JP2010067336A - Vacuum transfer device and vacuum transfer method - Google Patents

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Hidenobu Takahashi
秀宜 高橋
Takahiro Watabe
貴宏 渡部
Akira Murota
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a vacuum transfer device reducing contamination in the device and reducing maintenance work, and to provide a vacuum transfer method. <P>SOLUTION: A desired gas is injected into a main vacuum chamber 40 for transfer to generate a pressure difference in the main vacuum chamber 40. Thereby, an air flow is forcibly generated in the main vacuum chamber 40, which prevents a volatile substance generated upon transferring an uneven pattern onto a UV-curable resin layer on a disk substrate 1, from adhering on an undesired part in the device in the main vacuum chamber 40. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、真空空間でスタンパを用いてディスク基板に凹凸パターンを転写する真空転写装置と、真空転写方法に関する。   The present invention relates to a vacuum transfer apparatus that transfers a concavo-convex pattern to a disk substrate using a stamper in a vacuum space, and a vacuum transfer method.

光ディスクの製造工程においては、ディスク基板上に展延させた光反応型樹脂層に対してスタンパを押し当て、光反応型樹脂層を硬化させることで、スタンパに形成したピットパターンやグルーブパターン等の凹凸パターンを転写することが行われている。   In the optical disc manufacturing process, a stamper is pressed against the photoreactive resin layer spread on the disc substrate, and the photoreactive resin layer is cured, so that a pit pattern or a groove pattern formed on the stamper Transferring the concavo-convex pattern is performed.

下記特許文献1には、2層の高密度記録対応の光ディスクを高い品質で製造できる光ディスクの製造装置についての記載がある。また、下記特許文献2には、光ディスクの製造工程において、光ディスクとスタンパとの間に気泡が入ってしまうのを回避できる光ディスクの製造方法についての記載がある。   Patent Document 1 listed below describes an optical disk manufacturing apparatus that can manufacture a two-layer high-density recording optical disk with high quality. Patent Document 2 below describes a method for manufacturing an optical disc that can prevent bubbles from entering between the optical disc and the stamper in the optical disc manufacturing process.

特開2005−310247号公報JP 2005-310247 A 特開2004−303385号公報JP 2004-303385 A

スタンパを用いてディスク基板のピット/ランド、或いはグルーブ(溝)等の凹凸パターンを転写する場合、通常、次のような手順で行われる。   When transferring a concavo-convex pattern such as a pit / land or a groove (groove) of a disk substrate using a stamper, the following procedure is usually performed.

まず、ディスク基板に、スピンコートにより未硬化の紫外線硬化型樹脂を展延する。
そして、紫外線硬化型樹脂の層に、凹凸パターンが形成されたスタンパを押し付ける。その状態で紫外線照射を行って、紫外線硬化型樹脂の層を硬化させる。そして硬化後にスタンパをディスク基板から剥離する。
First, an uncured ultraviolet curable resin is spread on a disk substrate by spin coating.
Then, a stamper having an uneven pattern is pressed against the layer of the ultraviolet curable resin. In this state, ultraviolet irradiation is performed to cure the ultraviolet curable resin layer. Then, the stamper is peeled off from the disk substrate after curing.

ここで、このような凹凸パターンの転写を行う場合、スタンパを未硬化の紫外線硬化型樹脂の層に押し付けるときに、樹脂層の気泡が発生したり、塵を巻き込んだりすることがある。すると微細な凹凸パターンの形状に悪影響を与え、これが最終的にディスク再生信号に影響する。
そこで、気泡の発生等を生じないようにするために、真空転写装置を用いて、上述した転写工程を真空空間で実行する技術が知られている。
Here, when transferring such a concavo-convex pattern, when the stamper is pressed against the uncured ultraviolet curable resin layer, bubbles in the resin layer may be generated or dust may be involved. This adversely affects the shape of the fine concavo-convex pattern, which ultimately affects the disc playback signal.
Therefore, a technique is known in which the above-described transfer process is executed in a vacuum space using a vacuum transfer device in order to prevent generation of bubbles and the like.

しかしながら、従来の真空転写装置では、真空室内に未硬化の紫外線硬化樹脂を塗布したディスク基板を搬入した場合、真空中内で紫外線硬化樹脂が一部揮発し、その揮発物が真空室内に付着するという不具合が生じる。また、紫外線硬化樹脂が硬化する際に発生する揮発成分が真空室内に付着するという不具合も生じる。以下に、その問題点を詳述する。   However, in a conventional vacuum transfer apparatus, when a disk substrate coated with an uncured ultraviolet curable resin is carried into the vacuum chamber, the ultraviolet curable resin partially volatilizes in the vacuum, and the volatiles adhere to the vacuum chamber. The problem that occurs. Moreover, the malfunction that the volatile component produced | generated when an ultraviolet curable resin hardens | cures adheres in a vacuum chamber also arises. The problem will be described in detail below.

従来の真空転写装置は、ディスク基板を保持するための紫外線透過率が高い石英ガラスで構成された保持テーブルを有する。そして、石英ガラスで構成された保持テーブル上に、ディスク基板を載置し、保持テーブルを透過して紫外線照射することにより、ディスク基板上に展延された紫外線硬化樹脂が硬化される。   A conventional vacuum transfer apparatus has a holding table made of quartz glass having a high ultraviolet transmittance for holding a disk substrate. Then, the disk substrate is placed on a holding table made of quartz glass, and the ultraviolet curable resin spread on the disk substrate is cured by passing through the holding table and irradiating with ultraviolet rays.

ところが、紫外線硬化樹脂の硬化段階で、保持テーブル表面に揮発成分が付着してしまった場合、保持テーブルを構成する石英ガラス上に紫外線硬化樹脂膜が積層されてしまう。そうすると、保持テーブルの紫外線透過率が低下し、ディスク基板上の紫外線硬化樹脂の硬化不良が発生し、スタンパからディスク基板を剥離する際に転写不良や故障の原因となる。そうすると、このような真空転写装置では、装置としての稼働率が低下してしまう為、何らかの対策が必要であった。   However, when a volatile component adheres to the surface of the holding table in the curing stage of the ultraviolet curable resin, an ultraviolet curable resin film is laminated on the quartz glass constituting the holding table. If it does so, the ultraviolet transmittance of a holding table will fall, the hardening defect of the ultraviolet curable resin on a disk substrate will generate | occur | produce, and it will cause a transfer defect and a failure when peeling a disk substrate from a stamper. In such a case, in such a vacuum transfer apparatus, since the operation rate as the apparatus is lowered, some countermeasure is required.

真空転写装置内での揮発物対策として、従来、真空室内に揮発物を付着させる部品を入れたり、揮発物に対し、付着前に真空室内にある揮発物に対して光線等を照射して揮発物を除去したり、別の反応性ガスと反応させて除去する等の方法が知られている。しかしながら、これらの方法を、実際の真空転写装置にて実施することは構成上困難であり、問題を解決するためには新たな改善策が必要であった。   As countermeasures against volatile substances in the vacuum transfer device, conventionally, volatiles are volatilized by putting parts that adhere volatiles into the vacuum chamber, or irradiating the volatile substances in the vacuum chamber with light or the like before adhesion. There are known methods such as removing an object or removing it by reacting with another reactive gas. However, it is difficult to implement these methods with an actual vacuum transfer apparatus, and a new improvement measure is required to solve the problem.

上述の点に鑑み、本発明は、装置内に付着する汚れを低減し、メンテナンスの軽減化を図った真空転写装置及びその製造方法を提供するものである。   In view of the above points, the present invention provides a vacuum transfer apparatus and a method for manufacturing the same that reduce dirt adhered to the apparatus and reduce maintenance.

上記課題を解決し、本発明の目的を達成するため、本発明の真空転写装置は、真空吸引機構により真空化されるとともに、大気開放機構により大気開放可能な予備真空室と、真空吸引機構により真空化される主真空室とを有する。そして、予備真空室に対するディスク基板の搬入/搬出を行う基板搬送部と、紫外線硬化型樹脂が展延されたディスク基板を載置し、予備真空室と主真空室との間でディスク基板の搬送を行う真空室間搬送部と、主真空室内で、スタンパを用いて凹凸パターンをディスク基板に転写する転写処理を行う転写部とを有する。また、真空室間搬送部に載置されたディスク基板に紫外線を照射する紫外線照射部と、動作状態において、主真空室内に所望の気体を注入して、主真空室内に差圧を発生させるための加圧機構と有する。   In order to solve the above problems and achieve the object of the present invention, the vacuum transfer apparatus of the present invention is evacuated by a vacuum suction mechanism, and has a preliminary vacuum chamber that can be opened to the atmosphere by an atmosphere release mechanism, and a vacuum suction mechanism. A main vacuum chamber to be evacuated. Then, a substrate transport unit that carries the disk substrate into and out of the preliminary vacuum chamber and a disk substrate on which the ultraviolet curable resin is spread are placed, and the disk substrate is transported between the preliminary vacuum chamber and the main vacuum chamber. And a transfer unit that performs a transfer process of transferring the concave / convex pattern to the disk substrate using a stamper in the main vacuum chamber. In addition, an ultraviolet irradiation unit that irradiates the disk substrate mounted on the inter-vacuum chamber transfer unit with ultraviolet rays, and in operation, a desired gas is injected into the main vacuum chamber to generate a differential pressure in the main vacuum chamber. And a pressurizing mechanism.

本発明の真空転写装置では、装置の動作状態において、主真空室内に差圧を発生させることにより、強制的に気流を発生させる。これにより、真空中において発生する、ディスク基板上の紫外線硬化型樹脂の揮発物質が、気流に従って装置外へと排気される。   In the vacuum transfer apparatus of the present invention, an airflow is forcibly generated by generating a differential pressure in the main vacuum chamber in the operating state of the apparatus. Thereby, the volatile substance of the ultraviolet curable resin on the disk substrate generated in vacuum is exhausted to the outside of the apparatus according to the air flow.

本発明の真空転写方法は、主真空室を真空化する工程、未硬化の紫外線硬化型樹脂層が形成されたディスク基板を、予備真空室内に搬入する工程を有する。そして、予備真空室に搬入されたディスク基板を、主真空室を上側真空室と下側真空室に分割する真空室間搬送部に載置する工程、予備真空室を真空化する工程、予備真空室から前記主真空室に搬送する工程を有する。さらに、下側主真空室に所望の気体を注入することにより、下側主真空室の圧力を上側主真空室の圧力よりも高くする工程、紫外線硬化型樹脂層に、所望のスタンパを押し当てると同時に、下側主真空室側から真空室間搬送部を透過して紫外線硬化型樹脂層に、紫外線を照射する工程、とを含む。   The vacuum transfer method of the present invention includes a step of evacuating a main vacuum chamber and a step of carrying a disk substrate on which an uncured ultraviolet curable resin layer is formed into a preliminary vacuum chamber. Then, the step of placing the disk substrate carried into the preliminary vacuum chamber on the inter-vacuum transfer section that divides the main vacuum chamber into the upper vacuum chamber and the lower vacuum chamber, the step of evacuating the preliminary vacuum chamber, the preliminary vacuum A step of conveying from the chamber to the main vacuum chamber. Furthermore, by injecting a desired gas into the lower main vacuum chamber, the pressure in the lower main vacuum chamber is made higher than the pressure in the upper main vacuum chamber, and a desired stamper is pressed against the ultraviolet curable resin layer. At the same time, a step of irradiating the ultraviolet curable resin layer with ultraviolet rays through the conveyance section between the vacuum chambers from the lower main vacuum chamber side is included.

本発明の真空転写方法では、下側主真空室側に、所望の気体を注入することにより、下側主真空室と上側主真空室との間で、差圧を発生させることができる。これにより、下側主真空室に注入された気体が、上側主真空室にわずかに流れ、気流が発生する。これにより、真空中で発生する、ディスク基板上の紫外線硬化型樹脂の揮発物質が、気流に従って、装置外へと排気される。   In the vacuum transfer method of the present invention, a differential pressure can be generated between the lower main vacuum chamber and the upper main vacuum chamber by injecting a desired gas into the lower main vacuum chamber. Thereby, the gas injected into the lower main vacuum chamber slightly flows into the upper main vacuum chamber, and an air flow is generated. Thereby, the volatile substance of the ultraviolet curable resin on the disk substrate generated in a vacuum is exhausted out of the apparatus according to the air current.

本発明によれば、真空中において、ディスク基板上の紫外線硬化型樹脂から発生した揮発物質が、気流に従って装置外へと排気される。これにより装置内の不要な部分に、揮発物質が付着してしまうのを防ぐことができる。   According to the present invention, in a vacuum, volatile substances generated from the ultraviolet curable resin on the disk substrate are exhausted out of the apparatus according to the airflow. Thereby, it can prevent that a volatile substance adheres to the unnecessary part in an apparatus.

以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

[光ディスクの製造方法]
まず、以下に説明する本発明の実施の形態の理解を容易にするために、図1〜3を用いて、光ディスクの製造方法について説明する。
[Optical Disc Manufacturing Method]
First, in order to facilitate understanding of the embodiment of the present invention described below, an optical disk manufacturing method will be described with reference to FIGS.

図1に、光ディスクの製造方法についてのフローを示し、図2A〜D及び図3E〜Hに、その光ディスクの製造工程を示した概略断面構成を示す。この例においては、記録層としてL0層、L1層の2つを有する再生専用型の2層ディスクの製造について述べる。また、2層ディスクの製造の際には、予めL0層に記録する情報としてのピットパターンを有するディスク原盤と、L1層に記録する情報についてのピットパターンを有するディスク原盤とが作製され、各ディスク原盤からL0層の形成のためのスタンパ(以下、L0層スタンパ)と、L1層の形成のためのスタンパ(以下、L1層スタンパ)が作製される。図1に示す光ディスクの製造工程は、L0層スタンパ、L1層スタンパを用いて光ディスクを製造していく工程である。   FIG. 1 shows a flow of an optical disk manufacturing method, and FIGS. 2A to 2D and FIGS. 3E to H show schematic cross-sectional configurations showing the manufacturing process of the optical disk. In this example, the manufacture of a read-only dual-layer disc having two recording layers, L0 layer and L1 layer, will be described. When manufacturing a two-layer disc, a disc master having a pit pattern as information to be recorded in the L0 layer and a disc master having a pit pattern for information to be recorded in the L1 layer are prepared. A stamper for forming the L0 layer (hereinafter referred to as L0 layer stamper) and a stamper for forming the L1 layer (hereinafter referred to as L1 layer stamper) are produced from the master. The optical disk manufacturing process shown in FIG. 1 is a process of manufacturing an optical disk using the L0 layer stamper and the L1 layer stamper.

まず、射出成形により、L0層を構成するピットパターンが形成されたディスク基板1を形成する(ステップF101)。図2Aに、このL0層を有するディスク基板1を形成するときに用いられる金型の概略断面構成を示す。金型は、凹形状の下キャビティ120と、同じく凹形状の上キャビティ121が、互いに凹面が内側に配されるように、組み合わされる。下キャビティ120の凹面には、L0層の情報ピットを転写するためのL0層スタンパ104が配置されている。L0層スタンパ104には、情報ピットの凹凸パターン104aが形成されている。この下キャビティ120と、上キャビティ121とが組み合わされて形成される空間に、例えばポリカーボネート樹脂を注入して硬化させることにより、図2Bに示すようなL0ピットパターン3が形成されたディスク基板1が得られる。また、射出成形されたディスク基板1は、中心部が所定の大きさに開口されることにより、中心孔2を有して構成される。   First, the disk substrate 1 on which the pit pattern constituting the L0 layer is formed is formed by injection molding (step F101). FIG. 2A shows a schematic cross-sectional configuration of a mold used when the disk substrate 1 having the L0 layer is formed. In the mold, the concave lower cavity 120 and the concave upper cavity 121 are combined so that the concave surfaces are arranged inside each other. An L0 layer stamper 104 for transferring information pits of the L0 layer is disposed on the concave surface of the lower cavity 120. The L0 layer stamper 104 is formed with an uneven pattern 104a of information pits. A disk substrate 1 on which an L0 pit pattern 3 as shown in FIG. 2B is formed by injecting, for example, polycarbonate resin into a space formed by combining the lower cavity 120 and the upper cavity 121 is cured. can get. In addition, the injection-molded disk substrate 1 is configured to have a center hole 2 by opening the center part to a predetermined size.

ところで、この例における再生専用光ディスクの製造工程では、エンボスピットとして、情報ピットの凹凸パターンが形成されたL0層スタンパ104が用いられる。一方、ライトワンスディスクやリライタブルディスク等の記録可能型光ディスクの製造工程では、記録トラックとなるグルーブ(ウォブリンググルーブ)を形成するための凹凸パターンが形成されたスタンパが配置されることとなる。   By the way, in the manufacturing process of the read-only optical disc in this example, the L0 layer stamper 104 on which the concave / convex pattern of information pits is formed is used as the emboss pit. On the other hand, in a manufacturing process of a recordable optical disc such as a write-once disc or a rewritable disc, a stamper having a concavo-convex pattern for forming a groove (wobbling groove) serving as a recording track is disposed.

以上のように形成されたディスク基板1は、L0層を構成するL0ピットパターン3が形成された側が、信号読み取り面とされる。   The disk substrate 1 formed as described above has a signal reading surface on the side where the L0 pit pattern 3 constituting the L0 layer is formed.

続いて、図2C及びDに示すように、スパッタ法を用いて、L0ピットパターン3上に反射膜(以下、L0層反射膜)4を形成する(ステップF102)。図2Dは、図2Cの要部拡大図である。L0層反射膜4は、例えばAg合金で形成され、スパッタ法を用いて形成する。   Subsequently, as shown in FIGS. 2C and 2D, a reflective film (hereinafter referred to as an L0 layer reflective film) 4 is formed on the L0 pit pattern 3 by using a sputtering method (step F102). FIG. 2D is an enlarged view of a main part of FIG. 2C. The L0 layer reflective film 4 is formed of, for example, an Ag alloy and is formed using a sputtering method.

次に、L0層が形成されたディスク基板1のL0層反射膜4上に、スピンコートにより紫外線硬化型樹脂を展延する。そして、未硬化の紫外線硬化型樹脂の層に、L1層スタンパを押し当てると共に、L1層スタンパが押し当てられた紫外線硬化型樹脂の層に、紫外線を照射する。
この工程により、スタンパが押し当てられた紫外線硬化型樹脂が硬化し、図3Eに示すように、スペーサ層5と、L1層を構成するL1ピットパターン6が形成される(ステップF103)。
この転写工程は、本発明の真空転写装置内で行われる工程である。
Next, an ultraviolet curable resin is spread on the L0 layer reflective film 4 of the disk substrate 1 on which the L0 layer is formed by spin coating. Then, the L1 layer stamper is pressed against the uncured UV curable resin layer, and the UV curable resin layer pressed with the L1 layer stamper is irradiated with ultraviolet rays.
By this process, the ultraviolet curable resin pressed with the stamper is cured, and as shown in FIG. 3E, the spacer layer 5 and the L1 pit pattern 6 constituting the L1 layer are formed (step F103).
This transfer process is a process performed in the vacuum transfer apparatus of the present invention.

続いて、図3F及び図3Gに示すように、スパッタ法を用いて、紫外線硬化型樹脂の層に形成されたL1ピットパターン6上に、反射膜(以下、L1層反射膜)7を形成する(ステップS104)。図3Gは、図3Fの要部拡大図である。L1層反射膜7は、L0層反射膜4の光透化率よりも小さい光透過率を有するものである。   Subsequently, as shown in FIGS. 3F and 3G, a reflective film (hereinafter referred to as an L1 layer reflective film) 7 is formed on the L1 pit pattern 6 formed in the layer of the ultraviolet curable resin by sputtering. (Step S104). FIG. 3G is an enlarged view of a main part of FIG. 3F. The L1 layer reflective film 7 has a light transmittance smaller than that of the L0 layer reflective film 4.

その後、図3Hに示すように、光透過層(カバー層ともいう)8を形成する(ステップF105)。光透過層8は、光ディスクの保護を目的として形成されるものであり、光ディスクの記録再生に用いられるレーザ光は、この光透過層8を透過して、L0層やL1層からなる記録層に集光される。すなわち、光ディスクにおいて、ディスク基板1の光透過層8が形成される側が、信号読み取り面とされる。
光透過層8は、光透過層用の紫外線硬化樹脂を滴下し、スピンコート法により展延し、紫外線を照射することにより硬化させて形成する。
Thereafter, as shown in FIG. 3H, a light transmission layer (also referred to as a cover layer) 8 is formed (step F105). The light transmission layer 8 is formed for the purpose of protecting the optical disk, and laser light used for recording / reproduction of the optical disk is transmitted through the light transmission layer 8 and is recorded on the recording layer including the L0 layer and the L1 layer. Focused. That is, in the optical disk, the side on which the light transmission layer 8 of the disk substrate 1 is formed is the signal reading surface.
The light transmissive layer 8 is formed by dropping an ultraviolet curable resin for the light transmissive layer, spreading it by spin coating, and curing it by irradiating with ultraviolet rays.

そして、必要に応じて、図3Iに示すように、ハードコート膜9を形成する(ステップF106)。ハードコート膜9は、光透過層8と同様に、光ディスクの機械的な衝撃、傷に対する保護、さらには、利用者の取り扱い時に指紋の付着等から、情報信号の記録再生品質を保護するために形成されるものである。
ハードコート層9は、光透過層8上にハードコート膜9用の紫外線硬化型樹脂を滴下し、スピンコート法により展延し、紫外線を照射することにより硬化させて形成する。
Then, as necessary, a hard coat film 9 is formed as shown in FIG. 3I (step F106). The hard coat film 9 is similar to the light transmission layer 8 in order to protect the optical signal from mechanical shock and scratches, and to protect the recording / reproduction quality of information signals from the adhesion of fingerprints during handling by the user. Is formed.
The hard coat layer 9 is formed by dropping an ultraviolet curable resin for the hard coat film 9 on the light transmission layer 8, spreading it by a spin coat method, and curing it by irradiating with ultraviolet rays.

続いて、ディスク基板1の、信号読み取り面側とは反対側の面である面上に、必要に応じて防湿膜10を形成する(ステップF107)。この防湿膜10は、湿気等より光ディスクを保護するために形成されるものである。   Subsequently, a moisture-proof film 10 is formed on the surface of the disk substrate 1 that is the surface opposite to the signal reading surface, if necessary (step F107). The moisture barrier film 10 is formed to protect the optical disk from moisture or the like.

最後に防湿膜10上にレーベル印刷を施した印刷層11を形成する(ステップF108)。
以上の工程により、二層の記録層を有する光ディスクが完成される。
Finally, the printing layer 11 subjected to label printing is formed on the moisture-proof film 10 (Step F108).
Through the above steps, an optical disc having two recording layers is completed.

本発明は、上述した光ディスクの製造方法のうち、ステップF103で示した工程において実施されるものである。以下に詳述する。   The present invention is carried out in the process indicated by Step F103 in the above-described optical disk manufacturing method. This will be described in detail below.

[第1の実施形態]
図4に、本発明の第1の実施形態に係る真空転写装置の概略構成図を示す。
[First Embodiment]
FIG. 4 is a schematic configuration diagram of the vacuum transfer apparatus according to the first embodiment of the present invention.

図4に示すように、本実施形態例の真空転写装置2は、主真空室40と、予備真空室41とを有する。主真空室40内部には、回転可能に設置された真空室間搬送部である搬送テーブル25を有し、主真空室40は、搬送テーブル25を境にして、上側主真空室40aと下側主真空室40bに分割されている。また、真空転写装置2は、真空転写装置2に対するディスク基板の搬入/搬出を行うための、基板搬送部20と、ディスク基板に凹凸パターンを転写形成するための転写部30とを有する。   As shown in FIG. 4, the vacuum transfer apparatus 2 according to this embodiment includes a main vacuum chamber 40 and a preliminary vacuum chamber 41. Inside the main vacuum chamber 40, there is a transfer table 25 as a transfer unit between vacuum chambers rotatably installed. The main vacuum chamber 40 is separated from the upper main vacuum chamber 40a by the transfer table 25 as a boundary. The main vacuum chamber 40b is divided. The vacuum transfer device 2 also includes a substrate transport unit 20 for loading / unloading the disk substrate to / from the vacuum transfer device 2 and a transfer unit 30 for transferring a concavo-convex pattern onto the disk substrate.

主真空室40は、実際にスタンパを用いて転写が行われる空間であり、比較的広い空間とされている。この主真空室40の、上側主真空室40a、及び下側主真空室40bには、それぞれ真空バルブ37a,37bを介して真空ポンプ36が接続されている。また、下側主真空室40bには、加圧バルブ63及び流量計62を介して気体発生装置61が接続されている。本実施形態例の気体発生装置61からは、窒素の不活性ガスが発生される。   The main vacuum chamber 40 is a space where transfer is actually performed using a stamper, and is a relatively wide space. A vacuum pump 36 is connected to the upper main vacuum chamber 40a and the lower main vacuum chamber 40b of the main vacuum chamber 40 via vacuum valves 37a and 37b, respectively. A gas generator 61 is connected to the lower main vacuum chamber 40b via a pressurizing valve 63 and a flow meter 62. An inert gas of nitrogen is generated from the gas generator 61 of the present embodiment.

予備真空室41は、真空転写装置2の内外へ所望のディスク基板の搬入、搬出する際に、ディスク基板が通過する空間である。この予備真空室41は、主真空室40と比較して非常に狭い空間とされている。予備真空室41には、真空バルブ23を介して、真空ポンプ22が接続されている。また、予備真空室41には、大気開放バルブ24も接続されている。   The preliminary vacuum chamber 41 is a space through which a disk substrate passes when a desired disk substrate is carried in and out of the vacuum transfer apparatus 2. The preliminary vacuum chamber 41 is a very narrow space compared to the main vacuum chamber 40. A vacuum pump 22 is connected to the preliminary vacuum chamber 41 via a vacuum valve 23. An air release valve 24 is also connected to the preliminary vacuum chamber 41.

基板搬送部20は、図示しない機構によりディスク基板を前工程から、この真空転写装置2の予備真空室41に搬送し、また、予備真空室41から取り出したディスク基板を次工程に搬送するものである。基板搬送部20は、この真空転写装置2の工程作業の際に、予備真空室41の上方に位置する。そして、基板搬送部20は、開閉用モータ21に接続されており、開閉用モータ21によってシリンダ部分が駆動され、ディスク基板を把持した部位が予備真空室41に対して昇降する構造となっている。特に、基板搬送部20が予備真空室41の上面側に接する位置まで下降した状態では、基板搬送部20自体が、予備真空室41の密閉空間を形成するための上面側の壁面となるようにも機能する。   The substrate transport unit 20 transports the disk substrate from the previous process to the preliminary vacuum chamber 41 of the vacuum transfer apparatus 2 by a mechanism (not shown), and transports the disk substrate taken out from the preliminary vacuum chamber 41 to the next process. is there. The substrate transfer unit 20 is positioned above the preliminary vacuum chamber 41 during the process operation of the vacuum transfer device 2. The substrate transport unit 20 is connected to an opening / closing motor 21, and the cylinder portion is driven by the opening / closing motor 21, so that the part that holds the disk substrate moves up and down with respect to the preliminary vacuum chamber 41. . In particular, when the substrate transfer unit 20 is lowered to a position in contact with the upper surface side of the preliminary vacuum chamber 41, the substrate transfer unit 20 itself becomes a wall surface on the upper surface side for forming the sealed space of the preliminary vacuum chamber 41. Also works.

搬送テーブル25は、予備真空室41を介して搬入されたディスク基板を、主真空室40内部の転写工程が行われる位置に搬送するためのものである。この搬送テーブル25は、搬送テーブル25中心において、支持軸29aで支持され、支持軸29aに接続された搬送用モータ29によって回転される。   The transfer table 25 is for transferring the disk substrate carried in via the preliminary vacuum chamber 41 to a position in the main vacuum chamber 40 where the transfer process is performed. The transport table 25 is supported at the center of the transport table 25 by a support shaft 29a and is rotated by a transport motor 29 connected to the support shaft 29a.

図5に、搬送テーブル25を上面から見たときの概略構成を示す。搬送テーブル25は、搬送テーブル25の中心位置に対して点対称となる位置に、2つの孔部Ha,Hbを有する。この孔部Ha,Hbは、ディスク基板の外径よりも大きな外径を有するように設けられる。   FIG. 5 shows a schematic configuration when the transfer table 25 is viewed from above. The transport table 25 has two holes Ha and Hb at positions that are point-symmetric with respect to the center position of the transport table 25. The holes Ha and Hb are provided so as to have an outer diameter larger than the outer diameter of the disk substrate.

そして、搬送テーブル25上には、孔部Ha,Hbを塞ぐようにして、それぞれ保持テーブル26A,26Bが形成されている。図4の状態では、保持テーブル26Aは、搬送テーブル25上で予備真空室41の下方側に位置し、一方保持テーブル26Bは、同じく搬送テーブル25上で転写部30の下方側に位置している。
なお、図4中の左側として、予備真空室41及び主真空室40の左半分を含む構造部分を以下、「予備真空室側」といい、図4中の右側として、主真空室41の右半分を含む構造部分を以下、「転写部側」という。また、以下の説明において、保持テーブル26A,26bのディスク基板が保持される側を上面とし、その反対側の面を下面とする。
On the transfer table 25, holding tables 26A and 26B are formed so as to close the holes Ha and Hb, respectively. In the state of FIG. 4, the holding table 26 </ b> A is positioned below the preliminary vacuum chamber 41 on the transfer table 25, while the holding table 26 </ b> B is also positioned below the transfer unit 30 on the transfer table 25. .
The structural portion including the left half of the preliminary vacuum chamber 41 and the main vacuum chamber 40 as the left side in FIG. 4 is hereinafter referred to as “preliminary vacuum chamber side”, and the right side of the main vacuum chamber 41 as the right side in FIG. The structure part including the half is hereinafter referred to as “transfer part side”. In the following description, the side of the holding tables 26A and 26b on which the disk substrate is held is the upper surface, and the opposite surface is the lower surface.

搬送テーブル25の外周部の縁には、カバー部品60が形成されている。このカバー部品60は、搬送テーブル25の外周部と、主真空室40の側壁との間にできる隙間を塞ぐように設けられるものである。そして、このカバー部品60で塞がれた上側の空間、すなわち、保持テーブル26A,26Bが形成される側の空間が上側主真空室40aとされ、それとは反対側の空間が下側主真空室40bとされる。このカバー部品60は、上側主真空室40aと下側主真空室40bとの間で、厳密に気体の行き来が為されないように構成されるものではなく、わずかな気体の移動が可能なように構成されるものである。   A cover component 60 is formed on the edge of the outer peripheral portion of the transfer table 25. The cover component 60 is provided so as to close a gap formed between the outer peripheral portion of the transfer table 25 and the side wall of the main vacuum chamber 40. The upper space closed by the cover part 60, that is, the space on the side where the holding tables 26A and 26B are formed is the upper main vacuum chamber 40a, and the space on the opposite side is the lower main vacuum chamber. 40b. The cover component 60 is not configured to prevent gas from passing back and forth between the upper main vacuum chamber 40a and the lower main vacuum chamber 40b, so that slight gas movement is possible. It is composed.

搬送用モータ29は、基板搬送時に搬送テーブル25を180°回転させる。搬送テーブル25が180°回転するたびに、保持テーブル26A,26Bの位置が予備真空室側と転写部側とで交互に入れ替わることになる。   The transfer motor 29 rotates the transfer table 25 by 180 ° during substrate transfer. Each time the transport table 25 rotates 180 °, the positions of the holding tables 26A and 26B are alternately switched between the preliminary vacuum chamber side and the transfer unit side.

保持テーブル26A,26Bの上面の中心部には、ディスク基板の中心孔が嵌合される凸部が形成されている。
また、保持テーブル26A,26Bの上面の外周部には鍔部66aが形成されている。そして、搬送テーブル25と、保持テーブル26A,26Bの鍔部66aとの間が、それぞれ孔部Ha,Hbを取り囲むように配置された伸縮可能な弾性部材64により連結されている。
また、保持テーブル26A,26Bの下面の、孔部Ha,Hbに対して外周となる部分には、段差部66bが形成されている。そして、搬送テーブル25の予備真空室側に位置する孔部Haの下方には、保持テーブル上下移動部27が配置されている。この保持テーブル上下移動部27は、テーブル昇降モータ28に接続されている。
At the center of the upper surface of the holding tables 26A and 26B, a convex portion is formed into which the center hole of the disk substrate is fitted.
Further, a flange 66a is formed on the outer peripheral portion of the upper surface of the holding tables 26A and 26B. And the conveyance table 25 and the collar part 66a of holding | maintenance table 26A, 26B are connected by the elastic member 64 which can be expanded-contracted so that it may each surround the hole parts Ha and Hb.
In addition, a stepped portion 66b is formed on the lower surface of the holding tables 26A and 26B on the outer periphery of the holes Ha and Hb. A holding table vertical movement unit 27 is disposed below the hole Ha located on the auxiliary vacuum chamber side of the transfer table 25. The holding table up / down moving unit 27 is connected to a table lifting / lowering motor 28.

保持テーブル上下移動部27は、孔部Haを通り抜けて、保持テーブル26Aの段差部66bに当接し、保持テーブル26Aを搬送テーブル25から予備真空室41方向へ押し上げるものである。この場合、保持テーブル26Aは、予備真空室41に接する状態にまで押し上げられる。保持テーブル26Aが予備真空室41の下面に接する位置まで押し上げられた状態では、保持テーブル26A自体が予備真空室41の密閉空間を形成するための下面側の壁面となるようにも機能する。
なお、保持テーブル26Bが予備真空室41側にある場合は、保持テーブル上下移動部27が孔部Hbを通過して保持テーブル26Bに接することで、保持テーブル26Bが昇降されることになる。
この段差部66bには、保持テーブル26A(又は26B)の下面中央と、保持テーブル上下移動部27の面は接触しない。
また、弾性部材64の内側と、弾性部材64の外側とでは空気やガス等の行き来がなされず、気密に保たれる。
The holding table up-and-down moving unit 27 passes through the hole Ha, contacts the stepped portion 66b of the holding table 26A, and pushes up the holding table 26A from the transfer table 25 toward the preliminary vacuum chamber 41. In this case, the holding table 26 </ b> A is pushed up to a state in contact with the preliminary vacuum chamber 41. In a state where the holding table 26 </ b> A is pushed up to a position in contact with the lower surface of the preliminary vacuum chamber 41, the holding table 26 </ b> A itself also functions as a lower wall surface for forming the sealed space of the preliminary vacuum chamber 41.
When the holding table 26B is on the preliminary vacuum chamber 41 side, the holding table vertical movement unit 27 passes through the hole Hb and comes into contact with the holding table 26B, so that the holding table 26B is moved up and down.
The center of the lower surface of the holding table 26 </ b> A (or 26 </ b> B) and the surface of the holding table vertical movement unit 27 do not contact the stepped portion 66 b.
Further, air and gas are not exchanged between the inner side of the elastic member 64 and the outer side of the elastic member 64, so that airtightness is maintained.

そして、保持テーブル26A,26Bは、搬送テーブル25に突設された軸部25a,25bにそれぞれ挿通されている。この軸部25a,25bは、保持テーブル26A,26Bが搬送テーブル25に対して上下移動する際の案内軸とされる。
保持テーブル26A,26Bは、紫外線を透過する材料により構成されるものである。保持テーブル26A,26Bを構成する材料としては、例えば、石英ガラスが挙げられる。また、本実施形態例では、保持テーブル26A,26Bを構成するガラス部材上に、光透過性のシリコンマット65が載置されている。このシリコンマット65は、保持テーブル26A,26Bや、保持テーブル26A,26B上に載置されるディスク基板1の接触面のわずかな凹凸を吸収するために設けられるものである。
The holding tables 26 </ b> A and 26 </ b> B are respectively inserted into shaft portions 25 a and 25 b that are provided so as to project from the transport table 25. The shaft portions 25a and 25b serve as guide shafts when the holding tables 26A and 26B move up and down with respect to the transport table 25.
The holding tables 26A and 26B are made of a material that transmits ultraviolet rays. An example of a material constituting the holding tables 26A and 26B is quartz glass. In the present embodiment, a light transmissive silicon mat 65 is placed on the glass members constituting the holding tables 26A and 26B. The silicon mat 65 is provided to absorb slight irregularities on the holding tables 26A and 26B and the contact surface of the disk substrate 1 placed on the holding tables 26A and 26B.

転写部30は、先端に所望のスタンパを保持するスタンパホルダ32と、スタンパホルダ32を昇降するためのホルダ昇降部33と、ホルダ昇降部33を駆動するための転写用モータ31とを有して構成される。   The transfer unit 30 includes a stamper holder 32 that holds a desired stamper at the tip, a holder elevating unit 33 for elevating the stamper holder 32, and a transfer motor 31 for driving the holder elevating unit 33. Composed.

スタンパホルダ32は、上側主真空室内40aにおいてスタンパ50を、下方に転写面を向けた状態で保持する。本実施形態例で用いるスタンパは、上述のように、L1層を構成するL1ピットパターンの転写面が形成されたL1層スタンパ50であり、例えばNi等の金属スタンパとされることもあり得る。   The stamper holder 32 holds the stamper 50 in the upper main vacuum chamber 40a with the transfer surface facing downward. As described above, the stamper used in this embodiment is the L1 layer stamper 50 on which the transfer surface of the L1 pit pattern constituting the L1 layer is formed, and may be a metal stamper such as Ni.

ホルダ昇降部33は、スタンパホルダ32の上方に取り付けられており、転写用モータ31の駆動により、昇降する構成とされている。このホルダ昇降部33の昇降により、スタンパホルダ32の先端に保持されたL1層スタンパ50は、保持テーブル26B(又は26A)に載置されるディスク基板に圧着する位置にまで下降し、また、ディスク基板から離れた位置、例えば図4で示す位置まで上昇する。   The holder lifting / lowering unit 33 is attached above the stamper holder 32 and is configured to be lifted / lowered by driving the transfer motor 31. By raising and lowering the holder lifting and lowering portion 33, the L1 layer stamper 50 held at the tip of the stamper holder 32 is lowered to a position where it is pressed against the disk substrate placed on the holding table 26B (or 26A). It rises to a position away from the substrate, for example, the position shown in FIG.

また、スタンパホルダ32は、突き出しピン34を有する。この突き出しピン34は、突き出しピン34に接続されたピン昇降モータ35の駆動により下方に移動され、L1層スタンパ50が圧着されたディスク基板を、保持テーブル26B(又は26A)側に押さえつける。すなわち、突き出しピン34が下降されると、突き出しピン34は、L1層スタンパ50の中心孔部分を通過して、保持テーブル26Bに保持されたディスク基板の中心孔の周辺を押さえつけるように働くものである。また、突き出しピン34の周りからは、窒素ガス等のエアフローがディスク基板方向に流れる構成とされている。   Further, the stamper holder 32 has a protruding pin 34. The protrusion pin 34 is moved downward by driving a pin lifting motor 35 connected to the protrusion pin 34, and presses the disk substrate to which the L1 layer stamper 50 is pressure-bonded against the holding table 26B (or 26A) side. That is, when the protrusion pin 34 is lowered, the protrusion pin 34 passes through the center hole portion of the L1 layer stamper 50 and works to press the periphery of the center hole of the disk substrate held by the holding table 26B. is there. Further, an air flow such as nitrogen gas flows in the direction of the disk substrate from around the protrusion pin 34.

主真空室40において、以上のように転写部30が配置された転写部30側の下方には、紫外線照射部38が設けられている。紫外線照射部38は、転写部30側の保持テーブル26B(又は26A)に保持されたディスク基板に、搬送テーブル25の孔部Hb(又はHa)、及び保持テーブル26B(又は26A)を介して紫外線を照射するものである。   In the main vacuum chamber 40, an ultraviolet irradiation unit 38 is provided below the transfer unit 30 side where the transfer unit 30 is arranged as described above. The ultraviolet irradiation unit 38 applies ultraviolet light to the disk substrate held by the holding table 26B (or 26A) on the transfer unit 30 side via the hole Hb (or Ha) and the holding table 26B (or 26A) of the transport table 25. Is irradiated.

[真空転写方法]
以上の構成を有する真空転写装置2を用いた真空転写方法を図6〜図19を用いて説明する。本実施形態例において、真空転写装置2に搬入されるディスク基板1は、図2Cで示したように、L0層となるL0ピットパターン3が形成された後、L0層反射膜4の表面に、スピンコートにより未硬化の紫外線硬化型樹脂が展延された状態のディスク基板1である。この紫外線硬化型樹脂はスペーサ層5となる樹脂である。また、この真空転写装置2での工程を経て真空転写装置2から搬出されるディスク基板1は、図のようにスペーサ層(中間層)5とL1ピットパターンが形成された状態である。
[Vacuum transfer method]
A vacuum transfer method using the vacuum transfer apparatus 2 having the above configuration will be described with reference to FIGS. In this embodiment, the disk substrate 1 carried into the vacuum transfer apparatus 2 is formed on the surface of the L0 layer reflective film 4 after the L0 pit pattern 3 to be the L0 layer is formed as shown in FIG. 2C. This is a disk substrate 1 in a state where an uncured ultraviolet curable resin is spread by spin coating. This ultraviolet curable resin is a resin that becomes the spacer layer 5. Further, the disk substrate 1 unloaded from the vacuum transfer device 2 through the steps in the vacuum transfer device 2 is in a state where a spacer layer (intermediate layer) 5 and an L1 pit pattern are formed as shown in the figure.

図6は、予備真空室側で行われる工程と、転写部側で行われる工程としてのフローチャートを示している。なお、この予備真空室側のステップF201〜ステップF209の工程と、転写部側のステップF302〜ステップF305の工程は、順次搬入されてくるディスク基板1に対して同時に並行して行われるが、二重線矢印で示した手順で工程が進行する。すなわちステップF201→・・・→F206→F302→・・・→F305→F207→・・・→F209という手順である。   FIG. 6 shows a flowchart as a process performed on the preliminary vacuum chamber side and a process performed on the transfer unit side. Note that the steps F201 to F209 on the preliminary vacuum chamber side and the steps F302 to F305 on the transfer unit side are simultaneously performed in parallel on the disk substrate 1 that is sequentially loaded. The process proceeds according to the procedure indicated by the double arrow. That is, the procedure is step F201 →... F206 → F302 →... → F305 → F207 →.

本実施形態例の説明においては、図7以降を参照しながら二重線矢印に沿った1枚のディスク基板1Aの搬入から搬出までの流れとしての各工程を説明する。この間、次のディスク基板1Bの搬入に伴って並列的な工程も行われるが、これはディスク基板1Aについての一連の工程の説明後に述べる。
図6の各ステップには、図7〜図19のうちで対応する図の番号を付記した。
In the description of the present embodiment, each step as a flow from loading to unloading of one disk substrate 1A along a double line arrow will be described with reference to FIG. During this time, a parallel process is also performed with the next disk substrate 1B being carried in, which will be described after the description of a series of processes for the disk substrate 1A.
Each step in FIG. 6 is labeled with the corresponding figure number in FIGS.

まず、本実施形態例の真空転写装置2を稼動させる運転前準備を行う。ディスク基板1Aを保持していない状態の基板搬送部20を予備真空室側に降下させ、また、保持テーブル26Aを上昇させて、予備真空室41を密閉する。そして、密閉された予備真空室41と、上側主真空室40a及び下側主真空室40bとを、真空バルブ23,37a,37bを開放して真空ポンプ22及び36により真空引きすることにより真空化する。上側主真空室40aと、下側主真空室40bとが、規定の圧力、例えば、0.1Paに達した後、下側主真空室40b側の真空バルブ37bを閉じ、その後、加圧バルブ63を開く。そして、流量計62で、単位時間あたり一定量に制御された不活性ガスを常に下側主真空室40b内に注入する。こうすることにより、上側主真空室40aと下側主真空室40bとの間で、下側主真空室40aが常に圧力が高い状態を維持できる。この上側主真空室40a側の真空引きと、下側主真空室40b側への不活性ガスの注入は、以降、真空転写装置2の稼動期間中に継続的或いは断続的に行われる。   First, preparation before operation for operating the vacuum transfer apparatus 2 of the present embodiment is performed. The substrate transfer unit 20 in a state where the disk substrate 1A is not held is lowered to the auxiliary vacuum chamber side, and the holding table 26A is raised to seal the auxiliary vacuum chamber 41. The sealed preliminary vacuum chamber 41, the upper main vacuum chamber 40a and the lower main vacuum chamber 40b are evacuated by opening the vacuum valves 23, 37a and 37b and evacuating them with the vacuum pumps 22 and 36. To do. After the upper main vacuum chamber 40a and the lower main vacuum chamber 40b reach a specified pressure, for example, 0.1 Pa, the vacuum valve 37b on the lower main vacuum chamber 40b side is closed, and then the pressure valve 63 open. Then, an inert gas controlled to a constant amount per unit time is always injected into the lower main vacuum chamber 40b by the flow meter 62. By doing so, the lower main vacuum chamber 40a can always maintain a high pressure state between the upper main vacuum chamber 40a and the lower main vacuum chamber 40b. The evacuation on the upper main vacuum chamber 40a side and the injection of the inert gas into the lower main vacuum chamber 40b side are continuously or intermittently performed during the operation period of the vacuum transfer apparatus 2 thereafter.

本実施形態例では、不活性ガスとして、窒素ガスを用いる例とした。しかしながら、下側主真空室40bに注入される気体は、これに限定されるものではなく、空気を注入する例としてもよい。そして、下側主真空室40bに不活性ガスを注入することにより、下側主真空室40bの圧力が、上側主真空室40aの圧力よりも高くなる。   In this embodiment, nitrogen gas is used as the inert gas. However, the gas injected into the lower main vacuum chamber 40b is not limited to this, and may be an example of injecting air. Then, by injecting an inert gas into the lower main vacuum chamber 40b, the pressure in the lower main vacuum chamber 40b becomes higher than the pressure in the upper main vacuum chamber 40a.

搬送テーブル25の外周部と、主真空室40の側壁との間の隙間を覆うように、搬送テーブル25の外周部に設けられたカバー部品60は、上側主真空室40aと、下側主真空室40bとを完全に封止するものではなく、わずかな隙間があるものである。上側主真空室40aよりも、下側主真空室40bのほうが、圧力が高いため、下側主真空室40bに注入された不活性ガスがそのわずかな隙間を通って、上側主真空室40aに流れ、真空ポンプ36により排気される。これにより、主真空室40内では、下側主真空室40b側から上側主真空室40a側へと強制的に気流が発生される。
そして、この主真空室40内で発生している気流は、装置稼動中において、発生されているものである。以上の運転前準備をした後に、転写工程を行う。以下に、転写工程を説明する。
A cover component 60 provided on the outer peripheral portion of the transfer table 25 so as to cover a gap between the outer peripheral portion of the transfer table 25 and the side wall of the main vacuum chamber 40 includes an upper main vacuum chamber 40a and a lower main vacuum. The chamber 40b is not completely sealed, and there is a slight gap. Since the lower main vacuum chamber 40b has a higher pressure than the upper main vacuum chamber 40a, the inert gas injected into the lower main vacuum chamber 40b passes through the slight gap into the upper main vacuum chamber 40a. The air is exhausted by the vacuum pump 36. Thereby, in the main vacuum chamber 40, an air flow is forcibly generated from the lower main vacuum chamber 40b side to the upper main vacuum chamber 40a side.
The airflow generated in the main vacuum chamber 40 is generated while the apparatus is operating. After the above pre-operation preparation, the transfer process is performed. Below, a transfer process is demonstrated.

図7以降に示すディスク基板1Aは、真空転写装置2を稼動して最初に搬入されるディスク基板であるとする。また、図13以降に示すディスク基板1Bは、2番目に真空転写装置2内に搬入されるディスク基板であるとする。   A disk substrate 1A shown in FIG. 7 and thereafter is assumed to be a disk substrate that is first loaded after the vacuum transfer device 2 is operated. Further, it is assumed that the disk substrate 1B shown in FIG. 13 and subsequent figures is a disk substrate that is secondly carried into the vacuum transfer device 2.

まず、基板搬送部20により、前工程で未硬化の紫外線型硬化樹脂が塗布されたディスク基板1Aを予備真空室41の上方に搬送する(ステップF201)。ここでは、図7に示すように、ある1枚のディスク基板1Aが前工程から予備真空室41の上方に搬送されてくる。このとき、基板搬送部20は、ディスク基板1Aを紫外線硬化型樹脂が塗布された面を上向きにした状態で保持して搬送する。
この時点で、保持テーブル26Aは、保持テーブル上下移動部27により上昇している。そして、保持テーブル26Aの下面側に形成された段差部66bに、保持テーブル上下移動部27が、孔部Haを通り抜けて当接することで、保持テーブル26Aが予備真空室41方向に押し上げられている。このため保持テーブル26Aの段差部66b以外の下面は、保持テーブル上下移動部27と直接には接触しない。また、この保持テーブル26Aは、保持テーブル上下移動部27によって予備真空室41の下面側壁面を形成する位置にまで上昇されている。
First, the substrate transport unit 20 transports the disk substrate 1A coated with the uncured ultraviolet curable resin in the previous process to the upper side of the preliminary vacuum chamber 41 (step F201). Here, as shown in FIG. 7, a certain disk substrate 1 </ b> A is transported above the preliminary vacuum chamber 41 from the previous process. At this time, the substrate transport unit 20 transports the disk substrate 1A while holding the surface on which the ultraviolet curable resin is applied facing upward.
At this time, the holding table 26 </ b> A is raised by the holding table vertical movement unit 27. The holding table up-and-down moving portion 27 passes through the hole Ha and contacts the stepped portion 66b formed on the lower surface side of the holding table 26A, so that the holding table 26A is pushed up toward the preliminary vacuum chamber 41. . For this reason, the lower surface of the holding table 26 </ b> A other than the stepped portion 66 b is not in direct contact with the holding table vertical movement unit 27. Further, the holding table 26 </ b> A is raised to a position where the lower side wall surface of the preliminary vacuum chamber 41 is formed by the holding table vertical movement unit 27.

次に、ディスク基板1Aを予備真空室41内に搬送する(ステップF202)。ここでは、図8に示すように、基板搬送部20が開閉用モータ21により下降し、これにより基板搬送部20に把持されているディスク基板1Aが予備真空室41の内部空間に入り込むことになる。
またこのとき、基板搬送部20は、予備真空室41の上面側に接する位置にまで下降しており、基板搬送部20自体が予備真空室41の上面側壁面を構成する。そして、保持テーブル26Aと基板搬送部20で予備真空室41の上下面が塞がれる。これにより、予備真空室41は密閉空間となる。
この時点において、大気開放バルブ24は、開放されている。
Next, the disk substrate 1A is transferred into the preliminary vacuum chamber 41 (step F202). Here, as shown in FIG. 8, the substrate transport unit 20 is lowered by the opening / closing motor 21, whereby the disk substrate 1 </ b> A held by the substrate transport unit 20 enters the internal space of the preliminary vacuum chamber 41. .
At this time, the substrate transfer unit 20 is lowered to a position in contact with the upper surface side of the preliminary vacuum chamber 41, and the substrate transfer unit 20 itself constitutes the upper side wall surface of the preliminary vacuum chamber 41. Then, the upper and lower surfaces of the preliminary vacuum chamber 41 are closed by the holding table 26 </ b> A and the substrate transfer unit 20. Thereby, the preliminary vacuum chamber 41 becomes a sealed space.
At this time, the atmosphere release valve 24 is opened.

次に、ディスク基板1Aを、基板搬送部20から保持テーブル26Aに受け渡す(ステップF203)。図8に示すように、基板搬送部20が下降された状態では、ディスク基板1Aは、上昇されている保持テーブル26Aの上面に載置された状態となる。したがって基板搬送部20がディスク基板1Aの把持を開放することでディスク基板1Aが保持テーブル26Aに受け渡されることになる。   Next, the disk substrate 1A is transferred from the substrate transport unit 20 to the holding table 26A (step F203). As shown in FIG. 8, in a state where the substrate transport unit 20 is lowered, the disk substrate 1A is placed on the upper surface of the raised holding table 26A. Therefore, when the substrate transport unit 20 releases the grip of the disk substrate 1A, the disk substrate 1A is delivered to the holding table 26A.

次に、予備真空室41を真空化する(ステップF204)。まず、大気開放バルブ24を閉じて、予備真空室41を完全に密閉するとともに、真空バルブ23を開き、真空ポンプ22によって真空引きを行う。
真空引きによって予備真空室41が所定の真空度、例えば50Pa程度に達したら、保持テーブル26Aを下降させ、ディスク基板1Aを上側主真空室40aに搬送する(ステップF205)。すなわち、図9に示すように、保持テーブル26Aに載置されているディスク基板1Aが上側主真空室40aに入ることになる。保持テーブル26A自体は、搬送テーブル25の上面に載置された状態となる。
Next, the preliminary vacuum chamber 41 is evacuated (step F204). First, the air release valve 24 is closed, the preliminary vacuum chamber 41 is completely sealed, the vacuum valve 23 is opened, and the vacuum pump 22 performs evacuation.
When the preliminary vacuum chamber 41 reaches a predetermined degree of vacuum, for example, about 50 Pa, by vacuuming, the holding table 26A is lowered and the disk substrate 1A is transported to the upper main vacuum chamber 40a (step F205). That is, as shown in FIG. 9, the disk substrate 1A placed on the holding table 26A enters the upper main vacuum chamber 40a. The holding table 26 </ b> A itself is placed on the upper surface of the transfer table 25.

次に、ディスク基板1Aを保持テーブル26Aごと転写部側へ搬送する(ステップF206)。ここでは、搬送用モータ29により、搬送テーブル25が180°回転され、図9の状態から図10の状態に、保持テーブル26Aとディスク基板1Aが上側主真空室40a内で転写部側へ移動する。
この状態で、ディスク基板1Aに対しては、転写部側の工程としてステップS302 F302以降が実行される。
Next, the disk substrate 1A is transported to the transfer unit side together with the holding table 26A (step F206). Here, the conveyance table 25 is rotated by 180 ° by the conveyance motor 29, and the holding table 26A and the disk substrate 1A are moved from the state of FIG. 9 to the state of FIG. 10 toward the transfer unit in the upper main vacuum chamber 40a. .
In this state, steps S302 and F302 and subsequent steps are executed for the disk substrate 1A as a process on the transfer unit side.

まず、ディスク基板1Aの未硬化の紫外線硬化型樹脂の層にスタンパを押し当て、所望の凹凸パターンを転写する(ステップF302)。本実施形態例は、スタンパとして、L1層スタンパ50を用い、所望のL1ピットパターンを転写する例とする。ここでは、図12に示すように転写用モータ31によりホルダ昇降部33が下降され、これによってスタンパホルダ32に保持されたL1層スタンパ50が下降して、ディスク基板1Aの紫外線硬化型樹脂の層に押し当てられる。   First, a stamper is pressed against the uncured ultraviolet curable resin layer of the disk substrate 1A to transfer a desired uneven pattern (step F302). In this embodiment, an L1 layer stamper 50 is used as a stamper and a desired L1 pit pattern is transferred. Here, as shown in FIG. 12, the holder lifting / lowering portion 33 is lowered by the transfer motor 31, whereby the L1 layer stamper 50 held by the stamper holder 32 is lowered, and the ultraviolet curable resin layer of the disk substrate 1A is lowered. Pressed against.

次に、L1層スタンパ50が紫外線硬化型樹脂の層に押し当てられている状態で、一定時間、紫外線硬化型樹脂に紫外線照射を行うことで、紫外線硬化型樹脂を硬化させる(ステップF303)。ここでは、図13に示すように、L1層スタンパ50をディスク基板1Aに押し当てたままの状態で、下側主真空室40b側に構成された紫外線照射部38から紫外線を照射する。紫外線は、孔部Haや紫外線を透過させる材質の保持テーブル36A、さらには、透明のポリカーボネートによるディスク基板1Aを透過して、ディスク基板1Aの表面に塗布されている紫外線硬化型樹脂に達し、紫外線硬化型樹脂を硬化させる。   Next, the ultraviolet curable resin is cured by irradiating the ultraviolet curable resin with ultraviolet rays for a certain period of time while the L1 layer stamper 50 is pressed against the ultraviolet curable resin layer (step F303). Here, as shown in FIG. 13, with the L1 layer stamper 50 pressed against the disk substrate 1A, ultraviolet rays are irradiated from the ultraviolet irradiation unit 38 configured on the lower main vacuum chamber 40b side. The ultraviolet light passes through the hole Ha and the holding table 36A made of a material that transmits ultraviolet light, and further passes through the disk substrate 1A made of transparent polycarbonate, and reaches the ultraviolet curable resin applied to the surface of the disk substrate 1A. The curable resin is cured.

なお、ステップF303において、L1層スタンパ50とディスク基板1Aが密着された状態でL1層スタンパ50とディスク基板1Aを保持テーブル26Aから持ち上げ、ディスク基板1Aを保持テーブル26Aと非接触の状態にして紫外線照射を行う場合もある。   In step F303, the L1 layer stamper 50 and the disk substrate 1A are lifted from the holding table 26A in a state where the L1 layer stamper 50 and the disk substrate 1A are in close contact, and the disk substrate 1A is brought into a non-contact state with the holding table 26A. Irradiation may be performed.

紫外線硬化型樹脂を硬化させたら、次に、ディスク基板1AからL1層スタンパ50を剥離する(ステップF304)。ここでは、図14に示すように、ピン昇降モータ35により突き出しピン34を下降させ、L1層スタンパ50の中心孔を通過して、ディスク基板1Aの中心孔の周囲を突き出しピン34で押さえつけるようにする。また、突き出しピン34から剥離用のエアフローを出射してL1層スタンパ50の剥離を補助する。エアフローを出射することにより、L1層スタンパ50とディスク基板1Aとの間に気体が介入し、剥離しやすくなる。また、窒素ガス等のエアフローを流すことにより、真空中においてL1層スタンパ50とディスク基板1Aとを剥がすときに発生する静電気による放電でディスク基板1Aもしくは、L1層スタンパ50が破損してしまうのを防ぐことができる。
そして、この状態において、転写用モータ31によりホルダ昇降部33を上昇させ、スタンパホルダ32を上昇させることで、L1層スタンパ50をディスク基板1Aから引き剥がす。
Once the ultraviolet curable resin is cured, the L1 layer stamper 50 is then peeled from the disk substrate 1A (step F304). Here, as shown in FIG. 14, the protrusion pin 34 is lowered by the pin lifting motor 35 so as to pass through the center hole of the L1 layer stamper 50 and press the periphery of the center hole of the disk substrate 1A with the protrusion pin 34. To do. Further, a peeling air flow is emitted from the protruding pin 34 to assist the peeling of the L1 layer stamper 50. By emitting the airflow, a gas intervenes between the L1 layer stamper 50 and the disk substrate 1A, and it becomes easy to peel off. In addition, by flowing an air flow such as nitrogen gas, the disk substrate 1A or the L1 layer stamper 50 is damaged by discharge due to static electricity generated when the L1 layer stamper 50 and the disk substrate 1A are peeled off in a vacuum. Can be prevented.
In this state, the L1 layer stamper 50 is peeled off from the disk substrate 1A by raising the holder elevating part 33 by the transfer motor 31 and raising the stamper holder 32.

次に、ディスク基板1Aを予備真空室41側に搬送する(ステップF305)。
なお、転写部側で以上のステップF302→F303→F304の工程が行われている間、予備真空室41側では、ステップF207→F208→F209→F201→F202→F203→F204→F205が行われており、これについては後述するが、ステップF305でディスク基板1Aを予備真空室側に搬送しようとする際には、図16のように次のディスク基板1Bが保持テーブル26Bに際置された状態となっている。
この状態から、ステップF305では、搬送用モータ29によって搬送テーブル25が180°回転され、図16の状態から図17のように、保持テーブル26Aとディスク基板1Aが主真空室40内で予備真空室側へ移動される。同時に、次のディスク基板1Bが保持テーブル26Bとともに主真空室40内で転写部側へ移動される。
Next, the disk substrate 1A is transported to the preliminary vacuum chamber 41 side (step F305).
While the above steps F302 → F303 → F304 are being performed on the transfer unit side, steps F207 → F208 → F209 → F201 → F202 → F203 → F204 → F205 are performed on the preliminary vacuum chamber 41 side. As will be described later, when the disk substrate 1A is to be transported to the auxiliary vacuum chamber side in step F305, the next disk substrate 1B is placed on the holding table 26B as shown in FIG. It has become.
From this state, in step F305, the transfer table 25 is rotated 180 ° by the transfer motor 29, and the holding table 26A and the disk substrate 1A are placed in the main vacuum chamber 40 in the preliminary vacuum chamber as shown in FIG. Moved to the side. At the same time, the next disk substrate 1B is moved to the transfer section side in the main vacuum chamber 40 together with the holding table 26B.

ディスク基板1Aについて見れば、続いて、ディスク基板1Aを、予備真空室41に搬送する(ステップF207)。ここでは、図18に示すように保持テーブル上下移動部27が上昇することにより、ディスク基板1Aを載置している保持テーブル26Aが持ち上げられ、ディスク基板1Aが予備真空室41内に入れられる。このとき、保持テーブル26Aは、予備真空室41の下面側壁面を構成する状態となる。また、図18に示すように、基板搬送部20は、予備真空室41の上面側壁面を構成する状態となっており、予備真空室41は、密閉されている。   Looking at the disk substrate 1A, the disk substrate 1A is subsequently transferred to the preliminary vacuum chamber 41 (step F207). Here, as shown in FIG. 18, when the holding table vertical movement unit 27 is raised, the holding table 26 </ b> A on which the disk substrate 1 </ b> A is placed is lifted, and the disk substrate 1 </ b> A is placed in the preliminary vacuum chamber 41. At this time, the holding table 26 </ b> A is in a state of constituting the lower surface side wall surface of the preliminary vacuum chamber 41. As shown in FIG. 18, the substrate transport unit 20 is in a state of constituting the upper side wall surface of the preliminary vacuum chamber 41, and the preliminary vacuum chamber 41 is sealed.

そして、この状態において、大気開放バルブ24を開き、予備真空室41を大気開放する(ステップF208)。次に、基板搬送部20でディスク基板1Aを把持し、開閉用モータ21により図19に示すように、基板搬送部20を上昇させる(ステップF209)。その後、ディスク基板1Aを次の工程に搬送する。   In this state, the atmosphere release valve 24 is opened, and the preliminary vacuum chamber 41 is opened to the atmosphere (step F208). Next, the substrate transfer unit 20 holds the disk substrate 1A, and the opening / closing motor 21 raises the substrate transfer unit 20 as shown in FIG. 19 (step F209). Thereafter, the disk substrate 1A is transported to the next step.

以上のように、真空転写装置2での一連の工程を終えて搬出されるディスク基板1Aは、既に、図3Eに示したようにスペーサ層5とL1ピットパターン6が形成された状態となっている。
そして、ディスク基板1Aについて見れば、以上の工程で、図1のステップF103としてのスペーサ層5、L1層形成工程が完了し、その後、図1のステップF104以降の工程に進み、上述したように光ディスクが製造される。
As described above, the disc substrate 1A that is unloaded after finishing a series of steps in the vacuum transfer apparatus 2 is already in the state in which the spacer layer 5 and the L1 pit pattern 6 are formed as shown in FIG. 3E. Yes.
With regard to the disk substrate 1A, the spacer layer 5 and L1 layer forming process as step F103 in FIG. 1 is completed in the above process, and then the process proceeds to the process after step F104 in FIG. 1 as described above. An optical disc is manufactured.

1枚のディスク基板1Aに注目すると、以上の工程が行われることになるが、ここで、次のディスク基板1Bが搬入されることにより、予備真空室側と転写部側で並行して工程が実行されることを説明する。   When attention is paid to one disk substrate 1A, the above steps are performed. Here, when the next disk substrate 1B is carried in, the steps are performed in parallel on the preliminary vacuum chamber side and the transfer unit side. Explain what will be done.

上述のように、ディスク基板1Aが稼動開始からの最初の1枚であったとする。このディスク基板1Aに対してステップF201からステップF206が行われ、ディスク基板1Aが転写部側に搬送された状態を図10に示した。
ここで、転写部側では、上述のとおりステップF302、F303、F304が行われていくが、これと並行して、予備真空室側では、ステップF207以降の動作が行われる。
As described above, it is assumed that the disk substrate 1A is the first one from the start of operation. FIG. 10 shows a state in which steps F201 to F206 are performed on the disk substrate 1A and the disk substrate 1A is conveyed to the transfer unit side.
Here, steps F302, F303, and F304 are performed on the transfer unit side as described above, and in parallel with this, operations on and after step F207 are performed on the preliminary vacuum chamber side.

まず、図11に示すように保持テーブル上下移動部27が上昇することで、予備真空室側に搬送された保持テーブル26Bが持ち上げられ、保持テーブル26Bは予備真空室41内の下面側壁面を構成する状態となる(ステップF207)。基板搬送部20は、ステップF202(図9)の時点から引き続き、予備真空室41の上面側壁面を形成する状態となっている。   First, as shown in FIG. 11, the holding table up-and-down moving unit 27 is lifted to lift the holding table 26 </ b> B transported to the auxiliary vacuum chamber side, and the holding table 26 </ b> B constitutes the lower side wall surface in the auxiliary vacuum chamber 41. (Step F207). The substrate transfer unit 20 is in a state of continuously forming the upper side wall surface of the preliminary vacuum chamber 41 from the time of Step F202 (FIG. 9).

次に、大気開放バルブ24を開き予備真空室41を大気開放する(ステップF208)。そして、基板搬送部20が開閉用モータ21によって図19に示すように上昇される(ステップF209)。   Next, the atmosphere release valve 24 is opened to release the preliminary vacuum chamber 41 to the atmosphere (step F208). Then, the substrate transport unit 20 is raised by the opening / closing motor 21 as shown in FIG. 19 (step F209).

続いて、予備真空室側では、ステップF201からの工程に戻る。
まず、基板搬送部20は、前工程で未硬化の紫外線硬化型樹脂が塗布された次のディスク基板1Bを図13に示すように予備真空室41の上方に搬送してくる(ステップF201)。
Subsequently, the process returns to Step F201 on the preliminary vacuum chamber side.
First, the substrate transport unit 20 transports the next disk substrate 1B, to which the uncured ultraviolet curable resin has been applied in the previous process, above the preliminary vacuum chamber 41 as shown in FIG. 13 (step F201).

次に、図14に示すように、基板搬送部20が開閉用モータ21によって下降され、これによって基板搬送部20に把持されているディスク基板1Bが予備真空室41の内部に搬送される(ステップF202)。その後、ディスク基板1Bが基板搬送部20から保持テーブル26Bに受け渡される(ステップF203)。   Next, as shown in FIG. 14, the substrate transport unit 20 is lowered by the opening / closing motor 21, whereby the disk substrate 1 </ b> B held by the substrate transport unit 20 is transported into the preliminary vacuum chamber 41 (step). F202). Thereafter, the disk substrate 1B is transferred from the substrate transport unit 20 to the holding table 26B (step F203).

次に、図15に示す状態において、予備真空室41を再び真空化する(ステップF204)。すなわち大気開放バルブ24が閉じて予備真空室41を完全に密閉したうえで、真空バルブ23を開き、真空ポンプ22によって真空引きを行う。   Next, in the state shown in FIG. 15, the preliminary vacuum chamber 41 is evacuated again (step F204). That is, the air release valve 24 is closed and the preliminary vacuum chamber 41 is completely sealed, and then the vacuum valve 23 is opened and the vacuum pump 22 performs evacuation.

真空引きによって予備真空室41が所定の真空度(例えば50Pa程度)に達したら、次に、図16に示すように、保持テーブル26Bを下降させ、ディスク基板1Bを上側主真空室40aに搬送する(ステップF205)。   When the preliminary vacuum chamber 41 reaches a predetermined degree of vacuum (for example, about 50 Pa) by evacuation, next, as shown in FIG. 16, the holding table 26B is lowered and the disk substrate 1B is transferred to the upper main vacuum chamber 40a. (Step F205).

上述したように、図16の状態では、転写部側では、ディスク基板1Bに対してのスタンパ剥離工程までが済んだ段階である。   As described above, the state shown in FIG. 16 is a stage where the stamper peeling process for the disk substrate 1B has been completed on the transfer unit side.

そして、次に、予備真空室側では、ステップF206が、また、転写部側では、ステップF305が行われるが、これは、搬送用モータ29によって搬送テーブル25が180°回転されるという1つの動作で実行される。
これによって上述のように、ディスク基板1Aが予備真空室側に戻されるとともに、次のディスク基板1Bが転写部側に送り込まれる。すなわち図17に示す状態となる。
以降、上述のとおり、ディスク基板1Aについては、図18のように予備真空室41に送られ、予備真空室41が大気開放されたあと、図19に示すように基板搬送部20によって搬出されるが、このとき、転写部側では、ステップF302で図19に示すようにL1層スタンパ50がディスク基板1Bに押し当てられる。
Next, step F206 is performed on the preliminary vacuum chamber side, and step F305 is performed on the transfer unit side. This is one operation in which the transport table 25 is rotated 180 ° by the transport motor 29. Is executed.
Thus, as described above, the disk substrate 1A is returned to the preliminary vacuum chamber side, and the next disk substrate 1B is sent to the transfer portion side. That is, the state shown in FIG.
Thereafter, as described above, the disk substrate 1A is sent to the preliminary vacuum chamber 41 as shown in FIG. 18, and after the preliminary vacuum chamber 41 is opened to the atmosphere, it is unloaded by the substrate transfer unit 20 as shown in FIG. However, at this time, on the transfer portion side, the L1 layer stamper 50 is pressed against the disk substrate 1B in step F302 as shown in FIG.

さらにその後、転写部側では、ディスク基板1BについてのステップF303の紫外線照射工程、ステップF304のスタンパ剥離工程が行われる。
また、図示しないが、その間、予備真空室側では、さらに次のディスク基板が搬入され、ステップF201〜F205が行われることとなる。
After that, on the transfer portion side, the ultraviolet irradiation process of Step F303 and the stamper peeling process of Step F304 are performed on the disk substrate 1B.
Further, although not shown in the drawing, the next disk substrate is further carried on the preliminary vacuum chamber side, and steps F201 to F205 are performed.

本実施形態例の真空転写装置2では、ディスク基板1が前工程から送られてくるごとに、以上のような動作が、予備真空室側と転写部側で並行して行われることになる。   In the vacuum transfer device 2 of the present embodiment, every time the disk substrate 1 is sent from the previous process, the above operation is performed in parallel on the preliminary vacuum chamber side and the transfer unit side.

本実施形態例の真空転写装置2では、下側主真空室40bに不活性ガスを注入することにより、下側主真空室40bと上側主真空室40aに差圧を持たせることができる。これにより、下側主真空室40bから上側主真空室40aに向って気流が発生し、上側主真空室40a内で、未硬化の紫外線硬化型樹脂から発生した揮発成分や、紫外線硬化型樹脂の硬化時に発生する揮発成分が保持テーブル26A,26Bや、周辺部に付着するのを防止することができる。また、主真空室40が上側主真空室40aと、下側主真空室40bとに分割されており、上側主真空室40aと下側主真空室40bとの差圧により、上側主真空室40aで発生した揮発成分が、下側主真空室40bに入り込むことがない。これにより、紫外線が照射される側の保持テーブル26A,26Bに揮発成分が付着するのを防ぐことができ、転写工程において、ディスク基板1に展延された紫外線硬化型樹脂の硬化不良を低減することができる。   In the vacuum transfer apparatus 2 of the present embodiment, a pressure difference can be provided between the lower main vacuum chamber 40b and the upper main vacuum chamber 40a by injecting an inert gas into the lower main vacuum chamber 40b. As a result, an air flow is generated from the lower main vacuum chamber 40b toward the upper main vacuum chamber 40a, and in the upper main vacuum chamber 40a, the volatile components generated from the uncured ultraviolet curable resin and the ultraviolet curable resin Volatile components generated during curing can be prevented from adhering to the holding tables 26A and 26B and the peripheral portion. Further, the main vacuum chamber 40 is divided into an upper main vacuum chamber 40a and a lower main vacuum chamber 40b, and due to a differential pressure between the upper main vacuum chamber 40a and the lower main vacuum chamber 40b, the upper main vacuum chamber 40a. Volatile components generated in the above do not enter the lower main vacuum chamber 40b. Thereby, it is possible to prevent volatile components from adhering to the holding tables 26A and 26B on the side irradiated with ultraviolet rays, and reduce the curing failure of the ultraviolet curable resin spread on the disk substrate 1 in the transfer process. be able to.

以上のように、本実施形態例の真空転写装置2及び真空転写方法では、主真空室40内で、強制的に気流を発生させることで、ディスク基板に展延された紫外線硬化型樹脂から発生する揮発物質の、真空転写装置2内への付着を防止することができる。これにより、揮発物質除去の為に行われる、真空転写装置2の定期的なメンテナンスが必要なくなる。もしくは、定期的なメンテナンスを行う間隔を広げることができ、稼働率の向上に繋がる。   As described above, in the vacuum transfer device 2 and the vacuum transfer method of the present embodiment, the air current is forcibly generated in the main vacuum chamber 40 to generate the ultraviolet curable resin spread on the disk substrate. It is possible to prevent the volatile substance to adhere to the vacuum transfer device 2. This eliminates the need for regular maintenance of the vacuum transfer apparatus 2 that is performed to remove volatile substances. Alternatively, the interval for carrying out regular maintenance can be increased, leading to an improvement in operating rate.

上述した本実施形態例では、主真空室40を上側主真空室40aと下側主真空室40bとに分割し、上側主真空室40a内の圧力と下側主真空室40b内の圧力を変えることで差圧を発生させ、気流を発生させる構成とした。本発明は、このような構成に限定されるものではなく、主真空室40内において、差圧を発生させ、強制的に所望の気流を発生させることのできる構成であればよい。   In the above-described embodiment, the main vacuum chamber 40 is divided into the upper main vacuum chamber 40a and the lower main vacuum chamber 40b, and the pressure in the upper main vacuum chamber 40a and the pressure in the lower main vacuum chamber 40b are changed. Thus, a differential pressure is generated to generate an air flow. The present invention is not limited to such a configuration, and any configuration that can generate a differential pressure and forcibly generate a desired air flow in the main vacuum chamber 40 may be used.

また、本実施形態例では、予備真空室41を設けることにより、ディスク基板1の搬出/搬入に伴う大気開放及び真空引きは、予備真空室41で行われることとなる。予備真空室41は、スタンパ転写を行うような比較的大きな空間を必要としないことから、図示したように空間容積が小さい空間として形成できる。同じく、スタンパ転写を行う空間ではないため、真空度を主真空室40より低く設定できる。このため、予備真空室41内の真空引きを迅速に行うことができる。   Further, in this embodiment, by providing the preliminary vacuum chamber 41, release of the atmosphere and evacuation when the disk substrate 1 is carried out / in is performed in the preliminary vacuum chamber 41. Since the preliminary vacuum chamber 41 does not require a relatively large space for performing stamper transfer, it can be formed as a space having a small space volume as illustrated. Similarly, since it is not a space for performing stamper transfer, the degree of vacuum can be set lower than that of the main vacuum chamber 40. For this reason, evacuation in the preliminary vacuum chamber 41 can be performed quickly.

また、予備真空室41と主真空室40が設けられることで、予備真空室側と、転写部側とで、同時並行的な工程作業が可能となる。これにより、本実施形態例の真空転写装置2では、非常に効率的な真空転写工程が実現されるものである。   Further, since the preliminary vacuum chamber 41 and the main vacuum chamber 40 are provided, it is possible to perform simultaneous process operations on the preliminary vacuum chamber side and the transfer unit side. Thereby, in the vacuum transfer apparatus 2 of the present embodiment, a very efficient vacuum transfer process is realized.

本実施形態例では、再生専用の2層ディスクの製造工程において、L1層のピットパターンと、スペーサ層を形成する工程において真空転写装置2を用いる例を示したが、もちろん、1層ディスクや、3層以上の記録層を有するディスクの製造工程であっても、本発明を適用できる。
例えば、3層以上の光ディスクで、第3記録層、第4記録層としてのピットパターンやスペーサ層を形成する工程で、真空転写装置2が上記同様の動作を行うことも可能である。
また、1層ディスク、もしくは多層ディスクにおいて、第1記録層(L0層)を形成する際に、射出成形ではなく、本発明の真空転写装置を用いてもよい。たとえば、表面が平面状のディスク基板(例えばガラス基板)に紫外線硬化型樹脂を塗布して、上述した実施の形態の動作を真空転写装置で行うことで、L0層としてのピットパターンを形成することも可能である。
In the present embodiment, an example in which the vacuum transfer device 2 is used in the process of forming the L1 layer pit pattern and the spacer layer in the manufacturing process of the read-only two-layer disk is shown. The present invention can be applied even to a manufacturing process of a disc having three or more recording layers.
For example, the vacuum transfer device 2 can perform the same operation as described above in the step of forming pit patterns and spacer layers as the third recording layer and the fourth recording layer on three or more optical discs.
Further, when forming the first recording layer (L0 layer) in a single-layer disc or a multi-layer disc, the vacuum transfer device of the present invention may be used instead of injection molding. For example, a pit pattern as an L0 layer is formed by applying an ultraviolet curable resin to a disk substrate (for example, a glass substrate) having a flat surface and performing the operation of the above-described embodiment with a vacuum transfer device. Is also possible.

もちろん、凹凸パターンは、再生専用型ディスクを形成するためのピットパターンではなく、ライトワンス型、リライタブル型ディスク等のグルーブパターンであってもよい。つまり、真空転写装置内で使用するスタンパをグルーブ転写用のスタンパとすれば、ライトワンス型ディスク、リライタブル型ディスクでの製造工程でも本発明を適用することができる。   Of course, the concavo-convex pattern may be a groove pattern such as a write-once type or a rewritable type disk, not a pit pattern for forming a read-only disk. In other words, if the stamper used in the vacuum transfer apparatus is a groove transfer stamper, the present invention can be applied to a manufacturing process using a write-once disc or a rewritable disc.

また、光ディスクの種別として、ブルーレイディスクやDVD(Digital Versatile Disc)方式のディスク、CD(Compact Disk)方式のディスク等、多用なディスクの製造に本発明を適用することができる。   Further, the present invention can be applied to the manufacture of various discs such as Blu-ray discs, DVD (Digital Versatile Disc) type discs, CD (Compact Disk) type discs, etc. as types of optical discs.

本発明に係る一実施の形態のディスク製造工程のフローチャートである。It is a flowchart of the disc manufacturing process of one embodiment concerning the present invention. 本発明に係る一実施の形態の製造工程上の基板の工程図である。It is process drawing of the board | substrate on the manufacturing process of one Embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る一実施の形態の製造工程上の基板の工程図である。It is process drawing of the board | substrate on the manufacturing process of one Embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る一実施の形態の真空転写装置の構造の概略構成図である。1 is a schematic configuration diagram of a structure of a vacuum transfer apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明に係る一実施の形態の真空転写装置の搬送テーブルを上面から見たときの概略構成図である。It is a schematic block diagram when the conveyance table of the vacuum transfer apparatus of one Embodiment which concerns on this invention is seen from the upper surface. 本発明に係る一実施の形態の真空転写装置を用いたスペーサ層・L1層形成工程のフローチャートである。It is a flowchart of the spacer layer and L1 layer formation process using the vacuum transfer device of one embodiment concerning the present invention. 本発明に係る一実施の形態の真空転写装置におけるディスク基板の搬入時の概略構成図である。It is a schematic block diagram at the time of carrying in of the disc substrate in the vacuum transfer device of one embodiment concerning the present invention. 本発明に係る一実施の形態の真空転写装置におけるディスク基板の予備真空室搬入時の概略構成図である。It is a schematic block diagram at the time of carrying in the preliminary | backup vacuum chamber of the disk substrate in the vacuum transfer apparatus of one Embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る一実施の形態の真空転写装置におけるディスク基板の主真空室への搬送時の概略構成図である。It is a schematic block diagram at the time of conveyance to the main vacuum chamber of the disk substrate in the vacuum transfer apparatus of one embodiment concerning the present invention. 本発明に係る一実施の形態の真空転写装置におけるディスク基板の転写部側への搬送時の状態の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the state at the time of conveyance to the transfer part side of a disk substrate in the vacuum transfer apparatus of one embodiment concerning the present invention. 本発明に係る一実施の形態の真空転写装置の予備真空室側の動作の説明図である。It is explanatory drawing of the operation | movement by the side of the preliminary | backup vacuum chamber of the vacuum transfer apparatus of one Embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る一実施の形態の真空転写装置の転写時の動作の説明図である。It is explanatory drawing of the operation | movement at the time of transcription | transfer of the vacuum transfer apparatus of one Embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る一実施の形態の真空転写装置の紫外線照射時の動作の説明図である。It is explanatory drawing of the operation | movement at the time of ultraviolet irradiation of the vacuum transfer apparatus of one Embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る一実施の形態の真空転写装置のスタンパ剥離時の動作の説明図である。It is explanatory drawing of the operation | movement at the time of stamper peeling of the vacuum transfer apparatus of one Embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る一実施の形態の真空転写装置のスタンパ剥離時の動作の説明図である。It is explanatory drawing of the operation | movement at the time of stamper peeling of the vacuum transfer apparatus of one Embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る一実施の形態の真空転写装置の予備真空室側の動作の説明図である。It is explanatory drawing of the operation | movement by the side of the preliminary | backup vacuum chamber of the vacuum transfer apparatus of one Embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る一実施の形態の真空転写装置の予備真空室側と転写部側のディスク基板搬送の説明図である。It is explanatory drawing of the disk substrate conveyance of the preliminary | backup vacuum chamber side and transfer part side of the vacuum transfer apparatus of one Embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る一実施の形態の真空転写装置のディスク基板の予備真空室への搬送の説明図である。It is explanatory drawing of conveyance to the preliminary | backup vacuum chamber of the disk substrate of the vacuum transfer apparatus of one Embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る一実施の形態の真空転写装置のディスク基板の搬出時の状態の説明図である。It is explanatory drawing of the state at the time of carrying out the disk substrate of the vacuum transfer apparatus of one Embodiment which concerns on this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1,1A,1B・・ディスク基板、3・・L0ピットパターン、4・・L0層反射膜、5・・スペーサ層、6・・L1ピットパターン、7・・L1層反射膜、8・・光透過層、20・・基板搬送部、22,36・・真空ポンプ、23,37a,37b・・真空バルブ、24・・大気開放バルブ、25・・搬送テーブル、26A,26B・・保持テーブル、30・・転写部、32・・スタンパホルダ、38・・紫外線照射部、40・・主真空室、40a・・上側主真空室、40b・・下側主真空室、41・・予備真空室   1, 1A, 1B ... Disk substrate, 3 ... L0 pit pattern, 4 ... L0 layer reflective film, 5 ... Spacer layer, 6 ... L1 pit pattern, 7 ... L1 layer reflective film, 8 ... Light Transmission layer, 20 ... substrate transfer part, 22, 36 ... vacuum pump, 23, 37a, 37b ... vacuum valve, 24 ... atmosphere release valve, 25 ... transport table, 26A, 26B ... holding table, 30 ..Transfer section, 32..Stamp holder, 38..Ultraviolet irradiation section, 40..Main vacuum chamber, 40a..Upper main vacuum chamber, 40b..Lower main vacuum chamber, 41..Preliminary vacuum chamber

Claims (8)

真空吸引機構により真空化されるとともに、大気開放機構により大気開放可能な予備真空室と、
真空吸引機構により真空化される主真空室と、
前記予備真空室に対するディスク基板の搬入/搬出を行う基板搬送部と、
紫外線硬化型樹脂が展延されたディスク基板を載置し、前記予備真空室と前記主真空室との間でディスク基板の搬送を行う真空室間搬送部と、
前記主真空室内で、スタンパを用いて凹凸パターンをディスク基板に転写する転写処理を行う転写部と、
前記真空室間搬送部に載置されたディスク基板に紫外線を照射する紫外線照射部と、
動作状態において、主真空室内に所望の気体を注入して、主真空室内に差圧を発生させるための加圧機構と、
を含む真空転写装置。
A preliminary vacuum chamber that is evacuated by a vacuum suction mechanism and can be opened to the atmosphere by an atmosphere release mechanism;
A main vacuum chamber that is evacuated by a vacuum suction mechanism;
A substrate transfer unit for loading / unloading the disk substrate into / from the preliminary vacuum chamber;
A disk substrate on which an ultraviolet curable resin is spread is placed, and a conveyance unit between the vacuum chambers that conveys the disk substrate between the preliminary vacuum chamber and the main vacuum chamber,
In the main vacuum chamber, a transfer unit that performs a transfer process for transferring a concavo-convex pattern to a disk substrate using a stamper;
An ultraviolet irradiation unit for irradiating the disk substrate placed in the inter-vacuum chamber transfer unit with ultraviolet rays;
A pressure mechanism for injecting a desired gas into the main vacuum chamber to generate a differential pressure in the main vacuum chamber in an operating state;
Including vacuum transfer device.
真空吸引機構により真空化されるとともに、大気開放機構により大気開放可能な予備真空室と、
真空吸引機構により真空化される主真空室と、
前記予備真空室に対するディスク基板の搬入/搬出を行う基板搬送部と、
前記主真空室を上側主真空室と下側主真空室とに分割すると共に、前記上側主真空室側に紫外線硬化型樹脂が展延されたディスク基板を載置し、前記予備真空室と前記主真空室との間でディスク基板の搬送を行う真空室間搬送部と、
前記上側主真空室内で、スタンパを用いて凹凸パターンをディスク基板に転写する転写処理を行う転写部と、
前記下側主真空室側から前記真空室間搬送部を透過して、前記真空室間搬送部に載置されたディスク基板に紫外線を照射する紫外線照射部と、
動作状態において、前記下側主真空室の圧力を、前記上側主真空室の圧力よりも高くなるように保持するための加圧機構と、
を含む真空転写装置。
A preliminary vacuum chamber that is evacuated by a vacuum suction mechanism and can be opened to the atmosphere by an atmosphere release mechanism;
A main vacuum chamber that is evacuated by a vacuum suction mechanism;
A substrate transfer unit for loading / unloading the disk substrate into / from the preliminary vacuum chamber;
The main vacuum chamber is divided into an upper main vacuum chamber and a lower main vacuum chamber, and a disk substrate on which an ultraviolet curable resin is spread is placed on the upper main vacuum chamber, and the preliminary vacuum chamber and the An inter-vacuum chamber transport unit that transports the disk substrate to and from the main vacuum chamber;
In the upper main vacuum chamber, a transfer unit that performs a transfer process of transferring a concavo-convex pattern to a disk substrate using a stamper;
An ultraviolet irradiating unit that irradiates the disk substrate placed on the inter-vacuum chamber transport unit through the vacuum chamber transport unit from the lower main vacuum chamber side;
A pressure mechanism for holding the pressure of the lower main vacuum chamber to be higher than the pressure of the upper main vacuum chamber in an operating state;
Including vacuum transfer device.
前記真空室間搬送部の外周部には、前記外周部と、前記主真空室の壁面との間隙に被覆するように構成された、カバー部品を有する請求項2記載の真空転写装置。   The vacuum transfer apparatus according to claim 2, further comprising a cover part configured to cover a gap between the outer peripheral portion and a wall surface of the main vacuum chamber on an outer peripheral portion of the inter-vacuum chamber conveying portion. 前記真空室間搬送部に載置されるディスク基板は、前記真空室間搬送部に設けられた孔部上を被覆して、前記上側主真空室側に設けられた光透過性の保持テーブル上に載置され、前記保持テーブルと、前記孔部の外周部とは、弾性部材で連結される請求項2又は3記載の真空転写装置。   The disk substrate placed on the inter-vacuum chamber transport section covers a hole provided in the inter-vacuum chamber transport section, on a light-transmitting holding table provided on the upper main vacuum chamber side. The vacuum transfer device according to claim 2, wherein the holding table and the outer peripheral portion of the hole are connected by an elastic member. 前記カバー部品は、前記下側主真空室側から前記上側主真空室側へ、気体が通過可能となるように構成されている請求項2記載の真空転写装置。   The vacuum transfer apparatus according to claim 2, wherein the cover part is configured to allow gas to pass from the lower main vacuum chamber side to the upper main vacuum chamber side. 前記加圧機構は、気体発生装置と、前記気体発生装置から流れる所望の気体を、前記下側主真空装置に注入する加圧バルブとより構成される請求項2記載の真空転写装置。   3. The vacuum transfer device according to claim 2, wherein the pressurizing mechanism includes a gas generating device and a pressurizing valve that injects a desired gas flowing from the gas generating device into the lower main vacuum device. 前記加圧機構は、流量計を有し、前記下側主真空装置内に注入される気体の流量は、前記流量計により制御される請求項6記載の真空転写装置。   The vacuum transfer device according to claim 6, wherein the pressurizing mechanism includes a flow meter, and a flow rate of the gas injected into the lower main vacuum device is controlled by the flow meter. 主真空室を真空化する工程、
未硬化の紫外線硬化型樹脂層が形成されたディスク基板を、予備真空室内に搬入する工程、
前記予備真空室に搬入されたディスク基板を、前記主真空室を上側真空室と下側真空室に分割する真空室間搬送部に載置する工程、
前記予備真空室を真空化する工程、
前記予備真空室から前記主真空室に搬送する工程、
前記下側主真空室に所望の気体を注入することにより、前記下側主真空室の圧力を前記上側主真空室の圧力よりも高くする工程、
前記紫外線硬化型樹脂層に、所望のスタンパを押し当てると同時に、前記下側主真空室側から前記真空室間搬送部を透過して前記紫外線硬化型樹脂層に、紫外線を照射する工程、
とを含む真空転写方法。
Vacuuming the main vacuum chamber,
A step of carrying a disk substrate on which an uncured ultraviolet curable resin layer is formed into a preliminary vacuum chamber;
Placing the disk substrate carried into the preliminary vacuum chamber on a transfer unit between vacuum chambers that divides the main vacuum chamber into an upper vacuum chamber and a lower vacuum chamber;
Evacuating the preliminary vacuum chamber;
Transferring from the preliminary vacuum chamber to the main vacuum chamber;
Injecting a desired gas into the lower main vacuum chamber to make the pressure of the lower main vacuum chamber higher than the pressure of the upper main vacuum chamber;
A step of irradiating the ultraviolet curable resin layer with ultraviolet rays through the vacuum chamber transfer portion from the lower main vacuum chamber side simultaneously with pressing a desired stamper on the ultraviolet curable resin layer;
And a vacuum transfer method.
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