JP2010075556A - X線露光量制御装置及びその方法並びにx線画像撮像装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】画素の信号値のS/N値を低下させることなくX線を適正露光量に自動制御すること。
【解決手段】X線検出器2における複数の検出素子2−11〜2−nmのうち1ライン、例えばAECラインとして設定したゲート線3−2に対してX線曝射開始時t1から連続してハイレベルとなるAEC制御信号を送出し、かつAEC制御信号の送出中に当該AECライン上の例えば1画素の検出素子2−22の電荷を蓄積し、この電荷蓄積値Hが閾値Gすなわち被検体Sに曝射するX線量の適正値に達した時点t2でX線源1からのX線の曝射を停止する。
【選択図】図2

Description

本発明は、X線を検出するX線平面検出器(フラット・パネル・ディスプレイ:FPD)を用いてX線を適正露光量に自動制御するX線露光量制御装置及びその方法、並びにこれらX線露光量制御装置及びその方法を適用したX線画像撮像装置に関する。
X線平面検出器を用いてX線を適正露光量に自動制御する自動露光量制御(Automatic Exposure Control)装置は、例えば特許文献1、2に開示されている。特許文献1は、X線の曝射が開始されると、被検体を透過したX線を光信号に変換し、この光信号を電気信号に変換し、所定画素をX線露光量検出画素とし、この画素の電気信号を所定時間間隔で読み出して蓄積し、この蓄積された電気信号が予め設定された所定値より大きくなった場合、X線曝射を停止させることを開示する。この特許文献1は、同文献中図5に示すように各画素の電気信号を所定間隔毎、例えば時刻t1、t2、t3等毎に読み出して蓄積し、かつ所定時間毎に蓄積した電気信号をリセットすることを開示する。
特許文献2は、平面検出器のX線照射量検出用の画素から画素値が読み出されて、L行画素加算器・メモリへ前記画素値が画素毎に記憶される度に、このL行画素加算器・メモリの記憶画素値がROI内合計値算出回路により加算され、その加算値が更に閾値比較器により閾値と比較され、前記加算値が閾値を超えた場合は、X線制御器を介してX線管からのX線の曝射を停止することを開示する。この特許文献2は、同文献中図3に示すように平面検出器のX線照射量検出用の画素から所定タイミング毎で画素値を読み出して記憶し、かつ所定タイミング毎に電気信号をリセットすることを開示する。
このような特許文献1、2は、いずれにしてもX線曝射中にX線平面検出器内の特定の検出素子すなわち特定の画素(AEC画素)から定期的(所定時間毎)に電気信号を読み出し、この読み出した電気信号をその都度加算することによってX線曝射開始時からの累計信号を計算し、この累計信号が閾値に達した時点でX線曝射を停止している。そして、これら特許文献1、2では、例えば特許文献1中図5に示すようにAEC画素の出力を毎回読み出す度に当該AEC画素の出力をリセットしている。
すなわち、所定時間毎に数回に分けて特定の画素(AEC画素)からの電気信号を読み出してA/D(アナログ/デジタル)変換し、これらデジタル信号を加算して特定の画素の信号値としている。そして、この加算値が閾値に達した時点でX線曝射を停止している。これにより、X線曝射を開始した時点からX線曝射を停止する時点までの間に、AEC画素からの電気信号が所定時間毎に数回に分けて読み取られると共に、所定時間毎に数回AEC画素の出力をリセットしている。
このため、例えばAEC画素から電気信号を読み出しかつAEC画素の出力をリセットした回数がk回であれば、これらk回で読み出した各電気信号をA/D変換し、これらk回のデジタル信号を加算した結果である特定の画素の信号値のS/N値(S/N1)は、1回でAEC画素からの電気信号を読み出してA/D変換し、これらデジタル信号を加算した結果である特定の画素の信号値のS/N値(S/N2)よりも小さくなる。これらS/N1とS/N2との関係は、次式(1)により表される。
Figure 2010075556
なお、上記式(1)は、回路ノイズのみを考慮した場合であり、実際には、X線量子ノイズも含まれるので、上記式(1)は、正確でなくなるが、(S/N1)<(S/N2)の関係は変わらない。
このような特定の画素の信号値のS/N値の低下によりX線を適正露光量に自動制御するときの信頼性の低下を招いていた。
特許第346684号(特開平7−201490号) 特開2000−100597
本発明の目的は、画素の信号値のS/N値を低下させることなくX線を適正露光量に自動制御できるX線露光量制御装置及びその方法並びにX線画像撮像装置を提供することにある。
本発明の請求項1に記載のX線露光量制御装置は、X線源から曝射されたX線を検出する複数の検出素子を2次元平面上に配列して成るX線平面検出器と、複数の検出素子のうち少なくとも1つの検出素子をX線源のX線曝射開始時から連続してオン動作させるオン動作部と、少なくとも1つの検出素子の出力信号を蓄積し、この蓄積値が閾値を超えた時点でX線源からのX線の曝射を停止するX線曝射停止部とを具備する。
本発明の請求項6に記載のX線露光量制御方法は、X線源から曝射されたX線を検出する複数の検出素子を2次元平面上に配列して成るX線平面検出器のうち少なくとも1つの検出素子をX線源のX線曝射開始時から連続してオン動作させ、少なくとも1つの検出素子のオン動作中に、少なくとも1つの検出素子の出力信号を蓄積し、この蓄積値が閾値を超えた時点でX線源からのX線の曝射を停止する。
本発明の請求項9に記載のX線画像撮像装置は、被検体に対してX線を曝射するX線源と、被検体を透過したX線を検出する複数の検出素子を2次元平面上に配列して成るX線平面検出器と、X線平面検出器から出力される検出信号に基づいて被検体の画像データを生成する画像データ生成部と、複数の検出素子のうち少なくとも1つの検出素子をX線源のX線曝射開始時から連続してオン動作させるオン動作部と、少なくとも1つの検出素子の出力信号を蓄積し、この蓄積値が閾値を超えた時点でX線源からのX線の曝射を停止するX線曝射停止部とを具備する。
本発明によれば、画素の信号値のS/N値を低下させることなくX線を適正露光量に自動制御できるX線露光量制御装置及びその方法並びにX線画像撮像装置を提供できる。
以下、本発明の第1の実施の形態について図面を参照して説明する。
図1はX線露光量制御装置を適用したX線画像撮像装置の構成図を示す。X線源1とX線検出器2とは、対向配置されている。これらX線源1とX線検出器2との間には、例えば人体等の被写体Sが配置される。X線源1から曝射されたX線は、被写体Sを透過してX線検出器2に入射する。
X線検出器2は、図2に示すようにX線源1から曝射されたX線を検出する複数の検出素子2−11〜2−nmを2次元平面上に配列して成る。具体的に複数の検出素子2−11〜2−nmは、互いに垂直な縦横方向、例えば複数の行Nと複数の列Mとから成る2次元平面上に配列されている。なお、複数の行は、それぞれライン方向Lに延び、かつ列方向Rに一定間隔毎に配列される。複数の列は、それぞれ列方向Rに延び、かつ列方向Lに一定間隔毎に配列される。例えば、各検出素子2−11、2−12、2−13、…、2−1mは、第1ラインを形成し、各検出素子2−21、2−22、2−23、…、2−2mは、第2ラインを形成する。又、各検出素子2−11、2−22、2−33、…、2−nmは、第1列を形成し、各検出素子2−12、2−22、2−32、…、2−n2は、第2列を形成する。
複数のゲート線3−1〜3−nがライン方向Lに沿って配列されている。例えば第1のゲート線3−1は、第1ラインを形成する各検出素子2−11、2−12、2−13、…、2−1mに接続され、第2のゲート線3−2は、第2ラインを形成する各検出素子2−21、2−22、2−23、…、2−2mに接続されている。
ゲートドライバ4が各ゲート線3−1〜3−nに接続されている。このゲートドライバ4は、各ゲート線3−1〜3−nに対して順次例えばハイレベルのゲート信号を供給することにより第1乃至第Nライン毎、例えば第1ラインの各検出素子2−11、2−12、2−13、…、2−1m、第2ラインの各検出素子2−21、2−22、2−23、…、2−2m等毎に順次蓄えられた各電荷を読み出し動作する。
複数の信号出力線5−1〜5−mがライン方向Rに沿って配列されている。例えば第1のゲート線5−1は、第1列を形成する各検出素子2−11、2−21、2−31、…、2−n1に接続され、第2のゲート線5−2は、第2列を形成する各検出素子2−12、2−22、2−32、…、2−n2に接続されている。なお、複数のゲート線3−1〜3−nと複数の信号出力線5−1〜5−mとは、互いに電気的に切り離されている。
画像データ生成部6が複数の信号出力線5−1〜5−mに接続されている。この画像データ生成部6は、複数の検出素子2−11〜2−nmから各信号出力線5−1〜5−mを通して読み出される各電荷に基づいて被検体3の画像データを生成する。具体的に画像データ生成部6は、複数の行N別に設けられた複数の電荷・電圧変換器7−1〜7−mを有する。これら電荷・電圧変換器7−1〜7−mは、それぞれ各信号出力線5−1〜5−mに接続されている。このうち例えば電荷・電圧変換器7−1は、信号出力線5−1を通して第1列を形成する各検出素子2−11、2−21、2−31、…、2−n1から読み出された電荷を電圧に変換する。電荷・電圧変換器7−2は、信号出力線5−2を通して第2列を形成する各検出素子2−12、2−22、2−32、…、2−n2から読み出された電荷をアナログ電圧信号に変換する。
複数のA/D変換器8−1〜8−nがそれぞれ各電荷・電圧変換器7−1〜7−mの出力端に接続されている。これらA/D変換器8−1〜8−nは、それぞれ各電荷・電圧変換器7−1〜7−mから出力される各アナログ電圧信号を各デジタル電圧信号に変換する。これらA/D変換器8−1〜8−nから出力される各デジタル電圧信号は、パラレル・シリアル変換器9に送られる。
このパラレル・シリアル変換器9は、複数の列M別の各変換器9−1〜9−mをライン状に連結して成る。このパラレル・シリアル変換器9は、各A/D変換器8−1〜8−nから送られてくる各デジタル電圧信号をそれぞれ各変換器9−1〜9−mにおいて同時に受け取り、これらデジタル電圧信号をシリアルに変換して各1ラインの画像データとして出力する。
図3はX線検出器2及び画像データ生成部6の詳細な構成図を示す。なお、図3は説明の煩雑化を避けるためにX線検出器2は、4つの検出素子2−11、2−12、2−21、2−11のみを示す。検出素子2−11には、薄型フィルムトランジスタ(TFT)10−1と、光電膜11−1と、電荷蓄積容量12−1とが形成されている。TFT10−1のドレイン電極には、光電膜11−1と電荷蓄積容量12−1とが並列接続されている。TFT10−1のゲート電極は、ゲート線3−1に接続されている。TFT10−1のソース電極は、信号出力線5−1に接続されている。
各検出素子2−12、2−21、2−22も検出素子2−11と同様に、それぞれ各TFT10−2〜10−4と、各光電膜11−2〜11−4と、各電荷蓄積容量12−2〜12−4とが形成されている。各TFT10−2〜10−4の各ドレイン電極には、それぞれ各光電膜11−2〜11−4と各電荷蓄積容量12−2〜12−4とが並列接続されている。TFT10−2のゲート電極は、ゲート線3−1に接続され、かつ各TFT10−3、10−4の各ゲート電極は、ゲート線3−2に接続されている。又、各TFT10−1、10−3の各ソース電極は、信号出力線5−1に接続され、かつ各TFT10−2、10−4の各ソース電極は、信号出力線5−2に接続されている。
電荷・電圧変換器7−1は、アンプ13−1と、帰還容量13−2と、リセットスイッチ13−3とから成る。アンプ13−1には、帰還容量13−2とリセットスイッチ13−3とが並列接続されている。このような電荷・電圧変換器7−1は、ラインN別に、検出素子2−11又は検出素子2−21からの電荷を帰還容量13−2に蓄積し、この帰還容量13−2に時間経過と共に蓄積される電荷量に応じた電圧をアンプ13−1を通して出力する。リセットスイッチ13−3は、帰還容量13−2に蓄積された電荷を放電させて電荷量を「0」にリセットする。
電荷・電圧変換器7−2も電荷・電圧変換器7−1と同様に、アンプ14−1と、帰還容量14−2と、リセットスイッチ14−3とから成り、アンプ14−1に対して帰還容量14−2とリセットスイッチ14−3とが並列接続されている。このような電荷・電圧変換器7−2も、ラインN別に、検出素子2−12又は検出素子2−22からの電荷を帰還容量13−2に蓄積し、この帰還容量13−2に時間経過と共に蓄積される電荷量に応じた電圧をアンプ13−1を通して出力する。リセットスイッチ13−3は、帰還容量13−2に蓄積された電荷を放電させて電荷量を「0」にリセットする。
パラレル・シリアル変換器9の出力端には、画像メモリ15が接続されている。この画像メモリ15は、パラレル・シリアル変換器9から出力される1ライン毎の画像データを順次記憶することにより被検体3のX線画像データを記憶する。この画像メモリ15に記憶された被検体3のX線画像データは、表示部16に送られて表示される。
撮像制御部17は、X線源1に対してX線曝射の開始指令を送出してX線源1からX線を曝射させ、かつ例えばX線検出器2に対するX線の曝射量が予め設定された適正値に達すると、X線の曝射を停止すると共に、X線検出器2のゲートドライバ4に対して読み出し指令を送出し、このゲートドライバ4の駆動によって例えばゲート線3−1〜3−nの順で、所定期間毎に順次ハイレベル信号を各ゲート線3−1〜3−nに送出し、X線検出器2における第1〜第Nライン毎の各検出素子、例えば第1ラインの各検出素子2−11、2−12、2−13、…、2−1m、次に第2ラインの各検出素子2−21、2−22、2−23、…、2−2mのライン別に順次電荷を読み出す。
又、撮像制御部17は、X線検出器2における複数の検出素子2−11〜2−nmのうち1ライン、例えば第2ラインのゲート線3−2をAECラインに設定し、このゲート線3−2に対してX線曝射開始時から連続してハイレベルとなる自動露光制御信号(AEC制御信号)を送出する。撮像制御部17は、ハイレベルのAEC制御信号の送出中に当該第2ラインの各検出素子2−21、2−22、2−23、…、2−2mに蓄積される電荷を連続して取り込み、この連続して蓄積される電荷の蓄積値が閾値G、すなわち被検体Sに曝射するX線量が適正値に対応する電荷の蓄積値に到達した時点でX線源1からのX線の曝射を停止する。具体的に撮像制御部17は、オン動作部18とX線曝射停止部19とを有する。
オン動作部18は、X線検出器2における複数の検出素子2−11〜2−nmのうち1ライン、例えばAECラインに設定した第2ラインのゲート線3−2に対して図4に示すようにX線曝射開始時t1から連続してハイレベル「1」となるAEC制御信号Qを送出させる指令をX線検出器2のゲートドライバ4に対して送出し、当該第2ラインの各検出素子2−21、2−22、2−23、…、2−2mをオン動作させる。
X線曝射停止部19は、オン動作部18によって例えばAECラインに設定した第2ラインのゲート線3−2上の各検出素子2−21、2−22、2−23、…、2−2mをオン動作中に、これら検出素子2−21、2−22、2−23、…、2−2mのうち例えば1画素、例えば検出素子2−22をAEC画素として当該検出素子2−22に連続して蓄積される電荷量を読み出し、この読み出した電荷量をアナログ電圧信号に変換し、さらにアナログ電圧信号をデジタル信号に変換し、このデジタル信号、すなわち検出素子2−22の電荷の蓄積量Hが被検体Sに曝射するX線量が適正値に対応する電荷の蓄積値の閾値Gに到達したか否かを判断する。
この判断の結果、検出素子2−22の電荷の蓄積量Hが閾値Gに到達すると、X線曝射停止部19は、当該検出素子2−22の電荷の蓄積量Hが閾値Gを超えた時点t2に、X線源1からのX線の曝射を停止すると共に、AEC制御信号Qをローレベル「0」とし、かつ各電荷・電圧変換器7−1〜7−mの各リセットスイッチ13−3、14−3等を一時的に閉じ、各帰還容量13−2、14−2に蓄積されている電荷を放電し、蓄積電荷量を「0」にリセットする。
次に、上記の如く構成された装置によるX線画像の撮像動作について説明する。
撮像制御部17は、図4に示すように例えば時刻t1にX線源1に対してX線曝射の開始指令を送出する。これにより、X線源1は、時刻t1からX線の曝射を開始する。X線源1から曝射されたX線は、被検体Sを透過してX線検出器2に入射する。このX線検出器2は、図2に示すように各検出素子2−11〜2−nmにおいて、被検体Sを透過したX線量に応じた電荷の蓄積を行う。
説明を簡単化するために図3に示すX線検出器2により説明すると、X線検出器2の各検出素子2−11、2−12、2−21、2−22は、それぞれ各光電膜11−1、11−2、11−3、11−4により被検体Sを透過したX線を受けてそのX線透過量に応じた電荷量に変換し、この電荷を各電荷蓄積容量12−1、12−2、12−3、12−4に連続して蓄積する。
この状態で、撮像制御部17のオン動作部18は、例えば図4に示すようにAECラインのゲート線3−2に対してX線曝射開始時t1から連続してハイレベル「1」となるAEC制御信号Qを送出させる指令をX線検出器2のゲートドライバ4に対して送出する。これにより、ゲートドライバ4は、AECラインのゲート線3−2に対してX線曝射開始時t1から連続してハイレベル「1」となるAEC制御信号Qを送出するので、このAECラインのゲート線3−2に接続されている各TFT10−3、10−4は、連続してオン動作する。
なお、撮像制御部17は、AECラインとするゲート線3−2の他のゲート線3−1、3−3〜3−nに対してローレベル「0」の信号を送出する。これにより、第1ライン、第3〜第Nラインの各TFT10−1、10−2等は、連続してオフとなり、各電荷蓄積容量12−1、12−2等には、電荷が蓄積されていく。
AECライン上のTFT10−3のオン動作により電荷蓄積容量12−3に蓄積される電荷は、TFT10−3のドレイン電極からソース電極を通り、さらに信号出力線5−1を通して電荷・電圧変換器7−1に送られる。これと共に、AECライン上のTFT10−4のオン動作により電荷蓄積容量12−4に蓄積される電荷は、TFT10−4のドレイン電極からソース電極を通り、さらに信号出力線5−2を通して電荷・電圧変換器7−2に送られる。
電荷・電圧変換器7−1は、信号出力線5−1を通して入力される検出素子2−21からの電荷を帰還容量13−2に連続して蓄積し、この帰還容量13−2に蓄積される電荷量に応じた電圧をアンプ13−1を通してアナログ電圧信号として出力する。これと共に電荷・電圧変換器7−2は、信号出力線5−2を通して入力される検出素子2−22からの電荷を帰還容量14−2に連続して蓄積し、この帰還容量14−2に蓄積される電荷量に応じた電圧をアンプ14−1を通してアナログ電圧信号として出力する。これら電荷・電圧変換器7−1、7−2から出力される各アナログ電圧信号の電圧値は、各帰還容量13−1、13−2にそれぞれ連続して蓄積されて大きくなる電荷量に応じて上昇する。
このように連続して蓄積されて大きくなる電荷量に応じて電圧値が上昇する各アナログ電圧信号は、それぞれ各A/D変換器8−1、8−2に送られる。これらA/D変換器8−1、8−2は、それぞれ各電荷・電圧変換器7−1、7−2から出力される各アナログ電圧信号をそれぞれ各デジタル信号に変換する。そして、各A/D変換器8−1、8−2から出力される各デジタル信号は、パラレル・シリアル変換器9を通して例えば画像メモリ15に記憶される。
X線曝射停止部19は、画像メモリ15に記憶された各デジタル信号のうち例えば1画素の検出素子2−22のデジタル信号、すなわち検出素子2−22の電荷の蓄積量Hを読み出し、この検出素子2−22の電荷の蓄積量Hが被検体Sに曝射するX線量が適正値に対応する電荷の蓄積値の閾値Gに到達したか否かを判断する。
この判断の結果、検出素子2−22の電荷の蓄積量Hが閾値Gに到達していなければ、X線曝射停止部19は、この旨をオン動作部18に送る。これにより、オン動作部18は、図4に示すようにAECラインのゲート線3−2に対して続けてハイレベル「1」となるAEC制御信号Qを送出させる指令をX線検出器2のゲートドライバ4に対して送出する。このゲートドライバ4は、AECラインのゲート線3−2に対してX線曝射開始時t1から連続してハイレベル「1」となるAEC制御信号Qを送出し続けるので、このAECラインのゲート線3−2に接続されている各TFT10−3、10−4は、続けてオン動作する。
一方、検出素子2−22の電荷の蓄積量Hが閾値Gに到達すると、X線曝射停止部19は、当該検出素子2−22の電荷の蓄積量Hが閾値Gを超えた時点t2に、X線源1からのX線の曝射を停止すると共に、AEC制御信号Qをローレベル「0」とし、かつ各電荷・電圧変換器7−1〜7−mの各リセットスイッチ13−3、14−3等を一時的に閉じ、各帰還容量13−2、14−2に蓄積されている電荷を放電し、蓄積電荷量を「0」にリセットする。
この結果、A/D変換器8−2から出力されるデジタル信号、すなわち検出素子2−22の電荷の蓄積量Hが閾値Gに到達して被検体Sに曝射されたX線量が適正値を超えた時点t2でX線源1からのX線の曝射が停止される。
このように上記第1の実施の形態によれば、X線検出器2における複数の検出素子2−11〜2−nmのうち1ライン、例えばAECラインとして設定したゲート線3−2に対してX線曝射開始時t1から連続してハイレベルとなるAEC制御信号を送出し、かつAEC制御信号の送出中に当該AECライン上の例えば1画素の検出素子2−22の電荷を蓄積し、この電荷蓄積値Hが閾値Gすなわち被検体Sに曝射するX線量の適正値に達した時点t2でX線源1からのX線の曝射を停止する。これにより、X線源1からX線を曝射した時点t1からX線の曝射を停止する時点t2までの間に、電荷・電圧変換器7−2におけるリセットスイッチ14−3を一時的に閉じ、帰還容量14−2に蓄積されている蓄積電荷量を「0」にリセットする動作を1回のみにできる。換言すれば、X線曝射を開始した時点t1からX線曝射を停止する時点t2のまでの間に、X線検出器2におけるAECライン上の検出素子2−22から蓄積電荷量を読み出すのを1回のみにできる。
しかるに、上記式(1)に表されるように1回でAECライン上の例えば1画素の検出素子2−22の蓄積電荷量を読み出したときのS/N値(S/N2)は、数回で例えば検出素子2−22から電荷量を読み出したときのS/N値(S/N1)よりも大きくなる。
この結果、AEC専用のX線検出素子を設ける必要がなく、X線検出器2内のAECライン上の例えば1画素の検出素子2−22を用いることによって画素の信号値のS/N値を低下させることなくX線を適正露光量に自動制御できる。 次に、本発明の第2の実施の形態について図面を参照して説明する。なお、同第2の実施の形態は、上記図1に示す構成と略同一であるので、同図1を援用して説明する。
同第2の実施の形態の上記第1の実施の形態と相違するところは、X線曝射停止部19である。このX線曝射停止部19は、図5に示すように時刻t1でX線源1がX線曝射を開始した後、互いに異なる時刻、例えば少なくとも2つの時刻t3、t4においてそれぞれA/D変換器8−2から出力されるデジタル信号、すなわち1画素の検出素子2−22に連続して蓄積される電荷の蓄積量A1、A2を読み出し、これら電荷蓄積量A1、A2を用いて直線補間(外挿)を行って電荷蓄積量の推測値Fを求める。
次に、X線曝射停止部19は、電荷蓄積量の推測値Fが閾値Gに到達する時点t5を推測し、同時点t5になったか否かを判断する。この判断の結果、時点t5になると、X線曝射停止部19は、時点t5に、X線源1からのX線の曝射を停止すると共に、AEC制御信号Qをローレベル「0」とし、かつ上記図3に示すように各電荷・電圧変換器7−1〜7−mの各リセットスイッチ13−3、14−3等を一時的に閉じる。
次に、上記の如く構成された装置によるX線画像の撮像動作について説明する。
撮像制御部17は、図4に示すように例えば時刻t1にX線源1に対してX線曝射の開始指令を送出する。これにより、X線源1は、時刻t1からX線の曝射を開始する。X線源1から曝射されたX線は、被検体Sを透過してX線検出器2に入射する。このX線検出器2は、図2に示すように各検出素子2−11〜2−nmにおいて、被検体Sを透過したX線量に応じた電荷の蓄積を行う。
この状態で、撮像制御部17のオン動作部18は、例えば図4に示すようにAECラインのゲート線3−2に対してX線曝射開始時t1から連続してハイレベル「1」となるAEC制御信号Qを送出させる指令をX線検出器2のゲートドライバ4に対して送出する。これにより、ゲートドライバ4は、AECラインのゲート線3−2に対してX線曝射開始時t1から連続してハイレベル「1」となるAEC制御信号Qを送出するので、このAECラインのゲート線3−2に接続されている各検出素子2−21、2−22、…、2−2mは、連続してオン動作する。
電荷・電圧変換器7−1は、信号出力線5−1を通して入力される検出素子2−21からの電荷を連続して蓄積し、この蓄積される電荷量に応じた電圧をアナログ電圧信号として出力する。これと共に各電荷・電圧変換器7−2〜7−mは、それぞれ各信号出力線5−2〜5−mを通してそれぞれ入力される各検出素子2−22、…、2−2mからの各電荷を連続して蓄積し、この蓄積される電荷量に応じた各電圧を各アナログ電圧信号として出力する。これら電荷・電圧変換器7−1〜7−mから出力される各アナログ電圧信号の電圧値は、それぞれ連続して蓄積されて大きくなる電荷量に応じて上昇する。
このように蓄積電荷量に応じて電圧値が上昇する各アナログ電圧信号は、それぞれ各A/D変換器8−1〜8−mに送られる。これらA/D変換器8−1〜8−mは、それぞれ各電荷・電圧変換器7−1〜7−mから出力される各アナログ電圧信号をそれぞれ各デジタル信号に変換する。
X線曝射停止部19は、図5に示すように時刻t1でX線源1がX線曝射を開始した後、互いに異なる時刻、例えば少なくとも2つの時刻t3、t4においてそれぞれ例えばA/D変換器8−2から出力されるデジタル信号、すなわち1画素の検出素子2−22に連続して蓄積される電荷の蓄積量A1、A2を読み出し、これら電荷蓄積量A1、A2を用いて直線補間(外挿)を行って電荷蓄積量の推測値Fを求める。
次に、X線曝射停止部19は、電荷蓄積量の推測値Fが閾値Gに到達する時点t5を推測し、同時点t5になったか否かを判断する。この判断の結果、時点t5になると、X線曝射停止部19は、時点t5に、X線源1からのX線の曝射を停止すると共に、AEC制御信号Qをローレベル「0」とし、かつ上記図3に示すように各電荷・電圧変換器7−1〜7−mの各リセットスイッチ13−3、14−3等を一時的に閉じる。これにより、例えば図3に示す各帰還容量13−2、14−2に蓄積されている電荷は、放電され、蓄積電荷量が「0」にリセットされる。
この結果、被検体Sに曝射されたX線量が適正値を超えた時点t5でX線源1からのX線の曝射が停止される。
このように上記第2の実施の形態によれば、X線源1がX線曝射を開始した後、例えば各時刻t3、t4においてそれぞれ1画素の検出素子2−22に連続して蓄積される電荷の蓄積量A1、A2を求め、これら電荷の蓄積量A1、A2を用いて直線補間(外挿)を行って電荷蓄積量の推測値Fを求め、この電荷蓄積量の推測値Fが閾値Gに到達する時点t5を推測し、同時点t5になると、X線源1からのX線の曝射を停止すると共に、AEC制御信号Qをローレベル「0」とし、かつ上記図3に示すように各電荷・電圧変換器7−1〜7−mの各リセットスイッチ13−3、14−3等を一時的に閉じる。
これにより、上記第1の実施の形態と同様に、X線源1からX線を曝射した時点t1からX線の曝射を停止する時点t2までの間に、各電荷・電圧変換器7−1、7−2における各リセットスイッチ13−3、14−3等を一時的に閉じ、各帰還容量13−2、14−2等に蓄積されている蓄積電荷量を「0」にリセットするのを1回のみにできる。換言すれば、X線曝射を開始した時点t1からX線曝射を停止する時点t2のまでの間に、X線検出器2におけるAECライン上の各検出素子2−21、2−22、2−23、…、2−2mから各電荷を読み出すのを1回のみにできる。
しかるに、上記式(1)に表されるように1回でAECライン上の例えば1画素の検出素子2−22の蓄積電荷量を読み出したときのS/N値(S/N2)は、数回で例えば検出素子2−22から電荷量を読み出したときのS/N値(S/N1)よりも大きくなる。
この結果、AEC専用のX線検出素子を設ける必要がなく、X線検出器2内のAECライン上の例えば1画素の検出素子2−22を用いることによって画素の信号値のS/N値を低下させることなくX線を適正露光量に自動制御できる。
なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
例えば、上記第1及び第2の実施の形態は、AECラインとするゲート線3−2に対して連続してハイレベル「1」となるAEC制御信号Qを送出し、このAECラインのゲート線3−2に接続されている例えば1画素の検出素子2−22の電荷を蓄積し、この蓄積値が閾値Gすなわち被検体Sに曝射するX線量の適正値に達した時点t2でX線源1からのX線の曝射を停止しているが、これに限らず、AECライン上の複数の画素、例えば各検出素子2−21、2−22、…、2−3mをAEC画素として用いてもよい。この場合、各検出素子2−21、2−22、…、2−3mの各電荷蓄積値の加算値を閾値と比較する。
又、AECラインは、複数ライン、例えば各ゲート線3−1〜3−nうち任意の数のゲート線に設定してもよい。
本発明に係るX線露光量制御装置を適用したX線画像撮像装置の第1の実施の形態を示す構成図。 同装置におけるX線検出器及び画像データ生成部を示す構成図。 同装置におけるX線検出器及び画像データ生成部の詳細な構成図。 同装置における電荷・電圧変換器のリセットスイッチによる帰還容量に蓄積されている電荷のリセットのタイミングを示す図。 本発明に係るX線露光量制御装置を適用したX線画像撮像装置の第2の実施の形態の動作タイミングを示す図。
符号の説明
S:被写体、1:X線源、2:X線検出器、2−11〜2−nm:検出素子、3−1〜3−n:ゲート線、4:ゲートドライバ、5−1〜5−m:信号出力線、6:画像データ生成部、7−1〜7−m:電荷・電圧変換器、8−1〜8−n:A/D変換器、9:パラレル・シリアル変換器、9−1〜9−m:変換器、10−1〜10−4:薄型フィルムトランジスタ(TFT)、11−1〜11−4:光電膜、12−1〜12−4:電荷蓄積容量、
13−1,14−1:アンプ、13−2,14−2:帰還容量、13−3,14−3:リセットスイッチ、15:画像メモリ、16:表示部、17:撮像制御部、18:オン動作部、19:X線曝射停止部。

Claims (12)

  1. X線源から曝射されたX線を検出する複数の検出素子を2次元平面上に配列して成るX線平面検出器と、
    前記複数の検出素子のうち少なくとも1つの前記検出素子を前記X線源のX線曝射開始時から連続してオン動作させるオン動作部と、
    前記少なくとも1つの検出素子の出力信号を蓄積し、この蓄積値が閾値を超えた時点で前記X線源からの前記X線の曝射を停止するX線曝射停止部と、
    を具備することを特徴とするX線露光量制御装置。
  2. 前記X線平面検出器は、前記複数の検出素子を互いに垂直な縦横方向に配置して成り、
    前記オン動作部は、前記縦横方向に配置された前記複数の検出素子のうち少なくとも1ライン上に配列された前記各検出素子を前記X線源の前記X線曝射開始時から連続してオン動作させ、
    前記X線曝射停止部は、前記各検出素子の前記オン動作中に、前記各検出素子のうち少なくとも1つの前記検出素子の出力信号の蓄積値が閾値を超えた時点で前記X線源からの前記X線の曝射を停止する、
    ことを特徴とする請求項1記載のX線露光量制御装置。
  3. 前記少なくとも1つの検出素子から出力される電荷を蓄積するコンデンサと、
    前記コンデンサに蓄積された電荷量を電圧値に変換する電荷電圧変換器と、
    を有し、
    前記X線曝射停止部は、前記X線源からの前記X線の前記曝射開始時から前記コンデンサへの前記電荷の蓄積を開始し、前記コンデンサに連続して蓄積される電荷の蓄積値が前記閾値を超えた時点で前記X線源からの前記X線の曝射を停止すると共に、前記コンデンサの前記電荷の蓄積をリセットする、
    ことを特徴とする請求項1記載のX線露光量制御装置。
  4. 前記X線曝射停止部は、前記X線曝射開始時から少なくとも2回前記検出素子の出力信号の前記蓄積値を取り込み、これら蓄積値に基づいて前記検出素子の出力信号の前記蓄積値が前記閾値に到達する時点を推測し、当該時点になった時に前記X線源からの前記X線の曝射を停止することを特徴とする請求項1記載のX線露光量制御装置。
  5. 前記X線曝射停止部は、少なくとも2つの前記蓄積値を直線補間して前記X線曝射を停止する時点を推測することを特徴とする請求項4記載のX線露光量制御装置。
  6. X線源から曝射されたX線を検出する複数の検出素子を2次元平面上に配列して成るX線平面検出器のうち少なくとも1つの前記検出素子を前記X線源のX線曝射開始時から連続してオン動作させ、
    前記少なくとも1つの前記検出素子の前記オン動作中に、前記少なくとも1つの検出素子の出力信号を蓄積し、この蓄積値が閾値を超えた時点で前記X線源からの前記X線の曝射を停止する、
    ことを特徴とするX線露光量制御方法。
  7. 前記X線平面検出器が前記複数の検出素子を互いに垂直な縦横方向に配置して成る場合、
    前記複数の検出素子のうち少なくとも1つの前記検出素子を前記X線源の前記X線曝射開始時から連続してオン動作させ、
    前記検出素子の前記オン動作中に、前記各検出素子のうち少なくとも1つの前記検出素子の出力信号の蓄積値が閾値を超えた時点で前記X線源からの前記X線の曝射を停止する、
    ことを特徴とする請求項6記載のX線露光量制御方法。
  8. 前記X線の曝射を停止は、前記X線曝射開始時から少なくとも2回前記検出素子の出力信号の前記蓄積値を取り込み、これら蓄積値を直線補間することにより前記検出素子の出力信号の前記蓄積値が前記閾値に到達する時点を推測し、当該時点になった時に行う、
    ことを特徴とする請求項6記載のX線露光量制御方法。
  9. 被検体に対してX線を曝射するX線源と、
    前記被検体を透過した前記X線を検出する複数の検出素子を2次元平面上に配列して成るX線平面検出器と、
    前記X線平面検出器から出力される検出信号に基づいて前記被検体のX線画像データを生成する画像データ生成部と、
    前記複数の検出素子のうち少なくとも1つの前記検出素子を前記X線源のX線曝射開始時から連続してオン動作させるオン動作部と、
    前記少なくとも1つの検出素子の出力信号を蓄積し、この蓄積値が閾値を超えた時点で前記X線源からの前記X線の曝射を停止するX線曝射停止部と、
    を具備することを特徴とするX線画像撮像装置。
  10. 前記X線平面検出器は、前記複数の検出素子を互いに垂直な縦横方向に配置して成り、
    前記オン動作部は、前記縦横方向に配置された前記複数の検出素子のうち少なくとも1つの前記検出素子を前記X線源の前記X線曝射開始時から連続してオン動作させ、
    前記X線曝射停止部は、前記各検出素子の前記オン動作中に、前記各検出素子のうち少なくとも1つの前記検出素子の出力信号の蓄積値が閾値を超えた時点で前記X線源からの前記X線の曝射を停止する、
    ことを特徴とする請求項9記載のX線画像撮像装置。
  11. 前記X線曝射停止部は、前記X線曝射開始時から少なくとも2回前記検出素子の出力信号の前記蓄積値を取り込み、これら蓄積値に基づいて前記検出素子の出力信号の前記蓄積値が前記閾値に到達する時点を推測し、当該時点になった時に前記X線源からの前記X線の曝射を停止することを特徴とする請求項9記載のX線画像撮像装置。
  12. 前記X線曝射停止部は、少なくとも2つの前記蓄積値を直線補間して前記X線曝射を停止する時点を推測することを特徴とする請求項11記載のX線画像撮像装置。
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Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102313896A (zh) * 2010-07-02 2012-01-11 富士胶片株式会社 放射线检测元件及放射线图像成像装置
CN102846328A (zh) * 2012-08-23 2013-01-02 上海奕瑞影像科技有限公司 一种数字摄影自动曝光控制装置及控制方法
JP2013135390A (ja) * 2011-12-27 2013-07-08 Fujifilm Corp 放射線画像検出装置およびその駆動方法
JP2013172788A (ja) * 2012-02-24 2013-09-05 Fujifilm Corp 放射線撮影システム、放射線撮影システムの駆動制御方法および駆動制御プログラム、並びに放射線画像検出装置
WO2013176251A1 (ja) * 2012-05-25 2013-11-28 富士フイルム株式会社 放射線画像検出装置およびその作動方法、並びに放射線撮影システム
JP2016001925A (ja) * 2015-09-24 2016-01-07 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法、並びに、撮像システム
JP2016136750A (ja) * 2011-11-25 2016-07-28 富士フイルム株式会社 放射線画像検出装置およびその作動方法
WO2016189849A1 (en) * 2015-05-26 2016-12-01 Canon Kabushiki Kaisha Radiation imaging apparatus, radiation imaging system, and exposure control method
JP2017012242A (ja) * 2015-06-26 2017-01-19 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及びその制御方法
WO2017094393A1 (en) * 2015-12-01 2017-06-08 Canon Kabushiki Kaisha Radiation imaging apparatus and method of controlling the same
CN109618113A (zh) * 2019-03-11 2019-04-12 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 自动曝光控制方法及自动曝光控制组件系统
US10551721B2 (en) 2015-07-02 2020-02-04 Canon Kabushiki Kaisha Radiation imaging apparatus, control method thereof and radiation imaging system
US10716522B2 (en) 2016-04-18 2020-07-21 Canon Kabushiki Kaisha Radiation image capturing apparatus, radiation image capturing system, and method of controlling radiation image capturing apparatus
CN111839561A (zh) * 2020-06-09 2020-10-30 深圳市创谷科技发展有限公司 射线检测系统及其控制方法
CN113204043A (zh) * 2021-04-30 2021-08-03 北京京东方传感技术有限公司 射线探测基板、射线成像设备和曝光时长确定方法
US11154261B2 (en) 2019-05-17 2021-10-26 Canon Kabushiki Kaisha Radiation image capturing apparatus and radiation image capturing system

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3115192A1 (fr) 2020-10-15 2022-04-22 Trixell Procédé de contrôle d’exposition en temps réel d’une dose de rayons X

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07201490A (ja) * 1993-12-29 1995-08-04 Toshiba Medical Eng Co Ltd X線診断装置
JP2004024682A (ja) * 2002-06-27 2004-01-29 Canon Inc 放射線検出装置及び放射線検出システム

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07201490A (ja) * 1993-12-29 1995-08-04 Toshiba Medical Eng Co Ltd X線診断装置
JP2004024682A (ja) * 2002-06-27 2004-01-29 Canon Inc 放射線検出装置及び放射線検出システム

Cited By (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102313896A (zh) * 2010-07-02 2012-01-11 富士胶片株式会社 放射线检测元件及放射线图像成像装置
US8866090B2 (en) 2010-07-02 2014-10-21 Fujifilm Corporation Radiation detecting element and radiographic imaging device
JP2016136750A (ja) * 2011-11-25 2016-07-28 富士フイルム株式会社 放射線画像検出装置およびその作動方法
JP2013135390A (ja) * 2011-12-27 2013-07-08 Fujifilm Corp 放射線画像検出装置およびその駆動方法
US9259201B2 (en) 2012-02-24 2016-02-16 Fujifilm Corporation Radiographic system, drive control method for radiographic system, recording medium for drive control program and radiological image detection device
US9931096B2 (en) 2012-02-24 2018-04-03 Fujifilm Corporation Radiographic system, drive control method for radiographic system, recording medium for drive control program and radiological image detection device
JP2013172788A (ja) * 2012-02-24 2013-09-05 Fujifilm Corp 放射線撮影システム、放射線撮影システムの駆動制御方法および駆動制御プログラム、並びに放射線画像検出装置
CN103284736A (zh) * 2012-02-24 2013-09-11 富士胶片株式会社 放射线拍摄系统及其驱动控制方法、放射线图像检测装置
CN103284736B (zh) * 2012-02-24 2016-07-06 富士胶片株式会社 放射线拍摄系统及其驱动控制方法、放射线图像检测装置
JP2013244166A (ja) * 2012-05-25 2013-12-09 Fujifilm Corp 放射線画像検出装置およびその駆動制御方法、並びに放射線撮影システム
CN104427937A (zh) * 2012-05-25 2015-03-18 富士胶片株式会社 放射线图像检测装置及其动作方法以及放射线摄影系统
WO2013176251A1 (ja) * 2012-05-25 2013-11-28 富士フイルム株式会社 放射線画像検出装置およびその作動方法、並びに放射線撮影システム
US10022102B2 (en) 2012-05-25 2018-07-17 Fujifilm Corporation Radiographic imaging apparatus, method and system
CN102846328A (zh) * 2012-08-23 2013-01-02 上海奕瑞影像科技有限公司 一种数字摄影自动曝光控制装置及控制方法
WO2016189849A1 (en) * 2015-05-26 2016-12-01 Canon Kabushiki Kaisha Radiation imaging apparatus, radiation imaging system, and exposure control method
JP2017012242A (ja) * 2015-06-26 2017-01-19 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及びその制御方法
US9885790B2 (en) 2015-06-26 2018-02-06 Canon Kabushiki Kaisha Radiation imaging apparatus and control method thereof
US10551721B2 (en) 2015-07-02 2020-02-04 Canon Kabushiki Kaisha Radiation imaging apparatus, control method thereof and radiation imaging system
JP2016001925A (ja) * 2015-09-24 2016-01-07 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法、並びに、撮像システム
WO2017094393A1 (en) * 2015-12-01 2017-06-08 Canon Kabushiki Kaisha Radiation imaging apparatus and method of controlling the same
US10349914B2 (en) 2015-12-01 2019-07-16 Canon Kabushiki Kaisha Radiation imaging apparatus and method of controlling the same
US10716522B2 (en) 2016-04-18 2020-07-21 Canon Kabushiki Kaisha Radiation image capturing apparatus, radiation image capturing system, and method of controlling radiation image capturing apparatus
CN109618113A (zh) * 2019-03-11 2019-04-12 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 自动曝光控制方法及自动曝光控制组件系统
CN109618113B (zh) * 2019-03-11 2019-05-21 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 自动曝光控制方法及自动曝光控制组件系统
US11154261B2 (en) 2019-05-17 2021-10-26 Canon Kabushiki Kaisha Radiation image capturing apparatus and radiation image capturing system
CN111839561A (zh) * 2020-06-09 2020-10-30 深圳市创谷科技发展有限公司 射线检测系统及其控制方法
CN113204043A (zh) * 2021-04-30 2021-08-03 北京京东方传感技术有限公司 射线探测基板、射线成像设备和曝光时长确定方法

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