JP2010135249A - Socket for semiconductor package - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、BGAパッケージやLGAパッケージなどのLSIパッケージ(半導体パッケージ)が装填される半導体パッケージ用ソケットに関するものである。 The present invention relates to a semiconductor package socket into which an LSI package (semiconductor package) such as a BGA package or an LGA package is loaded.
半導体パッケージの一つとして知られているBGA(Ball grid array) パッケージやLGA(Land grid array) パッケージなどのLSIパッケージは、検査装置の検査用ソケットに装填された状態で通電して検査が行われる。また、この種のLSIパッケージは、ソケットを用いることによって、プリント配線板に着脱可能となるように実装することができる。 LSI packages such as BGA (Ball grid array) packages and LGA (Land grid array) packages, which are known as one of semiconductor packages, are inspected by energizing them while they are loaded in an inspection socket of an inspection device. . Also, this type of LSI package can be mounted on a printed wiring board so as to be detachable by using a socket.
従来のLSIパッケージ用ソケットとしては、たとえば図4および図5に示すように構成されたものがある。図4に示すLSIパッケージ用ソケット1は、LSIパッケージ2(同図においてはLGAパッケージ)が装填される装填部3を有するソケット本体4と、LSIパッケージ2を前記装填部3内に保持するためのカバー5と、前記ソケット本体4に設けられた多数のピン6などを備えている。
As a conventional LSI package socket, for example, there is one configured as shown in FIGS. The LSI package socket 1 shown in FIG. 4 includes a
前記ソケット本体4は、平面視において四角形状に形成されており、そのたとえば四隅を貫通する取付用ボルト7(図5参照)によってプリント基板(PWB)8に取付けられている。前記カバー5は、ソケット本体4の一側部に揺動自在に支持されており、ソケット本体4と協働してLSIパッケージ2を挟持するように構成されている。
前記ピン6は、図4において上端部がLSIパッケージ2の多数の電極パッド2aに接触し、下端部がプリント配線板の電極パッド(図示せず)に接触するようにソケット本体4に立設されている。
The
In FIG. 4, the
従来のLSIパッケージ用ソケット1に用いられているピン6としては、たとえば特許文献1に記載されているものがある。特許文献1に開示されたピンは、円筒状に形成されたバレルと、このバレルの両端部に移動可能に保持された一対のプランジャと、これらのプランジャをバレルから突出する方向に付勢する圧縮コイルばねとから構成されている。
Examples of the
図4および図5に示すように構成されたLSIパッケージ用ソケット1を使用してLSIパッケージ2の検査を行うためには、ピン6をプリント基板8の電極パッドとLSIパッケージ2の電極パッド2aとに確実に接触させることが必要である。近年の高速多ピンのLSIパッケージの検査を行う場合、この種のLSIパッケージは消費電力が相対的に大きいものであるために、ピンを電極パッドに確実に接触させることが安定した検査を行ううえで重要である。
In order to inspect the
LSIパッケージ用ソケット1の製造上の精度は、ピン6が狭ピッチで多数になるほど低下し易い。また、プリント基板8およびLSIパッケージ2には反りが生じることがある。このため、従来のLSIパッケージ用ソケット1においては、ピン6の接触不良が発生する可能性が高くなるという問題があった。
The manufacturing accuracy of the LSI package socket 1 tends to decrease as the number of
従来のLSIパッケージ用ソケット1のピン6とプリント基板8の電極パッドとの接触不良が発生する場合の例を図5(A),(B)に示す。近年のプリント基板8は、配線密度の低い部位と高い部位とがあることが原因で歪むことがあり、また、大型のプリント基板においては、局部的に反ってしまうことがある。
FIGS. 5A and 5B show an example in which a contact failure between the
たとえば、図5(A)に示すように、プリント基板8のソケット取付部8aが上方に向けて凸になるように反ったり、同図(B)に示すように、上記とは逆にソケット取付部8aがソケット1に対して凹むように反ることがある。
図5(A)に示すように、プリント基板8がソケット1に対して凸型に反る場合は、ソケット本体4の四隅を取付用ボルト7によってプリント基板8に締結させることによって、プリント基板8の反り(接触不良)を緩和することができる。
For example, as shown in FIG. 5 (A), the
As shown in FIG. 5A, when the printed
しかし、図5(B)に示すように、プリント基板8がソケット本体4とは反対側へ凹むように反る場合は、ソケット1の中央部に位置するピン6とプリント基板8の電極パッドとの間に隙間Sが生じることがある。ここに隙間Sが形成されると、ピン6が電極パッドに接触できなくなり、ピン6が接触不良を起こすことになる。また、ピン6が電極パッドに接触したとしても、使用中にプリント基板8に衝撃や振動などが加えられることによって接触状態が解消され、LSIパッケージ2の安定動作に必要な電源/GND/クロックなどの供給が不安定になるおそれがある。
However, as shown in FIG. 5B, when the printed
ピン6が接触不良を起こすと、LSIパッケージ2の検査を正しく行うことができなくなるばかりではなく、検査装置の立上げ期間が増大したり、検査装置や、LSIパッケージ2がソケット1を介して実装された電気・電子回路装置(図示せず)などの実動作が不安定になる。前記検査装置の立上げ期間が増大する理由は、検査結果が安定していない場合、結果の再現性を確認するために再度検査が行われ、ピン6の接触不良が原因でこの再検査が繰り返し行われることがあるからである。
If the
プリント基板8の電極パッドとピン6との接触が不安定になることを防ぐためには、接触が不安定になる部分だけピン6の長さを長く形成することが考えられる。しかし、単にピン6を長く形成しただけでは、凹部が形成されていないプリント基板8にソケット1を取付けたときにプリント基板8の電極パッドやLSIパッケージ2の電極パッド2aにピン6から加えられる荷重が増大し、これらの電極部分が破損されるおそれがある。前記荷重の増加が顕著であると、電極パッドをピン6のプランジャが貫通することもあり、このような場合は回路がショートしてしまう。
このため、従来のLSIパッケージ用ソケット1においては、前記電極部分に加えられる荷重の増加を抑えながら、ピン6と電極部分との接触不良を防ぐことができるようにすることが要請されている。
In order to prevent the contact between the electrode pad of the printed
For this reason, the conventional LSI package socket 1 is required to prevent a contact failure between the
本発明はこのような問題を解消するためになされたもので、プリント基板の平坦度が低い場合であってもピンがプリント基板の電極パッドに確実に接触し、かつピンから電極部分に加えられる荷重がそれほど大きくなることがない半導体パッケージ用ソケットを提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve such a problem, and even when the flatness of the printed circuit board is low, the pin reliably contacts the electrode pad of the printed circuit board and is added from the pin to the electrode portion. An object of the present invention is to provide a socket for a semiconductor package in which the load is not so large.
この目的を達成するために、本発明に係る半導体パッケージ用ソケットは、格子状に配列された多数の電極を有する半導体パッケージが装填される装填部を有し、プリント基板に取付けられるソケット本体と、前記電極に一端が接触するとともに他端が前記プリント基板の電極に接触するように前記ソケット本体に立設され、内部に設けられたばね部材の変形により長さが変わる多数のピンとを有する半導体パッケージ用ソケットにおいて、前記多数のピンのうち、前記プリント基板におけるソケット本体とは反対側へ凹む部位と対応するピンを、他のピンより長く形成し、このピンの内部にばね定数を低減するばね定数低減部を設けたものである。 To achieve this object, a socket for a semiconductor package according to the present invention has a loading portion into which a semiconductor package having a large number of electrodes arranged in a lattice shape is loaded, and a socket body attached to a printed circuit board, For a semiconductor package having a plurality of pins that are erected on the socket body so that one end contacts the electrode and the other end contacts the electrode of the printed circuit board, and the length of the pin changes due to deformation of a spring member provided therein. In the socket, a pin corresponding to a portion of the printed board that is recessed to the opposite side of the socket body in the printed circuit board is formed longer than the other pins, and the spring constant is reduced inside the pin. A part is provided.
本発明は、前記発明において、前記長く形成されたピンに、前記ソケット本体に固定された筒体と、この筒体の両端部に筒体の長手方向へ移動自在に保持された第1、第2のピン本体と、これらの第1のピン本体と第2のピン本体との間に設けられて第1、第2のピン本体を筒体から突出する方向へ付勢する前記ばね部材とを備えさせ、前記ばね定数低減部を、前記第1のピン本体と第2のピン本体とのうち少なくともいずれか一方と前記ばね部材との間に介装された他のばね部材によって構成したものである。 According to the present invention, in the above-described invention, the long pin is formed in a cylindrical body fixed to the socket body, and the first and first are held at both ends of the cylindrical body so as to be movable in the longitudinal direction of the cylindrical body. Two pin main bodies, and the spring member provided between the first pin main body and the second pin main body and biasing the first and second pin main bodies in a direction protruding from the cylindrical body. The spring constant reducing portion is configured by another spring member interposed between at least one of the first pin body and the second pin body and the spring member. is there.
本発明は、前記発明において、前記長く形成されたピンに、前記ソケット本体に固定された筒体と、前記筒体内に嵌挿された基部を有し、前記筒体の両端部に筒体の長手方向へ移動自在に保持された第1、第2のピン本体と、これらの第1のピン本体と第2のピン本体との間に設けられて第1、第2のピン本体を筒体から突出する方向へ付勢する圧縮コイルばねからなるばね部材とを備えさせ、前記第1のピン本体と第2のピン本体とのうち少なくともいずれか一方のピン本体の基部に、前記長手方向においてばね部材の端部と重なる挿入部を形成し、前記ばね部材を、前記挿入部まで延在する巻数に形成し、前記ばね定数低減部を、前記挿入部と、この挿入部まで延在するばね部材の前記端部とから構成したものである。 The present invention is the above invention, wherein the long pin is provided with a cylindrical body fixed to the socket body and a base portion fitted and inserted into the cylindrical body, and the cylindrical body is provided at both ends of the cylindrical body. First and second pin bodies held movably in the longitudinal direction, and the first and second pin bodies are provided between the first pin body and the second pin body so that the first and second pin bodies are cylindrical. A spring member made of a compression coil spring urging in a direction protruding from the base, and at the base of at least one of the first pin main body and the second pin main body in the longitudinal direction An insertion portion that overlaps an end portion of a spring member is formed, the spring member is formed in a number of turns that extends to the insertion portion, and the spring constant reduction portion is the insertion portion and a spring that extends to the insertion portion It is comprised from the said edge part of a member.
本発明によれば、プリント基板におけるソケット本体とは反対側へ凹む部位にある電極にピンを確実に接触させることができる。この長く形成されたピンは、ばね定数低減部によってばね定数が低減されているから、ピンから電極に加えられる荷重が減少する。
したがって、半導体パッケージの検査において測定の安定性が高くなるとともに、検査を複数回にわたって繰り返して行ったときの繰り返し精度をも向上させることができる。また、本発明に係る半導体パッケージ用ソケットを用いて半導体パッケージがプリント基板に実装された電気・電子回路装置においては、半導体パッケージの動作の安定性が向上する。
According to the present invention, the pin can be reliably brought into contact with the electrode in the portion recessed to the opposite side of the socket body in the printed circuit board. Since the spring constant of the long pin is reduced by the spring constant reducing portion, the load applied to the electrode from the pin is reduced.
Therefore, the stability of the measurement in the inspection of the semiconductor package is improved, and the repeatability when the inspection is repeated a plurality of times can be improved. Further, in the electric / electronic circuit device in which the semiconductor package is mounted on the printed board using the semiconductor package socket according to the present invention, the operation stability of the semiconductor package is improved.
(第1の実施例)
以下、本発明に係る半導体パッケージ用ソケットの一実施例を図1および図2によって詳細に説明する。この実施例においては、LGAパッケージが装填されるLGAパッケージ用ソケットに本発明を適用する場合について説明する。この実施例によるソケットは、LGAパッケージを検査装置に接続するために使用したり、電気・電子回路装置のプリント基板にLGAパッケージを実装するために使用することができるものである。
(First embodiment)
Hereinafter, an embodiment of a semiconductor package socket according to the present invention will be described in detail with reference to FIGS. In this embodiment, a case where the present invention is applied to an LGA package socket into which an LGA package is loaded will be described. The socket according to this embodiment can be used to connect an LGA package to an inspection device or to mount an LGA package on a printed circuit board of an electric / electronic circuit device.
図1において、この実施例によるLGAパッケージ用ソケット11は、ソケット本体12と、このソケット本体12に設けられた多数のピン13と、ソケット本体12と協働してLGAパッケージ14を保持するためのカバー15とを備えている。
前記ソケット本体12は、平面視において四角形状に形成されており、プリント基板(図示せず)の上に重ねられた状態で、四隅が取付用ボルト(図示せず)によってプリント基板に取付けられている。このソケット本体12には、LGAパッケージ14が着脱可能に装填される装填部16が形成されている。この装填部16は、図1において上方に向けて開口する凹陥部を呈するように形成されている。ソケット本体12は、たとえばエラストラマーを基材として所定の形状に成形されている。
In FIG. 1, an LGA
The
前記ピン13は、ソケット本体12の底部17にここを上下方向に貫通するように立設されている。また、このピン13は、LGAパッケージ14の下面に格子状に設けられている多数の電極パッド14aと対向する位置にそれぞれ配設されている。
これらのピン13のうち、プリント基板におけるソケット本体12とは反対側へ凹む部位と対応するピン(以下、このピンを「第1のピン13A」という)は、後述するように他のピン(以下、このピンを「第2のピン13B」という)より全長が長くなるように形成されている。この実施例においては、ソケット本体12の中央部に第1のピン13Aが配設され、この第1のピン13Aを囲む部位に第2のピン13Bが配設されている。第1のピン13Aの両端部には、後述するばね定数低減部18が設けられている。
The
Of these
第1のピン13Aを設ける位置は、ソケット11をプリント基板に取付けた状態で物理的に接触が不安定になる箇所であれば、ソケット本体12の中央部に限定されることはない。また、第1のピン13Aの長さは、前記物理的に接触が不安定になることを解消できる長さであれば、適宜変更することができる。
The position where the
第1、第2のピン13A,13Bは、図2(A),(B)に示すように、円筒状に形成されたバレル21と、このバレル21の両端部にバレル21の長手方向へ移動自在に保持された下部プランジャ22および上部プランジャ23と、バレル21内に収納されたばね部材としての圧縮コイルばね24とを備えている。この実施例においては、前記下部プランジャ22によって本発明でいう第1のピン本体が構成され、上部プランジャ23によって本発明でいう第2のピン本体が構成されている。第1、第2のピン13A,13Bは、前記下部プランジャ22の先端(下端)がプリント基板の電極パッド(図示せず)に接触し、かつ上部プランジャ23の先端(上端)がLGAパッケージ14の電極パッド14aに接触するようにソケット本体12に取付けられている。
As shown in FIGS. 2A and 2B, the first and
前記バレル21は、導電性を有する材料によって所定の形状に形成されており、ソケット本体12の底部17に固着されている。第1のピン13Aのバレル21と、第2のピン13Bのバレル21とは、同一のものが用いられている。このバレル21の両端部には、プランジャ22,23の脱落を防止するために、プランジャ22,23を挿入した後にたとえばかしめ加工が施されている。この実施例によるバレル21の長さは、LGAパッケージ14をソケット11内の最下部に挿入した状態において、LGAパッケージ14の電極パッド14aとプリント基板の電極パッドとの間隔と略同じ長さに形成されている。
The
下部プランジャ22および上部プランジャ23は、前記バレル21の内部に収納される基部25と、バレル21から突出する先端部26とから構成されている。
第1のピン13Aの下部プランジャ22および上部プランジャ23の前記基部25は、図2(A)に示すように、先端部26と一体形成された導通部27と、この導通部27に接着されたばね部28とから構成されている。
The
The
前記導通部27と先端部とは、導電性を有する金属によって形成され、ばね部28は、所定の弾性係数を有する弾性素材によって形成されている。この弾性素材としては、たとえばソケット本体12の基材であるエラストラマーを用いることができる。このばね部28によって、本発明でいうばね定数低減部18が構成され、請求項2記載の発明でいう他のばね部材が構成されている。
The conducting
また、前記導通部27と前記ばね部28とは、それぞれ略円柱状であって、バレル21の内周部内に移動自在に嵌合する形状に形成されている。これらの導通部27とばね部28とからなる前記基部25の外周部は、バレル21の長手方向の中央に向かうにしたがって外径が漸次小さくなるテーパ状に形成されている。
前記ばね部28における導通部27とは反対側に位置する端面28aは平坦に形成されている。この端面28aには、圧縮コイルばね24の先端が当接している。
Further, the conducting
An
一方、第2のピン13Bの下部プランジャ22および上部プランジャ23の基部25は、図2(B)に示すように、第1のピン13Aの基部25とは異なり、先端部26に一体に形成された一つの円柱体を構成するように形成されている。この基部25と先端部26とは、第1のピン13Aのプランジャと同様に、導電性を有する金属によって形成されている。
On the other hand, unlike the
第2のピン13Bの基部25の外周部は、バレル21の長手方向の中央に向かうにしたがって外径が漸次小さくなるテーパ状に形成されている。この基部25の長さは、第1のピン13Aの前記基部25の長さと略等しくなるように形成されている。
第1のピン13Aに設けられている下部プランジャ22の前記先端部26は、図2(A)に示すように、第2のピン13Bに設けられている下部プランジャ22の先端部26より長さL1だけ長く形成されている。また、第1のピン13Aに設けられている上部プランジャ23の先端部26と、第2のピン13Bに設けられている上部プランジャ23の先端部26とは、互いに同じ長さに形成されている。
The outer peripheral portion of the
The
前記圧縮コイルばね24は、所定のばね定数となるように形成されている。第1のピン13Aの圧縮コイルばね24と、第2のピン13Bの圧縮コイルばね24とは、同一のものが用いられている。この実施例による圧縮コイルばね24は、上下のプランジャ22,23の先端部26の略全体をそれぞれバレル21内に収納することができるようなばね定数のものが用いられている。上下のプランジャ22,23のストローク量を図2中に符号L2,L3によって示す。
The
この実施例によるソケット11を平坦度が高いプリント基板に取付けた場合、下部プランジャ22がバレル21内に押し込まれる長さは、第1のピン13Aの下部プランジャ22の方が第2のピン13Bの下部プランジャ22より長くなる。すなわち、この場合、第1のピン13Aの圧縮コイルばね24の変位量は、第2のピン13Bの圧縮コイルばね24の変位量より大きくなる。
When the
ばねの荷重Fは、「ばね定数K1」と「ばねの変位量X」との積として求められる。このため、ばねの変位量Xの増大がばね荷重Fの増大につながる(F=K1*X)。この実施例による第1のピン13Aは、上部プランジャ23と下部プランジャ22との基部25の一部が弾性素材(ばね部28)によって形成されており、「ばねを多重化する」ことになるから、第1のピン13Aの全体でみたトータルのばね定数(弾性係数)Kを低減することができる(K<K1)。ばねの多重化によりばね定数が低減することは、ばねを直列に接続することにより全体のばね定数が小さくなるという物理現象に基づいている。
The spring load F is obtained as the product of “spring constant K1” and “spring displacement X”. For this reason, an increase in the displacement amount X of the spring leads to an increase in the spring load F (F = K1 * X). In the
すなわち、圧縮コイルばね24のばね定数をK1とし、ばね部28の弾性係数をK2とすると、第1のピン13Aの全体の弾性係数Kは、下記の(1)式と(2)式とに示すように、K1より小さくなる。
全体の弾性係数1/K=(1/K1)+(1/K2)…(1)
K={K2/(K1+K2)}*K1≦K1 …(2)
That is, if the spring constant of the
Overall elastic modulus 1 / K = (1 / K1) + (1 / K2) (1)
K = {K2 / (K1 + K2)} * K1 ≦ K1 (2)
このため、この実施例による第1のピン13Aにおいては、前記変位量Xの増加分を上述した弾性係数(ばね定数)の低減(K1→K)により相殺することができ、下部プランジャ22が相対的に長く形成されていることの影響を少なく抑えることができる。
したがって、この実施例によるLGAパッケージ用ソケット11は、プリント基板におけるソケット11とは反対側へ凹む部位と対応する部分に相対的に長い第1のピン13Aを備えているから、前記凹む部位にある電極パッドに第1のピン13Aを確実に接触させることができる。
Therefore, in the
Therefore, the
このように第1のピン13Aが相対的に長く形成されているにもかかわらず、第1のピン13Aは全体の弾性係数(ばね定数)が第2のピン13Bより小さくなるように形成されているから、プリント基板の電極パッドやLGAパッケージ14の電極パッド14aに過度に大きな荷重が加えられるようなことはない。すなわち、プリント基板におけるソケット11とは反対側へ凹む部位の深さ(電極パッドとソケット本体12との間の間隔)がそれほど深くない場合や、前記凹む部位のないような平坦なプリント基板にLGAパッケージ用ソケット11が取付けられた場合であっても、第1のピン13Aから電極パッドに加えられる荷重を小さくすることができる。
Although the
この結果、この実施例によるソケット11を検査装置に用いることによって、LGAパッケージ14の検査において測定の安定性が高くなるとともに、検査を複数回にわたって繰り返して行ったときの繰り返し精度をも向上させることができる。また、この実施例によるLGAパッケージ用ソケット11を用いてLGAパッケージ14がプリント基板に実装された電気・電子回路装置においては、LGAパッケージ14の動作の安定性が向上する。
As a result, by using the
この実施例においては、圧縮コイルばね24とばね部28とが直列に接続されることによりばねの多重化が図られ、ピン全体のばね定数が低減されている。前記ばね部28は、下部プランジャ22および上部プランジャ23の基部25の一部を構成するようにバレル21内に収容されているから、バレル21と圧縮コイルばね24との長さを変えたり、ばね定数が相対的に小さくなるように形成された圧縮コイルばね24を使用することなく、ピン全体のばね定数を小さくすることができる。
In this embodiment, the
バレル21の長さは、被試験物であるLGAパッケージ14をソケット11内の最奥部まで押し込んだ状態における、LGAパッケージ14とプリント基板との間隔と略同じ長さに形成されている。すなわち、バレル21の長さは、プランジャ22,23と圧縮コイルばね24とを保持することができる必要最小限の長さに形成されている。このため、巻数が多い圧縮コイルばねを使用してばね定数を低減するためにバレル21の長さを長く形成すると、バレル21がプリント基板の電極パッドに当接することになり、電極パッドがバレル21によって破損されてしまう。
The length of the
この実施例においては、一つのソケット11に設けられている全てのピン13(第1のピン13Aおよび第2のピン13B)のバレル21の長さを一定の最小寸法に形成しているから、上述したように電極パッドがバレル21によって破損されることはない。また、この実施例においては、バレル21と圧縮コイルばね24とは、既存のものをそのまま使用することができるから、本発明を実施するに当たってコストアップになることを最小限に抑えることができる。
In this embodiment, the length of the
(第2の実施例)
上述した実施例においては、プランジャに設けられたばね部によってばね定数低減部を構成する例を示したが、本発明に係るばね定数低減部は、バレル内に設けられている圧縮コイルばねを使用して構成することができる。この実施例を図3(A)〜(C)によって詳細に説明する。図3において、前記図1および図2によって説明したものと同一もしくは同等の部材については、同一符号を付し詳細な説明を適宜省略する。
(Second embodiment)
In the above-described embodiment, an example in which the spring constant reducing portion is configured by the spring portion provided on the plunger is shown. However, the spring constant reducing portion according to the present invention uses a compression coil spring provided in the barrel. Can be configured. This embodiment will be described in detail with reference to FIGS. In FIG. 3, the same or equivalent members as those described with reference to FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted as appropriate.
図3(A)〜(C)に示す第1のピン13Aのバレル21は、図示してはいないが、第2のピン13Bのバレル21と同一のものである。また、これらの図に示す下部プランジャ22の先端部26は、第2のピン13Bの下部プランジャ22より長く形成されている。すなわち、図3(A)〜(C)に示す第1のピン13Aと、図2に示した第1の実施例による第1のピン13Aとは、後述するように、上下のプランジャの基部25の形状と、圧縮コイルばね24の巻数とが異なるだけでその他の構成が同一になるように形成されている。
Although not shown, the
図3(A)に示す第1のピン13Aの下部プランジャ22および上部プランジャ23の基部25は、円錐状に形成されている。この基部25は、先端がバレル21の長手方向の中央を指向するように先端部26に接続されている。
このように円錐状に形成された基部25は、圧縮コイルばね24の内部に挿入でき、この挿入部25aがバレル21の長手方向において圧縮コイルばね24の端部24aと重なるようになる。
図3(A)に示す圧縮コイルばね24は、前記挿入部25aまで延在して基部25の外周面を押圧する巻数となるように形成されている。すなわち、この実施例においては、第1のピン13Aの圧縮コイルばね24の巻数は、第2のピン13Bの圧縮コイルばね24の巻数より多くなる。
The
The
The
図3(B)に示す第1のピン13Aの下部プランジャ22および上部プランジャ23の基部25は、先端部26に接続された大径部31と、この大径部31から先端部26とは反対側へ突出する小径部32とから構成されている。この基部25の小径部32は、圧縮コイルばね24の内部に挿入されることにより、バレル21の長手方向において圧縮コイルばね24の端部24aと重なるようになる。すなわち、この実施例においては、小径部32が請求項3でいう挿入部を構成している。
図3(B)に示す圧縮コイルばね24は、前記小径部32の外周側まで延在して大径部31の端面を押圧する巻数となるように形成されている。
The
The
図3(C)に示す第1のピン13Aの下部プランジャ22および上部プランジャ23の基部25は、バレル21内側に向けて開口する有底円筒状に形成されている。この基部25の内部には、圧縮コイルばね24の端部24aを挿入可能な空間からなる挿入部33が形成されている。
図3(C)に示す圧縮コイルばね24は、前記挿入部33まで延在して有底円筒状の基部25の内側底面を押圧する巻数となるように形成されている。
The
The
すなわち、この実施例による第1のピン13Aの圧縮コイルばね24は、図3(A)〜(C)に示すように、圧縮コイルばね24の巻数が増加することによって、第2のピン13Bの圧縮コイルばね24に較べて前記端部24aの分だけ長く形成されている。このため、この圧縮コイルばね24のばね定数は、第2のピン13Bの圧縮コイルばね24に較べて前記端部24a分だけ低減される。
That is, as shown in FIGS. 3A to 3C, the
図3(A)〜(C)に示す実施例においては、下部プランジャ22によって本発明でいう第1のピン13A本体が構成され、上部プランジャ23によって本発明でいう第2のピン13B本体が構成されている。さらに、前記挿入部25a,33、小径部32と、これらの挿入部25a,33、小径部32まで延在する圧縮コイルばね24の前記端部24aとによって、本発明でいうばね定数低減部18が構成されている。
In the embodiment shown in FIGS. 3A to 3C, the
したがって、この実施例によれば、バレル21の長さを長く形成することなく、バレル21内に相対的に巻数が多い圧縮コイルばね24を収納し、ピン全体のばね定数を小さくすることができる。
この実施例においても、バレル21の長さを長く形成していないから、電極パッドの破損を防止することができる。また、既存のバレル21を使用することが可能であるから、それほど製造コストが高くなることがないように第1のピン13Aを製造することができる。
Therefore, according to this embodiment, the
Also in this embodiment, since the length of the
なお、上述した第1、第2の実施例においては、第1のピン13Aの両端部にばね定数低減部18を設ける例を示したが、本発明に係るばね定数低減部は、第1のピン13Aの一端部にのみ設けてもよい。
また、上述した第1、第2の実施例においては、LGAパッケージ14を装填するためのLGAパッケージ用ソケット11に本発明を適用する例を示したが、本発明は、他の半導体パッケージを装填するためのソケット、たとえばBGAパッケージ用ソケットなどに適用することができる。
In the above-described first and second embodiments, the example in which the spring
In the first and second embodiments described above, an example in which the present invention is applied to the
8…プリント基板、11…ソケット、12…ソケット本体、13A…第1のピン、13B…第2のピン、14…LGAパッケージ、16…装填部、18…ばね定数低減部、21…バレル、22…下部プランジャ、23…上部プランジャ、24…圧縮コイルばね、24a…端部、25…基部、25a,33…挿入部、26…先端部、27…導通部、28…ばね部、32…小径部。
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記電極に一端が接触するとともに他端が前記プリント基板の電極に接触するように前記ソケット本体に立設され、内部に設けられたばね部材の変形により長さが変わる多数のピンとを有する半導体パッケージ用ソケットにおいて、
前記多数のピンのうち、前記プリント基板におけるソケット本体とは反対側へ凹む部位と対応するピンは、他のピンより長く形成されるとともに、内部にばね定数を低減するばね定数低減部が設けられていることを特徴とする半導体パッケージ用ソケット。 A socket body that has a loading portion into which a semiconductor package having a large number of electrodes arranged in a grid is loaded, and is attached to a printed circuit board;
For a semiconductor package having a plurality of pins that are erected on the socket body so that one end contacts the electrode and the other end contacts the electrode of the printed circuit board, and the length of the pin changes due to deformation of a spring member provided therein. In the socket
Of the large number of pins, a pin corresponding to a portion of the printed circuit board that is recessed to the opposite side of the socket body is formed longer than the other pins, and a spring constant reducing unit that reduces the spring constant is provided therein. A socket for a semiconductor package, characterized in that
この筒体の両端部に筒体の長手方向へ移動自在に保持された第1、第2のピン本体と、
これらの第1のピン本体と第2のピン本体との間に設けられて第1、第2のピン本体を筒体から突出する方向へ付勢する前記ばね部材とを備え、
前記ばね定数低減部は、前記第1のピン本体と第2のピン本体とのうち少なくともいずれか一方と前記ばね部材との間に介装された他のばね部材によって構成されていることを特徴とする半導体パッケージ用ソケット。 The socket for a semiconductor package according to claim 1, wherein the long pin is a cylindrical body fixed to the socket body;
First and second pin bodies held movably in the longitudinal direction of the cylinder at both ends of the cylinder;
The spring member is provided between the first pin body and the second pin body and biases the first and second pin bodies in a direction protruding from the cylindrical body,
The spring constant reducing portion is configured by another spring member interposed between at least one of the first pin body and the second pin body and the spring member. Socket for semiconductor package.
前記筒体内に嵌挿された基部を有し、前記筒体の両端部に筒体の長手方向へ移動自在に保持された第1、第2のピン本体と、
これらの第1のピン本体と第2のピン本体との間に設けられて第1、第2のピン本体を筒体から突出する方向へ付勢する圧縮コイルばねからなるばね部材とを備え、
前記第1のピン本体と第2のピン本体とのうち少なくともいずれか一方のピン本体の基部には、前記長手方向においてばね部材の端部と重なる挿入部が形成され、
前記ばね部材は、前記挿入部まで延在する巻数に形成され、
前記ばね定数低減部は、前記挿入部と、この挿入部まで延在するばね部材の前記端部とから構成されていることを特徴とする半導体パッケージ用ソケット。 The socket for a semiconductor package according to claim 1, wherein the long pin is a cylindrical body fixed to the socket body;
First and second pin bodies having bases fitted into the cylinder, and held movably in the longitudinal direction of the cylinder at both ends of the cylinder;
A spring member comprising a compression coil spring provided between the first pin body and the second pin body and biasing the first and second pin bodies in a direction protruding from the cylindrical body;
At the base of at least one of the first pin main body and the second pin main body, an insertion portion that overlaps with the end of the spring member in the longitudinal direction is formed,
The spring member is formed in a number of turns extending to the insertion portion,
The said spring constant reduction part is comprised from the said insertion part and the said edge part of the spring member extended to this insertion part, The socket for semiconductor packages characterized by the above-mentioned.
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