JP2010048729A - Probe and probe unit - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a probe which can be further reduced in size with a uniformed contact pressure. <P>SOLUTION: The probe includes two probe needles 2 and 3, each including a spiral part 2a or 3a formed with the same diameter and the same pitch, a first contact part 2b or 3b formed on one end side of each spiral part 2a or 3a, and a second contact part 2c or 3c formed on the other end side of each spiral part 2a or 3a. The first contact part 2b or 3b and the second contact part 2c or 3c are formed so as to be located within the range of the radius of the spiral part 2a or 3a around axial line L of each spiral part 2a or 3a or less, and the probe needles 2 and 3 are combined to each other with each spiral part 2a or 3a being shifted by half pitch and with the axial line L thereof being matched to each other. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、回路基板検査装置に使用されて検査対象体に接触させられる電気的検査用のプローブ、およびそのプローブを備えたプローブユニットに関するものである。   The present invention relates to an electrical inspection probe used in a circuit board inspection apparatus and brought into contact with an inspection object, and a probe unit including the probe.

この種のプローブとして、下記特許文献1に開示された2つのプローブ針を備えたプローブ装置(以下、「プローブ」ともいう)が知られている。このプローブは、弾性的に伸縮可能ならせん形状部を有する第1のプローブ針と、第1のプローブ針のらせん形状部によって取り巻かれて弾性的に伸縮可能な形状を有する第2のプローブ針とを備えて構成されている。このプローブによれば、2本のプローブ針を配置したとしても、第2のプローブ針が第1のプローブ針のらせん形状の中に位置するため、プローブの大型化を防止可能となっている。
特開2005−91087号公報(第3−5頁、第4図)
As this type of probe, a probe device (hereinafter also referred to as “probe”) including two probe needles disclosed in Patent Document 1 below is known. The probe includes a first probe needle having a helically-shaped portion that can be elastically expanded and contracted, and a second probe needle that is surrounded by the helical-shaped portion of the first probe needle and has an elastically expandable shape. It is configured with. According to this probe, even if two probe needles are arranged, the second probe needle is located in the spiral shape of the first probe needle, so that an increase in the size of the probe can be prevented.
Japanese Patent Laying-Open No. 2005-91087 (page 3-5, FIG. 4)

ところが、上記のプローブには、以下の問題点がある。すなわち、このプローブでは、一のプローブ針内に他のプローブ針が配設される構成のため、2本のプローブ針の形状が必ず相違する。したがって、このプローブには、プロービング対象体に対する接触圧を均一にするのが困難であるという問題点がある。また、他のプローブ針が内部に配設される一のプローブ針の外径の更なる小径化が困難であり、その結果としてプローブの更なる小形化が困難であるという問題点も存在している。   However, the above probe has the following problems. That is, in this probe, since the other probe needles are arranged in one probe needle, the shapes of the two probe needles are always different. Therefore, this probe has a problem that it is difficult to make the contact pressure to the probing object uniform. In addition, it is difficult to further reduce the outer diameter of one probe needle in which another probe needle is disposed, and as a result, it is difficult to further reduce the probe size. Yes.

本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、接触圧を均一にしつつ、更なる小形化を図り得るプローブおよびプローブユニットを提供することを主目的とする。   The present invention has been made in view of such problems, and a main object of the present invention is to provide a probe and a probe unit that can be further miniaturized while making the contact pressure uniform.

上記目的を達成すべく請求項1記載のプローブは、同径かつ同一ピッチに形成された螺旋部、当該螺旋部の一端側に形成された第1接触部、および当該螺旋部の他端側に形成された第2接触部を有する2つのプローブ針を備え、前記第1接触部および前記第2接触部は、前記螺旋部の軸線を中心とする前記螺旋部の半径以下の範囲内に位置するように形成され、前記各螺旋部の軸線が一致し、かつ当該各螺旋部が略半ピッチずれた状態で、前記各プローブ針が組み合わされて構成されている。ここで、「略半ピッチずれた」とは、正確に半ピッチずれた位置を中心として、その前後に所定距離の範囲でずれたとしても、プローブの使用状態において各螺旋部が伸縮(伸長または縮長)したときに互いに接触しない状態を維持し得る状態でずれていることをいうものとする。   In order to achieve the above object, the probe according to claim 1 is provided with a spiral portion having the same diameter and the same pitch, a first contact portion formed on one end side of the spiral portion, and the other end side of the spiral portion. Two probe needles having a formed second contact portion are provided, and the first contact portion and the second contact portion are located within a range equal to or less than a radius of the spiral portion with the axis of the spiral portion as a center. The probe needles are combined in a state where the axes of the spiral portions coincide with each other and the spiral portions are shifted by approximately half a pitch. Here, “substantially shifted by a half pitch” means that each spiral portion expands or contracts (extends or expands) in the use state of the probe even if the position is shifted by a predetermined distance before and after the position that is accurately shifted by a half pitch. It is said that it has shifted | deviated in the state which can maintain the state which does not mutually contact when it shortens.

また、請求項2記載のプローブは、請求項1記載のプローブにおいて、前記各プローブ針は、前記各螺旋部の一部が樹脂モールドで一体的に結合されている。   Further, in the probe according to claim 2, in the probe according to claim 1, a part of each spiral portion of each probe needle is integrally coupled with a resin mold.

また、請求項3記載のプローブは、請求項1または2記載のプローブにおいて、前記各第2接触部は、前記軸線からの距離が互いに相違する位置に配設されている。   According to a third aspect of the present invention, in the probe according to the first or second aspect, each of the second contact portions is disposed at a position where the distance from the axis is different from each other.

また、請求項4記載のプローブユニットは、請求項1または2記載のプローブを複数備えると共に、厚み方向に貫通する装着孔が複数形成されると共に当該装着孔内に前記プローブが1つずつ、当該プローブの前記第1接触部が一方の面側から突出した状態で装着される板状のベースと、当該ベースの他方の面側に配設されると共に、前記装着孔に対応する部位毎に前記プローブの前記各第2接触部とそれぞれ接触する一対の電極が配設されている中継基板とを備えている。   A probe unit according to a fourth aspect includes a plurality of probes according to the first or second aspect, a plurality of mounting holes penetrating in the thickness direction, and one probe in the mounting hole. A plate-like base to be mounted in a state where the first contact portion of the probe protrudes from one side of the probe, and disposed on the other side of the base, and for each part corresponding to the mounting hole And a relay substrate on which a pair of electrodes in contact with the respective second contact portions of the probe are disposed.

また、請求項5記載のプローブユニットは、請求項3記載のプローブを複数備えると共に、厚み方向に貫通する装着孔が複数形成されると共に当該装着孔内に前記プローブが1つずつ、当該プローブの前記第1接触部が一方の面側から突出した状態で装着された板状のベースと、当該ベースの他方の面側に配設されると共に、前記装着孔に対応する部位毎に前記プローブの前記各第2接触部とそれぞれ接触する一対の電極が配設されている中継基板とを備え、前記一対の電極は、前記螺旋部の前記軸線を中心とした半径が前記各第2接触部の当該軸線からの距離に対応して規定された2つの同心円状に形成されている。   A probe unit according to claim 5 includes a plurality of probes according to claim 3, a plurality of mounting holes penetrating in the thickness direction, and one probe in each of the mounting holes. A plate-like base mounted with the first contact portion projecting from one surface side, and disposed on the other surface side of the base, and for each portion corresponding to the mounting hole, A relay substrate on which a pair of electrodes in contact with each of the second contact portions is disposed, and the pair of electrodes has a radius centered on the axis of the spiral portion of the second contact portions. It is formed in two concentric circles defined corresponding to the distance from the axis.

請求項1記載のプローブでは、2つのプローブ針の各螺旋部が同径かつ同一ピッチに形成されると共に、各螺旋部の各端部に形成された第1接触部および第2接触部が軸線を中心とする螺旋部の半径以下の範囲内に位置するように形成され、さらに各螺旋部の軸線が一致し、かつ各螺旋部が略半ピッチずれた状態で組み合わされ構成されている。したがって、このプローブによれば、全体の外径をコンパクトにすることができる。また、プロービング状態において縮む(弾性変形する)各螺旋部が同じ形状であるため、各プローブ針の第1接触部がほぼ均一な接触圧でプロービング対象体に接触することができ、この結果、接触圧の不均一に起因した測定誤差を大幅に低減することができる。   In the probe according to claim 1, the spiral portions of the two probe needles are formed to have the same diameter and the same pitch, and the first contact portion and the second contact portion formed at each end of each spiral portion are axes. Are formed so as to be located within a range of the radius of the spiral portion around the center, and the axes of the spiral portions coincide with each other, and the spiral portions are combined with each other with a substantially half-pitch deviation. Therefore, according to this probe, the entire outer diameter can be made compact. In addition, since each spiral part that contracts (elastically deforms) in the probing state has the same shape, the first contact part of each probe needle can contact the probing object with a substantially uniform contact pressure. Measurement errors due to non-uniform pressure can be greatly reduced.

また、請求項2記載のプローブによれば、2つのプローブ針が樹脂モールドされて一体化されているため、各プローブ針を個別に取り付ける構成とは異なり、極めて簡単に、かつ短時間でプローブを取り付けたり、交換したりすることができる。   In addition, according to the probe of the second aspect, since the two probe needles are integrally molded by resin molding, the probe needles are extremely easily and in a short time, unlike the configuration in which each probe needle is individually attached. Can be attached or replaced.

また、請求項3記載のプローブによれば、各プローブ針の第2接触部を軸線からの距離が互いに相違するように配設したことにより、例えば、一対の電極が形成された中継基板に各プローブ針の第2接触部を接触させる場合において、その中継基板のその一対の電極のうち、軸線に近い第2接触部と接触する一の電極の形状を平面視円形または平面視円環状とし、かつ軸線から遠い第2接触部と接触する他の電極の形状を一の電極よりも大径の平面視円環状とすることで、装着孔内へのプローブの装着に際して、プローブを螺旋部の軸線を中心としてどのような状態で回転させて装着したとしても、各第2接触部を所定の電極に確実に接触させることができる。   Further, according to the probe of the third aspect, the second contact portions of the probe needles are arranged so that the distances from the axis are different from each other. When contacting the second contact portion of the probe needle, the shape of one electrode that contacts the second contact portion close to the axis of the pair of electrodes of the relay substrate is a circular shape in plan view or an annular shape in plan view, In addition, the shape of the other electrode in contact with the second contact portion far from the axis is an annular shape in plan view having a diameter larger than that of the one electrode, so that the probe can be attached to the axis of the spiral portion when mounting the probe in the mounting hole. The second contact portion can be reliably brought into contact with a predetermined electrode no matter what state is rotated around and mounted.

また、請求項4記載のプローブユニットによれば、プローブの外径がコンパクトであるため、プローブ同士間の一層のファインピッチ化を実現することができると共に、プローブユニット自体の小形化も実現することができる。   Further, according to the probe unit of the fourth aspect, since the outer diameter of the probe is compact, it is possible to realize a further fine pitch between the probes and to realize a miniaturization of the probe unit itself. Can do.

また、請求項5記載のプローブユニットによれば、プローブの外径がコンパクトであるため、プローブ同士間の一層のファインピッチ化を実現することができると共に、プローブユニット自体の小形化も実現することができる。さらに、中継基板に形成されて各プローブの第2接触部と接触する一対の電極の形状を2つの同心円状に形成したこと(軸線に近い第2接触部と接触する一の電極を平面視円形または平面視円環状に形成し、かつ軸線から遠い第2接触部と接触する他の電極の形状を一の電極よりも大径の平面視円環状に形成したこと)により、装着孔内へのプローブの装着に際して、プローブを螺旋部の軸線を中心としてどのような状態で回転させて装着したとしても、各第2接触部を所定の電極に確実に接触させることができるため、取付けや交換に要する時間を短縮することができる。   In addition, according to the probe unit of the fifth aspect, since the outer diameter of the probe is compact, it is possible to realize a further fine pitch between the probes and to realize a miniaturization of the probe unit itself. Can do. Furthermore, the shape of the pair of electrodes formed on the relay substrate and in contact with the second contact portion of each probe is formed in two concentric circles (one electrode in contact with the second contact portion close to the axis is circular in plan view) Alternatively, the shape of the other electrode that is formed in an annular shape in plan view and that is in contact with the second contact portion far from the axis is formed in an annular shape in plan view having a larger diameter than that of one electrode). When mounting the probe, no matter what state the probe is rotated around the axis of the spiral portion, the second contact portion can be reliably brought into contact with the predetermined electrode. The time required can be shortened.

以下、本発明に係るプローブおよびプローブユニットの最良の形態について、添付図面を参照して説明する。   Hereinafter, the best mode of a probe and a probe unit according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

最初に、プローブ1の構成について図2〜図4を参照して説明する。   First, the configuration of the probe 1 will be described with reference to FIGS.

プローブ1は、図2に示すように、2本のプローブ針2,3を備え、各プローブ針2,3が組み合わされて一体化して構成されている。プローブ針2は、一定の直径で、かつ一定のピッチに形成された螺旋部2a、螺旋部2aの一端側(同図では上端側)に形成された第1接触部2b、および螺旋部2aの他端側(同図では下端側)に形成された第2接触部2cを備えている。この場合、第1接触部2bは、螺旋部2aの軸線Lを中心とする螺旋部2aの半径以下の範囲内に位置するように形成(配置)されている。具体的には、本例では、図3に示すように、第1接触部2bは、軸線Lからの距離が螺旋部2aの半径と同一となる位置に形成されている。第2接触部2cも同様にして、螺旋部2aの軸線Lを中心とする螺旋部2aの半径以下の範囲内に位置するように、本例では一例として図4に示すように、軸線Lからの距離が螺旋部2aの半径と同一となる位置に形成(配置)されている。また、第1接触部2bおよび第2接触部2cは、共に、軸線Lと平行な柱状体に形成されている。   As shown in FIG. 2, the probe 1 includes two probe needles 2 and 3, and the probe needles 2 and 3 are combined and integrated. The probe needle 2 includes a spiral portion 2a having a constant diameter and a constant pitch, a first contact portion 2b formed on one end side (the upper end side in the figure) of the spiral portion 2a, and the spiral portion 2a. A second contact portion 2c formed on the other end side (lower end side in the figure) is provided. In this case, the first contact portion 2b is formed (arranged) so as to be located within a range equal to or less than the radius of the spiral portion 2a with the axis L of the spiral portion 2a as the center. Specifically, in this example, as shown in FIG. 3, the first contact portion 2b is formed at a position where the distance from the axis L is the same as the radius of the spiral portion 2a. Similarly, as shown in FIG. 4 as an example in this example, the second contact portion 2c is positioned within a range equal to or less than the radius of the spiral portion 2a centered on the axis L of the spiral portion 2a. Is formed (placed) at a position where the distance is the same as the radius of the spiral portion 2a. The first contact portion 2b and the second contact portion 2c are both formed in a columnar body parallel to the axis L.

プローブ針3は、図2〜図4に示すように、プローブ針2と同径で、かつ同一ピッチで同一長に形成された螺旋部3a、螺旋部3aの一端側(図2では上端側)に形成された第1接触部3b、および螺旋部3aの他端側(同図では下端側)に形成された第2接触部3cを備えている。この場合、第1接触部3bは、螺旋部3aの軸線Lを中心とする螺旋部3aの半径以下の範囲内に位置するように形成(配置)されている。具体的には、本例では、図3に示すように、第1接触部3bは、軸線Lからの距離が螺旋部3aの半径と同一となる位置に形成されている。第2接触部3cも同様にして、螺旋部3aの軸線Lを中心とする螺旋部3aの半径以下の範囲内に位置するように形成(配置)されている。本例では一例として図4に示すように、第2接触部3cは、螺旋部3aの他端側が螺旋部3aの内側(軸線L寄り)に折り曲げられることにより、軸線Lからの距離がプローブ針2の第2接触部2cと相違する位置に形成されている。また、第1接触部3bおよび第2接触部3cは、共に、軸線Lと平行な柱状体に形成されている。   2 to 4, the probe needle 3 has the same diameter as the probe needle 2 and the same pitch and the same length as one end of the spiral portion 3a (upper end side in FIG. 2). And a second contact portion 3c formed on the other end side (lower end side in the figure) of the spiral portion 3a. In this case, the first contact portion 3b is formed (arranged) so as to be located within a range equal to or less than the radius of the spiral portion 3a with the axis L of the spiral portion 3a as the center. Specifically, in this example, as shown in FIG. 3, the first contact portion 3b is formed at a position where the distance from the axis L is the same as the radius of the spiral portion 3a. Similarly, the second contact portion 3c is formed (arranged) so as to be located within a range equal to or less than the radius of the spiral portion 3a centered on the axis L of the spiral portion 3a. In this example, as shown in FIG. 4 as an example, the second contact portion 3c is formed such that the other end side of the spiral portion 3a is bent toward the inside of the spiral portion 3a (close to the axis line L). The second contact portion 2c is formed at a position different from the second contact portion 2c. The first contact portion 3b and the second contact portion 3c are both formed in a columnar body parallel to the axis L.

本例では、上記のプローブ針2,3は、それぞれ1本の金属製の線材(ワイヤ)を巻回加工および曲げ加工することによって形成されている。なお、製造方法はこれに限定されず、金属製の筒体をエッチング処理することによって各プローブ針2,3を同時に形成する製造方法を採用することもできる。   In this example, the probe needles 2 and 3 are each formed by winding and bending one metal wire (wire). In addition, a manufacturing method is not limited to this, The manufacturing method which forms each probe needle | hook 2 and 3 simultaneously by etching a metal cylinder can also be employ | adopted.

プローブ1は、図2に示すように、各螺旋部2a,3aの軸線Lが一致し、かつ螺旋部2a,3aが半ピッチずれた状態(本発明における「略半ピッチずれた状態」の一例)で、すなわち螺旋部2a,3aが全体として二重螺旋状となるように上記の各プローブ針2,3が組み合わされて構成されている。このため、プローブ1では、各プローブ針2,3が軸線L方向に沿って伸縮(弾性変形)したとしても、伸縮量が所定の範囲内である限り、プローブ針2,3同士の接触が確実に回避される。さらに、プローブ1では、同図に示すように、各螺旋部2a,3aの一部(各螺旋部2a,3aの中間部)が樹脂モールドされることにより、各螺旋部2a,3aの両端部が樹脂モールド部分からはみ出した状態で、各プローブ針2,3が一体的に結合されている。本例では一例として、上記のように組み合わされた各プローブ針2,3が、螺旋部2a,3aに外嵌された剛性絶縁体である円筒体4内に樹脂材5が充填されることにより、樹脂モールドされている。   As shown in FIG. 2, the probe 1 has a state in which the axes L of the spiral portions 2a and 3a coincide with each other and the spiral portions 2a and 3a are deviated by a half pitch (an example of a "substantially deviated half pitch" in the present invention). In other words, the probe needles 2 and 3 are combined so that the spiral portions 2a and 3a have a double spiral shape as a whole. For this reason, in the probe 1, even if each probe needle 2 and 3 expands and contracts (elastically deforms) along the axis L direction, the probe needles 2 and 3 are reliably in contact with each other as long as the expansion and contraction amount is within a predetermined range. To be avoided. Furthermore, in the probe 1, as shown in the figure, a part of each spiral part 2a, 3a (intermediate part of each spiral part 2a, 3a) is resin-molded, whereby both end parts of each spiral part 2a, 3a are molded. Are protruded from the resin mold portion, and the probe needles 2 and 3 are integrally coupled. In this example, as an example, the probe needles 2 and 3 combined as described above are filled with the resin material 5 in the cylindrical body 4 which is a rigid insulator fitted on the spiral portions 2a and 3a. It is resin molded.

次に、プローブ1を備えたプローブユニット11の構成について、図1,2,5を参照して説明する。   Next, the configuration of the probe unit 11 including the probe 1 will be described with reference to FIGS.

プローブユニット11は、図1,2に示すように、複数のプローブ1、ベース12および中継基板13を備えている。ベース12は、剛性を有する絶縁板(板状のブロック体)で構成されている。また、ベース12には、厚み方向(図1,2における上下方向)に貫通する装着孔14が複数形成されている。この場合、装着孔14は、ベース12におけるプロービング対象体との対向面12a寄りの領域(「小径領域」ともいう)14aの内径が円筒体4の外径よりも小径、かつ各螺旋部2a,3aの外径よりも大径に形成され、対向面12aに対する背面12b寄りの領域(「大径領域」ともいう)14bの内径が円筒体4の外径よりも若干大径に形成されている。また、プローブ1は、上記したように2本のプローブ針2,3同士が二重螺旋状に組み合わされて構成されているため、その最大径(本例では円筒体4の外径)も非常にコンパクト(小径)に構成されている。したがって、装着孔14の大径領域14bの内径も小さくできるため、装着孔14の形成ピッチも極めて短く形成することが可能となっている。   As shown in FIGS. 1 and 2, the probe unit 11 includes a plurality of probes 1, a base 12 and a relay board 13. The base 12 is configured by a rigid insulating plate (a plate-like block body). The base 12 is formed with a plurality of mounting holes 14 penetrating in the thickness direction (vertical direction in FIGS. 1 and 2). In this case, the mounting hole 14 has an inner diameter of a region (also referred to as “small-diameter region”) 14a near the surface 12a facing the probing object in the base 12 smaller than the outer diameter of the cylindrical body 4, and each spiral portion 2a, The outer diameter of the cylindrical body 4 is formed to be slightly larger than the outer diameter of the cylindrical body 4, and the inner diameter of a region 14 b near the back surface 12 b with respect to the opposing surface 12 a (also referred to as “large diameter region”) 14 b is formed. . Further, since the probe 1 is configured by combining the two probe needles 2 and 3 in a double spiral shape as described above, the maximum diameter (in this example, the outer diameter of the cylindrical body 4) is also extremely high. It is configured to be compact (small diameter). Therefore, since the inner diameter of the large-diameter region 14b of the mounting hole 14 can be reduced, the formation pitch of the mounting holes 14 can be formed extremely short.

プローブ1は、各装着孔14内に1つずつ、装着孔14の大径領域14bに円筒体4が位置し、かつ装着孔14の小径領域14aに各螺旋部2a,3aにおける第1接触部2b,3bの形成側が位置した状態で、かつ第1接触部2b,3bがベース12の対向面12aから突出した状態(突出長は同一)で装着されている。この場合、後述するようにベース12の背面12b側に取り付けられる中継基板13により、各装着孔14における大径領域14b側の開口部が閉塞されるが、各プローブ1は、大径領域14b側に位置する各螺旋部2a,3a(以下、「螺旋部2a,3aの後端部」ともいう)が押し縮められた状態(弾性変形した状態)となるように、つまり、図2に示すように、円筒体4の端部(第1接触部2b,3b側の端部)が装着孔14における小径領域14aと大径領域14bとの境界部分に形成された段差12cに当接し、かつ第2接触部2c,3cの先端(同図中の下端)が後述する各電極15,16に当接した状態で、装着孔14内に装着されている。また、このように中継基板13によって各装着孔14における大径領域14b側の開口部が閉塞された状態では、円筒体4の端部が段差12cに当接する構成となっているため、装着孔14からのプローブ1の抜脱が防止されている。   In the probe 1, the cylindrical body 4 is positioned in the large diameter region 14 b of the mounting hole 14, one in each mounting hole 14, and the first contact portion in each of the spiral portions 2 a and 3 a is in the small diameter region 14 a of the mounting hole 14. It is mounted in a state in which the formation side of 2b and 3b is located and the first contact portions 2b and 3b protrude from the facing surface 12a of the base 12 (the protrusion length is the same). In this case, as described later, the opening on the large-diameter region 14b side in each mounting hole 14 is closed by the relay substrate 13 attached to the back surface 12b side of the base 12, but each probe 1 is on the large-diameter region 14b side. 2 so that the spiral portions 2a and 3a (hereinafter also referred to as "rear end portions of the spiral portions 2a and 3a") located in the position are compressed (elastically deformed), that is, as shown in FIG. In addition, the end portion of the cylindrical body 4 (the end portion on the first contact portion 2b, 3b side) abuts on a step 12c formed at the boundary portion between the small diameter region 14a and the large diameter region 14b in the mounting hole 14, and The two contact portions 2c and 3c are mounted in the mounting holes 14 with their tips (lower ends in the figure) in contact with electrodes 15 and 16 described later. Further, when the opening on the large-diameter region 14b side in each mounting hole 14 is closed by the relay substrate 13 in this way, the end of the cylindrical body 4 is configured to contact the step 12c. The removal of the probe 1 from 14 is prevented.

中継基板13は、図1,2に示すように、一方の表面(同図中の上面)13aがベース12の背面12bに接した状態で、ベース12に取り付けられている。また、中継基板13の表面13aにおけるベース12の各装着孔14を臨む位置には、図5に示すように、平面視円形(同心円状の一例)の電極15と、この電極15を取り囲むように形成された平面視円環状(同心円状の他の例)の電極16とが形成されている。この場合、各電極15,16は、その中心がプローブ1における各螺旋部2a,3aの軸線Lとほぼ一致するように形成されている。また、電極15の半径は、第2接触部3cの軸線Lからの距離よりも長くなるように規定されている。また、円環状の電極16は、その内径が電極15の外径よりも大径で、かつ各螺旋部2a,3aの直径よりも小径に形成され、その外径が各螺旋部2a,3aの直径よりも大径で、かつ装着孔14における大径領域14bの内径よりも小径に形成されている。これにより、装着孔14内へのプローブ1の装着に際して、プローブ1を螺旋部2a,3aの軸線を中心としてどのような状態で回転させて装着したとしても、プローブ針2の第2接触部2cは常に電極16と接触し、プローブ針3の第2接触部3cは常に電極15と接触することが可能となっている。また、中継基板13の他方の表面13bには、各電極15,16に対応して一対の引き出し用電極17,18がプローブ1毎に形成され、スルーホール19などを介して、引き出し用電極17は電極15と接続され、引き出し用電極18は電極16と接続されている。   As shown in FIGS. 1 and 2, the relay substrate 13 is attached to the base 12 with one surface (upper surface in the drawing) 13 a in contact with the back surface 12 b of the base 12. In addition, as shown in FIG. 5, an electrode 15 having a circular shape in plan view (an example of a concentric circle) and a position surrounding the electrode 15 are provided at a position facing the mounting holes 14 of the base 12 on the surface 13 a of the relay substrate 13. An electrode 16 having a circular shape in a plan view (another example of concentric circles) is formed. In this case, the electrodes 15 and 16 are formed so that their centers substantially coincide with the axis L of the spiral portions 2 a and 3 a in the probe 1. Further, the radius of the electrode 15 is defined to be longer than the distance from the axis L of the second contact portion 3c. Further, the annular electrode 16 is formed so that its inner diameter is larger than the outer diameter of the electrode 15 and smaller than the diameter of each of the spiral portions 2a and 3a, and the outer diameter thereof is that of each of the spiral portions 2a and 3a. The diameter is larger than the diameter and smaller than the inner diameter of the large diameter region 14 b in the mounting hole 14. Thereby, when the probe 1 is mounted in the mounting hole 14, the second contact portion 2c of the probe needle 2 can be mounted regardless of the state in which the probe 1 is rotated about the axis of the spiral portions 2a and 3a. Always contacts the electrode 16, and the second contact portion 3 c of the probe needle 3 can always contact the electrode 15. A pair of lead-out electrodes 17 and 18 corresponding to the respective electrodes 15 and 16 are formed for each probe 1 on the other surface 13b of the relay substrate 13, and the lead-out electrodes 17 are connected through the through holes 19 and the like. Is connected to the electrode 15, and the extraction electrode 18 is connected to the electrode 16.

次に、プローブ1を備えたプローブユニット11の動作について説明する。   Next, the operation of the probe unit 11 including the probe 1 will be described.

このプローブユニット11が不図示のプロービング対象体に対してプロービングされた状態においては、ベース12の対向面12aから突出する各プローブ1の第1接触部2b,3bの先端は、プロービング対象体の対応する部位に接触して、中継基板13内に押し込まれた状態となっている。この場合、螺旋部2a,3aは、全体が同一径で、かつ同一長に形成されて、互いの軸線Lが一致した状態で、しかも半ピッチずらした状態で組み合わされている(二重螺旋状となっている)ため、螺旋部2a,3aにおける樹脂材5から露出している各第1接触部2b,3b寄りの部分(以下、「螺旋部2a,3aの先端部」ともいう)についても、同一径、かつ同一長(すなわちほぼ同一形状)に形成されて、二重螺旋状に組み合わされた状態となっている。したがって、プローブ1のプローブ針2,3は、各螺旋部2a,3aの先端部が同じ状態で縮む(弾性変形する)ため、それぞれの第1接触部2b,3bがプロービング対象体に対してほぼ均一な接触圧で接触する。   In a state where the probe unit 11 is probed with respect to a probing object (not shown), the tips of the first contact portions 2b and 3b of the probes 1 protruding from the facing surface 12a of the base 12 correspond to the probing object. It is in a state where it is pressed into the relay substrate 13 in contact with the part to be operated. In this case, the spiral portions 2a and 3a are formed to have the same diameter and the same length as a whole, and are combined in a state in which the axis lines L coincide with each other and are shifted by a half pitch (double spiral shape). Therefore, the portions close to the first contact portions 2b and 3b exposed from the resin material 5 in the spiral portions 2a and 3a (hereinafter also referred to as “tip portions of the spiral portions 2a and 3a”) are also included. Are formed in the same diameter and the same length (that is, substantially the same shape), and are combined in a double spiral shape. Accordingly, the probe needles 2 and 3 of the probe 1 are contracted (elastically deformed) in the same state at the tip ends of the spiral portions 2a and 3a, so that the respective first contact portions 2b and 3b are substantially in contact with the probing object. Contact with uniform contact pressure.

また、このプローブユニット11では、プロービングの繰り返しによって、プローブ1の第1接触部2b,3bが摩耗した場合には、ベース12から中継基板13を外すことにより、装着孔14内からプローブ1を簡単に取り外して交換することが可能となっている。この際に、2つのプローブ針2,3が樹脂モールドされて一体化されているため、プローブ針2,3を個別に取り付ける構成とは異なり、極めて簡単に、かつ短時間で交換することが可能となっている。   In the probe unit 11, when the first contact portions 2 b and 3 b of the probe 1 are worn due to repeated probing, the probe 1 can be easily removed from the mounting hole 14 by removing the relay substrate 13 from the base 12. It can be removed and replaced. At this time, since the two probe needles 2 and 3 are integrated by resin molding, unlike the configuration in which the probe needles 2 and 3 are individually attached, they can be exchanged extremely easily and in a short time. It has become.

このように、このプローブ1では、各プローブ針2,3の螺旋部2a,3aが同径かつ同一ピッチに形成されて、各プローブ針2,3が、螺旋部2a,3aの各軸線Lが一致し、かつ各螺旋部2a,3aが半ピッチずれた状態で組み合わされ構成されている。また、螺旋部2a,3aの各端部に形成された第1接触部2b,3bおよび第2接触部2c,3cが軸線Lを中心とする螺旋部2a,3aの半径以下の範囲内に位置するように配設されている。   Thus, in the probe 1, the spiral portions 2a and 3a of the probe needles 2 and 3 are formed with the same diameter and the same pitch, and the probe needles 2 and 3 are connected to the axes L of the spiral portions 2a and 3a. The spiral portions 2a and 3a are combined and configured so as to be shifted by a half pitch. In addition, the first contact portions 2b and 3b and the second contact portions 2c and 3c formed at the respective end portions of the spiral portions 2a and 3a are located within a range not more than the radius of the spiral portions 2a and 3a with the axis L as the center. It is arranged to do.

したがって、このプローブ1によれば、全体の外径をコンパクトにすることができる。また、プロービング状態において縮む(弾性変形する)各螺旋部2a,3aが同じ形状であるため、各プローブ針2,3の第1接触部2b,3bがほぼ均一な接触圧でプロービング対象体に接触することができ、この結果、接触圧の不均一に起因した測定誤差を大幅に低減することができる。また、このプローブ1を備えたプローブユニット11によれば、プローブ1の外径がコンパクトであるため、プローブ1同士間の一層のファインピッチ化を実現することができると共に、プローブユニット11自体の小形化も実現することができる。   Therefore, according to this probe 1, the whole outer diameter can be made compact. Further, since the spiral portions 2a and 3a that contract (elastically deform) in the probing state have the same shape, the first contact portions 2b and 3b of the probe needles 2 and 3 contact the probing object with a substantially uniform contact pressure. As a result, measurement errors due to non-uniform contact pressure can be greatly reduced. Further, according to the probe unit 11 provided with the probe 1, since the outer diameter of the probe 1 is compact, a further fine pitch between the probes 1 can be realized, and the probe unit 11 itself has a small size. Can also be realized.

また、このプローブ1およびプローブユニット11によれば、2つのプローブ針2,3が樹脂モールドされて一体化されているため、プローブ針2,3を個別に取り付ける構成とは異なり、極めて簡単に、かつ短時間でプローブ1を取り付けたり、交換することができる。   In addition, according to the probe 1 and the probe unit 11, since the two probe needles 2 and 3 are integrated by resin molding, unlike the configuration in which the probe needles 2 and 3 are individually attached, In addition, the probe 1 can be attached or exchanged in a short time.

さらに、このプローブ1およびプローブユニット11によれば、各プローブ針2,3の第2接触部2c,3cについて、軸線Lからの距離が互いに相違するように配設したことにより、各第2接触部2c,3cが接触する中継基板13の各電極15,16の形状を上記したように2つの同心円状(上記の例では、平面視円形および平面視円環状)に形成することで、装着孔14内へのプローブ1の装着に際して、プローブ1を螺旋部2a,3aの軸線を中心としてどのような状態で回転させて装着したとしても、第2接触部2cを電極16に確実に接触させることができると共に、第2接触部3cを電極15に確実に接触させることができる。   Furthermore, according to the probe 1 and the probe unit 11, the second contact portions 2 c and 3 c of the probe needles 2 and 3 are arranged so that the distances from the axis L are different from each other, whereby each second contact By forming the electrodes 15 and 16 of the relay substrate 13 in contact with the portions 2c and 3c into two concentric circles (in the above example, circular in plan view and circular in plan view) as described above, the mounting hole When the probe 1 is mounted in 14, the second contact portion 2 c is surely brought into contact with the electrode 16 no matter what state the probe 1 is rotated around the axis of the spiral portions 2 a and 3 a. In addition, the second contact portion 3c can be reliably brought into contact with the electrode 15.

なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、上記のプローブ1では、各プローブ針2,3に円筒体4を外嵌してその内側に樹脂材5を充填して樹脂モールドすることにより、プローブ1における装着孔14の大径領域14bに収容される部位の外径を大径領域14bの内径に合わせた寸法に正確に規定して、大径領域14b内での円筒体4の軸ぶれを低減して、これにより、各プローブ針2,3の針先についての装着孔14の径方向へのずれを低減しているが、樹脂材5だけで、各螺旋部2a,3aの軸線Lと同軸となる円柱体を形成して、各プローブ針2,3を樹脂モールドすることもできる。   In addition, this invention is not limited to said structure. For example, in the probe 1 described above, the cylindrical body 4 is externally fitted to the probe needles 2 and 3, and the resin material 5 is filled inside and resin molded, so that the large diameter region 14 b of the mounting hole 14 in the probe 1 is obtained. The outer diameter of the portion accommodated in the large diameter region 14b is precisely defined to the size matched to the inner diameter of the large diameter region 14b, and the axial deflection of the cylindrical body 4 in the large diameter region 14b is reduced, whereby each probe needle Although the displacement in the radial direction of the mounting hole 14 with respect to the second and third needle tips is reduced, a cylindrical body that is coaxial with the axis L of each of the spiral portions 2a and 3a is formed only by the resin material 5, Each probe needle 2 and 3 can also be resin-molded.

また、上記のプローブ1では、各プローブ針2,3のほぼ全体を螺旋部2a,3aとし、その一部を樹脂モールドする構成としているが、プロービング状態において弾性変形する部分は、上記したように各螺旋部2a,3aの先端部のみであるため、各プローブ針2,3におけるこの先端部を少なくとも螺旋状に形成して、互いを二重螺旋状に組み合わせる構成であればよい。また、プロービング対象体や、中継基板13の各電極15,16への接触をより良好に行えるようにすべく、螺旋部2a,3aの各端部に、第1接触部2b,3bおよび第2接触部2c,3cを配設する構成を採用しているが、螺旋部2a,3aの端部を直接、プロービング対象体や各電極15,16に接触させる構成を採用することもできる。この構成では、第1接触部2b,3bや第2接触部2c,3cを省略することができるため、各プローブ針2,3、ひいてはプローブ1の構成を簡略化することができる。   Further, in the probe 1 described above, the probe needles 2 and 3 are almost entirely made of the spiral portions 2a and 3a and a part thereof is resin-molded. However, the portion that is elastically deformed in the probing state is as described above. Since only the tip portions of the spiral portions 2a and 3a are provided, the tip portions of the probe needles 2 and 3 may be formed at least in a spiral shape and combined with each other in a double spiral shape. Further, the first contact portions 2b and 3b and the second contact portions are provided at the end portions of the spiral portions 2a and 3a so that the probing object and the electrodes 15 and 16 of the relay substrate 13 can be contacted more favorably. Although the structure which arrange | positions the contact parts 2c and 3c is employ | adopted, the structure which makes the probing object and each electrode 15 and 16 contact the edge part of the spiral parts 2a and 3a directly is also employable. In this configuration, since the first contact portions 2b and 3b and the second contact portions 2c and 3c can be omitted, the configuration of the probe needles 2 and 3 and hence the probe 1 can be simplified.

また、図示はしないが、円筒体4の外周面(円筒体4を用いずに樹脂材5のみでプローブ針2,3を一体化する場合には、円筒状に形成された樹脂材5の外周面)に螺旋部2a,3aの軸線L方向に沿った凸部を形成すると共に、装着孔14の大径領域14bの内面にこの凸部と嵌合する凹溝を形成する構成(なお、円筒体4などに凹溝を形成し、大径領域14bの内面に凸部を設ける構成でもよい)として、プローブ1が、凸部と凹溝との嵌合により、螺旋部2a,3aの弾性変形を可能としつつ、軸線Lを中心とした回転が不能な状態で装着孔14に装着される構成を採用することもできる。この構成では、中継基板13の一方の表面13aにおける第2接触部2c,3cと当接する部位にのみ電極15,16を設ければよいため、電極15,16を同心円状に限らず、種々の形状に形成することができる。   Although not shown, the outer peripheral surface of the cylindrical body 4 (in the case where the probe needles 2 and 3 are integrated only by the resin material 5 without using the cylindrical body 4, the outer periphery of the cylindrical resin material 5 is formed. A configuration in which a convex portion along the axis L direction of the spiral portions 2a and 3a is formed on the surface), and a concave groove that fits the convex portion is formed on the inner surface of the large-diameter region 14b of the mounting hole 14 (in addition, a cylinder) The probe 1 may be elastically deformed in the spiral portions 2a and 3a by fitting the convex portion and the concave groove to form a concave groove in the body 4 or the like and providing a convex portion on the inner surface of the large-diameter region 14b. It is also possible to adopt a configuration in which the mounting hole 14 is mounted in a state in which the rotation about the axis L is impossible. In this configuration, since the electrodes 15 and 16 need only be provided on the portion of the one surface 13a of the relay substrate 13 that contacts the second contact portions 2c and 3c, the electrodes 15 and 16 are not limited to concentric circles, It can be formed into a shape.

また、プローブ1の本数が少ない構成のプローブユニット11では、1つのプローブ1の取付けに要する時間が長くなったとしても、大きな問題とならない場合がある。このため、このようなプローブユニット11では、樹脂モールドによる2本のプローブ針2,3の一体化を行わずに、各プローブ針2,3をそれぞれ中継基板13の対応する電極16,15に固定する構成を採用することもできる。この構成では、中継基板13に形成する各電極15,16の形状は、上記した平面視円形や平面視円環状に限定されず、種々の形状とすることができる。また、装着孔14については、大径領域14bは必ずしも必要なく、小径領域14aをベース12の厚み方向全体に亘って形成する構成とすることができ、ベース12の構造の簡略化を図ることができる。   Further, in the probe unit 11 having a configuration in which the number of the probes 1 is small, even if the time required for mounting one probe 1 is increased, there may be no case that a big problem occurs. Therefore, in such a probe unit 11, the probe needles 2 and 3 are fixed to the corresponding electrodes 16 and 15 of the relay substrate 13 without integrating the two probe needles 2 and 3 by resin molding. It is also possible to adopt a configuration that does this. In this configuration, the shapes of the electrodes 15 and 16 formed on the relay substrate 13 are not limited to the above-described circular shape in a plan view or an annular shape in a plan view, and can be various shapes. In addition, the mounting hole 14 does not necessarily require the large-diameter region 14b, and the small-diameter region 14a can be formed over the entire thickness direction of the base 12, thereby simplifying the structure of the base 12. it can.

プローブユニット11の斜視図である。2 is a perspective view of a probe unit 11. FIG. ベース12の1つの装着孔14、この装着孔14に装着されたプローブ1、および中継基板13を、プローブ針2,3を除いてその螺旋部2a,3aの軸線Lに沿って切断した断面図である。Sectional drawing which cut | disconnected one mounting hole 14 of the base 12, the probe 1 mounted in this mounting hole 14, and the relay board | substrate 13 along the axis L of the spiral parts 2a and 3a except the probe needles 2 and 3. It is. 第1接触部2b,3b側から見たプローブ1の平面図である。It is the top view of the probe 1 seen from the 1st contact part 2b, 3b side. 第2接触部2c,3c側から見たプローブ1の底面図である。It is the bottom view of the probe 1 seen from the 2nd contact part 2c, 3c side. 中継基板13に形成された各電極15,16の構成を説明するための拡大平面図である。4 is an enlarged plan view for explaining the configuration of electrodes 15 and 16 formed on a relay substrate 13; FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1 プローブ
2,3 プローブ針
2a,3a 螺旋部
2b,3b 第1接触部
2c,3c 第2接触部
4 円筒体
5 樹脂材
11 プローブユニット
12 ベース
13 中継基板
14 装着孔
11 プローブユニット
L 軸線
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Probe 2, 3 Probe needle 2a, 3a Spiral part 2b, 3b 1st contact part 2c, 3c 2nd contact part 4 Cylindrical body 5 Resin material 11 Probe unit 12 Base 13 Relay board 14 Mounting hole 11 Probe unit L Axis line

Claims (5)

同径かつ同一ピッチに形成された螺旋部、当該螺旋部の一端側に形成された第1接触部、および当該螺旋部の他端側に形成された第2接触部を有する2つのプローブ針を備え、
前記第1接触部および前記第2接触部は、前記螺旋部の軸線を中心とする前記螺旋部の半径以下の範囲内に位置するように形成され、
前記各螺旋部の軸線が一致し、かつ当該各螺旋部が略半ピッチずれた状態で、前記各プローブ針が組み合わされて構成されているプローブ。
Two probe needles having a spiral portion formed with the same diameter and the same pitch, a first contact portion formed on one end side of the spiral portion, and a second contact portion formed on the other end side of the spiral portion Prepared,
The first contact portion and the second contact portion are formed so as to be located within a range not more than a radius of the spiral portion around the axis of the spiral portion,
A probe configured by combining the probe needles in a state in which the axes of the spiral portions coincide with each other and the spiral portions are shifted by approximately a half pitch.
前記各プローブ針は、前記各螺旋部の一部が樹脂モールドで一体的に結合されている請求項1記載のプローブ。   2. The probe according to claim 1, wherein each of the probe needles has a part of each of the spiral portions integrally coupled with a resin mold. 前記各第2接触部は、前記軸線からの距離が互いに相違する位置に配設されている請求項1または2記載のプローブ。   The probe according to claim 1 or 2, wherein each of the second contact portions is disposed at a position where distances from the axis are different from each other. 請求項1または2記載のプローブを複数備えると共に、
厚み方向に貫通する装着孔が複数形成されると共に当該装着孔内に前記プローブが1つずつ、当該プローブの前記第1接触部が一方の面側から突出した状態で装着される板状のベースと、
当該ベースの他方の面側に配設されると共に、前記装着孔に対応する部位毎に前記プローブの前記各第2接触部とそれぞれ接触する一対の電極が配設されている中継基板とを備えているプローブユニット。
A plurality of probes according to claim 1 or 2 are provided,
A plate-like base on which a plurality of mounting holes penetrating in the thickness direction are formed, the probes are mounted in the mounting holes one by one, and the first contact portion of the probe protrudes from one surface side When,
A relay substrate disposed on the other surface side of the base and provided with a pair of electrodes that are in contact with the second contact portions of the probe for each portion corresponding to the mounting hole. Probe unit.
請求項3記載のプローブを複数備えると共に、
厚み方向に貫通する装着孔が複数形成されると共に当該装着孔内に前記プローブが1つずつ、当該プローブの前記第1接触部が一方の面側から突出した状態で装着された板状のベースと、
当該ベースの他方の面側に配設されると共に、前記装着孔に対応する部位毎に前記プローブの前記各第2接触部とそれぞれ接触する一対の電極が配設されている中継基板とを備え、
前記一対の電極は、前記螺旋部の前記軸線を中心とした半径が前記各第2接触部の当該軸線からの距離に対応して規定された2つの同心円状に形成されているプローブユニット。
A plurality of probes according to claim 3 are provided,
A plate-like base in which a plurality of mounting holes penetrating in the thickness direction are formed, the probes are mounted in the mounting holes one by one, and the first contact portion of the probe protrudes from one surface side When,
A relay substrate disposed on the other surface side of the base and provided with a pair of electrodes that are in contact with the second contact portions of the probe for each portion corresponding to the mounting hole. ,
The pair of electrodes is a probe unit formed in two concentric circles in which the radius of the spiral portion with respect to the axis is defined in accordance with the distance from the axis of each second contact portion.
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