JP2010184051A - 光干渉式距離計測装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 試料からの反射光を干渉光として受光素子で受光する干渉光学系と、受光素子から出力される受光信号を処理して距離情報を得る演算処理部と、を備える光干渉式距離計測装置において、前記演算処理部は、前記受光素子から出力された受光信号に含まれるビート成分の周波数を検出するビート周波数検出手段と、前記受光素子から出力された受光信号に含まれる必要な範囲の周波数を通過させるバンドパスフィルタであって、前記ビート周波数検出手段によって検出されるビート周波数に基づいて通過させる周波数帯域を変更可能なバンドパスフィルタと、を有し、前記バンドパスフィルタによって抽出された干渉信号に基づいて距離情報を求める。
【選択図】 図3
Description
を備える光干渉式距離計測装置において、前記演算処理部は、
前記受光素子から出力された受光信号に含まれるビート成分の周波数を検出するビート周波数検出手段と、
前記受光素子から出力された受光信号に含まれる必要な範囲の周波数を通過させるバンドパスフィルタであって、前記ビート周波数検出手段によって検出されるビート周波数に基づいて通過させる周波数帯域を変更可能なバンドパスフィルタと、を有し、
前記バンドパスフィルタによって抽出された干渉信号に基づいて距離情報を求めることを特徴とする。
(2) (1)の光干渉式距離計測装置において、前記ビート周波数検出手段は、前記受光素子から出力される受光信号における周波数スペクトルを取得するスペクトル取得手段を有し、スペクトル取得手段によって取得される周波数スペクトルに基づいて前記ビート成分の周波数を検出することを特徴とする。
(3) (1)の光干渉式距離計測装置は、被検眼に向けて低コヒーレント光を照射し、被検眼からの反射光を干渉光として受光することにより被検眼の眼寸法を測定する眼寸法測定装置であることを特徴とする。
5 ビームスプリッタ
7 三角プリズム(光路長変更部材)
10 照射光学系
20 受光光学系
21 受光素子
30 信号処理部
32 バンドパスフィルタ
34 スペクトル検出部
36 ビート周波数検出部
80 制御部
Claims (3)
- 測定光源と、該測定光源から出射された光の一部の光路長を変化させるために移動可能に配置された光路長変更部材と、受光素子と、を有し、前記測定光源から出射された光を試料に照射し、試料からの反射光を干渉光として前記受光素子で受光する干渉光学系と、
前記受光素子から出力される受光信号を処理して距離情報を得る演算処理部と、
を備える光干渉式距離計測装置において、
前記演算処理部は、
前記受光素子から出力された受光信号に含まれるビート成分の周波数を検出するビート周波数検出手段と、
前記受光素子から出力された受光信号に含まれる必要な範囲の周波数を通過させるバンドパスフィルタであって、前記ビート周波数検出手段によって検出されるビート周波数に基づいて通過させる周波数帯域を変更可能なバンドパスフィルタと、を有し、
前記バンドパスフィルタによって抽出された干渉信号に基づいて距離情報を求めることを特徴とする光干渉式距離計測装置。 - 請求項1の光干渉式距離計測装置において、前記ビート周波数検出手段は、前記受光素子から出力される受光信号における周波数スペクトルを取得するスペクトル取得手段を有し、スペクトル取得手段によって取得される周波数スペクトルに基づいて前記ビート成分の周波数を検出することを特徴とする光干渉式距離計測装置。
- 請求項1の光干渉式距離計測装置は、被検眼に向けて低コヒーレント光を照射し、被検眼からの反射光を干渉光として受光することにより被検眼の眼寸法を測定する眼寸法測定装置であることを特徴とする光干渉式距離計測装置。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04314419A (ja) * | 1991-04-15 | 1992-11-05 | Topcon Corp | 眼軸長測定装置 |
JP2000002516A (ja) * | 1998-05-15 | 2000-01-07 | Carl Zeiss:Fa | 新規の干渉計を用いた光学コヒ―レンス断層撮影 |
JP2000262461A (ja) * | 1999-02-04 | 2000-09-26 | Univ Hospital Of Cleveland | 光イメージング装置 |
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