JP2010099679A - レーザ加工装置及びその位置検出方法 - Google Patents

レーザ加工装置及びその位置検出方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2010099679A
JP2010099679A JP2008272002A JP2008272002A JP2010099679A JP 2010099679 A JP2010099679 A JP 2010099679A JP 2008272002 A JP2008272002 A JP 2008272002A JP 2008272002 A JP2008272002 A JP 2008272002A JP 2010099679 A JP2010099679 A JP 2010099679A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
processing
laser beam
lens
machining
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008272002A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5238451B2 (ja
Inventor
Satoshi Okubo
聡士 大久保
Koji Oda
幸治 小田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Honda Motor Co Ltd
Original Assignee
Honda Motor Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Honda Motor Co Ltd filed Critical Honda Motor Co Ltd
Priority to JP2008272002A priority Critical patent/JP5238451B2/ja
Publication of JP2010099679A publication Critical patent/JP2010099679A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5238451B2 publication Critical patent/JP5238451B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Laser Beam Processing (AREA)

Abstract

【課題】距離センサからのレーザ光の波長が制限されることがなく、可視光等の種々のレーザ光を使用することができるとともに、レーザ加工と同時に位置検出作業を行うことを可能にする。
【解決手段】レーザ加工装置10を構成するレーザ加工ヘッド14は、加工用レーザ光Lを加工対象物Wに照射してレーザ加工を行う加工用レーザ照射機構22と、前記加工対象物Wに対する前記レーザ加工ヘッド14の位置を検出する位置検出機構24とを備える。加工用レーザ照射機構22は、加工用レーザ光Lの集光距離を調整するレンズ30と、前記レンズ30の下流に配置され、前記加工用レーザ光Lを走査して加工対象物Wに照射するレーザ走査用ミラー34とを備える。位置検出機構24は、レンズ30を通過することなく、レーザ走査用ミラー34に走査され、且つ、加工用レーザ光Lと同軸に加工対象物Wに照射される測定用レーザ光L0を導出する距離センサ36を備える。
【選択図】図2

Description

本発明は、加工用レーザ光をレーザ加工ヘッドから加工対象物に照射してレーザ加工を行う加工用レーザ照射機構と、前記加工対象物に対する前記レーザ加工ヘッドの位置を検出する位置検出機構とを備えるレーザ加工装置及びその位置検出方法に関する。
レーザ加工装置は、加工対象物に高エネルギ密度のレーザ光を照射して、前記加工対象物を熱加工する装置である。具体的には、レーザ発振器からのレーザ光をレンズ系(光学系)を通過させて加工対象物に照射するとともに、前記レンズ系を収容するレーザ加工ヘッドをX軸、Y軸及びZ軸の3軸方向に(3次元)移動させる構成が採用されている。
そこで、3次元に対する位置決め精度を向上させ、加工対象物の高精度な加工を行うために、例えば、特許文献1に開示されているレーザ加工装置及びレーザ加工方法が知られている。
このレーザ加工装置は、図3に示すように、レーザ加工ヘッド1と、照射ノズル2と、CCDカメラ3と、距離センサ4とを有している。レーザ光は、加工レーザ用ミラー(ハーフミラー)5を介して加工レンズ6で結像され、照射ノズル2から加工対象物Wの加工点に照射されて加工が行われている。
距離センサ4は、位置計測用の光を距離センサ用ミラー7に照射し、その光が前記距離センサ用ミラー7で反射した後、加工レーザ用ミラー5及び加工レンズ6を通過して加工対象物Wに照射されている。その後、加工対象物Wから反射された光は、距離センサ用ミラー7で反射されて距離センサ4に検知されることにより、レーザ加工ヘッド1と前記加工対象物Wとの距離が求められている。
特開2004−243383号公報
上記の特許文献1では、距離センサ4からの位置計測用の光が、レーザ光と同様に加工レンズ6を通過した後、加工対象物Wに照射されている。しかしながら、レーザ光の波長は、例えば、1030nm(YAG波長)であるのに対し、位置計測用の光は、可視光(例えば、780nm以下)であることが好ましい。このため、レーザ光の波長と位置計測用の光の波長とは、相当に大きな波長差を有してしまう。これにより、特に距離センサ4からの位置計測用の光の焦点がぼけてしまい、正確な位置検出が困難になるという問題がある。
一方、距離センサ4からの位置計測用の光の波長を、レーザ光の波長に近似させると、この距離センサ4にレーザ光のノイズが多く入ったり、距離センサ用ミラー7の反射の調節が困難になってしまう。従って、レーザ光による加工時と同時に、距離測定を行うことができないという問題がある。
本発明はこの種の問題を解決するものであり、距離センサからのレーザ光の波長が制限されることがなく、可視光等の種々のレーザ光を使用することができるとともに、レーザ加工と同時に位置検出作業を行うことが可能なレーザ加工装置及びその位置検出方法を提供することを目的とする。
本発明は、加工用レーザ光をレーザ加工ヘッドから加工対象物に照射してレーザ加工を行う加工用レーザ照射機構と、前記加工対象物に対する前記レーザ加工ヘッドの位置を検出する位置検出機構とを備えるレーザ加工装置に関するものである。
加工用レーザ照射機構は、加工用レーザ光の集光距離を調整するレンズと、前記レンズの下流に配置され、前記加工用レーザ光を走査して加工対象物に照射するレーザ走査用ミラーとを備えている。
一方、位置検出機構は、レンズを通過することなくレーザ走査用ミラーに走査され、且つ加工用レーザ光と同軸に加工対象物に照射される測定用レーザ光を導出する距離センサを備えている。
また、本発明は、加工用レーザ光が集光距離調整用レンズを通過することにより前記加工用レーザ光の集光距離を調整した後、前記加工用レーザ光をレーザ走査用ミラーにより走査して加工対象物に照射し、前記加工対象物にレーザ加工を行うレーザ加工装置の位置検出方法に関するものである。
この位置検出方法は、距離センサから導出される測定用レーザ光を、レンズを通過させることなくレーザ走査用ミラーにより走査し、且つ加工用レーザ光と同軸に加工対象物に照射している。
本発明では、距離センサから導出される測定用レーザ光は、レンズを通過することがなく、レーザ走査用ミラーにより走査されて加工用レーザ光と同軸に加工対象物に照射されている。このため、測定用レーザ光は、波長の制限がなく、レーザ加工と同時に位置検出作業を行うことができる。従って、例えば、線接合等の際には、検出された位置情報をフィードバックさせながら、前記線接合等が高精度に遂行可能になる。
しかも、測定用レーザ光として、例えば、赤色光レーザを使用することができる。これにより、設備費の削減が良好に図られるとともに、ティーチング時の目視確認が容易に遂行される。
図1は、本発明の実施形態に係るレーザ加工装置10の概略構成図である。
レーザ加工装置10は、溶接ロボット12を備え、前記溶接ロボット12の手首部先端には、レーザ加工ヘッド14が装着される。溶接ロボット12は、コントローラ16により制御されるとともに、前記コントローラ16は、レーザ発振器20を制御する。
レーザ発振器20は、レーザ加工ヘッド14に加工用レーザ光(YAG光)Lを導入する。図2に示すように、レーザ加工ヘッド14には、加工対象物Wに加工用レーザ光Lを照射してレーザ加工(溶接)を行う加工用レーザ照射機構22と、前記加工対象物Wに対する前記レーザ加工ヘッド14の位置を検出する位置検出機構24とが設けられる。
加工用レーザ照射機構22は、レーザ発振器20から導出される加工用レーザ光Lを反射する反射ミラー26と、前記反射ミラー26で反射された前記加工用レーザ光Lをコリメート(平行光)するコリメータレンズ28a、28bと、前記レーザ光Lの集光距離(焦点位置)を調整するレンズ30と、前記レンズ30を通過したレーザ光Lを通過させるハーフミラー32と、前記レーザ光LをX軸方向及び/又はY軸方向に走査して前記加工対象物Wに照射するレーザ走査用ミラー34とを備える。
位置検出機構24は、測定用レーザ光(例えば、赤色光レーザ)L0を導出する距離センサ36を備える。距離センサ36は、レンズ光学系外に配置されており、測定用レーザ光L0は、レンズ30を通過することなくハーフミラー32で反射された後、レーザ走査用ミラー34に走査され、且つ、加工用レーザ光Lと同軸に加工対象物Wに照射される。
距離センサ36には、加工対象物Wで反射された測定用レーザ光L0が、レーザ走査用ミラー34及びハーフミラー32で反射されて導入されることにより、レーザ加工ヘッド14と前記加工対象物Wとの距離が検出される。距離センサ36は、検出された距離情報(位置情報)を制御部18に入力する。
このように構成されるレーザ加工装置10の動作について、本実施形態に係る位置検出方法との関連で、以下に説明する。
先ず、コントローラ16は、溶接ロボット12を制御して、レーザ加工ヘッド14を加工対象物Wの加工位置に移動させる。次いで、コントローラ16を介してレーザ発振器20が駆動されると、このレーザ発振器20から加工用レーザ光Lが導出される。この加工用レーザ光Lは、図2に示すように、レーザ加工ヘッド14に導入され、反射ミラー26で反射された後、コリメータレンズ28a、28bを介してコリメートされる。
さらに、加工用レーザ光Lは、レンズ30を通過して集光距離(焦点位置)が調整された後、ハーフミラー32を透過し、レーザ走査用ミラー34で2軸方向(X軸及びY軸方向)に走査され、加工対象物Wに照射される。このため、加工対象物Wでは、所定の加工位置に加工用レーザ光Lが照射されて溶接処理が行われる。
一方、位置検出機構24では、距離センサ36から測定用レーザ光L0が導出される。この測定用レーザ光L0は、ハーフミラー32で反射された後、レーザ走査用ミラー34で走査され、加工対象物Wに照射される。加工対象物Wから反射された測定用レーザ光L0は、レーザ走査用ミラー34及びハーフミラー32で反射されて距離センサ36に照射される。
従って、加工対象物Wから距離センサ36までの距離、すなわち、レーザ加工ヘッド14から前記加工対象物Wまでの距離(Z軸)が検出され、この検出結果は、コントローラ16に送られる。
コントローラ16は、距離センサ36からの位置情報に基づいて、溶接ロボット12の高さ方向の調節を行うことができる。これにより、レーザ加工ヘッド14は、加工対象物Wに対して3次元における位置決め精度を容易に向上させることが可能になる。
この場合、本実施形態では、距離センサ36から導出される測定用レーザ光L0は、レンズ30を通過することがなく、ハーフミラー32で反射された後、レーザ走査用ミラー34により走査されて、加工用レーザ光Lと同軸に加工対象物Wに照射されている。
このため、測定用レーザ光L0は、波長の制限がなく、例えば、加工用レーザ光Lの波長(YAG光の波長)1030nmに対して、可視光領域の波長630nmに設定することができる。従って、ノイズの進入を確実に阻止することが可能になり、加工用レーザ光Lと同時に、すなわち、溶接作業と同時に、測定用レーザ光L0を加工対象物Wに照射し、この加工対象物Wとレーザ加工ヘッド14との高さ方向の位置検出を行うことができる。
これにより、例えば、加工用レーザ光Lによる線接合等の際には、測定用レーザ光L0を介して検出された位置情報をコントローラ16にフィードバックさせながら、前記線接合等が高精度に遂行可能になるという利点がある。
しかも、測定用レーザ光L0として、赤色光レーザを使用することができる。このため、設備費の削減が良好に図られるとともに、測定用レーザ光L0を用いたティーチング時に目視確認が容易に遂行され、作業性の向上が容易に図られるという効果がある。
本発明の実施形態に係るレーザ加工装置の概略構成図である。 前記レーザ加工装置を構成するレーザ加工ヘッドの内部説明図である。 特許文献1に開示されているレーザ加工装置の説明図である。
符号の説明
10…レーザ加工装置 12…溶接ロボット
14…レーザ加工ヘッド 16…コントローラ
20…レーザ発振器 22…加工用レーザ照射機構
24…位置検出機構 30…レンズ
32…ハーフミラー 34…レーザ走査用ミラー
36…距離センサ

Claims (2)

  1. 加工用レーザ光をレーザ加工ヘッドから加工対象物に照射してレーザ加工を行う加工用レーザ照射機構と、前記加工対象物に対する前記レーザ加工ヘッドの位置を検出する位置検出機構とを備えるレーザ加工装置であって、
    前記加工用レーザ照射機構は、前記加工用レーザ光の集光距離を調整するレンズと、
    前記レンズの下流に配置され、前記加工用レーザ光を走査して前記加工対象物に照射するレーザ走査用ミラーと、
    を備え、
    前記位置検出機構は、前記レンズを通過することなく前記レーザ走査用ミラーに走査され、且つ前記加工用レーザ光と同軸に前記加工対象物に照射される測定用レーザ光を導出する距離センサを備えることを特徴とするレーザ加工装置。
  2. 加工用レーザ光が集光距離調整用レンズを通過することにより前記加工用レーザ光の集光距離を調整した後、前記加工用レーザ光をレーザ走査用ミラーにより走査して加工対象物に照射し、前記加工対象物にレーザ加工を行うレーザ加工装置の位置検出方法であって、
    距離センサから導出される測定用レーザ光を、前記レンズを通過させることなく前記レーザ走査用ミラーにより走査し、且つ前記加工用レーザ光と同軸に前記加工対象物に照射することを特徴とするレーザ加工装置の位置検出方法。
JP2008272002A 2008-10-22 2008-10-22 レーザ加工装置及びその位置検出方法 Expired - Fee Related JP5238451B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008272002A JP5238451B2 (ja) 2008-10-22 2008-10-22 レーザ加工装置及びその位置検出方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008272002A JP5238451B2 (ja) 2008-10-22 2008-10-22 レーザ加工装置及びその位置検出方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010099679A true JP2010099679A (ja) 2010-05-06
JP5238451B2 JP5238451B2 (ja) 2013-07-17

Family

ID=42290789

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008272002A Expired - Fee Related JP5238451B2 (ja) 2008-10-22 2008-10-22 レーザ加工装置及びその位置検出方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5238451B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2772922A1 (en) * 2011-10-25 2014-09-03 Eisuke Minehara Laser decontamination device

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002176240A (ja) * 2000-12-07 2002-06-21 Shibuya Kogyo Co Ltd ビアホール加工方法及びその装置
JP2010082663A (ja) * 2008-09-30 2010-04-15 Sunx Ltd レーザ加工機

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002176240A (ja) * 2000-12-07 2002-06-21 Shibuya Kogyo Co Ltd ビアホール加工方法及びその装置
JP2010082663A (ja) * 2008-09-30 2010-04-15 Sunx Ltd レーザ加工機

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2772922A1 (en) * 2011-10-25 2014-09-03 Eisuke Minehara Laser decontamination device
EP2772922A4 (en) * 2011-10-25 2015-06-24 Eisuke Minehara AIR DECONTAMINATION DEVICE

Also Published As

Publication number Publication date
JP5238451B2 (ja) 2013-07-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI658664B (zh) Laser processing device
JP6645960B2 (ja) 工作物へのレーザービームの進入深さを測定する方法、及び、レーザー加工装置
US10092977B2 (en) Welding head and method for joining a workpiece
JP2720744B2 (ja) レーザ加工機
JP6626036B2 (ja) 測定機能を有するレーザ加工システム
JP2008119718A (ja) レーザ加工装置
US20070000889A1 (en) Method and device for detecting contaminant on condenser lens in laser processing machine
CN101856773A (zh) 一种激光加工初始位置的对焦定位方法及激光加工装置
KR102226222B1 (ko) 레이저 가공 장치
JP2007283403A (ja) レーザ溶接装置およびその調整方法
JP2013086173A (ja) レーザ加工機
JP2008119716A (ja) レーザ加工装置およびレーザ加工装置における焦点維持方法
CN111069787B (zh) 用于加工工件的方法和加工机
JP2014117730A (ja) ファイバレーザ加工装置における焦点位置設定方法,ファイバレーザ加工装置,及びファイバレーザ加工方法
CN109982808B (zh) 激光加工装置以及激光加工方法
JP2010142846A (ja) 3次元走査型レーザ加工機
KR101279578B1 (ko) 레이저 가공용 오토포커싱 장치 및 이를 이용한 오토포커싱 방법
JP5238451B2 (ja) レーザ加工装置及びその位置検出方法
JP2004243383A (ja) レーザ加工装置及びレーザ加工方法
JP2007237200A (ja) レーザ加工システムおよびレーザ加工方法
JP2019140167A (ja) 非破壊検出方法
WO2019176786A1 (ja) レーザ光の芯出し方法及びレーザ加工装置
JP6157245B2 (ja) レーザ加工装置およびレーザ光軸調整方法
JP2008119715A (ja) レーザ加工装置
JP7396851B2 (ja) 制御装置、制御システム、及びプログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20101126

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120703

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120710

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130305

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130401

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5238451

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160405

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees