aにキズをつけてしまうことも防ぐことができる。   As described above, in the cleaning brush 1 according to the present embodiment, the brush piece 3 has flexibility and appropriate rebound resilience depending on the shape and material of the brush piece 3, and thus the brush piece 3 against the cleaning surface 5 a of the glass substrate 5. The pressing pressure is not excessive. Therefore, it is possible to prevent the cleaning surface 5a of the glass substrate 5 from being scratched due to excessive pressing pressure on the cleaning surface 5a of the glass substrate 5.

(実施例)
以下に実施例を挙げて、本発明の実施の形態について具体的に説明する。なお、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
(Example)
Hereinafter, embodiments of the present invention will be specifically described with reference to examples. In addition, this invention is not limited to a following example.

以下の(1)切り出し工程、(2)形状加工工程、(3)粗面化工程、(4)精ラッピング工程、(5)端面研磨工程、(6)主表面研磨工程、(7)化学強化工程、(8)洗浄工程、(9)検査工程を経て本実施例の磁気ディスク用ガラス基板を製造した。   (1) Cutting step, (2) Shape processing step, (3) Roughening step, (4) Fine lapping step, (5) End surface polishing step, (6) Main surface polishing step, (7) Chemical strengthening The glass substrate for a magnetic disk of this example was manufactured through the process, (8) cleaning process, and (9) inspection process.

なお、磁気ディスク用ガラス基板を製造するための板状のガラス素材はフロート法により製造した。フロート法では、融液を溶融スズの上に流し、そのまま固化させる。板ガラスの両面はガラスの自由表面とガラス/スズの界面であるため研磨せずにRaが0.001μm以下の鏡面をなす板状のガラス素材を得た。   In addition, the plate-shaped glass raw material for manufacturing the glass substrate for magnetic discs was manufactured by the float process. In the float process, the melt is poured over molten tin and solidified as it is. Since both surfaces of the plate glass were the glass free surface and the glass / tin interface, a plate-like glass material having a mirror surface with a Ra of 0.001 μm or less was obtained without polishing.

(1)切り出し工程
フロート法で製造した厚さ0.95mmのアルミノシリケートガラスからなる板状ガラス素材を所定の大きさの四角形に切断したものを使用し、そのトップ面にガラスカッターで、磁気ディスク用ガラス基板となされる領域の外周側及び内周側の略周縁を描く円形の切り筋を形成した。なお、このアルミノシリケートガラスとしては、SiO:58質量%〜75質量%、Al:5質量%〜23質量%、LiO:3質量%〜10質量%、NaO:4質量%〜13質量%を含有する化学強化用ガラスを使用した。次いで、上記切り筋を形成した板状ガラスのトップ面側を全体的にヒータで加熱し、上記切り筋を板状ガラスのボトム面側に進行させて所定の直径を有するガラス基板5(鏡面板ガラス)を切り出した。
(1) Cutting process A plate glass material made of aluminosilicate glass having a thickness of 0.95 mm manufactured by the float method is cut into a square of a predetermined size, and a glass cutter is used on the top surface of the magnetic disk. A circular cut line was formed to describe the substantially peripheral edge on the outer peripheral side and the inner peripheral side of the region to be the glass substrate. As the aluminosilicate glass, SiO 2: 58 wt% to 75 wt%, Al 2 O 3: 5 wt% to 23 wt%, Li 2 O: 3% to 10% by weight, Na 2 O: 4 A glass for chemical strengthening containing from 13% by mass to 13% by mass was used. Next, the top surface side of the sheet glass on which the cut line is formed is heated by a heater as a whole, and the cut line is advanced toward the bottom surface side of the plate glass to have a glass substrate 5 (mirror plate glass) having a predetermined diameter. ) Was cut out.

(2)形状加工工程
次に、外周端面及び内周端面の研削をして外径を65mmφ、内径(中心部の円孔の直径)を20mmφとした後、外周端面および内周端面に所定の面取り加工を施した。このときのガラス基板5の端面の表面粗さは、Rmaxで2μm程度であった。
(2) Shape processing step Next, after grinding the outer peripheral end surface and the inner peripheral end surface to an outer diameter of 65 mmφ and an inner diameter (diameter of the circular hole in the central portion) of 20 mmφ, Chamfered. At this time, the surface roughness of the end face of the glass substrate 5 was about 2 μm in Rmax.

(3)粗面化工程
4.0MのHFを用い、これに緩衝剤としてKOHを加えてなる処理液を調製した。この処理液のpHは4.55であった。この処理液にガラス基板5を浸漬して、ガラス表面にフロスト加工を行った。フロスト加工の処理温度は50℃であり、処理時間は420秒とした。このフロスト加工においては、HF が腐食因子であり、KFが防食因子として働く。このフロスト加工により、鏡面ガラス基板5の表面全体がほぼ均一の表面粗さRa=0.01μm〜0.4μm程度になった。なお、粗面化工程で目標とする表面粗さは、後の精ラッピング工程で使用する固定砥粒の粒度との関係で決めることが望ましい。
(3) Roughening step Using 4.0M HF, a treatment liquid was prepared by adding KOH as a buffering agent. The pH of this treatment liquid was 4.55. The glass substrate 5 was immersed in this processing liquid, and frost processing was performed on the glass surface. The processing temperature for frosting was 50 ° C., and the processing time was 420 seconds. In this frost processing, HF 2 is a corrosion factor and KF acts as a corrosion protection factor. By this frost processing, the entire surface of the specular glass substrate 5 has a substantially uniform surface roughness Ra = 0.01 μm to 0.4 μm. Note that the target surface roughness in the roughening step is desirably determined by the relationship with the particle size of the fixed abrasive used in the subsequent fine lapping step.

(4)精ラッピング工程(表面研削工程)
粗面化されたガラス基板5の主表面を、固定砥粒研磨パッドを用いて研削した。固定砥粒研磨パッドとして、ダイヤモンドシートを用いた。ダイヤモンドシートは、ダイヤモンド粒子を研削砥粒として備えたものである。ダイヤモンドシートは、基材としてPETからなるシートを備えている。ダイヤモンド粒子の平均粒径はB=4μmであった。
(4) Precision lapping process (surface grinding process)
The main surface of the roughened glass substrate 5 was ground using a fixed abrasive polishing pad. A diamond sheet was used as a fixed abrasive polishing pad. The diamond sheet is provided with diamond particles as abrasive grains. The diamond sheet includes a sheet made of PET as a base material. The average particle diameter of the diamond particles was B = 4 μm.

精ラッピング工程では、粗面化されたガラス基板5をラッピング装置にセットして、ダイヤモンドシートを用いてディスク表面をラッピングすることにより、高加工レートで表面粗さRaを0.1μm以下で、平坦度を6μm以下とすることができた。   In the fine lapping process, the roughened glass substrate 5 is set in a lapping apparatus, and the disk surface is lapped with a diamond sheet, so that the surface roughness Ra is 0.1 μm or less at a high processing rate. The degree could be 6 μm or less.

このように、事前にガラス基板5の主表面が粗面化工程で粗面化されているので、微細な固定砥粒の引っ掛かりとなる凸部がガラス基板5の主表面に形成され、固定砥粒が素材表面を滑ってしまう不具合を防止でき、精ラッピング工程における加工レートは、表面研磨開始から高加工レートを実現することができる。ここでの加工レートは6.0μm/分であった。   Thus, since the main surface of the glass substrate 5 is roughened in the roughening step in advance, a convex portion that becomes a catch of fine fixed abrasive grains is formed on the main surface of the glass substrate 5, and fixed abrasive It is possible to prevent the problem that the grains slip on the surface of the material, and the processing rate in the fine lapping process can realize a high processing rate from the start of surface polishing. The processing rate here was 6.0 μm / min.

(5)端面研磨工程
次いで、ブラシ研磨により、ガラス基板5を回転させながらガラス基板5の端面(内周、外周)の表面の粗さを、Rmaxで0.4μm、Raで0.1μm程度に研磨した。
(5) End face polishing step Next, the surface roughness of the end face (inner circumference, outer circumference) of the glass substrate 5 is about 0.4 μm at Rmax and about 0.1 μm at Ra while rotating the glass substrate 5 by brush polishing. Polished.

(6)主表面研磨工程
次に、上述したラッピング工程で残留した傷や歪みの除去するための第1研磨工程を、両面研磨装置を用いて行った。両面研磨装置においては、研磨パッドが貼り付けられた上下研磨定盤の間にキャリアにより保持したガラス基板5を密着させ、このキャリアを太陽歯車と内歯歯車とに噛合させ、上記ガラス基板5を上下研磨定盤によって挟圧する。その後、研磨パッドとガラス基板5の研磨面との間に研磨液を供給して回転させることによって、ガラス基板5が研磨定盤上で自転しながら公転して両面を同時に研磨加工するものである。具体的には、ポリシャとして硬質ポリシャ(硬質発泡ウレタン)を用い、第1研磨工程を実施した。
(6) Main surface polishing step Next, a first polishing step for removing scratches and distortions remaining in the lapping step described above was performed using a double-side polishing apparatus. In the double-side polishing apparatus, the glass substrate 5 held by the carrier is closely attached between the upper and lower polishing surface plates to which the polishing pad is attached, the carrier is meshed with the sun gear and the internal gear, and the glass substrate 5 is attached. Clamp with upper and lower polishing surface plate. Thereafter, by supplying and rotating a polishing liquid between the polishing pad and the polishing surface of the glass substrate 5, the glass substrate 5 revolves while rotating on the polishing surface plate to simultaneously polish both surfaces. . Specifically, a hard polisher (hard foamed urethane) was used as the polisher, and the first polishing step was performed.

次いで、上記の第1研磨工程で使用したものと同じ両面研磨装置を用い、ポリシャを軟質ポリシャ(スウェード)の研磨パッドに替えて第2研磨工程を実施した。この第2研磨工程は、上述した第1研磨工程で得られた平坦な表面を維持しつつ、例えばガラス基板5の主表面の表面粗さをRmaxで3nm程度以下の平滑な鏡面に仕上げるための鏡面研磨加工である。   Next, using the same double-side polishing apparatus as that used in the first polishing step, the second polishing step was performed by replacing the polisher with a polishing pad of soft polisher (suede). In this second polishing step, for example, the surface roughness of the main surface of the glass substrate 5 is finished to a smooth mirror surface having an Rmax of about 3 nm or less while maintaining the flat surface obtained in the first polishing step. Mirror polishing process.

(7)化学強化工程
次に、ガラス基板5に化学強化を施した。ガラス基板5の表面に存在するイオン(例えば、アルミノシリケートガラス使用の場合、Li及びNa)よりもイオン半径の大きなイオン(Na及びK)にイオン交換する。ガラス基板5の表面において(例えば、ガラス基板5の表面から約5μmまで)、イオン半径の大きい原子とイオン交換を行って、ガラス表面に圧縮応力を与えることでガラス基板5の剛性を上げている。このようにして、本実施例の磁気ディスク用ガラス基板を得た。
(7) Chemical Strengthening Step Next, the glass substrate 5 was chemically strengthened. Ion exchange is performed to ions (Na + and K + ) having a larger ion radius than ions existing on the surface of the glass substrate 5 (for example, Li + and Na + when using an aluminosilicate glass). On the surface of the glass substrate 5 (for example, from the surface of the glass substrate 5 to about 5 μm), ions are exchanged with atoms having a large ion radius, and the compression stress is applied to the glass surface to increase the rigidity of the glass substrate 5. . In this way, a glass substrate for a magnetic disk of this example was obtained.

(8)洗浄工程
ガラス基板5の表面に付着した研磨剤、研磨屑、不純物を除去するために、平板形状のブラシ片3を有する洗浄用ブラシ1を用いて、スクラブ洗浄を行った。スクラブ洗浄の洗浄時間は10秒とし、洗浄用ブラシ1の回転数は300rpmとした。また、平板形状のブラシ片3の素材として、ポリビニルアセタール系多孔質素材を使用した。
(8) Cleaning Step In order to remove the abrasive, polishing debris, and impurities adhering to the surface of the glass substrate 5, scrub cleaning was performed using the cleaning brush 1 having the plate-like brush piece 3. The cleaning time for scrub cleaning was 10 seconds, and the rotation speed of the cleaning brush 1 was 300 rpm. In addition, a polyvinyl acetal porous material was used as the material for the flat brush piece 3.

なお、本実施例では、洗浄工程を便宜的に化学強化工程の後に記載したが、洗浄工程は、精ラッピング工程(表面研削工程)から第1研磨工程および第2研磨工程までの各工程間でも適宜行われる。   In this embodiment, the cleaning process is described after the chemical strengthening process for the sake of convenience. However, the cleaning process is also performed between each process from the fine lapping process (surface grinding process) to the first polishing process and the second polishing process. As appropriate.

(9)検査工程
ガラス基板5の両主表面について、記録面を形成するためのスペックを満足しているか否かを検査した。具体的には、化学強化されたガラス基板5の両主表面について、平板形状のブラシ片3を有する洗浄用ブラシ1を用いて洗浄を行った後、ガラス基板5の表面上のキズ、汚れ(パーティクル)、素材要因、形状変化等の欠陥を検査した。この結果、図5に示すように、平板形状のブラシ片3を有する洗浄用ブラシ1を用いた場合のガラス基板5の表面上の欠陥数は、38であった。
(9) Inspection process About both main surfaces of the glass substrate 5, it was test | inspected whether the specification for forming a recording surface was satisfied. Specifically, both main surfaces of the chemically strengthened glass substrate 5 are cleaned using the cleaning brush 1 having the flat-plate-shaped brush pieces 3, and then scratches and dirt on the surface of the glass substrate 5 ( Defects such as particles), material factors and shape changes were inspected. As a result, as shown in FIG. 5, the number of defects on the surface of the glass substrate 5 in the case of using the cleaning brush 1 having the plate-like brush piece 3 was 38.

(比較例)
比較例では、平板形状のブラシ片3を有する洗浄用ブラシ1の代わりに、円柱形状のブラシ片6を有する洗浄用ブラシ1を用いて、洗浄工程を行った。スクラブ洗浄の洗浄時間は10秒とし、洗浄用ブラシ1の回転数は300rpmとした。また、円柱形状のブラシ片6の素材として、ポリビニルアセタール系多孔質素材を使用した。
(Comparative example)
In the comparative example, the cleaning process was performed using the cleaning brush 1 having the cylindrical brush piece 6 instead of the cleaning brush 1 having the flat brush piece 3. The cleaning time for scrub cleaning was 10 seconds, and the rotation speed of the cleaning brush 1 was 300 rpm. A polyvinyl acetal porous material was used as the material of the cylindrical brush piece 6.

このような洗浄工程の後、検査工程を行った。なお、上記以外の各工程の条件は、実施例と同様とした。この結果、図5に示すように、円柱形状のブラシ片6を有する洗浄用ブラシ1を用いた場合のガラス基板5の表面上の欠陥数は、54となった。   After such a cleaning process, an inspection process was performed. The conditions for each step other than those described above were the same as in the examples. As a result, as shown in FIG. 5, the number of defects on the surface of the glass substrate 5 when the cleaning brush 1 having the cylindrical brush piece 6 was used was 54.

以上説明したように、実施例及び比較例における検査工程の結果、ガラス基板5の表面上の欠陥数は、図5に示すように、平板形状のブラシ片3を用いてガラス基板5の表面を洗浄した場合は「38」であるのに対して、円柱形状のブラシ片6を用いてガラス基板5の表面を洗浄した場合は「54」となった。   As described above, the number of defects on the surface of the glass substrate 5 as a result of the inspection process in the example and the comparative example is as follows. As shown in FIG. When it was “38”, it was “54” when the surface of the glass substrate 5 was cleaned using the cylindrical brush piece 6.

すなわち、平板形状のブラシ片3を有する洗浄用ブラシ1を用いて洗浄工程を行うことにより、ガラス基板の表面にキズをつけてしまうのを防ぐことができたため、円柱形状のブラシ片6を有する洗浄用ブラシ1を用いて洗浄工程を行った場合と比較して、ガラス基板5の表面上の欠陥数を軽減することができた。   That is, by performing the cleaning process using the cleaning brush 1 having the flat-shaped brush piece 3, the surface of the glass substrate can be prevented from being scratched, and thus the cylindrical brush piece 6 is provided. Compared with the case where the cleaning process was performed using the cleaning brush 1, the number of defects on the surface of the glass substrate 5 could be reduced.

本発明は、上記実施の携帯に限定されず、種々変更して実施することができる。例えば、上記実施形態における材質、個数、サイズ、処理手順などは一例であり、本発明の効果を発揮する範囲内において種々変更して実施することが可能である。その他、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施することが可能である。   The present invention is not limited to the above embodiment and can be implemented with various modifications. For example, the material, the number, the size, the processing procedure, and the like in the above-described embodiment are examples, and various changes can be made within the range where the effects of the present invention are exhibited. In addition, various modifications can be made without departing from the scope of the object of the present invention.

1…ブラシ
2…ブラシ本体
3…ブラシ片(平板形状)
3a…短辺
3b…長辺
3c…高さ
3d…先端面
3e…基端面
3f…接触面
4…回転軸
5…ガラス基板
5a…洗浄面
6…ブラシ片(円柱形状)
6a…直径
6b…先端面
6c…接触面
6d…接触面の一部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Brush 2 ... Brush body 3 ... Brush piece (flat plate shape)
3a ... short side 3b ... long side 3c ... height 3d ... tip surface 3e ... base end surface 3f ... contact surface 4 ... rotating shaft 5 ... glass substrate 5a ... cleaning surface 6 ... brush piece (cylindrical shape)
6a ... diameter 6b ... tip surface 6c ... contact surface 6d ... part of contact surface

Claims (6)

被洗浄体を洗浄するための洗浄用ブラシであって、
回転軸を中心に回転する円筒形状のブラシ本体と、
前記ブラシ本体の外周面上に配列された複数のブラシ片とを具備し、
各ブラシ片は、短辺と長辺とからなる長方形の先端面を有し、
前記短辺は、前記回転軸に対して垂直な辺であり、
前記長辺は、前記回転軸に対して平行な辺であることを特徴とする洗浄用ブラシ。
A cleaning brush for cleaning an object to be cleaned,
A cylindrical brush body that rotates about a rotation axis;
A plurality of brush pieces arranged on the outer peripheral surface of the brush body,
Each brush piece has a rectangular tip surface composed of a short side and a long side,
The short side is a side perpendicular to the rotation axis,
The cleaning brush according to claim 1, wherein the long side is a side parallel to the rotation axis.
前記各ブラシ片の基端部は、前記ブラシ本体の外周面上に固定されており、
前記ブラシ片の前記基端部から前記先端面までの高さに対する、前記短辺の長さの比は、0.1〜0.5であることを特徴とする請求項1に記載の洗浄用ブラシ。
The base end portion of each brush piece is fixed on the outer peripheral surface of the brush body,
The ratio of the length of the said short side with respect to the height from the said base end part of the said brush piece to the said front end surface is 0.1-0.5, For washing | cleaning of Claim 1 characterized by the above-mentioned. brush.
前記各ブラシ片は、断面が前記先端面と同一形状をなす平板形状の長方体であることを特徴とする請求項1又は2に記載の洗浄用ブラシ。   The brush for cleaning according to claim 1, wherein each brush piece is a flat plate-shaped rectangular parallelepiped having a cross section identical to the tip surface. 前記長辺の長さに対する、前記短辺の長さの比は、0.05〜0.2であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の洗浄用ブラシ。   The cleaning brush according to any one of claims 1 to 3, wherein a ratio of the length of the short side to the length of the long side is 0.05 to 0.2. 前記各ブラシ片は、ポリビニルアセタール系多孔質素材から構成されることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の洗浄用ブラシ。   Each said brush piece is comprised from a polyvinyl acetal type porous material, The brush for washing | cleaning in any one of the Claims 1 thru | or 4 characterized by the above-mentioned. 前記被洗浄体は、磁気ディスク用ガラス基板であることを特徴とする請求項1乃至5に記載の洗浄用ブラシ。

6. The cleaning brush according to claim 1, wherein the object to be cleaned is a glass substrate for a magnetic disk.

JP2009076018A 2009-03-26 2009-03-26 Washing brush Pending JP2010227766A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009076018A JP2010227766A (en) 2009-03-26 2009-03-26 Washing brush

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009076018A JP2010227766A (en) 2009-03-26 2009-03-26 Washing brush

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010227766A true JP2010227766A (en) 2010-10-14

Family

ID=43044160

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009076018A Pending JP2010227766A (en) 2009-03-26 2009-03-26 Washing brush

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010227766A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101409676B1 (en) 2011-01-26 2014-06-18 아사히 가라스 가부시키가이샤 Method for producing cover glass for display device
KR101574259B1 (en) 2015-04-16 2015-12-04 김태열 Cleaner
CN106037245A (en) * 2016-07-27 2016-10-26 无锡飞达纺织印染机械有限公司 Brush roll for textile printing and dyeing machinery

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101409676B1 (en) 2011-01-26 2014-06-18 아사히 가라스 가부시키가이샤 Method for producing cover glass for display device
KR101574259B1 (en) 2015-04-16 2015-12-04 김태열 Cleaner
CN106037245A (en) * 2016-07-27 2016-10-26 无锡飞达纺织印染机械有限公司 Brush roll for textile printing and dyeing machinery

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5297321B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk
JP5297549B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk and manufacturing method of magnetic disk
JP5542989B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk and manufacturing method of magnetic disk
JP5454180B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic recording medium and glass substrate for magnetic recording medium
JP5035405B2 (en) Method for manufacturing glass substrate for magnetic recording medium
JP2010257562A (en) Substrate for magnetic disk and method for manufacturing the same
JP2006324006A (en) Manufacturing method of glass substrate for information recording medium and glass substrate for information recording medium
JP2007118172A (en) Polishing device, polishing method, manufacturing method for glass substrate for magnetic disk, and method for magnetic method
JP5853408B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic recording medium and glass substrate for magnetic recording medium
JP5585269B2 (en) Method for manufacturing glass substrate for magnetic recording medium
JP5327275B2 (en) End polishing brush and method for manufacturing glass substrate for magnetic recording medium
JP2010227766A (en) Washing brush
JP4905238B2 (en) Polishing method of glass substrate for magnetic recording medium
JP2007098485A (en) Glass substrate for magnetic record medium and manufacturing method of magnetic disk
JP2010079948A (en) Method of manufacturing glass substrate for magnetic disk
JP2007102843A (en) Glass substrate for magnetic recording medium and magnetic disk
JP5102261B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for information recording medium
JP6330628B2 (en) Manufacturing method of glass substrate
JP2003187424A (en) Manufacturing method of glass substrate for information recording medium, and the glass substrate for information recording medium
JP6034580B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for HDD
JP2010231852A (en) Base plate holder
JP2007102842A (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic recording medium and magnetic disk
JP2015069662A (en) Method of manufacturing glass substrate for hdd
JP6199047B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk
JP2003067918A (en) Cleaning disk, scrub cleaning method using the cleaning disk, and manufacturing method of substrate for information recording medium