JP2010217409A - カラーフィルタの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】少なくとも複数の受光素子を有する支持体に設けられるカラーフィルタの製造方法であって、(a)支持体上に有機層を形成する有機層形成工程と、(b)パターニングされたフォトレジスト層をマスクとして、窒素、アンモニア、及び水素から選択される1種以上のガスと酸素ガスとを含む混合ガスを用い、前記有機層をドライエッチング処理するエッチング工程と、(c)前記エッチング工程後に残存する前記フォトレジスト層を有機溶剤により選択的に溶解除去するフォトレジスト除去工程と、を含んでいる。
【選択図】なし
Description
<1> 少なくとも複数の受光素子を有する支持体に(例えば支持体の受光素子形成面側に)設けられるカラーフィルタの製造方法であって、(a)支持体上に有機層を形成する有機層形成工程と、(b)パターニングされたフォトレジスト層をマスクとして、窒素、アンモニア、及び水素から選択される1種以上のガスと酸素ガスとを含む混合ガスを用い、前記有機層をドライエッチング処理するエッチング工程と、(c)前記エッチング工程後に残存する前記フォトレジスト層を有機溶剤により選択的に溶解除去するフォトレジスト除去工程と、を含むカラーフィルタの製造方法である。
支持体上に、第1の有機層として低屈折率層を形成する低屈折率層形成工程と、前記低屈折率層を、パターニングされたフォトレジスト層をマスクとして前記混合ガスを用いたドライエッチング処理により、第nの着色パターン(n≧1)を形成する凹状の領域と、着色パターン間を離隔するマトリックス領域(離隔領域)とを有する凹凸パターンに加工する加工工程と、少なくとも前記領域に、第n+1の有機層(n≧1)として着色層を設け、第nの着色パターン(n≧1)を形成する着色層形成工程と、を含むことを特徴とする前記<1>又は前記<2>に記載のカラーフィルタの製造方法である。
フルオロカーボン等のフッ素系ガスを使用しないエッチング処理が可能になることにより、設備投資等に伴なうコストの抑制も可能になる。
本発明のカラーフィルタの製造方法は、少なくとも複数の受光素子を有する支持体(例えばその受光素子形成面側)にカラーフィルタを備えた固体撮像素子のカラーフィルタを作製するものであり、特に、(a)支持体上に有機層を形成する有機層形成工程と、(b)パターニングされたフォトレジスト層をマスクとして、窒素、アンモニア、及び水素から選択される1種以上のガスと酸素ガスとを含む混合ガスを用い、前記有機層をドライエッチング処理するエッチング工程と、(c)前記エッチング工程後に残存する前記フォトレジスト層を有機溶剤により選択的に溶解除去するフォトレジスト除去工程と、を設けて構成されている。本発明のカラーフィルタの製造方法は、必要に応じて、更に他の工程を設けて構成することができる。
本発明では、レジストにダメージ層が形成され難いため、追加して数秒の酸素プラズマによるレジストダメージ層の除去ステップが不要であり、また、下地が無機膜の場合はダメージが抑えられ、エッチングプロセスが適用しやすいものである。
(a)有機層形成工程
有機層形成工程は、支持体上に有機層を形成する。ここでの有機層は、各色の着色パターンを形成する着色剤含有の着色層、着色パターン間を離隔するマトリクスパターンを形成するための樹脂層(例えば後述する低屈折率層)など、主としてカラーフィルタを構成する有機層が含まれる。着色層を形成する場合、単一の着色層であってもよいし、2種以上の着色層であってもよい。
着色層は、着色剤を含有する硬化性組成物によって形成されることが好ましい。硬化性組成物としては、着色光硬化性組成物、及び非感光性の着色熱硬化性組成物を挙げることができる。着色光硬化性組成物及び着色熱硬化性組成物のいずれも使用可能であるが、同等の分光特性をより薄膜で形成する観点から、着色成分含有比率の高い着色熱硬化性組成物を用いることが好ましい。
〜着色熱硬化性組成物〜
非感光性の着色熱硬化性組成物は、着色剤の少なくとも1種と、熱硬化性化合物の少なくとも1種とを少なくとも用いて構成することができ、必要に応じて各種添加剤を更に含んでもよい。中でも、着色剤の組成物全固形分中における含有量が50質量%以上100質量%未満であって、熱硬化性化合物の組成物全固形分中における含有量が4質量%以上50質量%以下であることが好ましい。これにより着色層の分光特性をより良好にすることができる。
着色剤は、従来公知の種々の染料や顔料を1種又は2種以上混合して用いることができる。顔料としては、従来公知の種々の無機顔料又は有機顔料を挙げることができる。顔料及び染料としては、特開2008−292548号公報の段落番号[0017]〜[0029]に記載の顔料や染料などを挙げることができる。また、同公報の段落番号[0031]に記載の顔料分散剤や界面活性剤を添加してもよい。
熱硬化性化合物としては、加熱により膜硬化を行なえるものであれば特に制限はなく、例えば、熱硬化性官能基を有する化合物を用いることができる。熱硬化性化合物としては、例えば、エポキシ基、メチロール基、アルコキシメチル基及びアシロキシメチル基から選ばれる少なくとも1つの基を有するものが好ましい。
着色熱硬化性組成物には、本発明の効果を損なわない範囲で、必要に応じて、各種添加物、例えば、バインダー、硬化剤、硬化触媒、溶剤、充填剤、前記以外の高分子化合物、界面活性剤、密着促進剤、酸化防止剤、紫外線吸収剤、凝集防止剤、分散剤、等を配合することができる。
また、非感光性の着色熱硬化性組成物に必要に応じて含有される溶剤としては、組成物の溶解性、塗布性を満足すれば基本的に特に限定されないが、特に染料、バインダー(アルカリ可溶性樹脂)の溶解性、塗布性、安全性を考慮して選択されるのが好ましい。溶剤は、特開2008−292548号公報の段落番号[0062]〜[0065]に記載のものを挙げることができ、中でも、3−エトキシプロピオン酸メチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、乳酸エチル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、酢酸ブチル、3−メトキシプロピオン酸メチル、2−ヘプタノン、シクロヘキサノン、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノブチルエーテルアセテート、プロピレングリコールメチルエーテル、プロピレングリコールメチルエーテルアセテート等が好適である。
着色熱硬化性組成物の好ましい調製方法について説明する。但し、本発明はこれに限定されるものではない。
着色熱硬化性組成物には、顔料粒子を微粒子化し、且つその粒子サイズ分布をシャープにした顔料を用いる方法が好適である。具体的には、平均粒子径が0.01μm程度であり、且つ粒子径が0.01±0.005μmの範囲にある顔料粒子を75質量%以上含んで構成される顔料を用いる方法が好ましい。顔料の粒子サイズ分布を上述の範囲に調整するためには、顔料の分散方法が特に重要となる。そのような分散方法としては、例えば、ニーダーや二本ロールなどのロールミルを用いて高粘度状態で分散する乾式分散(混練分散処理)と三本ロールやビーズミル等を用いて比較的低粘度状態で分散する湿式分散(微分散処理)とを組合せた分散方法が挙げられる。また、前記分散方法においては、2種以上の顔料を共分散したり、混練分散処理時には、溶剤を使用しないか若しくは使用量をできるだけ少なくしたり、各種分散剤を用いるのも好ましい。更に、ソルベントショックを和らげるために樹脂成分を前記混練分散処理時と微分散処理時とに分けて添加(2分割使用)したりすることが好ましく、また、混練分散処理から微分散処理に移行する際に顔料粒子が再凝集するのを防止するために溶解性に優れた樹脂成分を用いるのが好ましい。更に、微分散処理時に使用するビーズミルのビーズに高硬度のセラミックスを使用したり、粒径の小さいビーズを使用したりする手段も有効である。尚、前記樹脂成分としては、例えば、上述のアルカリ可溶性樹脂を用いることができる。
一般に、これら顔料は合成後、種々の方法で乾燥を経て供給される。通常は水媒体から乾燥させて粉末体として供給されるが、水が乾燥するには大きな蒸発潜熱を必要とするため、乾燥して粉末とさせるには大きな熱エネルギーを与える。そのため、顔料は一次粒子が集合した凝集体(二次粒子)を形成しているのが普通である。
支持体としては、例えば、液晶表示素子等に用いられるソーダガラス、ホウケイ酸ガラス、石英ガラス及びこれらに透明導電膜を付着させたものや、撮像素子等に用いられる光電変換素子基板、例えばシリコン基板等や、相補性金属酸化膜半導体(CMOS)基板などが挙げられる。また裏面照射素子などにも用いることができる。CMOS)基板などでは、着色層はその上に設けられた保護膜上に形成されるのが好ましく、保護膜としてはSiN、SiON、SiO2などの無機膜が挙げられる。無機膜については、特に制限はない。さらに、画素形成領域の保護膜をインナーレンズとして機能させるようにして表面に凹凸を有する形態、保護膜がポリイミドなどの有機膜である形態が考えられるが、前記凹凸を有する形態では凹凸を解消するための平坦化層として、保護膜が有機系の膜である形態の場合、エッチングストッパーとして機能させるために更にSi、Ti、Zr、Ta、Ca等を分散させた組成物を熱硬化等することにより形成した透明層を更に含んでもよい。
エッチング工程は、前記有機層形成工程で形成された有機層を、パターニングされたフォトレジスト層をマスクとして、窒素、アンモニア、及び水素から選択される1種以上のガスと酸素ガスとを含む混合ガスを用いてドライエッチング処理する。
レジスト形成工程では、支持体上の有機層の上に更にフォトレジスト層を形成する。具体的には、着色層上にポジ又はネガ型の感光性樹脂組成物を塗布し、これを乾燥させることによりフォトレジスト層を形成できる。フォトレジスト層の形成においては、更にプリベーク処理を施すことが好ましい。特に、フォトレジストの形成プロセスとしては、露光後の加熱処理(PEB)、現像後の加熱処理(ポストベーク処理)を実施する形態が望ましい。
加工工程では、フォトレジスト層を露光、現像により所定のパターンに加工し、レジストパターン(パターニングされたフォトレジスト層)を形成する。露光、現像によりフォトレジスト層を所望のパターン様に除去することによって、着色パターンを形成しようとする領域のフォトレジスト層が除去されてなるレジストパターンが形成され、次のエッチング工程で用いられるエッチングマスクを着色層上に設けることができる。
ドライエッチング工程では、形成されたレジストパターンをエッチングマスクとして、着色層をドライエッチングする。ドライエッチング処理の方法の例としては、特開昭59−126506号、特開昭59−46628号、同58−9108号、同58−2809号、同57−148706号、同61−41102号などの公報に記載されているような方法がある。
この主エッチングガスは、酸素ガスとの組み合わせにより、有機膜の加工を異方性をもって加工することができる。
低屈折率層形成工程は、支持体上に、着色パターンを形成する前の第1の有機層として、低屈折率材を用いて低屈折率層を形成する。この低屈折率層は、カラーフィルタを構成するR(赤色)、G(緑色)、B(青色)等の各着色パターンの間に位置する層であり、最終的に各着色パターン間にマトリクス状に配置されて、着色パターンを離隔する。
また、低屈折率層の着色パターン間の距離(パターンエッジからパターンエッジまでの最短距離)としては、光感度の向上及び混色抑制の観点から、0.05〜0.2μmが好ましく、0.1μm程度がより好ましい。
低屈折率層の加工を行なう加工工程においては、前記低屈折率層形成工程で形成された低屈折率層を、パターニングされたフォトレジスト層(レジストパターン)をマスクとして、窒素、アンモニア、及び水素から選択される1種以上のガスと酸素ガスとを含む混合ガスを用いてドライエッチング処理を行なうことにより、第nの着色パターン(n≧1;例えば第1色目の着色パターン)を形成する凹状の領域と、着色パターン間を離隔するマトリックス領域とを有する凹凸パターンに加工する。
着色層形成工程は、少なくとも、第n〔n=1,2,3・・・〕の着色パターン(例:第1色目の着色パターン)を形成するための凹状の領域に、第n+1〔n=1,2,3・・・〕の有機層(例:第2の有機層)として、第n色目〔n=1,2,3・・・〕の着色層(例:第1色目の着色層)を設け、第n〔n=1,2,3・・・〕の着色パターン(例:第1色目の着色パターン)を形成する。
例えば、初めに形成した低屈折率層に、まず、第1の着色パターン(1色目パターン)を形成するための凹状の領域を設け、凹凸パターンに加工する。このとき、凹状の領域が形成されていない領域がマトリックス領域として凹パターン間に存在し、形成される第1の着色パターンはこのマトリックス領域により離隔される。続いて、形成された凹状の領域に埋め込むように、第2の有機膜として第1の着色層を設け、第1の着色パターン(1色目パターン)を形成する。次に、第1の着色パターンが形成されていないマトリクス領域に、第2の着色パターン(2色目パターン)を形成する凹状の領域を設け、再び凹凸パターンに加工する。この場合、凹状の領域が形成されていない領域がマトリックス領域として第1の着色パターン間及び凹パターン間に存在し、形成される第2の着色パターンもマトリックス領域により離隔される。続いて、第3の有機膜として第2の着色層を凹状の領域に埋め込むように設け、第2の着色パターン(2色目パターン)を形成する。さらに、第1及び第2の着色パターンが形成されていないマトリクス領域に、第3の着色パターン(3色目パターン)を形成する凹状の領域を設け、再び凹凸パターンに加工する。この場合、凹状の領域が形成されていない領域が第1及び第2の着色パターン間及び凹パターン間に存在し、形成される第3の着色パターンもマトリックス領域により離隔される。続いて、第4の有機膜として第3の着色層を凹状の領域に埋め込むように設け、第3の着色パターン(3色目パターン)を形成する。第4の着色パターンを形成する場合も同様である。
フォトレジスト除去工程は、前記エッチング工程後に残存する前記フォトレジスト層(すなわちエッチングマスク)を有機溶剤により選択的に溶解除去する。これにより、エッチング後に残存するフォトレジスト層の除去を、着色層や支持体にダメージを与えることなく容易に行なうことができる。
本発明においては、フォトレジスト層除去工程後の着色パターンを、100℃以上220℃以下で加熱処理する加熱工程を更に含むことが好ましい。これにより、着色パターンに吸収されている水分等を除去することができ、その後に行なう場合がある第2の着色パターンの形成時における塗布不良、密着性不良等の不具合の発生を抑制することができる。
カラーフィルタ22は、中間層上に形成されている。
以下に示すようにパターンを形成することにより、単色のカラーフィルタを作製する場合の一例を示す。本実施例では、下地材(基板)としてシリコン基板を用いた。
下記組成の熱硬化性組成物100g(固形分12質量%、全固形分中に占める顔料の含有比率=57.40質量%)を調液し、この熱硬化性組成物をシリコン基板(支持体)上にスピンコーターにて、熱硬化後の膜厚が0.5μmの塗布膜となるように塗布した後、ホットプレートを使用して220℃で5分間、加熱を行なって着色膜を硬化し、GREEN(緑色)の着色層を形成した。
・顔料分散液 ・・・45.968g
(オリエンタル化成社製のGREEN分散液〔C.I.ピグメント・イエロー(PY)139及びC.I.ピグメント・グリーン(PG)36及びC.I.ピグメント・グリーン(PG)7(PY139:PG36:PG7=35:80:20[質量比]〕と分散剤と分散樹脂を含有、固形分:24.8質量%)
・熱硬化性樹脂 ・・・0.50g
(EHPE−315、ダイセル化学工業社製;ラクトン変性エポキシ樹脂)
・NKエステル A−TMP−6BO(新中村化学社製;モノマー)・・・0.10g
・界面活性剤(フッ素系界面活性剤)・・・0.006g
・プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)・・・53.42g
次に、形成した着色層上に、ポジ型のフォトレジスト「FHi622BC」(富士フイルムエレクトロニクスマテリアルズ社製)をスピンコーターにて塗布し、100℃で1分間の加熱処理を行ない、膜厚が0.8μmになるようにフォトレジスト層を形成した。次いで、i線ステッパー(FPA3000i5、キャノン(株)製)にて300mJ/cm2のパターン露光を行ない、110℃で1分間の加熱処理を実施した後、現像液FHD−5(富士フイルムエレクトロニクスマテリアルズ社製)で1分間、現像処理した。その後、110℃で1分間、ポストベーク処理を実施し、GREENの着色パターンを形成しようとする領域のフォトレジスト層を除去した。このとき、パターンは、ピッチ:1.2μm、パターンサイズ(開口サイズ):1.12μm(上方からみた矩形パターンの一辺の長さ)、パターン配列:市松状パターンとした。
次に、ドライエッチング装置U−621(日立ハイテクノロジーズ社製)を用いて、下記の条件にて、オーバーエッチング率を20%としてエッチング処理を実施した。
<条件>
・RFパワー:600W
・アンテナバイアス:100W
・ウエハバイアス:250W
・チャンバーの内部圧力:2.5Pa
・基板温度:50℃
・エッチングガス種・流量:N2=500sccm、O2=100sccm、Ar=500sccm(N2/O2/Ar=5/1/5)
次いで、フォトレジスト剥離液MS−230C(富士フイルムエレクトロニクスマテリアルズ社製)を使用し、120秒の剥離処理を実施することにより、マスクとして用いたフォトレジスト層の除去を行なった。その後、純水による1分間のリンスを行ない、スピン乾燥を実施した。更に、120℃で1分間の脱水処理ベークを実施した。
フォトレジスト層の除去及び脱水処理ベークを行なった後のGREENパターンを、電子顕微鏡S9260(日立ハイテクノロジーズ社製)にて観察したところ、形成された開口サイズは1.185μm(上方からみた矩形パターンの一辺の長さ)であった。更に、断面観察用操作顕微鏡S4800(日立ハイテクノロジーズ製)によりカラーフィルタパターンの断面を観察したところ、パターン断面の形状は矩形であり、開口したパターン内部の側壁のテーパー角(θ)は91.3度であった。
−1.パターン矩形性−
形成されたベーク後のカラーフィルタパターンの、基板面の法線方向と平行な平面で切断した際の切断面におけるパターン形状を走査型電子顕微鏡S−4800((株)日立ハイテクノロジ―ズ製)で観察し、断面のプロファイルから角(カド)の形状を下記の評価基準にしたがって矩形性を評価した。
<評価基準>
○:角(カド)の丸みが小さく、良好な矩形が得られた。
△:角(カド)に丸みがないが、側壁の荒れが確認された。
×:角(カド)がエッチングされており、矩形が得られなかった。
形成されたカラーフィルタパターンのうち、シリコン基板からの剥がれによるパターン欠損の発生の有無を、測長SEM(S−7800H、(株)日立製作所製)により観察し、下記の評価基準にしたがって評価した。
<評価基準>
○:剥離残りが全く観察されなかった。
△:剥離残りがほとんど観察されなかったが、一部残渣が発生していた。剥離条件の最適化により剥離残りが改善できるレベルである。
×:剥離残りが観察された。
形成されたベーク後のカラーフィルタパターンの、シリコン基板面の法線方向と平行な平面で切断した際の切断面を走査型電子顕微鏡S−4800((株)日立ハイテクノロジ―ズ製)にて観察し、開口したパターン内部の側壁の表面がシリコン基板面となす角度θ(°;図1参照)を測定した。
エッチングされた領域の表面における粗れ又は削れの有無を、走査型電子顕微鏡により観察し、評価した。
実施例1において、エッチングガス条件及びパワー条件を下記表1に示すように変更したこと以外は、実施例1と同様にして、単色のカラーフィルタパターンを形成し、評価を行なった。評価結果は、下記表1に示す。
以下に示すようにパターンを形成することにより、3色の着色パターンと透明な低屈折率材を用いたマトリックスパターンとを有するカラーフィルタを作製する場合の一例を示す。下地材(基板)として、有機CMOSセンサー基板を用いた。
下記組成の熱硬化性組成物100g(固形分12質量%、全固形分中に占める顔料の含有比率=61.6質量%)を調液した。
<熱硬化性組成物(RED)の組成>
・顔料分散液 ・・・56.998g
(東洋インキ社製のRED分散液〔C.I.ピグメント・レッド(PR)254及びC.I.ピグメント・イエロー(PY)139(PR254:PY139=100:45[質量比]〕と分散剤と分散樹脂とを含有、固形分:20質量%)
・熱硬化性樹脂 ・・・0.50g
(EHPE−315、ダイセル化学工業社製;ラクトン変性エポキシ樹脂)
・NKエステル A−TMP−6BO(新中村化学社製;モノマー)・・・0.10g
・界面活性剤(フッ素系界面活性剤)・・・0.006g
・プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)・・・42.366g
下記組成の熱硬化性組成物100g(固形分15質量%、全固形分中に占める顔料の含有比率=60.9質量%)を調液した。
<熱硬化性組成物(BLUE)の組成>
・顔料分散液 ・・・56.998g
(山陽色素製のBLΜE分散液〔C.I.ピグメント・ブルー(PB)15:6及びC.I.ピグメント・バイオレット(PV)23(PB15:6:PV23=100:25[質量比]〕と分散剤と分散樹脂とを含有、固形分:19.3質量%)
・熱硬化性樹脂 ・・・1.875g
(EHPE−315、ダイセル化学工業社製;ラクトン変性エポキシ樹脂)
・NKエステル A−TMP−6BO(新中村化学社製;モノマー)・・・0.375g
・界面活性剤(フッ素系界面活性剤)・・・0.015g
・プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)・・・31.64g
CMOSセンサー基板の上に、デバイス封止膜としてPPX膜(ポリペラキシリレン)が形成されたCMOS基板を用意し、その上にアモルファスフッ素樹脂(サイトップCTL−809M:旭硝子社製)を膜厚が0.55μmになるように塗布し、200℃で5分間、ポストベース処理を行ない、第1の有機層として、フッ素樹脂層(波長633nmでの屈折率が1.34の低屈折率層)を形成した。次いで、このフッ素樹脂層の表面を浸水化処理するために、ドライエッチャーU−621(日立ハイテクノロジーズ社製)にてアルゴンガス及び酸素ガスの混合ガス(Ar/O2=1000/50sccm)を用いて圧力2.0Pa、5秒の条件にて、表面浸水化処理を行なった。表面浸水化処理によるエッチング量は、0.03μmであった。
表面浸水化処理を施したフッ素樹脂層の上に、ポジ型のフォトレジスト「FHi622BC」(富士フイルムエレクトロニクスマテリアルズ社製)をスピンコーターにて塗布し、90℃で60秒間のプリベークを実施し、膜厚0.8μmのフォトレジスト層を形成した。
下記条件でドライエッチングを実施し、前記フッ素樹脂層を加工して、凹凸パターンを形成した。
<エッチング条件>
・エッチング装置:U−621(日立ハイテクノロジーズ社製)
・ガス流量 :Ar/N2/O2=500/500/100sccm
・Bias :RFパワー:800W、アンテナバイアス:400W、ウエハバイア ス:200W
・電極高さ :68mm
・圧力 :2.5Pa
・エッチング時間:30sec(オーバーエッチング率200%)
下記条件で、エッチングマスクとして用いたフォトレジスト層の剥離処理を行なった。
<剥離条件>
・基板温度 :50℃
・剥離液 :MS230C(富士フイルムエレクトロニクスマテリアルズ社製)
・剥離時間 :120sec(パドル処理)
・リンス :純水で60秒間、スプレーノズルにて噴射(0.2Pa)
・スピン乾燥:2000rpm、30秒間
次いで、ホットプレートを用いて120℃で2分間、脱水処理を行なって、図3に示すように、フッ素樹脂層に凹凸状にパターンを形成した。
上記のように凹凸状のパターンが形成されたCMOS基板の凹凸形成面に、第2の有機層として図4に示すように、実施例1で調製したGREENの熱硬化性組成物をスピンコーターにて、熱硬化後の膜厚が0.4μmの塗布膜となるように塗布した後、ホットプレートを使用して200℃で300秒間、ポストベークを行なって着色膜を硬化し、GREEN(緑色)の着色層を形成した。
次に、形成した着色層上に、ポジ型のフォトレジスト「FHi622BC」(富士フイルムエレクトロニクスマテリアルズ社製)をスピンコーターにて塗布し、90℃で1分間の加熱処理を行ない、膜厚が0.8μmになるようにフォトレジスト層を形成した。
下記条件にてドライエッチング処理を実施し、フッ素樹脂層及びGREEN(緑色)の着色層を加工し、図5に示すように、フッ素樹脂層及び着色層に凹凸状にパターンを形成した。
<エッチング条件>
・エッチング装置:U−621(日立ハイテクノロジーズ社製)
・ガス流量 :Ar/N2/O2=500/500/100sccm
・Bias :RFパワー:800W、アンテナバイアス:400W、ウエハバイア ス:200W
・電極高さ :68mm
・圧力 :2.5Pa
・エッチング時間:60sec(オーバーエッチング率30%)
下記条件で、エッチングマスクとして用いたフォトレジスト層の剥離処理を行なった。
<剥離条件>
・基板温度 :50℃
・剥離液 :MS230C(富士フイルムエレクトロニクスマテリアルズ社製)
・剥離時間 :120sec(パドル処理)
・リンス :純水で60秒間、スプレーノズルにて噴射(0.2Pa)
・スピン乾燥:2000rpm、30秒間
次いで、ホットプレートを用いて120℃で2分間、脱水処理を行なって、図6に示すように、フッ素樹脂層に凹凸状にパターンを形成した。
上記のように凹凸状のパターンが形成された、GREENの着色層を有するCMOS基板の凹凸形成面に、さらに第3の有機層として図7に示すように、上記で調製したRED(赤色)の熱硬化性組成物をスピンコーターにて、熱硬化後の膜厚が0.5μmの塗布膜となるように塗布した後、ホットプレートを使用して200℃で300秒間、ポストベークを行なって着色膜を硬化し、RED(赤色)の着色層を形成した。
次に、形成したREDの着色層上に、ポジ型のフォトレジスト「FHi622BC」(富士フイルムエレクトロニクスマテリアルズ社製)をスピンコーターにて塗布し、90℃で1分間の加熱処理を行ない、膜厚が1.4μmになるようにフォトレジスト層を形成した。
下記条件にてドライエッチング処理を実施し、フッ素樹脂層、GREEN(緑色)の着色層、及びRED(赤色)の着色層を加工し、図8に示すように、フッ素樹脂層及び着色層に凹凸状にパターンを形成した。
<エッチング条件>
・エッチング装置:U−621(日立ハイテクノロジーズ社製)
・ガス流量 :Ar/N2/O2=500/500/100sccm
・Bias :RFパワー:800W、アンテナバイアス:400W、ウエハバイア ス:200W
・電極高さ :68mm
・圧力 :2.5Pa
・エッチング時間:95sec(オーバーエッチング率30%)
下記条件で、エッチングマスクとして用いたフォトレジスト層の剥離処理を行なった。
<剥離条件>
・基板温度 :50℃
・剥離液 :MS230C(富士フイルムエレクトロニクスマテリアルズ社製)
・剥離時間 :120sec(パドル処理)
・リンス :純水で60秒間、スプレーノズルにて噴射(0.2Pa)
・スピン乾燥:2000rpm、30秒間
次いで、ホットプレートを用いて120℃で2分間、脱水処理を行なって、図9に示すように、フッ素樹脂層に凹凸状にパターンを形成した。
さらに、上記のように凹凸状のパターンが形成された、GREEN及びREDの着色層を有するCMOS基板の凹凸形成面に、さらに第4の有機層として図10に示すように、上記で調製したBLUE(青色)の熱硬化性組成物をスピンコーターにて、熱硬化後の膜厚が0.8μmの塗布膜となるように塗布した後、ホットプレートを使用して200℃で300秒間、ポストベークを行なって着色膜を硬化し、BLUE(青色)の着色層を形成した。
次に、下記の条件にて、CMOS基板の着色層形成面に対して、GREENの着色層が現れるまでCMP研磨処理を行なった。
<条件>
・研磨方法:Semispase25(キャボット社製のCMPスラリー)による研磨:DIW(Deionized water,純水)による研磨(水ポリッシュ)=1:19
・研磨時間:5分間
研磨終了後、研磨面を純水で30秒間洗浄し、研磨後のクリーニング処理を行なった。
最後に、ホットプレートを用いて120℃で2分間、脱水処理を行ない、図11に示すように、1.3μm四方の矩形状のRGB3色の着色パターンと低屈折率のマトリックスパターン(幅長(着色パターン間の最短距離)0.1μm)とが形成されたカラーフィルタ(画素サイズ:1.4μm四方)を作製した。各着色パターンは、マトリクスパターンによって互いに隔離されている。このカラーフィルタの断面構造を図12に示す。カラーフィルタの膜厚は、約0.45μmであり、RGB3色の着色パターン及びマトリックスパターンにより平坦面が形成されていた。
また、上記の工程中において、ドライエッチング処理で形成された凹凸状のパターンは、パターン内部の側壁が基板面に対して80度〜100度の間のテーパー角(θ)にて形成されていた。また、カラーフィルタを基板面の法線方向と平行な平面で切断した際の切断面において、着色パターン及びマトリックスパターンのパターン形状はいずれも、矩形でほぼ垂直な形状を有していた。
7・・・低屈折率層(マトリクスパターン)
10・・・固体撮像素子
21・・・受光素子
22・・・カラーフィルタ
23・・・マイクロレンズ
Claims (5)
- 少なくとも複数の受光素子を有する支持体に設けられるカラーフィルタの製造方法であって、
(a)支持体上に有機層を形成する有機層形成工程と、
(b)パターニングされたフォトレジスト層をマスクとして、窒素、アンモニア、及び水素から選択される1種以上のガスと酸素ガスとを含む混合ガスを用い、前記有機層をドライエッチング処理するエッチング工程と、
(c)前記エッチング工程後に残存する前記フォトレジスト層を有機溶剤により選択的に溶解除去するフォトレジスト除去工程と、
を含むカラーフィルタの製造方法。 - 前記混合ガスは、更に、希ガスの少なくとも一種を含むことを特徴とする請求項1に記載のカラーフィルタの製造方法。
- 前記(a)有機層形成工程及び前記(b)エッチング工程として、
支持体上に、第1の有機層として低屈折率層を形成する低屈折率層形成工程と、
前記低屈折率層を、パターニングされたフォトレジスト層をマスクとして前記混合ガスを用いたドライエッチング処理により、第nの着色パターン(n≧1)を形成する凹状の領域と、着色パターン間を離隔するマトリックス領域とを有する凹凸パターンに加工する加工工程と、
少なくとも前記領域に、第n+1の有機層(n≧1)として着色層を設け、第nの着色パターン(n≧1)を形成する着色層形成工程と、
を含むことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のカラーフィルタの製造方法。 - 前記ドライエッチング処理により、側壁のテーパー角が85度〜100度である凹状の領域を形成することを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載のカラーフィルタの製造方法。
- 前記低屈折率層の屈折率が1.4以下であることを特徴とする請求項3又は請求項4に記載のカラーフィルタの製造方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015174189A1 (ja) * | 2014-05-15 | 2015-11-19 | 富士フイルム株式会社 | 着色組成物、硬化膜、カラーフィルタ、パターン形成方法、カラーフィルタの製造方法、固体撮像素子および画像表示装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09298183A (ja) * | 1996-04-30 | 1997-11-18 | Matsushita Electron Corp | 有機膜のエッチング方法 |
WO2003007357A1 (fr) * | 2001-07-10 | 2003-01-23 | Tokyo Electron Limited | Procede de gravure a sec |
JP2003298034A (ja) * | 2002-04-05 | 2003-10-17 | Sony Corp | 固体撮像素子及びその製造方法 |
JP2006128433A (ja) * | 2004-10-29 | 2006-05-18 | Sony Corp | 光フィルタ付き光学装置及びその製造方法 |
JP2007304283A (ja) * | 2006-05-10 | 2007-11-22 | Fujifilm Corp | 顔料含有硬化性組成物、並びに、カラーフィルタ、画像記録材料、および、カラーフィルタの製造方法 |
JP2008292629A (ja) * | 2007-05-23 | 2008-12-04 | Fujifilm Corp | カラーフィルタの製造方法 |
-
2009
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09298183A (ja) * | 1996-04-30 | 1997-11-18 | Matsushita Electron Corp | 有機膜のエッチング方法 |
WO2003007357A1 (fr) * | 2001-07-10 | 2003-01-23 | Tokyo Electron Limited | Procede de gravure a sec |
JP2003298034A (ja) * | 2002-04-05 | 2003-10-17 | Sony Corp | 固体撮像素子及びその製造方法 |
JP2006128433A (ja) * | 2004-10-29 | 2006-05-18 | Sony Corp | 光フィルタ付き光学装置及びその製造方法 |
JP2007304283A (ja) * | 2006-05-10 | 2007-11-22 | Fujifilm Corp | 顔料含有硬化性組成物、並びに、カラーフィルタ、画像記録材料、および、カラーフィルタの製造方法 |
JP2008292629A (ja) * | 2007-05-23 | 2008-12-04 | Fujifilm Corp | カラーフィルタの製造方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015174189A1 (ja) * | 2014-05-15 | 2015-11-19 | 富士フイルム株式会社 | 着色組成物、硬化膜、カラーフィルタ、パターン形成方法、カラーフィルタの製造方法、固体撮像素子および画像表示装置 |
JPWO2015174189A1 (ja) * | 2014-05-15 | 2017-04-20 | 富士フイルム株式会社 | 着色組成物、硬化膜、カラーフィルタ、パターン形成方法、カラーフィルタの製造方法、固体撮像素子および画像表示装置 |
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