JP2010177067A - 漏電遮断器 - Google Patents

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Abstract

【課題】漏電遮断器のテスト回路において、テスト電流制限抵抗に印加される電圧を低減し、その抵抗に電圧が印加される時間を短縮することで、その抵抗での消費電力量を低減し、小形の抵抗を適用したテスト回路を備えた漏電遮断機を実現することを目的とする。
【解決手段】テスト回路は、交流電路の一端側Wに直列に接続された抵抗5及びコンデンサ8と、抵抗5及びコンデンサ8における交流電路の他端側に接続され、抵抗5に印加される電圧を降下させる降圧回路10と、コンデンサ8の両端に接続され、直列に接続されたテストスイッチ11及び零相変流器2のテスト巻線2bとを有する。電磁装置12を駆動する駆動スイッチ6は抵抗5及びコンデンサ8における交流電路の一端側と交流電路の他端側Uとの間に接続され、電磁装置12は抵抗5及びコンデンサ8における交流電路の一端側Wに接続された。
【選択図】図1

Description

この発明は、交流電路に漏電や地絡が発生したときにその電路を遮断する漏電遮断器に関し、特に、電路に疑似漏電電流を流すテスト回路を備えた漏電遮断器に関するものである。
従来の漏電遮断器において、その内部の交流電路の電圧が生じている部位、例えば漏電遮断器の負荷側端子間等の電圧を用いて、テストスイッチ、テスト電流制限抵抗、テスト巻線の直列接続回路を零相変流器に貫通させ、テストスイッチを操作することで疑似漏電電流を流して零相変流器を励磁し、これを漏電検出部で検出及び電流値を判別し、遮断動作を確認するよう構成したものがある。
特開平8−180792号公報(0002段乃至0006段、図12)
しかしながら、従来の漏電遮断器は、テストスイッチの閉極時にテスト電流制限抵抗に交流電路の全電圧が印加され、この状態が漏電遮断器の全遮断完了まで、すなわち漏電検出回路の時限動作時間、遮断機構の作動時間、遮断器の接点開離時におけるアーク消滅時間の合計時間の全期間に渡って、電圧の印加が継続する。このため、テスト電流制限抵抗として印加電力および電力容量の大きい抵抗器を使用する必要があり、テスト電流制限抵抗の実装に広い領域が必要となる問題があった。
また、テストスイッチを押し続けた場合に、テスト電流制限抵抗で無駄な電力量を消費するという問題があった。
この発明は、漏電遮断器のテスト回路におけるテスト電流制限抵抗に印加される電圧を低減し、テスト電流制限抵抗に電圧が印加される時間を短縮することで、テスト電流制限抵抗での消費電力量を低減し、小形のテスト電流制限抵抗を適用したテスト回路を備えた漏電遮断器を実現することを目的とする。
この発明に係る漏電遮断器のテスト回路は、交流電路の一端側に直列に接続された抵抗及びコンデンサと、抵抗及びコンデンサにおける交流電路の他端側に接続され、抵抗に印加される電圧を降下させる降圧回路と、コンデンサの両端に接続され、直列に接続されたテストスイッチ及び零相変流器のテスト巻線とを有する。電磁装置を駆動する駆動スイッチは抵抗及びコンデンサにおける交流電路の一端側と交流電路の他端側との間に接続され、電磁装置は抵抗及びコンデンサにおける交流電路の一端側に接続された。
この発明に係る漏電遮断器は、テスト電流制限抵抗に印加される電圧を低減し、テスト電流制限抵抗に電圧が印加される時間を短縮することで、テスト電流制限抵抗での消費電力量を低減し、小形のテスト電流制限抵抗を適用したテスト回路を構成できる。
この発明の実施の形態1における漏電遮断器のブロック図である。 図1に示す整流回路の回路図である。 実施の形態1のテスト回路を含む第1の交流回路を示す図である。 図1のテスト動作を示すタイムチャートである。 実施の形態1のテスト回路を含む第2の交流回路を示す図である。 実施の形態1のテスト回路を含む第3の交流回路を示す図である。 図6のテスト動作を示すタイムチャートである。 この発明の実施の形態2における漏電遮断器のブロック図である。 実施の形態2のテスト回路を含む第1の交流回路を示す図である。 実施の形態2のテスト回路を含む第2の交流回路を示す図である。 実施の形態2のテスト回路を含む第3の交流回路を示す図である。 この発明の実施の形態3における漏電遮断器のブロック図である。 実施の形態3のテスト回路を含む第1の交流回路を示す図である。 実施の形態3のテスト回路を含む第2の交流回路を示す図である。 実施の形態3のテスト回路を含む第3の交流回路を示す図である。 この発明の実施の形態4における漏電遮断器のブロック図である。 実施の形態4のテスト回路を含む第1の交流回路を示す図である。 実施の形態4のテスト回路を含む第2の交流回路を示す図である。 実施の形態4のテスト回路を含む第3の交流回路を示す図である。 この発明の実施の形態5における漏電遮断器のブロック図である。 実施の形態5のテスト回路を含む第1の交流回路を示す図である。 実施の形態5のテスト回路を含む第2の交流回路を示す図である。 実施の形態5のテスト回路を含む第3の交流回路を示す図である。
実施の形態1.
図1は、この発明の実施の形態1における漏電遮断器の構成を示すブロック図であり、図2は図1の整流回路の回路図である。漏電遮断器1は、電源側端子R、Tと、電源側端子R、Tに対応する負荷側端子U、Wを有する。漏電遮断器1内には、電源側端子Rと負荷側端子Uとを結ぶ1次導体RU及び、電源側端子Tと負荷側端子Wとを結ぶ1次導体TWの開閉を行う接点からなる遮断部9が設けられている。
漏電遮断器1は、1次導体RU、TWを流れる電流に含まれる零相電流、即ち負荷側の漏電や地絡によって流れる電流を検出するための零相変流器2を有している。1次導体RU、TWは環状鉄心2cを貫通鎖交しており、鉄心2cには零相電流を取出すための2次巻線2a、漏電遮断機能テスト用のテスト巻線2bが巻回されている。
負荷側端子Uと負荷側端子Wの間には、漏電検出の際に電源側端子R、Tと負荷側端子U、W間を開極、遮断する遮断部9を作動させる引き外し装置13を駆動する電磁装置12と、疑似漏電電流を流すテスト回路が接続されている。電磁装置12は交流電路の一端側、即ち負荷側端子W側に接続される。テスト回路は、直列に接続されたテスト電流制限抵抗5及び整流回路3に交流電力を供給するコンデンサ8と、テスト電流制限抵抗5及びコンデンサ8における交流電路の他端側に接続され、テスト電流制限抵抗5に印加される電圧を降下させる降圧回路10と、コンデンサ8の両端に接続され、直列に接続されたテストスイッチ11及び零相変流器2のテスト巻線2bとを有する。
テスト電流制限抵抗5はテスト回路の疑似漏電電流値を制御している。テストスイッチ11は零相変流器2に流れる疑似漏電電流を入り切りする。降圧回路10は整流回路3と例えばツェナーダイオードなどの定電圧回路4から構成される。整流回路3は、交流側端子3a、3bに1次導体RU及び1次導体TW間からの交流電力が供給され、直流側端子3c、3dから直流電力を出力する。
整流回路3は、図2のように4つのダイオード20a乃至20dがブリッジ接続されている。定電圧回路4は整流回路3の出力電圧を一定にする。整流回路3で整流された直流電力は漏電検出回路7に供給される。なお、直流側端子3cは正側端子であり、直流側端子3dは負側端子である。
漏電検出回路7は交流電路である1次導体RU、TWの零相電流を検出し、その電流値を判別する。零相電流が所定の値を超えた場合に、出力信号csigを出力する。電磁装置12は電磁巻線を有し、一端は1次導体TWに接続され、他端はテスト回路に接続される。漏電検出回路7の出力信号csigにより制御され、電磁装置12を駆動する駆動スイッチ6を構成するサイリスタ21は、テスト回路の1次導体TW側と、他の1次導体RU側である整流回路3の直流側端子3d側に接続される。なお、図1において漏電検出回路7の出力配線にcsigを付し、この出力配線に信号csigが出力されることを示している。他の図面においてもcsigを同様に付す。
また、実施の形態1における漏電遮断器は、1次導体RU及び1次導体TW毎の過電流を検出し、図示しない引外し部を介して遮断部9の接点を開放させる図示しない過電流検出部を有している。遮断部9の接点の投入は、図示しないハンドルを手動操作することによって行われる。
漏電遮断器のテスト動作について図3及び図4を用いて説明する。図3は漏電遮断器のテスト回路を含む第1の交流回路を示す図であり、図4は漏電遮断器のテスト動作を示すタイムチャートである。図4(a)はテスト電流制限抵抗5に流れる電流Iの波形であり、図4(b)は漏電検出回路7の出力信号csigであり、図4(c)は駆動スイッチ6の導通状態であり、図4(d)は負荷側端子U、W間に印加される電圧Vの波形である。図4(d)の電圧Vが正になるのは、負荷側端子Uを基準として負荷側端子Wに正電圧が印加された場合を示す。
漏電遮断器1の電源側端子R、Uに交流電源が接続され、遮断部9の接点が閉成されている状態を考える。1次導体RU、TW間の交流電圧が電源となるので、図3において負荷側端子U、Wに交流電源が接続された状態である。
まず、テストスイッチ11の接点が開いている場合に、負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して正電圧になると、交流電流は、負荷側端子Wから電磁装置12、コンデンサ8、テスト電流制限抵抗5、整流回路3のダイオード20a、定電圧回路4、整流回路3のダイオード20bを通り負荷側端子Uに流れる。負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して負電圧になると、交流電流は、負荷側端子Uから整流回路3のダイオード20c、定電圧回路4、整流回路3のダイオード20d、テスト電流制限抵抗5、コンデンサ8、電磁装置12を通り負荷側端子Wに流れる。
降圧回路10は、その整流回路3の交流側端子3a、3b間に交流側端子3bを基準にして正電圧が印加されると、ダイオード20a、20bが導通する。ダイオード20a、20bの導通時の抵抗は極めて小さいので、定電圧回路4の両端の電圧が整流回路の交流側端子3a、3b間に生じる。また、整流回路3の交流側端子3a、3b間に交流側端子3bを基準にして負電圧が印加されると、ダイオード20c、20dが導通し、定電圧回路4の両端の電圧が整流回路の交流側端子3a、3b間に生じる。したがって、交流電路の電圧はテスト電流制限抵抗5、コンデンサ8、降圧回路10で分圧される。すなわち
テスト電流制限抵抗5に印加される電圧は、コンデンサ8及び降圧回路10によって交流電路の電圧から降圧され、テスト電流制限抵抗5に交流電路の全電圧が印加されることがない。テスト電流制限抵抗5に印加される電圧が低減されるので、テスト電流制限抵抗5で消費される電力量も低減することができる。また、降圧回路10を漏電検出回路7に直流電力を供給する電源と共有することができるので、漏電検出回路7に直流電力を供給する電源を別途設けなくてもよい。
テストスイッチ11の接点が閉じられると、交流電流は例えば100kΩ程度のインピーダンスを有するコンデンサ8に代わって、コンデンサ8に比べて著しく小さなインピーダンスを有するテスト巻線2bへ流れる。電磁装置12の巻線のインピーダンスもコンデンサ8に比べて著しく小さいため、交流電流はテスト電流制限抵抗5によって所定の電流値に制御される。この所定の電流値の交流電流が疑似漏電電流となる。この場合もテスト電流制限抵抗5に印加される電圧は降圧回路10によって降圧され、テスト電流制限抵抗5に交流電路の全電圧が印加されることがない。テスト電流制限抵抗5に印加される電圧が低減されるので、テスト電流制限抵抗5で消費される電力量も低減することができる。
図4のように時刻tにストスイッチ11が閉じられると、疑似漏電電流がテスト巻線2bに流れ、これによって環状鉄心2cに発生した磁束に対応して2次巻線2aに漏電信号が発生する。この漏電信号が漏電検出回路7に入力され、所定の時限動作時間(ta)の経過後、漏電検出回路7が漏電発生と判定して、出力信号csigを出力する。この出力信号csigを受ける駆動スイッチ6は、交流電圧が正の期間に、サイリスタ21の陽極が陰極に対して正電圧となり導通(ON)し、交流電圧が負の期間に、陽極が陰極に対して負電圧となり非導通(OFF)となる。したがって、テスト電流制限抵抗5に流れる疑似漏電電流は、図4(a)のように駆動スイッチ6が導通(ON)している期間に、駆動スイッチ6によってバイパスされるので、テスト電流制限抵抗5に疑似漏電電流が流れない。このようにテスト電流制限抵抗5に電力が印加される時間が短縮される。
駆動スイッチ6がテスト電流制限抵抗5をバイパスする回路を構成すると、この回路のインピーダンスは極めて小さくなり、疑似漏電電流に比べて大きな電流が流れることで電磁装置12が駆動される。このように駆動スイッチ6は、疑似漏電電流をテスト電流制限抵抗5からバイパスさせると共に大きな電流で電磁装置12を駆動する。
電磁装置12の作動により遮断部9が開極遮断作動する。信号csigが出力されてから電磁装置12が駆動する時間tb、電磁装置12によって引き外し装置13が作動し遮断部9の接点が開離する時間tc、遮断部9の接点に発生するアークが消滅する時間tdの経過後に遮断部9が交流電路を開路することにより、漏電遮断器1の各回路への電圧印加は停止する。時刻tにストスイッチ11が閉じられてから、時間ta、tb、tc、tdの合計時間teの経過後に遮断部9が交流電路を開路して、漏電遮断器1のテスト動作が終了する。
以上のように、この発明の実施の形態1の漏電遮断器によれば、疑似漏電電流を流すテスト電流制限抵抗5と降圧回路を有するテスト回路10を備え、テストの際に一部の時間に疑似漏電電流をテスト電流制限抵抗5からバイパスさせるように構成したので、テストの全期間にわたってテスト電流制限抵抗に負荷側端子U、W間の交流電圧が全て印加され、消費電力量が大きな従来の漏電遮断器とは異なり、テスト電流制限抵抗5に印加される電圧を低減し、テスト電流制限抵抗5に電圧が印加される時間を短縮することで、テスト電流制限抵抗5での消費電力量を低減することができる。
また、テスト電流制限抵抗5に印加される電圧を低減し、テスト電流制限抵抗5での消費電力量を低減したので、テスト電流制限抵抗5を小形で、印加電力および電力容量の小さい抵抗を使用できる。小さな抵抗器を適用することにより、抵抗器の実装領域を狭くすることができる。
また、小形の抵抗器としてチップ抵抗を使用するができる。これにより自動機を使用して高速に抵抗器を実装することができる。
なお、駆動スイッチ6として、電磁装置12から整流回路3の直流側端子3d側へ電流が流れるサイリスタ21で説明したが、図5の第2の交流回路に示すように整流回路3の直流側端子3d側から電磁装置12へ電流が流れるように接続したサイリスタ21を適用してもよい。
テストスイッチ11の接点が閉じられると、漏電検出回路7が漏電発生と判定して、出力信号csigを出力する。この出力信号csigを受ける駆動スイッチ6は、負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して正電圧になると非導通となる。この場合、電流は負荷側端子Wから電磁装置12、テスト巻線2b、テスト電流制限抵抗5、ダイオード20a、定電圧回路4、ダイオード20bを通って負荷側端子Uに流れる。負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して負電圧になると駆動スイッチ6は導通する。この場合、電流は負荷側端子Uからダイオード20c、定電圧回路4、駆動スイッチ6、電磁装置12を通って負荷側端子Wに流れる。
したがって駆動スイッチ6は、第1の交流回路と同様に、疑似漏電電流をテスト電流制限抵抗5からバイパスさせると共に大きな電流で電磁装置12を駆動する。
また、駆動スイッチ6として、図6の第3の交流回路に示すように電磁装置12と整流回路3の直流側端子3d側との間を双方向に電流が流れるように接続したトライアック22を適用してもよい。この場合、テスト動作を示すタイムチャートは図7のようになり、負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して正電圧になる期間及び負電圧になる期間に、疑似漏電電流をテスト電流制限抵抗5からバイパスさせると共に大きな電流で電磁装置12を駆動する。この第3の交流回路の場合は、第1及び第2の交流電路に比べてテスト電流制限抵抗5に電圧が印加される時間をさらに短縮することがでる。これにより、テスト電流制限抵抗5での消費電力量をさらに低減することができる。
なお、図6に示した第3の交流回路の場合、駆動スイッチ6は2つのサイリスタで、互いの陽極と陰極を接続し、制御電極を共通接続したものでも構わない。
実施の形態2.
図8は、この発明の実施の形態2における漏電遮断器の構成を示すブロック図である。実施の形態1とは、駆動スイッチ6がテスト電流制限抵抗5及びコンデンサ8の交流電路の一端側、即ち電磁装置12側と、交流電路の他端側である整流回路3の交流側端子3b側との間に接続された点で異なる。
漏電遮断器のテスト動作について図9を用いて説明する。図9は実施の形態2における漏電遮断器のテスト回路を含む第1の交流回路を示す図である。漏電遮断器のテスト動作を示すタイムチャートは図4と同様である。
テストスイッチ11の接点が閉じられると、漏電検出回路7が漏電発生と判定して、出力信号csigを出力する。この出力信号csigを受ける駆動スイッチ6は、負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して正電圧になると導通する。この場合、電流は負荷側端子Wから電磁装置12、駆動スイッチ6を通って負荷側端子Uに流れる。負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して負電圧になると駆動スイッチ6は非導通となる。この場合、電流は負荷側端子Uからダイオード20c、定電圧回路4、ダイオード20d、テスト電流制限抵抗5、テスト巻線2b、電磁装置12を通って負荷側端子Wに流れる。
したがって駆動スイッチ6は、疑似漏電電流をテスト電流制限抵抗5からバイパスさせると共に大きな電流で電磁装置12を駆動する。テスト電流制限抵抗5に流れる疑似漏電電流は、駆動スイッチ6が導通している期間に、駆動スイッチ6にバイパスされるので疑似漏電電流が流れない。したがって、テスト電流制限抵抗5に電圧が印加される時間が短縮できる。
テストスイッチ11が閉じらた後、駆動スイッチ6が非導通の場合、テスト電流制限抵抗5に印加される電圧は降圧回路10によって降圧され、テスト電流制限抵抗5に交流電路の全電圧が印加されることがない。テスト電流制限抵抗5に印加される電圧が低減されるので、テスト電流制限抵抗5で消費される電力量も低減することができる。
なお、駆動スイッチ6として、電磁装置12から整流回路3の交流側端子3b側へ電流が流れるサイリスタ21で説明したが、図10に示す実施の形態2における第2の交流回路のように整流回路3の交流側端子3b側から電磁装置12へ電流が流れるように接続したサイリスタ21を適用してもよい。
テストスイッチ11の接点が閉じられると、漏電検出回路7が漏電発生と判定して、出力信号csigを出力する。この出力信号csigを受ける駆動スイッチ6は、負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して正電圧になると非導通となる。この場合、電流は負荷側端子Wから電磁装置12、テスト巻線2b、テスト電流制限抵抗5、ダイオード20a、定電圧回路4、ダイオード20bを通って負荷側端子Uに流れる。負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して負電圧になると駆動スイッチ6は導通する。この場合、電流は負荷側端子Uから駆動スイッチ6、電磁装置12を通って負荷側端子Wに流れる。
したがって駆動スイッチ6は、第1の交流回路と同様に、疑似漏電電流をテスト電流制限抵抗5からバイパスさせると共に大きな電流で電磁装置12を駆動する。
また、駆動スイッチ6として、図11に示す実施の形態2における第3の交流回路のように電磁装置12と整流回路3の交流側端子3b側との間を双方向に電流が流れるように接続したトライアック22を適用してもよい。この場合、テスト動作を示すタイムチャートは図7のようになり、負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して正電圧になる期間及び負電圧になる期間に、疑似漏電電流をテスト電流制限抵抗5からバイパスさせると共に大きな電流で電磁装置12を駆動する。この第3の交流回路の場合は、第1及び第2の交流電路に比べてテスト電流制限抵抗5に電圧が印加される時間をさらに短縮することがでる。これにより、テスト電流制限抵抗5での消費電力量をさらに低減することができる。
なお、図6に示した第3の交流回路の場合、駆動スイッチ6は2つのサイリスタで、互いの陽極と陰極を接続し、制御電極を共通接続したものでも構わない。
以上のように、実施の形態2の漏電遮断器は、実施の形態1と同様の効果が得られる。なお、駆動スイッチ6が導通している期間は整流回路3により直流電力への変換は行われないが、このようであっても一度駆動スイッチ6が導通すれば電磁装置12が駆動されて遮断部9が開路し、漏電遮断器のテスト動作を終了することができる。
実施の形態3.
図12は、この発明の実施の形態3における漏電遮断器の構成を示すブロック図である。実施の形態1とは、駆動スイッチ6がテスト電流制限抵抗5及びコンデンサ8の交流電路の一端側、即ち電磁装置12側と、交流電路の他端側である整流回路3の交流側端子3a側との間に接続された点で異なる。
漏電遮断器のテスト動作について図13を用いて説明する。図13は実施の形態3における漏電遮断器のテスト回路を含む第1の交流回路を示す図である。漏電遮断器のテスト動作を示すタイムチャートは図4と同様である。
テストスイッチ11の接点が閉じられると、漏電検出回路7が漏電発生と判定して、出力信号csigを出力する。この出力信号csigを受ける駆動スイッチ6は、負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して正電圧になると導通する。この場合、電流は負荷側端子Wから電磁装置12、駆動スイッチ6、ダイオード20a、定電圧回路4、ダイオード20bを通って負荷側端子Uに流れる。負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して負電圧になると駆動スイッチ6は非導通となる。この場合、電流は負荷側端子Uからダイオード20c、定電圧回路4、ダイオード20d、テスト電流制限抵抗5、テスト巻線2b、電磁装置12を通って負荷側端子Wに流れる。
以上のように駆動スイッチ6は、疑似漏電電流をテスト電流制限抵抗5からバイパスさせると共に大きな電流で電磁装置12を駆動する。テスト電流制限抵抗5に流れる疑似漏電電流は、駆動スイッチ6が導通している期間に、駆動スイッチ6にバイパスされるので疑似漏電電流が流れない。したがって、テスト電流制限抵抗5に電圧が印加される時間が短縮できる。
テストスイッチ11が閉じらた後、駆動スイッチ6が非導通の場合、テスト電流制限抵抗5に印加される電圧は降圧回路10によって降圧され、テスト電流制限抵抗5に交流電路の全電圧が印加されることがない。テスト電流制限抵抗5に印加される電圧が低減されるので、テスト電流制限抵抗5で消費される電力量も低減することができる。
なお、駆動スイッチ6として、電磁装置12から整流回路3の交流側端子3a側へ電流が流れるサイリスタ21で説明したが、図14に示す実施の形態3における第2の交流回路のように整流回路3の交流側端子3a側から電磁装置12へ電流が流れるように接続したサイリスタ21を適用してもよい。
テストスイッチ11の接点が閉じられると、漏電検出回路7が漏電発生と判定して、出力信号csigを出力する。この出力信号csigを受ける駆動スイッチ6は、負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して正電圧になると非導通となる。この場合、電流は負荷側端子Wから電磁装置12、テスト巻線2b、テスト電流制限抵抗5、ダイオード20a、定電圧回路4、ダイオード20bを通って負荷側端子Uに流れる。負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して負電圧になると駆動スイッチ6は導通する。この場合、電流は負荷側端子Uからダイオード20c、定電圧回路4、ダイオード20d、駆動スイッチ6、電磁装置12を通って負荷側端子Wに流れる。
以上のように駆動スイッチ6は、第1の交流回路と同様に、疑似漏電電流をテスト電流制限抵抗5からバイパスさせると共に大きな電流で電磁装置12を駆動する。
また、駆動スイッチ6として、図15に示す実施の形態3における第3の交流回路のように電磁装置12と整流回路3の交流側端子3a側との間を双方向に電流が流れるように接続したトライアック22を適用してもよい。この場合、テスト動作を示すタイムチャートは図7のようになり、負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して正電圧になる期間及び負電圧になる期間に、疑似漏電電流をテスト電流制限抵抗5からバイパスさせると共に大きな電流で電磁装置12を駆動する。この第3の交流回路の場合は、第1及び第2の交流電路に比べてテスト電流制限抵抗5に電圧が印加される時間をさらに短縮することがでる。これにより、テスト電流制限抵抗5での消費電力量をさらに低減することができる。
なお、図6に示した第3の交流回路の場合、駆動スイッチ6は2つのサイリスタで、互いの陽極と陰極を接続し、制御電極を共通接続したものでも構わない。
以上のように、実施の形態3の漏電遮断器は、実施の形態1と同様の効果が得られる。
実施の形態4.
図16は、この発明の実施の形態4における漏電遮断器の構成を示すブロック図である。実施の形態1とは、駆動スイッチ6がテスト電流制限抵抗5及びコンデンサ8の交流電路の一端側、即ち電磁装置12側と交流電路の他端側である整流回路3の直流側端子3c側との間に接続された点で異なる。
漏電遮断器のテスト動作について図17を用いて説明する。図17は実施の形態4における漏電遮断器のテスト回路を含む第1の交流回路を示す図である。漏電遮断器のテスト動作を示すタイムチャートは図4と同様である。
テストスイッチ11の接点が閉じられると、漏電検出回路7が漏電発生と判定して、出力信号csigを出力する。この出力信号csigを受ける駆動スイッチ6は、負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して正電圧になると導通する。この場合、電流は負荷側端子Wから電磁装置12、駆動スイッチ6、定電圧回路4、ダイオード20bを通って負荷側端子Uに流れる。負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して負電圧になると駆動スイッチ6は非導通となる。この場合、電流は負荷側端子Uからダイオード20c、定電圧回路4、ダイオード20d、テスト電流制限抵抗5、テスト巻線2b、電磁装置12を通って負荷側端子Wに流れる。
したがって駆動スイッチ6は、疑似漏電電流をテスト電流制限抵抗5からバイパスさせると共に大きな電流で電磁装置12を駆動する。テスト電流制限抵抗5に流れる疑似漏電電流は、駆動スイッチ6が導通している期間に、駆動スイッチ6にバイパスされるので疑似漏電電流が流れない。したがって、テスト電流制限抵抗5に電圧が印加される時間が短縮できる。
テストスイッチ11が閉じらた後、駆動スイッチ6が非導通の場合、テスト電流制限抵抗5に印加される電圧は降圧回路10によって降圧され、テスト電流制限抵抗5に交流電路の全電圧が印加されることがない。テスト電流制限抵抗5に印加される電圧が低減されるので、テスト電流制限抵抗5で消費される電力量も低減することができる。
なお、駆動スイッチ6として、電磁装置12から整流回路3の直流側端子3c側へ電流が流れるサイリスタ21で説明したが、図18に示す実施の形態4における第2の交流回路のように整流回路3の直流側端子3c側から電磁装置12へ電流が流れるように接続したサイリスタ21を適用してもよい。
テストスイッチ11の接点が閉じられると、漏電検出回路7が漏電発生と判定して、出力信号csigを出力する。この出力信号csigを受ける駆動スイッチ6は、負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して正電圧になると非導通となる。この場合、電流は負荷側端子Wから電磁装置12、テスト巻線2b、テスト電流制限抵抗5、ダイオード20a、定電圧回路4、ダイオード20bを通って負荷側端子Uに流れる。負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して負電圧になると駆動スイッチ6は導通する。この場合、電流は負荷側端子Uからダイオード20c、駆動スイッチ6、電磁装置12を通って負荷側端子Wに流れる。
以上のように駆動スイッチ6は、第1の交流回路と同様に、疑似漏電電流をテスト電流制限抵抗5からバイパスさせると共に大きな電流で電磁装置12を駆動する。
また、駆動スイッチ6として、図19に示す実施の形態4における第3の交流回路のように電磁装置12と整流回路3の直流側端子3c側との間を双方向に電流が流れるように接続したトライアック22を適用してもよい。この場合、テスト動作を示すタイムチャートは図7のようになり、負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して正電圧になる期間及び負電圧になる期間に、疑似漏電電流をテスト電流制限抵抗5からバイパスさせると共に大きな電流で電磁装置12を駆動する。この第3の交流回路の場合は、第1及び第2の交流電路に比べてテスト電流制限抵抗5に電圧が印加される時間をさらに短縮することがでる。これにより、テスト電流制限抵抗5での消費電力量をさらに低減することができる。
なお、図19に示した第3の交流回路の場合、駆動スイッチ6は2つのサイリスタで、互いの陽極と陰極を接続し、制御電極を共通接続したものでも構わない。
以上のように、実施の形態4の漏電遮断器は、実施の形態1と同様の効果が得られる。なお、第2の交流電路に駆動スイッチ6が導通する場合及び第3の交流電路で電磁装置12側へ電流が流れるように駆動スイッチ6が導通する場合に、整流回路3の直流側端子3c側の電圧は急速に低下するが、このようであっても一度駆動スイッチ6が導通すれば電磁装置12が駆動されて遮断部9が開路し、漏電遮断器のテスト動作を終了することができる。
実施の形態5.
図20は、この発明の実施の形態5における漏電遮断器の構成を示すブロック図である。実施の形態1乃至4とは、降圧回路10が漏電検出回路7に直流電力を供給する整流回路3及び定電圧回路4と共用することなく、独立に設けられた点で異なる。
降圧回路10は、例えばコンデンサ14であり、テスト回路は直列に接続されたテスト電流制限抵抗5、テストスイッチ11、テスト巻線2b、降圧回路10を有している。駆動スイッチ6は、交流電路の一端側と他端側との間、即ちテスト回路の両端に接続される。図20の交流回路において、駆動スイッチ6であるサイリスタ21は電磁装置12から負荷側端子Uへ電流が流れるように接続されている。
漏電遮断器のテスト動作について図21を用いて説明する。図21は実施の形態5における漏電遮断器のテスト回路を含む第1の交流回路を示す図である。漏電遮断器のテスト動作を示すタイムチャートは図4と同様である。
テストスイッチ11の接点が閉じられると、漏電検出回路7が漏電発生と判定して、出力信号csigを出力する。この出力信号csigを受ける駆動スイッチ6は、負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して正電圧になると導通する。この場合、電流は負荷側端子Wから電磁装置12、駆動スイッチ6を通って負荷側端子Uに流れる。負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して負電圧になると駆動スイッチ6は非導通となる。この場合、電流は負荷側端子Uから降圧回路10、テスト電流制限抵抗5、テスト巻線2b、電磁装置12を通って負荷側端子Wに流れる。
以上のように駆動スイッチ6は、疑似漏電電流をテスト電流制限抵抗5からバイパスさせると共に大きな電流で電磁装置12を駆動する。テスト電流制限抵抗5に流れる疑似漏電電流は、駆動スイッチ6が導通している期間に、駆動スイッチ6にバイパスされるので疑似漏電電流が流れない。したがって、テスト電流制限抵抗5に電圧が印加される時間が短縮できる。
テストスイッチ11が閉じらた後、駆動スイッチ6が非導通の場合、テスト電流制限抵抗5に印加される電圧は降圧回路10によって降圧され、テスト電流制限抵抗5に交流電路の全電圧が印加されることがない。テスト電流制限抵抗5に印加される電圧が低減されるので、テスト電流制限抵抗5で消費される電力量も低減することができる。
なお、駆動スイッチ6として、電磁装置12から負荷側端子Uへ電流が流れるサイリスタ21で説明したが、図22に示す実施の形態4における第2の交流回路のように負荷側端子Uから電磁装置12へ電流が流れるように接続したサイリスタ21を適用してもよい。
テストスイッチ11の接点が閉じられると、漏電検出回路7が漏電発生と判定して、出力信号csigを出力する。この出力信号csigを受ける駆動スイッチ6は、負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して正電圧になると非導通となる。この場合、電流は負荷側端子Wから電磁装置12、テスト巻線2b、テスト電流制限抵抗5、降圧回路10を通って負荷側端子Uに流れる。負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して負電圧になると駆動スイッチ6は導通する。この場合、電流は負荷側端子Uから駆動スイッチ6、電磁装置12を通って負荷側端子Wに流れる。
したがって駆動スイッチ6は、第1の交流回路と同様に、疑似漏電電流をテスト電流制限抵抗5からバイパスさせると共に大きな電流で電磁装置12を駆動する。
また、駆動スイッチ6として、図23に示す実施の形態5における第3の交流回路のように電磁装置12と負荷側端子Uとの間を双方向に電流が流れるように接続したトライアック22を適用してもよい。この場合、テスト動作を示すタイムチャートは図7のようになり、負荷側端子Wが負荷側端子Uに対して正電圧になる期間及び負電圧になる期間に、疑似漏電電流をテスト電流制限抵抗5からバイパスさせると共に大きな電流で電磁装置12を駆動する。この第3の交流回路の場合は、第1及び第2の交流電路に比べてテスト電流制限抵抗5に電圧が印加される時間をさらに短縮することがでる。これにより、テスト電流制限抵抗5での消費電力量をさらに低減することができる。
なお、図23に示した第3の交流回路の場合、駆動スイッチ6は2つのサイリスタで、互いの陽極と陰極を接続し、制御電極を共通接続したものでも構わない。
以上のように、実施の形態5の漏電遮断器は、実施の形態1と同様の効果が得られる。また、降圧回路10は漏電検出回路7に直流電力を供給する電源と共用することがないので、降圧回路10が降圧する電圧を任意に選定することができる。したがって降圧回路10による降下電圧を高くすることで、実施の形態1乃至4に比べて、テスト電流制限抵抗5に印加される電圧を低くすることができる。テスト電流制限抵抗5に印加される電圧がさらに低減されるので、テスト電流制限抵抗5で消費される電力量もさらに低減することができる。
なお、降圧回路10としてコンデンサ14の例で説明したが、実施の形態1乃至4と同様の整流回路3及び定電圧回路4であっても構わない。
今まで、二相の交流電路を有する漏電遮断器で説明したが、多相の交流電路を有する漏電遮断器にも適用できる。
この発明に係る漏電遮断器は、テスト回路におけるテスト電流制限抵抗に印加される電圧を低減し、テスト電流制限抵抗に電圧が印加される時間を短縮したので、テスト回路を備えた漏電遮断器等に好適に適用できる。
1 漏電遮断器 2 零相変流器
2a 2次巻線 2b テスト巻線
3 整流回路 4 定電圧回路
5 テスト電流制限抵抗 6 駆動スイッチ
7 漏電検出回路 8 コンデンサ
9 遮断部 10 降圧回路
11 テストスイッチ 12 電磁装置
21 サイリスタ 22 トライアック
RU 1次導体 TW 1次導体
csig 出力信号

Claims (6)

  1. 交流電路に挿入され、2次巻線及びテスト巻線を有する零相変流器と、
    この零相変流器の2次巻線に接続され前記交流電路に流れる漏電電流が所定の値を超えた場合に信号を出力する漏電検出回路と、
    この漏電検出回路の信号により前記交流電路に挿入された遮断部を開極する電磁装置と、
    前記漏電検出回路の信号により制御され、前記電磁装置を駆動する駆動スイッチと、
    前記交流電路を電源とし、前記零相変流器に擬似漏電電流を流すようにされたテスト回路とを備えた漏電遮断器であって、
    前記テスト回路は、
    前記交流電路の一端側に直列に接続された抵抗及びコンデンサと、
    前記抵抗及びコンデンサにおける前記交流電路の他端側に接続され、前記抵抗に印加される電圧を降下させる降圧回路と、
    前記コンデンサの両端に接続され、直列に接続されたテストスイッチ及び前記零相変流器のテスト巻線とを有し、
    前記駆動スイッチは前記抵抗及びコンデンサにおける前記交流電路の一端側と前記交流電路の他端側との間に接続され、
    前記電磁装置は前記抵抗及びコンデンサにおける前記交流電路の一端側に接続されたことを特徴とした漏電遮断器。
  2. 交流電路に挿入され、2次巻線及びテスト巻線を有する零相変流器と、
    この零相変流器の2次巻線に接続され前記交流電路に流れる漏電電流が所定の値を超えた場合に信号を出力する漏電検出回路と、
    この漏電検出回路の信号により前記交流電路に挿入された遮断部を開極する電磁装置と、
    前記漏電検出回路の信号により制御され、前記電磁装置を駆動する駆動スイッチと、
    前記交流電路を電源とし、前記零相変流器に擬似漏電電流を流すようにされたテスト回路とを備えた漏電遮断器であって、
    前記テスト回路は、
    前記交流電路の一端側に直列に接続された抵抗、テストスイッチ、前記抵抗に印加される電圧を降下させる降圧回路及び前記零相変流器のテスト巻線とを有する直列体を備え、
    前記駆動スイッチは前記直列体における前記交流電路の一端側と前記交流電路の他端側との間に接続され、
    前記電磁装置は前記直列体における前記交流電路の一端側に接続されたことを特徴とした漏電遮断器。
  3. 前記降圧回路は整流回路と定電圧回路を有することを特徴とした請求項1記載の漏電遮断器。
  4. 前記駆動スイッチはサイリスタであることを特徴とした請求項1乃至3のいずれか1項に記載の漏電遮断器。
  5. 前記駆動スイッチはその接続端の間を双方向に接続することを特徴とした請求項1乃至3のいずれか1項に記載の漏電遮断器。
  6. 前記駆動スイッチはトライアックであることを特徴とした請求項5記載の漏電遮断器。
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CN103647252A (zh) * 2013-12-05 2014-03-19 江苏国星电器有限公司 具有fsk通讯功能的漏电开关
CN110596514A (zh) * 2019-09-17 2019-12-20 深圳市晶扬电子有限公司 漏电检测电路、装置及方法

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