JP2010177601A - 表示装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】表示パネルに加えられた圧力に応じて表示画素の内部のノードの状態を変化させる。
【解決手段】封止基板111の一方の主面に接して可変素子カソード側電極112が配置され、画素基板113の一方の主面に表示画素21が形成される。表示画素21は、有機EL素子OELと、可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118によって構成される可変素子Ev21と、キャパシタ電極Cs21と有機EL素子OELのアノード電極121によって構成され、表示信号または表示信号が変調された信号に応じた電位を保持するキャパシタと、駆動電流を有機EL素子OELに供給する発光駆動トランジスタT23とを備える。可変素子Ev21は、表示パネル(封止基板111の他方の主面)に加えられた圧力に応じて物理パラメータ(容量値または抵抗値)が変化して表示信号を変調し、キャパシタによって保持される電位を変化させる。
【選択図】図26

Description

本発明は、表示装置に関する。
有機EL(Electro−Luminescence)表示装置の表示パネルには、自己発光型の発光素子である有機EL素子を含む表示画素がマトリクス状に配置されている。有機EL表示装置は自己発光型であるため、ブラウン管と同等なコントラストの高い画像を表示することができる。
また、有機EL表示装置の表示パネルの上にタッチパネルが配置された表示装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。
特開平10−91342号公報
有機EL表示装置の表示パネルの上に位置を入力するためのタッチパネルを積層して配置すると、タッチパネルで光が反射されることがあるため、表示された画像のコントラストが低下する。
また、タッチパネル上で指定された位置を検出するための回路を表示パネルとは別に設ける必要があるため、実装面積が増大する。
そこで、位置を入力するためのタッチパネル機能を表示パネルと一体的に作り込むことが考えられる。
しかし、有機EL表示装置で用いられている表示画素では、表示パネルに圧力が加えられても内部のノードの状態(電圧や電流)は変化しない。このため、表示画素の内部の状態を測定しても圧力が加えられている表示パネル上の位置を検出することはできない。
本発明の目的は、表示パネルに加えられた圧力に応じて表示画素の内部のノードの状態(電圧や電流)が変化する表示装置を提供することである。
本発明の表示装置は、一方の主面に接して第1の電極が配置された封止基板と、
一方の主面が前記封止基板の一方の主面に対向するように配置され、当該一方の主面に複数の表示画素が形成された画素基板と、
を備え、
各前記表示画素は、
駆動電流を供給されて発光する発光素子と、
画像データを表示するための表示信号を入力する信号入力部と、
前記第1の電極と、前記第1の電極に対向するように配置された第2の電極とによって構成され、前記封止基板の他方の主面または前記画素基板の他方の主面に加えられた圧力に応じて物理パラメータが変化し、当該物理パラメータの変化により前記表示信号に応じた電位を変調する可変素子と、
前記表示信号または前記表示信号が変調された信号に応じた電位を保持するキャパシタと、
前記キャパシタによって保持されている電位に対応する駆動電流を前記発光素子に供給する発光素子駆動部と、
を有する、
ことを特徴とする。
好ましくは、前記信号入力部は、所定の期間に前記表示信号を入力し、
前記可変素子は、外部から加えられる圧力に応じて前記物理パラメータとして容量値または抵抗値が変化し、前記所定の期間に前記キャパシタを含む回路と並列回路を構成することによって前記表示信号に応じた電位を変調する、
ことを特徴とする。
好ましくは、本発明の表示装置は、行方向に並んだ前記表示画素に接続された複数の走査ラインと電源ライン、及び列方向に並んだ前記表示画素に接続された複数のデータラインを備え、前記画素基板に形成された表示パネルと、
前記各走査ラインに走査信号を供給することによって当該走査ラインに接続されている前記各表示画素を選択し、前記各データラインに前記表示信号を供給し、前記各電源ラインに所定の基準電圧と所定の電源電圧を供給することによって選択されている前記各表示画素を駆動する駆動回路と、
を備え、
前記発光素子駆動部は、ゲート電極が前記キャパシタの一方の電極に接続され、ソース電極が前記キャパシタの他方の電極と前記第2の電極とに接続され、ドレイン電極が前記電源ラインに接続された第1のトランジスタを含み、
前記信号入力部は、ゲート電極が前記走査ラインに接続され、ソース電極が前記第1のトランジスタのゲート電極と前記キャパシタの一方の電極とに接続され、ドレイン電極が前記電源ラインと前記第1のトランジスタのドレイン電極とに接続された第2のトランジスタと、ゲート電極が前記走査ラインに接続され、ソース電極が前記データラインに接続され、ドレイン電極が前記キャパシタの他方の電極と前記第2の電極と前記第1のトランジスタのソース電極とに接続された第3のトランジスタとを含み、
前記第1の電極に前記所定の基準電圧が印加され、
前記発光素子は、アノード電極が前記第1のトランジスタのソース電極と前記第3のトランジスタのドレイン電極と前記キャパシタの他方の電極と前記第2の電極に接続され、カソード電極に前記所定の基準電圧が印加される、
ことを特徴とする。
好ましくは、本発明の表示装置は、前記第1のトランジスタを覆うように形成された隔壁と、
前記隔壁を貫通し、導電性を有するコンタクト部と、
を備え、
前記第2の電極は、前記隔壁の前記封止基板に対向する面に形成されており、前記コンタクト部を介して前記第1のトランジスタのソース電極または前記第3のトランジスタのドレイン電極の何れか一方に接続される、
ことを特徴とする。
好ましくは、本発明の表示装置は、前記第1のトランジスタの少なくとも一部と前記第3のトランジスタの少なくとも一部とを覆うように形成された絶縁膜を備え、
前記第1のトランジスタのソース電極または前記第3のトランジスタのドレイン電極の何れか一方は、露出されており、前記第2の電極として機能する、
ことを特徴とする。
好ましくは、本発明の表示装置は、前記第1のトランジスタと前記第3のトランジスタのソース電極を覆うように形成された絶縁膜と、
前記絶縁膜の前記封止基板に対向する面に形成され、導電性材料からなり、前記第1のトランジスタのソース電極または前記第3のトランジスタのドレイン電極の何れか一方に電気的に接続されて、前記第2の電極として機能する導電体層と、
を備えることを特徴とする。
また、本発明の表示装置は、行方向に並んだ前記表示画素に接続された複数の走査ラインと電源ライン、及び列方向に並んだ前記表示画素に接続された複数のデータラインを備え、前記画素基板に形成された表示パネルと、
前記各走査ラインに走査信号を供給することによって当該走査ラインに接続されている前記各表示画素を選択し、前記各データラインに前記表示信号を供給し、前記各電源ラインに所定の電源電圧を供給することによって選択されている前記各表示画素を駆動する駆動回路と、
を備え、
前記発光素子駆動部は、ゲート電極が前記キャパシタの一方の電極と前記第2の電極に接続され、ソース電極が前記キャパシタの他方の電極に接続され、ドレイン電極が前記電源ラインに接続された第1のトランジスタを含み、
前記信号入力部は、ゲート電極が前記走査ラインに接続され、ソース電極が前記データラインに接続され、ドレイン電極が前記第1のトランジスタのゲート電極と前記キャパシタの一方の電極と前記第2の電極とに接続された第2のトランジスタを含み、
前記第1の電極に所定の基準電圧が印加され、
前記発光素子は、アノード電極が前記第1のトランジスタのソース電極と前記キャパシタの他方の電極に接続され、カソード電極に前記所定の基準電圧が印加される、
ことを特徴とする。
好ましくは、本発明の表示装置は、前記第1のトランジスタを覆うように形成された隔壁と、
前記隔壁を貫通し、導電性を有するコンタクト部と、
を備え、
前記第2の電極は、前記隔壁の前記封止基板に対向する面に形成されており、前記コンタクト部を介して前記第1のトランジスタのゲート電極に接続される、
ことを特徴とする。
好ましくは、本発明の表示装置は、前記第2のトランジスタを覆うように形成された隔壁と、
前記隔壁を貫通し、導電性を有するコンタクト部と、
を備え、
前記第2の電極は、前記隔壁の前記封止基板に対向する面に形成されており、前記コンタクト部を介して前記第2のトランジスタのドレイン電極に接続される、
ことを特徴とする。
好ましくは、本発明の表示装置は、前記第1のトランジスタと前記第2のトランジスタのソース電極を覆うように形成された絶縁膜を備え、
前記第2のトランジスタのドレイン電極は、露出されており、前記第2の電極として機能する、
ことを特徴とする。
好ましくは、本発明の表示装置は、前記第1のトランジスタと前記第2のトランジスタのソース電極を覆うように形成された絶縁膜と、
前記絶縁膜の前記封止基板に対向する面に形成され、導電性材料からなり、前記第2のトランジスタのドレイン電極に電気的に接続されて、前記第2の電極として機能する導電体層と、
を備えることを特徴とする。
好ましくは、本発明の表示装置は、隣接する少なくとも2つの所定の数の前記表示画素に含まれる前記第2の電極が相互に接続されており、相互に接続された前記第2の電極に対応する前記所定の数の表示画素の中の1個の前記表示画素にのみ前記コンタクト部が設けられている、
ことを特徴とする。
好ましくは、本発明の表示装置は、導電性を有しない絶縁性微粒子と当該絶縁性微粒子よりも小さい導電性を有する導電性微粒子とが、前記第1の電極と前記第2の電極の間に配置されている、
ことを特徴とする
好ましくは、本発明の表示装置は、導電性を有する突起部が前記第1の電極の前記第2の電極と対向する側に設けられている、
ことを特徴とする。
本発明によれば、表示パネルに加えられた圧力に応じて表示画素の内部のノードの状態(電圧や電流)を変化させることができる。
本発明の第1の実施形態に係る有機EL表示装置の一例を示す図である。 走査ラインに順次出力される走査パルスと電源ラインに順次出力される電圧の一例を示す図である。 本発明の第1の実施形態に係るデータドライバの構成の一例を示す図である。 本発明の第1の実施形態に係る画素駆動回路とデータドライバの構成の一例を示す図である。 本発明の第1の実施形態に係る画素駆動回路の各部の電圧または電流の一例を示す図である。 選択期間と発光期間に画素駆動回路を流れる電流の一例を示す図である。 本発明の第1の実施形態に係る画素駆動回路において、可変素子がキャパシタとして機能し始めた場合の画素駆動回路の各部の電圧または電流の一例を示す図である。 本発明の第1の実施形態に係る画素駆動回路において、可変素子がキャパシタとして機能しているときの要部の等価回路を示す図である。 可変素子がキャパシタとして機能し始めた場合に、選択期間と発光期間に画素駆動回路を流れる電流の一例を示す図である。 本発明の第1の実施形態に係る画素駆動回路において、可変素子の容量値が更に増加した場合の画素駆動回路の各部の電圧または電流の一例を示す図である。 可変素子の容量値が更に増加した場合に、選択期間と発光期間に画素駆動回路を流れる電流の一例を示す図である。 可変素子の抵抗が極めて小さくなった場合に、選択期間と発光期間に画素駆動回路を流れる電流の一例を示す図である。 本発明の第1の実施形態に係る画素駆動回路において、可変素子の抵抗が極めて小さくなった場合の画素駆動回路の各部の電圧または電流の一例を示す図である。 本発明の第2の実施形態に係る有機EL表示装置の一例を示す図である。 本発明の第2の実施形態に係る画素駆動回路とデータドライバの構成の一例を示す図である。 走査ラインに順次出力される走査パルスと電源ラインに出力される電圧の一例を示す図である。 本発明の第2の実施形態に係る画素駆動回路の各部の電圧または電流の一例を示す図である。 選択期間と発光期間に画素駆動回路を流れる電流の一例を示す図である。 本発明の第2の実施形態に係る画素駆動回路において、可変素子がキャパシタとして機能し始めた場合の画素駆動回路の各部の電圧または電流の一例を示す図である。 本発明の第2の実施形態に係る画素駆動回路において、可変素子がキャパシタとして機能し始めた場合の要部の等価回路を示す図である。 本発明の第2の実施形態に係る画素駆動回路において、可変素子の容量値が更に増加した場合の画素駆動回路の各部の電圧または電流の一例を示す図である。 可変素子の抵抗が極めて小さくなった場合に、選択期間と発光期間に画素駆動回路を流れる電流の一例を示す図である。 本発明の第2の実施形態に係る画素駆動回路において、可変素子の抵抗が極めて小さくなった場合の画素駆動回路の各部の電圧または電流の一例を示す図である。 本発明の第1の実施形態と第2の実施形態の変形例に係るデータドライバの構成の一例を示す図である。 本発明の第1の実施形態における表示画素の第1の構造における平面図の一例である。 表示画素の第1の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。 可変素子アノード側電極の形状の一例を示す図である。 第1の実施形態における表示画素21の第2の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。 第1の実施形態における表示画素21の第3の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。 第1の実施形態における表示画素21の第4の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。 第1の実施形態における表示画素21の第5の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。 第1の実施形態における表示画素21の第6の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。 第1の実施形態における表示画素21の第7の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。 第1の実施形態における表示画素21の第8の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。 第1の実施形態における表示画素21の第8の構造の変形例における、図25のA−A線断面図の一例である。 第1の実施形態における表示画素21の構造の第9の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。 第1の実施形態における表示画素21の構造の第10の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。 第1の実施形態における表示画素21の構造の第11の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。 第1の実施形態における表示画素21の構造の第11の構造の変形例における、図25のA−A線断面図の一例である。 第2の実施形態における表示画素22の第1の構造における平面図の一例である。 第2の実施形態における表示画素22の第1の構造における図40のB−B線断面図の一例である。 第2の実施形態における表示画素22の第2の構造における、図40のB−B線断面図の一例である。 第2の実施形態における表示画素22の第3の構造における、図40のB−B線断面図の一例である。 第2の実施形態における表示画素22の第4の構造における、図40のB−B線断面図の一例である。 複数の表示画素の可変素子アノード側電極が接続された第1の例を示す図である。 複数の表示画素の可変素子アノード側電極が接続された第2の例を示す図である。 複数の表示画素の可変素子アノード側電極が接続された第3の例を示す図である。
<第1の実施形態>
以下に、本発明の第1の実施形態に係る有機EL表示装置1aについて説明する。有機EL表示装置1aは、図1に示すように、表示パネル2aと、走査ドライバ3と、電源ドライバ4aと、データドライバ5aと、システムコントローラ6と、表示信号生成回路7とを有している。
表示パネル2aは、マトリクス状に配置された表示画素21と、行方向(図1の左右方向)に延びている複数の走査ラインLs1〜Lsnおよび電源ラインLv1〜Lvn、列方向(図1の上下方向)に延びている複数のデータラインLd1〜Ldmとを有している。電源ラインLv1〜Lvnはそれぞれ走査ラインLs1〜Lsnと対をなしており、走査ラインLs1〜Lsnが接続された表示画素21に接続されている。
表示画素21は、走査ラインLs1〜LsnとデータラインLd1〜Ldmの交点の近傍に配置されている。
なお、図1は、例えば白黒画像を表示する場合の例である。カラー画像を表示する場合には、RGBの各色を発する一組の表示画素21がマトリクス状に配置される。例えば、赤(R)、緑(G)、青(B)のそれぞれの色の光を発する表示画素21を一組として、この組が行方向に繰り返し複数配置されるとともに、列方向に同一色の画素が複数配置される。
走査ドライバ3は、システムコントローラ6から供給される走査制御信号に基づいて、行方向に並んだ表示画素21を順次選択するための走査パルスを出力する。走査ドライバ3は、図2(A)に示すように、まず選択期間tsの間走査ラインLs1に基準電圧Vss(例えば、接地電位GND=0V)より高いハイレベルの電圧Vhigh(例えば、+15V)、それ以外の期間(発光期間Te)基準電圧Vss以下のローレベルの電圧Vlow(例えば、−15V)となる走査パルスを出力する。この走査パルスによって走査ラインLs1に接続された表示画素21が選択期間tsの間選択される。次に、走査ドライバ3は、図2(B)に示すように、次の選択期間tsにハイレベルの電圧Vhighとなる走査パルスを走査ラインLs2に出力する。この走査パルスによって走査ラインLs2に接続された表示画素21が次の選択期間tsの間選択される。そして、走査ドライバ3は、図2(C)に示すように、更に次の選択期間tsにハイレベルの電圧Vhighとなる走査パルスを走査ラインLs3に出力する。この走査パルスによって走査ラインLs3に接続された表示画素21が更に次の選択期間tsの間選択される。
次いで、走査ドライバ3は、図2(D)に示すように、走査ラインLs4から走査ラインLsnまで選択期間tsの間ハイレベルの電圧Vhighとなる走査パルスを順次出力し、走査ラインLs4〜Lsnに接続された表示画素21を順次選択する。
電源ドライバ4aは、システムコントローラ6から供給される電源制御信号に基づいて、図2(E)〜(H)に示すように、電源ラインLv1〜Lvnとそれぞれ対をなしている走査ラインLs1〜Lsnに走査パルスが出力されている間、電源ラインLv1〜Lvnに基準電圧Vss(例えば、接地電位GND=0V)を出力し、それ以外の期間、基準電圧Vssより高いレベルの電源電圧Vccを出力する。
データドライバ5aは、表示データを表示パネル2aに表示させるために、図3に示すように、シフトレジスタ回路51と、データレジスタ回路52と、データラッチ回路53と、デジタル電圧/アナログ電圧変換回路(DAVC)54aとを有している。
データドライバ5aは、システムコントローラ6から供給されるデータ制御信号(シフトクロック信号CLK、サンプリングスタート信号STR、データラッチ信号STB)等に基づいて、表示データ(D1〜Dm)を所定のタイミングで取り込んで保持し、所定のタイミングで表示データ(D1〜Dm)に対応する表示信号(階調電圧:−Vdata)を生成して、各データラインLd1〜Ldmに出力する。
なお、後述するように、データドライバ5aは、例えば、人の指やタッチペン等が表示パネル2aに接触したとき、それらが表示パネル2aに接触した位置を検出するために、更に、検出用抵抗55と、ADC(Analog−to−Digital Converter)56aと、判定回路57aとを有している。判定回路57aは、人の指等が表示パネル2aに接触した位置を検出すると、システムコントローラ6に含まれる位置検出回路61に検出信号を出力する。
シフトレジスタ回路51は、図示しないシフトレジスタを含んでおり、サンプリングスタート信号STRをシフトクロック信号CLKに基づいて順次シフトしつつシフト信号をデータレジスタ回路52に供給する。
データレジスタ回路52は、シフトレジスタ回路51から供給されるシフト信号のタイミングで表示データD1〜Dmを順次取り込む。
データラッチ回路53は、システムコントローラ6からデータラッチ信号STBが供給されると、データレジスタ回路52に取り込まれている1行分の表示データD1〜Dmをラッチして、保持する。
DAVC54aは、データラッチ回路53に保持されている表示データD1〜Dmをアナログ電圧の表示信号(負の階調電圧:−Vd)に変換して、各データラインLd1〜Ldmに出力する。
走査パルスによって選択されている1行分の表示画素21は、各表示画素21が接続されているデータラインLd1〜Ldmに出力された表示信号を読み込む。表示画素21に読み込まれた表示信号は、次の画面の表示信号が読み込まれるまで保持され、画像として表示パネル2aに表示される。
システムコントローラ6は、上述したように、データドライバ5aにデータ制御信号(シフトクロック信号CLK、シフトスタート信号STR、ラッチ信号STB)と表示データD1〜Dmを供給する。また、システムコントローラ6は、走査ドライバ3と電源ドライバ4aにそれぞれ走査制御信号と電源制御信号を供給する。システムコントローラ6は、これらの各制御信号を供給することにより各ドライバを所定のタイミングで動作させ、各表示画素21に表示信号を読み込ませ、表示パネル2aに画像を表示させる。
また、システムコントローラ6は、位置検出回路61を備えている。後述するように、位置検出回路61は、例えば、人の指やタッチペン等が表示パネル2aに接触したとき、それらが表示パネル2aに接触した位置を検出する。位置検出回路61は、人の指やタッチペンが表示パネル2aに接触した際に、走査ドライバ3が走査パルスを出力していた走査ラインLs1〜Lsnと、データドライバ5aが表示信号を出力していたデータラインLd1〜Ldmに基づいて、人の指やタッチペン等が表示パネル2aに接触した位置を特定する。
表示信号生成回路7は、例えば、有機EL表示装置1aの外部から供給される画像信号から抽出される表示データを、データドライバ5aのデータレジスタ回路52に供給する。ここで、画像信号が、テレビ放送信号(コンポジット映像信号)のように、画像信号の表示タイミングを規定するタイミング信号成分を含む場合には、表示信号生成回路7は、表示データを抽出する機能のほか、タイミング信号成分を抽出してシステムコントローラ6にタイミング信号を供給する機能を有するものであってもよい。この場合、システムコントローラ6は、表示信号生成回路7から供給されるタイミング信号に基づいて、走査ドライバ3、電源ドライバ4a及びデータドライバ5aにそれぞれ供給する走査制御信号、電源制御信号及びデータ制御信号を生成する。
なお、有機EL表示装置1aは本発明の表示装置の一例であり、表示パネル2aは本発明の表示パネルの一例であり、表示画素21は本発明の表示画素の一例であり、走査ドライバ3と電源ドライバ4aとデータドライバ5aは本発明の駆動回路の一例である。
表示画素21は、図4に示すように、画素駆動回路211と有機EL素子OELとを有している。
画素駆動回路211は、第1入力トランジスタT21と、第2入力トランジスタT22と、発光駆動トランジスタT23と、キャパシタCs2と、可変素子Ev21とを含む。
第1入力トランジスタT21と第2入力トランジスタT22と発光駆動トランジスタT23は、アモルファスシリコンまたはポリシリコンを用いたnチャネル型TFT(薄膜トランジスタ:Thin Film Transistor)である。
なお、以下では、個々の走査ラインを示す場合、走査ラインLsのように、適宜添え字1〜nを省略する。電源ラインLvとデータラインLdについても同様である。
第1入力トランジスタT21は、ゲートが走査ラインLsに接続され、ソースがノードN22に接続され、ドレインが電源ラインLvと発光駆動トランジスタT23のドレインに接続されている。
第2入力トランジスタT22は、ゲートが走査ラインLsに接続され、ソースがデータラインLdに接続され、ドレインがノードN21に接続されている。
発光駆動トランジスタT23は、ゲートがノードN22に接続され、ソースがノードN21に接続され、ドレインが電源ラインLvと第1入力トランジスタT21のドレインに接続されている。
また、キャパシタCs2は、ノードN22とノードN21の間、すなわち、発光駆動トランジスタT23のゲートとソースの間に接続されている。
可変素子Ev21は、一方の電極がノードN21に接続され、他方の電極に基準電圧Vssが印加されている。可変素子Ev21は、容量値を変化させることができる可変キャパシタとして機能するとともに、抵抗を変化させることができる可変抵抗としても機能する素子である。
有機EL素子OELは、アノード電極と、カソード電極と、これらの電極間に形成された電子注入層、発光層、正孔注入層、等を備える。有機EL素子OELのアノード電極は、ノードN21に接続され、カソード電極には基準電圧Vssが印加されている。
有機EL素子OELは、アノード電極からカソード電極に向かって電流が流れると、発光層において正孔注入層から供給された正孔と電子注入層から供給された電子とが再結合することによって発生するエネルギーによって発光する。
データドライバ5aは、図4に示すように、データラッチ回路53と、DAVC54aと、検出用抵抗55と、ADC56aと、判定回路57aとを有している。データドライバ5aは、上述したように、その他に、図3に示したシフトレジスタ回路51と、データレジスタ回路52とを有しているが、図4においては省略した。
図4には、データラッチ回路53と、DAVC54aと、検出用抵抗55と、ADC56aをそれぞれ1個示してあるが、実際にはこれらはデータラインLd1〜Ldmの各々に対応して、それぞれm個設けられている。
なお、検出用抵抗55の抵抗値は、例えば数Ω程度の、比較的小さいものであってもよい。この検出用抵抗55は、抵抗素子としてDAVC54aとADC56aとの接続点との間に設けられるものであってもよいし、DAVC54aとADC56aとの接続点との間に設けられている配線の配線抵抗からなるものであってもよい。
本実施形態では、表示データは、デジタル信号である電圧値データVdataで指定される。電圧値データVdataが例えば8ビットのデジタル信号である場合、有機EL素子OELの発光の階調は256階調である。
DAVC54aは、データラッチ回路53から電圧値データVdataが供給されると、アナログ電圧である負の階調電圧(−Vd)に変換し、検出用抵抗55を介してデータラインLdに出力する。負の階調電圧(−Vd)は検出用抵抗55で電圧の大きさが減少する。すなわち、検出用抵抗55による電圧降下分だけ変化した電圧(−Vd’)がデータラインLdに出力される。電圧(−Vd’)がデータラインLdに出力されると、電流Idが駆動回路211からDAVC54aに流れる。
図5は、画素駆動回路211の各部の電圧または電流の一例を示す図である。図5(A)および図5(B)は、それぞれ走査ラインLsおよび電源ラインLvの電圧を示す。図5(C)は、検出用抵抗55とデータラインLdの接続点であるノードN23の電圧を示す。また、図5(D)は発光駆動トランジスタT23のゲートとソース電極間の電圧Vgs(キャパシタCs2の両方の電極間の電圧)を示し、図5(E)は有機EL素子OELに流れる電流Ioelを示す。
本実施形態の有機EL表示装置1aでは、人の指やタッチペン等が表示パネル2aに接触していないとき、可変素子Ev21は、その容量値が無視できる程度に小さく、抵抗の大きさが十分に大きく無限大であると見なせるように構成されている。このときには走査ドライバ3と電源ドライバ4aとデータドライバ5aは図5に示すように動作し、表示パネル2aに画像が表示される。
まず、選択期間tsに、走査ドライバ3は、図5(A)に示すように、走査ラインLsにハイレベルの電圧Vhighの走査パルスを出力する。走査ラインLsに走査パルスが出力されると、第1入力トランジスタT21と第2入力トランジスタT22のソース電極とドレイン間が導通する。このとき、電源ドライバ4aは、図5(B)に示すように、電源ラインLvに基準電圧Vssを出力している。
データドライバ5aのDAVC54aは、表示データの階調値に応じた電圧値データVdataに対応する負の電圧(−Vd)を出力し、図5(C)に示すように、検出用抵抗55を介してノードN23に電圧(−Vd’)を印加する。すなわち、DAVC54aは電源ドライバ4aから表示画素21の画素駆動回路211を介して電流Idを吸い込む。
電流Idは、図6(A)に示すように、電源ラインLvから、発光駆動トランジスタT23のドレインとソース電極間と第2入力トランジスタT22のドレインとソース電極間を通って、データラインLdに流れる。
このとき、第1入力トランジスタT21のソースとドレイン間は導通しているため、発光駆動トランジスタT23のゲートとドレインの電位は両方とも基準電圧Vssである。発光駆動トランジスタT23は、ダイオード接続状態とされているため、飽和領域で動作する。
なお、有機EL素子OELのカソード電極に印加されている電圧は基準電圧Vssであり、アノード電極に印加されている電圧はノードN21の電圧に等しく、基準電圧Vssに等しいかそれより低い電圧となるため、有機EL素子OELに電流は流れない。
発光駆動トランジスタT23のゲートとソース間には、キャパシタCs2が接続されている。ノードN22に接続されているキャパシタCs2の一方の電極には基準電圧Vssが印加されている。一方、ノードN21には電流Idが流れ、図5(D)に示すように、キャパシタCs2の両方の電極間(発光駆動トランジスタT23のゲートとソース間)の電圧は、発光駆動トランジスタT23のドレインとソース間に電流Idが流れるときの発光駆動トランジスタT23のゲートとソース間の電圧に等しい電圧Vgs1になる。これにより、ノードN23(データラインLd)の電圧は、選択期間tsにおいて、概ねVss―Vgs1に等しい値となる。一方、図5(C)に示したように、ノードN23には電圧(−Vd’)が印加されているため、Vgs1とVd’は概ね等しい。
次に、発光期間teにおいて、発光駆動トランジスタT23は有機EL素子OELのアノード電極に駆動電流Iem1を供給する。
走査ドライバ3は、図5(A)に示すように、発光期間teに走査ラインLsにローレベルの電圧Vlowを出力する。このため、第1入力トランジスタT21のソースとドレイン間と第2入力トランジスタT22のソースとドレイン間は非導通となる。このとき、電源ドライバ4aは、図5(B)に示すように、電源ラインLvに電源電圧Vccを出力する。この電源電圧Vccは、発光駆動トランジスタT23を飽和領域で動作させることができる電圧である。
第1入力トランジスタT21のソースとドレイン間が非導通であるため、ノードN22はフローティング状態である。キャパシタCs2の両方の電極間には、選択期間tsに印加された電圧Vgs1が保持されている。一方、上述したように、発光駆動トランジスタT23のドレインには発光駆動トランジスタT23を飽和領域で動作させることができる電圧が印加されている。
このため、発光駆動トランジスタT23は、図6(B)に示すように、ゲートとソース間の電圧、すなわち、キャパシタCs2の両方の電極間に保持されている電圧Vgs1に応じて有機EL素子OELのアノード電極に駆動電流Iem1を供給する。このため、駆動電流Iem1は選択期間tsにノードN21を流れた電流Idと同じ電流値を有する。
ADC56aは、ノードN23(データラインLd)に印加されている電圧をデジタル信号に変換して判定回路57aに供給する。
判定回路57aは、データラッチ回路53から出力される電圧値データVdataとADC56aによってデジタル信号に変換されたノードN23(データラインLd)の電圧を比較する。判定回路57aは、選択期間tsが終了する直前の時点で、これらの電圧の比較によって抽出される差分の大きさに基づいて、データラインLdに出力された表示信号に応じたデータラインLdの電位の変調の有無を判定する。
すなわち、判定回路57aは、電圧値データVdataとデジタル信号に変換されたノードN23(データラインLd)の電圧の値とが概ね等しく、その差分が所定の範囲内にある場合には、データラインLdの電位は変調されていないと判定して、人の指やタッチペン等が表示パネル2aに接触していないと判断する。言い換えると、このとき、判定回路57aは、キャパシタCs2は表示信号に対応する電圧を保持していると判定する。
一方、判定回路57aは、電圧値データVdataとデジタル信号に変換されたノードN23(データラインLd)の電圧の値とが異なり、その差分が上記所定の範囲より大きいとき、データラインLdの電位は変調されていると判定して、人の指やタッチペン等が表示パネル2aに接触していると判断する。言い換えると、このときには、判定回路57aは、キャパシタCs2が表示信号に対応する電圧を保持していないと判定する。
判定回路57aは、データラインLdの電位が変調されていると判定したとき、人の指やタッチペン等が表示パネル2aに接触しているとして、その判定結果を位置検出回路61に出力する。
次に、本実施形態の有機EL表示装置1aにおいて、表示パネル2aに人の指やタッチペン等が接触して圧力が加えられたときの動作について説明する。
まず、表示パネル2aに加えられた圧力が弱く、可変素子Ev21の容量値の値がそれほど大きくない場合について説明する。図7は、可変素子Ev21がキャパシタとして機能し始めた場合の表示画素21の各部の電圧または電流の一例を示す図である。図7(A)および図7(B)は、それぞれ走査ラインLsおよび電源ラインLvの電圧を示す。図7(C)は、検出用抵抗55とデータラインLdの接続点であるノードN23の電圧を示す。また、図7(D)は、判定回路57の出力を示す。図7(E)は、発光駆動トランジスタT23のゲートとソース間の電圧Vgs(すなわち、キャパシタCs2の両方の電極間の電圧)を示し、図7(F)は有機EL素子OELに流れる電流Ioelを示す。また、図8は、可変素子Ev21がキャパシタとして機能しているときの、可変素子Ev21とキャパシタCs2の充電動作に係わる等価回路を示す。
選択期間tsに、走査ドライバ3は、図7(A)に示すように、走査ラインLsにハイレベルの電圧Vhighの走査パルスを出力する。このため、第1入力トランジスタT21のソースとドレイン間が導通する。このとき、電源ドライバ4aは、図7(B)に示すように、電源ラインLvに基準電圧Vssを出力している。このため、ノードN22の電圧は基準電圧Vssとなる。ここで、キャパシタCs2はノードN21とノードN22の間に接続されている。
一方、可変素子Ev21は、一方の電極がノードN21に接続されており、他方の電極に基準電圧Vssが印加されている。このため、キャパシタCs2と可変素子Ev21は、選択期間tsには、図8の等価回路に示すように、ノードN23と基準電圧Vssの間に並列に接続された並列回路を構成する。そのため、キャパシタCs2の容量値をC1、可変素子Ev21の容量値をC2としたとき、ノードN23と基準電圧Vssの間に設けられる容量の容量値Ct1は容量値C1と容量値C2とを合計した値となる。
従って、データドライバ5aが負の階調電圧(−Vd’)をデータラインLdに出力するとき、この電圧が可変素子Ev21を含む容量値Ct1の充電にも使われることになる。このとき、図8に示すように、検出用抵抗55と容量値Ct1を有する容量とは直列に接続されて、いわゆるCR回路をなしている。そして、検出用抵抗55の一端にDAVC54aから出力される電圧(−Vd)が印加されたとき、検出用抵抗55の他端(ノードN23)の電圧V(N23)は、検出用抵抗55の抵抗値をRとしたとき、電圧(−Vd)の印加開始からの時間をt、抵抗値Rと容量値Ct1との積を時定数τ、として、式(1)で表される。
Figure 2010177601
すなわち、図7(C)に示すように、ノードN23の電圧V(N23)の変化は、DAVC54aからの電圧(−Vd)の印加に対して、時定数τの大きさに応じて遅延したものとなる。このため、図9(A)に示す、発光駆動トランジスタT23のドレインとソース間を介してデータドライバ5aのDAVC54aに引き込まれる電流Id2の電流値は、DAVC54aから電圧(−Vd)が印加された直後では、図6(A)における電流Idより小さく、徐々に増加するものとなる。これに応じて、発光駆動トランジスタT23のゲートとソース間の電圧Vgsの上昇も、図7(E)に示すように、遅延したものとなり、選択期間tsが終了する時点で、電圧Vgs2となる。
ただし、可変素子Ev21の容量値が比較的小さく、図7(C)に示すように、選択期間tsの間に、ノードN23の電圧V(N23)の電圧が、図5(C)における電圧(Vss−Vd’)に概ね達する場合には、図7(E)に示すように、選択期間tsの間に、キャパシタCs2の両方の電極間の電圧(発光駆動トランジスタT23のゲートとソース間の電圧)Vgs2は、図5(D)における、発光駆動トランジスタT23のドレインとソース間に電流Idが流れるときの電圧Vgs1に概ね等しくなる。また、図7(F)と図9(B)に示すように、発光期間teにおいて有機EL素子OELに供給される電流Iem2は、図5(E)における電流Iem1と概ね同じ電流値を有する。
判定回路57aは、図7(D)に示すように、選択期間tsが終了する直前の電圧測定タイミングtmで、デジタル信号に変換されたノードN23(データラインLd)の電圧を取得し、ノードN23(データラインLd)の電圧とデータラッチ回路53から出力される電圧値データVdataを比較する。この場合、電圧測定タイミングtmでのノードN23の電圧は電圧値データVdataに対応する電圧(−Vd)に概ね等しいため、判定回路57aは、データラインLdの電位は変調されていないと判定し、Lowを出力する。言い換えると、判定回路57aは、キャパシタCs2が表示信号を保持していると判定する。
次に、表示パネル2aに更に圧力が加えられて、可変素子Ev21の容量値が更に増加した場合について説明する。
図10は、このときの画素駆動回路211の各部の電圧または電流の一例を示す図である。図10(A)および図10(B)は、それぞれ走査ラインLsおよび電源ラインLvの電圧を示す。図10(C)は、検出用抵抗55とデータラインLdの接続点であるノードN23の電圧を示す。また、図10(D)は、判定回路57の出力を示す。図10(E)は、発光駆動トランジスタT23のゲートとソース間の電圧Vgs(すなわち、キャパシタCs2の両方の電極の電圧)を示し、図10(F)は有機EL素子OELに流れる電流Ioelを示す。
図10(A)と図10(B)に示す走査ラインLsと電源ラインLvの電圧はそれぞれ図7(A)と図7(B)に示したものと同一であるため、説明を省略する。
可変素子Ev21の容量値が更に増加すると、上記式(1)に示した時定数が更に増加する。このため、図10(C)に示すように、ノードN23の電圧の変化は、図7(C)の場合より更に遅延したものとなり、選択期間tsが終了する時点で、図5(C)における電圧(Vss−Vd’)に達しなくなる。このため、図11(A)に示すように、発光駆動トランジスタT23のドレインとソース間を介してデータドライバ5aのDAVC54aに引き込まれる電流Id3の電流値は、図9(A)における電流Id2より更に小さくなる。これに応じて、図10(E)に示すように、発光駆動トランジスタT23のゲートとソース間の電圧Vgsも、図7(E)の場合よりゆっくりと上昇し、選択期間tsが終了する時点で、電圧Vgs3となる。電圧Vgs3は、図7(E)の場合のVgs2より小さい値となる。また、図10(E)と図11(B)に示すように、発光期間teにおいて有機EL素子OELに供給される電流Iem3は、図7(F)及び図9(B)における電流Iem2より小さい電流値を有する。
この場合、電圧測定タイミングtmでのノードN23の電圧は電圧値データVdataに対応する電圧(−Vd)より低いため、判定回路57aは、データラインLdの電位は変調されていると判定し、図10(D)に示すように、Highを出力する。言い換えると、判定回路57aは、キャパシタCs2が表示信号を保持していないと判定する。
判定回路57aは、データラインLdの電位が変調されていると判定すると、有機EL表示装置1aの位置検出回路61に、データラインLdの電位が変調されていると判定したデータラインの番号(1〜mのいずれか)を送る。
位置検出回路61はこの番号を受信すると、走査ドライバ3が走査パルスを出力していた走査ラインの番号(1〜nのいずれか)を取得する。走査ラインの番号は、例えば、走査ドライバ3が走査ラインLs1に最初の走査パルスを出力してから、判定回路57aによってデータラインLdの電位が変調されていると判定されるまでに、走査ドライバ3に印加されるクロック信号のパルス数をカウントすることによって知ることができる。あるいは、走査ラインの番号は、走査ドライバ3が走査ラインLs1に最初の走査パルスを出力してから、判定回路57aによってデータラインLdの電位が変調されていると判定されるまでに、走査ドライバ3が走査ラインLs2〜Lsnに順次出力する走査パルスの数をカウントすることによって知ることができる。
位置検出回路61は、取得したデータラインの番号と走査ラインの番号を、圧力が加えられている表示パネル2aの位置として特定する。ただし、例えば、人の指やタッチペンが表示パネル2aに触れると、同時に複数のデータラインの番号と走査ラインの番号が特定される場合がある。この場合、位置検出回路61は、例えば、複数のデータラインの番号と走査ラインの番号により特定される表示パネル2aの複数の位置を人の指やタッチペンが触れた複数の位置として特定するものであってもよい。あるいは、位置検出回路61は、複数のデータラインの番号と走査ラインの番号により特定されるエリアの中心を人の指やタッチペンが表示パネル2aに触れた位置とするものであってもよい。このようにして、取得したデータラインの番号と走査ラインの番号によって、人の指やタッチペンが表示パネル2aに触れた位置を決めることができる。
ここで、可変素子Ev21は、例えば、後述の図26に示すように、ノードN21に接続された可変素子アノード側電極118と、基準電位Vssが印加される可変素子カソード側電極112で構成される。可変素子アノード側電極118と可変素子カソード側電極112の間には、複数の絶縁性微粒子131と導電性微粒子132とが配置されている。
表示パネル2aに更に圧力が加えられると、可変素子アノード側電極118と可変素子カソード側電極112が両方とも導電性微粒子132に接触する。
このとき、可変素子Ev21の抵抗が極めて小さくなり、キャパシタCs2と可変素子Ev21で構成される回路のインピーダンスが低下する。このため、図12(A)に示すように、選択期間tsにDAC54aに引き込まれる電流Idは、主に基準電圧Vssから可変素子Ev21を通って流れる。なお、このとき、ダイオード接続状態とされた発光駆動トランジスタT23のドレイン・ソース間にもある程度の電流が流れるが、通常、発光駆動トランジスタT23のドレイン・ソース間は少なくとも1KΩ以上の比較的高い抵抗値を有するため、可変素子Ev21の抵抗値がほぼ0とみなせる場合には、基準電圧Vssから可変素子Ev21を通って流れる電流に対して発光駆動トランジスタT23のドレイン・ソース間に流れる電流は、ほぼ無視できる程度の電流値となる。この場合、ノードN23(データラインLd)の電圧は基準電圧Vssに近づく。そして、可変素子Ev21の抵抗値がほぼ0とみなせる場合には、ノードN23(データラインLd)の電圧は基準電圧Vssにほぼ等しくなる。
図13は、画素駆動回路211の各部の電圧または電流の一例を示す図である。図13(A)および図13(B)は、それぞれ走査ラインLsおよび電源ラインLvの電圧を示す。図13(C)は、検出用抵抗55とデータラインLdの接続点であるノードN23の電圧を示す。また、図13(D)は、判定回路57の出力を示す。図13(E)は、発光駆動トランジスタT23のゲートとソース間の電圧Vgs(すなわち、キャパシタCs2の両方の電極間の電圧)を示し、図13(F)は有機EL素子OELに流れる電流Ioelを示す。
図13(A)と図13(B)に示す走査ラインLsと電源ラインLvの電圧はそれぞれ図7(A)と図7(B)に示したものと同一であるため、説明を省略する。
図13(E)に示すように、選択期間tsに発光駆動トランジスタT23のゲートとソース間の電圧Vgs4は概ね0Vになり、図13(C)に示すように、ノードN23(データラインLd)の電圧はほぼ基準電圧Vssに等しくなる。また、図12(B)と図13(E)に示すように、発光期間teに有機EL素子OELに供給される電流Iem4はほぼゼロになり、有機EL素子OELは発光しない。
この場合、判定回路57aは、データラインLdの電位は変調されていると判定し、図13(D)に示すように、Highを出力する。言い換えると、判定回路57aは、キャパシタCs2が表示信号を保持していないと判定する。
判定回路57aは、データラインLdの電位が変調されていると判定すると、有機EL表示装置1aの位置検出回路61に、データラインLdの電位が変調されていると判定したデータラインの番号(1〜mのいずれか)を送る。位置検出回路61は、受け取ったデータラインの番号と、そのとき走査ドライバ3が走査パルスを出力していた走査ラインの番号を、圧力が加えられている表示パネル2aの位置として特定する。特定された位置によって、人の指やタッチペンが表示パネル2aに触れた位置を知ることができる。
また、このとき、同時に複数のデータラインの番号と走査ラインの番号が特定される場合がある。この場合、位置検出回路61は、例えば、複数のデータラインの番号と走査ラインの番号により特定される表示パネル2aの複数の位置を人の指やタッチペンが触れた複数の位置として特定するものであってもよい。あるいは、位置検出回路61は、複数のデータラインの番号と電源ラインの番号により特定されるエリアの中心を人の指やタッチペンが表示パネル2aに触れた位置とするものであってもよい。
なお、有機EL素子OELは本発明の発光素子の一例であり、第1入力トランジスタT21と第2入力トランジスタT22は本発明の信号入力部の一例であり、可変素子Ev21は本発明の可変素子の一例であり、キャパシタCs2は本発明のキャパシタの一例であり、発光駆動トランジスタT23は本発明の発光素子駆動部の一例である。
<第2の実施形態>
次に、本発明の第2の実施形態に係る有機EL表示装置1bについて説明する。有機EL表示装置1bは、図14に示すように、表示パネル2bと、走査ドライバ3と、電源ドライバ4bと、データドライバ5bと、システムコントローラ6と、表示信号生成回路7とを有している。
表示パネル2bは、図15に示すように、表示画素22を含む。表示画素22に含まれる画素駆動回路221は、2個のトランジスタで構成される点で、第1の実施形態の画素駆動回路211と異なっている。画素駆動回路221と駆動回路211の構成が異なるため、電源ドライバ4bとデータドライバ5bも図1の電源ドライバ4aとデータドライバ5aと異なっている。図1と図13における同一の構成要素には同一の符号が付されている。
表示画素22は、図15に示すように、画素駆動回路221と有機EL素子OELとを有している。
画素駆動回路221は、入力トランジスタT31と、発光駆動トランジスタT32と、キャパシタCs3と、可変素子Ev31とを含む。
入力トランジスタT31と発光駆動トランジスタT32は、アモルファスシリコンまたはポリシリコンを用いたnチャネル型TFTである。
入力トランジスタT31は、ゲートが走査ラインLsに接続され、ソースがノードN31に接続され、ドレインがデータラインLdに接続されている。
発光駆動トランジスタT32は、ゲートがノードN31に接続され、ソースがノードN32に接続され、ドレインが電源ラインLvに接続されている。
また、キャパシタCs3は、ノードN31とノードN32の間、すなわち、発光駆動トランジスタT32のゲートとソースの間に接続されている。
可変素子Ev31は、一方の電極がノードN31に接続され、他方の電極に基準電圧Vssが印加されている。可変素子Ev31は、第1の実施形態のEV21と同様に容量値を変化させることができる可変キャパシタ、または抵抗を変化させることができる可変抵抗、または可変キャパシタと可変抵抗の両方として機能する可変素子である。
有機EL素子OELのアノード電極は、ノードN32に接続され、カソード電極には基準電圧Vssが印加されている。
データドライバ5bは、図15に示すように、データラッチ回路53と、デジタル電圧/アナログ電流変換回路(DAVC)54bと、検出用抵抗55と、ADC56bと、判定回路57aとを有している。データドライバ5bは、その他に、図15には示されていないシフトレジスタ回路51と、データレジスタ回路52とを有している。
図15のデータドライバ5bは、正の階調電圧Vdを出力する点で図4のデータドライバ5aと異なる。図4のデータドライバ5aと図15のデータドライバ5bにおける同一の構成要素には同一の符号が付されている。
表示データは、第1の実施形態と同様に、デジタル信号である電圧値データVdataで指定される。電圧値データVdataが例えば8ビットのデジタル信号である場合、有機EL素子OELの発光の階調は256階調である。
第1の実施形態では、DAVC54aがデータラッチ回路53から供給された電圧値データVdataをアナログ電圧である負の階調電圧(−Vd)に変換したのに対し、本実施形態では、DAC54bは電圧値データVdataを正の階調電圧Vdに変換する。
正の階調電圧Vdは検出用抵抗55を介してノードN33(データラインLd)に印加される。
ADC56bは、ノードN33(データラインLd)に印加されている電圧をデジタル信号に変換して判定回路57aに供給する。
判定回路57aは、選択期間tsが終了する直前の測定タイミングtmで、ADC56bによってデジタル信号に変換されたノードN33(データラインLd)の電圧を取得し、取得したノードN33(データラインLd)とデータラッチ回路53から出力される電圧値データVdataの電圧を比較する。判定回路57aは、選択期間tsが終了する直前の時点で、これらの電圧の比較によって抽出される差分の大きさに基づいてデータラインLdの電位の変調の有無を判定する。判定回路57aにおける判定方法は第1の実施形態と同様である。
本実施形態の有機EL表示装置1bでは、走査ドライバ3と電源ドライバ4bは図16に示すように動作する。
走査ドライバ3の動作は第1の実施形態と同様である。すなわち、走査ドライバ3は、図16(A)〜(D)に示すように、システムコントローラ6から供給される走査制御信号に基づいて、走査ラインLs1から走査ラインLsnまで選択期間tsの間ハイレベルの電圧Vhighとなる走査パルスを順次出力し、走査ラインLs1〜Lsnに接続された表示画素22を順次選択する。
電源ラインLv1〜Lvnは、図14に示すように、共通のノードN11に接続される。
電源ドライバ4bは、第1の実施形態の電源ドライバ4aと異なり、図16(E)に示すように、ノードN11を介して電源ラインLv1〜Lvnに基準電圧Vssより高いレベルの電源電圧Vccを常時出力する。
図17は、画素駆動回路221の各部の電圧または電流の一例を示す図である。図17(A)および図17(B)は、それぞれ走査ラインLsおよび電源ラインLvの電圧を示す。図17(C)は、検出用抵抗55とデータラインLdの接続点であるノードN33の電圧を示す。また、図17(D)は、判定回路57aの出力を示す。図17(E)は、発光駆動トランジスタT32のゲートとソース間の電圧Vgs(すなわち、キャパシタCs3の両方の電極間の電圧)を示し、図17(F)は有機EL素子OELに流れる電流Ioelを示す。
本実施形態の有機EL表示装置1bにおいて、人の指やタッチペン等が表示パネル2bに接触していないときには、可変素子Ev31の容量値は無視できる程度に小さく、抵抗の大きさは十分に大きく無限大であると見なすことができる。この場合、走査ドライバ3と電源ドライバ4bとデータドライバ5bは図17に示すように動作し、表示パネル2bに画像が表示される。
まず、選択期間tsに、電圧値データVdataの階調値に対応する電圧が表示画素22に書き込まれる。
選択期間tsに、走査ドライバ3は、図17(A)に示すように、走査ラインLsに基準電圧Vssより高いハイレベルの電圧Vhighの走査パルスを出力する。走査ラインLsに走査パルスが出力されると、入力トランジスタT31のソースとドレイン間が導通する。電源ドライバ4bは、図17(B)に示すように、電源ラインLvに、基準電圧Vssより高い電源電圧Vccを常時出力している。
DAVC54bは、電圧値データVdataの階調値に対応する階調電圧Vdを出力する。階調電圧Vdは検出用抵抗55を介してノードN33(データラインLd)に印加される。
ノードN33(データラインLd)に印加された電圧は、入力トランジスタT31のドレインとソース間を通って、発光駆動トランジスタT32のゲートに印加される。データラインLdには殆ど電流は流れないため、ノードN33(データラインLd)の電圧は、図17(C)に示すように、階調電圧Vdにほぼ等しくなる。
発光駆動トランジスタT32のゲートとソース間には、キャパシタCs3が接続されている。発光駆動トランジスタT32のゲートとソース間に印加される電圧(キャパシタCs3の両方の電極間に印加される電圧)Vgs5は、有機EL素子OELのアノード電極とカソード電極間の電圧をVoelとしたとき、図17(E)と図18(A)に示すように、電圧Vd―Voelとなる。
このとき、有機EL素子OELのカソード電極に印加されている電圧は基準電圧Vssであるため、図17(F)と図18(A)に示すように、発光駆動トランジスタT32は、キャパシタCs3の両方の電極間に保持されている電圧Vd―Voelに応じた駆動電流Iem5を有機EL素子OELのアノード電極に供給する。有機EL素子OELはこの駆動電流Iem5の電流値に応じた輝度で発光する。
次に、発光期間teにおいて、走査ドライバ3は、図17(A)に示すように、走査ラインLsに基準電圧Vss以下のローレベルの電圧Vlowを出力する。このため、入力トランジスタT31のソースとドレイン間は非導通となる。
入力トランジスタT31のソースとドレイン間が導通していないため、ノードN31はフローティング状態である。図17(E)と図18(B)に示すように、キャパシタCs3の両方の電極間には、選択期間において書き込まれた電圧Vgs5(Vd―Voel)が保持されている。
これにより、図17(F)と図18(B)に示すように、発光駆動トランジスタT32は、キャパシタCs3の両方の電極間に保持されている電圧Vgs5(Vd―Voel)に応じた駆動電流Iem5を有機EL素子OELのアノード電極に継続して供給し、有機EL素子OELはこの駆動電流Iem5に応じて継続して発光する。
判定回路57aは、図17(D)に示すように、選択期間tsが終了する直前の電圧測定タイミングtmで電圧値データVdataとノードN33(データラインLd)の電圧を比較し、比較による差分の大きさに基づいて、データラインLdに出力された表示信号に応じたデータラインLdの電位の変調の有無を判定する。
この場合、判定回路57aは、電圧値データVdataとノードN33(データラインLd)の電圧とが概ね等しく、その差分が比較的小さく所定の範囲内にあるため、データラインLdの電位は変調されていないと判定する。言い換えると、判定回路57aは、キャパシタCs3が表示信号を保持していると判定する。
次に、本実施形態において、表示パネル2bに人の指やタッチペン等によって圧力が加えられたときの動作について説明する。
可変素子Ev31は、例えば、後述の図39に示すように、ノードN31に接続された可変素子アノード側電極158と、基準電位Vssが印加される可変素子カソード側電極157で構成される。可変素子アノード側電極158と可変素子カソード側電極157の間には、複数の絶縁性微粒子131と導電性微粒子132とが配置されている。
表示パネル2bに圧力が加えられ、可変素子アノード側電極158と可変素子カソード側電極157の間隔が狭くなるに連れて、可変素子Ev31は、その容量値が増加し、キャパシタとして機能し始める。
まず、表示パネル2bに加えられた圧力が弱く、可変素子Ev31の容量値がそれほど大きくない場合について説明する。
図19は、可変素子Ev31がキャパシタとして機能し始めた場合の画素駆動回路221の各部の電圧または電流の一例を示す図である。図19(A)および図19(B)は、それぞれ走査ラインLsおよび電源ラインLvの電圧を示す。図19(C)は、検出用抵抗55とデータラインLdの接続点であるノードN33の電圧を示す。また、図19(D)は、判定回路57aの出力を示す。図19(E)は、発光駆動トランジスタT32のゲートとソース間の電圧Vgs(すなわち、キャパシタCs3の両方の電極間の電圧)を示し、図19(F)は有機EL素子OELに流れる電流Ioelを示す。
また、図20は、可変素子Ev31がキャパシタとして機能しているときの、可変素子Ev31とキャパシタCs3及び有機EL素子OELの容量成分の充電動作に係わる等価回路を示す。
図19(A)と図19(B)に示す走査ラインLsと電源ラインLvの電圧はそれぞれ図17(A)と図17(B)に示したものと同一であるため、説明を省略する。
DAVC54bは、選択期間tsに、電圧値データVdataの階調値に対応する階調電圧Vdを出力する。階調電圧Vdは、検出用抵抗55を介してノードN33(データラインLd)に印加される。
このとき、図20の等価回路に示すように、キャパシタCs3と有機EL素子OELとが直列に接続された回路と可変素子Ev31とは、ノードN33(データラインLd)と基準電圧Vssの間に並列に接続された並列回路を構成する。そのため、キャパシタCs3と有機EL素子OELの容量成分とが直列接続された容量の容量値をC3、可変素子Ev31の容量値をC4としたとき、ノードN33と基準電圧Vssの間に設けられる容量の容量値Ct2は容量値C3と容量値C4とを合計した値となる。
従って、データドライバ5bが階調電圧VdをデータラインLdに出力するとき、この電圧が可変素子Ev31を含む容量値Ct2の充電にも使われることになる。このとき、図20に示すように、検出用抵抗55と容量値Ct2を有する容量とは直列に接続されている。そして、検出用抵抗55の一端にDAVC54bから出力される電圧(Vd)が印加されたとき、検出用抵抗55の他端(ノードN33)の電圧V(N33)は、検出用抵抗55の抵抗値をRとしたとき、電圧(Vd)の印加開始からの時間をt、抵抗値Rと容量値Ct2との積を時定数τ、として、次の式(2)で表される。
Figure 2010177601
すなわち、図19(C)に示すように、ノードN33の電圧V(N33)の変化は、DAVC54bからの電圧(Vd)の印加に対して、時定数τの大きさに応じて遅延したものとなる。これによって、図17(E)に示すように、発光駆動トランジスタT32のゲートとソース間Vgsの電圧の上昇も遅延したものとなる。
ただし、可変素子Ev31の容量値が比較的小さく、図19(C)に示すように、選択期間tsの間に、ノードN33(データラインLd)の電圧が階調電圧Vdにほぼ達する場合には、選択期間tsの終了時における発光駆動トランジスタT32のゲートとソース間の電圧Vgs6は、図19(E)に示すように、図17(E)における電圧Vgs5にほぼ等しくなる。このため、有機EL素子OELは、図19(F)に示すように、発光期間teにおいては、図17(F)とほぼ同じ輝度で発光する。
このため、図19(F)に示すように、発光期間teに、発光駆動トランジスタT32は、キャパシタCs3の両方の電極間に保持されている電圧Vd―Voelに応じた駆動電流Iem6を有機EL素子OELのアノード電極に供給する。有機EL素子OELはこの駆動電流Iem6の電流値に応じた輝度で発光する。駆動電流Iem6は図17(F)に示した駆動電流Iem5とほぼ等しいため、有機EL素子OELは、発光期間teに、図17(F)の場合とほぼ同じ輝度で発光する。
この場合、選択期間tsが終了する直前の電圧測定タイミングtmにおいてノードN33(データラインLd)の電圧は階調電圧Vdに概ね等しいため、判定回路57aは、データラインLdの電位は変調されていないと判定し、図19(D)に示すように、Lowを出力する。言い換えると、判定回路57aは、キャパシタCs3が表示信号を保持していると判定する。
次に、表示パネル2bに更に圧力が加えられて、可変素子Ev31の容量値が更に増加した場合について説明する。
図21は、この場合の画素駆動回路221の各部の電圧または電流の一例を示す図である。図21(A)および図21(B)は、それぞれ走査ラインLsおよび電源ラインLvの電圧を示す。図21(C)は、検出用抵抗55とデータラインLdの接続点であるノードN33の電圧を示す。また、図21(D)は、判定回路57aの出力を示す。図21(E)は、発光駆動トランジスタT32のゲートとソース間の電圧Vgs(すなわち、キャパシタCs3の両方の電極間の電圧)を示し、図21(F)は有機EL素子OELに流れる電流Ioelを示す。
図21(A)と図21(B)に示す走査ラインLsと電源ラインLvの電圧はそれぞれ図17(A)と図17(B)に示したものと同一であるため、説明を省略する。
図21(C)に示すように、可変素子Ev31の容量値が更に大きくなると、上記式(2)に示した時定数が更に増加する。このため、ノードN33(データラインLd)の電圧の変化は、図19(C)の場合より更に遅延したものとなり、選択期間tsが終了するまでに、ノードN33(データラインLd)の電圧が階調電圧Vdに達しなくなる。これに応じて、図21(E)に示すように、発光駆動トランジスタT32のゲートとソース間の電圧Vgs7も、図19(E)の場合より変化が更に遅延したものとなり、発光期間teにおける発光駆動トランジスタT32のゲートとソース間の電圧Vgs7は、図19(E)に示す電圧Vgs6より低いものとなる。このため、発光期間teに有機EL素子OELのアノード電極に供給される駆動電流Iem7は、図21(F)に示すように、図19(F)の場合のIem6より小さくなり、有機EL素子OELは、発光期間teにおいて、図19(F)の場合より低い輝度で発光する。
この場合、選択期間tsが終了する直前の電圧測定タイミングtmにおいてノードN33(データラインLd)の電圧は階調電圧Vdより低い電圧となる。このため、判定回路57aは、データラインLdの電位は変調されていると判定し、図21(D)に示すようにHighを出力する。言い換えると、判定回路57aは、キャパシタCs3が表示信号を保持していないと判定する。
判定回路57aは、データラインLdの電位は変調されていると判定すると、有機EL表示装置1bの位置検出回路61に、表示信号は変調されていると判定したデータラインの番号(1〜mのいずれか)を送る。
位置検出回路61は、受け取ったデータラインの番号と、そのとき走査ドライバ3が走査パルスを出力していた走査ラインの番号を、圧力が加えられている表示パネル2bの位置として特定する。特定された位置によって、人の指やタッチペンが表示パネル2bに触れた位置を知ることができる。
次いで、表示パネル2bに更に圧力が加えられて、可変素子アノード側電極158と可変素子カソード側電極157が両方とも導電性微粒子132に接触した場合について説明する。
この場合、可変素子Ev31の容量値は極めて小さくなり、同時に可変素子Ev31の抵抗も極めて小さくなる。このとき、図22(A)に示すように、DAVC54bから出力される階調電圧VdによってデータラインLdに流れる電流は、主にデータドライバ5bから可変素子Ev31を通って基準電圧Vssへ流れる。
図23は、この場合の画素駆動回路221の各部の電圧または電流の一例を示す図である。図23(A)および図23(B)は、それぞれ走査ラインLsおよび電源ラインLvの電圧を示す。図23(C)は、検出用抵抗55とデータラインLdの接続点であるノードN33の電圧を示す。また、図23(D)は、判定回路57aの出力を示す。図23(E)は、発光駆動トランジスタT32のゲートとソース間の電圧Vgs(すなわち、キャパシタCs3の両方の電極間の電圧)を示し、図23(F)は有機EL素子OELに流れる電流Ioelを示す。
図23(A)と図23(B)に示す走査ラインLsと電源ラインLvの電圧はそれぞれ図17(A)と図17(B)に示したものと同一であるため、説明を省略する。
可変素子Ev31の抵抗が極めて小さいため、ノードN33(データラインLd)の電圧は、図23(C)に示すように、ほぼ基準電圧Vssに等しくなる。また、図23(E)に示すように、発光駆動トランジスタT23のゲートとソース間の電圧Vgs8はほぼ0Vである。
また、ノードN31の電圧はほぼ基準電圧Vssに等しいため、発光駆動トランジスタT32のソースとドレイン間は非導通であり、発光期間teに有機EL素子OELのアノード電極に供給される駆動電流Iem8は、図22(B)と図23(F)に示すように、ほぼ0Aである。このため、発光期間teに、有機EL素子OELは発光しない。
この場合、選択期間tsが終了する直前の電圧測定タイミングtmにおいてノードN33(データラインLd)の電圧は、ほぼ基準電圧Vssであるため、判定回路57aは、データラインLdの電位は変調されていると判定し、図23(D)に示すように、Highを出力する。言い換えると、判定回路57aは、キャパシタCs3が表示信号を保持していないと判定する。
判定回路57aは、データラインLdの電位は変調されていると判定すると、有機EL表示装置1bの位置検出回路61に、データラインLdの電位が変調されていると判定したデータラインの番号(1〜mのいずれか)を送る。位置検出回路61は、受け取ったデータラインの番号と、そのとき走査ドライバ3bが走査パルスを出力していた走査ラインの番号を、圧力が加えられている表示パネル2bの位置として特定する。特定された位置によって、人の指やタッチペンが表示パネル2bに触れた位置を知ることができる。
なお、有機EL表示装置1bは本発明の表示装置の一例であり、表示パネル2bは本発明の表示パネルの一例であり、表示画素22は本発明の表示画素の一例であり、走査ドライバ3と電源ドライバ4bとデータドライバ5bは本発明の駆動回路の一例であり、入力トランジスタT31は本発明の信号入力部の一例であり、可変素子Ev31は本発明の可変素子の一例であり、キャパシタCs3は本発明のキャパシタの一例であり、発光駆動トランジスタT32は本発明の発光素子駆動部の一例である。
<第1の実施形態と第2の実施形態の変形例>
例えば、図24に示すように、データドライバ5aに含まれる検出用抵抗55をバイパスするためのバイパススイッチ58を設けても良い。
タッチパネル機能を使用しない場合には、バイパススイッチ58をオンとすることによって、検出用抵抗55をバイパスしてDAVC54aから出力される電圧をノードN23(データラインLd)に直接印加する。
一方、タッチパネル機能を使用する場合には、バイパススイッチ58をオフにして検出用抵抗55を介してDAVC54aから出力される電圧をノードN23(データラインLd)に印加する。この場合、バイパススイッチ58をオンとしたときと同等の電圧がノードN23(データラインLd)に印加されるように、DAVC54aは検出用抵抗55で生じる電圧降下を考慮した電圧を出力する。
タッチパネル機能を使用しない場合にはバイパススイッチ58をオンにすることにより、検出用抵抗55で消費される電力を削減することができる。
同様に、データドライバ5bにおいても、データドライバ5bに含まれる検出用抵抗55をバイパスするためのバイパススイッチを設けても良い。
次に、上述の各実施形態における表示画素21,22及び可変素子Ev21、Ev31の具体的な構造とその製造方法の一例について説明する。まず、上述の第1の実施形態に適用される表示画素21の具体的な構造について説明する。
<第1の実施形態における表示画素21の第1の構造>
図25は、第1の実施形態における表示画素21の第1の構造における平面図の一例であり、図26は、表示画素21の第1の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。また、図27は第1の構造における可変素子Ev21の可変素子アノード側電極118の構成を示す図である。なお、図25と図26は、可変素子Ev21の一方の電極と発光駆動トランジスタT23のソース電極とが接続された構造を有する場合を示す。また、図25と図26は、表示画素21がトップエミッション構造である場合の例である。ここで、可変素子アノード側電極118と可変素子カソード側電極112とは可変素子Ev21を構成している。
アノード電極121は、有機EL素子OELのアノード電極である。また、キャパシタ電極Cs21は、キャパシタCs2のノードN22に接続されている電極である。表示画素21は、図25に示すように、有機EL素子OELを挟むようにして、左側に第1入力トランジスタT21のソース電極21sとゲート電極21gとドレイン電極21d、および第2入力トランジスタT22のソース電極22sとゲート電極22gとドレイン電極22dが配置されている。また、有機EL素子OELの右側に、発光駆動トランジスタT23のソース電極23sとゲート電極23gとドレイン電極23dが配置されている。
第1入力トランジスタT21のソース電極21sは、コンタクト部143を介して、キャパシタ電極Cs21と接続され、更にキャパシタ電極Cs21を介して発光駆動トランジスタT23のゲート電極23gと接続されている。
また、第2入力トランジスタT22のドレイン電極22dは、アノード電極121に接続されており、ソース電極22sは、コンタクト部141を介してデータラインLdに接続されている。また、第2入力トランジスタT22のゲート電極22gは、コンタクト部142を介して走査ラインLsと接続されている。
第1入力トランジスタT21のドレイン電極21dと発光駆動トランジスタT23のドレイン電極23dは、電源ラインLvに接続されている。
発光駆動トランジスタT23のソース電極23sは、後述するように、コンタクト部144を介して、可変素子Ev21の一方の電極をなす可変素子アノード側電極118と接続されている。
なお、コンタクト部141〜144は、異なる層に形成された電極、配線等を上下に導通させるものであり、絶縁膜等に開口を設け、これに導電材料を充填することによって形成される。
表示画素21は、図26に示すように、封止基板111と画素基板113の間に形成されている。封止基板111は例えば透明な樹脂材料からなり、人の指やタッチペン等が封止基板111の表面側に接触して圧力が加えられたときに、変形してある程度撓むように構成されている。
画素基板113上には、第2入力トランジスタT22のゲート電極22gと発光駆動トランジスタT23のゲート電極23gが形成される。更に、画素基板113上には、キャパシタCs2の一方の電極Cs21と、データラインLdが形成されており、更にこれらを覆うように絶縁膜114が形成される。画素基板113上に形成されたキャパシタ電極Cs21と、絶縁膜114と、アノード電極121とが、表示画素21に含まれるキャパシタCs2として機能する。
絶縁膜114は、絶縁性材料、例えばシリコン酸化膜、シリコン窒化膜等から形成され、データラインLdと、ゲート電極22g、ゲート電極23gと、キャパシタ電極Cs21と、を覆うように画素基板113上に形成される。
第1入力トランジスタT21、第2入力トランジスタT22、発光駆動トランジスタT23は、それぞれnチャネル型TFTである。それぞれのトランジスタは、図26に示すように、画素基板113上に形成される。第2入力トランジスタT22は、保護絶縁膜222と、半導体層223と、ドレイン電極22dと、ソース電極22sと、オーミックコンタクト層224、225と、ゲート電極22gと、を備える。また、発光駆動トランジスタT23は、半導体層231と、保護絶縁膜232と、ドレイン電極23dと、ソース電極23sと、オーミックコンタクト層234、235と、ゲート電極23gと、を備える。なお、図示は省略しているが、第1入力トランジスタT21も同様に形成される。
各トランジスタT21,T22,T23において、ゲート電極は、例えば、アルミニウム−ネオジウム−チタン(AlNdTi)またはクロム(Cr)から形成される。また、ドレイン電極とソース電極はそれぞれ例えばアルミニウム−チタン(AlTi)/Cr、AlNdTi/CrまたはCrから形成されている。また、ドレイン電極及びソース電極と半導体層との間にはそれぞれ低抵抗性接触のため、オーミックコンタクト層が形成される。
アノード電極121は、Al等の光反射性の金属層およびその上に積層されたITO(Indium Tin Oxide)等の透明導電層の2層構造である。各アノード電極121は隣接する他の表示画素21のアノード電極121と層間絶縁膜115によって絶縁されている。
層間絶縁膜115は、絶縁材料、例えばSiN、ポリイミド等から形成される。層間絶縁膜115は、アノード電極121間に形成され、隣接するアノード電極121間を絶縁する。また、層間絶縁膜115はトランジスタT21、T22、T23を覆うように形成される。
層間絶縁膜115には、平面形状が略方形の開口115aに対応した開口部が形成される。この開口部によって画素21の発光領域が区画される。層間絶縁膜115上には更に、隔壁116が形成されている。
隔壁116は、絶縁材料、例えばポリイミド等から形成され、層間絶縁膜115上に形成される。隔壁116は、隣接する画素間においてアノード電極121上に形成される発光層124の形成時の混色を防止する。
正孔注入層122は、アノード電極121上に形成され、発光層124に正孔を供給する機能を有する。正孔注入層122は正孔(ホール)注入、輸送が可能な有機高分子系の材料から構成される。また、有機高分子系のホール注入・輸送材料を含む有機化合物含有液としては、例えば導電性ポリマーであるポリエチレンジオキシチオフェン(PEDOT)とドーパントであるポリスチレンスルホン酸(PSS)を水系溶媒に分散させた分散液であるPEDOT/PSS水溶液を用いる。
インターレイヤ123は正孔注入層122上に形成される。インターレイヤ123は、正孔注入層122の正孔注入性を抑制して発光層124内において電子と正孔とを再結合させやすくする機能を有し、発光層124の発光効率を高めるために設けられている。
発光層124は、インターレイヤ123上に形成されている。発光層124は、アノード電極121とカソード電極125との間に所定の電圧を印加することにより光を発生する機能を有する。発光層124は、蛍光あるいは燐光を発光することが可能な公知の高分子発光材料、例えばポリパラフェニレンビニレン系やポリフルオレン系等の共役二重結合ポリマーを含む赤(R)、緑(G)、青(B)色の発光材料から構成される。また、これらの発光材料は、適宜水系溶媒あるいはテトラリン、テトラメチルベンゼン、メシチレン、キシレン等の有機溶媒に溶解(又は分散)した溶液(分散液)をノズルコート法やインクジェット法等により塗布し、溶媒を揮発させることによって形成する。
カソード電極125は、導電材料、例えばCa,Ba等仕事関数の低い材料からなる電子注入層と、ITO等の光透過性導電層からなる2層構造である。カソード電極125は、発光層124の上に形成され、更に隔壁116を覆うように形成されている。カソード電極125は、基準電圧Vssに接続される。
可変素子アノード側電極118は、アルミニウム−チタン(AlTi)/Cr、AlNdTi/CrまたはCrから形成される。可変素子アノード側電極118は、隔壁116の上に、1つの表示画素21の形成領域毎に分離して形成されて、図27に示すように、隔壁116の形状に合わせた、平面形状が略方形の開口115aが形成されている。可変素子アノード側電極118は、絶縁膜117によってカソード電極125と電気的に絶縁されている。そして、可変素子アノード側電極118は、コンタクト部144により、発光駆動トランジスタT23のソース電極23sと接続される。コンタクト部144は、隔壁116とカソード電極125に開口部(スルーホール)を設け、これに導電材料を充填することによって形成される。
可変素子アノード側電極118上には、図27に示すように、枠状に形成された粒子移動防止層119が形成されている。粒子移動防止層119は、可変素子アノード側電極118上に、図27(A)に示すような枠状に、あるいは、図27(B)に示すような碁盤の目状に形成される。この粒子移動防止層119は、例えばシリコン酸化膜、シリコン窒化膜等の絶縁材料から形成される。また、例えばUV硬化樹脂等の樹脂材料によって形成してもよい。粒子移動防止層119は、例えば、粒子移動防止層119の形成領域に対応したマスクを用いて粒子移動防止層119の形成材料を印刷することによって可変素子アノード側電極118上の所定の位置に形成される。あるいは、ディスペンサによって可変素子アノード側電極118上の所定の位置に塗布して形成される。あるいは、真空スパッタによって成膜して、エッチングによってアノード側電極118上に形成するものであってもよい。
可変素子Ev21の他方の電極をなす可変素子カソード側電極112は、封止基板111に接して配置され、可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118とは所定の間隔で対向して配置されるように構成される。この可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118との間隔は、例えば数ミクロンに設定される。そして、可変素子カソード側電極112は、基準電圧Vssに接続される。
可変素子アノード側電極118上には、複数の絶縁性微粒子131と導電性微粒子132とが配置されている。絶縁性微粒子131と導電性微粒子132とは、図26に示すように、粒子移動防止層119によって形成される枠内に配置される。絶縁性微粒子131と導電性微粒子132とは、例えば、枠内に対応する領域が開口したマスクを介して画素基板113上の全面に散布することによって配置される。あるいは、ディスペンサを用いて各微粒子を所定の位置に配置するようにしてもよい。絶縁性微粒子131と導電性微粒子132は、粒子移動防止層119によって形成される枠内に配置されることで、可変素子アノード側電極118上から移動しないようにされる。
絶縁性微粒子131は例えば真球状の微粒子であり、可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118との間隔と同じか、それよりやや小さい、数ミクロンの直径を有する。絶縁性微粒子131は、誘電率の高い材料でできており、かつ柔軟性を有しており、圧力が加わると変形する。絶縁性微粒子131は絶縁性の材料から形成され、例えば、プラスチックを材料として製造される。可変素子アノード側電極118と可変素子カソード側電極112の間に、絶縁性微粒子131を配置することで、人の指やタッチペン等が表示パネル2aに接触していないときに、可変素子アノード側電極118と可変素子カソード側電極112の間隔を均一に保つことができる。
導電性微粒子132は、導電性を有し、絶縁性微粒子131よりも小さい直径を有する、例えば真球状の微粒子である。例えば絶縁性微粒子131が5ミクロンの直径を有する場合、導電性微粒子132は3ミクロン程度の直径を有する。導電性微粒子132は、例えば金属粒子からなるものであってもよいし、例えば、プラスチックを材料とする微粒子の表面に金メッキを施したものからなるものであってもよい。
人の指やタッチペン等が表示パネル2aに接触して封止基板111に圧力が加えられると、絶縁性微粒子131は変形してつぶれ、可変素子アノード側電極118と可変素子カソード側電極112とが導電性微粒子132を介して接近して可変素子Ev21の容量値が増大する。そして、圧力が更に増加すると、可変素子アノード側電極118と可変素子カソード側電極112が両方とも導電性微粒子132に接触する。このとき、可変素子アノード側電極118と可変素子カソード側電極112との間の抵抗は極めて小さくなる。
可変素子アノード側電極118と可変素子カソード側電極112は、通常空気層によって絶縁されている。この場合、可変素子Ev21の抵抗は数MΩ以上であり、可変素子Ev21の容量値は無視できる程小さい。この場合、上述したように、可変素子Ev21は有機EL素子OELの発光に影響を及ぼさない。
可変素子アノード側電極118と可変素子カソード側電極112の間隔に応じて、可変素子Ev21の容量値は変化する。人の指やタッチペン等が表示パネル2aに接触して封止基板111の表面側から表示パネル2aに圧力が加えられると、封止基板111が撓んでへこみ、可変素子アノード側電極118と可変素子カソード側電極112の間隔が狭くなる。可変素子アノード側電極118と可変素子カソード側電極112の間隔が狭くなるに連れて、可変素子Ev21の容量値は増加する。そして、封止基板111の側から表示パネル2aに更に圧力が加えられると、可変素子アノード側電極118と可変素子カソード側電極112が両方とも導電性微粒子132に接触する。このとき、可変素子Ev21の容量値は極めて小さくなり、同時に可変素子Ev21の抵抗も極めて小さくなる。これによって、可変素子Ev21は、容量値を変化させることができる可変キャパシタ、または抵抗を変化させることができる可変抵抗、または可変キャパシタと可変抵抗の両方として機能する。
なお、封止基板111は本発明の封止基板の一例であり、画素基板113は本発明の画素基板の一例であり、可変素子カソード側電極112は本発明の第1の電極の一例であり、可変素子アノード側電極118は本発明の第2の電極の一例であり、キャパシタ電極Cs21は本発明のキャパシタの一方の電極の一例であり、コンタクト部144は本発明のコンタクト部の一例であり、層間絶縁膜115は本発明の絶縁膜の一例であり、隔壁116は本発明の隔壁の一例であり、絶縁性微粒子131は本発明の絶縁性微粒子の一例であり、導電性微粒子132は本発明の導電性微粒子の一例である。
<第1の実施形態における表示画素21の第2の構造>
次に、図28は、第1の実施形態における表示画素21の第2の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。図26と同一の構成要素には同一の符号が付されている。図28に示す表示画素21も図26の表示画素21と同様に動作するものである。
表示画素21の第2の構造においては、図28(A)に示すように、可変素子アノード側電極118上には、樹脂層120が設けられる。この樹脂層120によって絶縁性微粒子131と導電性微粒子132とが可変素子アノード側電極118上に固定されている。図26における枠状の粒子移動防止層119は設けられない。樹脂層120は、例えばUV硬化樹脂からなる。この樹脂層120は、樹脂層120の形成領域に対応したマスクを用いた印刷、あるは、ディスペンサによる塗布によって硬化前の樹脂層120が可変素子アノード側電極118上に形成される。そして、樹脂層120の上に絶縁性微粒子131と導電性微粒子132とを配置し、加圧して可変素子アノード側電極118上に接触させた後、UV光を照射して、樹脂層120を硬化させることによって形成される。
次に、図28(B)は表示画素21の第2の構造の第1の変形例を示す。上記図28(A)においては、表示画素21の可変素子アノード側電極118上に樹脂層120が設けられて、可変素子アノード側電極118上に絶縁性微粒子131と導電性微粒子132とが固定される構造としたが、可変素子カソード側電極112上に樹脂層120が設けられて、可変素子カソード側電極112上に樹脂層120によって絶縁性微粒子131と導電性微粒子132とが固定されるものであってもよい。表示画素21の第2の構造の第1の変形例においては、図28(B)に示すように、可変素子カソード側電極112の可変素子アノード側電極118と対向する位置に、例えばUV硬化樹脂からなる、樹脂層120が設けられている。そして、この樹脂層120について、可変素子カソード側電極112上に絶縁性微粒子131と導電性微粒子132とが固定される。樹脂層120及びそこに設ける絶縁性微粒子131と導電性微粒子132とは、上記図28(A)の場合と同様にして形成することができる。
次に、図28(C)は、表示画素21の第2の構造の第2の変形例を示す。上記図28(B)においては、可変素子カソード側電極112上に樹脂層120が設けられて、可変素子カソード側電極112上に樹脂層120によって絶縁性微粒子131と導電性微粒子132とが固定される構造としたが、ここで、絶縁性微粒子131は、封止基板111に圧力が加えられていないときに、可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118との間の間隔を一定に保つために設けられているものである。そこで、絶縁性微粒子131を設けず、これに代えて、絶縁性微粒子131の直径と同等の厚さを有する絶縁膜を設けるようにしてもよい。表示画素21の第2の構造の第2の変形例においては、図28(C)に示すように、図28(B)と同様に、可変素子カソード側電極112の可変素子アノード側電極118と対向する位置に、例えばUV硬化樹脂からなる樹脂層120が設けられ、そこに導電性微粒子132が固定される。そして、可変素子アノード側電極118の周囲領域に対応する樹脂層120の周囲領域に、可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118との間の間隔に対応した厚さを有するギャップ形成層130が設けられている。このギャップ形成層130は、例えばシリコン酸化膜、シリコン窒化膜等の絶縁材料から形成される。また、例えばUV硬化樹脂等の樹脂材料によって形成してもよい。ギャップ形成層130は、例えば、ギャップ形成層130の形成領域に対応したマスクを用いてギャップ形成層130の形成材料を可変素子カソード側電極112上に印刷することによって可変素子カソード側電極112上の所定の位置に形成される。あるいは、ディスペンサによって可変素子カソード側電極112上の所定の位置に塗布して形成される。なお、図28(C)においては、可変素子カソード側電極112上に樹脂層120が設けられて、そこに導電性微粒子132が固定される構成としたが、図28(A)に示した構成と同様に、可変素子アノード側電極118上に樹脂層120が設けられて、そこに導電性微粒子132が固定される構成としてもよい。
<第1の実施形態における表示画素21の第3の構造>
次に、図29は、第1の実施形態における表示画素21の第3の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。図26と同一の構成要素には同一の符号が付されている。図29に示す表示画素21も図26の表示画素21と同様に動作するものである。
表示画素21の上記第1、第2の構造においては、可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118との間に導電性微粒子132が設けられて、封止基板111に圧力が加えられて撓んだときに、導電性微粒子132を介して可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118とが接近または接触するように構成されていたが、例えば、圧力が加えられていないときの可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118との間隔を第1、第2の構造の場合より狭くした場合には、封止基板111に圧力が加えられて撓んだときに、可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118とが接近または直接接触するように構成することができる。
表示画素21の第3の構造においては、図29(A)に示すように、可変素子アノード側電極118上に絶縁性微粒子131、導電性微粒子132、及び粒子移動防止層119が設けられていない。ここで、可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118との間隔は、図26の構造の場合より狭く設定されている。
次に、図29(B)は、表示画素21の第3の構造の変形例を示す。上記図29(A)に示した構造においては、可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118との間には何も設けられていない構造としたが、この場合、封止基板111に圧力が加えられて撓んだときに、隣接する複数の表示画素21に亘って封止基板111が撓んで、複数の表示画素21で同時に可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118とが接触してしまう場合がある。そこで、図29(B)に示す表示画素21の第3の構造の変形例は、可変素子カソード側電極112上の表示画素21の可変素子アノード側電極118の周囲領域と対向する位置にギャップ形成層130bを設けるようにしたものである。ギャップ形成層130bは上記図28(C)のギャップ形成層130と同等のものであり、同様にして形成される。この場合、封止基板111に圧力が加えられて撓んだときに、1つの表示画素21のみにおいて可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118とが接触するように構成することができる。
<第1の実施形態における表示画素21の第4の構造>
次に、図30は、第1の実施形態における表示画素21の第4の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。図26と同一の構成要素には同一の符号が付されている。図30に示す表示画素21も図26の表示画素21と同様に動作するものである。
表示画素21の第4の構造においては、図30(A)に示すように、可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118との間に、図28(C)におけるギャップ形成層130と同等のギャップ形成層130cが設けられているとともに、可変素子カソード側電極112上の可変素子アノード側電極118と対向する位置に設けられた複数の突起状電極部135を有する。この突起状電極部135の可変素子アノード側電極118方向の高さは、可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118との間隔より小さく、例えば2〜3ミクロンの値を有する。突起状電極部135は導電性材料からなり、封止基板111に圧力が加えられて撓んだときに、可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118とが突起状電極部135を介して接近または接触するように構成される。
この突起状電極部135は、例えば、封止基板111に形成される可変素子カソード側電極112をなす電極層を比較的厚く形成し、この電極層をエッチングすることによって形成される。あるいは、封止基板111の可変素子カソード側電極112が形成される面をエッチングして突起状電極部135を形成するための凹凸を形成し、その上に可変素子カソード側電極112をなす電極層を形成して、凸部に突起状電極部135を形成するようにしてもよい。また、突起状電極部135の平面形状は、例えば円形状または正方形状に形成されるが、例えば長方形状や楕円形状であってもよい。
次に、図30(B)は、表示画素21の第4の構造の変形例を示す。上記図30(A)に示した構成においては、突起状電極部135が可変素子カソード側電極112側に設けられる構成としたが、図30(B)に示すように、突起状電極部135が可変素子アノード側電極118側に設けられる構成としてもよい。
この場合、突起状電極部135は、例えば、可変素子アノード側電極118上に突起状電極部135形成用の導体層を形成し、これをエッチングすることによって形成される。
なお、突起状電極部135は本発明の突起部の一例である。
<第1の実施形態における表示画素21の第5の構造>
次に、第1の実施形態に適用される表示画素21の第5の構造について説明する。
図31は、第1の実施形態における表示画素21の第5の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。図26と同一の構成要素には同一の符号が付されている。図30に示す表示画素21も図26の表示画素21と同様に動作するものである。
表示画素21の第5の構造においては、図31に示すように、可変素子カソード側電極112上の可変素子アノード側電極118と対向する位置に設けられた複数の突起部136を有する。この突起部136の可変素子アノード側電極118方向の高さは、可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118との間隔より小さく、例えば2〜3ミクロンの値を有する。突起部136は導電性材料からなり、封止基板111に圧力が加えられて撓んだときに、可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118とが突起部136を介して接近または接触するように構成される。
この突起部136は、例えば、封止基板111の可変素子カソード側電極112上の突起部136の形成位置に、スクリーン印刷によって導電ペーストを塗布し、乾燥後、焼成することによって形成される。図31においては、突起部136の断面形状は台形に形成されるものとしたが、例えば半球状に形成されるものであってもよい。また、突起部136の平面形状は、例えば円形状または正方形状に形成されるが、例えば長方形状や楕円形状であってもよい。
なお、突起部136は本発明の突起部の一例である。
<第1の実施形態における表示画素21の第6の構造>
次に、図32は、第1の実施形態における表示画素21の第6の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。図26と同一の構成要素には同一の符号が付されている。図32に示す表示画素21も図26の表示画素21と同様に動作するものである。
図25〜図31では、可変素子Ev21の一方の電極と発光駆動トランジスタT23のソース電極23sとを接続した構造としたが、可変素子Ev21の一方の電極と第2入力トランジスタT22のドレイン電極とを接続する構造としても、図26の表示画素21と同様に動作する。表示画素21の第6の構造は、このような構造に対応したものである。
図32に示す表示画素21の第6の構造において、可変素子アノード側電極118上には、例えば、図26と同様の、枠状に形成された粒子移動防止層119と、粒子移動防止層119の枠内に配置された複数の絶縁性微粒子131と導電性微粒子132と、を有する。そして、図26の表示画素21では、可変素子アノード側電極118はコンタクト部144を介して発光駆動トランジスタT23のソース電極23sと接続されていたのに対し、図32の表示画素21では、可変素子アノード側電極118がコンタクト部145を介して第2入力トランジスタT22のドレイン電極22dと接続されている点が異なる。
なお、表示画素21の第6の構造における可変素子Ev21を構成する可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118の間の構造は、図32では、一例として、図26における第1の構造と同等の構造を有するものとしたが、この構造に限るものではなく、上記表示画素21の第2−第5の構造と同等の構造を適用するものであってもよい。
また、コンタクト部145は本発明のコンタクト部の一例である。
<第1の実施形態における表示画素21の第7の構造>
次に、図33は、第1の実施形態における表示画素21の第7の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。図26と同一の構成要素には同一の符号が付されている。図33に示す表示画素21も図26の表示画素21と同様に動作するものである。
上記第1〜第6の構造では、表示画素21がトップエミッション構造を有するものとしたが、表示画素21はボトムエミッション構造であってもよい。但し、ボトムエミッション構造の場合には、画素基板113の側から人の指やタッチペンで触れて表示パネルに圧力を加える構造となる。表示画素の第7の構造は、このような構造に対応したものである。
図33に示す表示画素21の第7の構造では、図26の表示画素21と異なり、キャパシタ電極Cs21は、発光層124の発する光を遮らないように発光層124の下を避けて、発光駆動トランジスタT23のソース電極23sの直下に配置されている。ただし、キャパシタ電極Cs21が透明な材料で作られる場合には、図26の表示画素21と同様に、キャパシタ電極Cs21を発光層124の下に配置しても良い。
また、トップエミッション構造では、アノード電極121はAl等の光反射性の金属層およびその上に積層されたITO等の透明導電層の2層構造であったが、図33のボトムエミッション構造では、アノード電極121はITO等の透明導電層で形成される。
更に、トップエミッション構造では、カソード電極125は、導電材料、例えばCa,Ba等仕事関数の低い材料からなる層と、ITO等の光透過性導電層からなる2層構造であったが、図33のボトムエミッション構造では、Ca,Ba等仕事関数の低い材料からなる層およびその上に積層されたAl等の光反射性の金属層の2層構造である。
なお、表示画素21の第7の構造における可変素子カソード側電極112と可変素子アノード側電極118の間の構造は、図33では、一例として、図26における第1の構造と同等の構造を有するものとしたが、この構造に限るものではなく、上記第2−第5の構造と同等の構造を適用するものであってもよい。
<第1の実施形態における表示画素21の第8の構造>
上記表示画素21の第1〜第7の構造では、隣接している表示画素21の有機EL素子OELの間に隔壁116を有するものとした。隔壁116があるため、有機EL材料をノズルコート法やインクジェット法によって成膜することができる。しかしながら、本発明の表示画素21は隔壁116を有する構造に限るものではなく、隔壁116を有しない構造のものであってもよい。この場合、真空蒸着法や凸版印刷法、スクリーン印刷法等を用いることによって有機EL材料を所定の領域に成膜することができる。
真空蒸着法を用いる場合は、低分子有機材料を真空中で過熱蒸発させ、例えばメタルマスク蒸着によりアノード電極121の上に、正孔注入層122、インターレイヤ123、発光層124及びカソード電極125を積層する。
また、凸版印刷法を用いる場合は、凸状に形成した版を用いて高分子有機材料インキを被印刷物(アノード電極121上)に直接転移させて、正孔注入層122、インターレイヤ123、発光層124を形成し、スクリーン印刷法を用いる場合には、アノード電極121の領域に対応した開口部が形成された印刷製版を用いて高分子有機材料インキをアノード電極121上に印刷して、正孔注入層122、インターレイヤ123、発光層124を形成する。
以下に、表示画素21の第8の構造として、隔壁116を有しない場合の構造の第1の例を示す。図34は、第1の実施形態における表示画素21の第8の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。図26と同一の構成要素には同一の符号が付されている。図34に示す表示画素21も図26の表示画素21と同様に動作するものである。ここで、図34における表示画素21はトップエミッション構造を有するものである。
図34に示す表示画素21は、第2入力トランジスタT22と発光駆動トランジスタT23のドレイン電極を覆うように、層間絶縁膜115が形成されている。そして、層間絶縁膜115の上に有機EL素子OELのカソード電極125と絶縁膜117が形成されている。ここで、発光駆動トランジスタT23のソース電極23sと可変素子カソード側電極112とは可変素子Ev21を構成している。発光駆動トランジスタT23のソース電極23sは露出されている。発光駆動トランジスタT23のソース電極23sは、可変素子Ev21の可変素子アノード側電極を兼ねている。ソース電極23sと可変素子カソード側電極112の間には、絶縁性微粒子131や導電性微粒子132は設けられておらず、ソース電極23sと可変素子カソード側電極112とは、封止基板111に圧力が加えられていないときには離間して空気層によって絶縁されている。この場合、可変素子Ev21の容量値は無視できる程小さく、可変素子Ev21は有機EL素子OELの発光に影響を及ぼさない。
そして、封止基板111に圧力が加えられて撓んだときに、可変素子カソード側電極112とソース電極23sとが接近して、可変素子Ev21の容量値が増加する。なお、可変素子Ev21の容量成分の大きさは可変素子カソード側電極112に対向するソース電極23sの面積に依存するため、ソース電極23sの図34に示す横幅L及びこれに直交する方向の幅を比較的大きい値に設定することが好ましい。
次に、図35は、表示画素21の第8の構造の変形例を示す。図34と同一の構成要素には同一の符号が付されている。図35に示す表示画素21も図26の表示画素21と同様に動作するものである。図34に示した構造では絶縁膜117上には何も設けられていない構造としたが、図35に示す表示画素21の第8の構造の変形例は、絶縁膜117上にソース電極23sに電気的に接続される導電体層160を形成するようにしたものである。この導電体層は、例えば、導電体層160を形成する領域を開口部としたマスクを設けた状態で蒸着によって形成することができる。
この場合、可変素子カソード側電極112と絶縁膜117上の導電体層160とが対向して可変素子Ev21を構成する。このため、絶縁膜117上の導電体層160の面積をソース電極23sの面積より大きくし易い。また、可変素子カソード側電極112と導電体層160との間隔を比較的狭くすることができて、可変素子Ev21の容量成分を比較的大きくすることができる。また、封止基板111に圧力が加えられて撓んだときに、可変素子カソード側電極112と導電体層160とが直接接触するように構成することができる。
なお、導電体層160は本発明の誘電体層の一例である。
<第1の実施形態における表示画素21の第9の構造>
次に、表示画素21の第9の構造として、隔壁116を有しない場合の構造の第2の例を示す。図36は、第1の実施形態における表示画素21の構造の第9の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。図26、図34と同一の構成要素には同一の符号が付されている。図36に示す表示画素21も図26の表示画素21と同様に動作するものである。
図36(A)は、ソース電極23sと可変素子カソード側電極112の間に複数の絶縁性微粒子131と導電性微粒子132が配置されていること以外は、図34に示した表示画素21の第8の構造と同じ構造を有するものである。
上述したように、絶縁性微粒子131は、絶縁性の直径数ミクロンの、例えば真球状の微粒子であり、導電性微粒子132は、導電性を有し、絶縁性微粒子131よりも小さい、例えば真球状の微粒子である。
封止基板111に圧力が加えられると、絶縁性微粒子131は変形してつぶれ、可変素子カソード側電極112とソース電極23sとが導電性微粒子132を介して接近して可変素子Ev21の容量値が増大する。そして、圧力が更に増加すると、可変素カソード側電極112とソース電極23sとが両方とも導電性微粒子132に接触する。このとき、可変素子カソード側電極112とソース電極23sとの間の抵抗は極めて小さくなる。
次に、図36(B)は、表示画素21の第9の構造の変形例を示す。図36(B)に示す表示画素21の第9の構造の変形例は、図35に示した表示画素21の第8の構造の変形例の構造に対し、導電体層160上に枠状に形成された粒子移動防止層119が形成され、可変素子カソード側電極112と導電体層160との間に複数の絶縁性微粒子131と導電性微粒子132を配置するようにしたものである。絶縁性微粒子131と導電性微粒子132とは粒子移動防止層119によって形成される枠内に配置される。
この変形例においては、封止基板111に圧力が加えられると、絶縁性微粒子131は変形してつぶれ、可変素子カソード側電極112と導電体層160とが導電性微粒子132を介して接近して可変素子Ev21の容量値が増大する。そして、圧力が更に増加すると、可変素カソード側電極112と導電体層160とが両方とも導電性微粒子132に接触する。このとき、可変素子カソード側電極112と導電体層160との間の抵抗は極めて小さくなる。
<第1の実施形態における表示画素21の第10の構造>
次に、表示画素21の第10の構造として、隔壁116を有しない場合の構造の第3の例を示す。図37は、第1の実施形態における表示画素21の構造の第10の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。図26、図31、図34と同一の構成要素には同一の符号が付されている。図37に示す表示画素21も図26の表示画素21と同様に動作するものである。
図37の表示画素21は、図35に示した構造と同様に、絶縁膜117上に形成されたソース電極23sに電気的に接続された導電体層160を有する。また、図37の表示画素21は、可変素子カソード側電極112の導電体層160と対向する位置に設けられた複数の突起部136を有する。この突起部136は、図31に示した、表示画素21の第5の構造における突起部136と同等のものである。
なお、上記の表示画素21の第8−第10の構造図において、表示画素21はトップエミッション構造を有するものとしたが、図33に示した表示画素21の第7の構造のようなボトムエミッション構造を有するものであってもよい。
<第1の実施形態における表示画素21の第11の構造>
次に、表示画素21の第11の構造として、隔壁116を有しない場合の構造の第4の例を示す。図38は、第1の実施形態における表示画素21の構造の第11の構造における、図25のA−A線断面図の一例である。図26、図36と同一の構成要素には同一の符号が付されている。図38に示す表示画素21も図26の表示画素21と同様に動作するものである。
図34〜図37では、可変素子Ev21の一方の電極と発光駆動トランジスタT23のソース電極23sとを接続した構造としたが、図38に示す表示画素21の第11の構造は、可変素子Ev21の一方の電極と第2入力トランジスタT22のドレイン電極22dとを接続した構造を有するものである。
図38は、第2入力トランジスタT22のドレイン電極22dが露出され、ドレイン電極22dと可変素子カソード側電極112の間に複数の絶縁性微粒子131と導電性微粒子132が配置されていること以外は、図36(A)に示した表示画素21の第9の構造と同じ構造を有するものである。
また、図39は、表示画素21の第11の構造の変形例を示す。図26、図36と同一の構成要素には同一の符号が付されている。図39に示す表示画素21も図26の表示画素21と同様に動作するものである。
図39の表示画素21は、絶縁膜117上にドレイン電極22dに電気的に接続される導電体層161が形成され、導電体層161上に枠状に形成された粒子移動防止層119が形成され、可変素子カソード側電極112と導電体層161との間に複数の絶縁性微粒子131と導電性微粒子132が配置されていること以外は、図36(B)に示した表示画素21の第9の構造の変形例と同じ構造を有するものである。
なお、導電体層161は本発明の誘電体層の一例である。
次に、上述の第2の実施形態に適用される表示画素22及び可変素子Ev31の具体的な構造について説明する。
<第2の実施形態における表示画素22の第1の構造>
図40は、第2の実施形態における表示画素22の第1の構造における平面図の一例であり、図41は、表示画素22の第1の構造における図40のB−B線断面図の一例である。図40と図41は、表示画素22がトップエミッション構造である場合の例である。
図40と図41に示す表示画素22における有機EL素子OELや層間絶縁膜115、隔壁116等の構造は、図25及び図26に示す表示画素21と同一である。図25、図26と同一の構成要素には同一の符号が付されている。
キャパシタ電極Cs31は、キャパシタCs3の電極であり、発光駆動トランジスタT32のゲート電極32gに接続されている。アノード電極121は、有機EL素子OELのアノード電極である。アノード電極121は、キャパシタ電極Cs31に対向するように配置されており、キャパシタCs3のもう一方の電極を兼ねている。
図40に示すように、表示画素22は、有機EL素子OELを挟むようにして、左側に入力トランジスタT31のソース電極31sとゲート電極31gとドレイン電極31dが配置されている。また、有機EL素子OELの右側に、発光駆動トランジスタT32のソース電極32sとゲート電極32gとドレイン電極32dが配置されている。
入力トランジスタT31のソース電極31sは、図40に示すように、コンタクト部151を介してデータラインLdに接続されている。また、入力トランジスタT31のゲート電極31gは、コンタクト部152を介して走査ラインLsと接続されている。
入力トランジスタT31のドレイン電極31dは、図41に示すようにコンタクト部154を介して、キャパシタ電極Cs31と接続され、更にキャパシタ電極Cs31を介して発光駆動トランジスタT32のゲート電極32gと接続されている。また、入力トランジスタT31のドレイン電極31dは、コンタクト部153を介して可変素子アノード側電極158と接続されている。
発光駆動トランジスタT32のドレイン電極32dは、電源ラインLvに接続されている。また、発光駆動トランジスタT32のソース電極32sは、アノード電極121に接続されている。
なお、コンタクト部151〜154は、異なる層に形成された電極、配線等を上下に導通させるものであり、例えば絶縁膜に開口を設け、これに導電材料を充填することによって形成される。
表示画素22は、図41に示すように、封止基板111と画素基板113の間に形成されている。
画素基板113上には、入力トランジスタT31と発光駆動トランジスタT32のゲート電極31gと32gが形成される。更に、画素基板113上には、キャパシタ電極Cs31と、データラインLdが形成されており、更にこれらを覆うように絶縁膜114が形成されている。画素基板113上に形成されたキャパシタ電極Cs31と、絶縁膜114と、アノード電極121とが、表示画素22のキャパシタCs3として機能する。
入力トランジスタT31と発光駆動トランジスタT32は、それぞれnチャネル型TFTである。それぞれのトランジスタは、図41に示すように、画素基板113上に形成される。入力トランジスタT31は、半導体層311と、保護絶縁膜312と、ドレイン電極31dと、ソース電極31sと、オーミックコンタクト層314、315と、ゲート電極31gと、を備える。また、発光駆動トランジスタT32は、半導体層321と、保護絶縁膜322と、ドレイン電極32dと、ソース電極32sと、オーミックコンタクト層324、325と、ゲート電極32gと、を備える。
可変素子アノード側電極158は、コンタクト部153により、入力トランジスタT31のドレイン電極31dと接続されている。コンタクト部153は、隔壁116、カソード電極125、絶縁膜117及び層間絶縁膜115に開口を設け、これに導電材料を充填することによって形成される。
可変素子カソード側電極157は、封止基板111に接して配置される。可変素子カソード側電極157には、基準電圧Vssが印加される。
可変素子アノード側電極158上には、枠状に形成された粒子移動防止層119が形成されている。可変素子アノード側電極158上の粒子移動防止層119によって形成される枠内には、複数の絶縁性微粒子131と複数の導電性微粒子132とが配置されている。可変素子アノード側電極158と可変素子カソード側電極157は、可変素子Ev31を構成する。
なお、表示画素22の第1の構造における可変素子Ev31を構成する可変素子アノード側電極158と可変素子カソード側電極157の間の構成は、図41では、一例として、図26に示した、第1の実施形態における表示画素21の第1の構造と同等の構造を有するものとしたが、この構造に限るものではなく、上記の第1の実施形態における表示画素21の第2−第5の構造と同等の構造を適用するものであってもよい。
ここで、可変素子カソード側電極157は本発明の第1の電極の一例であり、可変素子アノード側電極158は本発明の第2の電極の一例であり、キャパシタ電極Cs31は本発明のキャパシタの一方の電極の一例であり、コンタクト部153は本発明のコンタクト部の一例である。
<第2の実施形態における表示画素22の第2の構造>
次に、図42は、第2の実施形態における表示画素22の第2の構造における、図40のB−B線断面図の一例である。図41と同一の構成要素には同一の符号が付されている。図42に示す表示画素22は、図41の表示画素22と同様に動作するものである。表示画素22はトップエミッション構造である場合の例である。
図41の表示画素22では、可変素子アノード側電極158はコンタクト部153を介して入力トランジスタT31のソドレイン電極31dと接続されていたのに対し、図42の表示画素22では、可変素子アノード側電極158が、コンタクト部155と、画素基板113上に形成された配線156を介して発光駆動トランジスタT32のゲート電極32gと接続されている。
表示画素22の第2の構造における可変素子Ev31を構成する可変素子アノード側電極158と可変素子カソード側電極157の間の構成は、例えば、図41に示した構造と同等の構造を有する。なお、この第2の構造においても、上記の第1の実施形態における表示画素21の第2−第5の構造と同等の構造を適用するものであってもよい。
また、コンタクト部155は本発明のコンタクト部の一例である。
<第2の実施形態における表示画素22の第3の構造>
次に、図43は、第2の実施形態における表示画素22の第3の構造における、図40のB−B線断面図の一例である。図41と同一の構成要素には同一の符号が付されている。図43に示す表示画素22は、図41の表示画素22と同様に動作するものである。
上記第1、第2の構造では、表示画素22がトップエミッション構造を有するものとしたが、表示画素22はボトムエミッション構造であってもよい。表示画素22の第3の構造は、このような構造に対応したものである。
図43の表示画素22では、図41の表示画素22と異なり、キャパシタ電極Cs31は、発光層124の発する光を遮らないように発光層124の下を避けて、発光駆動トランジスタT32のソース電極32sの直下に配置されている。ただし、キャパシタ電極Cs31が透明な材料で作られる場合には、図41の表示画素22と同様に、キャパシタ電極Cs31を発光層124の下に配置しても良い。
また、図43の表示画素22では、図41の表示画素22と異なり、アノード電極121はITO等の透明導電層で形成されている。カソード電極125は、Ca,Ba等仕事関数の低い材料からなる層と、その上に積層されたAl等の光反射性の金属層の2層構造である。
更に、図41の表示画素22では、入力トランジスタT31のドレイン電極31dと発光駆動トランジスタT32のゲート電極を、コンタクト部154とキャパシタ電極Cs31を介して接続したが、図43の表示画素22は、入力トランジスタT31のドレイン電極31dと発光駆動トランジスタT32のゲート電極32gを接続するための図示しない配線を別途有する。
<第2の実施形態における表示画素22の第4の構造>
上記表示画素22の第1〜第3の構造では、隣接している表示画素22の有機EL素子OELの間に隔壁116を有するものとしたが、表示画素22においても、表示画素21の第8−第10の構造と同様に、隔壁116を有しない構造を有するものであってもよい。
以下に、表示画素22の第4の構造として、隔壁116を有しない場合の構造の一例例を示す。図44は、第2の実施形態における表示画素22の第4の構造における、図40のB−B線断面図の一例である。図41と同一の構成要素には同一の符号が付されている。図44に示す表示画素22も図41の表示画素22と同様に動作するものである。ここで、図44における表示画素22はトップエミッション構造を有するものである。
図44に示す表示画素22は、入力トランジスタT31のソース電極と発光駆動トランジスタT32を覆うように、層間絶縁膜115が形成されている。そして、層間絶縁膜115の上に有機EL素子OELのカソード電極125と絶縁膜117が形成されている。更に、絶縁膜117上にソース電極23sに電気的に接続された導電体層162が設けられている。この導電体層162は、図36(B)に示した表示画素21の第9の構造の変形例における導電体層160と同等のものである。
そして、例えば、導電体層162の上に粒子移動防止層119が形成されているとともに、可変素子カソード側電極157と導電体層162との間に複数の絶縁性微粒子131と導電性微粒子132とが配置され、絶縁性微粒子131と導電性微粒子132とは粒子移動防止層119によって形成される枠内に配置される。可変素子カソード側電極157と導電体層162との間の構成は図36(B)に示した表示画素21における構成と同じである。
なお、表示画素22の第4の構造における可変素子Ev31を構成する可変素子アノード側電極157と導電体層162との間の構成は、図44では、一例として、図41に示した第2の実施形態における表示画素22の第1の構造と同等の構造を有するものとしたが、この構造に限るものではなく、上記の第1の実施形態における表示画素21の第2−第5の構造と同等の構造を適用するものであってもよい。
更に、図44において、表示画素22はトップエミッション構造を有するものとしたが、図43に示した表示画素22の第3の構造と同等のボトムエミッション構造を有するものであってもよい。
なお、導電体層162は本発明の誘電体層の一例である。
<第1の実施形態の表示画素21と第2の実施形態の表示画素22の構造の共通変形例>
通常、人の指やタッチペンが表示パネル2aに接触する面積は、表示画素21の面積に比べて大きい。このため、ADC56aと判定回路57aを全てのデータラインLdに対応させて設けると、人の指やタッチペンが表示パネル2aに触れたとき、位置検出回路61は複数のデータラインLdの番号と走査ラインLsの番号を同時に特定する場合が多いと考えられる。
このような場合、複数のデータラインLdごとに1個のADC56aと1個の判定回路57aを設けても、位置の検出精度は、個々のデータラインLdごとにADC56aと判定回路57aを各1個設けた場合とほとんど変わらないと考えられる。そこで、複数のデータラインLdごとにADC56aと判定回路57aを各1個設けることにより、ADC56aと判定回路57aの数を削減することができる。
更に、複数のデータラインLdごとに1個のADC56aと1個の判定回路57aが設けられている場合、複数の表示画素21の可変素子アノード側電極118を接続して、可変素子アノード側電極118の面積を広くすることができる。
例えば、ADC56aと判定回路57aがデータラインLd(j)に設けられ、データラインLd(j−1)とデータラインLd(j+1)には設けられていない場合、図45に示すように、例えば、表示画素21(i,j−1)と表示画素21(i,j)と表示画素21(i,j+1)を覆うように可変素子アノード側電極118を形成することができる。コンタクト部144は、表示画素21(i,j)に形成され、表示画素21(i,j−1)と表示画素21(i,j+1)には形成されない。
可変素子アノード側電極118の面積が広くなると、可変素子Ev21の最大容量が増加する。このため、人の指やタッチペンが表示パネル2aに触れた際にノードN23(データラインLd)の電圧がVss−Vd’に変化するまでの時間が長くなる。従って、判定回路57aは人の指やタッチペンが表示パネル2aに触れたことを容易に検出できる。
また、ADC56aと判定回路57aがデータラインLd(j)に設けられ、データラインLd(j−1)とデータラインLd(j+1)には設けられていない場合、図46に示すように、例えば、表示画素21(i,j−1)、表示画素21(i,j)、表示画素21(i,j+1)、表示画素21(i+1,j−1)、表示画素21(i+1,j)及び表示画素21(i+1,j+1)を覆うように可変素子アノード側電極118を形成することもできる。コンタクト部144は表示画素21(i,j)に形成される。コンタクト部144は表示画素21(i,j−1)、表示画素21(i,j+1))、表示画素21(i+1,j−1)、表示画素21(i+1,j)及び表示画素21(i+1,j+1)には形成されない。
図46に示す可変素子アノード側電極118は、図45に示したものよりも、更にその面積が広くなるため、可変素子Ev21の最大容量がより大きくなる。
ADC56aと判定回路57aがデータラインLd(j)に設けられ、データラインLd(j−1)とデータラインLd(j+1)には設けられていない場合、図47に示すように、例えば、表示画素21(i,j)と表示画素21(i+1,j)の右側の隔壁116と表示画素21(i,j+1)と表示画素21(i+1,j+1)の左側の隔壁116の上に可変素子アノード側電極118を形成することもできる。コンタクト部144は表示画素21(i,j)にのみ形成され、表示画素21(i+1,j)には形成されない。
表示画素22も、表示画素21と同様に、複数のデータラインLdごとにADC56bと判定回路57aを1個ずつ設け、ADC56bと判定回路57aの数を削減することができる。更に、複数のデータラインLdごとに1個のADC56bと1個の判定回路57aが設けられている場合、複数の表示画素22の可変素子アノード側電極158を接続して、可変素子アノード側電極158の面積を広くすることができる。
なお、上記実施形態に示した可変素子Ev21と可変素子Ev31の構造は一例であり、他の様々な構造とすることができる。
第1の実施形態では、位置検出回路61は、走査ドライバ3が走査パルスを出力していた走査ラインLs1〜Lsnと、データドライバ5aが表示信号を出力していたデータラインLd1〜Ldmに基づいて、人の指やタッチペン等が表示パネル2aに接触した位置を特定するとしたが、位置検出回路61は、電源ドライバ4aが基準電圧Vssを出力していた電源ラインLv1〜Lvnと、データドライバ5aが表示信号を出力していたデータラインLd1〜Ldmに基づいて、人の指やタッチペン等が表示パネル2aに接触した位置を特定しても良い。
以上説明したように、上記各実施形態では、表示パネルに加えられた圧力に応じて表示画素21の内部のキャパシタCs2の一方の電極が接続されているノードN21の電位が変化する。そして、データラインLdの電圧を測定することによって、ノードN21の電位の状態を検出することができる。表示画素22についても同様である。
このように、本発明によれば、表示パネルに加えられた圧力に応じて表示画素の内部のノードの状態が変化する。そして、データラインの電圧を測定することによって表示画素の内部のノードの状態を検出することができる。このため、表示装置に容易にタッチパネル機能を付加することができる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、設計上の都合やその他の要因によって必要となる様々な修正や組み合わせは、請求項に記載されている発明や発明の実施形態に記載されている具体例に対応する発明の範囲に含まれると理解されるべきである。
1a、1b…有機EL表示装置,21、22…表示画素,2a、2b…表示パネル,3…走査ドライバ,4a、4b…電源ドライバ,5a、5b…データドライバ,111…封止基板,112、157…可変素子カソード側電極,113…画素基板,115…層間絶縁膜,116…隔壁,118、158…可変素子アノード側電極,131…絶縁性微粒子,132…導電性微粒子,135…突起状電極部,136…突起部,144、145、153、155…コンタクト部,160、161、162…導電体層,Cs2、Cs3…キャパシタ,Cs21、Cs31…キャパシタ電極,Ev21、Ev31…可変素子,Ld1〜Ldm…データライン,Ls1〜Lsn…走査ライン,Lv1〜Lvn…電源ライン,OEL…有機EL素子,T21…第1入力トランジスタ,T22…第2入力トランジスタ,T23、T32…発光駆動トランジスタ,T31…入力トランジスタ

Claims (14)

  1. 一方の主面に接して第1の電極が配置された封止基板と、
    一方の主面が前記封止基板の一方の主面に対向するように配置され、当該一方の主面に複数の表示画素が形成された画素基板と、
    を備え、
    各前記表示画素は、
    駆動電流を供給されて発光する発光素子と、
    画像データを表示するための表示信号を入力する信号入力部と、
    前記第1の電極と、前記第1の電極に対向するように配置された第2の電極とによって構成され、前記封止基板の他方の主面または前記画素基板の他方の主面に加えられた圧力に応じて物理パラメータが変化し、当該物理パラメータの変化により前記表示信号に応じた電位を変調する可変素子と、
    前記表示信号または前記表示信号が変調された信号に応じた電位を保持するキャパシタと、
    前記キャパシタによって保持されている電位に対応する駆動電流を前記発光素子に供給する発光素子駆動部と、
    を有する、
    ことを特徴とする表示装置。
  2. 前記信号入力部は、所定の期間に前記表示信号を入力し、
    前記可変素子は、外部から加えられる圧力に応じて前記物理パラメータとして容量値または抵抗値が変化し、前記所定の期間に前記キャパシタを含む回路と並列回路を構成することによって前記表示信号に応じた電位を変調する、
    ことを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
  3. 行方向に並んだ前記表示画素に接続された複数の走査ラインと電源ライン、及び列方向に並んだ前記表示画素に接続された複数のデータラインを備え、前記画素基板に形成された表示パネルと、
    前記各走査ラインに走査信号を供給することによって当該走査ラインに接続されている前記各表示画素を選択し、前記各データラインに前記表示信号を供給し、前記各電源ラインに所定の基準電圧と所定の電源電圧を供給することによって選択されている前記各表示画素を駆動する駆動回路と、
    を備え、
    前記発光素子駆動部は、ゲート電極が前記キャパシタの一方の電極に接続され、ソース電極が前記キャパシタの他方の電極と前記第2の電極とに接続され、ドレイン電極が前記電源ラインに接続された第1のトランジスタを含み、
    前記信号入力部は、ゲート電極が前記走査ラインに接続され、ソース電極が前記第1のトランジスタのゲート電極と前記キャパシタの一方の電極とに接続され、ドレイン電極が前記電源ラインと前記第1のトランジスタのドレイン電極とに接続された第2のトランジスタと、ゲート電極が前記走査ラインに接続され、ソース電極が前記データラインに接続され、ドレイン電極が前記キャパシタの他方の電極と前記第2の電極と前記第1のトランジスタのソース電極とに接続された第3のトランジスタとを含み、
    前記第1の電極に前記所定の基準電圧が印加され、
    前記発光素子は、アノード電極が前記第1のトランジスタのソース電極と前記第3のトランジスタのドレイン電極と前記キャパシタの他方の電極と前記第2の電極に接続され、カソード電極に前記所定の基準電圧が印加される、
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の表示装置。
  4. 前記第1のトランジスタを覆うように形成された隔壁と、
    前記隔壁を貫通し、導電性を有するコンタクト部と、
    を備え、
    前記第2の電極は、前記隔壁の前記封止基板に対向する面に形成されており、前記コンタクト部を介して前記第1のトランジスタのソース電極または前記第3のトランジスタのドレイン電極の何れか一方に接続される、
    ことを特徴とする請求項3に記載の表示装置。
  5. 前記第1のトランジスタの少なくとも一部と前記第3のトランジスタの少なくとも一部とを覆うように形成された絶縁膜を備え、
    前記第1のトランジスタのソース電極または前記第3のトランジスタのドレイン電極の何れか一方は、露出されており、前記第2の電極として機能する、
    ことを特徴とする請求項3に記載の表示装置。
  6. 前記第1のトランジスタと前記第3のトランジスタのソース電極を覆うように形成された絶縁膜と、
    前記絶縁膜の前記封止基板に対向する面に形成され、導電性材料からなり、前記第1のトランジスタのソース電極または前記第3のトランジスタのドレイン電極の何れか一方に電気的に接続されて、前記第2の電極として機能する導電体層と、
    を備えることを特徴とする請求項3に記載の表示装置。
  7. 行方向に並んだ前記表示画素に接続された複数の走査ラインと電源ライン、及び列方向に並んだ前記表示画素に接続された複数のデータラインを備え、前記画素基板に形成された表示パネルと、
    前記各走査ラインに走査信号を供給することによって当該走査ラインに接続されている前記各表示画素を選択し、前記各データラインに前記表示信号を供給し、前記各電源ラインに所定の電源電圧を供給することによって選択されている前記各表示画素を駆動する駆動回路と、
    を備え、
    前記発光素子駆動部は、ゲート電極が前記キャパシタの一方の電極と前記第2の電極に接続され、ソース電極が前記キャパシタの他方の電極に接続され、ドレイン電極が前記電源ラインに接続された第1のトランジスタを含み、
    前記信号入力部は、ゲート電極が前記走査ラインに接続され、ソース電極が前記データラインに接続され、ドレイン電極が前記第1のトランジスタのゲート電極と前記キャパシタの一方の電極と前記第2の電極とに接続された第2のトランジスタを含み、
    前記第1の電極に所定の基準電圧が印加され、
    前記発光素子は、アノード電極が前記第1のトランジスタのソース電極と前記キャパシタの他方の電極に接続され、カソード電極に前記所定の基準電圧が印加される、
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の表示装置。
  8. 前記第1のトランジスタを覆うように形成された隔壁と、
    前記隔壁を貫通し、導電性を有するコンタクト部と、
    を備え、
    前記第2の電極は、前記隔壁の前記封止基板に対向する面に形成されており、前記コンタクト部を介して前記第1のトランジスタのゲート電極に接続される、
    ことを特徴とする請求項7に記載の表示装置。
  9. 前記第2のトランジスタを覆うように形成された隔壁と、
    前記隔壁を貫通し、導電性を有するコンタクト部と、
    を備え、
    前記第2の電極は、前記隔壁の前記封止基板に対向する面に形成されており、前記コンタクト部を介して前記第2のトランジスタのドレイン電極に接続される、
    ことを特徴とする請求項7に記載の表示装置。
  10. 前記第1のトランジスタと前記第2のトランジスタのソース電極を覆うように形成された絶縁膜を備え、
    前記第2のトランジスタのドレイン電極は、露出されており、前記第2の電極として機能する、
    ことを特徴とする請求項7に記載の表示装置。
  11. 前記第1のトランジスタと前記第2のトランジスタのソース電極を覆うように形成された絶縁膜と、
    前記絶縁膜の前記封止基板に対向する面に形成され、導電性材料からなり、前記第2のトランジスタのドレイン電極に電気的に接続されて、前記第2の電極として機能する導電体層と、
    を備えることを特徴とする請求項7に記載の表示装置。
  12. 隣接する少なくとも2つの所定の数の前記表示画素に含まれる前記第2の電極が相互に接続されており、相互に接続された前記第2の電極に対応する前記所定の数の表示画素の中の1個の前記表示画素にのみ前記コンタクト部が設けられている、
    ことを特徴とする請求項4、8、9のいずれか1項に記載の表示装置。
  13. 導電性を有しない絶縁性微粒子と当該絶縁性微粒子よりも小さい導電性を有する導電性微粒子とが、前記第1の電極と前記第2の電極の間に配置されている、
    ことを特徴とする請求項4乃至6又は請求項8乃至12のいずれか1項に記載の表示装置。
  14. 導電性を有する突起部が前記第1の電極の前記第2の電極と対向する側に設けられている、
    ことを特徴とする請求項4乃至6又は請求項8乃至12のいずれか1項に記載の表示装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012141526A (ja) * 2011-01-06 2012-07-26 Sony Corp 有機el表示装置及び電子機器
KR20130065381A (ko) * 2011-12-09 2013-06-19 엘지디스플레이 주식회사 유기전계 발광표시장치 및 그 제조 방법
JP2014093774A (ja) * 2012-11-02 2014-05-19 Palo Alto Research Center Inc 能動ピクセルを有する容量式画像形成装置
WO2015162522A1 (en) * 2014-04-23 2015-10-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Input/output device and method for driving input/output device
JP2020160469A (ja) * 2012-07-12 2020-10-01 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63289632A (ja) * 1987-05-21 1988-11-28 Fujitsu Ltd タツチパネル
JPH075973A (ja) * 1993-04-20 1995-01-10 Samsung Electron Devices Co Ltd ディジタイザ
JPH07219697A (ja) * 1994-02-01 1995-08-18 Seiko Epson Corp タッチパネル及びその製造法
JP2002287902A (ja) * 2001-01-17 2002-10-04 Seiko Epson Corp タッチパネル及び電子機器
JP2006058352A (ja) * 2004-08-17 2006-03-02 Casio Comput Co Ltd 表示装置及びその駆動制御方法
JP2007034006A (ja) * 2005-07-28 2007-02-08 Victor Co Of Japan Ltd 有機エレクトロルミネセンス表示装置
JP2007095618A (ja) * 2005-09-30 2007-04-12 Casio Comput Co Ltd 表示パネル
JP2007510949A (ja) * 2003-11-04 2007-04-26 サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド タッチスクリーン機能を有する液晶表示装置及びその製造方法
JP2007179813A (ja) * 2005-12-27 2007-07-12 Casio Comput Co Ltd 表示装置及びその製造方法
JP2008218142A (ja) * 2007-03-02 2008-09-18 Seiko Epson Corp 入力機能付有機エレクトロルミネッセンス装置、及び電子機器

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63289632A (ja) * 1987-05-21 1988-11-28 Fujitsu Ltd タツチパネル
JPH075973A (ja) * 1993-04-20 1995-01-10 Samsung Electron Devices Co Ltd ディジタイザ
JPH07219697A (ja) * 1994-02-01 1995-08-18 Seiko Epson Corp タッチパネル及びその製造法
JP2002287902A (ja) * 2001-01-17 2002-10-04 Seiko Epson Corp タッチパネル及び電子機器
JP2007510949A (ja) * 2003-11-04 2007-04-26 サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド タッチスクリーン機能を有する液晶表示装置及びその製造方法
JP2006058352A (ja) * 2004-08-17 2006-03-02 Casio Comput Co Ltd 表示装置及びその駆動制御方法
JP2007034006A (ja) * 2005-07-28 2007-02-08 Victor Co Of Japan Ltd 有機エレクトロルミネセンス表示装置
JP2007095618A (ja) * 2005-09-30 2007-04-12 Casio Comput Co Ltd 表示パネル
JP2007179813A (ja) * 2005-12-27 2007-07-12 Casio Comput Co Ltd 表示装置及びその製造方法
JP2008218142A (ja) * 2007-03-02 2008-09-18 Seiko Epson Corp 入力機能付有機エレクトロルミネッセンス装置、及び電子機器

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012141526A (ja) * 2011-01-06 2012-07-26 Sony Corp 有機el表示装置及び電子機器
KR20130065381A (ko) * 2011-12-09 2013-06-19 엘지디스플레이 주식회사 유기전계 발광표시장치 및 그 제조 방법
KR101928407B1 (ko) * 2011-12-09 2018-12-13 엘지디스플레이 주식회사 유기전계 발광표시장치 및 그 제조 방법
JP2020160469A (ja) * 2012-07-12 2020-10-01 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
US10818737B2 (en) 2012-07-12 2020-10-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device comprising a light-emitting element
US11088222B2 (en) 2012-07-12 2021-08-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device comprising a thin glass material layer
US11844260B2 (en) 2012-07-12 2023-12-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device comprising thin glass layer
JP2014093774A (ja) * 2012-11-02 2014-05-19 Palo Alto Research Center Inc 能動ピクセルを有する容量式画像形成装置
WO2015162522A1 (en) * 2014-04-23 2015-10-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Input/output device and method for driving input/output device
CN106233233A (zh) * 2014-04-23 2016-12-14 株式会社半导体能源研究所 输入/输出装置及输入/输出装置的驱动方法
CN106233233B (zh) * 2014-04-23 2019-09-10 株式会社半导体能源研究所 输入/输出装置及输入/输出装置的驱动方法

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