JP2010097808A - 低粘度分散液、これを用いた銅ナノ粒子配線及び複合材料 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 銅ナノ粒子を含み、分散媒として、ハンセン溶解度パラメータにおける極性項が11MPa0.5以上である有機溶剤を用いた低粘度分散液又は銅ナノ粒子に対し、分散剤を用いずに調整された低粘度分散液、絶縁樹脂層の表面に前記低粘度分散液を印刷してなる銅ナノ粒子配線及び前記銅ナノ粒子配線を形成した前記絶縁樹脂層が、基板上に形成されてなる複合材料。
【選択図】 図1
Description
さらにこの分散液を用いれば、インクジェット法に代表される印刷法による配線描画が可能であり、成膜後のパターニング加工なしに所望の配線が形成できることを見出した。
また、本発明は、前記銅ナノ粒子の1次粒子の平均粒径が、1〜300nmである上記の低粘度分散液に関する。
また、本発明は、銅ナノ粒子に対し、分散剤を用いずに調整された低粘度分散液に関する。
また、本発明は、絶縁樹脂層の表面に上記の低粘度分散液を印刷してなる銅ナノ粒子配線に関する。
さらに、本発明は、上記に記載の銅ナノ粒子配線を形成した前記絶縁樹脂層が、基板上に形成されてなる複合材料に関する。
また、銅ナノ粒子配線との密着性が良好な絶縁樹脂層が基板に形成されてなる複合材料を提供することができる。
銅ナノ粒子は、銅、酸化第一銅、酸化第二銅、その他の酸化数をもった酸化銅、コア部が銅でありシェル部が酸化銅であるコア/シェル構造を有する粒子のいずれも使用可能であり、少量の不純物として金属塩及び金属錯体を含んでもよい。
また、焼結は還元処理と同時に行ってもよく、還元処理のみで十分に導体化できる場合には、焼結を行わなくてもよい。
また、焼結時間は保持する温度によっても異なるが、例えば0.5〜60分とすることが好ましく、2〜20分とすることがより好ましい。
また、この銅ナノ粒子配線は、厚膜微細配線を形成する場合には、無電解めっきのシード層として利用することもできる(図2参照)。
絶縁樹脂層は、基板と銅ナノ粒子配線及び銅ナノ粒子配線間の電気絶縁性を示す絶縁性の樹脂組成物を含有する。絶縁性の樹脂組成物としては、例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、シリコン変性ポリアミドイミド樹脂、ポリエステル樹脂、シアネートエステル樹脂、BTレジン、アクリル樹脂、メタクリル樹脂、メラミン樹脂、ウレタン樹脂、アルキッド樹脂等を構成する、モノマー、オリゴマー、ポリマー等を含む組成物が挙げられる。これらは1種を単独で又は2種以上を併用することができる。
また、上記アルデヒド化合物としては、ホルムアルデヒドやサリチルアルデヒドが挙げられる。
また、絶縁樹脂層は、25℃における蒸気圧が1.34×103Pa未満である溶媒を含有してもよい。
加熱の条件としては、加熱によって絶縁体インクに含有される樹脂組成物が硬化又及び/又は溶媒が除去されることにより絶縁樹脂層が形成されるものであればよく、例えば、室温〜240℃で1〜90分間の条件が挙げられる。またこの処理を減圧下で行ってもよい。
また、Bステージ化する時間条件が10分以上になると、完全硬化温度よりも低温であっても硬化が進み、密着性向上の効果が得られない。
実施例1〜3及び比較例1〜4
(低粘度分散液の調整)
酸化銅ナノ粒子(平均粒径75nm、シーアイ化成製)32.5gを実施例又は比較例ごとに表1に示す各分散媒97.5gに混合し、日本精機製作所社製超音波ホモジナイザUS−600CCVPで出力600W、振動数19.5kHz、振幅値26.5μmで5分間処理し、50mlの遠心沈殿管に35g秤量し、1500回転で4分間遠心分離処理を行い、その上澄みを低粘度分散液とした。
なお、分散性の評価は、レーザー回折散乱粒度分布測定装置(ベックマンコールター社製、LS 13 320)で粒度分布測定を行い、以下の評価基準に従って評価した。その結果を表1に示す。
○:平均粒径300nm未満、最大粒径800nm未満
△:平均粒径300nm〜800nm、最大粒径800〜3000nm
×:平均粒径800nm以上、最大粒径3000nm以上
(絶縁樹脂の調整)
エポキシ化合物であるビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂(商品名「N−865」、大日本インキ化学工業株式会社製)22.2g、硬化剤であるビスフェノールAノボラック樹脂(商品名「VH−4170」、大日本インキ化学工業株式会社製)12.1g、硬化促進剤である2−エチル−4−メチルイミダゾール(東京応化工業株式会社製)0.02g及び表面調整剤であるシリコン系表面調整剤(商品名「BYK310」、BYK Chemie社製)0.17gを、γ‐ブチロラクトン115.5gに溶解させて絶縁樹脂形成用混合物を得た。
分散媒γ−ブチロラクトンの低粘度分散液を用いた。調整方法は、上記記載の方法で行った。低粘度分散液を、株式会社マイクロジェット製MJP−1500V(商品名)を使用して、上記絶縁樹脂層上にインクジェット印刷し、膜厚500nm、1cm×1cmの銅ナノ粒子印刷膜を得た。印刷膜を60℃で30分、180℃で30分の条件で分散媒の乾燥及び絶縁樹脂層の硬化を行い、試験片を得た。
上記試験片をホットワイヤー法原子状水素処理装置にセットし、水素70ml/分、タングステンワイヤー温度1500℃、圧力4Pa、ステージ温度50℃の条件で20分間処理を行い、タングステンワイヤーへの通電と水素を止めて10分間冷却した後、常圧に戻して処理された粒子塗布基板を取り出した。処理前は黒色であった銅ナノ粒子印刷膜は、処理後赤銅色となった。
還元処理した銅ナノ粒子印刷膜を1mm角にカットし、接着テープを用いて剥離試験を行った。剥離後の状態について、銅ナノ粒子印刷膜の剥離なしを○、剥離ありを×と評価した。その結果を表2に示す。
2 銅ナノ粒子
3 絶縁樹脂表面処理層
4 絶縁樹脂層
5 基板
6 銅ナノ粒子配線
7 無電解めっき層
Claims (8)
- 銅ナノ粒子を含み、分散媒として、ハンセン溶解度パラメータにおける極性項が11MPa0.5以上である有機溶剤を用いた低粘度分散液。
- 前記銅ナノ粒子の1次粒子の平均粒径が、1〜300nmである請求項1に記載の低粘度分散液。
- 前記銅ナノ粒子が、銅、酸化第一銅、酸化第二銅、その他の酸化数をもった酸化銅、コア部が銅であり、シェル部が酸化銅であるコア/シェル構造を有する粒子のうち1種を単独で又は2種以上混合したものである請求項1又は2記載の低粘度分散液。
- 銅ナノ粒子に対し、分散剤を用いずに調整された低粘度分散液。
- 前記分散媒に対する前記銅ナノ粒子の重量分率が1〜60%であり、かつ25℃における粘度が、0.1〜50mPa・sである請求項1〜4のいずれかに記載の低粘度分散液。
- 絶縁樹脂層の表面に請求項1〜5のいずれかに記載の低粘度分散液を印刷してなる銅ナノ粒子配線。
- 請求項6記載の絶縁樹脂層の硬化率が、10〜95%のときの表面に請求項1〜6のいずれかに記載の低粘度分散液を印刷してなる銅ナノ粒子配線。
- 請求項6及びに記載の銅ナノ粒子配線を形成した前記絶縁樹脂層が、基板上に形成されてなる複合材料。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012111480A1 (ja) * | 2011-02-16 | 2012-08-23 | 株式会社 村田製作所 | 導電性ペースト及び太陽電池 |
US8765025B2 (en) * | 2010-06-09 | 2014-07-01 | Xerox Corporation | Silver nanoparticle composition comprising solvents with specific hansen solubility parameters |
WO2023145577A1 (ja) * | 2022-01-28 | 2023-08-03 | 株式会社オートネットワーク技術研究所 | 電装品、及び電装品の製造方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10284842A (ja) * | 1997-04-07 | 1998-10-23 | Kokusai Electric Co Ltd | 多層配線回路板の製造方法 |
WO2003051562A1 (fr) * | 2001-12-18 | 2003-06-26 | Asahi Kasei Kabushiki Kaisha | Dispersion d'oxyde metallique |
WO2006109799A1 (ja) * | 2005-04-12 | 2006-10-19 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | 金属導電膜とその製造方法 |
JP2006302679A (ja) * | 2005-04-21 | 2006-11-02 | Seiko Epson Corp | 導電膜の形成方法、及び電子機器の製造方法 |
WO2006123775A1 (ja) * | 2005-05-20 | 2006-11-23 | Fujifilm Corporation | パターン形成方法、及び、多層配線構造の形成方法 |
WO2008114866A1 (ja) * | 2007-03-22 | 2008-09-25 | Hitachi Chemical Co., Ltd. | 金属微粒子及びその製造方法、並びに金属微粒子分散液及びその製造方法 |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10284842A (ja) * | 1997-04-07 | 1998-10-23 | Kokusai Electric Co Ltd | 多層配線回路板の製造方法 |
WO2003051562A1 (fr) * | 2001-12-18 | 2003-06-26 | Asahi Kasei Kabushiki Kaisha | Dispersion d'oxyde metallique |
WO2006109799A1 (ja) * | 2005-04-12 | 2006-10-19 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | 金属導電膜とその製造方法 |
JP2006302679A (ja) * | 2005-04-21 | 2006-11-02 | Seiko Epson Corp | 導電膜の形成方法、及び電子機器の製造方法 |
WO2006123775A1 (ja) * | 2005-05-20 | 2006-11-23 | Fujifilm Corporation | パターン形成方法、及び、多層配線構造の形成方法 |
WO2008114866A1 (ja) * | 2007-03-22 | 2008-09-25 | Hitachi Chemical Co., Ltd. | 金属微粒子及びその製造方法、並びに金属微粒子分散液及びその製造方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8765025B2 (en) * | 2010-06-09 | 2014-07-01 | Xerox Corporation | Silver nanoparticle composition comprising solvents with specific hansen solubility parameters |
WO2012111480A1 (ja) * | 2011-02-16 | 2012-08-23 | 株式会社 村田製作所 | 導電性ペースト及び太陽電池 |
WO2023145577A1 (ja) * | 2022-01-28 | 2023-08-03 | 株式会社オートネットワーク技術研究所 | 電装品、及び電装品の製造方法 |
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