JP2010048729A - Probe and probe unit - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、回路基板検査装置に使用されて検査対象体に接触させられる電気的検査用のプローブ、およびそのプローブを備えたプローブユニットに関するものである。 The present invention relates to an electrical inspection probe used in a circuit board inspection apparatus and brought into contact with an inspection object, and a probe unit including the probe.
この種のプローブとして、下記特許文献1に開示された2つのプローブ針を備えたプローブ装置(以下、「プローブ」ともいう)が知られている。このプローブは、弾性的に伸縮可能ならせん形状部を有する第1のプローブ針と、第1のプローブ針のらせん形状部によって取り巻かれて弾性的に伸縮可能な形状を有する第2のプローブ針とを備えて構成されている。このプローブによれば、2本のプローブ針を配置したとしても、第2のプローブ針が第1のプローブ針のらせん形状の中に位置するため、プローブの大型化を防止可能となっている。
ところが、上記のプローブには、以下の問題点がある。すなわち、このプローブでは、一のプローブ針内に他のプローブ針が配設される構成のため、2本のプローブ針の形状が必ず相違する。したがって、このプローブには、プロービング対象体に対する接触圧を均一にするのが困難であるという問題点がある。また、他のプローブ針が内部に配設される一のプローブ針の外径の更なる小径化が困難であり、その結果としてプローブの更なる小形化が困難であるという問題点も存在している。 However, the above probe has the following problems. That is, in this probe, since the other probe needles are arranged in one probe needle, the shapes of the two probe needles are always different. Therefore, this probe has a problem that it is difficult to make the contact pressure to the probing object uniform. In addition, it is difficult to further reduce the outer diameter of one probe needle in which another probe needle is disposed, and as a result, it is difficult to further reduce the probe size. Yes.
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、接触圧を均一にしつつ、更なる小形化を図り得るプローブおよびプローブユニットを提供することを主目的とする。 The present invention has been made in view of such problems, and a main object of the present invention is to provide a probe and a probe unit that can be further miniaturized while making the contact pressure uniform.
上記目的を達成すべく請求項1記載のプローブは、同径かつ同一ピッチに形成された螺旋部、当該螺旋部の一端側に形成された第1接触部、および当該螺旋部の他端側に形成された第2接触部を有する2つのプローブ針を備え、前記第1接触部および前記第2接触部は、前記螺旋部の軸線を中心とする前記螺旋部の半径以下の範囲内に位置するように形成され、前記各螺旋部の軸線が一致し、かつ当該各螺旋部が略半ピッチずれた状態で、前記各プローブ針が組み合わされて構成されている。ここで、「略半ピッチずれた」とは、正確に半ピッチずれた位置を中心として、その前後に所定距離の範囲でずれたとしても、プローブの使用状態において各螺旋部が伸縮(伸長または縮長)したときに互いに接触しない状態を維持し得る状態でずれていることをいうものとする。
In order to achieve the above object, the probe according to
また、請求項2記載のプローブは、請求項1記載のプローブにおいて、前記各プローブ針は、前記各螺旋部の一部が樹脂モールドで一体的に結合されている。
Further, in the probe according to
また、請求項3記載のプローブは、請求項1または2記載のプローブにおいて、前記各第2接触部は、前記軸線からの距離が互いに相違する位置に配設されている。 According to a third aspect of the present invention, in the probe according to the first or second aspect, each of the second contact portions is disposed at a position where the distance from the axis is different from each other.
また、請求項4記載のプローブユニットは、請求項1または2記載のプローブを複数備えると共に、厚み方向に貫通する装着孔が複数形成されると共に当該装着孔内に前記プローブが1つずつ、当該プローブの前記第1接触部が一方の面側から突出した状態で装着される板状のベースと、当該ベースの他方の面側に配設されると共に、前記装着孔に対応する部位毎に前記プローブの前記各第2接触部とそれぞれ接触する一対の電極が配設されている中継基板とを備えている。 A probe unit according to a fourth aspect includes a plurality of probes according to the first or second aspect, a plurality of mounting holes penetrating in the thickness direction, and one probe in the mounting hole. A plate-like base to be mounted in a state where the first contact portion of the probe protrudes from one side of the probe, and disposed on the other side of the base, and for each part corresponding to the mounting hole And a relay substrate on which a pair of electrodes in contact with the respective second contact portions of the probe are disposed.
また、請求項5記載のプローブユニットは、請求項3記載のプローブを複数備えると共に、厚み方向に貫通する装着孔が複数形成されると共に当該装着孔内に前記プローブが1つずつ、当該プローブの前記第1接触部が一方の面側から突出した状態で装着された板状のベースと、当該ベースの他方の面側に配設されると共に、前記装着孔に対応する部位毎に前記プローブの前記各第2接触部とそれぞれ接触する一対の電極が配設されている中継基板とを備え、前記一対の電極は、前記螺旋部の前記軸線を中心とした半径が前記各第2接触部の当該軸線からの距離に対応して規定された2つの同心円状に形成されている。
A probe unit according to claim 5 includes a plurality of probes according to
請求項1記載のプローブでは、2つのプローブ針の各螺旋部が同径かつ同一ピッチに形成されると共に、各螺旋部の各端部に形成された第1接触部および第2接触部が軸線を中心とする螺旋部の半径以下の範囲内に位置するように形成され、さらに各螺旋部の軸線が一致し、かつ各螺旋部が略半ピッチずれた状態で組み合わされ構成されている。したがって、このプローブによれば、全体の外径をコンパクトにすることができる。また、プロービング状態において縮む(弾性変形する)各螺旋部が同じ形状であるため、各プローブ針の第1接触部がほぼ均一な接触圧でプロービング対象体に接触することができ、この結果、接触圧の不均一に起因した測定誤差を大幅に低減することができる。
In the probe according to
また、請求項2記載のプローブによれば、2つのプローブ針が樹脂モールドされて一体化されているため、各プローブ針を個別に取り付ける構成とは異なり、極めて簡単に、かつ短時間でプローブを取り付けたり、交換したりすることができる。 In addition, according to the probe of the second aspect, since the two probe needles are integrally molded by resin molding, the probe needles are extremely easily and in a short time, unlike the configuration in which each probe needle is individually attached. Can be attached or replaced.
また、請求項3記載のプローブによれば、各プローブ針の第2接触部を軸線からの距離が互いに相違するように配設したことにより、例えば、一対の電極が形成された中継基板に各プローブ針の第2接触部を接触させる場合において、その中継基板のその一対の電極のうち、軸線に近い第2接触部と接触する一の電極の形状を平面視円形または平面視円環状とし、かつ軸線から遠い第2接触部と接触する他の電極の形状を一の電極よりも大径の平面視円環状とすることで、装着孔内へのプローブの装着に際して、プローブを螺旋部の軸線を中心としてどのような状態で回転させて装着したとしても、各第2接触部を所定の電極に確実に接触させることができる。 Further, according to the probe of the third aspect, the second contact portions of the probe needles are arranged so that the distances from the axis are different from each other. When contacting the second contact portion of the probe needle, the shape of one electrode that contacts the second contact portion close to the axis of the pair of electrodes of the relay substrate is a circular shape in plan view or an annular shape in plan view, In addition, the shape of the other electrode in contact with the second contact portion far from the axis is an annular shape in plan view having a diameter larger than that of the one electrode, so that the probe can be attached to the axis of the spiral portion when mounting the probe in the mounting hole. The second contact portion can be reliably brought into contact with a predetermined electrode no matter what state is rotated around and mounted.
また、請求項4記載のプローブユニットによれば、プローブの外径がコンパクトであるため、プローブ同士間の一層のファインピッチ化を実現することができると共に、プローブユニット自体の小形化も実現することができる。 Further, according to the probe unit of the fourth aspect, since the outer diameter of the probe is compact, it is possible to realize a further fine pitch between the probes and to realize a miniaturization of the probe unit itself. Can do.
また、請求項5記載のプローブユニットによれば、プローブの外径がコンパクトであるため、プローブ同士間の一層のファインピッチ化を実現することができると共に、プローブユニット自体の小形化も実現することができる。さらに、中継基板に形成されて各プローブの第2接触部と接触する一対の電極の形状を2つの同心円状に形成したこと(軸線に近い第2接触部と接触する一の電極を平面視円形または平面視円環状に形成し、かつ軸線から遠い第2接触部と接触する他の電極の形状を一の電極よりも大径の平面視円環状に形成したこと)により、装着孔内へのプローブの装着に際して、プローブを螺旋部の軸線を中心としてどのような状態で回転させて装着したとしても、各第2接触部を所定の電極に確実に接触させることができるため、取付けや交換に要する時間を短縮することができる。 In addition, according to the probe unit of the fifth aspect, since the outer diameter of the probe is compact, it is possible to realize a further fine pitch between the probes and to realize a miniaturization of the probe unit itself. Can do. Furthermore, the shape of the pair of electrodes formed on the relay substrate and in contact with the second contact portion of each probe is formed in two concentric circles (one electrode in contact with the second contact portion close to the axis is circular in plan view) Alternatively, the shape of the other electrode that is formed in an annular shape in plan view and that is in contact with the second contact portion far from the axis is formed in an annular shape in plan view having a larger diameter than that of one electrode). When mounting the probe, no matter what state the probe is rotated around the axis of the spiral portion, the second contact portion can be reliably brought into contact with the predetermined electrode. The time required can be shortened.
以下、本発明に係るプローブおよびプローブユニットの最良の形態について、添付図面を参照して説明する。 Hereinafter, the best mode of a probe and a probe unit according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
最初に、プローブ1の構成について図2〜図4を参照して説明する。
First, the configuration of the
プローブ1は、図2に示すように、2本のプローブ針2,3を備え、各プローブ針2,3が組み合わされて一体化して構成されている。プローブ針2は、一定の直径で、かつ一定のピッチに形成された螺旋部2a、螺旋部2aの一端側(同図では上端側)に形成された第1接触部2b、および螺旋部2aの他端側(同図では下端側)に形成された第2接触部2cを備えている。この場合、第1接触部2bは、螺旋部2aの軸線Lを中心とする螺旋部2aの半径以下の範囲内に位置するように形成(配置)されている。具体的には、本例では、図3に示すように、第1接触部2bは、軸線Lからの距離が螺旋部2aの半径と同一となる位置に形成されている。第2接触部2cも同様にして、螺旋部2aの軸線Lを中心とする螺旋部2aの半径以下の範囲内に位置するように、本例では一例として図4に示すように、軸線Lからの距離が螺旋部2aの半径と同一となる位置に形成(配置)されている。また、第1接触部2bおよび第2接触部2cは、共に、軸線Lと平行な柱状体に形成されている。
As shown in FIG. 2, the
プローブ針3は、図2〜図4に示すように、プローブ針2と同径で、かつ同一ピッチで同一長に形成された螺旋部3a、螺旋部3aの一端側(図2では上端側)に形成された第1接触部3b、および螺旋部3aの他端側(同図では下端側)に形成された第2接触部3cを備えている。この場合、第1接触部3bは、螺旋部3aの軸線Lを中心とする螺旋部3aの半径以下の範囲内に位置するように形成(配置)されている。具体的には、本例では、図3に示すように、第1接触部3bは、軸線Lからの距離が螺旋部3aの半径と同一となる位置に形成されている。第2接触部3cも同様にして、螺旋部3aの軸線Lを中心とする螺旋部3aの半径以下の範囲内に位置するように形成(配置)されている。本例では一例として図4に示すように、第2接触部3cは、螺旋部3aの他端側が螺旋部3aの内側(軸線L寄り)に折り曲げられることにより、軸線Lからの距離がプローブ針2の第2接触部2cと相違する位置に形成されている。また、第1接触部3bおよび第2接触部3cは、共に、軸線Lと平行な柱状体に形成されている。
2 to 4, the
本例では、上記のプローブ針2,3は、それぞれ1本の金属製の線材(ワイヤ)を巻回加工および曲げ加工することによって形成されている。なお、製造方法はこれに限定されず、金属製の筒体をエッチング処理することによって各プローブ針2,3を同時に形成する製造方法を採用することもできる。
In this example, the
プローブ1は、図2に示すように、各螺旋部2a,3aの軸線Lが一致し、かつ螺旋部2a,3aが半ピッチずれた状態(本発明における「略半ピッチずれた状態」の一例)で、すなわち螺旋部2a,3aが全体として二重螺旋状となるように上記の各プローブ針2,3が組み合わされて構成されている。このため、プローブ1では、各プローブ針2,3が軸線L方向に沿って伸縮(弾性変形)したとしても、伸縮量が所定の範囲内である限り、プローブ針2,3同士の接触が確実に回避される。さらに、プローブ1では、同図に示すように、各螺旋部2a,3aの一部(各螺旋部2a,3aの中間部)が樹脂モールドされることにより、各螺旋部2a,3aの両端部が樹脂モールド部分からはみ出した状態で、各プローブ針2,3が一体的に結合されている。本例では一例として、上記のように組み合わされた各プローブ針2,3が、螺旋部2a,3aに外嵌された剛性絶縁体である円筒体4内に樹脂材5が充填されることにより、樹脂モールドされている。
As shown in FIG. 2, the
次に、プローブ1を備えたプローブユニット11の構成について、図1,2,5を参照して説明する。
Next, the configuration of the
プローブユニット11は、図1,2に示すように、複数のプローブ1、ベース12および中継基板13を備えている。ベース12は、剛性を有する絶縁板(板状のブロック体)で構成されている。また、ベース12には、厚み方向(図1,2における上下方向)に貫通する装着孔14が複数形成されている。この場合、装着孔14は、ベース12におけるプロービング対象体との対向面12a寄りの領域(「小径領域」ともいう)14aの内径が円筒体4の外径よりも小径、かつ各螺旋部2a,3aの外径よりも大径に形成され、対向面12aに対する背面12b寄りの領域(「大径領域」ともいう)14bの内径が円筒体4の外径よりも若干大径に形成されている。また、プローブ1は、上記したように2本のプローブ針2,3同士が二重螺旋状に組み合わされて構成されているため、その最大径(本例では円筒体4の外径)も非常にコンパクト(小径)に構成されている。したがって、装着孔14の大径領域14bの内径も小さくできるため、装着孔14の形成ピッチも極めて短く形成することが可能となっている。
As shown in FIGS. 1 and 2, the
プローブ1は、各装着孔14内に1つずつ、装着孔14の大径領域14bに円筒体4が位置し、かつ装着孔14の小径領域14aに各螺旋部2a,3aにおける第1接触部2b,3bの形成側が位置した状態で、かつ第1接触部2b,3bがベース12の対向面12aから突出した状態(突出長は同一)で装着されている。この場合、後述するようにベース12の背面12b側に取り付けられる中継基板13により、各装着孔14における大径領域14b側の開口部が閉塞されるが、各プローブ1は、大径領域14b側に位置する各螺旋部2a,3a(以下、「螺旋部2a,3aの後端部」ともいう)が押し縮められた状態(弾性変形した状態)となるように、つまり、図2に示すように、円筒体4の端部(第1接触部2b,3b側の端部)が装着孔14における小径領域14aと大径領域14bとの境界部分に形成された段差12cに当接し、かつ第2接触部2c,3cの先端(同図中の下端)が後述する各電極15,16に当接した状態で、装着孔14内に装着されている。また、このように中継基板13によって各装着孔14における大径領域14b側の開口部が閉塞された状態では、円筒体4の端部が段差12cに当接する構成となっているため、装着孔14からのプローブ1の抜脱が防止されている。
In the
中継基板13は、図1,2に示すように、一方の表面(同図中の上面)13aがベース12の背面12bに接した状態で、ベース12に取り付けられている。また、中継基板13の表面13aにおけるベース12の各装着孔14を臨む位置には、図5に示すように、平面視円形(同心円状の一例)の電極15と、この電極15を取り囲むように形成された平面視円環状(同心円状の他の例)の電極16とが形成されている。この場合、各電極15,16は、その中心がプローブ1における各螺旋部2a,3aの軸線Lとほぼ一致するように形成されている。また、電極15の半径は、第2接触部3cの軸線Lからの距離よりも長くなるように規定されている。また、円環状の電極16は、その内径が電極15の外径よりも大径で、かつ各螺旋部2a,3aの直径よりも小径に形成され、その外径が各螺旋部2a,3aの直径よりも大径で、かつ装着孔14における大径領域14bの内径よりも小径に形成されている。これにより、装着孔14内へのプローブ1の装着に際して、プローブ1を螺旋部2a,3aの軸線を中心としてどのような状態で回転させて装着したとしても、プローブ針2の第2接触部2cは常に電極16と接触し、プローブ針3の第2接触部3cは常に電極15と接触することが可能となっている。また、中継基板13の他方の表面13bには、各電極15,16に対応して一対の引き出し用電極17,18がプローブ1毎に形成され、スルーホール19などを介して、引き出し用電極17は電極15と接続され、引き出し用電極18は電極16と接続されている。
As shown in FIGS. 1 and 2, the
次に、プローブ1を備えたプローブユニット11の動作について説明する。
Next, the operation of the
このプローブユニット11が不図示のプロービング対象体に対してプロービングされた状態においては、ベース12の対向面12aから突出する各プローブ1の第1接触部2b,3bの先端は、プロービング対象体の対応する部位に接触して、中継基板13内に押し込まれた状態となっている。この場合、螺旋部2a,3aは、全体が同一径で、かつ同一長に形成されて、互いの軸線Lが一致した状態で、しかも半ピッチずらした状態で組み合わされている(二重螺旋状となっている)ため、螺旋部2a,3aにおける樹脂材5から露出している各第1接触部2b,3b寄りの部分(以下、「螺旋部2a,3aの先端部」ともいう)についても、同一径、かつ同一長(すなわちほぼ同一形状)に形成されて、二重螺旋状に組み合わされた状態となっている。したがって、プローブ1のプローブ針2,3は、各螺旋部2a,3aの先端部が同じ状態で縮む(弾性変形する)ため、それぞれの第1接触部2b,3bがプロービング対象体に対してほぼ均一な接触圧で接触する。
In a state where the
また、このプローブユニット11では、プロービングの繰り返しによって、プローブ1の第1接触部2b,3bが摩耗した場合には、ベース12から中継基板13を外すことにより、装着孔14内からプローブ1を簡単に取り外して交換することが可能となっている。この際に、2つのプローブ針2,3が樹脂モールドされて一体化されているため、プローブ針2,3を個別に取り付ける構成とは異なり、極めて簡単に、かつ短時間で交換することが可能となっている。
In the
このように、このプローブ1では、各プローブ針2,3の螺旋部2a,3aが同径かつ同一ピッチに形成されて、各プローブ針2,3が、螺旋部2a,3aの各軸線Lが一致し、かつ各螺旋部2a,3aが半ピッチずれた状態で組み合わされ構成されている。また、螺旋部2a,3aの各端部に形成された第1接触部2b,3bおよび第2接触部2c,3cが軸線Lを中心とする螺旋部2a,3aの半径以下の範囲内に位置するように配設されている。
Thus, in the
したがって、このプローブ1によれば、全体の外径をコンパクトにすることができる。また、プロービング状態において縮む(弾性変形する)各螺旋部2a,3aが同じ形状であるため、各プローブ針2,3の第1接触部2b,3bがほぼ均一な接触圧でプロービング対象体に接触することができ、この結果、接触圧の不均一に起因した測定誤差を大幅に低減することができる。また、このプローブ1を備えたプローブユニット11によれば、プローブ1の外径がコンパクトであるため、プローブ1同士間の一層のファインピッチ化を実現することができると共に、プローブユニット11自体の小形化も実現することができる。
Therefore, according to this
また、このプローブ1およびプローブユニット11によれば、2つのプローブ針2,3が樹脂モールドされて一体化されているため、プローブ針2,3を個別に取り付ける構成とは異なり、極めて簡単に、かつ短時間でプローブ1を取り付けたり、交換することができる。
In addition, according to the
さらに、このプローブ1およびプローブユニット11によれば、各プローブ針2,3の第2接触部2c,3cについて、軸線Lからの距離が互いに相違するように配設したことにより、各第2接触部2c,3cが接触する中継基板13の各電極15,16の形状を上記したように2つの同心円状(上記の例では、平面視円形および平面視円環状)に形成することで、装着孔14内へのプローブ1の装着に際して、プローブ1を螺旋部2a,3aの軸線を中心としてどのような状態で回転させて装着したとしても、第2接触部2cを電極16に確実に接触させることができると共に、第2接触部3cを電極15に確実に接触させることができる。
Furthermore, according to the
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、上記のプローブ1では、各プローブ針2,3に円筒体4を外嵌してその内側に樹脂材5を充填して樹脂モールドすることにより、プローブ1における装着孔14の大径領域14bに収容される部位の外径を大径領域14bの内径に合わせた寸法に正確に規定して、大径領域14b内での円筒体4の軸ぶれを低減して、これにより、各プローブ針2,3の針先についての装着孔14の径方向へのずれを低減しているが、樹脂材5だけで、各螺旋部2a,3aの軸線Lと同軸となる円柱体を形成して、各プローブ針2,3を樹脂モールドすることもできる。
In addition, this invention is not limited to said structure. For example, in the
また、上記のプローブ1では、各プローブ針2,3のほぼ全体を螺旋部2a,3aとし、その一部を樹脂モールドする構成としているが、プロービング状態において弾性変形する部分は、上記したように各螺旋部2a,3aの先端部のみであるため、各プローブ針2,3におけるこの先端部を少なくとも螺旋状に形成して、互いを二重螺旋状に組み合わせる構成であればよい。また、プロービング対象体や、中継基板13の各電極15,16への接触をより良好に行えるようにすべく、螺旋部2a,3aの各端部に、第1接触部2b,3bおよび第2接触部2c,3cを配設する構成を採用しているが、螺旋部2a,3aの端部を直接、プロービング対象体や各電極15,16に接触させる構成を採用することもできる。この構成では、第1接触部2b,3bや第2接触部2c,3cを省略することができるため、各プローブ針2,3、ひいてはプローブ1の構成を簡略化することができる。
Further, in the
また、図示はしないが、円筒体4の外周面(円筒体4を用いずに樹脂材5のみでプローブ針2,3を一体化する場合には、円筒状に形成された樹脂材5の外周面)に螺旋部2a,3aの軸線L方向に沿った凸部を形成すると共に、装着孔14の大径領域14bの内面にこの凸部と嵌合する凹溝を形成する構成(なお、円筒体4などに凹溝を形成し、大径領域14bの内面に凸部を設ける構成でもよい)として、プローブ1が、凸部と凹溝との嵌合により、螺旋部2a,3aの弾性変形を可能としつつ、軸線Lを中心とした回転が不能な状態で装着孔14に装着される構成を採用することもできる。この構成では、中継基板13の一方の表面13aにおける第2接触部2c,3cと当接する部位にのみ電極15,16を設ければよいため、電極15,16を同心円状に限らず、種々の形状に形成することができる。
Although not shown, the outer peripheral surface of the cylindrical body 4 (in the case where the probe needles 2 and 3 are integrated only by the resin material 5 without using the
また、プローブ1の本数が少ない構成のプローブユニット11では、1つのプローブ1の取付けに要する時間が長くなったとしても、大きな問題とならない場合がある。このため、このようなプローブユニット11では、樹脂モールドによる2本のプローブ針2,3の一体化を行わずに、各プローブ針2,3をそれぞれ中継基板13の対応する電極16,15に固定する構成を採用することもできる。この構成では、中継基板13に形成する各電極15,16の形状は、上記した平面視円形や平面視円環状に限定されず、種々の形状とすることができる。また、装着孔14については、大径領域14bは必ずしも必要なく、小径領域14aをベース12の厚み方向全体に亘って形成する構成とすることができ、ベース12の構造の簡略化を図ることができる。
Further, in the
1 プローブ
2,3 プローブ針
2a,3a 螺旋部
2b,3b 第1接触部
2c,3c 第2接触部
4 円筒体
5 樹脂材
11 プローブユニット
12 ベース
13 中継基板
14 装着孔
11 プローブユニット
L 軸線
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記第1接触部および前記第2接触部は、前記螺旋部の軸線を中心とする前記螺旋部の半径以下の範囲内に位置するように形成され、
前記各螺旋部の軸線が一致し、かつ当該各螺旋部が略半ピッチずれた状態で、前記各プローブ針が組み合わされて構成されているプローブ。 Two probe needles having a spiral portion formed with the same diameter and the same pitch, a first contact portion formed on one end side of the spiral portion, and a second contact portion formed on the other end side of the spiral portion Prepared,
The first contact portion and the second contact portion are formed so as to be located within a range not more than a radius of the spiral portion around the axis of the spiral portion,
A probe configured by combining the probe needles in a state in which the axes of the spiral portions coincide with each other and the spiral portions are shifted by approximately a half pitch.
厚み方向に貫通する装着孔が複数形成されると共に当該装着孔内に前記プローブが1つずつ、当該プローブの前記第1接触部が一方の面側から突出した状態で装着される板状のベースと、
当該ベースの他方の面側に配設されると共に、前記装着孔に対応する部位毎に前記プローブの前記各第2接触部とそれぞれ接触する一対の電極が配設されている中継基板とを備えているプローブユニット。 A plurality of probes according to claim 1 or 2 are provided,
A plate-like base on which a plurality of mounting holes penetrating in the thickness direction are formed, the probes are mounted in the mounting holes one by one, and the first contact portion of the probe protrudes from one surface side When,
A relay substrate disposed on the other surface side of the base and provided with a pair of electrodes that are in contact with the second contact portions of the probe for each portion corresponding to the mounting hole. Probe unit.
厚み方向に貫通する装着孔が複数形成されると共に当該装着孔内に前記プローブが1つずつ、当該プローブの前記第1接触部が一方の面側から突出した状態で装着された板状のベースと、
当該ベースの他方の面側に配設されると共に、前記装着孔に対応する部位毎に前記プローブの前記各第2接触部とそれぞれ接触する一対の電極が配設されている中継基板とを備え、
前記一対の電極は、前記螺旋部の前記軸線を中心とした半径が前記各第2接触部の当該軸線からの距離に対応して規定された2つの同心円状に形成されているプローブユニット。 A plurality of probes according to claim 3 are provided,
A plate-like base in which a plurality of mounting holes penetrating in the thickness direction are formed, the probes are mounted in the mounting holes one by one, and the first contact portion of the probe protrudes from one surface side When,
A relay substrate disposed on the other surface side of the base and provided with a pair of electrodes that are in contact with the second contact portions of the probe for each portion corresponding to the mounting hole. ,
The pair of electrodes is a probe unit formed in two concentric circles in which the radius of the spiral portion with respect to the axis is defined in accordance with the distance from the axis of each second contact portion.
Priority Applications (1)
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