JP2010185842A - 光周波数領域反射測定方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、参照干渉計15では光源11からの出力光と出力光を遅延ファイバ19で遅延させた光とのモニタビート信号を検出し、測定干渉計13では光源11からの出力光と出力光を測定対象14に入射させることにより得られる後方散乱光及び反射光との測定ビート信号を検出し、前記測定ビート信号を前記モニタビート信号に基づいて補正し、測定対象における光波伝播方向の反射率を測定する光周波数領域反射測定方法(OFDR)において、参照干渉計15の遅延ファイバ19が受ける外乱による光波の位相揺らぎを抑庄する防音機構20を施すことを特徴とする。
【選択図】図1
Description
図1において、11は周波数掃引光源、12,18,21,22,23は光方向性結合器、13は測定干渉計、14は測定対象、15は参照干渉計、16はサンプリング部、17は解析部、19は遅延ファイバ、20は防音機構、24,26は光受信器、25,27はサンプリング装置、28はクロック発生器、29は演算処理装置、30は出力光、31は測定光、32はモニタリング光、33は信号光、34は局発光である。
Claims (4)
- 光周波数を時間に対して掃引する光源からの出力光を二分岐して参照干渉計及び測定干渉計にそれぞれ入射し、前記参照干渉計では前記光源からの出力光と該出力光を遅延ファイバで遅延させた光とのモニタビート信号を検出し、前記測定干渉計では前記光源からの出力光と該出力光を測定対象に入射させることにより得られる後方散乱光及び反射光との測定ビート信号を検出し、前記測定ビート信号を前記モニタビート信号に基づいて補正し、測定対象における光波伝播方向の反射率を測定する光周波数領域反射測定方法において、
前記参照干渉計の遅延ファイバが受ける外乱による光波の位相揺らぎを抑庄する措置を施すことを特徴とする光周波数領域反射測定方法。 - 外乱による光波の位相揺らぎを抑圧するために参照干渉計の遅延ファイバに防音措置を施すことを特徴とする請求項1に記載の光周波数領域反射測定方法。
- 光周波数を時間に対して掃引する光源と、
前記光源からの出力光が入射され、入射された出力光と出力光を遅延ファイバで遅延させた光とのモニタビート信号を検出する参照干渉計と、
前記光源からの出力光が入射され、入射された出力光と出力光を測定対象に入射させることにより得られる後方散乱光及び反射光との測定ビート信号を検出する測定干渉計と、
前記モニタビート信号及び前記測定ビート信号を受信してサンプリングするサンプリング部と、
前記サンプリング部でサンプリングされた測定ビート信号をモニタビート信号に基づいて補正し、測定対象における光波伝播方向の反射率を測定する解析部と、
前記参照干渉計の遅延ファイバに設けられた外乱による光波の位相揺らぎを抑圧する機構と
を具備することを特徴とする光周波数領域反射測定装置。 - 前記参照干渉計の遅延ファイバに、音による光波の位相揺らぎを抑圧するために防音機構を設けることを特徴とする請求項3に記載の光周波数領域反射測定装置。
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