JP2010093785A - べき級数型プリディストータ、べき級数型プリディストータの制御方法 - Google Patents

Abstract

【課題】少ない演算量で歪成分を小さくできるべき級数型プリディストータ、およびべき級数型プリディストータの制御方法を提供する。
【解決手段】本発明のべき級数型プリディストータは、信号に遅延を与える遅延経路と、Ｎ次歪発生器とベクトル調整器とを有する歪発生経路と、入力信号を遅延経路と歪発生経路に分配する分配器と、遅延経路の出力と歪発生経路の出力とを合成する合成器と、ベクトル調整器を制御する制御器とで構成される。制御器は、設定部、歪成分測定部、最小条件計算部、記録部を有する。設定部は、ベクトル調整器の位相値または振幅値を設定する。歪成分測定部は、電力増幅器の歪成分を測定する。最小条件計算部は、設定部がサンプリングのために設定した３つ以上の位相値または振幅値に対する歪成分の大きさを用いて、歪成分が最小となる位相値または振幅値を関数近似により求める。
【選択図】図３

Description

本発明は、電力増幅器で発生する歪成分を補償するためのべき級数型プリディストータ、およびべき級数型プリディストータの制御方法に関する。

マイクロ波送信増幅器の非線形歪補償方法として、べき級数型プリディストーション法がある。図１に従来のべき級数型プリディストータの機能構成例を示す。べき級数型プリディストータ８００は、遅延線路８２０によって信号に遅延を与える遅延経路８２５と、３次歪発生器８３０とベクトル調整器８４０とを有する歪発生経路８３５と、入力信号を遅延経路８２５と歪発生経路８３５に分配する分配器８１０と、遅延経路８２５の出力と歪発生経路８３５の出力とを合成する合成器８５０と、ベクトル調整器８４０のベクトル係数を制御して電力増幅器（マイクロ波送信増幅器）８６０で生じる歪成分を最小化する制御器８８０とで構成される。なお、方向性結合器８７０は、電力増幅器８６０の出力の一部を、制御経路８７５を介して制御器８８０にフィードバックする。なお、歪発生経路には、５次以上の奇数次の歪成分を生じさせる歪発生経路を並列に接続してもよい。

べき級数型プリディストータのベクトル係数制御方法には、非特許文献１に示すように等振幅２波のパイロットを用いた方法がある。非特許文献１の方法は、以下のような処理を行う方法である。パイロット信号を電力増幅器８６０に入力すると、電力増幅器８６０で発生する相互変調歪成分により、パイロット信号の隣接帯域に３次相互変調歪成分が発生する。制御器８８０は、電力増幅器８６０の出力からパイロット信号の３次相互変調歪成分を検出し、検出した３次相互変調歪成分を最小にするように歪発生経路のベクトル調整器８４０のベクトル係数を制御する。図示していないが、具体的には、ベクトル調整器８４０は、可変減衰部と可変位相部から構成され、ベクトル係数である振幅成分と位相成分とを制御器８８０の指示にしたがって調整する。

べき級数型プリディストータの経時変化や温度変化に追従するために、制御器８８０の制御アルゴリズムには摂動法が用いられている。摂動法では、設定されている係数値の前後の歪成分を測定し、歪成分を少なくする方向に一定値オフセットしてベクトル係数を再設定する。そして、設定されているベクトル係数の前後で測定した歪成分に差がなくなるまで一連のベクトル係数の設定を繰り返す。

図２に、非特許文献２に示された従来の別のべき級数型ディジタルプリディストータの機能構成例を示す。べき級数型プリディストータ９００は、遅延メモリ９２０によって信号に遅延を与える遅延経路９２５と、３次歪発生器８３０とベクトル調整器８４０と周波数特性補償器９９０を有する歪発生経路９３５と、入力信号を遅延経路９２５と歪発生経路９３５に分配する分配器８１０と、遅延経路９２５の出力と歪発生経路９３５の出力とを合成する合成器８５０と、ベクトル調整器８４０と周波数特性補償器９９０を制御して電力増幅器（マイクロ波送信増幅器）で生じる歪成分を最小化する制御器９８０とで構成される。なお、周波数特性補償器９９０は、Ｎ点ＦＦＴ部９９１とＮ個の複素乗算部９９２−１〜ＮとＮ点逆ＦＦＴ部９９３により構成される。Ｎ点ＦＦＴ部９９１は，Ｎ点の入力信号をシリアル・パラレル変換し、パラレル変換されたＮ点の入力信号に対してＮ点離散フーリエ変換を行う。また、Ｎ点逆ＦＦＴ部９９３は、Ｎ個の複素乗算部９９２−１〜Ｎの出力信号に対してＮ点逆離散フーリエ変換を行い、逆フーリエ変換されたＮ点の出力信号をパラレル・シリアル変換器にてパラレル・シリアル変換を行い、Ｎ点の出力信号を生成する。制御器９８０は、ベクトル調整器８４０のベクトル係数と、複素乗算部９９２−１〜Ｎごとの複素乗算係数を制御して電力増幅器で生じる歪成分を最小化する。このべき級数型ディジタルプリディストータも、摂動法によって制御される。

野島俊雄，岡本栄晴，大山徹，"マイクロ波SSB-AM方式用プリディストーション非線形ひずみ補償回路"，電子通信学会論文誌，Vol. J67-B, No.1, Jan. 1984． 水田信治，鈴木恭宜，楢橋祥一，山尾泰，"連続スペクトルを有する歪成分の周波数依存性を補償するディジタルプリディストータの周波数特性補償器の制御方法"，電子情報通信学会，エレクトロニクスソサイエティ大会，C-2-15, 2005年9月．

移動通信用無線システムでは、基地局間での干渉軽減やチャネル容量を劣化させないために、基地局用送信機では送信出力制御を行っている。たとえば、Ｗ−ＣＤＭＡ方式では、制御周期０．６２５ｍｓｅｃで送信出力を１ｄＢ変更している。上述のように、べき級数型プリディストータは、電力増幅器の非線形特性を線形化するようにベクトル調整器のベクトル係数などを設定しなければならない。したがって、べき級数型プリディストータは、送信出力の動的変化に追従して動作しなければならない。

ところが、従来の制御方法である摂動法は、もともと経時変化や温度変化に追従することを目的として採用された制御方法である。経時変化や温度変化は、送信出力の制御周期に比較して非常に低速である。このため、従来の経時変化や温度変化を前提とした制御方法では、送信出力の動的変化に追従した制御ができない可能性があった。これは、摂動法での上記オフセット値が一定値であることによる。制御の高速化を図る方法としては、摂動法でのオフセット値を大きくする方法が考えられるが、ベクトル調整器の設定誤差が大きくなってしまう問題が生じる。また、逆にオフセット値を小さくしてしまうと、制御の高速化に反する。

さらに、初期設定または送信波がバースト状態(すなわち、送信波がない時間がある場合のこと)においても上記と同様の問題があり、高速収束させるアルゴリズムが必要であった。
また、周波数特性補償器を具備するべき級数型ディジタルプリディストータでは、Ｎ個の複素乗算器の複素乗算係数を設定する必要がある。したがって、複素乗算器係数が多くなれば、さらに制御に時間がかかる課題があった。

本発明の目的は、べき級数型プリディストータのベクトル調整器係数と周波数特性補償器の複素乗算係数を高速に設定できるべき級数型プリディストータ、およびべき級数型プリディストータの制御方法を提供することにある。すなわち、それら係数を少ない演算量で算出し、その係数にて歪成分を補償できるべき級数型プリディストータ、およびべき級数型プリディストータの制御方法を提供することにある。

本発明のべき級数型プリディストータは、信号に遅延を与える遅延経路と、Ｎ（Ｎは３以上の奇数）次歪発生器とベクトル調整器とを有する歪発生経路と、入力信号を遅延経路と歪発生経路に分配する分配器と、遅延経路の出力と歪発生経路の出力とを合成する合成器と、ベクトル調整器を制御する制御器とで構成される。制御器は、設定部、歪成分測定部、最小条件計算部、記録部を有する。設定部は、ベクトル調整器の位相値または振幅値を設定する。歪成分測定部は、電力増幅器の歪成分を測定する。最小条件計算部は、設定部がサンプリングのために設定した３つ以上の位相値または振幅値に対する歪成分の大きさを用いて、歪成分が最小となる位相値または振幅値を求める。記録部は、あらかじめ定めたサンプリングのために設定するべき３つ以上の位相値または振幅値を記録する。

このべき級数型プリディストータの制御方法は、ベクトルサンプリング過程と、ベクトル最小条件計算過程と、ベクトル計算結果設定過程とを有する。ベクトルサンプリング過程は、設定部がサンプリングのために３つ以上の位相値または振幅値を設定し、歪成分測定部が３つ以上の位相値または振幅値に対する歪成分の大きさを測定する。ベクトル最小条件計算過程は、最小条件計算部が、ベクトルサンプリング過程の測定結果から、歪成分が最小となる位相値または振幅値を求める。ベクトル計算結果設定過程は、設定部がベクトル最小条件計算過程の計算結果に従って、位相値または振幅値を設定する。

また、本発明の別のべき級数型プリディストータは、歪発生経路に、ベクトル調整器の代わりに、またはベクトル調整器とともに周波数特性補償器を有する。周波数特性補償器は、時系列の信号を周波数帯の信号に変換するＦＦＴ部と、Ｎ個の複素乗算部と、周波数帯の信号を時系列の信号に変換する逆ＦＦＴ部とを備える。制御器の設定部は、複素乗算部ごとの位相値または振幅値も設定する。

このべき級数型プリディストータの制御方法は、複素乗算部ごとに、複素乗算サンプリング過程と、複素乗算最小条件計算過程と、複素乗算計算結果設定過程も有する。複素乗算サンプリング過程は、いずれかの複素乗算部に対して、設定部がサンプリングのために３つ以上の位相値または振幅値を設定し、前記歪成分測定部が３つ以上の位相値または振幅値に対する歪成分の大きさを測定する。複素乗算最小条件計算過程は、いずれかの複素乗算部に対して、最小条件計算部が、複素乗算サンプリング過程の測定結果から、歪成分が最小となる位相値または振幅値を求める。複素乗算計算結果設定過程は、設定部が複素乗算最小条件計算過程の計算結果に従って、位相値または振幅値を設定する。そして、このべき級数型プリディストータの制御方法は、これらの処理を複素乗算部の数だけ繰り返す。

なお、最小条件計算部は、設定部がサンプリングのために設定した３つ以上の位相値または振幅値に対する歪成分から、位相値または振幅値と歪成分との関係を示す２次方程式の係数を求める係数計算手段を備えればよい。そして、係数計算手段が求めた２次方程式の係数から、歪成分が最小となる位相値または振幅値を求めればよい。

本発明のべき級数型プリディストータおよびべき級数型プリディストータの制御方法によれば、サンプリングのために設定した３つ以上の位相値または振幅値に対する歪成分の大きさを用いて、歪成分が最小となる位相値または振幅値を求めるので、従来の摂動法などの制御方法と比較して少ない演算量で歪成分を補償できる。また、位相値または振幅値と歪成分との関係を示す２次方程式の係数を求める方法であれば、特に容易に歪成分が最小となる位相値または振幅値を求めることができる。したがって、温度変化や経年変化に追従するだけでなく、基地局用送信機での送信出力制御にも追従できる。

従来の摂動法などの制御方法では、歪成分を最小にする振幅値と位相値を未知として取り扱う。これに対して本発明の制御方法は、サンプリングで得た歪成分から歪成分を最小にする振幅値と位相値を二次方程式にて求める。すなわち、摂動法などの適応アルゴリズムのように、歪成分を最小とする振幅値と位相値を探索する必要がない。よって、振幅値と位相値を設定するまでの時間を短縮できることから、少ない演算量で歪補償を行うことができる。また、二次方程式係数の計算量は、従来のＲＬＳなどの適応アルゴリズムに比較してきわめて少ない。

従来のべき級数型プリディストータの機能構成例を示す図。 従来の別のべき級数型ディジタルプリディストータの機能構成例を示す図。 実施例１のべき級数型プリディストータの機能構成例を示す図。 ベクトル調整器を用いたべき級数型プリディストータの制御方法を示す図。 実施例２のべき級数型プリディストータの機能構成例を示す図。 実施例３のべき級数型プリディストータの機能構成例を示す図。 周波数特性補償器の機能構成例を示す図。 周波数特性補償器を用いたべき級数型プリディストータの制御方法を示す図。 本発明のべき級数型プリディストータを用いた実験結果を示す図。 歪補償する帯域例を示す図。 図１０の歪補償する帯域Ｄ２でのべき級数型プリディストータを用いた実験結果を示す図。 図１０の歪補償する帯域Ｄ１でのべき級数型プリディストータを用いた実験結果を示す図。 図１０の歪補償する帯域Ｄ３でのべき級数型プリディストータを用いた実験結果を示す図。 図１０の歪補償する帯域Ｄ４でのべき級数型プリディストータを用いた実験結果を示す図。 本発明の制御方法と摂動法による制御方法の収束特性を示す図。 本発明の制御方法による電力増幅器出力のスペクトラムを示す図。 ２つのべき級数型プリディストータを組み合わせた例を示す図。 実施例５のべき級数型プリディストータの機能構成例を示す図。

以下、本発明の実施の形態について、詳細に説明する。なお、同じ機能を有する構成部には同じ番号を付し、重複説明を省略する。

図３に、実施例１のべき級数型プリディストータの機能構成例を示す。べき級数型プリディストータ１００は、遅延線路８２０によって信号に遅延を与える遅延経路８２５と、３次歪発生器８３０とベクトル調整器１４０とを有する歪発生経路１３５と、入力信号を遅延経路８２５と歪発生経路１３５に分配する分配器８１０と、遅延経路８２５の出力と歪発生経路１３５の出力とを合成する合成器８５０と、ベクトル調整器１４０を制御する制御器１８０とで構成される。歪発生経路１３５には、５次以上の奇数次の歪成分を生じさせるＮ次（Ｎは３以上の奇数）歪発生経路を並列に接続してもよい。ベクトル調整器１４０は、位相を調整する可変位相部１４１と振幅を調整する可変減衰部１４２を有する。制御器１８０は、設定部１８１、歪成分測定部１８２、最小条件計算部１８４、記録部１８５を有する。設定部１８１は、ベクトル調整器１４０の位相値または振幅値を設定する。歪成分測定部１８２は、電力増幅器８６０の歪成分を測定する。最小条件計算部１８４は、係数計算手段１８３を備えている。係数計算手段１８３は、設定部１８１がサンプリングのために設定した３つ以上の位相値または振幅値に対する歪成分から、位相値または振幅値と歪成分との関係を示す２次方程式の係数を求める。そして、最小条件計算部１８４は、係数計算手段１８３が求めた２次方程式の係数から、歪成分が最小となる位相値または振幅値を求める。記録部１８５は、あらかじめ定めたサンプリングのために設定するべき３つ以上の位相値または振幅値を記録する。

なお、電力増幅器８６０は、合成器８５０の出力を増幅する。方向性結合器８７０は、電力増幅器８６０の出力を、外部に出力するとともに、一部をべき級数型プリディストータ１００の制御器１８０にフィードバックするために取り出し、制御経路１７５に出力する。制御経路１７５は、周波数変換器１７１と直交復調器１７２を有する。周波数変換器１７１は、電力増幅器８６０の出力をＲＦ帯からベースバンド帯にダウンコンバートする。直交復調器１７２は、周波数変換器１７１の出力を信号の基準波に対する同相成分であるＩ成分（In-phase component）と信号の基準波に対する直交成分であるＱ成分（Quadrature phase component）に分解する。ＡＤＣ１７６、１７７は、Ｉ成分とＱ成分とをアナログ信号からディジタル信号に変換し、制御器１８０に出力する。

図４は、べき級数型プリディストータ１００の制御方法を示す処理フローの例である。べき級数型プリディストータ１００の制御方法は、ベクトルサンプリング過程（Ｓ１８０１、Ｓ１８０６）、ベクトル最小条件計算過程（Ｓ１８０２、Ｓ１８０７）、ベクトル計算結果設定過程（Ｓ１８１２、Ｓ１８１７）などを有する。詳細な処理フローは以下のとおりである。設定部１８１が、記録部１８５に記録されているサンプリングのための３つ以上の位相値に、ベクトル調整器１４０の位相値を順次設定する（Ｓ１８１１）。例えば、位相の可変範囲が−Ｐから＋Ｐであり、３つの位相値ｘ_１、ｘ_２、ｘ_３を設定する場合であれば、あらかじめ定めた３つの位相値をｘ_１＝−２／３Ｐ、ｘ_２＝０、ｘ_３＝＋２／３Ｐとする。また、振幅値（減衰率）は、あらかじめ定めた値に固定する。例えば、１とすればよい。歪成分測定部１８２が、それらの３つ以上の位相値（Ｍ個の位相値ｘ_１、ｘ_２，…，ｘ_Ｍ）に対する歪成分の大きさｙ_１、ｙ_２，…，ｙ_Ｍを順次測定する（Ｓ１８２１）。ステップＳ１８１１とＳ１８２１がベクトルサンプリング過程（Ｓ１８０１）に相当する。

係数計算手段１８３が、Ｓ１８２１の測定結果から、位相値と歪成分との関係を示す２次方程式の係数を求める（Ｓ１８３１）。具体的には、二次方程式を、

とし、（ｘ_１，ｙ_１）、（ｘ_２，ｙ_２），…，（ｘ_Ｍ，ｙ_Ｍ）を位相値と歪成分の大きさの組合せとして、最小二乗法などによって２次方程式の係数ａ_２、ａ_１、ａ_０を求める。なお、位相値を３つとした場合であれば、以下の連立方程式を解いて２次方程式の係数ａ_２、ａ_１、ａ_０を求めればよい。

また、ａ_２＝０の場合は、位相値と歪成分の大きさとの関係は１次関数となる。このような場合は、最小二乗法などによって、係数ａ_１、ａ_０を求めればよい。次に、最小条件計算部１８４が、ステップＳ１８３１で求めた２次方程式の係数ａ_２、ａ_１、ａ_０を用いて、位相値の可変範囲（位相値を設定できる範囲）内で歪成分が最小となる位相値を求める（Ｓ１８４１）。例えば、位相値

が位相値の可変範囲であれば、この値ｘを位相値とすればよい。また、ａ_２＝０の場合は、位相値

が位相値の可変範囲であれば、この値ｘを位相値とすればよい。ステップＳ１８３１とＳ１８４１がベクトル最小条件計算過程（Ｓ１８０２）に相当する。設定部１８１は、ベクトル調整器１４０の出力の位相がステップＳ１８４１で求めた位相値になるように、可変位相部１４１を設定する（Ｓ１８１２）。これが、ベクトル計算結果設定過程（Ｓ１８１２）である。

ａ_２≠０の場合における２次方程式の係数ａ_２、ａ_１、ａ_０の算出方法例を以下に示す。位相値xとすれば、ａ_２、ａ_１、ａ_０は再帰的に求めることができる。すなわち、

となる。また、ａ_２＝０の場合は、同様に以下となる。

理論的には、ここまでの処理で歪成分が最小となる位相値に設定できるはずである。しかし、測定誤差などを考慮すると、１回上述の処理を行っただけでは、歪成分の大きさを目標とする基準を満足できていない可能性もある。そこで、歪成分測定部１８２が、歪成分の大きさを測定する（Ｓ１８２２）。そして、制御器１８０が、歪成分の大きさが基準を満たすかを確認する（Ｓ１８５１）。基準を満足していれば、位相値の設定は終了する。基準を満足していなければ、サンプリングする位相値の変更を行う（Ｓ１８６１）。例えば、ステップＳ１８４１で求めた歪成分を最小にする位相値を中心として、位相の可変範囲を前回の半分（前回の可変範囲が２Ｐならば、Ｐとする）にして、その範囲の中から３点以上を選択すればよい。そして、ステップＳ１８１１からの処理を繰り返す。このように、サンプリングのために設定する位相値の範囲を縮小していくことで、歪成分を最小にする位相値の精度を高めることができる。

次に、位相値を求めた位相値に固定した上で、振幅値についても同様に設定する。つまり、設定部１８１が、記録部１８５に記録されているサンプリングのための３つ以上の振幅値に、振幅値を順次設定する（Ｓ１８１６）。歪成分測定部１８２が、それらの３つ以上の振幅値（Ｍ個の振幅値ｘ_１、ｘ_２，…，ｘ_Ｍ）に対する歪成分の大きさｙ_１、ｙ_２，…，ｙ_Ｍを順次測定する（Ｓ１８２６）。ステップＳ１８１６とＳ１８２６がベクトルサンプリング過程（Ｓ１８０６）に相当する。

係数計算手段１８３が、Ｓ１８２６の測定結果から、振幅値と歪成分との関係を示す２次方程式の係数を求める（Ｓ１８３６）。具体的な求め方は、位相値の場合と同じである。最小条件計算部１８４が、ステップＳ１８３６で求めた２次方程式の係数を用いて、歪成分が最小となる振幅値を求める（Ｓ１８４６）。ステップＳ１８３６とＳ１８４６がベクトル最小条件計算過程（Ｓ１８０７）に相当する。設定部１８１は、ベクトル調整器１４０の出力の振幅がステップＳ１８４６で求めた振幅値（減衰率）になるように、可変減衰部１４２を設定する（Ｓ１８１７）。これが、ベクトル計算結果設定過程（Ｓ１８１７）である。

歪成分測定部１８２が、歪成分の大きさを測定する（Ｓ１８２７）。そして、制御器１８０が、歪成分の大きさが基準を満たすかを確認する（Ｓ１８５６）。基準を満足していれば、振幅値の設定は終了する。基準を満足していなければ、サンプリングする振幅値の変更を行う（Ｓ１８６６）。

上述の処理フローは、歪発生経路の次数に依存しない。歪発生経路が複数の場合は、それぞれの歪発生経路にて順次上述の処理フローを行えばよい。例えば、歪発生経路が３次と５次の場合には、３次の歪発生経路の位相値と振幅値、５次歪発生経路の位相値と振幅値の順序で上述の処理を行う。あるいは、５次、３次の順序で行ってもよい。

実施例１のべき級数型プリディストータおよびべき級数型プリディストータの制御方法によれば、サンプリングのために設定した３つ以上の位相値または振幅値に対する歪成分の大きさを用いて、２次方程式の係数を求め、歪成分が最小となる位相値または振幅値を求めるので、少ない演算量で歪成分を最小とすることができる。したがって、温度変化や経年変化に追従するだけでなく、基地局用送信機での送信出力制御にも追従できる。また、演算量が少ないので、装置の低消費電力化も可能となる。

図５に、実施例２のべき級数型プリディストータの機能構成例を示す。べき級数型プリディストータ２００は、ディジタル信号処理によって電力増幅器で発生する歪成分を補償する点が実施例１のべき級数型プリディストータ１００と異なる。したがって、べき級数型プリディストータ２００内部で扱う信号がディジタル信号であること、入力信号がディジタル信号のＩ成分とＱ成分であること、出力信号がディジタル信号のＩ成分とＱ成分であることは、べき級数型プリディストータ１００と異なるが、機能構成や制御方法などの本発明の本質的な部分は同じである。また、べき級数型プリディストータ２００の制御方法を示す処理フローは、図４と同じである。

べき級数型プリディストータ２００は、遅延メモリ２２１、２２２によって信号に遅延を与える遅延経路２２５と、３次歪発生器２３０とベクトル調整器２４０とを有する歪発生経路２３５と、入力信号（Ｉ成分、Ｑ成分）をそれぞれ遅延経路２２５と歪発生経路２３５に分配する分配器２１０と、遅延経路２２５の出力（Ｉ成分、Ｑ成分）と歪発生経路２３５の出力（Ｉ成分、Ｑ成分）とをそれぞれ合成する合成器２５０と、ベクトル調整器２４０を制御する制御器２８０とで構成される。歪発生経路２３５には、５次以上の奇数次の歪成分を生じさせるＮ（Ｎは３以上の奇数）歪発生経路を並列に接続してもよい。ベクトル調整器２４０は、位相を調整する可変位相部２４１と振幅を調整する可変減衰部２４２を有する。制御器２８０は、設定部２８１、歪成分測定部１８２、最小条件計算部１８４、記録部１８５を有する。設定部２８１は、ベクトル調整器２４０の位相値または振幅値を設定する。歪成分測定部１８２は、電力増幅器８６０の歪成分を測定する。最小条件計算部１８４は、係数計算手段１８３を備えている。係数計算手段１８３は、設定部２８１がサンプリングのために設定した３つ以上の位相値または振幅値に対する歪成分から、位相値または振幅値と歪成分との関係を示す２次方程式の係数を求める。そして、最小条件計算部１８４は、係数計算手段１８３が求めた２次方程式の係数から、歪成分が最小となる位相値または振幅値を求める。記録部１８５は、あらかじめ定めたサンプリングのために設定するべき３つ以上の位相値または振幅値を記録する。

べき級数型プリディストータ２００からの出力はディジタル信号なので、ＤＡＣ２５１、２５２は、ディジタル信号をアナログ信号に変換する。直交変調器２６２は、Ｉ成分とＱ成分からベースバンド帯のアナログ信号を生成する。周波数変換器２６１は、ベースバンド帯からＲＦ帯にアップコンバートする。その他の構成は、実施例１（図３）と同じである。

実施例２のべき級数型プリディストータおよびべき級数型プリディストータの制御方法は、取り扱う信号がディジタル信号であるという点が実施例１と異なるだけなので、実施例１と同じように少ない演算量で歪成分を最小にできる。

図６に、実施例３のべき級数型プリディストータの機能構成例を示す。べき級数型プリディストータ３００は、ベクトル調整器２４０の代わりに周波数特性補償器３９０を備えている点が、実施例２のべき級数型プリディストータ２００と異なる。図７は、周波数特性補償器３９０の機能構成例を示す図である。また、図８は、べき級数型プリディストータ３００の制御方法を示す処理フローを示す図である。

べき級数型プリディストータ３００の機能構成は、ベクトル調整器２４０の代わりに周波数特性補償器３９０を備えていること、制御器３８０が周波数特性補償器３９０を制御するための構成部であることが異なるだけで、他はべき級数型プリディストータ２００と同じである。周波数特性補償器３９０は、ＦＦＴ部３９１、Ｎ個の複素乗算部３９２−ｎ（ただし、ｎは１からＮの整数、Ｎは歪発生経路で生じる歪成分の次数）、逆ＦＦＴ部３９３を備える。ＦＦＴ部３９１は、Ｎ点の入力信号をシリアル・パラレル変換を行い、パラレル変換されたＮ点の入力信号に対してＮ点の離散フーリエ変換を行い、時系列のディジタル信号を周波数帯のディジタル信号に変換する。逆ＦＦＴ部３９３は、Ｎ個の複素乗算部３９２−ｎの出力をＮ点の逆離散フーリエ変換を行い、パラレル・シリアル変換を行い、周波数帯のディジタル信号を時系列のディジタル信号に変換する。制御器３８０は、設定部３８１、歪成分測定部１８２、最小条件計算部１８４、記録部１８５を有する。設定部３８１は、複素乗算部３９２−ｎごとに位相値または振幅値を設定する。歪成分測定部１８２は、電力増幅器８６０の歪成分を測定する。最小条件計算部１８４は、係数計算手段１８３を備えている。係数計算手段１８３は、設定部３８１がサンプリングのために設定した３つ以上の位相値または振幅値に対する歪成分から、位相値または振幅値と歪成分との関係を示す２次方程式の係数を求める。そして、最小条件計算部１８４は、係数計算手段１８３が求めた２次方程式の係数から、歪成分が最小となる位相値または振幅値を求める。記録部１８５は、あらかじめ定めたサンプリングのために設定するべき３つ以上の位相値または振幅値を記録する。

べき級数型プリディストータ３００の制御方法は、複素乗算サンプリング過程（Ｓ３８０１、Ｓ３８０６）、複素乗算最小条件計算過程（Ｓ１８０２、Ｓ１８０７）、複素乗算計算結果設定過程（Ｓ３８１２、Ｓ３８１７）などを有する。詳細な処理フローは以下のとおりである。制御器３８０は、変数ｎに１を代入する（Ｓ３８０４）。設定部３８１が、複素乗算部３９２−ｎ（ただし、ｎはステップＳ３８０４またはＳ３８６１で代入した値である）の位相値を、記録部１８５に記録されているサンプリングのための３つ以上の位相値に順次設定する（Ｓ３８１１）。なお、位相値の決め方は実施例１と同じでよい。歪成分測定部１８２が、それらの３つ以上の位相値（Ｍ個の位相値ｘ_１、ｘ_２，…，ｘ_Ｍ）に対する歪成分の大きさｙ_１、ｙ_２，…，ｙ_Ｍを順次測定する（Ｓ１８２１）。ステップＳ３８１１とＳ１８２１が複素乗算サンプリング過程（Ｓ３８０１）に相当する。

係数計算手段１８３が、Ｓ１８２１の測定結果から、位相値と歪成分との関係を示す２次方程式の係数を求める（Ｓ１８３１）。最小条件計算部１８４が、ステップＳ１８３１で求めた２次方程式の係数を用いて、歪成分が最小となる位相値を求める（Ｓ１８４１）。本実施例では、ステップＳ１８３１とＳ１８４１が複素乗算最小条件計算過程（Ｓ１８０２）に相当する。設定部３８１は、周波数特性補償器３９０の出力の位相がステップＳ１８４１で求めた位相値になるように、複素乗算部３９２−ｎを設定する（Ｓ３８１２）。これが、複素乗算計算結果設定過程（Ｓ３８１２）である。

制御器３８０は、ｎ＝Ｎかを確認する（Ｓ３８５１）。ステップＳ３８５１がＮｏの場合、制御器３８０は、ｎの値を１増加させ、ステップＳ３８１１に戻る（Ｓ３８６１）。ステップＳ３８５１がＹｅｓの場合、歪成分測定部１８２が、歪成分の大きさを測定する（Ｓ１８２２）。そして、制御器３８０が、歪成分の大きさが基準を満たすかを確認する（Ｓ１８５１）。基準を満足していれば、位相値の設定は終了する。基準を満足していなければ、サンプリングする位相値の変更を行い、ステップＳ３８０４からの処理を繰り返す（Ｓ１８６１）。

次に、複素乗算部３９２−１，…，３９２−Ｎの位相値を、それぞれ求めた位相値に固定した上で、振幅値についても同様に設定する。つまり、制御器３８０は、変数ｎに１を代入する（Ｓ３８０９）。設定部３８１が、複素乗算部３９２−ｎ（ただし、ｎはステップＳ３８０９またはＳ３８６６で代入した値である）の振幅値を、記録部１８５に記録されているサンプリングのための３つ以上の振幅値に順次設定する（Ｓ３８１６）。歪成分測定部１８２が、それらの３つ以上の振幅値（Ｍ個の振幅値ｘ_１、ｘ_２，…，ｘ_Ｍ）に対する歪成分の大きさｙ_１、ｙ_２，…，ｙ_Ｍを順次測定する（Ｓ１８２６）。ステップＳ３８１６とＳ１８２６が複素乗算サンプリング過程（Ｓ３８０６）に相当する。

係数計算手段１８３が、Ｓ１８２６の測定結果から、振幅値と歪成分との関係を示す２次方程式の係数を求める（Ｓ１８３６）。最小条件計算部１８４が、ステップＳ１８３６で求めた２次方程式の係数を用いて、歪成分が最小となる振幅値を求める（Ｓ１８４６）。本実施例では、ステップＳ１８３６とＳ１８４６が複素乗算最小条件計算過程（Ｓ１８０７）に相当する。設定部３８１は、周波数特性補償器３９０の出力の振幅がステップＳ１８４６で求めた振幅値になるように、複素乗算部３９２−ｎを設定する（Ｓ３８１７）。これが、複素乗算計算結果設定過程（Ｓ３８１７）である。

制御器３８０は、ｎ＝Ｎかを確認する（Ｓ３８５６）。ステップＳ３８５６がＮｏの場合、制御器３８０は、ｎの値を１増加させ、ステップＳ３８１６に戻る（Ｓ３８６６）。ステップＳ３８５６がＹｅｓの場合、歪成分測定部１８２が、歪成分の大きさを測定する（Ｓ１８２７）。そして、制御器３８０が、歪成分の大きさが基準を満たすかを確認する（Ｓ１８５６）。基準を満足していれば、振幅値の設定は終了する。基準を満足していなければ、サンプリングする振幅値の変更を行い、ステップＳ３８０９からの処理を繰り返す（Ｓ１８６６）。

図９は、べき級数型プリディストータ３００を用いた実験結果である。図９（Ａ）は位相に関する実験結果を示しており、横軸は位相差、縦軸は歪成分のパワーである。図９（Ｂ）は振幅に関する実験結果を示しており、横軸は振幅の倍率、縦軸は歪成分のパワーである。ここで測定した歪成分は、図１０に示す主波の下側（低周波側）の歪成分（Ｄ１＋Ｄ２）である。実験では、２ＧＨｚ帯、１Ｗ級増幅器を用いた。「サンプリングした点」が、複素乗算サンプリング過程（Ｓ３８０１、Ｓ３８０６）で求めた位相値または振幅値と歪成分の大きさ（この実験ではパワー）の組合せ（ｘ_１，ｙ_１）、（ｘ_２，ｙ_２）、（ｘ_３，ｙ_３）に相当する。点線は、サンプリングした結果から求めた２次関数である。「計算結果を確認するための測定値」は、位相値または振幅値を一定間隔で測定したときの位相値または振幅値と歪成分のパワーを示している。これらの図から、サンプリングした結果から求めた２次関数と「計算結果を確認するための測定値」とがほぼ一致していることが分かる。また、式（３）を用いて求めた歪成分を最小にする位相値と振幅値も、「計算結果を確認するための測定値」の最小値とほぼ一致していることが分かる。この実験結果から、３点の位相値または振幅値を用いて歪成分を最小にする位相値または振幅値に近い値を求めることができることが分かる。

次に、図１０のように歪成分帯域幅を限定した場合の実験について説明する。この実験では、主波の下側（低周波側）の３次歪成分と主波の上側（高周波側）の３次歪成分をそれぞれ２分割し、下側からＤ１，Ｄ２，Ｄ３，Ｄ４とした。周波数特性補償器の複素乗算器係数制御は、Ｄ２，Ｄ１，Ｄ３，Ｄ４の順次にて行った。また、複素乗算器係数は、振幅値、位相値の順次で実施した。

図１１に歪成分Ｄ２に対する実験結果を示す。図１１（Ａ）と（Ｂ）はそれぞれ振幅値と位相値に関する実験結果である。「サンプリングした点」は図中の「最小点を計算するのに使用した測定点」であり、「計算結果を確認するための測定値」は「測定点」である。Ｄ２の振幅値及び位相値とは、歪成分Ｄ２に相当する周波数特性補償器の複素乗算器係数として設定される。歪成分Ｄ２は、図６の歪成分測定部１８２において検波した信号を周波数変換し、Ｄ２に相当する帯域成分とした。推定した二次関数を実線で示す。図１１（Ａ）及び（Ｂ）から、測定点３点を用いてＤ２の振幅値と位相値を設定できることがわかる。また、推定した二次関数は、測定点全点と比較し、おおきな乖離はないことがわかる。

図１２に歪成分Ｄ１に対する実験結果を示す。図１１と同様に測定点３点にて推定した二次関数は、測定点数全点と比較しておおきな乖離がないことがわかる。図１２の歪成分Ｄ１の電力は図１１のそれに比較して小さい。これは、主波近傍の歪成分Ｄ２の方が、主波から離れた歪成分Ｄ１よりも大きいためである。

同様に、図１３と図１４に、歪成分Ｄ３と歪成分Ｄ４に対する実験結果を示す。図１３と図１４から、測定点３点にて推定した二次関数は、測定点数全点と比較しておおきな乖離がないことがわかる。このように、周波数特性補償器の複素乗算器係数を図８のフローチャートに従って設定できることが分かる。

図１５に、本発明の制御方法と摂動法による制御方法の収束特性を示す。横軸が本発明の収束時間で規格化した時間、縦軸が５ＭＨｚでのＡＣＬＲオフセットである。実線が本発明の制御方法での収束の様子、点線が摂動法での収束の様子を示している。本発明の制御方法は摂動法のおよそ１／３の時間で、隣接チャネル漏洩電力ＡＣＬＲ（Adjacent Channel Leakage Ratio）を収束させることができる。

図１６に、本発明の制御方法による電力増幅器出力のスペクトラムを示す。図１６（Ａ）は、本発明の制御方法による電力増幅器出力のスペクトラムと、周波数特性補償器がない場合の電力増幅器出力のスペクトラムとを比較する図である。図１６（Ｂ）は、摂動法による電力増幅器出力のスペクトラムと、周波数特性補償器がない場合の電力増幅器出力のスペクトラムとを比較する図である。横軸が周波数、縦軸が規格化したスペクトラムレベルである。周波数特性補償器がない場合には送信周波数の上側と下側が非対称となっている。しかし、本発明の制御方法と摂動法の場合には、主波の上側と下側がほぼ対称となっている。つまり、本発明の制御方法は、摂動法と同じ程度のＡＣＬＲを得ることができることが分かる。

これらの実験結果からも、本発明のべき級数型プリディストータおよびべき級数型プリディストータの制御方法によれば、少ない演算量で、従来の方法と同じ程度に歪成分を小さくできることが分かる。

図１７に、２つのべき級数型プリディストータを組み合わせた例を示す。この構成では、実施例１のべき級数型プリディストータ１００と実施例３のべき級数型プリディストータ３００とを組合せている。異なる点は、制御器１８０’、３８０’が、２つのべき級数型プリディストータが協調動作するための信号（協調信号／完了信号）の授受を行うことである。

例えば、まずべき級数型プリディストータ１００’が大まかな歪補償を、ベクトル調整器１４０で行い、協調制御信号をべき級数型プリディストータ３００’に送信する。その後、べき級数型プリディストータ３００’が高精度な歪補償を、周波数特性補償器３９０で行い、完了信号をべき級数型プリディストータ１００’に送信する。アナログのべき級数型プリディストータ１００’は、ベクトル調整器１４０を可変位相部１４１と可変減衰部１４２とで構成できること、およびＲＦ帯のままで位相値と振幅値を制御できることから、高速な制御を行いやすい。この方法の場合、ベクトル調整器１４０にて大まかな歪補償を行うことで、周波数特性補償器３９０が補償しなければならないレベルを小さくできる。したがって、複素乗算器ごとに歪成分が最小となる位相値または振幅値を求めなければならないディジタルのべき級数型プリディストータ３００’の制御に必要な演算回数を少なくできる。

なお、送信信号の上側の歪成分と下側の歪成分の非対称性が非常に大きい場合には、先にべき級数型プリディストータ３００’が非対称性を補償するための歪補償を行い、その後にべき級数型プリディストータ１００’が歪補償を行った方が効率的な場合もあり得る。

図１８に、実施例５のべき級数型プリディストータの機能構成例を示す。べき級数型プリディストータ４００は、ベクトル調整器２４０とともに周波数特性補償器３９０を備えている点が、実施例２のべき級数型プリディストータ２００や実施例３のべき級数型プリディストータ３００と異なる。

べき級数型プリディストータ４００は、遅延メモリ２２１、２２２によって信号に遅延を与える遅延経路２２５と、３次歪発生器２３０とベクトル調整器２４０と周波数特性補償器３９０とを有する歪発生経路４３５と、入力信号（Ｉ成分、Ｑ成分）をそれぞれ遅延経路２２５と歪発生経路４３５に分配する分配器２１０と、遅延経路２２５の出力（Ｉ成分、Ｑ成分）と歪発生経路４３５の出力（Ｉ成分、Ｑ成分）とをそれぞれ合成する合成器２５０と、ベクトル調整器２４０と周波数特性補償器３９０とを制御する制御器４８０とで構成される。歪発生経路４３５には、５次以上の奇数次の歪成分を生じさせるＮ次（Ｎは３以上の奇数）歪発生経路を並列に接続してもよい。制御器４８０は、設定部４８１、歪成分測定部１８２、最小条件計算部１８４、記録部４８５を有する。設定部４８１は、ベクトル調整器２４０の出力の位相値または振幅値、および周波数特性補償器３９０の出力の位相値または振幅値を設定する。記録部４８５は、あらかじめ定めたサンプリングのために設定するべき３つ以上の位相値または振幅値を記録する。記録する位相値または振幅値は、ベクトル調整器２４０用と周波数特性補償器３９０用とで異なる値としてもよいし、同じ値としてもよい。

制御の手順は、実施例４と同じように、ベクトル調整器２４０の出力の位相値と振幅値を調整（図４と同じ）し、その後に周波数特性補償器３９０の出力の位相値と振幅値を調整（図８と同じ）すればよい。あるいはその逆としてもよいし、必要に応じて繰り返してもよい。このように１つのべき級数型プリディストータとすれば、歪補償を高精度に行うだけでなく、単一のＤＳＰ（Digital Signal Processor）で制御できるメリットがある。したがって、省電力化も可能となる。

１００、２００、３００、４００、８００、９００ べき級数型プリディストータ
１３５、２３５、４３５、８３５、９３５ 歪発生経路
１４０、２４０、８４０ ベクトル調整器 １４１、２４１ 可変位相部
１４２、２４２ 可変減衰部 １７１ 周波数変換器
１７２ 直交復調器 １７５、８７５ 制御経路
１８０、２８０、３８０、４８０、８８０、９８０ 制御器
１８１、２８１、３８１、４８１ 設定部 １８２ 歪成分測定部
１８３ 係数計算手段 １８４ 最小条件計算部
１８５、４８５ 記録部 ２１０、８１０ 分配器
２２１、２２２、９２０ 遅延メモリ ２２５、８２５、９２５ 遅延経路
２３０、８３０ ３次歪発生器 ２５０、８５０ 合成器
２６１ 周波数変換器 ２６２ 直交変調器
３９０、９９０ 周波数特性補償器 ３９１、９９１ ＦＦＴ部
３９２、９９２ 複素乗算部 ３９３、９９３ 逆ＦＦＴ部
８２０ 遅延線路 ８６０ 電力増幅器
８７０ 方向性結合器

Claims (11)

1. 信号に遅延を与える遅延経路と、
   Ｎ次歪発生器とベクトル調整器とを有する歪発生経路と
   入力信号を前記遅延経路と前記歪発生経路に分配する分配器と、
   前記遅延経路の出力と前記歪発生経路の出力とを合成する合成器と、
   前記ベクトル調整器を制御する制御器と
   で構成され、
   Ｎは３以上の奇数であり、
   前記制御器は、
   前記ベクトル調整器の出力の位相値または振幅値を設定する設定部と、
   歪成分を測定する歪成分測定部と、
   前記設定部がサンプリングのために設定した３つ以上の位相値または振幅値に対する歪成分の大きさを用いて、歪成分が最小となる位相値または振幅値を求める最小条件計算部と、
   あらかじめ定めたサンプリングのために設定するべき３つ以上の位相値または振幅値を記録する記録部と
   を備えるべき級数型プリディストータ。
2. 信号に遅延を与える遅延経路と、
   Ｎ次歪発生器と周波数特性補償器とを有する歪発生経路と
   入力信号を前記遅延経路と前記歪発生経路に分配する分配器と、
   前記遅延経路の出力と前記歪発生経路の出力とを合成する合成器と、
   前記周波数特性補償器を制御する制御器と
   で構成され、
   Ｎは３以上の奇数であり、
   前記周波数特性補償器は、時系列の信号を周波数帯の信号に変換するＦＦＴ部と、Ｎ個の複素乗算部と、周波数帯の信号を時系列の信号に変換する逆ＦＦＴ部とを備え、
   前記制御器は、
   前記複素乗算部ごとの出力の位相値または振幅値を設定する設定部と、
   歪成分を測定する歪成分測定部と、
   前記設定部がサンプリングのために設定した３つ以上の位相値または振幅値に対する歪成分の大きさを用いて、歪成分が最小となる位相値または振幅値を求める最小条件計算部と、
   あらかじめ定めたサンプリングのために設定するべき３つ以上の位相値または振幅値を記録する記録部と
   を備えるべき級数型プリディストータ。
3. 信号に遅延を与える遅延経路と、
   Ｎ次歪発生器とベクトル調整器と周波数特性補償器とを有する歪発生経路と
   入力信号を前記遅延経路と前記歪発生経路に分配する分配器と、
   前記遅延経路の出力と前記歪発生経路の出力とを合成する合成器と、
   前記ベクトル調整器と周波数特性補償器とを制御する制御器と
   で構成され、
   Ｎは３以上の奇数であり、
   前記周波数特性補償器は、時系列の信号を周波数帯の信号に変換するＦＦＴ部と、Ｎ個の複素乗算部と、周波数帯の信号を時系列の信号に変換する逆ＦＦＴ部とを備え、
   前記制御器は、
   前記ベクトル調整器の出力の位相値または振幅値、および前記複素乗算部ごとの出力の位相値または振幅値を設定する設定部と、
   歪成分を測定する歪成分測定部と、
   前記設定部がサンプリングのために設定した３つ以上の位相値または振幅値に対する歪成分の大きさを用いて、歪成分が最小となる位相値または振幅値を求める最小条件計算部と、
   あらかじめ定めたサンプリングのために設定するべき３つ以上の位相値または振幅値を記録する記録部と
   を備えるべき級数型プリディストータ。
4. 前記最小条件計算部は、
   前記設定部がサンプリングのために設定した３つ以上の位相値または振幅値に対する歪成分から、位相値または振幅値と歪成分との関係を示す２次方程式の係数を求める係数計算手段も備え、
   前記係数計算手段が求めた２次方程式の係数から、歪成分が最小となる位相値または振幅値を求める
   ことを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載のべき級数型プリディストータ。
5. 請求項１記載のべき級数型プリディストータの制御方法であって、
   前記設定部がサンプリングのために３つ以上の前記ベクトル調整器の出力の位相値または振幅値を設定し、前記歪成分測定部が前記の３つ以上の位相値または振幅値に対する歪成分の大きさをそれぞれ測定するベクトルサンプリング過程と、
   前記最小条件計算部が、前記ベクトルサンプリング過程の測定結果から、歪成分が最小となる位相値または振幅値を求めるベクトル最小条件計算過程と、
   前記設定部が前記ベクトル最小条件計算過程の計算結果に従って、位相値または振幅値を設定するベクトル計算結果設定過程と
   を有する
   ことを特徴とするべき級数型プリディストータの制御方法。
6. 請求項２記載のべき級数型プリディストータの制御方法であって、
   前記複素乗算部ごとに、
   前記設定部がサンプリングのために３つ以上の出力の位相値または振幅値を設定し、前記歪成分測定部が前記の３つ以上の位相値または振幅値に対する歪成分の大きさをそれぞれ測定する複素乗算サンプリング過程と、
   前記最小条件計算部が、前記複素乗算サンプリング過程の測定結果から、歪成分が最小となる位相値または振幅値を求める複素乗算最小条件計算過程と、
   前記設定部が前記複素乗算最小条件計算過程の計算結果に従って、位相値または振幅値を設定する複素乗算計算結果設定過程と
   を有する
   ことを特徴とするべき級数型プリディストータの制御方法。
7. 請求項３記載のべき級数型プリディストータの制御方法であって、
   前記設定部がサンプリングのために３つ以上の前記ベクトル調整器の出力の位相値または振幅値を設定し、前記歪成分測定部が前記の３つ以上の位相値または振幅値に対する歪成分の大きさをそれぞれ測定するベクトルサンプリング過程と、
   前記最小条件計算部が、前記ベクトルサンプリング過程の測定結果から、歪成分が最小となる位相値または振幅値を求めるベクトル最小条件計算過程と、
   前記設定部が前記ベクトル最小条件計算過程の計算結果に従って、位相値または振幅値を設定するベクトル計算結果設定過程と、
   を有し、さらに、
   前記複素乗算部ごとに、
   前記設定部がサンプリングのために３つ以上の出力の位相値または振幅値を設定し、前記歪成分測定部が前記の３つ以上の位相値または振幅値に対する歪成分の大きさをそれぞれ測定する複素乗算サンプリング過程と、
   前記最小条件計算部が、前記複素乗算サンプリング過程の測定結果から、歪成分が最小となる位相値または振幅値を求める複素乗算最小条件計算過程と、
   前記設定部が前記複素乗算最小条件計算過程の計算結果に従って、位相値または振幅値を設定する複素乗算計算結果設定過程と
   を有する
   ことを特徴とするべき級数型プリディストータの制御方法。
8. まず、振幅値を一定とした上で、歪成分が最小となる位相値を求め、
   次に、求めた位相値に設定した上で、歪成分が最小となる振幅値を求める
   ことを特徴とする請求項５から７のいずれかに記載のべき級数型プリディストータの制御方法。
9. まず、位相値を一定とした上で、歪成分が最小となる振幅値を求め、
   次に、求めた振幅値に設定した上で、歪成分が最小となる位相値を求める
   ことを特徴とする請求項５から７のいずれかに記載のべき級数型プリディストータの制御方法。
10. 請求項１記載のべき級数型プリディストータと請求項２記載のべき級数型プリディストータの両方を備えるときのべき級数型プリディストータの制御方法であって、
    まず、前記周波数特性補償器の設定を一定とした上で、前記ベクトル調整器の制御を行い、
    次に、前記ベクトル調整器の設定を一定とした上で、前記周波数特性補償器の制御を行う
    ことを特徴とするべき級数型プリディストータの制御方法。
11. 請求項１記載のべき級数型プリディストータと請求項２記載のべき級数型プリディストータの両方を備えるときのべき級数型プリディストータの制御方法であって、
    まず、前記ベクトル調整器の設定を一定とした上で、前記周波数特性補償器の制御を行い、
    次に、前記周波数特性補償器の設定を一定とした上で、前記ベクトル調整器の制御を行う
    ことを特徴とするべき級数型プリディストータの制御方法。

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