JP2010099763A - 研磨装置 - Google Patents

研磨装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2010099763A
JP2010099763A JP2008272017A JP2008272017A JP2010099763A JP 2010099763 A JP2010099763 A JP 2010099763A JP 2008272017 A JP2008272017 A JP 2008272017A JP 2008272017 A JP2008272017 A JP 2008272017A JP 2010099763 A JP2010099763 A JP 2010099763A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polishing
polishing pad
air suction
mount member
held
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008272017A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5415737B2 (ja
Inventor
Nobuyuki Takada
暢行 高田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2008272017A priority Critical patent/JP5415737B2/ja
Publication of JP2010099763A publication Critical patent/JP2010099763A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5415737B2 publication Critical patent/JP5415737B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

【課題】研磨パッドを真空吸着作用で着脱可能に保持する研磨装置において、研磨パッドが低剛性のものであっても、真空度を維持するためのシール部材が研磨パッドに転写されず高い平面度の研磨を達成する。
【解決手段】マウント部材30に研磨パッド40のプレート41を真空吸着させることにより着脱可能に保持するにあたり、空気吸引口36aを囲繞して真空度を維持するシール部材51,52を、プレート41の上面41aに向かって斜めに延びる平板状に形成し、真空吸着時においてシール部材51,52からプレート41に圧力がかからないようにしてプレート41へのシール部材51,52の転写による研磨面の凸部発生を防ぐ。
【選択図】図3

Description

本発明は、CMP装置等の研磨装置に係り、特に、研磨パッドが真空吸着作用によって着脱可能に保持されるタイプの研磨装置に関する。
近年、半導体集積回路の高集積化や微細化に伴って半導体の製造工程は増加し、かつ、複雑になってきており、これに伴い、半導体デバイスの表面は必ずしも平坦ではなくなってきている。半導体デバイスの表面における段差の存在は、配線の段切れや局所的な抵抗の増大などを招くことから断線や電気容量の低下をもたらしており、また、絶縁膜においては耐電圧劣化やリークの発生の要因となる。
一方、半導体集積回路の高集積化や微細化に伴い、光リソグラフィに用いられる半導体露光装置の光源波長は短くなり、半導体露光装置の投影レンズの開口数、いわゆるNAは大きくなってきている。これにより、半導体露光装置の投影レンズの焦点深度は、実質的に浅くなってきており、焦点深度が浅くなることに対応するためには、今まで以上に半導体デバイスの表面の平坦化が要求される。
そこで、半導体デバイスの表面を平坦化する方法として、化学的機械的研磨(Chemical Mechanical Polishing または Chemical Mechanical Planarization、以下CMPと称する)技術が広く行われている。CMP装置でワークを研磨する研磨パッドは、使用につれて摩耗と目詰まりを起こすため、ドレッシングと呼ばれる表面研磨を施して再使用するようにしている。そして、研磨パッドは使用時間の経過とともに厚さが薄くなるので、所定厚さとなった時点で交換することになる(特許文献1等参照)。
特開2005−322876号公報
上記特許文献に記載の研磨パッドは、回転駆動される本体側(同文献でアダプタ)に対し真空吸着作用によって着脱可能に保持される構成であり、そのため研磨パッドは、交換の作業性を向上させるために、軽量で取り扱いが容易な樹脂製の薄いプレートの片面にパッド材を両面粘着テープで貼り付けた構成とされている。このような研磨パッドにあっては、本体側とプレートとの間に真空度を維持するためのシール部材(同文献でOリング)が配設される。このシール部材は、真空運転されてプレートが本体側に吸引された時に弾性変形して潰れるが、その際に生じる圧力がプレートおよびパッド材に転写され、パッド材の表面に凸部を生じさせて均一な研磨が行えなくなるという問題が生じていた。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、研磨パッドを真空吸着作用で着脱可能に保持する研磨装置において、研磨パッドが低剛性のものであっても、真空度を維持するためのシール部材が研磨パッドに転写されずに均一な研磨が遂行されて高い平面度の研磨を達成することができる研磨装置を提供することを目的としている。
本発明の研磨装置は、ワークを保持する保持手段と、該保持手段に対向配置された研磨ホイールと、該研磨ホイールを回転させる回転駆動機構と、保持手段と研磨ホイールとを、該研磨ホイールの回転軸方向に相対移動させて該研磨ホイールを保持手段に保持されたワークに押し付け、該ワークを該研磨ホイールによって研磨させる送り手段とを有する研磨装置であって、研磨ホイールは、研磨パッドを保持する保持面を有し、該保持面に空気吸引口が形成され、内部に該空気吸引口に連通する空気吸引路が形成されており、回転駆動機構が有する回転軸に接続されるマウント部材と、該マウント部材の保持面に保持される被保持面を有し、該保持面と該被保持面との間に空間を形成する研磨パッドと、可撓性を有し、研磨パッドの被保持面とマウント部材の保持面との間の空間に、空気吸引口を囲繞して自身の内側に真空領域を形成し、該真空領域内の空気が吸引された時に該被保持面と該保持面の双方に密着させられる作用を受ける環状のシール部材とを備えており、該シール部材は、研磨パッドの被保持面に向かって斜め方向に延びてから該被保持面に面接触する平板状のシール部を有しており、さらに、空気吸引口から真空領域内の空気を吸引する吸引手段を備えることを特徴としている。
本発明の研磨装置では、マウント部材の保持面に研磨パッドを合わせて吸引手段による真空運転を行うと、シール部材の内側の真空領域の空気が空気吸引口を介して吸引され、これによって研磨パッドがマウント部材に吸着して保持される。また、吸引手段による真空運転を停止すると研磨パッドをマウント部材から離すことができる。
真空運転されて研磨パッドがマウント部材の保持面に吸着した時には、シール部材がマウント部材の保持面と研磨パッドの被保持面の双方に密着し、真空領域の真空度が維持される。ここで、研磨パッドの被保持面に密着するシール部は、該被保持面に向かって斜め方向に延びてから該被保持面に面接触する平板状に形成されている。この形状は該シール部が強い圧力で研磨パッドには密着しにくい形状であり、したがって研磨パッドが低剛性のものであってもシール部材が研磨パッドに転写されることが回避される。その結果、研磨パッドによる均一な研磨が遂行されて高い平面度の研磨を達成することができる。
以下、本発明のより具体的な特徴を挙げる
上記シール部材は、マウント部材の保持面か、あるいは研磨パッドの被保持面のいずれか一方に固着されていることを特徴とする。また、このようにシール部材がマウント部材の保持面か、あるいは研磨パッドの被保持面のいずれか一方に固着されている形態において、シール部材は、マウント部材の保持面、あるいは研磨パッドの被保持面への固着部から、上記真空領域の外側に向かって斜め方向に延びていることを特徴とする。
また、上記マウント部材の保持面および/または研磨パッドの被保持面には、シール部材のシール部を上記斜め方向に延びるように変形させる案内部が形成されていることを特徴とする。また、上記マウント部材と上記研磨パッドには、該研磨パッドが該マウント部材に保持された状態において、該研磨パッドの研磨面に至るスラリー供給路が形成されることを特徴とする。
また、上記回転軸に、マウント部材の空気吸引路に連通する空気吸引路が形成されており、該回転軸側の該空気吸引路は、該回転軸に接続されたロータリージョイントを介して空気吸引源に連通されていることを特徴とする。
また、上記回転軸に、マウント部材のスラリー供給路に連通するスラリー供給路が形成されており、該回転軸側の該スラリー供給路は、該回転軸に接続されたロータリージョイントを介してスラリー供給源に連通されていることを特徴とする。
また、上記マウント部材の保持面には、中央部に中央凸部が形成され、外周部に環状の外周凸部が形成され、該中央凸部と該外周凸部との間に凹所が形成されており、該中央凸部にはスラリー供給路が開口しており、該凹所には空気吸引口が形成されており、研磨パッドには、該マウント部材に保持された状態で、該マウント部材のスラリー供給路に連通するスラリー供給路が形成されており、シール部材は、凹所内において、空気吸引口の内周側に配設される第1のシール部材と、前該空気吸引口の外周側に配設される第2のシール部材とを備えていることを特徴とする。
また、上記マウント部材と研磨パッドに、該マウント部材に対する該研磨パッドの保持位置を位置決めする位置決め手段が設けられていることを特徴とする。
なお、本発明で言うワークは特に限定はされないが、例えば、GaAs、シリコン等からなる半導体ウェーハや、セラミック、ガラスあるいはサファイア系の基板等が挙げられる。
本発明によれば、研磨パッドを真空吸着作用で着脱可能に保持する研磨装置において、研磨パッドが低剛性のものであっても、真空度を維持するためのシール部材が研磨パッドに転写されずに均一な研磨が遂行され、結果として高い平面度の研磨を達成することができるといった効果を奏する。
以下、図面を参照して本発明の一実施形態を説明する。
(1)研磨装置
(1−1)研磨装置の概要
図1は、一実施形態に係る研磨装置であるCMP装置を示している。この研磨装置10は、円板状の半導体ウェーハ1をCMP処理するものである。ウェーハ1はシリコンウェーハ等であって、予め研削によって所定厚さに薄化処理されており、研磨装置10によって片面あるいは両面が所望の平面度まで平坦に研磨される。
研磨装置10は、直方体状の基台11を有している。この基台11には、テーブルベース12がY方向に移動可能に設けられており、このテーブルベース12に、円板状のチャックテーブル13が回転可能に支持されている。チャックテーブル13は一般周知の真空チャック式のもので、ウェーハ1はチャックテーブル13の水平な吸着面13aに同心状に載置されて吸着、保持される。
ウェーハ1は、テーブルベース12およびチャックテーブル13を介して、図1でY1方向側の端部の着脱位置から、Y2方向側の端部の加工位置に送り込まれる。基台11にはテーブルベース12をY方向に移動させる移動機構が設けられており、テーブルベース12にはチャックテーブル13を回転させる回転駆動機構が設けられている(いずれも図示略)。基台11には、テーブルベース12の移動路を塞いで研磨屑等が基台11内に落下することを防ぐ蛇腹状のカバー14が伸縮自在に設けられている。
上記加工位置の上方には、研磨ユニット20が配設されている。この研磨ユニット20は、基台11のY2方向側の端部に立設されているコラム15の前面(Y1側の面)に、Z方向(鉛直方向)に沿って昇降自在に設置されている。すなわちコラム15の前面にはZ方向に延びるガイド16が設けられており、研磨ユニット20は、スライダ17を介してガイド16に摺動自在に装着されている。そして研磨ユニット20は、サーボモータ18で駆動されるボールねじ式の送り機構19により、スライダ17を介してZ方向に昇降させられる。
研磨ユニット20は、軸方向がZ方向に延びる円筒状のスピンドルハウジング21を備えており、このスピンドルハウジング21が、上記スライダ17の前面に固定されている。スピンドルハウジング21には、スピンドルモータ22によって回転駆動されるスピンドルシャフト23(図4参照)が 同軸的に内蔵されている。スピンドルシャフト23はスピンドルハウジング21の下端から下方に突出しており、その突出端部に、円板状のフランジ24が同軸的に形成されている。そしてこのフランジ24に、研磨ホイール29が着脱可能に取り付けられている。スピンドルシャフト23と上記チャックテーブル13の軸方向はともにZ方向で互いに平行であり、また、スピンドルシャフト23とチャックテーブル13の各軸心のX方向の位置は、同一位置である。
研磨ホイール29は、フランジ24の下面にボルト止め等の手段で着脱可能に固定されたマウント部材30と、このマウント部材30の下面に、真空吸着作用で着脱可能に保持される研磨パッド40と、マウント部材30と研磨パッド40との間に配設されるシール部材51,52(図2および図3参照)とから構成される。マウント部材30と研磨パッド40はフランジ24とほぼ同径の円板状のもので、スピンドルシャフト23と同軸的に配設される。また、研磨パッド40の直径はチャックテーブル13に保持されるウェーハ1とほぼ同じ程度に設定される。研磨ホイール29については後で詳述する。
以上の構成を具備する研磨装置10によれば、上記着脱位置でチャックテーブル13に吸着、保持されたウェーハ1は、テーブルベース12がY2方向に移動することにより研磨ユニット20の下方の加工位置に送り込まれ、チャックテーブル13が回転して自転させられる。そして、ウェーハ1の上面にスラリー(研磨液)を供給しながら、研磨ユニット20のフランジ24、マウント部材30および研磨ホイール29をスピンドルモータ22によって一体に回転させるとともに、研磨ユニット20を下降させ、研磨パッド40の下面(後述するパッド材42の下面)を所定荷重でウェーハ1の上面に押し付ける。この動作によってウェーハ1の上面はCMP処理される。
なお、研磨液であるスラリーは、ウェーハ1の種類に応じて選択されるが、例えばKOH(水酸化カリウム)、NaOH(水酸化ナトリウム)、NHOH(アンモニア)等のアルカリ薬液水溶液に、SiO(酸化珪素)、Ce(酸化セリウム)、Al(アルミナ)等の砥粒を懸濁させたものが用いられる。砥粒の水溶液としては、酸性のものを用いる場合もある。
また、研磨パッド40がウェーハ1に接触する領域は、自転するウェーハ1に対して回転する研磨パッド40が相対的に摺動して研磨作用を効果的に得られるとともに、ウェーハ1の上面全面が研磨される領域とされる。所定の研磨時間が経過したら研磨ユニット20を上昇させ、テーブルベース12を着脱位置まで戻すとともにチャックテーブル13の回転を停止させ、研磨されたウェーハ1をピックアップして研磨工程を終了する。
(1−2)第1実施形態の研磨ホイール
次いで、上記研磨ホイール29について説明する。
図2および図3に示すように、マウント部材30の下面31の中央には円形の中央凸部32が形成され、外周部には環状の外周凸部33が形成されており、これら凸部32,33の間に、環状の凹所34が形成されている。中央凸部32と外周凸部33の、凹所34の底面34aからの突出量は同じであってこれら凸部32,33の下面は面一である。
マウント部材30の軸心には、中央凸部32の下面に開口するスラリー供給路35が形成されている。また、マウント部材30には、複数の空気吸引路36がスラリー供給路35と平行に形成されており、凹所34の底面34aに、空気吸引路36の開口である空気吸引口36aが形成されている。この場合、空気吸引路36は2つ形成されており、各空気吸引口36aは中央凸部32を間に挟んで周方向に互いに180°離れた位置に形成されている。
図4に示すように、スピンドルシャフト23には、マウント部材30のスラリー供給路35と空気吸引路36にそれぞれ連通するスラリー供給路25と空気吸引路26が形成されている。スピンドルシャフト23側のスラリー供給路25は、マウント部材30側のスラリー供給路35との接続部分から上方に延びた後、左右2本に分岐して、スピンドルシャフト23の外周面に形成された周溝25aに開口している。また、スピンドルシャフト23側の空気吸引路26は、マウント部材30側の各空気吸引路36との接続部分から上方に延びた後、外周面方向に屈曲し、スピンドルシャフト23の外周面に形成された周溝26aに開口している。
図4に示すように、スピンドルシャフト23は、上記スピンドルハウジング21に支持された円筒状のユニバーサルジョイント60に回転摺動可能に挿入されている。このユニバーサルジョイント60には、周溝25aに連通するスラリー導入路65と、周溝26aに連通する空気吸引路66とがそれぞれ形成されている。そして、スラリー導入路65には配管71Aを介してスラリーポンプ等のスラリー供給源71が接続されており、空気吸引路66には配管72Aを介してコンプレッサ等の空気吸引源72が接続されている。
スラリー供給源71が作動すると、スラリーが配管71Aからユニバーサルジョイント60のスラリー導入路65に導入され、次いでスピンドルシャフト23の周溝25aに入り込み、スラリー供給路25を経て、マウント部材30のスラリー供給路35に送り込まれる。また、空気吸引源72が作動すると、マウント部材30の空気吸引口36aから、空気が、マウント部材30の空気吸引路36、スピンドルシャフト23の空気吸引路26、周溝26aを経て、ユニバーサルジョイント60の空気吸引路66から配管72Aを通って空気吸引源72に吸引される。
スピンドルシャフト23はスピンドルモータ22によって回転させられるが、スピンドルシャフト23が回転しても、周溝25a,26aが常にユニバーサルジョイント60側のスラリー導入路65および空気吸引路66にそれぞれ連通するため、スラリーの供給や空気の吸引は滞ることなく安定して行われる。なお、各流路の接続部分の周囲には、気密状態を維持してスラリーおよび空気の漏れを抑えるOリング61がそれぞれ設けられる。
研磨パッド40は、PET(ポリエチレンテレフタレート)等の樹脂製であって、両面が平坦で一定厚さの円板状のプレート41の片面に、プレート41と同径の円板状のパッド材42が同心状に貼り付けられて構成される。パッド材42は研磨対象物であるウェーハ1に応じたものが選択されるが、例えば発泡させるか、あるいは繊維状のものをシート状に成形したポリウレタンが用いられる。パッド材42は、例えば両面粘着テープ等によってプレート41に貼り付けられ、交換時にはプレート41から剥離されて新しいパッド材42がプレート41に貼り付けられる。研磨パッド40の中心には、スラリー供給口40aが形成されている。
研磨パッド40は、プレート41がマウント部材30の下面31の、中央凸部32と外周凸部33の下面に合わせられた状態で、マウント部材30に真空吸着作用で吸着、保持される。その時、マウント部材30の凹所34の底面34aとプレート41の上面41aとの間には空間45が形成され、また、研磨パッド40のスラリー供給口40aはマウント部材30のスラリー供給路35に連通する。マウント部材30の凹所34には、真空吸着作用を発生させ、かつ、真空度を維持するための2つのシール部材51,52が固着されている。
シール部材51,52はゴム等の弾性を有する材質でできており、いずれも一定厚さの平板状の材料を環状に、かつ、内周縁から外周縁にわたって自身の軸方向に対し斜め方向に傾斜するスカート状に成形されたものである。これらシール部材51,52は、厚さおよび幅(内周縁から外周縁にわたる寸法)は同じであるが、径が異なっており、小径側が第1のシール部材51、大径側が第2のシール部材52とされる。
第1のシール部材51は、2つの空気吸引口36aの内側に、凹所34と同心状に、かつ、下方(研磨パッド40側)に向かうにつれて狭まる状態に配設されており、上側の端部、すなわち外周側の縁部の複数箇所が、ビス49により凹所34の底面34aに固着されている。一方、第2のシール部材52は、空気吸引口36aの外周側に、凹所34と同心状に、かつ、下方に向かうにつれて広がる状態に配設されており、上側の端部、すなわち内周側の縁部の複数箇所が、ビス49により凹所34の底面34aに固着されている。したがってマウント部材30の2つの空気吸引口36aは、第1のシール部材51と第2のシール部材52に囲繞されている。
このようにマウント部材30に取り付けられた状態で、各シール部材51,52のビス49による固着部分である上端部は、凹所34の底面34aに密着して水平となっている。そしてこの上端部から下方部分は、いずれも下方に向かうにつれて空気吸引口36aから遠ざかる斜め方向に延びており、下端部は凹所34から所定長さ突出している。この場合、各シール部材51,52の斜め方向に延びている部分が、それぞれシール部51a,52aとされる。
研磨ホイール29においては、上記のように研磨装置10がウェーハ1を研磨する運転時において、図3(b)に示すように研磨パッド40がマウント部材30に真空吸着作用で吸着、保持される。この状態で、研磨パッド40のスラリー供給口40aはマウント部材30のスラリー供給路35に連通し、研磨運転時においてスラリー供給路35に供給されるスラリーは研磨パッド40のスラリー供給口40aから下方に流出してウェーハ1の上面41aに供給される。なお、スラリー供給口40aは、ウェーハ研磨時においてはウェーハ1の上面に対面してスラリーがウェーハ1の上面に十分に供給される位置に位置付けられる。
研磨パッド40がマウント部材30に吸着、保持されるには、研磨パッド40のプレート41を上に向けた状態で、そのプレート41の上面41aをマウント部材30の下面31に同心状に合わせる。プレート41をマウント部材30に合わせると、第1のシール部材51および第2のシール部材52の各シール部51a,52aがそれぞれプレート41に押されて撓み、プレート41の上面41aに面接触する。これにより上記空間45には第1のシール部材51と第2のシール部材52で囲まれた環状の真空領域45aが形成される。
次いで、上記空気吸引源72を作動させる。すると空気吸引口36aから真空領域45a内の空気が吸引され、研磨パッド40のプレート41の上面41aがマウント部材30の中央凸部32および外周凸部33の下面に密着し、研磨パッド40はマウント部材30に吸着、保持される。研磨パッド40がマウント部材30に吸着、保持されている時、第1のシール部材51および第2のシール部材52においては、上端部がマウント部材30の凹所34の底面34aに密着し、下端部がプレート41の上面41aに密着する。
そして、プレート41の上面41aに密着するシール部材51,52の各シール部51a,52aは、プレート41の上面41aに向かって斜め方向に延びてから、上面41aに面接触する。これらシール部51a,52aはそもそも弾性変形しやすい平板状であり、その上、プレート41の上面41aに対し斜め方向に延びているため、真空作用で密着はするものの、強い圧力でプレート41を押圧する状態とはならない。したがってプレート41が薄く低剛性のものであっても、シール部材51,52が研磨パッド40に転写されるといった現象が生じることはなく、パッド材42の研磨面は平坦な状態が保持される。その結果、均一な研磨が遂行されて高い平面度の研磨を達成することができる。
また、各シール部材51,52は、マウント部材30への固着部から真空領域45aの外側に向かって斜め方向に延びている。ここでの外側とは、内側のシール部材51においては中央凸部32側であり、外側のシール部材52においては外周凸部32側ということである。このように各シール部材51,52がマウント部材30への固着部から真空領域45aの外側に向かって斜め方向に延びていることにより、真空領域45a内の空気が空気吸引口36aから吸引されると、固着されていない自由側の縁部である下端部が、研磨パッド40のプレート41の上面41aに確実に面接触して密着する。
この自由側の縁部のプレート41への密着作用は、マウント部材30への固着部から真空領域45aの外側に向かって斜め方向に延びているために生じるものであり、真空領域45aの真空度が高くなればなるほど、密着度が強くなり、シール性がさらに高くなるという効果を奏する。
以下、本発明に係る研磨ホイールの他の実施形態を説明する。これら実施形態で参照する図面において、上記実施形態と同一構成要素には同一の符号を付し、説明を省略する。
(2)第2実施形態の研磨ホイールおよびシール部材
図5は、本発明の第2実施形態の研磨ホイール29を示している。この場合のマウント部材30の下面31の凹所34には、さらにもう1段深い環状の凹所37が凹所34の中央に同心状に形成されており、空気吸引口36aは、この小径側の凹所37の底面37aに開口している。そして、小径側の凹所37の内周壁37bに環状の第1のシール部材51がビス49により固着されており、外周壁37cに環状の第2のシール部材52がビス49により固着されている。
この場合の第1のシール部材51は、上下方向に沿った内周壁37bへの固着部から、下方に向かうにつれて湾曲しながら狭まる形状を有している。一方、第2のシール部材52は、上下方向に沿った外周壁37cへの固着部から、下方に向かうにつれて湾曲しながら広がる形状に形成されている。いずれのシール部材51,52も、マウント部材30への固着部から下方の湾曲部分がシール部51a,52aとされている。
第2実施形態では、図5(b)に示すように、研磨パッド40がマウント部材30に吸着、保持されると、シール部材51,52の各シール部51a,52aが湾曲状態に倣って撓み、プレート41の上面41aにそれぞれ密着する。この実施形態の各シール部51a,52aは、プレート41の上面41aに対し上方から湾曲しながら接触しているが、接触する直前部分は斜めに延びる状態となっている。このため、上記実施形態と同様にプレート41への押圧力は強いものとはならず、研磨パッド40に転写することがない。
(3)第3実施形態の研磨ホイール
図6は、本発明の第3実施形態の研磨ホイール29を示している。この実施形態でも、マウント部材30の下面31の凹所34に、さらにもう1段深い環状の凹所38が凹所34の中央に同心状に形成され、この凹所38の底面38aに空気吸引口36aが開口している。この場合の小径側の凹所38を形成する内周壁38bおよび外周壁38cは、下方に向かうにつれて広がる傾斜面に形成されている。そして、これら内周壁38bおよび外周壁38cに、第1のシール部材51と第2のシール部材52がそれぞれビス49により固着されている。
図7に示すように、これらシール部材51,52は、自由状態で、立体的ではない平板状に成形された環状のものである。そして、小径の第1のシール部材51は、外周側の縁部が小径側の凹所38の底面38aの内周部に密着されてビス49により固着されている。これにより、固着部よりも内周側の部分が傾斜している内周壁38bに接触させられ、下方に向かうにつれて狭まるテーパ状に変形している。この第1のシール部材51では、内周壁38bから下方の、斜めに延びて狭まる部分がシール部51aとされる。
一方、大径の第2のシール部材52は、内周側の縁部が小径側の凹所38の底面38aの外周部に密着されてビス49により固着されている。これにより、固着部よりも外周側の部分が、傾斜している外周壁38cに接触させられ、下方に向かうにつれて広がるスカート状に変形している。この第2のシール部材52では、外周壁38cから下方の、斜めに延びて広がる部分がシール部52aとされる。
このように内周壁38bおよび外周壁38cに接触することによって変形させられた各シール部材51,52は、上記第1実施形態と同様に研磨パッド40のプレート41の上面41aに対し斜め方向に接触し、これによって研磨パッド40に転写しないといった同様の作用効果が得られる。
また、この第3実施形態では、図8に示すように、マウント部材30の外周凸部33の下面に、下方に突出する複数の突起38dが周方向に等間隔をおいて形成されている。そして相手側の研磨パッド40のプレート41の上面41aには、突起38dに係合する孔41dが形成されている。この構成によると、研磨パッド40の孔41dをマウント部材30の突起38dに合わせて係合させることにより、マウント部材30に対する研磨パッド40の同心状の位置決めを、円滑、かつ、確実に行うことができるといった効果が奏される。
(4)第4実施形態の研磨ホイール
上記各実施形態では、シール部材51,52をマウント部材30に取り付けているが、本発明は研磨パッド40側にシール部材を取り付ける構成も含んでいる。図9は、図1で示したマウント部材30および研磨パッド40において、研磨パッド40側に第1のシール部材51および第2のシール部材52を取り付けた例を示している。
この実施形態でのシール部材51,52の向きは第1実施形態と逆であり、第1のシール部材51は外周側の縁部がプレート41の上面41aに固着され、上方に向かうにつれて狭まる状態に配設されている。一方、第2のシール部材52は、内周側の端部がプレート41の上面41aに固着され、上方に向かうにつれて広がる状態に配設されている。すなわち、各シール部材51,52は、研磨パッド40のプレート41への固着部から真空領域45aの外側(内側のシール部材51においてはスラリー供給口40a側、外側のシール部材52に研磨パッド40の外周縁側)に向かって斜め方向に延びている。このようにして配設することにより、図9(b)に示すように研磨パッド40が真空吸着された時、シール部材51,52の固着されていない上側の縁部がマウント部材30の凹所34の底面34aに密着し、真空度が維持される。
なお、この場合のプレート41に対するシール部材51,52の固着手段としては、プレート41が薄く、かつ、低剛性であることを考慮するとビス止めは不適切であり、例えば粘着剤を塗布したり両面粘着テープを用いたりして貼り付けることにより、固着する方法が適切である。
(5)第5実施形態の研磨ホイール
上記実施形態では、複数(2つ)の空気吸引口36aを、内周側と外周側の2つのシール部51,52で一括して囲繞する構成であるが、1つの空気吸引口36aを1つのシール部材で囲繞する構成であってもよい。
図10および図11はその例を示しており、マウント部材30の下面31には、各空気吸引口36aの周囲に円形状の凹所39がそれぞれ同心状に形成されている。そして、空気吸引口36aを囲繞するスカート状のシール部材53が、各凹所39の底面39aに同心状に配設され、固着されている。図10に示すように、各シール部材53は、内周側の縁部が凹所34の底面39aにビス49により固着され、下方に向かうにつれて広がる状態に配設されており、真空吸着時には、シール部53aが研磨パッド40のプレート41の上面41aに斜め方向に延びて該上面41aに密着し、1つのシール部材53の内側に真空領域45aが形成される。
この実施形態でのシール部材53においては、マウント部材30への固着部から真空領域45aの外側(ここでの外側は真空領域45aの外周側)に向かって斜め方向に延びており、自由側の縁部である下端部が、研磨パッド40のプレート41に効果的に密着して真空度が維持される。
本発明の実施形態に係る研磨装置の斜視図である。 本発明の第1実施形態に係る研磨ホイールの下面側を示す分解斜視図である。 第1実施形態に係る研磨ホイールの断面図であって、(a)は研磨パッド吸着前、(b)は研磨パッド吸着後を示している。 第1実施形態に係る研磨ホイールへのスラリー供給構造および空気吸引構造を示す断面図である。 第2実施形態に係る研磨ホイールの断面図であって、(a)は研磨パッド吸着前、(b)は研磨パッド吸着後を示している。 第3実施形態に係る研磨ホイールの断面図であって、(a)は研磨パッド吸着前、(b)は研磨パッド吸着後を示している。 第3実施形態に係るシール部材の(a)斜視図、(b)断面図である。 図6のVIIIで示す部分の拡大図である。 第4実施形態に係る研磨ホイールの断面図であって、(a)は研磨パッド吸着前、(b)は研磨パッド吸着後を示している。 第5実施形態に係る研磨ホイールの断面図であって、(a)は研磨パッド吸着前、(b)は研磨パッド吸着後を示している。 第5実施形態に係る研磨ホイールのマウント部材およびシール部材の下面図である。
符号の説明
1…ウェーハ(ワーク)
10…研磨装置
13…チャックテーブル(保持手段)
19…送り機構
20…研磨ユニット
22…スピンドルモータ(回転駆動機構)
23…スピンドルシャフト(回転駆動機構、回転軸)
25…スピンドルシャフトのスラリー供給路
26…スピンドルシャフトの空気吸引路
29…研磨ホイール
30…マウント部材
31…下面(保持面)
32…中央凸部
33…外周凸部
34…凹所
35…マウント部材のスラリー供給路
36…マウント部材の空気吸引路
36a…空気吸引口
38b…内周壁(案内部)
38c…外周壁(案内部)
38d…突起(位置決め手段)
40…研磨パッド
40a…スラリー供給口(研磨パッドのスラリー供給路)
41a…プレートの上面(被保持面)
41d…孔(位置決め手段)
42…パッド材
45…空間
45a…真空領域
51…第1のシール部材
52…第2のシール部材
53…シール部材
51a,52a,53a…シール部
60…ロータリージョイント
71…スラリー供給源
72…空気吸引源

Claims (9)

  1. ワークを保持する保持手段と、
    該保持手段に対向配置された研磨ホイールと、
    該研磨ホイールを回転させる回転駆動機構と、
    前記保持手段と前記研磨ホイールとを、該研磨ホイールの回転軸方向に相対移動させて該研磨ホイールを前記保持手段に保持された前記ワークに押し付け、該ワークを該研磨ホイールによって研磨させる送り手段と、を有する研磨装置であって、
    前記研磨ホイールは、
    研磨パッドを保持する保持面を有し、該保持面に空気吸引口が形成され、内部に該空気吸引口に連通する空気吸引路が形成されており、前記回転駆動機構が有する回転軸に接続されるマウント部材と、
    該マウント部材の前記保持面に保持される被保持面を有し、該保持面と該被保持面との間に空間を形成する研磨パッドと、
    可撓性を有し、前記研磨パッドの前記被保持面と前記マウント部材の前記保持面との間の前記空間に、前記空気吸引口を囲繞して自身の内側に真空領域を形成し、該真空領域内の空気が吸引された時に該被保持面と該保持面の双方に密着させられる作用を受ける環状のシール部材とを備えており、
    該シール部材は、前記研磨パッドの前記被保持面に向かって斜め方向に延びてから該被保持面に面接触する平板状のシール部を有しており、
    さらに、前記空気吸引口から前記真空領域内の空気を吸引する空気吸引源を備えることを特徴とする研磨装置。
  2. 前記シール部材は、前記マウント部材の前記保持面か、あるいは前記研磨パッドの前記被保持面のいずれか一方に固着されていることを特徴とする請求項1に記載の研磨装置。
  3. 前記シール部材は、前記マウント部材の前記保持面、あるいは前記研磨パッドの前記被保持面への固着部から、前記真空領域の外側に向かって斜め方向に延びていることを特徴とする請求項1または2に記載の研磨装置。
  4. 前記マウント部材の前記保持面および/または前記研磨パッドの前記被保持面には、前記シール部材の前記シール部を前記斜め方向に延びるように変形させる案内部が形成されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の研磨装置。
  5. 前記マウント部材と前記研磨パッドには、該研磨パッドが該マウント部材に保持された状態において、該研磨パッドの研磨面に至るスラリー供給路が形成されることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の研磨装置。
  6. 前記回転軸に、前記マウント部材の前記空気吸引路に連通する空気吸引路が形成されており、該回転軸側の該空気吸引路は、該回転軸に接続されたロータリージョイントを介して前記空気吸引源に連通されていることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の研磨装置。
  7. 前記回転軸に、前記マウント部材の前記スラリー供給路に連通するスラリー供給路が形成されており、該回転軸側の該スラリー供給路は、該回転軸に接続されたロータリージョイントを介してスラリー供給源に連通されていることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の研磨装置。
  8. 前記マウント部材の前記保持面には、中央部に中央凸部が形成され、外周部に環状の外周凸部が形成され、該中央凸部と該外周凸部との間に凹所が形成されており、該中央凸部には前記スラリー供給路が開口しており、該凹所には前記空気吸引口が形成されており、
    前記研磨パッドには、該マウント部材に保持された状態で、該マウント部材の前記スラリー供給路に連通するスラリー供給路が形成されており、
    前記シール部材は、前記凹所内において、前記空気吸引口の内周側に配設される第1のシール部材と、前該空気吸引口の外周側に配設される第2のシール部材とを備えていることを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の研磨装置。
  9. 前記マウント部材と前記研磨パッドに、該マウント部材に対する該研磨パッドの保持位置を位置決めする位置決め手段が設けられていることを特徴とする請求項1〜8のいずれかに記載の研磨装置。
JP2008272017A 2008-10-22 2008-10-22 研磨装置 Active JP5415737B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008272017A JP5415737B2 (ja) 2008-10-22 2008-10-22 研磨装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008272017A JP5415737B2 (ja) 2008-10-22 2008-10-22 研磨装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010099763A true JP2010099763A (ja) 2010-05-06
JP5415737B2 JP5415737B2 (ja) 2014-02-12

Family

ID=42290868

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008272017A Active JP5415737B2 (ja) 2008-10-22 2008-10-22 研磨装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5415737B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3479958A1 (en) * 2017-11-07 2019-05-08 Ebara Corporation Substrate polishing device and polishing method
KR20190092859A (ko) * 2018-01-31 2019-08-08 주식회사 케이씨텍 기판 처리 장치 및 이에 사용되는 연마 패드
KR20190111873A (ko) * 2019-09-25 2019-10-02 오두환 유리판 연마장치

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0731245U (ja) * 1993-11-17 1995-06-13 株式会社森田工業 チャック
JPH11254316A (ja) * 1998-03-11 1999-09-21 Enya System:Kk ウエ−ハ貼付装置
JP2001319901A (ja) * 2000-05-08 2001-11-16 Nikon Corp 研磨パッド、化学機械研磨装置、基板表面の平坦化方法、及び半導体デバイス製造方法
JP2005322876A (ja) * 2004-04-08 2005-11-17 Nikon Corp 使い捨て研磨パッドプレート、アダプタ、ケース、cmp研磨装置、研磨パッドプレートの取り付け方法、及び研磨パッドプレートの取り外し方法
JP2008137103A (ja) * 2006-11-30 2008-06-19 Ebara Corp 基板保持装置、基板研磨装置、及び基板研磨方法
JP2008228918A (ja) * 2007-03-19 2008-10-02 Sony Corp 吸盤およびその製造方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0731245U (ja) * 1993-11-17 1995-06-13 株式会社森田工業 チャック
JPH11254316A (ja) * 1998-03-11 1999-09-21 Enya System:Kk ウエ−ハ貼付装置
JP2001319901A (ja) * 2000-05-08 2001-11-16 Nikon Corp 研磨パッド、化学機械研磨装置、基板表面の平坦化方法、及び半導体デバイス製造方法
JP2005322876A (ja) * 2004-04-08 2005-11-17 Nikon Corp 使い捨て研磨パッドプレート、アダプタ、ケース、cmp研磨装置、研磨パッドプレートの取り付け方法、及び研磨パッドプレートの取り外し方法
JP2008137103A (ja) * 2006-11-30 2008-06-19 Ebara Corp 基板保持装置、基板研磨装置、及び基板研磨方法
JP2008228918A (ja) * 2007-03-19 2008-10-02 Sony Corp 吸盤およびその製造方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3479958A1 (en) * 2017-11-07 2019-05-08 Ebara Corporation Substrate polishing device and polishing method
US11331766B2 (en) 2017-11-07 2022-05-17 Ebara Corporation Substrate polishing device and polishing method
KR20190092859A (ko) * 2018-01-31 2019-08-08 주식회사 케이씨텍 기판 처리 장치 및 이에 사용되는 연마 패드
KR102503624B1 (ko) * 2018-01-31 2023-02-24 주식회사 케이씨텍 기판 처리 장치
KR20190111873A (ko) * 2019-09-25 2019-10-02 오두환 유리판 연마장치
KR102134105B1 (ko) * 2019-09-25 2020-07-14 오두환 연마장치용 모터 구조

Also Published As

Publication number Publication date
JP5415737B2 (ja) 2014-02-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8430716B2 (en) Polishing method and polishing apparatus
KR19990062699A (ko) 기판 표면을 평탄화하기 위한 연마기
JP2016058724A (ja) 処理モジュール、処理装置、及び、処理方法
TW201820448A (zh) 凸緣機構
US10256120B2 (en) Systems, methods and apparatus for post-chemical mechanical planarization substrate buff pre-cleaning
JP5415737B2 (ja) 研磨装置
TWI577498B (zh) 基板研磨裝置
JP2009260142A (ja) ウェハ研磨装置及びウェハ研磨方法
US11103972B2 (en) Buff processing device and substrate processing device
JP2009018363A (ja) 研磨装置
KR20180007685A (ko) 척 테이블 기구
JP2009274169A (ja) 吸着装置、吸着装置の製造方法および研磨装置
JP2001121413A (ja) 平板状の被加工材の保持方法
JP2001358098A (ja) 化学的機械的研磨装置の研磨ヘッド
TWI662614B (zh) 研磨系統、晶圓夾持裝置及晶圓的研磨方法
JP4963411B2 (ja) 半導体装置または半導体ウェハの製造方法
JP2009034745A (ja) Cmp装置用リテーナリング
US20180330956A1 (en) Chemical mechanical polishing apparatus and control method thereof
JP2009260120A (ja) 研磨装置の保持テーブル機構
JPH11333677A (ja) 基板の研磨装置
CN115302403B (zh) 一种用于化学机械抛光的承载头及抛光设备
CN221248288U (zh) 边缘抛光头和晶圆边缘抛光装置
JP7266369B2 (ja) Cmp装置及び方法
WO2023153243A1 (ja) 研磨ヘッドおよび研磨装置
KR100899336B1 (ko) 화학적 기계적 연마 장치의 연마 헤드

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110913

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130315

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130514

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131028

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131114

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5415737

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250