JP2010219066A - 四重極型質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】繰り返し質量走査における待ち時間は、従来、分析条件に依らず一定とされていた。これに対し、本発明に係る四重極型質量分析装置では、指定された質量範囲により走査終了質量と走査開始質量との質量差ΔMを計算し、この質量差に応じて異なるセトリングタイムを設定する。質量差ΔMが小さく電圧安定化時間が短くて済む場合には、相対的に小さなセトリングタイムが設定される。これにより、質量走査の繰り返し周期が短くなり、時間分解能が向上する。
【選択図】図2
Description
a)前記四重極質量フィルタを構成する各電極に所定の電圧を印加する四重極駆動手段と、
b)スキャン測定又は複数の質量を順次設定するサイクルを繰り返す測定に際し、質量に応じて前記四重極質量フィルタを構成する各電極への印加電圧を走査又は変更するべく前記四重極駆動手段を制御するとき、サイクルの開始質量と終了質量との質量差に応じて、1つのサイクルの終了から次のサイクルの開始までの待ち時間を変更する制御手段と、
を備えることを特徴としている。
ΔMs=k×[走査速度]×[m/z値]1/2
ここで、kはイオンの加速電圧により決まる定数であり、加速電圧が大きいほど定数kは小さくなる。なお、定数kは四重極質量フィルタ3のロッド電極3a〜3dの長さにも依存するが、この長さはユーザにより設定される分析条件ではないため重要でない。
2…イオン輸送光学系
3…四重極質量フィルタ
3a、3b、3c、3d…ロッド電極
4…検出器
10…制御部
101…セトリングタイム決定部
102…走査マージン幅決定部
11…入力部
12…電圧制御データ記憶部
13…イオン選択用電圧発生部
15…高周波電圧発生部
16…直流電圧発生部
17…高周波/直流加算部
18…バイアス電圧発生部
19、20…バイアス加算部
21…イオン光学系電圧発生部
Claims (2)
- 特定の質量を持つイオンを選択的に通過させる四重極質量フィルタと、該四重極質量フィルタを通過したイオンを検出する検出器と、を具備し、前記四重極質量フィルタを通過するイオンの質量を所定の質量範囲に亘り走査するサイクルを繰り返すスキャン測定、又は複数の質量を順次設定するサイクルを繰り返す測定を実行する四重極型質量分析装置において、
a)前記四重極質量フィルタを構成する各電極に所定の電圧を印加する四重極駆動手段と、
b)スキャン測定又は複数の質量を順次設定するサイクルを繰り返す測定に際し、質量に応じて前記四重極質量フィルタを構成する各電極への印加電圧を走査又は変更するべく前記四重極駆動手段を制御するとき、サイクルの開始質量と終了質量との質量差に応じて、1つのサイクルの終了から次のサイクルの開始までの待ち時間を変更する制御手段と、
を備えることを特徴とする四重極型質量分析装置。 - 請求項1に記載の四重極型質量分析装置であって、
前記制御手段は、サイクルの開始質量と終了質量との質量差が小さいほど、前記待ち時間を短くすることを特徴とする四重極型質量分析装置。
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