JP2010147108A - ファイバレーザ装置、レーザ加工装置、及びレーザ加工方法 - Google Patents

ファイバレーザ装置、レーザ加工装置、及びレーザ加工方法 Download PDF

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Abstract

【課題】簡素な構造を保ちつつ、戻り光を低減可能なファイバレーザ装置、レーザ加工装置、及びレーザ加工方法を提供する。
【解決手段】励起光を放出可能な励起光源と、希土類元素が添加されたコアを有し、前記希土類元素が前記励起光を吸収して入射レーザ光を増幅可能なアクティブファイバと、前記アクティブファイバの一方の端部と接続され、前記励起光を前記アクティブファイバへ入射可能なコンバイナと、前記アクティブファイバの他方の端部からの出射レーザ光を伝送し且つ被照射体に向けて照射可能な伝送用ファイバと、前記他方の端部と前記伝送用ファイバとの間に設けられ、前記被照射体からの散乱光及または反射光の少なくともいずれかの一部を分岐して外部に放出することにより前記他方の端部へ向かう戻り光を低減可能なディバイダと、を備えたことを特徴とするファイバレーザ装置、レーザ加工装置、及びレーザ加工方法が提供される。
【選択図】図1

Description

本発明は、ファイバレーザ装置、レーザ加工装置、及びレーザ加工方法に関する。
希土類元素がコアに添加されたアクティブファイバを用いると、励起光を吸収した希土類元素が増幅利得を生じ、レーザ加工装置のレーザ光出力を高めることが容易となる。
被加工体に照射されたレーザ光が反射または散乱されると、その一部は戻り光となってレーザ加工装置の出射端へ再び入射する。レーザ光出力が高くなると、戻り光がレーザ加工装置の内部の光路を逆方向に伝搬し、アクティブファイバ内で増幅されさらに高い光出力となる可能性がある。
このために、ファイバレーザ装置を構成するアクティブファイバ、FBG(Fiber Bragg Grating)、及び励起用半導体レーザなどが破損するおそれがある。
ファイバレーザ装置への戻り光を低減する技術開示例がある(特許文献1)。この技術開示例では、片端面を斜めにカットしたガラススリーブにファイバのコアを通すことにより、戻り光のクラッド伝搬成分がファイバレーザ装置側のクラッドに伝搬することを抑制する。
しかしながら、光ファイバレーザのコアのみを露出し、ガラススリーブ内に通す工程は容易ではなく、構造が複雑となる問題がある。
米国特許第5179610号明細書
簡素な構造を保ちつつ、戻り光を低減可能なファイバレーザ装置、レーザ加工装置、及びレーザ加工方法を提供する。
本発明の一態様によれば、励起光を放出可能な励起光源と、希土類元素が添加されたコアを有し、前記希土類元素が前記励起光を吸収して入射レーザ光を増幅可能なアクティブファイバと、前記アクティブファイバの一方の端部と接続され、前記励起光を前記アクティブファイバへ入射可能なコンバイナと、前記アクティブファイバの他方の端部からの出射レーザ光を伝送し且つ被照射体に向けて照射可能な伝送用ファイバと、前記他方の端部と前記伝送用ファイバとの間に設けられ、前記被照射体からの散乱光及または反射光の少なくともいずれかの一部を分岐して外部に放出することにより前記他方の端部へ向かう戻り光を低減可能なディバイダと、を備えたことを特徴とするファイバレーザ装置が提供される。
また、本発明の他の一態様によれば、上記のファイバレーザ装置と、前記出射レーザ光を被照射体に向けて集光可能な照射光学系と、を備えたことを特徴とするレーザ加工装置が提供される。
また、本発明のさらに他の一態様によれば、上記のレーザ加工装置から前記出射レーザ光を放出し、前記被照射体を加工可能とすることを特徴とするレーザ加工方法が提供される。
簡素な構造を保ちつつ、戻り光を低減可能なファイバレーザ装置、レーザ加工装置、及びレーザ加工方法が提供される。
以下、図面を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明する。
図1は、第1の実施形態にかかるファイバレーザ装置を表す図である。すなわち、図1(a)は構成図、図1(b)はコンバイナの模式図、図1(c)はディバイダの模式図である。
図1(a)のファイバレーザ装置10は、シード光源12、励起光源14、コンバイナ16、アクティブファイバ18、ディバイダ23、及び伝送用ファイバ25を備えている。
シード光源12は、半導体レーザや固体レーザを有しており、シード光(入射レーザ光)G1を放出可能である。シード光G1の波長は、例えば1010nm以上とすることができる。なお、シード光G1は、連続出力でもよく、またパルス出力であってもよい。
励起光源14を、例えば複数の半導体レーザモジュールから構成しそれぞれからの励起光G2を合成すると、その強度を高めることができる。コンバイナ16は、励起光G2を合成してアクティブファイバ18へ入射し、且つシード光G1をアクティブファイバ18のコアへ入射することができる。
このために、コンバイナ16は、第1の信号光伝搬ファイバ50のクラッド50bと、その外縁を囲むように束ねて配置され且つ励起光G2を伝搬可能な第1の枝ファイバ51のコア51aと、が溶融且つ延伸された合成部52を有している。第1の枝ファイバ51のコア51aと、第1の信号光伝搬ファイバ50のクラッド50bと、は、それぞれ石英ガラスなどからなりそれらの境界が溶融された状態となっている。
コンバイナ16の第1の信号光伝搬ファイバ50の一方の端部には、シード光G1が入射する。コンバイナ16の出射端16bと、アクティブファイバ18の一方の端部18aと、は、融着などにより接続される。なお、融着点を●印で表している。
この場合、アクティブファイバ18の内部クラッドの外径DAと、出射端16bにおける合成部52の外径Dと、を略一致させると、より高い結合効率とすることができる。なお、図1(b)では、第1の枝ファイバ51の数は6つとしているが、これに限定されることはない。
また、第1の枝ファイバ51をコア51aの直径が大きいマルチモードファイバとすると、合成部52において第1の信号光伝搬ファイバ50との間で光結合が可能となり、アクティブファイバ18のコア及びクラッド内を励起光G2が伝搬し、コアに添加された希土類元素を効率よく励起可能となる。
アクティブファイバ18のコアにはYb(イッテルビウム)やTm(ツリウム)などの希土類元素が添加されており、励起光G2が伝搬しながらコアの希土類元素に吸収され、シード光G1が誘導放出により増幅されて他方の端部18bから出射レーザ光G3として出射される。
なお、Yb添加アクティブファイバの吸収スペクトルは、910及び975nm近傍の波長において極大となるので、励起光G2の波長をこの近傍とすることにより1010nm以上の広い波長範囲においてレーザ光の増幅及び発振が可能となる。
また、アクティブファイバ18の他方の端部18bには、ディバイダ23、伝送用ファイバ25がこの順序で融着などにより接続される。
ディバイダ23は、第2の信号光伝搬ファイバ60のクラッド60bと、その外縁を囲むように束ねて配置された第2の枝ファイバ61と、が溶融且つ延伸された分岐部62を有している。増幅された出射レーザ光G3はアクティブファイバ18の他方の端部18bから第2の信号光伝搬ファイバ60のコア60aへ入射し、伝送用ファイバ25の出射端から放出される。なお、コンバイナ16と、ディバイダ23と、は、略同一の構造とすることができる。また、コンバイナ16及びディバイダ23の挿入損失は十分に小さいものとする。
伝送用ファイバ25は、ディバイダ23を通過した出射レーザ光G3を加工点近傍まで伝送する。出射レーザ光G3が連続出力の場合、伝送用ファイバ25のコアは、例えば略20μmなどとすることができる。また、パルス出力とする場合、コア径を20〜数百μmの範囲とし、非線形効果による出力低下を抑制するためにはその長さを、例えば数mなどと短くする。
図2は、出射レーザ光が被照射体により散乱されることを説明する模式図である。
出射レーザ光G3は、被照射体29により反射されるが、被照射体29の表面が非鏡面であると散乱が大きくなる。このようにして生じた散乱光及び反射光の一部は、集光レンズ26で集光され、戻り光G5として伝送用ファイバ25の出射端25cから再入射する。すなわち、戻り光G5の波長は、出射レーザ光G3の波長と同一である。
伝送用ファイバ25のコア25aとクラッド25bとの界面で全反射を生じるような角度で出射端25cのコア25a領域に再入射した戻り光は、コア25a内をディバイダ23の方向へ向かって伝搬する。
他方、端面25cのクラッド25b領域へ再入射した戻り光はクラッド25b内をディバイダ23の方向へ向かって伝搬する。散乱光及び反射光は集光レンズ26に入射するまでに広がり、且つクラッド25bの断面積はコア25aの断面積よりも大きいので、クラッド25b内を伝搬可能な戻り光は、コア25a内を伝搬する戻り光よりも強度が高くなることが多い。
戻り光G5は、伝送用ファイバ25を伝搬したのちディバイダ23へ入射する。ディバイダ23の分岐部62において、第2の枝ファイバ61を6つとし、それぞれの枝ファイバ61のコア61aの直径と第2の信号光伝搬ファイバ61のクラッド60bの直径とを略同一とすると、第2の枝ファイバ61の1つに入射する戻り光G5bの強度は、戻り光G5の強度の略7分の1となる。第2の枝ファイバ61にそれぞれ導かれた6つの戻り光G5bは、外部へそれぞれ放出可能である。
また、第2の信号光伝搬ファイバ60へ入射する戻り光G5aの強度は、例えば戻り光G5の強度の略7分の1程度に低減される。第2の信号光伝搬ファイバ60はアクティブファイバ18の端部18bと融着されており、戻り光G5aの内の一部はアクティブファイバ18のコアを伝搬する期間内に増幅されるが、アクティブファイバ18へ入射可能な戻り光G5aは低減されているのでその増幅出力が低減される。戻り光G5aの一部は増幅されアクティブファイバ18から出射され、コンバイナ16を逆方向に進む期間内に第1の枝ファイバ51にそれぞれ分岐され、励起光源14へ入射する。
この場合、アクティブファイバ18へ入射可能な戻り光量は、ディバイダ23により略7分の1に低減されているので、励起光源14を破損するほど高い強度まで増幅されることが抑制可能である。また、第1の信号光伝搬ファイバ50を逆方向に進む増幅された戻り光により、シード光源12が破損することを抑制可能となる。
特にパルス出力の場合には、アクティブファイバ18に励起エネルギーが十分に蓄積されていることが多く戻り光のピーク出力が過大になることがあるが、本実施形態によりファイバレーザ装置の保護が容易となる。
図3は、第1の実施形態の変形例の構成図である。この変形例では、ディバイダ23が2つ縦続接続されている。ディバイダ23を図1と同一構造とすると、2つのディバイダ23を通過したのち、第2の信号光伝搬ファイバ60からアクティブファイバ18へ戻る光の強度は戻り光G5の略49分の1に低減可能であり、アクティブファイバ18及び励起光源14の保護がより容易となる。
図4は、比較例にかかるファイバレーザ装置を説明する模式図である。
図4の増幅器において、出射レーザ光G13が被照射体により反射及び散乱され、伝送用ファイバへ再入射した戻り光G15はその光量が低減されることなくアクティブファイバ118に入射され、コアを通過する期間に増幅される。このようにして戻り光G15が増幅されて増幅光G18となる。
増幅光G18のうち、コンバイナ116を逆方向に進む期間内に第1の枝ファイバにそれぞれ分岐された増幅光G18bは、それぞれの励起光源114へと入射する。伝送用ファイバ125へ入射した戻り光は低減されずそのまま伝搬するので、励起光源114に入射する戻り光G18bの強度は高くなり励起光源114を破損する場合を生じる。励起光源114は、例えば半導体レーザモジュールを数十以上用いることもあり、高価であり且つ修理コストがかさむ。また、増幅光G18のうち、シード光源112へ進む増幅光G18aの強度も高くなるので、シード光源112を破損する場合を生じる。
これに対して、第1の実施形態では、第2の枝ファイバ61に戻り光G5bを分岐させて放出し、アクティブファイバ18への戻り光G5aを低減でき、アクティブファイバ18、励起光源14、及びシード光源12の保護が容易となり、ファイバレーザ装置の信頼性が改善される。また、コンバイナ16及びディバイダ23は、束ねられたファイバを溶融且つ延伸することにより製造できるので、製造プロセスは簡素であり、ファイバレーザ装置の小型化及び軽量化が容易となる。
図5は、第2の実施形態にかかるファイバレーザ装置を表す構成図である。
励起光G2が入射するコンバイナ16と、これと融着されたアクティブファイバ18と、を挟んで、第1のFBG30と第2のFBG32とが両側に配置されている。FBGは、信号光を伝搬可能なファイバのコアに屈折率を周期的に変化させた回折格子を有している。このために、回折格子のブラッグ波長に相当する波長成分が反射され、残りの波長成分は透過される。
第1のFBG30のブラッグ波長と、第2のFBG32のブラッグ波長と、を同一とすると光共振器が構成される。また、第1のFBG30ではブラッグ波長における反射率を100%に近くし、第2のFBG32ではブラッグ波長における反射率を第1のFBG30の反射率よりも低くする。このようにすると、第1及び第2のFBG30、32のブラッグ波長で発振したレーザ光の一部を、第2のFBG32から取り出し、ディバイダ23及び伝送用ファイバ25を介して被照射体に向けて放出可能とするファイバレーザ装置11が構成できる。なお、出射レーザ光G3は連続出力とすることも、またパルス出力とすることもできる。
この場合にも、ディバイダ23により戻り光G5のうちのG5bが外部に放出され、戻り光G5aのみが残る。FBG30、32の回折格子はコアに設けられているので、戻り光G5aの一部がアクティブファイバ18により増幅されその強度が高くなりすぎると第1のFBG30が破壊されることがある。本実施形態では、アクティブファイバ18への戻り光が低減されるのでFBGの破壊を抑制可能である。なお、この場合、シード光源を省略可能である。
図6は、第3の実施形態にかかるファイバレーザ装置の構成図である。
本実施形態は安全装置を備えている。すなわち、戻り光量の検知用センサ70が戻り光G5bの量をモニタ可能であり、戻り光量が過大となると、警報を出したり、ファイバレーザ装置10の動作を停止可能とし装置を保護することができる。検知用センサ70としては、例えばフォトダイオードなどを用いた光電センサやパワーメータなどを用いた熱電センサなどとすることができる。
図7は、第4の実施形態にかかるファイバレーザ装置を表す図である。すなわち、図7(a)はその構成図、図7(b)は光アイソレータの順方向の光路、図7(c)は光アイソレータの逆方向の光路、を表す。
図7(a)のように、ディバイダ23と、アクティブファイバ18と、の間に、光アイソレータ72を配置する。ディバイダ23は主として被照射体からの戻り光のうち、伝送用ファイバ25のクラッド25bに入射した戻り光を低減可能である。また、光アイソレータ72は主としてディバイダ23の第2の信号光伝搬ファイバ60をコンバイナ16に向かう戻り光G5aのうち、コア60a内を戻る光を抑制可能である。
光アイソレータ72は、第1の複屈折素子80、ファラデーロテータ82、光軸方向への磁界を生成する磁石84、2分の1波長板86、及び第2の複屈折素子81を有する。図7(b)において、コアからの出射レーザ光G3が光アイソレータ72に入射すると、偏波方向に応じて第1の複屈折素子80で分かれた光は第2の複屈折素子81を出射すると再び光軸が合わされて進む。
他方、図7(c)において、第2の信号光伝搬ファイバ60からの戻り光G5aのうちコア60aから出射された戻り光は、第2及び第1の複屈折素子81、80に入射する場合に光路が離間し図7(b)における出射レーザ光G3の入射点に戻ることはない。このようにして、入射する光の偏光状態に依存せず、アクティブファイバ18のコアへ戻る戻り光の量を低減することができる。
高出力レーザ光が通過可能な偏光無依存型光アイソレータでは、ビーム径を大きくし、各光学素子へのダメージをさけることが必要である。本実施形態では、ディバイダ23によりクラッドを通過する戻り光を低減し、光アイソレータ72は主としてアクティブファイバ18のコアへ入射する戻り光を低減し、アクティブファイバ18のコアから放出される増幅戻り光によるFBG30及びシード光源12の破損を抑制するようにする。
もし、ディバイダ23を設けないと、第2の信号光伝搬ファイバ60から出射された戻り光G5aのうち、クラッド60bから出射された戻り光が図7(b)の出射レーザ光G3を出射するファイバのクラッドへ入射する可能性がある。クラッドに入射された戻り光はアクティブファイバ18を伝搬する期間に増幅され、励起光源14を破損することがあるので好ましくない。これを抑制するには、第1の複屈折素子80から出射する戻り光の光路が、出射レーザ光G3の入射位置からさらに離間することが必要になる。すなわち、複屈折素子80、81、ファラデーロテータ82、及び磁石84をさらに大型化することが必要になり、ファイバレーザ装置の大型化及び高価格化をまねくので好ましくない。
図8は、本実施形態にかかるファイバレーザ装置を用いたレーザ加工装置の構成図である。
本レーザ加工装置は、ファイバレーザ装置10と、ファイバレーザ装置10からの出射レーザ光G3を集光する照射光学部90と、被照射体となる被加工体92を載置するステージ94と、を備えている。出射レーザ光G3を、被加工体92上にスキャン可能とすると生産性の高いレーザ加工装置とできる。
照射光学系90は、図2のように集光レンズのみとしてもよいが、一旦平行光として所定距離を伝搬したのち再び集光する光学系とすることもできる。また、加工点WPは合焦点としても、またオフセットとしてもよい。
出射レーザ光G3が被加工体92で反射または散乱し、戻り光G5となり伝送用ファイバ25を逆方向に伝搬しても、ディバイダ23の第2の枝ファイバ61から外部に放出されて、ファイバレーザ増幅器10またはファイバレーザ発振器11に過大な戻り光が入射することが抑制可能である。
本実施形態のレーザ加工装置は、戻り光による破損を抑制可能であり、装置の信頼性を向上することが可能となる。また、装置の構造が簡素であり、小型化及び低価格化が容易となる。
さらに、本レーザ加工装置を用いると、薄膜加工工程、パッケージ表面へのマーキング工程、液晶表示装置のリペア工程、及び半導体材料のアニール工程、など電子デバイス製造プロセスの生産性を高めることが容易なレーザ加工方法が提供される。また、レーザ光の光出力をさらに高めると、金属の切断や溶接などが容易となる。
以上、図面を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明した。しかしながら、本発明はこれらの実施形態に限定されない。本発明を構成するアクティブファイバ、コンバイナ、枝ファイバ、信号光伝搬ファイバ、励起光源、シード光源、光アイソレータ、照射光学系、伝送用ファイバ、及びFBG、の材質、サイズ、形状、配置などに関して、当業者が各種設計変更を行ったものであっても、本発明の主旨を逸脱しない限り本発明の範囲に包含される。
第1の実施形態にかかるファイバレーザ装置を表す図 出射レーザ光の散乱を説明する模式図 第1の実施形態の変形例にかかるファイバレーザ装置を表す図 比較例にかかるファイバレーザ装置の構成図 第2の実施形態にかかるファイバレーザ装置を表す図 第3の実施形態にかかるファイバレーザ装置を表す図 第4の実施形態にかかるファイバレーザ装置を表す図 本実施形態のレーザ加工装置の構成図
符号の説明
10 ファイバレーザ装置(増幅器)、11 ファイバレーザ装置(発振器)、 12 シード光源、14 励起光源、16 コンバイナ、18 アクティブファイバ、23 ディバイダ、25 伝送用ファイバ、50 第1の信号光伝搬ファイバ、51 第1の枝ファイバ、52 合成部、60 第2の信号光伝搬ファイバ、61 第2の枝ファイバ、62 分岐部、30、32 FBG、70 検知用センサ、72 光アイソレータ、90 照射光学部、92 被加工体、94 ステージ、G1 シード光、G2 励起光、G3 出射レーザ光、G5 戻り光

Claims (9)

  1. 励起光を放出可能な励起光源と、
    希土類元素が添加されたコアを有し、前記希土類元素が前記励起光を吸収して入射レーザ光を増幅可能なアクティブファイバと、
    前記アクティブファイバの一方の端部と接続され、前記励起光を前記アクティブファイバへ入射可能なコンバイナと、
    前記アクティブファイバの他方の端部からの出射レーザ光を伝送し且つ被照射体に向けて照射可能な伝送用ファイバと、
    前記他方の端部と前記伝送用ファイバとの間に設けられ、前記被照射体からの散乱光及または反射光の少なくともいずれかの一部を分岐して外部に放出することにより前記他方の端部へ向かう戻り光を低減可能なディバイダと、
    を備えたことを特徴とするファイバレーザ装置。
  2. 前記コンバイナは、第1の信号光伝搬ファイバの一部と、前記第1の信号光伝搬ファイバの外縁を囲むように設けられ且つ前記励起光を伝搬可能な第1の枝ファイバの一部と、が束ねられて溶融且つ延伸された合成部を有し、
    前記ディバイダは、第2の信号光伝搬ファイバとの一部と、前記第2の信号光伝搬ファイバの外縁を囲むように設けられ且つ前記戻り光の一部を外部に放出可能とする第2の枝ファイバの一部と、が束ねられて溶融且つ延伸された分岐部を有することを特徴とする請求項1記載のファイバレーザ装置。
  3. 前記第2の枝ファイバの少なくとも1つからの放出光を検出する検出手段をさらに備えたことを特徴とする請求項2記載のファイバレーザ装置。
  4. 前記入射レーザ光を放出可能なシード光源をさらに備え、
    前記入射レーザ光は、前記コンバイナを介して前記一方の端部へ入射され、
    前記出射レーザ光は、前記入射レーザ光が増幅されたレーザ光であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載のファイバレーザ装置。
  5. 前記他方の端部と前記ディバイダとの間に設けられた光アイソレータをさらに備えたことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1つに記載のファイバレーザ装置。
  6. 前記アクティブファイバと接続されない側の前記コンバイナの端部に接続された第1のファイバ・ブラッグ・グレーティングと、
    前記アクティブファイバと前記ディバイダとの間に設けられた第2のファイバ・ブラッグ・グレーティングと、
    をさらに備え、
    前記出射レーザ光は、前記第1及び第2のファイバ・ブラッグ・グレーティングにより形成された光共振器から取り出された発振光であることを特徴とする請求項1または2に記載のファイバレーザ装置。
  7. 前記第2のファイバ・ブラッグ・グレーティングと前記ディバイダとの間に設けられた光アイソレータをさらに備えたことを特徴とする請求項6記載のファイバレーザ装置。
  8. 請求項1〜7のいずれか1つに記載のファイバレーザ装置と、
    前記出射レーザ光を被照射体に向けて集光可能な照射光学系と、
    を備えたことを特徴とするレーザ加工装置。
  9. 請求項8記載のレーザ加工装置から前記出射レーザ光を放出し、前記被照射体を加工することを特徴とするレーザ加工方法。
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