JP2010103240A - 接触センサユニット、電子装置及び接触センサユニットの製造方法 - Google Patents

接触センサユニット、電子装置及び接触センサユニットの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2010103240A
JP2010103240A JP2008272125A JP2008272125A JP2010103240A JP 2010103240 A JP2010103240 A JP 2010103240A JP 2008272125 A JP2008272125 A JP 2008272125A JP 2008272125 A JP2008272125 A JP 2008272125A JP 2010103240 A JP2010103240 A JP 2010103240A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reinforcing member
sensor unit
contact sensor
sensor element
flexible substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008272125A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Kobayashi
弘 小林
Toru Okada
徹 岡田
Hirotoshi Furukawa
裕稔 古川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2008272125A priority Critical patent/JP2010103240A/ja
Priority to US12/487,885 priority patent/US8183873B2/en
Priority to CN200910163927A priority patent/CN101727576A/zh
Publication of JP2010103240A publication Critical patent/JP2010103240A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/94Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
    • H03K17/96Touch switches
    • H03K17/962Capacitive touch switches
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V40/00Recognition of biometric, human-related or animal-related patterns in image or video data
    • G06V40/10Human or animal bodies, e.g. vehicle occupants or pedestrians; Body parts, e.g. hands
    • G06V40/12Fingerprints or palmprints
    • G06V40/13Sensors therefor
    • G06V40/1329Protecting the fingerprint sensor against damage caused by the finger
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73203Bump and layer connectors
    • H01L2224/73204Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/83009Pre-treatment of the layer connector or the bonding area
    • H01L2224/83051Forming additional members, e.g. dam structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8319Arrangement of the layer connectors prior to mounting
    • H01L2224/83192Arrangement of the layer connectors prior to mounting wherein the layer connectors are disposed only on another item or body to be connected to the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8338Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
    • H01L2224/83385Shape, e.g. interlocking features
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00011Not relevant to the scope of the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Measurement Of The Respiration, Hearing Ability, Form, And Blood Characteristics Of Living Organisms (AREA)
  • Image Input (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

【課題】センサ素子への外力の影響が抑制された接触センサユニット、当該接触センサユニットを備えた電子装置、及び当該接触センサユニットの製造方法を提供することを課題とする。
【解決手段】指紋センサ1は、導体パターンを有するフレキシブル基板10と、被験者の指紋を検出する検出面22を有し、検出面22がフレキシブル基板10に覆われるようにフレキシブル基板10に実装され、端子が導体パターンと電気的接合されたセンサ素子20と、フレキシブル基板10に固定されたセンサ素子22を囲う補強部材30とを備えている。
【選択図】図1

Description

本発明は、接触センサユニット、電子装置及び接触センサユニットの製造方法に関する。
指紋認証に用いられる指紋センサが知られている。指紋センサは、センサ素子を有しており、被験者がセンサ素子の検出面に指を押し付けることによって、被験者の指紋を読み取る。
特開2000−3935号公報 特開平1−44030号公報 特開平3−6036号公報 特開2004−304054号公報 特開平11−345890号公報 特開平9−232474号公報
接触センサの一つである指紋センサは、被験者の指から圧力を繰り返し受ける。また、指紋センサを携帯装置などの搭載した場合、携帯装置へ加えられた衝撃等によって指紋センサにも衝撃が加わる。このような外力の作用によりセンサ素子が破損する恐れがある。
そこで本発明は上記の課題に鑑みてなされたものであり、センサ素子への外力の影響が抑制された接触センサユニット、当該接触センサユニットを備えた電子装置、及び当該接触センサユニットの製造方法を提供することを目的とする。
本明細書に開示の接触センサユニットは、導体パターンを有するフレキシブル基板と、被験者の指紋を検出する検出面を有し、前記検出面が前記フレキシブル基板に覆われるように前記フレキシブル基板に実装され、端子が前記導体パターンと電気的接合されたセンサ素子と、前記フレキシブル基板に固定された前記センサ素子を囲う補強部材と、を備えている。補強部材によってセンサ素子が囲まれるので、センサ素子に直接外力が作用することが防止される。これによりセンサ素子への外力の影響が抑制される。
また、本明細書に開示の電子装置は、前記接触センサユニットと、前記接触センサユニットが取付けられた筐体と、を備えている。
また、本明細書に開示の接触センサユニットの製造方法は、フキレシブルプリント基板の一方の面にセンサ素子を実装するステップと、前記フレキシブル基板を平坦に維持した状態で、前記フレキシブル基板に前記センサ素子を囲う補強部材を接着し、前記補強部材内に前記センサ素子を覆うように樹脂をポッティングし、前記樹脂を硬化させるステップと、を含む。
センサ素子への外力の影響が抑制された接触センサユニット、当該接触センサユニットを備えた電子装置、及び当該接触センサユニットの製造方法を提供する。
また、前記フキレシブルプリント基板の導体パターンにセンサ素子の端子を電気的接合することにより、センサ素子を搭載する基板等が不要となり、接触センサユニット及び電子装置の薄型化、小型化および低コスト化が達成できる。
以下、複数の実施形態について図面を参照して説明する。
指紋センサを接触センサユニットの一例として説明する。
図1は、実施例1の指紋センサ1の断面図である。指紋センサ1は、可撓性を有したFPC(フレキシブル基板)10、FPC10に実装されたセンサ素子20、補強部材30を含む。FPC10は、導体パターンを有している。センサ素子20は、バンプ(端子)26がFPC10の導体パターンと電気的に接合されている。
センサ素子20は、被験者の指紋を検出可能な検出面22を有している。検出面22は、FPC10により覆われている。センサ素子20は、半導体チップであるが、これに限定されない。センサ素子20による指紋の検出方式は、静電容量方式である。
検出面22は、センサ膜と、センサ膜の下に複数の電極がアレイ状に配置されている。センサ膜表面に被験者の指が触れることにより、指紋形状によって変わる指表面と電極との距離に応じた静電容量に電荷が溜まり、この静電容量と充電電荷に応じた電圧が電極に発生する。指紋センサ1が搭載される電子装置は、このように発生した電圧に基づいて指紋のイメージ画像を形成して指紋認証を行う。尚、センサ素子20による指紋の検出方式は、静電容量方式であるが、電圧測定方式であってもよいし、それ以外の方式であってもよい。
補強部材30は、センサ素子20を囲うようにしてFPC10上に固定されている。補強部材30は、ケース状である。補強部材30は、例えば合成樹脂により形成されている。補強部材30は、柱部31と、底部33とを含む。
FPC10とセンサ素子20の検出面22と間にはアンダーフィル材40が充填されている。また、センサ素子20と補強部材30との間には樹脂50が充填されている。樹脂50によって補強部材30はFPC10に対して固定されている。
図1においては、FPC10の下側の面が、被験者の指によりスイープされる面である。被験者は、FPC10をスイープさせることにより、センサ素子20の検出面22により指紋が読み取られる。
図1に例示するように、センサ素子20が補強部材30により囲われている。このため、センサ素子20に直接外力が作用することを防止できる。したがって、センサ素子20の破損が防止される。例えば、指紋センサ1を搭載した電子装置に対して衝撃が加えられた場合や、指紋センサ1を搬送する際に指紋センサ1に加えられた外力から、センサ素子20が保護される。
また、アンダーフィル材40により、バンプ26がFPC10から剥がれることが防止される。センサ素子20と補強部材30との間に樹脂50が充填されているので、これによってもバンプ26がFPC10から剥がれることが防止されている。これらによっても、指紋センサ1に加えられた外力の影響を抑制できる。
センサ素子20の検出面22は、FPC10により覆われている。このため、検出面22に傷などがつくことが防止される。更に検出面22が水分や応力から保護される。FPC10とセンサ素子20の検出面22との間にアンダーフィル材40が充填されているので、これによっても検出面22が保護される。
また、指紋センサ1は、リジット基板より薄いFPC10を用いている。このため指紋センサ1は薄型化が達成されている。また、補強部材30は、ケース状であるので、補強部材30と樹脂50との接触面積が確保されている。
FPC10は、パターンが形成された導電層16、導電層16の一方の面を覆う保護層12、導電層16の他方の面を覆う保護層14を有している。保護層12は、導電層16の一方の面の全面を覆う。導電層16の一部分は、保護層14から露出している。導電層16の露出した部分で、センサ素子20のバンプ26と接合されている。導電層16は、センサ素子20の検出面22との対向する部分には形成されていない。即ち、導電層16は、検出面22との対向を回避するように形成されている。このため、検出面22上にはアンダーフィル材40と保護層12とが積層された状態である。検出面22上に多くの層が積層されていると、指紋の検出精度が低下する恐れがある。しかしながら、検出面22には、アンダーフィル材40と保護層12との2つの層が積層されているので、検出面22の保護を図りつつ、検出面22による指紋の検出精度を確保している。
尚、FPC10の厚さは、全体でおよそ25um程度である。導電層16にはメッキ法などによって配線パターンが形成されている。保護層12、14は、ポリミイド樹脂により形成されている。バンプ26は、例えばメッキ法、転写法等により形成されたものである。
次に、実施例2の指紋センサ1aについて説明する。尚、実施例1と同様の部分については同様の符号を付することにより重複する説明を省略する。図2は、実施例2の指紋センサ1aの断面図である。
補強部材30aは、枠状に形成されている。補強部材30aは、実施例1の補強部材30と異なり底部33を有していない。このため、指紋センサ1aは更に薄型化が図られている。尚、樹脂50は、柱部31の高さを超えないように補強部材30a内に充填されている。また、補強部材30aの内側面32aは、鉛直方向に延在している。
次に、指紋センサ1aを電子装置に搭載した場合について説明する。図3(A)(B)は、指紋センサ1aを搭載した携帯電話100の説明図である。図3(A)に示すように、携帯電話100は、折り畳み可能に連結された本体部110と表示部130とを有している。本体部110には、入力キー120が設けられている。表示部130にはディスプレイ140が設けられている。図3(B)は、折り畳まれた状態の携帯電話100を例示している。表示部130の背面側に指紋センサ1aが搭載されている。
図4は、表示部130の分解斜視図である。表示部130は、正面側ケース150、背面側ケース160、カバー170を含む。正面側ケース150には、プリント基板151が固定されている。プリント基板151には、コネクタ158が実装されている。背面側ケース160には、指紋センサ1aが取付けられる取付部161が形成されている。
取付部161には、補強部材30aを逃すための逃げ孔162、FPC10を逃すための逃げ孔168が形成されている。FPC10の先端に形成された端子18は、逃げ孔168を介してコネクタ158に接続される。これにより、指紋センサ1aとプリント基板151との電気的な接続が確保される。また、カバー170は、指紋センサ1aを取付部161に固定する。カバー170には、開口172が設けられている。被験者は、開口172から露出したFPC10を指でスイープすることにより、指紋がセンサ素子20の検出面22により検出される。
図5は、携帯電話100に搭載された指紋センサ1a周辺の断面図である。FPC10は、背面側ケース160の逃げ孔162を塞ぐように固定される。また、FPC10とカバー170とは、両面テープ80により接着される。両面テープ80は防水性を有している。このように、FPC10は、逃げ孔162と補強部材30aとの隙間を塞ぐ。また、カバー170とFPC10との間は防水性を有した両面テープ80により接着されている。このため、開口172を介して携帯電話100内に水が侵入することが防止される。また、指紋センサ1a内に水が浸入することも防止される。このように指紋センサ1aは防水性が向上している。
次に、指紋センサ1aの製造方法について説明する。図6(A)(B)、図7(A)(B)、図8、図9は、指紋センサ1aの製造方法の説明図である。図6(A)(B)に例示するように導電層16が露出した付近に、ディスペンスニードル300によってアンダーフィル材40を塗布する。次に、図7(A)(B)に例示するように、FPC10をボンディングステージ400に配置し、ボンディングツール500によりセンサ素子20を吸着させる。そしてFPC10に対してセンサ素子20を位置決めして、センサ素子20をFPC10にフリップチップ実装する。実装は、センサ素子20をFPC10へ向けて加圧した状態で、加熱することにより行われる。
次に、図8に例示するように、FPC10を吸着ステージ600に吸着させる。吸着ステージ600には、複数の吸引孔610が形成されている。ポンプによる吸引よって吸引孔610が真空状態となることにより、FPC10は吸着ステージ600の面に倣わされる。これにより、FPC10は平坦になる。吸着状態を維持しつつ、接着剤60により補強部材30aをFPC10に固定する。尚、接着剤60は例えばシート状の接着剤である。ポッティング時に樹脂50がFPC10と接着剤60との隙間から漏れることを防ぐためである。
次に、図9に例示するように、吸着状態を維持しつつ塗布ノズル700により補強部材30a内に樹脂50をポッティングする。次に、吸着状態を維持しつつ、樹脂50を硬化させる。尚、樹脂50は、例えば熱硬化性樹脂であるが、紫外線硬化樹脂であってもよい。また樹脂50は、効果収縮の小さい材料、例えば含有フィラーが多い材料であってもよい。FPC10を平坦に維持するためである。
このように、FPC10に補強部材30aを固定する工程から樹脂50を硬化させるまでの間、吸着ステージ600にFPC10を吸着させて、FPC10を平坦な状態に維持する。これにより、FPC10が平坦に製造されるため、被験者は円滑に指をスイープさせることができる。また、指紋センサ1aの検出精度も向上する。また、指紋センサ1aの外観も向上する。
尚、補強部材30aは枠状に形成されているので、硬化前の樹脂50内に発生したボイドが樹脂50内から抜け出ることが促進される。
尚、FPC10を平坦に維持するために吸着ステージ600を用いたが、これに限定されず、例えば、微細な孔が複数形成されたポーラスステージを用いてもよい。
また、粘着材によってFPC10を平坦に維持してもよい。例えば、凹凸を有した金属板上に、粘着性を有したゲル状の樹脂がコーティングされている部材上に、FPC10を貼り付けることにより、FPC10は平坦に維持される。また、両面テープにより所定のステージ上にFPC10を固定することにより、FPC10を平坦に維持してもよい。
次に、実施例2の指紋センサの変形例について説明する。図10、図11(A)(B)(C)は、実施例2に係る指紋センサの変形例の説明図である。図10に例示するように、補強部材30bの内側面32bは、鉛直方向に対して傾斜している。詳細には、内側面32bは、FPC10側から反対側にかけて補強部材30bの内側に向かって傾斜している。このように傾斜していることにより、補強部材30bから樹脂50が抜け落ちることが防止されている。尚、内側面32bの傾斜角度は、例えば鉛直方向に対して1度程度〜10度程度である。内側面32bの傾斜角度が極端な場合には、内側面32b付近の樹脂50内にボイドが発生する恐れがあるからである。ボイドの発生により樹脂50の強度が低下する恐れがある。
また、図11(A)に例示する指紋センサ1cにおいては、内側面32cは鉛直方向に延びた部分と傾斜した部分とを有している。このような内側面32cの形状によってもボイドの発生を抑制できる。図11(B)に例示する指紋センサ1dにおいては、内側面32dは、FPC10側から反対側にかけて補強部材30cの内側に突出している。このように突出した部分と突出していない部分との差は、例えば100μm程度〜2mm程度である。図11(C)に例示する指紋センサ1eにおいては、内側面32eは、補強部材30eの内側に突出した部分と突出していない部分とを繋ぐ部分が傾斜している。これによってもボイドの発生が抑制できる。
次に、実施例3の指紋センサについて説明する。図12、図13(A)(B)は、実施例3の指紋センサの説明図である。図12に例示する指紋センサ1fは、補強部材30aの内側面32に嵌るように補強板70が設けられている。補強板70は、例えば合成樹脂で形成されている。
図13(A)は、指紋センサ1fの正面図である。補強板70は、略十字状であり、補強部材30aの内側面32の4面と当接している。これにより、外力による補強部材30aの変形が防止される。このように、指紋センサ1fは外力の影響を受けにくい。また、図13(B)に例示する指紋センサ1gにおいては、補強板70aは、略矩形状であり内側面32の互いに対向する2面と当接している。これによって、補強部材30aの変形が防止される。
尚、補強板70は、樹脂50をポッティングする前に予め補強部材30aに嵌め込んでおいて、補強部材30aをFPC10に固定し、その後に補強板70と補強部材30aとの隙間から樹脂50をポッティングする。
以上本発明の好ましい一実施形態について詳述したが、本発明は係る特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
尚、上記指紋センサは、ノート型パソコンに搭載してもよい。また、それ以外の電子装置に搭載してもよい。また、本発明は、上記指紋センサだけでなく、タッチパネルなどの接触型センサに対しても適用可能である。
実施例1の指紋センサの断面図である。 実施例2の指紋センサの断面図である。 指紋センサを搭載した携帯電話の説明図である。 携帯電話の表示部の分解斜視図である。 携帯電話に搭載された指紋センサ周辺の断面図である。 指紋センサの製造方法の説明図である。 指紋センサの製造方法の説明図である。 指紋センサの製造方法の説明図である。 指紋センサの製造方法の説明図である。 実施例2に係る指紋センサの変形例の説明図である。 実施例2に係る指紋センサの変形例の説明図である。 実施例3の指紋センサの説明図である。 実施例3の指紋センサの説明図である。
符号の説明
1〜1g 指紋センサ
10 FPC
20 センサ素子
22 検出面
30〜30e 補強部材
32a〜32e 内側面
40 アンダーフィル
50 樹脂
70 補強板
600 吸着ステージ

Claims (10)

  1. 導体パターンを有するフレキシブル基板と、
    被験者の指紋を検出する検出面を有し、前記検出面が前記フレキシブル基板に覆われるように前記フレキシブル基板に実装され、端子が前記導体パターンと電気的接合されたセンサ素子と、
    前記フレキシブル基板に固定された前記センサ素子を囲う補強部材と、を備えた接触センサユニット。
  2. 前記フレキシブル基板と前記センサ素子の前記検出面との間に充填されたアンダーフィル材を備えている、請求項1の接触センサユニット。
  3. 前記補強部材内で前記センサ素子を覆うように充填された樹脂を備えている、請求項1又は2の接触センサユニット。
  4. 前記補強部材は、ケース状である、請求項1乃至3の何れかの接触センサユニット。
  5. 前記補強部材は、枠状である、請求項1乃至3の何れかの接触センサユニット。
  6. 前記補強部材は、前記フレキシブル基板側から反対側にかけて該補強部材の内側に向かって傾斜した内側面を有している、請求項1乃至5の何れかの接触センサユニット。
  7. 前記補強部材は、前記フレキシブル基板側から反対側にかけて該補強部材の内側に突出した内側面を有している、請求項1乃至5の何れかの接触センサユニット。
  8. 前記補強部材に嵌った補強板を備えている、請求項1乃至7の何れかの接触センサユニット。
  9. 請求項1乃至8の何れかの接触センサユニットと、
    前記接触センサユニットが取付けられた筐体と、を備えた電子装置。
  10. フキレシブルプリント基板の一方の面にセンサ素子を実装するステップと、
    前記フレキシブル基板を平坦に維持した状態で、前記フレキシブル基板に前記センサ素子を囲う補強部材を接着し、前記補強部材内に前記センサ素子を覆うように樹脂をポッティングし、前記樹脂を硬化させるステップと、を含む接触センサユニットの製造方法。
JP2008272125A 2008-10-22 2008-10-22 接触センサユニット、電子装置及び接触センサユニットの製造方法 Pending JP2010103240A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008272125A JP2010103240A (ja) 2008-10-22 2008-10-22 接触センサユニット、電子装置及び接触センサユニットの製造方法
US12/487,885 US8183873B2 (en) 2008-10-22 2009-06-19 Contact sensor unit, electronic device, and method for producing a contact sensor unit
CN200910163927A CN101727576A (zh) 2008-10-22 2009-07-31 接触式传感器单元及其制造方法和电子设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008272125A JP2010103240A (ja) 2008-10-22 2008-10-22 接触センサユニット、電子装置及び接触センサユニットの製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010103240A true JP2010103240A (ja) 2010-05-06

Family

ID=42108159

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008272125A Pending JP2010103240A (ja) 2008-10-22 2008-10-22 接触センサユニット、電子装置及び接触センサユニットの製造方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8183873B2 (ja)
JP (1) JP2010103240A (ja)
CN (1) CN101727576A (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2496055A (en) * 2011-10-27 2013-05-01 Validity Sensors Inc Fingerprint sensor integrated with an electronic device
US9152838B2 (en) 2012-03-29 2015-10-06 Synaptics Incorporated Fingerprint sensor packagings and methods
US9268991B2 (en) 2012-03-27 2016-02-23 Synaptics Incorporated Method of and system for enrolling and matching biometric data
US9336428B2 (en) 2009-10-30 2016-05-10 Synaptics Incorporated Integrated fingerprint sensor and display
KR20170096873A (ko) * 2016-02-17 2017-08-25 하나 마이크론(주) 스마트 기기의 지문 인식용 유연 센서 반도체 패키지 및 그 제조 방법
KR20170096872A (ko) * 2016-02-17 2017-08-25 하나 마이크론(주) 지문 인식을 위하여 센서 pcb를 이용하는 유연 센서 반도체 패키지 및 그 제조 방법
US9785299B2 (en) 2012-01-03 2017-10-10 Synaptics Incorporated Structures and manufacturing methods for glass covered electronic devices
KR20190123830A (ko) * 2018-04-24 2019-11-04 삼성디스플레이 주식회사 표시장치
JP2021501404A (ja) * 2017-10-27 2021-01-14 ホアウェイ・テクノロジーズ・カンパニー・リミテッド 構成コンポーネント、電子機器、及び指紋モジュールの組立方法

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5647726B2 (ja) * 2010-04-15 2015-01-07 オーセンテック,インコーポレイテッド 容量性レンズを含む指センサ及びこれに関連する方法
US8717775B1 (en) * 2010-08-02 2014-05-06 Amkor Technology, Inc. Fingerprint sensor package and method
US9431274B2 (en) * 2012-12-20 2016-08-30 Intel Corporation Method for reducing underfill filler settling in integrated circuit packages
DE102012224424A1 (de) * 2012-12-27 2014-07-17 Robert Bosch Gmbh Sensorsystem und Abdeckvorrichtung für ein Sensorsystem
USD758372S1 (en) * 2013-03-13 2016-06-07 Nagrastar Llc Smart card interface
US9888283B2 (en) 2013-03-13 2018-02-06 Nagrastar Llc Systems and methods for performing transport I/O
US9607951B2 (en) * 2013-08-05 2017-03-28 Mediatek Singapore Pte. Ltd. Chip package
US20150125050A1 (en) * 2013-11-05 2015-05-07 Dreamtech Co., Ltd Fingerprint recognition sensor module having sensing region separated from asic
JP6335513B2 (ja) 2014-01-10 2018-05-30 新光電気工業株式会社 半導体装置、半導体装置の製造方法
US20150296622A1 (en) * 2014-04-11 2015-10-15 Apple Inc. Flexible Printed Circuit With Semiconductor Strain Gauge
USD864968S1 (en) 2015-04-30 2019-10-29 Echostar Technologies L.L.C. Smart card interface
KR102327738B1 (ko) 2015-06-18 2021-11-17 삼성전기주식회사 반도체 패키지 및 반도체 패키지의 제조 방법
CN104933413A (zh) * 2015-06-18 2015-09-23 广东欧珀移动通信有限公司 指纹识别组件及移动终端
TWI566343B (zh) * 2015-10-15 2017-01-11 力成科技股份有限公司 保護片服貼於晶片感應面之晶片封裝構造
DE112016005323T5 (de) * 2015-11-20 2018-09-13 Idex Asa Auf einem starren Substrat getragener elektronischer Sensor
JP6651420B2 (ja) * 2016-07-11 2020-02-19 株式会社ジャパンディスプレイ カバー部材及び表示装置
US9971930B2 (en) * 2016-10-14 2018-05-15 Fingerprint Cards Ab Test module for a fingerprint sensing device
CN109062333A (zh) * 2018-07-26 2018-12-21 维沃移动通信有限公司 一种移动终端

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06112350A (ja) * 1992-09-30 1994-04-22 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
WO1997034252A1 (en) * 1996-03-13 1997-09-18 Seagate Technology, Inc. Private pin number
JP2000195979A (ja) * 1998-12-25 2000-07-14 Fujitsu Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP2002501261A (ja) * 1998-01-27 2002-01-15 インフィネオン テクノロジース アクチエンゲゼルシャフト バイオメトリックセンサ用チップカードモジュール
JP2005353637A (ja) * 2004-06-08 2005-12-22 Seiko Epson Corp 光モジュール及び電子機器
WO2007047816A1 (en) * 2005-10-18 2007-04-26 Authentec, Inc. Finger sensor including flexible circuit and associated methods
JP2008018135A (ja) * 2006-07-14 2008-01-31 Nec Electronics Corp 認証装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6444030A (en) 1987-08-12 1989-02-16 Hitachi Ltd Semiconductor package
JPH036036A (ja) 1989-06-02 1991-01-11 Fujikura Ltd プリント配線板の製造方法及び該方法に使用するフレキシブルプリント配線板
JP3129960B2 (ja) 1996-02-27 2001-01-31 シャープ株式会社 Fpc上のベアチップicの樹脂封止構造およびその製造方法
JPH11345890A (ja) 1998-06-03 1999-12-14 Fujitsu Ltd 半導体装置
JP2000003935A (ja) 1998-06-16 2000-01-07 Seiko Epson Corp フリップチップ実装
FI20030102A0 (fi) * 2003-01-22 2003-01-22 Nokia Corp Henkilön varmennusjärjestely
JP4160851B2 (ja) 2003-03-31 2008-10-08 富士通株式会社 指紋認識用半導体装置
KR100592368B1 (ko) * 2004-07-06 2006-06-22 삼성전자주식회사 반도체 소자의 초박형 모듈 제조 방법

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06112350A (ja) * 1992-09-30 1994-04-22 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
WO1997034252A1 (en) * 1996-03-13 1997-09-18 Seagate Technology, Inc. Private pin number
JP2002501261A (ja) * 1998-01-27 2002-01-15 インフィネオン テクノロジース アクチエンゲゼルシャフト バイオメトリックセンサ用チップカードモジュール
JP2000195979A (ja) * 1998-12-25 2000-07-14 Fujitsu Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP2005353637A (ja) * 2004-06-08 2005-12-22 Seiko Epson Corp 光モジュール及び電子機器
WO2007047816A1 (en) * 2005-10-18 2007-04-26 Authentec, Inc. Finger sensor including flexible circuit and associated methods
JP2009512095A (ja) * 2005-10-18 2009-03-19 オーセンテック,インコーポレイテッド フレキシブル回路を備えた指センサおよびそれに関連する方法
JP2008018135A (ja) * 2006-07-14 2008-01-31 Nec Electronics Corp 認証装置

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9336428B2 (en) 2009-10-30 2016-05-10 Synaptics Incorporated Integrated fingerprint sensor and display
GB2496055A (en) * 2011-10-27 2013-05-01 Validity Sensors Inc Fingerprint sensor integrated with an electronic device
US9785299B2 (en) 2012-01-03 2017-10-10 Synaptics Incorporated Structures and manufacturing methods for glass covered electronic devices
US9268991B2 (en) 2012-03-27 2016-02-23 Synaptics Incorporated Method of and system for enrolling and matching biometric data
US9152838B2 (en) 2012-03-29 2015-10-06 Synaptics Incorporated Fingerprint sensor packagings and methods
KR20170096873A (ko) * 2016-02-17 2017-08-25 하나 마이크론(주) 스마트 기기의 지문 인식용 유연 센서 반도체 패키지 및 그 제조 방법
KR20170096872A (ko) * 2016-02-17 2017-08-25 하나 마이크론(주) 지문 인식을 위하여 센서 pcb를 이용하는 유연 센서 반도체 패키지 및 그 제조 방법
KR101995375B1 (ko) * 2016-02-17 2019-07-02 하나 마이크론(주) 지문 인식을 위하여 센서 pcb를 이용하는 유연 센서 반도체 패키지 및 그 제조 방법
KR102008816B1 (ko) * 2016-02-17 2019-08-07 하나 마이크론(주) 스마트 기기의 지문 인식용 유연 센서 반도체 패키지 및 그 제조 방법
JP2021501404A (ja) * 2017-10-27 2021-01-14 ホアウェイ・テクノロジーズ・カンパニー・リミテッド 構成コンポーネント、電子機器、及び指紋モジュールの組立方法
US11393243B2 (en) 2017-10-27 2022-07-19 Huawei Technologies Co., Ltd. Structural component, electronic apparatus, and fingerprint module assembly method
KR20190123830A (ko) * 2018-04-24 2019-11-04 삼성디스플레이 주식회사 표시장치
US11307685B2 (en) 2018-04-24 2022-04-19 Samsung Display Co., Ltd. Display device including a sensor and a protective layer
KR102658176B1 (ko) 2018-04-24 2024-04-18 삼성디스플레이 주식회사 표시장치

Also Published As

Publication number Publication date
CN101727576A (zh) 2010-06-09
US20100097080A1 (en) 2010-04-22
US8183873B2 (en) 2012-05-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2010103240A (ja) 接触センサユニット、電子装置及び接触センサユニットの製造方法
US11829565B2 (en) Fingerprint sensor and button combinations and methods of making same
US10445548B2 (en) Fingerprint sensing assemblies and methods of making
KR101453017B1 (ko) 지문센서 모듈, 이를 구비한 휴대용 전자기기 및 그 제조방법
CN105404880B (zh) 一种具有指纹传感器组件的电子装置
KR20140123919A (ko) 지문센서 모듈, 이를 구비한 휴대용 전자기기 및 그 제조방법
KR102022708B1 (ko) 지문센서 모듈 및 이의 제조방법
JP2010122015A (ja) センサユニット及び電子装置の製造方法
KR20200014017A (ko) 유연기판이 적용된 언더글래스 지문 센서 패키지 및 이의 제조방법
US20240061537A1 (en) Fingerprint sensor and button combinations and methods of making same
KR101613084B1 (ko) 지문센서 모듈 및 이를 구비한 휴대용 전자기기
KR101613082B1 (ko) 지문센서 모듈 및 이를 구비한 휴대용 전자기기
KR20200024454A (ko) 지문센서 모듈 및 그 제조 방법
KR20200014020A (ko) 언더글래스 정전용량 방식 지문 센서 패키지 및 이의 제조방법
KR20200000213A (ko) 전자소자 모듈
KR20200014022A (ko) 언더글래스 초음파 방식 지문 센서 패키지 및 이의 제조방법
KR20200014016A (ko) 언더글래스 광학 방식 지문 센서 패키지 및 이의 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110808

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121015

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121030

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121115

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130305

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130515

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20130522

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20130628