JP2010085372A - 磁気特性測定装置及び磁気特性測定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】移動する磁性体Fを交番磁界で磁化して磁気特性を測定する磁気特性測定装置1を提供する。この磁気特性測定装置1は、磁性体Fの通過位置近傍に配置された磁化器10,20と、磁化器による磁束を検出する検出コイル13,23と、検出コイルから出力される検出電圧を入力信号として、磁性体に誘起された磁束密度を測定する磁束密度測定部102,202と、励磁電流の値から算出した磁界の大きさと磁束密度とに基づいて、磁気特性を算出する磁気特性算出部103,203と、磁性体が通過する速さVに基づいて該速さに起因した誤差が低減するように磁気特性を補正する磁気特性補正部400と、を有する。
【選択図】図1
Description
この構成によれば、磁気特性補正部が、速さと共に、磁気特性算出部が算出した一の磁気特性及び他の磁気特性の少なくとも一方に基づいて、一の磁気特性における誤差を算出する。従って、測定している磁性体の磁気特性が反映されるため、より正確な誤差を算出することができる。また、速さと磁気特性算出部が算出した磁気特性とに基づいて誤差を算出できるので、誤差算出用に他の測定装置などを使用せずに済み、容易に構成することができる。なお、誤差算出に使用される磁気特性と、その誤差により補正される磁気特性(一の磁気特性)とは、同じ磁気特性であってもよいが、異なる磁気特性であってもよい。
上記一の磁気特性及び上記他の磁気特性の少なくとも一方に基づいて、上記磁性体が上記通過位置を通過する速さの変化に対する上記誤差の変化量を算出し、該変化量と上記速さとに基づいて、上記誤差を算出してもよい。
この構成によれば、磁気特性補正部により、磁気特性算出部が算出した磁気特性算出部が算出した一の磁気特性及び他の磁気特性の少なくとも一方に基づいて、速さの変化に対する誤差の変化量(傾きなど)を算出することができる。そして、その変化量と速さとに基づいて、一の磁気特性における誤差を算出することができる。
この構成によれば、磁気特性補正部により、速さと、2の磁気特性間の比とに基づいて、補正される磁気特性における誤差を算出することができる。なお、磁気特性補正部で補正される磁気特性に含まれる誤差の1つとして、磁性体の速さに起因したものがあるが、その誤差は、各磁性体毎に異なる場合がある。上記構成のように磁性体の磁気特性に基づいて誤差を算出すれば磁性体毎の依存度合を低減することができるが、この構成のように2の磁気特性間の比とに基づいて誤差を算出する場合、2つの磁気特性それぞれに含まれる各磁性体毎の依存度合が打ち消すことができ、更に磁性体毎の依存度を低減できる。また、2つの磁気特性の両者には、やはり磁性体の速さに起因した誤差も含まれるが、その誤差も、この構成の場合には打ち消すことができる。
なお、上記磁気特性算出部は、上記磁性体が前記通過位置を通過する速さと、該磁気特性補正部が誤差を補正する一の磁気特性に対する、該一の磁気特性と異なる他の磁気特性の比と、に基づいて、一の磁気特性における速さに起因した誤差を算出することが望ましい。
この構成によれば、第1の磁化器及び第2の磁化器がそれぞれ発生させる磁界により、磁性体を磁化させることができる。その磁界に応じた磁性体の磁束密度を、第1の検出コイル及び第2の検出コイルと磁束密度測定部とにより測定することができる。そして、磁気特性算出部により、第1の磁化器及び第2の磁化器それぞれの励磁コイルに流れる励磁電流の値から算出した磁界の大きさと、磁束密度測定部により測定された磁性体の磁束密度とに基づいて、磁性体の磁気特性を算出することができる。更に、磁気特性補正部により、2つの磁化器間の磁性体の通過位置の変位量に応じて磁気特性を補正することができる。その結果、該変位量に起因した誤差を減少させることができ、より安定して精度良い磁気特性を測定することができる。また、上記構成は、磁性体に接触した他の構成などに組み込む必要がなく、他の構成を別途配置する必要もない。よって、より容易に装置を配置することも可能である。
この構成によれば、磁束密度測定部により、第1の磁化器及び第2の磁化器それぞれの磁界に応じた2つの磁束密度を検出することができ、磁気特性算出部により、2つの磁束密度それぞれに応じた磁気特性を算出することができる。この2つの磁束密度は第1の磁化器及び第2の磁化器それぞれの磁化力を反映しており、この磁化力は各磁化器と磁性体との距離を反映している。よって、変位量算出部は、この2つの磁気特性に基づいて、磁性体の通過位置の変位量を算出することができる。
強度 :例えば、降伏点・引張強度・圧縮強さ・クリープ強さ等
硬さ :例えば、ビッカース硬さ・ブリネル硬さ・ロックウェル硬さ等
靭性 :例えば、シャルピー衝撃値・アイゾット衝撃値等
疲労 :例えば、低サイクル疲労・高サイクル疲労等
加工性:例えば、伸び率・絞り性・r値等
薄鋼板等の磁性体の磁気特性は、その磁性体の結晶粒径や転位密度などとの間に相関関係が存在する。一方、磁性体の機械的性質も、磁性体の結晶粒径や転位密度などとの間に相関関係が存在することがある。よって、磁性体の磁気特性と磁性体の機械的性質との間には、相関関係が存在する場合がある(図11、図17〜図21等参照。)。本発明の実施形態に係る磁気特性測定装置は、この相関関係の一例を利用して、薄鋼板の機械的性質をも算出する。以下では説明の便宜上、この磁気特性測定装置が、機械的性質として上記の例示した性質のうちの降伏点を測定する場合について説明する。しかし、これはあくまで例示であり、磁気特性測定装置が測定する機械的性質は、測定した磁気特性と相関関係が存在する様々な機械的性質を算出することが可能であることは言うまでもない。
まず、図1を参照しつつ、本発明の一実施形態の磁気特性測定装置の構成について説明する。
図1に示すように、本発明の一実施形態の磁気特性測定装置1は、磁化器10,20と、発振器31と、励磁電源32と、磁界測定部101,201と、磁束密度測定部102,202と、磁気特性算出部103,203と、変位量算出部301と、相関データ記憶部302と、平均磁気特性算出部303と、磁気特性補正部400と、機械的性質算出部501と、機械的性質データ記憶部502とを有する。
上述の通り、磁気特性算出部103,203は、それぞれ磁化器10又は磁化器20に対応した磁気特性を算出する。磁化器10及び磁化器20は同様の構成を有し、かつ、同一の対象(薄鋼板F)について測定するので、磁化器10に対応した磁気特性と、磁化器20に対応した磁気特性とは、一見すると、ほぼ一致することが予想される。しかしながら、本発明の発明者らは磁気特性測定装置等について鋭意研究を行った結果、各磁化器10,20で測定する磁気特性は、必ずしも一致しないことを見いだした。つまり、製造工程などにおいて通板される薄鋼板Fは、振動したり、反りなどの平坦でない形状等を有するので、パスラインにはギャップの中心からの「ずれ量」である変位量Δxが存在する。この変位量Δxは、薄鋼板Fに実際に印加される磁界H1,H2の大きさ、及び、その磁界H1,H2に応じた磁束密度B1,B2に影響を及ぼす。本発明の発明者らは、更に鋭意研究を行った結果、パスラインの変位量Δxと磁気特性の一例である最大磁束密度比(例えば、Bm1/Bm2)との間には、図4に示すような略一次関数的な相関関係が存在することを見いだした。薄鋼板Fの変動により薄鋼板Fが近づいた磁化器では、磁気抵抗が減少して、最大磁束密度が増加し、逆に薄鋼板Fが遠くなった磁化器では、磁気抵抗が増加して、最大磁束密度が減少する。その結果、図4に示すような相関関係が発生している。そこで、変位量算出部301は、このような変位量Δxと最大磁束密度比(Bm1/Bm2)との間の相関関係を利用して、変位量Δxをリアルタイムに算出する。
本発明の発明者らは、上述の通り、パスラインの変位量Δxにより磁気特性が変動することなどを見いだしたが、本発明の発明者らは、鋭意研究を行った結果、パスラインの変位量Δxと磁気特性の誤差との間には、略2次関数的な相関関係が存在することをも更に見いだした。この変位量Δxと、磁気特性の誤差(ここでは平均保磁力Hc0の誤差ΔHc)との関係を、図5に示す。図5(A)には、変位量Δxが約−25mm〜約25mm程度における誤差ΔHcを示し、図5(B)には、変位量Δxが約−10mm〜約10mm程度における誤差ΔHcの拡大図を示す。そこで、変位量補正部410は、この変位量Δxと平均保磁力Hc0の誤差ΔHcとの相関関係を利用して、この誤差ΔHcが低減するように、平均保磁力Hc0を補正して、薄鋼板Fの保磁力Hcを算出する。
本発明の発明者らは、上述の通り、パスラインの変位量Δxによる磁気特性の変動を補正することを可能にしたが、更に、磁気特性測定精度を向上させるべく鋭意研究を行った結果、薄鋼板F(つまり測定対象の磁性体)がパスラインを通過する通過速さVによっても、測定される磁気特性に変動が生じることを発見した。この速さVに依存した磁気特性(保磁力Hc)の誤差ΔHcを図7に示す。図7(A)〜(C)は、それぞれ種類や磁気特性が異なる薄鋼板Fについての、速さVの変化に対する保磁力Hcの誤差ΔHcの変化を示す。ここでは、図7(A)の薄鋼板FをA材とし、図7(B)の薄鋼板FをB材とし、図7(C)の薄鋼板FをC材とする。
そこで、例えば、速さ補正部420が速さVを使用してその速さVに起因した誤差ΔHcを補正する場合、図7(A)〜(B)に示す速さVと保磁力Hcの誤差ΔHcとの間の相関関係を、薄鋼板Fに応じて予め実験等により測定し、この測定結果を使用して、速さVを代入すると誤差ΔHc(%)をかえす近似関数(相関関数。ここでは「第1速さ補正関数」ともいう。)を算出しておき、この算出した第1速さ補正関数を、速さ補正データ記憶部421に記憶しておく。そして、速さ補正部420は、速さ補正データ記憶部421から第1速さ補正関数を取得して、その第1速さ補正関数と速さVとから、誤差ΔHc(%)を算出する。更に、速さ補正部420は、誤差ΔHc(%)と保磁力Hc(A)とから、保磁力Hcに応じた誤差ΔHc(A)の大きさを算出し、この誤差ΔHcの大きさを平均保磁力Hc0に加算又は減算して、速さVに対する誤差を低減させた薄鋼板Fの保磁力Hcを算出する。従って、この速さ補正部420は、速さVに起因した誤差ΔHcをも低減させた保磁力Hcを算出するとができる。
しかしながら、本発明の発明者らは、各薄鋼板F(A材〜C材等)に対する速さVと誤差ΔHcとの依存性について、更に鋭意研究を行った結果、薄鋼板Fの磁気特性と、速さVの変化に対する誤差ΔHc(%)の変化量(以下、「傾き」ともいう。)との間にも、相関関係があることを見出した。この磁気特性と、誤差ΔHcの傾きとの相関関係を、図8(A)及び(B)に示す。なお、図8(A)〜(C)の横軸における磁気特性は、薄鋼板Fが静止している際に測定したものである。図8(A)は、平均最大磁束密度Bm0と誤差ΔHcの傾きとの相関関係を示し、図8(B)は、平均保磁力Hc0と誤差ΔHcの傾きとの相関関係を示す。例えば、図8(A)に示すように、平均最大磁束密度Bm0と誤差ΔHcの傾きとの間には、略一次関数的な相関関係が存在することが判る。一方、例えば、図8(B)からも同様に、平均保磁力Hc0と誤差ΔHcの傾きとの間には、略一次関数的な相関関係が存在することが判る。なお、ここでは、誤差ΔHcの傾きとの間に相関関係が存在する磁気特性として、両磁化器10,20等からえられる両磁気特性の平均値を示しているが、磁化器10等及び磁化器20等から得られるどちらか一方の磁気特性(保磁力Hc1,Hc2、残留最大磁束密度Bm1,Bm2等)であっても、同様の相関関係が存在する。
本発明の発明者らは、更に精度の良い誤差ΔHcを算出して、磁気特性の補正精度を高めるべく鋭意研究を行った結果、2種類の磁気特性間の比と、誤差ΔHcの傾きとの間の相関関係は、上記一の磁気特性に対する相関関係よりも強いことを見出した。
温度補正部430は、速さ補正部420が補正した保磁力Hcを、薄鋼板Fの温度Tに基づいて補正する。この補正を行うために、温度補正部430は、例えば、薄鋼板Fの温度Tを測定する温度測定装置、温度Tを含めた製造ライン全体を制御する制御装置など(図示せず)から、薄鋼板Fの温度Tを取得する。一方、薄鋼板Fの温度Tと、保磁力Hcの誤差ΔHcとの間には、図9に示すような相関関係が存在する。そこで、図9に示すような温度Tと保磁力Hcの誤差ΔHcとの間の相関関係を、薄鋼板Fに応じて予め実験等により測定し、この測定結果を使用して、温度T(℃)を代入すると誤差ΔHc(%)をかえす近似関数(相関関数。ここでは「温度補正関数」ともいう。)を算出しておき、この算出した温度補正関数を、温度補正データ記憶部431に記憶しておく。そして、温度補正部430は、温度補正データ記憶部431から温度補正関数を取得して、その温度補正関数と薄鋼板Fの温度T(℃)とから、誤差ΔHc(%)を算出する。更に、温度補正部430は、誤差ΔHc(%)と保磁力Hc(A)とから、保磁力Hcに応じた誤差ΔHc(A)の大きさを算出し、この誤差ΔHcの大きさを平均保磁力Hc0に加算又は減算して、温度Tに対する誤差を低減させた薄鋼板Fの保磁力Hcを算出する。従って、この温度補正部430は、温度Tに起因した誤差ΔHcをも低減させた保磁力Hcを算出するとができる。なお、温度Tと保磁力Hcの誤差ΔHcとの間の相関関係は、薄鋼板Fの磁気特性等により異なる(図9中、○(丸)・◇(四角)・△(三角)の各データ点は、それぞれA材・B材・C材に相当する。)。よって、温度補正データ記憶部431には、薄鋼板F毎の温度補正関数が記録され、温度補正部430は、測定対象の薄鋼板Fに応じて温度補正関数を取得することが望ましい。
機械的性質算出部501は、磁気特性補正部400が補正した保磁力Hcから、薄鋼板Fの機械的性質の一例として降伏点Ypを算出する。より具体的には、薄鋼板Fの保磁力Hcと降伏点Ypとの間には、図11に示すような相関関係が存在する。従って、薄鋼板Fに応じて保磁力Hcと降伏点Ypとの間の相関関係を、予め実験等により測定し、この測定結果を使用して、保磁力Hcを代入すると降伏点Ypをかえす近似関数(相関関数、図11参照。ここでは「機械的性質関数」ともいう。)を算出しておき、この算出した機械的性質関数を、機械的性質データ記憶部502に記憶しておく。そして、機械的性質算出部501は、機械的性質データ記憶部502から機械的性質関数を取得して、この機械的性質関数に変位量補正部410が補正した保磁力Hcを代入して、薄鋼板Fの降伏点Ypを求めることができる。
以上、本実施形態に係る磁気特性測定装置1の構成等について説明した。次に、図12を参照しつつ、磁気特性測定装置1の動作について説明する。
以上、本実施形態に係る磁気特性測定装置1の構成及び動作等について説明した。次に、図13〜図15を参照して、このように構成された磁気特性測定装置1による測定結果の一例を説明する。図13は、本実施形態に係る磁気特性測定装置による機械的性質の算出結果の一例を説明するための説明図である。図14は、本実施形態に係る磁気特性測定装置による機械的性質の算出結果の一例における効果を説明するための説明図である。図15は、本実施形態に係る磁気特性測定装置による機械的性質の算出結果の一例における効果を説明するための説明図である。
磁化器10,20は、それぞれ板厚が0.23mmの電磁鋼板を積層して形成した。この際の各磁化器10,20中の2つの磁極の間隔は、約200mm、磁化器10,20の幅(図1における紙面と垂直な方向の幅)は、約100mmとなるように、両磁化器10,20を形成した。このように形成した磁化器10,20を、両者のギャップの間隔が約50mmとなるように対向して配置した。また、発振器31の周波数を50Hzとし、励磁コイル12,22に流される励磁電流の振幅を3.6Aとした。なお、励磁コイル12としては、直径2mmのエナメル被覆銅線を150ターンずつ、磁化器10の両腕部に巻き付けて形成した。一方、検出コイル13としては、直径0.2mmのエナメル被覆銅線を使用し、5ターン巻くことにより形成した。そして、励磁コイル22及び検出コイル23も、励磁コイル12及び検出コイル13と同様に形成した。そして、図3〜図11等に示した必要な測定値を取得して各補正関数などを磁気特性測定装置1に記録した。なお、上記磁気測定装置の構成及び動作において例示した各測定結果(図3〜図11参照。)を測定した際に使用した測定条件も、上記と同様の条件で測定した。
以上、本発明の一実施形態に係る磁気特性測定装置1の構成、動作及び測定例等について説明した。この磁気特性測定装置1によれば、磁気特性補正部400を備えることにより、薄鋼板Fの通板中においても、通板速さV等に起因した誤差を低減させて、より安定して精度よく薄鋼板Fの保磁力Hcを測定することができる。その結果、磁気特性測定装置1は、更に安定して精度よく薄鋼板Fの降伏点Ypを算出することが可能である。
例えば、上記実施形態では、変位量算出部301等により、磁気特性の一つである最大磁束密度Bm1,Bm2から、薄鋼板Fのパスラインの変位量Δxを算出する場合について説明した。しかし、変位量Δxの算出に使用される磁気特性は、この例に限定されるものではない。つまり、変位量算出部301は、変位量Δxとの間に相関関係がある様々な磁気特性に基づいて、変位量Δxを算出することが可能である。このような磁気特性の例としては、例えば、図16に示すような最大磁界Hm1,Hm2の強度比(例えばHm1/Hm2)や、保磁力比(例えばHc1/Hc2)、残留磁束密度比(例えばBr1/Br2)などが挙げられる。例えば、磁気特性が最大磁界Hm1,Hm2の強度比(Hm1/Hm2)(以下「最大磁界比」ともいう。)である場合には、変位量算出部301により、以下のように変位量Δxが算出される。つまり、図4に示す相関関係の代わりに、図16に示す変位量Δxと最大磁界比(Hm1/Hm2)との間の相関関係を、予め実験等により測定し、この測定結果を使用して、最大磁界比(Hm1/Hm2)を代入すると変位量Δxをかえす近似関数(相関関数、図16参照。)を算出しておき、この算出した近似関数を、相関データ記憶部302に記録しておく。そして、変位量算出部301は、最大磁界Hm1,Hm2に基づいて、まず、最大磁界比(Hm1/Hm2)を算出する。そして、変位量算出部301は、相関データ記憶部302から近似関数を取得して、その近似関数と最大磁界比(Hm1/Hm2)とから、変位量Δxを算出することができる。
なお、薄鋼板Fは、上記実施形態で説明した最大磁束密度比(Bm1/Bm2)や最大磁界比(Hm1/Hm2)は、例えば保磁力比や残留磁束密度比等の他の磁気特性に比べて、変位量Δxに対する相関関係が強い。よって、薄鋼板Fの場合には、変位量算出部301は、最大磁束密度比(Bm1/Bm2)又は最大磁界比(Hm1/Hm2)を使用して変位量を算出することが望ましい。但し、変位量算出部301は、例えば、磁気特性算出部103,203による各磁気特性に対する算出精度等を考慮して、当該精度が最も高い磁気特性を使用して、変位量Δxを算出することも可能である。
また、上記実施形態では、2つの磁化器10,20を備えて、2つの磁化器10,20それぞれに対して検出コイル13,23、磁界測定部101,201、磁束密度測定部102,202及び磁気特性算出部103,203を備える場合について説明した。しかし、磁化器の個数は、2つに限定されるものではなく、1つや3つ以上であってもよい。磁化器が3つ以上の場合には、検出コイル、磁界測定部、磁束密度測定部及び磁気特性算出部等を、各磁化器に対応する個数備えることが望ましい。また、磁化器が1つの場合、つまり、例えば磁化器10のみの場合、他方の磁化器20に対する検出コイル23、磁界測定部201、磁束密度測定部202及び磁気特性算出部203は、必ずしも必要ではなく、逆も同様である。
また、上記実施形態では、機械的性質として降伏点Ypを例に挙げて説明した。しかしながら、この機械的性質は、上述の通り、この例に限定されるものではない。機械的性質としては、磁気特性との間に何らかの相関関係が認められるものであれば、如何なる機械的性質も算出可能である。なお、機械的性質は、上述の通り、測定対象の機械的な変形及び破壊に関する諸性質を意味し、その降伏点Yp以外の例としては、引張強度・伸び率・絞り・硬さ・衝撃値・疲れ強さ・クリープ強さなどが挙げられる。ここで機械的性質算出部501による他の機械的性質の幾つかの算出例について説明する。
また、これらの機械的性質は薄鋼板Fの磁気特性から算出され、上記実施形態では、その磁気特性として「保磁力Hc(相当値)」を例に挙げて説明した。しかしながら、この磁気特性も、上述の通り、この例に限定されるものではない。磁気特性としては、様々な磁気的性質の特性値を採用することができる。ただし、単に磁気特性を算出するだけでなく、上記のように機械的性質を算出する場合には、磁気特性測定装置1が測定する磁気測定は、機械的性質との間に何らかの相関関係が認められるものであることが望ましい。なお、磁気特性とは、上述の通り、磁性体が磁化された場合にその磁性体が示す磁気的な諸特性を意味し、その保磁力Hc以外の例としては、鉄損・最大磁束密度(飽和磁束密度)・透磁率・残留磁束密度(残留磁化)などが挙げられる。ここで、機械的性質との間に相関関係が存在する磁気特性の他の例として、残留磁束密度Brについて説明する。
10,20 磁化器
11,21 ヨーク
12,22 励磁コイル
13,23 検出コイル
31 発振器
32 励磁電源
101,201 磁界測定部
102,202 磁束密度測定部
103,203 磁気特性算出部
301 変位量算出部
302 相関データ記憶部
303 平均磁気特性算出部
400 磁気特性補正部
410 変位量補正部
411 変位量補正データ記憶部
420 速さ補正部
421 速さ補正データ記憶部
430 温度補正部
431 温度補正データ記憶部
440 応力補正部
441 応力補正データ記憶部
501 機械的性質算出部
502 機械的性質データ記憶部
F 薄鋼板
H,H1,H2 磁界
Hm1,Hm2 最大磁界
Hc,Hc1,Hc2 保磁力
Hc0 平均保磁力
B1,B2 磁束密度
Bm0 平均最大磁束密度
Bm1,Bm2 最大磁束密度
Br,Br1,Br2 残留磁束密度
Br0 平均残留磁束密度
Δx 変位量
V 速さ
T 温度
S 応力
Yp 降伏点
Ts 引張強度
EL 伸び率
Claims (12)
- 移動する帯状又は板状の金属磁性体を交番磁界で磁化して該磁性体の磁気特性を測定する磁気特性測定装置であって、
前記磁性体が通過する通過位置近傍に配置され、ヨーク及び該ヨークの外側に巻かれた励磁コイルを有して前記磁性体を磁化する磁化器と、
前記磁化器に配置され、前記磁化器により誘起される磁束を検出して検出電圧を出力する検出コイルと、
前記検出コイルから出力される検出電圧を入力信号として、前記磁化器により前記磁性体に誘起された磁束密度を測定する磁束密度測定部と、
前記磁化器の励磁コイルに流れる励磁電流の値から算出した磁界の大きさと、前記磁束密度測定部が測定した前記磁性体の磁束密度とに基づいて、前記磁性体の磁気特性を算出する磁気特性算出部と、
前記磁性体が前記通過位置を通過する速さに基づいて、前記磁気特性算出部が算出した磁気特性を、該速さに起因した誤差が低減するように補正する磁気特性補正部と、
を有することを特徴とする、磁気特性測定装置。 - 前記磁気特性補正部は、前記磁気特性算出部が算出した一の磁気特性を補正するために、前記磁性体が前記通過位置を通過する速さに加えて、前記磁気特性算出部が算出した他の磁気特性及び前記一の磁気特性の少なくとも一方に更に基づいて、前記一の磁気特性における前記速さに起因した誤差を算出することを特徴とする、請求項1に記載の磁気特性測定装置。
- 前記磁気特性補正部は、
前記一の磁気特性及び前記他の磁気特性の少なくとも一方に基づいて、前記磁性体が前記通過位置を通過する速さの変化に対する前記誤差の変化量を算出し、
該変化量と前記速さとに基づいて、前記誤差を算出することを特徴とする、請求項2に記載の磁気特性測定装置。 - 前記磁気特性算出部は、前記磁性体の前記一の磁気特性を含む2以上の前記磁気特性を算出し、
前記磁気特性補正部は、前記磁性体が前記通過位置を通過する速さと、前記磁気特性算出部が算出した2の磁気特性間の比とに基づいて、前記一の磁気特性における前記速さに起因した誤差を算出することを特徴とする、請求項2又は3に記載の磁気特性測定装置。 - 前記磁化器は、前記帯状又は板状の磁性体を挟んで互いに対向配置された第1の磁化器及び第2の磁化器を含み、
前記検出コイルは、前記第1の磁化器及び前記第2の磁化器にそれぞれ配置され、前記第1の磁化器又は前記第2の磁化器により誘起される磁束を検出して検出電圧を出力する第1の検出コイル及び第2の検出コイルを含み、
前記磁束密度測定部は、前記第1の検出コイル及び前記第2の検出コイルそれぞれから出力される検出電圧を入力信号として、前記第1の磁化器及び前記第2の磁化器により前記磁性体に誘起された磁束密度を測定し、
前記磁気特性算出部は、前記第1の磁化器及び前記第2の磁化器それぞれの励磁コイルに流れる励磁電流の値から算出した磁界の大きさと、前記磁束密度測定部が測定した前記磁性体の磁束密度とに基づいて、前記磁性体の磁気特性を算出し、
前記磁気特性補正部は、前記磁気特性算出部が算出した磁気特性を、前記磁性体が前記通過位置を通過する速さに基づいて該速さに起因した誤差が低減するように補正すると共に、前記第1の磁化器と前記第2の磁化器との間における前記磁性体の通過位置の変位量に応じて該変位量に起因した誤差が低減するように補正する、請求項1〜4のいずれかに記載の磁気特性測定装置。 - 前記第1の磁化器と前記第2の磁化器と間における前記磁性体の通過位置の変位量を算出する変位量算出部を更に有し、
前記磁束密度測定部は、前記第1の磁化器及び前記第2の磁化器が発生させた磁界それぞれによる前記磁性体の磁束密度を検出し、
前記磁気特性算出部は、前記第1の磁化器及び前記第2の磁化器それぞれの磁界の大きさと、該磁界それぞれによる前記磁束密度と、に基づいて、前記第1の磁化器及び前記第2の磁化器それぞれに対応した磁気特性を算出し、
前記変位量算出部は、前記磁気特性算出部が算出し前記第1の磁化器及び前記第2の磁化器それぞれに対応した磁気特性に基づいて、前記磁性体の通過位置の変位量を算出することを特徴とする、請求項5に記載の磁気特性測定装置。 - 前記磁気特性算出部は、前記第1の磁化器及び前記第2の磁化器それぞれに対応し最大磁束密度を含む前記磁気特性を算出し、
前記変位量算出部は、前記第1の磁化器に対応した前記最大磁束密度と、前記第2の磁化器に対応した前記最大磁束密度との比に基づいて、前記磁性体の通過位置の変位量を算出することを特徴とする、請求項6に記載の磁気特性測定装置。 - 前記磁気特性補正部は、前記磁気特性算出部が算出し前記第1の磁化器及び前記第2の磁化器それぞれに対応した磁気特性の平均値を補正することを特徴とする、請求項6又は7に記載の磁気特性測定装置。
- 前記第1の磁化器と前記第2の磁化器との間における前記磁性体の通過位置の変位量を測定する変位計を更に有し、
前記磁気特性補正部は、前記変位計が測定した前記通過位置の変位量に応じて、前記磁気特性算出部が算出した磁気特性を補正することを特徴とする、請求項5に記載の磁気特性測定装置。 - 前記磁気特性算出部は、前記磁性体の保磁力を含む磁気特性を算出し、
前記磁気特性補正部は、前記磁気特性算出部が算出した保磁力を補正することを特徴とする、請求項1〜9のいずれかに記載の磁気特性測定装置。 - 前記磁気特性補正部が補正した前記磁性体の磁気特性と、該磁性体の磁気特性と機械的性質との間の既知の相関関係と、に基づいて、前記磁性体の機械的性質を算出する機械的性質算出部を更に有することを特徴とする、請求項1〜10のいずれかに記載の磁気特性測定装置。
- 移動する帯状又は板状の金属磁性体を交番磁界で磁化して該磁性体の磁気特性を測定する磁気特性測定方法であって、
前記磁性体が通過する通過位置近傍に配置され、ヨーク及び該ヨークの外側に巻かれた励磁コイルを有する磁化器により、前記磁性体を磁化する磁化ステップと、
前記磁化器に配置された検出コイルにより、前記磁化器により誘起される磁束を検出して検出電圧を出力する磁束検出ステップと、
前記磁束検出ステップで出力された検出電圧から、前記磁化器により前記磁性体に誘起された磁束密度を測定する磁束密度測定ステップと、
前記磁化器の励磁コイルに流れる励磁電流の値から算出した磁界の大きさと、前記磁束密度測定ステップで測定した前記磁性体の磁束密度とに基づいて、前記磁性体の磁気特性を算出する磁気特性算出ステップと、
前記磁性体が前記通過位置を通過する速さに基づいて、前記磁気特性算出ステップで算出した磁気特性を、該速さに起因した誤差が低減するように補正する磁気特性補正ステップと、
を有することを特徴とする、磁気特性測定方法。
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