JP2010151784A - 放射emi測定装置 - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 102
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 278
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 30
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 15
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 abstract description 2
- 208000032365 Electromagnetic interference Diseases 0.000 description 54
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000036039 immunity Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
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- Variable-Direction Aerials And Aerial Arrays (AREA)
Abstract
【解決手段】測定用アンテナ2−1,2−2の各位相中心点8−1,8−2が供試機器3に対向して水平に一列に並ぶように、各位相中心点8−1,8−2の高さを合わせて測定用アンテナ2−1,2−2を支持して電磁妨害波を測定する。
【選択図】図1
Description
しかしながら、放射EMI測定のように近傍界における測定では、複数の測定用アンテナの各位相中心と供試機器の一測定点との距離差により、各測定用アンテナの放射パターンを合成する際の位相差に起因した放射パターンの干渉(Null点)が発生して合成放射パターンを均一に成形できない。
図1は、この発明の実施の形態1による放射EMI測定装置の構成を概略的に示す図であり、装置構成は機能ブロックで示し、放射EMI測定における測定用アンテナ及び供試機器の配置を斜視図で示している。図1に示すように、実施の形態1による放射EMI測定装置1は、測定用アンテナ2−1,2−2、合成器(合成手段)4、プリアンプ5及び受信機(受信処理手段)6を備える。また、供試機器3は、電子部品やこれを備えた電子装置などの電子機器であり、ターンテーブル7上に設置される。
先ず、上述した位置関係で測定用アンテナ2−1,2−2及び供試機器3を配置し、ターンテーブル7により供試機器3を鉛直軸中心に回転させる。このとき、供試機器3から放射される電磁妨害波が測定用アンテナ2−1,2−2で受信する。
この実施の形態2では、上記実施の形態1の構成において、一方の測定用アンテナに下向きの角度(俯角)を与え、他方の測定用アンテナに上向きの角度(仰角)を与えた場合を説明する。
この実施の形態3は、上記実施の形態2の構成において、測定用アンテナの台数を3以上の奇数台とし、3以上の奇数台の測定用アンテナの各位相中心点が通る線分の中点に位置する位相中心点に関して左右対称となるように、3以上の奇数台の測定用アンテナのビーム放射方向を水平方向に対して傾斜(仰角、俯角)させて支持した場合を説明する。
この実施の形態4は、上記実施の形態2の構成において、測定用アンテナの台数を4以上の偶数台とし、4以上の偶数台の測定用アンテナの各位相中心点が通る線分の中点に関して左右対称となるように、4以上の偶数台の測定用アンテナのビーム放射方向を水平方向に対して傾斜(仰角、俯角)させて支持した場合を説明する。
この実施の形態5は、上記実施の形態1の構成において、仰角/俯角を23°とした場合である。
w=2dtan(0.5×θ3dB) ・・・(1)
上記式(1)より、上記条件では、3dBビーム幅θ3dBが53.2°となる。
この実施の形態6は、上記実施の形態1の構成において、合成器とRFセレクタとを接続するケーブルを、同等の電気特性で、かつ同じ長さとした場合である。
この実施の形態7は、上記実施の形態1の構成において、測定用アンテナが偏波を共用可能な場合であり、かつ、各々の偏波毎に端子を備えている場合である。
偏波を共用可能な測定用クワッド・リッジホーン・アンテナ15−1,15−2(ここではリッジホーン・アンテナを例とする)は、図18に示すように、水平と垂直の両偏波を1台のアンテナで測定できるように、両偏波のリッジを備え、両偏波の信号を独立して送受信できるように端子を2つ備えている。このアンテナを適用する場合は、測定用アンテナ15−1,15−2の水平偏波用の端子を合成器4−1に接続し、一方、測定用アンテナ15−1,15−2の垂直偏波用の端子を合成器4−2に接続し、RFセレクタ16で所望の偏波面の信号を選択するような構成とする。
Claims (6)
- 供試機器から放射される電磁妨害波を受信する複数の測定用アンテナと、
前記複数の測定用アンテナの各位相中心点が前記供試機器に対向して水平に一列に並ぶように前記各位相中心点の高さを合わせて前記複数の測定用アンテナを支持する位置決め手段と、
前記複数の測定用アンテナの受信出力を合成する合成手段と、
前記合成された信号を入力して前記電磁妨害波を測定する受信処理手段とを備えた放射EMI測定装置。 - 位置決め手段は、複数の測定用アンテナの各偏波面を回転自在に支持することを特徴とする請求項1記載の放射EMI測定装置。
- 複数の測定用アンテナとして2台の測定用アンテナを備え、
位置決め手段は、一方の測定用アンテナのビーム放射方向を水平方向に対して上向きに傾斜させ、他方の測定用アンテナのビーム放射方向を水平方向に対して下向きに傾斜させて支持することを特徴とする請求項1または請求項2記載の放射EMI測定装置。 - 複数の測定用アンテナとして4以上の偶数台の測定用アンテナを備え、
位置決め手段は、前記4以上の偶数台の測定用アンテナの各位相中心点が通る線分の中点に関して左右対称となるように、前記4以上の偶数台の測定用アンテナのビーム放射方向を水平方向に対して傾斜させて支持することを特徴とする請求項1または請求項2記載の放射EMI測定装置。 - 複数の測定用アンテナとして3以上の奇数台の測定用アンテナを備え、
位置決め手段は、前記3以上の奇数台の測定用アンテナの各位相中心点が通る線分の中点に位置する位相中心点に関して左右対称となるように、前記3以上の奇数台の測定用アンテナのビーム放射方向を水平方向に対して傾斜させて支持することを特徴とする請求項1または請求項2記載の放射EMI測定装置。 - 複数の測定用アンテナとして偏波が共用可能な測定用アンテナを備え、
前記測定用アンテナは、各々の偏波毎の端子を備えることを特徴とする請求項1または請求項3記載の放射EMI測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009076430A JP5264588B2 (ja) | 2008-11-20 | 2009-03-26 | 放射emi測定装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008297013 | 2008-11-20 | ||
JP2008297013 | 2008-11-20 | ||
JP2009076430A JP5264588B2 (ja) | 2008-11-20 | 2009-03-26 | 放射emi測定装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013043099A Division JP5769743B2 (ja) | 2008-11-20 | 2013-03-05 | 放射emi測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010151784A true JP2010151784A (ja) | 2010-07-08 |
JP5264588B2 JP5264588B2 (ja) | 2013-08-14 |
Family
ID=42571021
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009076430A Active JP5264588B2 (ja) | 2008-11-20 | 2009-03-26 | 放射emi測定装置 |
JP2013043099A Active JP5769743B2 (ja) | 2008-11-20 | 2013-03-05 | 放射emi測定装置 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013043099A Active JP5769743B2 (ja) | 2008-11-20 | 2013-03-05 | 放射emi測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JP5264588B2 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1062467A (ja) * | 1996-06-12 | 1998-03-06 | Mitsubishi Electric Corp | 不要電磁波測定システム |
JP2006234602A (ja) * | 2005-02-25 | 2006-09-07 | Device Co Ltd | 電磁界測定装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006208019A (ja) * | 2005-01-25 | 2006-08-10 | Candox Systems Inc | 電磁波結合装置 |
-
2009
- 2009-03-26 JP JP2009076430A patent/JP5264588B2/ja active Active
-
2013
- 2013-03-05 JP JP2013043099A patent/JP5769743B2/ja active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1062467A (ja) * | 1996-06-12 | 1998-03-06 | Mitsubishi Electric Corp | 不要電磁波測定システム |
JP2006234602A (ja) * | 2005-02-25 | 2006-09-07 | Device Co Ltd | 電磁界測定装置 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JPN6012068953; 安藤雄二、外6名: 'ハイトスキャンを不要とするGHz帯放射EMI測定システムの試作' 電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集2008年通信(1) , 200809, 243, 電子情報通信学会 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013101159A (ja) | 2013-05-23 |
JP5264588B2 (ja) | 2013-08-14 |
JP5769743B2 (ja) | 2015-08-26 |
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