JP2010210501A - 光立体構造像装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】測定光を走査して測定対象に照射し測定対象からの光を入射する光学系を大型化することなく光プローブのシースの細径化が図れ、測定光とは異なる波長帯域の光による画像情報を高解像度で取得し、かつ該画像情報を測定対象の光立体構造像の表面情報に高精度にて対応させる。
【解決手段】プローブ40内の3本のファイバは束ねられてシャフト115と一体的に構成されて、シース40aの内部を通り、ロータリーコネクタ42にシャフト115が接続されている。ロータリーコネクタ42は、回転速度がシャフト120の回転速度の1/2である台形状のダブルプリズムを介して、ファイバFB1、FB2、FB3と、プローブ40内の3本のファイバと、を光学的に結合する多芯光ロータリージョイント部を備えている。
【選択図】図2

Description

本発明は光立体構造像装置に係り、特に光立体構造像の生成に特徴のある光立体構造像装置に関する。
従来、生体組織の光断層画像を取得する際に、OCT(Optical Coherence Tomography)計測を利用した光断層画像取得装置が用いられることがある。この光断層画像取得装置は、光源から射出された低コヒーレント光を測定光と参照光とに分割した後、該測定光が測定対象に照射されたときの測定対象からの反射光、もしくは後方散乱光と参照光とを合波し、該反射光と参照光との干渉光の強度に基づいて光断層画像を取得するものである(特許文献1)。以下、測定対象からの反射光、後方散乱光をまとめて反射光と標記する。
上記のOCT計測には、大きくわけてTD−OCT(Time domain OCT)計測とFD−OCT(Fourier Domain OCT)計測の2種類がある。TD−OCT計測は、参照光の光路長を変更しながら干渉光強度を測定することにより、測定対象の深さ方向の位置(以下、深さ位置という)に対応した反射光強度分布を取得する方法である。
一方、FD−OCT計測は、参照光と信号光の光路長は変えることなく、光のスペクトル成分毎に干渉光強度を測定し、ここで得られたスペクトル干渉強度信号を計算機にてフーリエ変換に代表される周波数解析を行うことで、深さ位置に対応した反射光強度分布を取得する方法である。TD−OCTに存在する機械的な走査が不要となることで、高速な測定が可能となる手法として、近年注目されている。
FD−OCT計測を行う装置構成で代表的な物としては、SD−OCT(Spectral Domain OCT)装置とSS−OCT(Swept Source OCT)の2種類が挙げられる。SD−OCT装置は、SLD(Super Luminescence Diode)やASE(Amplified Spontaneous Emission)光源、白色光といった広帯域の低コヒーレント光を光源に用い、マイケルソン型干渉計等を用いて、広帯域の低コヒーレント光を測定光と参照光とに分割した後、測定光を測定対象に照射させ、そのとき戻って来た反射光と参照光とを干渉させ、この干渉光をスペクトロメータを用いて各周波数成分に分解し、フォトダイオード等の素子がアレイ状に配列されたディテクタアレイを用いて各周波数成分毎の干渉光強度を測定し、これにより得られたスペクトル干渉強度信号を計算機でフーリエ変換することにより、光断層画像を構成するようにしたものである。
一方、SS−OCT装置は、光周波数を時間的に掃引させるレーザを光源に用い、反射光と参照光とを各波長において干渉させ、光周波数の時間変化に対応した信号の時間波形を測定し、これにより得られたスペクトル干渉強度信号を計算機でフーリエ変換することにより光断層画像を構成するようにしたものである。
ところで、OCT計測は上述したように特定の領域の光断層像を取得する方法であるが、内視鏡下では、例えば癌病変部を通常照明光内視鏡や特殊光内視鏡の観察により発見し、その領域をOCT測定することで、癌病変部がどこまで浸潤しているかを見わけることが可能となる。また、測定光の光軸を2次元的に走査することで、OCT計測による深さ情報と合わせて3次元的な情報を取得することができる。
OCT計測と3次元コンピュータグラフィック技術の融合により、マイクロメートルオーダの分解能を持つ測定対象の構造情報からなる3次元構造モデルを表示することが可能となる事から、以下ではこのOCT計測による3次元構造モデルを光立体構造像と呼ぶ。
光立体構造像は通常、生体組織による吸収が少ない赤外光により取得するため、通常照明光内視鏡で得られるようなカラー画像とは異なる。通常照明光内視鏡による測定対象である生体組織の表面のカラー画像からは、その色の変化から表層近くの血管や炎症の分布、正常と病変の色味の違いといった情報が得られるが、OCT計測で得られる画像にはそのような情報はない。また、通常照明光内視鏡で観察した際に見たいと思った場所に、OCT計測の測定光の光軸を正確に当てることは困難である。
そこで、通常照明光内視鏡画像と同様な生体組織の表面からのフルカラー画像と、OCT測定による3次元画像を正確に対比させて見ることが望まれる。光立体構造像を目的としたものではないが、通常照明光内視鏡画像とOCT画像を同時に観察する従来技術としては、通常照明光内視鏡とOCT測定を一体化させて組み合わせた内視鏡(特許文献2)、ダイクロイックミラーを用いてCCDカメラの光軸とOCT測定の測定光の光軸を同軸に配置するプローブ(特許文献3)、ファイババンドルとOCT計測を組み合わせた内視鏡(特許文献4)等が開示されている。
特開2008−128708号公報 特開2001−70228号公報 特開2004−344260号公報 特開2001−74946号公報
しかしながら、例えば特許文献2に開示されている内視鏡は、通常照明光内視鏡とOCT測定の視点角度が異なるため、両者の画像を一致させることが難しいといった問題がある。
また、例えば特許文献3に開示されているプローブは、CCDカメラとOCT計測の視点向きが一致しており、両者の画像を合成するには都合がよいが、CCDカメラをプローブ先端部に組み込む必要があり、プローブが大型化する欠点がある。また、プローブを細径化するためには、CCDの画素数が少ないものに限定され、通常照明光画像が粗くなるという欠点がある。
さらに、例えば特許文献4に開示されている内視鏡では、ファイババンドルを用いればCCDカメラを本体基端側に配置できプローブの細径化を図ることができるという利点があるが、バンドル化できるファイバ本数は少なく、解像度が著しく劣るという欠点がある。また、逆に解像度を上げようと、ファイバ本数を増やすと、プローブが相対的に太くなる欠点がある。
また、測定光用のファイバと通常照明光用のファイバを用いてOCT計測の測定光及び通常照明光を測定対象に走査して照射することも考えられるが、測定光及び通常照明光の光軸を測定対象に一致させて走査する走査手段(例えば偏向ミラー)を測定対象近傍に設ける必要があり、さらに走査手段を走査駆動するための走査駆動手段(例えばモータ)も必要となる。この走査駆動手段を走査手段の近傍、すなわち、測定対象近傍に設けると、測定光及び通常照明光を走査して測定対象に照射し測定対象からの光を入射する光学系が、さらに大型化するといった問題がある。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、測定光を走査して測定対象に照射し測定対象からの光を入射する光学系を大型化することなく光プローブのシースの細径化が図れ、測定光とは異なる波長帯域の光による画像情報を高解像度で取得し、かつ該画像情報を測定対象の光立体構造像の表面情報に高精度にて対応させることのできる光立体構造像装置を提供することを目的とする。
前記目的を達成するために、請求項1に記載の光立体構造像装置は、第1の波長帯域の光を発する第1波長域光源と、前記第1の波長帯域の光を測定光と参照光に分離する光分離手段と、前記測定光を導波する第1の導波手段と、前記第1の導波手段と光学的に連結された第2の導波手段と、前記第2の導波手段を導波した前記測定光を測定対象に照射する照射手段と、前記測定対象上の点からの前記測定光に基づく光を前記第2の導波手段に集光する第1の集光手段と、前記第2の導波手段に光学的に連結された前記第1の導波手段を導波した前記測定対象上の前記点からの前記測定光に基づく光と前記参照光との干渉情報を検出する干渉情報検出手段と、前記測定対象上の前記点からの前記第1の波長帯域とは異なる第2の波長帯域の光を集光する第2の集光手段と、前記第2の集光手段が集光した前記第2の波長帯域の光を導波する第3の導波手段と、前記第3の導波手段と光学的に連結された第4の導波手段と、前記第3の導波手段に光学的に連結された前記第4の導波手段を導波した前記第2の波長帯域の光を受光し受光信号を取得する受光手段と、前記第1の集光手段及び前記第2の集光手段により集光する前記測定対象上の前記点を走査する走査手段と、長手軸の先端側に前記走査手段を配置し、前記第1の導波手段と前記第2の導波手段を光学的に接続すると共に前記第3の導波手段と前記第2の導波手段を光学的に接続する接続手段を前記長手軸の基端側に有するシースと、を備え、前記接続手段は、前記走査手段を駆動して、前記第1の集光手段及び前記第2の集光手段により集光する前記測定対象上の前記点を走査させる走査駆動手段を有して構成される。
請求項1に記載の光立体構造像装置では、前記第1の導波手段及び前記第2の導波手段が前記測定光を導波し、前記干渉情報検出手段が前記測定対象上の前記点からの前記測定光に基づく光と前記参照光との干渉情報を検出し、前記第3の導波手段及び前記第4の導波手段が前記測定対象上の前記点からの前記第1の波長帯域とは異なる第2の波長帯域の光を導波し、前記受光手段が前記第2の波長帯域の光を受光し受光信号を取得し、かつ、前記シースの前記長手軸の基端側に設けられた前記接続手段の前記走査駆動手段が前記シースの前記長手軸の先端側に設けられた前記走査手段を駆動して、前記第1の集光手段及び前記第2の集光手段により集光する前記測定対象上の前記点を走査させることで、測定光を走査して測定対象に照射し測定対象からの光を入射する光学系を大型化することなく光プローブのシースの細径化が図れ、測定光とは異なる波長帯域の光による画像情報を高解像度で取得し、かつ該画像情報を測定対象の光立体構造像の表面情報に高精度にて対応させることを可能とする。
請求項2に記載の光立体構造像装置のように、請求項1に記載の光立体構造像装置であって、前記シースは内部に略円筒状の回転部材を有し、前記第2の導波手段及び前記第4の導波手段は前記回転部材内に設けられ、前記走査手段は前記長手軸の先端側の前記回転部材に設けられ、前記走査駆動手段は、前記長手軸を略回転中心軸として前記回転部材を回転駆動することで前記走査手段を駆動して、前記第1の集光手段及び前記第2の集光手段により集光する前記測定対象上の前記点を走査させることが好ましい。
請求項3に記載の光立体構造像装置のように、請求項2に記載の光立体構造像装置であって、前記第2の導波手段及び前記第4の導波手段は、前記回転部材と一体的に設けられ、前記第1の集光手段及び前記第2の集光手段は、前記長手軸の先端側において前記第2の導波手段及び前記第4の導波手段と一体的に形成され、前記走査手段は、前記回転部材の前記長手軸の先端側に前記第1の集光手段及び前記第2の集光手段と一体的に形成された、前記第1の集光手段及び前記第2の集光手段により集光する光を偏向し前記測定対象上の前記点を走査する偏向走査手段からなり、前記第2の導波手段及び前記第4の導波手段は、前記光接続手段に設けられた多芯光ロータリージョイントにより、前記第1の導波手段及び前記第3の導波手段に光学的に接続されることが好ましい。
請求項4に記載の光立体構造像装置のように、請求項2に記載の光立体構造像装置であって、前記走査手段は、前記回転部材の前記長手軸の先端側に一体的に形成され、前記第1の集光手段及び前記第2の集光手段により集光する光を偏向し前記測定対象上の前記点を走査する偏向走査ミラーからなることが好ましい。
請求項5に記載の光立体構造像装置のように、請求項1に記載の光立体構造像装置であって、前記走査手段は、前記第1の集光手段及び前記第2の集光手段により集光する光を偏向し前記測定対象上の前記点を走査するMEMSミラーからなることが好ましい。
請求項6に記載の光立体構造像装置のように、請求項1ないし5のいずれか1つに記載の光立体構造像装置であって、前記第1の導波手段及び前記第2の導波手段は、前記第1の波長帯域に対してシングルモードの導波路であることが好ましい。
請求項7に記載の光立体構造像装置のように、請求項1ないし6のいずれか1つに記載の光立体構造像装置であって、前記第3の導波手段及び前記第4の導波手段は、前記第2の波長帯域に対してマルチモードの導波路であることが好ましい。
請求項8に記載の光立体構造像装置のように、請求項1ないし6のいずれか1つに記載の光立体構造像装置であって、前記干渉情報検出手段が検出する前記干渉情報は前記測定対象の深さ方向の情報であり、前記走査手段は前記深さ方向に対して略直交する面上を2次元走査することが好ましい。
請求項9に記載の光立体構造像装置のように、請求項1ないし8のいずれか1つに記載の光立体構造像装置であって、前記第2の波長帯域は可視光域であって、前記受光手段は前記可視光域のR成分、G成分及びB成分毎に受光することが好ましい。
請求項10に記載の光立体構造像装置のように、請求項9に記載の光立体構造像装置であって、前記第1の波長帯域は700nmから1600nmの間であり、前記第2の波長帯域が350nmから1000nmの間であることが好ましい。
請求項11に記載の光立体構造像装置のように、請求項10に記載の光立体構造像装置であって、前記干渉情報検出手段はInGaAsフォトディテクタを含み、前記受光手段はSiフォトディテクタを含むことが好ましい。
請求項12に記載の光立体構造像装置のように、請求項1ないし11のいずれか1つに記載の光立体構造像装置であって、前記第2の波長帯域の光を発する第2波長域光源をさらに備え、前記走査手段は、前記測定光及び前記第2波長域光源からの前記第2の波長帯域の光を合波し、この合波された前記測定光及び前記第2の波長帯域の光を走査することが好ましい。
請求項13に記載の光立体構造像装置のように、請求項12に記載の光立体構造像装置であって、前記第3の導波手段及び前記第4の導波手段は、前記第2波長域光源が発した前記第2の波長帯域の光を前記第2の集光手段に導波する光源用導波路と、前記第2の集光手段が集光した前記測定対象上の前記点からの前記第2の波長帯域の光を前記受光手段に導波する受光用導波路とからなることが好ましい。
請求項14に記載の光立体構造像装置のように、請求項13に記載の光立体構造像装置であって、前記第2波長域光源は、紫外線を発する紫外線光源部と、前記光源用導波路の先端に設けられ前記紫外線により白色蛍光を発する白色蛍光部と、からなることが好ましい。
請求項15に記載の光立体構造像装置のように、請求項1ないし8のいずれか1つに記載の光立体構造像装置であって、前記第2の波長帯域の光は前記測定対象からの自家蛍光あるいは薬剤蛍光であって、前記自家蛍光あるいは前記薬剤蛍光を励起させるための励起光を発する励起光光源を備え、前記走査手段は前記測定光及び前記励起光を走査することが好ましい。
請求項16に記載の光立体構造像装置のように、請求項1ないし15のいずれか1つに記載の光立体構造像装置であって、前記干渉情報検出手段での前記干渉情報の検出タイミングと前記受光手段での前記受光情報の取得タイミングとを同期させる同期手段をさらに備えて構成することができる。
請求項17に記載の光立体構造像装置のように、請求項16に記載の光立体構造像装置であって、前記参照光の前記所定光路長をトリガ信号に基づいて掃引して可変する光路長可変手段をさらに備え、前記同期手段は前記トリガ信号に基づいて前記干渉情報検出手段での前記干渉情報の検出タイミングと前記受光手段での前記受光情報の取得タイミングとを同期させることが好ましい。
請求項18に記載の光立体構造像装置のように、請求項16に記載の光立体構造像装置であって、前記第1波長域光源は広帯域の低コヒーレント光を前記第1の波長帯域の光とする光源であり、前記干渉情報検出手段は前記測定光の前記測定対象からの反射光と前記参照光の前記参照光反射手段からの反射光との干渉光の周波数成分毎の強度を検出するディテクタアレイを備え所定のトリガ信号に基づいて前記ディテクタアレイより前記干渉情報を検出し、前記同期手段は前記トリガ信号に基づいて前記干渉情報検出手段での前記干渉情報の検出タイミングと前記受光手段での前記受光情報の取得タイミングとを同期させることが好ましい。
請求項19に記載の光立体構造像装置のように、請求項16に記載の光立体構造像装置であって、前記第1波長域光源は前記第1の波長帯域の光の周波数をトリガ信号に基づいて時間掃引するレーザであって、前記同期手段は前記トリガ信号に基づいて前記干渉情報検出手段での前記干渉情報の検出タイミングと前記受光手段での前記受光情報の取得タイミングとを同期させることが好ましい。
請求項20に記載の光立体構造像装置のように、請求項1ないし19のいずれか1つに記載の光立体構造像装置であって、前記干渉情報検出手段が検出した前記干渉情報を記憶する第1の記憶手段と、前記受光手段が取得した前記受光情報を記憶する第2の記憶手段と、前記第1の記憶手段に記憶されている前記干渉情報に基づき、前記測定対象上の任意の点における前記測定光の光路長に依存した光構造情報を生成する光構造情報生成手段と、前記走査手段の走査情報と前記光構造情報と前記第2の記憶手段に記憶されている前記受光情報に基づき、光構造画像を生成する光構造画像生成手段と、をさらに備えて構成することができる。
請求項21に記載の光立体構造像装置のように、請求項20に記載の光立体構造像装置であって、前記構造情報は、3次元構造情報であって、前記光構造画像生成手段は、前記測定対象の表面位置を算出する表面位置算出手段と、前記第2の記憶手段に記憶されている前記受光情報に基づき、前記測定対象の画像情報を生成する画像情報生成手段と、前記画像情報を前記表面位置に対応する前記3次元構造情報の位置にレンダリングするレンダリング手段と、からなることが好ましい。
請求項22に記載の光立体構造像装置のように、請求項21に記載の光立体構造像装置であって、前記画像情報生成手段は、前記受光手段の受光情報のうちの複数の狭帯域光成分の受光情報に基づき前記画像情報を生成することが好ましい。
請求項23に記載の光立体構造像装置のように、請求項21に記載の光立体構造像装置であって、前記受光手段は複数の狭帯域光を受光し、前記画像情報生成手段は前記狭帯域光の受光情報に基づき前記画像情報を生成することが好ましい。
請求項24に記載の光立体構造像装置のように、請求項21ないし23のいずれか1つに記載の光立体構造像装置であって、前記光構造画像を表示する画像表示手段をさらに備えて構成することができる。
請求項25に記載の光立体構造像装置のように、請求項1ないし8のいずれか1つに記載の光立体構造像装置であって、前記第1波長域光源は前記第1の波長帯域の光をパルス発光するものであって、前記第1波長域光源の非発光時に前記第2の波長帯域の光を発光する第2波長域光源をさらに備えて構成することができる。
以上説明したように、本発明によれば、測定光を走査して測定対象に照射し測定対象からの光を入射する光学系を大型化することなく光プローブのシースの細径化が図れ、測定光とは異なる波長帯域の光による画像情報を高解像度で取得し、かつ該画像情報を測定対象の光立体構造像の表面情報に高精度にて対応させることができるという効果がある。
第1の実施形態に係る光立体構造画像化装置の構成を示すブロック図 図1のプローブの長手軸に沿った先端断面を示す断面図 図2のA−A線断面を示す断面図 図1のロータリーコネクタの機械系回転機構の構成を示す断面図 図1のロータリーコネクタの光学系回転機構としての多芯光ロータリージョイント部の構成を示す断面図 図1の信号処理部の構成を示すブロック図 図1の光立体構造画像化装置の3次元CG画像生成処理の流れを示すフローチャート 図7の処理により生成される3次元CG画像を示す図 図8の3次元CG画像と対比される内視鏡画像の一例を示す図 図1の可視光光源の変形例の構成を示す図 図2のプローブの変形例1の構成を示す図 図2のプローブの変形例2の構成を示す図 図2のプローブの変形例3の構成を示す図 図2のプローブの変形例4の構成を示す図 図2のプローブの変形例5の構成を示す図 第2の実施形態に係るプローブの先端構成示す図
以下、添付図面を参照して、本発明に係る光立体構造像装置としての光立体構造画像化装置の実施の形態について詳細に説明する。
第1の実施形態:
図1は第1の実施形態に係る光立体構造画像化装置の構成を示すブロック図である。図1に示すように、光立体構造画像化装置1は、例えば体腔内の生体組織や細胞等の測定対象の断層画像を例えば波長1.3μmを中心とするSS−OCT計測により取得するものであって、第1波長帯域光源としての(例えば、帯域が700nmから1600nmの光を発する)OCT光源10、第2波長帯域光源としての(例えば、帯域が350nmから1000nmの白色光を発する)可視光光源20、干渉情報検出手段としての干渉情報検出部70を有するOCT干渉計30、プローブ40、受光手段としての可視光情報検出部60及び光構造情報生成手段及び光構造画像生成手段としての3次元CG画像生成部90及びモニタ100を備えて構成される。
OCT光源10は周波数を一定の周期で掃引させながら赤外領域である、例えば波長1.3μmを中心とするレーザ光Lを射出する光源であり、可視光光源20は白色光からなる照明光としての可視光Laを射出する光源である。なお、同期手段はOCT光源10により構成され、赤外領域のレーザ光Lの周波数掃引のための掃引トリガ信号Sが同期手段の同期信号となっている。
OCT光源10から射出されたレーザ光Lは、OCT干渉計30内の光分波部3により測定光L1と参照光L2とに分波される。光分波部3は、例えば、分岐比99:1の光カプラから構成され、測定光:参照光=99:1の割合で分波する。
OCT干渉計30では、光分波部3により分波された参照光L2は、サーキュレータ5aを介して参照光調整手段としての光路長調整部80により光路長が調整されて反射される。
この光路長調整部80は、断層画像の取得を開始する位置を調整するために参照光L2の光路長を変更するものであり、コリメータレンズ81、82および反射ミラー83を有している。そして、サーキュレータ5aからの参照光L2はコリメータレンズ81、82を透過した後に反射ミラー83により反射され、参照光L2の戻り光L2aは再びコリメータレンズ81、82を介してサーキュレータ5aに入射される。
ここで、反射ミラー83は可動ステージ84上に配置されており、可動ステージ84はミラー移動部85により矢印A方向に移動可能に設けられている。そして可動ステージ84が矢印A方向に移動することにより、参照光L2の光路長が変更するようになっている。そして、光路長調整部80からの参照光L2の戻り光L2aは、サーキュレータ5aを介して光合分波部4に導光される。
一方、光分波部3により分波された測定光L1は、サーキュレータ5bを介して第1の導波手段としてのファイバFB1に入射され、このファイバFB1にロータリーコネクタ42を介して光学的に接続された後述するプローブ40内を挿通する第2の導波手段としてのファイバFB1aに導波される。
また、可視光光源20から出射された可視光Laは、コリメータレンズ20aを介して集光レンズ20bにより集光され、ファイバFB2に入射され、このファイバFB2にロータリーコネクタ42を介して光学的に接続された後述するプローブ40内を挿通するファイバFB2aに導波される。
ここで、ファイバFB1及びプローブ40内のファイバFB1aは1.3μm帯シングルモードファイバであり、ファイバFB2及び内のファイバFB2aはマルチモードファイバである。プローブ40の詳細な構成は後述する。
プローブ40の出射端から可視光La及び測定光L1が出射されて測定対象Tに照射され、その戻り光が再びプローブ40に入射し、戻り光のうちの可視光成分の光L3は後述する第3の導波手段としてのファイバFB3aに、戻り光のうちの赤外光成分である測定光L1の反射光(あるいは後方散乱光)L4はファイバFB1aに、それぞれ導光される。
ファイバFB3aに導光された可視光成分の光は、このファイバFB3aにロータリーコネクタ42を介して光学的に結合されている第4の導波手段としてのファイバFB3により可視光情報検出部60に導光され、可視光情報検出部60では、可視光成分の光は、それぞれ赤、緑、青のフィルタ110r,110g,110bを前面に貼り付けられた3つのSiフォトディテクタ111r,111g,111bに入射され、OCT光源10の掃引トリガ信号Sに同期して可視光検出部112にてその瞬間の赤、緑、青の各光強度が検出される。
一方、ファイバFB1aに導光された反射光(あるいは後方散乱光)L4は、光学的に結合されているファイバFB1を介してOCT干渉計30に導光され、OCT干渉計30にてサーキュレータ5bを介して光合分波部4に導光される。そして、この光合分波部4において測定光L1の反射光(あるいは後方散乱光)L4と参照光L2の戻り光L2aとを合波し干渉情報検出部70側に射出するようになっている。
干渉情報検出部70は、光合分波部4により合波された測定光L1の反射光(あるいは後方散乱光)L4と参照光L2の戻り光L2aとの干渉光L5を、所定のサンプリング周波数で検出するものであり、干渉光L5の光強度を測定するInGaAsフォトディテクタ71aおよび71bと、InGaAsフォトディテクタ71aの検出値とInGaAsフォトディテクタ71bの検出値のバランス検波を行なう干渉光検出部72とを備えている。なお、干渉光L5は、光合分波部4において2分され、InGaAsフォトディテクタ71aおよび71bにおいて検出され、干渉光検出部72に出力される。干渉光検出部72は、OCT光源10の掃引トリガ信号Sに同期して、干渉光L5をフーリエ変換することにより、測定対象Tの各深さ位置における反射光(あるいは後方散乱光)L4の強度を検出する。
3次元CG画像生成部90は、干渉光検出部72により検出された測定対象Tの各深さ位置における反射光(あるいは後方散乱光)L4の強度を干渉情報として第1メモリ91に格納する。また、3次元CG画像生成部90は、可視光検出部112にて検出された測定対象Tからの可視光成分の光の赤、緑、青の各光強度信号を画像情報として第2メモリ92に格納する。
3次元CG画像生成部90は、第1の記憶手段としての前記第1メモリ91及び第2の記憶手段としての第2メモリ92のほかに、信号処理部93、制御部94を備えて構成される。
信号処理部93は、第1メモリ91に格納された干渉情報に基づいて測定対象Tの構造情報からなる光立体構造像を生成すると共に、第2メモリ92に格納された画像情報に基づいて測定対象Tの表面に可視光画像をレンダリングするものである。詳細な構成は後述する。
また、制御部94は、信号処理部93を制御すると共に、OCT光源10及び可視光光源20の発光制御を行うと共に、ミラー移動部85を制御するものである。

図2は図1のプローブの長手軸に沿った先端断面を示す断面図であり、図3は図2のA−A線断面を示す断面図である。
図2に示すように、プローブ40の先端部は、シース40aと、ファイバFB1a、FB2a、FB3aと、回転部材としてのシャフト115と、半球型の半球光学レンズ151、152、153とを有している。
シース40aは、先端が閉塞された可撓性を有する筒状の部材であり、可視光La、測定光L1及び戻り光L3、L4が透過する材料からなっている。なお、シース40aは、可視光La、測定光L1、戻り光L3、L4が通過するシース40aの先端側の一部が全周に渡って光を透過する材料(透明な材料)で形成されていればよく、先端以外の部分については光を透過しない材料で形成されていてもよい。
照射手段及び第1の集光手段としての半球光学レンズ151は、コリメートレンズと集光レンズの機能を有しており、ファイバFB1aの先端に一体的に形成されている。また、第2の集光手段としての半球光学レンズ152は、コリメートレンズと集光レンズの機能を有しており、ファイバFB2aの先端に一体的に形成されている。同じく、半球光学レンズ153は、コリメートレンズと集光レンズの機能を有しており、ファイバFB3aの先端に一体的に形成されている。
半球光学レンズ151、152、153の各出射端は、空間的な位置がずれて束ねられており、互いに光路を邪魔しない構成となっている。半球光学レンズ151、152、153の平坦面には、導波光波長に対して全反射となるコーティングが施されている。 ファイバFB1aから出射される測定光L1は、半球光学レンズ151の平坦面で偏向し、球面を通過することで集光されて測定対象に照射される。ファイバFB2aから出射される可視光Laも、半球光学レンズ152により測定光L1とほぼ同じ位置に集光されて照射される。測定対象Tから反射した戻り光L4は、半球光学レンズ151を介して同じファイバFB1aに集められ、干渉計に入射される。一方、戻り光L3は、ファイバFB3aの半球光学レンズ153により集光され、ファイバFB3aを導波する。
また、図3に示すように、3本のファイバFB1a、FB2a、FB3aは束ねられてシャフト115と一体的に構成されて、シース40aの内部を通り、走査駆動手段としてのロータリーコネクタ42(図1参照)にシャフト115(ファイバFB1a、FB2a、FB3aを含む)が接続されている。
なお、本実施形態では、半球光学レンズ151、152、153及びシャフト115により走査手段が構成される。
図4は図1のロータリーコネクタの機械系回転機構の構成を示す断面図である。
図4に示すように、シャフト115の外周には、バネ624が固定されている。ロータリーコネクタ42の機械系回転機構は、後述する進退駆動部により、シース40a内部を矢印S1方向(シース40aの基端方向)、及びS2方向(シース40aの先端方向)に移動可能に構成されている。
シース40aは、ロータリーコネクタ42において固定部670に固定されている。これに対し、ファイバFB1a、FB2a、FB3a及びバネ624は、回転筒656に接続されており、回転筒656は、モータ652の回転に応じてギア654を介して回転するように構成されている。回転筒656は、ファイバFB1a、FB2a、FB3a及びバネ624を回転させることで、シャフト115をシース40aに対し、矢印R方向に回転させる。
一方、回転筒656は、光コネクタ18に接続されており、ファイバFB1a、FB2a、FB3aを導波する測定光L1、可視光La及び戻り光L3、L4は、ロータリーコネクタ42の後述する多芯光ロータリージョイント部からなる光学系回転機構である光コネクタ18を介してファイバFB1、FB2、FB3間を伝送する(図1参照)。
また、進退駆動部は、これらを内蔵するフレーム650は支持部材662を備えており、支持部材662は、図示しないネジ孔を有して構成される。ネジ孔には進退移動用ボールネジ664が咬合しており、進退移動用ボールネジ664には、モータ660が接続されている。したがって、モータ660を回転駆動することによりフレーム650を進退移動させ、これによりバネ624、シャフト115をS1及びS2方向に移動させ、この結果、シース40a内において、シャフト115内部に一体的に固定されているファイバFB1a、FB2a、FB3aをS1及びS2方向に進退移動させることが可能となっている。
図5は図1のロータリーコネクタの光学系回転機構としての多芯光ロータリージョイント部の構成を示す断面図である。 図5に示すように、ロータリーコネクタ42は、回転速度がシャフト115の回転速度の1/2である台形状のダブルプリズム310を介して、ファイバFB1、FB2、FB3とからなる静止側光学系320と、ファイバFB1a、FB2a、FB3aとからなる回転側光学系321とを光学的に結合する多芯光ロータリージョイント部311からなる光学系回転機構を備えている。
なお、多芯光ロータリージョイント部311の原理は、例えば実開昭59−33014号公報、特開平5−134140号公報等に開示されており、公知であるので詳細な説明は省略する。
図6は図1の信号処理部の構成を示すブロック図である。信号処理部93は、図6に示すように、第1メモリ91に格納された干渉情報に基づいて測定対象Tの構造情報からなる光立体構造像を構築する光構造情報生成手段としての3次元化部120と、3次元化部120により構築された光立体構造像の表面の位置情報である測定対象Tの表面位置を算出する表面位置算出手段としての表面位置算出部121と、第2メモリ92に格納された画像情報に基づいて測定対象Tの可視光画像を生成する画像情報生成手段としての可視光画像生成部122と、3次元化部120からの光立体構造像、表面位置算出部121からの表面の位置情報及び可視光画像生成部122からのカラー画像に基づいて、光立体構造像の表面に可視光画像をレンダリングした光構造画像である3次元CG画像を生成するレンダリング手段としてのレンダリング部123とを備えて構成され、これら各部は制御部94に制御され、レンダリング部123は生成した3次元CG画像をモニタ100に出力するようになっている。
なお、光構造情報は干渉情報に基づいた測定対象Tの深さ方向の構造情報であり、光立体構造像は測定対象Tの光構造情報からなる光立体構造モデルであり、光構造画像は光立体構造像の表面に可視光画像をレンダリングした3次元CG画像である。
光構造画像生成手段は、表面位置算出手段としての表面位置算出部121と、画像情報生成手段としての可視光画像生成部122と、レンダリング手段としてのレンダリング部123とにより構成される。
なお、表面位置算出部121は、例えば空間から対象物に移るOCT信号強度の変化から、測定対象Tの表面位置を算出する。
次に、このように構成された本実施形態の光立体構造画像化装置1の作用を図7のフローチャートを用いて説明する。図7は図1の光立体構造画像化装置の3次元CG画像生成処理の流れを示すフローチャートである。
図7に示すように、制御部94は、OCT光源10及び可視光光源20を制御し赤外光及び可視光の発光制御を開始する(ステップS1)。この赤外光の発光制御では、OCT光源10は掃引トリガ信号Sに同期して周波数を一定の周期で掃引させながら赤外領域のレーザ光Lを射出する。
次に、制御部94は、干渉光検出部72により検出された測定対象Tの各深さ方向Z位置における反射光(あるいは後方散乱光)L4の強度を干渉情報として第1メモリ91に格納すると共に、可視光検出部112にて検出された測定対象Tからの可視光成分の光の赤、緑、青の各光強度信号を画像情報として第2メモリ92に格納する(ステップS2)。
続いて、制御部94は、ロータリーコネクタ42を制御して測定対象T上において可視光La及び測定光L1をY方向走査し(ステップS3)、このY方向走査が終了するまでステップS2〜ステップS3の処理を繰り返す(ステップS4)。
このY方向走査が終了すると、制御部94は、ロータリーコネクタ42を制御して測定対象T上において可視光La及び測定光L1をX方向走査し(ステップS5)、このX方向走査が終了するまでステップS2〜ステップS5の処理を繰り返す(ステップS6)。
このX方向走査が終了すると、制御部94は、3次元化部120を制御して第1メモリ91に格納された干渉情報に基づいて測定対象Tの光立体構造像を構築する(ステップS7)。
また、制御部94は、表面位置算出部121を制御して3次元化部120により構築された光立体構造像の表面の位置情報を算出する(ステップS8)。
さらに、制御部94は、可視光画像生成部122を制御して第2メモリ92に格納された画像情報に基づいて測定対象Tの可視光画像を生成する(ステップS9)。
そして、制御部94は、レンダリング部123を制御して3次元化部120からの3光立体構造像、表面位置算出部121からの表面の位置情報及び可視光画像生成部122からの可視光画像に基づいて、光立体構造像の表面に可視光画像をレンダリングした3次元CG画像を生成し(ステップS10)、モニタ100に3次元CG画像を表示して(ステップS11)、処理を終了する。
図8は図7の処理により生成される3次元CG画像を示す図であり、図9は図8の3次元CG画像と対比される内視鏡画像の一例を示す図である。
このように本実施形態では、光立体構造像の表面位置に、OCT光源10の掃引トリガ信号Sに同期した同じタイミングで取得した画像情報である可視光画像情報をレンダリングすることにより、OCT測定で生成する光立体構造像表面情報と可視光表面情報のデータ点数が完全に一致させることができ、かつ光立体構造像の表面に可視光表面情報を備えることとなり、図8に示すように、上面からは通常の可視光画像200がフルカラーで表示され、その下にOCTで得られた光立体構造像201が表示された光構造画像である3次元CG画像203が完成する。OCT情報を元に表面画像として可視光画像200を貼り付けているため、モニタ100に表示される3次元CG画像203は立体感のある表面画像を有する画像になる。
特に、本実施形態の光立体構造画像化装置1を、例えば可視光を照明光とする通常の電子内視鏡装置と共に使用する場合、プローブ40を電子内視鏡の処置具チャンネル等に挿通させることになるが、電子内視鏡が測定対象Tとして体腔内の患部を撮像した場合、図9に示すような内視鏡画像300がモニタ等に表示される。
このとき、例えば内視鏡画像300上から患部領域301が視認できた場合、この患部領域301に対してプローブ40によりOCT測定を行い、患部領域301の光立体構造像を得ることになる。
内視鏡画像の視野に比べ患部領域301が小さいために、OCT測定を行った領域が患部領域301であるかどうかを光立体構造像から判断することは困難であるが、本実施形態では、3次元CG画像203の表面の可視光画像200上の患部領域301(図8参照)の可視光表面情報(色相、コントラスト、輝度等)と内視鏡画像上での患部領域301(図9参照)の可視光画像情報(色相、コントラスト、輝度等)を対応させて識別することができるので、患部領域301が確実にOCT測定されたかどうかを容易に判断することができる。
従来のOCT画像だけでは、画質が大きく異なるために通常内視鏡の画像との位置あわせが困難だったが、可視光表面情報が光立体構造像に添付されていることで、パターンマッチングで視野の広い内視鏡画像中の位置の特定が容易になる。
さらに、この3次元CG画像203では、通常内視鏡画像で視認できる病変の特徴と、光立体構造像の特徴を複合的に利用した病変部の抽出が可能となり、分解能が高く、病変部の境界がより高精度に見極めることができる。
また、プローブ40の基端側に設けたロータリーコネクタ42において、多芯光ロータリージョイント部311によりファイバFB1、FB2、FB3とからなる静止側光学系320とファイバFB1a、FB2a、FB3aとからなる回転側光学系321とを光学的に結合し、さらにファイバFB1a、FB2a、FB3aと一体的にシャフト115を回転駆動することで、ファイバFB1a、FB2a、FB3aを導光する測定光L1、可視光La及び戻り光L3、L4の測定対象T上の点を走査するので、測定光を走査して測定対象に照射し測定対象からの光を入射する光学系を大型化することなく、測定光とは異なる波長帯域の光による画像情報を高解像度で取得し、かつ該画像情報を測定対象の光立体構造像の表面情報に高精度にて対応させることができる。
図10は図1の可視光光源の変形例の構成を示す図である。図10に示すように、紫外レーザ光を発する紫外レーザ光源(不図示)と、ファイバFB21の先端に塗られた蛍光塗料160とから可視光光源20を構成することができる。ファイバFB2及びファイバFB2aは紫外レーザ光を導波し、紫外レーザ光がファイバFB2aの先端の蛍光塗料160で吸収される。蛍光塗料160は白色の蛍光を発し、照明光となる。これを集光して照射し、その反射光を受光用マルチモードファイバからなる受光用のファイバFB3a及びファイバFB3で導波し、光立体構造画像化装置1に備え付けられた可視光情報検出部60で受光する。
なお、本実施形態では、ファイバFB1、FB2、FB3とからなる静止側光学系320とファイバFB1a、FB2a、FB3aとからなる回転側光学系321とを構成とする例に説明したが、ファイバFB3及びFB3aを省略した構成でも本実施形態は可能である。
以下に、ファイバFB1、FB2とからなる静止側光学系320とファイバFB1a、FB2aとからなる回転側光学系321とからなる構成を<変形例1>により説明する。
<変形例1>図11は図2のプローブの変形例1の構成を示す図である。
図11に示すように、ファイバFB1a、FB2aの出射端から可視光La及び測定光L1が出射されて測定対象Tに照射され、その戻り光L3が再びプローブ40に入射し、戻り光のうちの可視光成分の光L3はファイバFB2aに、戻り光のうちの赤外光成分である測定光L1の反射光(あるいは後方散乱光)L4はファイバFB1aに、それぞれ導光される。なお、ファイバFB1、FB2とからなる静止側光学系320とファイバFB1a、FB2aとからなる回転側光学系321とは、多芯光ロータリージョイント部311(図5参照)と光学的に接続されている。
この変形例1の場合、多芯光ロータリージョイント部311を介してファイバFB2aからファイバFB2に導光された可視光成分の光は、コリメータレンズ20aと集光レンズ20bとの間に設けられたハーフミラー21を反射して可視光情報検出部60に導光され、可視光情報検出部60では、可視光成分の光は、それぞれ赤、緑、青のフィルタ110r,110g,110bを前面に貼り付けられた3つのSiフォトディテクタ111r,111g,111bに入射され、OCT光源10の掃引トリガ信号Sに同期して可視光検出部112にてその瞬間の赤、緑、青の各光強度が検出される。
なお、可視光情報検出部60は、それぞれ赤、緑、青のフィルタ110r,110g,110bを前面に貼り付けられた3つのSiフォトディテクタ111r,111g,111bにより、OCT光源10の掃引トリガ信号Sに同期して可視光成分の光に対して可視光検出部112にてその瞬間の赤、緑、青の各光強度を画像情報として検出するとしたがこれに限らず、可視光情報検出部60を以下の<変形例2>〜<変形例5>のように構成してよい。
<変形例2>図12は図2のプローブの変形例2の構成を示す図である。
変形例2は変形例1とほとんど同じであって、ファイバFB1a、FB2aの出射端から可視光La及び測定光L1が出射されて測定対象Tに照射され、その戻り光L3が再びプローブ40に入射し、戻り光のうちの可視光成分の光L3はファイバFB2aに、戻り光のうちの赤外光成分である測定光L1の反射光(あるいは後方散乱光)L4はファイバFB1aに、それぞれ導光される。なお、ファイバFB1、FB2とからなる静止側光学系320とファイバFB1a、FB2aとからなる回転側光学系321とは、多芯光ロータリージョイント部311(図5参照)と光学的に接続されている。
この変形例2の場合、図11に示すように、2つのダイクロイックミラー400,401により可視光成分の光を赤、緑、青を分け、フィルタのない3つのSiフォトディテクタ111r,111g,111bにて、OCT光源10の掃引トリガ信号Sに同期して可視光成分の光に対して可視光検出部112にてその瞬間の赤、緑、青の各光強度を画像情報として検出するように可視光情報検出部60を構成する。
<変形例3>図13は図2のプローブの変形例3の構成を示す図である。
変形例3は変形例1とほとんど同じであって、ファイバFB1a、FB2aの出射端から可視光La及び測定光L1が出射されて測定対象Tに照射され、その戻り光L3が再びプローブ40に入射し、戻り光のうちの可視光成分の光L3はファイバFB2aに、戻り光のうちの赤外光成分である測定光L1の反射光(あるいは後方散乱光)L4はファイバFB1aに、それぞれ導光される。なお、ファイバFB1、FB2とからなる静止側光学系320とファイバFB1a、FB2aとからなる回転側光学系321とは、多芯光ロータリージョイント部311(図5参照)と光学的に接続されている。
この変形例3の場合、図13に示すように、回折格子410にて可視光成分の光を赤、緑、青を分け、フィルタのない3つのSiフォトディテクタ111r,111g,111bにて、OCT光源10の掃引トリガ信号Sに同期して可視光成分の光に対して可視光検出部112にてその瞬間の赤、緑、青の各光強度を画像情報として検出するように可視光情報検出部60を構成する。
<変形例4>図14は図2のプローブの変形例4の構成を示す図である。
変形例4は変形例1とほとんど同じであって、ファイバFB1a、FB2aの出射端から可視光La及び測定光L1が出射されて測定対象Tに照射され、その戻り光L3が再びプローブ40に入射し、戻り光のうちの可視光成分の光L3はファイバFB2aに、戻り光のうちの赤外光成分である測定光L1の反射光(あるいは後方散乱光)L4はファイバFB1aに、それぞれ導光される。なお、ファイバFB1、FB2とからなる静止側光学系320とファイバFB1a、FB2aとからなる回転側光学系321とは、多芯光ロータリージョイント部311(図5参照)と光学的に接続されている。
この変形例4の場合、図14に示すように、WDM(Wavelength Division Multiplexing)カップラやAWG(Arrayed Waveguide Grating)のような全ファイバ光学系420を用いて可視光成分の光を赤、緑、青を分け、フィルタのない3つのSiフォトディテクタ111r,111g,111bにて、OCT光源10の掃引トリガ信号Sに同期して可視光成分の光に対して可視光検出部112にてその瞬間の赤、緑、青の各光強度を画像情報として検出するように可視光情報検出部60を構成する。
<変形例5>図15は図2のプローブの変形例5の構成を示す図である。
変形例5は変形例1とほとんど同じであって、ファイバFB1a、FB2aの出射端から可視光La及び測定光L1が出射されて測定対象Tに照射され、その戻り光L3が再びプローブ40に入射し、戻り光のうちの可視光成分の光L3はファイバFB2aに、戻り光のうちの赤外光成分である測定光L1の反射光(あるいは後方散乱光)L4はファイバFB1aに、それぞれ導光される。なお、ファイバFB1、FB2とからなる静止側光学系320とファイバFB1a、FB2aとからなる回転側光学系321とは、多芯光ロータリージョイント部311(図5参照)と光学的に接続されている。
この変形例5の場合、図15に示すように、可視光情報検出部60のディテクタで色を分けるかわりに、可視光光源20からの照明光の色を時間分割照射する。すなわち、照明光に赤、緑、青のレーザを用いて可視光光源20を構成することで、それぞれ赤、緑、青のレーザの発光時間帯が重ならないようにパルス的に照射し、可視光情報検出部60においてひとつのSiフォトディテクタ111で受光する。可視光光源20のレーザの発光タイミングと可視光情報検出部60の検出タイミングは掃引トリガ信号Sで同期させ、時間帯に応じて発光している色の情報としてコンピュータに入力し、フルカラー画像を生成する。なお、レーザの代わりに、色フィルタを通した白色光源を用い、色フィルタを時間的に切り替えてもよい。
第2の実施形態:
第2の実施形態は、第1の実施形態とほとんど同じであるので、異なる点のみ説明し同一の構成には同じ符号を付し説明は省略する。図16は第2の実施形態に係るプローブの先端構成示す図である。
図16に示すように、第2の実施形態では、プローブ40の構成が第1の実施形態と異なる。すなわち、本実施形態のプローブ40は、第1の実施形態と同様に機械系回転機構(図4参照)により回転駆動されるシャフト115の先端に偏向回転ミラー470が固定されている。また、ファイバFB1a、FB2a、FB3aは、シャフト115内に挿通されており、かつシャフト115とは別体に構成され、シャフト115は回転駆動されるが、ファイバFB1a、FB2a、FB3aは回転することなく配置され、多芯光ロータリージョイント部311を介することなくファイバFB1、FB2、FB3に光学的に接続される。また、ファイバFB1a、FB2a、FB3aは、コリメートレンズと集光レンズとが一体となった光学レンズ451,452,453がそれぞれ先端に設けられている。
本実施形態では、光学レンズ451,452,453を介した測定光L1、可視光La及び戻り光L3、L4を偏向回転ミラー470にて測定対象T上の点を走査する。つまり、偏向回転ミラー470を先端に固定したシャフト115の内部に、シャフト115と独立にファイバFB1a、FB2a、FB3aを通し、シャフト115により偏向回転ミラー470のみを回転する。
なお、シャフト115及び偏向回転ミラー470の代わりに、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)ミラーを用いて線形走査させてもよい。
このように構成した本実施形態においても、第1の実施形態と同様な作用・効果を得ることができると共に、多芯光ロータリージョイント部311が不要となり、ロータリーコネクタ42を簡単に構成することができる。
なお、上記各実施形態では、可視光画像を得るための照明光として白色光である可視光Laを用いたが、照明光としては白色光に限らない。例えば、青色レーザを照射して細胞の自家蛍光を受光することで病変部を視認しやすくする蛍光内視鏡がある。この蛍光内視鏡で用いられる青色励起光を照明光として用い、この青色励起光をファイバFB1により導波し、細胞の自家蛍光をファイバFB2により導波する。細胞の自家蛍光を受光するディテクタに緑色の蛍光を透過するフィルタを用いることで、蛍光内視鏡と同様な画像とOCTを組み合わせた表示ができ、よりがんの領域の視認性を上げることができる。あるいは、がんに選択的に集積し、特定の蛍光を発する薬剤を注入し、その励起光を照明光として使い、その励起光に合わせたファイバをファイバFB1、FB1aとして用い、その蛍光波長を選択的に受光するディテクタとその波長に合わせたファイバFB2、FB1aを組み合わせることでも、よりがんの領域の視認性を上げることができる。
また、励起光、および蛍光は、可視域とは限らない。例えば、インドシアニングリーンという公知の蛍光材料は、不可視領域である800nm〜810nmの領域に吸収波長があり、806nmのレーザ光で励起されると不可視領域である波長830nmの蛍光を発色する。従って、照明光には806nmレーザ、ディテクタには806nm近傍の光を除去し830nm近傍の光を抽出するフィルタを用いることで、インドシアニングリーンが集積しているXY平面上の領域を光立体構造像に明示することができる。また、インドシアニングリーンを静脈注射し、粘膜深部の血管を強調表示する公知の技術がある。OCT断層像だけでは血管と他の腺管との区別が難しいが、XY平面上での血管位置が明瞭となることで、3次元的な血管網を描画することができる。
また、ファイバFB3として分散シフトファイバを用いて超短パルスレーザを導波し、超短パルスレーザを測定対象に照射した際に発生する2光子励起蛍光や第二次高調波を導波するマルチモードファイバをファイバFB22として組み合わせる構成としてもよい。あるいは、中空ファイバを用いて紫外光を測定対象に照射させ、蛍光を受光するように構成してもよい。
さらに、ラマン分光法やコヒーレントアンチストークスラマン分光法(CARS)と組み合わせて構成してもよい。CARSと組み合わせる場合、波長568nmと600nmの励起光を用い、照射用ファイバにはそれぞれの別々のシングルモードファイバからなる2本のファイバFB1(及びFB1a)を用いる。この場合においては、プローブ40の先端では、CARS測定に適した角度でビームが照射、集光されるように各ファイバ先端の位置と光学系が調整されて設けられ、分光情報が取得されるようになっている。このようなCARS信号、あるいはラマン分光情報と組み合わせることで、測定対象の組成の違いやミトコンドリアの代謝活性情報と光構造画像が一体化された映像が得られる。
なお、本各実施形態ではSS−OCT計測を例に説明したがこれに限らず、TD−OCT計測、SD−OCT計測に対しても適用できる。掃引トリガ信号Sに対応するトリガ信号としては、TD−OCT計測の場合は光路長遅延回路の周期となり、SD−OCT計測の場合はOCT用ディテクタアレイの信号取得周期となる。
また、複数の色情報を取得するには、赤、緑、青に限らず、どの波長域でもよい。例えば、癌のスクリーニングに公知のNBI(Narrow Band Imaging)と呼ばれる手法や公知のFICE(Flexible spectral Imaging Color Enhancement)と呼ばれる手法がある。これらは、青、緑の波長域を画像化することで、病変部の特徴を視認しやすくする手法である。このNBI/FICE画像と重ねるには、NBI/FICEで用いる緑、青のフィルタと同じ波長域の物を用いることが望ましい。これにより、光立体構造像上でもより病変部の抽出がしやすくなる。ディテクタの数は3つに限らず、通常内視鏡と同じ赤緑青の他に、NBIや蛍光内視鏡などの特殊光観察に対応したディテクタを配置してもよい。
以上、本発明の光立体構造像装置としての光立体構造画像化装置について詳細に説明したが、本発明は、以上の例には限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、各種の改良や変形を行ってもよいのはもちろんである。
10…OCT光源、20…可視光光源、30…OCT干渉計、40…プローブ、42…ロータリーコネクタ、60…可視光情報検出部、70…干渉情報検出部、90…断層画像生成部、91…第1メモリ、92…第2メモリ、93…信号処理部、94…制御部、100…モニタ、115…シャフト、120…3次元化部、121…表面位置算出部、122…可視光画像生成部、123…レンダリング部、151、152、153…半球光学レンズ、310…ダブルプリズム、311…多芯光ロータリージョイント部、451,452,453…光学レンズ、470…偏向回転ミラー、480…モータ、FB1、FB2、FB3、FB1a、FB2a、FB3a…ファイバ

Claims (25)

  1. 第1の波長帯域の光を発する第1波長域光源と、
    前記第1の波長帯域の光を測定光と参照光に分離する光分離手段と、
    前記測定光を導波する第1の導波手段と、
    前記第1の導波手段と光学的に連結された第2の導波手段と、
    前記第2の導波手段を導波した前記測定光を測定対象に照射する照射手段と、
    前記測定対象上の点からの前記測定光に基づく光を前記第2の導波手段に集光する第1の集光手段と、
    前記第2の導波手段に光学的に連結された前記第1の導波手段を導波した前記測定対象上の前記点からの前記測定光に基づく光と前記参照光との干渉情報を検出する干渉情報検出手段と、
    前記測定対象上の前記点からの前記第1の波長帯域とは異なる第2の波長帯域の光を集光する第2の集光手段と、
    前記第2の集光手段が集光した前記第2の波長帯域の光を導波する第3の導波手段と、
    前記第3の導波手段と光学的に連結された第4の導波手段と、
    前記第3の導波手段に光学的に連結された前記第4の導波手段を導波した前記第2の波長帯域の光を受光し受光信号を取得する受光手段と、
    前記第1の集光手段及び前記第2の集光手段により集光する前記測定対象上の前記点を走査する走査手段と、
    長手軸の先端側に前記走査手段を配置し、前記第1の導波手段と前記第2の導波手段を光学的に接続すると共に前記第3の導波手段と前記第2の導波手段を光学的に接続する接続手段を前記長手軸の基端側に有するシースと、
    を備え、
    前記接続手段は、前記走査手段を駆動して、前記第1の集光手段及び前記第2の集光手段により集光する前記測定対象上の前記点を走査させる走査駆動手段
    を有することを特徴とする光立体構造像装置。
  2. 前記シースは内部に略円筒状の回転部材を有し、前記第2の導波手段及び前記第4の導波手段は前記回転部材内に設けられ、前記走査手段は前記長手軸の先端側の前記回転部材に設けられ、前記走査駆動手段は、前記長手軸を略回転中心軸として前記回転部材を回転駆動することで前記走査手段を駆動して、前記第1の集光手段及び前記第2の集光手段により集光する前記測定対象上の前記点を走査させる
    ことを特徴とする請求項1に記載の光立体構造像装置。
  3. 前記第2の導波手段及び前記第4の導波手段は、前記回転部材と一体的に設けられ、
    前記第1の集光手段及び前記第2の集光手段は、前記長手軸の先端側において前記第2の導波手段及び前記第4の導波手段と一体的に形成され、
    前記走査手段は、前記回転部材の前記長手軸の先端側に前記第1の集光手段及び前記第2の集光手段と一体的に形成された、前記第1の集光手段及び前記第2の集光手段により集光する光を偏向し前記測定対象上の前記点を走査する偏向走査手段からなり、
    前記第2の導波手段及び前記第4の導波手段は、前記光接続手段に設けられた多芯光ロータリージョイントにより、前記第1の導波手段及び前記第3の導波手段に光学的に接続される
    ことを特徴とする請求項2に記載の光立体構造像装置。
  4. 前記走査手段は、前記回転部材の前記長手軸の先端側に一体的に形成され、前記第1の集光手段及び前記第2の集光手段により集光する光を偏向し前記測定対象上の前記点を走査する偏向走査ミラーからなる
    ことを特徴とする請求項2に記載の光立体構造像装置。
  5. 前記走査手段は、前記第1の集光手段及び前記第2の集光手段により集光する光を偏向し前記測定対象上の前記点を走査するMEMSミラーからなる
    ことを特徴とする請求項1に記載の光立体構造像装置。
  6. 前記第1の導波手段及び前記第2の導波手段は、前記第1の波長帯域に対してシングルモードの導波路であることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1つに記載の光立体構造像装置。
  7. 前記第3の導波手段及び前記第4の導波手段は、前記第2の波長帯域に対してマルチモードの導波路であることを特徴とする請求項1ないし6のいずれか1つに記載の光立体構造像装置。
  8. 前記干渉情報検出手段が検出する前記干渉情報は前記測定対象の深さ方向の情報であり、前記走査手段は前記深さ方向に対して略直交する面上を2次元走査することを特徴とする請求項1ないし7のいずれか1つに記載の光立体構造像装置。
  9. 前記第2の波長帯域は可視光域であって、前記受光手段は前記可視光域のR成分、G成分及びB成分毎に受光することを特徴とする請求項1ないし8のいずれか1つに記載の光立体構造像装置。
  10. 前記第1の波長帯域は700nmから1600nmの間であり、前記第2の波長帯域が350nmから1000nmの間であることを特徴とする請求項9に記載の光立体構造像装置。
  11. 前記干渉情報検出手段はInGaAsフォトディテクタを含み、前記受光手段はSiフォトディテクタを含むことを特徴とする請求項10に記載の光立体構造像装置。
  12. 前記第2の波長帯域の光を発する第2波長域光源をさらに備え、前記走査手段は、前記測定光及び前記第2波長域光源からの前記第2の波長帯域の光を合波し、この合波された前記測定光及び前記第2の波長帯域の光を走査することを特徴とする請求項1ないし11のいずれか1つに記載の光立体構造像装置。
  13. 前記第3の導波手段及び前記第4の導波手段は、前記第2波長域光源が発した前記第2の波長帯域の光を前記第2の集光手段に導波する光源用導波路と、前記第2の集光手段が集光した前記測定対象上の前記点からの前記第2の波長帯域の光を前記受光手段に導波する受光用導波路とからなることを特徴とする請求項12に記載の光立体構造像装置。
  14. 前記第2波長域光源は、紫外線を発する紫外線光源部と、前記光源用導波路の先端に設けられ前記紫外線により白色蛍光を発する白色蛍光部と、からなることを特徴とする請求項13に記載の光立体構造像装置。
  15. 前記第2の波長帯域の光は前記測定対象からの自家蛍光あるいは薬剤蛍光であって、前記自家蛍光あるいは前記薬剤蛍光を励起させるための励起光を発する励起光光源を備え、前記走査手段は前記測定光及び前記励起光を走査することを特徴とする請求項1ないし8のいずれか1つに記載の光立体構造像装置。
  16. 前記干渉情報検出手段での前記干渉情報の検出タイミングと前記受光手段での前記受光情報の取得タイミングとを同期させる同期手段をさらに備えたことを特徴とする請求項1ないし15のいずれか1つに記載の光立体構造像装置。
  17. 前記参照光の前記所定光路長を所定のトリガ信号に基づいて掃引して可変する光路長可変手段をさらに備え、前記同期手段は前記トリガ信号に基づいて前記干渉情報検出手段での前記干渉情報の検出タイミングと前記受光手段での前記受光情報の取得タイミングとを同期させることを特徴とする請求項16に記載の光立体構造像装置。
  18. 前記第1波長域光源は広帯域の低コヒーレント光を前記第1の波長帯域の光とする光源であり、前記干渉情報検出手段は前記測定光の前記測定対象からの反射光と前記参照光の前記参照光反射手段からの反射光との干渉光の周波数成分毎の強度を検出するディテクタアレイを備え、所定のトリガ信号に基づいて前記ディテクタアレイより前記干渉情報を検出し、前記同期手段は前記トリガ信号に基づいて前記干渉情報検出手段での前記干渉情報の検出タイミングと前記受光手段での前記受光情報の取得タイミングとを同期させることを特徴とする請求項16に記載の光立体構造像装置。
  19. 前記第1波長域光源は前記第1の波長帯域の光の周波数を所定のトリガ信号に基づいて時間掃引するレーザであって、前記同期手段は前記トリガ信号に基づいて前記干渉情報検出手段での前記干渉情報の検出タイミングと前記受光手段での前記受光情報の取得タイミングとを同期させることを特徴とする請求項16に記載の光立体構造像装置。
  20. 前記干渉情報検出手段が検出した前記干渉情報を記憶する第1の記憶手段と、
    前記受光手段が取得した前記受光情報を記憶する第2の記憶手段と、
    前記第1の記憶手段に記憶されている前記干渉情報に基づき、前記測定対象上の任意の点における前記測定光の光路長に依存した光構造情報を生成する光構造情報生成手段と、
    前記走査手段の走査情報と前記光構造情報と前記第2の記憶手段に記憶されている前記受光情報に基づき、光構造画像を生成する光構造画像生成手段と、
    をさらに備えたことを特徴とする請求項1ないし19のいずれか1つに記載の光立体構造像装置。
  21. 前記構造情報は、3次元構造情報であって、
    前記光構造画像生成手段は、
    前記測定対象の表面位置を算出する表面位置算出手段と、
    前記第2の記憶手段に記憶されている前記受光情報に基づき、前記測定対象の画像情報を生成する画像情報生成手段と、
    前記画像情報を前記表面位置に対応する前記3次元構造情報の位置にレンダリングするレンダリング手段と、
    からなることを特徴とする請求項20に記載の光立体構造像装置。
  22. 前記画像情報生成手段は、前記受光手段の受光情報のうちの複数の狭帯域光成分の受光情報に基づき前記画像情報を生成することを特徴とする請求項21に記載の光立体構造像装置。
  23. 前記受光手段は複数の狭帯域光を受光し、前記画像情報生成手段は前記狭帯域光の受光情報に基づき前記画像情報を生成することを特徴とする請求項21に記載の光立体構造像装置。
  24. 前記光構造画像を表示する画像表示手段をさらに備えたことを特徴とする請求項20ないし23のいずれか1つに記載の光立体構造像装置。
  25. 前記第1波長域光源は前記第1の波長帯域の光をパルス発光するものであって、前記第1波長域光源の非発光時に前記第2の波長帯域の光を発光する第2波長域光源をさらに備えたことを特徴とする請求項1ないし8のいずれか1つに記載の光立体構造像装置。
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